JP3122201B2 - メモリカード装置 - Google Patents
メモリカード装置Info
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/76—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体メモリとして
EEPROM(エレクトリカリィ・イレーサブル・アン
ド・プログラマブル・リード・オンリー・メモリ)を使
用したメモリカード装置に係り、特に撮影した被写体の
光学像をデジタル画像データに変換して半導体メモリに
記録する電子スチルカメラ装置等に使用して好適するも
のに関する。
EEPROM(エレクトリカリィ・イレーサブル・アン
ド・プログラマブル・リード・オンリー・メモリ)を使
用したメモリカード装置に係り、特に撮影した被写体の
光学像をデジタル画像データに変換して半導体メモリに
記録する電子スチルカメラ装置等に使用して好適するも
のに関する。
【0002】
【従来の技術】周知のように、撮影した被写体の光学像
を固体撮像素子を用いて電気的な画像信号に変換し、こ
の画像信号をデジタル画像データに変換して半導体メモ
リに記録する電子スチルカメラ装置が開発されている。
そして、この種の電子スチルカメラ装置にあっては、半
導体メモリをカード状のケースに内蔵してなるメモリカ
ードを、カメラ本体に着脱自在となるように構成するこ
とによって、通常のカメラにおけるフィルムと等価な取
り扱いができるようになされている。
を固体撮像素子を用いて電気的な画像信号に変換し、こ
の画像信号をデジタル画像データに変換して半導体メモ
リに記録する電子スチルカメラ装置が開発されている。
そして、この種の電子スチルカメラ装置にあっては、半
導体メモリをカード状のケースに内蔵してなるメモリカ
ードを、カメラ本体に着脱自在となるように構成するこ
とによって、通常のカメラにおけるフィルムと等価な取
り扱いができるようになされている。
【0003】ここで、電子スチルカメラ装置のメモリカ
ードは、現在、標準化が進められていて、内蔵される半
導体メモリとしては、複数枚のデジタル画像データを記
録するために大記憶容量のものが要求され、例えばSR
AM(スタティック・ランダム・アクセス・メモリ),
マスクROM及び電気的にデータの書き込みや消去が可
能なEEPROM等が考えられており、SRAMを用い
たメモリカードは既に商品化されている。
ードは、現在、標準化が進められていて、内蔵される半
導体メモリとしては、複数枚のデジタル画像データを記
録するために大記憶容量のものが要求され、例えばSR
AM(スタティック・ランダム・アクセス・メモリ),
マスクROM及び電気的にデータの書き込みや消去が可
能なEEPROM等が考えられており、SRAMを用い
たメモリカードは既に商品化されている。
【0004】ところで、SRAMを用いたメモリカード
は、どのようなフォーマットのデータ構成にも対応する
ことができるとともに、データの書き込みスピード及び
読み出しスピードも速いという利点がある反面、書き込
んだデータを保持するためのバックアップ電池をメモリ
カード内に収容する必要があるため、電池収容スペース
を設置する分だけ記憶容量が削減されるとともに、SR
AM自体のコストが高く経済的な不利を招くという問題
を持っている。
は、どのようなフォーマットのデータ構成にも対応する
ことができるとともに、データの書き込みスピード及び
読み出しスピードも速いという利点がある反面、書き込
んだデータを保持するためのバックアップ電池をメモリ
カード内に収容する必要があるため、電池収容スペース
を設置する分だけ記憶容量が削減されるとともに、SR
AM自体のコストが高く経済的な不利を招くという問題
を持っている。
【0005】そこで、現在では、SRAMの持つ問題点
を解消するために、メモリカードに用いられる半導体メ
モリとしてEEPROMが注目されている。このEEP
ROMは、磁気ディスクに代わる記録媒体として注目を
浴びているもので、データ保持のためのバックアップ電
池が不要であるとともに、チップ自体のコストを安くす
ることができる等、SRAMの持たない特有な利点を有
することから、メモリカード用として使用するための開
発が盛んに行なわれている。
を解消するために、メモリカードに用いられる半導体メ
モリとしてEEPROMが注目されている。このEEP
ROMは、磁気ディスクに代わる記録媒体として注目を
浴びているもので、データ保持のためのバックアップ電
池が不要であるとともに、チップ自体のコストを安くす
ることができる等、SRAMの持たない特有な利点を有
することから、メモリカード用として使用するための開
発が盛んに行なわれている。
【0006】ここで、図8は、SRAMを用いたメモリ
カード(SRAMカード)とEEPROMを用いたメモ
リカード(EEPROMカード)との長短を比較して示
している。まず、比較項目1,2のバックアップ電池及
びコストについては、既に前述したように、SRAMカ
ードはバックアップ電池が必要でありコストも高いとい
う問題があるのに対し、EEPROMカードはバックア
ップ電池が不要でコストも低くすることができるという
利点を有している。
カード(SRAMカード)とEEPROMを用いたメモ
リカード(EEPROMカード)との長短を比較して示
している。まず、比較項目1,2のバックアップ電池及
びコストについては、既に前述したように、SRAMカ
ードはバックアップ電池が必要でありコストも高いとい
う問題があるのに対し、EEPROMカードはバックア
ップ電池が不要でコストも低くすることができるという
利点を有している。
【0007】次に、比較項目3,4の書き込みスピード
及び読み出しスピードについては、アドレスで任意に指
定したバイトまたはビットに対して、データの書き込み
及び読み出しを行なう、SRAMとEEPROMとに共
通のランダムアクセスモードと、複数の連続するバイト
(数百バイト)でなるページを指定することにより、ペ
ージ単位で一括してデータの書き込み及び読み出しを行
なう、EEPROMに特有のページモードとに分けて考
えられる。
及び読み出しスピードについては、アドレスで任意に指
定したバイトまたはビットに対して、データの書き込み
及び読み出しを行なう、SRAMとEEPROMとに共
通のランダムアクセスモードと、複数の連続するバイト
(数百バイト)でなるページを指定することにより、ペ
ージ単位で一括してデータの書き込み及び読み出しを行
なう、EEPROMに特有のページモードとに分けて考
えられる。
【0008】そして、ランダムアクセスモードにおい
て、SRAMは書き込みスピード及び読み出しスピード
が共に速く、EEPROMは書き込みスピード及び読み
出しスピードが共に遅くなっている。また、EEPRO
Mは、ページモードにおいて、1ページ分の大量のデー
タを一斉に書き込み及び読み出しすることから、ランダ
ムアクセスモードに比してデータの書き込みスピード及
び読み出しスピードは速くなっている。
て、SRAMは書き込みスピード及び読み出しスピード
が共に速く、EEPROMは書き込みスピード及び読み
出しスピードが共に遅くなっている。また、EEPRO
Mは、ページモードにおいて、1ページ分の大量のデー
タを一斉に書き込み及び読み出しすることから、ランダ
ムアクセスモードに比してデータの書き込みスピード及
び読み出しスピードは速くなっている。
【0009】さらに、比較項目5のイレース(消去)モ
ードは、EEPROMに特有のモードであり、SRAM
には存在しないモードである。すなわち、EEPROM
は、既にデータの書き込まれている領域に新たにデータ
を書き込む場合、先に書き込まれているデータを一旦イ
レースしないと新たなデータを書き込むことができない
ため、データの書き込みを行なうに際して、このイレー
スモードが実行されるようになっている。
ードは、EEPROMに特有のモードであり、SRAM
には存在しないモードである。すなわち、EEPROM
は、既にデータの書き込まれている領域に新たにデータ
を書き込む場合、先に書き込まれているデータを一旦イ
レースしないと新たなデータを書き込むことができない
ため、データの書き込みを行なうに際して、このイレー
スモードが実行されるようになっている。
【0010】また、比較項目6の書き込みベリファイ
も、EEPROMに特有のモードであり、SRAMには
存在しないモードである。すなわち、EEPROMは、
データ書き込みを行なう場合、通常1回の書き込み動作
では完全な書き込みが行なわれない。このため、EEP
ROMに対して1回の書き込み動作を行なう毎にEEP
ROMの書き込み内容を読み出し、正確に書き込まれて
いるか否かをチェックする必要があり、これが書き込み
ベリファイである。
も、EEPROMに特有のモードであり、SRAMには
存在しないモードである。すなわち、EEPROMは、
データ書き込みを行なう場合、通常1回の書き込み動作
では完全な書き込みが行なわれない。このため、EEP
ROMに対して1回の書き込み動作を行なう毎にEEP
ROMの書き込み内容を読み出し、正確に書き込まれて
いるか否かをチェックする必要があり、これが書き込み
ベリファイである。
【0011】具体的には、EEPROMに書き込むべき
データをバッファメモリに記録しておき、バッファメモ
リからEEPROMにデータを転送して書き込んだ後、
EEPROMの書き込み内容を読み出し、バッファメモ
リの内容と比較して一致しているか否かを判別してい
る。そして、書き込みベリファイの結果、不一致(エラ
ー)と判定された場合には、再度バッファメモリの内容
をEEPROMに書き込む動作を繰り返すようにしてい
る。
データをバッファメモリに記録しておき、バッファメモ
リからEEPROMにデータを転送して書き込んだ後、
EEPROMの書き込み内容を読み出し、バッファメモ
リの内容と比較して一致しているか否かを判別してい
る。そして、書き込みベリファイの結果、不一致(エラ
ー)と判定された場合には、再度バッファメモリの内容
をEEPROMに書き込む動作を繰り返すようにしてい
る。
【0012】以上の比較結果から明らかなように、EE
PROMには、バックアップ電池が不要でありコストが
安く、しかもページ単位のデータ書き込み及び読み出し
が可能である等の、SRAMに見られない特有な利点が
備えられている反面、ランダムアクセスモードにおける
データの書き込みスピード及び読み出しスピードが遅い
とともに、イレースモードや書き込みベリファイ等のよ
うなSRAMにはないモードを必要とするという不都合
もある。
PROMには、バックアップ電池が不要でありコストが
安く、しかもページ単位のデータ書き込み及び読み出し
が可能である等の、SRAMに見られない特有な利点が
備えられている反面、ランダムアクセスモードにおける
データの書き込みスピード及び読み出しスピードが遅い
とともに、イレースモードや書き込みベリファイ等のよ
うなSRAMにはないモードを必要とするという不都合
もある。
【0013】そこで、メモリカードに使用する半導体メ
モリとして、現在使用されているSRAMに代えてEE
PROMを使用することを考えた場合、データの書き込
みスピード及び読み出しスピードの問題や、イレースモ
ード及び書き込みベリファイ等を必要とするという問題
を解消し、SRAMを内蔵したメモリカードと等価な取
り扱い方ができるように、つまりSRAMカードライク
に使用できるように細部に渡って種々の改良を施すこと
が、肝要なこととなっている。
モリとして、現在使用されているSRAMに代えてEE
PROMを使用することを考えた場合、データの書き込
みスピード及び読み出しスピードの問題や、イレースモ
ード及び書き込みベリファイ等を必要とするという問題
を解消し、SRAMを内蔵したメモリカードと等価な取
り扱い方ができるように、つまりSRAMカードライク
に使用できるように細部に渡って種々の改良を施すこと
が、肝要なこととなっている。
【0014】この場合、特に問題となることは、EEP
ROMは、データの書き替え回数が一定数を越えるとメ
モリセルが急激に劣化しデータの書き込み不良が発生し
易くなることである。すなわち、EEPROMは、プロ
グラムデータの記録用として開発され、プログラムのバ
ージョンアップのときにデータの書き替えを行なえるよ
うにすることを意図したものであるから、多数回のデー
タ書き替えに対応できるように設計されていないからで
ある。
ROMは、データの書き替え回数が一定数を越えるとメ
モリセルが急激に劣化しデータの書き込み不良が発生し
易くなることである。すなわち、EEPROMは、プロ
グラムデータの記録用として開発され、プログラムのバ
ージョンアップのときにデータの書き替えを行なえるよ
うにすることを意図したものであるから、多数回のデー
タ書き替えに対応できるように設計されていないからで
ある。
【0015】ところが、上述したように、例えば電子ス
チルカメラ装置等に使用されるメモリカード用の半導体
メモリとして、従来より使用されていたSRAMに代え
てEEPROMを用いるようにした場合、当然のことな
がら、EEPROMに対して頻繁にデータの書き替えが
行なわれるような使われ方をされることになるため、書
き込み不良の発生率が飛躍的に増大するであろうこと
は、どうしても避けられないこととなっている。
チルカメラ装置等に使用されるメモリカード用の半導体
メモリとして、従来より使用されていたSRAMに代え
てEEPROMを用いるようにした場合、当然のことな
がら、EEPROMに対して頻繁にデータの書き替えが
行なわれるような使われ方をされることになるため、書
き込み不良の発生率が飛躍的に増大するであろうこと
は、どうしても避けられないこととなっている。
【0016】そして、この書き込み不良について、従来
では、前述した書き込みベリファイ処理を所定回数繰り
返しても正しく書き込まれなかったとき書き込み不良で
あると判断している。しかるに、従来では、EEPRO
Mの一部に書き込み不良が生じた場合でも、そのEEP
ROMを内蔵するメモリカード全体を不良品として取り
扱うようにしているため、非常に効率が悪く経済的に不
利であるという問題が生じている。
では、前述した書き込みベリファイ処理を所定回数繰り
返しても正しく書き込まれなかったとき書き込み不良で
あると判断している。しかるに、従来では、EEPRO
Mの一部に書き込み不良が生じた場合でも、そのEEP
ROMを内蔵するメモリカード全体を不良品として取り
扱うようにしているため、非常に効率が悪く経済的に不
利であるという問題が生じている。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、EEP
ROMを内蔵した従来のメモリカードでは、書き込み不
良が発生したEEPROMを内蔵するメモリカード全体
を不良品として処理するため、非常に効率が悪く経済的
に不利になるという問題を有している。
ROMを内蔵した従来のメモリカードでは、書き込み不
良が発生したEEPROMを内蔵するメモリカード全体
を不良品として処理するため、非常に効率が悪く経済的
に不利になるという問題を有している。
【0018】そこで、この発明は上記事情を考慮してな
されたもので、一部に書き込み不良が発生したEEPR
OMでも継続して使用することができるとともに、その
EEPROMの記憶領域の有効利用を図ることができ、
経済的に有利で実用に供し得る極めて良好なメモリカー
ド装置を提供することを目的とする。
されたもので、一部に書き込み不良が発生したEEPR
OMでも継続して使用することができるとともに、その
EEPROMの記憶領域の有効利用を図ることができ、
経済的に有利で実用に供し得る極めて良好なメモリカー
ド装置を提供することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】この発明に係るメモリカ
ード装置は、それぞれが一定容量の複数のブロックで構
成されるデータ領域及び救済領域を有するEEPROM
と、このEEPROMのデータ領域のブロックに書き込
み不良が検出された状態で、該不良ブロックに書き込む
データを救済領域の空きブロックを検索して書き込む第
1の救済手段と、この第1の救済手段により救済領域が
満杯になり、かつ、データ領域のブロックに書き込み不
良が検出された状態で、該不良ブロックに書き込むデー
タをデータ領域の空きブロックを検索して書き込む第2
の救済手段と、この第2の救済手段によりデータ領域の
ブロックが救済用に使用されている状態で、データの消
去により救済領域に空きブロックができたことを検出
し、該空きブロックにデータ領域で救済用に使用されて
いるブロックのデータを移し変える制御手段とを備える
ようにしたものである。
ード装置は、それぞれが一定容量の複数のブロックで構
成されるデータ領域及び救済領域を有するEEPROM
と、このEEPROMのデータ領域のブロックに書き込
み不良が検出された状態で、該不良ブロックに書き込む
データを救済領域の空きブロックを検索して書き込む第
1の救済手段と、この第1の救済手段により救済領域が
満杯になり、かつ、データ領域のブロックに書き込み不
良が検出された状態で、該不良ブロックに書き込むデー
タをデータ領域の空きブロックを検索して書き込む第2
の救済手段と、この第2の救済手段によりデータ領域の
ブロックが救済用に使用されている状態で、データの消
去により救済領域に空きブロックができたことを検出
し、該空きブロックにデータ領域で救済用に使用されて
いるブロックのデータを移し変える制御手段とを備える
ようにしたものである。
【0020】また、この発明に係るメモリカード装置
は、一定容量の複数のブロックで構成されるデータ領域
を有するEEPROMと、このEEPROMのデータ領
域のブロックに書き込み不良が検出された状態で、該不
良ブロックに書き込むデータをデータ領域の空きブロッ
クを検索して書き込む救済手段と、この救済手段によっ
てデータの書き込まれたブロックがデータ領域内に連続
して配置されるように制御する第1の制御手段と、この
第1の制御手段により、救済手段によってデータの書き
込まれたブロックがデータ領域内に連続的に形成されて
いる状態で、データ書き込み済みのブロックが不良ブロ
ックの代替として割り当てられたとき、該ブロックのデ
ータをデータ領域内の空きブロックに移し変えて、不良
ブロックの代替として割り当てられるブロックの連続性
を維持させる第2の制御手段とを備えるようにしたもの
である。
は、一定容量の複数のブロックで構成されるデータ領域
を有するEEPROMと、このEEPROMのデータ領
域のブロックに書き込み不良が検出された状態で、該不
良ブロックに書き込むデータをデータ領域の空きブロッ
クを検索して書き込む救済手段と、この救済手段によっ
てデータの書き込まれたブロックがデータ領域内に連続
して配置されるように制御する第1の制御手段と、この
第1の制御手段により、救済手段によってデータの書き
込まれたブロックがデータ領域内に連続的に形成されて
いる状態で、データ書き込み済みのブロックが不良ブロ
ックの代替として割り当てられたとき、該ブロックのデ
ータをデータ領域内の空きブロックに移し変えて、不良
ブロックの代替として割り当てられるブロックの連続性
を維持させる第2の制御手段とを備えるようにしたもの
である。
【0021】
【作用】上記のような構成によれば、第1の救済手段に
より、データ領域の一部のブロックに書き込み不良が発
生したとき、救済領域の空きのあるブロックを検索し
て、その不良ブロックに書き込めなかったデータを、救
済領域のブロックに書き込むようにしたので、一部に書
き込み不良が発生したEEPROMをそのまま継続して
使用することができ、経済的に有利で実用に適するもの
である。また、救済領域が満杯になった場合には、第2
の救済手段により、データ領域の空きブロックを救済用
として利用するとともに、制御手段により、データの消
去によって救済領域のブロックに空きができたときは、
データ領域の救済用として使用されているブロックのデ
ータを、救済領域の空きブロックに自動的に転送するよ
うにしたので、データ領域に空きブロックをより多く確
保することができEEPROMの記憶領域の有効利用を
図ることができる。
より、データ領域の一部のブロックに書き込み不良が発
生したとき、救済領域の空きのあるブロックを検索し
て、その不良ブロックに書き込めなかったデータを、救
済領域のブロックに書き込むようにしたので、一部に書
き込み不良が発生したEEPROMをそのまま継続して
使用することができ、経済的に有利で実用に適するもの
である。また、救済領域が満杯になった場合には、第2
の救済手段により、データ領域の空きブロックを救済用
として利用するとともに、制御手段により、データの消
去によって救済領域のブロックに空きができたときは、
データ領域の救済用として使用されているブロックのデ
ータを、救済領域の空きブロックに自動的に転送するよ
うにしたので、データ領域に空きブロックをより多く確
保することができEEPROMの記憶領域の有効利用を
図ることができる。
【0022】さらに、救済領域を固定的に設けず、救済
手段によって、書き込み不良ブロックが発生する毎に、
その不良ブロックの代替となるブロックを増加させてい
くようにしたので、データ領域を有効に使用することが
できる。また、第1及び第2の制御手段によって、代替
となるブロックがデータ領域内に連続して配置されると
ともに、データ書き込み済みのブロックが代替用に割り
当てられたとき、該ブロックのデータをデータ領域内の
空きブロックに移し変えて、代替用ブロックの連続性を
維持させるようにしているので、代替用となった複数の
ブロックが記憶領域の中でばらばらに点在することがな
くなり、データ領域及び代替用となったブロックの両方
の管理を容易に行なうことができる。
手段によって、書き込み不良ブロックが発生する毎に、
その不良ブロックの代替となるブロックを増加させてい
くようにしたので、データ領域を有効に使用することが
できる。また、第1及び第2の制御手段によって、代替
となるブロックがデータ領域内に連続して配置されると
ともに、データ書き込み済みのブロックが代替用に割り
当てられたとき、該ブロックのデータをデータ領域内の
空きブロックに移し変えて、代替用ブロックの連続性を
維持させるようにしているので、代替用となった複数の
ブロックが記憶領域の中でばらばらに点在することがな
くなり、データ領域及び代替用となったブロックの両方
の管理を容易に行なうことができる。
【0023】
【実施例】以下、この発明を電子スチルカメラ装置に適
用した場合の一実施例について図面を参照して詳細に説
明する。図1において、11はメモリカード本体で、そ
の一端部に設置されたコネクタ12を介して、図示しな
い電子スチルカメラ本体に接続されるようになされてい
る。このコネクタ12には、電子スチルカメラ本体側か
ら、メモリカード本体11に書き込むべきデータや、そ
の書き込み場所を示すアドレスデータ等が供給される。
用した場合の一実施例について図面を参照して詳細に説
明する。図1において、11はメモリカード本体で、そ
の一端部に設置されたコネクタ12を介して、図示しな
い電子スチルカメラ本体に接続されるようになされてい
る。このコネクタ12には、電子スチルカメラ本体側か
ら、メモリカード本体11に書き込むべきデータや、そ
の書き込み場所を示すアドレスデータ等が供給される。
【0024】そして、このコネクタ12に供給されたデ
ータは、バスライン13を介してデータ入出力制御回路
14に取り込まれる。このデータ入出力制御回路14
は、データの高速書き込み及び高速読み出しが可能な図
示しないバッファメモリを内蔵しており、取り込んだデ
ータを一旦バッファメモリに記録する。その後、データ
入出力制御回路14は、バッファメモリに記録したデー
タを、バスライン15を介して複数(図示の場合は4
つ)のEEPROM16の書き込みサイクルに対応した
タイミングで読み出し、EEPROM16に記録する。
ータは、バスライン13を介してデータ入出力制御回路
14に取り込まれる。このデータ入出力制御回路14
は、データの高速書き込み及び高速読み出しが可能な図
示しないバッファメモリを内蔵しており、取り込んだデ
ータを一旦バッファメモリに記録する。その後、データ
入出力制御回路14は、バッファメモリに記録したデー
タを、バスライン15を介して複数(図示の場合は4
つ)のEEPROM16の書き込みサイクルに対応した
タイミングで読み出し、EEPROM16に記録する。
【0025】この場合、データ入出力制御回路14は、
EEPROM16に例えばページ単位でデータが書き込
まれる毎に、EEPROM16から書き込んだページ単
位のデータを読み出し、バッファメモリに記録されてい
るデータと一致しているか否かを判別する書き込みベリ
ファイを実行する。そして、データ入出力制御回路14
は、EEPROM16から読み出したデータと、バッフ
ァメモリに記録されたデータとが一致していない場合、
再度、バッファメモリからEEPROM16にデータを
転送して書き込みを行なわせ、この動作が所定回数繰り
返される間に、EEPROM16から読み出したデータ
とバッファメモリに記録されたデータとが完全に一致し
たとき、データの書き込みが完了される。
EEPROM16に例えばページ単位でデータが書き込
まれる毎に、EEPROM16から書き込んだページ単
位のデータを読み出し、バッファメモリに記録されてい
るデータと一致しているか否かを判別する書き込みベリ
ファイを実行する。そして、データ入出力制御回路14
は、EEPROM16から読み出したデータと、バッフ
ァメモリに記録されたデータとが一致していない場合、
再度、バッファメモリからEEPROM16にデータを
転送して書き込みを行なわせ、この動作が所定回数繰り
返される間に、EEPROM16から読み出したデータ
とバッファメモリに記録されたデータとが完全に一致し
たとき、データの書き込みが完了される。
【0026】次に、EEPROM16から、データをメ
モリカード本体11の外部に読み出す場合には、電子ス
チルカメラ本体側からコネクタ12を介して読み出すべ
きデータを指定するアドレスがデータ入出力制御回路1
4に供給される。すると、データ入出力制御回路14
は、入力されたアドレスに基づいてEEPROM16か
らデータを読み出し、一旦バッファメモリに記録する。
その後、データ入出力制御回路14は、バッファメモリ
に記録したデータを読み出しコネクタ12を介して外部
に導出し、ここにデータの読み出しが行なわれる。
モリカード本体11の外部に読み出す場合には、電子ス
チルカメラ本体側からコネクタ12を介して読み出すべ
きデータを指定するアドレスがデータ入出力制御回路1
4に供給される。すると、データ入出力制御回路14
は、入力されたアドレスに基づいてEEPROM16か
らデータを読み出し、一旦バッファメモリに記録する。
その後、データ入出力制御回路14は、バッファメモリ
に記録したデータを読み出しコネクタ12を介して外部
に導出し、ここにデータの読み出しが行なわれる。
【0027】したがって、上記のような構成によれば、
電子スチルカメラ本体とメモリカード本体11との間に
おけるデータ転送は、必ずバッファメモリを介して行な
われるので、電子スチルカメラ本体側から見たメモリカ
ード本体11へのデータの書き込みスピード及び読み出
しスピードを向上させることができる。また、EEPR
OM16に特有の書き込みベリファイも、バッファメモ
リを用いてメモリカード本体11の内部で自動的に処理
されるので、メモリカード本体11の取り扱いとして
は、全くSRAMカードライクに使用することができ
る。
電子スチルカメラ本体とメモリカード本体11との間に
おけるデータ転送は、必ずバッファメモリを介して行な
われるので、電子スチルカメラ本体側から見たメモリカ
ード本体11へのデータの書き込みスピード及び読み出
しスピードを向上させることができる。また、EEPR
OM16に特有の書き込みベリファイも、バッファメモ
リを用いてメモリカード本体11の内部で自動的に処理
されるので、メモリカード本体11の取り扱いとして
は、全くSRAMカードライクに使用することができ
る。
【0028】ここで、上記EEPROM16は、図2に
示すように、0000〜XXXX番地よりなる記憶領域
を有しており、この記憶領域は、データを扱う際の最小
単位である一定容量の複数のブロック1〜M(1ブロッ
クは通常数kバイト)に分割されている。このうち、ブ
ロック1〜Nまでが、通常のデータを記録するデータ領
域となっている。このデータ領域は、メモリカード本体
11の外部から直接アクセスすることが可能であり、コ
ネクタ12を介して直接アドレスを指定することによっ
て、数百バイトでなるページ単位のデータ書き込み及び
読み出しを繰り返すことにより、自由にブロック単位で
のデータ書き込み及び読み出しを行なうことができる。
示すように、0000〜XXXX番地よりなる記憶領域
を有しており、この記憶領域は、データを扱う際の最小
単位である一定容量の複数のブロック1〜M(1ブロッ
クは通常数kバイト)に分割されている。このうち、ブ
ロック1〜Nまでが、通常のデータを記録するデータ領
域となっている。このデータ領域は、メモリカード本体
11の外部から直接アクセスすることが可能であり、コ
ネクタ12を介して直接アドレスを指定することによっ
て、数百バイトでなるページ単位のデータ書き込み及び
読み出しを繰り返すことにより、自由にブロック単位で
のデータ書き込み及び読み出しを行なうことができる。
【0029】また、ブロックN+1〜Mまでが、書き込
み不良によりデータ領域に書き込めなかったデータが書
き込まれる救済領域となっている。この救済領域は、メ
モリカード本体11の外部から直接アクセスすることは
禁止されており、救済領域に対するデータの書き込み及
び読み出しは、データ入出力制御回路14の指示により
行なわれる。
み不良によりデータ領域に書き込めなかったデータが書
き込まれる救済領域となっている。この救済領域は、メ
モリカード本体11の外部から直接アクセスすることは
禁止されており、救済領域に対するデータの書き込み及
び読み出しは、データ入出力制御回路14の指示により
行なわれる。
【0030】図3は、上記EEPROM16内に設けら
れる救済領域の管理テーブルを示している。すなわち、
救済領域のブロック番号N+1〜Mと、データ領域で書
き込み不良の発生したブロックの先頭アドレスとが1対
1で対応するように構成されており、先頭アドレスが書
き込まれる前は0000にセットされている。図3に示
す例では、ブロックN+1〜Y−1が既に書き込み不良
の救済に使用されている状態を示し、データ領域の書き
込み不良が発生したブロックの先頭アドレスAAAA〜
DDDDがそれぞれ記録されている。
れる救済領域の管理テーブルを示している。すなわち、
救済領域のブロック番号N+1〜Mと、データ領域で書
き込み不良の発生したブロックの先頭アドレスとが1対
1で対応するように構成されており、先頭アドレスが書
き込まれる前は0000にセットされている。図3に示
す例では、ブロックN+1〜Y−1が既に書き込み不良
の救済に使用されている状態を示し、データ領域の書き
込み不良が発生したブロックの先頭アドレスAAAA〜
DDDDがそれぞれ記録されている。
【0031】ここで、データ領域内のブロックXにデー
タを書き込もうとしたところ書き込み不良が発生した場
合について説明する。すなわち、データ入出力制御回路
14は、ブロックXに対して書き込みベリファイ処理を
所定回数行なっても一致が得られなかった場合、ブロッ
クXを書き込み不良と判定する。すると、データ入出力
制御回路14は、図3に示した管理テーブルを検索し、
救済領域内の空きのあるブロックをサーチする。
タを書き込もうとしたところ書き込み不良が発生した場
合について説明する。すなわち、データ入出力制御回路
14は、ブロックXに対して書き込みベリファイ処理を
所定回数行なっても一致が得られなかった場合、ブロッ
クXを書き込み不良と判定する。すると、データ入出力
制御回路14は、図3に示した管理テーブルを検索し、
救済領域内の空きのあるブロックをサーチする。
【0032】この場合、ブロック番号Yに空きがあるの
で、データ入出力制御回路14は、救済領域のブロック
Yを選択し、そのブロックYにブロックXに書き込めな
かったデータを書き込み、書き込みベリファイ処理によ
り書き込みが成立した場合に管理テーブルのブロック番
号Yの部分にブロックXの先頭アドレスYYYYを書き
込み、ここに救済処置が完了される。
で、データ入出力制御回路14は、救済領域のブロック
Yを選択し、そのブロックYにブロックXに書き込めな
かったデータを書き込み、書き込みベリファイ処理によ
り書き込みが成立した場合に管理テーブルのブロック番
号Yの部分にブロックXの先頭アドレスYYYYを書き
込み、ここに救済処置が完了される。
【0033】そして、EEPROM16からのデータの
読み出しについては、データ入出力制御回路14は、外
部からアドレスによって読み出しが要求されたデータ領
域のブロックの先頭アドレスと、管理テーブルに書き込
まれた全ての先頭アドレスとを照合し、一致した場合
に、その一致した先頭アドレスに対応する救済領域のブ
ロックからデータを読み出すように制御する。
読み出しについては、データ入出力制御回路14は、外
部からアドレスによって読み出しが要求されたデータ領
域のブロックの先頭アドレスと、管理テーブルに書き込
まれた全ての先頭アドレスとを照合し、一致した場合
に、その一致した先頭アドレスに対応する救済領域のブ
ロックからデータを読み出すように制御する。
【0034】また、EEPROM16のデータの消去に
ついても、データの読み出しと同様に、データ入出力制
御回路14は、外部からアドレスによって読み出しが要
求されたデータ領域のブロックの先頭アドレスと、管理
テーブルに書き込まれた全ての先頭アドレスとを照合
し、一致した場合に、その一致した先頭アドレスに対応
する救済領域のブロックからデータを消去するように制
御する。
ついても、データの読み出しと同様に、データ入出力制
御回路14は、外部からアドレスによって読み出しが要
求されたデータ領域のブロックの先頭アドレスと、管理
テーブルに書き込まれた全ての先頭アドレスとを照合
し、一致した場合に、その一致した先頭アドレスに対応
する救済領域のブロックからデータを消去するように制
御する。
【0035】ところで、上記救済領域も、EEPROM
16内に存在するため、ブロックN+1〜Mにも書き込
み不良が発生する場合がある。このような場合、データ
入出力制御回路14は、管理テーブルの書き込み不良が
発生したブロック番号の部分に、先頭アドレスに代えて
使用禁止フラグを記録する。この使用禁止フラグは、デ
ータ領域に存在しないアドレスとして例えば1111等
が選ばれる。そして、データ入出力制御回路14は、検
索した救済領域の空きブロックYが書き込み不良であれ
ば、次の空きブロックY+1を管理テーブルより検索
し、データの書き込みを行なわせるように動作する。
16内に存在するため、ブロックN+1〜Mにも書き込
み不良が発生する場合がある。このような場合、データ
入出力制御回路14は、管理テーブルの書き込み不良が
発生したブロック番号の部分に、先頭アドレスに代えて
使用禁止フラグを記録する。この使用禁止フラグは、デ
ータ領域に存在しないアドレスとして例えば1111等
が選ばれる。そして、データ入出力制御回路14は、検
索した救済領域の空きブロックYが書き込み不良であれ
ば、次の空きブロックY+1を管理テーブルより検索
し、データの書き込みを行なわせるように動作する。
【0036】また、救済領域が満杯になっても、さらに
データ領域のブロックに書き込み不良が発生した場合に
は、データ領域の空きブロックを救済用として利用する
こともできる。この場合、管理テーブルは、図4に示す
ように、データ領域と救済領域とを合わせた全てのブロ
ック番号1〜Mと、データ領域で書き込み不良の発生し
たブロックの先頭アドレスとが1対1で対応するように
構成されており、データ領域で既に正規のデータ記録に
使用されているブロック番号の部分には、使用禁止フラ
グとして1111が記録され、データ領域でまだデータ
が記録されていないブロック番号の部分に0000が記
録されている。
データ領域のブロックに書き込み不良が発生した場合に
は、データ領域の空きブロックを救済用として利用する
こともできる。この場合、管理テーブルは、図4に示す
ように、データ領域と救済領域とを合わせた全てのブロ
ック番号1〜Mと、データ領域で書き込み不良の発生し
たブロックの先頭アドレスとが1対1で対応するように
構成されており、データ領域で既に正規のデータ記録に
使用されているブロック番号の部分には、使用禁止フラ
グとして1111が記録され、データ領域でまだデータ
が記録されていないブロック番号の部分に0000が記
録されている。
【0037】ここで、救済領域が満杯で、かつ、データ
領域内のブロックXにデータを書き込もうとしたところ
書き込み不良が発生した場合について説明する。すなわ
ち、データ入出力制御回路14は、ブロックXが書き込
み不良と判定すると、管理テーブルを検索し救済領域内
の空きのあるブロックN+1〜Mをサーチする。そし
て、救済領域に空きなしと判定すると、データ入出力制
御回路14は、管理テーブルのデータ領域内の空きのあ
るブロック1〜Nを検索する。
領域内のブロックXにデータを書き込もうとしたところ
書き込み不良が発生した場合について説明する。すなわ
ち、データ入出力制御回路14は、ブロックXが書き込
み不良と判定すると、管理テーブルを検索し救済領域内
の空きのあるブロックN+1〜Mをサーチする。そし
て、救済領域に空きなしと判定すると、データ入出力制
御回路14は、管理テーブルのデータ領域内の空きのあ
るブロック1〜Nを検索する。
【0038】この場合、ブロックN−1に空きがあるの
で、データ入出力制御回路14は、そのブロックN−1
にブロックXに書き込めなかったデータを書き込み、書
き込みベリファイ処理により書き込みが成立した場合
に、管理テーブルのブロック番号N−1の部分にブロッ
クXの先頭アドレスYYYYを書き込み、ここに救済処
置が完了される。
で、データ入出力制御回路14は、そのブロックN−1
にブロックXに書き込めなかったデータを書き込み、書
き込みベリファイ処理により書き込みが成立した場合
に、管理テーブルのブロック番号N−1の部分にブロッ
クXの先頭アドレスYYYYを書き込み、ここに救済処
置が完了される。
【0039】ところで、上記のように、救済領域が満杯
でデータ領域の一部を救済に使用している状態で、EE
PROM16に記録されているあるデータが不要にな
り、これを消去したとする。このとき、消去したデータ
が複数のブロック1,2,3に分散されて記録されてお
り、そのブロックの1つ(例えばブロック2)が書き込
み不良で該ブロック2に書き込むべきデータ部分が救済
領域のブロックN+2に書き込まれていたとする。する
と、このデータを消去した場合、当然、ブロック1,
3,N+2が空きブロックとなる。つまり、満杯であっ
た救済領域のブロックN+2に空きができることにな
る。
でデータ領域の一部を救済に使用している状態で、EE
PROM16に記録されているあるデータが不要にな
り、これを消去したとする。このとき、消去したデータ
が複数のブロック1,2,3に分散されて記録されてお
り、そのブロックの1つ(例えばブロック2)が書き込
み不良で該ブロック2に書き込むべきデータ部分が救済
領域のブロックN+2に書き込まれていたとする。する
と、このデータを消去した場合、当然、ブロック1,
3,N+2が空きブロックとなる。つまり、満杯であっ
た救済領域のブロックN+2に空きができることにな
る。
【0040】一方、上述したように、このメモリカード
本体11では、救済領域が満杯の場合データ領域の一部
を救済に使用しているが、データ領域はメモリカード本
体11の外部から直接アクセス可能な領域、つまり、デ
ータ領域の容量がこのメモリカード本体11を外部から
見たときの全データ記録容量となるため、データ領域が
救済用に使用されているということは、取りも直さず、
メモリカード本体11を外部から見たときの全データ記
録容量が削減されたことになる。
本体11では、救済領域が満杯の場合データ領域の一部
を救済に使用しているが、データ領域はメモリカード本
体11の外部から直接アクセス可能な領域、つまり、デ
ータ領域の容量がこのメモリカード本体11を外部から
見たときの全データ記録容量となるため、データ領域が
救済用に使用されているということは、取りも直さず、
メモリカード本体11を外部から見たときの全データ記
録容量が削減されたことになる。
【0041】そこで、上記のようにデータを消去した結
果、救済領域のブロックに空きができた場合、上記デー
タ入出力制御回路14は、データ領域の中で救済用とし
て使用されているブロック(図4ではブロックN−1)
のデータを、空きのできた救済領域のブロックN+2に
自動的に転送し、データ領域のブロックN−1を空きブ
ロックとして、メモリカード本体11を外部から見たと
きの全データ記録容量が不要に削減されることを防止し
ている。
果、救済領域のブロックに空きができた場合、上記デー
タ入出力制御回路14は、データ領域の中で救済用とし
て使用されているブロック(図4ではブロックN−1)
のデータを、空きのできた救済領域のブロックN+2に
自動的に転送し、データ領域のブロックN−1を空きブ
ロックとして、メモリカード本体11を外部から見たと
きの全データ記録容量が不要に削減されることを防止し
ている。
【0042】したがって、上記実施例のような構成によ
れば、データ領域の一部のブロックに書き込み不良が発
生したとき、管理テーブルから救済領域の空きのあるブ
ロックを検索して、その不良ブロックに書き込めなかっ
たデータを、救済領域のブロックに書き込むようにした
ので、一部に書き込み不良が発生したEEPROM16
をそのまま継続して使用することができ、経済的に有利
で実用に適するものである。
れば、データ領域の一部のブロックに書き込み不良が発
生したとき、管理テーブルから救済領域の空きのあるブ
ロックを検索して、その不良ブロックに書き込めなかっ
たデータを、救済領域のブロックに書き込むようにした
ので、一部に書き込み不良が発生したEEPROM16
をそのまま継続して使用することができ、経済的に有利
で実用に適するものである。
【0043】また、救済領域が満杯になった場合には、
データ領域の空きブロックを救済用として利用し、デー
タの消去により救済領域のブロックに空きができたとき
は、データ領域の救済用として使用されているブロック
のデータを、救済領域の空きブロックに自動的に転送し
て、データ領域に空きブロックをより多く確保するよう
にしたので、EEPROM16の記憶領域の有効利用を
図ることができる。
データ領域の空きブロックを救済用として利用し、デー
タの消去により救済領域のブロックに空きができたとき
は、データ領域の救済用として使用されているブロック
のデータを、救済領域の空きブロックに自動的に転送し
て、データ領域に空きブロックをより多く確保するよう
にしたので、EEPROM16の記憶領域の有効利用を
図ることができる。
【0044】次に、図5は、この発明の他の実施例を示
している。すなわち、EEPROM16は、図5に示す
ように、0000〜XXXX番地よりなる記憶領域を有
しており、この記憶領域は複数のブロック1〜Mに分割
されている。そして、初期状態では、各ブロック1〜M
は全て通常のデータを記録するデータ領域となってお
り、メモリカード本体11の外部からアドレスを指定す
ることによって、自由にブロック単位でのデータの書き
込み及び読み出しを行なうことができる。
している。すなわち、EEPROM16は、図5に示す
ように、0000〜XXXX番地よりなる記憶領域を有
しており、この記憶領域は複数のブロック1〜Mに分割
されている。そして、初期状態では、各ブロック1〜M
は全て通常のデータを記録するデータ領域となってお
り、メモリカード本体11の外部からアドレスを指定す
ることによって、自由にブロック単位でのデータの書き
込み及び読み出しを行なうことができる。
【0045】図6は、EEPROM16内に設けられた
管理テーブルを示している。すなわち、この管理テーブ
ルは、図中左列がブロック番号1〜Mを示し、図中右列
がデータ領域か救済領域であるかを示しており、救済領
域に指定されたブロックに対しては、その救済ブロック
番号と、該救済ブロックで救済した書き込み不良ブロッ
クの先頭アドレスとが1対1で対応するように構成され
ている。図6では初期状態を示し、全てのブロックに未
使用ブロックであることを示す0000がセットされて
いる。
管理テーブルを示している。すなわち、この管理テーブ
ルは、図中左列がブロック番号1〜Mを示し、図中右列
がデータ領域か救済領域であるかを示しており、救済領
域に指定されたブロックに対しては、その救済ブロック
番号と、該救済ブロックで救済した書き込み不良ブロッ
クの先頭アドレスとが1対1で対応するように構成され
ている。図6では初期状態を示し、全てのブロックに未
使用ブロックであることを示す0000がセットされて
いる。
【0046】ここで、ブロックXにデータを書き込もう
としたところ書き込み不良が発生した場合について説明
する。すなわち、データ入出力制御回路14は、ブロッ
クXに対して書き込みベリファイ処理を所定回数行なっ
ても一致が得られなかった場合、ブロックXを書き込み
不良と判定する。すると、データ入出力制御回路14
は、図6に示した管理テーブルを検索し空きのあるブロ
ック(テーブル内容0000)を、エンドブロック番号
M側からサーチする。
としたところ書き込み不良が発生した場合について説明
する。すなわち、データ入出力制御回路14は、ブロッ
クXに対して書き込みベリファイ処理を所定回数行なっ
ても一致が得られなかった場合、ブロックXを書き込み
不良と判定する。すると、データ入出力制御回路14
は、図6に示した管理テーブルを検索し空きのあるブロ
ック(テーブル内容0000)を、エンドブロック番号
M側からサーチする。
【0047】この場合、ブロック番号Mに空きがあるの
で、データ入出力制御回路14は、ブロックMを書き込
み不良の生じたブロックXの代替(救済)ブロックとし
て選択し、そのブロックMにブロックXに書き込めなか
ったデータを書き込み、書き込みベリファイ処理により
書き込みが成立した場合に管理テーブルのブロック番号
Mの部分にブロックXの先頭アドレスMMMMを書き込
み、ここに救済処置が完了される。
で、データ入出力制御回路14は、ブロックMを書き込
み不良の生じたブロックXの代替(救済)ブロックとし
て選択し、そのブロックMにブロックXに書き込めなか
ったデータを書き込み、書き込みベリファイ処理により
書き込みが成立した場合に管理テーブルのブロック番号
Mの部分にブロックXの先頭アドレスMMMMを書き込
み、ここに救済処置が完了される。
【0048】また、他のブロックが書き込み不良と判定
されると、データ入出力制御回路14は、ブロックM−
1を救済ブロックとして選択し、以下同様に、書き込み
不良ブロックが検出される毎に、ブロックM−2,M−
3,……というように順次若い番号のブロックが救済ブ
ロックとして選択される。この場合、データ入出力制御
回路14は、書き込み不良ブロックを最後に救済したブ
ロックの位置、または次に書き込み不良ブロックを救済
する予定のブロックの位置を、ポインタとして持ってい
るようにすれば、空きブロックを検索する工程を省略す
ることができ効率的となる。
されると、データ入出力制御回路14は、ブロックM−
1を救済ブロックとして選択し、以下同様に、書き込み
不良ブロックが検出される毎に、ブロックM−2,M−
3,……というように順次若い番号のブロックが救済ブ
ロックとして選択される。この場合、データ入出力制御
回路14は、書き込み不良ブロックを最後に救済したブ
ロックの位置、または次に書き込み不良ブロックを救済
する予定のブロックの位置を、ポインタとして持ってい
るようにすれば、空きブロックを検索する工程を省略す
ることができ効率的となる。
【0049】図7は、上記のような書き込み不良ブロッ
クの救済処置を行なった結果、ブロックN+1〜Mが救
済ブロックとなり、他のブロック1〜Nが通常のデータ
を記録するデータ領域となった状態を示している。ここ
で、ブロックNに既にデータが記録されており、ブロッ
クN−1,Yに空きがある状態で、ブロックXにデータ
を書き込もうとしたところ書き込み不良が発生したとす
る。すると、データ入出力制御回路14は、ブロックX
を書き込み不良と判定した場合、ブロックNを救済ブロ
ックに指定することになるが、ブロックNには既にデー
タが記録されている。
クの救済処置を行なった結果、ブロックN+1〜Mが救
済ブロックとなり、他のブロック1〜Nが通常のデータ
を記録するデータ領域となった状態を示している。ここ
で、ブロックNに既にデータが記録されており、ブロッ
クN−1,Yに空きがある状態で、ブロックXにデータ
を書き込もうとしたところ書き込み不良が発生したとす
る。すると、データ入出力制御回路14は、ブロックX
を書き込み不良と判定した場合、ブロックNを救済ブロ
ックに指定することになるが、ブロックNには既にデー
タが記録されている。
【0050】この場合、データ入出力制御回路14は、
ブロックNのデータをデータ領域で空きのあるブロック
Yに転送し、ブロックNを消去してそこにブロックXに
書き込むべきデータを書き込むように制御する。また、
データの消去により複数の救済ブロックの中に空きブロ
ックができたときは、最後に救済したブロックのデータ
をそこに転送することにより、複数の救済ブロックの中
に空きブロックが生じないようにして、EEPROM1
6の記憶領域の有効利用を図っている。
ブロックNのデータをデータ領域で空きのあるブロック
Yに転送し、ブロックNを消去してそこにブロックXに
書き込むべきデータを書き込むように制御する。また、
データの消去により複数の救済ブロックの中に空きブロ
ックができたときは、最後に救済したブロックのデータ
をそこに転送することにより、複数の救済ブロックの中
に空きブロックが生じないようにして、EEPROM1
6の記憶領域の有効利用を図っている。
【0051】したがって、上記実施例のような構成によ
れば、救済領域を固定的に設けず、書き込み不良ブロッ
クが発生する毎に救済ブロックを増加させていくように
したので、データ領域を有効に使用することができる。
また、救済ブロックは、エンドブロックMから順次若い
番号のブロックへと増加し、途中にデータの記録された
ブロックNがあった場合には、そのブロックNのデータ
をデータ領域の空きブロックYに転送してブロックNを
救済ブロックに変更するようにしているので、複数の救
済ブロックが記憶領域の中でばらばらに点在することが
なくなり、データ領域及び救済ブロックの両方の管理を
容易に行なうことができる。
れば、救済領域を固定的に設けず、書き込み不良ブロッ
クが発生する毎に救済ブロックを増加させていくように
したので、データ領域を有効に使用することができる。
また、救済ブロックは、エンドブロックMから順次若い
番号のブロックへと増加し、途中にデータの記録された
ブロックNがあった場合には、そのブロックNのデータ
をデータ領域の空きブロックYに転送してブロックNを
救済ブロックに変更するようにしているので、複数の救
済ブロックが記憶領域の中でばらばらに点在することが
なくなり、データ領域及び救済ブロックの両方の管理を
容易に行なうことができる。
【0052】さらに、データの消去により複数の救済ブ
ロックの中に空きブロックができたときは、最後に救済
したブロックのデータをそこに転送することにより、E
EPROM16の記憶領域の有効利用を図ることができ
る。また、上記実施例では、書き込み不良が発生したと
きに始めてブロックNの使用状態をチェックしている
が、ブロックNの1つ前にブロックN−1が救済用とし
て使用されたときに、予め次に救済ブロックとなる予定
のブロックNの使用状態をチェックしておき、使用中で
ある場合はブロックNのデータを他の空きブロックに移
し変えておくようにすれば、より一層効率的となる。
ロックの中に空きブロックができたときは、最後に救済
したブロックのデータをそこに転送することにより、E
EPROM16の記憶領域の有効利用を図ることができ
る。また、上記実施例では、書き込み不良が発生したと
きに始めてブロックNの使用状態をチェックしている
が、ブロックNの1つ前にブロックN−1が救済用とし
て使用されたときに、予め次に救済ブロックとなる予定
のブロックNの使用状態をチェックしておき、使用中で
ある場合はブロックNのデータを他の空きブロックに移
し変えておくようにすれば、より一層効率的となる。
【0053】なお、この発明は上記各実施例に限定され
るものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種
々変形して実施することができる。
るものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種
々変形して実施することができる。
【0054】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
一部に書き込み不良が発生したEEPROMでも継続し
て使用することができるとともに、そのEEPROMの
記憶領域の有効利用を図ることができ、経済的に有利で
実用に供し得る極めて良好なメモリカード装置を提供す
ることができる。
一部に書き込み不良が発生したEEPROMでも継続し
て使用することができるとともに、そのEEPROMの
記憶領域の有効利用を図ることができ、経済的に有利で
実用に供し得る極めて良好なメモリカード装置を提供す
ることができる。
【図1】この発明に係るメモリカード装置の一実施例を
示すブロック構成図。
示すブロック構成図。
【図2】同実施例におけるEEPROMの記憶領域を示
す図。
す図。
【図3】同実施例における管理テーブルの詳細を示す
図。
図。
【図4】同実施例で救済領域が満杯になった場合の対策
を示す図。
を示す図。
【図5】この発明の他の実施例におけるEEPROMの
記憶領域を示す図。
記憶領域を示す図。
【図6】同他の実施例における管理テーブルの詳細を示
す図。
す図。
【図7】同他の実施例におけるEEPROMへの記録動
作を示す図。
作を示す図。
【図8】SRAMカードとEEPROMカードとの長短
を比較して示す図。
を比較して示す図。
11…メモリカード本体、12…コネクタ、13…バス
ライン、14…データ入出力制御回路、15…バスライ
ン、16…EEPROM。
ライン、14…データ入出力制御回路、15…バスライ
ン、16…EEPROM。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丸山 晃司 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株式会社東芝映像メディア技術研究所内 (72)発明者 佐藤 聡明 東京都港区新橋3丁目3番9号 東芝エ ー・ブイ・イー株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−286199(JP,A) 特開 昭61−58063(JP,A) 特開 昭61−227300(JP,A) 特開 平2−118999(JP,A) 特開 平5−46489(JP,A) 特開 昭63−24340(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 12/16 G06F 3/08 G06K 19/07 G11C 16/02
Claims (2)
- 【請求項1】 それぞれが一定容量の複数のブロックで
構成されるデータ領域及び救済領域を有するEEPRO
Mと、このEEPROMのデータ領域のブロックに書き
込み不良が検出された状態で、該不良ブロックに書き込
むデータを前記救済領域の空きブロックを検索して書き
込む第1の救済手段と、この第1の救済手段により前記
救済領域が満杯になり、かつ、前記データ領域のブロッ
クに書き込み不良が検出された状態で、該不良ブロック
に書き込むデータを前記データ領域の空きブロックを検
索して書き込む第2の救済手段と、この第2の救済手段
によりデータ領域のブロックが救済用に使用されている
状態で、データの消去により前記救済領域に空きブロッ
クができたことを検出し、該空きブロックにデータ領域
で救済用に使用されているブロックのデータを移し変え
る制御手段とを具備してなることを特徴とするメモリカ
ード装置。 - 【請求項2】 一定容量の複数のブロックで構成される
データ領域を有するEEPROMと、このEEPROM
のデータ領域のブロックに書き込み不良が検出された状
態で、該不良ブロックに書き込むデータを前記データ領
域の空きブロックを検索して書き込む救済手段と、この
救済手段によってデータの書き込まれたブロックが前記
データ領域内に連続して配置されるように制御する第1
の制御手段と、この第1の制御手段により、前記救済手
段によってデータの書き込まれたブロックが前記データ
領域内に連続的に形成されている状態で、データ書き込
み済みのブロックが不良ブロックの代替として割り当て
られたとき、該ブロックのデータをデータ領域内の空き
ブロックに移し変えて、不良ブロックの代替として割り
当てられるブロックの連続性を維持させる第2の制御手
段とを具備してなることを特徴とするメモリカード装
置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31716991A JP3122201B2 (ja) | 1991-11-30 | 1991-11-30 | メモリカード装置 |
US08/211,635 US5483491A (en) | 1991-11-30 | 1992-11-30 | Memory card device |
PCT/JP1992/001565 WO1993011491A1 (en) | 1991-11-30 | 1992-11-30 | Memory card device |
EP92924030A EP0615193A4 (en) | 1991-11-30 | 1992-11-30 | MEMORY CARD. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31716991A JP3122201B2 (ja) | 1991-11-30 | 1991-11-30 | メモリカード装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05151098A JPH05151098A (ja) | 1993-06-18 |
JP3122201B2 true JP3122201B2 (ja) | 2001-01-09 |
Family
ID=18085230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31716991A Expired - Fee Related JP3122201B2 (ja) | 1991-11-30 | 1991-11-30 | メモリカード装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5483491A (ja) |
EP (1) | EP0615193A4 (ja) |
JP (1) | JP3122201B2 (ja) |
WO (1) | WO1993011491A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7190617B1 (en) | 1989-04-13 | 2007-03-13 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
US6230233B1 (en) | 1991-09-13 | 2001-05-08 | Sandisk Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
TW261687B (ja) * | 1991-11-26 | 1995-11-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
US6347051B2 (en) | 1991-11-26 | 2002-02-12 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
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JP3244031B2 (ja) * | 1997-08-20 | 2002-01-07 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
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JP4897524B2 (ja) * | 2007-03-15 | 2012-03-14 | 株式会社日立製作所 | ストレージシステム及びストレージシステムのライト性能低下防止方法 |
US8327066B2 (en) | 2008-09-30 | 2012-12-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of managing a solid state drive, associated systems and implementations |
US8134856B2 (en) * | 2008-11-05 | 2012-03-13 | Qualcomm Incorporated | Data protection scheme during power-up in spin transfer torque magnetoresistive random access memory |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5693198A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-28 | Fujitsu Ltd | Main memory control system |
JPS56163600A (en) * | 1980-05-21 | 1981-12-16 | Fujitsu Ltd | Memory control system |
JPS63219045A (ja) * | 1987-03-09 | 1988-09-12 | Hitachi Ltd | Icカ−ド |
JPS63305444A (ja) * | 1987-06-08 | 1988-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | 記憶装置 |
EP0389203A3 (en) * | 1989-03-20 | 1993-05-26 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device having information indicative of presence of defective memory cells |
DE69033438T2 (de) * | 1989-04-13 | 2000-07-06 | Sandisk Corp., Santa Clara | Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze |
JPH0475152A (ja) * | 1990-07-17 | 1992-03-10 | Fujitsu Ltd | 不揮発メモリシステム |
JPH04123243A (ja) * | 1990-09-14 | 1992-04-23 | Toshiba Corp | データ書込装置 |
JPH05109292A (ja) * | 1991-10-14 | 1993-04-30 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
-
1991
- 1991-11-30 JP JP31716991A patent/JP3122201B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-11-30 US US08/211,635 patent/US5483491A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-11-30 WO PCT/JP1992/001565 patent/WO1993011491A1/ja not_active Application Discontinuation
- 1992-11-30 EP EP92924030A patent/EP0615193A4/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0615193A4 (en) | 1995-03-08 |
EP0615193A1 (en) | 1994-09-14 |
US5483491A (en) | 1996-01-09 |
WO1993011491A1 (en) | 1993-06-10 |
JPH05151098A (ja) | 1993-06-18 |
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