JPH02292798A - フラッシュEEpromシステム - Google Patents
フラッシュEEpromシステムInfo
- Publication number
- JPH02292798A JPH02292798A JP2099114A JP9911490A JPH02292798A JP H02292798 A JPH02292798 A JP H02292798A JP 2099114 A JP2099114 A JP 2099114A JP 9911490 A JP9911490 A JP 9911490A JP H02292798 A JPH02292798 A JP H02292798A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- flash eeprom
- data
- cells
- cache memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 272
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims description 141
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 100
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 49
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 14
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 claims description 7
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 101001093690 Homo sapiens Protein pitchfork Proteins 0.000 description 5
- 102100036065 Protein pitchfork Human genes 0.000 description 5
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 4
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000008672 reprogramming Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000005923 long-lasting effect Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/18—Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
- G11C29/26—Accessing multiple arrays
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/0223—User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
- G06F12/023—Free address space management
- G06F12/0238—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
- G06F12/0246—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/0802—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/0802—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
- G06F12/0804—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches with main memory updating
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/0802—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
- G06F12/0866—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches for peripheral storage systems, e.g. disk cache
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/0802—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
- G06F12/0875—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches with dedicated cache, e.g. instruction or stack
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/12—Replacement control
- G06F12/121—Replacement control using replacement algorithms
- G06F12/123—Replacement control using replacement algorithms with age lists, e.g. queue, most recently used [MRU] list or least recently used [LRU] list
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
- G06F3/0614—Improving the reliability of storage systems
- G06F3/0616—Improving the reliability of storage systems in relation to life time, e.g. increasing Mean Time Between Failures [MTBF]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0638—Organizing or formatting or addressing of data
- G06F3/064—Management of blocks
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0646—Horizontal data movement in storage systems, i.e. moving data in between storage devices or systems
- G06F3/0652—Erasing, e.g. deleting, data cleaning, moving of data to a wastebasket
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0673—Single storage device
- G06F3/0679—Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0673—Single storage device
- G06F3/068—Hybrid storage device
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0683—Plurality of storage devices
- G06F3/0688—Non-volatile semiconductor memory arrays
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/56—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
- G11C11/5621—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/56—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
- G11C11/5621—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
- G11C11/5628—Programming or writing circuits; Data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/56—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
- G11C11/5621—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
- G11C11/5628—Programming or writing circuits; Data input circuits
- G11C11/5635—Erasing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/14—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
- G11C16/16—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits for erasing blocks, e.g. arrays, words, groups
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/344—Arrangements for verifying correct erasure or for detecting overerased cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/344—Arrangements for verifying correct erasure or for detecting overerased cells
- G11C16/3445—Circuits or methods to verify correct erasure of nonvolatile memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3454—Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3454—Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
- G11C16/3459—Circuits or methods to verify correct programming of nonvolatile memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/52—Protection of memory contents; Detection of errors in memory contents
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/76—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
- G11C29/765—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications in solid state disks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/80—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
- G11C29/816—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout for an application-specific layout
- G11C29/82—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout for an application-specific layout for EEPROMs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1039—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using pipelining techniques, i.e. using latches between functional memory parts, e.g. row/column decoders, I/O buffers, sense amplifiers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1068—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/20—Employing a main memory using a specific memory technology
- G06F2212/202—Non-volatile memory
- G06F2212/2022—Flash memory
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/31—Providing disk cache in a specific location of a storage system
- G06F2212/312—In storage controller
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7201—Logical to physical mapping or translation of blocks or pages
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7203—Temporary buffering, e.g. using volatile buffer or dedicated buffer blocks
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7205—Cleaning, compaction, garbage collection, erase control
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7207—Details relating to flash memory management management of metadata or control data
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7208—Multiple device management, e.g. distributing data over multiple flash devices
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0662—Virtualisation aspects
- G06F3/0664—Virtualisation aspects at device level, e.g. emulation of a storage device or system
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/56—Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
- G11C2211/562—Multilevel memory programming aspects
- G11C2211/5621—Multilevel programming verification
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/56—Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
- G11C2211/563—Multilevel memory reading aspects
- G11C2211/5634—Reference cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/56—Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
- G11C2211/564—Miscellaneous aspects
- G11C2211/5643—Multilevel memory comprising cache storage devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2216/00—Indexing scheme relating to G11C16/00 and subgroups, for features not directly covered by these groups
- G11C2216/12—Reading and writing aspects of erasable programmable read-only memories
- G11C2216/18—Flash erasure of all the cells in an array, sector or block simultaneously
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/18—Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
- G11C29/30—Accessing single arrays
- G11C29/34—Accessing multiple bits simultaneously
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Memory System (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ラムリードオンリーメモリ (EEprom)+ さ
らに詳しくいえばフラッシュEEp r omチップ回
路を集積したシステムに関する。
のために磁気ディスクを使用する。
こと,およびそれらが高度に精密な機械的な駆動機構を
必要とする点において欠点を持っている。
いて問題があるばかりでなく,かなりの電力を消費する
。
を持ち合わせていない。しかしながら,それらばかなり
高価なものであり,それらの記憶(揮発性)を維持する
ためには定常的に電力を必要とし,かつ高価である。
憶装置である。しかしながら,不揮発性であり.そして
電力が落とされた後でも.その記憶を維持している。し
かしながら.通常のフラッシュEEpromは,それら
が耐えられる書込み(またはプログラム)/消去回数の
数において有限の寿命をもっている。典型的にはそれら
の装置は102から10’の書込み/消去回数を過ぎる
と信頼できなくなる。
とかプログラムの蓄積が要求される場合であって.再プ
ログラムの必要性にある種の制限があってもいい場合に
おいて利用されている。
/消去回数に耐えて信頼性を維持することができる機能
を拡張したフラッシュEEp r om記憶システムを
提供することである。
性メモリとして使用することができる改良されたフラッ
シュEEpromシステムを提供することである。
気ディスク装置の代わりに使用することができる改良さ
れたフラッシュEEpromシステムを提供することで
ある。
されたフラッシュEEpromシステムを提供すること
にある。
うことができるフラッシュEEpromシステムを提供
することにある。
によりフラッシュEEpromシステムに対するストレ
スを最小にすることができるフラツシ:LEEprom
を提供することにある。
たフラッシュEEpromシステムを提供することにあ
る。
回路や技術における改良によって達成される。
レイがセクタに構成され,そしてその各々のセルに含ま
れる全てのセルが同時に消去されることである。フラッ
シュEEp rom記憶システムは,コントローラの制
御下にある1またはそれ以上のフラッシュEE p r
omチップを持っている。本発明においては,チップ
間のセクタの任意の組合せを選択し,それらを同時に消
去することを許容している。
クタが毎回消されるか.または一つのセクタが一時に消
される従来の構成に比べて,より早くかつ効果的になっ
ている。
,または,消去動作において.さらに消去されることを
阻止するために,選ばれないとい・う任意の組合せを可
能にしている。
を余分に消去することを停止することにおいて重要であ
り,これによりフラッシュEEpromシステムに不必
要なストレスを与えることを防止している。
全体として選ばないことを許容することにより,消去の
ために全てのセクタが選ばれないという状態を可能にし
ている。
去のために選ばれるべきセクタを選択する状態に早急に
戻すということである。
または書込みの動作に選択するチップセレクト信号と独
立して選択が行なわれることである。
み.または書込み動作が行なわれている他のチップに含
まれないものを消去のために選択できるということであ
る。
p r om記憶素子から発生する誤りを訂正するた
めに使用する改良された誤り訂正回路または,技術が使
用されることである。
のマッピングを許容することであり,それによって同じ
セクタのセルで欠陥のセルを置き換えることを可能にし
ている。欠陥セルを置き換えられたセルのアドレスに接
続するための欠陥ポインタは欠陥マップに貯蔵されてい
る。欠陥のあるセルはアクセスされるたびごとに.その
悪いデータは,代替のセルの良いデータに置き換えられ
る。
ッピングを許容することである。
えたときにその欠陥セルを含むセクタは他のセクタによ
って代替えされる。
クタが発見されると,直ちにリマップされることである
。これにより,誤差修正コードを適当に修正することに
より,そのシステムで持ち上がってくるであろう誤差を
最小にすることができる。
設けることにより,フラッシュEEpromへの書込み
の回数を最小にすることができることである。
込み/消去回数によって発生させられる.より少ないス
トレスに従属させることにより,その老朽化を防止する
ことである。最もアクティブなデータファイルは.フラ
ッシュEEpromメモリの代わりにキャッシュメモリ
に書込まれる。
は.データファイルがキャッシュメモリからフラッシュ
EEpromメモリに書込まれる。
ることによって増大させられる。
ムメモリとして長い間,不揮発性貯蔵のためにコントロ
ーラとEEprom回路チップを持つプリント回路基板
が提供されるが.ハードディスクシステムの代わりに提
供されることである。
な特徴を単独で.または組合せて盛り込むことができる
。
の好適な実施例の記述にしたがって,理解されるであろ
う。そしてその記述は,添付図面等に関連して行なわれ
ている。
々の特徴が盛り込まれているコンピュータシステムが一
般的に第IA図に示されている。典型的なコンビュータ
システムはバスライン23に接続されているマイクロプ
ロセサ21,それにより主システムメモリ25にランダ
ムアクセスすることができ,そして少なくとも1または
2以上の入出力装置27,例えばキーボード,モニタ.
モデム等々が設けられている。典型的なコンピュータシ
ステムバス23に接続されている他の主たるコンピュー
タの要素は大量の長期間使用可能な不揮発性メモリ29
である。
積能力をもつディスク駆動システムである。
に引き出されて利用され,容易に補充されたり,または
変えられたり,変更されたりする。
のシステムをある半導体メモリに変えることであるが,
その際に不揮発性とか,メモリを消去するとか再書込み
の容易性とか,アクセスの速度とか,コストとか信頼性
を犠牲にしないことである。これは電気的に消去可能で
あり,プログラムできるリードオンリーメモリ (EE
prom)の半導体回路チップを用いることによって,
完成される。
体を駆動するものに比較して.動作電力が少ないとか,
非常に軽いという付加的な利点を備えるものであり.こ
れにより電池で動作させられる可搬型のコンビ二ータに
適しているということができる。
に接続されているメモリコントローラ31とEEpro
mの集積回路チップのアレイ33から構成されている。
35を介して一義的にEE p r amアレイ33に
通信される。
33からコントローラ30にシリアルデータ線37を介
して通信される。
ローラ31とEEp r omアレイ33間のその他の
制御とかステータス回路は示されていない。
一つの集積回路チップ上に形成されている。システムバ
ス23の一部であるシステムアドレスとデータバス39
はシステム制御線41に接続されており,そのシステム
制御線41は読込み,書込みと,その他通常のコンピュ
ータシステム制御線を含んでいる。
チップ43.45.47等々を複数個含んでいる。それ
ぞれはインタフェース回路40からのそれぞれのチップ
セレクトおよびイネーブル線49.51.53を含んで
いる。
データ線35.37とのインタフェースとして働<.E
Epromチップ43.45.47に書込まれるか,ま
たは読出されるメモリの位置アドレスとデータはバス5
5,論理およびレジスタ回路57,さらに他のバス59
を通してメモリチップ43.45.47等々に伝達され
る。
1枚のプリント回路カード・に適当なメモリの大きさで
製造されている。第IB図の種々のシステムバス39と
41は他のコンビュータシステムとともに,そのような
カードのコネクト接続ピンに接続されている。さらに前
記カードやその要素には種々の標準的な電力供給電圧(
図示せず)が接続されている。
ているものでは十分でない場合があり得る。そのような
場合には,制御チップ31のシリアルデータ線35.3
7に付加的なEEpromアレイを接続することができ
る。
て行なわれることが望ましいのであるが,それをするた
めに十分なスペースのない場合には,1またはそれ以上
のEEpromアレイを第2のプリント回路カードの上
に形成し,そしてそれを物理的に第1のものの上に設け
るか,設けてそれを共通のコントローラチップ31に接
続することによって行なうことができる。
われるシステムデザインにおいては,そのデータは定期
的に改定されたり,または新しい情報が挿入される必要
がある。
みを行なうことにより,追加の情報を収容することが望
まれる場合がある。フラッシュEEpromメモリにお
いてはメモリセルは,まず初めに情報を蓄積する前に消
される必要がある。すなわち.このことは書込み(また
はプログラム)の操作の前に常に消去の動作が先行され
るということである。
作はいくつかの方法があり,その一つより行なわれる。
5 6,CMOSはフラッシュEEpromにおいては
,全体のチップが一時に消去される。
いときには,まず初めに一時的にその情報が救済されな
くてはならない。そしてそれは,他のメモリ (典型的
にはRAM)に書込まれる。
よって,不揮発性のフラッシュ消去メモリの中に回復さ
れる。
間も必要である。
イテッドのモデル48512フラッシュEE p r
amチップにおいては,メモリはブロック(またはセク
タ)に分割されており,それらは別々に分離して消去可
能である。しかしながら.毎回一つずつ行なわなければ
ならない。希望するセクタの選択により.消去の段階に
入り,指定された領域が消去される。
メモリ領域の消去は依然として時間がかかる逐次作業を
必要とする。
いくつかのセクタに分割され,そこにおいてそのセクタ
に含まれるセルは同時に消去することができる。各々の
セクタは,別々にアドレスされ,そして選択的に消去さ
れる。最も重要な特徴は一緒に消去すべきいくつかのセ
クタの組合せを選択できることである。これにより,各
々を独立して消去するという従来の技術に見られるもの
に比較してより早い消去システムを提供することができ
るのである。
図している。一つのフラッシュEEpromシステムは
,例えば.201,203.205のように1またはそ
れ以上のフラッシュEEpromチップを含んでいる。
いる。典型的にはコントローラ31それ自身は図示され
ていないマイクロプロセサシステムと通信している。
タに分離されており,その一つのセクタの中の全ての記
憶セルは同時に消去できる。使用者に利用可能なものと
して.例えば各々のセクタが512バイト(すなわち5
1 2X8セル)があり,一つのチップは1024セ
クタを持っている。各セクタは独立してアドレス可能に
分割されており,そして例えばセクタに211,213
,215,217というように複数のセクタが消去可能
に選択される。
つのEEp r omチップに限られるか,またはシス
テム中のいくつかのチップ内に分散させられることがで
きる。選ばれたセクタは同時に消去されるであろう。こ
の能力は,この発明によるメモリシステムに従来の構造
のものよりも,より早い操作を許容するものである。
チップ201など)で、1または,それ以上のセクタが
消去のために選択または選択されなかった状態を示すブ
ロックダイヤグラムである。
クタに関連して設けられている,例えば211,213
のような消去可能レジスタの状態の設定または,設定に
よるタグをつけるとか選択されるかによって,各々のセ
クタ221.223が選ばれている。
図参照)のコントロールの下に行なわれる。
て通信させられている。コントロールからのコマンド情
報は直列インタフェース227を介してコマンドレジス
タ225によって,回路220内で捕捉される。そして
それは,コマンドデコーダ229によってデコードされ
,コマンドデコーダ229は種々の制御信号を出力する
。同様にアドレス情報はアドレスレジスタ231によっ
て補足され,そしてアドレスデコーダ233によってデ
コーダされる。
は,前記コントローラはセクタ211のアドレスを回路
220に送る。このアドレスは,線235の中にデコー
ドされ,そしてそれは,レジスタ221の出力239を
ハイ (HIGH)にセットするためにイネーブルバス
237の消去イネーブル信号と共同して組み合わせて用
いられる。
なる。同様にしてもしセクタ213も同様に消去される
べきであると要求されているときは,レジスタ223の
その関連するレジスタ23もハイにセットされるであろ
う。
詳細に示してある。消去イネーブルレジスタ221はセ
ットリセットラッチである。そのセット人力端子241
はアドレスデコード線235によってゲートされたバス
237の消去イネーブル信号セットから得られる。同様
にして,リセット人力243は線235中のアドレスデ
コードによってゲートされるバス237中の消去イネー
ブル信号をクリアするものから得られる。
ル信号をクリアする信号がすべてのセクタに発生させら
れたときにアドレスされたセクタのみにその信号が有効
となる。
ーラは回路220.同様に全てのグローバル消去コマン
ドが251によって現れているときに線209に沿って
消去のための高電圧が発生させられる。
セクタ211と213)が同時に消されるでろう。チッ
プ内の希望するセクタが消去されることに加えて本発明
による構造では,同時消去のために異なる種類のチップ
上のセクタの選択を許容している。
連して用いられるアルゴリズムを図示している。
ードされた消去されるべきセクタに関連させられている
消去イネーブルレジスタにアドレスをシフトさせる。第
4図の(2)においてコントローラはアドレスされたセ
クタの消去イネーブルレジスタヘアドレスデコードされ
た信号をラッチするために用いられる消去イネーブルコ
マンドをセットするためにデコードする。このタグはそ
のセクタの引き続く消去のためである。第4図の(3)
において,もしそれ以上のより多くのセクタがタグが付
されるべきであるときには消去されるべき全てのセクタ
にタグが付加されるまで第4図の(1)から第4図の(
2)に示されている関連して記述されている操作を繰り
返す。消去されるべき全てのセクタにタグが付された後
にコントローラは第4図の(4)に示されている消去の
サイクルを開始させる。
開示されている。それらは同時出願継続中の米国特許出
願.出願番号Nα204.175.エリャホウ ハラリ
博士によって1988年6月8日に出願されたものと本
出願と同時に,サンジャイ メハロトラとハラリ博士に
よって出願された“多状態EEprom読み書き回路お
よびその技術”に示されているものである。フラッシュ
EEpromセルは消去パルスを印加することによって
消去され.引続く読みによりそのセルが消去されて消去
状態にあるかどうかということが検証される。もしそう
でなかったらそのセルが消された状態にあると検証され
るまでパルスの印加と検証が繰り返される。
EEpromを老化させるかまたはプログラムを困難に
するであろう過剰消去にさらされないようにする。
他のものはより早く消去された状態に達することがある
であろう。本発明の他の重要な特徴は選択されたグルー
プの中から消去されたと検証されたセクタを除去する能
力であり,これにより過剰消去を防いでいる。
にタグが付されるとコントローラはタグが付されたセク
タのグループの消去サイクルを開始する。第4図の(5
),消去が行なわれるべきであるタグEEpromチッ
プの中にグローバル消去イネーブルと呼ばれるグローバ
ルコマンドをシフトさせる。これは第4図の(5)にお
いてコントローラが一定の持続する期間,一定の値だけ
消去電圧(■E)を上げるということになる。コントロ
ーラはこの電圧を消去期間経過の終わりに低下させる。
ばれたセクタの読み出し検証を実行する。第4図の(7
)においてセクタのいずれもが検証されない場合には第
4図の(5)から(7)に図示されているシーケンスが
繰り返される。第4図の(8)から第4図の(9)にお
いて,もし1または2以上のセクタが消去されたと検証
されたときは,それらはそのシーケンスから取り出され
る。同様に第3図Aを参照するとこのことは各検証され
たセクタに対応するコントローラのアドレスをバス23
7の中の消去コマンドをクリアすることによって,消去
可能なレジスタを低電圧にする。第4図の(5)からσ
ロに示されているシーケンスは第4図の00に示されて
いるようにそのグループが消去されたと検証されるまで
繰り返される。
状態(NOP)命令に移行し、そして,グローバル消去
可能コマンドは引き上げられて誤った消去から保護され
る。
を選択する能力は,どの消去を止めることが有効である
かと同様に有効である。これにより遅く消去されるセク
タより前に消去が完了されたものが消去のシーケンスか
ら分離されてその装置により以上のストレスを与えるこ
とから保護することができる。
できるであろう。もし,セクタが良くないものであると
き,あるいはある理由によって使用できないときそのセ
クタをとばし,そのセクタにおいて消去が起こらないよ
うにすることに利点がある。
あったならば,それはより多くの電力を消去するであろ
う。本発明によっては消去サイクルをとばすことにより
,そのチップの中で消去に必要とする電力を減少させる
ことができるという有意義なシステムの利点を得ること
ができる。
持つことはそのシステムの電力消費を少な《するという
他の配慮に繋がる。
の電力の能力にしたがって,消去の要求を採用すること
ができる。これは,このシステムをソフトウェアによっ
て,異なった消去の状態を与えるか,または他のシステ
ムとの間の基本的な構造によって与えるかによって成し
遂げられるであろう。それは例えばラップトップコンピ
ュータのようなシステムで電圧のレベルを監視すること
によって消去の量を変化するようにコントローラにさせ
ることもできるだろう。
より以上の消去サイクルを防ぐために全ての消去イネー
ブルラッチをクリアするというコマンドをリセットする
ことができることである。
号によって図示されている。
全ての消去イネーブルレジスタをリセットする時間を短
くすることができるであろう。
動作をする能力をもつことである。あるメモリチップに
おいて消去動作が開始されるとコントローラは他のメモ
リチップにアクセスしてそれらの読み.書きの動作をさ
せることができる。
択され,そして次の消去のためのコマンドのアドレスを
蓄積することもできる。
起こす。データは,欠陥のあるセルに蓄積される度に破
壊されてしまう。
のような物理的な欠陥はそのような製造の過程において
招来する物理的な欠陥は工場において修正されている。
られていて,それが欠陥セルの代わりに接続される。従
来のディスクドライブ装置において媒体が不完全である
ときには,欠陥の問題となりやすかった。これらの問題
を解決するために製造業者は存在するこれらの欠陥につ
いてのいろいろな方法を案出しており,そしてもっとも
通常用いられるものはセクタの欠陥のマッピングである
。
セクタに分割されている。セクタはデータが蓄積される
基礎的な単位である。システムに右いて,種々のセクタ
に分けられ,悪いものであると印をつけられたものは,
そのシステムにおいては使用されないようにする。これ
は,種々の方法によって実現されている。欠陥マップの
テーブルが使用されるディスクの特定の位置に設けられ
ており.インタフェースコントローラを介して利用され
る。加得るに,欠陥のある悪いセクタは物理的に特殊な
IDが施されて,IDとフラッグマーカーが付されてい
る。
通常は他の代替位置に配置されている。この代わりのセ
クタの要請のために,余分なセクタがある間隔で.また
はある位置離れて設けられている。これは,メモリの容
量を減少させるものであり,どのように代わりのセクタ
を設けられているかという問題を提供している。
チップのアレイによって実現されるシステムによって,
通常のディスク記憶装置を置き換えることである。この
EEpromシステムは通常のディスクと同等,または
それ以上であることが好ましく,そうであれば固体素子
のディスクとみなして取り扱うことができる。
システムにおいては,欠陥を効率的に処理するために.
低価格でそれが成し遂げられるという配慮が必要となる
。本発明の他の重要な特徴は,より多くのメモリを可能
な限り保存することができるように誤差修正を可能にす
ることである。
ることにより全体のセクタ,例えば(典型的には512
バイト)において,欠陥が起こる度に捨ててしまうこと
をなくすことである。この提案は特にフラッシュEEp
rom媒体に適している。
り,通常のディスク媒体において典型的にみられる長く
続く近接する欠陥ではないことによる。
その装置が工場から出荷されるとそこでは.通常の動作
の後に現れる物理的欠陥から生ずるハードエラーを置き
換えるための手段は.ほとんどか全くないことである。
CC)を用いることに依存して行なわれている。
回数が増加するにしたがって,セルの欠陥が次第に増加
することが予想できる。
Cに打ち勝って,そしてその装置を使用不能なものにし
てしまうのである。
ラーが発生するごとに,そのシステムのハードエラーを
修正するという能力をもっていることである。
れ,そしてFCCに位置させられる。
陥セルを通常はそれと同じセクタに存在する空きセルに
よって置き換えるための欠陥マッピングを供給するであ
ろう。この動的なハードエラーの修正は,通常のエラー
修正スキームに加えて装置の寿命を有効に引き延ばすこ
とができる。
ていることである。エラー修正コード(ECC)は常時
ソフトエラーを修正するとともに,発生するであろうハ
ードエラーの修正に利用される。ハードエラーが検出さ
れるや否や,欠陥マッピングはその欠陥セルをその同じ
セクタブロックに存在する予備のセルと置き換えるため
に使用される。欠陥セルの数がその特定のセクタのため
の欠陥マッピングの能力を越えた場合においてのみ,そ
の全体のセクタは,通常のディスクシステムに置き換え
られる。この計画により,信用性を損なうことなく最小
の損失で食い止めることができる。
図示したものである。前述したように,このフラッシュ
EEp r omメモリはセクタに分けられており,各
セクタに属するセルは同時に消去可能である。典型的な
セクタ401のメモリ構造はデータ部分403と補助の
(または影の)部分405に組織されている。データ部
分403はユーザーによって使用可能なメモリ空間であ
る。
07,欠陥マッピング領域409,ヘッダ領域411.
およびECCと他の領域413に組織されている。これ
らの領域はコントローラが欠陥領域とか他の上位の情報
,例えばヘッダとかECCを操作する場合に利用するこ
とができる。
ータ領域の代替部407の中の一つの良品のセルが欠陥
セルと指定されたデータをバックアップするために割当
てられる。かくして,もし仮に,欠陥セルにデータが誤
って貯蔵されたとしてもバックアップセルの中には誤差
のないコピーが蓄積される。欠陥セルとバックアップセ
ルのアドレスは欠陥マップ409の中の欠陥ポインタに
記録される。
0間は厳格に区別される必要がないというように理解さ
れたい。各々に割当られた領域の相対的な大きさは論理
的に再割当することができる。さらにまた,種々の領域
のグループ分けは,主として議論のために必要であって
,物理的に必要なものではない。例えば欠陥データ領域
の代替部407は,予備の領域45の中にそれが専有す
る領域はユーザーは利用できないものであることを示す
だけのものである。
陥マップ,それから代替欠陥データ部分を読む。それか
ら現実のデータを読む。
ータの位置を保っている。欠陥セルに遭遇するために,
コントローラはその悪いデータを欠陥代替セルの良いデ
ータで代用する。
ールを図示している。メモリ装置33はコントローラ3
1の支配下にある複数のフラッシュEEpromチップ
を含んでいる。
せず)の制御下にあるマイクロプロセサシステムの一部
を形成している。
コントローラ中のアドレス発生器503に読み操作を開
始するためのアドレスをロードする。
505を介してロードされる。
7にバッファメモリまたはデータリードが送られるべき
アドレスバスのスタート位置をロードする。それからマ
イクロプロセサはヘッダの情報(ヘッド,シリンダ.セ
クタ)をホールディングレジスタファイル509にロー
ドする。最終的にマイクロプロセサはコマンドシーケン
サ511にコントローラ31へのバッシングコントロー
ルの前にリードコマンドをロードする。
初めにセクタのヘッダにアドレスし,そしてユーザーが
指定したアドレスの位置でメモリがアクセスされたこと
を検証する。
ラはメモリ装置33の中の一つのメモリチップ(チップ
セレクト)を選択し.そしてヘッダ領域のアドレスをア
ドレス発生器−503の出力からメモリ装置33の選択
されたメモリヘシフトする。
してメモリ装置33にリードコマンド出力をシフトする
。
コントローラにアドレスされたセクタからの直列データ
の送信を開始する(送り戻しを開始する)。
そしてそれを並列のフォーマットにする。
度にコンパイルされ.マイクロプロセサによってホール
ディングレジスタファイル509に予め記憶されたヘッ
ダ情報と受信したデータとを比較する。もし,その比較
の結果が正しければ,正しい情報,正しい位置がベリフ
ァイ (検証)されて動作は継続する。
悪いアドレスの位置をホールディングレジスタファイル
509にロードする。
の欠陥データの代替は,それが書込まれたときに,その
誤ったビットを置き換えるために.書込まれているもの
であった。
蓄積されており、それはデータピット,そのデータピッ
トが読まれたときに.アクセスされるであろう。
ットのロードが完了すると.コントローラは読まれるべ
き希望するセクタの最低のアドレスのシフトアウトを開
始する。
ラチップ31に移送される。受信機515はそのデータ
を並列形式に変換し,各バイトを一時的なホールダであ
るPIFO519ヘコントローラから送り出されるべく
移送する。
ヘコントローラを開始してデータがゲートされるときの
有効な処理能力を提供するために用いられる。
ントローラは送られるべきデータのアドレス(アドレス
発生器507に蓄積された)を欠陥ポインタマップ(レ
ジスタファイル509に蓄積された)と比較を続ける。
スが悪い位置にあると決定されると,受信器515によ
り受信されたメモリからの悪いビットは,その位置の良
いビットと置き換えられる。良いビットは欠陥データ代
替ファイルから得られる。これは受信機515からの悪
いビットの代わりに,欠陥データ代替ファイルからの良
いビットを受信するようにマルチブレクサ523をスイ
ッチングすることによってなされる。
バッファメモリまたはシステムメモリ (図示せず)へ
送られるべき状態にある。
ローラのDMAコントローラ507によってシステムメ
モリへ送られる。
テムバスへのアクセスを得、そして一つのアドレスを出
し.そしてデータを出力インタフェース255経由でゲ
ートしてシステムバスヘ出す。
ってなされる。
またECCハードウエア527にもゲートされ,そこで
データファイルはECCによって処理される。
まれたデータはコントローラ31を介して前記システム
に送り出されるべくゲートされる。
移送されるまで続く。
わらず,最後のマッピング移行に新しいハードの誤りが
発生するかもしれない。ダイナミック欠陥マッピングが
恒久的に新しい欠陥セルを押し出すにしたがって欠陥マ
ッピングの間に発生するであろう最新のハードの誤りは
ECCによって十分に取り扱われる。
がってコントローラは蓄積されていた値がちょうど計算
された残りの値とマッチするかどうかを決定するために
,ECCビットをECCハードウエア227ヘゲートと
して入れる。
ータは正しいものであったとして,読み込み動作は完成
させられた。
ば.システムメモリに送られるデータについての修正計
算が行なわれる。そして修正されたデータが再送信され
る。
も通常の方法によって行なわれる。ECCは誤差に原因
する欠陥セルについての計算と位置出しをすることがで
きる。これはコントローラ31によって欠陥セルが発見
されたセクタに関連して欠陥マップを更新するのに用い
られる。このようにしてハードエラーは常にフラッシュ
EEpromシステムから除かれる。
御を図示している。
ンスと共通している。マイクロプロセサはまず初めに読
みのシーケンスと同様にメモリ装置33とDMAのため
のアドレスポインタをロードする。
し,そしてコマンドキューをコマンドシーケンサ511
にロードする。コマンドキコーはリードヘッダコマンド
ファーストと一緒にロードされる。
置33にリードシーケンスと同様にゲートする。
15を介して戻す。コントローラは受信したヘッダデー
タを予期された値(ホールディングレジスタ509に蓄
積されていたもの)と比較する。
ファイ (検証)されたものであって.シーケンスが連
続する。それからコントローラはメモリ装置33からの
欠陥アドレスポインタをホールディングレジスタファイ
ル509にロードし,代替データを欠陥データ代替ファ
イル527ヘロードする。
書込みデータのフェッチを開始する。
により行い,記憶またはバスアドレスを出力し,リード
サイクルを行なう。
603を介してPIFO601に引き込む。
のアドレス(最も低いバイトのアドレス)をアドレス発
生器503から選ばれたメモリ装置33ヘシフトする。
。
て送られ.そしてメモリ装置33に送り出される前に直
列フォーマットに変換される。
が選ばれたメモリにロードされるまで続く。
33にゲートされるときに効果的な有効な処理能力を提
供するためにパイプライン構造が採用されている。
ウエア527へ送られ、ここにおいて.残りの値はEC
CO中で計算されるであろう。
513を介してメモリ装置に送られているときに比較器
521はアドレス発生器503からのそのアドレスをホ
ールディングレジスタファイル509にある欠陥ポイン
タのアドレスと比較する。
ていることを示し、コントローラはこのビットを欠陥デ
ータ代替ファイル517へ貯蔵する。
られるであろう。
ードされた後に,コントローラはプログラムコマンドを
メモリ装置に発生して書込みサイクルを開始する。
的な構造は先に引用した同時継続中の米国特許出願,出
願番号NI:L204.175等であって,一つは多状
態EEpromの読み.書き回路と技術と呼ばれている
ものに示されており,前記関連する部分をここで参考と
して挙げる。
はプログラム(または書込み)電圧パルスを供給してい
ることである。
うことを決定するためのべリファイ (検証)読みが続
く。
きは.コントローラはプログラム/ベリファイ (検証
)サイクルを全てのビットが正しくブログラムされるま
で繰り返す。
サイクルを延ばした後でもベリファイ(検証)に失敗し
たときは,コントローラはそのビットを欠陥ビットであ
ると指定し,そしてそれにしたがって欠陥マップを更新
するであろう。更新は欠陥セルが検出されるや否や,ダ
イナミックに行なわれる。同様な操作が消去ベリファイ
(検証)の失敗の場合においても,採用される。
された後に.コントローラはPIFO601から次のデ
ータピットをロードし,アドレスセクタの中の次の位置
をアドレスする。そしてコントローラはそれから他のプ
ログラム/ベリファイ(検証)シーケンスを次のバイト
について行なう。
して行なわれる。
する影のメモリ (ヘッダ領域)をアドレスし,そして
ECCレジスタの内容をこの領域に書込む。
データ代替ファイル516の中に蓄積されたピットの集
合は代替欠陥データ位置(第5図参照)に書き込まれ,
これによって引き続く読みに使用される良いビットの価
値を保つ。一度これらのデータグループが書込まれ,そ
して検証されるとそのセクタの書込みは完全なものと考
えられる。
もっているが,しかしそれはその特定のセクタの欠陥セ
クタマッピング能力を越える欠陥が存在した後のことで
ある。各セクタの中における欠陥セルの数としてカウン
トが保存される。
トローラはそのセクタは欠陥としてそれを他のセクタに
マップする。
に保存されるであろう。セクタ欠陥マップは最初の欠陥
セクタにおいて,その余分な領域が欠陥がない場合にお
いて設け,そのセクタの中に設けられる。しかしながら
,セクタのデータ領域が大量の欠陥が発生した場合にお
いては.その余白の領域も同時に欠陥が多くなる可能性
が強い。
ローラに保持される他のメモリの中に,セクタマップを
位置させることが好ましい。
シュEEprornのメモリから離れた部分に位置させ
られるであろう。コントローラがアクセスで多領域のア
ドレスを与えられると,そのコントローラはこのアドレ
スをセクタ欠陥マップと比較する。
拒否され,そして欠陥マップの中に存在する代替アドレ
スが入力され,そして対応する代替セクタが代わりにア
クセスされる。
イクロプロセサによって遂行される。マイクロプロセサ
は入ってきたアドレスとアドレスを見てそれをセクタ欠
陥マップと比較する。もしマッチがあれば,それはコン
トローラにコマンドを発生する代わりに,新しいコマン
ドとして他の位置を代替する。
の利点は,機械的な部分が存在しないということである
。
サーチ時間は存在しない。さらにこれに加得るに,長い
同期時間,同期マークの検出時間,書込みギャップ等も
必要でない。
またはどこに書込まれるべきであるかという位置にアク
セスするために必要なオーバーヘッド時間はより少なく
なる。
バーヘッドを少なくしたより速いシステムとして現れる
。加得るに,ファイルはメモリの中に希望する任意のア
ドレスの順序で配列され,そしてコントローラには必要
なデータにどうして得るかということが必要なだけであ
る。
またはセクタからの移動させられるデータの流れを妨げ
る必要がない状態で構成されていることである。
れ,そしてそれは後に修正される。順次アドレスを保存
することによって,それ自身高い速い速度を得ることが
できるであろう。
おける効果的なパイプライン構造の実現を許容する。
テムの能力の速度を上げるために用いられている。例え
ば,コンビュータシステムにおいてディスク貯蔵からの
データのアクセスは遅い。
るならば,スピードはより速くなるであろう。典型的に
,ラムのシステムの部分はディスクからもっとも最近に
アクセスされたものを仮に保持するためにキャッシュが
使用されている。
より速いキャッシュからそれを得ることができる。その
システムは,同じデータが繰り返されて使用されるよう
な状況において1 うまく動作する。
のであり,これはコンビ二ータというものはプログラム
を走らせているときには.非常に狭い記憶領域でのみ働
く傾向があるからである。
RAMにアクセスする時間を速くするために,より速い
SRAMキャッシュを利用することである。
ピードアップのためのリードキャッシュである。
めに.書込みキャッシュが使用される。
して.システムメモリ (例えばディスク)への書込み
の場合においては,データはそれらが発生するごとにそ
の都度直接書込まれる。これは電力がなくなったときに
更新され,ファイルが無くなってしまうという懸念のた
めに.このことが成されるのである。
み貯蔵されているときに,電力が無くなるということは
新しく更新されたデータが,システムメモリ (不揮発
性)の中の古いデータを更新する前に,キャッシュメモ
リから更新されたファイルがなくなってしまうというこ
とである。
システムは古いデータに基づいて操作されるということ
になるであろう。主メモリを毎回書き込む必要性は.キ
ャッシュ機構を書込みのために壊してしまうことになる
。リード(読み出し)キャッシュにおいては,この懸念
は全くなく,キャッシュからなくなるであろうデータは
ディスクでバックアップされているからである。
は従来のディスク形の貯蔵装置をもつシステムに置き換
えられて用いられる。
ラム(消去サイクル)による消耗に曝されている。
5,発明の名称“多状態のEEprom読みおよび書き
サーキットとその技術”,サンジャイメハ口ボラとエリ
ャホウ ハラリ博士により本発明と同時に出願された願
書に開示されている改良されたフラッシュEEp r
omメモリ装置においてさえ,耐久力の限界はほぼ10
6のプログラム/消去サイクルに限定されている。この
装置の寿命を10年に引き延ばして考えてみると5分間
に1回ずつの消去に限定される。
のである。
は,多過ぎるプログラム/消去の回数に耐えることから
切り離すことができるように新規な方法で用いられる。
mメモリに書込むために用いられ,従来のキャッシュの
使用とは違ってフラッシュEEpromメモリからの読
みには用いない。
データは更新され.そのデータはフラッシュEEpro
mメモリへ送られる前に,キャッシュの中で,数回動作
させられるであろう。
込みの回数を減らすことができる。さらにまた,主とし
てより速いキャッシュメモリの中に書込むことにより,
より遅いフラッシュEE p r omへの書込みの回
数を減らし,全体のシステムにおける書込み効率を増強
させることができるという利点が得られる。
ャッシュメモリが極めて有効である。
けるデータ損失の問題を克服するのに役立つ。
,十分な電源で維持することと,フラツシ:LEEpr
omメモリの中に特別に予約された空間である不揮発性
メモリの中にそれらのデータを詰め込んでおくというこ
ともできる。
.書込みキャッシュシステムは全体のシステムから切り
離されて,準備されていた再充電可能な電力供給はキャ
ッシュシステムの電源とフラッシュEEpromメモリ
に準備された空間への電源にのみ利用される。
成するキャッシュシステム701を略図的に示した図で
ある。
romメモリアレイ33に接続されている。
示せず)にホストインタフェース703を介して接続さ
れている。このキャッシュシステム708は2つのメモ
リをもっている。
シュメモリ705である。他はキャッシュメモリ705
の中に保持されるデータファイルに関連する情報を貯蔵
するためのタグメモリ709である。メモリタイミング
/コントロール回路713はキャッシュメモリ705か
らフラッシュEEpromメモリ33へのデータファイ
ルの書込みを制御する。
されている情報と同様にマイクロプロセサシステムの電
源装置にホストインタフェース703と線717を介し
て接続されている電力検出入力715に応答させられる
。
ロール回路713によって検出され.それは揮発性のキ
ャッシュメモリ705の中のデータファイルの全てを不
揮発性のフラッシュEEpromメモリ33にダウンロ
ードするであろう。
33は,セクタ(典型的には512バイトの大きさ)に
組織されており,各セクタ内の全てのメモリセルは.一
緒に消去可能である。
そしてメモリアレイ上の書込み操作は,1または2以上
のそのようなファイルにおいて行なわれる。
セクタの読みの間,データファイルは読み出されて直接
的にホストを介してコントローラに送られる。
われていたようにキャッシュメモリ705を満たすため
に使用されない。
て,それをフラッシュEE p r omメモリ33の
中に書き戻そうと希望したときに,それはキャッシュシ
ステム701に書込みサイクルの要求によりアクセスす
る。
イクルで動作させる。
ッシュメモリ705へ書込まれる。
グメモリ709に書込まれる。第1のものはファイルポ
インタであってキャッシュメモリ705の中に存在する
ファイルを規定する。
メモリの中に最も最後にファイルされたかの時間を物語
るものである。
33に書込みを欲するときはいつでも,そのデータファ
イルはポインタとタグメモリ709の中のタイムスタン
プとともにキャッシュメモリ705の中に最初に現実に
貯蔵されたものである。
みがあったときは,コントローラはまず初めにそのファ
イルが既にキャッシュメモリの中に存在していたもので
あったのか,またはタグメモリ709の中においてタグ
が着けられたもののいずれかであったかを見ることによ
りチェックする。もしそれがタグが着けられていなかっ
たならばフラッシュメモリ33に書込まれる。一方,そ
の標識とタイムスタンプはタグメモリ709に書込まれ
る。
するか.タグが着けられたものであったならば.それは
キャッシュメモリの中で更新され,フラッシュメモリの
中には書込まれない。
みがフラッシュメモリに書込まれる一方,しばしば用い
られるデータファイルはキャッシュメモリの中に捉えら
れている。
みがあったときは,予め定めた時間(例えば5分間のみ
)の間にどこかでさらに書込まれたデータファイルであ
るかどうかを見てチェックする。
まれる。一方,その標識とタイムスタンプはタグメモリ
709に書込まれる。
込まれたものであったならば,それはキャッシュメモリ
705の中に書込まれ,フラッシュメモリへは書込まれ
ない。
へ他の実施例と同様に書込まれる。この方法においても
同様にほとんど使用されないデータファイルのみがフラ
ッシュメモリに記録される一方,しばしば使用されるデ
ータファイルはキャッシュの中に捉えられている。
5は充填されるように使われる。
たことを検出したときにはコントローラはキャッシュメ
モリ705の中のその他のファイルに優先してフラッシ
ュメモリ33の中に書込むことによって保存することを
開始する。
いつでも充填される方向にスタートさせられている。コ
ントローラがある定められた満たされた状態に達したこ
とを検出したときにはコントローラはキャッシュメモリ
705の中に他のものに優先してあるファイルの保存を
フラッシュメモリ35の中にそれらを書込むことによっ
て開始する。
ットはそのときにリセットさせる。そしてこれらのファ
イルが書き終わったものであることを示す。これにより
,キャッシュメモリに入ろうとする新しいデータのため
の空間が形成される。
形成するために,最初に動かされた最も活用されないフ
ァイルをフラッシュメモリ33にもどすことに対する責
任ももたされている。
ァイルのためのタイムスタンプはそのファイルの新しい
活動のためにリセットされない限り,動作させられる度
ごとにコントローラによって集積される。
。すべてのタイムステップ(カウント)にコントローラ
はキャッシュメモリの中のデータファイルに系統的にア
クセスしてこのデータファイルのために,最後に書き込
まれスタンプを読む。
ムステップ(すなわちカウントを1上昇)で加算する。
動にしたがって2つのことが起こる。
生したという事象によってリセットされることである。
ないで,そのタイムスタンプがキャッシュから除去され
るまで加算されることである。現実問題として最大の限
界は,もしファイルが更新(新しい活動が発生したこと
)のときにビットの位置は,“シフトレジスタの当初の
位置にセットされるであろう。
おいてビットは次第に最終的なシフト位置に向かってシ
フトされるであろう。各ファイルのカウント値は各タイ
ムステップごとに貯蔵され,それから加算されていく。
れ,その差は問題の時間遅れである。
されたタイムスタンプはデータファイルが書き換えられ
る度に当初の値にリセットされてもどされる。
タンプ標識を持ち,そしてその動作が減少するまで,キ
ャッシュメモリの中に保存されるであろう。不活動の期
間が経過した後に.それらは最大のタイムスタンプ標識
を得る。
に貯蔵され.新しい,より使用されるファイルのために
キャッシュメモリの中のスペースを空けていく。
ファイルがフラッシュメモリに移動されるにしたがって
あけられていく。
ファイルのために場所が空けられている必要があり,コ
ントローラはいくつかの古いファイルを除去してそれを
フラッシュメモリ33の中に保存する。
グ/コントロール回路713によってなされる。ファイ
ルを保存することについての決定はいろいろな領域に基
礎づけられている。コントローラがそのシステムにおけ
る書込みの発生頻度をいつも監視しており,キャッシュ
がどの程度満たされているかをみている。
きには保存がされる必要はない。もし,より多くの空き
部屋が要求されるときは,最も速い時間のタイムスタン
プをもつファイルが最初に移動され,フラッシュメモリ
に貯蔵される。
関連して記述されてきたが,他の構成が可能であるとい
うようにも理解されたい。
のどこに存在してもよいし,また現存するマイクロプロ
セサシステムに用いられるソフトウェアによって実現さ
れても良い。そのような変形は本発明の方の範囲内にあ
る。
れたかというプロファイルはいろいろな要素のもとで決
定される。
ける書込みの発生頻度に依存する。
の高いファイルのみがキャッシュ化されるだろう。より
少ない頻度でアクセスされるファイルはキャッシュメモ
リの大きさを増大することに関連してキャッシュ化され
るであろう。本発明,すなわち比較的安くて小さい量の
キャッシュメモリを使用する場合においては,好ましく
は1メガバイト程度のものの利用が有効である。
的に書込まないようにすることにより.フラッシュEE
p r omの書込み頻度は,各ミリ秒ごとのものを
5分毎秒程度に減少させることができるであろう。
というように延ばすことができる。この改良は書込み時
間中のシステムの動作能率を向上させるという改良にな
って現れる。
いうことは,ライトキャッシュバッファメモリを比較的
小さくするという利点となり.その理由は.それがしば
しば,書かれるデータファイルの貯蔵に用いられ,その
他のファイルはフラッシュEEpromメモリに直接書
込まれるのである。第2の特徴は,ライトキャッシュバ
ッファの人出で,ある移動データファイルの管理は.次
にどのデータファイルが呼ばれるかという進んだ知識を
要求されないので,自動化できることである。
テムの中で,フラッシュEEpromシステムを通常の
不揮発性大量記憶測定の有力な新しい代替物となるとい
うことについて記述されてきた。
側面は好ましい実施例形態であって,当業者はそれらの
変形例はそれらについて種々の変形が可能であると理解
できるであろう。
において保護が与えられるべきものである。
リシステムを含むマイクロプロセサシステムのブロック
図である。 第IB図は,ある数のフラッシュEEpromメモリチ
ップと一つのコントローラチ,ツブを含むシステムを示
すブロック図である。 第2図は.消去されるべく選択されるメモリセクタを含
むフラッシュEEpromチップシステムの略図である
。 第3A図は.本発明による多数のセクタの選択的消去を
実現するためのコントローラの回路を示すブロック図で
ある。 第3B図は,第2A図に示された消去のために一つのセ
クタを選択するために使用される典型的なレジスタの詳
細を示す回路図である。 第4図は,複数のセクタ消去選択の消去シーケンスを図
示した流れ図である。 第5図は,一つのフラッシュEEpromセクタをデー
タ領域と予備の冗長領域に分けたことを示す略図である
。 第6図は,本発明による欠陥マッピングを使用した読込
み操作中におけるデータバスを示したブロック図である
。 第7図は.本発明による欠陥マッピングを使用した書込
み時におけるデータの制御パスを図示したブロック図で
ある。 第8図は,コントローラの中の書込みキャッシュ回路を
図示したブロック図である。 21・・・マイクロプロセサ 23・・・システムバス 25・・・RAM27
・・・I /O装置 29・・・バルクメモリ
31・・・メモリコントローラ 3 3・・・EEp r omアレイ (メモリ)35
.37・・・シリアルデータ線 39・・・データパス 40・・・インタフェース回路 41・・・システム制御線 43.45.47=EEpromチップ49,51,5
3・・・チップセレクト (イネイブル)57・・・論
理およびレジスタ回路 59・・・バス201,2
03.205−EEpromチップ209・・・線 211.213・・・セクタ 221.223・・・レジスタ 225・・・コマンドレジスタ 227・・・シリアルインタフェース 229・・・コマンドデコーダ 231・・・アドレスレジスタ 233・・・アドレスデコーダ 503・・・メモリアドレス発生器 505・・・ホー}(μpインタフェース)507・・
・DMAコントローラ 509・・・ホールディングレジスタファイル511・
・・コマンドシーケンサ 513・・・マルチプレクサ 515・・・受信
器517・・・欠陥データ代替ファイル 519・・・FIFO 521・・・コンパレータ 523・・・マルチブレクサ 525・・・出力インタフェース 527・・・ECCハードウエア 601・・・FIFO 603・・・インタフェース 605・・・マルチブレクサ 特許出願人 サンディスク コーボレイション代理人
弁理士 井 ノ ロ 壽一一−一→一一
Claims (62)
- (1)フラッシュEEpromシステムで、それぞれは
フラッシュEEpromセルのアレイをもち、そのアレ
イは複数のセクタに分けられており、各セクタはその中
に含まれている全てのセルを同時に消去できるようにア
ドレス可能である1以上の集積回路チップと、 消去動作のために1または2以上のチップから複数のセ
クタを選択する手段と、そして 選択された前記セクタに対してのみ、同時消去を実行す
る手段と、 からなるフラッシュEEpromシステム。 - (2)請求項1記載のフラッシュEEpromであつて
、 チップに関する読みまたは書きの操作はチップセレクト
信号により可能にされており、チップに対しての消去操
作はチップセレクト信号に無関係に行なわれるフラッシ
ュEEpromシステム。 - (3)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 消去操作のために選ばれた複数個のセクタについて消去
の操作が行なわれ、 一方、消去操作により選ばれなかった他の装置について
は、読み書きその他の操作が行なわれるフラッシュEE
promシステム。 - (4)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 選択された複数のセクタから1または2以上のセクタの
組合せを個々に取り除き、前記取り除かれたセクタが前
記消去操作中にさらに消去されることを防ぐようにする
手段をさらに含むフラッシュEEpromシステム。 - (5)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 全てのセクタを同時に選択しない手段をさらに含むフラ
ッシュEEpromシステム。 - (6)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 前記選択手段は、各々のセクタに関連してステータスを
保持するために設けられ、そのセクタが選択されたか、
されないかを指示するための個々のレジスタをさらに含
むフラッシュEEpromシステム。 - (7)請求項6記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 前記同時消去手段は、前記個々のレジスタの各々のステ
ータスに応答し、選ばれたセクタのみが消去に含まれる
ようにするフラッシュEEpromシステム。 - (8)請求項6記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 選ばれた状態を指示する個々のレジスタの1または2以
上の組合せは、個々に選ばれなかった状態にリセット可
能であるフラッシュEEpromシステム。 - (9)請求項6記載のフラッシュEEpromシステム
であって、 前記全ての個々のレジスタは、関連するセクタが選択さ
れなかったことを示すステータスへ同時にリセット可能
なものであるフラッシュEEpromシステム。 - (10)フラッシュEEpromセルのアレイの中の欠
陥セルから誤りを修正するためのシステムであって、 代替セルと、 1または2以上の欠陥セルを対応する数の代替セルに代
替するための手段から構成したシステム。 - (11)請求項10記載のEEpromセルのアレイに
含まれる欠陥セルから誤差を修正するためのシステムで
あって、 前記代替手段は新しく発見された欠陥セルに対しても直
ちに適用されるものであるシステム。 - (12)請求項10記載のEEpromのアレイの中の
欠陥セルから誤差を修正するためのシステムであって、 前記アレイは各セクタに含まれるセルが同時に請求され
るように複数のフラッシュ消去可能なセクタに分割され
ており、 前記代替セルは欠陥セルと同じセクタの中に設けられて
いるシステム。 - (13)請求項11記載のフラッシュEEpromセル
のアレイに含まれる欠陥セルから誤り修正のためのシス
テムであつて、 前記欠陥セルのアドレスを対応する代替セルに結びつけ
るための欠陥ポインタを蓄積するための欠陥マップをさ
らに含むシステム。 - (14)請求項13記載のフラッシュEEpromセル
のアレイに含まれる欠陥セルの中の誤ったデータを修正
するためのシステムであって、 前記欠陥セルのための欠陥マップは前記欠陥セルと同じ
セクタに設けられているシステム。 - (15)請求項10記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルから誤りを修正するためのシス
テムであつて、 前記アレイは複数のフラッシュ消去可能なセクタに分け
られており、各セルの中の全てのセルは同時に消去可能
であり、 そのセクタの中の欠陥セルの数が予め定められた数を越
えない限りにおいて、代替セルは同じセクタ内に設けら
れ、 前記数を越える場合においては、代替セルは異なったセ
クタに設けられるシステム。 - (16)請求項15記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中に含まれる欠陥セルから誤りを修正するた
めのシステムであって、 前記数を越えるときに、前記セクタはそのままそっくり
代替セルによって置き換えられるシステム。 - (17)請求項15記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中に含まれる欠陥セルから誤りを修正するた
めのシステムであって、 前記代替手段は新しい欠陥セルが検出されるや否やその
セルにもまた自動的に適用されるものであるシステム。 - (18)請求項17記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠捲セルから誤りを修正するためのシス
テムであつて、 誤差修正コードを使用することを含むシステム。 - (19)フラッシュEEpromセルのアレイの中の欠
陥セルの中の悪いデータを修正するためのシステムであ
って、 欠陥セルのために予定される良いデータを保存するため
の代替セルと、 1または2以上の欠陥セルの中のデータをその欠陥セル
がアクセスされたときに対応する代替セルの中の良いデ
ータに置き換えるための手段とからなるシステム。 - (20)請求項10記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中に含まれる欠陥セルの中の悪いデータを修
正するためのシステムであって、 欠陥セルに書き込まれるべく予定されている良いデータ
を対応する代替セルに自動的に蓄積することにより、良
いデータの完全性を保つシステム。 - (21)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 前記代替手段は新しい欠陥セルが発見されると同時にそ
のセルに自動的に適用されるシステム。 - (22)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 各セクタの中の全てのセルが同時に消去できるというフ
ラッシュ消去可能なセクタの複数個に分割されており、
そこにはデータが蓄積されている前記アレイと、 悪いデータが含まれているデータがアクセスされた後に
、前記代替手段が適用するシステム。 - (23)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥データの中の悪いデータを修正する
ためのシステムであって、 前記アレイは各セクタの中の全てのセルが同時に消去さ
れるようなフラッシュ消去セクタの複数個に分割されて
おり、 前記代替セルは欠陥セルと同じセクタの中に設けられて
いるシステム。 - (24)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 欠陥セルのアドレスと対応する代替セルのそれを関連づ
ける欠陥ポインタを記憶するための欠陥マップをさらに
含むシステム。 - (25)請求項24記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 前記欠陥セルのための欠陥マップは前記欠陥セルと同じ
セクタの中に位置させられているシステム。 - (26)請求項19記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 各々のセクタの中に含まれる全てのセルが同時に消去さ
れるようなフラッシュ消去セクタの複数組に分割されて
いる前記アレイと、 セクタの中の欠陥セルの数が予め定められた値を越えて
いないときには前記代替セルは前記欠陥セルと同じセク
タの中にあり、 前記数を越える場合には、前記代替セルは異なったセク
タの中にあるシステム。 - (27)請求項26記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 前記数を越える場合には前記セクタは全体として代替セ
クタに置き換えられるシステム。 - (28)請求項26記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 前記代替手段は新しく発生する欠陥セルに自動的に適用
されるシステム。 - (29)請求項28記載のフラッシュEEpromセル
のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
めのシステムであって、 誤差修正コードを使用するシステム。 - (30)フラッシュEEpromメモリの中にデータフ
ァイルを書込むための改良されたシステムであって、 前記フラッシュEEpromメモリのために予定された
データを一時的に蓄積するためのキャッシュメモリは前
記フラッシュEEpromメモリよりもより多くの読み
/消去回数に有効に耐えるものであるキャッシュメモリ
と、 あるシステムに応答し、前記フラッシュEEpromメ
モリの代わりにデータファイルを書き込むための手段と
、 前記キャッシュメモリの中の各データファイルを識別す
るための手段と、 各データファイルが最後に書き込まれたときからの時間
を決定するための手段と、 前記キャッシュメモリの中に新しいデータファイルが要
求されて余分な空間が必要になったときに前記キャッシ
ュメモリからフラッシュEEpromメモリへ最後に書
込まれて以来の最も長い時間を持つ、第1移動データフ
ァイルのための手段と、 からなる改良されたシステム。 - (31)請求項30記載の改良されたシステムであって
、 キャッシュメモリの中のファイルをダウンロードするた
めのバックアップされた不揮発性メモリと、 起こった電源の欠陥に応答して、キャッシュメモリの中
のデータファイルをバックアップメモリにダウンロード
するための手段で、これにより揮発性のキャッシュメモ
リからデータファイルを救う手段と、 から構成した改良されたシステム。 - (32)請求項30記載の改良されたシステムであって
、 そこにおいて、バックアップメモリはフラッシュEEp
romメモリの一部である改良されたシステム。 - (33)請求項30記載の改良されたシステムであって
、 キャッシュメモリはフラッシュEEpromメモリのア
クセス時間よりも明らかに速い応答時間を持つものであ
る改良されたシステム。 - (34)請求項30記載の改良されたシステムであって
、 フラッシュEEpromメモリの操作を制御するための
コントロール回路チップを持ち、 これにより改良されたシステムはコントローラ回路チッ
プの一部である改良されたシステム。 - (35)請求項30記載の改良されたシステムであって
、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
持ち、前記改良されたシステムはランダムアクセスメモ
リをもつマイクロプロセサの中にソフトウェアによって
組み込まれているものである改良されたシステム。 - (36)フラッシュEEpromメモリにデータファイ
ルを書込むための改良されたシステムであって、データ
ファイル書込みのために、フラッシュEEprom、E
Epromの代わりにキャッシュメモリに書く、あるシ
ステムに応答する手段と、前記フラッシュEEprom
メモリに書込むシステムに応答する手段と、 データファイルの識別子と各データファイルが最後に書
込まれたときを記憶するためのタグメモリと、 前記キャッシュメモリの中に新しいデータファイルのた
めの余分なスペースが要求されたときに前記キャッシュ
メモリから前記フラッシュEEpromメモリに最後に
書き込まれた時間が最も長いものを持つ最初に動いたデ
ータファイルのための手段であり、これによって現実に
書き込む回数を自主的に減少させることにより、フラッ
シュEEpromメモリに開運するストレスを減少させ
る手段とからなる改良されたシステム。 - (37)請求項36記載の改良されたシステムであって
、 キャッシュメモリの中のデータファイルをダウンロード
するためのバックアップされた不揮発性メモリと、 前記バックアップメモリにキャッシュメモリの中のデー
タをダウンロードするために電圧欠陥の発生に応答する
手段であって、これにより揮発性のキャッシュメモリか
らデータを救済する改良された手段。 - (38)請求項36記載の改良されたシステム、におい
て、 バックアップメモリはフラッシュEEpromの一部で
ある改良されたシステム。 - (39)請求項36記載の改良されたシステムにおいて
、キャッシュメモリはフラッシュEEpromメモリの
アクセスタイムよりも実質的に速いものである改良され
たシステム。 - (40)請求項36記載の改良されたシステムであって
、 フラッシュEEpromの操作をコントロールするため
のコントロールチップを含み、 これにより改良されたシステムはコントローラ回路チッ
プの一部を形成する改良されたシステム。 - (41)請求項36記載の改良されたシステムであって
、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
含み、 ここにおいて改良されたシステムはランダムアクセスメ
モリを持つマイクロプロセサシステムの中にソフトウェ
アによって構築されたものである改良されたシステム。 - (42)フラッシュEEpromメモリの中にデータフ
ァイルを書込むための改良されたシステムであって、 フラッシュEEpromメモリのためを意図して、一時
的にデータファイルを蓄積するためのキャッシュメモリ
であって、このキャッシュメモリは前記フラッシュEE
promメモリの書込み/消去サイクルよりかなり多い
回数に耐えることができるキャッシュメモリと、 あるシステムに応答する手段であってデータファイルを
フラッシュEEpromメモリかその代わりにキャッシ
ュメモリに書込む手段と、 前記キャッシュメモリの中に予めコピーした前記データ
ファイルが存在しないときに、前記フラッシュEEpr
omに書込み、そして前記キャッシュメモリの中に前記
データファイルの前のコピーが存在しているときに、キ
ャッシュメモリに書込む前記応答手段と、 前記キャッシュメモリの中に新しくデータファイルのた
めの余分な空間が必要になったときに、前記キャッシュ
メモリから前記フラッシュEEpromメモリに最後に
書込まれた最も長い時間をもつ最初に移動したデータフ
ァイルのための手段とからなる改良されたシステム。 - (43)請求項42記載の改良されたシステムであって
、 キャッシュメモリの中のファイルをバックアップされた
不揮発性メモリの中にダウンロードするためのバックア
ップされた不揮発性メモリと、キャッシュメモリの中の
データファイルをバックアップメモリヘダウンロードす
るために電力欠陥に応答する手段で、これにより不揮発
性キャッシュメモリで発生する問題からデータファイル
を救済する改良されたシステム。 - (44)請求項12記載の改良されたシステムにおいて
、 前記バックアップメモリはフラッシュEEpromの一
部であるシステム。 - (45)請求項42記載のフラッシュEEpromメモ
リの中へデータを書込むための改良されたシステムであ
って、 書込みのための前記応答手段は、データファイルの識別
子と各データファイルが最後に書込まれた時間を記憶す
るためのタグメモリとを含み、前記応答手段は前記デー
タファイルがタグメモリの中にタグされていないときに
、フラッシュメモリに書込み、タグメモリの中に前記デ
ータファイルがタグされているときはキャッシュメモリ
に書込むものである改良されたシステム。 - (46)フラッシュEEpromメモリにデータファイ
ルを書込むための改良されたシステムであって、フラッ
シュEEpromメモリのために意図されたデータファ
イルを一時的に記憶するキャッシュメモリであって、前
記キャッシュメモリは前記フラッシュメモリの書込み/
消去回数よりも、はるかに耐力を持つキャッシュメモリ
と、 あるシステムに応答して、フラッシュEEpromメモ
リまたはその代わりにキャッシュメモリのいずれかにデ
ータファイルを書込むためにEEpromメモリに書込
む手段であって、前記応答手段は前記予め定めた時間よ
り後に前記アァイルに最後に書込まれたときに前記フラ
ッシュEEpromに書込み、予め定められた期間内に
最後に書込まれたファイルであるときに、前記キャッシ
ュメモリに書込む応答手段と、 キャッシュメモリに新しいデータファイルの余分な空間
が要求されたときに、前記キャッシュメモリからフラッ
シュEEpromメモリに最後に書込まれた最も長い時
間を持つ最初に移動したデータファイルのための手段で
あって、これにより、現実の書込みの回数を減らして、
フラッシュEEpromメモリへ関連するストレスを最
小にする最初に移動したデータファイルのための手段と
から構成された改良されたシステム。 - (47)請求項46記載の改良されたシステムにおいて
、 前記キャッシュメモリは前記フラッシュEEpromメ
モリのアクセスタイムよりかなり速いアクセスタイムを
持っている前記改良されたシステム。 - (48)請求項46記載の改良されたシステムであって
、 フラッシュEEpromの動作を制御するための制御回
路チップを含み、ここにおいて改良されたシステムはコ
ントロール回路チップの一部である改良されたシステム
。 - (49)請求項46記載の改良されたシステムであって
、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
含み、ここにおいて改良されたシステムはランダムアク
セスメモリを持つマイクロプロセサの中にソフトウェア
によって構成されるものである改良されたシステム。 - (50)フラッシュEEpromメモリにデータファイ
ルを書込むための改良されたシステムであって、フラッ
シュEEpromメモリを意図するデータファイルを一
時的に記憶/貯蔵するためのキャッシュメモリであって
、前記キャッシュメモリは前記フラッシュEEprom
メモリが書込み/消去のサイクルで耐える回数よりもか
なり多くの回数に耐え得るものであるキャッシュメモリ
と、データファイルの標識と各データファイルが最初に
書込まれた時間を蓄積するためのタグメモリと、 あるシステムに応答してデータファイルを前記フラッシ
ュEEpromメモリかまたはその代わりにキャッシュ
メモリに書込むためのフラッシュEEpromヘ書込む
手段であって、前記応答手段は前記データファイルが前
記タグメモリの中で標識されないときに、前記フラッシ
ュEEpromに書込み、データファイルがタグメモリ
の中で標識されたときには、キャッシュメモリに書込む
応答手段と、 キャッシュメモリに新しいデータファイルのための余分
なスペースが要求されたときに、キャッシュメモリから
前記フラッシュメモリに最後に書込まれたときから最も
長い時間を持つ最初に移動したデータファイルのための
手段であって、これにより、現実の書込みの回数を減ら
し、フラッシュEEpromに加えられるであろうスト
レスを減少させる手段を含む改良されたシステム。 - (51)請求項50記載の改良されたシステムであって
、 キャッシュの中のデータファイルをダウンロードするた
めのバックアップ不揮発性メモリと、発生した電力欠陥
に応答してキャッシュメモリの中のデータファイルをバ
ックアップメモリにダウンロードするための手段であっ
て、これによりキャッシュメモリの中の揮発からデータ
ファイルを救済する応答手段からなる改良されたシステ
ム。 - (52)請求項50記載の改良されたシステムであって
、ここにおいてバックアップメモリは前記フラッシュE
Epromメモリの一部である改良されたシステム。 - (53)請求項50記載の改良されたシステムであって
、 ここにおいてキャッシュメモリは、前記フラッシュEE
promメモリのアクセスタイムよりもかなり速いアク
セスタイムを持つものである改良されたシステム。 - (54)請求項50記載の改良されたシステムにおいて
、 前記フラッシュEEpromの操作を制御するためのコ
ントローラ回路チップを含み、これにより改良されたシ
ステムはコントローラ回路チップの一部分である改良さ
れたシステム。 - (55)請求項50記載の改良されたシステムであって
、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
含み、ここにおいて、改良されたシステムはランダムア
クセスメモリを持つマイクロプロセサの中にソフトウェ
アによって構築されたシステムである改良されたシステ
ム。 - (56)システムバスと標準電源通信連絡するようにコ
ンピュータシステムに差し込まれるのに適したメモリカ
ードであって、次のものを含む、 複数のEEpromの集積回路チップであって、それぞ
れのチップは、 大きな数の個々にアドレス可能な蓄積セルであって、そ
れらは複数のセクタに分割され各セクタは複数の前記記
憶セルを含み、 前記任意のセクタの中に含まれる複数の予備の記憶セル
と、 前記システムバス上の信号に応答する手段であって、1
またはそれ以上の指定されたセクタの全てのセルを消去
するために前記セクタの他のセルを消去しない応答手段
、 アドレスされた蓄積セルの状態を読むために、前記シス
テムバスの信号に応答する手段と、アドレスされた蓄積
セルを予め定められた状態にプログラムするために前記
システムバス上の信号に応答する手段と、 前記1つのセクタの中の蓄積セルに企てられたプログ
ラムまたは消去が不成功であったことに応答して予備の
セルを代替させる手段であって、それにより前記セクタ
の残りのセルの動作を保持させる応答手段からなるメモ
リカード。 - (57)請求項56にしたがうメモリカードであって、
それは前記カードに設けられたキャッシュメモリをさら
に含み、そして前記プログラム手段は前記EEprom
よりはむしろ前記キャッシュメモリを初期的にプログラ
ムする手段を含み、 前記読み込み手段は前記キャッシュメモリが読出される
べきデータを含んでいるかどうかを初期的に決定する手
段を含み、そして前記キャッシュメモリが書込みのため
に満たされ、その最も古い使用されていないブロックの
データを前記EEpromメモリに書込むための手段と
、これにより前記キャッシュメモリの中に新しいデータ
の余地を形成するようにしたメモリカード。 - (58)請求項56記載のメモリカードであって、前記
チップは複数の予備のセクタを含み、ここにおいて、前
記代替手段は前記セクタの中のセルの数が一定値に達し
たときに前記セクタの一つのために前記予備のセクタを
代替する手段を含むメモリカード。 - (59)請求項58記載のメモリカードであって、誤差
修正コードを用いる誤り修正を行なう手段を含むメモリ
カード。 - (60)請求項56記載のメモリカードであって、前記
システムバスに接続されているコントローラとインタフ
ェースを含み、前記コントローラは前記コンピュータシ
ステムに接続可能である標準的な磁気ディスク駆動装置
のための命令に応答可能なものであり、これにより前記
ディスク駆動システムと同等、またはそれ以上のもので
あるメモリカード。 - (61)請求項56記載のメモリカードであって、その
中にはEEpromチップの種々の操作のために種々の
動作電圧が要求されており、標準電源から種々の動作電
圧を発生させる手段を含むメモリカード。 - (62)請求項16記載のメモリカーカードをその中に
含んでいる貯蔵システムであって、 前記EEpromチップの動作を制御するためのコント
ローラと、 前記EEpromチップの動作のための電圧発生手段と
、 前記貯蔵システムの動作中に誤差を修正する手段と、 前記貯蔵システムをコンピュータシステムにインタフェ
ースするための手段とからなる蓄積システム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US33756689A | 1989-04-13 | 1989-04-13 | |
US337566 | 1989-04-13 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02384299A Division JP3944326B2 (ja) | 1999-02-01 | 1999-02-01 | フラッシュEEpromシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02292798A true JPH02292798A (ja) | 1990-12-04 |
JP3226042B2 JP3226042B2 (ja) | 2001-11-05 |
Family
ID=23321048
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9911490A Expired - Lifetime JP3226042B2 (ja) | 1989-04-13 | 1990-04-12 | フラッシュEEpromシステム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (29) | US5297148A (ja) |
EP (6) | EP0935255A2 (ja) |
JP (1) | JP3226042B2 (ja) |
DE (5) | DE69033438T2 (ja) |
Cited By (71)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04351794A (ja) * | 1991-05-29 | 1992-12-07 | Hitachi Ltd | 不揮発性記憶装置 |
JPH05216001A (ja) * | 1992-02-06 | 1993-08-27 | Nec Corp | Lcd製造装置 |
JPH05242688A (ja) * | 1992-02-27 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | フラッシュeepromを用いた記録再生装置 |
JPH05313989A (ja) * | 1992-05-08 | 1993-11-26 | Toshiba Corp | メモリカード装置 |
JPH064399A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-14 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPH065094A (ja) * | 1992-06-17 | 1994-01-14 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH0675836A (ja) * | 1992-08-25 | 1994-03-18 | Nippon Densan Corp | 補助記憶装置 |
JPH06139140A (ja) * | 1990-12-31 | 1994-05-20 | Intel Corp | 不揮発性半導体メモリのファイル構造 |
JPH06163856A (ja) * | 1992-11-19 | 1994-06-10 | Fujitsu Ltd | 一括消去型不揮発性半導体記憶装置およびその試験方法 |
JPH06202942A (ja) * | 1991-11-12 | 1994-07-22 | Allen Bradley Co Inc | フラッシュメモリ回路と操作方法 |
JPH06208799A (ja) * | 1992-10-30 | 1994-07-26 | Intel Corp | フラッシュメモリの動作を監視する方法 |
JPH06259320A (ja) * | 1993-03-04 | 1994-09-16 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリ装置 |
JPH06314496A (ja) * | 1993-04-30 | 1994-11-08 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5371702A (en) * | 1992-03-05 | 1994-12-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Block erasable nonvolatile memory device |
US5379262A (en) * | 1992-07-01 | 1995-01-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device |
JPH076595A (ja) * | 1993-01-05 | 1995-01-10 | Texas Instr Inc <Ti> | フラッシュメモリの保護方式を持つスマート消去アルゴリズム |
EP0619541A3 (en) * | 1993-04-08 | 1995-03-01 | Hitachi Ltd | Flash memory control method and information processing system using it. |
JPH0773690A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-03-17 | Sharp Corp | Eepromを使用した記録装置 |
JPH07146820A (ja) * | 1993-04-08 | 1995-06-06 | Hitachi Ltd | フラッシュメモリの制御方法及び、それを用いた情報処理装置 |
JPH07160590A (ja) * | 1993-12-07 | 1995-06-23 | Sansei Denshi Japan Kk | 記憶データアクセス方法とその装置 |
JPH07271664A (ja) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録再生装置 |
JPH0887876A (ja) * | 1994-07-25 | 1996-04-02 | Samsung Electron Co Ltd | Nand形フラッシュメモリicカード |
US5509018A (en) * | 1992-09-11 | 1996-04-16 | International Business Machines Corporation | Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device |
US5611067A (en) * | 1992-03-31 | 1997-03-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device having means for selective transfer of memory block contents and for chaining together unused memory blocks |
JPH09502824A (ja) * | 1993-05-28 | 1997-03-18 | マクロニクス インターナショナル カンパニイ リミテッド | 過消去保護用ブロック消去フラグを有するフラッシュeprom |
JPH0997217A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Canon Inc | フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置 |
JPH0997199A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Canon Inc | フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置 |
US5644539A (en) * | 1991-11-26 | 1997-07-01 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
JPH10125081A (ja) * | 1996-10-21 | 1998-05-15 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリ |
JPH11504147A (ja) * | 1992-09-21 | 1999-04-06 | サンディスク コーポレイション | Eepromにおける潜在欠陥の操作法(管理法) |
JPH11110263A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Sony Corp | 記憶装置、データ処理装置及びデータ処理方法 |
JPH11512544A (ja) * | 1995-09-13 | 1999-10-26 | レクサー・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド | 半導体不揮発性大容量記憶メモリ内の自動摩耗レベリングによるシステム・データ制御の方法およびアーキテクチャ |
JP2000148583A (ja) * | 1992-06-22 | 2000-05-30 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2000163314A (ja) * | 1992-06-22 | 2000-06-16 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US6078520A (en) * | 1993-04-08 | 2000-06-20 | Hitachi, Ltd. | Flash memory control method and information processing system therewith |
US6081447A (en) * | 1991-09-13 | 2000-06-27 | Western Digital Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
US6161195A (en) * | 1992-05-08 | 2000-12-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | EEPROM memory card device having defect relieving means |
JP2001181934A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-07-03 | Truetzschler Gmbh & Co Kg | 紡績機械、特に紡績準備機械を電子的に制御する装置 |
JP2001273776A (ja) * | 1991-12-19 | 2001-10-05 | Toshiba Corp | キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置、半導体記憶システムおよびメモリベリファイ回路 |
US6347051B2 (en) | 1991-11-26 | 2002-02-12 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6351787B2 (en) | 1993-03-11 | 2002-02-26 | Hitachi, Ltd. | File memory device and information processing apparatus using the same |
JP2002133877A (ja) * | 2001-09-03 | 2002-05-10 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2002170389A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-06-14 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置とその動作方法 |
JP2002236612A (ja) * | 2002-01-21 | 2002-08-23 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2003501758A (ja) * | 1999-06-04 | 2003-01-14 | ドゥデケム・ダコズ,ザビエール・ギィ・ベルナール | カードメモリ装置 |
US6549974B2 (en) | 1992-06-22 | 2003-04-15 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor storage apparatus including a controller for sending first and second write commands to different nonvolatile memories in a parallel or time overlapped manner |
US6581132B1 (en) | 1997-12-16 | 2003-06-17 | Tdk Corporation | Flash memory system including a memory manager for managing data |
US6591329B1 (en) | 1997-12-22 | 2003-07-08 | Tdk Corporation | Flash memory system for restoring an internal memory after a reset event |
JP2003331589A (ja) * | 2003-06-13 | 2003-11-21 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリ装置 |
JP2004095168A (ja) * | 1991-12-19 | 2004-03-25 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置、キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、および半導体記憶システム |
JP2004240993A (ja) * | 2004-04-12 | 2004-08-26 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2004303278A (ja) * | 1991-11-28 | 2004-10-28 | Hitachi Ltd | 情報処理システム |
JP2004311016A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Samsung Electronics Co Ltd | マルチチップでマルチセクタ消去動作モードを支援する半導体メモリチップ及びマルチチップパッケージ、及びマルチセクタ消去方法 |
JP2005100470A (ja) * | 2004-12-28 | 2005-04-14 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005196658A (ja) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Buffalo Inc | 外部記憶装置 |
JP2005339581A (ja) * | 2005-08-08 | 2005-12-08 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005339763A (ja) * | 2005-03-18 | 2005-12-08 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2006509304A (ja) * | 2002-12-09 | 2006-03-16 | サンディスク コーポレイション | 不揮発性メモリにおける欠陥のためのゾーン境界調整 |
JP2006209808A (ja) * | 1992-01-29 | 2006-08-10 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
US7120729B2 (en) | 2002-10-28 | 2006-10-10 | Sandisk Corporation | Automated wear leveling in non-volatile storage systems |
US7139201B2 (en) | 1991-12-19 | 2006-11-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
US7190617B1 (en) | 1989-04-13 | 2007-03-13 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
JP2007172650A (ja) * | 1991-11-28 | 2007-07-05 | Hitachi Ltd | フラッシュメモリを備えた情報機器 |
JP2007250186A (ja) * | 2007-07-09 | 2007-09-27 | Renesas Technology Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2008108281A (ja) * | 2008-01-10 | 2008-05-08 | Renesas Technology Corp | 半導体ディスク装置 |
JP2009530758A (ja) * | 2006-03-13 | 2009-08-27 | マイクロン テクノロジー, インク. | メモリデバイス分散型制御器システム |
JP2009282505A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-12-03 | Canon Inc | 不揮発性メモリの制御装置及び画像形成装置 |
US7949910B2 (en) | 2008-04-24 | 2011-05-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system and control method thereof |
JP2012523624A (ja) * | 2009-04-08 | 2012-10-04 | グーグル インコーポレイテッド | フラッシュメモリデータストレージデバイスにデータを格納するための方法及び装置 |
JP2013033507A (ja) * | 2012-10-31 | 2013-02-14 | Fujitsu Ltd | データ制御方法およびシステム |
US9244842B2 (en) | 2009-04-08 | 2016-01-26 | Google Inc. | Data storage device with copy command |
Families Citing this family (1304)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5268319A (en) * | 1988-06-08 | 1993-12-07 | Eliyahou Harari | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
US8027194B2 (en) | 1988-06-13 | 2011-09-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system and method of accessing a semiconductor memory device |
US5844842A (en) * | 1989-02-06 | 1998-12-01 | Hitachi, Ltd. | Nonvolatile semiconductor memory device |
DE69033438T2 (de) * | 1989-04-13 | 2000-07-06 | Sandisk Corp., Santa Clara | Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze |
US5535328A (en) * | 1989-04-13 | 1996-07-09 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory system card with flash erasable sectors of EEprom cells including a mechanism for substituting defective cells |
US7447069B1 (en) | 1989-04-13 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
US5603000A (en) * | 1989-05-15 | 1997-02-11 | Dallas Semiconductor Corporation | Integrated circuit memory with verification unit which resets an address translation register upon failure to define one-to-one correspondences between addresses and memory cells |
JP2617026B2 (ja) * | 1989-12-22 | 1997-06-04 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 障害余裕性メモリ・システム |
JPH04221496A (ja) * | 1990-03-29 | 1992-08-11 | Intel Corp | 単一基板上に設けられるコンピュータメモリ回路およびコンピュータメモリを消去するためのシーケンスを終らせる方法 |
US5222109A (en) * | 1990-12-28 | 1993-06-22 | Ibm Corporation | Endurance management for solid state files |
GB2251323B (en) * | 1990-12-31 | 1994-10-12 | Intel Corp | Disk emulation for a non-volatile semiconductor memory |
US5293236A (en) * | 1991-01-11 | 1994-03-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Electronic still camera including an EEPROM memory card and having a continuous shoot mode |
US5218569A (en) * | 1991-02-08 | 1993-06-08 | Banks Gerald J | Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per memory cell |
KR960002004B1 (ko) * | 1991-02-19 | 1996-02-09 | 가부시키가이샤 도시바 | 기록검증 제어회로를 갖춘 전기적으로 소거 및 프로그램가능한 독출전용 기억장치 |
US5388220A (en) * | 1991-03-19 | 1995-02-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Parallel processing system and data transfer method which reduces bus contention by use of data relays having plurality of buffers |
US5663901A (en) * | 1991-04-11 | 1997-09-02 | Sandisk Corporation | Computer memory cards using flash EEPROM integrated circuit chips and memory-controller systems |
GB2256735B (en) * | 1991-06-12 | 1995-06-21 | Intel Corp | Non-volatile disk cache |
JP2582487B2 (ja) * | 1991-07-12 | 1997-02-19 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 半導体メモリを用いた外部記憶システム及びその制御方法 |
US5430859A (en) * | 1991-07-26 | 1995-07-04 | Sundisk Corporation | Solid state memory system including plural memory chips and a serialized bus |
US5438573A (en) * | 1991-09-13 | 1995-08-01 | Sundisk Corporation | Flash EEPROM array data and header file structure |
US5778418A (en) * | 1991-09-27 | 1998-07-07 | Sandisk Corporation | Mass computer storage system having both solid state and rotating disk types of memory |
JPH05100699A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Sharp Corp | 音声記録再生装置 |
US5359569A (en) * | 1991-10-29 | 1994-10-25 | Hitachi Ltd. | Semiconductor memory |
EP1126474B1 (en) * | 1991-11-20 | 2003-03-05 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device |
JPH05151097A (ja) * | 1991-11-28 | 1993-06-18 | Fujitsu Ltd | 書換回数制限型メモリのデータ管理方式 |
JP3122201B2 (ja) * | 1991-11-30 | 2001-01-09 | 株式会社東芝 | メモリカード装置 |
US5361227A (en) * | 1991-12-19 | 1994-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
JP3178909B2 (ja) * | 1992-01-10 | 2001-06-25 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ装置 |
US7071060B1 (en) | 1996-02-28 | 2006-07-04 | Sandisk Corporation | EEPROM with split gate source side infection with sidewall spacers |
US5712180A (en) * | 1992-01-14 | 1998-01-27 | Sundisk Corporation | EEPROM with split gate source side injection |
US5313421A (en) * | 1992-01-14 | 1994-05-17 | Sundisk Corporation | EEPROM with split gate source side injection |
US6222762B1 (en) | 1992-01-14 | 2001-04-24 | Sandisk Corporation | Multi-state memory |
JPH05233426A (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-10 | Fujitsu Ltd | フラッシュ・メモリ使用方法 |
US5687345A (en) * | 1992-03-17 | 1997-11-11 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer having CPU and built-in flash memory that is rewritable under control of the CPU analyzing a command supplied from an external device |
US6414878B2 (en) | 1992-03-17 | 2002-07-02 | Hitachi, Ltd. | Data line disturbance free memory block divided flash memory and microcomputer having flash memory therein |
US7057937B1 (en) | 1992-03-17 | 2006-06-06 | Renesas Technology Corp. | Data processing apparatus having a flash memory built-in which is rewritable by use of external device |
TW231343B (ja) | 1992-03-17 | 1994-10-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
US5422855A (en) * | 1992-03-31 | 1995-06-06 | Intel Corporation | Flash memory card with all zones chip enable circuitry |
US5428579A (en) * | 1992-03-31 | 1995-06-27 | Intel Corporation | Flash memory card with power control register and jumpers |
US5375222A (en) * | 1992-03-31 | 1994-12-20 | Intel Corporation | Flash memory card with a ready/busy mask register |
JPH05324489A (ja) * | 1992-05-15 | 1993-12-07 | Toshiba Corp | 記憶装置 |
US5459742A (en) * | 1992-06-11 | 1995-10-17 | Quantum Corporation | Solid state disk memory using storage devices with defects |
US5592415A (en) | 1992-07-06 | 1997-01-07 | Hitachi, Ltd. | Non-volatile semiconductor memory |
EP0596198B1 (en) * | 1992-07-10 | 2000-03-29 | Sony Corporation | Flash eprom with erase verification and address scrambling architecture |
JPH0750558B2 (ja) * | 1992-09-22 | 1995-05-31 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 一括消去型不揮発性メモリ |
JP3105092B2 (ja) * | 1992-10-06 | 2000-10-30 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ装置 |
US5369616A (en) * | 1992-10-30 | 1994-11-29 | Intel Corporation | Method for assuring that an erase process for a memory array has been properly completed |
US5471604A (en) * | 1992-10-30 | 1995-11-28 | Intel Corporation | Method for locating sector data in a memory disk by examining a plurality of headers near an initial pointer |
US5341339A (en) * | 1992-10-30 | 1994-08-23 | Intel Corporation | Method for wear leveling in a flash EEPROM memory |
US5535369A (en) * | 1992-10-30 | 1996-07-09 | Intel Corporation | Method for allocating memory in a solid state memory disk |
US5740395A (en) * | 1992-10-30 | 1998-04-14 | Intel Corporation | Method and apparatus for cleaning up a solid state memory disk storing floating sector data |
US5822781A (en) * | 1992-10-30 | 1998-10-13 | Intel Corporation | Sector-based storage device emulator having variable-sized sector |
US5337275A (en) * | 1992-10-30 | 1994-08-09 | Intel Corporation | Method for releasing space in flash EEPROM memory array to allow the storage of compressed data |
US5479633A (en) * | 1992-10-30 | 1995-12-26 | Intel Corporation | Method of controlling clean-up of a solid state memory disk storing floating sector data |
US5452311A (en) * | 1992-10-30 | 1995-09-19 | Intel Corporation | Method and apparatus to improve read reliability in semiconductor memories |
US5341330A (en) * | 1992-10-30 | 1994-08-23 | Intel Corporation | Method for writing to a flash memory array during erase suspend intervals |
US5357475A (en) * | 1992-10-30 | 1994-10-18 | Intel Corporation | Method for detaching sectors in a flash EEPROM memory array |
US5416782A (en) * | 1992-10-30 | 1995-05-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for improving data failure rate testing for memory arrays |
US5448577A (en) * | 1992-10-30 | 1995-09-05 | Intel Corporation | Method for reliably storing non-data fields in a flash EEPROM memory array |
US5359570A (en) * | 1992-11-13 | 1994-10-25 | Silicon Storage Technology, Inc. | Solid state peripheral storage device |
JPH06161867A (ja) * | 1992-11-20 | 1994-06-10 | Fujitsu Ltd | 電子機器に設けられたメモリユニットの制御装置 |
US5452251A (en) * | 1992-12-03 | 1995-09-19 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device for selecting and deselecting blocks of word lines |
US5870520A (en) * | 1992-12-23 | 1999-02-09 | Packard Bell Nec | Flash disaster recovery ROM and utility to reprogram multiple ROMS |
FR2700043B1 (fr) * | 1992-12-30 | 1995-02-10 | Neopost Ind | Machine à affranchir permettant de mémoriser un historique. |
US5586285A (en) * | 1993-02-19 | 1996-12-17 | Intel Corporation | Method and circuitry for increasing reserve memory in a solid state memory disk |
US5603036A (en) * | 1993-02-19 | 1997-02-11 | Intel Corporation | Power management system for components used in battery powered applications |
US5455800A (en) * | 1993-02-19 | 1995-10-03 | Intel Corporation | Apparatus and a method for improving the program and erase performance of a flash EEPROM memory array |
US5835933A (en) * | 1993-02-19 | 1998-11-10 | Intel Corporation | Method and apparatus for updating flash memory resident firmware through a standard disk drive interface |
US5740349A (en) * | 1993-02-19 | 1998-04-14 | Intel Corporation | Method and apparatus for reliably storing defect information in flash disk memories |
US5581723A (en) * | 1993-02-19 | 1996-12-03 | Intel Corporation | Method and apparatus for retaining flash block structure data during erase operations in a flash EEPROM memory array |
WO1994019807A1 (en) * | 1993-02-22 | 1994-09-01 | Conner Peripherals, Inc. | Flash solid state drive |
EP0613151A3 (en) | 1993-02-26 | 1995-03-22 | Tokyo Shibaura Electric Co | Semiconductor memory system with flash EEPROM. |
JP3078946B2 (ja) * | 1993-03-11 | 2000-08-21 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション | 一括消去型不揮発性メモリの管理方法及び半導体ディスク装置 |
GB9305801D0 (en) * | 1993-03-19 | 1993-05-05 | Deans Alexander R | Semiconductor memory system |
US5479638A (en) * | 1993-03-26 | 1995-12-26 | Cirrus Logic, Inc. | Flash memory mass storage architecture incorporation wear leveling technique |
US5488711A (en) * | 1993-04-01 | 1996-01-30 | Microchip Technology Incorporated | Serial EEPROM device and associated method for reducing data load time using a page mode write cache |
JPH06312593A (ja) | 1993-04-28 | 1994-11-08 | Toshiba Corp | 外部記憶装置、外部記憶装置ユニットおよび外部記憶装置の製造方法 |
US5414664A (en) * | 1993-05-28 | 1995-05-09 | Macronix International Co., Ltd. | Flash EPROM with block erase flags for over-erase protection |
FR2708763B1 (fr) * | 1993-06-30 | 2002-04-05 | Intel Corp | Dispositif de mémoire flash, procédé et circuit de traitement d'un ordre d'utilisateur dans un dispositif de mémoire flash et système d'ordinateur comprenant un dispositif de mémoire flash. |
US5410544A (en) * | 1993-06-30 | 1995-04-25 | Intel Corporation | External tester control for flash memory |
US5524231A (en) * | 1993-06-30 | 1996-06-04 | Intel Corporation | Nonvolatile memory card with an address table and an address translation logic for mapping out defective blocks within the memory card |
JPH0737049A (ja) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Toshiba Corp | 外部記憶装置 |
US5600821A (en) * | 1993-07-28 | 1997-02-04 | National Semiconductor Corporation | Distributed directory for information stored on audio quality memory devices |
US5640529A (en) * | 1993-07-29 | 1997-06-17 | Intel Corporation | Method and system for performing clean-up of a solid state disk during host command execution |
JP2669303B2 (ja) * | 1993-08-03 | 1997-10-27 | 日本電気株式会社 | ビットエラー訂正機能付き半導体メモリ |
US5471518A (en) * | 1993-08-10 | 1995-11-28 | Novatel Communications Ltd. | Method and apparatus for non-volatile data storage in radio telephones and the like |
US5887145A (en) * | 1993-09-01 | 1999-03-23 | Sandisk Corporation | Removable mother/daughter peripheral card |
US7137011B1 (en) | 1993-09-01 | 2006-11-14 | Sandisk Corporation | Removable mother/daughter peripheral card |
FR2710445B1 (fr) * | 1993-09-20 | 1995-11-03 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit de redondance dynamique pour mémoire en circuit intégré. |
US5490264A (en) * | 1993-09-30 | 1996-02-06 | Intel Corporation | Generally-diagonal mapping of address space for row/column organizer memories |
JP3215237B2 (ja) * | 1993-10-01 | 2001-10-02 | 富士通株式会社 | 記憶装置および記憶装置の書き込み/消去方法 |
US5712664A (en) * | 1993-10-14 | 1998-01-27 | Alliance Semiconductor Corporation | Shared memory graphics accelerator system |
JPH07114500A (ja) * | 1993-10-19 | 1995-05-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 不揮発性メモリ記憶装置 |
FR2711831B1 (fr) * | 1993-10-26 | 1997-09-26 | Intel Corp | Procédé et circuit de mémorisation et de hiérarchisation d'ordres d'effacement dans un dispositif de mémoire. |
SG49632A1 (en) * | 1993-10-26 | 1998-06-15 | Intel Corp | Programmable code store circuitry for a nonvolatile semiconductor memory device |
US6154850A (en) * | 1993-11-01 | 2000-11-28 | Beaufort River, Inc. | Data storage system and method |
US5555516A (en) * | 1993-11-04 | 1996-09-10 | Cirrus Logic, Inc. | Multipurpose error correction calculation circuit |
US5668976A (en) * | 1993-11-04 | 1997-09-16 | Cirrus Logic, Inc. | Error correction method and apparatus for disk drive emulator |
US5592404A (en) * | 1993-11-04 | 1997-01-07 | Cirrus Logic, Inc. | Versatile error correction system |
GB9326499D0 (en) * | 1993-12-24 | 1994-03-02 | Deas Alexander R | Flash memory system with arbitrary block size |
US5440505A (en) * | 1994-01-21 | 1995-08-08 | Intel Corporation | Method and circuitry for storing discrete amounts of charge in a single memory element |
US5860157A (en) * | 1994-01-26 | 1999-01-12 | Intel Corporation | Nonvolatile memory card controller with an optimized memory address mapping window scheme |
US6750908B1 (en) * | 1994-02-03 | 2004-06-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus using recording medium which needs data erasing processing before recording of data |
JP3383398B2 (ja) * | 1994-03-22 | 2003-03-04 | 株式会社東芝 | 半導体パッケージ |
FR2718867B1 (fr) * | 1994-04-13 | 1996-05-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Procédé d'effacement d'une mémoire et circuits de mise en Óoeuvre. |
US5715423A (en) * | 1994-04-18 | 1998-02-03 | Intel Corporation | Memory device with an internal data transfer circuit |
JP3154892B2 (ja) * | 1994-05-10 | 2001-04-09 | 株式会社東芝 | Icメモリカードおよびそのicメモリカードの検査方法 |
AU2593595A (en) * | 1994-06-02 | 1996-01-04 | Intel Corporation | Sensing schemes for flash memory with multilevel cells |
US5539690A (en) * | 1994-06-02 | 1996-07-23 | Intel Corporation | Write verify schemes for flash memory with multilevel cells |
US5497354A (en) | 1994-06-02 | 1996-03-05 | Intel Corporation | Bit map addressing schemes for flash memory |
US5450363A (en) * | 1994-06-02 | 1995-09-12 | Intel Corporation | Gray coding for a multilevel cell memory system |
US5485422A (en) * | 1994-06-02 | 1996-01-16 | Intel Corporation | Drain bias multiplexing for multiple bit flash cell |
US5515317A (en) * | 1994-06-02 | 1996-05-07 | Intel Corporation | Addressing modes for a dynamic single bit per cell to multiple bit per cell memory |
WO1995034074A1 (en) * | 1994-06-02 | 1995-12-14 | Intel Corporation | Dynamic single to multiple bit per cell memory |
US5696917A (en) * | 1994-06-03 | 1997-12-09 | Intel Corporation | Method and apparatus for performing burst read operations in an asynchronous nonvolatile memory |
US5497355A (en) * | 1994-06-03 | 1996-03-05 | Intel Corporation | Synchronous address latching for memory arrays |
US5592435A (en) * | 1994-06-03 | 1997-01-07 | Intel Corporation | Pipelined read architecture for memory |
DE69426817T2 (de) * | 1994-06-07 | 2001-08-02 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Fertigungprüfungsverfahren von Flash-EEPROM-Vorrichtungen |
JPH07334999A (ja) * | 1994-06-07 | 1995-12-22 | Hitachi Ltd | 不揮発性半導体記憶装置及びデータプロセッサ |
WO1995035572A1 (en) * | 1994-06-20 | 1995-12-28 | Neomagic Corporation | Graphics controller integrated circuit without memory interface |
DE4425388B4 (de) * | 1994-07-19 | 2005-07-21 | Robert Bosch Gmbh | Steuergerät |
US5765175A (en) * | 1994-08-26 | 1998-06-09 | Intel Corporation | System and method for removing deleted entries in file systems based on write-once or erase-slowly media |
JPH0877066A (ja) * | 1994-08-31 | 1996-03-22 | Tdk Corp | フラッシュメモリコントローラ |
US5822256A (en) * | 1994-09-06 | 1998-10-13 | Intel Corporation | Method and circuitry for usage of partially functional nonvolatile memory |
JPH0883148A (ja) * | 1994-09-13 | 1996-03-26 | Nec Corp | 磁気ディスク装置 |
US5592498A (en) * | 1994-09-16 | 1997-01-07 | Cirrus Logic, Inc. | CRC/EDC checker system |
US5508958A (en) * | 1994-09-29 | 1996-04-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for sensing the state of floating gate memory cells by applying a variable gate voltage |
US5754817A (en) * | 1994-09-29 | 1998-05-19 | Intel Corporation | Execution in place of a file stored non-contiguously in a non-volatile memory |
US5809558A (en) * | 1994-09-29 | 1998-09-15 | Intel Corporation | Method and data storage system for storing data in blocks without file reallocation before erasure |
US5508971A (en) * | 1994-10-17 | 1996-04-16 | Sandisk Corporation | Programmable power generation circuit for flash EEPROM memory systems |
JPH08115597A (ja) * | 1994-10-17 | 1996-05-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ディスク装置 |
DE19540915A1 (de) * | 1994-11-10 | 1996-05-15 | Raymond Engineering | Redundante Anordnung von Festkörper-Speicherbausteinen |
JP2669365B2 (ja) * | 1994-11-24 | 1997-10-27 | 日本電気株式会社 | 書換え可能なromファイル装置 |
JP3388921B2 (ja) * | 1994-11-29 | 2003-03-24 | 株式会社東芝 | 集積回路カードの製造方法 |
DE4443065A1 (de) * | 1994-12-03 | 1996-06-05 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Programmierung eines elektrisch löschbaren, nichtflüchtigen Speichers in einem elektronischen Rechengerät sowie Steuergerät zur Verwendung bei dem Verfahren |
US5475693A (en) * | 1994-12-27 | 1995-12-12 | Intel Corporation | Error management processes for flash EEPROM memory arrays |
US5563828A (en) * | 1994-12-27 | 1996-10-08 | Intel Corporation | Method and apparatus for searching for data in multi-bit flash EEPROM memory arrays |
WO1996021229A1 (en) * | 1995-01-05 | 1996-07-11 | Macronix International Co., Ltd. | Non-volatile memory device for fault tolerant data |
US5954828A (en) * | 1995-01-05 | 1999-09-21 | Macronix International Co., Ltd. | Non-volatile memory device for fault tolerant data |
JP2734391B2 (ja) * | 1995-01-18 | 1998-03-30 | 日本電気株式会社 | 不揮発性メモリのファイル管理装置 |
KR100566464B1 (ko) | 1995-01-31 | 2006-03-31 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 반도체 메모리 장치 |
US6471130B2 (en) * | 1995-02-03 | 2002-10-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information storage apparatus and information processing apparatus using the same |
JP3660382B2 (ja) * | 1995-02-03 | 2005-06-15 | 株式会社東芝 | 情報記憶装置およびそれに用いるコネクタ部 |
USRE38997E1 (en) * | 1995-02-03 | 2006-02-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information storage and information processing system utilizing state-designating member provided on supporting card surface which produces write-permitting or write-inhibiting signal |
US6353554B1 (en) | 1995-02-27 | 2002-03-05 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
US5765002A (en) * | 1995-03-13 | 1998-06-09 | Intel Corporation | Method and apparatus for minimizing power consumption in a microprocessor controlled storage device |
US5606532A (en) * | 1995-03-17 | 1997-02-25 | Atmel Corporation | EEPROM array with flash-like core |
JPH08255432A (ja) * | 1995-03-20 | 1996-10-01 | Fujitsu Ltd | 記録再生装置及び交代処理方法 |
US5724592A (en) * | 1995-03-31 | 1998-03-03 | Intel Corporation | Method and apparatus for managing active power consumption in a microprocessor controlled storage device |
JPH08297928A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-12 | Toshiba Corp | 記録媒体の検査機能を有する磁気ディスク装置 |
EP0741387B1 (en) * | 1995-05-05 | 2000-01-12 | STMicroelectronics S.r.l. | Nonvolatile memory device with sectors of preselectable size and number |
US5812861A (en) * | 1995-06-22 | 1998-09-22 | Intel Corporation | Override signal for forcing a powerdown of a flash memory |
JPH0922393A (ja) * | 1995-07-06 | 1997-01-21 | Mitsubishi Electric Corp | 通信機能を有するワンチップフラッシュメモリ装置 |
JP3782840B2 (ja) | 1995-07-14 | 2006-06-07 | 株式会社ルネサステクノロジ | 外部記憶装置およびそのメモリアクセス制御方法 |
US5930815A (en) * | 1995-07-31 | 1999-07-27 | Lexar Media, Inc. | Moving sequential sectors within a block of information in a flash memory mass storage architecture |
US6728851B1 (en) | 1995-07-31 | 2004-04-27 | Lexar Media, Inc. | Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices |
US5907856A (en) * | 1995-07-31 | 1999-05-25 | Lexar Media, Inc. | Moving sectors within a block of information in a flash memory mass storage architecture |
US5838614A (en) * | 1995-07-31 | 1998-11-17 | Lexar Microsystems, Inc. | Identification and verification of a sector within a block of mass storage flash memory |
US5845313A (en) | 1995-07-31 | 1998-12-01 | Lexar | Direct logical block addressing flash memory mass storage architecture |
US8171203B2 (en) | 1995-07-31 | 2012-05-01 | Micron Technology, Inc. | Faster write operations to nonvolatile memory using FSInfo sector manipulation |
US6757800B1 (en) | 1995-07-31 | 2004-06-29 | Lexar Media, Inc. | Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices |
US6801979B1 (en) | 1995-07-31 | 2004-10-05 | Lexar Media, Inc. | Method and apparatus for memory control circuit |
US6978342B1 (en) | 1995-07-31 | 2005-12-20 | Lexar Media, Inc. | Moving sectors within a block of information in a flash memory mass storage architecture |
US6081878A (en) | 1997-03-31 | 2000-06-27 | Lexar Media, Inc. | Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices |
DE29512593U1 (de) * | 1995-08-04 | 1995-10-12 | Franck, Peter Heinz, 81669 München | Hybriddatenspeicher |
JPH0954726A (ja) * | 1995-08-18 | 1997-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | 記憶装置 |
JPH0964240A (ja) | 1995-08-25 | 1997-03-07 | Toshiba Corp | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
US6125435A (en) * | 1995-09-13 | 2000-09-26 | Lexar Media, Inc. | Alignment of cluster address to block addresses within a semiconductor non-volatile mass storage memory |
US5892213A (en) * | 1995-09-21 | 1999-04-06 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Memory card |
GB2291991A (en) * | 1995-09-27 | 1996-02-07 | Memory Corp Plc | Disk drive emulation with a block-erasable memory |
US5815434A (en) * | 1995-09-29 | 1998-09-29 | Intel Corporation | Multiple writes per a single erase for a nonvolatile memory |
US6170066B1 (en) | 1995-09-29 | 2001-01-02 | Intel Corporation | Power-off recovery management for sector based flash media managers |
US5696929A (en) * | 1995-10-03 | 1997-12-09 | Intel Corporation | Flash EEPROM main memory in a computer system |
US6014724A (en) * | 1995-10-27 | 2000-01-11 | Scm Microsystems (U.S.) Inc. | Flash translation layer block indication map revision system and method |
US5987478A (en) * | 1995-10-31 | 1999-11-16 | Intel Corporation | Virtual small block file manager for flash memory array |
US5802553A (en) * | 1995-12-19 | 1998-09-01 | Intel Corporation | File system configured to support variable density storage and data compression within a nonvolatile memory |
US5829013A (en) | 1995-12-26 | 1998-10-27 | Intel Corporation | Memory manager to allow non-volatile memory to be used to supplement main memory |
EP0782145B1 (en) * | 1995-12-29 | 2000-05-10 | STMicroelectronics S.r.l. | Erasing method for a non-volatile memory |
EP1260989A3 (en) * | 1995-12-29 | 2005-11-30 | STMicroelectronics S.r.l. | Method to prevent disturbances during the erasing phase in a non-volatile memory device |
JPH09204367A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Mitsubishi Electric Corp | フラッシュディスクカードにおけるフラッシュメモリデータのリフレッシュ方法 |
US5673224A (en) * | 1996-02-23 | 1997-09-30 | Micron Quantum Devices, Inc. | Segmented non-volatile memory array with multiple sources with improved word line control circuitry |
JP3614173B2 (ja) | 1996-02-29 | 2005-01-26 | 株式会社ルネサステクノロジ | 部分不良メモリを搭載した半導体記憶装置 |
US5787445A (en) * | 1996-03-07 | 1998-07-28 | Norris Communications Corporation | Operating system including improved file management for use in devices utilizing flash memory as main memory |
US5860082A (en) * | 1996-03-28 | 1999-01-12 | Datalight, Inc. | Method and apparatus for allocating storage in a flash memory |
US6009537A (en) * | 1996-03-29 | 1999-12-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Disk wear prevention by relocating data in response to a head slide count |
JP3615299B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2005-02-02 | 三洋電機株式会社 | 書換え可能romの記憶方法及び記憶装置 |
JP2799310B2 (ja) * | 1996-04-02 | 1998-09-17 | 山一電機株式会社 | メモリーカード稼動電子機器におけるic保護装置 |
US5835930A (en) * | 1996-04-09 | 1998-11-10 | International Business Machines Corporation | One or more logical tracks per physical track in a headerless disk drive |
US6073204A (en) * | 1997-04-23 | 2000-06-06 | Micron Technology, Inc. | Memory system having flexible architecture and method |
US5956601A (en) * | 1996-04-25 | 1999-09-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of mounting a plurality of semiconductor devices in corresponding supporters |
US6022763A (en) * | 1996-05-10 | 2000-02-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Substrate for semiconductor device, semiconductor device using the same, and method for manufacture thereof |
US5841957A (en) * | 1996-05-23 | 1998-11-24 | Acti Technology Corp. | Programmable I/O remapper for partially defective memory devices |
US5896393A (en) * | 1996-05-23 | 1999-04-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Simplified file management scheme for flash memory |
TW332334B (en) * | 1996-05-31 | 1998-05-21 | Toshiba Co Ltd | The semiconductor substrate and its producing method and semiconductor apparatus |
JPH09327990A (ja) * | 1996-06-11 | 1997-12-22 | Toshiba Corp | カード型記憶装置 |
GB2353120B (en) * | 1996-06-28 | 2001-03-21 | Intel Corp | Method and apparatus for protecting flash memory |
US5778070A (en) * | 1996-06-28 | 1998-07-07 | Intel Corporation | Method and apparatus for protecting flash memory |
GB9614551D0 (en) * | 1996-07-11 | 1996-09-04 | Memory Corp Plc | Memory system |
ATE225961T1 (de) * | 1996-08-16 | 2002-10-15 | Tokyo Electron Device Ltd | Halbleiterspeicheranordnung mit fehlerdetektion und -korrektur |
US6857099B1 (en) * | 1996-09-18 | 2005-02-15 | Nippon Steel Corporation | Multilevel semiconductor memory, write/read method thereto/therefrom and storage medium storing write/read program |
US6148360A (en) * | 1996-09-20 | 2000-11-14 | Intel Corporation | Nonvolatile writeable memory with program suspend command |
US6201739B1 (en) * | 1996-09-20 | 2001-03-13 | Intel Corporation | Nonvolatile writeable memory with preemption pin |
US5940861A (en) * | 1996-09-20 | 1999-08-17 | Intel Corporation | Method and apparatus for preempting operations in a nonvolatile memory in order to read code from the nonvolatile memory |
US5920884A (en) * | 1996-09-24 | 1999-07-06 | Hyundai Electronics America, Inc. | Nonvolatile memory interface protocol which selects a memory device, transmits an address, deselects the device, subsequently reselects the device and accesses data |
US5798968A (en) * | 1996-09-24 | 1998-08-25 | Sandisk Corporation | Plane decode/virtual sector architecture |
KR0185954B1 (ko) * | 1996-09-30 | 1999-05-15 | 삼성전자주식회사 | 휴대형 단말기기의 메모리 관리방법 |
GB2317722B (en) * | 1996-09-30 | 2001-07-18 | Nokia Mobile Phones Ltd | Memory device |
GB2317720A (en) * | 1996-09-30 | 1998-04-01 | Nokia Mobile Phones Ltd | Managing Flash memory |
EP0834812A1 (en) | 1996-09-30 | 1998-04-08 | Cummins Engine Company, Inc. | A method for accessing flash memory and an automotive electronic control system |
US6292868B1 (en) | 1996-10-15 | 2001-09-18 | Micron Technology, Inc. | System and method for encoding data to reduce power and time required to write the encoded data to a flash memory |
US6047352A (en) | 1996-10-29 | 2000-04-04 | Micron Technology, Inc. | Memory system, method and predecoding circuit operable in different modes for selectively accessing multiple blocks of memory cells for simultaneous writing or erasure |
US5862314A (en) * | 1996-11-01 | 1999-01-19 | Micron Electronics, Inc. | System and method for remapping defective memory locations |
US5890192A (en) | 1996-11-05 | 1999-03-30 | Sandisk Corporation | Concurrent write of multiple chunks of data into multiple subarrays of flash EEPROM |
US5796670A (en) * | 1996-11-07 | 1998-08-18 | Ramax Semiconductor, Inc. | Nonvolatile dynamic random access memory device |
US5968139A (en) * | 1996-11-25 | 1999-10-19 | Micron Electronics, Inc. | Method of redirecting I/O operations to memory |
US5956473A (en) * | 1996-11-25 | 1999-09-21 | Macronix International Co., Ltd. | Method and system for managing a flash memory mass storage system |
US6412051B1 (en) * | 1996-11-27 | 2002-06-25 | International Business Machines Corp. | System and method for controlling a memory array in an information handling system |
US5923682A (en) * | 1997-01-29 | 1999-07-13 | Micron Technology, Inc. | Error correction chip for memory applications |
US7023729B2 (en) * | 1997-01-31 | 2006-04-04 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
US6073243A (en) * | 1997-02-03 | 2000-06-06 | Intel Corporation | Block locking and passcode scheme for flash memory |
US5954818A (en) * | 1997-02-03 | 1999-09-21 | Intel Corporation | Method of programming, erasing, and reading block lock-bits and a master lock-bit in a flash memory device |
US5928370A (en) * | 1997-02-05 | 1999-07-27 | Lexar Media, Inc. | Method and apparatus for verifying erasure of memory blocks within a non-volatile memory structure |
US5818764A (en) * | 1997-02-06 | 1998-10-06 | Macronix International Co., Ltd. | Block-level wordline enablement to reduce negative wordline stress |
WO1998035344A2 (en) * | 1997-02-12 | 1998-08-13 | Hyundai Electronics America, Inc. | A nonvolatile memory structure |
US6311290B1 (en) | 1997-02-14 | 2001-10-30 | Intel Corporation | Methods of reliably allocating, de-allocating, re-allocating, and reclaiming objects in a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture |
US6182188B1 (en) | 1997-04-06 | 2001-01-30 | Intel Corporation | Method of performing reliable updates in a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture |
US5937434A (en) * | 1997-02-14 | 1999-08-10 | Intel Corporation | Method of managing a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture |
US5895485A (en) * | 1997-02-24 | 1999-04-20 | Eccs, Inc. | Method and device using a redundant cache for preventing the loss of dirty data |
JPH10302030A (ja) * | 1997-02-28 | 1998-11-13 | Toshiba Corp | 接続装置、および情報処理装置 |
DE19708755A1 (de) | 1997-03-04 | 1998-09-17 | Michael Tasler | Flexible Schnittstelle |
US6122195A (en) * | 1997-03-31 | 2000-09-19 | Lexar Media, Inc. | Method and apparatus for decreasing block write operation times performed on nonvolatile memory |
US6034897A (en) * | 1999-04-01 | 2000-03-07 | Lexar Media, Inc. | Space management for managing high capacity nonvolatile memory |
US6411546B1 (en) | 1997-03-31 | 2002-06-25 | Lexar Media, Inc. | Nonvolatile memory using flexible erasing methods and method and system for using same |
US6088759A (en) | 1997-04-06 | 2000-07-11 | Intel Corporation | Method of performing reliable updates in a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture |
US6336166B1 (en) * | 1997-04-07 | 2002-01-01 | Apple Computer, Inc. | Memory control device with split read for ROM access |
KR100251636B1 (ko) * | 1997-04-10 | 2000-05-01 | 윤종용 | 소형컴퓨터시스템인터페이스방식접속을위한메모리장치 |
US5883904A (en) * | 1997-04-14 | 1999-03-16 | International Business Machines Corporation | Method for recoverability via redundant cache arrays |
US6078985A (en) | 1997-04-23 | 2000-06-20 | Micron Technology, Inc. | Memory system having flexible addressing and method using tag and data bus communication |
US6092193A (en) * | 1997-05-29 | 2000-07-18 | Trimble Navigation Limited | Authentication of accumulated instrument data |
US6320945B1 (en) | 1997-06-05 | 2001-11-20 | Ronald J. Honick | Line-powered pay telephone |
JPH117505A (ja) * | 1997-06-17 | 1999-01-12 | Fujitsu Ltd | カード型記憶媒体 |
US7249109B1 (en) * | 1997-07-15 | 2007-07-24 | Silverbrook Research Pty Ltd | Shielding manipulations of secret data |
US7716098B2 (en) * | 1997-07-15 | 2010-05-11 | Silverbrook Research Pty Ltd. | Method and apparatus for reducing optical emissions in an integrated circuit |
US7702926B2 (en) * | 1997-07-15 | 2010-04-20 | Silverbrook Research Pty Ltd | Decoy device in an integrated circuit |
US5835430A (en) * | 1997-07-25 | 1998-11-10 | Rockwell International Corporation | Method of providing redundancy in electrically alterable memories |
US5930167A (en) * | 1997-07-30 | 1999-07-27 | Sandisk Corporation | Multi-state non-volatile flash memory capable of being its own two state write cache |
IL125604A (en) | 1997-07-30 | 2004-03-28 | Saifun Semiconductors Ltd | Non-volatile electrically erasable and programmble semiconductor memory cell utilizing asymmetrical charge |
US5974564A (en) * | 1997-07-31 | 1999-10-26 | Micron Electronics, Inc. | Method for remapping defective memory bit sets to non-defective memory bit sets |
US6035432A (en) * | 1997-07-31 | 2000-03-07 | Micron Electronics, Inc. | System for remapping defective memory bit sets |
US6768165B1 (en) | 1997-08-01 | 2004-07-27 | Saifun Semiconductors Ltd. | Two bit non-volatile electrically erasable and programmable semiconductor memory cell utilizing asymmetrical charge trapping |
JP3565687B2 (ja) * | 1997-08-06 | 2004-09-15 | 沖電気工業株式会社 | 半導体記憶装置およびその制御方法 |
US5956743A (en) * | 1997-08-25 | 1999-09-21 | Bit Microsystems, Inc. | Transparent management at host interface of flash-memory overhead-bytes using flash-specific DMA having programmable processor-interrupt of high-level operations |
US6000006A (en) * | 1997-08-25 | 1999-12-07 | Bit Microsystems, Inc. | Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage |
US5822251A (en) * | 1997-08-25 | 1998-10-13 | Bit Microsystems, Inc. | Expandable flash-memory mass-storage using shared buddy lines and intermediate flash-bus between device-specific buffers and flash-intelligent DMA controllers |
US6189070B1 (en) | 1997-08-28 | 2001-02-13 | Intel Corporation | Apparatus and method for suspending operation to read code in a nonvolatile writable semiconductor memory |
JP3233079B2 (ja) | 1997-09-30 | 2001-11-26 | ソニー株式会社 | データ処理システム及びデータ処理方法 |
US8621101B1 (en) | 2000-09-29 | 2013-12-31 | Alacritech, Inc. | Intelligent network storage interface device |
US8539112B2 (en) | 1997-10-14 | 2013-09-17 | Alacritech, Inc. | TCP/IP offload device |
JPH11126497A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-05-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP3898305B2 (ja) * | 1997-10-31 | 2007-03-28 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御装置及び制御方法 |
JPH11224492A (ja) * | 1997-11-06 | 1999-08-17 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置及びフラッシュメモリ |
US5867429A (en) * | 1997-11-19 | 1999-02-02 | Sandisk Corporation | High density non-volatile flash memory without adverse effects of electric field coupling between adjacent floating gates |
US6034891A (en) * | 1997-12-01 | 2000-03-07 | Micron Technology, Inc. | Multi-state flash memory defect management |
US6021083A (en) * | 1997-12-05 | 2000-02-01 | Macronix International Co., Ltd. | Block decoded wordline driver with positive and negative voltage modes |
US6076137A (en) | 1997-12-11 | 2000-06-13 | Lexar Media, Inc. | Method and apparatus for storing location identification information within non-volatile memory devices |
US5946234A (en) * | 1997-12-18 | 1999-08-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Constant current source programming of electrically programmable memory arrays |
WO1999033057A1 (en) * | 1997-12-23 | 1999-07-01 | Macronix International Co., Ltd. | Technique for increasing endurance of integrated circuit memory |
US6400634B1 (en) | 1997-12-23 | 2002-06-04 | Macronix International Co., Ltd. | Technique for increasing endurance of integrated circuit memory |
US6064596A (en) * | 1997-12-26 | 2000-05-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile integrated circuit memory devices and methods of operating same |
GB9801373D0 (en) * | 1998-01-22 | 1998-03-18 | Memory Corp Plc | Memory system |
US5912844A (en) * | 1998-01-28 | 1999-06-15 | Macronix International Co., Ltd. | Method for flash EEPROM data writing |
US6182239B1 (en) * | 1998-02-06 | 2001-01-30 | Stmicroelectronics, Inc. | Fault-tolerant codes for multi-level memories |
US6011733A (en) * | 1998-02-26 | 2000-01-04 | Lucent Technologies Inc. | Adaptive addressable circuit redundancy method and apparatus |
DE19980546B4 (de) * | 1998-03-02 | 2011-01-27 | Lexar Media, Inc., Fremont | Flash-Speicherkarte mit erweiterter Betriebsmodus-Erkennung und benutzerfreundlichem Schnittstellensystem |
US6314527B1 (en) | 1998-03-05 | 2001-11-06 | Micron Technology, Inc. | Recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components |
US6332183B1 (en) | 1998-03-05 | 2001-12-18 | Micron Technology, Inc. | Method for recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components |
US6460111B1 (en) | 1998-03-09 | 2002-10-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor disk drive and method of creating an address conversion table based on address information about defective sectors stored in at least one sector indicated by a management code |
WO1999046727A1 (en) * | 1998-03-11 | 1999-09-16 | Ericsson Inc. | Portable telephone accessory for temporary storage of fax and data |
KR100297986B1 (ko) * | 1998-03-13 | 2001-10-25 | 김영환 | 플래쉬 메모리 셀 어레이의 웨어 레벨링 시스템 및 웨어 레벨링 방법 |
TW407364B (en) * | 1998-03-26 | 2000-10-01 | Toshiba Corp | Memory apparatus, card type memory apparatus, and electronic apparatus |
US6226728B1 (en) | 1998-04-21 | 2001-05-01 | Intel Corporation | Dynamic allocation for efficient management of variable sized data within a nonvolatile memory |
US6188618B1 (en) * | 1998-04-23 | 2001-02-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device with flexible redundancy system |
US6038636A (en) * | 1998-04-27 | 2000-03-14 | Lexmark International, Inc. | Method and apparatus for reclaiming and defragmenting a flash memory device |
US6381708B1 (en) | 1998-04-28 | 2002-04-30 | Micron Technology, Inc. | Method for decoding addresses for a defective memory array |
US6381707B1 (en) | 1998-04-28 | 2002-04-30 | Micron Technology, Inc. | System for decoding addresses for a defective memory array |
US6026016A (en) * | 1998-05-11 | 2000-02-15 | Intel Corporation | Methods and apparatus for hardware block locking in a nonvolatile memory |
US6209069B1 (en) | 1998-05-11 | 2001-03-27 | Intel Corporation | Method and apparatus using volatile lock architecture for individual block locking on flash memory |
US6154819A (en) * | 1998-05-11 | 2000-11-28 | Intel Corporation | Apparatus and method using volatile lock and lock-down registers and for protecting memory blocks |
JP3734620B2 (ja) | 1998-06-24 | 2006-01-11 | 沖電気工業株式会社 | 半導体ディスク装置 |
US6542909B1 (en) * | 1998-06-30 | 2003-04-01 | Emc Corporation | System for determining mapping of logical objects in a computer system |
US6883063B2 (en) | 1998-06-30 | 2005-04-19 | Emc Corporation | Method and apparatus for initializing logical objects in a data storage system |
US7383294B1 (en) | 1998-06-30 | 2008-06-03 | Emc Corporation | System for determining the mapping of logical objects in a data storage system |
US6393540B1 (en) | 1998-06-30 | 2002-05-21 | Emc Corporation | Moving a logical object from a set of source locations to a set of destination locations using a single command |
US6308297B1 (en) * | 1998-07-17 | 2001-10-23 | Sun Microsystems, Inc. | Method and apparatus for verifying memory addresses |
JP3138688B2 (ja) * | 1998-07-24 | 2001-02-26 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置及びプログラムベリファイ方法 |
ATE305166T1 (de) * | 1998-07-28 | 2005-10-15 | Lg Electronics Inc | Datenaufzeichnungsverfahren und gerät auf optischem aufzeichnungsmedium |
US6055184A (en) * | 1998-09-02 | 2000-04-25 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor memory device having programmable parallel erase operation |
US6446223B1 (en) * | 1998-09-09 | 2002-09-03 | Hitachi, Ltd. | Storage system and method for controlling the same |
JP4146006B2 (ja) | 1998-09-28 | 2008-09-03 | 富士通株式会社 | フラッシュメモリを有する電子機器 |
JP2000122935A (ja) * | 1998-10-20 | 2000-04-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 不揮発性メモリのアドレス変換装置 |
US6901457B1 (en) | 1998-11-04 | 2005-05-31 | Sandisk Corporation | Multiple mode communications system |
US6279114B1 (en) | 1998-11-04 | 2001-08-21 | Sandisk Corporation | Voltage negotiation in a single host multiple cards system |
US7157314B2 (en) | 1998-11-16 | 2007-01-02 | Sandisk Corporation | Vertically stacked field programmable nonvolatile memory and method of fabrication |
US6374337B1 (en) | 1998-11-17 | 2002-04-16 | Lexar Media, Inc. | Data pipelining method and apparatus for memory control circuit |
JP2000163223A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 記録媒体raidライブラリ装置 |
US6260156B1 (en) | 1998-12-04 | 2001-07-10 | Datalight, Inc. | Method and system for managing bad areas in flash memory |
JP2000173289A (ja) * | 1998-12-10 | 2000-06-23 | Toshiba Corp | エラー訂正可能なフラッシュメモリシステム |
KR100284430B1 (ko) * | 1998-12-18 | 2001-04-02 | 구자홍 | 프로그램 갱신 방법 및 장치 |
US6496876B1 (en) | 1998-12-21 | 2002-12-17 | Micron Technology, Inc. | System and method for storing a tag to identify a functional storage location in a memory device |
US6407944B1 (en) * | 1998-12-29 | 2002-06-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for protecting an over-erasure of redundant memory cells during test for high-density nonvolatile memory semiconductor devices |
TW548653B (en) | 1999-01-26 | 2003-08-21 | Nec Electronics Corp | Semiconductor memory device having redundancy memory circuit |
US6298427B1 (en) | 1999-01-26 | 2001-10-02 | Dell Usa, L.P. | Method and apparatus for mapping hard disk partitions and block devices to logical drives in a computer system |
US6281075B1 (en) * | 1999-01-27 | 2001-08-28 | Sandisk Corporation | Method of controlling of floating gate oxide growth by use of an oxygen barrier |
CN100359601C (zh) | 1999-02-01 | 2008-01-02 | 株式会社日立制作所 | 半导体集成电路和非易失性存储器元件 |
JP4186293B2 (ja) * | 1999-02-10 | 2008-11-26 | 株式会社ニコン | 電子カメラ |
GB9903490D0 (en) * | 1999-02-17 | 1999-04-07 | Memory Corp Plc | Memory system |
US5982665A (en) * | 1999-03-29 | 1999-11-09 | Silicon Storage Technology, Inc. | Non-volatile memory array having a plurality of non-volatile memory status cells coupled to a status circuit |
US6405323B1 (en) * | 1999-03-30 | 2002-06-11 | Silicon Storage Technology, Inc. | Defect management for interface to electrically-erasable programmable read-only memory |
US6141249A (en) * | 1999-04-01 | 2000-10-31 | Lexar Media, Inc. | Organization of blocks within a nonvolatile memory unit to effectively decrease sector write operation time |
ATE340405T1 (de) | 1999-04-01 | 2006-10-15 | Lexar Media Inc | Raumverwaltung in einem nichtflüchtigen speicher mit hoher kapazität |
US6148354A (en) * | 1999-04-05 | 2000-11-14 | M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. | Architecture for a universal serial bus-based PC flash disk |
US7117369B1 (en) | 1999-05-03 | 2006-10-03 | Microsoft Corporation | Portable smart card secured memory system for porting user profiles and documents |
US7036738B1 (en) * | 1999-05-03 | 2006-05-02 | Microsoft Corporation | PCMCIA-compliant smart card secured memory assembly for porting user profiles and documents |
KR100544175B1 (ko) * | 1999-05-08 | 2006-01-23 | 삼성전자주식회사 | 링킹 타입 정보를 저장하는 기록 매체와 결함 영역 처리 방법 |
US6377502B1 (en) | 1999-05-10 | 2002-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device that enables simultaneous read and write/erase operation |
IL129947A (en) * | 1999-05-13 | 2003-06-24 | Tadiran Telecom Business Syste | Method and apparatus for downloading software into an embedded system |
DE69930605D1 (de) * | 1999-05-31 | 2006-05-18 | St Microelectronics Srl | Synchroner nichtflüchtiger mehrwertiger Speicher und Leseverfahren dafür |
US6438672B1 (en) | 1999-06-03 | 2002-08-20 | Agere Systems Guardian Corp. | Memory aliasing method and apparatus |
JP4621314B2 (ja) * | 1999-06-16 | 2011-01-26 | 株式会社東芝 | 記憶媒体 |
US6103573A (en) | 1999-06-30 | 2000-08-15 | Sandisk Corporation | Processing techniques for making a dual floating gate EEPROM cell array |
KR20010004990A (ko) | 1999-06-30 | 2001-01-15 | 김영환 | 플래쉬 이이피롬 셀 및 그 제조 방법 |
US6151248A (en) | 1999-06-30 | 2000-11-21 | Sandisk Corporation | Dual floating gate EEPROM cell array with steering gates shared by adjacent cells |
US7953931B2 (en) * | 1999-08-04 | 2011-05-31 | Super Talent Electronics, Inc. | High endurance non-volatile memory devices |
JP3886673B2 (ja) * | 1999-08-06 | 2007-02-28 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6091633A (en) * | 1999-08-09 | 2000-07-18 | Sandisk Corporation | Memory array architecture utilizing global bit lines shared by multiple cells |
US6553510B1 (en) * | 1999-09-02 | 2003-04-22 | Micron Technology, Inc. | Memory device including redundancy routine for correcting random errors |
RU2257609C2 (ru) | 1999-10-21 | 2005-07-27 | Мацусита Электрик Индастриал Ко., Лтд. | Устройство доступа к полупроводниковой карте памяти, компьютерно-считываемый носитель записи, способ инициализации и полупроводниковая карта памяти |
EP1096379B1 (en) * | 1999-11-01 | 2005-12-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data processing circuit with non-volatile memory and error correction circuitry |
DE60024564T2 (de) | 1999-11-01 | 2006-08-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Datenschaltung mit einem nicht flüchtigen Speicher und mit einer fehlerkorrigierenden Schaltung |
CN1088218C (zh) * | 1999-11-14 | 2002-07-24 | 邓国顺 | 用于数据处理系统的快闪电子式外存储方法及其装置 |
US6222211B1 (en) * | 1999-11-19 | 2001-04-24 | Han-Ping Chen | Memory package method and apparatus |
US6462985B2 (en) * | 1999-12-10 | 2002-10-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory for storing initially-setting data |
WO2001045112A1 (en) * | 1999-12-17 | 2001-06-21 | Qualcomm Incorporated | Mobile communication device having flash memory system with word line buffer |
JP4165990B2 (ja) | 1999-12-20 | 2008-10-15 | Tdk株式会社 | メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びに、フラッシュメモリへのデータの書き込み方法 |
US8266367B2 (en) * | 2003-12-02 | 2012-09-11 | Super Talent Electronics, Inc. | Multi-level striping and truncation channel-equalization for flash-memory system |
US7610438B2 (en) * | 2000-01-06 | 2009-10-27 | Super Talent Electronics, Inc. | Flash-memory card for caching a hard disk drive with data-area toggling of pointers stored in a RAM lookup table |
US8019943B2 (en) * | 2000-01-06 | 2011-09-13 | Super Talent Electronics, Inc. | High endurance non-volatile memory devices |
US8341332B2 (en) * | 2003-12-02 | 2012-12-25 | Super Talent Electronics, Inc. | Multi-level controller with smart storage transfer manager for interleaving multiple single-chip flash memory devices |
US8037234B2 (en) * | 2003-12-02 | 2011-10-11 | Super Talent Electronics, Inc. | Command queuing smart storage transfer manager for striping data to raw-NAND flash modules |
JP2001202281A (ja) * | 2000-01-19 | 2001-07-27 | Sony Corp | 記録方法及び装置、転送方法及び装置、再生方法及び装置、記録媒体 |
US6188602B1 (en) * | 2000-01-25 | 2001-02-13 | Dell Usa, L.P. | Mechanism to commit data to a memory device with read-only access |
US6532556B1 (en) | 2000-01-27 | 2003-03-11 | Multi Level Memory Technology | Data management for multi-bit-per-cell memories |
US7102671B1 (en) | 2000-02-08 | 2006-09-05 | Lexar Media, Inc. | Enhanced compact flash memory card |
KR100674454B1 (ko) * | 2000-02-16 | 2007-01-29 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 비휘발성 메모리 |
US6426893B1 (en) * | 2000-02-17 | 2002-07-30 | Sandisk Corporation | Flash eeprom system with simultaneous multiple data sector programming and storage of physical block characteristics in other designated blocks |
US6363008B1 (en) | 2000-02-17 | 2002-03-26 | Multi Level Memory Technology | Multi-bit-cell non-volatile memory with maximized data capacity |
SG152026A1 (en) * | 2000-02-21 | 2009-05-29 | Trek Technology Singapore Pte | A portable data storage device |
CN100476989C (zh) * | 2000-02-21 | 2009-04-08 | 特科2000国际有限公司 | 便携式数据存储装置 |
US6662263B1 (en) | 2000-03-03 | 2003-12-09 | Multi Level Memory Technology | Sectorless flash memory architecture |
US6578157B1 (en) | 2000-03-06 | 2003-06-10 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for recovery of useful areas of partially defective direct rambus rimm components |
US6301159B1 (en) * | 2000-03-06 | 2001-10-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | 50% EXE tracking circuit |
US7269765B1 (en) * | 2000-04-13 | 2007-09-11 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for storing failing part locations in a module |
JP4870876B2 (ja) * | 2000-04-24 | 2012-02-08 | 三星電子株式会社 | 不揮発性半導体メモリ装置の消去方法 |
US7079422B1 (en) | 2000-04-25 | 2006-07-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Periodic refresh operations for non-volatile multiple-bit-per-cell memory |
US6396744B1 (en) | 2000-04-25 | 2002-05-28 | Multi Level Memory Technology | Flash memory with dynamic refresh |
US6856568B1 (en) | 2000-04-25 | 2005-02-15 | Multi Level Memory Technology | Refresh operations that change address mappings in a non-volatile memory |
US8575719B2 (en) | 2000-04-28 | 2013-11-05 | Sandisk 3D Llc | Silicon nitride antifuse for use in diode-antifuse memory arrays |
US6396741B1 (en) | 2000-05-04 | 2002-05-28 | Saifun Semiconductors Ltd. | Programming of nonvolatile memory cells |
US6490204B2 (en) * | 2000-05-04 | 2002-12-03 | Saifun Semiconductors Ltd. | Programming and erasing methods for a reference cell of an NROM array |
JP3778774B2 (ja) | 2000-05-12 | 2006-05-24 | 松下電器産業株式会社 | データ処理装置 |
US6968469B1 (en) | 2000-06-16 | 2005-11-22 | Transmeta Corporation | System and method for preserving internal processor context when the processor is powered down and restoring the internal processor context when processor is restored |
US6438638B1 (en) | 2000-07-06 | 2002-08-20 | Onspec Electronic, Inc. | Flashtoaster for reading several types of flash-memory cards with or without a PC |
US7295443B2 (en) | 2000-07-06 | 2007-11-13 | Onspec Electronic, Inc. | Smartconnect universal flash media card adapters |
AU2001273258A1 (en) * | 2000-07-18 | 2002-01-30 | Han-Ping Chen | Memory access method and apparatus |
US6567307B1 (en) | 2000-07-21 | 2003-05-20 | Lexar Media, Inc. | Block management for mass storage |
US7167944B1 (en) | 2000-07-21 | 2007-01-23 | Lexar Media, Inc. | Block management for mass storage |
US6396742B1 (en) * | 2000-07-28 | 2002-05-28 | Silicon Storage Technology, Inc. | Testing of multilevel semiconductor memory |
US6515888B2 (en) | 2000-08-14 | 2003-02-04 | Matrix Semiconductor, Inc. | Low cost three-dimensional memory array |
US6545891B1 (en) | 2000-08-14 | 2003-04-08 | Matrix Semiconductor, Inc. | Modular memory device |
US6658438B1 (en) * | 2000-08-14 | 2003-12-02 | Matrix Semiconductor, Inc. | Method for deleting stored digital data from write-once memory device |
US6765813B2 (en) * | 2000-08-14 | 2004-07-20 | Matrix Semiconductor, Inc. | Integrated systems using vertically-stacked three-dimensional memory cells |
US6424581B1 (en) | 2000-08-14 | 2002-07-23 | Matrix Semiconductor, Inc. | Write-once memory array controller, system, and method |
US6711043B2 (en) | 2000-08-14 | 2004-03-23 | Matrix Semiconductor, Inc. | Three-dimensional memory cache system |
DE10041375B4 (de) * | 2000-08-23 | 2005-06-02 | Infineon Technologies Ag | Nichtflüchtige Speicheranordnung |
US6404647B1 (en) * | 2000-08-24 | 2002-06-11 | Hewlett-Packard Co. | Solid-state mass memory storage device |
US7155559B1 (en) | 2000-08-25 | 2006-12-26 | Lexar Media, Inc. | Flash memory architecture with separate storage of overhead and user data |
US6345001B1 (en) | 2000-09-14 | 2002-02-05 | Sandisk Corporation | Compressed event counting technique and application to a flash memory system |
US7113432B2 (en) * | 2000-09-14 | 2006-09-26 | Sandisk Corporation | Compressed event counting technique and application to a flash memory system |
US6512263B1 (en) | 2000-09-22 | 2003-01-28 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory cell array having discontinuous source and drain diffusions contacted by continuous bit line conductors and methods of forming |
US6704835B1 (en) | 2000-09-26 | 2004-03-09 | Intel Corporation | Posted write-through cache for flash memory |
US6748482B1 (en) * | 2000-09-27 | 2004-06-08 | Intel Corporation | Multiple non-contiguous block erase in flash memory |
US6538922B1 (en) * | 2000-09-27 | 2003-03-25 | Sandisk Corporation | Writable tracking cells |
US6473845B1 (en) * | 2000-09-28 | 2002-10-29 | Hewlett-Packard Company | System and method for dynamically updating memory address mappings |
US8019901B2 (en) * | 2000-09-29 | 2011-09-13 | Alacritech, Inc. | Intelligent network storage interface system |
JP4534336B2 (ja) * | 2000-10-13 | 2010-09-01 | ソニー株式会社 | メモリ装置におけるデータ管理方法 |
JP4323707B2 (ja) | 2000-10-25 | 2009-09-02 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | フラッシュメモリの欠陥管理方法 |
KR100402391B1 (ko) | 2000-10-26 | 2003-10-22 | 삼성전자주식회사 | 메모리 카드 시스템 |
US6570785B1 (en) | 2000-10-31 | 2003-05-27 | Sandisk Corporation | Method of reducing disturbs in non-volatile memory |
US6717851B2 (en) * | 2000-10-31 | 2004-04-06 | Sandisk Corporation | Method of reducing disturbs in non-volatile memory |
US6684289B1 (en) | 2000-11-22 | 2004-01-27 | Sandisk Corporation | Techniques for operating non-volatile memory systems with data sectors having different sizes than the sizes of the pages and/or blocks of the memory |
US6529416B2 (en) * | 2000-11-30 | 2003-03-04 | Bitmicro Networks, Inc. | Parallel erase operations in memory systems |
JP4037605B2 (ja) * | 2000-12-04 | 2008-01-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性メモリユニットのコントローラ、同コントローラを有するメモリシステム及び不揮発性メモリユニットの制御方法 |
EP1215679B1 (en) * | 2000-12-15 | 2004-03-03 | STMicroelectronics S.r.l. | Programming method for a multilevel memory cell |
DE60102203D1 (de) | 2000-12-15 | 2004-04-08 | St Microelectronics Srl | Programmierverfahren für eine Mehrpegelspeicherzelle |
US7013376B2 (en) * | 2000-12-20 | 2006-03-14 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and system for data block sparing in a solid-state storage device |
US6970890B1 (en) * | 2000-12-20 | 2005-11-29 | Bitmicro Networks, Inc. | Method and apparatus for data recovery |
US6661730B1 (en) | 2000-12-22 | 2003-12-09 | Matrix Semiconductor, Inc. | Partial selection of passive element memory cell sub-arrays for write operation |
KR100365725B1 (ko) * | 2000-12-27 | 2002-12-26 | 한국전자통신연구원 | 플래시 메모리를 이용한 파일 시스템에서 등급별 지움정책 및 오류 복구 방법 |
US6466476B1 (en) | 2001-01-18 | 2002-10-15 | Multi Level Memory Technology | Data coding for multi-bit-per-cell memories having variable numbers of bits per memory cell |
US6678836B2 (en) * | 2001-01-19 | 2004-01-13 | Honeywell International, Inc. | Simple fault tolerance for memory |
US6418068B1 (en) * | 2001-01-19 | 2002-07-09 | Hewlett-Packard Co. | Self-healing memory |
US6829721B2 (en) * | 2001-02-05 | 2004-12-07 | M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. | Method for recording and storage of system information in multi-board solid-state storage systems |
US6577535B2 (en) | 2001-02-16 | 2003-06-10 | Sandisk Corporation | Method and system for distributed power generation in multi-chip memory systems |
US7249265B2 (en) * | 2001-02-23 | 2007-07-24 | Power Measurement, Ltd. | Multi-featured power meter with feature key |
US6563697B1 (en) | 2001-02-23 | 2003-05-13 | Power Measurement, Ltd. | Apparatus for mounting a device on a mounting surface |
US6745138B2 (en) * | 2001-02-23 | 2004-06-01 | Power Measurement, Ltd. | Intelligent electronic device with assured data storage on powerdown |
US7085824B2 (en) * | 2001-02-23 | 2006-08-01 | Power Measurement Ltd. | Systems for in the field configuration of intelligent electronic devices |
US6813571B2 (en) | 2001-02-23 | 2004-11-02 | Power Measurement, Ltd. | Apparatus and method for seamlessly upgrading the firmware of an intelligent electronic device |
US6871150B2 (en) * | 2001-02-23 | 2005-03-22 | Power Measurement Ltd. | Expandable intelligent electronic device |
US6538923B1 (en) * | 2001-02-26 | 2003-03-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Staircase program verify for multi-level cell flash memory designs |
US6738289B2 (en) * | 2001-02-26 | 2004-05-18 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory with improved programming and method therefor |
US6591213B1 (en) * | 2001-02-27 | 2003-07-08 | Inovys Corporation | Systems for providing zero latency, non-modulo looping and branching of test pattern data for automatic test equipment |
JP2002269994A (ja) * | 2001-03-09 | 2002-09-20 | Oki Electric Ind Co Ltd | アナログ半導体メモリの冗長メモリ回路 |
US20020127771A1 (en) * | 2001-03-12 | 2002-09-12 | Salman Akram | Multiple die package |
US6901541B2 (en) * | 2001-03-13 | 2005-05-31 | Micron Technology, Inc. | Memory testing method and apparatus |
SG95637A1 (en) * | 2001-03-15 | 2003-04-23 | Micron Technology Inc | Semiconductor/printed circuit board assembly, and computer system |
US6441483B1 (en) * | 2001-03-30 | 2002-08-27 | Micron Technology, Inc. | Die stacking scheme |
US6584017B2 (en) | 2001-04-05 | 2003-06-24 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method for programming a reference cell |
US7162668B2 (en) | 2001-04-19 | 2007-01-09 | Micron Technology, Inc. | Memory with element redundancy |
US6865702B2 (en) * | 2001-04-09 | 2005-03-08 | Micron Technology, Inc. | Synchronous flash memory with test code input |
US7640465B2 (en) * | 2001-04-19 | 2009-12-29 | Micron Technology, Inc. | Memory with element redundancy |
EP1399819A2 (en) * | 2001-04-24 | 2004-03-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Improved error correction scheme for use in flash memory allowing bit alterability |
KR100389867B1 (ko) | 2001-06-04 | 2003-07-04 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 관리방법 |
US6772307B1 (en) | 2001-06-11 | 2004-08-03 | Intel Corporation | Firmware memory having multiple protected blocks |
FR2825812B1 (fr) * | 2001-06-12 | 2003-12-05 | St Microelectronics Sa | Procede de programmation/reprogrammation parallele de memoire flash embarquee par bus can |
TWI240864B (en) * | 2001-06-13 | 2005-10-01 | Hitachi Ltd | Memory device |
KR100395758B1 (ko) * | 2001-06-21 | 2003-08-21 | 삼성전자주식회사 | 새로운 블럭 교체 스킴을 채용한 캐쉬 메모리 |
DE60226978D1 (de) * | 2001-06-27 | 2008-07-17 | Sony Corp | Integrierte schaltungseinrichtung, informationsverarbeitungseinrichtung, informationsaufzeichnungseinrichtungsspeicher-verwaltungsverfahren, mobilendgeräteeinrichtung, integrierte halbleiterschaltungseinrichtung und kommunikationsverfahren mit tragbarem endgerät |
US6522580B2 (en) | 2001-06-27 | 2003-02-18 | Sandisk Corporation | Operating techniques for reducing effects of coupling between storage elements of a non-volatile memory operated in multiple data states |
US6745212B2 (en) * | 2001-06-27 | 2004-06-01 | International Business Machines Corporation | Preferential caching of uncopied logical volumes in an IBM peer-to-peer virtual tape server |
WO2003003278A1 (en) * | 2001-06-28 | 2003-01-09 | Trek 2000 International Ltd. | A portable device having biometrics-based authentication capabilities |
WO2003003295A1 (en) * | 2001-06-28 | 2003-01-09 | Trek 2000 International Ltd. | A portable device having biometrics-based authentication capabilities |
US7043506B1 (en) * | 2001-06-28 | 2006-05-09 | Microsoft Corporation | Utility-based archiving |
IL159391A0 (en) * | 2001-06-28 | 2004-06-01 | Trek 2000 Int Ltd | Method and devices for data transfer |
US20030014687A1 (en) * | 2001-07-10 | 2003-01-16 | Grandex International Corporation | Nonvolatile memory unit comprising a control circuit and a plurality of partially defective flash memory devices |
CN1529847A (zh) * | 2001-07-16 | 2004-09-15 | 任宇清 | 内嵌软件更新系统 |
US6522584B1 (en) * | 2001-08-02 | 2003-02-18 | Micron Technology, Inc. | Programming methods for multi-level flash EEPROMs |
US7418344B2 (en) * | 2001-08-02 | 2008-08-26 | Sandisk Corporation | Removable computer with mass storage |
TW539946B (en) * | 2001-08-07 | 2003-07-01 | Solid State System Company Ltd | Window-based flash memory storage system, and the management method and the access method thereof |
US6762092B2 (en) * | 2001-08-08 | 2004-07-13 | Sandisk Corporation | Scalable self-aligned dual floating gate memory cell array and methods of forming the array |
US6948026B2 (en) * | 2001-08-24 | 2005-09-20 | Micron Technology, Inc. | Erase block management |
US7356641B2 (en) * | 2001-08-28 | 2008-04-08 | International Business Machines Corporation | Data management in flash memory |
ITRM20010530A1 (it) * | 2001-08-31 | 2003-02-28 | Micron Technology Inc | Marcatura di settore di memoria flash per consecutiva cancellazione in settore o banco. |
JP4034949B2 (ja) * | 2001-09-06 | 2008-01-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP4127605B2 (ja) * | 2001-09-07 | 2008-07-30 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US6456528B1 (en) | 2001-09-17 | 2002-09-24 | Sandisk Corporation | Selective operation of a multi-state non-volatile memory system in a binary mode |
US6560146B2 (en) | 2001-09-17 | 2003-05-06 | Sandisk Corporation | Dynamic column block selection |
US6741502B1 (en) | 2001-09-17 | 2004-05-25 | Sandisk Corporation | Background operation for memory cells |
US6717847B2 (en) * | 2001-09-17 | 2004-04-06 | Sandisk Corporation | Selective operation of a multi-state non-volatile memory system in a binary mode |
US7554842B2 (en) * | 2001-09-17 | 2009-06-30 | Sandisk Corporation | Multi-purpose non-volatile memory card |
US7170802B2 (en) * | 2003-12-31 | 2007-01-30 | Sandisk Corporation | Flexible and area efficient column redundancy for non-volatile memories |
US6985388B2 (en) | 2001-09-17 | 2006-01-10 | Sandisk Corporation | Dynamic column block selection |
US7177197B2 (en) | 2001-09-17 | 2007-02-13 | Sandisk Corporation | Latched programming of memory and method |
US20030056141A1 (en) * | 2001-09-18 | 2003-03-20 | Lai Chen Nan | Control method used in and-gate type system to increase efficiency and lengthen lifetime of use |
US6552932B1 (en) | 2001-09-21 | 2003-04-22 | Sandisk Corporation | Segmented metal bitlines |
JP3725458B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2005-12-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス表示パネル、およびそれを備えた画像表示装置 |
GB0123416D0 (en) | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Non-volatile memory control |
GB0123417D0 (en) * | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Improved data processing |
GB0123410D0 (en) * | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Memory system for data storage and retrieval |
GB0123415D0 (en) | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Method of writing data to non-volatile memory |
GB0123419D0 (en) | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Data handling system |
GB0123421D0 (en) * | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Power management system |
GB0123412D0 (en) * | 2001-09-28 | 2001-11-21 | Memquest Ltd | Memory system sectors |
DE10151733A1 (de) * | 2001-10-19 | 2003-04-30 | Infineon Technologies Ag | Prozessor-Speicher-System |
US6643181B2 (en) | 2001-10-24 | 2003-11-04 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method for erasing a memory cell |
EP1308964B1 (en) * | 2001-10-25 | 2007-10-03 | STMicroelectronics S.r.l. | Fast programming method for nonvolatile memories, in particular flash memories, and related memory architecture |
JP2003132693A (ja) * | 2001-10-29 | 2003-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6545907B1 (en) * | 2001-10-30 | 2003-04-08 | Ovonyx, Inc. | Technique and apparatus for performing write operations to a phase change material memory device |
US6678192B2 (en) * | 2001-11-02 | 2004-01-13 | Sandisk Corporation | Error management for writable tracking storage units |
US6889307B1 (en) | 2001-11-16 | 2005-05-03 | Matrix Semiconductor, Inc. | Integrated circuit incorporating dual organization memory array |
US8346733B2 (en) | 2006-12-22 | 2013-01-01 | Commvault Systems, Inc. | Systems and methods of media management, such as management of media to and from a media storage library |
EP1324207B1 (en) * | 2001-12-11 | 2007-02-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Ic card and data processing method therefor |
US6967872B2 (en) * | 2001-12-18 | 2005-11-22 | Sandisk Corporation | Method and system for programming and inhibiting multi-level, non-volatile memory cells |
US6778443B2 (en) * | 2001-12-25 | 2004-08-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device having memory blocks pre-programmed before erased |
TWI258646B (en) * | 2001-12-27 | 2006-07-21 | Asulab Sa | Device and method for managing memory in an electronic watch |
EP1324342B1 (en) * | 2001-12-28 | 2008-07-16 | STMicroelectronics S.r.l. | Programming method for a multilevel memory cell |
DE10164415A1 (de) * | 2001-12-29 | 2003-07-17 | Philips Intellectual Property | Verfahren und Anordnung zur Programmierung und Verifizierung von EEPROM-Pages sowie ein entsprechendes Computerprogrammprodukt und ein entsprechendes computerlesbares Speichermedium |
TWI240861B (en) * | 2002-01-11 | 2005-10-01 | Integrated Circuit Solution In | Data access method and architecture of flash memory |
US6643195B2 (en) | 2002-01-11 | 2003-11-04 | Hewlett-Packard Development Company, Lp. | Self-healing MRAM |
US20030135470A1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-07-17 | Beard Robert E. | Method and system for credit card purchases |
US7246268B2 (en) * | 2002-01-16 | 2007-07-17 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for dynamic degradation detection |
US6832304B2 (en) | 2002-01-17 | 2004-12-14 | Dell Products L.P. | System, method and computer program product for mapping system memory in a multiple node information handling system |
US6621739B2 (en) | 2002-01-18 | 2003-09-16 | Sandisk Corporation | Reducing the effects of noise in non-volatile memories through multiple reads |
US6850441B2 (en) * | 2002-01-18 | 2005-02-01 | Sandisk Corporation | Noise reduction technique for transistors and small devices utilizing an episodic agitation |
US6950918B1 (en) | 2002-01-18 | 2005-09-27 | Lexar Media, Inc. | File management of one-time-programmable nonvolatile memory devices |
US6542407B1 (en) * | 2002-01-18 | 2003-04-01 | Sandisk Corporation | Techniques of recovering data from memory cells affected by field coupling with adjacent memory cells |
US6957295B1 (en) | 2002-01-18 | 2005-10-18 | Lexar Media, Inc. | File management of one-time-programmable nonvolatile memory devices |
US7043666B2 (en) * | 2002-01-22 | 2006-05-09 | Dell Products L.P. | System and method for recovering from memory errors |
JP2003223792A (ja) * | 2002-01-25 | 2003-08-08 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリ及びメモリカード |
JP4005813B2 (ja) * | 2002-01-28 | 2007-11-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
TW200302966A (en) * | 2002-01-29 | 2003-08-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Memory device, data processing method and data processing program |
KR20040075968A (ko) * | 2002-01-29 | 2004-08-30 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 데이터 저장 장치 상의 데이터를 처리하기 위한 데이터저장 장치 및 방법 |
EP2148334B1 (en) * | 2002-01-29 | 2011-11-09 | Agere Systems Inc. | Differential flash memory programming technique |
US6700818B2 (en) * | 2002-01-31 | 2004-03-02 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method for operating a memory device |
US6975536B2 (en) * | 2002-01-31 | 2005-12-13 | Saifun Semiconductors Ltd. | Mass storage array and methods for operation thereof |
US7190620B2 (en) | 2002-01-31 | 2007-03-13 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method for operating a memory device |
US6839826B2 (en) | 2002-02-06 | 2005-01-04 | Sandisk Corporation | Memory device with pointer structure to map logical to physical addresses |
US6661711B2 (en) | 2002-02-06 | 2003-12-09 | Sandisk Corporation | Implementation of an inhibit during soft programming to tighten an erase voltage distribution |
AU2002233912B2 (en) * | 2002-02-07 | 2006-01-05 | Trek 2000 International Ltd | A portable data storage and image recording device capable of direct connection to a computer USB port |
JP4082913B2 (ja) * | 2002-02-07 | 2008-04-30 | 株式会社ルネサステクノロジ | メモリシステム |
US6549457B1 (en) * | 2002-02-15 | 2003-04-15 | Intel Corporation | Using multiple status bits per cell for handling power failures during write operations |
US6871257B2 (en) | 2002-02-22 | 2005-03-22 | Sandisk Corporation | Pipelined parallel programming operation in a non-volatile memory system |
EP1476873A4 (en) * | 2002-02-22 | 2006-07-05 | Lexar Media Inc | MEMORY HOLDER WITH INTEGRATED LAMP LAMP |
US7231643B1 (en) | 2002-02-22 | 2007-06-12 | Lexar Media, Inc. | Image rescue system including direct communication between an application program and a device driver |
US7123537B2 (en) | 2002-03-15 | 2006-10-17 | Macronix International Co., Ltd. | Decoder arrangement of a memory cell array |
KR100439507B1 (ko) * | 2002-03-18 | 2004-07-09 | 삼성전기주식회사 | 고 용량 플래시 메모리 카드 시스템에서의 데이터 운영 방법 |
US7330954B2 (en) * | 2002-04-18 | 2008-02-12 | Intel Corporation | Storing information in one of at least two storage devices based on a storage parameter and an attribute of the storage devices |
EP1357559B1 (en) * | 2002-04-26 | 2006-06-14 | STMicroelectronics S.r.l. | Self-repair method for nonvolatile memory devices using a supersecure architecture, and nonvolatile memory device |
US20030204857A1 (en) * | 2002-04-29 | 2003-10-30 | Dinwiddie Aaron Hal | Pre-power -failure storage of television parameters in nonvolatile memory |
EP1454240B1 (en) * | 2002-05-13 | 2006-02-08 | Trek 2000 International Ltd | System and apparatus for compressing and decompressing data stored to a portable data storage device |
DE60230592D1 (de) | 2002-05-21 | 2009-02-12 | St Microelectronics Srl | Selbstreparaturverfahren für nichtflüchtige Speicheranordnung mit Lösch-/Programmierfehlerdetektion, und nichtflüchtige Speicheranordnung dafür |
US7073099B1 (en) | 2002-05-30 | 2006-07-04 | Marvell International Ltd. | Method and apparatus for improving memory operation and yield |
US6894930B2 (en) | 2002-06-19 | 2005-05-17 | Sandisk Corporation | Deep wordline trench to shield cross coupling between adjacent cells for scaled NAND |
EP1514309B1 (en) * | 2002-06-19 | 2013-11-27 | SanDisk Technologies Inc. | Deep wordline trench to shield cross coupling between adjacent cells of nand memory |
US7024586B2 (en) * | 2002-06-24 | 2006-04-04 | Network Appliance, Inc. | Using file system information in raid data reconstruction and migration |
KR100472460B1 (ko) * | 2002-07-04 | 2005-03-10 | 삼성전자주식회사 | 메모리의 결함 복구 방법 및 그에 적합한 장치 |
US6917544B2 (en) | 2002-07-10 | 2005-07-12 | Saifun Semiconductors Ltd. | Multiple use memory chip |
US7127528B2 (en) * | 2002-07-22 | 2006-10-24 | Honeywell International Inc. | Caching process data of a slow network in a fast network environment |
US7120068B2 (en) * | 2002-07-29 | 2006-10-10 | Micron Technology, Inc. | Column/row redundancy architecture using latches programmed from a look up table |
TW588243B (en) * | 2002-07-31 | 2004-05-21 | Trek 2000 Int Ltd | System and method for authentication |
US6826107B2 (en) | 2002-08-01 | 2004-11-30 | Saifun Semiconductors Ltd. | High voltage insertion in flash memory cards |
JP2004095001A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-03-25 | Fujitsu Ltd | 不揮発性半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置組込システムおよび不良ブロック検出方法 |
US6941412B2 (en) * | 2002-08-29 | 2005-09-06 | Sandisk Corporation | Symbol frequency leveling in a storage system |
US6781877B2 (en) | 2002-09-06 | 2004-08-24 | Sandisk Corporation | Techniques for reducing effects of coupling between storage elements of adjacent rows of memory cells |
US20040049628A1 (en) * | 2002-09-10 | 2004-03-11 | Fong-Long Lin | Multi-tasking non-volatile memory subsystem |
US6987693B2 (en) * | 2002-09-24 | 2006-01-17 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with reduced neighboring field errors |
US7324393B2 (en) * | 2002-09-24 | 2008-01-29 | Sandisk Corporation | Method for compensated sensing in non-volatile memory |
US7443757B2 (en) * | 2002-09-24 | 2008-10-28 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with reduced bit line crosstalk errors |
EP1543529B1 (en) * | 2002-09-24 | 2009-11-04 | SanDisk Corporation | Non-volatile memory and its sensing method |
US7327619B2 (en) * | 2002-09-24 | 2008-02-05 | Sandisk Corporation | Reference sense amplifier for non-volatile memory |
US6940753B2 (en) | 2002-09-24 | 2005-09-06 | Sandisk Corporation | Highly compact non-volatile memory and method therefor with space-efficient data registers |
US7196931B2 (en) | 2002-09-24 | 2007-03-27 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with reduced source line bias errors |
US6891753B2 (en) * | 2002-09-24 | 2005-05-10 | Sandisk Corporation | Highly compact non-volatile memory and method therefor with internal serial buses |
US6983428B2 (en) * | 2002-09-24 | 2006-01-03 | Sandisk Corporation | Highly compact non-volatile memory and method thereof |
US7046568B2 (en) * | 2002-09-24 | 2006-05-16 | Sandisk Corporation | Memory sensing circuit and method for low voltage operation |
US20050183722A1 (en) * | 2002-09-27 | 2005-08-25 | Jagadish Bilgi | External chest therapy blanket for infants |
EP1403879B1 (en) * | 2002-09-30 | 2010-11-03 | STMicroelectronics Srl | Method for replacing failed non-volatile memory cells and corresponding memory device |
EP1403880B1 (en) * | 2002-09-30 | 2007-05-23 | STMicroelectronics S.r.l. | Method for detecting a resistive path or a predeterminted potential in non-volatile memory electronic devices |
US6908817B2 (en) * | 2002-10-09 | 2005-06-21 | Sandisk Corporation | Flash memory array with increased coupling between floating and control gates |
US7174420B2 (en) | 2002-10-22 | 2007-02-06 | Microsoft Corporation | Transaction-safe FAT file system |
US7363540B2 (en) | 2002-10-22 | 2008-04-22 | Microsoft Corporation | Transaction-safe FAT file system improvements |
US7096313B1 (en) | 2002-10-28 | 2006-08-22 | Sandisk Corporation | Tracking the least frequently erased blocks in non-volatile memory systems |
JP4290407B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2009-07-08 | パナソニック株式会社 | 電子機器 |
US6973531B1 (en) | 2002-10-28 | 2005-12-06 | Sandisk Corporation | Tracking the most frequently erased blocks in non-volatile memory systems |
US7181611B2 (en) * | 2002-10-28 | 2007-02-20 | Sandisk Corporation | Power management block for use in a non-volatile memory system |
US7526599B2 (en) * | 2002-10-28 | 2009-04-28 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for effectively enabling an out of sequence write process within a non-volatile memory system |
US7039788B1 (en) | 2002-10-28 | 2006-05-02 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for splitting a logical block |
US20040083334A1 (en) * | 2002-10-28 | 2004-04-29 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for managing the integrity of data in non-volatile memory system |
US7254668B1 (en) | 2002-10-28 | 2007-08-07 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for grouping pages within a block |
US8412879B2 (en) * | 2002-10-28 | 2013-04-02 | Sandisk Technologies Inc. | Hybrid implementation for error correction codes within a non-volatile memory system |
US7103732B1 (en) | 2002-10-28 | 2006-09-05 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for managing an erase count block |
US7171536B2 (en) * | 2002-10-28 | 2007-01-30 | Sandisk Corporation | Unusable block management within a non-volatile memory system |
US6831865B2 (en) * | 2002-10-28 | 2004-12-14 | Sandisk Corporation | Maintaining erase counts in non-volatile storage systems |
US7234036B1 (en) | 2002-10-28 | 2007-06-19 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for resolving physical blocks associated with a common logical block |
US6985992B1 (en) | 2002-10-28 | 2006-01-10 | Sandisk Corporation | Wear-leveling in non-volatile storage systems |
US7174440B2 (en) * | 2002-10-28 | 2007-02-06 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for performing block caching in a non-volatile memory system |
US7035967B2 (en) * | 2002-10-28 | 2006-04-25 | Sandisk Corporation | Maintaining an average erase count in a non-volatile storage system |
US7136304B2 (en) | 2002-10-29 | 2006-11-14 | Saifun Semiconductor Ltd | Method, system and circuit for programming a non-volatile memory array |
US6807610B2 (en) | 2002-11-01 | 2004-10-19 | Silicon Storage Technology, Inc. | Method and apparatus for virtually partitioning an integrated multilevel nonvolatile memory circuit |
JP4199519B2 (ja) * | 2002-11-05 | 2008-12-17 | パナソニック株式会社 | メモリ管理装置及びメモリ管理方法 |
US7339822B2 (en) * | 2002-12-06 | 2008-03-04 | Sandisk Corporation | Current-limited latch |
US6829167B2 (en) * | 2002-12-12 | 2004-12-07 | Sandisk Corporation | Error recovery for nonvolatile memory |
KR100560645B1 (ko) * | 2002-12-17 | 2006-03-16 | 삼성전자주식회사 | 메모리 사용 정보를 표시하는 유에스비 플래시 메모리 장치 |
DE10259282B4 (de) * | 2002-12-18 | 2005-05-19 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Batteriebetriebener Verbrauchszähler mit einem Mikro-Controller und Bausteinen zur Realisierung einer Zustandsmaschine |
US6928526B1 (en) * | 2002-12-20 | 2005-08-09 | Datadomain, Inc. | Efficient data storage system |
US7065619B1 (en) * | 2002-12-20 | 2006-06-20 | Data Domain, Inc. | Efficient data storage system |
AU2002353406A1 (en) * | 2002-12-27 | 2004-07-22 | Solid State System Co., Ltd. | Nonvolatile memory unit with specific cache |
US6765411B1 (en) * | 2002-12-30 | 2004-07-20 | Intel Corporation | Switchable voltage clamp circuit |
EP1435625A1 (en) * | 2002-12-30 | 2004-07-07 | STMicroelectronics S.r.l. | Non volatile memory device including a predetermined number of sectors |
US7505890B2 (en) * | 2003-01-15 | 2009-03-17 | Cox Communications, Inc. | Hard disk drive emulator |
WO2004068913A1 (ja) * | 2003-01-28 | 2004-08-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 発光素子およびその作製方法 |
JP4110000B2 (ja) | 2003-01-28 | 2008-07-02 | 株式会社ルネサステクノロジ | 記憶装置 |
US6944063B2 (en) * | 2003-01-28 | 2005-09-13 | Sandisk Corporation | Non-volatile semiconductor memory with large erase blocks storing cycle counts |
US7178004B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-02-13 | Yan Polansky | Memory array programming circuit and a method for using the circuit |
JP4073799B2 (ja) * | 2003-02-07 | 2008-04-09 | 株式会社ルネサステクノロジ | メモリシステム |
ITTO20030132A1 (it) * | 2003-02-25 | 2004-08-26 | Atmel Corp | Amplificatore di rilevamento rapido a specchio, di tipo configurabile e procedimento per configurare un tale amplificatore. |
EP1606821B1 (en) * | 2003-02-25 | 2008-10-08 | Atmel Corporation | An apparatus and method for a configurable mirror fast sense amplifier |
US6920072B2 (en) * | 2003-02-28 | 2005-07-19 | Union Semiconductor Technology Corporation | Apparatus and method for testing redundant memory elements |
TW200417851A (en) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Wistron Corp | Computer system capable of maintaining system's stability while memory is unstable and memory control method |
US6996688B2 (en) * | 2003-03-11 | 2006-02-07 | International Business Machines Corporation | Method, system, and program for improved throughput in remote mirroring systems |
US20040199721A1 (en) * | 2003-03-12 | 2004-10-07 | Power Data Communication Co., Ltd. | Multi-transmission interface memory card |
US8041878B2 (en) * | 2003-03-19 | 2011-10-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flash file system |
US7003621B2 (en) * | 2003-03-25 | 2006-02-21 | M-System Flash Disk Pioneers Ltd. | Methods of sanitizing a flash-based data storage device |
US7174433B2 (en) | 2003-04-03 | 2007-02-06 | Commvault Systems, Inc. | System and method for dynamically sharing media in a computer network |
WO2004090789A2 (en) | 2003-04-03 | 2004-10-21 | Commvault Systems, Inc. | System and method for extended media retention |
DE60314979T2 (de) * | 2003-04-11 | 2008-04-10 | Em Microelectronic-Marin S.A. | Verfahren zur Aktualisierung eines nichtflüchtigen Speichers |
US6891758B2 (en) * | 2003-05-08 | 2005-05-10 | Micron Technology, Inc. | Position based erase verification levels in a flash memory device |
US7496822B2 (en) * | 2003-05-15 | 2009-02-24 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for responding to data retention loss in a non-volatile memory unit using error checking and correction techniques |
US6973519B1 (en) | 2003-06-03 | 2005-12-06 | Lexar Media, Inc. | Card identification compatibility |
US7237074B2 (en) * | 2003-06-13 | 2007-06-26 | Sandisk Corporation | Tracking cells for a memory system |
US7105406B2 (en) * | 2003-06-20 | 2006-09-12 | Sandisk Corporation | Self aligned non-volatile memory cell and process for fabrication |
US6906961B2 (en) * | 2003-06-24 | 2005-06-14 | Micron Technology, Inc. | Erase block data splitting |
US6839280B1 (en) | 2003-06-27 | 2005-01-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | Variable gate bias for a reference transistor in a non-volatile memory |
US6955967B2 (en) * | 2003-06-27 | 2005-10-18 | Freescale Semiconductor, Inc. | Non-volatile memory having a reference transistor and method for forming |
US20060206677A1 (en) * | 2003-07-03 | 2006-09-14 | Electronics And Telecommunications Research Institute | System and method of an efficient snapshot for shared large storage |
US20050013181A1 (en) * | 2003-07-17 | 2005-01-20 | Adelmann Todd C. | Assisted memory device with integrated cache |
CN100449506C (zh) * | 2003-07-23 | 2009-01-07 | 霍尼韦尔国际公司 | 在快速网络环境中缓存慢速网络的过程数据 |
US6928011B2 (en) * | 2003-07-30 | 2005-08-09 | Texas Instruments Incorporated | Electrical fuse control of memory slowdown |
US20050038739A1 (en) * | 2003-08-13 | 2005-02-17 | Ncr Corporation | Methods of processing payment in an electronic commercial transaction and a payment consolidator therefor |
US20050050261A1 (en) * | 2003-08-27 | 2005-03-03 | Thomas Roehr | High density flash memory with high speed cache data interface |
EP1510924B1 (en) * | 2003-08-27 | 2008-07-23 | ARM Limited | Apparatus and method for handling transactions with writes and reads to EEPROM or Flash memories |
US7019998B2 (en) * | 2003-09-09 | 2006-03-28 | Silicon Storage Technology, Inc. | Unified multilevel cell memory |
US7191379B2 (en) * | 2003-09-10 | 2007-03-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Magnetic memory with error correction coding |
US6956770B2 (en) * | 2003-09-17 | 2005-10-18 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with bit line compensation dependent on neighboring operating modes |
US7064980B2 (en) * | 2003-09-17 | 2006-06-20 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with bit line coupled compensation |
US7046555B2 (en) | 2003-09-17 | 2006-05-16 | Sandisk Corporation | Methods for identifying non-volatile memory elements with poor subthreshold slope or weak transconductance |
US7188228B1 (en) | 2003-10-01 | 2007-03-06 | Sandisk Corporation | Hybrid mapping implementation within a non-volatile memory system |
US7559004B1 (en) | 2003-10-01 | 2009-07-07 | Sandisk Corporation | Dynamic redundant area configuration in a non-volatile memory system |
JP3898682B2 (ja) * | 2003-10-03 | 2007-03-28 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
US7221008B2 (en) * | 2003-10-06 | 2007-05-22 | Sandisk Corporation | Bitline direction shielding to avoid cross coupling between adjacent cells for NAND flash memory |
US7301807B2 (en) | 2003-10-23 | 2007-11-27 | Sandisk Corporation | Writable tracking cells |
US7032087B1 (en) | 2003-10-28 | 2006-04-18 | Sandisk Corporation | Erase count differential table within a non-volatile memory system |
US7089349B2 (en) * | 2003-10-28 | 2006-08-08 | Sandisk Corporation | Internal maintenance schedule request for non-volatile memory system |
US7412581B2 (en) * | 2003-10-28 | 2008-08-12 | Renesas Technology America, Inc. | Processor for virtual machines and method therefor |
US8706990B2 (en) | 2003-10-28 | 2014-04-22 | Sandisk Technologies Inc. | Adaptive internal table backup for non-volatile memory system |
WO2005041207A2 (en) * | 2003-10-29 | 2005-05-06 | Matsushita Electric Industrial Co.,Ltd. | Drive device and related computer program |
US7325157B2 (en) * | 2003-11-03 | 2008-01-29 | Samsung Electronics Co., Ltd | Magnetic memory devices having selective error encoding capability based on fault probabilities |
ITMI20032134A1 (it) * | 2003-11-06 | 2005-05-07 | St Microelectronics Srl | Dispositivo integrato di memoria con comando di cancellazione multisettore |
EP1536431A1 (de) | 2003-11-26 | 2005-06-01 | Infineon Technologies AG | Anordnung mit einem Speicher zum Speichern von Daten |
US8176238B2 (en) * | 2003-12-02 | 2012-05-08 | Super Talent Electronics, Inc. | Command queuing smart storage transfer manager for striping data to raw-NAND flash modules |
US20050120265A1 (en) * | 2003-12-02 | 2005-06-02 | Pline Steven L. | Data storage system with error correction code and replaceable defective memory |
US20090193184A1 (en) * | 2003-12-02 | 2009-07-30 | Super Talent Electronics Inc. | Hybrid 2-Level Mapping Tables for Hybrid Block- and Page-Mode Flash-Memory System |
US7049652B2 (en) * | 2003-12-10 | 2006-05-23 | Sandisk Corporation | Pillar cell flash memory technology |
US20050132128A1 (en) * | 2003-12-15 | 2005-06-16 | Jin-Yub Lee | Flash memory device and flash memory system including buffer memory |
CN1809833B (zh) | 2003-12-17 | 2015-08-05 | 雷克萨媒体公司 | 用于减少用于购买的电子设备的盗窃发生率的方法 |
US7058754B2 (en) * | 2003-12-22 | 2006-06-06 | Silicon Storage Technology, Inc. | Nonvolatile memory device capable of simultaneous erase and program of different blocks |
US7266732B2 (en) * | 2003-12-22 | 2007-09-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | MRAM with controller |
US20050144516A1 (en) * | 2003-12-30 | 2005-06-30 | Gonzalez Carlos J. | Adaptive deterministic grouping of blocks into multi-block units |
US7173863B2 (en) | 2004-03-08 | 2007-02-06 | Sandisk Corporation | Flash controller cache architecture |
US7200708B1 (en) * | 2003-12-31 | 2007-04-03 | Intel Corporation | Apparatus and methods for storing data which self-compensate for erase performance degradation |
US6988237B1 (en) | 2004-01-06 | 2006-01-17 | Marvell Semiconductor Israel Ltd. | Error-correction memory architecture for testing production errors |
WO2005074613A2 (en) * | 2004-02-03 | 2005-08-18 | Nextest Systems Corporation | Method for testing and programming memory devices and system for same |
KR100533683B1 (ko) * | 2004-02-03 | 2005-12-05 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리의 데이터 관리 장치 및 방법 |
TWI234110B (en) * | 2004-02-05 | 2005-06-11 | Mediatek Inc | Method for managing a circuit system during mode-switching procedures |
EP1733555A4 (en) * | 2004-02-23 | 2009-09-30 | Lexar Media Inc | SAFE COMPACT FLASH |
US7177189B2 (en) * | 2004-03-01 | 2007-02-13 | Intel Corporation | Memory defect detection and self-repair technique |
US7183153B2 (en) * | 2004-03-12 | 2007-02-27 | Sandisk Corporation | Method of manufacturing self aligned non-volatile memory cells |
KR100648243B1 (ko) * | 2004-03-19 | 2006-11-24 | 삼성전자주식회사 | 낸드 플래시 메모리를 사용하는 메모리 카드 |
DE602004007886T2 (de) * | 2004-03-30 | 2008-04-24 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Sequenzielles Schreib-Prüfverfahren mit Ergebnisspeicherung |
US7733729B2 (en) * | 2004-04-01 | 2010-06-08 | Nxp B.V. | Thermally stable reference voltage generator for MRAM |
WO2005094178A2 (en) | 2004-04-01 | 2005-10-13 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method, circuit and systems for erasing one or more non-volatile memory cells |
GB2413208A (en) * | 2004-04-13 | 2005-10-19 | Jenny Wong | Soft toy baby monitor |
US7725628B1 (en) | 2004-04-20 | 2010-05-25 | Lexar Media, Inc. | Direct secondary device interface by a host |
JP4642018B2 (ja) * | 2004-04-21 | 2011-03-02 | スパンション エルエルシー | 不揮発性半導体装置および不揮発性半導体装置の消去動作不良自動救済方法 |
US7057939B2 (en) * | 2004-04-23 | 2006-06-06 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and control with improved partial page program capability |
US7370166B1 (en) | 2004-04-30 | 2008-05-06 | Lexar Media, Inc. | Secure portable storage device |
US7644239B2 (en) | 2004-05-03 | 2010-01-05 | Microsoft Corporation | Non-volatile memory cache performance improvement |
US8019925B1 (en) | 2004-05-06 | 2011-09-13 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for dynamically mapped mass storage device |
US7110301B2 (en) * | 2004-05-07 | 2006-09-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Non-volatile semiconductor memory device and multi-block erase method thereof |
US7490283B2 (en) | 2004-05-13 | 2009-02-10 | Sandisk Corporation | Pipelined data relocation and improved chip architectures |
US7009889B2 (en) * | 2004-05-28 | 2006-03-07 | Sandisk Corporation | Comprehensive erase verification for non-volatile memory |
US7617359B2 (en) * | 2004-06-10 | 2009-11-10 | Marvell World Trade Ltd. | Adaptive storage system including hard disk drive with flash interface |
US7788427B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-08-31 | Marvell International Ltd. | Flash memory interface for disk drive |
US20070083785A1 (en) * | 2004-06-10 | 2007-04-12 | Sehat Sutardja | System with high power and low power processors and thread transfer |
US20070094444A1 (en) * | 2004-06-10 | 2007-04-26 | Sehat Sutardja | System with high power and low power processors and thread transfer |
US7634615B2 (en) * | 2004-06-10 | 2009-12-15 | Marvell World Trade Ltd. | Adaptive storage system |
US7702848B2 (en) * | 2004-06-10 | 2010-04-20 | Marvell World Trade Ltd. | Adaptive storage system including hard disk drive with flash interface |
US20080140921A1 (en) * | 2004-06-10 | 2008-06-12 | Sehat Sutardja | Externally removable non-volatile semiconductor memory module for hard disk drives |
US7366025B2 (en) * | 2004-06-10 | 2008-04-29 | Saifun Semiconductors Ltd. | Reduced power programming of non-volatile cells |
US7730335B2 (en) | 2004-06-10 | 2010-06-01 | Marvell World Trade Ltd. | Low power computer with main and auxiliary processors |
FR2871940B1 (fr) * | 2004-06-18 | 2007-06-15 | St Microelectronics Rousset | Transistor mos a grille flottante, a double grille de controle |
JP2006004560A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置及びその誤り訂正方法 |
US7217597B2 (en) | 2004-06-22 | 2007-05-15 | Micron Technology, Inc. | Die stacking scheme |
US7336531B2 (en) | 2004-06-25 | 2008-02-26 | Micron Technology, Inc. | Multiple level cell memory device with single bit per cell, re-mappable memory block |
US20080098388A1 (en) * | 2004-06-29 | 2008-04-24 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Safe Flashing |
JP4209820B2 (ja) | 2004-07-15 | 2009-01-14 | 株式会社ハギワラシスコム | メモリカードシステム及び該メモリカードシステムで使用されるライトワンス型メモリカード、ホストシステムと半導体記憶デバイスとからなるシステム |
US7380180B2 (en) * | 2004-07-16 | 2008-05-27 | Intel Corporation | Method, system, and apparatus for tracking defective cache lines |
KR100632947B1 (ko) * | 2004-07-20 | 2006-10-12 | 삼성전자주식회사 | 불 휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 |
US7266635B1 (en) | 2004-07-22 | 2007-09-04 | Marvell Semiconductor Israel Ltd. | Address lookup apparatus having memory and content addressable memory |
JP4290618B2 (ja) * | 2004-07-27 | 2009-07-08 | Necエレクトロニクス株式会社 | 不揮発性メモリ及びその動作方法 |
JP2006039966A (ja) * | 2004-07-27 | 2006-02-09 | Toshiba Corp | メモリカードおよびメモリカードに搭載されるカード用コントローラ並びにメモリカードの処理装置 |
US7427027B2 (en) | 2004-07-28 | 2008-09-23 | Sandisk Corporation | Optimized non-volatile storage systems |
US7258100B2 (en) * | 2004-08-03 | 2007-08-21 | Bruce Pinkston | Internal combustion engine control |
KR100622349B1 (ko) * | 2004-08-04 | 2006-09-14 | 삼성전자주식회사 | 불량 블록 관리 기능을 가지는 플레시 메모리 장치 및플레시 메모리 장치의 불량 블록 관리 방법. |
US7042765B2 (en) * | 2004-08-06 | 2006-05-09 | Freescale Semiconductor, Inc. | Memory bit line segment isolation |
US7145816B2 (en) * | 2004-08-16 | 2006-12-05 | Micron Technology, Inc. | Using redundant memory for extra features |
US7398348B2 (en) * | 2004-08-24 | 2008-07-08 | Sandisk 3D Llc | Method and apparatus for using a one-time or few-time programmable memory with a host device designed for erasable/rewritable memory |
US7464306B1 (en) | 2004-08-27 | 2008-12-09 | Lexar Media, Inc. | Status of overall health of nonvolatile memory |
US7594063B1 (en) | 2004-08-27 | 2009-09-22 | Lexar Media, Inc. | Storage capacity status |
US7269685B2 (en) * | 2004-09-02 | 2007-09-11 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and methods for storing data in a magnetic random access memory (MRAM) |
US20060044934A1 (en) | 2004-09-02 | 2006-03-02 | Micron Technology, Inc. | Cluster based non-volatile memory translation layer |
US7509526B2 (en) * | 2004-09-24 | 2009-03-24 | Seiko Epson Corporation | Method of correcting NAND memory blocks and to a printing device employing the method |
US20060069896A1 (en) * | 2004-09-27 | 2006-03-30 | Sigmatel, Inc. | System and method for storing data |
DE102004047813A1 (de) * | 2004-09-29 | 2006-03-30 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbaustein mit einer Umlenkschaltung |
US7149119B2 (en) * | 2004-09-30 | 2006-12-12 | Matrix Semiconductor, Inc. | System and method of controlling a three-dimensional memory |
US20060067127A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Matrix Semiconductor, Inc. | Method of programming a monolithic three-dimensional memory |
KR100660534B1 (ko) * | 2004-12-09 | 2006-12-26 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치의 프로그램 검증방법 |
US7638850B2 (en) | 2004-10-14 | 2009-12-29 | Saifun Semiconductors Ltd. | Non-volatile memory structure and method of fabrication |
ATE395703T1 (de) * | 2004-10-20 | 2008-05-15 | Actaris Sas | Verfahren zum löschen eines flash-speichers und zähler mit einem flash-speicher |
US7490197B2 (en) | 2004-10-21 | 2009-02-10 | Microsoft Corporation | Using external memory devices to improve system performance |
US7388189B2 (en) * | 2004-10-27 | 2008-06-17 | Electro Industries/Gauge Tech | System and method for connecting electrical devices using fiber optic serial communication |
DE102004052218B3 (de) | 2004-10-27 | 2006-04-27 | Infineon Technologies Ag | Speicheranordnung mit geringem Stromverbrauch |
US7472238B1 (en) | 2004-11-05 | 2008-12-30 | Commvault Systems, Inc. | Systems and methods for recovering electronic information from a storage medium |
US7381615B2 (en) * | 2004-11-23 | 2008-06-03 | Sandisk Corporation | Methods for self-aligned trench filling with grown dielectric for high coupling ratio in semiconductor devices |
US7416956B2 (en) * | 2004-11-23 | 2008-08-26 | Sandisk Corporation | Self-aligned trench filling for narrow gap isolation regions |
US7502256B2 (en) * | 2004-11-30 | 2009-03-10 | Siliconsystems, Inc. | Systems and methods for reducing unauthorized data recovery from solid-state storage devices |
US7877543B2 (en) * | 2004-12-03 | 2011-01-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for writing data and a time value to an addressable unit of a removable storage medium |
US7271996B2 (en) * | 2004-12-03 | 2007-09-18 | Electro Industries/Gauge Tech | Current inputs interface for an electrical device |
JP2008523468A (ja) * | 2004-12-06 | 2008-07-03 | テイアック エアロスペース テクノロジーズ インコーポレイテッド | 不揮発記録媒体消去システム及び方法 |
US20060120235A1 (en) * | 2004-12-06 | 2006-06-08 | Teac Aerospace Technologies | System and method of erasing non-volatile recording media |
JP4786171B2 (ja) * | 2004-12-10 | 2011-10-05 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US7420847B2 (en) * | 2004-12-14 | 2008-09-02 | Sandisk Corporation | Multi-state memory having data recovery after program fail |
US7120051B2 (en) * | 2004-12-14 | 2006-10-10 | Sandisk Corporation | Pipelined programming of non-volatile memories using early data |
US7158421B2 (en) * | 2005-04-01 | 2007-01-02 | Sandisk Corporation | Use of data latches in multi-phase programming of non-volatile memories |
US8606830B2 (en) | 2004-12-17 | 2013-12-10 | Microsoft Corporation | Contiguous file allocation in an extensible file system |
US8321439B2 (en) | 2004-12-17 | 2012-11-27 | Microsoft Corporation | Quick filename lookup using name hash |
US7873596B2 (en) * | 2006-05-23 | 2011-01-18 | Microsoft Corporation | Extending cluster allocations in an extensible file system |
US9639554B2 (en) | 2004-12-17 | 2017-05-02 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Extensible file system |
US7882299B2 (en) * | 2004-12-21 | 2011-02-01 | Sandisk Corporation | System and method for use of on-chip non-volatile memory write cache |
US7849381B2 (en) * | 2004-12-21 | 2010-12-07 | Sandisk Corporation | Method for copying data in reprogrammable non-volatile memory |
US7482223B2 (en) * | 2004-12-22 | 2009-01-27 | Sandisk Corporation | Multi-thickness dielectric for semiconductor memory |
US7202125B2 (en) * | 2004-12-22 | 2007-04-10 | Sandisk Corporation | Low-voltage, multiple thin-gate oxide and low-resistance gate electrode |
WO2006071402A1 (en) * | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Atmel Corporation | System for performing fast testing during flash reference cell setting |
US20060140007A1 (en) * | 2004-12-29 | 2006-06-29 | Raul-Adrian Cernea | Non-volatile memory and method with shared processing for an aggregate of read/write circuits |
FR2880963B3 (fr) * | 2005-01-19 | 2007-04-20 | Atmel Corp | Points d'arrets logiciels destines a etre utilises avec des dispositifs a memoire |
US8581169B2 (en) * | 2005-01-24 | 2013-11-12 | Electro Industries/Gauge Tech | System and method for data transmission between an intelligent electronic device and a remote device |
US7877566B2 (en) * | 2005-01-25 | 2011-01-25 | Atmel Corporation | Simultaneous pipelined read with multiple level cache for improved system performance using flash technology |
US9104315B2 (en) | 2005-02-04 | 2015-08-11 | Sandisk Technologies Inc. | Systems and methods for a mass data storage system having a file-based interface to a host and a non-file-based interface to secondary storage |
US20060184718A1 (en) * | 2005-02-16 | 2006-08-17 | Sinclair Alan W | Direct file data programming and deletion in flash memories |
US20060184719A1 (en) * | 2005-02-16 | 2006-08-17 | Sinclair Alan W | Direct data file storage implementation techniques in flash memories |
US7877539B2 (en) * | 2005-02-16 | 2011-01-25 | Sandisk Corporation | Direct data file storage in flash memories |
US7757037B2 (en) * | 2005-02-16 | 2010-07-13 | Kingston Technology Corporation | Configurable flash memory controller and method of use |
US7113427B1 (en) * | 2005-03-09 | 2006-09-26 | National Semiconductor Corporation | NVM PMOS-cell with one erased and two programmed states |
US7251160B2 (en) | 2005-03-16 | 2007-07-31 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with power-saving read and program-verify operations |
US8053812B2 (en) | 2005-03-17 | 2011-11-08 | Spansion Israel Ltd | Contact in planar NROM technology |
US7348667B2 (en) * | 2005-03-22 | 2008-03-25 | International Business Machines Corporation | System and method for noise reduction in multi-layer ceramic packages |
US7624385B2 (en) * | 2005-03-30 | 2009-11-24 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Method for handling preprocessing in source code transformation |
DE102005015319B4 (de) * | 2005-04-01 | 2008-04-10 | Infineon Technologies Ag | Elektrisches System mit fehlerhaften Speicherbereichen und Verfahren zum Testen von Speicherbereichen |
US7206230B2 (en) * | 2005-04-01 | 2007-04-17 | Sandisk Corporation | Use of data latches in cache operations of non-volatile memories |
US7173854B2 (en) * | 2005-04-01 | 2007-02-06 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with compensation for source line bias errors |
US7463521B2 (en) * | 2005-04-01 | 2008-12-09 | Sandisk Corporation | Method for non-volatile memory with managed execution of cached data |
US7170784B2 (en) * | 2005-04-01 | 2007-01-30 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with control gate compensation for source line bias errors |
US7447078B2 (en) | 2005-04-01 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Method for non-volatile memory with background data latch caching during read operations |
US7196946B2 (en) * | 2005-04-05 | 2007-03-27 | Sandisk Corporation | Compensating for coupling in non-volatile storage |
US7196928B2 (en) * | 2005-04-05 | 2007-03-27 | Sandisk Corporation | Compensating for coupling during read operations of non-volatile memory |
US7187585B2 (en) * | 2005-04-05 | 2007-03-06 | Sandisk Corporation | Read operation for non-volatile storage that includes compensation for coupling |
DE102005016684A1 (de) * | 2005-04-11 | 2006-10-12 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Speicheranordnung, insbesondere zur nichtflüchtigen Speicherung von unkomprmierten Video-und/oder Audiodaten |
US7603530B1 (en) | 2005-05-05 | 2009-10-13 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for dynamic multiple indirections in a dynamically mapped mass storage device |
US7617358B1 (en) | 2005-05-05 | 2009-11-10 | Seagate Technology, Llc | Methods and structure for writing lead-in sequences for head stability in a dynamically mapped mass storage device |
US7620772B1 (en) | 2005-05-05 | 2009-11-17 | Seagate Technology, Llc | Methods and structure for dynamic data density in a dynamically mapped mass storage device |
US7685360B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-03-23 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for dynamic appended metadata in a dynamically mapped mass storage device |
US7752491B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-07-06 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for on-the-fly head depopulation in a dynamically mapped mass storage device |
US7653847B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-01-26 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for field flawscan in a dynamically mapped mass storage device |
US7916421B1 (en) | 2005-05-05 | 2011-03-29 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for recovery of write fault errors in a dynamically mapped mass storage device |
US8045381B2 (en) * | 2005-05-09 | 2011-10-25 | Stmicroelectronics Sa | Device for protecting a memory against attacks by error injection |
JP5014125B2 (ja) * | 2005-05-30 | 2012-08-29 | スパンション エルエルシー | 半導体装置及びプログラムデータ冗長方法 |
US7506206B2 (en) * | 2005-06-07 | 2009-03-17 | Atmel Corporation | Mechanism for providing program breakpoints in a microcontroller with flash program memory |
US8400841B2 (en) | 2005-06-15 | 2013-03-19 | Spansion Israel Ltd. | Device to program adjacent storage cells of different NROM cells |
US7457910B2 (en) | 2005-06-29 | 2008-11-25 | Sandisk Corproation | Method and system for managing partitions in a storage device |
FR2888032A1 (fr) * | 2005-06-30 | 2007-01-05 | Gemplus Sa | Procede de gestion de memoire non volatile dans une carte a puce |
KR101257848B1 (ko) * | 2005-07-13 | 2013-04-24 | 삼성전자주식회사 | 복합 메모리를 구비하는 데이터 저장 시스템 및 그 동작방법 |
US7656710B1 (en) | 2005-07-14 | 2010-02-02 | Sau Ching Wong | Adaptive operations for nonvolatile memories |
US7786512B2 (en) | 2005-07-18 | 2010-08-31 | Saifun Semiconductors Ltd. | Dense non-volatile memory array and method of fabrication |
US20070030281A1 (en) * | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Beyond Innovation Technology Co., Ltd. | Serial memory script controller |
US7669003B2 (en) * | 2005-08-03 | 2010-02-23 | Sandisk Corporation | Reprogrammable non-volatile memory systems with indexing of directly stored data files |
US7627733B2 (en) * | 2005-08-03 | 2009-12-01 | Sandisk Corporation | Method and system for dual mode access for storage devices |
US7949845B2 (en) * | 2005-08-03 | 2011-05-24 | Sandisk Corporation | Indexing of file data in reprogrammable non-volatile memories that directly store data files |
US7480766B2 (en) * | 2005-08-03 | 2009-01-20 | Sandisk Corporation | Interfacing systems operating through a logical address space and on a direct data file basis |
US7558906B2 (en) | 2005-08-03 | 2009-07-07 | Sandisk Corporation | Methods of managing blocks in nonvolatile memory |
US7552271B2 (en) | 2005-08-03 | 2009-06-23 | Sandisk Corporation | Nonvolatile memory with block management |
US7984084B2 (en) * | 2005-08-03 | 2011-07-19 | SanDisk Technologies, Inc. | Non-volatile memory with scheduled reclaim operations |
US7668017B2 (en) | 2005-08-17 | 2010-02-23 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method of erasing non-volatile memory cells |
DE102005040916A1 (de) * | 2005-08-30 | 2007-03-08 | Robert Bosch Gmbh | Speicheranordnung und Betriebsverfahren dafür |
WO2007026393A1 (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-08 | Spansion Llc | 半導体装置およびその制御方法 |
US7345918B2 (en) * | 2005-08-31 | 2008-03-18 | Micron Technology, Inc. | Selective threshold voltage verification and compaction |
US7523381B2 (en) * | 2005-09-01 | 2009-04-21 | Micron Technology, Inc. | Non-volatile memory with error detection |
US8116142B2 (en) * | 2005-09-06 | 2012-02-14 | Infineon Technologies Ag | Method and circuit for erasing a non-volatile memory cell |
JP2007072839A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Sony Corp | 記録制御装置および方法、並びにプログラム |
US8010826B2 (en) * | 2005-09-13 | 2011-08-30 | Meta Systems | Reconfigurable circuit with redundant reconfigurable cluster(s) |
US7478261B2 (en) * | 2005-09-13 | 2009-01-13 | M2000 | Reconfigurable circuit with redundant reconfigurable cluster(s) |
DE102005045400A1 (de) * | 2005-09-23 | 2007-03-29 | Robert Bosch Gmbh | Datenverarbeitungssystem und Betriebsverfahren dafür |
KR101293365B1 (ko) | 2005-09-30 | 2013-08-05 | 모사이드 테크놀로지스 인코퍼레이티드 | 출력 제어 메모리 |
US7652922B2 (en) * | 2005-09-30 | 2010-01-26 | Mosaid Technologies Incorporated | Multiple independent serial link memory |
TWI298836B (en) * | 2005-10-12 | 2008-07-11 | Sunplus Technology Co Ltd | Apparatus for controlling flash memory and method thereof |
US7814262B2 (en) * | 2005-10-13 | 2010-10-12 | Sandisk Corporation | Memory system storing transformed units of data in fixed sized storage blocks |
US7681109B2 (en) * | 2005-10-13 | 2010-03-16 | Ramot At Tel Aviv University Ltd. | Method of error correction in MBC flash memory |
US7640424B2 (en) * | 2005-10-13 | 2009-12-29 | Sandisk Corporation | Initialization of flash storage via an embedded controller |
US7529905B2 (en) * | 2005-10-13 | 2009-05-05 | Sandisk Corporation | Method of storing transformed units of data in a memory system having fixed sized storage blocks |
US7541240B2 (en) * | 2005-10-18 | 2009-06-02 | Sandisk Corporation | Integration process flow for flash devices with low gap fill aspect ratio |
JP4910360B2 (ja) * | 2005-10-20 | 2012-04-04 | ソニー株式会社 | 記憶装置、コンピュータシステム、およびデータ書き込み方法 |
US7493519B2 (en) * | 2005-10-24 | 2009-02-17 | Lsi Corporation | RRAM memory error emulation |
US7509471B2 (en) * | 2005-10-27 | 2009-03-24 | Sandisk Corporation | Methods for adaptively handling data writes in non-volatile memories |
US7631162B2 (en) | 2005-10-27 | 2009-12-08 | Sandisck Corporation | Non-volatile memory with adaptive handling of data writes |
US7634585B2 (en) * | 2005-11-04 | 2009-12-15 | Sandisk Corporation | In-line cache using nonvolatile memory between host and disk device |
US7554843B1 (en) * | 2005-11-04 | 2009-06-30 | Alta Analog, Inc. | Serial bus incorporating high voltage programming signals |
US20070106842A1 (en) * | 2005-11-04 | 2007-05-10 | Conley Kevin M | Enhanced first level storage caching methods using nonvolatile memory |
ITVA20050061A1 (it) * | 2005-11-08 | 2007-05-09 | St Microelectronics Srl | Metodo di gestione di un dispositivo di memoria non volatile e relativa memoria |
US7447066B2 (en) * | 2005-11-08 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Memory with retargetable memory cell redundancy |
JP2007133683A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Sony Corp | メモリシステム |
US7777819B2 (en) * | 2005-11-10 | 2010-08-17 | Bae Systems Plc | Display source |
JP4791806B2 (ja) * | 2005-11-21 | 2011-10-12 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置及びそのデータ書き込み方法 |
US7451262B2 (en) * | 2005-12-02 | 2008-11-11 | Nagarjun V Yetukuri | Removable memory storage device having a display |
US7502916B2 (en) * | 2005-12-02 | 2009-03-10 | Infineon Technologies Flash Gmbh & Co. Kg | Processing arrangement, memory card device and method for operating and manufacturing a processing arrangement |
US20070233954A1 (en) * | 2005-12-06 | 2007-10-04 | O2Micro, Inc. | System and Method for Interfacing to a Media Card Related Application and Technical Field |
US7323968B2 (en) * | 2005-12-09 | 2008-01-29 | Sony Corporation | Cross-phase adapter for powerline communications (PLC) network |
FR2894709A1 (fr) * | 2005-12-13 | 2007-06-15 | Gemplus Sa | "detecteur de destruction anormale de secteur memoire" |
US7877540B2 (en) * | 2005-12-13 | 2011-01-25 | Sandisk Corporation | Logically-addressed file storage methods |
US20070143530A1 (en) * | 2005-12-15 | 2007-06-21 | Rudelic John C | Method and apparatus for multi-block updates with secure flash memory |
US8914557B2 (en) | 2005-12-16 | 2014-12-16 | Microsoft Corporation | Optimizing write and wear performance for a memory |
US20070141731A1 (en) * | 2005-12-20 | 2007-06-21 | Hemink Gerrit J | Semiconductor memory with redundant replacement for elements posing future operability concern |
US7793068B2 (en) * | 2005-12-21 | 2010-09-07 | Sandisk Corporation | Dual mode access for non-volatile storage devices |
US20070156998A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Gorobets Sergey A | Methods for memory allocation in non-volatile memories with a directly mapped file storage system |
US20070143567A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Gorobets Sergey A | Methods for data alignment in non-volatile memories with a directly mapped file storage system |
US20070143566A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Gorobets Sergey A | Non-volatile memories with data alignment in a directly mapped file storage system |
US20070143561A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Gorobets Sergey A | Methods for adaptive file data handling in non-volatile memories with a directly mapped file storage system |
US20070143378A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Gorobets Sergey A | Non-volatile memories with adaptive file handling in a directly mapped file storage system |
US7747837B2 (en) | 2005-12-21 | 2010-06-29 | Sandisk Corporation | Method and system for accessing non-volatile storage devices |
US7769978B2 (en) * | 2005-12-21 | 2010-08-03 | Sandisk Corporation | Method and system for accessing non-volatile storage devices |
US7447094B2 (en) * | 2005-12-29 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Method for power-saving multi-pass sensing in non-volatile memory |
US7224614B1 (en) | 2005-12-29 | 2007-05-29 | Sandisk Corporation | Methods for improved program-verify operations in non-volatile memories |
US7733704B2 (en) * | 2005-12-29 | 2010-06-08 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory with power-saving multi-pass sensing |
US7307887B2 (en) * | 2005-12-29 | 2007-12-11 | Sandisk Corporation | Continued verification in non-volatile memory write operations |
US7310255B2 (en) * | 2005-12-29 | 2007-12-18 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory with improved program-verify operations |
US7352629B2 (en) * | 2005-12-29 | 2008-04-01 | Sandisk Corporation | Systems for continued verification in non-volatile memory write operations |
US7593264B2 (en) * | 2006-01-09 | 2009-09-22 | Macronix International Co., Ltd. | Method and apparatus for programming nonvolatile memory |
US7562285B2 (en) | 2006-01-11 | 2009-07-14 | Rambus Inc. | Unidirectional error code transfer for a bidirectional data link |
US7808818B2 (en) | 2006-01-12 | 2010-10-05 | Saifun Semiconductors Ltd. | Secondary injection for NROM |
US7793059B2 (en) * | 2006-01-18 | 2010-09-07 | Apple Inc. | Interleaving policies for flash memory |
US7609561B2 (en) * | 2006-01-18 | 2009-10-27 | Apple Inc. | Disabling faulty flash memory dies |
US7752391B2 (en) * | 2006-01-20 | 2010-07-06 | Apple Inc. | Variable caching policy system and method |
US7702935B2 (en) * | 2006-01-25 | 2010-04-20 | Apple Inc. | Reporting flash memory operating voltages |
US20070174641A1 (en) * | 2006-01-25 | 2007-07-26 | Cornwell Michael J | Adjusting power supplies for data storage devices |
US7594043B2 (en) * | 2006-01-27 | 2009-09-22 | Apple Inc. | Reducing dismount time for mass storage class devices |
US7912994B2 (en) * | 2006-01-27 | 2011-03-22 | Apple Inc. | Reducing connection time for mass storage class peripheral by internally prefetching file data into local cache in response to connection to host |
US7861122B2 (en) * | 2006-01-27 | 2010-12-28 | Apple Inc. | Monitoring health of non-volatile memory |
EP2016494A4 (en) * | 2006-02-14 | 2010-02-03 | Atmel Corp | DESCRIPTING AND SETTING FLASH SAVINGS |
US7451367B2 (en) * | 2006-02-14 | 2008-11-11 | Atmel Corporation | Accessing sequential data in microcontrollers |
US7540416B2 (en) * | 2006-02-14 | 2009-06-02 | Ricoh Company, Ltd. | Smart card authentication system with multiple card and server support |
US7610528B2 (en) * | 2006-02-14 | 2009-10-27 | Atmel Corporation | Configuring flash memory |
US7760554B2 (en) | 2006-02-21 | 2010-07-20 | Saifun Semiconductors Ltd. | NROM non-volatile memory and mode of operation |
US7692961B2 (en) | 2006-02-21 | 2010-04-06 | Saifun Semiconductors Ltd. | Method, circuit and device for disturb-control of programming nonvolatile memory cells by hot-hole injection (HHI) and by channel hot-electron (CHE) injection |
US8253452B2 (en) | 2006-02-21 | 2012-08-28 | Spansion Israel Ltd | Circuit and method for powering up an integrated circuit and an integrated circuit utilizing same |
US7500095B2 (en) * | 2006-03-15 | 2009-03-03 | Dell Products L.P. | Chipset-independent method for locally and remotely updating and configuring system BIOS |
US7831854B2 (en) | 2006-03-21 | 2010-11-09 | Mediatek, Inc. | Embedded system for compensating setup time violation and method thereof |
JP2009531796A (ja) | 2006-03-24 | 2009-09-03 | サンディスク コーポレイション | 欠陥のある位置のためのデータラッチに冗長データがバッファされる不揮発性メモリおよび方法 |
KR101347590B1 (ko) | 2006-03-24 | 2014-01-07 | 샌디스크 테크놀로지스, 인코포레이티드 | 용장 데이터가 원격 버퍼 회로들에 버퍼되는 비휘발성 메모리 및 방법 |
US7324389B2 (en) * | 2006-03-24 | 2008-01-29 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory with redundancy data buffered in remote buffer circuits |
US7224605B1 (en) | 2006-03-24 | 2007-05-29 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory with redundancy data buffered in data latches for defective locations |
US7394690B2 (en) * | 2006-03-24 | 2008-07-01 | Sandisk Corporation | Method for column redundancy using data latches in solid-state memories |
US7352635B2 (en) * | 2006-03-24 | 2008-04-01 | Sandisk Corporation | Method for remote redundancy for non-volatile memory |
US7849302B2 (en) | 2006-04-10 | 2010-12-07 | Apple Inc. | Direct boot arrangement using a NAND flash memory |
JP4182359B2 (ja) | 2006-04-26 | 2008-11-19 | 船井電機株式会社 | Hdd内蔵型記録装置 |
US7701779B2 (en) | 2006-04-27 | 2010-04-20 | Sajfun Semiconductors Ltd. | Method for programming a reference cell |
CN103280239B (zh) | 2006-05-12 | 2016-04-06 | 苹果公司 | 存储设备中的失真估计和消除 |
US8239735B2 (en) | 2006-05-12 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Memory Device with adaptive capacity |
WO2007132452A2 (en) | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Anobit Technologies | Reducing programming error in memory devices |
KR101202537B1 (ko) | 2006-05-12 | 2012-11-19 | 애플 인크. | 메모리 디바이스를 위한 결합된 왜곡 추정 및 에러 보정 코딩 |
US7852690B2 (en) * | 2006-05-15 | 2010-12-14 | Apple Inc. | Multi-chip package for a flash memory |
US7613043B2 (en) * | 2006-05-15 | 2009-11-03 | Apple Inc. | Shifting reference values to account for voltage sag |
US7511646B2 (en) * | 2006-05-15 | 2009-03-31 | Apple Inc. | Use of 8-bit or higher A/D for NAND cell value |
US7639542B2 (en) * | 2006-05-15 | 2009-12-29 | Apple Inc. | Maintenance operations for multi-level data storage cells |
US7551486B2 (en) | 2006-05-15 | 2009-06-23 | Apple Inc. | Iterative memory cell charging based on reference cell value |
US7701797B2 (en) * | 2006-05-15 | 2010-04-20 | Apple Inc. | Two levels of voltage regulation supplied for logic and data programming voltage of a memory device |
US7568135B2 (en) * | 2006-05-15 | 2009-07-28 | Apple Inc. | Use of alternative value in cell detection |
US7911834B2 (en) * | 2006-05-15 | 2011-03-22 | Apple Inc. | Analog interface for a flash memory die |
US7639531B2 (en) * | 2006-05-15 | 2009-12-29 | Apple Inc. | Dynamic cell bit resolution |
US8000134B2 (en) | 2006-05-15 | 2011-08-16 | Apple Inc. | Off-die charge pump that supplies multiple flash devices |
US7349254B2 (en) * | 2006-05-31 | 2008-03-25 | Qimonda Flash Gmbh & Co. Kg | Charge-trapping memory device and methods for its manufacturing and operation |
US7788712B2 (en) * | 2006-06-05 | 2010-08-31 | Ricoh Company, Ltd. | Managing access to a document-processing device using an identification token |
US7711890B2 (en) | 2006-06-06 | 2010-05-04 | Sandisk Il Ltd | Cache control in a non-volatile memory device |
US20080010510A1 (en) * | 2006-06-19 | 2008-01-10 | Tony Turner | Method and system for using multiple memory regions for redundant remapping |
US7650458B2 (en) * | 2006-06-23 | 2010-01-19 | Microsoft Corporation | Flash memory driver |
JP5038657B2 (ja) * | 2006-06-26 | 2012-10-03 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JP4842719B2 (ja) * | 2006-06-28 | 2011-12-21 | 株式会社日立製作所 | ストレージシステム及びそのデータ保護方法 |
US7818637B2 (en) * | 2006-07-19 | 2010-10-19 | Panasonic Corporation | Apparatus for formatting information storage medium |
US20080263324A1 (en) * | 2006-08-10 | 2008-10-23 | Sehat Sutardja | Dynamic core switching |
US7505328B1 (en) * | 2006-08-14 | 2009-03-17 | Spansion Llc | Method and architecture for fast flash memory programming |
US7478271B2 (en) * | 2006-08-15 | 2009-01-13 | Chunchun Ho | Method for recycling flash memory |
US7494860B2 (en) * | 2006-08-16 | 2009-02-24 | Sandisk Corporation | Methods of forming nonvolatile memories with L-shaped floating gates |
US7755132B2 (en) | 2006-08-16 | 2010-07-13 | Sandisk Corporation | Nonvolatile memories with shaped floating gates |
KR101166563B1 (ko) | 2006-08-16 | 2012-07-19 | 샌디스크 테크놀로지스, 인코포레이티드 | 형상화된 플로팅 게이트를 갖는 비휘발성 메모리 |
US7567461B2 (en) * | 2006-08-18 | 2009-07-28 | Micron Technology, Inc. | Method and system for minimizing number of programming pulses used to program rows of non-volatile memory cells |
WO2008026203A2 (en) | 2006-08-27 | 2008-03-06 | Anobit Technologies | Estimation of non-linear distortion in memory devices |
US7602650B2 (en) * | 2006-08-30 | 2009-10-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flash memory device and method for programming multi-level cells in the same |
US7525838B2 (en) * | 2006-08-30 | 2009-04-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flash memory device and method for programming multi-level cells in the same |
KR100755718B1 (ko) * | 2006-09-04 | 2007-09-05 | 삼성전자주식회사 | 멀티 레벨 셀 플래시 메모리에서 런-타임 배드 블록 관리를위한 장치 및 방법 |
US7606966B2 (en) * | 2006-09-08 | 2009-10-20 | Sandisk Corporation | Methods in a pseudo random and command driven bit compensation for the cycling effects in flash memory |
US7885112B2 (en) * | 2007-09-07 | 2011-02-08 | Sandisk Corporation | Nonvolatile memory and method for on-chip pseudo-randomization of data within a page and between pages |
US7734861B2 (en) | 2006-09-08 | 2010-06-08 | Sandisk Corporation | Pseudo random and command driven bit compensation for the cycling effects in flash memory |
US8001314B2 (en) | 2006-09-12 | 2011-08-16 | Apple Inc. | Storing a driver for controlling a memory |
US7696044B2 (en) * | 2006-09-19 | 2010-04-13 | Sandisk Corporation | Method of making an array of non-volatile memory cells with floating gates formed of spacers in substrate trenches |
US7646054B2 (en) * | 2006-09-19 | 2010-01-12 | Sandisk Corporation | Array of non-volatile memory cells with floating gates formed of spacers in substrate trenches |
US7615445B2 (en) * | 2006-09-21 | 2009-11-10 | Sandisk Corporation | Methods of reducing coupling between floating gates in nonvolatile memory |
US20080074920A1 (en) * | 2006-09-21 | 2008-03-27 | Henry Chien | Nonvolatile Memory with Reduced Coupling Between Floating Gates |
US7539783B2 (en) * | 2006-09-22 | 2009-05-26 | Commvault Systems, Inc. | Systems and methods of media management, such as management of media to and from a media storage library, including removable media |
KR100830575B1 (ko) | 2006-09-26 | 2008-05-21 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 멀티-블록 소거 방법 |
US20080082725A1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Reuven Elhamias | End of Life Recovery and Resizing of Memory Cards |
US7596656B2 (en) * | 2006-09-28 | 2009-09-29 | Sandisk Corporation | Memory cards with end of life recovery and resizing |
US7675802B2 (en) | 2006-09-29 | 2010-03-09 | Sandisk Corporation | Dual voltage flash memory card |
US7730270B2 (en) * | 2006-09-29 | 2010-06-01 | Sandisk Corporation | Method combining once-writeable and rewriteable information storage to support data processing |
US7630225B2 (en) * | 2006-09-29 | 2009-12-08 | Sandisk Corporation | Apparatus combining once-writeable and rewriteable information storage to support data processing |
US7656735B2 (en) | 2006-09-29 | 2010-02-02 | Sandisk Corporation | Dual voltage flash memory methods |
KR100874702B1 (ko) * | 2006-10-02 | 2008-12-18 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 파일 시스템을 효율적으로 관리하기 위한장치 드라이버 및 방법 |
US7356442B1 (en) * | 2006-10-05 | 2008-04-08 | International Business Machines Corporation | End of life prediction of flash memory |
US7391638B2 (en) | 2006-10-24 | 2008-06-24 | Sandisk 3D Llc | Memory device for protecting memory cells during programming |
US7420850B2 (en) * | 2006-10-24 | 2008-09-02 | Sandisk 3D Llc | Method for controlling current during programming of memory cells |
US7420851B2 (en) * | 2006-10-24 | 2008-09-02 | San Disk 3D Llc | Memory device for controlling current during programming of memory cells |
US7589989B2 (en) | 2006-10-24 | 2009-09-15 | Sandisk 3D Llc | Method for protecting memory cells during programming |
KR101342074B1 (ko) * | 2006-10-25 | 2013-12-18 | 삼성전자 주식회사 | 컴퓨터시스템 및 그 제어방법 |
WO2008053473A2 (en) | 2006-10-30 | 2008-05-08 | Anobit Technologies Ltd. | Memory cell readout using successive approximation |
US7975192B2 (en) | 2006-10-30 | 2011-07-05 | Anobit Technologies Ltd. | Reading memory cells using multiple thresholds |
EP2095234B1 (en) * | 2006-11-21 | 2014-04-09 | Freescale Semiconductor, Inc. | Memory system with ecc-unit and further processing arrangement |
US7924648B2 (en) | 2006-11-28 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Memory power and performance management |
US8547756B2 (en) | 2010-10-04 | 2013-10-01 | Zeno Semiconductor, Inc. | Semiconductor memory device having an electrically floating body transistor |
US8151163B2 (en) | 2006-12-03 | 2012-04-03 | Anobit Technologies Ltd. | Automatic defect management in memory devices |
KR100791006B1 (ko) * | 2006-12-06 | 2008-01-03 | 삼성전자주식회사 | 싱글레벨 셀 및 멀티레벨 셀을 구비하는 반도체 메모리장치 및 그 구동방법 |
US7900102B2 (en) | 2006-12-17 | 2011-03-01 | Anobit Technologies Ltd. | High-speed programming of memory devices |
US7593263B2 (en) | 2006-12-17 | 2009-09-22 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with reduced reading latency |
KR100881669B1 (ko) * | 2006-12-18 | 2009-02-06 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 데이터 저장장치의 정적 데이터 영역 검출 방법,마모도 평준화 방법 및 데이터 유닛 병합 방법과 그 장치 |
US8686490B2 (en) * | 2006-12-20 | 2014-04-01 | Sandisk Corporation | Electron blocking layers for electronic devices |
US20080150009A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Nanosys, Inc. | Electron Blocking Layers for Electronic Devices |
US20080150003A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Jian Chen | Electron blocking layers for electronic devices |
US7847341B2 (en) | 2006-12-20 | 2010-12-07 | Nanosys, Inc. | Electron blocking layers for electronic devices |
US20080150004A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Nanosys, Inc. | Electron Blocking Layers for Electronic Devices |
US7800161B2 (en) * | 2006-12-21 | 2010-09-21 | Sandisk Corporation | Flash NAND memory cell array with charge storage elements positioned in trenches |
US7642160B2 (en) * | 2006-12-21 | 2010-01-05 | Sandisk Corporation | Method of forming a flash NAND memory cell array with charge storage elements positioned in trenches |
US20080155175A1 (en) * | 2006-12-26 | 2008-06-26 | Sinclair Alan W | Host System That Manages a LBA Interface With Flash Memory |
US8209461B2 (en) | 2006-12-26 | 2012-06-26 | Sandisk Technologies Inc. | Configuration of host LBA interface with flash memory |
EP2097825B1 (en) | 2006-12-26 | 2013-09-04 | SanDisk Technologies Inc. | Use of a direct data file system with a continuous logical address space interface |
US7739444B2 (en) | 2006-12-26 | 2010-06-15 | Sandisk Corporation | System using a direct data file system with a continuous logical address space interface |
US7917686B2 (en) * | 2006-12-26 | 2011-03-29 | Sandisk Corporation | Host system with direct data file interface configurability |
US8166267B2 (en) * | 2006-12-26 | 2012-04-24 | Sandisk Technologies Inc. | Managing a LBA interface in a direct data file memory system |
US8046522B2 (en) * | 2006-12-26 | 2011-10-25 | SanDisk Technologies, Inc. | Use of a direct data file system with a continuous logical address space interface and control of file address storage in logical blocks |
CN101211649B (zh) * | 2006-12-27 | 2012-10-24 | 宇瞻科技股份有限公司 | 带有固态磁盘的动态随机存取内存模块 |
US20080157169A1 (en) * | 2006-12-28 | 2008-07-03 | Yuan Jack H | Shield plates for reduced field coupling in nonvolatile memory |
US20080160680A1 (en) * | 2006-12-28 | 2008-07-03 | Yuan Jack H | Methods of fabricating shield plates for reduced field coupling in nonvolatile memory |
KR100799688B1 (ko) * | 2007-01-03 | 2008-02-01 | 삼성전자주식회사 | 백업 회로를 갖는 메모리 시스템 및 그것의 프로그램 방법 |
TWI463321B (zh) * | 2007-01-10 | 2014-12-01 | Mobile Semiconductor Corp | 用於改善外部計算裝置效能的調適性記憶體系統 |
WO2008087082A1 (en) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Thomson Licensing | Method and apparatus for recording data into a matrix of memory devices |
US7747664B2 (en) * | 2007-01-16 | 2010-06-29 | Microsoft Corporation | Storage system format for transaction safe file system |
US7613738B2 (en) | 2007-01-16 | 2009-11-03 | Microsoft Corporation | FAT directory structure for use in transaction safe file system |
US8151166B2 (en) | 2007-01-24 | 2012-04-03 | Anobit Technologies Ltd. | Reduction of back pattern dependency effects in memory devices |
US7751240B2 (en) | 2007-01-24 | 2010-07-06 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with negative thresholds |
TW200832440A (en) * | 2007-01-25 | 2008-08-01 | Genesys Logic Inc | Flash memory translation layer system |
KR100877609B1 (ko) * | 2007-01-29 | 2009-01-09 | 삼성전자주식회사 | 버퍼 메모리의 플래그 셀 어레이를 이용하여 데이터 오류 정정을 수행하는 반도체 메모리 시스템 및 그 구동 방법 |
US7791952B2 (en) | 2007-01-30 | 2010-09-07 | Micron Technology, Inc. | Memory device architectures and operation |
US7483313B2 (en) * | 2007-01-31 | 2009-01-27 | Dell Products, Lp | Dual ported memory with selective read and write protection |
JP2008192232A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Spansion Llc | 半導体装置およびその制御方法 |
US7669092B2 (en) | 2007-02-26 | 2010-02-23 | Micron Technology, Inc. | Apparatus, method, and system of NAND defect management |
US20080209079A1 (en) * | 2007-02-28 | 2008-08-28 | Ty Joseph Caswell | Personal information communication device and method |
US20090088088A1 (en) * | 2007-02-28 | 2009-04-02 | Crick Information Technologies | Personal Information Communication Device and Method |
US7804718B2 (en) * | 2007-03-07 | 2010-09-28 | Mosaid Technologies Incorporated | Partial block erase architecture for flash memory |
WO2008111058A2 (en) | 2007-03-12 | 2008-09-18 | Anobit Technologies Ltd. | Adaptive estimation of memory cell read thresholds |
US20080224199A1 (en) * | 2007-03-14 | 2008-09-18 | Li Hui Lu | Non-volatile memory module package capability of replacing |
US7814304B2 (en) * | 2007-03-14 | 2010-10-12 | Apple Inc. | Switching drivers between processors |
US7613051B2 (en) * | 2007-03-14 | 2009-11-03 | Apple Inc. | Interleaving charge pumps for programmable memories |
JP4897524B2 (ja) * | 2007-03-15 | 2012-03-14 | 株式会社日立製作所 | ストレージシステム及びストレージシステムのライト性能低下防止方法 |
US7904793B2 (en) | 2007-03-29 | 2011-03-08 | Sandisk Corporation | Method for decoding data in non-volatile storage using reliability metrics based on multiple reads |
US7797480B2 (en) * | 2007-03-29 | 2010-09-14 | Sandisk Corporation | Method for reading non-volatile storage using pre-conditioning waveforms and modified reliability metrics |
US7633799B2 (en) * | 2007-03-30 | 2009-12-15 | Sandisk Corporation | Method combining lower-endurance/performance and higher-endurance/performance information storage to support data processing |
WO2008121206A1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Sandisk Corporation | Apparatus and method combining lower-endurance/performance and higher-endurance/performance information storage to support data processing |
US7613857B2 (en) * | 2007-03-30 | 2009-11-03 | Sandisk Corporation | Memory device with a built-in memory array and a connector for a removable memory device |
US7603499B2 (en) * | 2007-03-30 | 2009-10-13 | Sandisk Corporation | Method for using a memory device with a built-in memory array and a connector for a removable memory device |
US7745285B2 (en) | 2007-03-30 | 2010-06-29 | Sandisk Corporation | Methods of forming and operating NAND memory with side-tunneling |
US20080244203A1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-02 | Gorobets Sergey A | Apparatus combining lower-endurance/performance and higher-endurance/performance information storage to support data processing |
US8001320B2 (en) | 2007-04-22 | 2011-08-16 | Anobit Technologies Ltd. | Command interface for memory devices |
US7996599B2 (en) | 2007-04-25 | 2011-08-09 | Apple Inc. | Command resequencing in memory operations |
US7870327B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-01-11 | Apple Inc. | Controlling memory operations using a driver and flash memory type tables |
US7869277B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-01-11 | Apple Inc. | Managing data writing to memories |
US7913032B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-03-22 | Apple Inc. | Initiating memory wear leveling |
US20080288712A1 (en) * | 2007-04-25 | 2008-11-20 | Cornwell Michael J | Accessing metadata with an external host |
US8977912B2 (en) * | 2007-05-07 | 2015-03-10 | Macronix International Co., Ltd. | Method and apparatus for repairing memory |
US8234545B2 (en) | 2007-05-12 | 2012-07-31 | Apple Inc. | Data storage with incremental redundancy |
WO2008139441A2 (en) | 2007-05-12 | 2008-11-20 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with internal signal processing unit |
US7916540B2 (en) * | 2007-05-17 | 2011-03-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Non-volatile memory devices and systems including bad blocks address re-mapped and methods of operating the same |
KR100836800B1 (ko) * | 2007-05-30 | 2008-06-10 | 삼성전자주식회사 | 메모리 데이터 독출 장치 및 이를 이용한 메모리 데이터독출 방법 |
US7701780B2 (en) * | 2007-05-31 | 2010-04-20 | Micron Technology, Inc. | Non-volatile memory cell healing |
JP2008299962A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
KR100857761B1 (ko) * | 2007-06-14 | 2008-09-10 | 삼성전자주식회사 | 웨어 레벨링을 수행하는 메모리 시스템 및 그것의 쓰기방법 |
JP2008310896A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Spansion Llc | 不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システムおよび不揮発性記憶装置の制御方法 |
US8068367B2 (en) * | 2007-06-15 | 2011-11-29 | Micron Technology, Inc. | Reference current sources |
US7986553B2 (en) * | 2007-06-15 | 2011-07-26 | Micron Technology, Inc. | Programming of a solid state memory utilizing analog communication of bit patterns |
KR20090002636A (ko) | 2007-07-02 | 2009-01-09 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치 및 그것의 소거 방법 |
US7925936B1 (en) | 2007-07-13 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with non-uniform programming levels |
US8259497B2 (en) | 2007-08-06 | 2012-09-04 | Apple Inc. | Programming schemes for multi-level analog memory cells |
US7949913B2 (en) * | 2007-08-14 | 2011-05-24 | Dell Products L.P. | Method for creating a memory defect map and optimizing performance using the memory defect map |
US9373362B2 (en) * | 2007-08-14 | 2016-06-21 | Dell Products L.P. | System and method for implementing a memory defect map |
US7945815B2 (en) | 2007-08-14 | 2011-05-17 | Dell Products L.P. | System and method for managing memory errors in an information handling system |
US8706976B2 (en) | 2007-08-30 | 2014-04-22 | Commvault Systems, Inc. | Parallel access virtual tape library and drives |
US7869273B2 (en) * | 2007-09-04 | 2011-01-11 | Sandisk Corporation | Reducing the impact of interference during programming |
US8095851B2 (en) | 2007-09-06 | 2012-01-10 | Siliconsystems, Inc. | Storage subsystem capable of adjusting ECC settings based on monitored conditions |
US7818493B2 (en) * | 2007-09-07 | 2010-10-19 | Sandisk Corporation | Adaptive block list management |
US8174905B2 (en) | 2007-09-19 | 2012-05-08 | Anobit Technologies Ltd. | Programming orders for reducing distortion in arrays of multi-level analog memory cells |
JP2009080884A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Panasonic Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US9607664B2 (en) | 2007-09-27 | 2017-03-28 | Sandisk Technologies Llc | Leveraging portable system power to enhance memory management and enable application level features |
US7818610B2 (en) * | 2007-09-27 | 2010-10-19 | Microsoft Corporation | Rapid crash recovery for flash storage |
US7773413B2 (en) | 2007-10-08 | 2010-08-10 | Anobit Technologies Ltd. | Reliable data storage in analog memory cells in the presence of temperature variations |
US8000141B1 (en) | 2007-10-19 | 2011-08-16 | Anobit Technologies Ltd. | Compensation for voltage drifts in analog memory cells |
US8068360B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-11-29 | Anobit Technologies Ltd. | Reading analog memory cells using built-in multi-threshold commands |
US8527819B2 (en) * | 2007-10-19 | 2013-09-03 | Apple Inc. | Data storage in analog memory cell arrays having erase failures |
KR101433861B1 (ko) * | 2007-10-22 | 2014-08-27 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 그 구동방법 |
US7613042B2 (en) * | 2007-11-05 | 2009-11-03 | Spansion Llc | Decoding system capable of reducing sector select area overhead for flash memory |
JP4985781B2 (ja) * | 2007-11-05 | 2012-07-25 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置およびその制御方法 |
KR101509836B1 (ko) | 2007-11-13 | 2015-04-06 | 애플 인크. | 멀티 유닛 메모리 디바이스에서의 메모리 유닛의 최적화된 선택 |
US8959307B1 (en) | 2007-11-16 | 2015-02-17 | Bitmicro Networks, Inc. | Reduced latency memory read transactions in storage devices |
US8264875B2 (en) | 2010-10-04 | 2012-09-11 | Zeno Semiconducor, Inc. | Semiconductor memory device having an electrically floating body transistor |
US8130547B2 (en) | 2007-11-29 | 2012-03-06 | Zeno Semiconductor, Inc. | Method of maintaining the state of semiconductor memory having electrically floating body transistor |
US8225181B2 (en) | 2007-11-30 | 2012-07-17 | Apple Inc. | Efficient re-read operations from memory devices |
US8631203B2 (en) | 2007-12-10 | 2014-01-14 | Microsoft Corporation | Management of external memory functioning as virtual cache |
US8209588B2 (en) | 2007-12-12 | 2012-06-26 | Anobit Technologies Ltd. | Efficient interference cancellation in analog memory cell arrays |
US8456905B2 (en) | 2007-12-16 | 2013-06-04 | Apple Inc. | Efficient data storage in multi-plane memory devices |
US7590001B2 (en) | 2007-12-18 | 2009-09-15 | Saifun Semiconductors Ltd. | Flash memory with optimized write sector spares |
US7764547B2 (en) * | 2007-12-20 | 2010-07-27 | Sandisk Corporation | Regulation of source potential to combat cell source IR drop |
US7701761B2 (en) * | 2007-12-20 | 2010-04-20 | Sandisk Corporation | Read, verify word line reference voltage to track source level |
US8190950B2 (en) * | 2007-12-21 | 2012-05-29 | Atmel Corporation | Dynamic column redundancy replacement |
US8001316B2 (en) * | 2007-12-27 | 2011-08-16 | Sandisk Il Ltd. | Controller for one type of NAND flash memory for emulating another type of NAND flash memory |
US8085586B2 (en) | 2007-12-27 | 2011-12-27 | Anobit Technologies Ltd. | Wear level estimation in analog memory cells |
US8310872B2 (en) * | 2008-01-25 | 2012-11-13 | Rambus Inc. | Multi-page parallel program flash memory |
US8209463B2 (en) * | 2008-02-05 | 2012-06-26 | Spansion Llc | Expansion slots for flash memory based random access memory subsystem |
US8156398B2 (en) | 2008-02-05 | 2012-04-10 | Anobit Technologies Ltd. | Parameter estimation based on error correction code parity check equations |
US8332572B2 (en) * | 2008-02-05 | 2012-12-11 | Spansion Llc | Wear leveling mechanism using a DRAM buffer |
US8352671B2 (en) | 2008-02-05 | 2013-01-08 | Spansion Llc | Partial allocate paging mechanism using a controller and a buffer |
US8275945B2 (en) | 2008-02-05 | 2012-09-25 | Spansion Llc | Mitigation of flash memory latency and bandwidth limitations via a write activity log and buffer |
US7990762B2 (en) * | 2008-02-06 | 2011-08-02 | Unity Semiconductor Corporation | Integrated circuits to control access to multiple layers of memory |
JP5398551B2 (ja) * | 2008-02-08 | 2014-01-29 | 富士通株式会社 | バックアップ方法、コントローラ、及びディスクアレイシステム |
US8046529B2 (en) * | 2008-02-20 | 2011-10-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Updating control information in non-volatile memory to control selection of content |
US7924587B2 (en) | 2008-02-21 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Programming of analog memory cells using a single programming pulse per state transition |
US7864573B2 (en) | 2008-02-24 | 2011-01-04 | Anobit Technologies Ltd. | Programming analog memory cells for reduced variance after retention |
JP2009211496A (ja) * | 2008-03-05 | 2009-09-17 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置及びアクセス制御方法 |
US8230300B2 (en) | 2008-03-07 | 2012-07-24 | Apple Inc. | Efficient readout from analog memory cells using data compression |
US8400858B2 (en) | 2008-03-18 | 2013-03-19 | Apple Inc. | Memory device with reduced sense time readout |
US8059457B2 (en) | 2008-03-18 | 2011-11-15 | Anobit Technologies Ltd. | Memory device with multiple-accuracy read commands |
US7787282B2 (en) | 2008-03-21 | 2010-08-31 | Micron Technology, Inc. | Sensing resistance variable memory |
US8156392B2 (en) * | 2008-04-05 | 2012-04-10 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for bad block remapping |
US7983051B2 (en) | 2008-04-09 | 2011-07-19 | Apacer Technology Inc. | DRAM module with solid state disk |
KR101553532B1 (ko) * | 2008-04-17 | 2015-09-16 | 삼성전자주식회사 | 스토리지 장치 |
JP5218228B2 (ja) * | 2008-04-23 | 2013-06-26 | 新東工業株式会社 | 搬送装置及びブラスト加工装置 |
US8060719B2 (en) | 2008-05-28 | 2011-11-15 | Micron Technology, Inc. | Hybrid memory management |
US20090307563A1 (en) * | 2008-06-05 | 2009-12-10 | Ibm Corporation (Almaden Research Center) | Replacing bad hard drive sectors using mram |
US20090307140A1 (en) * | 2008-06-06 | 2009-12-10 | Upendra Mardikar | Mobile device over-the-air (ota) registration and point-of-sale (pos) payment |
US7719888B2 (en) * | 2008-06-18 | 2010-05-18 | Micron Technology, Inc. | Memory device having a negatively ramping dynamic pass voltage for reducing read-disturb effect |
WO2009156873A1 (en) * | 2008-06-23 | 2009-12-30 | Sandisk Il Ltd. | Ad hoc flash memory reference cells |
US8924362B2 (en) * | 2008-06-30 | 2014-12-30 | Microsoft Corporation | B-file abstraction for efficiently archiving self-expiring data |
US7974119B2 (en) | 2008-07-10 | 2011-07-05 | Seagate Technology Llc | Transmission gate-based spin-transfer torque memory unit |
US8352519B2 (en) * | 2008-07-31 | 2013-01-08 | Microsoft Corporation | Maintaining large random sample with semi-random append-only operations |
US7995388B1 (en) | 2008-08-05 | 2011-08-09 | Anobit Technologies Ltd. | Data storage using modified voltages |
US7924613B1 (en) * | 2008-08-05 | 2011-04-12 | Anobit Technologies Ltd. | Data storage in analog memory cells with protection against programming interruption |
US8264891B2 (en) * | 2008-08-06 | 2012-09-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Erase method and non-volatile semiconductor memory |
US8359514B2 (en) * | 2008-08-15 | 2013-01-22 | Micron Technology, Inc. | Data and error correction code mixing device and method |
US8213229B2 (en) * | 2008-08-22 | 2012-07-03 | HGST Netherlands, B.V. | Error control in a flash memory device |
US8169825B1 (en) | 2008-09-02 | 2012-05-01 | Anobit Technologies Ltd. | Reliable data storage in analog memory cells subjected to long retention periods |
US8949684B1 (en) | 2008-09-02 | 2015-02-03 | Apple Inc. | Segmented data storage |
US8482978B1 (en) | 2008-09-14 | 2013-07-09 | Apple Inc. | Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals |
US8000135B1 (en) | 2008-09-14 | 2011-08-16 | Anobit Technologies Ltd. | Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals |
US8041886B2 (en) * | 2008-09-15 | 2011-10-18 | Seagate Technology Llc | System and method of managing memory |
US9032151B2 (en) | 2008-09-15 | 2015-05-12 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Method and system for ensuring reliability of cache data and metadata subsequent to a reboot |
US20100070466A1 (en) | 2008-09-15 | 2010-03-18 | Anand Prahlad | Data transfer techniques within data storage devices, such as network attached storage performing data migration |
US8032707B2 (en) | 2008-09-15 | 2011-10-04 | Microsoft Corporation | Managing cache data and metadata |
US7953774B2 (en) | 2008-09-19 | 2011-05-31 | Microsoft Corporation | Aggregation of write traffic to a data store |
US8074040B2 (en) * | 2008-09-23 | 2011-12-06 | Mediatek Inc. | Flash device and method for improving performance of flash device |
TWI364661B (en) * | 2008-09-25 | 2012-05-21 | Silicon Motion Inc | Access methods for a flash memory and memory devices |
US7925939B2 (en) * | 2008-09-26 | 2011-04-12 | Macronix International Co., Ltd | Pre-code device, and pre-code system and pre-coding method thererof |
US9727473B2 (en) * | 2008-09-30 | 2017-08-08 | Intel Corporation | Methods to communicate a timestamp to a storage system |
US7885097B2 (en) * | 2008-10-10 | 2011-02-08 | Seagate Technology Llc | Non-volatile memory array with resistive sense element block erase and uni-directional write |
KR20100041313A (ko) * | 2008-10-14 | 2010-04-22 | 삼성전자주식회사 | 데이터 저장 방법, 데이터 저장 장치 및 그 시스템 |
US8239734B1 (en) | 2008-10-15 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Efficient data storage in storage device arrays |
US7936580B2 (en) * | 2008-10-20 | 2011-05-03 | Seagate Technology Llc | MRAM diode array and access method |
US9030867B2 (en) * | 2008-10-20 | 2015-05-12 | Seagate Technology Llc | Bipolar CMOS select device for resistive sense memory |
US8045412B2 (en) * | 2008-10-21 | 2011-10-25 | Seagate Technology Llc | Multi-stage parallel data transfer |
US8891298B2 (en) | 2011-07-19 | 2014-11-18 | Greenthread, Llc | Lifetime mixed level non-volatile memory system |
EP2180408B1 (en) * | 2008-10-23 | 2018-08-29 | STMicroelectronics N.V. | Method for writing and reading data in an electrically erasable and programmable nonvolatile memory |
US7936583B2 (en) * | 2008-10-30 | 2011-05-03 | Seagate Technology Llc | Variable resistive memory punchthrough access method |
TWI389122B (zh) * | 2008-10-30 | 2013-03-11 | Silicon Motion Inc | 用來存取一快閃記憶體之方法以及相關之記憶裝置及其控制器 |
US8261159B1 (en) | 2008-10-30 | 2012-09-04 | Apple, Inc. | Data scrambling schemes for memory devices |
KR20100049809A (ko) * | 2008-11-04 | 2010-05-13 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치의 소거 방법 |
US7825478B2 (en) * | 2008-11-07 | 2010-11-02 | Seagate Technology Llc | Polarity dependent switch for resistive sense memory |
US8208304B2 (en) | 2008-11-16 | 2012-06-26 | Anobit Technologies Ltd. | Storage at M bits/cell density in N bits/cell analog memory cell devices, M>N |
US8178864B2 (en) | 2008-11-18 | 2012-05-15 | Seagate Technology Llc | Asymmetric barrier diode |
US20100131701A1 (en) * | 2008-11-25 | 2010-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile memory device with preparation/stress sequence control |
US8203869B2 (en) | 2008-12-02 | 2012-06-19 | Seagate Technology Llc | Bit line charge accumulation sensing for resistive changing memory |
US8259498B2 (en) * | 2008-12-08 | 2012-09-04 | Infinite Memory Ltd. | Continuous address space in non-volatile-memories (NVM) using efficient management methods for array deficiencies |
US20100153732A1 (en) * | 2008-12-15 | 2010-06-17 | Stmicroelectronics Rousset Sas | cache-based method of hash-tree management for protecting data integrity |
US8064278B2 (en) * | 2008-12-30 | 2011-11-22 | Stmicroelectronics S.R.L. | Protection register for a non-volatile memory |
US8174857B1 (en) | 2008-12-31 | 2012-05-08 | Anobit Technologies Ltd. | Efficient readout schemes for analog memory cell devices using multiple read threshold sets |
US8248831B2 (en) | 2008-12-31 | 2012-08-21 | Apple Inc. | Rejuvenation of analog memory cells |
EP2374063B1 (en) | 2009-01-05 | 2017-11-22 | SanDisk Technologies LLC | Non-volatile memory and method with write cache partitioning |
US8244960B2 (en) | 2009-01-05 | 2012-08-14 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile memory and method with write cache partition management methods |
US8094500B2 (en) * | 2009-01-05 | 2012-01-10 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile memory and method with write cache partitioning |
US20100174845A1 (en) * | 2009-01-05 | 2010-07-08 | Sergey Anatolievich Gorobets | Wear Leveling for Non-Volatile Memories: Maintenance of Experience Count and Passive Techniques |
US8040744B2 (en) * | 2009-01-05 | 2011-10-18 | Sandisk Technologies Inc. | Spare block management of non-volatile memories |
US8700840B2 (en) * | 2009-01-05 | 2014-04-15 | SanDisk Technologies, Inc. | Nonvolatile memory with write cache having flush/eviction methods |
CN101465164B (zh) * | 2009-01-12 | 2013-04-17 | 成都市华为赛门铁克科技有限公司 | 一种擦除数据的方法、装置及系统 |
US8040713B2 (en) | 2009-01-13 | 2011-10-18 | Seagate Technology Llc | Bit set modes for a resistive sense memory cell array |
US8924661B1 (en) | 2009-01-18 | 2014-12-30 | Apple Inc. | Memory system including a controller and processors associated with memory devices |
US8161355B2 (en) * | 2009-02-11 | 2012-04-17 | Mosys, Inc. | Automatic refresh for improving data retention and endurance characteristics of an embedded non-volatile memory in a standard CMOS logic process |
US8228701B2 (en) | 2009-03-01 | 2012-07-24 | Apple Inc. | Selective activation of programming schemes in analog memory cell arrays |
US8259506B1 (en) | 2009-03-25 | 2012-09-04 | Apple Inc. | Database of memory read thresholds |
US8832354B2 (en) | 2009-03-25 | 2014-09-09 | Apple Inc. | Use of host system resources by memory controller |
US8238157B1 (en) | 2009-04-12 | 2012-08-07 | Apple Inc. | Selective re-programming of analog memory cells |
KR101005155B1 (ko) * | 2009-05-13 | 2011-01-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 메모리 소자 및 그 테스트 방법 |
JP2010267341A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置 |
US8271737B2 (en) * | 2009-05-27 | 2012-09-18 | Spansion Llc | Cache auto-flush in a solid state memory device |
KR20100130007A (ko) * | 2009-06-02 | 2010-12-10 | 삼성전자주식회사 | 데이터 저장 장치 |
US8102705B2 (en) | 2009-06-05 | 2012-01-24 | Sandisk Technologies Inc. | Structure and method for shuffling data within non-volatile memory devices |
US8027195B2 (en) * | 2009-06-05 | 2011-09-27 | SanDisk Technologies, Inc. | Folding data stored in binary format into multi-state format within non-volatile memory devices |
US9123409B2 (en) * | 2009-06-11 | 2015-09-01 | Micron Technology, Inc. | Memory device for a hierarchical memory architecture |
US8140811B2 (en) * | 2009-06-22 | 2012-03-20 | International Business Machines Corporation | Nonvolatile storage thresholding |
US7974124B2 (en) * | 2009-06-24 | 2011-07-05 | Sandisk Corporation | Pointer based column selection techniques in non-volatile memories |
EP2273373A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-12 | Vodafone Holding GmbH | Storing of frequently modified data in an IC card |
US20110002169A1 (en) * | 2009-07-06 | 2011-01-06 | Yan Li | Bad Column Management with Bit Information in Non-Volatile Memory Systems |
JP5347779B2 (ja) * | 2009-07-07 | 2013-11-20 | ソニー株式会社 | メモリ装置、メモリ制御方法、およびプログラム |
US8159856B2 (en) | 2009-07-07 | 2012-04-17 | Seagate Technology Llc | Bipolar select device for resistive sense memory |
US8479080B1 (en) | 2009-07-12 | 2013-07-02 | Apple Inc. | Adaptive over-provisioning in memory systems |
US8158964B2 (en) | 2009-07-13 | 2012-04-17 | Seagate Technology Llc | Schottky diode switch and memory units containing the same |
US9218349B2 (en) * | 2009-07-27 | 2015-12-22 | International Business Machines Corporation | Method and system for transformation of logical data objects for storage |
US20110035540A1 (en) * | 2009-08-10 | 2011-02-10 | Adtron, Inc. | Flash blade system architecture and method |
US8189379B2 (en) * | 2009-08-12 | 2012-05-29 | Texas Memory Systems, Inc. | Reduction of read disturb errors in NAND FLASH memory |
US8190951B2 (en) * | 2009-08-20 | 2012-05-29 | Arm Limited | Handling of errors in a data processing apparatus having a cache storage and a replicated address storage |
US8429497B2 (en) * | 2009-08-26 | 2013-04-23 | Skymedi Corporation | Method and system of dynamic data storage for error correction in a memory device |
US8665601B1 (en) | 2009-09-04 | 2014-03-04 | Bitmicro Networks, Inc. | Solid state drive with improved enclosure assembly |
US9135190B1 (en) | 2009-09-04 | 2015-09-15 | Bitmicro Networks, Inc. | Multi-profile memory controller for computing devices |
US8447908B2 (en) | 2009-09-07 | 2013-05-21 | Bitmicro Networks, Inc. | Multilevel memory bus system for solid-state mass storage |
US8560804B2 (en) * | 2009-09-14 | 2013-10-15 | Bitmicro Networks, Inc. | Reducing erase cycles in an electronic storage device that uses at least one erase-limited memory device |
US8495465B1 (en) | 2009-10-15 | 2013-07-23 | Apple Inc. | Error correction coding over multiple memory pages |
EP2317442A1 (en) | 2009-10-29 | 2011-05-04 | Thomson Licensing | Solid state memory with reduced number of partially filled pages |
US20110119462A1 (en) * | 2009-11-19 | 2011-05-19 | Ocz Technology Group, Inc. | Method for restoring and maintaining solid-state drive performance |
US8407403B2 (en) * | 2009-12-07 | 2013-03-26 | Microsoft Corporation | Extending SSD lifetime using hybrid storage |
US8677054B1 (en) | 2009-12-16 | 2014-03-18 | Apple Inc. | Memory management schemes for non-volatile memory devices |
US8725935B2 (en) | 2009-12-18 | 2014-05-13 | Sandisk Technologies Inc. | Balanced performance for on-chip folding of non-volatile memories |
US20110153912A1 (en) * | 2009-12-18 | 2011-06-23 | Sergey Anatolievich Gorobets | Maintaining Updates of Multi-Level Non-Volatile Memory in Binary Non-Volatile Memory |
US8144512B2 (en) | 2009-12-18 | 2012-03-27 | Sandisk Technologies Inc. | Data transfer flows for on-chip folding |
US8468294B2 (en) * | 2009-12-18 | 2013-06-18 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile memory with multi-gear control using on-chip folding of data |
US8612809B2 (en) | 2009-12-31 | 2013-12-17 | Intel Corporation | Systems, methods, and apparatuses for stacked memory |
US8694814B1 (en) | 2010-01-10 | 2014-04-08 | Apple Inc. | Reuse of host hibernation storage space by memory controller |
US8572311B1 (en) | 2010-01-11 | 2013-10-29 | Apple Inc. | Redundant data storage in multi-die memory systems |
US8473710B2 (en) | 2010-04-29 | 2013-06-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Multiple partitioned emulated electrically erasable (EEE) memory and method of operation |
US8341372B2 (en) * | 2010-04-29 | 2012-12-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Emulated electrically erasable (EEE) memory and method of operation |
US8694853B1 (en) | 2010-05-04 | 2014-04-08 | Apple Inc. | Read commands for reading interfering memory cells |
US8416624B2 (en) | 2010-05-21 | 2013-04-09 | SanDisk Technologies, Inc. | Erase and programming techniques to reduce the widening of state distributions in non-volatile memories |
US8799747B2 (en) * | 2010-06-03 | 2014-08-05 | Seagate Technology Llc | Data hardening to compensate for loss of data retention characteristics in a non-volatile memory |
JP5559616B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2014-07-23 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体メモリ装置 |
US8572423B1 (en) | 2010-06-22 | 2013-10-29 | Apple Inc. | Reducing peak current in memory systems |
US8543757B2 (en) | 2010-06-23 | 2013-09-24 | Sandisk Technologies Inc. | Techniques of maintaining logical to physical mapping information in non-volatile memory systems |
US8417876B2 (en) | 2010-06-23 | 2013-04-09 | Sandisk Technologies Inc. | Use of guard bands and phased maintenance operations to avoid exceeding maximum latency requirements in non-volatile memory systems |
US8595591B1 (en) | 2010-07-11 | 2013-11-26 | Apple Inc. | Interference-aware assignment of programming levels in analog memory cells |
US8683277B1 (en) * | 2010-07-13 | 2014-03-25 | Marvell International Ltd. | Defect detection using pattern matching on detected data |
US9104580B1 (en) | 2010-07-27 | 2015-08-11 | Apple Inc. | Cache memory for hybrid disk drives |
US8767459B1 (en) | 2010-07-31 | 2014-07-01 | Apple Inc. | Data storage in analog memory cells across word lines using a non-integer number of bits per cell |
US8856475B1 (en) | 2010-08-01 | 2014-10-07 | Apple Inc. | Efficient selection of memory blocks for compaction |
US8694854B1 (en) | 2010-08-17 | 2014-04-08 | Apple Inc. | Read threshold setting based on soft readout statistics |
US8572445B2 (en) * | 2010-09-21 | 2013-10-29 | Freescale Semiconductor, Inc. | Non-volatile memory (NVM) with imminent error prediction |
US9021181B1 (en) | 2010-09-27 | 2015-04-28 | Apple Inc. | Memory management for unifying memory cell conditions by using maximum time intervals |
US9244779B2 (en) | 2010-09-30 | 2016-01-26 | Commvault Systems, Inc. | Data recovery operations, such as recovery from modified network data management protocol data |
US9836370B2 (en) | 2010-11-18 | 2017-12-05 | Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. | Backup memory administration using an active memory device and a backup memory device |
TWI417721B (zh) * | 2010-11-26 | 2013-12-01 | Etron Technology Inc | 衰減熱資料之方法 |
US8648426B2 (en) | 2010-12-17 | 2014-02-11 | Seagate Technology Llc | Tunneling transistors |
US8472280B2 (en) | 2010-12-21 | 2013-06-25 | Sandisk Technologies Inc. | Alternate page by page programming scheme |
KR101750457B1 (ko) * | 2010-12-30 | 2017-06-23 | 삼성전자주식회사 | Ecc를 이용하는 메모리 장치 및 그 시스템 |
US8909851B2 (en) | 2011-02-08 | 2014-12-09 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with change logging mechanism and method of operation thereof |
US8935466B2 (en) | 2011-03-28 | 2015-01-13 | SMART Storage Systems, Inc. | Data storage system with non-volatile memory and method of operation thereof |
US8924500B2 (en) * | 2011-03-29 | 2014-12-30 | Amazon Technologies, Inc. | Local storage linked to networked storage system |
US9342446B2 (en) | 2011-03-29 | 2016-05-17 | SanDisk Technologies, Inc. | Non-volatile memory system allowing reverse eviction of data updates to non-volatile binary cache |
US8560925B2 (en) * | 2011-04-05 | 2013-10-15 | Denso International America, Inc. | System and method for handling bad bit errors |
US10141314B2 (en) * | 2011-05-04 | 2018-11-27 | Micron Technology, Inc. | Memories and methods to provide configuration information to controllers |
US8843693B2 (en) | 2011-05-17 | 2014-09-23 | SanDisk Technologies, Inc. | Non-volatile memory and method with improved data scrambling |
US20120311262A1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | International Business Machines Corporation | Memory cell presetting for improved memory performance |
EP2745203B1 (en) * | 2011-08-19 | 2016-09-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing apparatus |
US9098399B2 (en) | 2011-08-31 | 2015-08-04 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with storage management mechanism and method of operation thereof |
US8862767B2 (en) | 2011-09-02 | 2014-10-14 | Ebay Inc. | Secure elements broker (SEB) for application communication channel selector optimization |
US9021319B2 (en) | 2011-09-02 | 2015-04-28 | SMART Storage Systems, Inc. | Non-volatile memory management system with load leveling and method of operation thereof |
US9063844B2 (en) | 2011-09-02 | 2015-06-23 | SMART Storage Systems, Inc. | Non-volatile memory management system with time measure mechanism and method of operation thereof |
US9021231B2 (en) | 2011-09-02 | 2015-04-28 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with write amplification control mechanism and method of operation thereof |
US9372755B1 (en) | 2011-10-05 | 2016-06-21 | Bitmicro Networks, Inc. | Adaptive power cycle sequences for data recovery |
US10359949B2 (en) * | 2011-10-31 | 2019-07-23 | Apple Inc. | Systems and methods for obtaining and using nonvolatile memory health information |
US8593866B2 (en) | 2011-11-11 | 2013-11-26 | Sandisk Technologies Inc. | Systems and methods for operating multi-bank nonvolatile memory |
US8724408B2 (en) | 2011-11-29 | 2014-05-13 | Kingtiger Technology (Canada) Inc. | Systems and methods for testing and assembling memory modules |
US8892968B2 (en) * | 2011-12-07 | 2014-11-18 | Skymedi Corporation | Bit-level memory controller and a method thereof |
US20130151755A1 (en) | 2011-12-12 | 2013-06-13 | Reuven Elhamias | Non-Volatile Storage Systems with Go To Sleep Adaption |
KR101893895B1 (ko) * | 2011-12-16 | 2018-09-03 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 그 동작 제어 방법 |
CN104137084B (zh) * | 2011-12-28 | 2017-08-11 | 英特尔公司 | 提高耐久性和抗攻击性的用于pcm缓存的有效动态随机化地址重映射 |
US9063902B2 (en) | 2012-01-05 | 2015-06-23 | International Business Machines Corporation | Implementing enhanced hardware assisted DRAM repair using a data register for DRAM repair selectively provided in a DRAM module |
US9239781B2 (en) | 2012-02-07 | 2016-01-19 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with erase block mechanism and method of operation thereof |
US10355001B2 (en) | 2012-02-15 | 2019-07-16 | Micron Technology, Inc. | Memories and methods to provide configuration information to controllers |
US8842473B2 (en) | 2012-03-15 | 2014-09-23 | Sandisk Technologies Inc. | Techniques for accessing column selecting shift register with skipped entries in non-volatile memories |
AU2013202553B2 (en) | 2012-03-30 | 2015-10-01 | Commvault Systems, Inc. | Information management of mobile device data |
US8918581B2 (en) * | 2012-04-02 | 2014-12-23 | Microsoft Corporation | Enhancing the lifetime and performance of flash-based storage |
US9298252B2 (en) | 2012-04-17 | 2016-03-29 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with power down mechanism and method of operation thereof |
US8681548B2 (en) | 2012-05-03 | 2014-03-25 | Sandisk Technologies Inc. | Column redundancy circuitry for non-volatile memory |
CN102682845B (zh) * | 2012-05-09 | 2018-10-16 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | Eeprom存储单元以及eeprom存储器 |
US9043669B1 (en) | 2012-05-18 | 2015-05-26 | Bitmicro Networks, Inc. | Distributed ECC engine for storage media |
JP2013242694A (ja) * | 2012-05-21 | 2013-12-05 | Renesas Mobile Corp | 半導体装置、電子装置、電子システム及び電子装置の制御方法 |
US8949689B2 (en) | 2012-06-11 | 2015-02-03 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US8910017B2 (en) | 2012-07-02 | 2014-12-09 | Sandisk Technologies Inc. | Flash memory with random partition |
US9235466B2 (en) * | 2012-07-03 | 2016-01-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory devices with selective error correction code |
US9117552B2 (en) | 2012-08-28 | 2015-08-25 | Kingtiger Technology(Canada), Inc. | Systems and methods for testing memory |
KR20140031554A (ko) * | 2012-09-04 | 2014-03-13 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 동작 방법 |
US8921197B2 (en) * | 2012-09-14 | 2014-12-30 | GlobalFoundries, Inc. | Integrated circuits with SRAM cells having additional read stacks and methods for their fabrication |
US9490035B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-11-08 | SanDisk Technologies, Inc. | Centralized variable rate serializer and deserializer for bad column management |
US8897080B2 (en) | 2012-09-28 | 2014-11-25 | Sandisk Technologies Inc. | Variable rate serial to parallel shift register |
US9076506B2 (en) | 2012-09-28 | 2015-07-07 | Sandisk Technologies Inc. | Variable rate parallel to serial shift register |
US8935590B2 (en) * | 2012-10-31 | 2015-01-13 | Infineon Technologies Ag | Circuitry and method for multi-bit correction |
US9671962B2 (en) | 2012-11-30 | 2017-06-06 | Sandisk Technologies Llc | Storage control system with data management mechanism of parity and method of operation thereof |
KR20140076128A (ko) * | 2012-12-12 | 2014-06-20 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비휘발성 메모리 장치 및 동작 방법과, 이를 포함하는 데이터 처리 시스템 |
US9305654B2 (en) | 2012-12-19 | 2016-04-05 | Intel Corporation | Erase and soft program for vertical NAND flash |
US9069799B2 (en) | 2012-12-27 | 2015-06-30 | Commvault Systems, Inc. | Restoration of centralized data storage manager, such as data storage manager in a hierarchical data storage system |
US9123445B2 (en) | 2013-01-22 | 2015-09-01 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US9214965B2 (en) | 2013-02-20 | 2015-12-15 | Sandisk Enterprise Ip Llc | Method and system for improving data integrity in non-volatile storage |
US9329928B2 (en) | 2013-02-20 | 2016-05-03 | Sandisk Enterprise IP LLC. | Bandwidth optimization in a non-volatile memory system |
US9183137B2 (en) | 2013-02-27 | 2015-11-10 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US9470720B2 (en) | 2013-03-08 | 2016-10-18 | Sandisk Technologies Llc | Test system with localized heating and method of manufacture thereof |
US9423457B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-08-23 | Bitmicro Networks, Inc. | Self-test solution for delay locked loops |
US10489318B1 (en) | 2013-03-15 | 2019-11-26 | Bitmicro Networks, Inc. | Scatter-gather approach for parallel data transfer in a mass storage system |
US9875205B1 (en) | 2013-03-15 | 2018-01-23 | Bitmicro Networks, Inc. | Network of memory systems |
US9842024B1 (en) | 2013-03-15 | 2017-12-12 | Bitmicro Networks, Inc. | Flash electronic disk with RAID controller |
US9400617B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-07-26 | Bitmicro Networks, Inc. | Hardware-assisted DMA transfer with dependency table configured to permit-in parallel-data drain from cache without processor intervention when filled or drained |
US9858084B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-01-02 | Bitmicro Networks, Inc. | Copying of power-on reset sequencer descriptor from nonvolatile memory to random access memory |
US9501436B1 (en) | 2013-03-15 | 2016-11-22 | Bitmicro Networks, Inc. | Multi-level message passing descriptor |
US9430386B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-08-30 | Bitmicro Networks, Inc. | Multi-leveled cache management in a hybrid storage system |
US9734067B1 (en) | 2013-03-15 | 2017-08-15 | Bitmicro Networks, Inc. | Write buffering |
US9672178B1 (en) | 2013-03-15 | 2017-06-06 | Bitmicro Networks, Inc. | Bit-mapped DMA transfer with dependency table configured to monitor status so that a processor is not rendered as a bottleneck in a system |
US9971524B1 (en) | 2013-03-15 | 2018-05-15 | Bitmicro Networks, Inc. | Scatter-gather approach for parallel data transfer in a mass storage system |
US9934045B1 (en) | 2013-03-15 | 2018-04-03 | Bitmicro Networks, Inc. | Embedded system boot from a storage device |
US9141484B2 (en) * | 2013-03-15 | 2015-09-22 | Seagate Technology Llc | Transiently maintaining ECC |
US9798688B1 (en) | 2013-03-15 | 2017-10-24 | Bitmicro Networks, Inc. | Bus arbitration with routing and failover mechanism |
US9916213B1 (en) | 2013-03-15 | 2018-03-13 | Bitmicro Networks, Inc. | Bus arbitration with routing and failover mechanism |
US9720603B1 (en) | 2013-03-15 | 2017-08-01 | Bitmicro Networks, Inc. | IOC to IOC distributed caching architecture |
US9043780B2 (en) | 2013-03-27 | 2015-05-26 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with system modification control mechanism and method of operation thereof |
US10049037B2 (en) | 2013-04-05 | 2018-08-14 | Sandisk Enterprise Ip Llc | Data management in a storage system |
US9170941B2 (en) | 2013-04-05 | 2015-10-27 | Sandisk Enterprises IP LLC | Data hardening in a storage system |
US9543025B2 (en) | 2013-04-11 | 2017-01-10 | Sandisk Technologies Llc | Storage control system with power-off time estimation mechanism and method of operation thereof |
US10546648B2 (en) | 2013-04-12 | 2020-01-28 | Sandisk Technologies Llc | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US9430324B2 (en) * | 2013-05-24 | 2016-08-30 | Rambus Inc. | Memory repair method and apparatus based on error code tracking |
KR101518379B1 (ko) * | 2013-06-18 | 2015-05-07 | 중소기업은행 | 불휘발성 메모리의 자동 프로그램 및 자동 사이클링 방법 |
US9898056B2 (en) | 2013-06-19 | 2018-02-20 | Sandisk Technologies Llc | Electronic assembly with thermal channel and method of manufacture thereof |
US9313874B2 (en) | 2013-06-19 | 2016-04-12 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with heat extraction and method of manufacture thereof |
US9367353B1 (en) | 2013-06-25 | 2016-06-14 | Sandisk Technologies Inc. | Storage control system with power throttling mechanism and method of operation thereof |
US9244519B1 (en) | 2013-06-25 | 2016-01-26 | Smart Storage Systems. Inc. | Storage system with data transfer rate adjustment for power throttling |
US10083069B2 (en) * | 2013-06-27 | 2018-09-25 | Sandisk Technologies Llc | Word line defect detection and handling for a data storage device |
US9177663B2 (en) | 2013-07-18 | 2015-11-03 | Sandisk Technologies Inc. | Dynamic regulation of memory array source line |
US9146850B2 (en) | 2013-08-01 | 2015-09-29 | SMART Storage Systems, Inc. | Data storage system with dynamic read threshold mechanism and method of operation thereof |
US9361222B2 (en) | 2013-08-07 | 2016-06-07 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with storage drive life estimation mechanism and method of operation thereof |
US9448946B2 (en) | 2013-08-07 | 2016-09-20 | Sandisk Technologies Llc | Data storage system with stale data mechanism and method of operation thereof |
US9431113B2 (en) | 2013-08-07 | 2016-08-30 | Sandisk Technologies Llc | Data storage system with dynamic erase block grouping mechanism and method of operation thereof |
US9170943B2 (en) | 2013-08-29 | 2015-10-27 | Globalfoundries U.S. 2 Llc | Selectively enabling write caching in a storage system based on performance metrics |
EP3050057A1 (en) | 2013-09-27 | 2016-08-03 | Hewlett Packard Enterprise Development LP | Memory sparing on memory modules |
TWI521534B (zh) | 2013-10-09 | 2016-02-11 | 新唐科技股份有限公司 | 積體電路及其運作方法 |
US9274888B2 (en) * | 2013-11-15 | 2016-03-01 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus for multiple-bit DRAM error recovery |
US9152555B2 (en) | 2013-11-15 | 2015-10-06 | Sandisk Enterprise IP LLC. | Data management with modular erase in a data storage system |
US9411721B2 (en) | 2013-11-15 | 2016-08-09 | Sandisk Technologies Llc | Detecting access sequences for data compression on non-volatile memory devices |
US9070470B1 (en) | 2013-12-11 | 2015-06-30 | Micron Technology, Inc. | Sensing memory cells coupled to different access lines in different blocks of memory cells |
US9129701B2 (en) * | 2013-12-19 | 2015-09-08 | Sandisk Technologies Inc. | Asymmetric state detection for non-volatile storage |
US20150186068A1 (en) * | 2013-12-27 | 2015-07-02 | Sandisk Technologies Inc. | Command queuing using linked list queues |
US9368224B2 (en) | 2014-02-07 | 2016-06-14 | SanDisk Technologies, Inc. | Self-adjusting regulation current for memory array source line |
US9378810B2 (en) * | 2014-02-11 | 2016-06-28 | Seagate Technology Llc | Systems and methods for last written page handling in a memory device |
US9658787B2 (en) | 2014-02-26 | 2017-05-23 | Macronix International Co., Ltd. | Nonvolatile memory data protection using nonvolatile protection codes and volatile mask codes |
TWI525627B (zh) * | 2014-03-07 | 2016-03-11 | Toshiba Kk | Semiconductor memory device |
US9535782B2 (en) | 2014-04-16 | 2017-01-03 | Intel Corporation | Method, apparatus and system for handling data error events with a memory controller |
US10042792B1 (en) | 2014-04-17 | 2018-08-07 | Bitmicro Networks, Inc. | Method for transferring and receiving frames across PCI express bus for SSD device |
US10078604B1 (en) | 2014-04-17 | 2018-09-18 | Bitmicro Networks, Inc. | Interrupt coalescing |
US9811461B1 (en) | 2014-04-17 | 2017-11-07 | Bitmicro Networks, Inc. | Data storage system |
US10025736B1 (en) | 2014-04-17 | 2018-07-17 | Bitmicro Networks, Inc. | Exchange message protocol message transmission between two devices |
US9952991B1 (en) | 2014-04-17 | 2018-04-24 | Bitmicro Networks, Inc. | Systematic method on queuing of descriptors for multiple flash intelligent DMA engine operation |
US10055150B1 (en) | 2014-04-17 | 2018-08-21 | Bitmicro Networks, Inc. | Writing volatile scattered memory metadata to flash device |
TWI524179B (zh) | 2014-04-22 | 2016-03-01 | 新唐科技股份有限公司 | 儲存單元控制器及其控制方法、以及儲存裝置 |
US9600189B2 (en) | 2014-06-11 | 2017-03-21 | International Business Machines Corporation | Bank-level fault management in a memory system |
CN105302677A (zh) * | 2014-07-29 | 2016-02-03 | 株式会社东芝 | 信息处理装置和信息处理方法 |
KR102204390B1 (ko) * | 2014-09-12 | 2021-01-18 | 삼성전자주식회사 | 빠른 불량 셀 구제 동작의 메모리 장치 |
US9934872B2 (en) | 2014-10-30 | 2018-04-03 | Sandisk Technologies Llc | Erase stress and delta erase loop count methods for various fail modes in non-volatile memory |
US9678864B2 (en) * | 2014-12-03 | 2017-06-13 | Seagate Technology Llc | Data reallocation upon detection of errors |
US9224502B1 (en) | 2015-01-14 | 2015-12-29 | Sandisk Technologies Inc. | Techniques for detection and treating memory hole to local interconnect marginality defects |
US10032524B2 (en) | 2015-02-09 | 2018-07-24 | Sandisk Technologies Llc | Techniques for determining local interconnect defects |
US9928144B2 (en) | 2015-03-30 | 2018-03-27 | Commvault Systems, Inc. | Storage management of data using an open-archive architecture, including streamlined access to primary data originally stored on network-attached storage and archived to secondary storage |
US9269446B1 (en) | 2015-04-08 | 2016-02-23 | Sandisk Technologies Inc. | Methods to improve programming of slow cells |
US9564219B2 (en) | 2015-04-08 | 2017-02-07 | Sandisk Technologies Llc | Current based detection and recording of memory hole-interconnect spacing defects |
US11516899B2 (en) | 2015-05-27 | 2022-11-29 | Electro Industries/Gauge Tech | Devices, systems and methods for electrical utility submetering |
US10585125B2 (en) | 2015-05-27 | 2020-03-10 | Electro Industries/ Gaugetech | Devices, systems and methods for data transmission over a communication media using modular connectors |
US9703630B2 (en) | 2015-06-08 | 2017-07-11 | International Business Machines Corporation | Selective error coding |
US10101913B2 (en) | 2015-09-02 | 2018-10-16 | Commvault Systems, Inc. | Migrating data to disk without interrupting running backup operations |
KR20170073792A (ko) * | 2015-12-18 | 2017-06-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법 |
CN107526691B (zh) * | 2016-06-21 | 2020-06-02 | 深圳市中兴微电子技术有限公司 | 一种缓存管理方法及装置 |
US10120816B2 (en) * | 2016-07-20 | 2018-11-06 | Sandisk Technologies Llc | Bad column management with data shuffle in pipeline |
US10496470B2 (en) | 2016-12-30 | 2019-12-03 | Western Digital Technologies, Inc. | Error recovery handling |
US10552050B1 (en) | 2017-04-07 | 2020-02-04 | Bitmicro Llc | Multi-dimensional computer storage system |
US10541032B2 (en) * | 2017-05-10 | 2020-01-21 | Micron Technology, Inc. | Responding to power loss |
US10304550B1 (en) | 2017-11-29 | 2019-05-28 | Sandisk Technologies Llc | Sense amplifier with negative threshold sensing for non-volatile memory |
US10742735B2 (en) | 2017-12-12 | 2020-08-11 | Commvault Systems, Inc. | Enhanced network attached storage (NAS) services interfacing to cloud storage |
CN108152364A (zh) * | 2018-01-08 | 2018-06-12 | 沈阳工业大学 | 一种新型磁记忆定点声光报警控制方法 |
CN108195930B (zh) * | 2018-01-08 | 2021-12-21 | 沈阳工业大学 | 一种磁记忆移动扫描式声光报警系统 |
CN108181376B (zh) * | 2018-01-08 | 2021-12-21 | 沈阳工业大学 | 一种磁记忆定点声光报警系统 |
CN108195929A (zh) * | 2018-01-08 | 2018-06-22 | 沈阳工业大学 | 一种新型磁记忆移动扫描式声光报警控制方法 |
JP6783812B2 (ja) * | 2018-03-13 | 2020-11-11 | 株式会社東芝 | 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム |
US11116206B2 (en) | 2018-10-01 | 2021-09-14 | Cook Medical Technologies Llc | Cryocontainer |
CN109597580B (zh) * | 2018-12-03 | 2021-10-29 | 烟台东方威思顿电气有限公司 | 适用于智能电表负荷曲线存储的flash操作方法 |
US10643695B1 (en) | 2019-01-10 | 2020-05-05 | Sandisk Technologies Llc | Concurrent multi-state program verify for non-volatile memory |
US10580505B1 (en) * | 2019-02-21 | 2020-03-03 | Elite Semiconductor Memory Technology Inc. | Erasing method used in flash memory |
US11093164B2 (en) * | 2019-08-27 | 2021-08-17 | Micron Technology, Inc. | Handling bad blocks generated during a block erase operation |
US11024392B1 (en) | 2019-12-23 | 2021-06-01 | Sandisk Technologies Llc | Sense amplifier for bidirectional sensing of memory cells of a non-volatile memory |
CN111312326B (zh) * | 2020-03-09 | 2021-11-12 | 宁波三星医疗电气股份有限公司 | 闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质 |
KR20220064101A (ko) * | 2020-11-11 | 2022-05-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 저장 장치 및 그 동작 방법 |
US11556416B2 (en) | 2021-05-05 | 2023-01-17 | Apple Inc. | Controlling memory readout reliability and throughput by adjusting distance between read thresholds |
US11847342B2 (en) | 2021-07-28 | 2023-12-19 | Apple Inc. | Efficient transfer of hard data and confidence levels in reading a nonvolatile memory |
US11593223B1 (en) | 2021-09-02 | 2023-02-28 | Commvault Systems, Inc. | Using resource pool administrative entities in a data storage management system to provide shared infrastructure to tenants |
US12057172B2 (en) * | 2022-01-12 | 2024-08-06 | Sandisk Technologies Llc | Hybrid multi-block erase technique to improve erase speed in a memory device |
US11977778B2 (en) * | 2022-03-09 | 2024-05-07 | Micron Technology, Inc. | Workload-based scan optimization |
Family Cites Families (456)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US618703A (en) * | 1899-01-31 | maxim | ||
US3331058A (en) * | 1964-12-24 | 1967-07-11 | Fairchild Camera Instr Co | Error free memory |
US3894347A (en) * | 1965-10-24 | 1975-07-15 | Whittaker Corp | Three dimensional chaff simulation system |
US3442402A (en) * | 1966-11-10 | 1969-05-06 | Int Paper Co | Dunnage service |
US3576685A (en) * | 1968-03-15 | 1971-04-27 | Itt | Doping semiconductors with elemental dopant impurity |
US3633175A (en) * | 1969-05-15 | 1972-01-04 | Honeywell Inc | Defect-tolerant digital memory system |
DE1963895C3 (de) * | 1969-06-21 | 1973-11-29 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung |
US3593037A (en) | 1970-03-13 | 1971-07-13 | Intel Corp | Cell for mos random-acess integrated circuit memory |
US3676877A (en) * | 1970-04-18 | 1972-07-11 | Mittan Co Ltd | Fire alarm system with fire zone locator using zener diode voltage monitoring |
JPS5040738B1 (ja) | 1970-06-11 | 1975-12-26 | ||
US3810127A (en) | 1970-06-23 | 1974-05-07 | Intel Corp | Programmable circuit {13 {11 the method of programming thereof and the devices so programmed |
US3765001A (en) * | 1970-09-30 | 1973-10-09 | Ibm | Address translation logic which permits a monolithic memory to utilize defective storage cells |
US3735368A (en) * | 1971-06-25 | 1973-05-22 | Ibm | Full capacity monolithic memory utilizing defective storage cells |
US3753244A (en) * | 1971-08-18 | 1973-08-14 | Ibm | Yield enhancement redundancy technique |
US3781826A (en) * | 1971-11-15 | 1973-12-25 | Ibm | Monolithic memory utilizing defective storage cells |
US3771143A (en) | 1972-06-01 | 1973-11-06 | Burroughs Corp | Method and apparatus for providing alternate storage areas on a magnetic disk pack |
US3806883A (en) * | 1972-11-22 | 1974-04-23 | Rca Corp | Least recently used location indicator |
US3821715A (en) | 1973-01-22 | 1974-06-28 | Intel Corp | Memory system for a multi chip digital computer |
US3800294A (en) * | 1973-06-13 | 1974-03-26 | Ibm | System for improving the reliability of systems using dirty memories |
GB1472303A (en) * | 1973-09-21 | 1977-05-04 | Siemens Ag | Electronic data storage systems |
US3955180A (en) * | 1974-01-02 | 1976-05-04 | Honeywell Information Systems Inc. | Table driven emulation system |
US3949368A (en) * | 1974-01-23 | 1976-04-06 | Data General Corporation | Automatic data priority technique |
US3895360A (en) * | 1974-01-29 | 1975-07-15 | Westinghouse Electric Corp | Block oriented random access memory |
US3882470A (en) | 1974-02-04 | 1975-05-06 | Honeywell Inf Systems | Multiple register variably addressable semiconductor mass memory |
US3906455A (en) * | 1974-03-15 | 1975-09-16 | Boeing Computer Services Inc | Associative memory device |
US3938097A (en) * | 1974-04-01 | 1976-02-10 | Xerox Corporation | Memory and buffer arrangement for digital computers |
US3898632A (en) * | 1974-07-15 | 1975-08-05 | Sperry Rand Corp | Semiconductor block-oriented read/write memory |
US4087795A (en) | 1974-09-20 | 1978-05-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Memory field effect storage device |
JPS5540950B2 (ja) | 1974-11-30 | 1980-10-21 | ||
US3914750A (en) * | 1974-12-05 | 1975-10-21 | Us Army | MNOS Memory matrix with shift register input and output |
JPS5528160B2 (ja) * | 1974-12-16 | 1980-07-25 | ||
JPS5721799B2 (ja) | 1975-02-01 | 1982-05-10 | ||
US4058799A (en) * | 1975-05-19 | 1977-11-15 | Rockwell International Corporation | Block oriented random access bubble memory |
US4051354A (en) * | 1975-07-03 | 1977-09-27 | Texas Instruments Incorporated | Fault-tolerant cell addressable array |
JPS5925250B2 (ja) * | 1975-07-09 | 1984-06-15 | カシオケイサンキ カブシキガイシヤ | 記憶消去方式 |
US4007452A (en) | 1975-07-28 | 1977-02-08 | Intel Corporation | Wafer scale integration system |
US4296930A (en) * | 1975-11-26 | 1981-10-27 | Bally Manufacturing Corporation | TV Game apparatus |
US4044339A (en) * | 1975-12-15 | 1977-08-23 | Honeywell Inc. | Block oriented random access memory |
US4115914A (en) | 1976-03-26 | 1978-09-26 | Hughes Aircraft Company | Electrically erasable non-volatile semiconductor memory |
US4066880A (en) | 1976-03-30 | 1978-01-03 | Engineered Systems, Inc. | System for pretesting electronic memory locations and automatically identifying faulty memory sections |
JPS52130532A (en) | 1976-04-27 | 1977-11-01 | Fujitsu Ltd | Address conversion system |
US4250570B1 (en) * | 1976-07-15 | 1996-01-02 | Intel Corp | Redundant memory circuit |
US4099069A (en) * | 1976-10-08 | 1978-07-04 | Westinghouse Electric Corp. | Circuit producing a common clear signal for erasing selected arrays in a mnos memory system |
US4115850A (en) * | 1976-11-03 | 1978-09-19 | Houston George B | Apparatus for performing auxiliary management functions in an associative memory device |
US4093985A (en) * | 1976-11-05 | 1978-06-06 | North Electric Company | Memory sparing arrangement |
US4064405A (en) * | 1976-11-09 | 1977-12-20 | Westinghouse Electric Corporation | Complementary MOS logic circuit |
US4354253A (en) * | 1976-12-17 | 1982-10-12 | Texas Instruments Incorporated | Bubble redundancy map storage using non-volatile semiconductor memory |
US4090258A (en) * | 1976-12-29 | 1978-05-16 | Westinghouse Electric Corp. | MNOS non-volatile memory with write cycle suppression |
US4130890A (en) * | 1977-06-08 | 1978-12-19 | Itt Industries, Inc. | Integrated DDC memory with bitwise erase |
US4398248A (en) * | 1980-10-20 | 1983-08-09 | Mcdonnell Douglas Corporation | Adaptive WSI/MNOS solid state memory system |
US4149270A (en) * | 1977-09-26 | 1979-04-10 | Westinghouse Electric Corp. | Variable threshold device memory circuit having automatic refresh feature |
US4141081A (en) * | 1978-01-03 | 1979-02-20 | Sperry Rand Corporation | MNOS BORAM sense amplifier/latch |
JPS54128634A (en) * | 1978-03-30 | 1979-10-05 | Toshiba Corp | Cash memory control system |
US4210959A (en) * | 1978-05-10 | 1980-07-01 | Apple Computer, Inc. | Controller for magnetic disc, recorder, or the like |
US4181980A (en) * | 1978-05-15 | 1980-01-01 | Electronic Arrays, Inc. | Acquisition and storage of analog signals |
FR2426938A1 (fr) * | 1978-05-26 | 1979-12-21 | Cii Honeywell Bull | Dispositif de detection de secteurs defectueux et d'allocation de secteurs de remplacement dans une memoire a disques |
US4214280A (en) * | 1978-05-30 | 1980-07-22 | Xerox Corporation | Method and apparatus for recording data without recording on defective areas of a data recording medium |
US4193128A (en) * | 1978-05-31 | 1980-03-11 | Westinghouse Electric Corp. | High-density memory with non-volatile storage array |
JPS6044754B2 (ja) | 1978-06-02 | 1985-10-05 | 三洋電機株式会社 | アナログ・メモリ−のドリフト補償回路 |
IT1109655B (it) | 1978-06-28 | 1985-12-23 | Cselt Centro Studi Lab Telecom | Memoria di massa allo stato solido organizzata a bit autocorrettiva e riconfigurabile per un sistema di controllo a programma registrato |
DE2828855C2 (de) | 1978-06-30 | 1982-11-18 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Wortweise elektrisch umprogrammierbarer, nichtflüchtiger Speicher sowie Verfahren zum Löschen bzw. Einschreiben eines bzw. in einen solchen Speicher(s) |
DE2828836C2 (de) | 1978-06-30 | 1983-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Wortweise elektrisch löschbarer, nichtflüchtiger Speicher |
US4218742A (en) * | 1978-06-30 | 1980-08-19 | International Business Machines Corporation | System for controlling a serial data channel with a microprocessor |
JPS6013501B2 (ja) | 1978-09-18 | 1985-04-08 | 富士通株式会社 | 仮想計算機システムにおけるチヤネルアドレス制御方式 |
US4241424A (en) * | 1978-09-27 | 1980-12-23 | Plessey Handel Und Investments Ag | Semiconductor devices |
US4295205A (en) * | 1978-10-16 | 1981-10-13 | Kunstadt George H | Solid state mass memory system compatible with rotating disc memory equipment |
JPS5580164A (en) | 1978-12-13 | 1980-06-17 | Fujitsu Ltd | Main memory constitution control system |
US4272830A (en) * | 1978-12-22 | 1981-06-09 | Motorola, Inc. | ROM Storage location having more than two states |
US4277827A (en) * | 1979-01-02 | 1981-07-07 | Texas Instruments Incorporated | Microprocessor based system for the development and emulation of programmable calculator control read only memory software |
US4274012A (en) | 1979-01-24 | 1981-06-16 | Xicor, Inc. | Substrate coupled floating gate memory cell |
US4486769A (en) | 1979-01-24 | 1984-12-04 | Xicor, Inc. | Dense nonvolatile electrically-alterable memory device with substrate coupling electrode |
US4253059A (en) * | 1979-05-14 | 1981-02-24 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | EPROM Reliability test circuit |
US4287570A (en) * | 1979-06-01 | 1981-09-01 | Intel Corporation | Multiple bit read-only memory cell and its sense amplifier |
US4310901A (en) * | 1979-06-11 | 1982-01-12 | Electronic Memories & Magnetics Corporation | Address mapping for memory |
JPS5619575A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-24 | Fujitsu Ltd | Data processing system having hierarchy memory |
US4297719A (en) * | 1979-08-10 | 1981-10-27 | Rca Corporation | Electrically programmable control gate injected floating gate solid state memory transistor and method of making same |
JPS5642375A (en) | 1979-08-31 | 1981-04-20 | Fujitsu Ltd | Semiconductor nonvolatile memory |
IT1224062B (it) * | 1979-09-28 | 1990-09-26 | Ates Componenti Elettron | Metodo di programmazione per una memoria a semiconduttore non volatile elettricamente alterabile |
IT1209430B (it) * | 1979-10-08 | 1989-07-16 | Ora Sgs Microelettronica Spa S | Metodo di programmazione per una memoria a semiconduttore nonvolatile elettricamente alterabile del tipo cancellabile per gruppi di celle. |
US4467421A (en) * | 1979-10-18 | 1984-08-21 | Storage Technology Corporation | Virtual storage system and method |
US4281398A (en) * | 1980-02-12 | 1981-07-28 | Mostek Corporation | Block redundancy for memory array |
US4491836A (en) * | 1980-02-29 | 1985-01-01 | Calma Company | Graphics display system and method including two-dimensional cache |
DE3177233D1 (de) | 1980-03-19 | 1990-12-20 | Toshiba Kawasaki Kk | Datenverarbeitungssystem. |
US4319323A (en) * | 1980-04-04 | 1982-03-09 | Digital Equipment Corporation | Communications device for data processing system |
US4442488A (en) * | 1980-05-05 | 1984-04-10 | Floating Point Systems, Inc. | Instruction cache memory system |
US4443845A (en) * | 1980-06-26 | 1984-04-17 | Texas Instruments Incorporated | Memory system having a common interface |
US4433387A (en) * | 1980-08-12 | 1984-02-21 | Sangamo Weston, Inc. | System for processing data received from a portable data store and for clearing the store |
DE3032630C2 (de) * | 1980-08-29 | 1983-12-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halbleiterspeicher aus Speicherbausteinen mit redundanten Speicherbereichen und Verfahren zu dessen Betrieb |
US4365318A (en) | 1980-09-15 | 1982-12-21 | International Business Machines Corp. | Two speed recirculating memory system using partially good components |
JPS5856199B2 (ja) * | 1980-09-25 | 1983-12-13 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US4355376A (en) * | 1980-09-30 | 1982-10-19 | Burroughs Corporation | Apparatus and method for utilizing partially defective memory devices |
JPS5764383A (en) * | 1980-10-03 | 1982-04-19 | Toshiba Corp | Address converting method and its device |
US4380066A (en) * | 1980-12-04 | 1983-04-12 | Burroughs Corporation | Defect tolerant memory |
GB2089612B (en) * | 1980-12-12 | 1984-08-30 | Tokyo Shibaura Electric Co | Nonvolatile semiconductor memory device |
US4482952A (en) | 1980-12-15 | 1984-11-13 | Nippon Electric Co., Ltd. | Virtual addressing system using page field comparisons to selectively validate cache buffer data on read main memory data |
US4393475A (en) * | 1981-01-27 | 1983-07-12 | Texas Instruments Incorporated | Non-volatile semiconductor memory and the testing method for the same |
JPS57130298A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-12 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit memory and relieving method for its fault |
JPS57132256A (en) * | 1981-02-09 | 1982-08-16 | Sony Corp | Memory device |
US4449203A (en) * | 1981-02-25 | 1984-05-15 | Motorola, Inc. | Memory with reference voltage generator |
US4415992A (en) * | 1981-02-25 | 1983-11-15 | Motorola, Inc. | Memory system having memory cells capable of storing more than two states |
US4414644A (en) * | 1981-04-03 | 1983-11-08 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for discarding data from a buffer after reading such data |
US4428047A (en) * | 1981-04-13 | 1984-01-24 | Texas Instruments Incorporated | Addressing a control ROM in a microcoded single-chip microcomputer using the output signals of the control ROM |
DE3123444A1 (de) | 1981-06-12 | 1983-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und anordnung zum nichtfluechtigen speichern des zaehlerstandes einer elektronischen zaehlschaltung |
DE3123654A1 (de) | 1981-06-15 | 1983-01-20 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Schaltungsanordnung zur speicherung eines mehrstelligen dekadischen zaehlwerts einer von einem fahrzeug zurueckgelegten wegstrecke |
US4468729A (en) * | 1981-06-29 | 1984-08-28 | Sperry Corporation | Automatic memory module address assignment system for available memory modules |
US4417325A (en) * | 1981-07-13 | 1983-11-22 | Eliyahou Harari | Highly scaleable dynamic ram cell with self-signal amplification |
US4448400A (en) | 1981-07-13 | 1984-05-15 | Eliyahou Harari | Highly scalable dynamic RAM cell with self-signal amplification |
US4426688A (en) * | 1981-08-03 | 1984-01-17 | Ncr Corporation | Memory system having an alternate memory |
US4412309A (en) * | 1981-09-28 | 1983-10-25 | Motorola, Inc. | EEPROM With bulk zero program capability |
BE890517A (fr) | 1981-09-28 | 1982-01-18 | Staar Sa | Dispositif de memorisation d'images electroniques |
US4434487A (en) | 1981-10-05 | 1984-02-28 | Digital Equipment Corporation | Disk format for secondary storage system |
JPS5860493A (ja) | 1981-10-06 | 1983-04-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 不揮発性アナログメモリ |
US4422161A (en) * | 1981-10-08 | 1983-12-20 | Rca Corporation | Memory array with redundant elements |
US4466059A (en) * | 1981-10-15 | 1984-08-14 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for limiting data occupancy in a cache |
JPS5877034A (ja) * | 1981-10-30 | 1983-05-10 | Hitachi Ltd | 記録方法 |
US4434479A (en) * | 1981-11-02 | 1984-02-28 | Mcdonnell Douglas Corporation | Nonvolatile memory sensing system |
US4430727A (en) | 1981-11-10 | 1984-02-07 | International Business Machines Corp. | Storage element reconfiguration |
JPS5886777A (ja) * | 1981-11-18 | 1983-05-24 | Citizen Watch Co Ltd | Mnos記憶素子のしきい値電圧の設定方法 |
US4450559A (en) * | 1981-12-24 | 1984-05-22 | International Business Machines Corporation | Memory system with selective assignment of spare locations |
US4495602A (en) * | 1981-12-28 | 1985-01-22 | Mostek Corporation | Multi-bit read only memory circuit |
US4451905A (en) * | 1981-12-28 | 1984-05-29 | Hughes Aircraft Company | Electrically erasable programmable read-only memory cell having a single transistor |
DE3279855D1 (en) | 1981-12-29 | 1989-09-07 | Fujitsu Ltd | Nonvolatile semiconductor memory circuit |
US4432072A (en) * | 1981-12-31 | 1984-02-14 | International Business Machines Corporation | Non-volatile dynamic RAM cell |
DE3200872A1 (de) | 1982-01-14 | 1983-07-21 | Sartorius GmbH, 3400 Göttingen | Elektronische waage |
US4509113A (en) * | 1982-02-02 | 1985-04-02 | International Business Machines Corporation | Peripheral interface adapter circuit for use in I/O controller card having multiple modes of operation |
US4495572A (en) * | 1982-02-08 | 1985-01-22 | Zeda Computers International Limited | Computer intercommunication system |
DE3276029D1 (en) * | 1982-02-18 | 1987-05-14 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Memory system with an integrated matrix of non-volatile reprogrammable memory cells |
US4449205A (en) * | 1982-02-19 | 1984-05-15 | International Business Machines Corp. | Dynamic RAM with non-volatile back-up storage and method of operation thereof |
US4636946A (en) * | 1982-02-24 | 1987-01-13 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for grouping asynchronous recording operations |
US4530055A (en) * | 1982-03-03 | 1985-07-16 | Sperry Corporation | Hierarchical memory system with variable regulation and priority of writeback from cache memory to bulk memory |
US4506324A (en) * | 1982-03-08 | 1985-03-19 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Simulator interface system |
US4577215A (en) | 1983-02-18 | 1986-03-18 | Rca Corporation | Dual word line, electrically alterable, nonvolatile floating gate memory device |
US4475194A (en) * | 1982-03-30 | 1984-10-02 | International Business Machines Corporation | Dynamic replacement of defective memory words |
JPS58189890A (ja) | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Hitachi Ltd | 階層記憶装置 |
US4493075A (en) * | 1982-05-17 | 1985-01-08 | National Semiconductor Corporation | Self repairing bulk memory |
US4460982A (en) * | 1982-05-20 | 1984-07-17 | Intel Corporation | Intelligent electrically programmable and electrically erasable ROM |
JPS58215795A (ja) * | 1982-06-08 | 1983-12-15 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリ装置 |
JPS58215794A (ja) * | 1982-06-08 | 1983-12-15 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリ装置 |
US4479214A (en) * | 1982-06-16 | 1984-10-23 | International Business Machines Corporation | System for updating error map of fault tolerant memory |
US4521853A (en) * | 1982-06-30 | 1985-06-04 | Texas Instruments Incorporated | Secure microprocessor/microcomputer with secured memory |
US4521852A (en) * | 1982-06-30 | 1985-06-04 | Texas Instruments Incorporated | Data processing device formed on a single semiconductor substrate having secure memory |
US4498146A (en) * | 1982-07-30 | 1985-02-05 | At&T Bell Laboratories | Management of defects in storage media |
JPS5931158A (ja) * | 1982-08-14 | 1984-02-20 | 松下電工株式会社 | フラツシユパネルのコア充填方法 |
US4527257A (en) * | 1982-08-25 | 1985-07-02 | Westinghouse Electric Corp. | Common memory gate non-volatile transistor memory |
JPS5945695A (ja) * | 1982-09-07 | 1984-03-14 | Fujitsu Ltd | Icメモリ |
JPS5949022A (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-21 | Toshiba Corp | 多値論理回路 |
GB2129585B (en) * | 1982-10-29 | 1986-03-05 | Inmos Ltd | Memory system including a faulty rom array |
AU557723B2 (en) * | 1982-12-17 | 1987-01-08 | Blue Circle Southern Cement Ltd. | Electronic memory system |
US4527251A (en) * | 1982-12-17 | 1985-07-02 | Honeywell Information Systems Inc. | Remap method and apparatus for a memory system which uses partially good memory devices |
JPS59121696A (ja) | 1982-12-28 | 1984-07-13 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリ |
US4672240A (en) * | 1983-02-07 | 1987-06-09 | Westinghouse Electric Corp. | Programmable redundancy circuit |
JPS59144098A (ja) | 1983-02-08 | 1984-08-17 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS59162685A (ja) | 1983-03-04 | 1984-09-13 | Nec Corp | 磁気バブルメモリ |
JPS59162695A (ja) * | 1983-03-07 | 1984-09-13 | Nec Corp | 記憶装置 |
GB2136992A (en) * | 1983-03-18 | 1984-09-26 | Georg V Coza | Method and System of Ensuring Integrity of Data in an Electronic Memory |
JPS59186015A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-22 | Hitachi Ltd | メモリ装置 |
US4630230A (en) * | 1983-04-25 | 1986-12-16 | Cray Research, Inc. | Solid state storage device |
DE3315047A1 (de) * | 1983-04-26 | 1984-10-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrierte schaltung mit einem als nichtfluechtiger schreib-lese-speicher ausgestalteten anwendungsspeicher |
DE3318123A1 (de) * | 1983-05-18 | 1984-11-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung mit einem datenspeicher und einer ansteuereinheit zum auslesen, schreiben und loeschen des speichers |
JPS6015896A (ja) | 1983-07-08 | 1985-01-26 | Nec Corp | メモリ装置の高速書き込み方式 |
US4578774A (en) * | 1983-07-18 | 1986-03-25 | Pitney Bowes Inc. | System for limiting access to non-volatile memory in electronic postage meters |
JPS6025269A (ja) * | 1983-07-21 | 1985-02-08 | Hitachi Ltd | 半導体記憶素子 |
IT1215224B (it) * | 1983-08-04 | 1990-01-31 | Ates Componenti Elettron | Microcalcolatore a struttura integrata munito di memoria ram non volatile. |
JPS6049218A (ja) | 1983-08-30 | 1985-03-18 | Nippon Denso Co Ltd | 車両用走行距離計 |
US4584681A (en) * | 1983-09-02 | 1986-04-22 | International Business Machines Corporation | Memory correction scheme using spare arrays |
EP0136119B1 (en) * | 1983-09-16 | 1988-06-29 | Fujitsu Limited | Plural-bit-per-cell read-only memory |
US4688170A (en) * | 1983-09-22 | 1987-08-18 | Tau Systems Corporation | Communications network for communicating with computers provided with disparate protocols |
JPS6076097A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-30 | Nec Corp | 不揮発生半導体メモリ |
US4615020A (en) * | 1983-12-06 | 1986-09-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | Nonvolatile dynamic ram circuit |
JPS60124754A (ja) * | 1983-12-09 | 1985-07-03 | Fujitsu Ltd | バッファ記憶制御装置 |
EP0148488B1 (en) * | 1983-12-23 | 1992-03-18 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory having multiple level storage structure |
US4587629A (en) * | 1983-12-30 | 1986-05-06 | International Business Machines Corporation | Random address memory with fast clear |
US4644494A (en) * | 1984-02-06 | 1987-02-17 | Sundstrand Data Control, Inc. | Solid state memory for aircraft flight data recorder systems |
US4791604A (en) * | 1984-02-15 | 1988-12-13 | Joseph J. Bednarz | Sheet random access memory |
US4612640A (en) * | 1984-02-21 | 1986-09-16 | Seeq Technology, Inc. | Error checking and correction circuitry for use with an electrically-programmable and electrically-erasable memory array |
US4617651A (en) * | 1984-02-22 | 1986-10-14 | Seeq Technology, Inc. | Redundancy circuit for use in a semiconductor memory array |
JPS60178564A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-12 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 補助記憶装置 |
US4896262A (en) * | 1984-02-24 | 1990-01-23 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Emulation device for converting magnetic disc memory mode signal from computer into semiconductor memory access mode signal for semiconductor memory |
US4599707A (en) * | 1984-03-01 | 1986-07-08 | Signetics Corporation | Byte wide EEPROM with individual write circuits and write prevention means |
US4916605A (en) * | 1984-03-27 | 1990-04-10 | International Business Machines Corporation | Fast write operations |
US4642759A (en) * | 1984-04-02 | 1987-02-10 | Targa Electronics Systems Inc. | Bubble memory disk emulation system |
JPS60212900A (ja) * | 1984-04-09 | 1985-10-25 | Nec Corp | 半導体固定記憶装置 |
US4573141A (en) * | 1984-04-12 | 1986-02-25 | General Electric Company | Memory interface for communicating between two storage media having incompatible data formats |
US4617624A (en) * | 1984-04-16 | 1986-10-14 | Goodman James B | Multiple configuration memory circuit |
GB2160049B (en) * | 1984-05-28 | 1987-06-03 | Suwa Seikosha Kk | A non-volatile memory circuit |
JPS618798A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-16 | Nec Corp | 不揮発性記憶装置 |
JPH0760864B2 (ja) | 1984-07-13 | 1995-06-28 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
EP0170727B1 (de) * | 1984-08-02 | 1989-04-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Integrierter Schreib-Lesespeicher |
JPS6150293A (ja) * | 1984-08-17 | 1986-03-12 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US5136546A (en) * | 1984-09-26 | 1992-08-04 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory |
JPS6180597A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-24 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS6196598A (ja) * | 1984-10-17 | 1986-05-15 | Fuji Electric Co Ltd | 電気的消去可能なp−romのカウントデ−タ記憶方法 |
US4796233A (en) * | 1984-10-19 | 1989-01-03 | Fujitsu Limited | Bipolar-transistor type semiconductor memory device having redundancy configuration |
DE3586756T2 (de) * | 1984-11-07 | 1993-03-04 | Sharp Kk | Elektronische registrierkasse. |
US4727512A (en) * | 1984-12-06 | 1988-02-23 | Computer Design & Applications, Inc. | Interface adaptor emulating magnetic tape drive |
US4654829A (en) * | 1984-12-17 | 1987-03-31 | Dallas Semiconductor Corporation | Portable, non-volatile read/write memory module |
US4817002A (en) * | 1984-12-24 | 1989-03-28 | Pitney Bowes Inc. | Electronic postage meter non-volatile memory systems having human visually readable and machine stored data |
JPS61151898A (ja) | 1984-12-26 | 1986-07-10 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置におけるワ−ド線ドライバ回路 |
US4698750A (en) | 1984-12-27 | 1987-10-06 | Motorola, Inc. | Security for integrated circuit microcomputer with EEPROM |
US4654847A (en) * | 1984-12-28 | 1987-03-31 | International Business Machines | Apparatus for automatically correcting erroneous data and for storing the corrected data in a common pool alternate memory array |
GB2172126A (en) | 1985-01-24 | 1986-09-10 | John Richard Mumford | Interchangeable solid state memory device |
JPS61172300A (ja) * | 1985-01-26 | 1986-08-02 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPS61184795A (ja) | 1985-02-13 | 1986-08-18 | Toshiba Corp | 電気的消去・再書込み可能な読出し専用メモリ |
US4685082A (en) * | 1985-02-22 | 1987-08-04 | Wang Laboratories, Inc. | Simplified cache with automatic update |
GB2171543B (en) | 1985-02-27 | 1988-04-20 | Hughes Microelectronics Ltd | Counting circuit which provides for extended counter life |
US4713756A (en) * | 1985-02-28 | 1987-12-15 | Westinghouse Electric Corp. | Non-volatile memory device for a programmable controller |
JPS61208673A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録再生装置 |
JPS61210488A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-09-18 | Toppan Moore Co Ltd | Icカ−ド |
ATE53261T1 (de) * | 1985-03-26 | 1990-06-15 | Siemens Ag | Verfahren zum betreiben eines halbleiterspeichers mit integrierter paralleltestmoeglichkeit und auswerteschaltung zur durchfuehrung des verfahrens. |
JPH051040Y2 (ja) * | 1985-04-09 | 1993-01-12 | ||
US4667217A (en) | 1985-04-19 | 1987-05-19 | Ncr Corporation | Two bit vertically/horizontally integrated memory cell |
DE3514430A1 (de) * | 1985-04-20 | 1986-10-23 | Sartorius GmbH, 3400 Göttingen | Verfahren zum abspeichern von daten in einem elektrisch loeschbaren speicher und elektrisch loeschbarer speicher zur durchfuehrung des verfahrens |
US4744062A (en) * | 1985-04-23 | 1988-05-10 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit with nonvolatile memory |
EP0198935A1 (de) * | 1985-04-23 | 1986-10-29 | Deutsche ITT Industries GmbH | Elektrisch umprogrammierbarer Halbleiterspeicher mit Redundanz |
JPS61264599A (ja) * | 1985-05-16 | 1986-11-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
EP0452989A3 (en) * | 1985-05-29 | 1992-04-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic disk controller incorporating a cache system adopting an lru system |
US4685084A (en) * | 1985-06-07 | 1987-08-04 | Intel Corporation | Apparatus for selecting alternate addressing mode and read-only memory |
JPH0713879B2 (ja) * | 1985-06-21 | 1995-02-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPH0750556B2 (ja) * | 1985-06-26 | 1995-05-31 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPS626493A (ja) | 1985-06-29 | 1987-01-13 | Ricoh Co Ltd | 書込みと消去が可能な半導体メモリ装置 |
US4829169A (en) * | 1985-07-01 | 1989-05-09 | Toppan Moore Company, Inc. | IC card having state marker for record access |
US4958315A (en) | 1985-07-02 | 1990-09-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Solid state electronic emulator of a multiple track motor driven rotating magnetic memory |
JPH0652437B2 (ja) | 1985-07-26 | 1994-07-06 | 株式会社精工舎 | 画像記録装置 |
JPH0635227B2 (ja) * | 1985-07-31 | 1994-05-11 | トツパン・ム−ア株式会社 | 更新情報と履歴情報の読出し手段を有するicカ−ド |
JPS6238599A (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-19 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPS6252798A (ja) | 1985-08-30 | 1987-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPS6276098A (ja) | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Toshiba Corp | センスアンプ回路 |
US4752871A (en) * | 1985-09-30 | 1988-06-21 | Motorola, Inc. | Single-chip microcomputer having a program register for controlling two EEPROM arrays |
US4642798A (en) * | 1985-10-01 | 1987-02-10 | Intel Corporation | CMOS E2 PROM decoding circuit |
JPS6280899A (ja) | 1985-10-04 | 1987-04-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US4805109A (en) * | 1985-10-16 | 1989-02-14 | Pitney Bowes Inc. | Nonvolatile memory protection arrangement for electronic postage meter system having plural nonvolatile memories |
JPS62102482A (ja) * | 1985-10-28 | 1987-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録再生装置 |
JP2664137B2 (ja) * | 1985-10-29 | 1997-10-15 | 凸版印刷株式会社 | Icカード |
US4800520A (en) * | 1985-10-29 | 1989-01-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Portable electronic device with garbage collection function |
JPS62114200A (ja) | 1985-11-13 | 1987-05-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ装置 |
US4924331A (en) * | 1985-11-20 | 1990-05-08 | Seagate Technology, Inc. | Method for mapping around defective sectors in a disc drive |
US4746998A (en) * | 1985-11-20 | 1988-05-24 | Seagate Technology, Inc. | Method for mapping around defective sectors in a disc drive |
US4899274A (en) | 1985-11-21 | 1990-02-06 | International Business Machines Corporation | Dynamic terminal address allocation by the terminal itself in a data processing system |
US4763305A (en) * | 1985-11-27 | 1988-08-09 | Motorola, Inc. | Intelligent write in an EEPROM with data and erase check |
FR2591008B1 (fr) * | 1985-11-30 | 1991-05-17 | Toshiba Kk | Dispositif electronique portatif |
DE3640238A1 (de) * | 1985-11-30 | 1987-06-25 | Toshiba Kawasaki Kk | Tragbare elektronische vorrichtung |
DE3543540A1 (de) * | 1985-12-10 | 1987-06-11 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur wiedergabe von auf magnetband gespeicherten videosignalen mit einer von der bandgeschwindigkeit bei der aufnahme abweichenden bandgeschwindigkeit und schaltungsanordnung hierfuer |
US4758988A (en) * | 1985-12-12 | 1988-07-19 | Motorola, Inc. | Dual array EEPROM for high endurance capability |
US4718041A (en) * | 1986-01-09 | 1988-01-05 | Texas Instruments Incorporated | EEPROM memory having extended life |
DE3602112A1 (de) | 1986-01-24 | 1987-07-30 | Vdo Schindling | System zur speicherung von informationen |
US4757474A (en) * | 1986-01-28 | 1988-07-12 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device having redundancy circuit portion |
US4783745A (en) * | 1986-01-30 | 1988-11-08 | Pitney Bowes Inc. | Nonvolatile memory unlock for an electronic postage meter |
JPS62188100A (ja) | 1986-02-13 | 1987-08-17 | Mitsubishi Electric Corp | 紫外線消去型プログラマブルromの書込方法 |
JPS62188099A (ja) * | 1986-02-13 | 1987-08-17 | Toshiba Corp | 電気的消去・再書込み可能形半導体メモリ |
JP2530610B2 (ja) * | 1986-02-27 | 1996-09-04 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPS62229598A (ja) | 1986-03-29 | 1987-10-08 | Fanuc Ltd | 不揮発性メモリを用いるデ−タ記憶方式 |
JPS62229599A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-08 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPS62247275A (ja) | 1986-03-31 | 1987-10-28 | Ando Electric Co Ltd | インサ−キツトエミユレ−タのcpu識別回路 |
JPH0828431B2 (ja) * | 1986-04-22 | 1996-03-21 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR950008676B1 (ko) * | 1986-04-23 | 1995-08-04 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 반도체 메모리 장치 및 그의 결함 구제 방법 |
JPS62257699A (ja) * | 1986-05-01 | 1987-11-10 | Nippon Denso Co Ltd | 多値記憶半導体回路 |
US5226136A (en) | 1986-05-06 | 1993-07-06 | Nintendo Company Limited | Memory cartridge bank selecting apparatus |
KR890001847B1 (ko) * | 1986-05-07 | 1989-05-25 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 리던던시 회로 |
US4742215A (en) | 1986-05-07 | 1988-05-03 | Personal Computer Card Corporation | IC card system |
JPS62266798A (ja) * | 1986-05-13 | 1987-11-19 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US4816653A (en) | 1986-05-16 | 1989-03-28 | American Telephone And Telegraph Company | Security file system for a portable data carrier |
FR2599176A1 (fr) * | 1986-05-23 | 1987-11-27 | Eurotechnique Sa | Memoire morte programmable electriquement |
JPH07109717B2 (ja) * | 1986-05-31 | 1995-11-22 | キヤノン株式会社 | メモリ書き込み制御方法 |
JP2685173B2 (ja) * | 1986-05-31 | 1997-12-03 | キヤノン株式会社 | メモリ書き込み制御方法 |
JPS62291294A (ja) | 1986-06-11 | 1987-12-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | ダイヤルインサ−ビス制御方式 |
JPS635444A (ja) | 1986-06-25 | 1988-01-11 | Hitachi Ltd | マイクロプロセツサ |
FR2600810A1 (fr) | 1986-06-27 | 1987-12-31 | Eurotechnique Sa | Procede de programmation de donnees dans une memoire morte programmable electriquement |
JPS6318596A (ja) * | 1986-07-09 | 1988-01-26 | Toshiba Corp | 半導体記憶素子 |
JP2577724B2 (ja) | 1986-07-31 | 1997-02-05 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5239662A (en) | 1986-09-15 | 1993-08-24 | Norand Corporation | System including multiple device communications controller which coverts data received from two different customer transaction devices each using different communications protocols into a single communications protocol |
US4751703A (en) * | 1986-09-16 | 1988-06-14 | International Business Machines Corp. | Method for storing the control code of a processor allowing effective code modification and addressing circuit therefor |
JPH087720B2 (ja) * | 1986-09-16 | 1996-01-29 | 富士通株式会社 | 複数サービス用icカードの領域アクセス方法 |
JPS6373388A (ja) * | 1986-09-16 | 1988-04-02 | Fujitsu Ltd | 複数サ−ビス用icカ−ドの領域獲得方式 |
US4789967A (en) * | 1986-09-16 | 1988-12-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Random access memory device with block reset |
US4862200A (en) | 1986-10-01 | 1989-08-29 | Ray Hicks | Automated photographic apparatus |
JPS63106989A (ja) * | 1986-10-24 | 1988-05-12 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US4953122A (en) * | 1986-10-31 | 1990-08-28 | Laserdrive Ltd. | Pseudo-erasable and rewritable write-once optical disk memory system |
JPS63136391A (ja) * | 1986-11-27 | 1988-06-08 | Nec Corp | 半導体メモリ装置 |
US4791615A (en) * | 1986-12-22 | 1988-12-13 | Motorola, Inc. | Memory with redundancy and predecoded signals |
US4814976C1 (en) * | 1986-12-23 | 2002-06-04 | Mips Tech Inc | Risc computer with unaligned reference handling and method for the same |
JPS63163937A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-07 | Minolta Camera Co Ltd | メモリ制御装置 |
US4980861A (en) | 1987-01-16 | 1990-12-25 | Microchip Technology Incorporated | NAND stack ROM |
JPS63183700A (ja) * | 1987-01-26 | 1988-07-29 | Mitsubishi Electric Corp | Eepromアクセス方法 |
US4774652A (en) | 1987-02-18 | 1988-09-27 | Apple Computer, Inc. | Memory mapping unit for decoding address signals |
US4758986A (en) * | 1987-02-20 | 1988-07-19 | Motorola, Inc. | Single transistor cell for electrically-erasable programmable read-only memory and array thereof |
JPH0758500B2 (ja) | 1987-02-20 | 1995-06-21 | 株式会社東芝 | 携帯可能電子装置 |
US4860228A (en) * | 1987-02-24 | 1989-08-22 | Motorola, Inc. | Non-volatile memory incremental counting system |
US4785425A (en) * | 1987-02-27 | 1988-11-15 | Emhart Industries, Inc. | Electronic locking system |
US4890231A (en) * | 1987-03-06 | 1989-12-26 | Chrysler Motors Corporation | Method of disabling a resume switch in an electronic speed control system for vehicles |
US4905182A (en) | 1987-03-13 | 1990-02-27 | Apple Computer, Inc. | Self-configuring memory management system with on card circuitry for non-contentious allocation of reserved memory space among expansion cards |
US4949240A (en) * | 1987-03-13 | 1990-08-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Data storage system having circuitry for dividing received data into sequential wards each stored in storage region identified by chain data |
US4931997A (en) * | 1987-03-16 | 1990-06-05 | Hitachi Ltd. | Semiconductor memory having storage buffer to save control data during bulk erase |
JP2833621B2 (ja) * | 1987-03-16 | 1998-12-09 | 株式会社日立製作所 | 不揮発性記憶装置 |
US4933103A (en) * | 1987-03-23 | 1990-06-12 | Kao Corporation | Bleaching composition |
FR2620249B1 (fr) | 1987-03-31 | 1989-12-01 | Smh Alcatel | Machine a affranchir a gestion de traces periodiques |
FR2620246B1 (fr) | 1987-03-31 | 1989-11-24 | Smh Alcatel | Memoire non volatile a faible taux d'ecriture et machine a affranchir en faisant application |
US4827406A (en) | 1987-04-01 | 1989-05-02 | International Business Machines Corporation | Memory allocation for multiple processors |
JPH0827756B2 (ja) | 1987-04-13 | 1996-03-21 | 三菱電機株式会社 | Icカード |
US4797856A (en) * | 1987-04-16 | 1989-01-10 | Intel Corporation | Self-limiting erase scheme for EEPROM |
JPH0620283B2 (ja) | 1987-05-19 | 1994-03-16 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像デ−タ記録装置 |
JPH0743950B2 (ja) | 1987-05-22 | 1995-05-15 | 日本電気株式会社 | 読出し回路 |
IT1214246B (it) * | 1987-05-27 | 1990-01-10 | Sgs Microelettronica Spa | Dispositivo di memoria non volatile ad elevato numero di cicli di modifica. |
IT1215539B (it) * | 1987-06-03 | 1990-02-14 | Honeywell Inf Systems | Memoria tampone trasparente. |
JPH0793002B2 (ja) * | 1987-06-04 | 1995-10-09 | 日本電気株式会社 | メモリ集積回路 |
US4882642A (en) * | 1987-07-02 | 1989-11-21 | International Business Machines Corporation | Sequentially processing data in a cached data storage system |
US4903236A (en) * | 1987-07-15 | 1990-02-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Nonvolatile semiconductor memory device and a writing method therefor |
JPS6423878A (en) | 1987-07-20 | 1989-01-26 | Nippon Bussan Kk | Agent for preventing denaturation of paste food |
US4796235A (en) * | 1987-07-22 | 1989-01-03 | Motorola, Inc. | Write protect mechanism for non-volatile memory |
US4811124A (en) * | 1987-07-24 | 1989-03-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | Defect skipping mechanism for disk drives |
US4860262A (en) * | 1987-08-05 | 1989-08-22 | Texas Instruments Incorporated | Cache memory reset responsive to change in main memory |
JPS6446949A (en) | 1987-08-15 | 1989-02-21 | Matsushita Electric Works Ltd | Manufacture of dielectric isolation substrate |
US5051887A (en) * | 1987-08-25 | 1991-09-24 | International Business Machines Corporation | Maintaining duplex-paired storage devices during gap processing using of a dual copy function |
JPS6454543A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-02 | Mitsubishi Electric Corp | Information processor |
DE3728521A1 (de) * | 1987-08-26 | 1989-03-09 | Siemens Ag | Anordnung und verfahren zur feststellung und lokalisierung von fehlerhaften schaltkreisen eines speicherbausteins |
JP2509297B2 (ja) * | 1987-08-31 | 1996-06-19 | 沖電気工業株式会社 | 自己訂正機能付半導体記憶装置及びマイクロコンピュ―タ |
US4970692A (en) * | 1987-09-01 | 1990-11-13 | Waferscale Integration, Inc. | Circuit for controlling a flash EEPROM having three distinct modes of operation by allowing multiple functionality of a single pin |
JP2685770B2 (ja) | 1987-12-28 | 1997-12-03 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
DE3831538C2 (de) * | 1987-09-18 | 1996-03-28 | Toshiba Kawasaki Kk | Elektrisch löschbare und programmierbare Halbleiter-Speichervorrichtung |
JP2645417B2 (ja) * | 1987-09-19 | 1997-08-25 | 富士通株式会社 | 不揮発性メモリ装置 |
US4780424A (en) * | 1987-09-28 | 1988-10-25 | Intel Corporation | Process for fabricating electrically alterable floating gate memory devices |
US4803554A (en) * | 1987-09-30 | 1989-02-07 | Polaroid Corporation | Electronic imaging camera utilizing EPROM memory |
US5016215A (en) | 1987-09-30 | 1991-05-14 | Texas Instruments Incorporated | High speed EPROM with reverse polarity voltages applied to source and drain regions during reading and writing |
FR2622019B1 (fr) * | 1987-10-19 | 1990-02-09 | Thomson Semiconducteurs | Dispositif de test structurel d'un circuit integre |
JPH01113999A (ja) * | 1987-10-28 | 1989-05-02 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリのストレステスト回路 |
US5253350A (en) | 1987-10-30 | 1993-10-12 | Zenith Data Systems Corporation | Method of combining lower order and translated upper order bits to address ROM within a range reserved for other devices |
JPH0778997B2 (ja) | 1987-10-30 | 1995-08-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ |
US4809231A (en) * | 1987-11-12 | 1989-02-28 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for post-packaging testing of one-time programmable memories |
US5050125A (en) * | 1987-11-18 | 1991-09-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrically erasable programmable read-only memory with NAND cellstructure |
JPH01158777A (ja) | 1987-12-15 | 1989-06-21 | Sony Corp | フローティングゲート型不揮発性メモリ |
US4839705A (en) * | 1987-12-16 | 1989-06-13 | Texas Instruments Incorporated | X-cell EEPROM array |
US4803707A (en) | 1987-12-21 | 1989-02-07 | Ncr Corporation | Nonvolatile electronic odometer with excess write cycle protection |
US5034922A (en) | 1987-12-21 | 1991-07-23 | Motorola, Inc. | Intelligent electrically erasable, programmable read-only memory with improved read latency |
US4939690A (en) * | 1987-12-28 | 1990-07-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrically erasable programmable read-only memory with NAND cell structure that suppresses memory cell threshold voltage variation |
US4875188A (en) * | 1988-01-12 | 1989-10-17 | Intel Corporation | Voltage margining circuit for flash eprom |
US4939598A (en) | 1988-02-08 | 1990-07-03 | International Business Machines Corporation | Managing data storage space on large capacity record media |
US4841482A (en) * | 1988-02-17 | 1989-06-20 | Intel Corporation | Leakage verification for flash EPROM |
US5053990A (en) * | 1988-02-17 | 1991-10-01 | Intel Corporation | Program/erase selection for flash memory |
US5222046A (en) | 1988-02-17 | 1993-06-22 | Intel Corporation | Processor controlled command port architecture for flash memory |
US4860261A (en) * | 1988-02-17 | 1989-08-22 | Intel Corporation | Leakage verification for flash EPROM |
US4977503A (en) | 1988-02-19 | 1990-12-11 | Psicom Sports Incorporated | Electronic sports information retrieval device |
US5146571A (en) | 1988-03-28 | 1992-09-08 | Emc Corporation | Remapping defects in a storage system through the use of a tree structure |
US5033023A (en) * | 1988-04-08 | 1991-07-16 | Catalyst Semiconductor, Inc. | High density EEPROM cell and process for making the cell |
JPH01271996A (ja) * | 1988-04-22 | 1989-10-31 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
KR0135082B1 (ko) * | 1988-04-28 | 1998-04-20 | 오가 노리오 | 정보 기억방법 및 그 장치 |
US4949309A (en) * | 1988-05-11 | 1990-08-14 | Catalyst Semiconductor, Inc. | EEPROM utilizing single transistor per cell capable of both byte erase and flash erase |
JPH0748316B2 (ja) * | 1988-05-30 | 1995-05-24 | 日本電気株式会社 | デュアルポートメモリ回路 |
US5293560A (en) | 1988-06-08 | 1994-03-08 | Eliyahou Harari | Multi-state flash EEPROM system using incremental programing and erasing methods |
US5095344A (en) | 1988-06-08 | 1992-03-10 | Eliyahou Harari | Highly compact eprom and flash eeprom devices |
US5268870A (en) * | 1988-06-08 | 1993-12-07 | Eliyahou Harari | Flash EEPROM system and intelligent programming and erasing methods therefor |
US5043940A (en) * | 1988-06-08 | 1991-08-27 | Eliyahou Harari | Flash EEPROM memory systems having multistate storage cells |
US5268318A (en) * | 1988-06-08 | 1993-12-07 | Eliyahou Harari | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
US5198380A (en) * | 1988-06-08 | 1993-03-30 | Sundisk Corporation | Method of highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
US5268319A (en) * | 1988-06-08 | 1993-12-07 | Eliyahou Harari | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
US5168465A (en) * | 1988-06-08 | 1992-12-01 | Eliyahou Harari | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
JP2595314B2 (ja) * | 1988-06-30 | 1997-04-02 | 三菱電機株式会社 | 誤書き込み防止機能を備えたicカ―ド |
US4890259A (en) * | 1988-07-13 | 1989-12-26 | Information Storage Devices | High density integrated circuit analog signal recording and playback system |
US4989179A (en) | 1988-07-13 | 1991-01-29 | Information Storage Devices, Inc. | High density integrated circuit analog signal recording and playback system |
US4914529A (en) * | 1988-07-18 | 1990-04-03 | Western Digital Corp. | Data disk defect handling using relocation ID fields |
JPH0770212B2 (ja) * | 1988-07-19 | 1995-07-31 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ回路 |
US5134584A (en) | 1988-07-22 | 1992-07-28 | Vtc Incorporated | Reconfigurable memory |
US5218691A (en) | 1988-07-26 | 1993-06-08 | Disk Emulation Systems, Inc. | Disk emulation system |
US5070474A (en) * | 1988-07-26 | 1991-12-03 | Disk Emulation Systems, Inc. | Disk emulation system |
JPH07109720B2 (ja) * | 1988-07-29 | 1995-11-22 | 三菱電機株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5167021A (en) | 1988-09-19 | 1992-11-24 | Ncr Corporation | Multimedia interface device and method |
US5359726A (en) | 1988-12-22 | 1994-10-25 | Thomas Michael E | Ferroelectric storage device used in place of a rotating disk drive unit in a computer system |
KR920009054B1 (ko) * | 1988-12-28 | 1992-10-13 | 가부시키가이샤 도시바 | 불휘발성 반도체메모리 |
US4996669A (en) | 1989-03-08 | 1991-02-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrically erasable programmable read-only memory with NAND memory cell structure |
US5535328A (en) * | 1989-04-13 | 1996-07-09 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory system card with flash erasable sectors of EEprom cells including a mechanism for substituting defective cells |
DE69033438T2 (de) * | 1989-04-13 | 2000-07-06 | Sandisk Corp., Santa Clara | Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze |
US5163021A (en) | 1989-04-13 | 1992-11-10 | Sundisk Corporation | Multi-state EEprom read and write circuits and techniques |
US5172338B1 (en) | 1989-04-13 | 1997-07-08 | Sandisk Corp | Multi-state eeprom read and write circuits and techniques |
US5226168A (en) * | 1989-04-25 | 1993-07-06 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor memory configured to emulate floppy and hard disk magnetic storage based upon a determined storage capacity of the semiconductor memory |
US5051994A (en) | 1989-04-28 | 1991-09-24 | International Business Machines Corporation | Computer memory module |
US5070502A (en) | 1989-06-23 | 1991-12-03 | Digital Equipment Corporation | Defect tolerant set associative cache |
JPH0748320B2 (ja) | 1989-07-24 | 1995-05-24 | セイコー電子工業株式会社 | 半導体不揮発性メモリ |
US4969122A (en) * | 1989-08-21 | 1990-11-06 | Sun Microsystems, Inc. | Apparatus for page tagging in a computer system |
US5200959A (en) * | 1989-10-17 | 1993-04-06 | Sundisk Corporation | Device and method for defect handling in semi-conductor memory |
US4992984A (en) | 1989-12-28 | 1991-02-12 | International Business Machines Corporation | Memory module utilizing partially defective memory chips |
US5134616A (en) * | 1990-02-13 | 1992-07-28 | International Business Machines Corporation | Dynamic ram with on-chip ecc and optimized bit and word redundancy |
US5126973A (en) | 1990-02-14 | 1992-06-30 | Texas Instruments Incorporated | Redundancy scheme for eliminating defects in a memory device |
US5136021A (en) | 1990-02-27 | 1992-08-04 | Health Research, Inc. | TNF-inhibitory protein and a method of production |
JP3190031B2 (ja) | 1990-03-31 | 2001-07-16 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP3448051B2 (ja) | 1990-03-31 | 2003-09-16 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2709751B2 (ja) * | 1990-06-15 | 1998-02-04 | 三菱電機株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置およびそのデータ消去方法 |
JPH0482090A (ja) | 1990-07-23 | 1992-03-16 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5033990A (en) | 1990-07-23 | 1991-07-23 | Arthur Silverman | Pulley having spring loaded release mechanism |
US5214657A (en) | 1990-09-21 | 1993-05-25 | Micron Technology, Inc. | Method for fabricating wafer-scale integration wafers and method for utilizing defective wafer-scale integration wafers |
JP3001252B2 (ja) | 1990-11-16 | 2000-01-24 | 株式会社日立製作所 | 半導体メモリ |
US5377148A (en) | 1990-11-29 | 1994-12-27 | Case Western Reserve University | Apparatus and method to test random access memories for a plurality of possible types of faults |
US5222109A (en) | 1990-12-28 | 1993-06-22 | Ibm Corporation | Endurance management for solid state files |
GB2251323B (en) * | 1990-12-31 | 1994-10-12 | Intel Corp | Disk emulation for a non-volatile semiconductor memory |
US5218569A (en) * | 1991-02-08 | 1993-06-08 | Banks Gerald J | Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per memory cell |
US6002614A (en) * | 1991-02-08 | 1999-12-14 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
US5396468A (en) * | 1991-03-15 | 1995-03-07 | Sundisk Corporation | Streamlined write operation for EEPROM system |
US5270979A (en) * | 1991-03-15 | 1993-12-14 | Sundisk Corporation | Method for optimum erasing of EEPROM |
US5504760A (en) * | 1991-03-15 | 1996-04-02 | Sandisk Corporation | Mixed data encoding EEPROM system |
US5141261A (en) * | 1991-04-04 | 1992-08-25 | Double Containment Systems | Double containment pipe joint assembly |
US5172388A (en) * | 1991-07-23 | 1992-12-15 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for an increased pulse repetition rate for a CW pumped laser |
US5430859A (en) * | 1991-07-26 | 1995-07-04 | Sundisk Corporation | Solid state memory system including plural memory chips and a serialized bus |
US5291439A (en) | 1991-09-12 | 1994-03-01 | International Business Machines Corporation | Semiconductor memory cell and memory array with inversion layer |
US5357462A (en) | 1991-09-24 | 1994-10-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrically erasable and programmable non-volatile semiconductor memory with automatic write-verify controller |
US5270980A (en) * | 1991-10-28 | 1993-12-14 | Eastman Kodak Company | Sector erasable flash EEPROM |
US5359569A (en) * | 1991-10-29 | 1994-10-25 | Hitachi Ltd. | Semiconductor memory |
US6347051B2 (en) * | 1991-11-26 | 2002-02-12 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
TW261687B (ja) * | 1991-11-26 | 1995-11-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
US5361227A (en) | 1991-12-19 | 1994-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
JP3251968B2 (ja) | 1992-01-20 | 2002-01-28 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2730375B2 (ja) | 1992-01-31 | 1998-03-25 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ |
US5278793A (en) | 1992-02-25 | 1994-01-11 | Yeh Tsuei Chi | Memory defect masking device |
FR2688333B1 (fr) * | 1992-03-06 | 1994-04-29 | Sgc Thomson Microelectronics S | Dispositif et procede d'effacement par secteurs d'une memoire flash eprom. |
JP3348248B2 (ja) * | 1992-04-22 | 2002-11-20 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置及びその情報の消去・書き込み方法 |
JP2647312B2 (ja) * | 1992-09-11 | 1997-08-27 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 一括消去型不揮発性半導体記憶装置 |
US5369616A (en) * | 1992-10-30 | 1994-11-29 | Intel Corporation | Method for assuring that an erase process for a memory array has been properly completed |
US5740349A (en) * | 1993-02-19 | 1998-04-14 | Intel Corporation | Method and apparatus for reliably storing defect information in flash disk memories |
US5388083A (en) * | 1993-03-26 | 1995-02-07 | Cirrus Logic, Inc. | Flash memory mass storage architecture |
US5488711A (en) * | 1993-04-01 | 1996-01-30 | Microchip Technology Incorporated | Serial EEPROM device and associated method for reducing data load time using a page mode write cache |
KR970008188B1 (ko) * | 1993-04-08 | 1997-05-21 | 가부시끼가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 플래시메모리의 제어방법 및 그것을 사용한 정보처리장치 |
US5471431A (en) | 1993-04-22 | 1995-11-28 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Structure to recover a portion of a partially functional embedded memory |
US5414664A (en) | 1993-05-28 | 1995-05-09 | Macronix International Co., Ltd. | Flash EPROM with block erase flags for over-erase protection |
JP3215237B2 (ja) * | 1993-10-01 | 2001-10-02 | 富士通株式会社 | 記憶装置および記憶装置の書き込み/消去方法 |
JPH07122099A (ja) | 1993-10-29 | 1995-05-12 | Nec Corp | 半導体メモリ |
JPH07153296A (ja) | 1993-11-26 | 1995-06-16 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
US5828601A (en) * | 1993-12-01 | 1998-10-27 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmed reference |
JPH07253929A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-10-03 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
FR2718867B1 (fr) * | 1994-04-13 | 1996-05-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Procédé d'effacement d'une mémoire et circuits de mise en Óoeuvre. |
US5541886A (en) * | 1994-12-27 | 1996-07-30 | Intel Corporation | Method and apparatus for storing control information in multi-bit non-volatile memory arrays |
US5594691A (en) * | 1995-02-15 | 1997-01-14 | Intel Corporation | Address transition detection sensing interface for flash memory having multi-bit cells |
JP3706167B2 (ja) * | 1995-02-16 | 2005-10-12 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体ディスク装置 |
US6353554B1 (en) * | 1995-02-27 | 2002-03-05 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
JPH08314794A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 安定記憶装置へのアクセス待ち時間を短縮するための方法およびシステム |
JPH08249895A (ja) | 1995-03-10 | 1996-09-27 | Nec Corp | 不輝発性半導体記憶装置 |
US5606532A (en) * | 1995-03-17 | 1997-02-25 | Atmel Corporation | EEPROM array with flash-like core |
US5764888A (en) | 1995-07-20 | 1998-06-09 | Dallas Semiconductor Corporation | Electronic micro identification circuit that is inherently bonded to someone or something |
ATE213562T1 (de) | 1995-08-11 | 2002-03-15 | Imec Inter Uni Micro Electr | Verfahren zum programmieren einer flash-eeprom- speicherzelle unter optimierung des niedrigen leistungsverbrauchs und verfahren zum löschen dieser zelle |
GB2291991A (en) * | 1995-09-27 | 1996-02-07 | Memory Corp Plc | Disk drive emulation with a block-erasable memory |
KR0169419B1 (ko) | 1995-09-28 | 1999-02-01 | 김광호 | 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치 |
US5687114A (en) * | 1995-10-06 | 1997-11-11 | Agate Semiconductor, Inc. | Integrated circuit for storage and retrieval of multiple digital bits per nonvolatile memory cell |
KR0172401B1 (ko) | 1995-12-07 | 1999-03-30 | 김광호 | 다수상태 불휘발성 반도체 메모리 장치 |
JP2848300B2 (ja) * | 1995-12-27 | 1999-01-20 | 日本電気株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH09212411A (ja) * | 1996-02-06 | 1997-08-15 | Tokyo Electron Ltd | メモリシステム |
US5668763A (en) | 1996-02-26 | 1997-09-16 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory for increasing the number of half good memories by selecting and using good memory blocks |
US5826083A (en) * | 1996-06-20 | 1998-10-20 | Intel Corporation | CPU cycle consumption self-regulating method and apparatus |
US5883827A (en) | 1996-08-26 | 1999-03-16 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for reading/writing data in a memory system including programmable resistors |
US5933852A (en) * | 1996-11-07 | 1999-08-03 | Micron Electronics, Inc. | System and method for accelerated remapping of defective memory locations |
US5774395A (en) * | 1996-11-27 | 1998-06-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | Electrically erasable reference cell for accurately determining threshold voltage of a non-volatile memory at a plurality of threshold voltage levels |
TW367503B (en) * | 1996-11-29 | 1999-08-21 | Sanyo Electric Co | Non-volatile semiconductor device |
US5847991A (en) | 1997-05-20 | 1998-12-08 | Tong; Hing S. | System for recording voice as analog values programmed into single bit cells EEPROMs or flash EEPROM |
US5880988A (en) | 1997-07-11 | 1999-03-09 | International Business Machines Corporation | Reference potential for sensing data in electronic storage element |
US5999476A (en) * | 1997-11-21 | 1999-12-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | Bios memory and multimedia data storage combination |
JP3581244B2 (ja) | 1997-12-05 | 2004-10-27 | 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置及びそのアクセス方法 |
JP3093723B2 (ja) | 1998-04-22 | 2000-10-03 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 半導体集積回路 |
US6128224A (en) * | 1998-07-29 | 2000-10-03 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for writing an erasable non-volatile memory |
US6154392A (en) | 1999-10-12 | 2000-11-28 | Patti; Robert | Four-terminal EEPROM cell for storing an analog voltage and memory system using the same to store multiple bits per EEPROM cell |
US6373767B1 (en) | 1999-10-12 | 2002-04-16 | Robert Patti | Memory that stores multiple bits per storage cell |
US6141261A (en) | 1999-12-31 | 2000-10-31 | Patti; Robert | DRAM that stores multiple bits per storage cell |
JP2001344987A (ja) | 2000-05-29 | 2001-12-14 | Nec Corp | 半導体記憶装置及びデータの読み出し方法 |
-
1990
- 1990-03-30 DE DE69033438T patent/DE69033438T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 DE DE69034227T patent/DE69034227T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 EP EP99100701A patent/EP0935255A2/en active Pending
- 1990-03-30 EP EP95107965A patent/EP0675502B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 EP EP94105843A patent/EP0618535B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 DE DE69033262T patent/DE69033262T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 EP EP94105842A patent/EP0617363B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 DE DE69034191T patent/DE69034191T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 EP EP00107163A patent/EP1031992B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 DE DE69024086T patent/DE69024086T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-30 EP EP90400885A patent/EP0392895B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-04-12 JP JP9911490A patent/JP3226042B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-10-20 US US07/963,838 patent/US5297148A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-10-20 US US07/963,851 patent/US5418752A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-12-29 US US08/174,768 patent/US5602987A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-05-25 US US08/249,049 patent/US5671229A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-03-21 US US08/407,916 patent/US5719808A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-12-20 US US08/771,708 patent/US5991517A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-29 US US08/789,421 patent/US6149316A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-16 US US08/931,133 patent/US5936971A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-29 US US08/999,489 patent/US5862080A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-29 US US08/999,472 patent/US5877986A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-29 US US08/999,498 patent/US5999446A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-04-14 US US09/059,815 patent/US6373747B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-28 US US09/143,233 patent/US8040727B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-09 US US09/188,417 patent/US6304485B1/en not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-07-12 US US09/351,829 patent/US6414876B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-09-08 US US09/657,482 patent/US6523132B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-01-11 US US09/759,119 patent/US20040080988A1/en not_active Abandoned
- 2001-05-30 US US09/867,836 patent/US7266017B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-30 US US10/000,155 patent/US20020046318A1/en not_active Abandoned
-
2002
- 2002-09-06 US US10/237,456 patent/US6757842B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-10-22 US US10/278,444 patent/US20030046603A1/en not_active Abandoned
- 2002-11-07 US US10/290,564 patent/US7283397B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-24 US US10/330,739 patent/US6763480B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-26 US US10/330,455 patent/US6684345B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-26 US US10/331,081 patent/US6914846B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-01-21 US US10/348,739 patent/US7397713B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-04-16 US US10/417,954 patent/US7362618B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-08-13 US US10/641,210 patent/US20050286336A1/en not_active Abandoned
-
2007
- 2007-10-24 US US11/923,505 patent/US20080158995A1/en not_active Abandoned
Cited By (115)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7190617B1 (en) | 1989-04-13 | 2007-03-13 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
JPH06139140A (ja) * | 1990-12-31 | 1994-05-20 | Intel Corp | 不揮発性半導体メモリのファイル構造 |
JPH04351794A (ja) * | 1991-05-29 | 1992-12-07 | Hitachi Ltd | 不揮発性記憶装置 |
US6081447A (en) * | 1991-09-13 | 2000-06-27 | Western Digital Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
US6594183B1 (en) | 1991-09-13 | 2003-07-15 | Sandisk Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
US6850443B2 (en) | 1991-09-13 | 2005-02-01 | Sandisk Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
US7353325B2 (en) | 1991-09-13 | 2008-04-01 | Sandisk Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
JPH06202942A (ja) * | 1991-11-12 | 1994-07-22 | Allen Bradley Co Inc | フラッシュメモリ回路と操作方法 |
US7154805B2 (en) | 1991-11-26 | 2006-12-26 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US6788609B2 (en) | 1991-11-26 | 2004-09-07 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US6341085B1 (en) | 1991-11-26 | 2002-01-22 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6130837A (en) * | 1991-11-26 | 2000-10-10 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6347051B2 (en) | 1991-11-26 | 2002-02-12 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6567334B2 (en) | 1991-11-26 | 2003-05-20 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6925012B2 (en) | 1991-11-26 | 2005-08-02 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US7002851B2 (en) | 1991-11-26 | 2006-02-21 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US5644539A (en) * | 1991-11-26 | 1997-07-01 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US7006386B2 (en) | 1991-11-26 | 2006-02-28 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US7064995B2 (en) | 1991-11-26 | 2006-06-20 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US7082510B2 (en) | 1991-11-26 | 2006-07-25 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US7123519B2 (en) | 1991-11-26 | 2006-10-17 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
US7184320B2 (en) | 1991-11-26 | 2007-02-27 | Renesas Technology Corp. | Storage device employing a flash memory |
JP2007172650A (ja) * | 1991-11-28 | 2007-07-05 | Hitachi Ltd | フラッシュメモリを備えた情報機器 |
JP2004303278A (ja) * | 1991-11-28 | 2004-10-28 | Hitachi Ltd | 情報処理システム |
US7139201B2 (en) | 1991-12-19 | 2006-11-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
JP2004095168A (ja) * | 1991-12-19 | 2004-03-25 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置、キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、および半導体記憶システム |
JP2001273776A (ja) * | 1991-12-19 | 2001-10-05 | Toshiba Corp | キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置、半導体記憶システムおよびメモリベリファイ回路 |
JP2009146458A (ja) * | 1992-01-29 | 2009-07-02 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2011103137A (ja) * | 1992-01-29 | 2011-05-26 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2008282429A (ja) * | 1992-01-29 | 2008-11-20 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP4608587B2 (ja) * | 1992-01-29 | 2011-01-12 | マイクロソフト コーポレーション | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2010049712A (ja) * | 1992-01-29 | 2010-03-04 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2010049713A (ja) * | 1992-01-29 | 2010-03-04 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2011222051A (ja) * | 1992-01-29 | 2011-11-04 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2006209808A (ja) * | 1992-01-29 | 2006-08-10 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP4608588B2 (ja) * | 1992-01-29 | 2011-01-12 | マイクロソフト コーポレーション | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP4608589B2 (ja) * | 1992-01-29 | 2011-01-12 | マイクロソフト コーポレーション | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JP2010049714A (ja) * | 1992-01-29 | 2010-03-04 | Microsoft Corp | フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム |
JPH05216001A (ja) * | 1992-02-06 | 1993-08-27 | Nec Corp | Lcd製造装置 |
JPH05242688A (ja) * | 1992-02-27 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | フラッシュeepromを用いた記録再生装置 |
US5371702A (en) * | 1992-03-05 | 1994-12-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Block erasable nonvolatile memory device |
US5890188A (en) * | 1992-03-31 | 1999-03-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device having means for selective transfer of memory block contents and for chaining together unused memory blocks |
US5611067A (en) * | 1992-03-31 | 1997-03-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device having means for selective transfer of memory block contents and for chaining together unused memory blocks |
JPH05313989A (ja) * | 1992-05-08 | 1993-11-26 | Toshiba Corp | メモリカード装置 |
US6161195A (en) * | 1992-05-08 | 2000-12-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | EEPROM memory card device having defect relieving means |
JPH065094A (ja) * | 1992-06-17 | 1994-01-14 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6549974B2 (en) | 1992-06-22 | 2003-04-15 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor storage apparatus including a controller for sending first and second write commands to different nonvolatile memories in a parallel or time overlapped manner |
US6457092B1 (en) | 1992-06-22 | 2002-09-24 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor disk storage apparatus including a plurality of flash memories and a buffer memory to continuously write data responsive to first and second write commands |
JPH064399A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-14 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US6728826B2 (en) | 1992-06-22 | 2004-04-27 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor storage device in which commands are sequentially fed to a plurality of flash memories to continuously write data |
US6598115B2 (en) | 1992-06-22 | 2003-07-22 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor storage apparatus including a plurality of nonvolatile flash memories and utilizing logical to physical sector conversion |
US8001319B2 (en) | 1992-06-22 | 2011-08-16 | Solid State Storage Solutions, Inc. | Semiconductor storage device |
JP2000148583A (ja) * | 1992-06-22 | 2000-05-30 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2000163314A (ja) * | 1992-06-22 | 2000-06-16 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US5379262A (en) * | 1992-07-01 | 1995-01-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device |
JPH0675836A (ja) * | 1992-08-25 | 1994-03-18 | Nippon Densan Corp | 補助記憶装置 |
US5546402A (en) * | 1992-09-11 | 1996-08-13 | International Business Machines Corporation | Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device |
US5844910A (en) * | 1992-09-11 | 1998-12-01 | International Business Machines Corporation | Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device |
US5509018A (en) * | 1992-09-11 | 1996-04-16 | International Business Machines Corporation | Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device |
JPH11504147A (ja) * | 1992-09-21 | 1999-04-06 | サンディスク コーポレイション | Eepromにおける潜在欠陥の操作法(管理法) |
JPH06208799A (ja) * | 1992-10-30 | 1994-07-26 | Intel Corp | フラッシュメモリの動作を監視する方法 |
JPH06163856A (ja) * | 1992-11-19 | 1994-06-10 | Fujitsu Ltd | 一括消去型不揮発性半導体記憶装置およびその試験方法 |
JPH076595A (ja) * | 1993-01-05 | 1995-01-10 | Texas Instr Inc <Ti> | フラッシュメモリの保護方式を持つスマート消去アルゴリズム |
JPH06259320A (ja) * | 1993-03-04 | 1994-09-16 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリ装置 |
US5422856A (en) * | 1993-03-04 | 1995-06-06 | Hitachi, Ltd. | Non-volatile memory programming at arbitrary timing based on current requirements |
US6351787B2 (en) | 1993-03-11 | 2002-02-26 | Hitachi, Ltd. | File memory device and information processing apparatus using the same |
US6952752B2 (en) | 1993-03-11 | 2005-10-04 | Hitachi, Ltd. | File memory device and information processing apparatus using the same |
US6662264B2 (en) | 1993-03-11 | 2003-12-09 | Hitachi, Ltd. | File memory device and information processing apparatus using the same |
US5973964A (en) * | 1993-04-08 | 1999-10-26 | Hitachi, Ltd. | Flash memory control method and information processing system therewith |
US6421279B1 (en) | 1993-04-08 | 2002-07-16 | Hitachi, Ltd. | Flash memory control method and apparatus processing system therewith |
US5862083A (en) * | 1993-04-08 | 1999-01-19 | Hitachi, Ltd. | Information processing system |
US6078520A (en) * | 1993-04-08 | 2000-06-20 | Hitachi, Ltd. | Flash memory control method and information processing system therewith |
JPH07146820A (ja) * | 1993-04-08 | 1995-06-06 | Hitachi Ltd | フラッシュメモリの制御方法及び、それを用いた情報処理装置 |
US6275436B1 (en) | 1993-04-08 | 2001-08-14 | Hitachi, Ltd | Flash memory control method and apparatus processing system therewith |
EP0619541A3 (en) * | 1993-04-08 | 1995-03-01 | Hitachi Ltd | Flash memory control method and information processing system using it. |
US5530673A (en) * | 1993-04-08 | 1996-06-25 | Hitachi, Ltd. | Flash memory control method and information processing system therewith |
JPH06314496A (ja) * | 1993-04-30 | 1994-11-08 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH09502824A (ja) * | 1993-05-28 | 1997-03-18 | マクロニクス インターナショナル カンパニイ リミテッド | 過消去保護用ブロック消去フラグを有するフラッシュeprom |
JPH0773690A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-03-17 | Sharp Corp | Eepromを使用した記録装置 |
JPH07160590A (ja) * | 1993-12-07 | 1995-06-23 | Sansei Denshi Japan Kk | 記憶データアクセス方法とその装置 |
JPH07271664A (ja) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録再生装置 |
JPH0887876A (ja) * | 1994-07-25 | 1996-04-02 | Samsung Electron Co Ltd | Nand形フラッシュメモリicカード |
JPH11512544A (ja) * | 1995-09-13 | 1999-10-26 | レクサー・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド | 半導体不揮発性大容量記憶メモリ内の自動摩耗レベリングによるシステム・データ制御の方法およびアーキテクチャ |
JPH0997199A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Canon Inc | フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置 |
JPH0997217A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Canon Inc | フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置 |
JPH10125081A (ja) * | 1996-10-21 | 1998-05-15 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリ |
JPH11110263A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Sony Corp | 記憶装置、データ処理装置及びデータ処理方法 |
US6581132B1 (en) | 1997-12-16 | 2003-06-17 | Tdk Corporation | Flash memory system including a memory manager for managing data |
US6591329B1 (en) | 1997-12-22 | 2003-07-08 | Tdk Corporation | Flash memory system for restoring an internal memory after a reset event |
JP2003501758A (ja) * | 1999-06-04 | 2003-01-14 | ドゥデケム・ダコズ,ザビエール・ギィ・ベルナール | カードメモリ装置 |
JP2001181934A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-07-03 | Truetzschler Gmbh & Co Kg | 紡績機械、特に紡績準備機械を電子的に制御する装置 |
JP2002170389A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-06-14 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置とその動作方法 |
JP2002133877A (ja) * | 2001-09-03 | 2002-05-10 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2002236612A (ja) * | 2002-01-21 | 2002-08-23 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US7120729B2 (en) | 2002-10-28 | 2006-10-10 | Sandisk Corporation | Automated wear leveling in non-volatile storage systems |
US9665478B2 (en) | 2002-12-09 | 2017-05-30 | Innovative Memory Systems, Inc. | Zone boundary adjustments for defects in non-volatile memories |
JP2006509304A (ja) * | 2002-12-09 | 2006-03-16 | サンディスク コーポレイション | 不揮発性メモリにおける欠陥のためのゾーン境界調整 |
JP2004311016A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Samsung Electronics Co Ltd | マルチチップでマルチセクタ消去動作モードを支援する半導体メモリチップ及びマルチチップパッケージ、及びマルチセクタ消去方法 |
JP2003331589A (ja) * | 2003-06-13 | 2003-11-21 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリ装置 |
JP2005196658A (ja) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Buffalo Inc | 外部記憶装置 |
JP2004240993A (ja) * | 2004-04-12 | 2004-08-26 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005100470A (ja) * | 2004-12-28 | 2005-04-14 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005339763A (ja) * | 2005-03-18 | 2005-12-08 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2005339581A (ja) * | 2005-08-08 | 2005-12-08 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP4936086B2 (ja) * | 2006-03-13 | 2012-05-23 | マイクロン テクノロジー, インク. | メモリデバイス分散型制御器システム |
JP2009530758A (ja) * | 2006-03-13 | 2009-08-27 | マイクロン テクノロジー, インク. | メモリデバイス分散型制御器システム |
JP2007250186A (ja) * | 2007-07-09 | 2007-09-27 | Renesas Technology Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP4712769B2 (ja) * | 2007-07-09 | 2011-06-29 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2008108281A (ja) * | 2008-01-10 | 2008-05-08 | Renesas Technology Corp | 半導体ディスク装置 |
US7958411B2 (en) | 2008-04-24 | 2011-06-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system and control method thereof |
US7949910B2 (en) | 2008-04-24 | 2011-05-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system and control method thereof |
JP2009282505A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-12-03 | Canon Inc | 不揮発性メモリの制御装置及び画像形成装置 |
JP2012523624A (ja) * | 2009-04-08 | 2012-10-04 | グーグル インコーポレイテッド | フラッシュメモリデータストレージデバイスにデータを格納するための方法及び装置 |
US9244842B2 (en) | 2009-04-08 | 2016-01-26 | Google Inc. | Data storage device with copy command |
JP2013033507A (ja) * | 2012-10-31 | 2013-02-14 | Fujitsu Ltd | データ制御方法およびシステム |
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3226042B2 (ja) | フラッシュEEpromシステム | |
US6519185B2 (en) | Flash EEprom system | |
US5535328A (en) | Non-volatile memory system card with flash erasable sectors of EEprom cells including a mechanism for substituting defective cells | |
US6462992B2 (en) | Flash EEprom system | |
JP3944326B2 (ja) | フラッシュEEpromシステム | |
JP4090071B2 (ja) | フラッシュEEpromシステム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831 Year of fee payment: 9 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831 Year of fee payment: 9 |