JPS62188100A - 紫外線消去型プログラマブルromの書込方法 - Google Patents

紫外線消去型プログラマブルromの書込方法

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JPS62188100A
JPS62188100A JP61031125A JP3112586A JPS62188100A JP S62188100 A JPS62188100 A JP S62188100A JP 61031125 A JP61031125 A JP 61031125A JP 3112586 A JP3112586 A JP 3112586A JP S62188100 A JPS62188100 A JP S62188100A
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JP
Japan
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signal
data
bit
circuit
written
Prior art date
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Application number
JP61031125A
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English (en)
Inventor
Toshihiro Koyama
小山 利弘
Tsugio Tawara
田原 次夫
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は紫外線消去型プログラマブルROM〈以下E
PROMと記す)の書込方法に関し、特に書込データO
を書込むべきビットのしきい値電圧を判定値以上の一定
レベルに揃えることかできる書込方法に関するものであ
る。
[従来の技術] 第5図は従来のEPROMの書込方法のフローチャート
である。
このEPROMは、アドレスが複数のビットで構成され
ており、消去状態が1、書込状態が0である。
この書込方法について説明すると、まず、ステップS1
で初期アドレスの設定を行なう。次に、ステップS2で
ループ回数Nを1にする。次に、ステップS3で設定さ
れた初期アドレスの各ビットに一定時間の1パルスを書
込むことによってOまたは1の書込データの書込を行な
う。次に、ステップS4でアドレスのすべてのビットに
ついて書込まれたデータの読出が可能か否かを判定する
このとき、該当ビットについて、書込データがOならば
そのしきい値電圧が判定値以上のレベルに到達した状態
のとき、また書込データが1ならばそのしきい値電圧が
判定値以下の一定レベルになった状態(これらの状態を
バス状態という)のとき、ビットに書込まれたデータの
続出が可能となる。アドレスのビットのうちのいずれか
のビットが続出不可能な場合は、ステップS5でこのビ
ットについてループ回数Nがループちり限値しに等しい
か否かが判定される。ループ回数Nがループ制限値りに
等しくない場合には、ステップS6でN−2となり、ス
テップ3に戻って1込データの再書込が行なわれる。以
後、ステップS4で書込まれたデータの続出が可能とな
るまでループ回数Nを順次1ずつ増加させながらステッ
プ33.ステップ84.ステップ85.ステップS6の
サイクルを繰返す。このサイクルにおいて、ループ回数
Nがループ制限値しに等しくなった場合にはステップS
7でEPROMへの書込の不良表示がなされ、以後再書
込は打切られる。アドレスのすべてのビットが読出可能
な場合には、ステップS8でアドレスがi終了ドレスで
あるか否かが判定される。最終アドレスである場合には
、EPROMの1込は終了し、最終アドレスでない場合
には、ステップS9で次のアドレスに設定され、ステッ
プS2に戻って次のアドレスの書込、続出へと続く。
このように、1アドレスごとに一定時間の1パルスの書
込と続出を、アドレスのすべてのビットがバス状態とな
るかまたはループ回数Nがループ制限値しになるかまで
繰返し、このサイクルを最終アドレスまで実行すること
によって、書込データが1アドレス単位でビットに書ま
れる。
第6図はEPROMのビットに従来の書込方法で書込デ
ータOを書込む場合の書込特性を示す図である。図にお
いて、書込データ0を書込んだビットのしきい値電圧は
書込時間に比例して高くなっている。ここで、ビットの
しきい値電圧が判定値のレベルに到達するのに必要な書
込時間はEPOMの製造時のばらつきによってビットご
とに異なる。
第7図はEPROMのビットに従来の書込方法で書込デ
ータ1を書込む場合の書込特性を示す図である。図にお
いて、書込データ1を書込んだビットのしきい値電圧は
書込時間に対して変化しない。
[発明が解決しようとする問題点] 従来のEPROMは以上のような方法で1込が行なわれ
るが、第6図に示すように書込データOを関込んだビッ
トのしきい値電圧は書込時間に比例するので、同一アド
レス内のビットのうちに書込データOを書込み難いビッ
トがある場合には、ステップ33.ステップ34.ステ
ップ85.ステップS6からなるサイクルを何度も繰返
して長時間再書込を行なうので、内地データOを書込や
すいビットのしきい値電圧は1込難いビットのしぎい値
電圧に比べて十分高くなってしまう。
第8図はこの様子を示したものであり、書込データOを
1込んだビットのしきい値電圧にばらつきが生じており
、書込ビット数が少ないほどばらつきが大きくなってい
る。このため、従来の書込方法は、高温保存や高温動作
などの記憶保持特性試験における前処理としての書込に
は適さないなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、書込データ0を1込むべきビットのしきい値
電圧を判定1i1i以上の一定レベルに揃えることがで
きるEPROMの書込方法を得ることを目的とする。 
 。
[問題点を解決するための手段] この発明に係るEPROMの書込方法は、少数ビット分
の書込データを一括入力して複数ビットに一括書込し、
各ビットに書込まれたデータを読出し、この続出された
データと一括入力される書込データとの一致を判定して
、1込データOを書込んだビットのうちに所定しきい値
電圧に到達したビットがあるかどうかを検出し、読出さ
れたデータと一括入力される書込データとが一致したビ
ットに対しては、そのIl!込データOを1に変更して
書込むようにし、読出されたデータと一括入力される書
込データとが一致しないビットに対しては書込データO
のままで書込むようにする方法である。
[作用] この発明はビットに書込データ1を書込んでもそのしぎ
い値電圧が変化しない書込特性を利用したものである。
すなわち、書込データOを書込んだビットのうちに所定
しきい値電圧に到達したピッ1へがある場合には、その
模このビットについては書込データを変更して1を、同
一アドレス内のまだ所定しきい(i!雷電圧到達してい
ない他のビットについてはそのまま書込データ0を一括
再書込するようにしたので、上記他のビットについては
一括再書込によりそのしきい1lII電圧は上がるが、
上記所定しきい値電圧に到達したピッ1−のしきいla
d圧は一括再塵込により変化しない。
[実施例] 以下、この発明の実施例を図について説明する。
なお、この実施例の説明において、従来の技術の説明と
重複する部分については適宜その説明を省略する。
第1図はこの発明の実流例であるEPROMの書込方法
のフローチャートである。このフローチャートが第5図
のフローチャートと異なる点は以下の点である。すなわ
ち、ステップS5とステップS6との間にステップS5
1.ステップS52゜ステップ853が、さらにステッ
プS9の後にステップS10が追加された点である。す
なわち、ループ回数Nがループ制限値りに等しくない場
合には、ステップ351で設定されたアドレスのビット
の中にバス状態のビットがあるか否かが判定される。バ
ス状態のビットがない場合には、ステップS6でループ
回数Nを1増加させ、ステップS3に戻って各ビットに
一定時間の1パルスを幽込むことによってOまたは1の
書込データの書込を行なう。バス状態のビットがある場
合には、ステップ852でバス状態のビット情報を記憶
し、次にステップ853でバス状態のビットのうち書込
データ0を書込んだビットについて以後1込データをO
から1に変更し、次にステップs6でループ回数Nを゛
1増加させ、次にステップs3に戻って各ビットに一定
時間のパルスを書込むことによって0または1のデータ
の書込を行なう。以後、ステップS4でアドレスのすべ
てのビットがバス状態となるまでループ回数Nを順次1
ずっ増加させながらステップ83〜ステップ85.ステ
ップ851〜ステップS53.ステップS6のサイクル
を繰返す。さらに、ステップs9で次のアドレスに設定
されると同時に、ステップ352で記憶されたバス状態
のビット情報はステップ810でクリアされる。
このように、1アドレスごとに一定時間の1パルスの書
込と読出を、アドレスのすべてのビットがバス状態とな
るかまたはループ回数Nがループ制限値しになるかまで
繰返し、ステップs3〜ステップS5.ステップ351
〜ステップs53゜ステップS6からなるサイクルを最
終アドレスまで実行することによって書込データが1ア
ドレス単位でビットに書込まれる。
第2図は第1図の書込方法を外部回路で実現した例を示
す回路図であ委。この構成について説明すルト、EPR
OM11.ニアFレス信j[3,a込信号縮4.読出信
号115が接続されており、各信号線にそれぞれアドレ
ス信号、TK低信号に百信号が与えられる。EPROM
1の各アドレスはn個のビットから構成されており、こ
のn個のビットに対応してn個のドライバ会コンパレー
タ回路31・〜3nが設けられている。EPROMIは
n本のデータ信号1112により各ドライバ・コンパレ
ータ回路31〜3nに接続されており、各ドライバ・コ
ンパレータ回路31〜3nはn本のビットバス信号11
112によりNAND回路13に接続されている。NA
NO回路13はアドレスバス信号1014に接続されて
いる。
ドライバ・コンパレータ回路31について詳細に説明す
ると、データビン111に書込データ信QDIが入力さ
れる。データビン111はOR回路101の一方の入力
側、ゲート41を介してデータ信号1a21に接続され
ている。ゲート41にコントロール信号1i16が接続
されており、このコ信号によりそのオン・オフが制御さ
れる。OR回路101の出力側とゲート41の入力側と
の接続点はFOR回路51の一方の入力側に接続されて
おり、ゲート41の出力側はFOR回路51の他方の入
力側に接続されている。FOR回路51はOR回路10
1からのデータ信号101aとEPROM1から読出さ
れた読出データ信号11aとの一致を判定する。すなわ
ち、データが書込まれたビットのしきいla雷電圧パス
状態になって書込むべきデータが続出可能であるか否か
を判定する。
FOR回路51の出力側はOR回路61の一方の入力側
に接続されている。OR回路61の他方の入力側にコン
トロール信号線7が接続されてJ3す、このコントロー
ル信号線にストローブ信号が与えられる。OR回路61
はストローブ信号によりEOR回路51からの判定結果
を取込む。NAND回路81とNAND回路91とはフ
リップフロップ回路71を構成する。OR回路61の出
力側はNAND回路81の一方の入力側に接続され、N
AND回路81の他方の出力側はNAND回路91の出
力側に接続されtいる。NAND回路91の一方の入力
側はNAND回路81の出力側およびOR回路101の
他方の入力側に接続されている。NAND回路91の他
方の入力側にコントロール信号線8が接続されており、
このコントロール信号線にクリア信号が与えられる。フ
リップフロップ回路71はOR回路61出力のうち、バ
ス状態に対応する信号を記憶する。OR回路101は、
フリップフロップ回路71出力がバス状態に対応してい
るとき書込データD1をOから1に変える。フリップフ
ロップ回路71に記憶されたバス状態に対応する信号は
クリア信号によりクリアされる。OR回路101の他方
の入力側とNAND回路81の出力側との接続点はピッ
1〜パス信号線121によりNANO回路13の入力側
に接続されている。また、他のドライバ・コンパレータ
回路30などについてもドライバ・コンパレータ回路3
1と同様に構成されており、たとえばドライバ・コンパ
レータ回路3nについて、4oはゲート、10nはOR
回路、8nはNAND回路であり、データビン11nに
書込データ信号Dnが入力される。NAND回路13は
、ドライバ・コンパレータ回路31〜3nの各フリップ
フロップ回路出力がすべてバス状態に対応し、アドレス
のすべてのビットについて書込むべきデータの読出が可
能であるとき、アドレスバス信号線14にローレベルの
アドレスバス信号を出力する。
第3図は第2図の回路の動作を説明するためのタイミン
グチャートである。
次に、第2図の回路による書込方法を第3図を参照しな
がら説明する。データビン111にOの書込データ信号
D1が入力され、OR回路101からOのデータ信号1
01aが出力されているとする。この0のデータ信号1
01aはゲート41に与えられ、ドライバ・イネーブル
信号がローレベルとなり、書込信号がローレベルとなっ
てEFROMIの設定されたアドレスのビットに一定時
間の1パルスを書込むことによってOのデータ信号10
1aが書込まれる。この後、FatJ3信号がローレベ
ルとなってEPROM1から読出データ信号11aが出
力される。このとき、まだビットのしきい1iIT1圧
はバス状態になっていないので読出データ信号11aは
1となる。FOR回路51は0のデータ信号101aと
読出データ信号11aとの一致を判定してハイレベルの
ビット判定信号51aを出力する。この後、ス1−ロー
ブ信号がローレベルとなってOR回路61はハイレベル
のビット判定信号51aを取込み、OR回路61からハ
イレベルのビット信号61aが出力される。このとき、
クリア信号はハイレベルになっているので、フリップフ
ロップ回路71からローレベルのピッ1−パス信号が出
力される。次に、まだ書込データ0の読出が可能でない
のでOR回路101出力は変化せずOのデータ信号10
18が出力され、この0のデータ信号101aが同一ビ
ットに再書込される。、Oのデータ信号101aの再書
込、データ信@101aと読出データ信号11aとの−
致の判定などからなるサイクル動作は0の読出データ信
号11aが出力されるまで、すなわちビットのしきい値
電圧がバス状態になるまで何回も繰返される。但し、ル
ープ回数Nがループ制限値しになった場合にはEPRO
MIへの書込の不良表示がなされ、以後Oのデータ信号
101aの再書込が打切られる。再書込によって、デー
タ信号101aと読出データ信号11aとが一致して0
を占込むべきビットのしきい値電圧がバス状態なったと
き(第3図において3パルス目でバス状態)、FOR回
路51はローレベルのビット判定信号51aを出力する
。この後、ストローブ信号がローレベルになってOR回
路61はローレベルのビット判定信号51aを取込み、
OR回路61からローレベルのビット信号61aが出力
される。このとき、クリア信号はハイレベルになってい
るので、ローレベルのビット信号61aはフリップフロ
ップ回路71に記憶され、フリップフロップ回路71か
らハイレベルのビットパス信号81aが出力される。次
に、既に書込データOの読出が可能であるのでOR回路
101出力は変化して1のデータ信号101aが出力さ
れ、この1のデータ信号101aが同一ビットに再内地
される。この後、EPROM1からOの読出データ信号
11aが出力され、ビット判定信号51aはハイレベル
、ビット信号61aはハイレベルとなり、ビットパス信
号81aがハイレベルのままでOR回路101出力は変
化せず、1のデータ信号101aが同一ビットに再書込
される。以後、OR回路101からは1のデータ信号1
01aが出力されビットに1が書込まれ続けるが、ビッ
トに1のデータ信号を書込んでもビットのしきい値電圧
の上昇は起こらないので、0の書込データ信号を書込む
べきビットのしきい値電圧はほぼ最初のバス状態の一定
レベルに保持され変化しない。
また、データビン111から1の書込データD1が入力
される場合についても、Oの書込データ信号D1を書込
む場合と同様、ビットがバスの状態となった模も他のビ
ットがすべでバス状態になるまで1のデータ信号が書込
み続けられる。この場合はもちろん1の書込データ信号
を書込むべきビットのしきい値電圧は判定値以下の一定
レベルのままに保持される。
以上のような書込動作は残りのドライバ・コンパレータ
回路30等についてもドライバ・コンパレータ回路31
の書込動作と並列に行なわれ、同一アドレス内の各ビッ
トに0または1の書込データ信号が書込まれる。そして
、同一アドレス内のすべてのビットのしきい値電圧がバ
ス状態となったときアドレスのすべてのビットの続出が
可能となり、各ドライバ・コンパレータ回路からのビッ
トパス信号81a〜8nはすべてハイレベルとなって、
NANO回路13からローレベルのアドレスバス信号が
アドレスバス信号線14に出力され次のアドレスが設定
される。このとき、クリア信号がローレベルになってフ
リップフロップ回路71に記憶されたバス状態のピッ1
ル信号61aはクリアされ、フリップフロップ回路71
出力はローレベルとなって次のアドレスの書込へと続い
ていく。
第4図はこの書込方法で書込データOをm込む場合のビ
ットのしきい値電圧の分布を書込ビット数に対して示し
たもので、各ビットのしきい+IfIg圧は書込ビット
数の多少にかかわらずほぼ判定値のレベルに揃っており
ばらつきが少ない。
このように、この発明においてはOの書込データを書込
むべきビットについては、バス状態になった後は1込デ
ータを0から1に変更して書込むようにしているので、
アドレス単位で複数のビットに一括再書込が繰返されて
も、書込データ0を書込むべきビットのしきい値電圧は
ほぼ判定値以上の一定レベルに、書込データ1を書込む
べぎビットのしきい値電圧は判定値以下の一定レベルに
揃うことになる。
なお、上記実施例では、この発明の書込方法を第2図の
外部回路で実現した場合について説明したが、同様な外
部回路、またはデバイスの内部回路、またはソフトウェ
アで実現してもよく、これらの場合にも上記実脳例と同
様の効果を秦する。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、複数ビット分の書込デ
ータを複数ヒツトに一括磨込し、読出されたデータと書
込データとの一致を判定して、書込データ0を書込んだ
ビットのうちに所定しきい値電圧に到達したビットがあ
るか否かを検出し、読出されたデータと書込データとが
一致したビットに対しては、その後書込データをOから
1に変更して書込むようにし、読出されたデータと書込
データとが一致しないビットに対しては書込データ0の
ままで書込むようにするので、書込データ0を書込むべ
きビットのしきい値電圧を判定値以上の一定レベルに揃
えることができるEPROMの書込方法を得ることがで
きる。このため、高温保存や高温動作などの記憶保持特
性試験における前処理としての書込に適する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例であるEPROMの1込方法
のフローチp−1−である。 第2図は第1図の書込方法を外部回路で実現した例を示
す回路図である。 第3図は第2図の回路の動作を説明するためのタイミン
グチャートである。 第4図はこの発明の書込方法で書込データ○を書込む場
合のビットのしきいlit!電圧の分布を書込ビット数
に対して示す図である。 第5図は従来のEPROMの書込方法のフローチ11−
トである。 第6図は従来の書込方法で書込データOを書込む場合の
書込特性を示す図である。 第7図は従来の書込方法で書込データ1を書込む場合の
1込特性を示す図である。 第8図は従来の書込方法で書込データOを書込む場合の
ビットのしきい値電圧の分布を書込ビット数に対して示
す図である。 図において、1はEPROM、2はデータ信号線、3は
アドレス信号線、4は書込信号線、5は読出信号線、6
.7.8はコントロール信号線、12はビットバス信号
線、14はアドレスバス信号線、31.30はドライバ
・コンパレータ回路、41.4nはゲー1−151はE
OR回路、61゜ioi、 1onはOR回路、71は
フリツプフロツプ回路、81.8n、91.13はNA
NO回路である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  複数ビットごとにデータを一括書込するような紫外線
    消去型プログラマブルROMの書込方法であつて、 複数ビット分の書込データを一括入力して前記複数ビッ
    トに一括書込し、 前記各ビットに書込まれたデータを読出し、この読出さ
    れたデータと前記一括入力される書込データとの一致を
    判定して、書込データ0を書込んだビットのうちに所定
    しきい値電圧に到達したビットがあるか否かを検出し、 前記読出されたデータと前記一括入力される書込データ
    とが一致したビットに対しては、その後前記書込データ
    0を1に変更して書込むようにし、前記読出されたデー
    タと前記一括入力される書込データとが一致しないビッ
    トに対しては前記書込データ0のままで書込むようにす
    る紫外線消去型プログラマブルROMの書込方法。
JP61031125A 1986-02-13 1986-02-13 紫外線消去型プログラマブルromの書込方法 Pending JPS62188100A (ja)

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