JPH02292798A - フラッシュEEpromシステム - Google Patents

フラッシュEEpromシステム

Info

Publication number
JPH02292798A
JPH02292798A JP2099114A JP9911490A JPH02292798A JP H02292798 A JPH02292798 A JP H02292798A JP 2099114 A JP2099114 A JP 2099114A JP 9911490 A JP9911490 A JP 9911490A JP H02292798 A JPH02292798 A JP H02292798A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
flash eeprom
data
cells
cache memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2099114A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3226042B2 (ja
Inventor
Eliyahou Harari
ハラリ エリヤホウ
Robert D Norman
ロバート ディー.ノーマン
Sanjay Mehrotra
メーロトラ サンジェイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SanDisk Corp
Original Assignee
SanDisk Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=23321048&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH02292798(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by SanDisk Corp filed Critical SanDisk Corp
Publication of JPH02292798A publication Critical patent/JPH02292798A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3226042B2 publication Critical patent/JP3226042B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
    • G11C29/26Accessing multiple arrays
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0238Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
    • G06F12/0246Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/0802Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/0802Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
    • G06F12/0804Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches with main memory updating
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/0802Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
    • G06F12/0866Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches for peripheral storage systems, e.g. disk cache
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/0802Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
    • G06F12/0875Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches with dedicated cache, e.g. instruction or stack
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/12Replacement control
    • G06F12/121Replacement control using replacement algorithms
    • G06F12/123Replacement control using replacement algorithms with age lists, e.g. queue, most recently used [MRU] list or least recently used [LRU] list
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/0614Improving the reliability of storage systems
    • G06F3/0616Improving the reliability of storage systems in relation to life time, e.g. increasing Mean Time Between Failures [MTBF]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0638Organizing or formatting or addressing of data
    • G06F3/064Management of blocks
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0646Horizontal data movement in storage systems, i.e. moving data in between storage devices or systems
    • G06F3/0652Erasing, e.g. deleting, data cleaning, moving of data to a wastebasket
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0673Single storage device
    • G06F3/0679Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0673Single storage device
    • G06F3/068Hybrid storage device
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0683Plurality of storage devices
    • G06F3/0688Non-volatile semiconductor memory arrays
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • G11C11/5628Programming or writing circuits; Data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • G11C11/5628Programming or writing circuits; Data input circuits
    • G11C11/5635Erasing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/14Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
    • G11C16/16Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits for erasing blocks, e.g. arrays, words, groups
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • G11C16/344Arrangements for verifying correct erasure or for detecting overerased cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • G11C16/344Arrangements for verifying correct erasure or for detecting overerased cells
    • G11C16/3445Circuits or methods to verify correct erasure of nonvolatile memory cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • G11C16/3454Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • G11C16/3454Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
    • G11C16/3459Circuits or methods to verify correct programming of nonvolatile memory cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/52Protection of memory contents; Detection of errors in memory contents
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/76Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
    • G11C29/765Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications in solid state disks
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/80Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
    • G11C29/816Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout for an application-specific layout
    • G11C29/82Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout for an application-specific layout for EEPROMs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1039Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using pipelining techniques, i.e. using latches between functional memory parts, e.g. row/column decoders, I/O buffers, sense amplifiers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/12Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1068Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/20Employing a main memory using a specific memory technology
    • G06F2212/202Non-volatile memory
    • G06F2212/2022Flash memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/31Providing disk cache in a specific location of a storage system
    • G06F2212/312In storage controller
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7201Logical to physical mapping or translation of blocks or pages
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7203Temporary buffering, e.g. using volatile buffer or dedicated buffer blocks
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7205Cleaning, compaction, garbage collection, erase control
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7207Details relating to flash memory management management of metadata or control data
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7208Multiple device management, e.g. distributing data over multiple flash devices
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0662Virtualisation aspects
    • G06F3/0664Virtualisation aspects at device level, e.g. emulation of a storage device or system
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2211/00Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C2211/56Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
    • G11C2211/562Multilevel memory programming aspects
    • G11C2211/5621Multilevel programming verification
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2211/00Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C2211/56Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
    • G11C2211/563Multilevel memory reading aspects
    • G11C2211/5634Reference cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2211/00Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C2211/56Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
    • G11C2211/564Miscellaneous aspects
    • G11C2211/5643Multilevel memory comprising cache storage devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2216/00Indexing scheme relating to G11C16/00 and subgroups, for features not directly covered by these groups
    • G11C2216/12Reading and writing aspects of erasable programmable read-only memories
    • G11C2216/18Flash erasure of all the cells in an array, sector or block simultaneously
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
    • G11C29/30Accessing single arrays
    • G11C29/34Accessing multiple bits simultaneously

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
  • Non-Volatile Memory (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は一般的には半導体の電気的に消去可能なプログ
ラムリードオンリーメモリ (EEprom)+  さ
らに詳しくいえばフラッシュEEp r omチップ回
路を集積したシステムに関する。
(従来の技術) コンピュータシステムは典型的には大量のデータが蓄積
のために磁気ディスクを使用する。
しかしながら,ディスクドライブはそれらが大型である
こと,およびそれらが高度に精密な機械的な駆動機構を
必要とする点において欠点を持っている。
したがって,それらは頑丈なものではなく,信頼性につ
いて問題があるばかりでなく,かなりの電力を消費する
固体記憶装置であるDRAMとSRAMはこれらの欠点
を持ち合わせていない。しかしながら,それらばかなり
高価なものであり,それらの記憶(揮発性)を維持する
ためには定常的に電力を必要とし,かつ高価である。
EEpromとフラッシュEEpromは同様に固体記
憶装置である。しかしながら,不揮発性であり.そして
電力が落とされた後でも.その記憶を維持している。し
かしながら.通常のフラッシュEEpromは,それら
が耐えられる書込み(またはプログラム)/消去回数の
数において有限の寿命をもっている。典型的にはそれら
の装置は102から10’の書込み/消去回数を過ぎる
と信頼できなくなる。
そこで従来そのような素子,それらは半永久的なデータ
とかプログラムの蓄積が要求される場合であって.再プ
ログラムの必要性にある種の制限があってもいい場合に
おいて利用されている。
(発明の目的) したがって.本発明の一つの目的はかなりの数の書込み
/消去回数に耐えて信頼性を維持することができる機能
を拡張したフラッシュEEp r om記憶システムを
提供することである。
さらに他の目的はコンピュータシステムにあける不揮発
性メモリとして使用することができる改良されたフラッ
シュEEpromシステムを提供することである。
本発明のさらに他の目的は,コンピュータシステムの磁
気ディスク装置の代わりに使用することができる改良さ
れたフラッシュEEpromシステムを提供することで
ある。
本発明のさらに他の目的は,消去動作において改良を施
されたフラッシュEEpromシステムを提供すること
にある。
本発明のさらに他の目的は,改良された誤り修正を行な
うことができるフラッシュEEpromシステムを提供
することにある。
本発明のさらに他の目的は,書込み動作を改良すること
によりフラッシュEEpromシステムに対するストレ
スを最小にすることができるフラツシ:LEEprom
を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は書込み動作において向上させ
たフラッシュEEpromシステムを提供することにあ
る。
(発明の要約) これらの目的はEEpromチップのシステムの構造や
回路や技術における改良によって達成される。
本発明の一つの特徴はチップ上のEEpromセルのア
レイがセクタに構成され,そしてその各々のセルに含ま
れる全てのセルが同時に消去されることである。フラッ
シュEEp rom記憶システムは,コントローラの制
御下にある1またはそれ以上のフラッシュEE p r
 omチップを持っている。本発明においては,チップ
間のセクタの任意の組合せを選択し,それらを同時に消
去することを許容している。
これにより,本発明によるシステムは従来のすべてのセ
クタが毎回消されるか.または一つのセクタが一時に消
される従来の構成に比べて,より早くかつ効果的になっ
ている。
本発明においては.セクタの消去のための任意の組合せ
,または,消去動作において.さらに消去されることを
阻止するために,選ばれないとい・う任意の組合せを可
能にしている。
この特徴は最初に正確に“消去”の状態にされたセクタ
を余分に消去することを停止することにおいて重要であ
り,これによりフラッシュEEpromシステムに不必
要なストレスを与えることを防止している。
本発明においては,全システムにおける全てのセクタを
全体として選ばないことを許容することにより,消去の
ために全てのセクタが選ばれないという状態を可能にし
ている。
この全体的なリセットは,このシステムをその当初の消
去のために選ばれるべきセクタを選択する状態に早急に
戻すということである。
本発明のさらに他の特徴は特定のチップを書込み,読み
または書込みの動作に選択するチップセレクト信号と独
立して選択が行なわれることである。
したがって.EEpromチップのあるチップを他の読
み.または書込み動作が行なわれている他のチップに含
まれないものを消去のために選択できるということであ
る。
本発明の他の特徴によれば,欠陥のあるフラッシュEE
 p r om記憶素子から発生する誤りを訂正するた
めに使用する改良された誤り訂正回路または,技術が使
用されることである。
本発明の一つの特徴はセルのレベルにおいて,欠陥セル
のマッピングを許容することであり,それによって同じ
セクタのセルで欠陥のセルを置き換えることを可能にし
ている。欠陥セルを置き換えられたセルのアドレスに接
続するための欠陥ポインタは欠陥マップに貯蔵されてい
る。欠陥のあるセルはアクセスされるたびごとに.その
悪いデータは,代替のセルの良いデータに置き換えられ
る。
本発明のさらに他の特徴はセクタレベルにおいて欠陥マ
ッピングを許容することである。
一つのセクタにふける欠陥セルの数がある一定の数を越
えたときにその欠陥セルを含むセクタは他のセクタによ
って代替えされる。
本発明の重要な特徴は.欠陥のあるセルや欠陥のあるセ
クタが発見されると,直ちにリマップされることである
。これにより,誤差修正コードを適当に修正することに
より,そのシステムで持ち上がってくるであろう誤差を
最小にすることができる。
本発明のさらに他の特徴によれば,書込みキャッシュを
設けることにより,フラッシュEEpromへの書込み
の回数を最小にすることができることである。
これ1こより,このフラッシュEEpromメモリは書
込み/消去回数によって発生させられる.より少ないス
トレスに従属させることにより,その老朽化を防止する
ことである。最もアクティブなデータファイルは.フラ
ッシュEEpromメモリの代わりにキャッシュメモリ
に書込まれる。
活動のレベルが予め定められたレベルに減少されたとき
は.データファイルがキャッシュメモリからフラッシュ
EEpromメモリに書込まれる。
本発明の他の利点はより早いキャッシュメモリを使用す
ることによって増大させられる。
本発明のさらに他の特徴によれば,コンピュータシステ
ムメモリとして長い間,不揮発性貯蔵のためにコントロ
ーラとEEprom回路チップを持つプリント回路基板
が提供されるが.ハードディスクシステムの代わりに提
供されることである。
そしてそのプリント回路カードは本発明の他のいろいろ
な特徴を単独で.または組合せて盛り込むことができる
さらに他の目的とか,特徴とか本発明の利点は,本発明
の好適な実施例の記述にしたがって,理解されるであろ
う。そしてその記述は,添付図面等に関連して行なわれ
ている。
(実施例) EEpromシステムの公的な具体例の記述本発明の種
々の特徴が盛り込まれているコンピュータシステムが一
般的に第IA図に示されている。典型的なコンビュータ
システムはバスライン23に接続されているマイクロプ
ロセサ21,それにより主システムメモリ25にランダ
ムアクセスすることができ,そして少なくとも1または
2以上の入出力装置27,例えばキーボード,モニタ.
モデム等々が設けられている。典型的なコンピュータシ
ステムバス23に接続されている他の主たるコンピュー
タの要素は大量の長期間使用可能な不揮発性メモリ29
である。
典型的にそのようなメモリは10メガバイトのデータ蓄
積能力をもつディスク駆動システムである。
データは,システムの中の揮発性メモリ25の中に容易
に引き出されて利用され,容易に補充されたり,または
変えられたり,変更されたりする。
本発明の一つの側面は.前記のようなディスクドライブ
のシステムをある半導体メモリに変えることであるが,
その際に不揮発性とか,メモリを消去するとか再書込み
の容易性とか,アクセスの速度とか,コストとか信頼性
を犠牲にしないことである。これは電気的に消去可能で
あり,プログラムできるリードオンリーメモリ (EE
prom)の半導体回路チップを用いることによって,
完成される。
この形式のメモリはハードディスクで磁気的なメモリ媒
体を駆動するものに比較して.動作電力が少ないとか,
非常に軽いという付加的な利点を備えるものであり.こ
れにより電池で動作させられる可搬型のコンビ二ータに
適しているということができる。
全体の記憶装置29はコンピュータのシステムバス23
に接続されているメモリコントローラ31とEEpro
mの集積回路チップのアレイ33から構成されている。
データと命令はコントローラ31からシリアルデータ線
35を介して一義的にEE p r amアレイ33に
通信される。
同様にして,データとステータス信号は.EEprom
33からコントローラ30にシリアルデータ線37を介
して通信される。
その他の制御とかステータス回路,第IA図にはコント
ローラ31とEEp r omアレイ33間のその他の
制御とかステータス回路は示されていない。
第IB図を参照するとコントローラ31は.好ましくは
一つの集積回路チップ上に形成されている。システムバ
ス23の一部であるシステムアドレスとデータバス39
はシステム制御線41に接続されており,そのシステム
制御線41は読込み,書込みと,その他通常のコンピュ
ータシステム制御線を含んでいる。
EEpromアレイ33はEEp r omの集積回路
チップ43.45.47等々を複数個含んでいる。それ
ぞれはインタフェース回路40からのそれぞれのチップ
セレクトおよびイネーブル線49.51.53を含んで
いる。
インタフェース回路40は,さらに回路57とシリアル
データ線35.37とのインタフェースとして働<.E
Epromチップ43.45.47に書込まれるか,ま
たは読出されるメモリの位置アドレスとデータはバス5
5,論理およびレジスタ回路57,さらに他のバス59
を通してメモリチップ43.45.47等々に伝達され
る。
第IA図と第IB図に示されている全体のメモリ29は
1枚のプリント回路カード・に適当なメモリの大きさで
製造されている。第IB図の種々のシステムバス39と
41は他のコンビュータシステムとともに,そのような
カードのコネクト接続ピンに接続されている。さらに前
記カードやその要素には種々の標準的な電力供給電圧(
図示せず)が接続されている。
大量のメモリのためには,一つのアレイ33に形成され
ているものでは十分でない場合があり得る。そのような
場合には,制御チップ31のシリアルデータ線35.3
7に付加的なEEpromアレイを接続することができ
る。
このことは好ましくは一つのプリント回路カードによっ
て行なわれることが望ましいのであるが,それをするた
めに十分なスペースのない場合には,1またはそれ以上
のEEpromアレイを第2のプリント回路カードの上
に形成し,そしてそれを物理的に第1のものの上に設け
るか,設けてそれを共通のコントローラチップ31に接
続することによって行なうことができる。
メモリ構造の消去 蓄積されるデータがファイルまたはブロックとして行な
われるシステムデザインにおいては,そのデータは定期
的に改定されたり,または新しい情報が挿入される必要
がある。
そして,もはや不必要となった情報の上に,さらに書込
みを行なうことにより,追加の情報を収容することが望
まれる場合がある。フラッシュEEpromメモリにお
いてはメモリセルは,まず初めに情報を蓄積する前に消
される必要がある。すなわち.このことは書込み(また
はプログラム)の操作の前に常に消去の動作が先行され
るということである。
通常のフラッシュ消去メモリ装置においては,消去の動
作はいくつかの方法があり,その一つより行なわれる。
例えば,インテル コーボレイションの2 7F−2 
5 6,CMOSはフラッシュEEpromにおいては
,全体のチップが一時に消去される。
もし,チップの中の情報の全てが消去されるべきではな
いときには,まず初めに一時的にその情報が救済されな
くてはならない。そしてそれは,他のメモリ (典型的
にはRAM)に書込まれる。
そしてその情報はその装置に再度プログラムすることに
よって,不揮発性のフラッシュ消去メモリの中に回復さ
れる。
これは時間を要することであり,費用もかかり,作業空
間も必要である。
他の装置,例えばシーク テクノロジー インコーポレ
イテッドのモデル48512フラッシュEE p r 
amチップにおいては,メモリはブロック(またはセク
タ)に分割されており,それらは別々に分離して消去可
能である。しかしながら.毎回一つずつ行なわなければ
ならない。希望するセクタの選択により.消去の段階に
入り,指定された領域が消去される。
一時的な記憶装置の必要はなくなるのであるが,種々の
メモリ領域の消去は依然として時間がかかる逐次作業を
必要とする。
本発明においては,フラッシュEEp romメモリは
いくつかのセクタに分割され,そこにおいてそのセクタ
に含まれるセルは同時に消去することができる。各々の
セクタは,別々にアドレスされ,そして選択的に消去さ
れる。最も重要な特徴は一緒に消去すべきいくつかのセ
クタの組合せを選択できることである。これにより,各
々を独立して消去するという従来の技術に見られるもの
に比較してより早い消去システムを提供することができ
るのである。
第2図は,消去のために選ばれたいくつかのセクタを略
図している。一つのフラッシュEEpromシステムは
,例えば.201,203.205のように1またはそ
れ以上のフラッシュEEpromチップを含んでいる。
それらは線209を介してコントローラ31と通信して
いる。典型的にはコントローラ31それ自身は図示され
ていないマイクロプロセサシステムと通信している。
各フラッシュEEp ramチップの中のメモリはセク
タに分離されており,その一つのセクタの中の全ての記
憶セルは同時に消去できる。使用者に利用可能なものと
して.例えば各々のセクタが512バイト(すなわち5
 1 2X8セル)があり,一つのチップは1024セ
クタを持っている。各セクタは独立してアドレス可能に
分割されており,そして例えばセクタに211,213
,215,217というように複数のセクタが消去可能
に選択される。
第2図に図示されているように,選択されたセクタは一
つのEEp r omチップに限られるか,またはシス
テム中のいくつかのチップ内に分散させられることがで
きる。選ばれたセクタは同時に消去されるであろう。こ
の能力は,この発明によるメモリシステムに従来の構造
のものよりも,より早い操作を許容するものである。
第3A図は.フラッシュEEprom(例えば第2図の
チップ201など)で、1または,それ以上のセクタが
消去のために選択または選択されなかった状態を示すブ
ロックダイヤグラムである。
実際上は各セクタ,例えば211.または213が各セ
クタに関連して設けられている,例えば211,213
のような消去可能レジスタの状態の設定または,設定に
よるタグをつけるとか選択されるかによって,各々のセ
クタ221.223が選ばれている。
選択と引き続く消去動作は,コントローラ31 (第2
図参照)のコントロールの下に行なわれる。
回路220はコントローラ31と複数の線209によっ
て通信させられている。コントロールからのコマンド情
報は直列インタフェース227を介してコマンドレジス
タ225によって,回路220内で捕捉される。そして
それは,コマンドデコーダ229によってデコードされ
,コマンドデコーダ229は種々の制御信号を出力する
。同様にアドレス情報はアドレスレジスタ231によっ
て補足され,そしてアドレスデコーダ233によってデ
コーダされる。
一例としてセクタ211を消去のために選択するために
は,前記コントローラはセクタ211のアドレスを回路
220に送る。このアドレスは,線235の中にデコー
ドされ,そしてそれは,レジスタ221の出力239を
ハイ (HIGH)にセットするためにイネーブルバス
237の消去イネーブル信号と共同して組み合わせて用
いられる。
これにより,セクタ211は引き続く消去動作が可能に
なる。同様にしてもしセクタ213も同様に消去される
べきであると要求されているときは,レジスタ223の
その関連するレジスタ23もハイにセットされるであろ
う。
第3B図は,レジスタ221または223の構造をより
詳細に示してある。消去イネーブルレジスタ221はセ
ットリセットラッチである。そのセット人力端子241
はアドレスデコード線235によってゲートされたバス
237の消去イネーブル信号セットから得られる。同様
にして,リセット人力243は線235中のアドレスデ
コードによってゲートされるバス237中の消去イネー
ブル信号をクリアするものから得られる。
このようにして消去イネーブル信号または消去イネーブ
ル信号をクリアする信号がすべてのセクタに発生させら
れたときにアドレスされたセクタのみにその信号が有効
となる。
全ての消去されるべきセクタが選択された後にコントロ
ーラは回路220.同様に全てのグローバル消去コマン
ドが251によって現れているときに線209に沿って
消去のための高電圧が発生させられる。
かくしてその装置は,全ての選択されたセクタ(例えば
セクタ211と213)が同時に消されるでろう。チッ
プ内の希望するセクタが消去されることに加えて本発明
による構造では,同時消去のために異なる種類のチップ
上のセクタの選択を許容している。
第4図の(1)〜(6)は,第3A図の回路220に関
連して用いられるアルゴリズムを図示している。
第4図の(1)でコントローラは回路220の中でデコ
ードされた消去されるべきセクタに関連させられている
消去イネーブルレジスタにアドレスをシフトさせる。第
4図の(2)においてコントローラはアドレスされたセ
クタの消去イネーブルレジスタヘアドレスデコードされ
た信号をラッチするために用いられる消去イネーブルコ
マンドをセットするためにデコードする。このタグはそ
のセクタの引き続く消去のためである。第4図の(3)
において,もしそれ以上のより多くのセクタがタグが付
されるべきであるときには消去されるべき全てのセクタ
にタグが付加されるまで第4図の(1)から第4図の(
2)に示されている関連して記述されている操作を繰り
返す。消去されるべき全てのセクタにタグが付された後
にコントローラは第4図の(4)に示されている消去の
サイクルを開始させる。
最適化された消去の構成は同時継続中の米国特許出願に
開示されている。それらは同時出願継続中の米国特許出
願.出願番号Nα204.175.エリャホウ ハラリ
博士によって1988年6月8日に出願されたものと本
出願と同時に,サンジャイ メハロトラとハラリ博士に
よって出願された“多状態EEprom読み書き回路お
よびその技術”に示されているものである。フラッシュ
EEpromセルは消去パルスを印加することによって
消去され.引続く読みによりそのセルが消去されて消去
状態にあるかどうかということが検証される。もしそう
でなかったらそのセルが消された状態にあると検証され
るまでパルスの印加と検証が繰り返される。
この制御された方法によって消去することによりセルは
EEpromを老化させるかまたはプログラムを困難に
するであろう過剰消去にさらされないようにする。
選ばれたセクタのグループが消去サイクルにあるときに
他のものはより早く消去された状態に達することがある
であろう。本発明の他の重要な特徴は選択されたグルー
プの中から消去されたと検証されたセクタを除去する能
力であり,これにより過剰消去を防いでいる。
第4図の(4)に戻って,全ての消去されるべきセクタ
にタグが付されるとコントローラはタグが付されたセク
タのグループの消去サイクルを開始する。第4図の(5
),消去が行なわれるべきであるタグEEpromチッ
プの中にグローバル消去イネーブルと呼ばれるグローバ
ルコマンドをシフトさせる。これは第4図の(5)にお
いてコントローラが一定の持続する期間,一定の値だけ
消去電圧(■E)を上げるということになる。コントロ
ーラはこの電圧を消去期間経過の終わりに低下させる。
第4図の(6)においてコントローラは消去のために選
ばれたセクタの読み出し検証を実行する。第4図の(7
)においてセクタのいずれもが検証されない場合には第
4図の(5)から(7)に図示されているシーケンスが
繰り返される。第4図の(8)から第4図の(9)にお
いて,もし1または2以上のセクタが消去されたと検証
されたときは,それらはそのシーケンスから取り出され
る。同様に第3図Aを参照するとこのことは各検証され
たセクタに対応するコントローラのアドレスをバス23
7の中の消去コマンドをクリアすることによって,消去
可能なレジスタを低電圧にする。第4図の(5)からσ
ロに示されているシーケンスは第4図の00に示されて
いるようにそのグループが消去されたと検証されるまで
繰り返される。
その消去サイクルの完了によってコントローラは不動作
状態(NOP)命令に移行し、そして,グローバル消去
可能コマンドは引き上げられて誤った消去から保護され
る。
どのセクタを消去すべきであるか,消去すべきでないか
を選択する能力は,どの消去を止めることが有効である
かと同様に有効である。これにより遅く消去されるセク
タより前に消去が完了されたものが消去のシーケンスか
ら分離されてその装置により以上のストレスを与えるこ
とから保護することができる。
このことにより,システムの信頼性を向上させることが
できるであろう。もし,セクタが良くないものであると
き,あるいはある理由によって使用できないときそのセ
クタをとばし,そのセクタにおいて消去が起こらないよ
うにすることに利点がある。
例えばもしあるセクタが欠陥をもっていて回路の短絡が
あったならば,それはより多くの電力を消去するであろ
う。本発明によっては消去サイクルをとばすことにより
,そのチップの中で消去に必要とする電力を減少させる
ことができるという有意義なシステムの利点を得ること
ができる。
その装置の中で消去されるべきセクタを選びだす能力を
持つことはそのシステムの電力消費を少な《するという
他の配慮に繋がる。
本発明における消去構造の弾力性により,そのシステム
の電力の能力にしたがって,消去の要求を採用すること
ができる。これは,このシステムをソフトウェアによっ
て,異なった消去の状態を与えるか,または他のシステ
ムとの間の基本的な構造によって与えるかによって成し
遂げられるであろう。それは例えばラップトップコンピ
ュータのようなシステムで電圧のレベルを監視すること
によって消去の量を変化するようにコントローラにさせ
ることもできるだろう。
本発明におけるシステムのさらに他の動作上の能力は,
より以上の消去サイクルを防ぐために全ての消去イネー
ブルラッチをクリアするというコマンドをリセットする
ことができることである。
これは第2A図および第2B図に線261のリセット信
号によって図示されている。
全てのチップに不変的にこの作業を行なうことによって
全ての消去イネーブルレジスタをリセットする時間を短
くすることができるであろう。
その他の付加的な能力はチップセレクトに無関係に消去
動作をする能力をもつことである。あるメモリチップに
おいて消去動作が開始されるとコントローラは他のメモ
リチップにアクセスしてそれらの読み.書きの動作をさ
せることができる。
加得るに消去装置の消去を行なっているということが選
択され,そして次の消去のためのコマンドのアドレスを
蓄積することもできる。
欠陥のマッピング メモリ装置における物理的な欠陥は困難な誤動作を巻き
起こす。データは,欠陥のあるセルに蓄積される度に破
壊されてしまう。
通常のメモリ装置,例えばラムやディスクにおいてはそ
のような物理的な欠陥はそのような製造の過程において
招来する物理的な欠陥は工場において修正されている。
ラムにおいては,余分の冗長メモリセルがチップに設け
られていて,それが欠陥セルの代わりに接続される。従
来のディスクドライブ装置において媒体が不完全である
ときには,欠陥の問題となりやすかった。これらの問題
を解決するために製造業者は存在するこれらの欠陥につ
いてのいろいろな方法を案出しており,そしてもっとも
通常用いられるものはセクタの欠陥のマッピングである
通常のディスクシステムにおいては,媒体はシリンダと
セクタに分割されている。セクタはデータが蓄積される
基礎的な単位である。システムに右いて,種々のセクタ
に分けられ,悪いものであると印をつけられたものは,
そのシステムにおいては使用されないようにする。これ
は,種々の方法によって実現されている。欠陥マップの
テーブルが使用されるディスクの特定の位置に設けられ
ており.インタフェースコントローラを介して利用され
る。加得るに,欠陥のある悪いセクタは物理的に特殊な
IDが施されて,IDとフラッグマーカーが付されてい
る。
欠陥のあるものがアドレスされたときは.そのデータは
通常は他の代替位置に配置されている。この代わりのセ
クタの要請のために,余分なセクタがある間隔で.また
はある位置離れて設けられている。これは,メモリの容
量を減少させるものであり,どのように代わりのセクタ
を設けられているかという問題を提供している。
本発明の一つの重要な応用は,フラッシュEEprom
チップのアレイによって実現されるシステムによって,
通常のディスク記憶装置を置き換えることである。この
EEpromシステムは通常のディスクと同等,または
それ以上であることが好ましく,そうであれば固体素子
のディスクとみなして取り扱うことができる。
そのような固体メモリ装置により作られた“ディスク”
システムにおいては,欠陥を効率的に処理するために.
低価格でそれが成し遂げられるという配慮が必要となる
。本発明の他の重要な特徴は,より多くのメモリを可能
な限り保存することができるように誤差修正を可能にす
ることである。
現実問題としてそれはセルごとに欠陥セルが捜し出され
ることにより全体のセクタ,例えば(典型的には512
バイト)において,欠陥が起こる度に捨ててしまうこと
をなくすことである。この提案は特にフラッシュEEp
rom媒体に適している。
なぜならば,大多数のエラーはビットエラーとして起こ
り,通常のディスク媒体において典型的にみられる長く
続く近接する欠陥ではないことによる。
ラムと磁気ディスクの両方の先行技術にあいては,一度
その装置が工場から出荷されるとそこでは.通常の動作
の後に現れる物理的欠陥から生ずるハードエラーを置き
換えるための手段は.ほとんどか全くないことである。
そのために,欠陥の修正は主として誤差修正コード(E
CC)を用いることに依存して行なわれている。
フラッシュEEprom装置の性質上.書込み/消去の
回数が増加するにしたがって,セルの欠陥が次第に増加
することが予想できる。
このようなハードの誤差が次第に蓄積されていってEE
Cに打ち勝って,そしてその装置を使用不能なものにし
てしまうのである。
本発明の一つの重要な特徴は.そのシステムのハードエ
ラーが発生するごとに,そのシステムのハードエラーを
修正するという能力をもっていることである。
また,読出し操作の期間においても,欠陥セルは発見さ
れ,そしてFCCに位置させられる。
欠陥のセルが特定されると直ちにコントローラはその欠
陥セルを通常はそれと同じセクタに存在する空きセルに
よって置き換えるための欠陥マッピングを供給するであ
ろう。この動的なハードエラーの修正は,通常のエラー
修正スキームに加えて装置の寿命を有効に引き延ばすこ
とができる。
本発明の他の特徴は,エラー修正へのアプローチに適し
ていることである。エラー修正コード(ECC)は常時
ソフトエラーを修正するとともに,発生するであろうハ
ードエラーの修正に利用される。ハードエラーが検出さ
れるや否や,欠陥マッピングはその欠陥セルをその同じ
セクタブロックに存在する予備のセルと置き換えるため
に使用される。欠陥セルの数がその特定のセクタのため
の欠陥マッピングの能力を越えた場合においてのみ,そ
の全体のセクタは,通常のディスクシステムに置き換え
られる。この計画により,信用性を損なうことなく最小
の損失で食い止めることができる。
第5図は,セルをリマッピングする計画のメモリ構造を
図示したものである。前述したように,このフラッシュ
EEp r omメモリはセクタに分けられており,各
セクタに属するセルは同時に消去可能である。典型的な
セクタ401のメモリ構造はデータ部分403と補助の
(または影の)部分405に組織されている。データ部
分403はユーザーによって使用可能なメモリ空間であ
る。
予備の部分405はさらに欠陥データの代替部分領域4
07,欠陥マッピング領域409,ヘッダ領域411.
およびECCと他の領域413に組織されている。これ
らの領域はコントローラが欠陥領域とか他の上位の情報
,例えばヘッダとかECCを操作する場合に利用するこ
とができる。
セクタの中で,一つの欠陥セルが発見される度に欠陥デ
ータ領域の代替部407の中の一つの良品のセルが欠陥
セルと指定されたデータをバックアップするために割当
てられる。かくして,もし仮に,欠陥セルにデータが誤
って貯蔵されたとしてもバックアップセルの中には誤差
のないコピーが蓄積される。欠陥セルとバックアップセ
ルのアドレスは欠陥マップ409の中の欠陥ポインタに
記録される。
ユーザーデータ領域403と余分なスペース部分405
0間は厳格に区別される必要がないというように理解さ
れたい。各々に割当られた領域の相対的な大きさは論理
的に再割当することができる。さらにまた,種々の領域
のグループ分けは,主として議論のために必要であって
,物理的に必要なものではない。例えば欠陥データ領域
の代替部407は,予備の領域45の中にそれが専有す
る領域はユーザーは利用できないものであることを示す
だけのものである。
読みの動作においてコント口・−ラは!初にヘッダ,欠
陥マップ,それから代替欠陥データ部分を読む。それか
ら現実のデータを読む。
それは欠陥マップによって欠陥セルのトラックと代替デ
ータの位置を保っている。欠陥セルに遭遇するために,
コントローラはその悪いデータを欠陥代替セルの良いデ
ータで代用する。
第6図は,好ましい実施例のリードデータバスコントロ
ールを図示している。メモリ装置33はコントローラ3
1の支配下にある複数のフラッシュEEpromチップ
を含んでいる。
コントローラ31それ自体は,マイクロプロセサ(図示
せず)の制御下にあるマイクロプロセサシステムの一部
を形成している。
セクタの読みを開始するにあたり,マイクロプロセサは
コントローラ中のアドレス発生器503に読み操作を開
始するためのアドレスをロードする。
この情報は.マイクロプロセサのインタフェースポート
505を介してロードされる。
それから,マイクロプロセサはDMAコントローラ50
7にバッファメモリまたはデータリードが送られるべき
アドレスバスのスタート位置をロードする。それからマ
イクロプロセサはヘッダの情報(ヘッド,シリンダ.セ
クタ)をホールディングレジスタファイル509にロー
ドする。最終的にマイクロプロセサはコマンドシーケン
サ511にコントローラ31へのバッシングコントロー
ルの前にリードコマンドをロードする。
コントロールを開始した後に,コントローラ31はまず
初めにセクタのヘッダにアドレスし,そしてユーザーが
指定したアドレスの位置でメモリがアクセスされたこと
を検証する。
これは次のシーケンスによって実現される。コントロー
ラはメモリ装置33の中の一つのメモリチップ(チップ
セレクト)を選択し.そしてヘッダ領域のアドレスをア
ドレス発生器−503の出力からメモリ装置33の選択
されたメモリヘシフトする。
コントローラはマルチプレクサ513をスイッチし,そ
してメモリ装置33にリードコマンド出力をシフトする
それからメモリ装置は送られたアドレスを読み,そして
コントローラにアドレスされたセクタからの直列データ
の送信を開始する(送り戻しを開始する)。
コントローラ中のレシーバ515はこのデータを受け,
そしてそれを並列のフォーマットにする。
一つの実施形態においては,1バイト(8ビット)が一
度にコンパイルされ.マイクロプロセサによってホール
ディングレジスタファイル509に予め記憶されたヘッ
ダ情報と受信したデータとを比較する。もし,その比較
の結果が正しければ,正しい情報,正しい位置がベリフ
ァイ (検証)されて動作は継続する。
次にコントローラ31は欠陥ポインタを読み,これらの
悪いアドレスの位置をホールディングレジスタファイル
509にロードする。
これにコントローラの欠陥データの読み取りが続き,そ
の欠陥データの代替は,それが書込まれたときに,その
誤ったビットを置き換えるために.書込まれているもの
であった。
代替ビットは,欠陥データの代替ファイル517の中に
蓄積されており、それはデータピット,そのデータピッ
トが読まれたときに.アクセスされるであろう。
ヘッダがマッチしており.そして欠陥ポインタと代替ビ
ットのロードが完了すると.コントローラは読まれるべ
き希望するセクタの最低のアドレスのシフトアウトを開
始する。
メモリ装置33の中のセクタからのデータはコントロー
ラチップ31に移送される。受信機515はそのデータ
を並列形式に変換し,各バイトを一時的なホールダであ
るPIFO519ヘコントローラから送り出されるべく
移送する。
パイプライン構造が受信機515から,FIF0519
ヘコントローラを開始してデータがゲートされるときの
有効な処理能力を提供するために用いられる。
各々のデータピットがメモリから受信されたときに.コ
ントローラは送られるべきデータのアドレス(アドレス
発生器507に蓄積された)を欠陥ポインタマップ(レ
ジスタファイル509に蓄積された)と比較を続ける。
もし,比較器521の出力のマッチにより,そのアドレ
スが悪い位置にあると決定されると,受信器515によ
り受信されたメモリからの悪いビットは,その位置の良
いビットと置き換えられる。良いビットは欠陥データ代
替ファイルから得られる。これは受信機515からの悪
いビットの代わりに,欠陥データ代替ファイルからの良
いビットを受信するようにマルチブレクサ523をスイ
ッチングすることによってなされる。
FIFOO中に修正されたデータがあるときに,それは
バッファメモリまたはシステムメモリ (図示せず)へ
送られるべき状態にある。
そのデータはコントローラのPIF0519からコント
ローラのDMAコントローラ507によってシステムメ
モリへ送られる。
このコントローラ507はそれからリクエストしてシス
テムバスへのアクセスを得、そして一つのアドレスを出
し.そしてデータを出力インタフェース255経由でゲ
ートしてシステムバスヘ出す。
これは各バイトがFIFO519ヘロードすることによ
ってなされる。
修正されたデータがFIFOにロードされると,それは
またECCハードウエア527にもゲートされ,そこで
データファイルはECCによって処理される。
このように前述した方法により,メモリ装置33から読
まれたデータはコントローラ31を介して前記システム
に送り出されるべくゲートされる。
このプロセスはアドレスされたデータの最後のビットが
移送されるまで続く。
前もって検出された欠陥セルの欠陥マッピングにもかか
わらず,最後のマッピング移行に新しいハードの誤りが
発生するかもしれない。ダイナミック欠陥マッピングが
恒久的に新しい欠陥セルを押し出すにしたがって欠陥マ
ッピングの間に発生するであろう最新のハードの誤りは
ECCによって十分に取り扱われる。
データがコントローラ31によってゲートされるにした
がってコントローラは蓄積されていた値がちょうど計算
された残りの値とマッチするかどうかを決定するために
,ECCビットをECCハードウエア227ヘゲートと
して入れる。
もしそれがマッチすればシステムメモリに移送されたデ
ータは正しいものであったとして,読み込み動作は完成
させられた。
しかしながら,もしECCレジスタに誤りがあったなら
ば.システムメモリに送られるデータについての修正計
算が行なわれる。そして修正されたデータが再送信され
る。
誤りを計算する方法はハードウエアでもソフトウェアで
も通常の方法によって行なわれる。ECCは誤差に原因
する欠陥セルについての計算と位置出しをすることがで
きる。これはコントローラ31によって欠陥セルが発見
されたセクタに関連して欠陥マップを更新するのに用い
られる。このようにしてハードエラーは常にフラッシュ
EEpromシステムから除かれる。
第7図は,好ましい具体例における書込みデータバス制
御を図示している。
書込みの順序の最初の部分は既に説明した読みのシーケ
ンスと共通している。マイクロプロセサはまず初めに読
みのシーケンスと同様にメモリ装置33とDMAのため
のアドレスポインタをロードする。
それは望まれるヘッダをアドレス発生器503にロード
し,そしてコマンドキューをコマンドシーケンサ511
にロードする。コマンドキコーはリードヘッダコマンド
ファーストと一緒にロードされる。
その後,制御はコントローラ31に渡される。
コントローラはそれからアドレスとコマンドをメモリ装
置33にリードシーケンスと同様にゲートする。
メモリ装置は,ヘッダデータをコントローラの受信機5
15を介して戻す。コントローラは受信したヘッダデー
タを予期された値(ホールディングレジスタ509に蓄
積されていたもの)と比較する。
もし比較の結果が正しかったならば,正常な位置がベリ
ファイ (検証)されたものであって.シーケンスが連
続する。それからコントローラはメモリ装置33からの
欠陥アドレスポインタをホールディングレジスタファイ
ル509にロードし,代替データを欠陥データ代替ファ
イル527ヘロードする。
次にコントローラはシステムメモリ (図示せず)から
書込みデータのフェッチを開始する。
コントローラはこれをシステムバスにアクセスすること
により行い,記憶またはバスアドレスを出力し,リード
サイクルを行なう。
コントローラはデータをインプット入力インタフェース
603を介してPIFO601に引き込む。
そしてコントローラはそれから,スターティングセクタ
のアドレス(最も低いバイトのアドレス)をアドレス発
生器503から選ばれたメモリ装置33ヘシフトする。
これはPIFO601からのデータによって追従される
これらのデータはマルチブレクサ605と513を通じ
て送られ.そしてメモリ装置33に送り出される前に直
列フォーマットに変換される。
このシーケンスは書きサイクルのためのすべてのバイト
が選ばれたメモリにロードされるまで続く。
データがFIFOからゲートされて,選択されたメモリ
33にゲートされるときに効果的な有効な処理能力を提
供するためにパイプライン構造が採用されている。
データはPIFO601からゲートされてECCハード
ウエア527へ送られ、ここにおいて.残りの値はEC
CO中で計算されるであろう。
次のステージにおいてデータがマルチプレクサ605と
513を介してメモリ装置に送られているときに比較器
521はアドレス発生器503からのそのアドレスをホ
ールディングレジスタファイル509にある欠陥ポイン
タのアドレスと比較する。
マッチが発生したときは,欠陥位置が書込まれようとし
ていることを示し、コントローラはこのビットを欠陥デ
ータ代替ファイル517へ貯蔵する。
同時にメモリに送られる全ての誤りビットは0として送
られるであろう。
選ばれたメモリ装置の中に書込みサイクルのバイトがロ
ードされた後に,コントローラはプログラムコマンドを
メモリ装置に発生して書込みサイクルを開始する。
フラッシュEEprom装置のための書込み操作の理想
的な構造は先に引用した同時継続中の米国特許出願,出
願番号NI:L204.175等であって,一つは多状
態EEpromの読み.書き回路と技術と呼ばれている
ものに示されており,前記関連する部分をここで参考と
して挙げる。
簡単に言えば,書込みのサイクルの間中にコントローラ
はプログラム(または書込み)電圧パルスを供給してい
ることである。
これは,全てのビットのプログラムが適当であるかとい
うことを決定するためのべリファイ (検証)読みが続
く。
もし,そのビットがベリファイ(検証)されなかったと
きは.コントローラはプログラム/ベリファイ (検証
)サイクルを全てのビットが正しくブログラムされるま
で繰り返す。
もし,一つのビットがプログラム/ベリファイ(検証)
サイクルを延ばした後でもベリファイ(検証)に失敗し
たときは,コントローラはそのビットを欠陥ビットであ
ると指定し,そしてそれにしたがって欠陥マップを更新
するであろう。更新は欠陥セルが検出されるや否や,ダ
イナミックに行なわれる。同様な操作が消去ベリファイ
(検証)の失敗の場合においても,採用される。
全てのビットがプログラムされてベリファイ (検証)
された後に.コントローラはPIFO601から次のデ
ータピットをロードし,アドレスセクタの中の次の位置
をアドレスする。そしてコントローラはそれから他のプ
ログラム/ベリファイ(検証)シーケンスを次のバイト
について行なう。
このシーケンスはそのセクタの最後のデータまで,連続
して行なわれる。
一度このことが発生するとセクタ(第5図参照)に関連
する影のメモリ (ヘッダ領域)をアドレスし,そして
ECCレジスタの内容をこの領域に書込む。
さらに,欠陥があるとしてフラグがたてられそして欠陥
データ代替ファイル516の中に蓄積されたピットの集
合は代替欠陥データ位置(第5図参照)に書き込まれ,
これによって引き続く読みに使用される良いビットの価
値を保つ。一度これらのデータグループが書込まれ,そ
して検証されるとそのセクタの書込みは完全なものと考
えられる。
この発明は全体のセクタの欠陥をマッピングする規定を
もっているが,しかしそれはその特定のセクタの欠陥セ
クタマッピング能力を越える欠陥が存在した後のことで
ある。各セクタの中における欠陥セルの数としてカウン
トが保存される。
あるセクタの中の数がある一定量を越えたときに,コン
トローラはそのセクタは欠陥としてそれを他のセクタに
マップする。
関連するセクタの欠陥ポインタは欠陥セクタマップの中
に保存されるであろう。セクタ欠陥マップは最初の欠陥
セクタにおいて,その余分な領域が欠陥がない場合にお
いて設け,そのセクタの中に設けられる。しかしながら
,セクタのデータ領域が大量の欠陥が発生した場合にお
いては.その余白の領域も同時に欠陥が多くなる可能性
が強い。
そのような理由により,他の実施例においては,コント
ローラに保持される他のメモリの中に,セクタマップを
位置させることが好ましい。
メモリはコントローラのハードウエアか.またはフラッ
シュEEprornのメモリから離れた部分に位置させ
られるであろう。コントローラがアクセスで多領域のア
ドレスを与えられると,そのコントローラはこのアドレ
スをセクタ欠陥マップと比較する。
もし,マッチが起こるならば欠陥セクタへのアクセスが
拒否され,そして欠陥マップの中に存在する代替アドレ
スが入力され,そして対応する代替セクタが代わりにア
クセスされる。
さらに他の具体例においてはセクタの再マッピングはマ
イクロプロセサによって遂行される。マイクロプロセサ
は入ってきたアドレスとアドレスを見てそれをセクタ欠
陥マップと比較する。もしマッチがあれば,それはコン
トローラにコマンドを発生する代わりに,新しいコマン
ドとして他の位置を代替する。
固体ディスクのより速いスピードから離れて,さらに他
の利点は,機械的な部分が存在しないということである
ディスク駆動に本来的に存在する回転性に原因する長い
サーチ時間は存在しない。さらにこれに加得るに,長い
同期時間,同期マークの検出時間,書込みギャップ等も
必要でない。
かくして.どこに読出されるべきデータが存在するか,
またはどこに書込まれるべきであるかという位置にアク
セスするために必要なオーバーヘッド時間はより少なく
なる。
これらの単純性,および無理がないということは,オー
バーヘッドを少なくしたより速いシステムとして現れる
。加得るに,ファイルはメモリの中に希望する任意のア
ドレスの順序で配列され,そしてコントローラには必要
なデータにどうして得るかということが必要なだけであ
る。
本発明のさらに他の特徴は欠陥マッピングは,セクタに
またはセクタからの移動させられるデータの流れを妨げ
る必要がない状態で構成されていることである。
ブロック中で誤りを含むデータはそれに係わらず返送さ
れ,そしてそれは後に修正される。順次アドレスを保存
することによって,それ自身高い速い速度を得ることが
できるであろう。
さらにまた,それはその装置の読み書きのデータバスに
おける効果的なパイプライン構造の実現を許容する。
書込みキャッシュシステム キャッシュメモリは一般的に遅いアクセスの装置のシス
テムの能力の速度を上げるために用いられている。例え
ば,コンビュータシステムにおいてディスク貯蔵からの
データのアクセスは遅い。
そしてもしデータがより速いラム(RAM)から得られ
るならば,スピードはより速くなるであろう。典型的に
,ラムのシステムの部分はディスクからもっとも最近に
アクセスされたものを仮に保持するためにキャッシュが
使用されている。
次にそのデータが要るときには遅いディスクの代わりに
より速いキャッシュからそれを得ることができる。その
システムは,同じデータが繰り返されて使用されるよう
な状況において1 うまく動作する。
これは最も多くの構成やプログラムにおいて見られるも
のであり,これはコンビ二ータというものはプログラム
を走らせているときには.非常に狭い記憶領域でのみ働
く傾向があるからである。
キャッシングの他の例は通常より安いが.しかし遅いD
RAMにアクセスする時間を速くするために,より速い
SRAMキャッシュを利用することである。
通常のキャッシュの設計は,メモリからの読み取りのス
ピードアップのためのリードキャッシュである。
ある状況においては,メモリに書き込む速度を上げるた
めに.書込みキャッシュが使用される。
しかしながら,キャッシュには同時に書込まれるのに対
して.システムメモリ (例えばディスク)への書込み
の場合においては,データはそれらが発生するごとにそ
の都度直接書込まれる。これは電力がなくなったときに
更新され,ファイルが無くなってしまうという懸念のた
めに.このことが成されるのである。
もし書込みデータがキャッシュメモリ (揮発性)にの
み貯蔵されているときに,電力が無くなるということは
新しく更新されたデータが,システムメモリ (不揮発
性)の中の古いデータを更新する前に,キャッシュメモ
リから更新されたファイルがなくなってしまうというこ
とである。
これらのファイルが引き続き利用されるときには.その
システムは古いデータに基づいて操作されるということ
になるであろう。主メモリを毎回書き込む必要性は.キ
ャッシュ機構を書込みのために壊してしまうことになる
。リード(読み出し)キャッシュにおいては,この懸念
は全くなく,キャッシュからなくなるであろうデータは
ディスクでバックアップされているからである。
本発明においては,フラッシュEEpromのシステム
は従来のディスク形の貯蔵装置をもつシステムに置き換
えられて用いられる。
しかしながら,フラッシュEEpromは過度のプログ
ラム(消去サイクル)による消耗に曝されている。
同時継続中の米国特許出願,出願番号Nα204,17
5,発明の名称“多状態のEEprom読みおよび書き
サーキットとその技術”,サンジャイメハ口ボラとエリ
ャホウ ハラリ博士により本発明と同時に出願された願
書に開示されている改良されたフラッシュEEp r 
omメモリ装置においてさえ,耐久力の限界はほぼ10
6のプログラム/消去サイクルに限定されている。この
装置の寿命を10年に引き延ばして考えてみると5分間
に1回ずつの消去に限定される。
これは通常のコンピュータの使用においては限界的なも
のである。
この問題を解決するために.キャッシュメモリシステム
は,多過ぎるプログラム/消去の回数に耐えることから
切り離すことができるように新規な方法で用いられる。
キャッシュの第1次的な機能は,フラッシュEEpro
mメモリに書込むために用いられ,従来のキャッシュの
使用とは違ってフラッシュEEpromメモリからの読
みには用いない。
フラッシュEEpromメモリに書込む代わりに,毎回
データは更新され.そのデータはフラッシュEEpro
mメモリへ送られる前に,キャッシュの中で,数回動作
させられるであろう。
これにより,フラッシュEEp r omメモリへの書
込みの回数を減らすことができる。さらにまた,主とし
てより速いキャッシュメモリの中に書込むことにより,
より遅いフラッシュEE p r omへの書込みの回
数を減らし,全体のシステムにおける書込み効率を増強
させることができるという利点が得られる。
本発明を実現するにあたって,比較的小さい大きさのキ
ャッシュメモリが極めて有効である。
これは電源断の間に揮発性のキャッシュメモリの中にお
けるデータ損失の問題を克服するのに役立つ。
そのようなときには.キャッシュメモリを十分長い時間
,十分な電源で維持することと,フラツシ:LEEpr
omメモリの中に特別に予約された空間である不揮発性
メモリの中にそれらのデータを詰め込んでおくというこ
ともできる。
このシステムにおける電力断.または電力障害において
.書込みキャッシュシステムは全体のシステムから切り
離されて,準備されていた再充電可能な電力供給はキャ
ッシュシステムの電源とフラッシュEEpromメモリ
に準備された空間への電源にのみ利用される。
第8図は,本発明による装置のコントローラの一部を形
成するキャッシュシステム701を略図的に示した図で
ある。
キャッシュシステム701の一方側はフラッシュEEp
romメモリアレイ33に接続されている。
一方側において,それはマイクロプロセサシステム(図
示せず)にホストインタフェース703を介して接続さ
れている。このキャッシュシステム708は2つのメモ
リをもっている。
1つは一時的に書込みデータファイルを保持するキャッ
シュメモリ705である。他はキャッシュメモリ705
の中に保持されるデータファイルに関連する情報を貯蔵
するためのタグメモリ709である。メモリタイミング
/コントロール回路713はキャッシュメモリ705か
らフラッシュEEpromメモリ33へのデータファイ
ルの書込みを制御する。
メモリコントロール回路713はタグメモリの中に蓄積
されている情報と同様にマイクロプロセサシステムの電
源装置にホストインタフェース703と線717を介し
て接続されている電力検出入力715に応答させられる
マイクロプロセサシステムの電力の劣化はメモリコント
ロール回路713によって検出され.それは揮発性のキ
ャッシュメモリ705の中のデータファイルの全てを不
揮発性のフラッシュEEpromメモリ33にダウンロ
ードするであろう。
本発明において,フラッシュEEpromメモリアレイ
33は,セクタ(典型的には512バイトの大きさ)に
組織されており,各セクタ内の全てのメモリセルは.一
緒に消去可能である。
かくして各々のセクタは,データファイルとみなされ.
そしてメモリアレイ上の書込み操作は,1または2以上
のそのようなファイルにおいて行なわれる。
フラッシュEEpromメモリ33の中における新しい
セクタの読みの間,データファイルは読み出されて直接
的にホストを介してコントローラに送られる。
このファイルは通常のキャッシュシステムにおいて行な
われていたようにキャッシュメモリ705を満たすため
に使用されない。
ホストシステムがファイルの中のデータの処理を完了し
て,それをフラッシュEE p r omメモリ33の
中に書き戻そうと希望したときに,それはキャッシュシ
ステム701に書込みサイクルの要求によりアクセスす
る。
コントローラはこれによりこの要求を受け入れてそのサ
イクルで動作させる。
本発明の1つの具体例においてはデータファイルはキャ
ッシュメモリ705へ書込まれる。
同時にデータファイルに関連する他の2つの情報片はタ
グメモリ709に書込まれる。第1のものはファイルポ
インタであってキャッシュメモリ705の中に存在する
ファイルを規定する。
第2のものはタイムスタンプであり,それはキャッシュ
メモリの中に最も最後にファイルされたかの時間を物語
るものである。
このようにしてホストがフラッシュEEpromメモリ
33に書込みを欲するときはいつでも,そのデータファ
イルはポインタとタグメモリ709の中のタイムスタン
プとともにキャッシュメモリ705の中に最初に現実に
貯蔵されたものである。
本発明のさらに他の具体例によれば,ホストからの書込
みがあったときは,コントローラはまず初めにそのファ
イルが既にキャッシュメモリの中に存在していたもので
あったのか,またはタグメモリ709の中においてタグ
が着けられたもののいずれかであったかを見ることによ
りチェックする。もしそれがタグが着けられていなかっ
たならばフラッシュメモリ33に書込まれる。一方,そ
の標識とタイムスタンプはタグメモリ709に書込まれ
る。
もし,そのファイルすでにキャッシュメモリの中に存在
するか.タグが着けられたものであったならば.それは
キャッシュメモリの中で更新され,フラッシュメモリの
中には書込まれない。
この方法によりしばしば用いられないデータファイルの
みがフラッシュメモリに書込まれる一方,しばしば用い
られるデータファイルはキャッシュメモリの中に捉えら
れている。
本発明のさらに他の具体例によれば,ホストからの書込
みがあったときは,予め定めた時間(例えば5分間のみ
)の間にどこかでさらに書込まれたデータファイルであ
るかどうかを見てチェックする。
もしそうでなかったならばフラッシュメモリ33に書込
まれる。一方,その標識とタイムスタンプはタグメモリ
709に書込まれる。
もし,そのデータファイルが予め定めた時間間隔内に書
込まれたものであったならば,それはキャッシュメモリ
705の中に書込まれ,フラッシュメモリへは書込まれ
ない。
同時に.そのa識とタイムスタンプはタグメモリ709
へ他の実施例と同様に書込まれる。この方法においても
同様にほとんど使用されないデータファイルのみがフラ
ッシュメモリに記録される一方,しばしば使用されるデ
ータファイルはキャッシュの中に捉えられている。
全ての具体例において,いつでもキャッシュメモリ70
5は充填されるように使われる。
コントローラが予め決めた十分に満たされた状態に達し
たことを検出したときにはコントローラはキャッシュメ
モリ705の中のその他のファイルに優先してフラッシ
ュメモリ33の中に書込むことによって保存することを
開始する。
いずれの具体例にあいても,キャッシュメモリ705は
いつでも充填される方向にスタートさせられている。コ
ントローラがある定められた満たされた状態に達したこ
とを検出したときにはコントローラはキャッシュメモリ
705の中に他のものに優先してあるファイルの保存を
フラッシュメモリ35の中にそれらを書込むことによっ
て開始する。
これらのファイルのためのファイルの標識であるタグピ
ットはそのときにリセットさせる。そしてこれらのファ
イルが書き終わったものであることを示す。これにより
,キャッシュメモリに入ろうとする新しいデータのため
の空間が形成される。
コントローラは新しいよく働くファイルのための空間を
形成するために,最初に動かされた最も活用されないフ
ァイルをフラッシュメモリ33にもどすことに対する責
任ももたされている。
各ファイルの活動の水準を追跡して保持するために各フ
ァイルのためのタイムスタンプはそのファイルの新しい
活動のためにリセットされない限り,動作させられる度
ごとにコントローラによって集積される。
このタイミングはタイマ711によって提供されている
。すべてのタイムステップ(カウント)にコントローラ
はキャッシュメモリの中のデータファイルに系統的にア
クセスしてこのデータファイルのために,最後に書き込
まれスタンプを読む。
コントローラはそれからこのタイムスタンプを他のタイ
ムステップ(すなわちカウントを1上昇)で加算する。
ファイルのタイムスタンプに対して,そのファイルの活
動にしたがって2つのことが起こる。
1つの可能性は,そのタイムスタンプが新しい活動が発
生したという事象によってリセットされることである。
他の可能性はそのファイルについて新しい活動を発生し
ないで,そのタイムスタンプがキャッシュから除去され
るまで加算されることである。現実問題として最大の限
界は,もしファイルが更新(新しい活動が発生したこと
)のときにビットの位置は,“シフトレジスタの当初の
位置にセットされるであろう。
一方.ファイルが不活動状態にあるときにはある場合に
おいてビットは次第に最終的なシフト位置に向かってシ
フトされるであろう。各ファイルのカウント値は各タイ
ムステップごとに貯蔵され,それから加算されていく。
各加算の後で,カウント値はマスターカウンタと比較さ
れ,その差は問題の時間遅れである。
かくして.もしファイルが活動状態であれば,その加算
されたタイムスタンプはデータファイルが書き換えられ
る度に当初の値にリセットされてもどされる。
この方法により,常に更新されているファイルは低いス
タンプ標識を持ち,そしてその動作が減少するまで,キ
ャッシュメモリの中に保存されるであろう。不活動の期
間が経過した後に.それらは最大のタイムスタンプ標識
を得る。
使われていないファイルは次第にフラッシュメモリの中
に貯蔵され.新しい,より使用されるファイルのために
キャッシュメモリの中のスペースを空けていく。
タグメモリの中においてもスペースはこれらの不活性な
ファイルがフラッシュメモリに移動されるにしたがって
あけられていく。
いつでもキャッシュメモリに入ろうとする新しいデータ
ファイルのために場所が空けられている必要があり,コ
ントローラはいくつかの古いファイルを除去してそれを
フラッシュメモリ33の中に保存する。
スケジューリングはコントローラの中のメモリタイミン
グ/コントロール回路713によってなされる。ファイ
ルを保存することについての決定はいろいろな領域に基
礎づけられている。コントローラがそのシステムにおけ
る書込みの発生頻度をいつも監視しており,キャッシュ
がどの程度満たされているかをみている。
もし,キャッシュの中に,空き部屋,空間,空き間がと
きには保存がされる必要はない。もし,より多くの空き
部屋が要求されるときは,最も速い時間のタイムスタン
プをもつファイルが最初に移動され,フラッシュメモリ
に貯蔵される。
本発明はコントローラの中のハードウエアの中の構成に
関連して記述されてきたが,他の構成が可能であるとい
うようにも理解されたい。
例tlf. −1−ヤツシュメモリはそのシステムの中
のどこに存在してもよいし,また現存するマイクロプロ
セサシステムに用いられるソフトウェアによって実現さ
れても良い。そのような変形は本発明の方の範囲内にあ
る。
いかに多くの回数データがフラッシュメモリに書き戻さ
れたかというプロファイルはいろいろな要素のもとで決
定される。
それは,キャッシュメモリの大きさとそのシステムにお
ける書込みの発生頻度に依存する。
小さなキャッシュメモリシステムの場合では.最も頻度
の高いファイルのみがキャッシュ化されるだろう。より
少ない頻度でアクセスされるファイルはキャッシュメモ
リの大きさを増大することに関連してキャッシュ化され
るであろう。本発明,すなわち比較的安くて小さい量の
キャッシュメモリを使用する場合においては,好ましく
は1メガバイト程度のものの利用が有効である。
最も良く用いられるファイル(例えば上位5%)に定常
的に書込まないようにすることにより.フラッシュEE
 p r omの書込み頻度は,各ミリ秒ごとのものを
5分毎秒程度に減少させることができるであろう。
これにより,メモリの使い尽くし時間は.ほとんど永久
というように延ばすことができる。この改良は書込み時
間中のシステムの動作能率を向上させるという改良にな
って現れる。
タイムタグをライトキャッシュの概念の中に実現すると
いうことは,ライトキャッシュバッファメモリを比較的
小さくするという利点となり.その理由は.それがしば
しば,書かれるデータファイルの貯蔵に用いられ,その
他のファイルはフラッシュEEpromメモリに直接書
込まれるのである。第2の特徴は,ライトキャッシュバ
ッファの人出で,ある移動データファイルの管理は.次
にどのデータファイルが呼ばれるかという進んだ知識を
要求されないので,自動化できることである。
本発明のいろいろな側面がフラッシュEEpromシス
テムの中で,フラッシュEEpromシステムを通常の
不揮発性大量記憶測定の有力な新しい代替物となるとい
うことについて記述されてきた。
しかしながら,いろいろ説明されてきた本発明の種々の
側面は好ましい実施例形態であって,当業者はそれらの
変形例はそれらについて種々の変形が可能であると理解
できるであろう。
したがって.本発明は添付の特許請求の範囲の全範囲内
において保護が与えられるべきものである。
【図面の簡単な説明】
第IA図は,本発明によるフラッシュEEpromメモ
リシステムを含むマイクロプロセサシステムのブロック
図である。 第IB図は,ある数のフラッシュEEpromメモリチ
ップと一つのコントローラチ,ツブを含むシステムを示
すブロック図である。 第2図は.消去されるべく選択されるメモリセクタを含
むフラッシュEEpromチップシステムの略図である
。 第3A図は.本発明による多数のセクタの選択的消去を
実現するためのコントローラの回路を示すブロック図で
ある。 第3B図は,第2A図に示された消去のために一つのセ
クタを選択するために使用される典型的なレジスタの詳
細を示す回路図である。 第4図は,複数のセクタ消去選択の消去シーケンスを図
示した流れ図である。 第5図は,一つのフラッシュEEpromセクタをデー
タ領域と予備の冗長領域に分けたことを示す略図である
。 第6図は,本発明による欠陥マッピングを使用した読込
み操作中におけるデータバスを示したブロック図である
。 第7図は.本発明による欠陥マッピングを使用した書込
み時におけるデータの制御パスを図示したブロック図で
ある。 第8図は,コントローラの中の書込みキャッシュ回路を
図示したブロック図である。 21・・・マイクロプロセサ 23・・・システムバス    25・・・RAM27
・・・I /O装置     29・・・バルクメモリ
31・・・メモリコントローラ 3 3・・・EEp r omアレイ (メモリ)35
.37・・・シリアルデータ線 39・・・データパス 40・・・インタフェース回路 41・・・システム制御線 43.45.47=EEpromチップ49,51,5
3・・・チップセレクト (イネイブル)57・・・論
理およびレジスタ回路   59・・・バス201,2
03.205−EEpromチップ209・・・線 211.213・・・セクタ 221.223・・・レジスタ 225・・・コマンドレジスタ 227・・・シリアルインタフェース 229・・・コマンドデコーダ 231・・・アドレスレジスタ 233・・・アドレスデコーダ 503・・・メモリアドレス発生器 505・・・ホー}(μpインタフェース)507・・
・DMAコントローラ 509・・・ホールディングレジスタファイル511・
・・コマンドシーケンサ 513・・・マルチプレクサ    515・・・受信
器517・・・欠陥データ代替ファイル 519・・・FIFO 521・・・コンパレータ 523・・・マルチブレクサ 525・・・出力インタフェース 527・・・ECCハードウエア 601・・・FIFO 603・・・インタフェース 605・・・マルチブレクサ 特許出願人 サンディスク コーボレイション代理人 
 弁理士  井 ノ ロ   壽一一−一→一一

Claims (62)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)フラッシュEEpromシステムで、それぞれは
    フラッシュEEpromセルのアレイをもち、そのアレ
    イは複数のセクタに分けられており、各セクタはその中
    に含まれている全てのセルを同時に消去できるようにア
    ドレス可能である1以上の集積回路チップと、 消去動作のために1または2以上のチップから複数のセ
    クタを選択する手段と、そして 選択された前記セクタに対してのみ、同時消去を実行す
    る手段と、 からなるフラッシュEEpromシステム。
  2. (2)請求項1記載のフラッシュEEpromであつて
    、 チップに関する読みまたは書きの操作はチップセレクト
    信号により可能にされており、チップに対しての消去操
    作はチップセレクト信号に無関係に行なわれるフラッシ
    ュEEpromシステム。
  3. (3)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 消去操作のために選ばれた複数個のセクタについて消去
    の操作が行なわれ、 一方、消去操作により選ばれなかった他の装置について
    は、読み書きその他の操作が行なわれるフラッシュEE
    promシステム。
  4. (4)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 選択された複数のセクタから1または2以上のセクタの
    組合せを個々に取り除き、前記取り除かれたセクタが前
    記消去操作中にさらに消去されることを防ぐようにする
    手段をさらに含むフラッシュEEpromシステム。
  5. (5)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 全てのセクタを同時に選択しない手段をさらに含むフラ
    ッシュEEpromシステム。
  6. (6)請求項1記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 前記選択手段は、各々のセクタに関連してステータスを
    保持するために設けられ、そのセクタが選択されたか、
    されないかを指示するための個々のレジスタをさらに含
    むフラッシュEEpromシステム。
  7. (7)請求項6記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 前記同時消去手段は、前記個々のレジスタの各々のステ
    ータスに応答し、選ばれたセクタのみが消去に含まれる
    ようにするフラッシュEEpromシステム。
  8. (8)請求項6記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 選ばれた状態を指示する個々のレジスタの1または2以
    上の組合せは、個々に選ばれなかった状態にリセット可
    能であるフラッシュEEpromシステム。
  9. (9)請求項6記載のフラッシュEEpromシステム
    であって、 前記全ての個々のレジスタは、関連するセクタが選択さ
    れなかったことを示すステータスへ同時にリセット可能
    なものであるフラッシュEEpromシステム。
  10. (10)フラッシュEEpromセルのアレイの中の欠
    陥セルから誤りを修正するためのシステムであって、 代替セルと、 1または2以上の欠陥セルを対応する数の代替セルに代
    替するための手段から構成したシステム。
  11. (11)請求項10記載のEEpromセルのアレイに
    含まれる欠陥セルから誤差を修正するためのシステムで
    あって、 前記代替手段は新しく発見された欠陥セルに対しても直
    ちに適用されるものであるシステム。
  12. (12)請求項10記載のEEpromのアレイの中の
    欠陥セルから誤差を修正するためのシステムであって、 前記アレイは各セクタに含まれるセルが同時に請求され
    るように複数のフラッシュ消去可能なセクタに分割され
    ており、 前記代替セルは欠陥セルと同じセクタの中に設けられて
    いるシステム。
  13. (13)請求項11記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイに含まれる欠陥セルから誤り修正のためのシス
    テムであつて、 前記欠陥セルのアドレスを対応する代替セルに結びつけ
    るための欠陥ポインタを蓄積するための欠陥マップをさ
    らに含むシステム。
  14. (14)請求項13記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイに含まれる欠陥セルの中の誤ったデータを修正
    するためのシステムであって、 前記欠陥セルのための欠陥マップは前記欠陥セルと同じ
    セクタに設けられているシステム。
  15. (15)請求項10記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルから誤りを修正するためのシス
    テムであつて、 前記アレイは複数のフラッシュ消去可能なセクタに分け
    られており、各セルの中の全てのセルは同時に消去可能
    であり、 そのセクタの中の欠陥セルの数が予め定められた数を越
    えない限りにおいて、代替セルは同じセクタ内に設けら
    れ、 前記数を越える場合においては、代替セルは異なったセ
    クタに設けられるシステム。
  16. (16)請求項15記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中に含まれる欠陥セルから誤りを修正するた
    めのシステムであって、 前記数を越えるときに、前記セクタはそのままそっくり
    代替セルによって置き換えられるシステム。
  17. (17)請求項15記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中に含まれる欠陥セルから誤りを修正するた
    めのシステムであって、 前記代替手段は新しい欠陥セルが検出されるや否やその
    セルにもまた自動的に適用されるものであるシステム。
  18. (18)請求項17記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠捲セルから誤りを修正するためのシス
    テムであつて、 誤差修正コードを使用することを含むシステム。
  19. (19)フラッシュEEpromセルのアレイの中の欠
    陥セルの中の悪いデータを修正するためのシステムであ
    って、 欠陥セルのために予定される良いデータを保存するため
    の代替セルと、 1または2以上の欠陥セルの中のデータをその欠陥セル
    がアクセスされたときに対応する代替セルの中の良いデ
    ータに置き換えるための手段とからなるシステム。
  20. (20)請求項10記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中に含まれる欠陥セルの中の悪いデータを修
    正するためのシステムであって、 欠陥セルに書き込まれるべく予定されている良いデータ
    を対応する代替セルに自動的に蓄積することにより、良
    いデータの完全性を保つシステム。
  21. (21)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 前記代替手段は新しい欠陥セルが発見されると同時にそ
    のセルに自動的に適用されるシステム。
  22. (22)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 各セクタの中の全てのセルが同時に消去できるというフ
    ラッシュ消去可能なセクタの複数個に分割されており、
    そこにはデータが蓄積されている前記アレイと、 悪いデータが含まれているデータがアクセスされた後に
    、前記代替手段が適用するシステム。
  23. (23)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥データの中の悪いデータを修正する
    ためのシステムであって、 前記アレイは各セクタの中の全てのセルが同時に消去さ
    れるようなフラッシュ消去セクタの複数個に分割されて
    おり、 前記代替セルは欠陥セルと同じセクタの中に設けられて
    いるシステム。
  24. (24)請求項20記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 欠陥セルのアドレスと対応する代替セルのそれを関連づ
    ける欠陥ポインタを記憶するための欠陥マップをさらに
    含むシステム。
  25. (25)請求項24記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 前記欠陥セルのための欠陥マップは前記欠陥セルと同じ
    セクタの中に位置させられているシステム。
  26. (26)請求項19記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 各々のセクタの中に含まれる全てのセルが同時に消去さ
    れるようなフラッシュ消去セクタの複数組に分割されて
    いる前記アレイと、 セクタの中の欠陥セルの数が予め定められた値を越えて
    いないときには前記代替セルは前記欠陥セルと同じセク
    タの中にあり、 前記数を越える場合には、前記代替セルは異なったセク
    タの中にあるシステム。
  27. (27)請求項26記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 前記数を越える場合には前記セクタは全体として代替セ
    クタに置き換えられるシステム。
  28. (28)請求項26記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 前記代替手段は新しく発生する欠陥セルに自動的に適用
    されるシステム。
  29. (29)請求項28記載のフラッシュEEpromセル
    のアレイの中の欠陥セルの中の悪いデータを修正するた
    めのシステムであって、 誤差修正コードを使用するシステム。
  30. (30)フラッシュEEpromメモリの中にデータフ
    ァイルを書込むための改良されたシステムであって、 前記フラッシュEEpromメモリのために予定された
    データを一時的に蓄積するためのキャッシュメモリは前
    記フラッシュEEpromメモリよりもより多くの読み
    /消去回数に有効に耐えるものであるキャッシュメモリ
    と、 あるシステムに応答し、前記フラッシュEEpromメ
    モリの代わりにデータファイルを書き込むための手段と
    、 前記キャッシュメモリの中の各データファイルを識別す
    るための手段と、 各データファイルが最後に書き込まれたときからの時間
    を決定するための手段と、 前記キャッシュメモリの中に新しいデータファイルが要
    求されて余分な空間が必要になったときに前記キャッシ
    ュメモリからフラッシュEEpromメモリへ最後に書
    込まれて以来の最も長い時間を持つ、第1移動データフ
    ァイルのための手段と、 からなる改良されたシステム。
  31. (31)請求項30記載の改良されたシステムであって
    、 キャッシュメモリの中のファイルをダウンロードするた
    めのバックアップされた不揮発性メモリと、 起こった電源の欠陥に応答して、キャッシュメモリの中
    のデータファイルをバックアップメモリにダウンロード
    するための手段で、これにより揮発性のキャッシュメモ
    リからデータファイルを救う手段と、 から構成した改良されたシステム。
  32. (32)請求項30記載の改良されたシステムであって
    、 そこにおいて、バックアップメモリはフラッシュEEp
    romメモリの一部である改良されたシステム。
  33. (33)請求項30記載の改良されたシステムであって
    、 キャッシュメモリはフラッシュEEpromメモリのア
    クセス時間よりも明らかに速い応答時間を持つものであ
    る改良されたシステム。
  34. (34)請求項30記載の改良されたシステムであって
    、 フラッシュEEpromメモリの操作を制御するための
    コントロール回路チップを持ち、 これにより改良されたシステムはコントローラ回路チッ
    プの一部である改良されたシステム。
  35. (35)請求項30記載の改良されたシステムであって
    、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
    持ち、前記改良されたシステムはランダムアクセスメモ
    リをもつマイクロプロセサの中にソフトウェアによって
    組み込まれているものである改良されたシステム。
  36. (36)フラッシュEEpromメモリにデータファイ
    ルを書込むための改良されたシステムであって、データ
    ファイル書込みのために、フラッシュEEprom、E
    Epromの代わりにキャッシュメモリに書く、あるシ
    ステムに応答する手段と、前記フラッシュEEprom
    メモリに書込むシステムに応答する手段と、 データファイルの識別子と各データファイルが最後に書
    込まれたときを記憶するためのタグメモリと、 前記キャッシュメモリの中に新しいデータファイルのた
    めの余分なスペースが要求されたときに前記キャッシュ
    メモリから前記フラッシュEEpromメモリに最後に
    書き込まれた時間が最も長いものを持つ最初に動いたデ
    ータファイルのための手段であり、これによって現実に
    書き込む回数を自主的に減少させることにより、フラッ
    シュEEpromメモリに開運するストレスを減少させ
    る手段とからなる改良されたシステム。
  37. (37)請求項36記載の改良されたシステムであって
    、 キャッシュメモリの中のデータファイルをダウンロード
    するためのバックアップされた不揮発性メモリと、 前記バックアップメモリにキャッシュメモリの中のデー
    タをダウンロードするために電圧欠陥の発生に応答する
    手段であって、これにより揮発性のキャッシュメモリか
    らデータを救済する改良された手段。
  38. (38)請求項36記載の改良されたシステム、におい
    て、 バックアップメモリはフラッシュEEpromの一部で
    ある改良されたシステム。
  39. (39)請求項36記載の改良されたシステムにおいて
    、キャッシュメモリはフラッシュEEpromメモリの
    アクセスタイムよりも実質的に速いものである改良され
    たシステム。
  40. (40)請求項36記載の改良されたシステムであって
    、 フラッシュEEpromの操作をコントロールするため
    のコントロールチップを含み、 これにより改良されたシステムはコントローラ回路チッ
    プの一部を形成する改良されたシステム。
  41. (41)請求項36記載の改良されたシステムであって
    、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
    含み、 ここにおいて改良されたシステムはランダムアクセスメ
    モリを持つマイクロプロセサシステムの中にソフトウェ
    アによって構築されたものである改良されたシステム。
  42. (42)フラッシュEEpromメモリの中にデータフ
    ァイルを書込むための改良されたシステムであって、 フラッシュEEpromメモリのためを意図して、一時
    的にデータファイルを蓄積するためのキャッシュメモリ
    であって、このキャッシュメモリは前記フラッシュEE
    promメモリの書込み/消去サイクルよりかなり多い
    回数に耐えることができるキャッシュメモリと、 あるシステムに応答する手段であってデータファイルを
    フラッシュEEpromメモリかその代わりにキャッシ
    ュメモリに書込む手段と、 前記キャッシュメモリの中に予めコピーした前記データ
    ファイルが存在しないときに、前記フラッシュEEpr
    omに書込み、そして前記キャッシュメモリの中に前記
    データファイルの前のコピーが存在しているときに、キ
    ャッシュメモリに書込む前記応答手段と、 前記キャッシュメモリの中に新しくデータファイルのた
    めの余分な空間が必要になったときに、前記キャッシュ
    メモリから前記フラッシュEEpromメモリに最後に
    書込まれた最も長い時間をもつ最初に移動したデータフ
    ァイルのための手段とからなる改良されたシステム。
  43. (43)請求項42記載の改良されたシステムであって
    、 キャッシュメモリの中のファイルをバックアップされた
    不揮発性メモリの中にダウンロードするためのバックア
    ップされた不揮発性メモリと、キャッシュメモリの中の
    データファイルをバックアップメモリヘダウンロードす
    るために電力欠陥に応答する手段で、これにより不揮発
    性キャッシュメモリで発生する問題からデータファイル
    を救済する改良されたシステム。
  44. (44)請求項12記載の改良されたシステムにおいて
    、 前記バックアップメモリはフラッシュEEpromの一
    部であるシステム。
  45. (45)請求項42記載のフラッシュEEpromメモ
    リの中へデータを書込むための改良されたシステムであ
    って、 書込みのための前記応答手段は、データファイルの識別
    子と各データファイルが最後に書込まれた時間を記憶す
    るためのタグメモリとを含み、前記応答手段は前記デー
    タファイルがタグメモリの中にタグされていないときに
    、フラッシュメモリに書込み、タグメモリの中に前記デ
    ータファイルがタグされているときはキャッシュメモリ
    に書込むものである改良されたシステム。
  46. (46)フラッシュEEpromメモリにデータファイ
    ルを書込むための改良されたシステムであって、フラッ
    シュEEpromメモリのために意図されたデータファ
    イルを一時的に記憶するキャッシュメモリであって、前
    記キャッシュメモリは前記フラッシュメモリの書込み/
    消去回数よりも、はるかに耐力を持つキャッシュメモリ
    と、 あるシステムに応答して、フラッシュEEpromメモ
    リまたはその代わりにキャッシュメモリのいずれかにデ
    ータファイルを書込むためにEEpromメモリに書込
    む手段であって、前記応答手段は前記予め定めた時間よ
    り後に前記アァイルに最後に書込まれたときに前記フラ
    ッシュEEpromに書込み、予め定められた期間内に
    最後に書込まれたファイルであるときに、前記キャッシ
    ュメモリに書込む応答手段と、 キャッシュメモリに新しいデータファイルの余分な空間
    が要求されたときに、前記キャッシュメモリからフラッ
    シュEEpromメモリに最後に書込まれた最も長い時
    間を持つ最初に移動したデータファイルのための手段で
    あって、これにより、現実の書込みの回数を減らして、
    フラッシュEEpromメモリへ関連するストレスを最
    小にする最初に移動したデータファイルのための手段と
    から構成された改良されたシステム。
  47. (47)請求項46記載の改良されたシステムにおいて
    、 前記キャッシュメモリは前記フラッシュEEpromメ
    モリのアクセスタイムよりかなり速いアクセスタイムを
    持っている前記改良されたシステム。
  48. (48)請求項46記載の改良されたシステムであって
    、 フラッシュEEpromの動作を制御するための制御回
    路チップを含み、ここにおいて改良されたシステムはコ
    ントロール回路チップの一部である改良されたシステム
  49. (49)請求項46記載の改良されたシステムであって
    、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
    含み、ここにおいて改良されたシステムはランダムアク
    セスメモリを持つマイクロプロセサの中にソフトウェア
    によって構成されるものである改良されたシステム。
  50. (50)フラッシュEEpromメモリにデータファイ
    ルを書込むための改良されたシステムであって、フラッ
    シュEEpromメモリを意図するデータファイルを一
    時的に記憶/貯蔵するためのキャッシュメモリであって
    、前記キャッシュメモリは前記フラッシュEEprom
    メモリが書込み/消去のサイクルで耐える回数よりもか
    なり多くの回数に耐え得るものであるキャッシュメモリ
    と、データファイルの標識と各データファイルが最初に
    書込まれた時間を蓄積するためのタグメモリと、 あるシステムに応答してデータファイルを前記フラッシ
    ュEEpromメモリかまたはその代わりにキャッシュ
    メモリに書込むためのフラッシュEEpromヘ書込む
    手段であって、前記応答手段は前記データファイルが前
    記タグメモリの中で標識されないときに、前記フラッシ
    ュEEpromに書込み、データファイルがタグメモリ
    の中で標識されたときには、キャッシュメモリに書込む
    応答手段と、 キャッシュメモリに新しいデータファイルのための余分
    なスペースが要求されたときに、キャッシュメモリから
    前記フラッシュメモリに最後に書込まれたときから最も
    長い時間を持つ最初に移動したデータファイルのための
    手段であって、これにより、現実の書込みの回数を減ら
    し、フラッシュEEpromに加えられるであろうスト
    レスを減少させる手段を含む改良されたシステム。
  51. (51)請求項50記載の改良されたシステムであって
    、 キャッシュの中のデータファイルをダウンロードするた
    めのバックアップ不揮発性メモリと、発生した電力欠陥
    に応答してキャッシュメモリの中のデータファイルをバ
    ックアップメモリにダウンロードするための手段であっ
    て、これによりキャッシュメモリの中の揮発からデータ
    ファイルを救済する応答手段からなる改良されたシステ
    ム。
  52. (52)請求項50記載の改良されたシステムであって
    、ここにおいてバックアップメモリは前記フラッシュE
    Epromメモリの一部である改良されたシステム。
  53. (53)請求項50記載の改良されたシステムであって
    、 ここにおいてキャッシュメモリは、前記フラッシュEE
    promメモリのアクセスタイムよりもかなり速いアク
    セスタイムを持つものである改良されたシステム。
  54. (54)請求項50記載の改良されたシステムにおいて
    、 前記フラッシュEEpromの操作を制御するためのコ
    ントローラ回路チップを含み、これにより改良されたシ
    ステムはコントローラ回路チップの一部分である改良さ
    れたシステム。
  55. (55)請求項50記載の改良されたシステムであって
    、 マイクロプロセサシステムとランダムアクセスメモリを
    含み、ここにおいて、改良されたシステムはランダムア
    クセスメモリを持つマイクロプロセサの中にソフトウェ
    アによって構築されたシステムである改良されたシステ
    ム。
  56. (56)システムバスと標準電源通信連絡するようにコ
    ンピュータシステムに差し込まれるのに適したメモリカ
    ードであって、次のものを含む、 複数のEEpromの集積回路チップであって、それぞ
    れのチップは、 大きな数の個々にアドレス可能な蓄積セルであって、そ
    れらは複数のセクタに分割され各セクタは複数の前記記
    憶セルを含み、 前記任意のセクタの中に含まれる複数の予備の記憶セル
    と、 前記システムバス上の信号に応答する手段であって、1
    またはそれ以上の指定されたセクタの全てのセルを消去
    するために前記セクタの他のセルを消去しない応答手段
    、 アドレスされた蓄積セルの状態を読むために、前記シス
    テムバスの信号に応答する手段と、アドレスされた蓄積
    セルを予め定められた状態にプログラムするために前記
    システムバス上の信号に応答する手段と、  前記1つのセクタの中の蓄積セルに企てられたプログ
    ラムまたは消去が不成功であったことに応答して予備の
    セルを代替させる手段であって、それにより前記セクタ
    の残りのセルの動作を保持させる応答手段からなるメモ
    リカード。
  57. (57)請求項56にしたがうメモリカードであって、
    それは前記カードに設けられたキャッシュメモリをさら
    に含み、そして前記プログラム手段は前記EEprom
    よりはむしろ前記キャッシュメモリを初期的にプログラ
    ムする手段を含み、 前記読み込み手段は前記キャッシュメモリが読出される
    べきデータを含んでいるかどうかを初期的に決定する手
    段を含み、そして前記キャッシュメモリが書込みのため
    に満たされ、その最も古い使用されていないブロックの
    データを前記EEpromメモリに書込むための手段と
    、これにより前記キャッシュメモリの中に新しいデータ
    の余地を形成するようにしたメモリカード。
  58. (58)請求項56記載のメモリカードであって、前記
    チップは複数の予備のセクタを含み、ここにおいて、前
    記代替手段は前記セクタの中のセルの数が一定値に達し
    たときに前記セクタの一つのために前記予備のセクタを
    代替する手段を含むメモリカード。
  59. (59)請求項58記載のメモリカードであって、誤差
    修正コードを用いる誤り修正を行なう手段を含むメモリ
    カード。
  60. (60)請求項56記載のメモリカードであって、前記
    システムバスに接続されているコントローラとインタフ
    ェースを含み、前記コントローラは前記コンピュータシ
    ステムに接続可能である標準的な磁気ディスク駆動装置
    のための命令に応答可能なものであり、これにより前記
    ディスク駆動システムと同等、またはそれ以上のもので
    あるメモリカード。
  61. (61)請求項56記載のメモリカードであって、その
    中にはEEpromチップの種々の操作のために種々の
    動作電圧が要求されており、標準電源から種々の動作電
    圧を発生させる手段を含むメモリカード。
  62. (62)請求項16記載のメモリカーカードをその中に
    含んでいる貯蔵システムであって、 前記EEpromチップの動作を制御するためのコント
    ローラと、 前記EEpromチップの動作のための電圧発生手段と
    、 前記貯蔵システムの動作中に誤差を修正する手段と、 前記貯蔵システムをコンピュータシステムにインタフェ
    ースするための手段とからなる蓄積システム。
JP9911490A 1989-04-13 1990-04-12 フラッシュEEpromシステム Expired - Lifetime JP3226042B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US33756689A 1989-04-13 1989-04-13
US337566 1989-04-13

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02384299A Division JP3944326B2 (ja) 1999-02-01 1999-02-01 フラッシュEEpromシステム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02292798A true JPH02292798A (ja) 1990-12-04
JP3226042B2 JP3226042B2 (ja) 2001-11-05

Family

ID=23321048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9911490A Expired - Lifetime JP3226042B2 (ja) 1989-04-13 1990-04-12 フラッシュEEpromシステム

Country Status (4)

Country Link
US (29) US5297148A (ja)
EP (6) EP0935255A2 (ja)
JP (1) JP3226042B2 (ja)
DE (5) DE69033438T2 (ja)

Cited By (71)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04351794A (ja) * 1991-05-29 1992-12-07 Hitachi Ltd 不揮発性記憶装置
JPH05216001A (ja) * 1992-02-06 1993-08-27 Nec Corp Lcd製造装置
JPH05242688A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Hitachi Ltd フラッシュeepromを用いた記録再生装置
JPH05313989A (ja) * 1992-05-08 1993-11-26 Toshiba Corp メモリカード装置
JPH064399A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPH065094A (ja) * 1992-06-17 1994-01-14 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JPH0675836A (ja) * 1992-08-25 1994-03-18 Nippon Densan Corp 補助記憶装置
JPH06139140A (ja) * 1990-12-31 1994-05-20 Intel Corp 不揮発性半導体メモリのファイル構造
JPH06163856A (ja) * 1992-11-19 1994-06-10 Fujitsu Ltd 一括消去型不揮発性半導体記憶装置およびその試験方法
JPH06202942A (ja) * 1991-11-12 1994-07-22 Allen Bradley Co Inc フラッシュメモリ回路と操作方法
JPH06208799A (ja) * 1992-10-30 1994-07-26 Intel Corp フラッシュメモリの動作を監視する方法
JPH06259320A (ja) * 1993-03-04 1994-09-16 Hitachi Ltd 不揮発性メモリ装置
JPH06314496A (ja) * 1993-04-30 1994-11-08 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
US5371702A (en) * 1992-03-05 1994-12-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Block erasable nonvolatile memory device
US5379262A (en) * 1992-07-01 1995-01-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device
JPH076595A (ja) * 1993-01-05 1995-01-10 Texas Instr Inc <Ti> フラッシュメモリの保護方式を持つスマート消去アルゴリズム
EP0619541A3 (en) * 1993-04-08 1995-03-01 Hitachi Ltd Flash memory control method and information processing system using it.
JPH0773690A (ja) * 1993-06-30 1995-03-17 Sharp Corp Eepromを使用した記録装置
JPH07146820A (ja) * 1993-04-08 1995-06-06 Hitachi Ltd フラッシュメモリの制御方法及び、それを用いた情報処理装置
JPH07160590A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Sansei Denshi Japan Kk 記憶データアクセス方法とその装置
JPH07271664A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録再生装置
JPH0887876A (ja) * 1994-07-25 1996-04-02 Samsung Electron Co Ltd Nand形フラッシュメモリicカード
US5509018A (en) * 1992-09-11 1996-04-16 International Business Machines Corporation Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device
US5611067A (en) * 1992-03-31 1997-03-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device having means for selective transfer of memory block contents and for chaining together unused memory blocks
JPH09502824A (ja) * 1993-05-28 1997-03-18 マクロニクス インターナショナル カンパニイ リミテッド 過消去保護用ブロック消去フラグを有するフラッシュeprom
JPH0997217A (ja) * 1995-09-28 1997-04-08 Canon Inc フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置
JPH0997199A (ja) * 1995-09-28 1997-04-08 Canon Inc フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置
US5644539A (en) * 1991-11-26 1997-07-01 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
JPH10125081A (ja) * 1996-10-21 1998-05-15 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ
JPH11504147A (ja) * 1992-09-21 1999-04-06 サンディスク コーポレイション Eepromにおける潜在欠陥の操作法(管理法)
JPH11110263A (ja) * 1997-09-30 1999-04-23 Sony Corp 記憶装置、データ処理装置及びデータ処理方法
JPH11512544A (ja) * 1995-09-13 1999-10-26 レクサー・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド 半導体不揮発性大容量記憶メモリ内の自動摩耗レベリングによるシステム・データ制御の方法およびアーキテクチャ
JP2000148583A (ja) * 1992-06-22 2000-05-30 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2000163314A (ja) * 1992-06-22 2000-06-16 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US6078520A (en) * 1993-04-08 2000-06-20 Hitachi, Ltd. Flash memory control method and information processing system therewith
US6081447A (en) * 1991-09-13 2000-06-27 Western Digital Corporation Wear leveling techniques for flash EEPROM systems
US6161195A (en) * 1992-05-08 2000-12-12 Kabushiki Kaisha Toshiba EEPROM memory card device having defect relieving means
JP2001181934A (ja) * 1999-11-11 2001-07-03 Truetzschler Gmbh & Co Kg 紡績機械、特に紡績準備機械を電子的に制御する装置
JP2001273776A (ja) * 1991-12-19 2001-10-05 Toshiba Corp キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置、半導体記憶システムおよびメモリベリファイ回路
US6347051B2 (en) 1991-11-26 2002-02-12 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
US6351787B2 (en) 1993-03-11 2002-02-26 Hitachi, Ltd. File memory device and information processing apparatus using the same
JP2002133877A (ja) * 2001-09-03 2002-05-10 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JP2002170389A (ja) * 2000-06-30 2002-06-14 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置とその動作方法
JP2002236612A (ja) * 2002-01-21 2002-08-23 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2003501758A (ja) * 1999-06-04 2003-01-14 ドゥデケム・ダコズ,ザビエール・ギィ・ベルナール カードメモリ装置
US6549974B2 (en) 1992-06-22 2003-04-15 Hitachi, Ltd. Semiconductor storage apparatus including a controller for sending first and second write commands to different nonvolatile memories in a parallel or time overlapped manner
US6581132B1 (en) 1997-12-16 2003-06-17 Tdk Corporation Flash memory system including a memory manager for managing data
US6591329B1 (en) 1997-12-22 2003-07-08 Tdk Corporation Flash memory system for restoring an internal memory after a reset event
JP2003331589A (ja) * 2003-06-13 2003-11-21 Hitachi Ltd 不揮発性メモリ装置
JP2004095168A (ja) * 1991-12-19 2004-03-25 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置、キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、および半導体記憶システム
JP2004240993A (ja) * 2004-04-12 2004-08-26 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2004303278A (ja) * 1991-11-28 2004-10-28 Hitachi Ltd 情報処理システム
JP2004311016A (ja) * 2003-04-08 2004-11-04 Samsung Electronics Co Ltd マルチチップでマルチセクタ消去動作モードを支援する半導体メモリチップ及びマルチチップパッケージ、及びマルチセクタ消去方法
JP2005100470A (ja) * 2004-12-28 2005-04-14 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2005196658A (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 Buffalo Inc 外部記憶装置
JP2005339581A (ja) * 2005-08-08 2005-12-08 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2005339763A (ja) * 2005-03-18 2005-12-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JP2006509304A (ja) * 2002-12-09 2006-03-16 サンディスク コーポレイション 不揮発性メモリにおける欠陥のためのゾーン境界調整
JP2006209808A (ja) * 1992-01-29 2006-08-10 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
US7120729B2 (en) 2002-10-28 2006-10-10 Sandisk Corporation Automated wear leveling in non-volatile storage systems
US7139201B2 (en) 1991-12-19 2006-11-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same
US7190617B1 (en) 1989-04-13 2007-03-13 Sandisk Corporation Flash EEprom system
JP2007172650A (ja) * 1991-11-28 2007-07-05 Hitachi Ltd フラッシュメモリを備えた情報機器
JP2007250186A (ja) * 2007-07-09 2007-09-27 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置
JP2008108281A (ja) * 2008-01-10 2008-05-08 Renesas Technology Corp 半導体ディスク装置
JP2009530758A (ja) * 2006-03-13 2009-08-27 マイクロン テクノロジー, インク. メモリデバイス分散型制御器システム
JP2009282505A (ja) * 2008-04-25 2009-12-03 Canon Inc 不揮発性メモリの制御装置及び画像形成装置
US7949910B2 (en) 2008-04-24 2011-05-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system and control method thereof
JP2012523624A (ja) * 2009-04-08 2012-10-04 グーグル インコーポレイテッド フラッシュメモリデータストレージデバイスにデータを格納するための方法及び装置
JP2013033507A (ja) * 2012-10-31 2013-02-14 Fujitsu Ltd データ制御方法およびシステム
US9244842B2 (en) 2009-04-08 2016-01-26 Google Inc. Data storage device with copy command

Families Citing this family (1304)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5268319A (en) * 1988-06-08 1993-12-07 Eliyahou Harari Highly compact EPROM and flash EEPROM devices
US8027194B2 (en) 1988-06-13 2011-09-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system and method of accessing a semiconductor memory device
US5844842A (en) * 1989-02-06 1998-12-01 Hitachi, Ltd. Nonvolatile semiconductor memory device
DE69033438T2 (de) * 1989-04-13 2000-07-06 Sandisk Corp., Santa Clara Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze
US5535328A (en) * 1989-04-13 1996-07-09 Sandisk Corporation Non-volatile memory system card with flash erasable sectors of EEprom cells including a mechanism for substituting defective cells
US7447069B1 (en) 1989-04-13 2008-11-04 Sandisk Corporation Flash EEprom system
US5603000A (en) * 1989-05-15 1997-02-11 Dallas Semiconductor Corporation Integrated circuit memory with verification unit which resets an address translation register upon failure to define one-to-one correspondences between addresses and memory cells
JP2617026B2 (ja) * 1989-12-22 1997-06-04 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 障害余裕性メモリ・システム
JPH04221496A (ja) * 1990-03-29 1992-08-11 Intel Corp 単一基板上に設けられるコンピュータメモリ回路およびコンピュータメモリを消去するためのシーケンスを終らせる方法
US5222109A (en) * 1990-12-28 1993-06-22 Ibm Corporation Endurance management for solid state files
GB2251323B (en) * 1990-12-31 1994-10-12 Intel Corp Disk emulation for a non-volatile semiconductor memory
US5293236A (en) * 1991-01-11 1994-03-08 Fuji Photo Film Co., Ltd. Electronic still camera including an EEPROM memory card and having a continuous shoot mode
US5218569A (en) * 1991-02-08 1993-06-08 Banks Gerald J Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per memory cell
KR960002004B1 (ko) * 1991-02-19 1996-02-09 가부시키가이샤 도시바 기록검증 제어회로를 갖춘 전기적으로 소거 및 프로그램가능한 독출전용 기억장치
US5388220A (en) * 1991-03-19 1995-02-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Parallel processing system and data transfer method which reduces bus contention by use of data relays having plurality of buffers
US5663901A (en) * 1991-04-11 1997-09-02 Sandisk Corporation Computer memory cards using flash EEPROM integrated circuit chips and memory-controller systems
GB2256735B (en) * 1991-06-12 1995-06-21 Intel Corp Non-volatile disk cache
JP2582487B2 (ja) * 1991-07-12 1997-02-19 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 半導体メモリを用いた外部記憶システム及びその制御方法
US5430859A (en) * 1991-07-26 1995-07-04 Sundisk Corporation Solid state memory system including plural memory chips and a serialized bus
US5438573A (en) * 1991-09-13 1995-08-01 Sundisk Corporation Flash EEPROM array data and header file structure
US5778418A (en) * 1991-09-27 1998-07-07 Sandisk Corporation Mass computer storage system having both solid state and rotating disk types of memory
JPH05100699A (ja) * 1991-10-11 1993-04-23 Sharp Corp 音声記録再生装置
US5359569A (en) * 1991-10-29 1994-10-25 Hitachi Ltd. Semiconductor memory
EP1126474B1 (en) * 1991-11-20 2003-03-05 Fujitsu Limited Semiconductor memory device
JPH05151097A (ja) * 1991-11-28 1993-06-18 Fujitsu Ltd 書換回数制限型メモリのデータ管理方式
JP3122201B2 (ja) * 1991-11-30 2001-01-09 株式会社東芝 メモリカード装置
US5361227A (en) * 1991-12-19 1994-11-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same
JP3178909B2 (ja) * 1992-01-10 2001-06-25 株式会社東芝 半導体メモリ装置
US7071060B1 (en) 1996-02-28 2006-07-04 Sandisk Corporation EEPROM with split gate source side infection with sidewall spacers
US5712180A (en) * 1992-01-14 1998-01-27 Sundisk Corporation EEPROM with split gate source side injection
US5313421A (en) * 1992-01-14 1994-05-17 Sundisk Corporation EEPROM with split gate source side injection
US6222762B1 (en) 1992-01-14 2001-04-24 Sandisk Corporation Multi-state memory
JPH05233426A (ja) * 1992-02-20 1993-09-10 Fujitsu Ltd フラッシュ・メモリ使用方法
US5687345A (en) * 1992-03-17 1997-11-11 Hitachi, Ltd. Microcomputer having CPU and built-in flash memory that is rewritable under control of the CPU analyzing a command supplied from an external device
US6414878B2 (en) 1992-03-17 2002-07-02 Hitachi, Ltd. Data line disturbance free memory block divided flash memory and microcomputer having flash memory therein
US7057937B1 (en) 1992-03-17 2006-06-06 Renesas Technology Corp. Data processing apparatus having a flash memory built-in which is rewritable by use of external device
TW231343B (ja) 1992-03-17 1994-10-01 Hitachi Seisakusyo Kk
US5422855A (en) * 1992-03-31 1995-06-06 Intel Corporation Flash memory card with all zones chip enable circuitry
US5428579A (en) * 1992-03-31 1995-06-27 Intel Corporation Flash memory card with power control register and jumpers
US5375222A (en) * 1992-03-31 1994-12-20 Intel Corporation Flash memory card with a ready/busy mask register
JPH05324489A (ja) * 1992-05-15 1993-12-07 Toshiba Corp 記憶装置
US5459742A (en) * 1992-06-11 1995-10-17 Quantum Corporation Solid state disk memory using storage devices with defects
US5592415A (en) 1992-07-06 1997-01-07 Hitachi, Ltd. Non-volatile semiconductor memory
EP0596198B1 (en) * 1992-07-10 2000-03-29 Sony Corporation Flash eprom with erase verification and address scrambling architecture
JPH0750558B2 (ja) * 1992-09-22 1995-05-31 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 一括消去型不揮発性メモリ
JP3105092B2 (ja) * 1992-10-06 2000-10-30 株式会社東芝 半導体メモリ装置
US5369616A (en) * 1992-10-30 1994-11-29 Intel Corporation Method for assuring that an erase process for a memory array has been properly completed
US5471604A (en) * 1992-10-30 1995-11-28 Intel Corporation Method for locating sector data in a memory disk by examining a plurality of headers near an initial pointer
US5341339A (en) * 1992-10-30 1994-08-23 Intel Corporation Method for wear leveling in a flash EEPROM memory
US5535369A (en) * 1992-10-30 1996-07-09 Intel Corporation Method for allocating memory in a solid state memory disk
US5740395A (en) * 1992-10-30 1998-04-14 Intel Corporation Method and apparatus for cleaning up a solid state memory disk storing floating sector data
US5822781A (en) * 1992-10-30 1998-10-13 Intel Corporation Sector-based storage device emulator having variable-sized sector
US5337275A (en) * 1992-10-30 1994-08-09 Intel Corporation Method for releasing space in flash EEPROM memory array to allow the storage of compressed data
US5479633A (en) * 1992-10-30 1995-12-26 Intel Corporation Method of controlling clean-up of a solid state memory disk storing floating sector data
US5452311A (en) * 1992-10-30 1995-09-19 Intel Corporation Method and apparatus to improve read reliability in semiconductor memories
US5341330A (en) * 1992-10-30 1994-08-23 Intel Corporation Method for writing to a flash memory array during erase suspend intervals
US5357475A (en) * 1992-10-30 1994-10-18 Intel Corporation Method for detaching sectors in a flash EEPROM memory array
US5416782A (en) * 1992-10-30 1995-05-16 Intel Corporation Method and apparatus for improving data failure rate testing for memory arrays
US5448577A (en) * 1992-10-30 1995-09-05 Intel Corporation Method for reliably storing non-data fields in a flash EEPROM memory array
US5359570A (en) * 1992-11-13 1994-10-25 Silicon Storage Technology, Inc. Solid state peripheral storage device
JPH06161867A (ja) * 1992-11-20 1994-06-10 Fujitsu Ltd 電子機器に設けられたメモリユニットの制御装置
US5452251A (en) * 1992-12-03 1995-09-19 Fujitsu Limited Semiconductor memory device for selecting and deselecting blocks of word lines
US5870520A (en) * 1992-12-23 1999-02-09 Packard Bell Nec Flash disaster recovery ROM and utility to reprogram multiple ROMS
FR2700043B1 (fr) * 1992-12-30 1995-02-10 Neopost Ind Machine à affranchir permettant de mémoriser un historique.
US5586285A (en) * 1993-02-19 1996-12-17 Intel Corporation Method and circuitry for increasing reserve memory in a solid state memory disk
US5603036A (en) * 1993-02-19 1997-02-11 Intel Corporation Power management system for components used in battery powered applications
US5455800A (en) * 1993-02-19 1995-10-03 Intel Corporation Apparatus and a method for improving the program and erase performance of a flash EEPROM memory array
US5835933A (en) * 1993-02-19 1998-11-10 Intel Corporation Method and apparatus for updating flash memory resident firmware through a standard disk drive interface
US5740349A (en) * 1993-02-19 1998-04-14 Intel Corporation Method and apparatus for reliably storing defect information in flash disk memories
US5581723A (en) * 1993-02-19 1996-12-03 Intel Corporation Method and apparatus for retaining flash block structure data during erase operations in a flash EEPROM memory array
WO1994019807A1 (en) * 1993-02-22 1994-09-01 Conner Peripherals, Inc. Flash solid state drive
EP0613151A3 (en) 1993-02-26 1995-03-22 Tokyo Shibaura Electric Co Semiconductor memory system with flash EEPROM.
JP3078946B2 (ja) * 1993-03-11 2000-08-21 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション 一括消去型不揮発性メモリの管理方法及び半導体ディスク装置
GB9305801D0 (en) * 1993-03-19 1993-05-05 Deans Alexander R Semiconductor memory system
US5479638A (en) * 1993-03-26 1995-12-26 Cirrus Logic, Inc. Flash memory mass storage architecture incorporation wear leveling technique
US5488711A (en) * 1993-04-01 1996-01-30 Microchip Technology Incorporated Serial EEPROM device and associated method for reducing data load time using a page mode write cache
JPH06312593A (ja) 1993-04-28 1994-11-08 Toshiba Corp 外部記憶装置、外部記憶装置ユニットおよび外部記憶装置の製造方法
US5414664A (en) * 1993-05-28 1995-05-09 Macronix International Co., Ltd. Flash EPROM with block erase flags for over-erase protection
FR2708763B1 (fr) * 1993-06-30 2002-04-05 Intel Corp Dispositif de mémoire flash, procédé et circuit de traitement d'un ordre d'utilisateur dans un dispositif de mémoire flash et système d'ordinateur comprenant un dispositif de mémoire flash.
US5410544A (en) * 1993-06-30 1995-04-25 Intel Corporation External tester control for flash memory
US5524231A (en) * 1993-06-30 1996-06-04 Intel Corporation Nonvolatile memory card with an address table and an address translation logic for mapping out defective blocks within the memory card
JPH0737049A (ja) * 1993-07-23 1995-02-07 Toshiba Corp 外部記憶装置
US5600821A (en) * 1993-07-28 1997-02-04 National Semiconductor Corporation Distributed directory for information stored on audio quality memory devices
US5640529A (en) * 1993-07-29 1997-06-17 Intel Corporation Method and system for performing clean-up of a solid state disk during host command execution
JP2669303B2 (ja) * 1993-08-03 1997-10-27 日本電気株式会社 ビットエラー訂正機能付き半導体メモリ
US5471518A (en) * 1993-08-10 1995-11-28 Novatel Communications Ltd. Method and apparatus for non-volatile data storage in radio telephones and the like
US5887145A (en) * 1993-09-01 1999-03-23 Sandisk Corporation Removable mother/daughter peripheral card
US7137011B1 (en) 1993-09-01 2006-11-14 Sandisk Corporation Removable mother/daughter peripheral card
FR2710445B1 (fr) * 1993-09-20 1995-11-03 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de redondance dynamique pour mémoire en circuit intégré.
US5490264A (en) * 1993-09-30 1996-02-06 Intel Corporation Generally-diagonal mapping of address space for row/column organizer memories
JP3215237B2 (ja) * 1993-10-01 2001-10-02 富士通株式会社 記憶装置および記憶装置の書き込み/消去方法
US5712664A (en) * 1993-10-14 1998-01-27 Alliance Semiconductor Corporation Shared memory graphics accelerator system
JPH07114500A (ja) * 1993-10-19 1995-05-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 不揮発性メモリ記憶装置
FR2711831B1 (fr) * 1993-10-26 1997-09-26 Intel Corp Procédé et circuit de mémorisation et de hiérarchisation d'ordres d'effacement dans un dispositif de mémoire.
SG49632A1 (en) * 1993-10-26 1998-06-15 Intel Corp Programmable code store circuitry for a nonvolatile semiconductor memory device
US6154850A (en) * 1993-11-01 2000-11-28 Beaufort River, Inc. Data storage system and method
US5555516A (en) * 1993-11-04 1996-09-10 Cirrus Logic, Inc. Multipurpose error correction calculation circuit
US5668976A (en) * 1993-11-04 1997-09-16 Cirrus Logic, Inc. Error correction method and apparatus for disk drive emulator
US5592404A (en) * 1993-11-04 1997-01-07 Cirrus Logic, Inc. Versatile error correction system
GB9326499D0 (en) * 1993-12-24 1994-03-02 Deas Alexander R Flash memory system with arbitrary block size
US5440505A (en) * 1994-01-21 1995-08-08 Intel Corporation Method and circuitry for storing discrete amounts of charge in a single memory element
US5860157A (en) * 1994-01-26 1999-01-12 Intel Corporation Nonvolatile memory card controller with an optimized memory address mapping window scheme
US6750908B1 (en) * 1994-02-03 2004-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus using recording medium which needs data erasing processing before recording of data
JP3383398B2 (ja) * 1994-03-22 2003-03-04 株式会社東芝 半導体パッケージ
FR2718867B1 (fr) * 1994-04-13 1996-05-24 Sgs Thomson Microelectronics Procédé d'effacement d'une mémoire et circuits de mise en Óoeuvre.
US5715423A (en) * 1994-04-18 1998-02-03 Intel Corporation Memory device with an internal data transfer circuit
JP3154892B2 (ja) * 1994-05-10 2001-04-09 株式会社東芝 Icメモリカードおよびそのicメモリカードの検査方法
AU2593595A (en) * 1994-06-02 1996-01-04 Intel Corporation Sensing schemes for flash memory with multilevel cells
US5539690A (en) * 1994-06-02 1996-07-23 Intel Corporation Write verify schemes for flash memory with multilevel cells
US5497354A (en) 1994-06-02 1996-03-05 Intel Corporation Bit map addressing schemes for flash memory
US5450363A (en) * 1994-06-02 1995-09-12 Intel Corporation Gray coding for a multilevel cell memory system
US5485422A (en) * 1994-06-02 1996-01-16 Intel Corporation Drain bias multiplexing for multiple bit flash cell
US5515317A (en) * 1994-06-02 1996-05-07 Intel Corporation Addressing modes for a dynamic single bit per cell to multiple bit per cell memory
WO1995034074A1 (en) * 1994-06-02 1995-12-14 Intel Corporation Dynamic single to multiple bit per cell memory
US5696917A (en) * 1994-06-03 1997-12-09 Intel Corporation Method and apparatus for performing burst read operations in an asynchronous nonvolatile memory
US5497355A (en) * 1994-06-03 1996-03-05 Intel Corporation Synchronous address latching for memory arrays
US5592435A (en) * 1994-06-03 1997-01-07 Intel Corporation Pipelined read architecture for memory
DE69426817T2 (de) * 1994-06-07 2001-08-02 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Fertigungprüfungsverfahren von Flash-EEPROM-Vorrichtungen
JPH07334999A (ja) * 1994-06-07 1995-12-22 Hitachi Ltd 不揮発性半導体記憶装置及びデータプロセッサ
WO1995035572A1 (en) * 1994-06-20 1995-12-28 Neomagic Corporation Graphics controller integrated circuit without memory interface
DE4425388B4 (de) * 1994-07-19 2005-07-21 Robert Bosch Gmbh Steuergerät
US5765175A (en) * 1994-08-26 1998-06-09 Intel Corporation System and method for removing deleted entries in file systems based on write-once or erase-slowly media
JPH0877066A (ja) * 1994-08-31 1996-03-22 Tdk Corp フラッシュメモリコントローラ
US5822256A (en) * 1994-09-06 1998-10-13 Intel Corporation Method and circuitry for usage of partially functional nonvolatile memory
JPH0883148A (ja) * 1994-09-13 1996-03-26 Nec Corp 磁気ディスク装置
US5592498A (en) * 1994-09-16 1997-01-07 Cirrus Logic, Inc. CRC/EDC checker system
US5508958A (en) * 1994-09-29 1996-04-16 Intel Corporation Method and apparatus for sensing the state of floating gate memory cells by applying a variable gate voltage
US5754817A (en) * 1994-09-29 1998-05-19 Intel Corporation Execution in place of a file stored non-contiguously in a non-volatile memory
US5809558A (en) * 1994-09-29 1998-09-15 Intel Corporation Method and data storage system for storing data in blocks without file reallocation before erasure
US5508971A (en) * 1994-10-17 1996-04-16 Sandisk Corporation Programmable power generation circuit for flash EEPROM memory systems
JPH08115597A (ja) * 1994-10-17 1996-05-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体ディスク装置
DE19540915A1 (de) * 1994-11-10 1996-05-15 Raymond Engineering Redundante Anordnung von Festkörper-Speicherbausteinen
JP2669365B2 (ja) * 1994-11-24 1997-10-27 日本電気株式会社 書換え可能なromファイル装置
JP3388921B2 (ja) * 1994-11-29 2003-03-24 株式会社東芝 集積回路カードの製造方法
DE4443065A1 (de) * 1994-12-03 1996-06-05 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Programmierung eines elektrisch löschbaren, nichtflüchtigen Speichers in einem elektronischen Rechengerät sowie Steuergerät zur Verwendung bei dem Verfahren
US5475693A (en) * 1994-12-27 1995-12-12 Intel Corporation Error management processes for flash EEPROM memory arrays
US5563828A (en) * 1994-12-27 1996-10-08 Intel Corporation Method and apparatus for searching for data in multi-bit flash EEPROM memory arrays
WO1996021229A1 (en) * 1995-01-05 1996-07-11 Macronix International Co., Ltd. Non-volatile memory device for fault tolerant data
US5954828A (en) * 1995-01-05 1999-09-21 Macronix International Co., Ltd. Non-volatile memory device for fault tolerant data
JP2734391B2 (ja) * 1995-01-18 1998-03-30 日本電気株式会社 不揮発性メモリのファイル管理装置
KR100566464B1 (ko) 1995-01-31 2006-03-31 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 반도체 메모리 장치
US6471130B2 (en) * 1995-02-03 2002-10-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Information storage apparatus and information processing apparatus using the same
JP3660382B2 (ja) * 1995-02-03 2005-06-15 株式会社東芝 情報記憶装置およびそれに用いるコネクタ部
USRE38997E1 (en) * 1995-02-03 2006-02-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Information storage and information processing system utilizing state-designating member provided on supporting card surface which produces write-permitting or write-inhibiting signal
US6353554B1 (en) 1995-02-27 2002-03-05 Btg International Inc. Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell
US5765002A (en) * 1995-03-13 1998-06-09 Intel Corporation Method and apparatus for minimizing power consumption in a microprocessor controlled storage device
US5606532A (en) * 1995-03-17 1997-02-25 Atmel Corporation EEPROM array with flash-like core
JPH08255432A (ja) * 1995-03-20 1996-10-01 Fujitsu Ltd 記録再生装置及び交代処理方法
US5724592A (en) * 1995-03-31 1998-03-03 Intel Corporation Method and apparatus for managing active power consumption in a microprocessor controlled storage device
JPH08297928A (ja) * 1995-04-26 1996-11-12 Toshiba Corp 記録媒体の検査機能を有する磁気ディスク装置
EP0741387B1 (en) * 1995-05-05 2000-01-12 STMicroelectronics S.r.l. Nonvolatile memory device with sectors of preselectable size and number
US5812861A (en) * 1995-06-22 1998-09-22 Intel Corporation Override signal for forcing a powerdown of a flash memory
JPH0922393A (ja) * 1995-07-06 1997-01-21 Mitsubishi Electric Corp 通信機能を有するワンチップフラッシュメモリ装置
JP3782840B2 (ja) 1995-07-14 2006-06-07 株式会社ルネサステクノロジ 外部記憶装置およびそのメモリアクセス制御方法
US5930815A (en) * 1995-07-31 1999-07-27 Lexar Media, Inc. Moving sequential sectors within a block of information in a flash memory mass storage architecture
US6728851B1 (en) 1995-07-31 2004-04-27 Lexar Media, Inc. Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices
US5907856A (en) * 1995-07-31 1999-05-25 Lexar Media, Inc. Moving sectors within a block of information in a flash memory mass storage architecture
US5838614A (en) * 1995-07-31 1998-11-17 Lexar Microsystems, Inc. Identification and verification of a sector within a block of mass storage flash memory
US5845313A (en) 1995-07-31 1998-12-01 Lexar Direct logical block addressing flash memory mass storage architecture
US8171203B2 (en) 1995-07-31 2012-05-01 Micron Technology, Inc. Faster write operations to nonvolatile memory using FSInfo sector manipulation
US6757800B1 (en) 1995-07-31 2004-06-29 Lexar Media, Inc. Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices
US6801979B1 (en) 1995-07-31 2004-10-05 Lexar Media, Inc. Method and apparatus for memory control circuit
US6978342B1 (en) 1995-07-31 2005-12-20 Lexar Media, Inc. Moving sectors within a block of information in a flash memory mass storage architecture
US6081878A (en) 1997-03-31 2000-06-27 Lexar Media, Inc. Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices
DE29512593U1 (de) * 1995-08-04 1995-10-12 Franck, Peter Heinz, 81669 München Hybriddatenspeicher
JPH0954726A (ja) * 1995-08-18 1997-02-25 Mitsubishi Electric Corp 記憶装置
JPH0964240A (ja) 1995-08-25 1997-03-07 Toshiba Corp 半導体装置および半導体装置の製造方法
US6125435A (en) * 1995-09-13 2000-09-26 Lexar Media, Inc. Alignment of cluster address to block addresses within a semiconductor non-volatile mass storage memory
US5892213A (en) * 1995-09-21 1999-04-06 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Memory card
GB2291991A (en) * 1995-09-27 1996-02-07 Memory Corp Plc Disk drive emulation with a block-erasable memory
US5815434A (en) * 1995-09-29 1998-09-29 Intel Corporation Multiple writes per a single erase for a nonvolatile memory
US6170066B1 (en) 1995-09-29 2001-01-02 Intel Corporation Power-off recovery management for sector based flash media managers
US5696929A (en) * 1995-10-03 1997-12-09 Intel Corporation Flash EEPROM main memory in a computer system
US6014724A (en) * 1995-10-27 2000-01-11 Scm Microsystems (U.S.) Inc. Flash translation layer block indication map revision system and method
US5987478A (en) * 1995-10-31 1999-11-16 Intel Corporation Virtual small block file manager for flash memory array
US5802553A (en) * 1995-12-19 1998-09-01 Intel Corporation File system configured to support variable density storage and data compression within a nonvolatile memory
US5829013A (en) 1995-12-26 1998-10-27 Intel Corporation Memory manager to allow non-volatile memory to be used to supplement main memory
EP0782145B1 (en) * 1995-12-29 2000-05-10 STMicroelectronics S.r.l. Erasing method for a non-volatile memory
EP1260989A3 (en) * 1995-12-29 2005-11-30 STMicroelectronics S.r.l. Method to prevent disturbances during the erasing phase in a non-volatile memory device
JPH09204367A (ja) * 1996-01-25 1997-08-05 Mitsubishi Electric Corp フラッシュディスクカードにおけるフラッシュメモリデータのリフレッシュ方法
US5673224A (en) * 1996-02-23 1997-09-30 Micron Quantum Devices, Inc. Segmented non-volatile memory array with multiple sources with improved word line control circuitry
JP3614173B2 (ja) 1996-02-29 2005-01-26 株式会社ルネサステクノロジ 部分不良メモリを搭載した半導体記憶装置
US5787445A (en) * 1996-03-07 1998-07-28 Norris Communications Corporation Operating system including improved file management for use in devices utilizing flash memory as main memory
US5860082A (en) * 1996-03-28 1999-01-12 Datalight, Inc. Method and apparatus for allocating storage in a flash memory
US6009537A (en) * 1996-03-29 1999-12-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Disk wear prevention by relocating data in response to a head slide count
JP3615299B2 (ja) * 1996-03-29 2005-02-02 三洋電機株式会社 書換え可能romの記憶方法及び記憶装置
JP2799310B2 (ja) * 1996-04-02 1998-09-17 山一電機株式会社 メモリーカード稼動電子機器におけるic保護装置
US5835930A (en) * 1996-04-09 1998-11-10 International Business Machines Corporation One or more logical tracks per physical track in a headerless disk drive
US6073204A (en) * 1997-04-23 2000-06-06 Micron Technology, Inc. Memory system having flexible architecture and method
US5956601A (en) * 1996-04-25 1999-09-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of mounting a plurality of semiconductor devices in corresponding supporters
US6022763A (en) * 1996-05-10 2000-02-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Substrate for semiconductor device, semiconductor device using the same, and method for manufacture thereof
US5841957A (en) * 1996-05-23 1998-11-24 Acti Technology Corp. Programmable I/O remapper for partially defective memory devices
US5896393A (en) * 1996-05-23 1999-04-20 Advanced Micro Devices, Inc. Simplified file management scheme for flash memory
TW332334B (en) * 1996-05-31 1998-05-21 Toshiba Co Ltd The semiconductor substrate and its producing method and semiconductor apparatus
JPH09327990A (ja) * 1996-06-11 1997-12-22 Toshiba Corp カード型記憶装置
GB2353120B (en) * 1996-06-28 2001-03-21 Intel Corp Method and apparatus for protecting flash memory
US5778070A (en) * 1996-06-28 1998-07-07 Intel Corporation Method and apparatus for protecting flash memory
GB9614551D0 (en) * 1996-07-11 1996-09-04 Memory Corp Plc Memory system
ATE225961T1 (de) * 1996-08-16 2002-10-15 Tokyo Electron Device Ltd Halbleiterspeicheranordnung mit fehlerdetektion und -korrektur
US6857099B1 (en) * 1996-09-18 2005-02-15 Nippon Steel Corporation Multilevel semiconductor memory, write/read method thereto/therefrom and storage medium storing write/read program
US6148360A (en) * 1996-09-20 2000-11-14 Intel Corporation Nonvolatile writeable memory with program suspend command
US6201739B1 (en) * 1996-09-20 2001-03-13 Intel Corporation Nonvolatile writeable memory with preemption pin
US5940861A (en) * 1996-09-20 1999-08-17 Intel Corporation Method and apparatus for preempting operations in a nonvolatile memory in order to read code from the nonvolatile memory
US5920884A (en) * 1996-09-24 1999-07-06 Hyundai Electronics America, Inc. Nonvolatile memory interface protocol which selects a memory device, transmits an address, deselects the device, subsequently reselects the device and accesses data
US5798968A (en) * 1996-09-24 1998-08-25 Sandisk Corporation Plane decode/virtual sector architecture
KR0185954B1 (ko) * 1996-09-30 1999-05-15 삼성전자주식회사 휴대형 단말기기의 메모리 관리방법
GB2317722B (en) * 1996-09-30 2001-07-18 Nokia Mobile Phones Ltd Memory device
GB2317720A (en) * 1996-09-30 1998-04-01 Nokia Mobile Phones Ltd Managing Flash memory
EP0834812A1 (en) 1996-09-30 1998-04-08 Cummins Engine Company, Inc. A method for accessing flash memory and an automotive electronic control system
US6292868B1 (en) 1996-10-15 2001-09-18 Micron Technology, Inc. System and method for encoding data to reduce power and time required to write the encoded data to a flash memory
US6047352A (en) 1996-10-29 2000-04-04 Micron Technology, Inc. Memory system, method and predecoding circuit operable in different modes for selectively accessing multiple blocks of memory cells for simultaneous writing or erasure
US5862314A (en) * 1996-11-01 1999-01-19 Micron Electronics, Inc. System and method for remapping defective memory locations
US5890192A (en) 1996-11-05 1999-03-30 Sandisk Corporation Concurrent write of multiple chunks of data into multiple subarrays of flash EEPROM
US5796670A (en) * 1996-11-07 1998-08-18 Ramax Semiconductor, Inc. Nonvolatile dynamic random access memory device
US5968139A (en) * 1996-11-25 1999-10-19 Micron Electronics, Inc. Method of redirecting I/O operations to memory
US5956473A (en) * 1996-11-25 1999-09-21 Macronix International Co., Ltd. Method and system for managing a flash memory mass storage system
US6412051B1 (en) * 1996-11-27 2002-06-25 International Business Machines Corp. System and method for controlling a memory array in an information handling system
US5923682A (en) * 1997-01-29 1999-07-13 Micron Technology, Inc. Error correction chip for memory applications
US7023729B2 (en) * 1997-01-31 2006-04-04 Renesas Technology Corp. Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply
US6073243A (en) * 1997-02-03 2000-06-06 Intel Corporation Block locking and passcode scheme for flash memory
US5954818A (en) * 1997-02-03 1999-09-21 Intel Corporation Method of programming, erasing, and reading block lock-bits and a master lock-bit in a flash memory device
US5928370A (en) * 1997-02-05 1999-07-27 Lexar Media, Inc. Method and apparatus for verifying erasure of memory blocks within a non-volatile memory structure
US5818764A (en) * 1997-02-06 1998-10-06 Macronix International Co., Ltd. Block-level wordline enablement to reduce negative wordline stress
WO1998035344A2 (en) * 1997-02-12 1998-08-13 Hyundai Electronics America, Inc. A nonvolatile memory structure
US6311290B1 (en) 1997-02-14 2001-10-30 Intel Corporation Methods of reliably allocating, de-allocating, re-allocating, and reclaiming objects in a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture
US6182188B1 (en) 1997-04-06 2001-01-30 Intel Corporation Method of performing reliable updates in a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture
US5937434A (en) * 1997-02-14 1999-08-10 Intel Corporation Method of managing a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture
US5895485A (en) * 1997-02-24 1999-04-20 Eccs, Inc. Method and device using a redundant cache for preventing the loss of dirty data
JPH10302030A (ja) * 1997-02-28 1998-11-13 Toshiba Corp 接続装置、および情報処理装置
DE19708755A1 (de) 1997-03-04 1998-09-17 Michael Tasler Flexible Schnittstelle
US6122195A (en) * 1997-03-31 2000-09-19 Lexar Media, Inc. Method and apparatus for decreasing block write operation times performed on nonvolatile memory
US6034897A (en) * 1999-04-01 2000-03-07 Lexar Media, Inc. Space management for managing high capacity nonvolatile memory
US6411546B1 (en) 1997-03-31 2002-06-25 Lexar Media, Inc. Nonvolatile memory using flexible erasing methods and method and system for using same
US6088759A (en) 1997-04-06 2000-07-11 Intel Corporation Method of performing reliable updates in a symmetrically blocked nonvolatile memory having a bifurcated storage architecture
US6336166B1 (en) * 1997-04-07 2002-01-01 Apple Computer, Inc. Memory control device with split read for ROM access
KR100251636B1 (ko) * 1997-04-10 2000-05-01 윤종용 소형컴퓨터시스템인터페이스방식접속을위한메모리장치
US5883904A (en) * 1997-04-14 1999-03-16 International Business Machines Corporation Method for recoverability via redundant cache arrays
US6078985A (en) 1997-04-23 2000-06-20 Micron Technology, Inc. Memory system having flexible addressing and method using tag and data bus communication
US6092193A (en) * 1997-05-29 2000-07-18 Trimble Navigation Limited Authentication of accumulated instrument data
US6320945B1 (en) 1997-06-05 2001-11-20 Ronald J. Honick Line-powered pay telephone
JPH117505A (ja) * 1997-06-17 1999-01-12 Fujitsu Ltd カード型記憶媒体
US7249109B1 (en) * 1997-07-15 2007-07-24 Silverbrook Research Pty Ltd Shielding manipulations of secret data
US7716098B2 (en) * 1997-07-15 2010-05-11 Silverbrook Research Pty Ltd. Method and apparatus for reducing optical emissions in an integrated circuit
US7702926B2 (en) * 1997-07-15 2010-04-20 Silverbrook Research Pty Ltd Decoy device in an integrated circuit
US5835430A (en) * 1997-07-25 1998-11-10 Rockwell International Corporation Method of providing redundancy in electrically alterable memories
US5930167A (en) * 1997-07-30 1999-07-27 Sandisk Corporation Multi-state non-volatile flash memory capable of being its own two state write cache
IL125604A (en) 1997-07-30 2004-03-28 Saifun Semiconductors Ltd Non-volatile electrically erasable and programmble semiconductor memory cell utilizing asymmetrical charge
US5974564A (en) * 1997-07-31 1999-10-26 Micron Electronics, Inc. Method for remapping defective memory bit sets to non-defective memory bit sets
US6035432A (en) * 1997-07-31 2000-03-07 Micron Electronics, Inc. System for remapping defective memory bit sets
US6768165B1 (en) 1997-08-01 2004-07-27 Saifun Semiconductors Ltd. Two bit non-volatile electrically erasable and programmable semiconductor memory cell utilizing asymmetrical charge trapping
JP3565687B2 (ja) * 1997-08-06 2004-09-15 沖電気工業株式会社 半導体記憶装置およびその制御方法
US5956743A (en) * 1997-08-25 1999-09-21 Bit Microsystems, Inc. Transparent management at host interface of flash-memory overhead-bytes using flash-specific DMA having programmable processor-interrupt of high-level operations
US6000006A (en) * 1997-08-25 1999-12-07 Bit Microsystems, Inc. Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage
US5822251A (en) * 1997-08-25 1998-10-13 Bit Microsystems, Inc. Expandable flash-memory mass-storage using shared buddy lines and intermediate flash-bus between device-specific buffers and flash-intelligent DMA controllers
US6189070B1 (en) 1997-08-28 2001-02-13 Intel Corporation Apparatus and method for suspending operation to read code in a nonvolatile writable semiconductor memory
JP3233079B2 (ja) 1997-09-30 2001-11-26 ソニー株式会社 データ処理システム及びデータ処理方法
US8621101B1 (en) 2000-09-29 2013-12-31 Alacritech, Inc. Intelligent network storage interface device
US8539112B2 (en) 1997-10-14 2013-09-17 Alacritech, Inc. TCP/IP offload device
JPH11126497A (ja) * 1997-10-22 1999-05-11 Oki Electric Ind Co Ltd 不揮発性半導体記憶装置
JP3898305B2 (ja) * 1997-10-31 2007-03-28 富士通株式会社 半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御装置及び制御方法
JPH11224492A (ja) * 1997-11-06 1999-08-17 Toshiba Corp 半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置及びフラッシュメモリ
US5867429A (en) * 1997-11-19 1999-02-02 Sandisk Corporation High density non-volatile flash memory without adverse effects of electric field coupling between adjacent floating gates
US6034891A (en) * 1997-12-01 2000-03-07 Micron Technology, Inc. Multi-state flash memory defect management
US6021083A (en) * 1997-12-05 2000-02-01 Macronix International Co., Ltd. Block decoded wordline driver with positive and negative voltage modes
US6076137A (en) 1997-12-11 2000-06-13 Lexar Media, Inc. Method and apparatus for storing location identification information within non-volatile memory devices
US5946234A (en) * 1997-12-18 1999-08-31 Advanced Micro Devices, Inc. Constant current source programming of electrically programmable memory arrays
WO1999033057A1 (en) * 1997-12-23 1999-07-01 Macronix International Co., Ltd. Technique for increasing endurance of integrated circuit memory
US6400634B1 (en) 1997-12-23 2002-06-04 Macronix International Co., Ltd. Technique for increasing endurance of integrated circuit memory
US6064596A (en) * 1997-12-26 2000-05-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile integrated circuit memory devices and methods of operating same
GB9801373D0 (en) * 1998-01-22 1998-03-18 Memory Corp Plc Memory system
US5912844A (en) * 1998-01-28 1999-06-15 Macronix International Co., Ltd. Method for flash EEPROM data writing
US6182239B1 (en) * 1998-02-06 2001-01-30 Stmicroelectronics, Inc. Fault-tolerant codes for multi-level memories
US6011733A (en) * 1998-02-26 2000-01-04 Lucent Technologies Inc. Adaptive addressable circuit redundancy method and apparatus
DE19980546B4 (de) * 1998-03-02 2011-01-27 Lexar Media, Inc., Fremont Flash-Speicherkarte mit erweiterter Betriebsmodus-Erkennung und benutzerfreundlichem Schnittstellensystem
US6314527B1 (en) 1998-03-05 2001-11-06 Micron Technology, Inc. Recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components
US6332183B1 (en) 1998-03-05 2001-12-18 Micron Technology, Inc. Method for recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components
US6460111B1 (en) 1998-03-09 2002-10-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor disk drive and method of creating an address conversion table based on address information about defective sectors stored in at least one sector indicated by a management code
WO1999046727A1 (en) * 1998-03-11 1999-09-16 Ericsson Inc. Portable telephone accessory for temporary storage of fax and data
KR100297986B1 (ko) * 1998-03-13 2001-10-25 김영환 플래쉬 메모리 셀 어레이의 웨어 레벨링 시스템 및 웨어 레벨링 방법
TW407364B (en) * 1998-03-26 2000-10-01 Toshiba Corp Memory apparatus, card type memory apparatus, and electronic apparatus
US6226728B1 (en) 1998-04-21 2001-05-01 Intel Corporation Dynamic allocation for efficient management of variable sized data within a nonvolatile memory
US6188618B1 (en) * 1998-04-23 2001-02-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device with flexible redundancy system
US6038636A (en) * 1998-04-27 2000-03-14 Lexmark International, Inc. Method and apparatus for reclaiming and defragmenting a flash memory device
US6381708B1 (en) 1998-04-28 2002-04-30 Micron Technology, Inc. Method for decoding addresses for a defective memory array
US6381707B1 (en) 1998-04-28 2002-04-30 Micron Technology, Inc. System for decoding addresses for a defective memory array
US6026016A (en) * 1998-05-11 2000-02-15 Intel Corporation Methods and apparatus for hardware block locking in a nonvolatile memory
US6209069B1 (en) 1998-05-11 2001-03-27 Intel Corporation Method and apparatus using volatile lock architecture for individual block locking on flash memory
US6154819A (en) * 1998-05-11 2000-11-28 Intel Corporation Apparatus and method using volatile lock and lock-down registers and for protecting memory blocks
JP3734620B2 (ja) 1998-06-24 2006-01-11 沖電気工業株式会社 半導体ディスク装置
US6542909B1 (en) * 1998-06-30 2003-04-01 Emc Corporation System for determining mapping of logical objects in a computer system
US6883063B2 (en) 1998-06-30 2005-04-19 Emc Corporation Method and apparatus for initializing logical objects in a data storage system
US7383294B1 (en) 1998-06-30 2008-06-03 Emc Corporation System for determining the mapping of logical objects in a data storage system
US6393540B1 (en) 1998-06-30 2002-05-21 Emc Corporation Moving a logical object from a set of source locations to a set of destination locations using a single command
US6308297B1 (en) * 1998-07-17 2001-10-23 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for verifying memory addresses
JP3138688B2 (ja) * 1998-07-24 2001-02-26 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 不揮発性半導体記憶装置及びプログラムベリファイ方法
ATE305166T1 (de) * 1998-07-28 2005-10-15 Lg Electronics Inc Datenaufzeichnungsverfahren und gerät auf optischem aufzeichnungsmedium
US6055184A (en) * 1998-09-02 2000-04-25 Texas Instruments Incorporated Semiconductor memory device having programmable parallel erase operation
US6446223B1 (en) * 1998-09-09 2002-09-03 Hitachi, Ltd. Storage system and method for controlling the same
JP4146006B2 (ja) 1998-09-28 2008-09-03 富士通株式会社 フラッシュメモリを有する電子機器
JP2000122935A (ja) * 1998-10-20 2000-04-28 Sanyo Electric Co Ltd 不揮発性メモリのアドレス変換装置
US6901457B1 (en) 1998-11-04 2005-05-31 Sandisk Corporation Multiple mode communications system
US6279114B1 (en) 1998-11-04 2001-08-21 Sandisk Corporation Voltage negotiation in a single host multiple cards system
US7157314B2 (en) 1998-11-16 2007-01-02 Sandisk Corporation Vertically stacked field programmable nonvolatile memory and method of fabrication
US6374337B1 (en) 1998-11-17 2002-04-16 Lexar Media, Inc. Data pipelining method and apparatus for memory control circuit
JP2000163223A (ja) * 1998-11-30 2000-06-16 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 記録媒体raidライブラリ装置
US6260156B1 (en) 1998-12-04 2001-07-10 Datalight, Inc. Method and system for managing bad areas in flash memory
JP2000173289A (ja) * 1998-12-10 2000-06-23 Toshiba Corp エラー訂正可能なフラッシュメモリシステム
KR100284430B1 (ko) * 1998-12-18 2001-04-02 구자홍 프로그램 갱신 방법 및 장치
US6496876B1 (en) 1998-12-21 2002-12-17 Micron Technology, Inc. System and method for storing a tag to identify a functional storage location in a memory device
US6407944B1 (en) * 1998-12-29 2002-06-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Method for protecting an over-erasure of redundant memory cells during test for high-density nonvolatile memory semiconductor devices
TW548653B (en) 1999-01-26 2003-08-21 Nec Electronics Corp Semiconductor memory device having redundancy memory circuit
US6298427B1 (en) 1999-01-26 2001-10-02 Dell Usa, L.P. Method and apparatus for mapping hard disk partitions and block devices to logical drives in a computer system
US6281075B1 (en) * 1999-01-27 2001-08-28 Sandisk Corporation Method of controlling of floating gate oxide growth by use of an oxygen barrier
CN100359601C (zh) 1999-02-01 2008-01-02 株式会社日立制作所 半导体集成电路和非易失性存储器元件
JP4186293B2 (ja) * 1999-02-10 2008-11-26 株式会社ニコン 電子カメラ
GB9903490D0 (en) * 1999-02-17 1999-04-07 Memory Corp Plc Memory system
US5982665A (en) * 1999-03-29 1999-11-09 Silicon Storage Technology, Inc. Non-volatile memory array having a plurality of non-volatile memory status cells coupled to a status circuit
US6405323B1 (en) * 1999-03-30 2002-06-11 Silicon Storage Technology, Inc. Defect management for interface to electrically-erasable programmable read-only memory
US6141249A (en) * 1999-04-01 2000-10-31 Lexar Media, Inc. Organization of blocks within a nonvolatile memory unit to effectively decrease sector write operation time
ATE340405T1 (de) 1999-04-01 2006-10-15 Lexar Media Inc Raumverwaltung in einem nichtflüchtigen speicher mit hoher kapazität
US6148354A (en) * 1999-04-05 2000-11-14 M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. Architecture for a universal serial bus-based PC flash disk
US7117369B1 (en) 1999-05-03 2006-10-03 Microsoft Corporation Portable smart card secured memory system for porting user profiles and documents
US7036738B1 (en) * 1999-05-03 2006-05-02 Microsoft Corporation PCMCIA-compliant smart card secured memory assembly for porting user profiles and documents
KR100544175B1 (ko) * 1999-05-08 2006-01-23 삼성전자주식회사 링킹 타입 정보를 저장하는 기록 매체와 결함 영역 처리 방법
US6377502B1 (en) 1999-05-10 2002-04-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device that enables simultaneous read and write/erase operation
IL129947A (en) * 1999-05-13 2003-06-24 Tadiran Telecom Business Syste Method and apparatus for downloading software into an embedded system
DE69930605D1 (de) * 1999-05-31 2006-05-18 St Microelectronics Srl Synchroner nichtflüchtiger mehrwertiger Speicher und Leseverfahren dafür
US6438672B1 (en) 1999-06-03 2002-08-20 Agere Systems Guardian Corp. Memory aliasing method and apparatus
JP4621314B2 (ja) * 1999-06-16 2011-01-26 株式会社東芝 記憶媒体
US6103573A (en) 1999-06-30 2000-08-15 Sandisk Corporation Processing techniques for making a dual floating gate EEPROM cell array
KR20010004990A (ko) 1999-06-30 2001-01-15 김영환 플래쉬 이이피롬 셀 및 그 제조 방법
US6151248A (en) 1999-06-30 2000-11-21 Sandisk Corporation Dual floating gate EEPROM cell array with steering gates shared by adjacent cells
US7953931B2 (en) * 1999-08-04 2011-05-31 Super Talent Electronics, Inc. High endurance non-volatile memory devices
JP3886673B2 (ja) * 1999-08-06 2007-02-28 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
US6091633A (en) * 1999-08-09 2000-07-18 Sandisk Corporation Memory array architecture utilizing global bit lines shared by multiple cells
US6553510B1 (en) * 1999-09-02 2003-04-22 Micron Technology, Inc. Memory device including redundancy routine for correcting random errors
RU2257609C2 (ru) 1999-10-21 2005-07-27 Мацусита Электрик Индастриал Ко., Лтд. Устройство доступа к полупроводниковой карте памяти, компьютерно-считываемый носитель записи, способ инициализации и полупроводниковая карта памяти
EP1096379B1 (en) * 1999-11-01 2005-12-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Data processing circuit with non-volatile memory and error correction circuitry
DE60024564T2 (de) 1999-11-01 2006-08-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Datenschaltung mit einem nicht flüchtigen Speicher und mit einer fehlerkorrigierenden Schaltung
CN1088218C (zh) * 1999-11-14 2002-07-24 邓国顺 用于数据处理系统的快闪电子式外存储方法及其装置
US6222211B1 (en) * 1999-11-19 2001-04-24 Han-Ping Chen Memory package method and apparatus
US6462985B2 (en) * 1999-12-10 2002-10-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory for storing initially-setting data
WO2001045112A1 (en) * 1999-12-17 2001-06-21 Qualcomm Incorporated Mobile communication device having flash memory system with word line buffer
JP4165990B2 (ja) 1999-12-20 2008-10-15 Tdk株式会社 メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びに、フラッシュメモリへのデータの書き込み方法
US8266367B2 (en) * 2003-12-02 2012-09-11 Super Talent Electronics, Inc. Multi-level striping and truncation channel-equalization for flash-memory system
US7610438B2 (en) * 2000-01-06 2009-10-27 Super Talent Electronics, Inc. Flash-memory card for caching a hard disk drive with data-area toggling of pointers stored in a RAM lookup table
US8019943B2 (en) * 2000-01-06 2011-09-13 Super Talent Electronics, Inc. High endurance non-volatile memory devices
US8341332B2 (en) * 2003-12-02 2012-12-25 Super Talent Electronics, Inc. Multi-level controller with smart storage transfer manager for interleaving multiple single-chip flash memory devices
US8037234B2 (en) * 2003-12-02 2011-10-11 Super Talent Electronics, Inc. Command queuing smart storage transfer manager for striping data to raw-NAND flash modules
JP2001202281A (ja) * 2000-01-19 2001-07-27 Sony Corp 記録方法及び装置、転送方法及び装置、再生方法及び装置、記録媒体
US6188602B1 (en) * 2000-01-25 2001-02-13 Dell Usa, L.P. Mechanism to commit data to a memory device with read-only access
US6532556B1 (en) 2000-01-27 2003-03-11 Multi Level Memory Technology Data management for multi-bit-per-cell memories
US7102671B1 (en) 2000-02-08 2006-09-05 Lexar Media, Inc. Enhanced compact flash memory card
KR100674454B1 (ko) * 2000-02-16 2007-01-29 후지쯔 가부시끼가이샤 비휘발성 메모리
US6426893B1 (en) * 2000-02-17 2002-07-30 Sandisk Corporation Flash eeprom system with simultaneous multiple data sector programming and storage of physical block characteristics in other designated blocks
US6363008B1 (en) 2000-02-17 2002-03-26 Multi Level Memory Technology Multi-bit-cell non-volatile memory with maximized data capacity
SG152026A1 (en) * 2000-02-21 2009-05-29 Trek Technology Singapore Pte A portable data storage device
CN100476989C (zh) * 2000-02-21 2009-04-08 特科2000国际有限公司 便携式数据存储装置
US6662263B1 (en) 2000-03-03 2003-12-09 Multi Level Memory Technology Sectorless flash memory architecture
US6578157B1 (en) 2000-03-06 2003-06-10 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for recovery of useful areas of partially defective direct rambus rimm components
US6301159B1 (en) * 2000-03-06 2001-10-09 Advanced Micro Devices, Inc. 50% EXE tracking circuit
US7269765B1 (en) * 2000-04-13 2007-09-11 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for storing failing part locations in a module
JP4870876B2 (ja) * 2000-04-24 2012-02-08 三星電子株式会社 不揮発性半導体メモリ装置の消去方法
US7079422B1 (en) 2000-04-25 2006-07-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Periodic refresh operations for non-volatile multiple-bit-per-cell memory
US6396744B1 (en) 2000-04-25 2002-05-28 Multi Level Memory Technology Flash memory with dynamic refresh
US6856568B1 (en) 2000-04-25 2005-02-15 Multi Level Memory Technology Refresh operations that change address mappings in a non-volatile memory
US8575719B2 (en) 2000-04-28 2013-11-05 Sandisk 3D Llc Silicon nitride antifuse for use in diode-antifuse memory arrays
US6396741B1 (en) 2000-05-04 2002-05-28 Saifun Semiconductors Ltd. Programming of nonvolatile memory cells
US6490204B2 (en) * 2000-05-04 2002-12-03 Saifun Semiconductors Ltd. Programming and erasing methods for a reference cell of an NROM array
JP3778774B2 (ja) 2000-05-12 2006-05-24 松下電器産業株式会社 データ処理装置
US6968469B1 (en) 2000-06-16 2005-11-22 Transmeta Corporation System and method for preserving internal processor context when the processor is powered down and restoring the internal processor context when processor is restored
US6438638B1 (en) 2000-07-06 2002-08-20 Onspec Electronic, Inc. Flashtoaster for reading several types of flash-memory cards with or without a PC
US7295443B2 (en) 2000-07-06 2007-11-13 Onspec Electronic, Inc. Smartconnect universal flash media card adapters
AU2001273258A1 (en) * 2000-07-18 2002-01-30 Han-Ping Chen Memory access method and apparatus
US6567307B1 (en) 2000-07-21 2003-05-20 Lexar Media, Inc. Block management for mass storage
US7167944B1 (en) 2000-07-21 2007-01-23 Lexar Media, Inc. Block management for mass storage
US6396742B1 (en) * 2000-07-28 2002-05-28 Silicon Storage Technology, Inc. Testing of multilevel semiconductor memory
US6515888B2 (en) 2000-08-14 2003-02-04 Matrix Semiconductor, Inc. Low cost three-dimensional memory array
US6545891B1 (en) 2000-08-14 2003-04-08 Matrix Semiconductor, Inc. Modular memory device
US6658438B1 (en) * 2000-08-14 2003-12-02 Matrix Semiconductor, Inc. Method for deleting stored digital data from write-once memory device
US6765813B2 (en) * 2000-08-14 2004-07-20 Matrix Semiconductor, Inc. Integrated systems using vertically-stacked three-dimensional memory cells
US6424581B1 (en) 2000-08-14 2002-07-23 Matrix Semiconductor, Inc. Write-once memory array controller, system, and method
US6711043B2 (en) 2000-08-14 2004-03-23 Matrix Semiconductor, Inc. Three-dimensional memory cache system
DE10041375B4 (de) * 2000-08-23 2005-06-02 Infineon Technologies Ag Nichtflüchtige Speicheranordnung
US6404647B1 (en) * 2000-08-24 2002-06-11 Hewlett-Packard Co. Solid-state mass memory storage device
US7155559B1 (en) 2000-08-25 2006-12-26 Lexar Media, Inc. Flash memory architecture with separate storage of overhead and user data
US6345001B1 (en) 2000-09-14 2002-02-05 Sandisk Corporation Compressed event counting technique and application to a flash memory system
US7113432B2 (en) * 2000-09-14 2006-09-26 Sandisk Corporation Compressed event counting technique and application to a flash memory system
US6512263B1 (en) 2000-09-22 2003-01-28 Sandisk Corporation Non-volatile memory cell array having discontinuous source and drain diffusions contacted by continuous bit line conductors and methods of forming
US6704835B1 (en) 2000-09-26 2004-03-09 Intel Corporation Posted write-through cache for flash memory
US6748482B1 (en) * 2000-09-27 2004-06-08 Intel Corporation Multiple non-contiguous block erase in flash memory
US6538922B1 (en) * 2000-09-27 2003-03-25 Sandisk Corporation Writable tracking cells
US6473845B1 (en) * 2000-09-28 2002-10-29 Hewlett-Packard Company System and method for dynamically updating memory address mappings
US8019901B2 (en) * 2000-09-29 2011-09-13 Alacritech, Inc. Intelligent network storage interface system
JP4534336B2 (ja) * 2000-10-13 2010-09-01 ソニー株式会社 メモリ装置におけるデータ管理方法
JP4323707B2 (ja) 2000-10-25 2009-09-02 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 フラッシュメモリの欠陥管理方法
KR100402391B1 (ko) 2000-10-26 2003-10-22 삼성전자주식회사 메모리 카드 시스템
US6570785B1 (en) 2000-10-31 2003-05-27 Sandisk Corporation Method of reducing disturbs in non-volatile memory
US6717851B2 (en) * 2000-10-31 2004-04-06 Sandisk Corporation Method of reducing disturbs in non-volatile memory
US6684289B1 (en) 2000-11-22 2004-01-27 Sandisk Corporation Techniques for operating non-volatile memory systems with data sectors having different sizes than the sizes of the pages and/or blocks of the memory
US6529416B2 (en) * 2000-11-30 2003-03-04 Bitmicro Networks, Inc. Parallel erase operations in memory systems
JP4037605B2 (ja) * 2000-12-04 2008-01-23 株式会社東芝 不揮発性メモリユニットのコントローラ、同コントローラを有するメモリシステム及び不揮発性メモリユニットの制御方法
EP1215679B1 (en) * 2000-12-15 2004-03-03 STMicroelectronics S.r.l. Programming method for a multilevel memory cell
DE60102203D1 (de) 2000-12-15 2004-04-08 St Microelectronics Srl Programmierverfahren für eine Mehrpegelspeicherzelle
US7013376B2 (en) * 2000-12-20 2006-03-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for data block sparing in a solid-state storage device
US6970890B1 (en) * 2000-12-20 2005-11-29 Bitmicro Networks, Inc. Method and apparatus for data recovery
US6661730B1 (en) 2000-12-22 2003-12-09 Matrix Semiconductor, Inc. Partial selection of passive element memory cell sub-arrays for write operation
KR100365725B1 (ko) * 2000-12-27 2002-12-26 한국전자통신연구원 플래시 메모리를 이용한 파일 시스템에서 등급별 지움정책 및 오류 복구 방법
US6466476B1 (en) 2001-01-18 2002-10-15 Multi Level Memory Technology Data coding for multi-bit-per-cell memories having variable numbers of bits per memory cell
US6678836B2 (en) * 2001-01-19 2004-01-13 Honeywell International, Inc. Simple fault tolerance for memory
US6418068B1 (en) * 2001-01-19 2002-07-09 Hewlett-Packard Co. Self-healing memory
US6829721B2 (en) * 2001-02-05 2004-12-07 M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. Method for recording and storage of system information in multi-board solid-state storage systems
US6577535B2 (en) 2001-02-16 2003-06-10 Sandisk Corporation Method and system for distributed power generation in multi-chip memory systems
US7249265B2 (en) * 2001-02-23 2007-07-24 Power Measurement, Ltd. Multi-featured power meter with feature key
US6563697B1 (en) 2001-02-23 2003-05-13 Power Measurement, Ltd. Apparatus for mounting a device on a mounting surface
US6745138B2 (en) * 2001-02-23 2004-06-01 Power Measurement, Ltd. Intelligent electronic device with assured data storage on powerdown
US7085824B2 (en) * 2001-02-23 2006-08-01 Power Measurement Ltd. Systems for in the field configuration of intelligent electronic devices
US6813571B2 (en) 2001-02-23 2004-11-02 Power Measurement, Ltd. Apparatus and method for seamlessly upgrading the firmware of an intelligent electronic device
US6871150B2 (en) * 2001-02-23 2005-03-22 Power Measurement Ltd. Expandable intelligent electronic device
US6538923B1 (en) * 2001-02-26 2003-03-25 Advanced Micro Devices, Inc. Staircase program verify for multi-level cell flash memory designs
US6738289B2 (en) * 2001-02-26 2004-05-18 Sandisk Corporation Non-volatile memory with improved programming and method therefor
US6591213B1 (en) * 2001-02-27 2003-07-08 Inovys Corporation Systems for providing zero latency, non-modulo looping and branching of test pattern data for automatic test equipment
JP2002269994A (ja) * 2001-03-09 2002-09-20 Oki Electric Ind Co Ltd アナログ半導体メモリの冗長メモリ回路
US20020127771A1 (en) * 2001-03-12 2002-09-12 Salman Akram Multiple die package
US6901541B2 (en) * 2001-03-13 2005-05-31 Micron Technology, Inc. Memory testing method and apparatus
SG95637A1 (en) * 2001-03-15 2003-04-23 Micron Technology Inc Semiconductor/printed circuit board assembly, and computer system
US6441483B1 (en) * 2001-03-30 2002-08-27 Micron Technology, Inc. Die stacking scheme
US6584017B2 (en) 2001-04-05 2003-06-24 Saifun Semiconductors Ltd. Method for programming a reference cell
US7162668B2 (en) 2001-04-19 2007-01-09 Micron Technology, Inc. Memory with element redundancy
US6865702B2 (en) * 2001-04-09 2005-03-08 Micron Technology, Inc. Synchronous flash memory with test code input
US7640465B2 (en) * 2001-04-19 2009-12-29 Micron Technology, Inc. Memory with element redundancy
EP1399819A2 (en) * 2001-04-24 2004-03-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Improved error correction scheme for use in flash memory allowing bit alterability
KR100389867B1 (ko) 2001-06-04 2003-07-04 삼성전자주식회사 플래시 메모리 관리방법
US6772307B1 (en) 2001-06-11 2004-08-03 Intel Corporation Firmware memory having multiple protected blocks
FR2825812B1 (fr) * 2001-06-12 2003-12-05 St Microelectronics Sa Procede de programmation/reprogrammation parallele de memoire flash embarquee par bus can
TWI240864B (en) * 2001-06-13 2005-10-01 Hitachi Ltd Memory device
KR100395758B1 (ko) * 2001-06-21 2003-08-21 삼성전자주식회사 새로운 블럭 교체 스킴을 채용한 캐쉬 메모리
DE60226978D1 (de) * 2001-06-27 2008-07-17 Sony Corp Integrierte schaltungseinrichtung, informationsverarbeitungseinrichtung, informationsaufzeichnungseinrichtungsspeicher-verwaltungsverfahren, mobilendgeräteeinrichtung, integrierte halbleiterschaltungseinrichtung und kommunikationsverfahren mit tragbarem endgerät
US6522580B2 (en) 2001-06-27 2003-02-18 Sandisk Corporation Operating techniques for reducing effects of coupling between storage elements of a non-volatile memory operated in multiple data states
US6745212B2 (en) * 2001-06-27 2004-06-01 International Business Machines Corporation Preferential caching of uncopied logical volumes in an IBM peer-to-peer virtual tape server
WO2003003278A1 (en) * 2001-06-28 2003-01-09 Trek 2000 International Ltd. A portable device having biometrics-based authentication capabilities
WO2003003295A1 (en) * 2001-06-28 2003-01-09 Trek 2000 International Ltd. A portable device having biometrics-based authentication capabilities
US7043506B1 (en) * 2001-06-28 2006-05-09 Microsoft Corporation Utility-based archiving
IL159391A0 (en) * 2001-06-28 2004-06-01 Trek 2000 Int Ltd Method and devices for data transfer
US20030014687A1 (en) * 2001-07-10 2003-01-16 Grandex International Corporation Nonvolatile memory unit comprising a control circuit and a plurality of partially defective flash memory devices
CN1529847A (zh) * 2001-07-16 2004-09-15 任宇清 内嵌软件更新系统
US6522584B1 (en) * 2001-08-02 2003-02-18 Micron Technology, Inc. Programming methods for multi-level flash EEPROMs
US7418344B2 (en) * 2001-08-02 2008-08-26 Sandisk Corporation Removable computer with mass storage
TW539946B (en) * 2001-08-07 2003-07-01 Solid State System Company Ltd Window-based flash memory storage system, and the management method and the access method thereof
US6762092B2 (en) * 2001-08-08 2004-07-13 Sandisk Corporation Scalable self-aligned dual floating gate memory cell array and methods of forming the array
US6948026B2 (en) * 2001-08-24 2005-09-20 Micron Technology, Inc. Erase block management
US7356641B2 (en) * 2001-08-28 2008-04-08 International Business Machines Corporation Data management in flash memory
ITRM20010530A1 (it) * 2001-08-31 2003-02-28 Micron Technology Inc Marcatura di settore di memoria flash per consecutiva cancellazione in settore o banco.
JP4034949B2 (ja) * 2001-09-06 2008-01-16 株式会社ルネサステクノロジ 不揮発性半導体記憶装置
JP4127605B2 (ja) * 2001-09-07 2008-07-30 株式会社東芝 半導体記憶装置
US6456528B1 (en) 2001-09-17 2002-09-24 Sandisk Corporation Selective operation of a multi-state non-volatile memory system in a binary mode
US6560146B2 (en) 2001-09-17 2003-05-06 Sandisk Corporation Dynamic column block selection
US6741502B1 (en) 2001-09-17 2004-05-25 Sandisk Corporation Background operation for memory cells
US6717847B2 (en) * 2001-09-17 2004-04-06 Sandisk Corporation Selective operation of a multi-state non-volatile memory system in a binary mode
US7554842B2 (en) * 2001-09-17 2009-06-30 Sandisk Corporation Multi-purpose non-volatile memory card
US7170802B2 (en) * 2003-12-31 2007-01-30 Sandisk Corporation Flexible and area efficient column redundancy for non-volatile memories
US6985388B2 (en) 2001-09-17 2006-01-10 Sandisk Corporation Dynamic column block selection
US7177197B2 (en) 2001-09-17 2007-02-13 Sandisk Corporation Latched programming of memory and method
US20030056141A1 (en) * 2001-09-18 2003-03-20 Lai Chen Nan Control method used in and-gate type system to increase efficiency and lengthen lifetime of use
US6552932B1 (en) 2001-09-21 2003-04-22 Sandisk Corporation Segmented metal bitlines
JP3725458B2 (ja) * 2001-09-25 2005-12-14 シャープ株式会社 アクティブマトリクス表示パネル、およびそれを備えた画像表示装置
GB0123416D0 (en) 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Non-volatile memory control
GB0123417D0 (en) * 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Improved data processing
GB0123410D0 (en) * 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Memory system for data storage and retrieval
GB0123415D0 (en) 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Method of writing data to non-volatile memory
GB0123419D0 (en) 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Data handling system
GB0123421D0 (en) * 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Power management system
GB0123412D0 (en) * 2001-09-28 2001-11-21 Memquest Ltd Memory system sectors
DE10151733A1 (de) * 2001-10-19 2003-04-30 Infineon Technologies Ag Prozessor-Speicher-System
US6643181B2 (en) 2001-10-24 2003-11-04 Saifun Semiconductors Ltd. Method for erasing a memory cell
EP1308964B1 (en) * 2001-10-25 2007-10-03 STMicroelectronics S.r.l. Fast programming method for nonvolatile memories, in particular flash memories, and related memory architecture
JP2003132693A (ja) * 2001-10-29 2003-05-09 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置
US6545907B1 (en) * 2001-10-30 2003-04-08 Ovonyx, Inc. Technique and apparatus for performing write operations to a phase change material memory device
US6678192B2 (en) * 2001-11-02 2004-01-13 Sandisk Corporation Error management for writable tracking storage units
US6889307B1 (en) 2001-11-16 2005-05-03 Matrix Semiconductor, Inc. Integrated circuit incorporating dual organization memory array
US8346733B2 (en) 2006-12-22 2013-01-01 Commvault Systems, Inc. Systems and methods of media management, such as management of media to and from a media storage library
EP1324207B1 (en) * 2001-12-11 2007-02-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Ic card and data processing method therefor
US6967872B2 (en) * 2001-12-18 2005-11-22 Sandisk Corporation Method and system for programming and inhibiting multi-level, non-volatile memory cells
US6778443B2 (en) * 2001-12-25 2004-08-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device having memory blocks pre-programmed before erased
TWI258646B (en) * 2001-12-27 2006-07-21 Asulab Sa Device and method for managing memory in an electronic watch
EP1324342B1 (en) * 2001-12-28 2008-07-16 STMicroelectronics S.r.l. Programming method for a multilevel memory cell
DE10164415A1 (de) * 2001-12-29 2003-07-17 Philips Intellectual Property Verfahren und Anordnung zur Programmierung und Verifizierung von EEPROM-Pages sowie ein entsprechendes Computerprogrammprodukt und ein entsprechendes computerlesbares Speichermedium
TWI240861B (en) * 2002-01-11 2005-10-01 Integrated Circuit Solution In Data access method and architecture of flash memory
US6643195B2 (en) 2002-01-11 2003-11-04 Hewlett-Packard Development Company, Lp. Self-healing MRAM
US20030135470A1 (en) * 2002-01-16 2003-07-17 Beard Robert E. Method and system for credit card purchases
US7246268B2 (en) * 2002-01-16 2007-07-17 Sandisk Corporation Method and apparatus for dynamic degradation detection
US6832304B2 (en) 2002-01-17 2004-12-14 Dell Products L.P. System, method and computer program product for mapping system memory in a multiple node information handling system
US6621739B2 (en) 2002-01-18 2003-09-16 Sandisk Corporation Reducing the effects of noise in non-volatile memories through multiple reads
US6850441B2 (en) * 2002-01-18 2005-02-01 Sandisk Corporation Noise reduction technique for transistors and small devices utilizing an episodic agitation
US6950918B1 (en) 2002-01-18 2005-09-27 Lexar Media, Inc. File management of one-time-programmable nonvolatile memory devices
US6542407B1 (en) * 2002-01-18 2003-04-01 Sandisk Corporation Techniques of recovering data from memory cells affected by field coupling with adjacent memory cells
US6957295B1 (en) 2002-01-18 2005-10-18 Lexar Media, Inc. File management of one-time-programmable nonvolatile memory devices
US7043666B2 (en) * 2002-01-22 2006-05-09 Dell Products L.P. System and method for recovering from memory errors
JP2003223792A (ja) * 2002-01-25 2003-08-08 Hitachi Ltd 不揮発性メモリ及びメモリカード
JP4005813B2 (ja) * 2002-01-28 2007-11-14 株式会社東芝 半導体装置
TW200302966A (en) * 2002-01-29 2003-08-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Memory device, data processing method and data processing program
KR20040075968A (ko) * 2002-01-29 2004-08-30 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 데이터 저장 장치 상의 데이터를 처리하기 위한 데이터저장 장치 및 방법
EP2148334B1 (en) * 2002-01-29 2011-11-09 Agere Systems Inc. Differential flash memory programming technique
US6700818B2 (en) * 2002-01-31 2004-03-02 Saifun Semiconductors Ltd. Method for operating a memory device
US6975536B2 (en) * 2002-01-31 2005-12-13 Saifun Semiconductors Ltd. Mass storage array and methods for operation thereof
US7190620B2 (en) 2002-01-31 2007-03-13 Saifun Semiconductors Ltd. Method for operating a memory device
US6839826B2 (en) 2002-02-06 2005-01-04 Sandisk Corporation Memory device with pointer structure to map logical to physical addresses
US6661711B2 (en) 2002-02-06 2003-12-09 Sandisk Corporation Implementation of an inhibit during soft programming to tighten an erase voltage distribution
AU2002233912B2 (en) * 2002-02-07 2006-01-05 Trek 2000 International Ltd A portable data storage and image recording device capable of direct connection to a computer USB port
JP4082913B2 (ja) * 2002-02-07 2008-04-30 株式会社ルネサステクノロジ メモリシステム
US6549457B1 (en) * 2002-02-15 2003-04-15 Intel Corporation Using multiple status bits per cell for handling power failures during write operations
US6871257B2 (en) 2002-02-22 2005-03-22 Sandisk Corporation Pipelined parallel programming operation in a non-volatile memory system
EP1476873A4 (en) * 2002-02-22 2006-07-05 Lexar Media Inc MEMORY HOLDER WITH INTEGRATED LAMP LAMP
US7231643B1 (en) 2002-02-22 2007-06-12 Lexar Media, Inc. Image rescue system including direct communication between an application program and a device driver
US7123537B2 (en) 2002-03-15 2006-10-17 Macronix International Co., Ltd. Decoder arrangement of a memory cell array
KR100439507B1 (ko) * 2002-03-18 2004-07-09 삼성전기주식회사 고 용량 플래시 메모리 카드 시스템에서의 데이터 운영 방법
US7330954B2 (en) * 2002-04-18 2008-02-12 Intel Corporation Storing information in one of at least two storage devices based on a storage parameter and an attribute of the storage devices
EP1357559B1 (en) * 2002-04-26 2006-06-14 STMicroelectronics S.r.l. Self-repair method for nonvolatile memory devices using a supersecure architecture, and nonvolatile memory device
US20030204857A1 (en) * 2002-04-29 2003-10-30 Dinwiddie Aaron Hal Pre-power -failure storage of television parameters in nonvolatile memory
EP1454240B1 (en) * 2002-05-13 2006-02-08 Trek 2000 International Ltd System and apparatus for compressing and decompressing data stored to a portable data storage device
DE60230592D1 (de) 2002-05-21 2009-02-12 St Microelectronics Srl Selbstreparaturverfahren für nichtflüchtige Speicheranordnung mit Lösch-/Programmierfehlerdetektion, und nichtflüchtige Speicheranordnung dafür
US7073099B1 (en) 2002-05-30 2006-07-04 Marvell International Ltd. Method and apparatus for improving memory operation and yield
US6894930B2 (en) 2002-06-19 2005-05-17 Sandisk Corporation Deep wordline trench to shield cross coupling between adjacent cells for scaled NAND
EP1514309B1 (en) * 2002-06-19 2013-11-27 SanDisk Technologies Inc. Deep wordline trench to shield cross coupling between adjacent cells of nand memory
US7024586B2 (en) * 2002-06-24 2006-04-04 Network Appliance, Inc. Using file system information in raid data reconstruction and migration
KR100472460B1 (ko) * 2002-07-04 2005-03-10 삼성전자주식회사 메모리의 결함 복구 방법 및 그에 적합한 장치
US6917544B2 (en) 2002-07-10 2005-07-12 Saifun Semiconductors Ltd. Multiple use memory chip
US7127528B2 (en) * 2002-07-22 2006-10-24 Honeywell International Inc. Caching process data of a slow network in a fast network environment
US7120068B2 (en) * 2002-07-29 2006-10-10 Micron Technology, Inc. Column/row redundancy architecture using latches programmed from a look up table
TW588243B (en) * 2002-07-31 2004-05-21 Trek 2000 Int Ltd System and method for authentication
US6826107B2 (en) 2002-08-01 2004-11-30 Saifun Semiconductors Ltd. High voltage insertion in flash memory cards
JP2004095001A (ja) * 2002-08-29 2004-03-25 Fujitsu Ltd 不揮発性半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置組込システムおよび不良ブロック検出方法
US6941412B2 (en) * 2002-08-29 2005-09-06 Sandisk Corporation Symbol frequency leveling in a storage system
US6781877B2 (en) 2002-09-06 2004-08-24 Sandisk Corporation Techniques for reducing effects of coupling between storage elements of adjacent rows of memory cells
US20040049628A1 (en) * 2002-09-10 2004-03-11 Fong-Long Lin Multi-tasking non-volatile memory subsystem
US6987693B2 (en) * 2002-09-24 2006-01-17 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with reduced neighboring field errors
US7324393B2 (en) * 2002-09-24 2008-01-29 Sandisk Corporation Method for compensated sensing in non-volatile memory
US7443757B2 (en) * 2002-09-24 2008-10-28 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with reduced bit line crosstalk errors
EP1543529B1 (en) * 2002-09-24 2009-11-04 SanDisk Corporation Non-volatile memory and its sensing method
US7327619B2 (en) * 2002-09-24 2008-02-05 Sandisk Corporation Reference sense amplifier for non-volatile memory
US6940753B2 (en) 2002-09-24 2005-09-06 Sandisk Corporation Highly compact non-volatile memory and method therefor with space-efficient data registers
US7196931B2 (en) 2002-09-24 2007-03-27 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with reduced source line bias errors
US6891753B2 (en) * 2002-09-24 2005-05-10 Sandisk Corporation Highly compact non-volatile memory and method therefor with internal serial buses
US6983428B2 (en) * 2002-09-24 2006-01-03 Sandisk Corporation Highly compact non-volatile memory and method thereof
US7046568B2 (en) * 2002-09-24 2006-05-16 Sandisk Corporation Memory sensing circuit and method for low voltage operation
US20050183722A1 (en) * 2002-09-27 2005-08-25 Jagadish Bilgi External chest therapy blanket for infants
EP1403879B1 (en) * 2002-09-30 2010-11-03 STMicroelectronics Srl Method for replacing failed non-volatile memory cells and corresponding memory device
EP1403880B1 (en) * 2002-09-30 2007-05-23 STMicroelectronics S.r.l. Method for detecting a resistive path or a predeterminted potential in non-volatile memory electronic devices
US6908817B2 (en) * 2002-10-09 2005-06-21 Sandisk Corporation Flash memory array with increased coupling between floating and control gates
US7174420B2 (en) 2002-10-22 2007-02-06 Microsoft Corporation Transaction-safe FAT file system
US7363540B2 (en) 2002-10-22 2008-04-22 Microsoft Corporation Transaction-safe FAT file system improvements
US7096313B1 (en) 2002-10-28 2006-08-22 Sandisk Corporation Tracking the least frequently erased blocks in non-volatile memory systems
JP4290407B2 (ja) * 2002-10-28 2009-07-08 パナソニック株式会社 電子機器
US6973531B1 (en) 2002-10-28 2005-12-06 Sandisk Corporation Tracking the most frequently erased blocks in non-volatile memory systems
US7181611B2 (en) * 2002-10-28 2007-02-20 Sandisk Corporation Power management block for use in a non-volatile memory system
US7526599B2 (en) * 2002-10-28 2009-04-28 Sandisk Corporation Method and apparatus for effectively enabling an out of sequence write process within a non-volatile memory system
US7039788B1 (en) 2002-10-28 2006-05-02 Sandisk Corporation Method and apparatus for splitting a logical block
US20040083334A1 (en) * 2002-10-28 2004-04-29 Sandisk Corporation Method and apparatus for managing the integrity of data in non-volatile memory system
US7254668B1 (en) 2002-10-28 2007-08-07 Sandisk Corporation Method and apparatus for grouping pages within a block
US8412879B2 (en) * 2002-10-28 2013-04-02 Sandisk Technologies Inc. Hybrid implementation for error correction codes within a non-volatile memory system
US7103732B1 (en) 2002-10-28 2006-09-05 Sandisk Corporation Method and apparatus for managing an erase count block
US7171536B2 (en) * 2002-10-28 2007-01-30 Sandisk Corporation Unusable block management within a non-volatile memory system
US6831865B2 (en) * 2002-10-28 2004-12-14 Sandisk Corporation Maintaining erase counts in non-volatile storage systems
US7234036B1 (en) 2002-10-28 2007-06-19 Sandisk Corporation Method and apparatus for resolving physical blocks associated with a common logical block
US6985992B1 (en) 2002-10-28 2006-01-10 Sandisk Corporation Wear-leveling in non-volatile storage systems
US7174440B2 (en) * 2002-10-28 2007-02-06 Sandisk Corporation Method and apparatus for performing block caching in a non-volatile memory system
US7035967B2 (en) * 2002-10-28 2006-04-25 Sandisk Corporation Maintaining an average erase count in a non-volatile storage system
US7136304B2 (en) 2002-10-29 2006-11-14 Saifun Semiconductor Ltd Method, system and circuit for programming a non-volatile memory array
US6807610B2 (en) 2002-11-01 2004-10-19 Silicon Storage Technology, Inc. Method and apparatus for virtually partitioning an integrated multilevel nonvolatile memory circuit
JP4199519B2 (ja) * 2002-11-05 2008-12-17 パナソニック株式会社 メモリ管理装置及びメモリ管理方法
US7339822B2 (en) * 2002-12-06 2008-03-04 Sandisk Corporation Current-limited latch
US6829167B2 (en) * 2002-12-12 2004-12-07 Sandisk Corporation Error recovery for nonvolatile memory
KR100560645B1 (ko) * 2002-12-17 2006-03-16 삼성전자주식회사 메모리 사용 정보를 표시하는 유에스비 플래시 메모리 장치
DE10259282B4 (de) * 2002-12-18 2005-05-19 Texas Instruments Deutschland Gmbh Batteriebetriebener Verbrauchszähler mit einem Mikro-Controller und Bausteinen zur Realisierung einer Zustandsmaschine
US6928526B1 (en) * 2002-12-20 2005-08-09 Datadomain, Inc. Efficient data storage system
US7065619B1 (en) * 2002-12-20 2006-06-20 Data Domain, Inc. Efficient data storage system
AU2002353406A1 (en) * 2002-12-27 2004-07-22 Solid State System Co., Ltd. Nonvolatile memory unit with specific cache
US6765411B1 (en) * 2002-12-30 2004-07-20 Intel Corporation Switchable voltage clamp circuit
EP1435625A1 (en) * 2002-12-30 2004-07-07 STMicroelectronics S.r.l. Non volatile memory device including a predetermined number of sectors
US7505890B2 (en) * 2003-01-15 2009-03-17 Cox Communications, Inc. Hard disk drive emulator
WO2004068913A1 (ja) * 2003-01-28 2004-08-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. 発光素子およびその作製方法
JP4110000B2 (ja) 2003-01-28 2008-07-02 株式会社ルネサステクノロジ 記憶装置
US6944063B2 (en) * 2003-01-28 2005-09-13 Sandisk Corporation Non-volatile semiconductor memory with large erase blocks storing cycle counts
US7178004B2 (en) 2003-01-31 2007-02-13 Yan Polansky Memory array programming circuit and a method for using the circuit
JP4073799B2 (ja) * 2003-02-07 2008-04-09 株式会社ルネサステクノロジ メモリシステム
ITTO20030132A1 (it) * 2003-02-25 2004-08-26 Atmel Corp Amplificatore di rilevamento rapido a specchio, di tipo configurabile e procedimento per configurare un tale amplificatore.
EP1606821B1 (en) * 2003-02-25 2008-10-08 Atmel Corporation An apparatus and method for a configurable mirror fast sense amplifier
US6920072B2 (en) * 2003-02-28 2005-07-19 Union Semiconductor Technology Corporation Apparatus and method for testing redundant memory elements
TW200417851A (en) * 2003-03-07 2004-09-16 Wistron Corp Computer system capable of maintaining system's stability while memory is unstable and memory control method
US6996688B2 (en) * 2003-03-11 2006-02-07 International Business Machines Corporation Method, system, and program for improved throughput in remote mirroring systems
US20040199721A1 (en) * 2003-03-12 2004-10-07 Power Data Communication Co., Ltd. Multi-transmission interface memory card
US8041878B2 (en) * 2003-03-19 2011-10-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash file system
US7003621B2 (en) * 2003-03-25 2006-02-21 M-System Flash Disk Pioneers Ltd. Methods of sanitizing a flash-based data storage device
US7174433B2 (en) 2003-04-03 2007-02-06 Commvault Systems, Inc. System and method for dynamically sharing media in a computer network
WO2004090789A2 (en) 2003-04-03 2004-10-21 Commvault Systems, Inc. System and method for extended media retention
DE60314979T2 (de) * 2003-04-11 2008-04-10 Em Microelectronic-Marin S.A. Verfahren zur Aktualisierung eines nichtflüchtigen Speichers
US6891758B2 (en) * 2003-05-08 2005-05-10 Micron Technology, Inc. Position based erase verification levels in a flash memory device
US7496822B2 (en) * 2003-05-15 2009-02-24 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for responding to data retention loss in a non-volatile memory unit using error checking and correction techniques
US6973519B1 (en) 2003-06-03 2005-12-06 Lexar Media, Inc. Card identification compatibility
US7237074B2 (en) * 2003-06-13 2007-06-26 Sandisk Corporation Tracking cells for a memory system
US7105406B2 (en) * 2003-06-20 2006-09-12 Sandisk Corporation Self aligned non-volatile memory cell and process for fabrication
US6906961B2 (en) * 2003-06-24 2005-06-14 Micron Technology, Inc. Erase block data splitting
US6839280B1 (en) 2003-06-27 2005-01-04 Freescale Semiconductor, Inc. Variable gate bias for a reference transistor in a non-volatile memory
US6955967B2 (en) * 2003-06-27 2005-10-18 Freescale Semiconductor, Inc. Non-volatile memory having a reference transistor and method for forming
US20060206677A1 (en) * 2003-07-03 2006-09-14 Electronics And Telecommunications Research Institute System and method of an efficient snapshot for shared large storage
US20050013181A1 (en) * 2003-07-17 2005-01-20 Adelmann Todd C. Assisted memory device with integrated cache
CN100449506C (zh) * 2003-07-23 2009-01-07 霍尼韦尔国际公司 在快速网络环境中缓存慢速网络的过程数据
US6928011B2 (en) * 2003-07-30 2005-08-09 Texas Instruments Incorporated Electrical fuse control of memory slowdown
US20050038739A1 (en) * 2003-08-13 2005-02-17 Ncr Corporation Methods of processing payment in an electronic commercial transaction and a payment consolidator therefor
US20050050261A1 (en) * 2003-08-27 2005-03-03 Thomas Roehr High density flash memory with high speed cache data interface
EP1510924B1 (en) * 2003-08-27 2008-07-23 ARM Limited Apparatus and method for handling transactions with writes and reads to EEPROM or Flash memories
US7019998B2 (en) * 2003-09-09 2006-03-28 Silicon Storage Technology, Inc. Unified multilevel cell memory
US7191379B2 (en) * 2003-09-10 2007-03-13 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Magnetic memory with error correction coding
US6956770B2 (en) * 2003-09-17 2005-10-18 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with bit line compensation dependent on neighboring operating modes
US7064980B2 (en) * 2003-09-17 2006-06-20 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with bit line coupled compensation
US7046555B2 (en) 2003-09-17 2006-05-16 Sandisk Corporation Methods for identifying non-volatile memory elements with poor subthreshold slope or weak transconductance
US7188228B1 (en) 2003-10-01 2007-03-06 Sandisk Corporation Hybrid mapping implementation within a non-volatile memory system
US7559004B1 (en) 2003-10-01 2009-07-07 Sandisk Corporation Dynamic redundant area configuration in a non-volatile memory system
JP3898682B2 (ja) * 2003-10-03 2007-03-28 株式会社東芝 半導体集積回路
US7221008B2 (en) * 2003-10-06 2007-05-22 Sandisk Corporation Bitline direction shielding to avoid cross coupling between adjacent cells for NAND flash memory
US7301807B2 (en) 2003-10-23 2007-11-27 Sandisk Corporation Writable tracking cells
US7032087B1 (en) 2003-10-28 2006-04-18 Sandisk Corporation Erase count differential table within a non-volatile memory system
US7089349B2 (en) * 2003-10-28 2006-08-08 Sandisk Corporation Internal maintenance schedule request for non-volatile memory system
US7412581B2 (en) * 2003-10-28 2008-08-12 Renesas Technology America, Inc. Processor for virtual machines and method therefor
US8706990B2 (en) 2003-10-28 2014-04-22 Sandisk Technologies Inc. Adaptive internal table backup for non-volatile memory system
WO2005041207A2 (en) * 2003-10-29 2005-05-06 Matsushita Electric Industrial Co.,Ltd. Drive device and related computer program
US7325157B2 (en) * 2003-11-03 2008-01-29 Samsung Electronics Co., Ltd Magnetic memory devices having selective error encoding capability based on fault probabilities
ITMI20032134A1 (it) * 2003-11-06 2005-05-07 St Microelectronics Srl Dispositivo integrato di memoria con comando di cancellazione multisettore
EP1536431A1 (de) 2003-11-26 2005-06-01 Infineon Technologies AG Anordnung mit einem Speicher zum Speichern von Daten
US8176238B2 (en) * 2003-12-02 2012-05-08 Super Talent Electronics, Inc. Command queuing smart storage transfer manager for striping data to raw-NAND flash modules
US20050120265A1 (en) * 2003-12-02 2005-06-02 Pline Steven L. Data storage system with error correction code and replaceable defective memory
US20090193184A1 (en) * 2003-12-02 2009-07-30 Super Talent Electronics Inc. Hybrid 2-Level Mapping Tables for Hybrid Block- and Page-Mode Flash-Memory System
US7049652B2 (en) * 2003-12-10 2006-05-23 Sandisk Corporation Pillar cell flash memory technology
US20050132128A1 (en) * 2003-12-15 2005-06-16 Jin-Yub Lee Flash memory device and flash memory system including buffer memory
CN1809833B (zh) 2003-12-17 2015-08-05 雷克萨媒体公司 用于减少用于购买的电子设备的盗窃发生率的方法
US7058754B2 (en) * 2003-12-22 2006-06-06 Silicon Storage Technology, Inc. Nonvolatile memory device capable of simultaneous erase and program of different blocks
US7266732B2 (en) * 2003-12-22 2007-09-04 Samsung Electronics Co., Ltd. MRAM with controller
US20050144516A1 (en) * 2003-12-30 2005-06-30 Gonzalez Carlos J. Adaptive deterministic grouping of blocks into multi-block units
US7173863B2 (en) 2004-03-08 2007-02-06 Sandisk Corporation Flash controller cache architecture
US7200708B1 (en) * 2003-12-31 2007-04-03 Intel Corporation Apparatus and methods for storing data which self-compensate for erase performance degradation
US6988237B1 (en) 2004-01-06 2006-01-17 Marvell Semiconductor Israel Ltd. Error-correction memory architecture for testing production errors
WO2005074613A2 (en) * 2004-02-03 2005-08-18 Nextest Systems Corporation Method for testing and programming memory devices and system for same
KR100533683B1 (ko) * 2004-02-03 2005-12-05 삼성전자주식회사 플래시 메모리의 데이터 관리 장치 및 방법
TWI234110B (en) * 2004-02-05 2005-06-11 Mediatek Inc Method for managing a circuit system during mode-switching procedures
EP1733555A4 (en) * 2004-02-23 2009-09-30 Lexar Media Inc SAFE COMPACT FLASH
US7177189B2 (en) * 2004-03-01 2007-02-13 Intel Corporation Memory defect detection and self-repair technique
US7183153B2 (en) * 2004-03-12 2007-02-27 Sandisk Corporation Method of manufacturing self aligned non-volatile memory cells
KR100648243B1 (ko) * 2004-03-19 2006-11-24 삼성전자주식회사 낸드 플래시 메모리를 사용하는 메모리 카드
DE602004007886T2 (de) * 2004-03-30 2008-04-24 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Sequenzielles Schreib-Prüfverfahren mit Ergebnisspeicherung
US7733729B2 (en) * 2004-04-01 2010-06-08 Nxp B.V. Thermally stable reference voltage generator for MRAM
WO2005094178A2 (en) 2004-04-01 2005-10-13 Saifun Semiconductors Ltd. Method, circuit and systems for erasing one or more non-volatile memory cells
GB2413208A (en) * 2004-04-13 2005-10-19 Jenny Wong Soft toy baby monitor
US7725628B1 (en) 2004-04-20 2010-05-25 Lexar Media, Inc. Direct secondary device interface by a host
JP4642018B2 (ja) * 2004-04-21 2011-03-02 スパンション エルエルシー 不揮発性半導体装置および不揮発性半導体装置の消去動作不良自動救済方法
US7057939B2 (en) * 2004-04-23 2006-06-06 Sandisk Corporation Non-volatile memory and control with improved partial page program capability
US7370166B1 (en) 2004-04-30 2008-05-06 Lexar Media, Inc. Secure portable storage device
US7644239B2 (en) 2004-05-03 2010-01-05 Microsoft Corporation Non-volatile memory cache performance improvement
US8019925B1 (en) 2004-05-06 2011-09-13 Seagate Technology Llc Methods and structure for dynamically mapped mass storage device
US7110301B2 (en) * 2004-05-07 2006-09-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Non-volatile semiconductor memory device and multi-block erase method thereof
US7490283B2 (en) 2004-05-13 2009-02-10 Sandisk Corporation Pipelined data relocation and improved chip architectures
US7009889B2 (en) * 2004-05-28 2006-03-07 Sandisk Corporation Comprehensive erase verification for non-volatile memory
US7617359B2 (en) * 2004-06-10 2009-11-10 Marvell World Trade Ltd. Adaptive storage system including hard disk drive with flash interface
US7788427B1 (en) 2005-05-05 2010-08-31 Marvell International Ltd. Flash memory interface for disk drive
US20070083785A1 (en) * 2004-06-10 2007-04-12 Sehat Sutardja System with high power and low power processors and thread transfer
US20070094444A1 (en) * 2004-06-10 2007-04-26 Sehat Sutardja System with high power and low power processors and thread transfer
US7634615B2 (en) * 2004-06-10 2009-12-15 Marvell World Trade Ltd. Adaptive storage system
US7702848B2 (en) * 2004-06-10 2010-04-20 Marvell World Trade Ltd. Adaptive storage system including hard disk drive with flash interface
US20080140921A1 (en) * 2004-06-10 2008-06-12 Sehat Sutardja Externally removable non-volatile semiconductor memory module for hard disk drives
US7366025B2 (en) * 2004-06-10 2008-04-29 Saifun Semiconductors Ltd. Reduced power programming of non-volatile cells
US7730335B2 (en) 2004-06-10 2010-06-01 Marvell World Trade Ltd. Low power computer with main and auxiliary processors
FR2871940B1 (fr) * 2004-06-18 2007-06-15 St Microelectronics Rousset Transistor mos a grille flottante, a double grille de controle
JP2006004560A (ja) * 2004-06-18 2006-01-05 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置及びその誤り訂正方法
US7217597B2 (en) 2004-06-22 2007-05-15 Micron Technology, Inc. Die stacking scheme
US7336531B2 (en) 2004-06-25 2008-02-26 Micron Technology, Inc. Multiple level cell memory device with single bit per cell, re-mappable memory block
US20080098388A1 (en) * 2004-06-29 2008-04-24 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Safe Flashing
JP4209820B2 (ja) 2004-07-15 2009-01-14 株式会社ハギワラシスコム メモリカードシステム及び該メモリカードシステムで使用されるライトワンス型メモリカード、ホストシステムと半導体記憶デバイスとからなるシステム
US7380180B2 (en) * 2004-07-16 2008-05-27 Intel Corporation Method, system, and apparatus for tracking defective cache lines
KR100632947B1 (ko) * 2004-07-20 2006-10-12 삼성전자주식회사 불 휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법
US7266635B1 (en) 2004-07-22 2007-09-04 Marvell Semiconductor Israel Ltd. Address lookup apparatus having memory and content addressable memory
JP4290618B2 (ja) * 2004-07-27 2009-07-08 Necエレクトロニクス株式会社 不揮発性メモリ及びその動作方法
JP2006039966A (ja) * 2004-07-27 2006-02-09 Toshiba Corp メモリカードおよびメモリカードに搭載されるカード用コントローラ並びにメモリカードの処理装置
US7427027B2 (en) 2004-07-28 2008-09-23 Sandisk Corporation Optimized non-volatile storage systems
US7258100B2 (en) * 2004-08-03 2007-08-21 Bruce Pinkston Internal combustion engine control
KR100622349B1 (ko) * 2004-08-04 2006-09-14 삼성전자주식회사 불량 블록 관리 기능을 가지는 플레시 메모리 장치 및플레시 메모리 장치의 불량 블록 관리 방법.
US7042765B2 (en) * 2004-08-06 2006-05-09 Freescale Semiconductor, Inc. Memory bit line segment isolation
US7145816B2 (en) * 2004-08-16 2006-12-05 Micron Technology, Inc. Using redundant memory for extra features
US7398348B2 (en) * 2004-08-24 2008-07-08 Sandisk 3D Llc Method and apparatus for using a one-time or few-time programmable memory with a host device designed for erasable/rewritable memory
US7464306B1 (en) 2004-08-27 2008-12-09 Lexar Media, Inc. Status of overall health of nonvolatile memory
US7594063B1 (en) 2004-08-27 2009-09-22 Lexar Media, Inc. Storage capacity status
US7269685B2 (en) * 2004-09-02 2007-09-11 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for storing data in a magnetic random access memory (MRAM)
US20060044934A1 (en) 2004-09-02 2006-03-02 Micron Technology, Inc. Cluster based non-volatile memory translation layer
US7509526B2 (en) * 2004-09-24 2009-03-24 Seiko Epson Corporation Method of correcting NAND memory blocks and to a printing device employing the method
US20060069896A1 (en) * 2004-09-27 2006-03-30 Sigmatel, Inc. System and method for storing data
DE102004047813A1 (de) * 2004-09-29 2006-03-30 Infineon Technologies Ag Halbleiterbaustein mit einer Umlenkschaltung
US7149119B2 (en) * 2004-09-30 2006-12-12 Matrix Semiconductor, Inc. System and method of controlling a three-dimensional memory
US20060067127A1 (en) * 2004-09-30 2006-03-30 Matrix Semiconductor, Inc. Method of programming a monolithic three-dimensional memory
KR100660534B1 (ko) * 2004-12-09 2006-12-26 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치의 프로그램 검증방법
US7638850B2 (en) 2004-10-14 2009-12-29 Saifun Semiconductors Ltd. Non-volatile memory structure and method of fabrication
ATE395703T1 (de) * 2004-10-20 2008-05-15 Actaris Sas Verfahren zum löschen eines flash-speichers und zähler mit einem flash-speicher
US7490197B2 (en) 2004-10-21 2009-02-10 Microsoft Corporation Using external memory devices to improve system performance
US7388189B2 (en) * 2004-10-27 2008-06-17 Electro Industries/Gauge Tech System and method for connecting electrical devices using fiber optic serial communication
DE102004052218B3 (de) 2004-10-27 2006-04-27 Infineon Technologies Ag Speicheranordnung mit geringem Stromverbrauch
US7472238B1 (en) 2004-11-05 2008-12-30 Commvault Systems, Inc. Systems and methods for recovering electronic information from a storage medium
US7381615B2 (en) * 2004-11-23 2008-06-03 Sandisk Corporation Methods for self-aligned trench filling with grown dielectric for high coupling ratio in semiconductor devices
US7416956B2 (en) * 2004-11-23 2008-08-26 Sandisk Corporation Self-aligned trench filling for narrow gap isolation regions
US7502256B2 (en) * 2004-11-30 2009-03-10 Siliconsystems, Inc. Systems and methods for reducing unauthorized data recovery from solid-state storage devices
US7877543B2 (en) * 2004-12-03 2011-01-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for writing data and a time value to an addressable unit of a removable storage medium
US7271996B2 (en) * 2004-12-03 2007-09-18 Electro Industries/Gauge Tech Current inputs interface for an electrical device
JP2008523468A (ja) * 2004-12-06 2008-07-03 テイアック エアロスペース テクノロジーズ インコーポレイテッド 不揮発記録媒体消去システム及び方法
US20060120235A1 (en) * 2004-12-06 2006-06-08 Teac Aerospace Technologies System and method of erasing non-volatile recording media
JP4786171B2 (ja) * 2004-12-10 2011-10-05 株式会社東芝 半導体記憶装置
US7420847B2 (en) * 2004-12-14 2008-09-02 Sandisk Corporation Multi-state memory having data recovery after program fail
US7120051B2 (en) * 2004-12-14 2006-10-10 Sandisk Corporation Pipelined programming of non-volatile memories using early data
US7158421B2 (en) * 2005-04-01 2007-01-02 Sandisk Corporation Use of data latches in multi-phase programming of non-volatile memories
US8606830B2 (en) 2004-12-17 2013-12-10 Microsoft Corporation Contiguous file allocation in an extensible file system
US8321439B2 (en) 2004-12-17 2012-11-27 Microsoft Corporation Quick filename lookup using name hash
US7873596B2 (en) * 2006-05-23 2011-01-18 Microsoft Corporation Extending cluster allocations in an extensible file system
US9639554B2 (en) 2004-12-17 2017-05-02 Microsoft Technology Licensing, Llc Extensible file system
US7882299B2 (en) * 2004-12-21 2011-02-01 Sandisk Corporation System and method for use of on-chip non-volatile memory write cache
US7849381B2 (en) * 2004-12-21 2010-12-07 Sandisk Corporation Method for copying data in reprogrammable non-volatile memory
US7482223B2 (en) * 2004-12-22 2009-01-27 Sandisk Corporation Multi-thickness dielectric for semiconductor memory
US7202125B2 (en) * 2004-12-22 2007-04-10 Sandisk Corporation Low-voltage, multiple thin-gate oxide and low-resistance gate electrode
WO2006071402A1 (en) * 2004-12-23 2006-07-06 Atmel Corporation System for performing fast testing during flash reference cell setting
US20060140007A1 (en) * 2004-12-29 2006-06-29 Raul-Adrian Cernea Non-volatile memory and method with shared processing for an aggregate of read/write circuits
FR2880963B3 (fr) * 2005-01-19 2007-04-20 Atmel Corp Points d'arrets logiciels destines a etre utilises avec des dispositifs a memoire
US8581169B2 (en) * 2005-01-24 2013-11-12 Electro Industries/Gauge Tech System and method for data transmission between an intelligent electronic device and a remote device
US7877566B2 (en) * 2005-01-25 2011-01-25 Atmel Corporation Simultaneous pipelined read with multiple level cache for improved system performance using flash technology
US9104315B2 (en) 2005-02-04 2015-08-11 Sandisk Technologies Inc. Systems and methods for a mass data storage system having a file-based interface to a host and a non-file-based interface to secondary storage
US20060184718A1 (en) * 2005-02-16 2006-08-17 Sinclair Alan W Direct file data programming and deletion in flash memories
US20060184719A1 (en) * 2005-02-16 2006-08-17 Sinclair Alan W Direct data file storage implementation techniques in flash memories
US7877539B2 (en) * 2005-02-16 2011-01-25 Sandisk Corporation Direct data file storage in flash memories
US7757037B2 (en) * 2005-02-16 2010-07-13 Kingston Technology Corporation Configurable flash memory controller and method of use
US7113427B1 (en) * 2005-03-09 2006-09-26 National Semiconductor Corporation NVM PMOS-cell with one erased and two programmed states
US7251160B2 (en) 2005-03-16 2007-07-31 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with power-saving read and program-verify operations
US8053812B2 (en) 2005-03-17 2011-11-08 Spansion Israel Ltd Contact in planar NROM technology
US7348667B2 (en) * 2005-03-22 2008-03-25 International Business Machines Corporation System and method for noise reduction in multi-layer ceramic packages
US7624385B2 (en) * 2005-03-30 2009-11-24 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method for handling preprocessing in source code transformation
DE102005015319B4 (de) * 2005-04-01 2008-04-10 Infineon Technologies Ag Elektrisches System mit fehlerhaften Speicherbereichen und Verfahren zum Testen von Speicherbereichen
US7206230B2 (en) * 2005-04-01 2007-04-17 Sandisk Corporation Use of data latches in cache operations of non-volatile memories
US7173854B2 (en) * 2005-04-01 2007-02-06 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with compensation for source line bias errors
US7463521B2 (en) * 2005-04-01 2008-12-09 Sandisk Corporation Method for non-volatile memory with managed execution of cached data
US7170784B2 (en) * 2005-04-01 2007-01-30 Sandisk Corporation Non-volatile memory and method with control gate compensation for source line bias errors
US7447078B2 (en) 2005-04-01 2008-11-04 Sandisk Corporation Method for non-volatile memory with background data latch caching during read operations
US7196946B2 (en) * 2005-04-05 2007-03-27 Sandisk Corporation Compensating for coupling in non-volatile storage
US7196928B2 (en) * 2005-04-05 2007-03-27 Sandisk Corporation Compensating for coupling during read operations of non-volatile memory
US7187585B2 (en) * 2005-04-05 2007-03-06 Sandisk Corporation Read operation for non-volatile storage that includes compensation for coupling
DE102005016684A1 (de) * 2005-04-11 2006-10-12 Deutsche Thomson-Brandt Gmbh Speicheranordnung, insbesondere zur nichtflüchtigen Speicherung von unkomprmierten Video-und/oder Audiodaten
US7603530B1 (en) 2005-05-05 2009-10-13 Seagate Technology Llc Methods and structure for dynamic multiple indirections in a dynamically mapped mass storage device
US7617358B1 (en) 2005-05-05 2009-11-10 Seagate Technology, Llc Methods and structure for writing lead-in sequences for head stability in a dynamically mapped mass storage device
US7620772B1 (en) 2005-05-05 2009-11-17 Seagate Technology, Llc Methods and structure for dynamic data density in a dynamically mapped mass storage device
US7685360B1 (en) 2005-05-05 2010-03-23 Seagate Technology Llc Methods and structure for dynamic appended metadata in a dynamically mapped mass storage device
US7752491B1 (en) 2005-05-05 2010-07-06 Seagate Technology Llc Methods and structure for on-the-fly head depopulation in a dynamically mapped mass storage device
US7653847B1 (en) 2005-05-05 2010-01-26 Seagate Technology Llc Methods and structure for field flawscan in a dynamically mapped mass storage device
US7916421B1 (en) 2005-05-05 2011-03-29 Seagate Technology Llc Methods and structure for recovery of write fault errors in a dynamically mapped mass storage device
US8045381B2 (en) * 2005-05-09 2011-10-25 Stmicroelectronics Sa Device for protecting a memory against attacks by error injection
JP5014125B2 (ja) * 2005-05-30 2012-08-29 スパンション エルエルシー 半導体装置及びプログラムデータ冗長方法
US7506206B2 (en) * 2005-06-07 2009-03-17 Atmel Corporation Mechanism for providing program breakpoints in a microcontroller with flash program memory
US8400841B2 (en) 2005-06-15 2013-03-19 Spansion Israel Ltd. Device to program adjacent storage cells of different NROM cells
US7457910B2 (en) 2005-06-29 2008-11-25 Sandisk Corproation Method and system for managing partitions in a storage device
FR2888032A1 (fr) * 2005-06-30 2007-01-05 Gemplus Sa Procede de gestion de memoire non volatile dans une carte a puce
KR101257848B1 (ko) * 2005-07-13 2013-04-24 삼성전자주식회사 복합 메모리를 구비하는 데이터 저장 시스템 및 그 동작방법
US7656710B1 (en) 2005-07-14 2010-02-02 Sau Ching Wong Adaptive operations for nonvolatile memories
US7786512B2 (en) 2005-07-18 2010-08-31 Saifun Semiconductors Ltd. Dense non-volatile memory array and method of fabrication
US20070030281A1 (en) * 2005-07-25 2007-02-08 Beyond Innovation Technology Co., Ltd. Serial memory script controller
US7669003B2 (en) * 2005-08-03 2010-02-23 Sandisk Corporation Reprogrammable non-volatile memory systems with indexing of directly stored data files
US7627733B2 (en) * 2005-08-03 2009-12-01 Sandisk Corporation Method and system for dual mode access for storage devices
US7949845B2 (en) * 2005-08-03 2011-05-24 Sandisk Corporation Indexing of file data in reprogrammable non-volatile memories that directly store data files
US7480766B2 (en) * 2005-08-03 2009-01-20 Sandisk Corporation Interfacing systems operating through a logical address space and on a direct data file basis
US7558906B2 (en) 2005-08-03 2009-07-07 Sandisk Corporation Methods of managing blocks in nonvolatile memory
US7552271B2 (en) 2005-08-03 2009-06-23 Sandisk Corporation Nonvolatile memory with block management
US7984084B2 (en) * 2005-08-03 2011-07-19 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory with scheduled reclaim operations
US7668017B2 (en) 2005-08-17 2010-02-23 Saifun Semiconductors Ltd. Method of erasing non-volatile memory cells
DE102005040916A1 (de) * 2005-08-30 2007-03-08 Robert Bosch Gmbh Speicheranordnung und Betriebsverfahren dafür
WO2007026393A1 (ja) * 2005-08-30 2007-03-08 Spansion Llc 半導体装置およびその制御方法
US7345918B2 (en) * 2005-08-31 2008-03-18 Micron Technology, Inc. Selective threshold voltage verification and compaction
US7523381B2 (en) * 2005-09-01 2009-04-21 Micron Technology, Inc. Non-volatile memory with error detection
US8116142B2 (en) * 2005-09-06 2012-02-14 Infineon Technologies Ag Method and circuit for erasing a non-volatile memory cell
JP2007072839A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Sony Corp 記録制御装置および方法、並びにプログラム
US8010826B2 (en) * 2005-09-13 2011-08-30 Meta Systems Reconfigurable circuit with redundant reconfigurable cluster(s)
US7478261B2 (en) * 2005-09-13 2009-01-13 M2000 Reconfigurable circuit with redundant reconfigurable cluster(s)
DE102005045400A1 (de) * 2005-09-23 2007-03-29 Robert Bosch Gmbh Datenverarbeitungssystem und Betriebsverfahren dafür
KR101293365B1 (ko) 2005-09-30 2013-08-05 모사이드 테크놀로지스 인코퍼레이티드 출력 제어 메모리
US7652922B2 (en) * 2005-09-30 2010-01-26 Mosaid Technologies Incorporated Multiple independent serial link memory
TWI298836B (en) * 2005-10-12 2008-07-11 Sunplus Technology Co Ltd Apparatus for controlling flash memory and method thereof
US7814262B2 (en) * 2005-10-13 2010-10-12 Sandisk Corporation Memory system storing transformed units of data in fixed sized storage blocks
US7681109B2 (en) * 2005-10-13 2010-03-16 Ramot At Tel Aviv University Ltd. Method of error correction in MBC flash memory
US7640424B2 (en) * 2005-10-13 2009-12-29 Sandisk Corporation Initialization of flash storage via an embedded controller
US7529905B2 (en) * 2005-10-13 2009-05-05 Sandisk Corporation Method of storing transformed units of data in a memory system having fixed sized storage blocks
US7541240B2 (en) * 2005-10-18 2009-06-02 Sandisk Corporation Integration process flow for flash devices with low gap fill aspect ratio
JP4910360B2 (ja) * 2005-10-20 2012-04-04 ソニー株式会社 記憶装置、コンピュータシステム、およびデータ書き込み方法
US7493519B2 (en) * 2005-10-24 2009-02-17 Lsi Corporation RRAM memory error emulation
US7509471B2 (en) * 2005-10-27 2009-03-24 Sandisk Corporation Methods for adaptively handling data writes in non-volatile memories
US7631162B2 (en) 2005-10-27 2009-12-08 Sandisck Corporation Non-volatile memory with adaptive handling of data writes
US7634585B2 (en) * 2005-11-04 2009-12-15 Sandisk Corporation In-line cache using nonvolatile memory between host and disk device
US7554843B1 (en) * 2005-11-04 2009-06-30 Alta Analog, Inc. Serial bus incorporating high voltage programming signals
US20070106842A1 (en) * 2005-11-04 2007-05-10 Conley Kevin M Enhanced first level storage caching methods using nonvolatile memory
ITVA20050061A1 (it) * 2005-11-08 2007-05-09 St Microelectronics Srl Metodo di gestione di un dispositivo di memoria non volatile e relativa memoria
US7447066B2 (en) * 2005-11-08 2008-11-04 Sandisk Corporation Memory with retargetable memory cell redundancy
JP2007133683A (ja) * 2005-11-10 2007-05-31 Sony Corp メモリシステム
US7777819B2 (en) * 2005-11-10 2010-08-17 Bae Systems Plc Display source
JP4791806B2 (ja) * 2005-11-21 2011-10-12 株式会社東芝 半導体記憶装置及びそのデータ書き込み方法
US7451262B2 (en) * 2005-12-02 2008-11-11 Nagarjun V Yetukuri Removable memory storage device having a display
US7502916B2 (en) * 2005-12-02 2009-03-10 Infineon Technologies Flash Gmbh & Co. Kg Processing arrangement, memory card device and method for operating and manufacturing a processing arrangement
US20070233954A1 (en) * 2005-12-06 2007-10-04 O2Micro, Inc. System and Method for Interfacing to a Media Card Related Application and Technical Field
US7323968B2 (en) * 2005-12-09 2008-01-29 Sony Corporation Cross-phase adapter for powerline communications (PLC) network
FR2894709A1 (fr) * 2005-12-13 2007-06-15 Gemplus Sa "detecteur de destruction anormale de secteur memoire"
US7877540B2 (en) * 2005-12-13 2011-01-25 Sandisk Corporation Logically-addressed file storage methods
US20070143530A1 (en) * 2005-12-15 2007-06-21 Rudelic John C Method and apparatus for multi-block updates with secure flash memory
US8914557B2 (en) 2005-12-16 2014-12-16 Microsoft Corporation Optimizing write and wear performance for a memory
US20070141731A1 (en) * 2005-12-20 2007-06-21 Hemink Gerrit J Semiconductor memory with redundant replacement for elements posing future operability concern
US7793068B2 (en) * 2005-12-21 2010-09-07 Sandisk Corporation Dual mode access for non-volatile storage devices
US20070156998A1 (en) * 2005-12-21 2007-07-05 Gorobets Sergey A Methods for memory allocation in non-volatile memories with a directly mapped file storage system
US20070143567A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Gorobets Sergey A Methods for data alignment in non-volatile memories with a directly mapped file storage system
US20070143566A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Gorobets Sergey A Non-volatile memories with data alignment in a directly mapped file storage system
US20070143561A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Gorobets Sergey A Methods for adaptive file data handling in non-volatile memories with a directly mapped file storage system
US20070143378A1 (en) * 2005-12-21 2007-06-21 Gorobets Sergey A Non-volatile memories with adaptive file handling in a directly mapped file storage system
US7747837B2 (en) 2005-12-21 2010-06-29 Sandisk Corporation Method and system for accessing non-volatile storage devices
US7769978B2 (en) * 2005-12-21 2010-08-03 Sandisk Corporation Method and system for accessing non-volatile storage devices
US7447094B2 (en) * 2005-12-29 2008-11-04 Sandisk Corporation Method for power-saving multi-pass sensing in non-volatile memory
US7224614B1 (en) 2005-12-29 2007-05-29 Sandisk Corporation Methods for improved program-verify operations in non-volatile memories
US7733704B2 (en) * 2005-12-29 2010-06-08 Sandisk Corporation Non-volatile memory with power-saving multi-pass sensing
US7307887B2 (en) * 2005-12-29 2007-12-11 Sandisk Corporation Continued verification in non-volatile memory write operations
US7310255B2 (en) * 2005-12-29 2007-12-18 Sandisk Corporation Non-volatile memory with improved program-verify operations
US7352629B2 (en) * 2005-12-29 2008-04-01 Sandisk Corporation Systems for continued verification in non-volatile memory write operations
US7593264B2 (en) * 2006-01-09 2009-09-22 Macronix International Co., Ltd. Method and apparatus for programming nonvolatile memory
US7562285B2 (en) 2006-01-11 2009-07-14 Rambus Inc. Unidirectional error code transfer for a bidirectional data link
US7808818B2 (en) 2006-01-12 2010-10-05 Saifun Semiconductors Ltd. Secondary injection for NROM
US7793059B2 (en) * 2006-01-18 2010-09-07 Apple Inc. Interleaving policies for flash memory
US7609561B2 (en) * 2006-01-18 2009-10-27 Apple Inc. Disabling faulty flash memory dies
US7752391B2 (en) * 2006-01-20 2010-07-06 Apple Inc. Variable caching policy system and method
US7702935B2 (en) * 2006-01-25 2010-04-20 Apple Inc. Reporting flash memory operating voltages
US20070174641A1 (en) * 2006-01-25 2007-07-26 Cornwell Michael J Adjusting power supplies for data storage devices
US7594043B2 (en) * 2006-01-27 2009-09-22 Apple Inc. Reducing dismount time for mass storage class devices
US7912994B2 (en) * 2006-01-27 2011-03-22 Apple Inc. Reducing connection time for mass storage class peripheral by internally prefetching file data into local cache in response to connection to host
US7861122B2 (en) * 2006-01-27 2010-12-28 Apple Inc. Monitoring health of non-volatile memory
EP2016494A4 (en) * 2006-02-14 2010-02-03 Atmel Corp DESCRIPTING AND SETTING FLASH SAVINGS
US7451367B2 (en) * 2006-02-14 2008-11-11 Atmel Corporation Accessing sequential data in microcontrollers
US7540416B2 (en) * 2006-02-14 2009-06-02 Ricoh Company, Ltd. Smart card authentication system with multiple card and server support
US7610528B2 (en) * 2006-02-14 2009-10-27 Atmel Corporation Configuring flash memory
US7760554B2 (en) 2006-02-21 2010-07-20 Saifun Semiconductors Ltd. NROM non-volatile memory and mode of operation
US7692961B2 (en) 2006-02-21 2010-04-06 Saifun Semiconductors Ltd. Method, circuit and device for disturb-control of programming nonvolatile memory cells by hot-hole injection (HHI) and by channel hot-electron (CHE) injection
US8253452B2 (en) 2006-02-21 2012-08-28 Spansion Israel Ltd Circuit and method for powering up an integrated circuit and an integrated circuit utilizing same
US7500095B2 (en) * 2006-03-15 2009-03-03 Dell Products L.P. Chipset-independent method for locally and remotely updating and configuring system BIOS
US7831854B2 (en) 2006-03-21 2010-11-09 Mediatek, Inc. Embedded system for compensating setup time violation and method thereof
JP2009531796A (ja) 2006-03-24 2009-09-03 サンディスク コーポレイション 欠陥のある位置のためのデータラッチに冗長データがバッファされる不揮発性メモリおよび方法
KR101347590B1 (ko) 2006-03-24 2014-01-07 샌디스크 테크놀로지스, 인코포레이티드 용장 데이터가 원격 버퍼 회로들에 버퍼되는 비휘발성 메모리 및 방법
US7324389B2 (en) * 2006-03-24 2008-01-29 Sandisk Corporation Non-volatile memory with redundancy data buffered in remote buffer circuits
US7224605B1 (en) 2006-03-24 2007-05-29 Sandisk Corporation Non-volatile memory with redundancy data buffered in data latches for defective locations
US7394690B2 (en) * 2006-03-24 2008-07-01 Sandisk Corporation Method for column redundancy using data latches in solid-state memories
US7352635B2 (en) * 2006-03-24 2008-04-01 Sandisk Corporation Method for remote redundancy for non-volatile memory
US7849302B2 (en) 2006-04-10 2010-12-07 Apple Inc. Direct boot arrangement using a NAND flash memory
JP4182359B2 (ja) 2006-04-26 2008-11-19 船井電機株式会社 Hdd内蔵型記録装置
US7701779B2 (en) 2006-04-27 2010-04-20 Sajfun Semiconductors Ltd. Method for programming a reference cell
CN103280239B (zh) 2006-05-12 2016-04-06 苹果公司 存储设备中的失真估计和消除
US8239735B2 (en) 2006-05-12 2012-08-07 Apple Inc. Memory Device with adaptive capacity
WO2007132452A2 (en) 2006-05-12 2007-11-22 Anobit Technologies Reducing programming error in memory devices
KR101202537B1 (ko) 2006-05-12 2012-11-19 애플 인크. 메모리 디바이스를 위한 결합된 왜곡 추정 및 에러 보정 코딩
US7852690B2 (en) * 2006-05-15 2010-12-14 Apple Inc. Multi-chip package for a flash memory
US7613043B2 (en) * 2006-05-15 2009-11-03 Apple Inc. Shifting reference values to account for voltage sag
US7511646B2 (en) * 2006-05-15 2009-03-31 Apple Inc. Use of 8-bit or higher A/D for NAND cell value
US7639542B2 (en) * 2006-05-15 2009-12-29 Apple Inc. Maintenance operations for multi-level data storage cells
US7551486B2 (en) 2006-05-15 2009-06-23 Apple Inc. Iterative memory cell charging based on reference cell value
US7701797B2 (en) * 2006-05-15 2010-04-20 Apple Inc. Two levels of voltage regulation supplied for logic and data programming voltage of a memory device
US7568135B2 (en) * 2006-05-15 2009-07-28 Apple Inc. Use of alternative value in cell detection
US7911834B2 (en) * 2006-05-15 2011-03-22 Apple Inc. Analog interface for a flash memory die
US7639531B2 (en) * 2006-05-15 2009-12-29 Apple Inc. Dynamic cell bit resolution
US8000134B2 (en) 2006-05-15 2011-08-16 Apple Inc. Off-die charge pump that supplies multiple flash devices
US7349254B2 (en) * 2006-05-31 2008-03-25 Qimonda Flash Gmbh & Co. Kg Charge-trapping memory device and methods for its manufacturing and operation
US7788712B2 (en) * 2006-06-05 2010-08-31 Ricoh Company, Ltd. Managing access to a document-processing device using an identification token
US7711890B2 (en) 2006-06-06 2010-05-04 Sandisk Il Ltd Cache control in a non-volatile memory device
US20080010510A1 (en) * 2006-06-19 2008-01-10 Tony Turner Method and system for using multiple memory regions for redundant remapping
US7650458B2 (en) * 2006-06-23 2010-01-19 Microsoft Corporation Flash memory driver
JP5038657B2 (ja) * 2006-06-26 2012-10-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
JP4842719B2 (ja) * 2006-06-28 2011-12-21 株式会社日立製作所 ストレージシステム及びそのデータ保護方法
US7818637B2 (en) * 2006-07-19 2010-10-19 Panasonic Corporation Apparatus for formatting information storage medium
US20080263324A1 (en) * 2006-08-10 2008-10-23 Sehat Sutardja Dynamic core switching
US7505328B1 (en) * 2006-08-14 2009-03-17 Spansion Llc Method and architecture for fast flash memory programming
US7478271B2 (en) * 2006-08-15 2009-01-13 Chunchun Ho Method for recycling flash memory
US7494860B2 (en) * 2006-08-16 2009-02-24 Sandisk Corporation Methods of forming nonvolatile memories with L-shaped floating gates
US7755132B2 (en) 2006-08-16 2010-07-13 Sandisk Corporation Nonvolatile memories with shaped floating gates
KR101166563B1 (ko) 2006-08-16 2012-07-19 샌디스크 테크놀로지스, 인코포레이티드 형상화된 플로팅 게이트를 갖는 비휘발성 메모리
US7567461B2 (en) * 2006-08-18 2009-07-28 Micron Technology, Inc. Method and system for minimizing number of programming pulses used to program rows of non-volatile memory cells
WO2008026203A2 (en) 2006-08-27 2008-03-06 Anobit Technologies Estimation of non-linear distortion in memory devices
US7602650B2 (en) * 2006-08-30 2009-10-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash memory device and method for programming multi-level cells in the same
US7525838B2 (en) * 2006-08-30 2009-04-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash memory device and method for programming multi-level cells in the same
KR100755718B1 (ko) * 2006-09-04 2007-09-05 삼성전자주식회사 멀티 레벨 셀 플래시 메모리에서 런-타임 배드 블록 관리를위한 장치 및 방법
US7606966B2 (en) * 2006-09-08 2009-10-20 Sandisk Corporation Methods in a pseudo random and command driven bit compensation for the cycling effects in flash memory
US7885112B2 (en) * 2007-09-07 2011-02-08 Sandisk Corporation Nonvolatile memory and method for on-chip pseudo-randomization of data within a page and between pages
US7734861B2 (en) 2006-09-08 2010-06-08 Sandisk Corporation Pseudo random and command driven bit compensation for the cycling effects in flash memory
US8001314B2 (en) 2006-09-12 2011-08-16 Apple Inc. Storing a driver for controlling a memory
US7696044B2 (en) * 2006-09-19 2010-04-13 Sandisk Corporation Method of making an array of non-volatile memory cells with floating gates formed of spacers in substrate trenches
US7646054B2 (en) * 2006-09-19 2010-01-12 Sandisk Corporation Array of non-volatile memory cells with floating gates formed of spacers in substrate trenches
US7615445B2 (en) * 2006-09-21 2009-11-10 Sandisk Corporation Methods of reducing coupling between floating gates in nonvolatile memory
US20080074920A1 (en) * 2006-09-21 2008-03-27 Henry Chien Nonvolatile Memory with Reduced Coupling Between Floating Gates
US7539783B2 (en) * 2006-09-22 2009-05-26 Commvault Systems, Inc. Systems and methods of media management, such as management of media to and from a media storage library, including removable media
KR100830575B1 (ko) 2006-09-26 2008-05-21 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 멀티-블록 소거 방법
US20080082725A1 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Reuven Elhamias End of Life Recovery and Resizing of Memory Cards
US7596656B2 (en) * 2006-09-28 2009-09-29 Sandisk Corporation Memory cards with end of life recovery and resizing
US7675802B2 (en) 2006-09-29 2010-03-09 Sandisk Corporation Dual voltage flash memory card
US7730270B2 (en) * 2006-09-29 2010-06-01 Sandisk Corporation Method combining once-writeable and rewriteable information storage to support data processing
US7630225B2 (en) * 2006-09-29 2009-12-08 Sandisk Corporation Apparatus combining once-writeable and rewriteable information storage to support data processing
US7656735B2 (en) 2006-09-29 2010-02-02 Sandisk Corporation Dual voltage flash memory methods
KR100874702B1 (ko) * 2006-10-02 2008-12-18 삼성전자주식회사 플래시 메모리 파일 시스템을 효율적으로 관리하기 위한장치 드라이버 및 방법
US7356442B1 (en) * 2006-10-05 2008-04-08 International Business Machines Corporation End of life prediction of flash memory
US7391638B2 (en) 2006-10-24 2008-06-24 Sandisk 3D Llc Memory device for protecting memory cells during programming
US7420850B2 (en) * 2006-10-24 2008-09-02 Sandisk 3D Llc Method for controlling current during programming of memory cells
US7420851B2 (en) * 2006-10-24 2008-09-02 San Disk 3D Llc Memory device for controlling current during programming of memory cells
US7589989B2 (en) 2006-10-24 2009-09-15 Sandisk 3D Llc Method for protecting memory cells during programming
KR101342074B1 (ko) * 2006-10-25 2013-12-18 삼성전자 주식회사 컴퓨터시스템 및 그 제어방법
WO2008053473A2 (en) 2006-10-30 2008-05-08 Anobit Technologies Ltd. Memory cell readout using successive approximation
US7975192B2 (en) 2006-10-30 2011-07-05 Anobit Technologies Ltd. Reading memory cells using multiple thresholds
EP2095234B1 (en) * 2006-11-21 2014-04-09 Freescale Semiconductor, Inc. Memory system with ecc-unit and further processing arrangement
US7924648B2 (en) 2006-11-28 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Memory power and performance management
US8547756B2 (en) 2010-10-04 2013-10-01 Zeno Semiconductor, Inc. Semiconductor memory device having an electrically floating body transistor
US8151163B2 (en) 2006-12-03 2012-04-03 Anobit Technologies Ltd. Automatic defect management in memory devices
KR100791006B1 (ko) * 2006-12-06 2008-01-03 삼성전자주식회사 싱글레벨 셀 및 멀티레벨 셀을 구비하는 반도체 메모리장치 및 그 구동방법
US7900102B2 (en) 2006-12-17 2011-03-01 Anobit Technologies Ltd. High-speed programming of memory devices
US7593263B2 (en) 2006-12-17 2009-09-22 Anobit Technologies Ltd. Memory device with reduced reading latency
KR100881669B1 (ko) * 2006-12-18 2009-02-06 삼성전자주식회사 비휘발성 데이터 저장장치의 정적 데이터 영역 검출 방법,마모도 평준화 방법 및 데이터 유닛 병합 방법과 그 장치
US8686490B2 (en) * 2006-12-20 2014-04-01 Sandisk Corporation Electron blocking layers for electronic devices
US20080150009A1 (en) * 2006-12-20 2008-06-26 Nanosys, Inc. Electron Blocking Layers for Electronic Devices
US20080150003A1 (en) * 2006-12-20 2008-06-26 Jian Chen Electron blocking layers for electronic devices
US7847341B2 (en) 2006-12-20 2010-12-07 Nanosys, Inc. Electron blocking layers for electronic devices
US20080150004A1 (en) * 2006-12-20 2008-06-26 Nanosys, Inc. Electron Blocking Layers for Electronic Devices
US7800161B2 (en) * 2006-12-21 2010-09-21 Sandisk Corporation Flash NAND memory cell array with charge storage elements positioned in trenches
US7642160B2 (en) * 2006-12-21 2010-01-05 Sandisk Corporation Method of forming a flash NAND memory cell array with charge storage elements positioned in trenches
US20080155175A1 (en) * 2006-12-26 2008-06-26 Sinclair Alan W Host System That Manages a LBA Interface With Flash Memory
US8209461B2 (en) 2006-12-26 2012-06-26 Sandisk Technologies Inc. Configuration of host LBA interface with flash memory
EP2097825B1 (en) 2006-12-26 2013-09-04 SanDisk Technologies Inc. Use of a direct data file system with a continuous logical address space interface
US7739444B2 (en) 2006-12-26 2010-06-15 Sandisk Corporation System using a direct data file system with a continuous logical address space interface
US7917686B2 (en) * 2006-12-26 2011-03-29 Sandisk Corporation Host system with direct data file interface configurability
US8166267B2 (en) * 2006-12-26 2012-04-24 Sandisk Technologies Inc. Managing a LBA interface in a direct data file memory system
US8046522B2 (en) * 2006-12-26 2011-10-25 SanDisk Technologies, Inc. Use of a direct data file system with a continuous logical address space interface and control of file address storage in logical blocks
CN101211649B (zh) * 2006-12-27 2012-10-24 宇瞻科技股份有限公司 带有固态磁盘的动态随机存取内存模块
US20080157169A1 (en) * 2006-12-28 2008-07-03 Yuan Jack H Shield plates for reduced field coupling in nonvolatile memory
US20080160680A1 (en) * 2006-12-28 2008-07-03 Yuan Jack H Methods of fabricating shield plates for reduced field coupling in nonvolatile memory
KR100799688B1 (ko) * 2007-01-03 2008-02-01 삼성전자주식회사 백업 회로를 갖는 메모리 시스템 및 그것의 프로그램 방법
TWI463321B (zh) * 2007-01-10 2014-12-01 Mobile Semiconductor Corp 用於改善外部計算裝置效能的調適性記憶體系統
WO2008087082A1 (en) * 2007-01-15 2008-07-24 Thomson Licensing Method and apparatus for recording data into a matrix of memory devices
US7747664B2 (en) * 2007-01-16 2010-06-29 Microsoft Corporation Storage system format for transaction safe file system
US7613738B2 (en) 2007-01-16 2009-11-03 Microsoft Corporation FAT directory structure for use in transaction safe file system
US8151166B2 (en) 2007-01-24 2012-04-03 Anobit Technologies Ltd. Reduction of back pattern dependency effects in memory devices
US7751240B2 (en) 2007-01-24 2010-07-06 Anobit Technologies Ltd. Memory device with negative thresholds
TW200832440A (en) * 2007-01-25 2008-08-01 Genesys Logic Inc Flash memory translation layer system
KR100877609B1 (ko) * 2007-01-29 2009-01-09 삼성전자주식회사 버퍼 메모리의 플래그 셀 어레이를 이용하여 데이터 오류 정정을 수행하는 반도체 메모리 시스템 및 그 구동 방법
US7791952B2 (en) 2007-01-30 2010-09-07 Micron Technology, Inc. Memory device architectures and operation
US7483313B2 (en) * 2007-01-31 2009-01-27 Dell Products, Lp Dual ported memory with selective read and write protection
JP2008192232A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Spansion Llc 半導体装置およびその制御方法
US7669092B2 (en) 2007-02-26 2010-02-23 Micron Technology, Inc. Apparatus, method, and system of NAND defect management
US20080209079A1 (en) * 2007-02-28 2008-08-28 Ty Joseph Caswell Personal information communication device and method
US20090088088A1 (en) * 2007-02-28 2009-04-02 Crick Information Technologies Personal Information Communication Device and Method
US7804718B2 (en) * 2007-03-07 2010-09-28 Mosaid Technologies Incorporated Partial block erase architecture for flash memory
WO2008111058A2 (en) 2007-03-12 2008-09-18 Anobit Technologies Ltd. Adaptive estimation of memory cell read thresholds
US20080224199A1 (en) * 2007-03-14 2008-09-18 Li Hui Lu Non-volatile memory module package capability of replacing
US7814304B2 (en) * 2007-03-14 2010-10-12 Apple Inc. Switching drivers between processors
US7613051B2 (en) * 2007-03-14 2009-11-03 Apple Inc. Interleaving charge pumps for programmable memories
JP4897524B2 (ja) * 2007-03-15 2012-03-14 株式会社日立製作所 ストレージシステム及びストレージシステムのライト性能低下防止方法
US7904793B2 (en) 2007-03-29 2011-03-08 Sandisk Corporation Method for decoding data in non-volatile storage using reliability metrics based on multiple reads
US7797480B2 (en) * 2007-03-29 2010-09-14 Sandisk Corporation Method for reading non-volatile storage using pre-conditioning waveforms and modified reliability metrics
US7633799B2 (en) * 2007-03-30 2009-12-15 Sandisk Corporation Method combining lower-endurance/performance and higher-endurance/performance information storage to support data processing
WO2008121206A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-09 Sandisk Corporation Apparatus and method combining lower-endurance/performance and higher-endurance/performance information storage to support data processing
US7613857B2 (en) * 2007-03-30 2009-11-03 Sandisk Corporation Memory device with a built-in memory array and a connector for a removable memory device
US7603499B2 (en) * 2007-03-30 2009-10-13 Sandisk Corporation Method for using a memory device with a built-in memory array and a connector for a removable memory device
US7745285B2 (en) 2007-03-30 2010-06-29 Sandisk Corporation Methods of forming and operating NAND memory with side-tunneling
US20080244203A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-02 Gorobets Sergey A Apparatus combining lower-endurance/performance and higher-endurance/performance information storage to support data processing
US8001320B2 (en) 2007-04-22 2011-08-16 Anobit Technologies Ltd. Command interface for memory devices
US7996599B2 (en) 2007-04-25 2011-08-09 Apple Inc. Command resequencing in memory operations
US7870327B1 (en) 2007-04-25 2011-01-11 Apple Inc. Controlling memory operations using a driver and flash memory type tables
US7869277B1 (en) 2007-04-25 2011-01-11 Apple Inc. Managing data writing to memories
US7913032B1 (en) 2007-04-25 2011-03-22 Apple Inc. Initiating memory wear leveling
US20080288712A1 (en) * 2007-04-25 2008-11-20 Cornwell Michael J Accessing metadata with an external host
US8977912B2 (en) * 2007-05-07 2015-03-10 Macronix International Co., Ltd. Method and apparatus for repairing memory
US8234545B2 (en) 2007-05-12 2012-07-31 Apple Inc. Data storage with incremental redundancy
WO2008139441A2 (en) 2007-05-12 2008-11-20 Anobit Technologies Ltd. Memory device with internal signal processing unit
US7916540B2 (en) * 2007-05-17 2011-03-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Non-volatile memory devices and systems including bad blocks address re-mapped and methods of operating the same
KR100836800B1 (ko) * 2007-05-30 2008-06-10 삼성전자주식회사 메모리 데이터 독출 장치 및 이를 이용한 메모리 데이터독출 방법
US7701780B2 (en) * 2007-05-31 2010-04-20 Micron Technology, Inc. Non-volatile memory cell healing
JP2008299962A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
KR100857761B1 (ko) * 2007-06-14 2008-09-10 삼성전자주식회사 웨어 레벨링을 수행하는 메모리 시스템 및 그것의 쓰기방법
JP2008310896A (ja) * 2007-06-15 2008-12-25 Spansion Llc 不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システムおよび不揮発性記憶装置の制御方法
US8068367B2 (en) * 2007-06-15 2011-11-29 Micron Technology, Inc. Reference current sources
US7986553B2 (en) * 2007-06-15 2011-07-26 Micron Technology, Inc. Programming of a solid state memory utilizing analog communication of bit patterns
KR20090002636A (ko) 2007-07-02 2009-01-09 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리 장치 및 그것의 소거 방법
US7925936B1 (en) 2007-07-13 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Memory device with non-uniform programming levels
US8259497B2 (en) 2007-08-06 2012-09-04 Apple Inc. Programming schemes for multi-level analog memory cells
US7949913B2 (en) * 2007-08-14 2011-05-24 Dell Products L.P. Method for creating a memory defect map and optimizing performance using the memory defect map
US9373362B2 (en) * 2007-08-14 2016-06-21 Dell Products L.P. System and method for implementing a memory defect map
US7945815B2 (en) 2007-08-14 2011-05-17 Dell Products L.P. System and method for managing memory errors in an information handling system
US8706976B2 (en) 2007-08-30 2014-04-22 Commvault Systems, Inc. Parallel access virtual tape library and drives
US7869273B2 (en) * 2007-09-04 2011-01-11 Sandisk Corporation Reducing the impact of interference during programming
US8095851B2 (en) 2007-09-06 2012-01-10 Siliconsystems, Inc. Storage subsystem capable of adjusting ECC settings based on monitored conditions
US7818493B2 (en) * 2007-09-07 2010-10-19 Sandisk Corporation Adaptive block list management
US8174905B2 (en) 2007-09-19 2012-05-08 Anobit Technologies Ltd. Programming orders for reducing distortion in arrays of multi-level analog memory cells
JP2009080884A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Panasonic Corp 不揮発性半導体記憶装置
US9607664B2 (en) 2007-09-27 2017-03-28 Sandisk Technologies Llc Leveraging portable system power to enhance memory management and enable application level features
US7818610B2 (en) * 2007-09-27 2010-10-19 Microsoft Corporation Rapid crash recovery for flash storage
US7773413B2 (en) 2007-10-08 2010-08-10 Anobit Technologies Ltd. Reliable data storage in analog memory cells in the presence of temperature variations
US8000141B1 (en) 2007-10-19 2011-08-16 Anobit Technologies Ltd. Compensation for voltage drifts in analog memory cells
US8068360B2 (en) 2007-10-19 2011-11-29 Anobit Technologies Ltd. Reading analog memory cells using built-in multi-threshold commands
US8527819B2 (en) * 2007-10-19 2013-09-03 Apple Inc. Data storage in analog memory cell arrays having erase failures
KR101433861B1 (ko) * 2007-10-22 2014-08-27 삼성전자주식회사 메모리 시스템 및 그 구동방법
US7613042B2 (en) * 2007-11-05 2009-11-03 Spansion Llc Decoding system capable of reducing sector select area overhead for flash memory
JP4985781B2 (ja) * 2007-11-05 2012-07-25 富士通株式会社 半導体記憶装置およびその制御方法
KR101509836B1 (ko) 2007-11-13 2015-04-06 애플 인크. 멀티 유닛 메모리 디바이스에서의 메모리 유닛의 최적화된 선택
US8959307B1 (en) 2007-11-16 2015-02-17 Bitmicro Networks, Inc. Reduced latency memory read transactions in storage devices
US8264875B2 (en) 2010-10-04 2012-09-11 Zeno Semiconducor, Inc. Semiconductor memory device having an electrically floating body transistor
US8130547B2 (en) 2007-11-29 2012-03-06 Zeno Semiconductor, Inc. Method of maintaining the state of semiconductor memory having electrically floating body transistor
US8225181B2 (en) 2007-11-30 2012-07-17 Apple Inc. Efficient re-read operations from memory devices
US8631203B2 (en) 2007-12-10 2014-01-14 Microsoft Corporation Management of external memory functioning as virtual cache
US8209588B2 (en) 2007-12-12 2012-06-26 Anobit Technologies Ltd. Efficient interference cancellation in analog memory cell arrays
US8456905B2 (en) 2007-12-16 2013-06-04 Apple Inc. Efficient data storage in multi-plane memory devices
US7590001B2 (en) 2007-12-18 2009-09-15 Saifun Semiconductors Ltd. Flash memory with optimized write sector spares
US7764547B2 (en) * 2007-12-20 2010-07-27 Sandisk Corporation Regulation of source potential to combat cell source IR drop
US7701761B2 (en) * 2007-12-20 2010-04-20 Sandisk Corporation Read, verify word line reference voltage to track source level
US8190950B2 (en) * 2007-12-21 2012-05-29 Atmel Corporation Dynamic column redundancy replacement
US8001316B2 (en) * 2007-12-27 2011-08-16 Sandisk Il Ltd. Controller for one type of NAND flash memory for emulating another type of NAND flash memory
US8085586B2 (en) 2007-12-27 2011-12-27 Anobit Technologies Ltd. Wear level estimation in analog memory cells
US8310872B2 (en) * 2008-01-25 2012-11-13 Rambus Inc. Multi-page parallel program flash memory
US8209463B2 (en) * 2008-02-05 2012-06-26 Spansion Llc Expansion slots for flash memory based random access memory subsystem
US8156398B2 (en) 2008-02-05 2012-04-10 Anobit Technologies Ltd. Parameter estimation based on error correction code parity check equations
US8332572B2 (en) * 2008-02-05 2012-12-11 Spansion Llc Wear leveling mechanism using a DRAM buffer
US8352671B2 (en) 2008-02-05 2013-01-08 Spansion Llc Partial allocate paging mechanism using a controller and a buffer
US8275945B2 (en) 2008-02-05 2012-09-25 Spansion Llc Mitigation of flash memory latency and bandwidth limitations via a write activity log and buffer
US7990762B2 (en) * 2008-02-06 2011-08-02 Unity Semiconductor Corporation Integrated circuits to control access to multiple layers of memory
JP5398551B2 (ja) * 2008-02-08 2014-01-29 富士通株式会社 バックアップ方法、コントローラ、及びディスクアレイシステム
US8046529B2 (en) * 2008-02-20 2011-10-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Updating control information in non-volatile memory to control selection of content
US7924587B2 (en) 2008-02-21 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Programming of analog memory cells using a single programming pulse per state transition
US7864573B2 (en) 2008-02-24 2011-01-04 Anobit Technologies Ltd. Programming analog memory cells for reduced variance after retention
JP2009211496A (ja) * 2008-03-05 2009-09-17 Ricoh Co Ltd 画像形成装置及びアクセス制御方法
US8230300B2 (en) 2008-03-07 2012-07-24 Apple Inc. Efficient readout from analog memory cells using data compression
US8400858B2 (en) 2008-03-18 2013-03-19 Apple Inc. Memory device with reduced sense time readout
US8059457B2 (en) 2008-03-18 2011-11-15 Anobit Technologies Ltd. Memory device with multiple-accuracy read commands
US7787282B2 (en) 2008-03-21 2010-08-31 Micron Technology, Inc. Sensing resistance variable memory
US8156392B2 (en) * 2008-04-05 2012-04-10 Fusion-Io, Inc. Apparatus, system, and method for bad block remapping
US7983051B2 (en) 2008-04-09 2011-07-19 Apacer Technology Inc. DRAM module with solid state disk
KR101553532B1 (ko) * 2008-04-17 2015-09-16 삼성전자주식회사 스토리지 장치
JP5218228B2 (ja) * 2008-04-23 2013-06-26 新東工業株式会社 搬送装置及びブラスト加工装置
US8060719B2 (en) 2008-05-28 2011-11-15 Micron Technology, Inc. Hybrid memory management
US20090307563A1 (en) * 2008-06-05 2009-12-10 Ibm Corporation (Almaden Research Center) Replacing bad hard drive sectors using mram
US20090307140A1 (en) * 2008-06-06 2009-12-10 Upendra Mardikar Mobile device over-the-air (ota) registration and point-of-sale (pos) payment
US7719888B2 (en) * 2008-06-18 2010-05-18 Micron Technology, Inc. Memory device having a negatively ramping dynamic pass voltage for reducing read-disturb effect
WO2009156873A1 (en) * 2008-06-23 2009-12-30 Sandisk Il Ltd. Ad hoc flash memory reference cells
US8924362B2 (en) * 2008-06-30 2014-12-30 Microsoft Corporation B-file abstraction for efficiently archiving self-expiring data
US7974119B2 (en) 2008-07-10 2011-07-05 Seagate Technology Llc Transmission gate-based spin-transfer torque memory unit
US8352519B2 (en) * 2008-07-31 2013-01-08 Microsoft Corporation Maintaining large random sample with semi-random append-only operations
US7995388B1 (en) 2008-08-05 2011-08-09 Anobit Technologies Ltd. Data storage using modified voltages
US7924613B1 (en) * 2008-08-05 2011-04-12 Anobit Technologies Ltd. Data storage in analog memory cells with protection against programming interruption
US8264891B2 (en) * 2008-08-06 2012-09-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Erase method and non-volatile semiconductor memory
US8359514B2 (en) * 2008-08-15 2013-01-22 Micron Technology, Inc. Data and error correction code mixing device and method
US8213229B2 (en) * 2008-08-22 2012-07-03 HGST Netherlands, B.V. Error control in a flash memory device
US8169825B1 (en) 2008-09-02 2012-05-01 Anobit Technologies Ltd. Reliable data storage in analog memory cells subjected to long retention periods
US8949684B1 (en) 2008-09-02 2015-02-03 Apple Inc. Segmented data storage
US8482978B1 (en) 2008-09-14 2013-07-09 Apple Inc. Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals
US8000135B1 (en) 2008-09-14 2011-08-16 Anobit Technologies Ltd. Estimation of memory cell read thresholds by sampling inside programming level distribution intervals
US8041886B2 (en) * 2008-09-15 2011-10-18 Seagate Technology Llc System and method of managing memory
US9032151B2 (en) 2008-09-15 2015-05-12 Microsoft Technology Licensing, Llc Method and system for ensuring reliability of cache data and metadata subsequent to a reboot
US20100070466A1 (en) 2008-09-15 2010-03-18 Anand Prahlad Data transfer techniques within data storage devices, such as network attached storage performing data migration
US8032707B2 (en) 2008-09-15 2011-10-04 Microsoft Corporation Managing cache data and metadata
US7953774B2 (en) 2008-09-19 2011-05-31 Microsoft Corporation Aggregation of write traffic to a data store
US8074040B2 (en) * 2008-09-23 2011-12-06 Mediatek Inc. Flash device and method for improving performance of flash device
TWI364661B (en) * 2008-09-25 2012-05-21 Silicon Motion Inc Access methods for a flash memory and memory devices
US7925939B2 (en) * 2008-09-26 2011-04-12 Macronix International Co., Ltd Pre-code device, and pre-code system and pre-coding method thererof
US9727473B2 (en) * 2008-09-30 2017-08-08 Intel Corporation Methods to communicate a timestamp to a storage system
US7885097B2 (en) * 2008-10-10 2011-02-08 Seagate Technology Llc Non-volatile memory array with resistive sense element block erase and uni-directional write
KR20100041313A (ko) * 2008-10-14 2010-04-22 삼성전자주식회사 데이터 저장 방법, 데이터 저장 장치 및 그 시스템
US8239734B1 (en) 2008-10-15 2012-08-07 Apple Inc. Efficient data storage in storage device arrays
US7936580B2 (en) * 2008-10-20 2011-05-03 Seagate Technology Llc MRAM diode array and access method
US9030867B2 (en) * 2008-10-20 2015-05-12 Seagate Technology Llc Bipolar CMOS select device for resistive sense memory
US8045412B2 (en) * 2008-10-21 2011-10-25 Seagate Technology Llc Multi-stage parallel data transfer
US8891298B2 (en) 2011-07-19 2014-11-18 Greenthread, Llc Lifetime mixed level non-volatile memory system
EP2180408B1 (en) * 2008-10-23 2018-08-29 STMicroelectronics N.V. Method for writing and reading data in an electrically erasable and programmable nonvolatile memory
US7936583B2 (en) * 2008-10-30 2011-05-03 Seagate Technology Llc Variable resistive memory punchthrough access method
TWI389122B (zh) * 2008-10-30 2013-03-11 Silicon Motion Inc 用來存取一快閃記憶體之方法以及相關之記憶裝置及其控制器
US8261159B1 (en) 2008-10-30 2012-09-04 Apple, Inc. Data scrambling schemes for memory devices
KR20100049809A (ko) * 2008-11-04 2010-05-13 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치의 소거 방법
US7825478B2 (en) * 2008-11-07 2010-11-02 Seagate Technology Llc Polarity dependent switch for resistive sense memory
US8208304B2 (en) 2008-11-16 2012-06-26 Anobit Technologies Ltd. Storage at M bits/cell density in N bits/cell analog memory cell devices, M>N
US8178864B2 (en) 2008-11-18 2012-05-15 Seagate Technology Llc Asymmetric barrier diode
US20100131701A1 (en) * 2008-11-25 2010-05-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device with preparation/stress sequence control
US8203869B2 (en) 2008-12-02 2012-06-19 Seagate Technology Llc Bit line charge accumulation sensing for resistive changing memory
US8259498B2 (en) * 2008-12-08 2012-09-04 Infinite Memory Ltd. Continuous address space in non-volatile-memories (NVM) using efficient management methods for array deficiencies
US20100153732A1 (en) * 2008-12-15 2010-06-17 Stmicroelectronics Rousset Sas cache-based method of hash-tree management for protecting data integrity
US8064278B2 (en) * 2008-12-30 2011-11-22 Stmicroelectronics S.R.L. Protection register for a non-volatile memory
US8174857B1 (en) 2008-12-31 2012-05-08 Anobit Technologies Ltd. Efficient readout schemes for analog memory cell devices using multiple read threshold sets
US8248831B2 (en) 2008-12-31 2012-08-21 Apple Inc. Rejuvenation of analog memory cells
EP2374063B1 (en) 2009-01-05 2017-11-22 SanDisk Technologies LLC Non-volatile memory and method with write cache partitioning
US8244960B2 (en) 2009-01-05 2012-08-14 Sandisk Technologies Inc. Non-volatile memory and method with write cache partition management methods
US8094500B2 (en) * 2009-01-05 2012-01-10 Sandisk Technologies Inc. Non-volatile memory and method with write cache partitioning
US20100174845A1 (en) * 2009-01-05 2010-07-08 Sergey Anatolievich Gorobets Wear Leveling for Non-Volatile Memories: Maintenance of Experience Count and Passive Techniques
US8040744B2 (en) * 2009-01-05 2011-10-18 Sandisk Technologies Inc. Spare block management of non-volatile memories
US8700840B2 (en) * 2009-01-05 2014-04-15 SanDisk Technologies, Inc. Nonvolatile memory with write cache having flush/eviction methods
CN101465164B (zh) * 2009-01-12 2013-04-17 成都市华为赛门铁克科技有限公司 一种擦除数据的方法、装置及系统
US8040713B2 (en) 2009-01-13 2011-10-18 Seagate Technology Llc Bit set modes for a resistive sense memory cell array
US8924661B1 (en) 2009-01-18 2014-12-30 Apple Inc. Memory system including a controller and processors associated with memory devices
US8161355B2 (en) * 2009-02-11 2012-04-17 Mosys, Inc. Automatic refresh for improving data retention and endurance characteristics of an embedded non-volatile memory in a standard CMOS logic process
US8228701B2 (en) 2009-03-01 2012-07-24 Apple Inc. Selective activation of programming schemes in analog memory cell arrays
US8259506B1 (en) 2009-03-25 2012-09-04 Apple Inc. Database of memory read thresholds
US8832354B2 (en) 2009-03-25 2014-09-09 Apple Inc. Use of host system resources by memory controller
US8238157B1 (en) 2009-04-12 2012-08-07 Apple Inc. Selective re-programming of analog memory cells
KR101005155B1 (ko) * 2009-05-13 2011-01-04 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 소자 및 그 테스트 방법
JP2010267341A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Renesas Electronics Corp 半導体装置
US8271737B2 (en) * 2009-05-27 2012-09-18 Spansion Llc Cache auto-flush in a solid state memory device
KR20100130007A (ko) * 2009-06-02 2010-12-10 삼성전자주식회사 데이터 저장 장치
US8102705B2 (en) 2009-06-05 2012-01-24 Sandisk Technologies Inc. Structure and method for shuffling data within non-volatile memory devices
US8027195B2 (en) * 2009-06-05 2011-09-27 SanDisk Technologies, Inc. Folding data stored in binary format into multi-state format within non-volatile memory devices
US9123409B2 (en) * 2009-06-11 2015-09-01 Micron Technology, Inc. Memory device for a hierarchical memory architecture
US8140811B2 (en) * 2009-06-22 2012-03-20 International Business Machines Corporation Nonvolatile storage thresholding
US7974124B2 (en) * 2009-06-24 2011-07-05 Sandisk Corporation Pointer based column selection techniques in non-volatile memories
EP2273373A1 (en) * 2009-07-02 2011-01-12 Vodafone Holding GmbH Storing of frequently modified data in an IC card
US20110002169A1 (en) * 2009-07-06 2011-01-06 Yan Li Bad Column Management with Bit Information in Non-Volatile Memory Systems
JP5347779B2 (ja) * 2009-07-07 2013-11-20 ソニー株式会社 メモリ装置、メモリ制御方法、およびプログラム
US8159856B2 (en) 2009-07-07 2012-04-17 Seagate Technology Llc Bipolar select device for resistive sense memory
US8479080B1 (en) 2009-07-12 2013-07-02 Apple Inc. Adaptive over-provisioning in memory systems
US8158964B2 (en) 2009-07-13 2012-04-17 Seagate Technology Llc Schottky diode switch and memory units containing the same
US9218349B2 (en) * 2009-07-27 2015-12-22 International Business Machines Corporation Method and system for transformation of logical data objects for storage
US20110035540A1 (en) * 2009-08-10 2011-02-10 Adtron, Inc. Flash blade system architecture and method
US8189379B2 (en) * 2009-08-12 2012-05-29 Texas Memory Systems, Inc. Reduction of read disturb errors in NAND FLASH memory
US8190951B2 (en) * 2009-08-20 2012-05-29 Arm Limited Handling of errors in a data processing apparatus having a cache storage and a replicated address storage
US8429497B2 (en) * 2009-08-26 2013-04-23 Skymedi Corporation Method and system of dynamic data storage for error correction in a memory device
US8665601B1 (en) 2009-09-04 2014-03-04 Bitmicro Networks, Inc. Solid state drive with improved enclosure assembly
US9135190B1 (en) 2009-09-04 2015-09-15 Bitmicro Networks, Inc. Multi-profile memory controller for computing devices
US8447908B2 (en) 2009-09-07 2013-05-21 Bitmicro Networks, Inc. Multilevel memory bus system for solid-state mass storage
US8560804B2 (en) * 2009-09-14 2013-10-15 Bitmicro Networks, Inc. Reducing erase cycles in an electronic storage device that uses at least one erase-limited memory device
US8495465B1 (en) 2009-10-15 2013-07-23 Apple Inc. Error correction coding over multiple memory pages
EP2317442A1 (en) 2009-10-29 2011-05-04 Thomson Licensing Solid state memory with reduced number of partially filled pages
US20110119462A1 (en) * 2009-11-19 2011-05-19 Ocz Technology Group, Inc. Method for restoring and maintaining solid-state drive performance
US8407403B2 (en) * 2009-12-07 2013-03-26 Microsoft Corporation Extending SSD lifetime using hybrid storage
US8677054B1 (en) 2009-12-16 2014-03-18 Apple Inc. Memory management schemes for non-volatile memory devices
US8725935B2 (en) 2009-12-18 2014-05-13 Sandisk Technologies Inc. Balanced performance for on-chip folding of non-volatile memories
US20110153912A1 (en) * 2009-12-18 2011-06-23 Sergey Anatolievich Gorobets Maintaining Updates of Multi-Level Non-Volatile Memory in Binary Non-Volatile Memory
US8144512B2 (en) 2009-12-18 2012-03-27 Sandisk Technologies Inc. Data transfer flows for on-chip folding
US8468294B2 (en) * 2009-12-18 2013-06-18 Sandisk Technologies Inc. Non-volatile memory with multi-gear control using on-chip folding of data
US8612809B2 (en) 2009-12-31 2013-12-17 Intel Corporation Systems, methods, and apparatuses for stacked memory
US8694814B1 (en) 2010-01-10 2014-04-08 Apple Inc. Reuse of host hibernation storage space by memory controller
US8572311B1 (en) 2010-01-11 2013-10-29 Apple Inc. Redundant data storage in multi-die memory systems
US8473710B2 (en) 2010-04-29 2013-06-25 Freescale Semiconductor, Inc. Multiple partitioned emulated electrically erasable (EEE) memory and method of operation
US8341372B2 (en) * 2010-04-29 2012-12-25 Freescale Semiconductor, Inc. Emulated electrically erasable (EEE) memory and method of operation
US8694853B1 (en) 2010-05-04 2014-04-08 Apple Inc. Read commands for reading interfering memory cells
US8416624B2 (en) 2010-05-21 2013-04-09 SanDisk Technologies, Inc. Erase and programming techniques to reduce the widening of state distributions in non-volatile memories
US8799747B2 (en) * 2010-06-03 2014-08-05 Seagate Technology Llc Data hardening to compensate for loss of data retention characteristics in a non-volatile memory
JP5559616B2 (ja) * 2010-06-17 2014-07-23 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体メモリ装置
US8572423B1 (en) 2010-06-22 2013-10-29 Apple Inc. Reducing peak current in memory systems
US8543757B2 (en) 2010-06-23 2013-09-24 Sandisk Technologies Inc. Techniques of maintaining logical to physical mapping information in non-volatile memory systems
US8417876B2 (en) 2010-06-23 2013-04-09 Sandisk Technologies Inc. Use of guard bands and phased maintenance operations to avoid exceeding maximum latency requirements in non-volatile memory systems
US8595591B1 (en) 2010-07-11 2013-11-26 Apple Inc. Interference-aware assignment of programming levels in analog memory cells
US8683277B1 (en) * 2010-07-13 2014-03-25 Marvell International Ltd. Defect detection using pattern matching on detected data
US9104580B1 (en) 2010-07-27 2015-08-11 Apple Inc. Cache memory for hybrid disk drives
US8767459B1 (en) 2010-07-31 2014-07-01 Apple Inc. Data storage in analog memory cells across word lines using a non-integer number of bits per cell
US8856475B1 (en) 2010-08-01 2014-10-07 Apple Inc. Efficient selection of memory blocks for compaction
US8694854B1 (en) 2010-08-17 2014-04-08 Apple Inc. Read threshold setting based on soft readout statistics
US8572445B2 (en) * 2010-09-21 2013-10-29 Freescale Semiconductor, Inc. Non-volatile memory (NVM) with imminent error prediction
US9021181B1 (en) 2010-09-27 2015-04-28 Apple Inc. Memory management for unifying memory cell conditions by using maximum time intervals
US9244779B2 (en) 2010-09-30 2016-01-26 Commvault Systems, Inc. Data recovery operations, such as recovery from modified network data management protocol data
US9836370B2 (en) 2010-11-18 2017-12-05 Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. Backup memory administration using an active memory device and a backup memory device
TWI417721B (zh) * 2010-11-26 2013-12-01 Etron Technology Inc 衰減熱資料之方法
US8648426B2 (en) 2010-12-17 2014-02-11 Seagate Technology Llc Tunneling transistors
US8472280B2 (en) 2010-12-21 2013-06-25 Sandisk Technologies Inc. Alternate page by page programming scheme
KR101750457B1 (ko) * 2010-12-30 2017-06-23 삼성전자주식회사 Ecc를 이용하는 메모리 장치 및 그 시스템
US8909851B2 (en) 2011-02-08 2014-12-09 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with change logging mechanism and method of operation thereof
US8935466B2 (en) 2011-03-28 2015-01-13 SMART Storage Systems, Inc. Data storage system with non-volatile memory and method of operation thereof
US8924500B2 (en) * 2011-03-29 2014-12-30 Amazon Technologies, Inc. Local storage linked to networked storage system
US9342446B2 (en) 2011-03-29 2016-05-17 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory system allowing reverse eviction of data updates to non-volatile binary cache
US8560925B2 (en) * 2011-04-05 2013-10-15 Denso International America, Inc. System and method for handling bad bit errors
US10141314B2 (en) * 2011-05-04 2018-11-27 Micron Technology, Inc. Memories and methods to provide configuration information to controllers
US8843693B2 (en) 2011-05-17 2014-09-23 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory and method with improved data scrambling
US20120311262A1 (en) * 2011-06-01 2012-12-06 International Business Machines Corporation Memory cell presetting for improved memory performance
EP2745203B1 (en) * 2011-08-19 2016-09-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Information processing apparatus
US9098399B2 (en) 2011-08-31 2015-08-04 SMART Storage Systems, Inc. Electronic system with storage management mechanism and method of operation thereof
US8862767B2 (en) 2011-09-02 2014-10-14 Ebay Inc. Secure elements broker (SEB) for application communication channel selector optimization
US9021319B2 (en) 2011-09-02 2015-04-28 SMART Storage Systems, Inc. Non-volatile memory management system with load leveling and method of operation thereof
US9063844B2 (en) 2011-09-02 2015-06-23 SMART Storage Systems, Inc. Non-volatile memory management system with time measure mechanism and method of operation thereof
US9021231B2 (en) 2011-09-02 2015-04-28 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with write amplification control mechanism and method of operation thereof
US9372755B1 (en) 2011-10-05 2016-06-21 Bitmicro Networks, Inc. Adaptive power cycle sequences for data recovery
US10359949B2 (en) * 2011-10-31 2019-07-23 Apple Inc. Systems and methods for obtaining and using nonvolatile memory health information
US8593866B2 (en) 2011-11-11 2013-11-26 Sandisk Technologies Inc. Systems and methods for operating multi-bank nonvolatile memory
US8724408B2 (en) 2011-11-29 2014-05-13 Kingtiger Technology (Canada) Inc. Systems and methods for testing and assembling memory modules
US8892968B2 (en) * 2011-12-07 2014-11-18 Skymedi Corporation Bit-level memory controller and a method thereof
US20130151755A1 (en) 2011-12-12 2013-06-13 Reuven Elhamias Non-Volatile Storage Systems with Go To Sleep Adaption
KR101893895B1 (ko) * 2011-12-16 2018-09-03 삼성전자주식회사 메모리 시스템 및 그 동작 제어 방법
CN104137084B (zh) * 2011-12-28 2017-08-11 英特尔公司 提高耐久性和抗攻击性的用于pcm缓存的有效动态随机化地址重映射
US9063902B2 (en) 2012-01-05 2015-06-23 International Business Machines Corporation Implementing enhanced hardware assisted DRAM repair using a data register for DRAM repair selectively provided in a DRAM module
US9239781B2 (en) 2012-02-07 2016-01-19 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with erase block mechanism and method of operation thereof
US10355001B2 (en) 2012-02-15 2019-07-16 Micron Technology, Inc. Memories and methods to provide configuration information to controllers
US8842473B2 (en) 2012-03-15 2014-09-23 Sandisk Technologies Inc. Techniques for accessing column selecting shift register with skipped entries in non-volatile memories
AU2013202553B2 (en) 2012-03-30 2015-10-01 Commvault Systems, Inc. Information management of mobile device data
US8918581B2 (en) * 2012-04-02 2014-12-23 Microsoft Corporation Enhancing the lifetime and performance of flash-based storage
US9298252B2 (en) 2012-04-17 2016-03-29 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with power down mechanism and method of operation thereof
US8681548B2 (en) 2012-05-03 2014-03-25 Sandisk Technologies Inc. Column redundancy circuitry for non-volatile memory
CN102682845B (zh) * 2012-05-09 2018-10-16 上海华虹宏力半导体制造有限公司 Eeprom存储单元以及eeprom存储器
US9043669B1 (en) 2012-05-18 2015-05-26 Bitmicro Networks, Inc. Distributed ECC engine for storage media
JP2013242694A (ja) * 2012-05-21 2013-12-05 Renesas Mobile Corp 半導体装置、電子装置、電子システム及び電子装置の制御方法
US8949689B2 (en) 2012-06-11 2015-02-03 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof
US8910017B2 (en) 2012-07-02 2014-12-09 Sandisk Technologies Inc. Flash memory with random partition
US9235466B2 (en) * 2012-07-03 2016-01-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory devices with selective error correction code
US9117552B2 (en) 2012-08-28 2015-08-25 Kingtiger Technology(Canada), Inc. Systems and methods for testing memory
KR20140031554A (ko) * 2012-09-04 2014-03-13 에스케이하이닉스 주식회사 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 동작 방법
US8921197B2 (en) * 2012-09-14 2014-12-30 GlobalFoundries, Inc. Integrated circuits with SRAM cells having additional read stacks and methods for their fabrication
US9490035B2 (en) 2012-09-28 2016-11-08 SanDisk Technologies, Inc. Centralized variable rate serializer and deserializer for bad column management
US8897080B2 (en) 2012-09-28 2014-11-25 Sandisk Technologies Inc. Variable rate serial to parallel shift register
US9076506B2 (en) 2012-09-28 2015-07-07 Sandisk Technologies Inc. Variable rate parallel to serial shift register
US8935590B2 (en) * 2012-10-31 2015-01-13 Infineon Technologies Ag Circuitry and method for multi-bit correction
US9671962B2 (en) 2012-11-30 2017-06-06 Sandisk Technologies Llc Storage control system with data management mechanism of parity and method of operation thereof
KR20140076128A (ko) * 2012-12-12 2014-06-20 에스케이하이닉스 주식회사 비휘발성 메모리 장치 및 동작 방법과, 이를 포함하는 데이터 처리 시스템
US9305654B2 (en) 2012-12-19 2016-04-05 Intel Corporation Erase and soft program for vertical NAND flash
US9069799B2 (en) 2012-12-27 2015-06-30 Commvault Systems, Inc. Restoration of centralized data storage manager, such as data storage manager in a hierarchical data storage system
US9123445B2 (en) 2013-01-22 2015-09-01 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof
US9214965B2 (en) 2013-02-20 2015-12-15 Sandisk Enterprise Ip Llc Method and system for improving data integrity in non-volatile storage
US9329928B2 (en) 2013-02-20 2016-05-03 Sandisk Enterprise IP LLC. Bandwidth optimization in a non-volatile memory system
US9183137B2 (en) 2013-02-27 2015-11-10 SMART Storage Systems, Inc. Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof
US9470720B2 (en) 2013-03-08 2016-10-18 Sandisk Technologies Llc Test system with localized heating and method of manufacture thereof
US9423457B2 (en) 2013-03-14 2016-08-23 Bitmicro Networks, Inc. Self-test solution for delay locked loops
US10489318B1 (en) 2013-03-15 2019-11-26 Bitmicro Networks, Inc. Scatter-gather approach for parallel data transfer in a mass storage system
US9875205B1 (en) 2013-03-15 2018-01-23 Bitmicro Networks, Inc. Network of memory systems
US9842024B1 (en) 2013-03-15 2017-12-12 Bitmicro Networks, Inc. Flash electronic disk with RAID controller
US9400617B2 (en) 2013-03-15 2016-07-26 Bitmicro Networks, Inc. Hardware-assisted DMA transfer with dependency table configured to permit-in parallel-data drain from cache without processor intervention when filled or drained
US9858084B2 (en) 2013-03-15 2018-01-02 Bitmicro Networks, Inc. Copying of power-on reset sequencer descriptor from nonvolatile memory to random access memory
US9501436B1 (en) 2013-03-15 2016-11-22 Bitmicro Networks, Inc. Multi-level message passing descriptor
US9430386B2 (en) 2013-03-15 2016-08-30 Bitmicro Networks, Inc. Multi-leveled cache management in a hybrid storage system
US9734067B1 (en) 2013-03-15 2017-08-15 Bitmicro Networks, Inc. Write buffering
US9672178B1 (en) 2013-03-15 2017-06-06 Bitmicro Networks, Inc. Bit-mapped DMA transfer with dependency table configured to monitor status so that a processor is not rendered as a bottleneck in a system
US9971524B1 (en) 2013-03-15 2018-05-15 Bitmicro Networks, Inc. Scatter-gather approach for parallel data transfer in a mass storage system
US9934045B1 (en) 2013-03-15 2018-04-03 Bitmicro Networks, Inc. Embedded system boot from a storage device
US9141484B2 (en) * 2013-03-15 2015-09-22 Seagate Technology Llc Transiently maintaining ECC
US9798688B1 (en) 2013-03-15 2017-10-24 Bitmicro Networks, Inc. Bus arbitration with routing and failover mechanism
US9916213B1 (en) 2013-03-15 2018-03-13 Bitmicro Networks, Inc. Bus arbitration with routing and failover mechanism
US9720603B1 (en) 2013-03-15 2017-08-01 Bitmicro Networks, Inc. IOC to IOC distributed caching architecture
US9043780B2 (en) 2013-03-27 2015-05-26 SMART Storage Systems, Inc. Electronic system with system modification control mechanism and method of operation thereof
US10049037B2 (en) 2013-04-05 2018-08-14 Sandisk Enterprise Ip Llc Data management in a storage system
US9170941B2 (en) 2013-04-05 2015-10-27 Sandisk Enterprises IP LLC Data hardening in a storage system
US9543025B2 (en) 2013-04-11 2017-01-10 Sandisk Technologies Llc Storage control system with power-off time estimation mechanism and method of operation thereof
US10546648B2 (en) 2013-04-12 2020-01-28 Sandisk Technologies Llc Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof
US9430324B2 (en) * 2013-05-24 2016-08-30 Rambus Inc. Memory repair method and apparatus based on error code tracking
KR101518379B1 (ko) * 2013-06-18 2015-05-07 중소기업은행 불휘발성 메모리의 자동 프로그램 및 자동 사이클링 방법
US9898056B2 (en) 2013-06-19 2018-02-20 Sandisk Technologies Llc Electronic assembly with thermal channel and method of manufacture thereof
US9313874B2 (en) 2013-06-19 2016-04-12 SMART Storage Systems, Inc. Electronic system with heat extraction and method of manufacture thereof
US9367353B1 (en) 2013-06-25 2016-06-14 Sandisk Technologies Inc. Storage control system with power throttling mechanism and method of operation thereof
US9244519B1 (en) 2013-06-25 2016-01-26 Smart Storage Systems. Inc. Storage system with data transfer rate adjustment for power throttling
US10083069B2 (en) * 2013-06-27 2018-09-25 Sandisk Technologies Llc Word line defect detection and handling for a data storage device
US9177663B2 (en) 2013-07-18 2015-11-03 Sandisk Technologies Inc. Dynamic regulation of memory array source line
US9146850B2 (en) 2013-08-01 2015-09-29 SMART Storage Systems, Inc. Data storage system with dynamic read threshold mechanism and method of operation thereof
US9361222B2 (en) 2013-08-07 2016-06-07 SMART Storage Systems, Inc. Electronic system with storage drive life estimation mechanism and method of operation thereof
US9448946B2 (en) 2013-08-07 2016-09-20 Sandisk Technologies Llc Data storage system with stale data mechanism and method of operation thereof
US9431113B2 (en) 2013-08-07 2016-08-30 Sandisk Technologies Llc Data storage system with dynamic erase block grouping mechanism and method of operation thereof
US9170943B2 (en) 2013-08-29 2015-10-27 Globalfoundries U.S. 2 Llc Selectively enabling write caching in a storage system based on performance metrics
EP3050057A1 (en) 2013-09-27 2016-08-03 Hewlett Packard Enterprise Development LP Memory sparing on memory modules
TWI521534B (zh) 2013-10-09 2016-02-11 新唐科技股份有限公司 積體電路及其運作方法
US9274888B2 (en) * 2013-11-15 2016-03-01 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for multiple-bit DRAM error recovery
US9152555B2 (en) 2013-11-15 2015-10-06 Sandisk Enterprise IP LLC. Data management with modular erase in a data storage system
US9411721B2 (en) 2013-11-15 2016-08-09 Sandisk Technologies Llc Detecting access sequences for data compression on non-volatile memory devices
US9070470B1 (en) 2013-12-11 2015-06-30 Micron Technology, Inc. Sensing memory cells coupled to different access lines in different blocks of memory cells
US9129701B2 (en) * 2013-12-19 2015-09-08 Sandisk Technologies Inc. Asymmetric state detection for non-volatile storage
US20150186068A1 (en) * 2013-12-27 2015-07-02 Sandisk Technologies Inc. Command queuing using linked list queues
US9368224B2 (en) 2014-02-07 2016-06-14 SanDisk Technologies, Inc. Self-adjusting regulation current for memory array source line
US9378810B2 (en) * 2014-02-11 2016-06-28 Seagate Technology Llc Systems and methods for last written page handling in a memory device
US9658787B2 (en) 2014-02-26 2017-05-23 Macronix International Co., Ltd. Nonvolatile memory data protection using nonvolatile protection codes and volatile mask codes
TWI525627B (zh) * 2014-03-07 2016-03-11 Toshiba Kk Semiconductor memory device
US9535782B2 (en) 2014-04-16 2017-01-03 Intel Corporation Method, apparatus and system for handling data error events with a memory controller
US10042792B1 (en) 2014-04-17 2018-08-07 Bitmicro Networks, Inc. Method for transferring and receiving frames across PCI express bus for SSD device
US10078604B1 (en) 2014-04-17 2018-09-18 Bitmicro Networks, Inc. Interrupt coalescing
US9811461B1 (en) 2014-04-17 2017-11-07 Bitmicro Networks, Inc. Data storage system
US10025736B1 (en) 2014-04-17 2018-07-17 Bitmicro Networks, Inc. Exchange message protocol message transmission between two devices
US9952991B1 (en) 2014-04-17 2018-04-24 Bitmicro Networks, Inc. Systematic method on queuing of descriptors for multiple flash intelligent DMA engine operation
US10055150B1 (en) 2014-04-17 2018-08-21 Bitmicro Networks, Inc. Writing volatile scattered memory metadata to flash device
TWI524179B (zh) 2014-04-22 2016-03-01 新唐科技股份有限公司 儲存單元控制器及其控制方法、以及儲存裝置
US9600189B2 (en) 2014-06-11 2017-03-21 International Business Machines Corporation Bank-level fault management in a memory system
CN105302677A (zh) * 2014-07-29 2016-02-03 株式会社东芝 信息处理装置和信息处理方法
KR102204390B1 (ko) * 2014-09-12 2021-01-18 삼성전자주식회사 빠른 불량 셀 구제 동작의 메모리 장치
US9934872B2 (en) 2014-10-30 2018-04-03 Sandisk Technologies Llc Erase stress and delta erase loop count methods for various fail modes in non-volatile memory
US9678864B2 (en) * 2014-12-03 2017-06-13 Seagate Technology Llc Data reallocation upon detection of errors
US9224502B1 (en) 2015-01-14 2015-12-29 Sandisk Technologies Inc. Techniques for detection and treating memory hole to local interconnect marginality defects
US10032524B2 (en) 2015-02-09 2018-07-24 Sandisk Technologies Llc Techniques for determining local interconnect defects
US9928144B2 (en) 2015-03-30 2018-03-27 Commvault Systems, Inc. Storage management of data using an open-archive architecture, including streamlined access to primary data originally stored on network-attached storage and archived to secondary storage
US9269446B1 (en) 2015-04-08 2016-02-23 Sandisk Technologies Inc. Methods to improve programming of slow cells
US9564219B2 (en) 2015-04-08 2017-02-07 Sandisk Technologies Llc Current based detection and recording of memory hole-interconnect spacing defects
US11516899B2 (en) 2015-05-27 2022-11-29 Electro Industries/Gauge Tech Devices, systems and methods for electrical utility submetering
US10585125B2 (en) 2015-05-27 2020-03-10 Electro Industries/ Gaugetech Devices, systems and methods for data transmission over a communication media using modular connectors
US9703630B2 (en) 2015-06-08 2017-07-11 International Business Machines Corporation Selective error coding
US10101913B2 (en) 2015-09-02 2018-10-16 Commvault Systems, Inc. Migrating data to disk without interrupting running backup operations
KR20170073792A (ko) * 2015-12-18 2017-06-29 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법
CN107526691B (zh) * 2016-06-21 2020-06-02 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种缓存管理方法及装置
US10120816B2 (en) * 2016-07-20 2018-11-06 Sandisk Technologies Llc Bad column management with data shuffle in pipeline
US10496470B2 (en) 2016-12-30 2019-12-03 Western Digital Technologies, Inc. Error recovery handling
US10552050B1 (en) 2017-04-07 2020-02-04 Bitmicro Llc Multi-dimensional computer storage system
US10541032B2 (en) * 2017-05-10 2020-01-21 Micron Technology, Inc. Responding to power loss
US10304550B1 (en) 2017-11-29 2019-05-28 Sandisk Technologies Llc Sense amplifier with negative threshold sensing for non-volatile memory
US10742735B2 (en) 2017-12-12 2020-08-11 Commvault Systems, Inc. Enhanced network attached storage (NAS) services interfacing to cloud storage
CN108152364A (zh) * 2018-01-08 2018-06-12 沈阳工业大学 一种新型磁记忆定点声光报警控制方法
CN108195930B (zh) * 2018-01-08 2021-12-21 沈阳工业大学 一种磁记忆移动扫描式声光报警系统
CN108181376B (zh) * 2018-01-08 2021-12-21 沈阳工业大学 一种磁记忆定点声光报警系统
CN108195929A (zh) * 2018-01-08 2018-06-22 沈阳工业大学 一种新型磁记忆移动扫描式声光报警控制方法
JP6783812B2 (ja) * 2018-03-13 2020-11-11 株式会社東芝 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
US11116206B2 (en) 2018-10-01 2021-09-14 Cook Medical Technologies Llc Cryocontainer
CN109597580B (zh) * 2018-12-03 2021-10-29 烟台东方威思顿电气有限公司 适用于智能电表负荷曲线存储的flash操作方法
US10643695B1 (en) 2019-01-10 2020-05-05 Sandisk Technologies Llc Concurrent multi-state program verify for non-volatile memory
US10580505B1 (en) * 2019-02-21 2020-03-03 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Erasing method used in flash memory
US11093164B2 (en) * 2019-08-27 2021-08-17 Micron Technology, Inc. Handling bad blocks generated during a block erase operation
US11024392B1 (en) 2019-12-23 2021-06-01 Sandisk Technologies Llc Sense amplifier for bidirectional sensing of memory cells of a non-volatile memory
CN111312326B (zh) * 2020-03-09 2021-11-12 宁波三星医疗电气股份有限公司 闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质
KR20220064101A (ko) * 2020-11-11 2022-05-18 에스케이하이닉스 주식회사 저장 장치 및 그 동작 방법
US11556416B2 (en) 2021-05-05 2023-01-17 Apple Inc. Controlling memory readout reliability and throughput by adjusting distance between read thresholds
US11847342B2 (en) 2021-07-28 2023-12-19 Apple Inc. Efficient transfer of hard data and confidence levels in reading a nonvolatile memory
US11593223B1 (en) 2021-09-02 2023-02-28 Commvault Systems, Inc. Using resource pool administrative entities in a data storage management system to provide shared infrastructure to tenants
US12057172B2 (en) * 2022-01-12 2024-08-06 Sandisk Technologies Llc Hybrid multi-block erase technique to improve erase speed in a memory device
US11977778B2 (en) * 2022-03-09 2024-05-07 Micron Technology, Inc. Workload-based scan optimization

Family Cites Families (456)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US618703A (en) * 1899-01-31 maxim
US3331058A (en) * 1964-12-24 1967-07-11 Fairchild Camera Instr Co Error free memory
US3894347A (en) * 1965-10-24 1975-07-15 Whittaker Corp Three dimensional chaff simulation system
US3442402A (en) * 1966-11-10 1969-05-06 Int Paper Co Dunnage service
US3576685A (en) * 1968-03-15 1971-04-27 Itt Doping semiconductors with elemental dopant impurity
US3633175A (en) * 1969-05-15 1972-01-04 Honeywell Inc Defect-tolerant digital memory system
DE1963895C3 (de) * 1969-06-21 1973-11-29 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung
US3593037A (en) 1970-03-13 1971-07-13 Intel Corp Cell for mos random-acess integrated circuit memory
US3676877A (en) * 1970-04-18 1972-07-11 Mittan Co Ltd Fire alarm system with fire zone locator using zener diode voltage monitoring
JPS5040738B1 (ja) 1970-06-11 1975-12-26
US3810127A (en) 1970-06-23 1974-05-07 Intel Corp Programmable circuit {13 {11 the method of programming thereof and the devices so programmed
US3765001A (en) * 1970-09-30 1973-10-09 Ibm Address translation logic which permits a monolithic memory to utilize defective storage cells
US3735368A (en) * 1971-06-25 1973-05-22 Ibm Full capacity monolithic memory utilizing defective storage cells
US3753244A (en) * 1971-08-18 1973-08-14 Ibm Yield enhancement redundancy technique
US3781826A (en) * 1971-11-15 1973-12-25 Ibm Monolithic memory utilizing defective storage cells
US3771143A (en) 1972-06-01 1973-11-06 Burroughs Corp Method and apparatus for providing alternate storage areas on a magnetic disk pack
US3806883A (en) * 1972-11-22 1974-04-23 Rca Corp Least recently used location indicator
US3821715A (en) 1973-01-22 1974-06-28 Intel Corp Memory system for a multi chip digital computer
US3800294A (en) * 1973-06-13 1974-03-26 Ibm System for improving the reliability of systems using dirty memories
GB1472303A (en) * 1973-09-21 1977-05-04 Siemens Ag Electronic data storage systems
US3955180A (en) * 1974-01-02 1976-05-04 Honeywell Information Systems Inc. Table driven emulation system
US3949368A (en) * 1974-01-23 1976-04-06 Data General Corporation Automatic data priority technique
US3895360A (en) * 1974-01-29 1975-07-15 Westinghouse Electric Corp Block oriented random access memory
US3882470A (en) 1974-02-04 1975-05-06 Honeywell Inf Systems Multiple register variably addressable semiconductor mass memory
US3906455A (en) * 1974-03-15 1975-09-16 Boeing Computer Services Inc Associative memory device
US3938097A (en) * 1974-04-01 1976-02-10 Xerox Corporation Memory and buffer arrangement for digital computers
US3898632A (en) * 1974-07-15 1975-08-05 Sperry Rand Corp Semiconductor block-oriented read/write memory
US4087795A (en) 1974-09-20 1978-05-02 Siemens Aktiengesellschaft Memory field effect storage device
JPS5540950B2 (ja) 1974-11-30 1980-10-21
US3914750A (en) * 1974-12-05 1975-10-21 Us Army MNOS Memory matrix with shift register input and output
JPS5528160B2 (ja) * 1974-12-16 1980-07-25
JPS5721799B2 (ja) 1975-02-01 1982-05-10
US4058799A (en) * 1975-05-19 1977-11-15 Rockwell International Corporation Block oriented random access bubble memory
US4051354A (en) * 1975-07-03 1977-09-27 Texas Instruments Incorporated Fault-tolerant cell addressable array
JPS5925250B2 (ja) * 1975-07-09 1984-06-15 カシオケイサンキ カブシキガイシヤ 記憶消去方式
US4007452A (en) 1975-07-28 1977-02-08 Intel Corporation Wafer scale integration system
US4296930A (en) * 1975-11-26 1981-10-27 Bally Manufacturing Corporation TV Game apparatus
US4044339A (en) * 1975-12-15 1977-08-23 Honeywell Inc. Block oriented random access memory
US4115914A (en) 1976-03-26 1978-09-26 Hughes Aircraft Company Electrically erasable non-volatile semiconductor memory
US4066880A (en) 1976-03-30 1978-01-03 Engineered Systems, Inc. System for pretesting electronic memory locations and automatically identifying faulty memory sections
JPS52130532A (en) 1976-04-27 1977-11-01 Fujitsu Ltd Address conversion system
US4250570B1 (en) * 1976-07-15 1996-01-02 Intel Corp Redundant memory circuit
US4099069A (en) * 1976-10-08 1978-07-04 Westinghouse Electric Corp. Circuit producing a common clear signal for erasing selected arrays in a mnos memory system
US4115850A (en) * 1976-11-03 1978-09-19 Houston George B Apparatus for performing auxiliary management functions in an associative memory device
US4093985A (en) * 1976-11-05 1978-06-06 North Electric Company Memory sparing arrangement
US4064405A (en) * 1976-11-09 1977-12-20 Westinghouse Electric Corporation Complementary MOS logic circuit
US4354253A (en) * 1976-12-17 1982-10-12 Texas Instruments Incorporated Bubble redundancy map storage using non-volatile semiconductor memory
US4090258A (en) * 1976-12-29 1978-05-16 Westinghouse Electric Corp. MNOS non-volatile memory with write cycle suppression
US4130890A (en) * 1977-06-08 1978-12-19 Itt Industries, Inc. Integrated DDC memory with bitwise erase
US4398248A (en) * 1980-10-20 1983-08-09 Mcdonnell Douglas Corporation Adaptive WSI/MNOS solid state memory system
US4149270A (en) * 1977-09-26 1979-04-10 Westinghouse Electric Corp. Variable threshold device memory circuit having automatic refresh feature
US4141081A (en) * 1978-01-03 1979-02-20 Sperry Rand Corporation MNOS BORAM sense amplifier/latch
JPS54128634A (en) * 1978-03-30 1979-10-05 Toshiba Corp Cash memory control system
US4210959A (en) * 1978-05-10 1980-07-01 Apple Computer, Inc. Controller for magnetic disc, recorder, or the like
US4181980A (en) * 1978-05-15 1980-01-01 Electronic Arrays, Inc. Acquisition and storage of analog signals
FR2426938A1 (fr) * 1978-05-26 1979-12-21 Cii Honeywell Bull Dispositif de detection de secteurs defectueux et d'allocation de secteurs de remplacement dans une memoire a disques
US4214280A (en) * 1978-05-30 1980-07-22 Xerox Corporation Method and apparatus for recording data without recording on defective areas of a data recording medium
US4193128A (en) * 1978-05-31 1980-03-11 Westinghouse Electric Corp. High-density memory with non-volatile storage array
JPS6044754B2 (ja) 1978-06-02 1985-10-05 三洋電機株式会社 アナログ・メモリ−のドリフト補償回路
IT1109655B (it) 1978-06-28 1985-12-23 Cselt Centro Studi Lab Telecom Memoria di massa allo stato solido organizzata a bit autocorrettiva e riconfigurabile per un sistema di controllo a programma registrato
DE2828855C2 (de) 1978-06-30 1982-11-18 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Wortweise elektrisch umprogrammierbarer, nichtflüchtiger Speicher sowie Verfahren zum Löschen bzw. Einschreiben eines bzw. in einen solchen Speicher(s)
DE2828836C2 (de) 1978-06-30 1983-01-05 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Wortweise elektrisch löschbarer, nichtflüchtiger Speicher
US4218742A (en) * 1978-06-30 1980-08-19 International Business Machines Corporation System for controlling a serial data channel with a microprocessor
JPS6013501B2 (ja) 1978-09-18 1985-04-08 富士通株式会社 仮想計算機システムにおけるチヤネルアドレス制御方式
US4241424A (en) * 1978-09-27 1980-12-23 Plessey Handel Und Investments Ag Semiconductor devices
US4295205A (en) * 1978-10-16 1981-10-13 Kunstadt George H Solid state mass memory system compatible with rotating disc memory equipment
JPS5580164A (en) 1978-12-13 1980-06-17 Fujitsu Ltd Main memory constitution control system
US4272830A (en) * 1978-12-22 1981-06-09 Motorola, Inc. ROM Storage location having more than two states
US4277827A (en) * 1979-01-02 1981-07-07 Texas Instruments Incorporated Microprocessor based system for the development and emulation of programmable calculator control read only memory software
US4274012A (en) 1979-01-24 1981-06-16 Xicor, Inc. Substrate coupled floating gate memory cell
US4486769A (en) 1979-01-24 1984-12-04 Xicor, Inc. Dense nonvolatile electrically-alterable memory device with substrate coupling electrode
US4253059A (en) * 1979-05-14 1981-02-24 Fairchild Camera & Instrument Corp. EPROM Reliability test circuit
US4287570A (en) * 1979-06-01 1981-09-01 Intel Corporation Multiple bit read-only memory cell and its sense amplifier
US4310901A (en) * 1979-06-11 1982-01-12 Electronic Memories & Magnetics Corporation Address mapping for memory
JPS5619575A (en) * 1979-07-25 1981-02-24 Fujitsu Ltd Data processing system having hierarchy memory
US4297719A (en) * 1979-08-10 1981-10-27 Rca Corporation Electrically programmable control gate injected floating gate solid state memory transistor and method of making same
JPS5642375A (en) 1979-08-31 1981-04-20 Fujitsu Ltd Semiconductor nonvolatile memory
IT1224062B (it) * 1979-09-28 1990-09-26 Ates Componenti Elettron Metodo di programmazione per una memoria a semiconduttore non volatile elettricamente alterabile
IT1209430B (it) * 1979-10-08 1989-07-16 Ora Sgs Microelettronica Spa S Metodo di programmazione per una memoria a semiconduttore nonvolatile elettricamente alterabile del tipo cancellabile per gruppi di celle.
US4467421A (en) * 1979-10-18 1984-08-21 Storage Technology Corporation Virtual storage system and method
US4281398A (en) * 1980-02-12 1981-07-28 Mostek Corporation Block redundancy for memory array
US4491836A (en) * 1980-02-29 1985-01-01 Calma Company Graphics display system and method including two-dimensional cache
DE3177233D1 (de) 1980-03-19 1990-12-20 Toshiba Kawasaki Kk Datenverarbeitungssystem.
US4319323A (en) * 1980-04-04 1982-03-09 Digital Equipment Corporation Communications device for data processing system
US4442488A (en) * 1980-05-05 1984-04-10 Floating Point Systems, Inc. Instruction cache memory system
US4443845A (en) * 1980-06-26 1984-04-17 Texas Instruments Incorporated Memory system having a common interface
US4433387A (en) * 1980-08-12 1984-02-21 Sangamo Weston, Inc. System for processing data received from a portable data store and for clearing the store
DE3032630C2 (de) * 1980-08-29 1983-12-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Halbleiterspeicher aus Speicherbausteinen mit redundanten Speicherbereichen und Verfahren zu dessen Betrieb
US4365318A (en) 1980-09-15 1982-12-21 International Business Machines Corp. Two speed recirculating memory system using partially good components
JPS5856199B2 (ja) * 1980-09-25 1983-12-13 株式会社東芝 半導体記憶装置
US4355376A (en) * 1980-09-30 1982-10-19 Burroughs Corporation Apparatus and method for utilizing partially defective memory devices
JPS5764383A (en) * 1980-10-03 1982-04-19 Toshiba Corp Address converting method and its device
US4380066A (en) * 1980-12-04 1983-04-12 Burroughs Corporation Defect tolerant memory
GB2089612B (en) * 1980-12-12 1984-08-30 Tokyo Shibaura Electric Co Nonvolatile semiconductor memory device
US4482952A (en) 1980-12-15 1984-11-13 Nippon Electric Co., Ltd. Virtual addressing system using page field comparisons to selectively validate cache buffer data on read main memory data
US4393475A (en) * 1981-01-27 1983-07-12 Texas Instruments Incorporated Non-volatile semiconductor memory and the testing method for the same
JPS57130298A (en) * 1981-02-06 1982-08-12 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit memory and relieving method for its fault
JPS57132256A (en) * 1981-02-09 1982-08-16 Sony Corp Memory device
US4449203A (en) * 1981-02-25 1984-05-15 Motorola, Inc. Memory with reference voltage generator
US4415992A (en) * 1981-02-25 1983-11-15 Motorola, Inc. Memory system having memory cells capable of storing more than two states
US4414644A (en) * 1981-04-03 1983-11-08 International Business Machines Corporation Method and apparatus for discarding data from a buffer after reading such data
US4428047A (en) * 1981-04-13 1984-01-24 Texas Instruments Incorporated Addressing a control ROM in a microcoded single-chip microcomputer using the output signals of the control ROM
DE3123444A1 (de) 1981-06-12 1983-01-05 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zum nichtfluechtigen speichern des zaehlerstandes einer elektronischen zaehlschaltung
DE3123654A1 (de) 1981-06-15 1983-01-20 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Schaltungsanordnung zur speicherung eines mehrstelligen dekadischen zaehlwerts einer von einem fahrzeug zurueckgelegten wegstrecke
US4468729A (en) * 1981-06-29 1984-08-28 Sperry Corporation Automatic memory module address assignment system for available memory modules
US4417325A (en) * 1981-07-13 1983-11-22 Eliyahou Harari Highly scaleable dynamic ram cell with self-signal amplification
US4448400A (en) 1981-07-13 1984-05-15 Eliyahou Harari Highly scalable dynamic RAM cell with self-signal amplification
US4426688A (en) * 1981-08-03 1984-01-17 Ncr Corporation Memory system having an alternate memory
US4412309A (en) * 1981-09-28 1983-10-25 Motorola, Inc. EEPROM With bulk zero program capability
BE890517A (fr) 1981-09-28 1982-01-18 Staar Sa Dispositif de memorisation d'images electroniques
US4434487A (en) 1981-10-05 1984-02-28 Digital Equipment Corporation Disk format for secondary storage system
JPS5860493A (ja) 1981-10-06 1983-04-09 Sanyo Electric Co Ltd 不揮発性アナログメモリ
US4422161A (en) * 1981-10-08 1983-12-20 Rca Corporation Memory array with redundant elements
US4466059A (en) * 1981-10-15 1984-08-14 International Business Machines Corporation Method and apparatus for limiting data occupancy in a cache
JPS5877034A (ja) * 1981-10-30 1983-05-10 Hitachi Ltd 記録方法
US4434479A (en) * 1981-11-02 1984-02-28 Mcdonnell Douglas Corporation Nonvolatile memory sensing system
US4430727A (en) 1981-11-10 1984-02-07 International Business Machines Corp. Storage element reconfiguration
JPS5886777A (ja) * 1981-11-18 1983-05-24 Citizen Watch Co Ltd Mnos記憶素子のしきい値電圧の設定方法
US4450559A (en) * 1981-12-24 1984-05-22 International Business Machines Corporation Memory system with selective assignment of spare locations
US4495602A (en) * 1981-12-28 1985-01-22 Mostek Corporation Multi-bit read only memory circuit
US4451905A (en) * 1981-12-28 1984-05-29 Hughes Aircraft Company Electrically erasable programmable read-only memory cell having a single transistor
DE3279855D1 (en) 1981-12-29 1989-09-07 Fujitsu Ltd Nonvolatile semiconductor memory circuit
US4432072A (en) * 1981-12-31 1984-02-14 International Business Machines Corporation Non-volatile dynamic RAM cell
DE3200872A1 (de) 1982-01-14 1983-07-21 Sartorius GmbH, 3400 Göttingen Elektronische waage
US4509113A (en) * 1982-02-02 1985-04-02 International Business Machines Corporation Peripheral interface adapter circuit for use in I/O controller card having multiple modes of operation
US4495572A (en) * 1982-02-08 1985-01-22 Zeda Computers International Limited Computer intercommunication system
DE3276029D1 (en) * 1982-02-18 1987-05-14 Itt Ind Gmbh Deutsche Memory system with an integrated matrix of non-volatile reprogrammable memory cells
US4449205A (en) * 1982-02-19 1984-05-15 International Business Machines Corp. Dynamic RAM with non-volatile back-up storage and method of operation thereof
US4636946A (en) * 1982-02-24 1987-01-13 International Business Machines Corporation Method and apparatus for grouping asynchronous recording operations
US4530055A (en) * 1982-03-03 1985-07-16 Sperry Corporation Hierarchical memory system with variable regulation and priority of writeback from cache memory to bulk memory
US4506324A (en) * 1982-03-08 1985-03-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Simulator interface system
US4577215A (en) 1983-02-18 1986-03-18 Rca Corporation Dual word line, electrically alterable, nonvolatile floating gate memory device
US4475194A (en) * 1982-03-30 1984-10-02 International Business Machines Corporation Dynamic replacement of defective memory words
JPS58189890A (ja) 1982-04-30 1983-11-05 Hitachi Ltd 階層記憶装置
US4493075A (en) * 1982-05-17 1985-01-08 National Semiconductor Corporation Self repairing bulk memory
US4460982A (en) * 1982-05-20 1984-07-17 Intel Corporation Intelligent electrically programmable and electrically erasable ROM
JPS58215795A (ja) * 1982-06-08 1983-12-15 Toshiba Corp 不揮発性メモリ装置
JPS58215794A (ja) * 1982-06-08 1983-12-15 Toshiba Corp 不揮発性メモリ装置
US4479214A (en) * 1982-06-16 1984-10-23 International Business Machines Corporation System for updating error map of fault tolerant memory
US4521853A (en) * 1982-06-30 1985-06-04 Texas Instruments Incorporated Secure microprocessor/microcomputer with secured memory
US4521852A (en) * 1982-06-30 1985-06-04 Texas Instruments Incorporated Data processing device formed on a single semiconductor substrate having secure memory
US4498146A (en) * 1982-07-30 1985-02-05 At&T Bell Laboratories Management of defects in storage media
JPS5931158A (ja) * 1982-08-14 1984-02-20 松下電工株式会社 フラツシユパネルのコア充填方法
US4527257A (en) * 1982-08-25 1985-07-02 Westinghouse Electric Corp. Common memory gate non-volatile transistor memory
JPS5945695A (ja) * 1982-09-07 1984-03-14 Fujitsu Ltd Icメモリ
JPS5949022A (ja) * 1982-09-13 1984-03-21 Toshiba Corp 多値論理回路
GB2129585B (en) * 1982-10-29 1986-03-05 Inmos Ltd Memory system including a faulty rom array
AU557723B2 (en) * 1982-12-17 1987-01-08 Blue Circle Southern Cement Ltd. Electronic memory system
US4527251A (en) * 1982-12-17 1985-07-02 Honeywell Information Systems Inc. Remap method and apparatus for a memory system which uses partially good memory devices
JPS59121696A (ja) 1982-12-28 1984-07-13 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ
US4672240A (en) * 1983-02-07 1987-06-09 Westinghouse Electric Corp. Programmable redundancy circuit
JPS59144098A (ja) 1983-02-08 1984-08-17 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPS59162685A (ja) 1983-03-04 1984-09-13 Nec Corp 磁気バブルメモリ
JPS59162695A (ja) * 1983-03-07 1984-09-13 Nec Corp 記憶装置
GB2136992A (en) * 1983-03-18 1984-09-26 Georg V Coza Method and System of Ensuring Integrity of Data in an Electronic Memory
JPS59186015A (ja) * 1983-04-08 1984-10-22 Hitachi Ltd メモリ装置
US4630230A (en) * 1983-04-25 1986-12-16 Cray Research, Inc. Solid state storage device
DE3315047A1 (de) * 1983-04-26 1984-10-31 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Integrierte schaltung mit einem als nichtfluechtiger schreib-lese-speicher ausgestalteten anwendungsspeicher
DE3318123A1 (de) * 1983-05-18 1984-11-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung mit einem datenspeicher und einer ansteuereinheit zum auslesen, schreiben und loeschen des speichers
JPS6015896A (ja) 1983-07-08 1985-01-26 Nec Corp メモリ装置の高速書き込み方式
US4578774A (en) * 1983-07-18 1986-03-25 Pitney Bowes Inc. System for limiting access to non-volatile memory in electronic postage meters
JPS6025269A (ja) * 1983-07-21 1985-02-08 Hitachi Ltd 半導体記憶素子
IT1215224B (it) * 1983-08-04 1990-01-31 Ates Componenti Elettron Microcalcolatore a struttura integrata munito di memoria ram non volatile.
JPS6049218A (ja) 1983-08-30 1985-03-18 Nippon Denso Co Ltd 車両用走行距離計
US4584681A (en) * 1983-09-02 1986-04-22 International Business Machines Corporation Memory correction scheme using spare arrays
EP0136119B1 (en) * 1983-09-16 1988-06-29 Fujitsu Limited Plural-bit-per-cell read-only memory
US4688170A (en) * 1983-09-22 1987-08-18 Tau Systems Corporation Communications network for communicating with computers provided with disparate protocols
JPS6076097A (ja) * 1983-09-30 1985-04-30 Nec Corp 不揮発生半導体メモリ
US4615020A (en) * 1983-12-06 1986-09-30 Advanced Micro Devices, Inc. Nonvolatile dynamic ram circuit
JPS60124754A (ja) * 1983-12-09 1985-07-03 Fujitsu Ltd バッファ記憶制御装置
EP0148488B1 (en) * 1983-12-23 1992-03-18 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory having multiple level storage structure
US4587629A (en) * 1983-12-30 1986-05-06 International Business Machines Corporation Random address memory with fast clear
US4644494A (en) * 1984-02-06 1987-02-17 Sundstrand Data Control, Inc. Solid state memory for aircraft flight data recorder systems
US4791604A (en) * 1984-02-15 1988-12-13 Joseph J. Bednarz Sheet random access memory
US4612640A (en) * 1984-02-21 1986-09-16 Seeq Technology, Inc. Error checking and correction circuitry for use with an electrically-programmable and electrically-erasable memory array
US4617651A (en) * 1984-02-22 1986-10-14 Seeq Technology, Inc. Redundancy circuit for use in a semiconductor memory array
JPS60178564A (ja) * 1984-02-24 1985-09-12 Meidensha Electric Mfg Co Ltd 補助記憶装置
US4896262A (en) * 1984-02-24 1990-01-23 Kabushiki Kaisha Meidensha Emulation device for converting magnetic disc memory mode signal from computer into semiconductor memory access mode signal for semiconductor memory
US4599707A (en) * 1984-03-01 1986-07-08 Signetics Corporation Byte wide EEPROM with individual write circuits and write prevention means
US4916605A (en) * 1984-03-27 1990-04-10 International Business Machines Corporation Fast write operations
US4642759A (en) * 1984-04-02 1987-02-10 Targa Electronics Systems Inc. Bubble memory disk emulation system
JPS60212900A (ja) * 1984-04-09 1985-10-25 Nec Corp 半導体固定記憶装置
US4573141A (en) * 1984-04-12 1986-02-25 General Electric Company Memory interface for communicating between two storage media having incompatible data formats
US4617624A (en) * 1984-04-16 1986-10-14 Goodman James B Multiple configuration memory circuit
GB2160049B (en) * 1984-05-28 1987-06-03 Suwa Seikosha Kk A non-volatile memory circuit
JPS618798A (ja) * 1984-06-21 1986-01-16 Nec Corp 不揮発性記憶装置
JPH0760864B2 (ja) 1984-07-13 1995-06-28 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
EP0170727B1 (de) * 1984-08-02 1989-04-26 Siemens Aktiengesellschaft Integrierter Schreib-Lesespeicher
JPS6150293A (ja) * 1984-08-17 1986-03-12 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5136546A (en) * 1984-09-26 1992-08-04 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory
JPS6180597A (ja) * 1984-09-26 1986-04-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS6196598A (ja) * 1984-10-17 1986-05-15 Fuji Electric Co Ltd 電気的消去可能なp−romのカウントデ−タ記憶方法
US4796233A (en) * 1984-10-19 1989-01-03 Fujitsu Limited Bipolar-transistor type semiconductor memory device having redundancy configuration
DE3586756T2 (de) * 1984-11-07 1993-03-04 Sharp Kk Elektronische registrierkasse.
US4727512A (en) * 1984-12-06 1988-02-23 Computer Design & Applications, Inc. Interface adaptor emulating magnetic tape drive
US4654829A (en) * 1984-12-17 1987-03-31 Dallas Semiconductor Corporation Portable, non-volatile read/write memory module
US4817002A (en) * 1984-12-24 1989-03-28 Pitney Bowes Inc. Electronic postage meter non-volatile memory systems having human visually readable and machine stored data
JPS61151898A (ja) 1984-12-26 1986-07-10 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置におけるワ−ド線ドライバ回路
US4698750A (en) 1984-12-27 1987-10-06 Motorola, Inc. Security for integrated circuit microcomputer with EEPROM
US4654847A (en) * 1984-12-28 1987-03-31 International Business Machines Apparatus for automatically correcting erroneous data and for storing the corrected data in a common pool alternate memory array
GB2172126A (en) 1985-01-24 1986-09-10 John Richard Mumford Interchangeable solid state memory device
JPS61172300A (ja) * 1985-01-26 1986-08-02 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPS61184795A (ja) 1985-02-13 1986-08-18 Toshiba Corp 電気的消去・再書込み可能な読出し専用メモリ
US4685082A (en) * 1985-02-22 1987-08-04 Wang Laboratories, Inc. Simplified cache with automatic update
GB2171543B (en) 1985-02-27 1988-04-20 Hughes Microelectronics Ltd Counting circuit which provides for extended counter life
US4713756A (en) * 1985-02-28 1987-12-15 Westinghouse Electric Corp. Non-volatile memory device for a programmable controller
JPS61208673A (ja) * 1985-03-12 1986-09-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録再生装置
JPS61210488A (ja) * 1985-03-14 1986-09-18 Toppan Moore Co Ltd Icカ−ド
ATE53261T1 (de) * 1985-03-26 1990-06-15 Siemens Ag Verfahren zum betreiben eines halbleiterspeichers mit integrierter paralleltestmoeglichkeit und auswerteschaltung zur durchfuehrung des verfahrens.
JPH051040Y2 (ja) * 1985-04-09 1993-01-12
US4667217A (en) 1985-04-19 1987-05-19 Ncr Corporation Two bit vertically/horizontally integrated memory cell
DE3514430A1 (de) * 1985-04-20 1986-10-23 Sartorius GmbH, 3400 Göttingen Verfahren zum abspeichern von daten in einem elektrisch loeschbaren speicher und elektrisch loeschbarer speicher zur durchfuehrung des verfahrens
US4744062A (en) * 1985-04-23 1988-05-10 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit with nonvolatile memory
EP0198935A1 (de) * 1985-04-23 1986-10-29 Deutsche ITT Industries GmbH Elektrisch umprogrammierbarer Halbleiterspeicher mit Redundanz
JPS61264599A (ja) * 1985-05-16 1986-11-22 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
EP0452989A3 (en) * 1985-05-29 1992-04-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic disk controller incorporating a cache system adopting an lru system
US4685084A (en) * 1985-06-07 1987-08-04 Intel Corporation Apparatus for selecting alternate addressing mode and read-only memory
JPH0713879B2 (ja) * 1985-06-21 1995-02-15 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
JPH0750556B2 (ja) * 1985-06-26 1995-05-31 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JPS626493A (ja) 1985-06-29 1987-01-13 Ricoh Co Ltd 書込みと消去が可能な半導体メモリ装置
US4829169A (en) * 1985-07-01 1989-05-09 Toppan Moore Company, Inc. IC card having state marker for record access
US4958315A (en) 1985-07-02 1990-09-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Solid state electronic emulator of a multiple track motor driven rotating magnetic memory
JPH0652437B2 (ja) 1985-07-26 1994-07-06 株式会社精工舎 画像記録装置
JPH0635227B2 (ja) * 1985-07-31 1994-05-11 トツパン・ム−ア株式会社 更新情報と履歴情報の読出し手段を有するicカ−ド
JPS6238599A (ja) * 1985-08-13 1987-02-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPS6252798A (ja) 1985-08-30 1987-03-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPS6276098A (ja) 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp センスアンプ回路
US4752871A (en) * 1985-09-30 1988-06-21 Motorola, Inc. Single-chip microcomputer having a program register for controlling two EEPROM arrays
US4642798A (en) * 1985-10-01 1987-02-10 Intel Corporation CMOS E2 PROM decoding circuit
JPS6280899A (ja) 1985-10-04 1987-04-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US4805109A (en) * 1985-10-16 1989-02-14 Pitney Bowes Inc. Nonvolatile memory protection arrangement for electronic postage meter system having plural nonvolatile memories
JPS62102482A (ja) * 1985-10-28 1987-05-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録再生装置
JP2664137B2 (ja) * 1985-10-29 1997-10-15 凸版印刷株式会社 Icカード
US4800520A (en) * 1985-10-29 1989-01-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Portable electronic device with garbage collection function
JPS62114200A (ja) 1985-11-13 1987-05-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
US4924331A (en) * 1985-11-20 1990-05-08 Seagate Technology, Inc. Method for mapping around defective sectors in a disc drive
US4746998A (en) * 1985-11-20 1988-05-24 Seagate Technology, Inc. Method for mapping around defective sectors in a disc drive
US4899274A (en) 1985-11-21 1990-02-06 International Business Machines Corporation Dynamic terminal address allocation by the terminal itself in a data processing system
US4763305A (en) * 1985-11-27 1988-08-09 Motorola, Inc. Intelligent write in an EEPROM with data and erase check
FR2591008B1 (fr) * 1985-11-30 1991-05-17 Toshiba Kk Dispositif electronique portatif
DE3640238A1 (de) * 1985-11-30 1987-06-25 Toshiba Kawasaki Kk Tragbare elektronische vorrichtung
DE3543540A1 (de) * 1985-12-10 1987-06-11 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur wiedergabe von auf magnetband gespeicherten videosignalen mit einer von der bandgeschwindigkeit bei der aufnahme abweichenden bandgeschwindigkeit und schaltungsanordnung hierfuer
US4758988A (en) * 1985-12-12 1988-07-19 Motorola, Inc. Dual array EEPROM for high endurance capability
US4718041A (en) * 1986-01-09 1988-01-05 Texas Instruments Incorporated EEPROM memory having extended life
DE3602112A1 (de) 1986-01-24 1987-07-30 Vdo Schindling System zur speicherung von informationen
US4757474A (en) * 1986-01-28 1988-07-12 Fujitsu Limited Semiconductor memory device having redundancy circuit portion
US4783745A (en) * 1986-01-30 1988-11-08 Pitney Bowes Inc. Nonvolatile memory unlock for an electronic postage meter
JPS62188100A (ja) 1986-02-13 1987-08-17 Mitsubishi Electric Corp 紫外線消去型プログラマブルromの書込方法
JPS62188099A (ja) * 1986-02-13 1987-08-17 Toshiba Corp 電気的消去・再書込み可能形半導体メモリ
JP2530610B2 (ja) * 1986-02-27 1996-09-04 富士通株式会社 半導体記憶装置
JPS62229598A (ja) 1986-03-29 1987-10-08 Fanuc Ltd 不揮発性メモリを用いるデ−タ記憶方式
JPS62229599A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JPS62247275A (ja) 1986-03-31 1987-10-28 Ando Electric Co Ltd インサ−キツトエミユレ−タのcpu識別回路
JPH0828431B2 (ja) * 1986-04-22 1996-03-21 日本電気株式会社 半導体記憶装置
KR950008676B1 (ko) * 1986-04-23 1995-08-04 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체 메모리 장치 및 그의 결함 구제 방법
JPS62257699A (ja) * 1986-05-01 1987-11-10 Nippon Denso Co Ltd 多値記憶半導体回路
US5226136A (en) 1986-05-06 1993-07-06 Nintendo Company Limited Memory cartridge bank selecting apparatus
KR890001847B1 (ko) * 1986-05-07 1989-05-25 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치의 리던던시 회로
US4742215A (en) 1986-05-07 1988-05-03 Personal Computer Card Corporation IC card system
JPS62266798A (ja) * 1986-05-13 1987-11-19 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置
US4816653A (en) 1986-05-16 1989-03-28 American Telephone And Telegraph Company Security file system for a portable data carrier
FR2599176A1 (fr) * 1986-05-23 1987-11-27 Eurotechnique Sa Memoire morte programmable electriquement
JPH07109717B2 (ja) * 1986-05-31 1995-11-22 キヤノン株式会社 メモリ書き込み制御方法
JP2685173B2 (ja) * 1986-05-31 1997-12-03 キヤノン株式会社 メモリ書き込み制御方法
JPS62291294A (ja) 1986-06-11 1987-12-18 Oki Electric Ind Co Ltd ダイヤルインサ−ビス制御方式
JPS635444A (ja) 1986-06-25 1988-01-11 Hitachi Ltd マイクロプロセツサ
FR2600810A1 (fr) 1986-06-27 1987-12-31 Eurotechnique Sa Procede de programmation de donnees dans une memoire morte programmable electriquement
JPS6318596A (ja) * 1986-07-09 1988-01-26 Toshiba Corp 半導体記憶素子
JP2577724B2 (ja) 1986-07-31 1997-02-05 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
US5239662A (en) 1986-09-15 1993-08-24 Norand Corporation System including multiple device communications controller which coverts data received from two different customer transaction devices each using different communications protocols into a single communications protocol
US4751703A (en) * 1986-09-16 1988-06-14 International Business Machines Corp. Method for storing the control code of a processor allowing effective code modification and addressing circuit therefor
JPH087720B2 (ja) * 1986-09-16 1996-01-29 富士通株式会社 複数サービス用icカードの領域アクセス方法
JPS6373388A (ja) * 1986-09-16 1988-04-02 Fujitsu Ltd 複数サ−ビス用icカ−ドの領域獲得方式
US4789967A (en) * 1986-09-16 1988-12-06 Advanced Micro Devices, Inc. Random access memory device with block reset
US4862200A (en) 1986-10-01 1989-08-29 Ray Hicks Automated photographic apparatus
JPS63106989A (ja) * 1986-10-24 1988-05-12 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US4953122A (en) * 1986-10-31 1990-08-28 Laserdrive Ltd. Pseudo-erasable and rewritable write-once optical disk memory system
JPS63136391A (ja) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp 半導体メモリ装置
US4791615A (en) * 1986-12-22 1988-12-13 Motorola, Inc. Memory with redundancy and predecoded signals
US4814976C1 (en) * 1986-12-23 2002-06-04 Mips Tech Inc Risc computer with unaligned reference handling and method for the same
JPS63163937A (ja) * 1986-12-26 1988-07-07 Minolta Camera Co Ltd メモリ制御装置
US4980861A (en) 1987-01-16 1990-12-25 Microchip Technology Incorporated NAND stack ROM
JPS63183700A (ja) * 1987-01-26 1988-07-29 Mitsubishi Electric Corp Eepromアクセス方法
US4774652A (en) 1987-02-18 1988-09-27 Apple Computer, Inc. Memory mapping unit for decoding address signals
US4758986A (en) * 1987-02-20 1988-07-19 Motorola, Inc. Single transistor cell for electrically-erasable programmable read-only memory and array thereof
JPH0758500B2 (ja) 1987-02-20 1995-06-21 株式会社東芝 携帯可能電子装置
US4860228A (en) * 1987-02-24 1989-08-22 Motorola, Inc. Non-volatile memory incremental counting system
US4785425A (en) * 1987-02-27 1988-11-15 Emhart Industries, Inc. Electronic locking system
US4890231A (en) * 1987-03-06 1989-12-26 Chrysler Motors Corporation Method of disabling a resume switch in an electronic speed control system for vehicles
US4905182A (en) 1987-03-13 1990-02-27 Apple Computer, Inc. Self-configuring memory management system with on card circuitry for non-contentious allocation of reserved memory space among expansion cards
US4949240A (en) * 1987-03-13 1990-08-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Data storage system having circuitry for dividing received data into sequential wards each stored in storage region identified by chain data
US4931997A (en) * 1987-03-16 1990-06-05 Hitachi Ltd. Semiconductor memory having storage buffer to save control data during bulk erase
JP2833621B2 (ja) * 1987-03-16 1998-12-09 株式会社日立製作所 不揮発性記憶装置
US4933103A (en) * 1987-03-23 1990-06-12 Kao Corporation Bleaching composition
FR2620249B1 (fr) 1987-03-31 1989-12-01 Smh Alcatel Machine a affranchir a gestion de traces periodiques
FR2620246B1 (fr) 1987-03-31 1989-11-24 Smh Alcatel Memoire non volatile a faible taux d'ecriture et machine a affranchir en faisant application
US4827406A (en) 1987-04-01 1989-05-02 International Business Machines Corporation Memory allocation for multiple processors
JPH0827756B2 (ja) 1987-04-13 1996-03-21 三菱電機株式会社 Icカード
US4797856A (en) * 1987-04-16 1989-01-10 Intel Corporation Self-limiting erase scheme for EEPROM
JPH0620283B2 (ja) 1987-05-19 1994-03-16 富士写真フイルム株式会社 画像デ−タ記録装置
JPH0743950B2 (ja) 1987-05-22 1995-05-15 日本電気株式会社 読出し回路
IT1214246B (it) * 1987-05-27 1990-01-10 Sgs Microelettronica Spa Dispositivo di memoria non volatile ad elevato numero di cicli di modifica.
IT1215539B (it) * 1987-06-03 1990-02-14 Honeywell Inf Systems Memoria tampone trasparente.
JPH0793002B2 (ja) * 1987-06-04 1995-10-09 日本電気株式会社 メモリ集積回路
US4882642A (en) * 1987-07-02 1989-11-21 International Business Machines Corporation Sequentially processing data in a cached data storage system
US4903236A (en) * 1987-07-15 1990-02-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Nonvolatile semiconductor memory device and a writing method therefor
JPS6423878A (en) 1987-07-20 1989-01-26 Nippon Bussan Kk Agent for preventing denaturation of paste food
US4796235A (en) * 1987-07-22 1989-01-03 Motorola, Inc. Write protect mechanism for non-volatile memory
US4811124A (en) * 1987-07-24 1989-03-07 Advanced Micro Devices, Inc. Defect skipping mechanism for disk drives
US4860262A (en) * 1987-08-05 1989-08-22 Texas Instruments Incorporated Cache memory reset responsive to change in main memory
JPS6446949A (en) 1987-08-15 1989-02-21 Matsushita Electric Works Ltd Manufacture of dielectric isolation substrate
US5051887A (en) * 1987-08-25 1991-09-24 International Business Machines Corporation Maintaining duplex-paired storage devices during gap processing using of a dual copy function
JPS6454543A (en) * 1987-08-25 1989-03-02 Mitsubishi Electric Corp Information processor
DE3728521A1 (de) * 1987-08-26 1989-03-09 Siemens Ag Anordnung und verfahren zur feststellung und lokalisierung von fehlerhaften schaltkreisen eines speicherbausteins
JP2509297B2 (ja) * 1987-08-31 1996-06-19 沖電気工業株式会社 自己訂正機能付半導体記憶装置及びマイクロコンピュ―タ
US4970692A (en) * 1987-09-01 1990-11-13 Waferscale Integration, Inc. Circuit for controlling a flash EEPROM having three distinct modes of operation by allowing multiple functionality of a single pin
JP2685770B2 (ja) 1987-12-28 1997-12-03 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
DE3831538C2 (de) * 1987-09-18 1996-03-28 Toshiba Kawasaki Kk Elektrisch löschbare und programmierbare Halbleiter-Speichervorrichtung
JP2645417B2 (ja) * 1987-09-19 1997-08-25 富士通株式会社 不揮発性メモリ装置
US4780424A (en) * 1987-09-28 1988-10-25 Intel Corporation Process for fabricating electrically alterable floating gate memory devices
US4803554A (en) * 1987-09-30 1989-02-07 Polaroid Corporation Electronic imaging camera utilizing EPROM memory
US5016215A (en) 1987-09-30 1991-05-14 Texas Instruments Incorporated High speed EPROM with reverse polarity voltages applied to source and drain regions during reading and writing
FR2622019B1 (fr) * 1987-10-19 1990-02-09 Thomson Semiconducteurs Dispositif de test structurel d'un circuit integre
JPH01113999A (ja) * 1987-10-28 1989-05-02 Toshiba Corp 不揮発性メモリのストレステスト回路
US5253350A (en) 1987-10-30 1993-10-12 Zenith Data Systems Corporation Method of combining lower order and translated upper order bits to address ROM within a range reserved for other devices
JPH0778997B2 (ja) 1987-10-30 1995-08-23 株式会社東芝 不揮発性半導体メモリ
US4809231A (en) * 1987-11-12 1989-02-28 Motorola, Inc. Method and apparatus for post-packaging testing of one-time programmable memories
US5050125A (en) * 1987-11-18 1991-09-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Electrically erasable programmable read-only memory with NAND cellstructure
JPH01158777A (ja) 1987-12-15 1989-06-21 Sony Corp フローティングゲート型不揮発性メモリ
US4839705A (en) * 1987-12-16 1989-06-13 Texas Instruments Incorporated X-cell EEPROM array
US4803707A (en) 1987-12-21 1989-02-07 Ncr Corporation Nonvolatile electronic odometer with excess write cycle protection
US5034922A (en) 1987-12-21 1991-07-23 Motorola, Inc. Intelligent electrically erasable, programmable read-only memory with improved read latency
US4939690A (en) * 1987-12-28 1990-07-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Electrically erasable programmable read-only memory with NAND cell structure that suppresses memory cell threshold voltage variation
US4875188A (en) * 1988-01-12 1989-10-17 Intel Corporation Voltage margining circuit for flash eprom
US4939598A (en) 1988-02-08 1990-07-03 International Business Machines Corporation Managing data storage space on large capacity record media
US4841482A (en) * 1988-02-17 1989-06-20 Intel Corporation Leakage verification for flash EPROM
US5053990A (en) * 1988-02-17 1991-10-01 Intel Corporation Program/erase selection for flash memory
US5222046A (en) 1988-02-17 1993-06-22 Intel Corporation Processor controlled command port architecture for flash memory
US4860261A (en) * 1988-02-17 1989-08-22 Intel Corporation Leakage verification for flash EPROM
US4977503A (en) 1988-02-19 1990-12-11 Psicom Sports Incorporated Electronic sports information retrieval device
US5146571A (en) 1988-03-28 1992-09-08 Emc Corporation Remapping defects in a storage system through the use of a tree structure
US5033023A (en) * 1988-04-08 1991-07-16 Catalyst Semiconductor, Inc. High density EEPROM cell and process for making the cell
JPH01271996A (ja) * 1988-04-22 1989-10-31 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置
KR0135082B1 (ko) * 1988-04-28 1998-04-20 오가 노리오 정보 기억방법 및 그 장치
US4949309A (en) * 1988-05-11 1990-08-14 Catalyst Semiconductor, Inc. EEPROM utilizing single transistor per cell capable of both byte erase and flash erase
JPH0748316B2 (ja) * 1988-05-30 1995-05-24 日本電気株式会社 デュアルポートメモリ回路
US5293560A (en) 1988-06-08 1994-03-08 Eliyahou Harari Multi-state flash EEPROM system using incremental programing and erasing methods
US5095344A (en) 1988-06-08 1992-03-10 Eliyahou Harari Highly compact eprom and flash eeprom devices
US5268870A (en) * 1988-06-08 1993-12-07 Eliyahou Harari Flash EEPROM system and intelligent programming and erasing methods therefor
US5043940A (en) * 1988-06-08 1991-08-27 Eliyahou Harari Flash EEPROM memory systems having multistate storage cells
US5268318A (en) * 1988-06-08 1993-12-07 Eliyahou Harari Highly compact EPROM and flash EEPROM devices
US5198380A (en) * 1988-06-08 1993-03-30 Sundisk Corporation Method of highly compact EPROM and flash EEPROM devices
US5268319A (en) * 1988-06-08 1993-12-07 Eliyahou Harari Highly compact EPROM and flash EEPROM devices
US5168465A (en) * 1988-06-08 1992-12-01 Eliyahou Harari Highly compact EPROM and flash EEPROM devices
JP2595314B2 (ja) * 1988-06-30 1997-04-02 三菱電機株式会社 誤書き込み防止機能を備えたicカ―ド
US4890259A (en) * 1988-07-13 1989-12-26 Information Storage Devices High density integrated circuit analog signal recording and playback system
US4989179A (en) 1988-07-13 1991-01-29 Information Storage Devices, Inc. High density integrated circuit analog signal recording and playback system
US4914529A (en) * 1988-07-18 1990-04-03 Western Digital Corp. Data disk defect handling using relocation ID fields
JPH0770212B2 (ja) * 1988-07-19 1995-07-31 日本電気株式会社 半導体メモリ回路
US5134584A (en) 1988-07-22 1992-07-28 Vtc Incorporated Reconfigurable memory
US5218691A (en) 1988-07-26 1993-06-08 Disk Emulation Systems, Inc. Disk emulation system
US5070474A (en) * 1988-07-26 1991-12-03 Disk Emulation Systems, Inc. Disk emulation system
JPH07109720B2 (ja) * 1988-07-29 1995-11-22 三菱電機株式会社 不揮発性半導体記憶装置
US5167021A (en) 1988-09-19 1992-11-24 Ncr Corporation Multimedia interface device and method
US5359726A (en) 1988-12-22 1994-10-25 Thomas Michael E Ferroelectric storage device used in place of a rotating disk drive unit in a computer system
KR920009054B1 (ko) * 1988-12-28 1992-10-13 가부시키가이샤 도시바 불휘발성 반도체메모리
US4996669A (en) 1989-03-08 1991-02-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Electrically erasable programmable read-only memory with NAND memory cell structure
US5535328A (en) * 1989-04-13 1996-07-09 Sandisk Corporation Non-volatile memory system card with flash erasable sectors of EEprom cells including a mechanism for substituting defective cells
DE69033438T2 (de) * 1989-04-13 2000-07-06 Sandisk Corp., Santa Clara Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze
US5163021A (en) 1989-04-13 1992-11-10 Sundisk Corporation Multi-state EEprom read and write circuits and techniques
US5172338B1 (en) 1989-04-13 1997-07-08 Sandisk Corp Multi-state eeprom read and write circuits and techniques
US5226168A (en) * 1989-04-25 1993-07-06 Seiko Epson Corporation Semiconductor memory configured to emulate floppy and hard disk magnetic storage based upon a determined storage capacity of the semiconductor memory
US5051994A (en) 1989-04-28 1991-09-24 International Business Machines Corporation Computer memory module
US5070502A (en) 1989-06-23 1991-12-03 Digital Equipment Corporation Defect tolerant set associative cache
JPH0748320B2 (ja) 1989-07-24 1995-05-24 セイコー電子工業株式会社 半導体不揮発性メモリ
US4969122A (en) * 1989-08-21 1990-11-06 Sun Microsystems, Inc. Apparatus for page tagging in a computer system
US5200959A (en) * 1989-10-17 1993-04-06 Sundisk Corporation Device and method for defect handling in semi-conductor memory
US4992984A (en) 1989-12-28 1991-02-12 International Business Machines Corporation Memory module utilizing partially defective memory chips
US5134616A (en) * 1990-02-13 1992-07-28 International Business Machines Corporation Dynamic ram with on-chip ecc and optimized bit and word redundancy
US5126973A (en) 1990-02-14 1992-06-30 Texas Instruments Incorporated Redundancy scheme for eliminating defects in a memory device
US5136021A (en) 1990-02-27 1992-08-04 Health Research, Inc. TNF-inhibitory protein and a method of production
JP3190031B2 (ja) 1990-03-31 2001-07-16 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JP3448051B2 (ja) 1990-03-31 2003-09-16 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JP2709751B2 (ja) * 1990-06-15 1998-02-04 三菱電機株式会社 不揮発性半導体記憶装置およびそのデータ消去方法
JPH0482090A (ja) 1990-07-23 1992-03-16 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置
US5033990A (en) 1990-07-23 1991-07-23 Arthur Silverman Pulley having spring loaded release mechanism
US5214657A (en) 1990-09-21 1993-05-25 Micron Technology, Inc. Method for fabricating wafer-scale integration wafers and method for utilizing defective wafer-scale integration wafers
JP3001252B2 (ja) 1990-11-16 2000-01-24 株式会社日立製作所 半導体メモリ
US5377148A (en) 1990-11-29 1994-12-27 Case Western Reserve University Apparatus and method to test random access memories for a plurality of possible types of faults
US5222109A (en) 1990-12-28 1993-06-22 Ibm Corporation Endurance management for solid state files
GB2251323B (en) * 1990-12-31 1994-10-12 Intel Corp Disk emulation for a non-volatile semiconductor memory
US5218569A (en) * 1991-02-08 1993-06-08 Banks Gerald J Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per memory cell
US6002614A (en) * 1991-02-08 1999-12-14 Btg International Inc. Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell
US5396468A (en) * 1991-03-15 1995-03-07 Sundisk Corporation Streamlined write operation for EEPROM system
US5270979A (en) * 1991-03-15 1993-12-14 Sundisk Corporation Method for optimum erasing of EEPROM
US5504760A (en) * 1991-03-15 1996-04-02 Sandisk Corporation Mixed data encoding EEPROM system
US5141261A (en) * 1991-04-04 1992-08-25 Double Containment Systems Double containment pipe joint assembly
US5172388A (en) * 1991-07-23 1992-12-15 International Business Machines Corporation Method and apparatus for an increased pulse repetition rate for a CW pumped laser
US5430859A (en) * 1991-07-26 1995-07-04 Sundisk Corporation Solid state memory system including plural memory chips and a serialized bus
US5291439A (en) 1991-09-12 1994-03-01 International Business Machines Corporation Semiconductor memory cell and memory array with inversion layer
US5357462A (en) 1991-09-24 1994-10-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Electrically erasable and programmable non-volatile semiconductor memory with automatic write-verify controller
US5270980A (en) * 1991-10-28 1993-12-14 Eastman Kodak Company Sector erasable flash EEPROM
US5359569A (en) * 1991-10-29 1994-10-25 Hitachi Ltd. Semiconductor memory
US6347051B2 (en) * 1991-11-26 2002-02-12 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
TW261687B (ja) * 1991-11-26 1995-11-01 Hitachi Seisakusyo Kk
US5361227A (en) 1991-12-19 1994-11-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same
JP3251968B2 (ja) 1992-01-20 2002-01-28 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP2730375B2 (ja) 1992-01-31 1998-03-25 日本電気株式会社 半導体メモリ
US5278793A (en) 1992-02-25 1994-01-11 Yeh Tsuei Chi Memory defect masking device
FR2688333B1 (fr) * 1992-03-06 1994-04-29 Sgc Thomson Microelectronics S Dispositif et procede d'effacement par secteurs d'une memoire flash eprom.
JP3348248B2 (ja) * 1992-04-22 2002-11-20 富士通株式会社 半導体記憶装置及びその情報の消去・書き込み方法
JP2647312B2 (ja) * 1992-09-11 1997-08-27 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 一括消去型不揮発性半導体記憶装置
US5369616A (en) * 1992-10-30 1994-11-29 Intel Corporation Method for assuring that an erase process for a memory array has been properly completed
US5740349A (en) * 1993-02-19 1998-04-14 Intel Corporation Method and apparatus for reliably storing defect information in flash disk memories
US5388083A (en) * 1993-03-26 1995-02-07 Cirrus Logic, Inc. Flash memory mass storage architecture
US5488711A (en) * 1993-04-01 1996-01-30 Microchip Technology Incorporated Serial EEPROM device and associated method for reducing data load time using a page mode write cache
KR970008188B1 (ko) * 1993-04-08 1997-05-21 가부시끼가이샤 히다찌세이사꾸쇼 플래시메모리의 제어방법 및 그것을 사용한 정보처리장치
US5471431A (en) 1993-04-22 1995-11-28 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Structure to recover a portion of a partially functional embedded memory
US5414664A (en) 1993-05-28 1995-05-09 Macronix International Co., Ltd. Flash EPROM with block erase flags for over-erase protection
JP3215237B2 (ja) * 1993-10-01 2001-10-02 富士通株式会社 記憶装置および記憶装置の書き込み/消去方法
JPH07122099A (ja) 1993-10-29 1995-05-12 Nec Corp 半導体メモリ
JPH07153296A (ja) 1993-11-26 1995-06-16 Nec Corp 半導体記憶装置
US5828601A (en) * 1993-12-01 1998-10-27 Advanced Micro Devices, Inc. Programmed reference
JPH07253929A (ja) * 1994-03-14 1995-10-03 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
FR2718867B1 (fr) * 1994-04-13 1996-05-24 Sgs Thomson Microelectronics Procédé d'effacement d'une mémoire et circuits de mise en Óoeuvre.
US5541886A (en) * 1994-12-27 1996-07-30 Intel Corporation Method and apparatus for storing control information in multi-bit non-volatile memory arrays
US5594691A (en) * 1995-02-15 1997-01-14 Intel Corporation Address transition detection sensing interface for flash memory having multi-bit cells
JP3706167B2 (ja) * 1995-02-16 2005-10-12 株式会社ルネサステクノロジ 半導体ディスク装置
US6353554B1 (en) * 1995-02-27 2002-03-05 Btg International Inc. Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell
JPH08314794A (ja) * 1995-02-28 1996-11-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 安定記憶装置へのアクセス待ち時間を短縮するための方法およびシステム
JPH08249895A (ja) 1995-03-10 1996-09-27 Nec Corp 不輝発性半導体記憶装置
US5606532A (en) * 1995-03-17 1997-02-25 Atmel Corporation EEPROM array with flash-like core
US5764888A (en) 1995-07-20 1998-06-09 Dallas Semiconductor Corporation Electronic micro identification circuit that is inherently bonded to someone or something
ATE213562T1 (de) 1995-08-11 2002-03-15 Imec Inter Uni Micro Electr Verfahren zum programmieren einer flash-eeprom- speicherzelle unter optimierung des niedrigen leistungsverbrauchs und verfahren zum löschen dieser zelle
GB2291991A (en) * 1995-09-27 1996-02-07 Memory Corp Plc Disk drive emulation with a block-erasable memory
KR0169419B1 (ko) 1995-09-28 1999-02-01 김광호 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치
US5687114A (en) * 1995-10-06 1997-11-11 Agate Semiconductor, Inc. Integrated circuit for storage and retrieval of multiple digital bits per nonvolatile memory cell
KR0172401B1 (ko) 1995-12-07 1999-03-30 김광호 다수상태 불휘발성 반도체 메모리 장치
JP2848300B2 (ja) * 1995-12-27 1999-01-20 日本電気株式会社 不揮発性半導体記憶装置
JPH09212411A (ja) * 1996-02-06 1997-08-15 Tokyo Electron Ltd メモリシステム
US5668763A (en) 1996-02-26 1997-09-16 Fujitsu Limited Semiconductor memory for increasing the number of half good memories by selecting and using good memory blocks
US5826083A (en) * 1996-06-20 1998-10-20 Intel Corporation CPU cycle consumption self-regulating method and apparatus
US5883827A (en) 1996-08-26 1999-03-16 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for reading/writing data in a memory system including programmable resistors
US5933852A (en) * 1996-11-07 1999-08-03 Micron Electronics, Inc. System and method for accelerated remapping of defective memory locations
US5774395A (en) * 1996-11-27 1998-06-30 Advanced Micro Devices, Inc. Electrically erasable reference cell for accurately determining threshold voltage of a non-volatile memory at a plurality of threshold voltage levels
TW367503B (en) * 1996-11-29 1999-08-21 Sanyo Electric Co Non-volatile semiconductor device
US5847991A (en) 1997-05-20 1998-12-08 Tong; Hing S. System for recording voice as analog values programmed into single bit cells EEPROMs or flash EEPROM
US5880988A (en) 1997-07-11 1999-03-09 International Business Machines Corporation Reference potential for sensing data in electronic storage element
US5999476A (en) * 1997-11-21 1999-12-07 Advanced Micro Devices, Inc. Bios memory and multimedia data storage combination
JP3581244B2 (ja) 1997-12-05 2004-10-27 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置及びそのアクセス方法
JP3093723B2 (ja) 1998-04-22 2000-10-03 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 半導体集積回路
US6128224A (en) * 1998-07-29 2000-10-03 Motorola, Inc. Method and apparatus for writing an erasable non-volatile memory
US6154392A (en) 1999-10-12 2000-11-28 Patti; Robert Four-terminal EEPROM cell for storing an analog voltage and memory system using the same to store multiple bits per EEPROM cell
US6373767B1 (en) 1999-10-12 2002-04-16 Robert Patti Memory that stores multiple bits per storage cell
US6141261A (en) 1999-12-31 2000-10-31 Patti; Robert DRAM that stores multiple bits per storage cell
JP2001344987A (ja) 2000-05-29 2001-12-14 Nec Corp 半導体記憶装置及びデータの読み出し方法

Cited By (115)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7190617B1 (en) 1989-04-13 2007-03-13 Sandisk Corporation Flash EEprom system
JPH06139140A (ja) * 1990-12-31 1994-05-20 Intel Corp 不揮発性半導体メモリのファイル構造
JPH04351794A (ja) * 1991-05-29 1992-12-07 Hitachi Ltd 不揮発性記憶装置
US6081447A (en) * 1991-09-13 2000-06-27 Western Digital Corporation Wear leveling techniques for flash EEPROM systems
US6594183B1 (en) 1991-09-13 2003-07-15 Sandisk Corporation Wear leveling techniques for flash EEPROM systems
US6850443B2 (en) 1991-09-13 2005-02-01 Sandisk Corporation Wear leveling techniques for flash EEPROM systems
US7353325B2 (en) 1991-09-13 2008-04-01 Sandisk Corporation Wear leveling techniques for flash EEPROM systems
JPH06202942A (ja) * 1991-11-12 1994-07-22 Allen Bradley Co Inc フラッシュメモリ回路と操作方法
US7154805B2 (en) 1991-11-26 2006-12-26 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US6788609B2 (en) 1991-11-26 2004-09-07 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US6341085B1 (en) 1991-11-26 2002-01-22 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
US6130837A (en) * 1991-11-26 2000-10-10 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
US6347051B2 (en) 1991-11-26 2002-02-12 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
US6567334B2 (en) 1991-11-26 2003-05-20 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
US6925012B2 (en) 1991-11-26 2005-08-02 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US7002851B2 (en) 1991-11-26 2006-02-21 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US5644539A (en) * 1991-11-26 1997-07-01 Hitachi, Ltd. Storage device employing a flash memory
US7006386B2 (en) 1991-11-26 2006-02-28 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US7064995B2 (en) 1991-11-26 2006-06-20 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US7082510B2 (en) 1991-11-26 2006-07-25 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US7123519B2 (en) 1991-11-26 2006-10-17 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
US7184320B2 (en) 1991-11-26 2007-02-27 Renesas Technology Corp. Storage device employing a flash memory
JP2007172650A (ja) * 1991-11-28 2007-07-05 Hitachi Ltd フラッシュメモリを備えた情報機器
JP2004303278A (ja) * 1991-11-28 2004-10-28 Hitachi Ltd 情報処理システム
US7139201B2 (en) 1991-12-19 2006-11-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same
JP2004095168A (ja) * 1991-12-19 2004-03-25 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置、キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、および半導体記憶システム
JP2001273776A (ja) * 1991-12-19 2001-10-05 Toshiba Corp キャッシュメモリシステム、半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置、半導体記憶システムおよびメモリベリファイ回路
JP2009146458A (ja) * 1992-01-29 2009-07-02 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2011103137A (ja) * 1992-01-29 2011-05-26 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2008282429A (ja) * 1992-01-29 2008-11-20 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP4608587B2 (ja) * 1992-01-29 2011-01-12 マイクロソフト コーポレーション フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2010049712A (ja) * 1992-01-29 2010-03-04 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2010049713A (ja) * 1992-01-29 2010-03-04 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2011222051A (ja) * 1992-01-29 2011-11-04 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2006209808A (ja) * 1992-01-29 2006-08-10 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP4608588B2 (ja) * 1992-01-29 2011-01-12 マイクロソフト コーポレーション フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP4608589B2 (ja) * 1992-01-29 2011-01-12 マイクロソフト コーポレーション フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JP2010049714A (ja) * 1992-01-29 2010-03-04 Microsoft Corp フラッシュ消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリを用いてファイルシステムをマネージする方法及びシステム
JPH05216001A (ja) * 1992-02-06 1993-08-27 Nec Corp Lcd製造装置
JPH05242688A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Hitachi Ltd フラッシュeepromを用いた記録再生装置
US5371702A (en) * 1992-03-05 1994-12-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Block erasable nonvolatile memory device
US5890188A (en) * 1992-03-31 1999-03-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device having means for selective transfer of memory block contents and for chaining together unused memory blocks
US5611067A (en) * 1992-03-31 1997-03-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device having means for selective transfer of memory block contents and for chaining together unused memory blocks
JPH05313989A (ja) * 1992-05-08 1993-11-26 Toshiba Corp メモリカード装置
US6161195A (en) * 1992-05-08 2000-12-12 Kabushiki Kaisha Toshiba EEPROM memory card device having defect relieving means
JPH065094A (ja) * 1992-06-17 1994-01-14 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
US6549974B2 (en) 1992-06-22 2003-04-15 Hitachi, Ltd. Semiconductor storage apparatus including a controller for sending first and second write commands to different nonvolatile memories in a parallel or time overlapped manner
US6457092B1 (en) 1992-06-22 2002-09-24 Hitachi, Ltd. Semiconductor disk storage apparatus including a plurality of flash memories and a buffer memory to continuously write data responsive to first and second write commands
JPH064399A (ja) * 1992-06-22 1994-01-14 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US6728826B2 (en) 1992-06-22 2004-04-27 Renesas Technology Corp. Semiconductor storage device in which commands are sequentially fed to a plurality of flash memories to continuously write data
US6598115B2 (en) 1992-06-22 2003-07-22 Hitachi, Ltd. Semiconductor storage apparatus including a plurality of nonvolatile flash memories and utilizing logical to physical sector conversion
US8001319B2 (en) 1992-06-22 2011-08-16 Solid State Storage Solutions, Inc. Semiconductor storage device
JP2000148583A (ja) * 1992-06-22 2000-05-30 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2000163314A (ja) * 1992-06-22 2000-06-16 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US5379262A (en) * 1992-07-01 1995-01-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device
JPH0675836A (ja) * 1992-08-25 1994-03-18 Nippon Densan Corp 補助記憶装置
US5546402A (en) * 1992-09-11 1996-08-13 International Business Machines Corporation Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device
US5844910A (en) * 1992-09-11 1998-12-01 International Business Machines Corporation Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device
US5509018A (en) * 1992-09-11 1996-04-16 International Business Machines Corporation Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device
JPH11504147A (ja) * 1992-09-21 1999-04-06 サンディスク コーポレイション Eepromにおける潜在欠陥の操作法(管理法)
JPH06208799A (ja) * 1992-10-30 1994-07-26 Intel Corp フラッシュメモリの動作を監視する方法
JPH06163856A (ja) * 1992-11-19 1994-06-10 Fujitsu Ltd 一括消去型不揮発性半導体記憶装置およびその試験方法
JPH076595A (ja) * 1993-01-05 1995-01-10 Texas Instr Inc <Ti> フラッシュメモリの保護方式を持つスマート消去アルゴリズム
JPH06259320A (ja) * 1993-03-04 1994-09-16 Hitachi Ltd 不揮発性メモリ装置
US5422856A (en) * 1993-03-04 1995-06-06 Hitachi, Ltd. Non-volatile memory programming at arbitrary timing based on current requirements
US6351787B2 (en) 1993-03-11 2002-02-26 Hitachi, Ltd. File memory device and information processing apparatus using the same
US6952752B2 (en) 1993-03-11 2005-10-04 Hitachi, Ltd. File memory device and information processing apparatus using the same
US6662264B2 (en) 1993-03-11 2003-12-09 Hitachi, Ltd. File memory device and information processing apparatus using the same
US5973964A (en) * 1993-04-08 1999-10-26 Hitachi, Ltd. Flash memory control method and information processing system therewith
US6421279B1 (en) 1993-04-08 2002-07-16 Hitachi, Ltd. Flash memory control method and apparatus processing system therewith
US5862083A (en) * 1993-04-08 1999-01-19 Hitachi, Ltd. Information processing system
US6078520A (en) * 1993-04-08 2000-06-20 Hitachi, Ltd. Flash memory control method and information processing system therewith
JPH07146820A (ja) * 1993-04-08 1995-06-06 Hitachi Ltd フラッシュメモリの制御方法及び、それを用いた情報処理装置
US6275436B1 (en) 1993-04-08 2001-08-14 Hitachi, Ltd Flash memory control method and apparatus processing system therewith
EP0619541A3 (en) * 1993-04-08 1995-03-01 Hitachi Ltd Flash memory control method and information processing system using it.
US5530673A (en) * 1993-04-08 1996-06-25 Hitachi, Ltd. Flash memory control method and information processing system therewith
JPH06314496A (ja) * 1993-04-30 1994-11-08 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JPH09502824A (ja) * 1993-05-28 1997-03-18 マクロニクス インターナショナル カンパニイ リミテッド 過消去保護用ブロック消去フラグを有するフラッシュeprom
JPH0773690A (ja) * 1993-06-30 1995-03-17 Sharp Corp Eepromを使用した記録装置
JPH07160590A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Sansei Denshi Japan Kk 記憶データアクセス方法とその装置
JPH07271664A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録再生装置
JPH0887876A (ja) * 1994-07-25 1996-04-02 Samsung Electron Co Ltd Nand形フラッシュメモリicカード
JPH11512544A (ja) * 1995-09-13 1999-10-26 レクサー・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド 半導体不揮発性大容量記憶メモリ内の自動摩耗レベリングによるシステム・データ制御の方法およびアーキテクチャ
JPH0997199A (ja) * 1995-09-28 1997-04-08 Canon Inc フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置
JPH0997217A (ja) * 1995-09-28 1997-04-08 Canon Inc フラッシュrom管理方法及び装置及びコンピュータ制御装置
JPH10125081A (ja) * 1996-10-21 1998-05-15 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ
JPH11110263A (ja) * 1997-09-30 1999-04-23 Sony Corp 記憶装置、データ処理装置及びデータ処理方法
US6581132B1 (en) 1997-12-16 2003-06-17 Tdk Corporation Flash memory system including a memory manager for managing data
US6591329B1 (en) 1997-12-22 2003-07-08 Tdk Corporation Flash memory system for restoring an internal memory after a reset event
JP2003501758A (ja) * 1999-06-04 2003-01-14 ドゥデケム・ダコズ,ザビエール・ギィ・ベルナール カードメモリ装置
JP2001181934A (ja) * 1999-11-11 2001-07-03 Truetzschler Gmbh & Co Kg 紡績機械、特に紡績準備機械を電子的に制御する装置
JP2002170389A (ja) * 2000-06-30 2002-06-14 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置とその動作方法
JP2002133877A (ja) * 2001-09-03 2002-05-10 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JP2002236612A (ja) * 2002-01-21 2002-08-23 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US7120729B2 (en) 2002-10-28 2006-10-10 Sandisk Corporation Automated wear leveling in non-volatile storage systems
US9665478B2 (en) 2002-12-09 2017-05-30 Innovative Memory Systems, Inc. Zone boundary adjustments for defects in non-volatile memories
JP2006509304A (ja) * 2002-12-09 2006-03-16 サンディスク コーポレイション 不揮発性メモリにおける欠陥のためのゾーン境界調整
JP2004311016A (ja) * 2003-04-08 2004-11-04 Samsung Electronics Co Ltd マルチチップでマルチセクタ消去動作モードを支援する半導体メモリチップ及びマルチチップパッケージ、及びマルチセクタ消去方法
JP2003331589A (ja) * 2003-06-13 2003-11-21 Hitachi Ltd 不揮発性メモリ装置
JP2005196658A (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 Buffalo Inc 外部記憶装置
JP2004240993A (ja) * 2004-04-12 2004-08-26 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2005100470A (ja) * 2004-12-28 2005-04-14 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2005339763A (ja) * 2005-03-18 2005-12-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JP2005339581A (ja) * 2005-08-08 2005-12-08 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP4936086B2 (ja) * 2006-03-13 2012-05-23 マイクロン テクノロジー, インク. メモリデバイス分散型制御器システム
JP2009530758A (ja) * 2006-03-13 2009-08-27 マイクロン テクノロジー, インク. メモリデバイス分散型制御器システム
JP2007250186A (ja) * 2007-07-09 2007-09-27 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置
JP4712769B2 (ja) * 2007-07-09 2011-06-29 ルネサスエレクトロニクス株式会社 不揮発性半導体記憶装置
JP2008108281A (ja) * 2008-01-10 2008-05-08 Renesas Technology Corp 半導体ディスク装置
US7958411B2 (en) 2008-04-24 2011-06-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system and control method thereof
US7949910B2 (en) 2008-04-24 2011-05-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system and control method thereof
JP2009282505A (ja) * 2008-04-25 2009-12-03 Canon Inc 不揮発性メモリの制御装置及び画像形成装置
JP2012523624A (ja) * 2009-04-08 2012-10-04 グーグル インコーポレイテッド フラッシュメモリデータストレージデバイスにデータを格納するための方法及び装置
US9244842B2 (en) 2009-04-08 2016-01-26 Google Inc. Data storage device with copy command
JP2013033507A (ja) * 2012-10-31 2013-02-14 Fujitsu Ltd データ制御方法およびシステム

Also Published As

Publication number Publication date
US6684345B2 (en) 2004-01-27
US5936971A (en) 1999-08-10
DE69034191D1 (de) 2005-06-30
EP0675502A3 (en) 2003-08-20
EP1031992A2 (en) 2000-08-30
EP0617363A2 (en) 1994-09-28
US5418752A (en) 1995-05-23
EP0675502B1 (en) 2005-05-25
US20030202377A1 (en) 2003-10-30
DE69033262T2 (de) 2000-02-24
EP0618535A3 (en) 1995-03-08
US20030097609A1 (en) 2003-05-22
EP1031992A3 (en) 2003-08-13
US20020046318A1 (en) 2002-04-18
US6763480B2 (en) 2004-07-13
DE69033438D1 (de) 2000-03-02
US8040727B1 (en) 2011-10-18
DE69034227D1 (de) 2006-08-03
US5991517A (en) 1999-11-23
US5602987A (en) 1997-02-11
EP1031992B1 (en) 2006-06-21
DE69033438T2 (de) 2000-07-06
DE69033262D1 (de) 1999-09-30
US5877986A (en) 1999-03-02
DE69034227T2 (de) 2007-05-03
US7362618B2 (en) 2008-04-22
EP0392895A2 (en) 1990-10-17
US5999446A (en) 1999-12-07
US6914846B2 (en) 2005-07-05
DE69034191T2 (de) 2005-11-24
EP0392895A3 (en) 1993-01-07
US20030110411A1 (en) 2003-06-12
US5862080A (en) 1999-01-19
US20080158995A1 (en) 2008-07-03
US20010026472A1 (en) 2001-10-04
US6373747B1 (en) 2002-04-16
JP3226042B2 (ja) 2001-11-05
US7266017B2 (en) 2007-09-04
US6304485B1 (en) 2001-10-16
US6757842B2 (en) 2004-06-29
US5719808A (en) 1998-02-17
US20030128618A1 (en) 2003-07-10
EP0618535A2 (en) 1994-10-05
US5671229A (en) 1997-09-23
EP0392895B1 (en) 1995-12-13
US20030014689A1 (en) 2003-01-16
EP0617363B1 (en) 2000-01-26
US7283397B2 (en) 2007-10-16
US20030046603A1 (en) 2003-03-06
US20030090941A1 (en) 2003-05-15
US5297148A (en) 1994-03-22
US20040080988A1 (en) 2004-04-29
EP0675502A2 (en) 1995-10-04
US20050286336A1 (en) 2005-12-29
EP0617363A3 (en) 1995-03-08
US20030093711A1 (en) 2003-05-15
US7397713B2 (en) 2008-07-08
US6414876B1 (en) 2002-07-02
US6149316A (en) 2000-11-21
DE69024086T2 (de) 1996-06-20
EP0618535B1 (en) 1999-08-25
DE69024086D1 (de) 1996-01-25
US6523132B1 (en) 2003-02-18
EP0935255A2 (en) 1999-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3226042B2 (ja) フラッシュEEpromシステム
US6519185B2 (en) Flash EEprom system
US5535328A (en) Non-volatile memory system card with flash erasable sectors of EEprom cells including a mechanism for substituting defective cells
US6462992B2 (en) Flash EEprom system
JP3944326B2 (ja) フラッシュEEpromシステム
JP4090071B2 (ja) フラッシュEEpromシステム

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 9

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 9