JP2009530758A - メモリデバイス分散型制御器システム - Google Patents

メモリデバイス分散型制御器システム Download PDF

Info

Publication number
JP2009530758A
JP2009530758A JP2009500431A JP2009500431A JP2009530758A JP 2009530758 A JP2009530758 A JP 2009530758A JP 2009500431 A JP2009500431 A JP 2009500431A JP 2009500431 A JP2009500431 A JP 2009500431A JP 2009530758 A JP2009530758 A JP 2009530758A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
controller
data cache
memory array
memory
analog
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009500431A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4936086B2 (ja
Inventor
サンティス,ルカ デ
ピロッリ,ルイージ
Original Assignee
マイクロン テクノロジー, インク.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by マイクロン テクノロジー, インク. filed Critical マイクロン テクノロジー, インク.
Publication of JP2009530758A publication Critical patent/JP2009530758A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4936086B2 publication Critical patent/JP4936086B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1668Details of memory controller
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/061Improving I/O performance
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/0802Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
    • G06F12/0875Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches with dedicated cache, e.g. instruction or stack
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/0802Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
    • G06F12/0893Caches characterised by their organisation or structure
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0655Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
    • G06F3/0659Command handling arrangements, e.g. command buffers, queues, command scheduling
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0683Plurality of storage devices
    • G06F3/0688Non-volatile semiconductor memory arrays
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4074Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/04Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
    • G11C16/0483Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106Data output latches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/16Storage of analogue signals in digital stores using an arrangement comprising analogue/digital [A/D] converters, digital memories and digital/analogue [D/A] converters 
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/20Employing a main memory using a specific memory technology
    • G06F2212/202Non-volatile memory
    • G06F2212/2022Flash memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/45Caching of specific data in cache memory
    • G06F2212/452Instruction code
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/22Control and timing of internal memory operations
    • G11C2207/2245Memory devices with an internal cache buffer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Non-Volatile Memory (AREA)
  • Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)

Abstract

メモリデバイス分散型制御器回路は、メモリ制御機能を複数のメモリ制御器に分散する。マスター制御器は、解釈されたコマンドを受け取り、適切なスレーブ制御器をそのコマンドに応じて活性化する。スレーブ制御器は、データキャッシュ制御器とアナログ制御器を含んでもよく、データキャッシュ制御器は、データキャッシュに接続され、データキャッシュを制御し、また、アナログ制御器は、アナログ電圧生成回路に接続され、アナログ電圧生成回路を制御する。それぞれの制御器は、適切なソフトウェア/ファームウェア命令を有し、この命令は、受け取ったコマンドに応じてそれぞれの制御器がとる応答を決定する。
【選択図】図2

Description

本発明は、一般的にメモリデバイスに係り、より具体的には、本発明は不揮発性メモリデバイスに係る。
メモリデバイスは通常、コンピュータやその他の電子デバイス内の内部半導体集積回路として提供される。ランダムアクセスメモリ(RAM)、リードオンリーメモリ(ROM)、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)、シンクロナスダイナミックランダムアクセスメモリ(SDRAM)、および、フラッシュメモリを含む、多様なメモリが存在する。
フラッシュメモリデバイスは広範囲の電子工学応用のための、不揮発性メモリの主要な供給源へと発展している。一般的なフラッシュメモリの用途はパーソナルコンピュータ、パーソナルディジタルアシスタント(PDA)、デジタルカメラ、携帯電話を含む。基本的な入力/出力システム(BIOS)などのプログラムコードとシステムデータは、一般的にフラッシュメモリデバイス内に記憶され、パーソナルコンピュータシステムのために使用される。
フラッシュメモリデバイスは通常、フローティングゲートと、1トランジスタメモリセルと、を使用し、これは、高いメモリ密度と、高い信頼性と、低消費電力とを可能にする。フローティングゲート上の電荷の加減は、セルに対する閾値電圧(V)を決定し、それにより、セルのプログラムされた(書き込まれた)状態/消去された状態を、決定する。例えば、メモリセルが負の閾値を有する場合は、論理「1」状態を持つ。閾値が正の場合は、セルは論理「0」状態を持つ。典型的には、消去されたメモリセルは、論理「1」状態にある。
1ビットあたりの価格を減らすために、メモリ製造業者は、1セルあたりに複数のビットを記憶することが可能なマルチレベルフラッシュメモリセルを開発してきた。1メモリセルがデータの「n」ビットを記憶する場合、メモリセルは2の状態、もしくは2の閾値電圧レベルを有する。例えば、メモリセルが2データビットを記憶する場合、セルは4つの閾値電圧(V)帯を有する。
フラッシュメモリアレイアーキテクチャの2つの一般的な型式は、「NAND」と「NOR」アーキテクチャである。これらのアーキテクチャは、それぞれのアーキテクチャの基本的なメモリセルの構成が、基本的なNANDゲート回路、もしくはNORゲート回路と、それぞれ、類似点を有することから名付けられた。
フラッシュメモリデバイスは、一連の動作によってプログラムされ、および、消去される。プログラム動作は典型的に、デバイスのメモリセルのブロックに、プログラミングパルスと、プログラム‐検証読み出しパルスを、連続して適用するステップを含む。プログラミングパルス/読み出し動作は、繰り返しごとに徐々に増加するプログラミングパルスを用いて、セルがプログラムされるまで繰り返される。
消去動作は通常、予備プログラミングサイクル(pre−programing cycle)、消去サイクル、および、ソフトプログラムサイクル(soft program cycle)を含む。予備プログラミングサイクルは、メモリブロックにあるメモリセルの各行にプログラムパルスを適用することで、メモリセルを、既知のプログラムされ
た状態にする。消去サイクルは、フローティングゲートから電荷を取り除き、それをさらに負にする。ソフトプログラムサイクルは、消去サイクルが完了した後で、セルの過剰な消去を補正する。通常のプログラミングパルスよりも低い振幅を有するプログラミングパルスを適用することによって、過剰に消去されたセルの閾値電圧が適切なレベルに戻される。
図1は、典型的な従来技術のフラッシュメモリデバイスのブロック図を図解する。そのようなデバイスは、データを記憶するためのメモリアレイ101を含んでいる。メモリアレイ101は、先に述べたように、複数のメモリセルを含んでおり、それらは行と列の形式で連結される。セルの行は、ワード線によって接続され、列はビット線によって接続される。
データキャッシュ103が、アレイ101に接続され、アレイ101に書き込まれるデータ、および、アレイ101から読み出されたデータを一時的に記憶する。データ入力/出力ブロック105は、アレイ101に入出力する読み出しならびに書き込みを制御するための制御回路である。
チップの動作と関連するメモリパラメータを記憶するためのメモリの不揮発性領域にあるヒューズ領域106。これらのパラメータには、メモリブロックロックコマンド、電圧、タイミング、および、他のそのような種類のパラメータが含まれ得る。アナログブロック108は、集積回路の動作に必要な様々な電圧の生成に関与する。例えば、書き込み動作および消去動作は、異なる電圧が、様々な選択された、および、選択されていないワード線ならびにビット線に適用されることを必要とする。
コマンド状態マシーン(CMS:command state machine)112は、アルゴリズム制御器110に接続され、集積回路パッド114を介して入力されたユーザーコマンドを解釈する。アルゴリズム制御器110は、典型的には、CSM112からの解釈されたコマンドに応じて読み出し動作、プログラム動作、消去動作のための制御信号、および信号列を生成する状態マシーン、または、プロセッサである。制御器110は、また、アナログブロック108からのアナログ電圧の生成も制御する。
フラッシュメモリデバイス制御回路110は、先に記載したメモリ動作を行うことで、フラッシュメモリの様々な要素を管理する。この制御器は、プログラム動作、消去動作、および、その他のメモリ動作の期間中に、電圧源を制御するために、メモリデバイスのアナログ電圧生成器にアクチュエーター信号を送るように、ハードワイヤードのアクチュエーターと接続される。
これら制御器とハードワイヤードのアクチュエーターに伴う1つの問題は、特定の用途に対する固定されたデザインであることである。回路は、他の用途のために、容易には再構成することもしくは更新することができない。これらは、フラッシュメモリデバイスの柔軟性(flexibility)を制限する。
先に述べた理由で、および、本明細書を読んで理解すると当業者に明らかになる以下で述べるその他の理由で、多様な用途に適用可能なメモリ制御器回路のための技術が必要であることがわかる。
メモリデバイスに伴う先に述べた問題と、その他の問題は、本発明によって取り扱われ、以下の明細書を読んで学ぶことによって理解されるだろう。
本発明の実施形態は、フラッシュメモリデバイスにおける分散型制御器システムを包含する。メモリデバイスは、メモリアレイ、アナログ電圧生成回路、およびデータキャッシュを含む。一実施形態において、分散型制御器システムは、データキャッシュに接続され、データキャッシュを制御するように構成されたデータキャッシュ制御器と、アナログ電圧生成回路に接続され、アナログ電圧生成回路を制御するように構成されたアナログ制御器と、メモリアレイに接続され、メモリアレイを制御するように構成されたマスター制御器と、を含む。代わりの実施形態では、異なる数および種類の制御器を有する。制御器が、受け取ったコマンドに応じて活性化されると、それら制御器は、その対応するソフトウェア/ファームウェアの命令に応じて、その対応するメモリ周辺回路を制御し得る。
本発明のさらなる実施形態は、各種の範囲の方法と装置を含む。
以下の本発明の詳細な説明において、本願の一部を形成する添付の図面が参照され、それら図面において、例示目的として、本発明が実施され得る具体的な実施形態が示される。図面において、同じ数字は、いくつかの図を通して実質的に同等の要素を説明する。これらの実施形態は、当業者が本発明を実施できるほど十分詳細に説明される。その他の実施形態が利用可能であり、本発明の範囲を逸脱すること無しに、構造的、論理的、電気的な変更がなされ得る。それゆえ、以下の詳細な説明は、限定的な意味で取られるべきではなく、本発明の範囲は添付の請求項とその均等物によってのみ規定される。
図2は、分散型制御器を備える、本発明のメモリデバイスの一実施形態のブロック図を図解する。明瞭性のために、分散型制御器を理解するのに必要なブロックのみが図解される。
本発明の分散型制御器は、メモリデバイスの制御機能を分解し、その様々な機能を複数の制御器に分散する。図2に図解される実施形態では、3つの別々の制御器を使用する。代わりの実施形態は、それぞれの別々の制御器の必要とされるタスクに依存する、その他の数の制御器が使用されてもよい。
メモリデバイスは、行と列形式で接続される複数のメモリセルで構成されるメモリアレイ201を含む。メモリの行はワード線によって互いに接続され、列はビット線によって互いに接続される。NANDフラッシュメモリデバイスにおいて、それぞれのビット線列が、セルの一連のストリングをつくる。代わりの実施形態では、NORアーキテクチャメモリ、ANDアーキテクチャメモリ、または、揮発性および不揮発性の両方のその他のメモリ型式を含む。
データキャッシュ204は、メモリアレイ201に接続される。データキャッシュ204は、メモリアレイ201から読み出されるデータ、および、メモリアレイ201に書き込まれるデータを一時的に記憶するバッファである。
アナログ機能203は、メモリアレイ201の正しい動作のために必要とされる、様々な電圧を生成する。例えば、フラッシュメモリセルは、プログラミングのために、+16Vから+20Vまでのいずれかの値を必要とし得、および、負の電圧がセルを消去するために必要とされ得る。
制御回路は、3つの別々の制御器205から207に分けられる。第一の制御器205は、アナログ制御器205である。この制御器205は、アナログ電圧ブロック203に接続され、アナログ電圧ブロック203の制御に関与する。アナログ制御器205は、先に述べたように、メモリアレイセルの正しい動作に必要とされる様々な電圧を生成するた
めに、アナログ電圧ブロック203に命令をする信号を生成する。アナログ制御器205は、メモリの読み出しコマンド、書き込みコマンド、もしくは、消去コマンドなどの受け取ったコマンドに応じて、これらの命令を生成する。
データキャッシュ制御器207は、データキャッシュ204と接続され、データキャッシュ204の制御に関与する。データキャッシュ制御器207は、読み出し動作、および、書き込み動作の期間中に、キャッシュ204をイネーブルするために必要な信号を生成する。例えば、読み出しメモリコマンドが受け取られた場合、データキャッシュ制御器207は、データキャッシュ204に、メモリアレイ201からのデータを受け入れさせる信号を生成する。書き込みメモリコマンドが受け取られた場合、データキャッシュ制御器207は、キャッシュ204に、集積回路の外部データパッドからのデータを受け入れさせるために必要な信号を生成し、プログラミングのためにデータがメモリアレイ201へ通ることを可能にする。キャッシュ207が、高インピーダンス状態を有する場合は、制御器は、この状態を起動する制御信号を生成し得る。
マスター制御器206は、メモリアレイ201と接続され、メモリアレイ201の制御に関与する。この制御器206は、また、他の2つの制御器205、207にも接続され、同様に、それらを活性化するのに必要な信号も生成する。
ユーザーコマンド(例えば、読み出し、書き込み、消去)が、CSM209によって受け取られた場合、それは解釈され、マスター制御器206へと送られる。マスター制御器206は、それから、他の制御器205、207のうちのどれが活性化されるべきかを決定する。
例えば、消去コマンドが受け取られた場合、マスター制御器206は、消去コマンドが受け取られているアナログ制御器205に信号を送る。アナログ制御器205は、それから、所望のメモリブロックを消去するために必要とされる電圧を決定し、これら電圧を生成するようにアナログ電圧ブロック203に命令する。
プログラムコマンド、もしくは、書き込みデータコマンドが、CSM209によって受け取られた場合、マスター制御器206は、CSM209によってそのコマンドを通知される。マスター制御器206は、書き込みコマンドが受け取られているデータキャッシュ制御器207に、信号を送る。データキャッシュ制御器207は、データキャッシュ204に、集積回路のデータ入力ピンからのデータを受け入れ、このデータをメモリアレイ201へと渡すよう要求するように、このコマンドを決定する。
マスター制御器206は、また、書き込みコマンドが受け取られているアナログ制御器205にも、信号を送る。アナログ制御器205は、メモリアレイ201内へデータをプログラムするために必要とされる電圧を決定し、アナログ電圧ブロック203に、これら電圧を生成するように命令する。マスター制御器206は、また、メモリの書き込みを行うために、アレイ201によって必要とされる信号も生成する。例えば、マスター制御器206は、メモリセルがアクセスされることを許す、セレクトゲートドレイントランジスタとセレクトゲートソーストランジスタをオンにするための信号を生成してもよい。
読み出しコマンドが、CSM209によって受け取られた場合、マスター制御器206は、CSM209によってそのコマンドを通知される。マスター制御器206は、読み出しコマンドが受け取られているデータキャッシュ制御器207に、信号を送る。データキャッシュ制御器207は、データキャッシュ204にメモリアレイ201からのデータを受け入れるよう要求する読み出しコマンドを決定する。制御器207は、この動作を行うために、キャッシュ204をイネーブルするのに必要な信号を生成する。
マスター制御器206は、また、読み出しコマンドが受け取られているアナログ制御器205にも、信号を送る。アナログ制御器205は、読み出し動作を行うために、アレイ201のメモリセルによって必要とされるアナログ電圧を決定する。この制御器205は、それから、アナログ電圧ブロック203に、これら電圧を生成するように命令する。
マスター制御器206は、また、読み出しコマンドを行うために、メモリアレイ201によって必要とされる信号も生成する。例えば、マスター制御器206は、セレクトゲートドレイントランジスタとセレクトゲートソーストランジスタをオンにする制御信号を生成してもよく、それゆえ、メモリの特定の一連のストリングへのアクセスを許す。
代わりの実施形態においては、分散型制御器システムは、1つ以上のマスター制御器を伴う、複数のアナログ制御器、および/もしくは、複数のデータキャッシュ制御器を有する。そのような実施形態では、メモリデバイスは1つ以上のメモリアレイを有してもよく、個々のアレイそれぞれに対する、個別のアナログ電圧生成回路と個別のデータキャッシュを必要とする。
図2の実施形態は、本発明の分散型制御器システムによってもたらされる柔軟性を示す。それぞれの制御回路は、メモリ周辺回路の様々な部分(すなわち、アナログ電圧ブロック、データキャッシュ)に接続される。アナログ電圧が変更され、および/もしくは、データキャッシュを活性化するのに必要とされる信号のタイミングが変化する場合、メモリデバイスをアップデートするためには、個別の制御器のソフトウェア/ファームウェアのみが変更されれば十分である。従来技術によって必要とされるように、全ての制御ソフトウェアがアップデートされなくてもよい。
図3は、図2に図解されるような本発明の制御器回路205から207の一実施形態のブロック図を図解する。図解される回路は、例示のみの目的であり、代わりの実施形態では、ほぼ同じ効果を達成するために、異なる機能ブロック、および/もしくは、異なる構成に接続された機能ブロックを使用してもよい。
制御器回路は、制御器の演算機能を行う、演算論理ユニット(ALU)301を含む。ALU301は、加算、減算、比較、および、他のそのような演算などの、単純なもしくは複雑な算術演算ならびに論理演算を行う。
レジスタファイル303は、カウンタや電圧値などの一時的な情報を記憶するためのレジスタセットである。レジスタファイル303は、データがALUで演算されている間、ALUからの情報を記憶してもよい。レジスタファイル303には、さらに、回路から送られてくる信号、もしくは、回路へ送られている信号を、記憶することが可能である。
code ROM(code read only memory)305は、制御器回路によって実行される命令のバイナリ表現を記憶する。通常、ROM305のビットマトリックスは、メモリ集積回路が設計される際に、コンパイラによって生成され、それゆえ、制御回路動作に必要な命令は既知である。これらは、特定の制御器が接続されたメモリデバイスの特定のブロックを制御するために生成される、制御信号のタイミングと、制御信号の種類を決定する命令である。
命令デコーダ307は、code ROM305から、命令レジスタ309を介して来る命令のデコードを行う。レジスタ309が記憶するのは、ROM305から読み出されており、命令デコーダ307によって実施されている現在の命令である。
プログラムカウンタ311は、実行される現在の命令のアドレスを記憶するレジスタである。カウンタ311は、各命令実行の後で、更新される。次の命令のアドレスは、続くアドレスであってもよく、もしくは、ROM305からの命令のうちの1つに応じて、コードの分岐先として命令される、何か他のアドレスであってもよい。
オシレータ313は、制御回路システムクロックである。オシレータ313は、ユーザーコマンドが受け取られた後で、OSC_EN線を介して、図2のCSM209によって活性化される。一実施形態においては、1クロックサイクルが、1命令を実行するのに使用される。代わりの実施形態では、1命令につき、その他のクロックサイクル数が使用されてもよい。
図3と図6の両方を参照して、制御回路は、オシレータ313によって起動601される。命令は、ROM305から読み出し603され、命令レジスタ309内へ記憶605される。この命令は、命令デコーダ307によって、デコード607され、ALU301によって、任意の算術演算もしくは論理演算が行われる609。プログラムカウンタ311は、それから、最後に実行された命令、もしくはROM305内の次の順次アドレスのいずれかに応じて、更新611される。
命令の遂行は、マスター制御器が、アナログ制御器もしくはデータキャッシュ制御器を活性化するような際に、他の制御器回路を活性化する信号を生成するステップを含むことができる。この遂行はまた、特定の制御器が接続される、特定のメモリ周辺回路を制御する信号の生成も含むことができる。
図4は、本発明の不揮発性メモリセルを組み込むことが可能なメモリデバイス400の機能ブロック図を図解する。メモリデバイス400は、プロセッサ410と接続される。プロセッサ410は、マイクロプロセッサ、もしくは、他の何らかの種類の制御回路であり得る。メモリデバイス400とプロセッサ410は、電子システム420の部分を形成する。メモリデバイス400は、本発明を理解するのに役立つメモリの特徴に焦点を合わせて簡略化されている。
メモリデバイスは、フラッシュメモリセル430のアレイ、もしくは他の何らかの種類の不揮発性メモリセルのアレイを含む。メモリアレイ430は、行と列のバンクに配置される。メモリセルの各行の制御ゲートは、ワード線に接続され、一方で、メモリセルのドレイン接続とソース接続は、ビット線に接続される。当業者には周知のように、このビット線へのセルの接続は、アレイがNANDアーキテクチャであるか、NORアーキテクチャであるか、ANDアーキテクチャであるか、もしくは、何か他のアレイアーキテクチャであるか、に依存する。
アドレスバッファ回路440は、アドレス入力接続A0−Ax442上に供給されるアドレス信号をラッチするために備えられる。アドレス信号は、メモリアレイ430にアクセスするために、行デコーダ444、および、列デコーダ446によって受け取られ、デコードされる。アドレス入力接続の数は、メモリアレイ430の密度とアーキテクチャに依存することが、本記述の利点と共に当業者には理解されるだろう。すなわち、アドレスの数は、メモリセルの総数の増加と、バンクおよびブロックの数の増加の両方とのどちらにも応じて増加する。
メモリデバイス400は、センス増幅器/バッファ回路450を使用して、メモリアレイ列内の電圧もしくは電流の変化を検知することにより、メモリアレイ430内のデータを読み出す。一実施形態において、センス増幅器/バッファ回路は、メモリアレイ430からのデータの行を読み出してラッチするために、接続される。データ入力および出力バ
ッファ回路460は、複数のデータ接続462上の制御器410との双方向データ通信のために含まれる。書き込み回路455は、メモリアレイへデータを書き込むために備えられる。
本発明の分散型制御回路470は、プロセッサ410から制御接続472上に供給される信号をデコードする。制御回路470のアーキテクチャと機能は、先に詳細に述べた。
図4に図解されるフラッシュメモリデバイスは、このメモリの特徴の基本的な理解を容易にするために簡略化されており、また、例示のみを目的とする。フラッシュメモリの内部回路および機能のより詳細な理解は、当業者には周知である。代わりの実施形態は、他の種類の電子システム内の本発明のフラッシュメモリセルを含み得る。
図5は、先に述べられたようなメモリセルの実施形態を組み込む、メモリモジュール500の図である。メモリモジュール500は、メモリカードとして図解されるが、メモリモジュール500を参照して述べられるコンセプトは、例えば、USBフラッシュデバイスなどの他の種類の取り外し可能メモリ、もしくは、ポータブルメモリに適用可能である。さらに、図5には、フォームファクターの一例が描かれるが、これらコンセプトは、その他のフォームファクターにも同様に適用可能である。
メモリモジュール500は、本発明の1つ以上のメモリデバイス510を覆うためのハウジング505を含む。ハウジング505は、ホストデバイスとの通信のために、1つ以上の接点515を含む。ホストデバイスの例は、デジタルカメラ、デジタル録音および再生デバイス、PDA、パーソナルコンピュータ、メモリカードリーダー、およびインターフェースハブなどを含む。いくつかの実施形態においては、接点515は、規格化されたインターフェースの形式である。例えば、USBフラッシュドライブでは、接点515はUSBタイプ−Aオスコネクタの形式であり得る。いくつかの実施形態では、接点515は、SANDISK社によってライセンスされるCOMPACTFLASHメモリカード、SONY社によってライセンスされるMEMORY STICKメモリカード、およびTOSHIBA社によってライセンスされるSD SECURE DIGITALメモリカードなどに見られるような、セミプロプライエタリ インターフェースの形式である。しかしながら、一般に接点515は、メモリモジュール500と、接点515と互換性のある受容器を持つホストと、の間の制御信号、アドレス信号および/またはデータ信号の通過のためのインターフェースを提供する。
メモリモジュール500は、随意に付加的な回路520を含み得る。いくつかの実施形態において、付加的な回路520は、複数のメモリデバイス510にわたるアクセスを制御するために、および/または外部ホストとメモリデバイス510との間の変換層を提供するために、メモリ制御器を含み得る。例えば、接点515の数と一つ以上のメモリデバイス510へのI/O接続の数との間に、1対1対応がないこともあり得る。それゆえ、メモリ制御器は、適切な信号を、適切なI/O接続で、適切な時間に受け取るために、もしくは適切な信号を、適切な接点515で、適切な時間に供給するために、メモリデバイス510のI/O接続(図5に示されていない)を選択的に接続し得る。同様に、ホストとメモリモジュール500の間の通信プロトコルは、メモリデバイス510のアクセスに必要とされるものと異なってもよい。メモリ制御器はそれゆえ、メモリデバイス510へ所望のアクセスを達成するために、ホストから受信したコマンドシーケンスを、適切なコマンドシーケンスに変換し得る。そのような変換はさらに、コマンドシーケンスに加えて、信号電圧レベルの変更を含み得る。
付加的な回路520は、さらに、メモリデバイス510の制御とは無関係の機能性を含み得る。付加的な回路520は、例えば、パスワード保護、もしくは生体認証などの、メ
モリモジュール500への読み出しアクセスもしくは書き込みアクセスを制限するための回路を含み得る。付加的な回路520は、メモリモジュール500の状態を示すための回路を含み得る。例えば、付加的な回路520は、電力がメモリモジュール500に供給されているかどうか、および、メモリモジュール500が現在アクセスされているかどうかを調べるための機能性、および、電力が供給されている間は点灯、アクセスされている間は点滅というように、自身の状態の指標を表示するための機能性を含み得る。付加的な回路520はさらに、メモリモジュール500内の所要電力の調整を助けるために、ディカップリングコンデンサなどの受動デバイスを含み得る。
要約すれば、本発明の分散型制御器の実施形態は、メモリデバイスに改良されたアルゴリズム実行速度と、動作オーバーヘッドの減少とを提供する。さらに、特定のメモリ機能にそれぞれ接続される複数の専用の制御器を有することで、メモリ回路を変更した際、特定の制御器に対するソフトウェア/ファームウェアのみを更新すれば十分である。
特定の実施形態が、本明細書において図解され記述されてきたが、同じ目的を達成すると予想されるあらゆる構成が、示された特定の実施形態と置換えられ得ることが、当業者に理解されるだろう。本発明の複数の改変形態が当業者には明らかである。従って、本出願は、本発明のあらゆる改変形態もしくは変更形態を包含することが意図されている。本発明は、付随の請求項と、その均等物によってのみ限定されることを明白に意図している。
本発明の典型的な従来技術のフラッシュメモリデバイスのブロック図を示す。 分散型制御器回路を備える、本発明のメモリデバイスのブロック図を示す。 図2の実施形態に従う基本的な制御器システムの一実施形態のより詳細なブロック図を示す。 メモリシステムの一部としての本発明の不揮発性メモリデバイスの一実施形態のブロック図を示す。 本発明のメモリモジュールの一実施形態のブロック図を示す。 本発明の分散型制御器システムの一実施形態のフロー図を示す。

Claims (30)

  1. データを記憶するためのメモリアレイを有するメモリデバイスの分散型制御システムであって、前記分散型制御システムが、
    それぞれの回路が所定の機能を有する複数の制御器回路と、
    前記複数の制御器回路に応じて電圧信号とデータキャッシュ信号を生成するために、前記メモリアレイに接続された複数のメモリ周辺回路であって、それぞれのメモリ周辺回路が、前記複数の制御器回路の異なる制御器回路に接続され、且つ、制御される前記複数のメモリ周辺回路と、
    を含む、システム。
  2. それぞれの所定の機能が、その他の所定の機能と異なる、請求項1のシステム。
  3. 前記複数の制御器回路の中の1つが、残りの前記制御器回路を制御するマスター制御器回路である、請求項1のシステム。
  4. 前記メモリデバイスが、フラッシュメモリデバイスである請求項1のシステム。
  5. 前記フラッシュメモリデバイスが、NANDフラッシュメモリデバイスである請求項4のシステム。
  6. 前記所定の機能が、アナログ電圧制御、データキャッシュ制御、および、メモリアレイ制御を含む、請求項1のシステム。
  7. 行と列の形式で接続された複数の不揮発性メモリを含むメモリアレイを有する、フラッシュメモリデバイスの分散型制御器システムであり、各行がワード線によって接続され、および、各列がビット線によって接続され、各列へのアクセスが、セレクトゲートドレイントランジスタとセレクトゲートソーストランジスタによって制御される、前記分散型制御器システムであって、前記分散型制御器システムが、
    複数の制御器回路であって、それぞれの制御器回路が所定の機能を有し、前記所定の機能が、残りの前記制御器回路の前記所定の機能と異なり、第一の制御器回路が、残りの前記制御器回路のそれぞれと接続される、前記複数の制御器回路と、
    前記複数の制御器回路に応じて電圧信号とデータキャッシュ信号を生成するために、前記メモリアレイに接続された複数のメモリ周辺回路であって、それぞれのメモリ周辺回路が、前記複数の制御器回路の中の異なる制御器回路に接続され、且つ、制御される、前記複数のメモリ周辺回路と、
    を含む、システム。
  8. ユーザーコマンドを受け取って、解釈するために、前記複数の制御器回路の中の第一の制御器回路と接続されたコマンド状態マシーンをさらに含む、請求項7のシステム。
  9. 前記第一の制御器回路が、前記残りの制御器回路の活性化を制御するマスター制御器回路である、請求項7のシステム。
  10. 前記第一の制御器回路が、前記メモリアレイと前記残りの制御器回路に接続され、解釈されたユーザーコマンドに応じて前記メモリアレイと前記残りの制御器回路に対する制御信号を生成する、請求項8のシステム。
  11. 前記第一の制御回路が、前記セレクトゲートドレイントランジスタと前記セレクトゲートソーストランジスタをオンにするための制御信号を生成する、請求項10のシステム。
  12. 分散型制御器システムを有するフラッシュメモリデバイスであって、前記フラッシュメモリデバイスが、
    行と列の形式に接続された複数の不揮発性メモリセルを含むフラッシュメモリアレイであって、それぞれの行がワード線によって接続され、および、それぞれの列がビット線によって接続され、各列へのアクセスがセレクトゲートドレイントランジスタとセレクトゲートソーストランジスタによって制御されるフラッシュメモリアレイと、
    前記メモリアレイからデータを受け取るための、および、前記メモリアレイにデータを送るためのデータキャッシュと、
    前記メモリアレイの動作のためのアナログ電圧を生成するためのアナログ電圧生成回路と、
    複数の制御器回路であって、前記フラッシュメモリアレイに接続されたマスター制御器と、前記データキャッシュに接続されたデータキャッシュ制御器と、前記アナログ電圧生成回路に接続されたアナログ制御器と、を含み、前記マスター制御器が、前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方に接続され、受け取ったコマンドに応じて前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方を活性化するように構成された、前記複数の制御器回路と、
    を含む、前記フラッシュメモリデバイス。
  13. 前記マスター制御器が、前記受け取ったコマンドに応じて、前記セレクトゲートドレイントランジスタと前記セレクトゲートソーストランジスタの動作を制御する制御信号を生成するように構成された、請求項12のフラッシュメモリデバイス。
  14. メモリアレイ、アナログ電圧生成回路、およびデータキャッシュ、を含むフラッシュメモリデバイスの分散型制御器システムであって、
    前記分散型制御器システムが、
    前記データキャッシュに接続され、前記データキャッシュを制御するように構成された、データキャッシュ制御器と、
    前記アナログ電圧生成回路に接続され、前記アナログ電圧生成回路を制御するように構成された、アナログ制御器と、
    受け取ったコマンドに応じて、各制御器を活性化するために、前記メモリアレイ、前記データキャッシュ制御器、および、前記アナログ制御器に接続されたマスター制御器と、
    を含む、前記分散型制御器システム。
  15. 前記データキャッシュ制御器が、読み出しコマンドに応じて、前記メモリアレイからのデータを受け取るために、および、書き込みコマンドに応じて、前記メモリアレイにデータを送るために、前記データキャッシュをイネーブルする制御信号を生成するように構成される、請求項14のシステム。
  16. 前記アナログ制御器が、前記アナログ電圧生成回路によって生成された電圧レベルを制御する制御信号を生成するように構成される、請求項14のシステム。
  17. 前記マスター制御器が、前記メモリアレイの回路要素を活性化する制御信号を生成するように構成される、請求項14のシステム。
  18. 前記データキャッシュ制御器、前記アナログ制御器、前記マスター制御器のそれぞれが、
    命令を記憶するためのcode ROMと、
    前記code ROMに接続され、前記code ROMから読み出しされた各命令を
    デコードするための、命令デコーダと、
    デコードされた命令に応じて、演算を行う演算論理ユニットと、
    前記演算論理ユニットからのデータを記憶するためのレジスタファイルと、
    を含む、請求項14のシステム。
  19. それぞれの前記制御器の前記code ROMが、前記制御器の機能に応じて異なる命令を含む、請求項18のシステム。
  20. 前記アナログ制御器が、前記データキャッシュ制御器に接続されない、請求項14のシステム。
  21. メモリ信号を生成するプロセッサと、
    前記プロセッサに接続され、前記メモリ信号に応じて動作するメモリデバイスであって、前記メモリデバイスが、
    複数の不揮発性メモリセルを含むフラッシュメモリアレイと、
    前記メモリアレイからのデータを受け取るための、および、前記メモリアレイにデータを送るための、データキャッシュと、
    前記メモリアレイの動作のためのアナログ電圧を生成するためのアナログ電圧生成回路と、
    複数の制御器回路であって、前記フラッシュメモリアレイに接続されたマスター制御器と、前記データキャッシュに接続されたデータキャッシュ制御器と、前記アナログ電圧生成回路に接続されたアナログ制御器と、を含み、前記マスター制御器が、前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方に接続され、受け取ったコマンドに応じて前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方を活性化するように構成される、前記複数の制御器回路と、
    を含む、メモリデバイスと、
    を含む、メモリシステム。
  22. 前記メモリアレイが、NANDアーキテクチャメモリアレイである、請求項21のシステム。
  23. 少なくとも2つのメモリデバイスであって、
    それぞれの前記メモリデバイスが、
    複数の不揮発性メモリセルを有するフラッシュメモリアレイと、
    前記メモリアレイからのデータを受け取るための、および、前記メモリアレイにデータを送るためのデータキャッシュと、
    前記メモリアレイの動作のためのアナログ電圧を生成するためのアナログ電圧生成回路と、
    複数の制御器回路であって、前記フラッシュメモリアレイに接続されたマスター制御器と、前記データキャッシュに接続されたデータキャッシュ制御器と、および、前記アナログ電圧生成回路に接続されたアナログ制御器と、を含み、前記マスター制御器が、前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方に接続され、受け取ったコマンドに応じて前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方を活性化するように構成される、前記複数の制御器回路と、
    を含む、前記メモリデバイスと、
    前記メモリアレイとホストシステムとの間の選択的な接点を提供するように構成された複数の接点と、
    を含む、メモリモジュール。
  24. 前記ホストシステムに応じて、前記メモリデバイスの動作を制御するために、前記メモ
    リアレイに接続されたメモリ制御器を、さらに含む、請求項23のモジュール。
  25. メモリデバイスであって、
    複数の不揮発性メモリセルを有するフラッシュメモリアレイと、
    前記メモリアレイからのデータを受け取るための、および、前記メモリアレイへデータを送るための、データキャッシュと、
    前記メモリアレイの動作のためのアナログ電圧を生成するためのアナログ電圧生成回路と、
    複数の制御器回路であって、前記フラッシュメモリアレイに接続されたマスター制御器と、前記データキャッシュに接続されたデータキャッシュ制御器と、前記アナログ電圧生成回路に接続されたアナログ制御器と、を含み、前記マスター制御器が、前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方に接続され、受け取ったコマンドに応じて前記データキャッシュ制御器と前記アナログ制御器の両方を活性化するように構成される、前記複数の制御器回路と、を含む、前記メモリデバイスと、
    前記メモリデバイスを覆うためのハウジングと、
    前記ハウジングに接続され、前記メモリアレイとホストシステムとの間の選択的な接点を提供するように構成された、複数の接点と、
    を含む、メモリモジュール。
  26. メモリアレイを有するメモリデバイスの分散型制御器回路の動作の方法であって、
    前記方法が、
    コマンドを受け取るステップと、
    前記コマンドを解釈するステップと、
    前記コマンドに応じて、マスター制御器を起動するステップと、
    前記マスター制御器が、前記コマンドに応じて、分散型メモリ制御器を活性化するステップと、
    を含む、方法。
  27. 前記マスター制御器が、キャッシュ制御器とアナログ制御器を活性化し、前記キャッシュ制御器が、データキャッシュを制御するために活性化され、且つ、前記アナログ制御器が、アナログ電圧生成回路を制御するために活性化される、請求項26の方法。
  28. 前記キャッシュ制御器が、前記コマンドに応じて、データキャッシュ制御信号を生成するステップを、さらに含む、請求項27の方法。
  29. 前記データキャッシュ制御信号が、前記コマンドが読み出しコマンドである場合には、前記メモリアレイからのデータを受け取るように前記データキャッシュに命令し、また、前記コマンドが書き込みコマンドである場合には、前記メモリアレイにデータを送るように前記データキャッシュに命令する、請求項28の方法。
  30. 前記アナログ制御器が、前記アナログ電圧生成回路に、消去コマンドに応じて消去電圧を、書き込みコマンドに応じて書き込み電圧を、および、読み出しコマンドに応じて読み出し電圧を、生成するように命令する、請求項27の方法。
JP2009500431A 2006-03-13 2007-03-13 メモリデバイス分散型制御器システム Active JP4936086B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT000139A ITRM20060139A1 (it) 2006-03-13 2006-03-13 Sistema ad unita di controllo distribuito di dispositivo di memoria
ITRM2006A000139 2006-03-13
US11/508,728 2006-08-23
US11/508,728 US7420849B2 (en) 2006-03-13 2006-08-23 Memory device distributed controller system
PCT/US2007/006300 WO2007106481A1 (en) 2006-03-13 2007-03-13 Memory device distributed controller system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009530758A true JP2009530758A (ja) 2009-08-27
JP4936086B2 JP4936086B2 (ja) 2012-05-23

Family

ID=38478753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009500431A Active JP4936086B2 (ja) 2006-03-13 2007-03-13 メモリデバイス分散型制御器システム

Country Status (9)

Country Link
US (5) US7420849B2 (ja)
EP (1) EP1994534B1 (ja)
JP (1) JP4936086B2 (ja)
KR (1) KR101007799B1 (ja)
CN (1) CN101401167B (ja)
AT (1) ATE507564T1 (ja)
DE (1) DE602007014187D1 (ja)
IT (1) ITRM20060139A1 (ja)
WO (1) WO2007106481A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011517006A (ja) * 2008-04-07 2011-05-26 マイクロン テクノロジー, インク. ソリッドステートメモリデバイスにおけるアナログ読み出し/書き込みパス

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7173863B2 (en) * 2004-03-08 2007-02-06 Sandisk Corporation Flash controller cache architecture
ITRM20060139A1 (it) 2006-03-13 2007-09-14 Micron Technology Inc Sistema ad unita di controllo distribuito di dispositivo di memoria
KR101449524B1 (ko) * 2008-03-12 2014-10-14 삼성전자주식회사 스토리지 장치 및 컴퓨팅 시스템
US8792283B2 (en) 2012-06-21 2014-07-29 Intel Corporation Extended select gate lifetime
US9702305B2 (en) 2013-04-17 2017-07-11 Micron Technology, Inc. Multiple engine sequencer
US9558848B2 (en) * 2014-11-04 2017-01-31 Microsoft Technology Licensing, Llc Testing storage device power circuitry
US10372353B2 (en) * 2017-05-31 2019-08-06 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods to control memory operations on buffers
US10621117B2 (en) 2017-06-15 2020-04-14 Micron Technology, Inc. Controlling memory devices using a shared channel
KR102714850B1 (ko) * 2019-10-18 2024-10-10 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 장치 및 그 동작 방법

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02292798A (ja) * 1989-04-13 1990-12-04 Sundisk Corp フラッシュEEpromシステム
US5715193A (en) * 1996-05-23 1998-02-03 Micron Quantum Devices, Inc. Flash memory system and method for monitoring the disturb effect on memory cell blocks due to high voltage conditions of other memory cell blocks
JPH10302476A (ja) * 1997-02-26 1998-11-13 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
US6073243A (en) * 1997-02-03 2000-06-06 Intel Corporation Block locking and passcode scheme for flash memory
JP2002197876A (ja) * 2000-12-22 2002-07-12 Hitachi Ltd 不揮発性記憶装置の書込み方法
JP2005353171A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Toshiba Corp 半導体記憶装置及びそのブランクページ検索方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6920416B1 (en) * 1989-08-28 2005-07-19 Texas Instruments Incorporated Electronic systems testing employing embedded serial scan generator
CA2075048C (en) * 1990-01-30 1999-08-17 Gregory A. Pascucci Networked facilities management system
US5765015A (en) * 1990-11-13 1998-06-09 International Business Machines Corporation Slide network for an array processor
DK0627100T3 (da) * 1992-12-23 2000-06-26 Ebauchesfabrik Eta Ag Laveffekt-multitaskkontroller
US5623620A (en) * 1993-06-30 1997-04-22 Intel Corporation Special test modes for a page buffer shared resource in a memory device
US5508971A (en) * 1994-10-17 1996-04-16 Sandisk Corporation Programmable power generation circuit for flash EEPROM memory systems
US5845095A (en) 1995-07-21 1998-12-01 Motorola Inc. Method and apparatus for storing and restoring controller configuration information in a data communication system
US5745409A (en) * 1995-09-28 1998-04-28 Invox Technology Non-volatile memory with analog and digital interface and storage
US5890192A (en) * 1996-11-05 1999-03-30 Sandisk Corporation Concurrent write of multiple chunks of data into multiple subarrays of flash EEPROM
GB2357602A (en) * 1999-12-22 2001-06-27 Nokia Mobile Phones Ltd Memory controller for a memory array comprising different memory types
US6472898B1 (en) * 2000-11-16 2002-10-29 Advanced Micro Devices, Inc. Method and system for testing a semiconductor memory device
US7219173B2 (en) * 2001-07-31 2007-05-15 Micronas Usa, Inc. System for video processing control and scheduling wherein commands are unaffected by signal interrupts and schedule commands are transmitted at precise time
ITRM20010531A1 (it) * 2001-08-31 2003-02-28 Micron Technology Inc Dispositivo rilevatore a bassa potenza e alta tensione per memorie ditipo flash.
US6959361B2 (en) 2002-04-25 2005-10-25 Sun Microsystems, Inc. Distributed caching mechanism for pending memory operations within a memory controller
GB0228548D0 (en) * 2002-12-06 2003-01-15 Unilever Plc Microwavable food product
JP3900077B2 (ja) * 2002-12-10 2007-04-04 セイコーエプソン株式会社 カラーフィルタ基板、カラーフィルタ基板の製造方法、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び、電子機器
JP2004213723A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置及び不揮発性半導体記憶装置の書込み及び消去制御用シーケンス
JP2005092963A (ja) 2003-09-16 2005-04-07 Renesas Technology Corp 不揮発性記憶装置
US7126873B2 (en) * 2004-06-29 2006-10-24 Super Talent Electronics, Inc. Method and system for expanding flash storage device capacity
US7072781B1 (en) * 2004-07-06 2006-07-04 Advanced Micro Devices, Inc. Architecture for generating adaptive arbitrary waveforms
FR2874449B1 (fr) 2004-08-17 2008-04-04 Atmel Corp Circuit de retard de programme auto-adaptatif pour memoires programmables
US7493474B1 (en) * 2004-11-10 2009-02-17 Altera Corporation Methods and apparatus for transforming, loading, and executing super-set instructions
US7809928B1 (en) * 2005-11-29 2010-10-05 Nvidia Corporation Generating event signals for performance register control using non-operative instructions
US7457178B2 (en) * 2006-01-12 2008-11-25 Sandisk Corporation Trimming of analog voltages in flash memory devices
US7254071B2 (en) * 2006-01-12 2007-08-07 Sandisk Corporation Flash memory devices with trimmed analog voltages
ITRM20060139A1 (it) * 2006-03-13 2007-09-14 Micron Technology Inc Sistema ad unita di controllo distribuito di dispositivo di memoria
US7304893B1 (en) * 2006-06-30 2007-12-04 Sandisk Corporation Method of partial page fail bit detection in flash memory devices

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02292798A (ja) * 1989-04-13 1990-12-04 Sundisk Corp フラッシュEEpromシステム
US5715193A (en) * 1996-05-23 1998-02-03 Micron Quantum Devices, Inc. Flash memory system and method for monitoring the disturb effect on memory cell blocks due to high voltage conditions of other memory cell blocks
US6073243A (en) * 1997-02-03 2000-06-06 Intel Corporation Block locking and passcode scheme for flash memory
JPH10302476A (ja) * 1997-02-26 1998-11-13 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2002197876A (ja) * 2000-12-22 2002-07-12 Hitachi Ltd 不揮発性記憶装置の書込み方法
JP2005353171A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Toshiba Corp 半導体記憶装置及びそのブランクページ検索方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011517006A (ja) * 2008-04-07 2011-05-26 マイクロン テクノロジー, インク. ソリッドステートメモリデバイスにおけるアナログ読み出し/書き込みパス

Also Published As

Publication number Publication date
KR101007799B1 (ko) 2011-01-14
US9772779B2 (en) 2017-09-26
EP1994534B1 (en) 2011-04-27
CN101401167A (zh) 2009-04-01
KR20080114796A (ko) 2008-12-31
US10359944B2 (en) 2019-07-23
ATE507564T1 (de) 2011-05-15
DE602007014187D1 (de) 2011-06-09
ITRM20060139A1 (it) 2007-09-14
US20120131267A1 (en) 2012-05-24
EP1994534A1 (en) 2008-11-26
US20170364268A1 (en) 2017-12-21
US8116138B2 (en) 2012-02-14
US9317459B2 (en) 2016-04-19
WO2007106481A1 (en) 2007-09-20
US20160231930A1 (en) 2016-08-11
US20080298130A1 (en) 2008-12-04
CN101401167B (zh) 2011-07-20
US20070211529A1 (en) 2007-09-13
JP4936086B2 (ja) 2012-05-23
US7420849B2 (en) 2008-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4936086B2 (ja) メモリデバイス分散型制御器システム
JP5093614B2 (ja) マルチレベルセル不揮発性メモリデバイスにおけるシングルレベルセルプログラミング
KR101070995B1 (ko) 비휘발성 메모리 디바이스의 프로그래밍
US9423969B2 (en) Sensing operations in a memory device
US7969782B2 (en) Determining memory page status
CA2849862A1 (en) Flash memory system
KR20080111564A (ko) 비휘발성 메모리 디바이스의 다중레벨 셀 판독 방법
KR20120049509A (ko) 로우 디코더 회로 및 이를 포함하는 비휘발성 메모리 장치
JP2009003569A (ja) 半導体記憶装置
US11676667B2 (en) Memory device having page buffer
JP2010218623A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
KR20060018335A (ko) 불휘발성 메모리 장치의 초기화 상태를 검증하는 방법 및장치
JP2009003995A (ja) 半導体記憶装置
US11615847B2 (en) Memory device and operating method of the memory device
JP2009003571A (ja) 半導体記憶装置
JP2009003570A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110405

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110419

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110715

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110715

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120110

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120208

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4936086

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250