DE112012001708T5 - Verbesserter Positionsdetektor im Lasertracker - Google Patents

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Abstract

Das Koordinatenmessgerät sendet einen ersten Lichtstrahl an ein Retroreflektorziel, welches einen Teil dieses ersten Strahls als zweiten Strahl zurück wirft. Das Gerät enthält einen ersten und einen zweiten Motor, welche den ersten Lichtstrahl in eine erste Richtung lenken, die durch einen ersten und einen zweiten Drehwinkel um eine erste und eine zweite Achse festgelegt ist, wobei eine erste und eine zweite Winkelmessvorrichtung den ersten bzw. zweiten Drehwinkel messen. Ein Entfernungsmesser misst eine erste Entfernung vom Gerät zum Ziel. Das Gerät enthält auch einen Positionsdetektor und einen Diffusor, wobei ein zweiter Teil des zweiten Lichtstrahls durch den Diffusorhindurch tritt und auf den Positionsdetektor trifft und dieser Positionsdetektor dergestalt konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal als Reaktion auf die Position des zweiten Teils der zweiten Lichtstrahls auf dem Positionsdetektor erzeugt. Ein Steuerungssystem sendet ein zweites Signal an den ersten Motor und ein drittes Signal an den zweiten Motor, wobei das zweite und das dritte Signal zumindest teilweise auf dem ersten Signal beruhen und das Steuerungssystem dergestalt konfiguriert ist, dass es die erste Richtung des ersten Strahls auf die Position des Ziels einstellt. Ein Prozessor liefert eine 3D-Koordinate des Ziels.

Description

  • Querverweis auf verwandte Anmeldungen
  • Die vorliegende Anmeldung beansprucht den Vorteil der am 30. Januar 2012 angemeldeten vorläufigen US-amerikanischen Patentanmeldung, Aktenzeichen 61/592,049, und der am 15. April 2011 angemeldeten vorläufigen US-amerikanischen Anmeldung, Aktenzeichen 61/475,703, deren beider gesamter Inhalt hiermit durch Verweis einbezogen ist.
  • Hintergrund
  • Die vorliegende Offenbarung betrifft ein Koordinatenmessgerät. Eine Gruppe von Koordinatenmessgeräten gehört zu einer Klasse von Instrumenten, welche die dreidimensionalen Koordinaten (3D-Koordinaten) eines Punkts messen, indem sie einen Laserstrahl zu diesem Punkt senden. Dieser Laserstrahl kann auf den Punkt direkt auftreffen oder auf ein Retroreflektorziel, das sich mit dem Punkt in Kontakt befindet. In jedem der beiden Fälle ermittelt das Instrument die Koordinaten des Punkts, indem es die Entfernung und die zwei Winkel zu dem Ziel misst. Die Entfernung wird mit einem Entfernungsmessgerät wie beispielsweise einem Absolutdistanzmesser oder einem Interferometer gemessen. Die Winkel werden mit einem Winkelmessgerät wie beispielsweise einem Winkelkodierer gemessen. Ein kardanisch aufgehängter Strahllenkungsmechanismus im Innern des Instruments lenkt den Laserstrahl zu dem betreffenden Punkt.
  • Der Lasertracker ist ein besonderer Typ von Koordinatenmessgerät, der das Retroreflektorziel mit einem oder mehreren Laserstrahlen verfolgt, den bzw. die es aussendet. Koordinatenmessgeräte, die mit dem Lasertracker nahe verwandt sind, sind der Laserscanner und die Totalstation. Der Laserscanner richtet schrittweise einen oder mehrere Laserstrahlen auf Punkte auf einer Oberfläche. Er nimmt das von dieser Oberfläche gestreute Licht auf und ermittelt aus diesem Licht die Entfernung und zwei Winkel zu jedem Punkt. Die Totalstation, die am häufigsten bei Anwendungen im Vermessungswesen eingesetzt wird, kann dazu benutzt werden, um die Koordinaten von diffus streuenden bzw. retroreflektierenden Zielen zu messen. Nachstehend wird der Begriff „Lasertracker” in weitem Sinn so benutzt, dass er Laserscanner und Totalstationen umfasst.
  • Gewöhnlich sendet der Lasertracker einen Laserstrahl zu einem Retroreflektorziel. Ein weit verbreiteter Typ eines Retroreflektorziels ist der sphärisch montierte Retroreflektor (SMR), der einen in eine Metallkugel eingebetteten Würfelecken-Retroreflektor umfasst. Dieser Würfelecken-Retroreflektor umfasst drei zueinander rechtwinklig angeordnete Spiegel. Der Scheitelpunkt, welcher der gemeinsame Schnittpunkt dieser drei Spiegel ist, befindet sich in der Mitte der Kugel. Wegen dieser Anordnung der Würfelecke innerhalb der Kugel bleibt die rechtwinklige Entfernung vom Scheitelpunkt zu einer beliebigen Oberfläche, auf welcher der SMR aufliegt, konstant, selbst dann, wenn der SMR gedreht wird. Folglich kann der Lasertracker die 3D-Koordinaten einer Oberfläche messen, indem er der Position eines SMR folgt, während dieser über die Oberfläche bewegt wird. Anders ausgedrückt bedeutet dies, dass der Lasertracker lediglich drei Freiheitsgrade (eine radiale Entfernung und zwei Winkel) benötigt, um die 3D-Koordinaten einer Oberfläche vollständig zu kennzeichnen.
  • Ein Typ von Lasertracker enthält nur ein Interferometer (IFM) ohne einen Absolutdistanzmesser (ADM). Falls ein Objekt den Strahlengang des von einem dieser Tracker ausgehenden Laserstrahls blockiert, verliert das IFM seinen Bezug zur Entfernung. Die Bedienperson muss dann den Retroreflektor zu einer bekannten Stelle nachführen, um die Rückstellung auf einen als Bezugswert dienenden Entfernungswert durchzuführen, bevor die Messung fortgesetzt werden kann. Eine Methode zur Umgehung dieser Einschränkung besteht darin, einen ADM in den Tracker einzubringen. Der ADM kann die Entfernung in einer Weise des Zielens und Abdrückens messen, wie das weiter unten noch ausführlicher beschrieben wird. Einige Lasertracker enthalten nur einen ADM ohne ein Interferometer. Das an Bridges et al. erteilte US-Patent Nr. 7,352,446 , dessen Inhalt in dieses Dokument durch Verweis einbezogen ist, beschreibt einen Lasertracker, der nur einen ADM (und kein IFM) aufweist und der zum genauen Scannen eines sich bewegenden Ziels in der Lage ist. Vor dieser Erfindung waren Absolutdistanzmesser für das genaue Auffinden der Position eines sich bewegenden Ziels zu langsam.
  • Im Innern des Lasertrackers kann ein Kardanmechanismus verwendet werden, um einen Laserstrahl von dem Tracker auf den SMR zu richten. Ein Teil des von dem SMR retroreflektierten Lichts tritt in den Lasertracker ein und gelangt durch diesen hindurch auf einen Positionsdetektor. Ein Steuersystem im Lasertracker kann die Position des Lichts auf dem Positionsdetektor dazu nutzen, um die Drehwinkel der mechanischen Achsen des Lasertrackers dergestalt einzustellen, dass der Laserstrahl auf den SMR zentriert bleibt. Auf diese Weise ist der Tracker in der Lage, einem SMR zu folgen (nachgeführt zu werden), der über die Oberfläche des betreffenden Objekts bewegt wird.
  • Winkelmessgeräte wie beispielsweise Winkelkodierer sind an den mechanischen Achsen des Trackers befestigt. Die eine Entfernungsmessung und die zwei Winkelmessungen, die der Lasertracker durchführt, reichen aus, um die dreidimensionale Position des SMR genau anzugeben.
  • Um sechs Freiheitsgrade an Stelle der sonst üblichen drei Freiheitsgrade zu messen, stehen mehrere Lasertracker zur Verfügung oder wurden vorgeschlagen. Als Beispiel dienende Systeme mit sechs Freiheitsgraden (6-DOF-Systeme) (DOF – degrees of freedom = Freiheitsgrad) sind in dem an Bridges et al. erteilten US-Patent Nr. 7,800,758 ('758), dessen Inhalt hierin durch Verweis einbezogen ist, und in der von Bridges et al. angemeldeten und veröffentlichten US-amerikanischen Patentanmeldung, Aktenzeichen 2010/0158259, deren Inhalt hierin durch Verweis einbezogen ist, beschrieben.
  • Wie bereits weiter oben erläutert wurde, erfolgt die fortlaufende Zielverfolgung eines Retroreflektorziels durch den Lichtstrahl von einem Lasertracker in der Weise, dass ein Teil des retroreflektierten Lichts, das in den Tracker eintritt, auf einen Positionsdetektor gerichtet wird. Ein Strahl, der infolge Reflexion auf den Positionsdetektor trifft, kann Änderungen aufweisen, die nicht glatt verlaufen müssen, sondern er kann statt dessen „Hotspots” aufweisen, welche die Ursache dafür sein können, dass sich die Lage des Retroreflektorziels nicht einwandfrei ermitteln lässt. Außerdem können unerwünschte Geisterstrahlen, die von optischen Bauteilen reflektiert werden, auf den Positionsdetektor treffen, und auch diese können bewirken, dass sich die Lage des Retroreflektorziels nicht einwandfrei ermitteln lässt. Was folglich benötigt wird, ist ein Weg, die bei der Bestrahlung des Positionsdetektors auftretenden Probleme zu beseitigen und dadurch die fortlaufende Zielverfolgung zu verbessern und die Genauigkeit der Winkelmessung des Lasertrackers zu erhöhen.
  • Zusammenfassung
  • Gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sendet ein Koordinatenmessgerät einen ersten Lichtstrahl an ein entfernt befindliches Retroreflektorziel, wobei dieses Retroreflektorziel eine Position im Raum einnimmt, diese Position eine Funktion der Zeit ist und das Retroreflektorziel einen Teil dieses ersten Lichtstrahls als zweiten Lichtstrahl zurück wirft. Das Messgerät umfasst einen ersten Motor und einen zweiten Motor, die gemeinsam den ersten Lichtstrahl in eine erste Richtung lenken, wobei diese erste Richtung durch einen ersten Drehwinkel um eine erste Achse und einen zweiten Drehwinkel um eine zweite Achse festgelegt ist und der erste Drehwinkel durch den ersten Motor und der zweite Drehwinkel durch den zweiten Motor erzeugt werden. Das Messgerät enthält auch eine erste Winkelmessvorrichtung, die den ersten Drehwinkel misst, und eine zweite Winkelmessvorrichtung, die den zweiten Drehwinkel misst; einen Entfernungsmesser, der eine erste Entfernung vom Koordinatenmessgerät zum Retroreflektorziel auf der Grundlage von zumindest einem ersten Teil des zweiten Lichtstrahls, der von einem ersten optischen Detektor aufgenommen wird, misst; sowie eine Positionsdetektoranordnung, die einen Positionsdetektor und einen Diffusor enthält, wobei ein zweiter Teil des zweiten Lichtstrahls durch den Diffusor tritt und auf den Positionsdetektor trifft, und der Positionsdetektor dergestalt konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal als Reaktion auf die Lage dieses zweiten Teils auf dem Positionsdetektor erzeugt. Das Messgerät enthält außerdem ein Steuerungssystem, das ein zweites Signal an den ersten Motor und ein drittes Signal an den zweiten Motor sendet, wobei das zweite Signal und das dritte Signal zumindest teilweise auf dem ersten Signal beruhen und das Steuerungssystem dergestalt konfiguriert ist, dass es die erste Richtung des ersten Strahls auf die Position des Retroreflektorziels im Raum einstellt; sowie einen Prozessor, der einen dreidimensionalen Koordinatenwert des Retroreflektorziels liefert und dieser dreidimensionale Koordinatenwert zumindest teilweise auf der ersten Entfernung, dem ersten Drehwinkel und dem zweiten Drehwinkel beruht.
  • Gemäß einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sendet ein Koordinatenmessgerät einen ersten Lichtstrahl an ein entfernt befindliches Retroreflektorziel, wobei dieses Retroreflektorziel eine Position im Raum einnimmt, diese Position im Raum eine Funktion der Zeit ist und das Retroreflektorziel einen Teil dieses ersten Lichtstrahls als zweiten Lichtstrahl zurück wirft. Das Messgerät umfasst einen ersten Motor und einen zweiten Motor, die gemeinsam den ersten Lichtstrahl in eine erste Richtung lenken, wobei diese erste Richtung durch einen ersten Drehwinkel um eine erste Achse und einen zweiten Drehwinkel um eine zweite Achse festgelegt ist, und der erste Drehwinkel durch den ersten Motor und der zweite Drehwinkel durch den zweiten Motor erzeugt werden. Das Messgerät enthält auch eine erste Winkelmessvorrichtung, die den ersten Drehwinkel misst, und eine zweite Winkelmessvorrichtung, die den zweiten Drehwinkel misst; einen Entfernungsmesser, der eine erste Entfernung vom Koordinatenmessgerät zum Retroreflektorziel auf der Grundlage von zumindest einem ersten Teil des zweiten Lichtstrahls, der von einem ersten optischen Detektor aufgenommen wird, misst; sowie eine Positionsdetektoranordnung, die einen Positionsdetektor, ein Objektiv und einen räumlichen Filter enthält, wobei das Objektiv eine positive Brennweite aufweist, der räumliche Filter in einer zweiten Entfernung vom Objektiv angeordnet ist, die annähernd gleich der Brennweite des Objektivs ist, der räumliche Filter zwischen dem Objektiv und dem Positionsdetektor angeordnet ist, ein zweiter Teil des zweiten Lichtstrahls durch das Objektiv und den räumlichen Filter tritt und auf den Positionsdetektor trifft, der Positionsdetektor dergestalt konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal als Reaktion auf die Lage dieses zweiten Teils auf dem Positionsdetektor erzeugt. Das Messgerät enthält außerdem ein Steuerungssystem, das ein zweites Signal an den ersten Motor und ein drittes Signal an den zweiten Motor sendet, wobei das zweite Signal und das dritte Signal zumindest teilweise auf dem ersten Signal beruhen, und das Steuerungssystem dergestalt konfiguriert ist, dass es die erste Richtung des ersten Strahls auf die Position des Retroreflektorziels im Raum einstellt; sowie einen Prozessor, der einen dreidimensionalen Koordinatenwert des Retroreflektorziels liefert und dieser dreidimensionale Koordinatenwert zumindest teilweise auf der ersten Entfernung, dem ersten Drehwinkel und dem zweiten Drehwinkel beruht.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Es soll nun auf den Zeichnungssatz Bezug genommen werden, wo beispielhafte Ausführungsformen gezeigt werden, die nicht als einschränkend für den gesamten Schutzumfang der Offenbarung anzusehen sind und in denen die in mehreren Figuren vorkommenden Bauelemente die gleichen Bezugszahlen haben. Es zeigen:
  • 1 eine Perspektivdarstellung eines Lasertrackersystems mit einem Retroreflektorziel gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 2 eine Perspektivdarstellung eines Lasertrackersystems mit einem 6-DOF-Ziel gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 3 ein Blockschaltbild, in dem die Bauteile der Optik und der Elektronik des Lasertrackers gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben sind;
  • 4 zu der 4A und 4B gehören, zwei Typen von afokalen Strahlenaufweitern des Standes der Technik;
  • 5 eine faseroptische Strahl-Einkopplung des Standes der Technik;
  • 6A–D schematische Abbildungen, in denen vier Typen von Positionsdetektoranordnungen des Standes der Technik dargestellt sind; und 6E–F schematische Abbildungen, die Positionsdetektoranordnungen gemäß den Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung zeigen;
  • 7 ein Blockschaltbild der elektrischen und elektro-optischen Bauteile in einem ADM des Standes der Technik;
  • 8A und 8B schematische Abbildungen, die faseroptische Bauteile in einem faseroptischen Netz des Standes der Technik zeigen;
  • 8C eine schematische Darstellung, in der faseroptische Bauteile in einem faseroptischen Netz gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt sind;
  • 9 eine Aufrissdarstellung eines Lasertrackers des Standes der Technik;
  • 10 eine Schnittdarstellung eines Lasertrackers des Standes der Technik; und
  • 11 ein Blockschaltbild der für die Berechnungen und die Kommunikation zuständigen Bauteile eines Lasertrackers gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • Detaillierte Beschreibung
  • Ein als Beispiel dienendes Lasertrackersystem 5, das in 1 veranschaulicht ist, umfasst einen Lasertracker 10, einen Retroreflektor 26, einen wahlweise vorhandenen Hilfsprozessor 50 und einen wahlweise vorhandenen Hilfscomputer 60. Ein als Beispiel dienender kardanisch gelagerter Strahllenkmechanismus 12 des Lasertrackers 10 umfasst eine Zenit-Trägervorrichtung 14, die auf einen Azimutsockel 16 montiert ist und sich um die Azimutachse 20 dreht. Eine Nutzmasse 15 ist auf die Zenit-Trägervorrichtung 14 montiert und dreht sich um die Zenitachse 18. Die Zenitachse 18 und die Azimutachse 20 schneiden sich orthogonal im Innern des Trackers 10 am Kardanpunkt 22, der typischerweise der Ausgangspunkt für die Entfernungsmessungen ist. Ein Laserstrahl 46 tritt auf virtuelle Weise durch den Kardanpunkt 22 und ist orthogonal zur Zenitachse 18 gerichtet. Mit anderen Worten ist der Laserstrahl 46 annähernd rechtwinklig zu irgend einer Ebene, die zu beiden parallel ist, zur Zenitachse 18 und zur Azimutachse 20. Der abgehende Laserstrahl 46 wird durch Drehung der Nutzmasse 15 um die Zenitachse 18 und durch Drehung der Zenit-Trägervorrichtung 14 um die Azimutachse 20 in die gewünschte Richtung gerichtet. Ein im Innern des Trackers vorhandener Zenitwinkelkodierer ist an der mechanischen Zenitachse befestigt, die zur Zenitachse 18 ausgerichtet ist. Ein im Innern des Trackers befindlicher Azimutwinkelkodierer ist an der mechanischen Azimutachse befestigt, die zur Azimutachse 20 ausgerichtet ist. Der Zenitwinkelkodierer und der Azimutwinkelkodierer messen den Zenitwinkel und den Azimutwinkel der Drehung mit einer relativ hohen Genauigkeit. Der abgehende Laserstrahl 46 läuft zum Retroreflektorziel 26, das beispielsweise ein sphärisch montierter Retroreflektor (SMR) sein kann, wie er weiter oben beschrieben ist. Durch die Messung der radialen Entfernung zwischen dem Kardanpunkt 22 und dem Retroreflektor 26, des Drehwinkels um die Zenitachse 18 und des Drehwinkels um die Azimutachse 20 wird die Position des Retroreflektors 26 innerhalb des Kugelkoordinatensystems des Trackers gefunden.
  • Der abgehende Lichtstrahl 46 kann eine oder mehrere Laserwellenlängen enthalten, wie weiter unten noch beschrieben wird. Aus Gründen der Klarheit und Einfachheit wird ein Steuerungsmechanismus der in 1 dargestellten Art bei der folgenden Diskussion angenommen. Es sind jedoch auch andere Typen von Steuermechanismen möglich. Zum Beispiel ist es möglich, einen Laserstrahl von einem Spiegel weg zu reflektieren, der sich um die Azimut- und die Zenitachse dreht. Die hier beschriebenen Techniken sind anwendbar ohne Rücksicht auf den Typ des Steuerungsmechanismus.
  • Am Lasertracker können magnetische Haltevorrichtungen 17 unterschiedlicher Größe vorhanden sein, die zum Rücksetzen des Lasertrackers in eine „Home”-Position für SMRs unterschiedlicher Größe wie beispielsweise SMRs für 1,5, 7/8 und ½ Zoll dienen. Ein am Tracker angebrachter Retroreflektor 19 kann benutzt werden, um den Tracker auf eine Bezugsentfernung zurück zu setzen. Zusätzlich kann ein auf dem Tracker angebrachter Spiegel, der aus der 1 nicht ersichtlich ist, in Kombination mit dem auf dem Tracker angebrachten Retroreflektor benutzt werden, um das Leistungsmerkmal der Selbstkompensierung zu ermöglichen, wie es im US-Patent Nr. 7,327,446 beschrieben ist, dessen Inhalt durch Verweis eingearbeitet ist.
  • 2 zeigt ein als Beispiel dienendes Lasertrackersystem 7, das dem Lasertrackersystem 5 von 1 gleicht, jedoch mit der Ausnahme, dass das Retroreflektorziel 26 durch eine 6-DOF-Sonde 1000 ersetzt ist. In 1 können weitere Typen von Retroreflektoren verwendet werden. Zum Beispiel wird manchmal ein Katzenaugen-Retroreflektor benutzt, der ein Glas-Retroreflektor ist, bei dem Licht auf einen kleinen Lichtfleck auf einer reflektierenden hinteren Fläche der Glasstruktur fokussiert wird.
  • 3 ist ein Blockschaltbild, das die optischen und elektrischen Bauteile in einer Ausführungsform eines Lasertrackers zeigt. Hier sind die Bauteile eines Lasertrackers dargestellt, der zwei Wellenlängen von Licht aussendet – eine erste Wellenlänge für einen ADM und eine zweite Wellenlänge für einen sichtbaren Zeiger und zur fortlaufenden Zielverfolgung. Der sichtbare Zeiger versetzt den Nutzer in die Lage, die Position des Laserstrahlflecks, der vom Tracker ausgesendet wird, zu sehen. Die zwei unterschiedlichen Wellenlängen werden unter Verwendung eines Freiraum-Strahlteilers kombiniert. Das elektrooptische System 100 (EO) enthält die Quelle für sichtbares Licht 110, den Isolator 115, die wahlweise vorhandene erste Fasereinkopplung 170, das wahlweise vorhandene Interferometer (IFM) 120, den Strahlenaufweiter 140, den ersten Strahlteiler 145, die Positionsdetektoranordnung 150, den zweiten Strahlteiler 155, den ADM 160 und die zweite Fasereinkopplung 170.
  • Die Quelle für sichtbares Licht 110 kann ein Laser, eine Superlumineszenz-Diode oder eine andere lichtaussendende Quelle sein. Der Isolator 115 kann ein Faraday-Entkoppler, ein Dämpfungsglied oder eine andere Vorrichtung sein, die imstande ist, das Licht, das in die Lichtquelle zurück reflektiert wird, zu verringern. Das wahlweise vorhandene Interferometer kann auf vielfältige Weise konfiguriert sein. Als spezielles Beispiel für eine mögliche Ausführung kann das Interferometer einen Strahlteiler 122, einen Retroreflektor 126, Lambdaviertelplättchen 124, 130 und einen Phasenanalysator 128 enthalten. Die Quelle für sichtbares Licht 110 kann das Licht in den freien Raum werfen, wo das Licht dann im freien Raum durch den Isolator 115 und das wahlweise vorhandene Interferometer 120 tritt. Auf alternative Weise kann der Isolator 115 an die Quelle für sichtbares Licht 110 über ein faseroptisches Kabel angeschlossen sein. In diesem Fall kann das Licht durch die erste Fasereinkopplung 170 vom Isolator in den freien Raum geworfen werden, wie das hier noch weiter unten unter Bezug auf 5 diskutiert wird.
  • Der Strahlenaufweiter 140 kann unter Verwendung einer Vielfalt von Linsenkombinationen aufgebaut sein, aber zwei üblicherweise benutzte Konfigurationen des Standes der Technik sind in 4A und 4B dargestellt. 4A zeigt eine Konfiguration 140A, die auf dem Einsatz einer Konkavlinse 141A und einer Konvexlinse 142A beruht. Ein Strahl gebündelten Lichtes 220A, das auf die Konkavlinse 141A fällt, tritt aus der Konvexlinse 142A als erweiterter Strahl an gebündeltem Licht 230A aus. 4B zeigt eine Konfiguration 140B, die auf dem Einsatz von zwei Konvexlinsen 141B und 142B beruht. Ein Strahl gebündelten Lichtes 220B, das auf die erste Konvexlinse 141B trifft, tritt aus der zweiten Konvexlinse 142B als erweiterter Strahl gebündelten Lichtes 230B aus. Von dem Licht, das den Strahlenaufweiter 140 verlässt, reflektiert ein kleiner Anteil an den Strahlteilern 145, 155 auf dem Weg aus dem Tracker heraus und geht verloren. Derjenige Teil des Lichtes, der durch den Strahlteiler 155 hindurch geht, wird mit Licht vom ADM 160 kombiniert, um einen zusammengesetzten Lichtstrahl 188 zu bilden, der diesen Lasertracker verlässt und zum Retroreflektor 90 gelangt.
  • In einer Ausführungsform enthält der ADM 160 eine Lichtquelle 162, die ADM-Elektronik 164, ein faseroptisches Netz 166, ein zur Verschaltung dienendes elektrisches Kabel 165 und Lichtwellenleiter 168, 169, 184, 185, die der Verbindung untereinander dienen. Die ADM-Elektronik gibt elektrische Modulations- und Vorspannungen an die Lichtquelle 162 ab, die zum Beispiel ein Laser mit verteilter Rückkopplung (DFB-Laser) sein kann, der bei einer Wellenlänge von annähernd 1550 nm arbeitet. In einer Ausführungsform kann das faseroptische Netz 166 das in 8A dargestellte faseroptische Netz 420A des Standes der Technik sein. Bei dieser Ausführungsform läuft das Licht von der Lichtquelle 162 in 3 über den Lichtwellenleiter 184, welche dem Lichtwellenleiter 432 in 8A gleichwertig ist.
  • Das faseroptisches Netz von 8A enthält einen ersten Faserkoppler 430, einen zweiten Faserkoppler 436 und Reflektoren mit geringer Durchlässigkeit 435, 440. Das Licht läuft durch den ersten Faserkoppler 430 und spaltet sich in zwei Wege auf, wobei der erste Weg durch den Lichtwellenleiter 433 zum zweiten Faserkoppler 436 führt und der zweite Weg durch den Lichtwellenleiter 422 und den Faserlängenausgleicher 423 führt. Der Faserlängenausgleicher 423 ist an die Faserlänge 168 in 3 angeschlossen, die zum Referenzkanal der ADM-Elektronik 164 führt. Der Zweck des Faserlängenausgleichers 423 besteht darin, die Länge der Lichtwellenleiter, die vom Licht im Referenzkanal durchlaufen werden, an die Länge der Lichtwellenleiter, die vom Licht im Messkanal durchlaufen werden, anzugleichen. Das auf diese Weise erfolgende Angleichen der Faserlängen verringert ADM-Fehler, die durch Änderungen in der Umgebungstemperatur verursacht werden. Derartige Fehler können entstehen, da die effektive optische Weglänge eines Lichtwellenleiters gleich dem durchschnittlichen Brechungsindex des Lichtwellenleiters, multipliziert mit der Länge der Faser, ist. Da der Brechungsindex der Lichtwellenleiter von der Temperatur der Faser abhängt, verursacht eine Änderung in der Temperatur der Lichtwellenleiter auch Änderungen in den effektiven optischen Weglängen von Mess- und Referenzkanal. Falls die effektive optische Weglänge des Lichtwellenleiters im Messkanal sich gegenüber der effektiven optischen Weglänge des Lichtwellenleiters im Referenzkanal ändert, führt das zu einer offensichtlichen Verschiebung in der Position des Retroreflektorziels 90, selbst wenn das Retroreflektorziel 90 stationär gehalten wird. Um dieses Problem zu umgehen, werden zwei Schritte unternommen. Der erste besteht darin, dass die Länge der Faser im Referenzkanal so gut wie möglich an die Länge der Faser im Messkanal angepasst wird. Der zweite besteht darin, dass die Mess- und Bezugsfasern in dem Maße, wie dies möglich ist, nebeneinander verlegt werden, um zu gewährleisten, dass die Lichtwellenleiter in den zwei Kanälen nahezu die gleichen Temperaturänderungen erfahren.
  • Das Licht läuft durch den zweiten Faserkoppler 436 und wird auf zwei Wege aufgespaltet. Der erste führt zum LWL-Endelement 440 mit niedrigem Reflexionsvermögen und der zweite Weg zum Lichtwellenleiter 438, von dem er zum Lichtwellenleiter 186 in 3 führt. Das Licht im Lichtwellenleiter 186 läuft durch bis zu der zweiten Fasereinkopplung 170.
  • In einer Ausführungsform ist die Fasereinkopplung 170 in 5 in der Version des Standes der Technik dargestellt. Das Licht vom Lichtwellenleiter 186 von 3 gelangt zum Lichtleiter 172 in 5. Die Fasereinkopplung 170 enthält den Lichtwellenleiter 172, das Führungsröhrchen 174 und die Linse 176. Der Lichtwellenleiter 172 ist am Führungsröhrchen 174 angebracht, das auf stabile Weise an der Struktur im Innern des Lasertrackers 10 angebracht ist. Falls gewünscht, kann das Ende des Lichtwellenleiters unter einem bestimmten Winkel poliert werden, um die zurück erfolgenden Reflexionen zu vermindern. Das Licht 250 tritt aus dem Kern der Faser aus, das eine optische Einmodenfaser mit einem Durchmesser zwischen 4 und 12 Mikrometer sein kann, was von der Wellenlänge des benutzten Lichts und vom besonderen Typ der Lichtwellenleiter abhängt. Das Licht 250 divergiert unter einem bestimmten Winkel und tritt durch die Linse 176, die es bündelt. Das Verfahren des Abstrahlens und Aufnehmens eines optischen Signals durch einen einzelnen Lichtwellenleiter in einem ADM-System wurde mit Bezug auf 3 im Patent '758 beschrieben.
  • Unter Bezugnahme auf 3 kann der Strahlteiler 155 ein dichromatischer Strahlteiler sein, der andere Wellenlängen durchlässt als er reflektiert. In einer Ausführungsform reflektiert das vom ADM 160 kommende Licht vom dichromatischen Strahlteiler 155 und verbindet sich mit dem sichtbaren Licht vom Laser 110, das durch den dichromatischen Strahlteiler 155 durchgelassen wird. Der zusammengesetzte Lichtstrahl 188 läuft aus dem Lasertracker als erster Strahl zum Retroreflektor 90, der einen Teil dieses Lichts als zweiten Strahl zurück wirft. Dieser Teil des zweiten Strahls, der bei der ADM-Wellenlänge liegt, reflektiert vom dichromatischen Strahlteiler 155 und kehrt zu der zweiten Fasereinkopplung 170 zurück, die das Licht zurück in den Lichtwellenleiter 186 koppelt.
  • In einer Ausführungsform entspricht der Lichtwellenleiter 186 dem Lichtwellenleiter 438 in 8A. Das zurückkommende Licht läuft vom Lichtwellenleiter 438 durch den zweiten Faserkoppler 436 und wird auf zwei Wege aufgespaltet. Ein erster Weg führt zum Lichtwellenleiter 424, der in einer Ausführungsform dem Lichtwellenleiter 169 entspricht, der zum Messkanal der ADM-Elektronik 164 in 3A führt. Ein zweiter Weg führt zum Lichtwellenleiter 433 und dann zum ersten Faserkoppler 430. Das Licht, das den ersten Faserkoppler 430 verlässt, wird auf zwei Wege aufgespaltet, ein erster Weg führt zum Lichtwellenleiter 432 und ein zweiter Weg zum LWL-Endelement 435 mit niedrigem Reflexionsvermögen. In einer Ausführungsform entspricht der Lichtwellenleiter 432 dem Lichtwellenleiter 184, der in 3 zur Lichtquelle 162 führt. In den meisten Fällen enthält die Lichtquelle 162 einen eingebauten Faraday-Entkoppler, der die Menge an Licht, die vom Lichtwellenleiter 432 in die Lichtquelle dringt, auf ein Mindestmaß senkt. Übermäßiges Licht, das in einen Laser in der umgekehrten Richtung eingespeist wird, kann den Laser destabilisieren.
  • Das Licht vom faseroptischen Netz 166 gelangt über die Lichtwellenleiter 168, 169 in die ADM-Elektronik 164. Eine Ausführungsform der ADM-Elektronik nach dem Stand der Technik ist in 7 dargestellt. Der Lichtwellenleiter 168 in 3 entspricht dem Lichtwellenleiter 3232 in 7 und der Lichtwellenleiter 169 in 3 entspricht dem Lichtwellenleiter 3230 in 7. Mit Bezug auf 7 enthält die ADM-Elektronik 3300 einen Bezugsfrequenzgenerator 3302, einen Synthesizer 3304, einen Detektor 3306 für den Messkanal, einen Detektor 3308 für den Referenzkanal, eine Mischerschaltung 3310 für den Messkanal, eine Mischerschaltung 3312 für den Referenzkanal, Aufbereitungselektronik 3314, 3316, 3318, 3320, einen digitalen Frequenzteiler 3324 mit Division durch N und einen Analog-Digital-Wandler (ADC) 3322. Der Bezugsfrequenzgenerator, der zum Beispiel ein ofengesteuerter Kristalloszillator (SCXO) sein kann, gibt eine Bezugsfrequenz fREF, die beispielsweise 10 MHz betragen kann, an den Synthesizer ab, der zwei elektrische Signale erzeugt – ein Signal mit einer Frequenz fRF und zwei Signale mit der Frequenz fLO. Das Signal fRF läuft zur Lichtquelle 3102, die der Lichtquelle 162 in 3 entspricht. Die zwei Signale mit der Frequenz fLO laufen zur Messkanal-Mischerschaltung 3310 und zur Referenzkanal-Mischerschaltung 3312. Das Licht von den Lichtwellenleitern 168, 169 in 3 erscheint an den Lichtwellenleitern 3232 bzw. 3230 in 7 und tritt in den Referenzkanal bzw. den Messkanal ein. Der Referenzkanaldetektor 3308 und der Messkanaldetektor 3306 wandeln die optischen Signale in elektrische Signale um. Diese Signale werden durch elektrische Komponenten 3316 bzw. 3314 aufbereitet und an die Mischer 3312 bzw. 3310 geleitet. Diese Mischer erzeugen die Frequenz fIF, die gleich dem Absolutwert von fLO – fRF ist. Das Signal fRF kann eine relativ hohe Frequenz sein wie beispielsweise 2 GHz, während das Signal fIF eine relativ niedrige Frequenz wie beispielsweise 10 kHz haben kann.
  • Die Bezugsfrequenz fREF wird zum digitalen Frequenzteiler 3324 geleitet, der die Frequenz durch eine ganze Zahl dividiert. Zum Beispiel kann eine Frequenz von 10 kHz durch 40 geteilt werden, um eine Ausgangsfrequenz von 250 kHz zu erhalten. In diesem Fall würden die 10-kHz-Signale, die in den ADW 3322 eintreten, mit einer Rate von 250 kHz abgetastet, wodurch 25 Abtastwerte pro Zyklus erhalten werden. Die Signale vom ADW 3322 werden zu einem Datenprozessor 3400 geschickt, der ein oder mehrere digitale Signalverarbeitungsprozessoren (DSP) sein können, die sich in der ADM-Elektronik 164 von 3 befinden.
  • Das Verfahren der Ermittlung einer Entfernung beruht auf der Berechnung der Phase der ADW-Signale für den Bezugs- und den Messkanal. Dieses Verfahren ist ausführlich in dem an Bridges et al. erteilten US-Patent Nr. 7,701,559 beschrieben, dessen Inhalt in dieses Dokument durch Verweis einbezogen ist. Die Berechnung enthält die Anwendung der Gleichungen (1) bis (8) des Patents '559. Außerdem werden, wenn der ADM zunächst beginnt, einen Retroreflektor zu messen, die von dem Synthesizer erzeugten Frequenzen mehrere Male (zum Beispiel drei Mal) geändert, und die möglichen ADM-Entfernungen werden in jedem einzelnen Fall berechnet. Durch Vergleich der möglichen ADM-Entfernungen für jede der ausgewählten Frequenzen wird Mehrdeutigkeit bei der ADM-Messung beseitigt. Die Gleichungen (1)–(8) des Patents '559 in Verbindung mit den Methoden der Synchronisierung, die mit Bezug auf 5 von Patent '559 beschrieben sind, und mit den Kalmanschen Filtermethoden, die im Patent '559 beschrieben sind, versetzen den ADM in die Lage, ein sich bewegendes Ziel zu messen. In weiteren Ausführungsformen können weitere Methoden der Gewinnung von absoluten Entfernungsmessungen wie beispielsweise die unter Verwendung der gepulsten Flugdauer an Stelle der Phasenunterschiede benutzt werden.
  • Der Teil des zurück kommenden Lichtstrahls 190, der durch den Strahlteiler 155 tritt, kommt am Strahlteiler 145 an, der einen Teil des Lichts zum Strahlaufweiter 140 und einen weiteren Teil des Lichts zur Positionsdetektoranordnung 150 schickt. Das Licht, das aus dem Lasertracker 10 oder dem elektrooptischen System 100 austritt, kann als ein erster Strahl gedacht werden und derjenige Teil von diesem Licht, das vom Retroreflektor 90 oder 26 reflektiert wird, als zweiter Strahl. Teile des reflektierten Strahls werden zu verschiedenen Funktionselementen des elektrooptischen Systems 100 geschickt. Zum Beispiel kann ein erster Teil zu einem Entfernungsmesser wie beispielsweise dem ADM 160 in 3 geschickt werden. Ein zweiter Teil kann an die Positionsdetektoranordnung 150 geschickt werden. In einigen Fällen kann ein dritter Teil an weitere Funktionseinheiten geschickt werden wie beispielsweise an ein wahlweise vorhandenes Interferometer 120. Es ist dabei wichtig zu verstehen, dass, auch wenn im Beispiel von 3 der erste Teil und der zweite Teil des zweiten Strahls an den Entfernungsmesser und den Positionsdetektor nach Reflexion vom Strahlteiler 155 bzw. 145 geschickt werden, es auch möglich wäre, das Licht an den Entfernungsmesser oder den Positionsdetektor durch Transmission an Stelle von Reflexion zu schicken.
  • Vier Beispiele für Positionsdetektoranordnungen 150A150D des Standes der Technik sind in 6A6D dargestellt. In 6A ist die einfachste Ausführung dargestellt, bei der die Positionsdetektorenordnung einen Lagesensor 151 enthält, der auf eine Leiterplatte 152 montiert ist. Diese Leiterplatte 152 erhält ihre Stromversorgung vom Elektronikkasten 350 und schickt Signale an diesen zurück. Durch diesen kann dargestellt werden, dass die Möglichkeit der elektronischen Verarbeitung an jeder beliebigen Stelle im Lasertracker 10, in der Hilfsanlage 50 oder im externen Computer 60 besteht. In 6B ist ein optischer Filter 154 vorhanden, der ungewünschte optische Wellenlängen davon abhält, den Lagesensor 151 zu erreichen. Die unerwünschten optischen Wellenlängen können auch beispielsweise durch Beschichtung des Strahlteilers 145 oder der Oberfläche des Lagesensors 151 mit einer geeigneten Folie abgeblockt werden. In 6C ist ein Objektiv 153 vorhanden, wodurch die Größe des Lichtstrahls verringert wird. In 6D sind sowohl ein optischer Filter 154 als auch ein Objektiv 153 vorhanden.
  • 6E zeigt eine Positionsdetektoranordnung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, die einen optischen Aufbereiter 149E enthält. Dieser optische Aufbereiter enthält ein Objektiv 153 und kann auch optionale Wellenlängenfilter 154 aufweisen. Außerdem enthält er mindestens einen Diffusor 156 und einen räumlichen Filter 157. Wie bereits weiter oben erläutert wurde, ist der Würfelecken-Retroreflektor ein beliebter Typ von Retroreflektor. Ein Typ von Würfelecken-Retroreflektor ist aus drei Spiegeln gefertigt, von denen jeder unter rechten Winkeln mit den beiden anderen Spiegeln verbunden ist. Die Schnittlinien, an denen diese drei Spiegel zusammengesetzt sind, können eine endliche Dicke aufweisen, in der das Licht nicht vollständig zurück zum Tracker reflektiert wird. Die Linien endlicher Dicke werden bei ihrer Ausbreitung gebeugt, so dass sie beim Erreichen des Positionsdetektors am Positionsdetektor nicht genau dieselbe Erscheinungsform haben müssen. Jedoch wird das gebeugte Lichtmuster im Allgemeinen von der vollständigen Symmetrie abweichen. Im Ergebnis kann das Licht, das auf den Positionsdetektor 151 trifft, zum Beispiel Senken oder Anstiege in der optischen Leistung (hot spots) in der Nähe der gebeugten Linien aufweisen. Da die Gleichförmigkeit des vom Retroreflektor kommenden Lichts sich von einem Retroreflektor zum anderen Retroreflektor ändern kann und auch da die Verteilung des Lichts am Positionsdetektor sich verändern kann, wenn der Retroreflektor gedreht oder geneigt wird, kann es vorteilhaft sein, einen Diffusor 156 einzubeziehen, um die Glätte des Lichts, das auf den Positionsdetektor 151 trifft, zu verbessern. Da ein idealer Positionsdetektor auf einen Flächenschwerpunkt ansprechen sollte und ein idealer Diffusor einen Lichtfleck symmetrisch ausbreiten sollte, so könnte argumentiert werden, dass keine Auswirkung auf die sich ergebende Position, die vom Positionsdetektor angegeben wird, vorliegen dürfte. Jedoch wird in der Praxis beobachtet, dass der Diffusor die Leistungsfähigkeit der Positionsdetektoranordnung verbessert, vermutlich aufgrund der Auswirkungen von Nichtlinearitäten (Unvollkommenheiten) im Positionsdetektor 151 und im Objektiv 153. Würfelecken-Retroreflektoren aus Glas können auch ungleichförmige Lichtflecke am Positionsdetektor hervorrufen. Änderungen in einem Lichtfleck auf einem Positionsdetektor können besonders vorrangig von dem Licht sein, das von den Würfelecken in den 6-DOF-Zielen reflektiert wird, wie deutlicher aus den gemeinsam übertragenen US-Patentanmeldungen Nr. 13/370,339, angemeldet am 10. Februar 2015, und 13/407,983, angemeldet am 29. Februar 2015, hervorgeht, deren Inhalt hier durch Verweis einbezogen ist. In einer Ausführungsform ist der Diffusor 156 ein holografischer Diffusor. Ein holografischer Diffusor liefert kontrolliertes homogenes Licht über einen spezifizierten Diffusionswinkel. In anderen Ausführungsformen werden andere Typen von Diffusoren benutzt wie beispielsweise Diffusoren aus gemahlenem Glas oder „opale” Diffusoren.
  • Der Zweck des räumlichen Filters 157 der Positionsdetektoranordnung 150E besteht darin, Geisterstrahlen abzublocken, die beispielsweise aus unerwünschten Reflexionen von optischen Oberflächen, vom Auftreffen auf den Positionsdetektor 151 herrühren können. Ein räumlicher Filter enthält eine Platte 157, die eine Apertur aufweist. Durch das Anordnen des räumlichen Filters 157 in einer Distanz vom Objektiv, die annähernd gleich der Brennweite des Objektivs ist, tritt das zurückkommende Licht 243E durch den räumlicher Filter, wenn dieser sich nahe an der engsten Stelle, der Einschnürung des Strahls, befindet. Die Strahlen, die unter einem abweichenden Winkel laufen wie beispielsweise im Ergebnis der Reflexion an einem optischen Bauteil, treffen auf den räumlicher Filter in einer Distanz von der Apertur und werden somit daran gehindert, den Positionsdetektor 151 zu erreichen. Ein Beispiel ist in 6E dargestellt, wo ein unerwünschter Geisterstrahl 244E von einer Oberfläche des Strahlteilers 145 reflektiert wird und zum räumlichen Filter 157 läuft, wo er abgeblockt wird. Ohne den räumlichen Filter würde der Geisterstrahl 244E den Positionsdetektor 151 erreichen, was dazu führen würde, dass dadurch die Position des Strahls 243E auf dem Positionsdetektor 151 auf unkorrekte Weise ermittelt wird. Selbst ein schwacher Geisterstrahl kann die Position des Flächenschwerpunkts auf dem Positionsdetektor 151 auf signifikante Weise ändern, falls der Geisterstrahl sich in einer relativ großen Entfernung vom Hauptfleck des Lichts befindet.
  • Ein Retroreflektor der hier diskutierten Art wie beispielsweise einer vom Würfeleckentyp oder vom Katzenaugentyp hat die Eigenschaft, einen Lichtstrahl zu reflektieren, der in den Retroreflektor in einer Richtung parallel zum auftreffenden Strahl eintritt. Außerdem sind der einfallende und der reflektierte Strahl symmetrisch um den Symmetriepunkt des Retroreflektors gelagert. Zum Beispiel ist in einem offenen Würfelecken-Retroreflektor der Symmetriepunkt des Retroreflektors der Scheitelpunkt der Würfelecke. In einem Glaswürfel-Retroreflektor ist der Symmetriepunkt auch der Scheitelpunkt, aber in diesem Fall ist das Brechen des Lichts an der Glas-Luft-Grenzfläche zu berücksichtigen. Bei einem Katzenauge-Retroreflektor mit einem Brechungsindex von 2,0 ist der Symmetriepunkt der Mittelpunkt der Kugel. In einen Katzenauge-Retroreflektor aus zwei Glashalbkugeln, die symmetrisch auf einer gemeinsamen Ebene sitzen, ist der Symmetriepunkt ein Punkt, der auf der Ebene und in der sphärischen Mitte einer jeden Halbkugel liegt. Der Hauptpunkt besteht darin, dass für den Typ der Retroreflektoren, der bei Lasertrackern gewöhnlich benutzt wird, das von einem Retroreflektor zum Tracker zurück geführte Licht auf die andere Seite des Scheitelpunktes relativ zum einfallenden Laserstrahl verschoben ist.
  • Dieses Verhalten eines Retroreflektors 90 in 3 stellt die Grundlage für das Nachführen des Retroreflektor durch den Lasertracker dar. Der Lagesensor hat auf seiner Oberfläche einen idealen Verfolgungspunkt. Dieser ideale Verfolgungspunkt ist derjenige Punkt, an dem ein zum Symmetriepunkt eines Retroreflektors (z. B. zum Scheitelpunkt des Würfelecken-Retroreflektor in einem SMR) gesendeter Laserstrahl zurückkehrt. Üblicherweise liegt der Verfolgungspunkt in der Nähe der Mitte des Lagesensors. Falls der Laserstrahl auf eine Seite des Retroreflektors gesendet wird, reflektiert er auf der anderen Seite zurück und erscheint auf dem Lagesensor in einer Distanz vom Verfolgungspunkt. Durch Vermerken der Position des zurückkommenden Lichtstrahls auf dem Lagesensor kann das Steuerungssystem des Lasertracker 10 bewirken, dass die Motoren den Lichtstrahl in Richtung auf den Symmetriepunkt des Retroreflektors bewegen.
  • Falls der Retroreflektor quer zum Tracker mit einer konstanten Geschwindigkeit bewegt wird, wird der Lichtstrahl am Retroreflektor um einen festen Abstand vom Symmetriepunkt des Retroreflektors versetzt auf den Retroreflektor treffen (nachdem sich Übergangszustände eingestellt haben). Der Lasertracker führt eine Korrektur durch, um diesen versetzten Abstand am Retroreflektor auf der Grundlage eines Skalenfaktors zu berücksichtigen, der aus kontrollierten Messungen erhalten wird und der auf der Entfernung vom Lichtstrahl auf dem Lagesensor zum idealen Verfolgungspunkt beruht.
  • Wie bereits weiter oben erläutert wurde, erfüllt der Ladedetektor zwei wichtige Funktionen – die Ermöglichung des Nachführens und die Korrektur der Messungen, um die Bewegung des Retroreflektors zu berücksichtigen. Der Lagesensor im Positionsdetektor kann jeder beliebige Typ von Vorrichtung sein, die imstande ist, eine Position zu messen. Zum Beispiel könnte der Lagesensor ein lageempfindlicher Detektor oder eine lichtempfindliche Anordnung sein. Der lageempfindliche Detektor könnte beispielsweise ein Seitenwirkungsdetektor oder ein Quadrantendetektor sein. Die lichtempfindliche Anordnung könnte beispielsweise eine CMOS- oder eine CCD-Anordnung sein.
  • In einer Ausführungsform tritt das zurückkehrende Licht, das vom Strahlteiler 145 nicht reflektiert wird, durch den Strahlenaufweiter 140, wodurch es weniger wird. In einer anderen Ausführungsform werden die Positionen des Positionsdetektors und des Entfernungsmessers vertauscht, so dass das vom Strahlteiler 145 reflektierte Licht durch den Entfernungsmesser tritt und das vom Strahlteiler durchgelassene Licht zum Positionsdetektor gelangt.
  • Das Licht setzt seinen Weg fort durch das wahlweise vorhandene IFM, durch den Isolator und in die Quelle 110 für sichtbares Licht. In diesem Stadium sollte die optische Leistung klein genug sein, so dass dadurch die Quelle 110 für sichtbares Licht nicht destabilisiert wird.
  • In einer Ausführungsform wird das Licht von der Quelle 110 für sichtbares Licht durch die Strahl-Einkopplung 170 von 5 abgegeben. Die Fasereinkopplung kann am Ausgang der Lichtquelle 110 oder an einem Lichtleiterausgang des Isolators 115 angebracht sein.
  • In einer Ausführungsform ist das faseroptische Netz 166 von 3 das faseroptische Netz 420B des Standes der Technik von 8B. Hier entsprechen die Lichtleiter 184, 186, 169 von 3 den Lichtleitern 443, 444, 424, 422 von 8B. Das faseroptische Netz von 8B ist wie das faseroptische Netz von 8A mit der Ausnahme, dass das faseroptische Netz von 8B einen einzelnen Lichtwellen-Verzweiger aufweist an Stelle von zwei Lichtwellen-Verzweigern. Der Vorteil der 8B gegenüber 8A besteht in der Einfachheit, jedoch ist es wahrscheinlicher, dass 8B unerwünschte optische Rückreflexionen aufweist, die in die Lichtleiter 422 und 424 gelangen.
  • In einer Ausführungsform ist das faseroptische Netz 166 von 3 das faseroptische Netz 420C von 8C. Hier entsprechen die Lichtleiter 184, 186, 168, 169 von 3 den Lichtleitern 447, 455, 423, 424 von 8C. Das faseroptische Netz 420C enthält einen ersten Lichtwellen-Verzweiger 445 und einen zweiten Lichtwellen-Verzweiger 451. Der erste Lichtwellen-Verzweiger 445 ist ein 2 × 2-Verzweiger mit zwei Eingangs-Anschlüssen und zwei Ausgangs-Anschlüssen. Verzweiger von diesem Typ sind üblicherweise in der Weise gefertigt, dass zwei Faserkerne in enger Nachbarschaft geführt werden und dann die Fasern während des Erhitzens gezogen werden. Auf diese Weise kann die abklingende Kopplung zwischen den Fasern einen gewünschten Teil des Lichts auf die benachbarte Faser abspalten. Der zweite Lichtleiter-Verzweiger 451 ist von dem Typ, der Zirkulator genannt wird. Er hat drei Anschlüsse, von denen jeder die Fähigkeit aufweist, Licht zu übertragen oder aufzunehmen, aber nur in der festgelegten Richtung. Zum Beispiel tritt das Licht auf dem Lichtleiter 448 in den Anschluss 453 ein und wird in Richtung Anschluss 454 transportiert, wie das durch den Pfeil angegeben ist. Am Anschluss 454 kann das Licht zum Lichtleiter 455 übertragen werden. Auf ähnliche Weise kann das am Anschluss 455 anliegende Licht in den Anschluss 454 eintreten und in Richtung des Pfeils zum Anschluss 456 gelangen, wo etwas Licht zum Lichtleiter 424 übertragen werden kann. Falls nur drei Anschlüsse benötigt werden, kann der Zirkulator 451 weniger Verluste an optischer Leistung erleiden als der 2 × 2-Verzweiger. Andererseits kann ein Zirkulator 451 teurer sein als ein 2 × 2-Verzweiger, und es kann bei ihm Polarisationsmodendispersion auftreten, was in einigen Situationen problematisch sein kann.
  • 9 und 10 zeigen eine Aufriss- bzw. eine Schnittdarstellung eines Lasertrackers 2100 des Standes der Technik, der in 2 und 3 der veröffentlichten US-Patentanmeldung Nr. 2010/0158259 von Bridges et al. abgebildet ist und die durch Verweis einbezogen sind. Die Azimutanordnung 2110 enthält das Säulengehäuse 2112, die Azimut-Kodieranordnung 2120, das untere und das obere Azimutlager 2114A, 2114B, die Azimut-Motoranordnung 2125, die Azimut-Gleitringanordnung 2130 und die Azimut-Leiterplatten 2135.
  • Der Zweck der Azimut-Kodieranordnung 2120 besteht darin, den Drehwinkel des Jochs 2142 in Bezug auf das Säulengehäuse 2112 genau zu messen. Die Azimut-Kodieranordnung 2120 enthält die Kodierscheibe 2121 und die Lesekopfanordnung 2122. Die Kodierscheibe 2121 ist an der Welle des Jochgehäuses 2142 angebracht, und die Lesekopfanordnung 2122 ist an der Säulenanordnung 2110 angebracht. Die Lesekopfanordnung 2122 umfasst eine Leiterplatte, auf der einer oder mehrere Leseköpfe befestigt sind. Das von den Leseköpfen gesendete Laserlicht reflektiert an den feinen Gitterlinien auf der Kodierscheibe 2121. Das von den Detektoren auf dem Lesekopf oder den Leseköpfen des Kodierers aufgenommene Licht wird verarbeitet, um den Winkel der sich drehenden Kodierscheibe in Bezug auf die feststehenden Leseköpfe zu erhalten.
  • Die Azimut-Motoranordnung 2125 enthält den Rotor 2126 des Azimutmotors und den Stator 2127 des Azimutmotors. Der Rotor 2126 des Azimutmotors umfasst Dauermagnete, die direkt an der Welle des Jochgehäuses 2142 angebracht sind. Der Stator 2127 des Azimutmotors umfasst Feldwicklungen, die ein vorgeschriebenes Magnetfeld erzeugen. Dieses Magnetfeld steht mit den Magneten des Rotors 2126 des Azimutmotors in Wechselwirkung, um die gewünschte Drehbewegung zu erzeugen. Der Stator 2127 des Azimutmotors ist am Säulensystem 2112 angebracht.
  • Die Azimut-Leiterplatten 2135 stellen eine oder mehrere Leiterplatten dar, welche die elektrischen Funktionen liefern, die von den Azimutkomponenten benötigt werden wie beispielsweise Kodierer und Motor. Die Azimut-Gleitringanordnung 2130 umfasst den äußeren Teil 2131 und den inneren Teil 2132. In einer Ausführungsform tritt ein Adernbündel 2138 aus dem Hilfsprozessor 50 aus. Dieses Adernbündel kann die Leistung für den Tracker übertragen oder Signale an den Tracker oder von diesem. Einige der Adern des Adernbündels 2138 können zu Anschlüssen auf den Leiterplatten führen. In dem in 10 gezeigten Beispiel sind Adern zur Azimut-Leiterplatte 2135, zur Lesekopfanordnung 2122 des Kodierers und zur Azimut-Motoranordnung 2125 geführt. Weitere Adern sind zum inneren Teil 2132 der Gleitringanordnung 2130 geführt. Der innere Teil 2132 ist an der Säulenanordnung 2110 angebracht und bleibt folglich stationär. Der äußere Teil ist an der Jochanordnung 2140 angebracht und dreht sich folglich in Bezug auf den inneren Teil 2132. Die Gleitringanordnung 2130 ist so ausgelegt, dass sie einen elektrischen Kontakt mit geringer Impedanz ermöglicht, während sich der äußere Teil 2131 in Bezug zum inneren Teil 2132 dreht.
  • Die Zenitanordnung 2140 umfasst das Jochgehäuse 2142, die Zenit-Kodieranordnung 2150, das linke und das rechte Zenitlager 2144A, 2144B, die Zenit-Motoranordnung 2155, die Zenit-Gleitringanordnung 2160 und die Zenit-Leiterplatte 2165.
  • Der Zweck der Zenit-Kodieranordnung 2150 besteht darin, den Drehwinkel des Nutzmassensystems 2172 in Bezug auf das Jochgehäuse 2142 genau zu messen. Die Zenit-Kodiereinrichtung 2150 umfasst die Zenit-Kodierscheibe 2151 und die Zenit-Lesekopfanordnung 2152. Die Kodierscheibe 2151 ist am Gehäuse 2142 der Nutzmasse angebracht, und die Lesekopfanordnung 2152 ist am Jochgehäuse 2142 angebracht. Die Zenit-Lesekopfanordnung 2152 umfasst eine Leiterplatte, auf der ein oder mehrere Leseköpfe befestigt sind. Das von den Leseköpfen gesendete Laserlicht reflektiert an den feinen Gitterlinien auf der Kodierscheibe 2151. Das von den Detektoren auf dem Lesekopf oder den Leseköpfen des Kodierers aufgenommene reflektierte Licht wird verarbeitet, um den Winkel der sich drehenden Kodierscheibe in Bezug auf die feststehenden Leseköpfe zu ermitteln.
  • Die Zenit-Motoranordnung 2155 umfasst den Rotor 2156 des Azimutmotors und den Stator 2157 des Azimutmotors. Der Rotor 2156 des Zenitmotors umfasst Dauermagnete, die an der Welle des Nutzmassensystems 2172 direkt angebracht sind. Der Stator 2157 des Zenitmotors umfasst Feldwicklungen, die ein vorgeschriebenes Magnetfeld erzeugen. Dieses Magnetfeld steht mit den Rotormagneten in Wechselwirkung, um die gewünschte Drehbewegung zu erzeugen. Der Stator 2157 des Zenitmotors ist am Jochsystem 2142 angebracht.
  • Die Zenit-Leiterplatte 2165 stellt eine oder mehrere Leiterplatten dar, welche die elektrischen Funktionen liefern, die von den Komponenten benötigt werden wie beispielsweise Kodierer und Motor. Die Zenit-Gleitringanordnung 2160 umfasst den äußeren Teil 2161 und den inneren Teil 2162. Ein Adernbündel 2168 tritt aus dem äußeren Teil 2131 des Azimut-Gleitrings aus. Dieses Adernbündel kann die Leistung oder Signale übertragen. Einige der Adern des Adernbündels 2168 können an Anschlüsse auf der Leiterplatte führen. In dem in 10 gezeigten Beispiel sind Adern zur Zenit-Leiterplatte 2165, zur Zenit-Motoranordnung 2150 zur Lesekopfanordnung 2152 des Kodierers geführt. Weitere Adern sind zum inneren Teil 2162 der Gleitringanordnung 2160 geführt. Der innere Teil 2162 ist am Jochsystem 2142 angebracht und dreht sich folglich nur im Azimutwinkel, aber nicht im Zenitwinkel. Der äußere Teil 2161 ist am Nutzmassensystem 2172 angebracht und dreht sich folglich sowohl im Zenit- als auch im Azimutwinkel. Die Gleitringanordnung 2160 ist so ausgelegt, dass sie einen elektrischen Kontakt mit geringer Impedanz ermöglicht, während sich der äußere Teil 2161 in Bezug zum inneren Teil 2162 dreht. Die Nutzmassenanordnung 2170 enthält die primäre Optikanordnung 2180 und die sekundäre Optikanordnung 2190.
  • 11 ist ein Blockschaltbild, in dem die Elektronik des Verarbeitungssystems 1500 für die Dimensionsmessungen abgebildet ist. Dieses System enthält die Elektronik des Verarbeitungssystems 1510 für den Lasertracker, die peripheren Bauteile 1582, 1584, 1586, den Computer 1590 und weitere Netzkomponenten 1600, die hier als Wolke dargestellt sind. Das als Beispiel dargestellte Verarbeitungssystem 1510 der Elektronik des Lasertrackers enthält einen Hauptprozessor 1520, die Elektronik 1530 für die Nutzmassenfunktionen, die Elektronik 1560 für die Anzeige und die Benutzer-Schnittstelle (BS), die Hardware 1565 für den herausnehmbaren Speicher, die Elektronik für die Hochfrequenz-Identifizierung (RFID) und eine Antenne 1572. Die Elektronik 1530 für die Nutzmassenfunktionen enthält eine Mehrzahl von Unterfunktionen, darunter die 6-DOF-Elektronik 1531, die Kamera-Elektronik 1532, die ADM-Elektronik 1533, die Positionsdetektor-Elektronik (PSD) 1534 und die Nivellierelektronik 1535. Die meisten der Unterfunktionen verfügen über mindestens eine Prozessoreinheit, die beispielsweise ein digitaler Signalprozessor (DSP) oder eine am Einsatzort programmierbare Gate Array (FPGA) sein kann. Die Elektronik-Einheiten 1530, 1540 und 1550 sind wegen ihrer Unterbringung im Lasertracker getrennt, wie das auch dargestellt ist. In einer Ausführungsform sind die Nutzmassenfunktionen 1530 im Nutzmassensystem 2170 der 9 und 10 untergebracht, während die Elektronik 1540 des Azimut-Kodierers sich in der Azimut-Anordnung 2110 befindet und die Elektronik 1550 des Zenit-Kodierers sich in der Zenit-Anordnung 2140 befindet.
  • Viele Typen von peripheren Geräten sind möglich, aber hier werden nur drei derartige Geräte gezeigt: ein Temperatursensor 1582, eine 6-DOF-Sonde 1584 und ein digitaler Personalassistent 1586, der beispielsweise ein Smart Phone sein kann. Der Lasertracker kann mit den peripheren Geräten über eine Vielfalt an Mitteln kommunizieren, darunter die drahtlose Kommunikation über die Antenne 1572, mittels eines visuellen Systems wie beispielsweise einer Kamera und mittels Entfernungs- und Winkelanzeigen des Lasertrackers an einem Kooperationsziel wie beispielsweise der 6-DOF-Sonde 1584.
  • In einer Ausführungsform führt ein getrennter Kommunikationsbus vom Hauptprozessor 1520 zu jeder der Elektronik-Einheiten 1530, 1540, 1550, 1560, 1565 und 1570. Jede Kommunikationsleitung kann beispielsweise drei serielle Leitungen aufweisen, zu denen die Datenleitung, die Zeitleitung und die Systemleitung gehören. Die Systemleitung zeigt an, ob die Elektronik-Einheit auf die Zeitleitung achten sollte oder nicht. Falls sie zur Anzeige bringt, dass auf diese geachtet werden soll, dann liest die Elektronik-Einheit den aktuellen Wert der Datenleitung bei jedem Zeitsignal. Das Zeitsignal kann beispielsweise einer ansteigenden Flanke des Zeitimpulses entsprechen. In einer Ausführungsform werden Informationen über die Datenleitung in Form eines Paketes übertragen. In einer Ausführungsform enthält jedes Paket eine Adresse, einen numerischen Wert, eine Datenmeldung und eine Prüfsumme. Die Adresse zeigt an, wohin innerhalb der Elektronik-Einheit die Datenmeldung geschickt werden soll. Der Ort kann beispielsweise einer Prozessor-Subroutine innerhalb der Elektronikeinheit entsprechen. Der numerische Wert gibt die Länge der Datenmeldung an. Die Prüfsumme ist ein numerischer Wert, der dazu benutzt wird, um die Möglichkeit, dass Fehler über die Kommunikationsleitung übertragen werden, auf ein Mindestmaß herabgesetzt wird.
  • In einer Ausführungsform sendet der Hauptprozessor 1520 Pakete von Informationen über den Bus 1610 zur Elektronik 1530 für die Nutzmassenfunktionen, über den Bus 1611 zur Elektronik 1540 des Azimut-Kodierers, über den Bus 1612 zur Elektronik 1550 des Zenit-Kodierers, über den Bus 1613 zur Elektronik 1560 für die Anzeige und die Nutzer-Schnittstelle, über den Bus 1614 zur Hardware 1565 des herausnehmbaren Speichers und über den Bus 1616 zur drahtlosen Elektronik 1570 für die Hochfrequenz-Identifizierung und die Funkübertragung.
  • In einer Ausführungsform sendet der Hauptprozessor 1520 zur selben Zeit auch einen Synch-Impuls (Synchronisierung) über den Synch-Bus 1630 an jede der Elektronikeinheiten. Dieser Synch-Impuls liefert einen Weg zur Synchronisierung der Werte, die durch die Messfunktionen des Lasertrackers gesammelt werden. Zum Beispiel rasten die Elektronik 1540 des Azimut-Kodierers und die Elektronik 1550 des Zenit-Kodierers 1550 ihre Kodierwerte ein, sobald der Synch-Impuls eingegangen ist. Auf ähnliche Weise rastet die Elektronik 1530 für die Nutzmassenfunktionen die Daten ein, von der im Nutzmassensystem enthaltenen Elektronik gesammelt werden. Alle beide, der 6-DOF-ADM und der Positionsdetektor, rasten die Daten ein, wenn der Synch-Impuls gegeben worden ist. In den meisten Fällen sammeln die Kamera und der Neigungsmesser Daten mit einer niedrigeren Rate als die des Synch-Impulses, können aber Daten bei einem Vielfachen der Periode des Synch-Impulses einrasten.
  • Die Elektronik 1540 des Azimut-Kodierers und die Elektronik 1550 des Zenit-Kodierers sind voneinander getrennt und auch von der Elektronik 1530 für die Nutzmasse, und zwar durch die Gleitringe 2130, 2160, wie das in 9 und 10 dargestellt ist. Dies ist der Grund dafür, dass die Busleitungen 1610, 1611 und 1612 als separate Buslinien in 11 abgebildet sind.
  • Die Elektronik 1510 des Verarbeitungssystems für den Lasertracker kann mit einem externen Computer 1590 kommunizieren oder kann das Berechnen, die Anzeige und die Funktionen der Nutzer-Schnittstelle im Innern des Lasertrackers bereit stellen. Der Lasertracker kommuniziert mit dem Computer 1590 über die Kommunikationsverbindung 1606, die beispielsweise eine Ethernet-Leitung oder eine Funkverbindung sein kann. Der Lasertracker kann auch mit anderen Elementen 1600, die durch die Wolke dargestellt sind, über die Kommunikationsverbindung 1602 kommunizieren, zu denen ein oder mehrere elektrische Leitungen wie beispielsweise Ethernet-Kabel und eine oder mehrere Funkverbindungen gehören können. Ein Beispiel für ein Element 1600 ist ein weiteres dreidimensionales Prüfgerät wie zum Beispiel ein Gelenkarm-CMM, der durch den Lasertracker verschoben werden kann. Eine Kommunikationsverbindung 1604 zwischen dem Computer 1590 und den Elementen 1600 kann über Draht (z. B. Ethernet) oder Funk bestehen. Eine Bedienperson, die an einem entfernt befindlichen Computer 1590 sitzt, kann eine Verbindung zum Internet, das durch die Wolke 2600 dargestellt ist, über ein Ethernet oder Funkleitung einrichten, die ihrerseits die Verbindung zum Hauptprozessor 1520 über eine Ethernet- oder Funkverbindung herstellt. Auf diese Weise kann ein Nutzer die Arbeitsweise eines entfernt befindlichen Lasertrackers steuern.
  • Während die Erfindung unter Bezugnahme auf exemplarische Ausführungsformen beschrieben worden ist, werden die Personen mit Fachkenntnissen auf diesem Gebiet verstehen, dass vielfältige Änderungen vorgenommen werden können und dass Bauteile daraus durch äquivalente Bauteile ersetzt werden können, ohne dass vom Schutzumfang der Erfindung abgewichen wird. Außerdem können viele Änderungen vorgenommen werden, um eine besondere Situation oder ein besonderes Material an den Inhalt der Erfindung anzupassen, ohne dass vom wesentlichen Schutzumfang der Erfindung abgewichen wird. Die Absicht besteht folglich darin, dass die Erfindung nicht auf die speziellen Ausführungsformen beschränkt ist, die hier als die beste Art und Weise zur Verwirklichung dieser Erfindung offenbart worden sind, sondern dass die Erfindung alle Ausführungsformen umfasst, die in den Schutzumfang der angefügten Ansprüche fallen. Darüber hinaus wird mit dem Gebrauch von Ausdrücken wie erster, zweiter usw. nicht irgend eine Reihenfolge oder Wichtigkeit zum Ausdruck gebracht, sondern die Ausdrücke erster, zweiter usw. werden lediglich dazu benutzt, um ein Bauteil von einem anderen zu unterscheiden. Außerdem bedeuten die Ausdrücke ,ein, eine, einer' usw. nicht eine mengenmäßige Begrenzung, sondern vielmehr das Vorhandensein von mindestens einem der angeführten Bauteile.

Claims (6)

  1. Koordinatenmessgerät, welches einen ersten Lichtstrahl an ein entfernt befindliches Retroreflektorziel sendet, wobei dieses Retroreflektorziel eine Position im Raum einnimmt, diese Position im Raum eine Funktion der Zeit ist und das Retroreflektorziel einen Teil des ersten Lichtstrahls als zweiten Lichtstrahl zurückwirft, und wobei diese Messvorrichtung umfasst: einen ersten Motor und einen zweiten Motor, welche zusammen den ersten Lichtstrahl in eine erste Richtung lenken, wobei diese erste Richtung durch einen ersten Drehwinkel um eine erste Achse und einen zweiten Drehwinkel um eine zweite Achse festgelegt wird und der erste Drehwinkel durch den ersten Motor erzeugt wird und der zweite Drehwinkel durch den zweiten Motor erzeugt wird; eine erste Winkelmessvorrichtung, welche den ersten Drehwinkel misst, und eine zweite Winkelmessvorrichtung, welche den zweiten Drehwinkel misst; einen Entfernungsmesser, welcher eine erste Entfernung von dem Koordinatenmessgerät zum Retroreflektorziel zumindest teilweise auf der Grundlage von einem ersten Teil des zweiten Lichtstrahls misst, der von einem ersten optischen Detektor aufgenommen wird; eine Positionsdetektoranordnung, welche einen Positionsdetektor und einen Diffusor enthält, wobei ein zweiter Teil des zweiten Lichtstrahls durch den Diffusor tritt und auf den Positionsdetektor trifft und der Positionsdetektor dergestalt konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal als Reaktion auf die Position des zweiten Teils auf dem Positionsdetektor erzeugt; ein Steuerungssystem, welches ein zweites Signal an den ersten Motor sendet und ein drittes Signal an den zweiten Motor sendet, wobei das zweite Signal und das dritte Signal zumindest teilweise auf dem ersten Signal beruhen, und das Steuerungssystem dergestalt konfiguriert ist, dass es die erste Richtung des ersten Lichtstrahls auf die Position des Retroreflektorsziels im Raum einstellt; und einen Prozessor, welcher eine dreidimensionale Koordinate des Retroreflektorziels liefert, wobei diese dreidimensionale Koordinate zumindest teilweise auf der ersten Entfernung, dem ersten Drehwinkel und dem zweiten Drehwinkel beruht.
  2. Koordinatenmessgerät nach Anspruch 1, bei welchem der Diffusor ein holografischer Diffusor ist.
  3. Koordinatenmessgerät nach Anspruch 1, bei welchem die Positionsdetektoranordnung außerdem ein Objektiv und einen räumlichen Filter umfasst, wobei das Objektiv eine positive Brennweite aufweist, der räumliche Filter in einer zweiten Entfernung vom Objektiv, die annähernd gleich der Brennweite des Objektivs ist, angeordnet ist, und der räumliche Filter zwischen dem Objektiv und dem Positionsdetektor angeordnet ist.
  4. Koordinatenmessgerät, welches einen ersten Lichtstrahl an ein entfernt befindliches Retroreflektorziel sendet, wobei dieses Retroreflektorziel eine bestimmte Position im Raum einnimmt, diese Position im Raum eine Funktion der Zeit ist und das Retroreflektorziel einen Teil des ersten Lichtstrahls als zweiten Lichtstrahl zurückwirft, und wobei diese Messvorrichtung umfasst: einen ersten Motor und einen zweiten Motor, welche zusammen den ersten Lichtstrahl in eine erste Richtung lenken, wobei diese erste Richtung durch einen ersten Drehwinkel um eine erste Achse und einen zweiten Drehwinkel um eine zweite Achse festgelegt wird und der erste Drehwinkel durch den ersten Motor erzeugt wird und der zweite Drehwinkel durch den zweiten Motor erzeugt wird; eine erste Winkelmessvorrichtung, welche den ersten Drehwinkel misst, und eine zweite Winkelmessvorrichtung, welche den zweiten Drehwinkel misst; einen Entfernungsmesser, welcher eine erste Entfernung vom Koordinatenmessgerät zum Retroreflektorziel zumindest teilweise auf der Grundlage von einem ersten Teil des zweiten Lichtstrahls misst, der von einem ersten optischen Detektor aufgenommen wird; eine Positionsdetektoranordnung, welche einen Positionsdetektor, ein Objektiv und einen räumlichen Filter umfasst, wobei das Objektiv eine positive Brennweite aufweist, der räumliche Filter in einer zweiten Entfernung vom Objektiv, die annähernd gleich der Brennweite des Objektivs ist, angeordnet ist, der räumliche Filter zwischen dem Objektiv und dem Positionsdetektor angeordnet ist, ein zweiter Teil des zweiten Strahls durch das Objektiv und den räumlichen Filter tritt und auf den Positionsdetektor trifft und der Positionsdetektor dergestalt konfiguriert ist, dass er ein erstes Signal als Reaktion auf die Position des zweiten Teils auf dem Positionsdetektor erzeugt; ein Steuerungssystem, welches ein zweites Signal an den ersten Motor sendet und ein drittes Signal an den zweiten Motor sendet, wobei das zweite Signal und das dritte Signal zumindest teilweise auf dem ersten Signal beruhen, und das Steuerungssystem dergestalt konfiguriert ist, dass es die erste Richtung des ersten Strahls auf die Position des Retroreflektorsziels im Raum einstellt; und einen Prozessor, welcher eine dreidimensionale Koordinate des Retroreflektorziels liefert, wobei diese dreidimensionale Koordinate zumindest teilweise auf der ersten Entfernung, dem ersten Drehwinkel und dem zweiten Drehwinkel beruht.
  5. Koordinatenmessgerät nach Anspruch 4, bei welchem die Positionsdetektoranordnung außerdem einen Diffusor enthält, wobei der zweite Teil des zweiten Lichtstrahls durch diesen Diffusor tritt.
  6. Koordinatenmessgerät nach Anspruch 5, bei welchem der Diffusor ein holografischer Diffusor ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016220708A1 (de) * 2016-10-21 2018-04-26 Volkswagen Aktiengesellschaft Lidar-Sensor und Verfahren zum optischen Abtasten einer Umgebung

Families Citing this family (230)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8488972B2 (en) * 2006-05-30 2013-07-16 Tai-Her Yang Directional control/transmission system with directional light projector
US9482755B2 (en) 2008-11-17 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker
US8803055B2 (en) * 2009-01-09 2014-08-12 Automated Precision Inc. Volumetric error compensation system with laser tracker and active target
US8659749B2 (en) 2009-08-07 2014-02-25 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter with optical switch
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9400170B2 (en) 2010-04-21 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
RU2010124265A (ru) * 2010-06-16 2011-12-27 Алексей Владиславович Жданов (RU) Способ и устройство определения направления начала движения
US8411285B2 (en) * 2010-11-22 2013-04-02 Trimble Navigation Limited Stationing an unleveled optical total station
CN102096069B (zh) * 2010-12-17 2012-10-03 浙江大学 一种相控阵三维声学摄像声纳实时处理系统和方法
US8902408B2 (en) 2011-02-14 2014-12-02 Faro Technologies Inc. Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector
GB2518769A (en) 2011-03-03 2015-04-01 Faro Tech Inc Target apparatus and method
GB201105587D0 (en) * 2011-04-01 2011-05-18 Elliptic Laboratories As User interfaces for electronic devices
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
US9164173B2 (en) 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
US8537376B2 (en) 2011-04-15 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Enhanced position detector in laser tracker
USD688577S1 (en) 2012-02-21 2013-08-27 Faro Technologies, Inc. Laser tracker
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9147199B2 (en) 2011-06-17 2015-09-29 Google Inc. Advertisements in view
CN103649677A (zh) 2011-07-13 2014-03-19 法罗技术股份有限公司 利用空间光调制器来查找物体的三维坐标的装置和方法
DE112012002955T5 (de) 2011-07-14 2014-03-27 Faro Technologies, Inc. Scanner auf Gitterbasis mit Phasen-und Abstandseinstellung
US9444981B2 (en) * 2011-07-26 2016-09-13 Seikowave, Inc. Portable structured light measurement module/apparatus with pattern shifting device incorporating a fixed-pattern optic for illuminating a subject-under-test
EP2600173A1 (de) * 2011-11-29 2013-06-05 Hexagon Technology Center GmbH Verfahren zum Betreiben eines Laserscanners
CN104094081A (zh) 2012-01-27 2014-10-08 法罗技术股份有限公司 利用条形码识别的检查方法
CN102540170B (zh) * 2012-02-10 2016-02-10 江苏徕兹光电科技股份有限公司 基于双波长激光管相位测量的校准方法及其测距装置
EP2847539B1 (de) * 2012-05-07 2020-02-12 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Wechselbares beleuchtungsmodul für ein koordinatenmessgerät
GB2540075B (en) * 2012-05-18 2017-04-19 Acergy France SAS Improvements relating to pipe measurement
TWI549655B (zh) * 2012-05-18 2016-09-21 國立成功大學 關節活動度量測裝置及其量測方法
US9671566B2 (en) 2012-06-11 2017-06-06 Magic Leap, Inc. Planar waveguide apparatus with diffraction element(s) and system employing same
US9733717B2 (en) * 2012-07-12 2017-08-15 Dual Aperture International Co. Ltd. Gesture-based user interface
US9213101B2 (en) * 2012-09-13 2015-12-15 Laser Technology, Inc. Self-aligned aiming system and technique for a laser rangefinder incorporating a retroreflector
US9879995B2 (en) 2012-09-13 2018-01-30 Laser Technology, Inc. System and method for superimposing a virtual aiming mechanism with a projected system beam in a compact laser-based rangefinding instrument
US9354051B2 (en) 2012-09-13 2016-05-31 Laser Technology, Inc. System and method for a rangefinding instrument incorporating pulse and continuous wave signal generating and processing techniques for increased distance measurement accuracy
US9383753B1 (en) 2012-09-26 2016-07-05 Google Inc. Wide-view LIDAR with areas of special attention
DE102012112025B4 (de) 2012-12-10 2016-05-12 Carl Zeiss Ag Verfahren und Vorrichtungen zur Positionsbestimmung einer Kinematik
DE102012223929A1 (de) * 2012-12-20 2014-06-26 Hilti Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der zweidimensionalen Ortskoordinaten eines Zielobjektes
WO2014094119A1 (en) * 2012-12-20 2014-06-26 Raytheon Canada Limited Wide field of view multibeam optical apparatus
CN103134441A (zh) * 2012-12-28 2013-06-05 中国空气动力研究与发展中心设备设计及测试技术研究所 大型风洞挠性喷管激光跟踪测量方法
DE102013104490A1 (de) * 2013-01-25 2014-07-31 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von Strukturen mittels Computertomografie
US9746560B2 (en) * 2013-02-12 2017-08-29 Faro Technologies, Inc. Combination scanner and tracker device having a focusing mechanism
US9036134B2 (en) * 2013-02-12 2015-05-19 Faro Technologies, Inc. Multi-mode optical measurement device and method of operation
US9188430B2 (en) 2013-03-14 2015-11-17 Faro Technologies, Inc. Compensation of a structured light scanner that is tracked in six degrees-of-freedom
US9046360B2 (en) 2013-03-14 2015-06-02 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
JP6355710B2 (ja) * 2013-03-15 2018-07-11 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 非接触型光学三次元測定装置
US9294758B2 (en) * 2013-04-18 2016-03-22 Microsoft Technology Licensing, Llc Determining depth data for a captured image
US9234742B2 (en) * 2013-05-01 2016-01-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
EP2801839B1 (de) * 2013-05-10 2020-03-04 Leica Geosystems AG Handhaltbares Messhilfsmittel zur Verwendung mit einem 6-DoF-Lasertracker
TWI487115B (zh) * 2013-06-07 2015-06-01 Sinopower Semiconductor Inc 溝渠式功率元件及其製造方法
US9476695B2 (en) 2013-07-03 2016-10-25 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that cooperates with a remote camera bar and coordinate measurement device
US9113154B2 (en) * 2013-07-10 2015-08-18 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional measurement device having three-dimensional overview camera
WO2015006784A2 (en) 2013-07-12 2015-01-15 Magic Leap, Inc. Planar waveguide apparatus with diffraction element(s) and system employing same
US10533850B2 (en) 2013-07-12 2020-01-14 Magic Leap, Inc. Method and system for inserting recognized object data into a virtual world
US10812694B2 (en) 2013-08-21 2020-10-20 Faro Technologies, Inc. Real-time inspection guidance of triangulation scanner
FR3009881B1 (fr) 2013-08-23 2017-03-17 Stmi Soc Des Techniques En Milieu Ionisant Modelisation 3d topographique et radiologique d'un environnement
US9443310B2 (en) * 2013-10-09 2016-09-13 Microsoft Technology Licensing, Llc Illumination modules that emit structured light
DK2866047T3 (da) * 2013-10-23 2021-03-29 Ladar Ltd Detekteringssystem til detektering af en genstand på en vandoverflade
EP2881704B1 (de) * 2013-12-04 2018-05-09 Hexagon Technology Center GmbH Systeme und Verfahren zur automatischen Messung eines Objekts und entsprechendes Computerprogrammprodukt
US9121689B2 (en) * 2013-12-11 2015-09-01 Faro Technologies, Inc. Method for correcting a spherically mounted retroreflector when resetting a distance meter
US9239238B2 (en) * 2013-12-11 2016-01-19 Faro Technologies, Inc. Method for correcting a 3D measurement of a spherically mounted retroreflector on a nest
US9594250B2 (en) 2013-12-18 2017-03-14 Hexagon Metrology, Inc. Ultra-portable coordinate measurement machine
US9606235B2 (en) * 2014-01-16 2017-03-28 The Boeing Company Laser metrology system and method
US10451482B2 (en) 2014-02-14 2019-10-22 Palo Alto Research Center Incorporated Determination of color characteristics of objects using spatially modulated light
US9952033B2 (en) 2014-02-14 2018-04-24 Palo Alto Research Center Incorporated Spatial modulation of light to determine object length
US10061027B2 (en) * 2014-02-25 2018-08-28 Adsys Controls, Inc. Laser navigation system and method
CN103984193B (zh) * 2014-03-14 2020-10-16 广州虹天航空科技有限公司 拍摄设备稳定器及其控制方法
USD734337S1 (en) 2014-04-01 2015-07-14 Datalogic Ip Tech S.R.L. Coded information reader
USD735595S1 (en) 2014-04-02 2015-08-04 Franklin B White Support for GPS apparatus
US9400174B2 (en) * 2014-04-07 2016-07-26 Palo Alto Research Center Incorporated Monitor for particle injector
US9739591B2 (en) * 2014-05-14 2017-08-22 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of initiating communication
US9921046B2 (en) * 2014-05-14 2018-03-20 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of servicing
US9803969B2 (en) * 2014-05-14 2017-10-31 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of communicating with portable devices
US9746308B2 (en) * 2014-05-14 2017-08-29 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of performing an inspection
US9829305B2 (en) * 2014-05-14 2017-11-28 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of changing operating system
US9903701B2 (en) 2014-05-14 2018-02-27 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a rotary switch
DE102014007908A1 (de) * 2014-05-27 2015-12-03 Carl Zeiss Meditec Ag Chirurgie-System
US9402070B2 (en) 2014-06-12 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device with a six degree-of-freedom handheld probe and integrated camera for augmented reality
US10021379B2 (en) 2014-06-12 2018-07-10 Faro Technologies, Inc. Six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality
DE102014009269B4 (de) * 2014-06-25 2017-06-08 Thyssenkrupp Ag Vorrichtung zur räumlichen Ausrichtung eines berührungslosen Messkopfes
US9395174B2 (en) * 2014-06-27 2016-07-19 Faro Technologies, Inc. Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit
US9291447B2 (en) * 2014-07-09 2016-03-22 Mitutoyo Corporation Method for controlling motion of a coordinate measuring machine
US11879995B2 (en) 2014-07-10 2024-01-23 Brunson Instrument Company Laser tracker calibration system and methods
WO2016007918A1 (en) 2014-07-10 2016-01-14 Aaron Hudlemeyer Laser tracker calibration system and methods
EP2980526B1 (de) 2014-07-30 2019-01-16 Leica Geosystems AG Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Messen von Koordinaten
WO2016025358A1 (en) * 2014-08-11 2016-02-18 Faro Technologies, Inc. A six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality
DE102014113395B4 (de) * 2014-09-17 2017-05-18 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren und Anlage zur Vermessung von Oberflächen
KR20160034719A (ko) * 2014-09-22 2016-03-30 한화테크윈 주식회사 라이다 시스템
US10176625B2 (en) 2014-09-25 2019-01-08 Faro Technologies, Inc. Augmented reality camera for use with 3D metrology equipment in forming 3D images from 2D camera images
JP1529086S (de) * 2014-09-30 2016-10-31
US9897690B2 (en) 2014-10-27 2018-02-20 Laser Technology, Inc. Technique for a pulse/phase based laser rangefinder utilizing a single photodiode in conjunction with separate pulse and phase receiver circuits
CN104266611A (zh) * 2014-10-29 2015-01-07 中航成飞民用飞机有限责任公司 测飞机应急门止动块卡孔中心线用辅助工具
DE102014224851A1 (de) * 2014-12-04 2016-06-09 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Darstellung von Strukturinformation über ein technisches Objekt
US9506744B2 (en) * 2014-12-16 2016-11-29 Faro Technologies, Inc. Triangulation scanner and camera for augmented reality
US10126415B2 (en) 2014-12-31 2018-11-13 Faro Technologies, Inc. Probe that cooperates with a laser tracker to measure six degrees of freedom
CN111337936A (zh) * 2015-01-20 2020-06-26 托里派因斯洛基股份有限责任公司 单孔激光测距仪
US9651658B2 (en) 2015-03-27 2017-05-16 Google Inc. Methods and systems for LIDAR optics alignment
JP6550849B2 (ja) * 2015-03-30 2019-07-31 セイコーエプソン株式会社 プロジェクター、及び、プロジェクターの制御方法
JP6601489B2 (ja) * 2015-03-31 2019-11-06 株式会社ニコン 撮像システム、撮像装置、撮像方法、及び撮像プログラム
DE102016107312A1 (de) * 2015-04-28 2016-11-03 Faro Technologies Inc. Kombiniertes Scanner- und Trackergerät mit einem Fokussiermechanismus
JP6533691B2 (ja) * 2015-04-28 2019-06-19 株式会社トプコン 三次元位置計測システム
JP6533690B2 (ja) * 2015-04-28 2019-06-19 株式会社トプコン 三次元位置計測システム
US10512508B2 (en) 2015-06-15 2019-12-24 The University Of British Columbia Imagery system
CN106443697A (zh) * 2015-08-06 2017-02-22 信泰光学(深圳)有限公司 自走式装置及其环境测距装置
US10095024B2 (en) * 2015-08-07 2018-10-09 Sony Interactive Entertainment Inc. Systems and methods for using a MEMS projector to determine an orientation of a photosensor of an HMD or another controller
JP6553999B2 (ja) 2015-09-17 2019-07-31 株式会社トプコン ポリゴンミラーとファンビーム出力装置と測量システム
GB2542762B (en) * 2015-09-21 2018-11-21 Imetrum Ltd Measuring device and method
EP3165876A3 (de) * 2015-11-03 2017-07-26 Hexagon Technology Center GmbH Opto-elektronisches vermessungsgerät
CN105372642B (zh) * 2015-11-06 2017-08-29 中国人民解放军空军装备研究院雷达与电子对抗研究所 一种基于调制频率测量的超高密度激光二维扫描装置
US11562502B2 (en) 2015-11-09 2023-01-24 Cognex Corporation System and method for calibrating a plurality of 3D sensors with respect to a motion conveyance
US10757394B1 (en) 2015-11-09 2020-08-25 Cognex Corporation System and method for calibrating a plurality of 3D sensors with respect to a motion conveyance
US10812778B1 (en) 2015-11-09 2020-10-20 Cognex Corporation System and method for calibrating one or more 3D sensors mounted on a moving manipulator
US10539661B2 (en) * 2015-11-25 2020-01-21 Velodyne Lidar, Inc. Three dimensional LIDAR system with targeted field of view
EP3173739A1 (de) * 2015-11-30 2017-05-31 HILTI Aktiengesellschaft Verfahren zum überprüfen und/oder kalibrieren einer vertikalachse eines rotationslasers
CN108431626B (zh) * 2015-12-20 2022-06-17 苹果公司 光检测和测距传感器
US10101154B2 (en) * 2015-12-21 2018-10-16 Intel Corporation System and method for enhanced signal to noise ratio performance of a depth camera system
DE102015122846A1 (de) * 2015-12-27 2017-06-29 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung mittels einer 3D-Messvorrichtung und Nahfeldkommunikation
JP6668764B2 (ja) * 2016-01-13 2020-03-18 セイコーエプソン株式会社 画像認識装置、画像認識方法および画像認識ユニット
US9815204B2 (en) * 2016-01-22 2017-11-14 The Boeing Company Apparatus and method to optically locate workpiece for robotic operations
EP3199913B1 (de) 2016-01-28 2019-04-03 Leica Geosystems AG Vorrichtung zum automatischen auffinden eines beweglichen geodätischen zielobjekts
KR20180113512A (ko) 2016-02-26 2018-10-16 씽크 써지컬, 인크. 로봇의 사용자 위치설정을 안내하는 방법 및 시스템
US9752865B1 (en) 2016-04-07 2017-09-05 International Business Machines Corporation Height measurement using optical interference
US9800330B1 (en) 2016-05-03 2017-10-24 Microsoft Technology Licensing, Llc Methods and systems for providing a fiber optic cable network testing platform
TWI595252B (zh) * 2016-05-10 2017-08-11 財團法人工業技術研究院 測距裝置及其測距方法
JP6748908B2 (ja) * 2016-05-24 2020-09-02 清水建設株式会社 インテリジェント反射ターゲット
US10563330B2 (en) 2016-06-08 2020-02-18 One Sciences, Inc. Methods and systems for stitching along a predetermined path
KR102390693B1 (ko) * 2016-06-13 2022-04-27 빅사, 엘엘씨 필터들을 사용하는 개선된 자체-혼합 모듈
US10107650B2 (en) 2016-06-15 2018-10-23 The Boeing Company Systems and methods for measuring angular position of a laser beam emitter
US10027410B2 (en) 2016-06-23 2018-07-17 Abl Ip Holding Llc System and method using a gated retro-reflector for visible light uplink communication
JP6823482B2 (ja) * 2016-07-04 2021-02-03 株式会社トプコン 三次元位置計測システム,三次元位置計測方法,および計測モジュール
ES2899585T3 (es) 2016-07-15 2022-03-14 Fastbrick Ip Pty Ltd Pluma para transporte de material
CN109790723B (zh) 2016-07-15 2021-12-31 快砖知识产权私人有限公司 结合在交通工具中的砖块/砌块铺设机器
JP6857979B2 (ja) * 2016-07-27 2021-04-14 株式会社トプコン レーザスキャナの光学系及び測量装置
US10884127B2 (en) * 2016-08-02 2021-01-05 Samsung Electronics Co., Ltd. System and method for stereo triangulation
US10546373B2 (en) 2016-08-03 2020-01-28 Sightline Innovation Inc. System and method for integrated laser scanning and signal processing
US10298913B2 (en) * 2016-08-18 2019-05-21 Apple Inc. Standalone depth camera
DE102017118671B4 (de) 2016-08-19 2019-06-13 National Research Council Of Canada Verfahren, Kit und Target für Multimodales 3D-Bildgebungssystem
US10408574B2 (en) * 2016-08-24 2019-09-10 The Boeing Company Compact laser and geolocating targeting system
US9948395B2 (en) * 2016-09-12 2018-04-17 The United States Of America As Represented By Secretary Of The Navy System and method for line-of-sight optical broadcasting using beam divergence and an orbiting or airborne corner cube reflector
US20180088202A1 (en) 2016-09-23 2018-03-29 Faro Technologies, Inc. Apparatus and method for relocating an articulating-arm coordinate measuring machine
US20180095174A1 (en) 2016-09-30 2018-04-05 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate measuring device
US10401154B2 (en) * 2016-10-12 2019-09-03 The Boeing Company Apparatus and method to detect aircraft wing deflection and twist during flight
US10099774B2 (en) * 2016-10-12 2018-10-16 The Boeing Company System and method for correcting wing twist of an aircraft
ES2743298T3 (es) * 2016-10-27 2020-02-18 Pepperl Fuchs Ag Dispositivo de medición y procedimiento para la medición por triangulación
US10486060B2 (en) 2016-11-23 2019-11-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Tracking core for providing input to peripherals in mixed reality environments
JP6705019B2 (ja) * 2016-12-28 2020-06-03 アルプスアルパイン株式会社 直流整流子電動機の回転に関する情報を取得する装置及び方法
US10866320B2 (en) 2017-01-13 2020-12-15 Faro Technologies, Inc. Remote control of a laser tracker using a mobile computing device
US10546427B2 (en) 2017-02-15 2020-01-28 Faro Technologies, Inc System and method of generating virtual reality data from a three-dimensional point cloud
CN107016733A (zh) * 2017-03-08 2017-08-04 北京光年无限科技有限公司 基于增强现实ar的交互系统及交互方法
KR102353513B1 (ko) * 2017-03-16 2022-01-20 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 회전 거리 측정 장치
US10378442B2 (en) * 2017-03-31 2019-08-13 The Boeing Company Mechanical flywheel for bowed rotor mitigation
WO2019005260A1 (en) 2017-06-29 2019-01-03 Apple Inc. FLIGHT TIME DEPTH MAPPING WITH PARALLAX COMPENSATION
ES2648643B2 (es) * 2017-07-04 2018-07-25 Javier IBAÑEZ CRUZ Sistema de posicionamiento
US11441899B2 (en) 2017-07-05 2022-09-13 Fastbrick Ip Pty Ltd Real time position and orientation tracker
US10684124B1 (en) * 2017-07-20 2020-06-16 Michael Hanchett Scanning and measurement system for repair of structures
US10534084B2 (en) * 2017-07-27 2020-01-14 Blackmore Sensors & Analytics, Llc Method and system for using square wave digital chirp signal for optical chirped range detection
CN107290739B (zh) * 2017-08-04 2020-06-16 美国西北仪器公司 探测器组件、探测器及激光测距系统
WO2019033170A1 (en) 2017-08-17 2019-02-21 Fastbrick Ip Pty Ltd LASER TRACKING DEVICE WITH ENHANCED ROLL ANGLE MEASUREMENT
CN107655459B (zh) * 2017-09-07 2020-11-27 南京理工大学 一种野外岩石结构面粗糙度的量测及计算方法
JP7084705B2 (ja) * 2017-09-13 2022-06-15 株式会社トプコン 測量装置
JP2020537237A (ja) * 2017-10-08 2020-12-17 マジック アイ インコーポレイテッド 縦グリッドパターンを使用した距離測定
WO2019071313A1 (en) 2017-10-11 2019-04-18 Fastbrick Ip Pty Ltd MACHINE FOR CARRYING OBJECTS AND CARROUSEL WITH SEVERAL COMPARTMENTS FOR USE WITH THE SAME
CN107631710B (zh) * 2017-10-26 2023-07-18 清华大学深圳研究生院 一种固定桥式测量机斜桥型横梁的连接装置
US10402640B1 (en) * 2017-10-31 2019-09-03 Intuit Inc. Method and system for schematizing fields in documents
KR102054562B1 (ko) * 2017-11-10 2019-12-10 김진형 원거리 계측기
US11022434B2 (en) 2017-11-13 2021-06-01 Hexagon Metrology, Inc. Thermal management of an optical scanning device
US10591603B2 (en) 2017-11-15 2020-03-17 Faro Technologies, Inc. Retroreflector acquisition in a coordinate measuring device
KR102403544B1 (ko) 2017-12-18 2022-05-30 애플 인크. 방출기들의 어드레스가능 어레이를 사용하는 비행 시간 감지
US10887723B2 (en) 2017-12-22 2021-01-05 Qualcomm Incorporated Millimeter wave ranging with six degrees of freedom
CN108253931B (zh) * 2018-01-12 2020-05-01 内蒙古大学 一种双目立体视觉测距方法及其测距装置
SG11202006860UA (en) * 2018-01-24 2020-08-28 Cyberoptics Corp Structured light projection for specular surfaces
KR102061040B1 (ko) * 2018-02-02 2019-12-31 호서대학교 산학협력단 레이저 거리 측정 및 스캐너 장치
CN108667523B (zh) * 2018-03-06 2021-02-26 苏州大学 基于无数据辅助的knn算法的光纤非线性均衡方法
JP6911803B2 (ja) * 2018-03-23 2021-07-28 豊田合成株式会社 近赤外線センサカバー
US10949992B2 (en) * 2018-04-12 2021-03-16 Francis Bretaudeau Localization system with a cooperative optronic beacon
US10565718B2 (en) 2018-04-18 2020-02-18 Faro Technologies, Inc. System and method of scanning an environment
US10274979B1 (en) * 2018-05-22 2019-04-30 Capital One Services, Llc Preventing image or video capture of input data provided to a transaction device
GB2574064B (en) 2018-05-25 2020-05-27 Imetrum Ltd Motion encoder
CN110623763B (zh) * 2018-06-22 2023-03-14 阿莱恩技术有限公司 用多个微型摄像头和微型图案投射器的口内3d扫描仪
KR102637175B1 (ko) * 2018-07-02 2024-02-14 현대모비스 주식회사 라이다 센싱장치
JP7257113B2 (ja) * 2018-08-01 2023-04-13 株式会社キーエンス 三次元座標測定装置
EP3837113B1 (de) 2018-08-13 2024-01-03 Triton Metal Products Inc. Maschinenintegriertes positionierungssystem
US11619481B2 (en) 2018-08-13 2023-04-04 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device
USD866364S1 (en) 2018-08-20 2019-11-12 Faro Technologies, Inc. Measurement device
EP3627100B1 (de) * 2018-09-20 2021-12-01 Hexagon Technology Center GmbH Retroreflektor mit fischaugenobjektiv
USD875573S1 (en) 2018-09-26 2020-02-18 Hexagon Metrology, Inc. Scanning device
CN111121651A (zh) 2018-10-31 2020-05-08 财团法人工业技术研究院 光学测量稳定性控制系统
JP7219056B2 (ja) * 2018-11-09 2023-02-07 株式会社キーエンス 変位測定装置
EP3650803B1 (de) * 2018-11-12 2021-04-14 Hexagon Technology Center GmbH Abstandsmesssystem und entsprechende messverfahren
US10641870B1 (en) * 2018-11-14 2020-05-05 BAE Systems Imaging Solutions Inc. LIDAR system that is resistant to noise caused by nearby LIDAR systems
CN109343073A (zh) * 2018-11-15 2019-02-15 北京遥感设备研究所 一种用于高速磁悬浮列车速度测量的激光探测装置及探测方法
EP3671115B1 (de) * 2018-12-17 2023-10-11 Leica Geosystems AG Geodätisches absteckungssystem
EP3671273B1 (de) * 2018-12-18 2022-05-04 Leica Geosystems AG System zur groblokalisierung beweglicher kooperativer ziele bei der lasertracker-basierten industriellen objektvermessung
US10438010B1 (en) 2018-12-19 2019-10-08 Capital One Services, Llc Obfuscation of input data provided to a transaction device
CN113316704B (zh) * 2019-01-11 2023-12-01 新加坡科技研究局 用于评估表面粗糙度的装置和方法
DE102019200733A1 (de) * 2019-01-22 2020-07-23 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von mindestens einer räumlichen Position und Orientierung mindestens einer getrackten Messvorrichtung
CN110108233B (zh) * 2019-05-16 2020-09-04 浙江机电职业技术学院 一种用于3d打印的三维扫描仪
CN110082781B (zh) * 2019-05-20 2021-12-17 东北大学秦皇岛分校 基于slam技术与图像识别的火源定位方法及系统
USD918913S1 (en) * 2019-06-28 2021-05-11 Hand Held Products, Inc. Optical reader
CN110500990B (zh) * 2019-07-09 2020-08-18 同济大学 一种六自由度测量系统及方法
EP3783308B1 (de) * 2019-08-19 2024-01-10 Leica Geosystems AG Geodätisches system
US10989528B2 (en) * 2019-08-27 2021-04-27 Raytheon Company High speed beam component-resolved profile and position sensitive detector
US11467556B2 (en) * 2019-09-04 2022-10-11 Honda Motor Co., Ltd. System and method for projection of light pattern on work-piece
EP4031832A4 (de) * 2019-09-17 2023-10-18 Carbon Autonomous Robotic Systems Inc. Autonome laser-unkrautvernichtung
ES2824873A1 (es) * 2019-11-13 2021-05-13 Fund Tekniker Metodo y sistema para el seguimiento espacial de objetos
US11733359B2 (en) 2019-12-03 2023-08-22 Apple Inc. Configurable array of single-photon detectors
CN110988892B (zh) * 2019-12-09 2022-04-26 北京信息科技大学 一种激光主动探测系统
CN111023971B (zh) * 2019-12-19 2021-06-01 中国科学院光电技术研究所 一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法
KR20210079788A (ko) 2019-12-20 2021-06-30 엘지전자 주식회사 프로젝터
EP4086657A4 (de) * 2020-01-03 2023-03-15 Suteng Innovation Technology Co., Ltd. Laser-sendeempfangsmodul und lichtmodulationsverfahren dafür, lidar, und autonome fahrvorrichtung
CN111257855B (zh) * 2020-02-14 2023-03-14 北京工业大学 位置敏感探测器性能对激光追踪测量系统跟踪性能影响的分析方法
US11549800B2 (en) * 2020-03-17 2023-01-10 Topcon Positioning Systems, Inc. Self-leveling system for rotating laser systems
CN111473734B (zh) * 2020-04-29 2021-12-07 同济大学 一种小净距隧道中夹岩稳定性监测系统及其方法
US11758272B2 (en) * 2020-06-02 2023-09-12 Intelligent Fusion Technology, Inc. Apparatus and method for target detection and localization
CN111678407B (zh) * 2020-06-09 2022-01-18 广东电网有限责任公司东莞供电局 两点测距装置
WO2022008230A1 (de) * 2020-07-07 2022-01-13 Osram Gmbh Lidar interferenzerkennung
EP3936817A1 (de) * 2020-07-08 2022-01-12 Hexagon Technology Center GmbH Nahbereich entfernungsmesser
CN112362037B (zh) * 2020-11-10 2021-08-13 南京航空航天大学 一种基于组合测量的激光跟踪仪站位规划方法
CN112704817B (zh) * 2020-12-14 2023-01-24 上海联影医疗科技股份有限公司 放射治疗系统
US11604219B2 (en) 2020-12-15 2023-03-14 Teradyne, Inc. Automatic test equipement having fiber optic connections to remote servers
CN112556579A (zh) * 2020-12-25 2021-03-26 深圳市中图仪器股份有限公司 一种六自由度空间坐标位置和姿态测量装置
US20220207759A1 (en) 2020-12-29 2022-06-30 Faro Technologies, Inc. Automatic registration of multiple measurement devices
US11681028B2 (en) 2021-07-18 2023-06-20 Apple Inc. Close-range measurement of time of flight using parallax shift
US20230098766A1 (en) * 2021-09-30 2023-03-30 Topcon Corporation Surveying instrument
US11814053B2 (en) 2021-10-20 2023-11-14 Micron Technology, Inc. Vehicle occupant emergency monitoring
WO2023081398A1 (en) * 2021-11-05 2023-05-11 Bired Imaging, Inc. Spatial and characteristic property data to detect a source in a system
IN202221001096A (de) * 2022-01-08 2022-11-25
CN114459427A (zh) * 2022-02-10 2022-05-10 中新国际联合研究院 一种自动调平高精度测量仪及测量方法
EP4345412A1 (de) 2022-06-09 2024-04-03 Faro Technologies, Inc. Vor-ort-kompensation von messvorrichtungen
CN115453750B (zh) * 2022-08-30 2024-03-01 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 拼接式反射镜的面形精度分析方法、装置、设备

Family Cites Families (545)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2484641A (en) 1945-10-12 1949-10-11 Western Electric Co Method of separating adhering sheets by an air blast
US2612994A (en) 1949-10-20 1952-10-07 Norman J Woodland Classifying apparatus and method
US2682804A (en) 1950-09-26 1954-07-06 Taylor Taylor & Hobson Ltd Optical micrometer for alignment telescopes
US2784641A (en) 1952-06-20 1957-03-12 Keuffel & Esser Co Alignment telescope
US3497695A (en) * 1961-12-11 1970-02-24 Raytheon Co Radiant energy transmitting device
GB1104021A (en) 1963-11-11 1968-02-21 Nat Res Dev Distance measuring apparatus
LU46404A1 (de) 1964-06-26 1972-01-01
DE1210360B (de) 1964-11-07 1966-02-03 Leitz Ernst Gmbh Mit einem Laser-Entfernungsmesser gekoppelte Visiervorrichtung
US3365717A (en) 1965-09-03 1968-01-23 South African Inventions Method of and apparatus for providing a measure of the distance between two spaced points
US3627429A (en) 1968-08-14 1971-12-14 Spectra Physics Laser optical surveying instrument and method
US3658426A (en) 1968-09-11 1972-04-25 Itek Corp Alignment telescope
US3619058A (en) 1969-11-24 1971-11-09 Hewlett Packard Co Distance measuring apparatus
US3779645A (en) 1970-05-20 1973-12-18 Nippon Kogaku Kk Distance measuring device
US3728025A (en) 1971-03-08 1973-04-17 Cubic Corp Optical distance measuring equipment
US3740141A (en) 1971-09-20 1973-06-19 Laser Systems & Electronics Timing and measuring methods and means for laser distance measurements
US3813165A (en) 1971-09-20 1974-05-28 Laser Syst & Electronics Inc Digital distance measuring apparatus employing modulated light beam
US3832056A (en) 1972-03-13 1974-08-27 Aga Corp Distance measuring device using electro-optical techniques
DE2235318C3 (de) 1972-07-19 1980-02-14 Ito-Patent Ag, Zuerich (Schweiz) Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung und der Höhendifferenz und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE2553691C2 (de) 1975-11-28 1986-10-30 MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung zwischen einem Meß- und einem Zielpunkt und Entfernungsmeßgerät zur Durchführung dieses Verfahrens
FR2206510A1 (de) 1972-11-15 1974-06-07 Aga Ab
CH589856A5 (de) 1975-12-29 1977-07-15 Kern & Co Ag
US4113381A (en) 1976-11-18 1978-09-12 Hewlett-Packard Company Surveying instrument and method
DE7704949U1 (de) 1977-02-18 1977-06-30 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Projektor mit versenkbarem tragegriff
US4178515A (en) 1978-05-12 1979-12-11 Lockheed Electronics Co., Inc. Optical signal communicating apparatus
GB2066015B (en) 1979-10-23 1984-02-15 South African Inventions Distance measurment
US4453825A (en) 1979-12-07 1984-06-12 Hewlett-Packard Company Distance transducer
US4413907A (en) 1980-11-07 1983-11-08 Robert F. Deike Remote control surveying
DE3103567A1 (de) 1981-02-03 1982-08-12 MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn Entfernungsmessverfahren nach dem prinzip der laufzeitmessung eines messlichtimpulses und vorrichtung zu seiner durchfuehrung
JPS6318960Y2 (de) 1981-03-12 1988-05-27
DE3219423C2 (de) 1981-06-09 1986-04-30 MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel Entfernungsmeßverfahren und Vorrichtung zu seiner Durchführung
US4498764A (en) 1981-06-09 1985-02-12 Ludwig Bolkow Dynamic control arrangement for a distance measuring apparatus
JPS5848881A (ja) 1981-06-09 1983-03-22 エムテ−ツエ− メステヒニ−ク ウント オプトエレクトロニ−ク ア−ゲ− 距離測定方法及び装置
SE450975B (sv) 1981-08-07 1987-09-07 Geotronics Ab Anordning for operatorskommunikation i ett system for elektronisk distansmetning
JPS5838880A (ja) 1981-08-31 1983-03-07 Tokyo Optical Co Ltd 光波距離計
EP0102102B1 (de) 1982-08-26 1987-05-13 Shell Internationale Researchmaatschappij B.V. Verfahren und Vorrichtung zum Eichen eines Tanks unter Verwendung von Diodenlaser und optischen Fasern
US4537475A (en) 1983-04-01 1985-08-27 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Scattering apodizer for laser beams
US4692023A (en) 1983-07-30 1987-09-08 Tokyo Kagaku Kikai Kabushiki Kaisha Optical adapter for a light-wave rangefinder
DE3328335A1 (de) 1983-08-05 1985-02-14 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn Datenfernueberwachungssystem
DE3476583D1 (en) 1983-12-22 1989-03-09 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Interferometer
JPS60237307A (ja) 1984-05-11 1985-11-26 Yokogawa Hewlett Packard Ltd レ−ザ測長器
DE3530922A1 (de) 1984-08-29 1986-04-30 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Projektionseinrichtung fuer einen leitstrahl
US4777660A (en) 1984-11-06 1988-10-11 Optelecom Incorporated Retroreflective optical communication system
SE448199B (sv) 1985-05-09 1987-01-26 Ericsson Telefon Ab L M Anleggning med flera berbara, snorlosa telefonapparater
US4632547A (en) 1985-09-10 1986-12-30 Broomer Research Corporation Autocollimating alignment telescope
JPS6253310U (de) * 1985-09-24 1987-04-02
US4767257A (en) 1985-12-23 1988-08-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Industrial robot
US4714339B2 (en) 1986-02-28 2000-05-23 Us Commerce Three and five axis laser tracking systems
JPH052807Y2 (de) * 1987-02-10 1993-01-25
US4790651A (en) 1987-09-30 1988-12-13 Chesapeake Laser Systems, Inc. Tracking laser interferometer
US4839507A (en) 1987-11-06 1989-06-13 Lance May Method and arrangement for validating coupons
SE464782B (sv) 1987-12-22 1991-06-10 Geotronics Ab Anordning vid ett avstaandsmaetningsinstrument saasom hjaelpmedel vid utsaettning
US5069524A (en) 1988-03-07 1991-12-03 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Robot hand optical fiber connector coupling assembly
JP2717408B2 (ja) 1988-03-16 1998-02-18 株式会社トプコン 直線性誤差補正機能を有する光波測距装置
US4983021A (en) 1988-08-10 1991-01-08 Fergason James L Modulated retroreflector system
DE3827458C3 (de) 1988-08-12 1998-04-09 Michael H Dipl Ing Korte Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Raumkoordinaten eines beliebigen Meßpunktes
JP2731565B2 (ja) 1989-01-11 1998-03-25 松下電工株式会社 測距センサー
SE500856C2 (sv) 1989-04-06 1994-09-19 Geotronics Ab Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete
GB8909357D0 (en) 1989-04-25 1989-06-14 Renishaw Plc Position determining apparatus
JPH0331715A (ja) 1989-06-29 1991-02-12 Hazama Gumi Ltd 測点の変位自動計測方法及びその装置
US4963832A (en) * 1989-08-08 1990-10-16 At&T Bell Laboratories Erbium-doped fiber amplifier coupling device
IT1238032B (it) * 1990-01-30 1993-06-23 Pirelli Cavi Spa Linea di telecomunicazione a fibre ottiche con canali separati di servizio
GB9003221D0 (en) 1990-02-13 1990-04-11 Optical Measuring Systems Limi Electronic distance measurement
US5440326A (en) 1990-03-21 1995-08-08 Gyration, Inc. Gyroscopic pointer
US5138154A (en) 1990-04-04 1992-08-11 Gyration Inc. Shaft angle encoder with rotating off-axis interference pattern
JPH068733B2 (ja) 1990-07-05 1994-02-02 佐藤工業株式会社 レーザーポジショナー及びこれを用いた定点マーキング方法
EP0468677B1 (de) 1990-07-18 1996-05-15 Spectra Precision, Inc. System und Verfahren zur dreidimensionalen Positionserfassung
US5082364A (en) 1990-08-31 1992-01-21 Russell James T Rf modulated optical beam distance measuring system and method
US5198877A (en) 1990-10-15 1993-03-30 Pixsys, Inc. Method and apparatus for three-dimensional non-contact shape sensing
US5198868A (en) 1990-11-16 1993-03-30 Sato Kogyo Co., Ltd. Laser surveying system having a function of marking reference points
US5121242A (en) 1991-02-04 1992-06-09 Martin Marietta Corporation Retro-reflective optical transceiver
US5175601A (en) 1991-10-15 1992-12-29 Electro-Optical Information Systems High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system
JPH05257005A (ja) 1992-02-06 1993-10-08 Nec Corp 光反射器
DE9205427U1 (de) 1992-04-21 1992-06-25 Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen, De
JP3132894B2 (ja) 1992-04-24 2001-02-05 工業技術院長 距離測定装置
JP2584875Y2 (ja) 1992-05-26 1998-11-11 株式会社ニコン 光波測距装置
DE4227492A1 (de) 1992-08-20 1994-02-24 Fritz Stahlecker Faserbandführungsvorrichtung für Streckwerke von Spinnereimaschinen
JPH0697288A (ja) 1992-09-09 1994-04-08 Kawasaki Steel Corp 半導体装置の製造方法
US5263103A (en) 1992-11-16 1993-11-16 At&T Bell Laboratories Apparatus comprising a low reflection optical fiber termination
US5331468A (en) 1992-11-27 1994-07-19 Eastman Kodak Company Intensity redistribution for exposure correction in an overfilled symmetrical laser printer
JP3300998B2 (ja) 1992-12-08 2002-07-08 株式会社ソキア 三次元座標測定装置
US5319434A (en) 1992-12-30 1994-06-07 Litton Systems, Inc. Laser rangefinder apparatus with fiber optic interface
US5301005A (en) 1993-02-10 1994-04-05 Spectra-Physics Laserplane, Inc. Method and apparatus for determining the position of a retroreflective element
JP3268608B2 (ja) * 1993-02-12 2002-03-25 株式会社トプコン 測量装置
JPH06241802A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Topcon Corp 測量機
US5402582A (en) 1993-02-23 1995-04-04 Faro Technologies Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US5611147A (en) 1993-02-23 1997-03-18 Faro Technologies, Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
JPH06241779A (ja) 1993-02-23 1994-09-02 Toshiba Corp 微小位置決め装置
JPH0665818U (ja) 1993-02-24 1994-09-16 株式会社ニコン 電子レベルシステム
JPH0785016B2 (ja) 1993-03-12 1995-09-13 株式会社愛工社 測量ターゲットおよび送電用鉄塔
US5416321A (en) 1993-04-08 1995-05-16 Coleman Research Corporation Integrated apparatus for mapping and characterizing the chemical composition of surfaces
US5455670A (en) 1993-05-27 1995-10-03 Associated Universities, Inc. Optical electronic distance measuring apparatus with movable mirror
US5392521A (en) 1993-06-10 1995-02-28 Allen; Michael P. Surveyor's prism target
JPH074967A (ja) 1993-06-15 1995-01-10 Nikon Corp 測量装置
US5724264A (en) 1993-07-16 1998-03-03 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object
US5500737A (en) 1993-07-21 1996-03-19 General Electric Company Method for measuring the contour of a surface
US5402193A (en) 1993-08-30 1995-03-28 Optical Gaging Products, Inc. Method and means for projecting images in a contour projector
JP3307730B2 (ja) 1993-08-30 2002-07-24 浜松ホトニクス株式会社 光学測定装置
US5448505A (en) 1993-11-24 1995-09-05 Tbe Boeing Company Feed through dimensional measurement system
US5347306A (en) 1993-12-17 1994-09-13 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Animated electronic meeting place
JPH07190772A (ja) 1993-12-24 1995-07-28 Mitsui Constr Co Ltd 測量装置
US5532816A (en) 1994-03-15 1996-07-02 Stellar Industries, Inc. Laser tracking wheel alignment measurement apparatus and method
SE9402047L (sv) 1994-06-13 1995-12-14 Contractor Tools Ab Förfarande och anordning för fjärrstyrning av en eller flera arbetsmaskiner
DE4438955C2 (de) 1994-10-31 1996-09-26 Swarovski Optik Kg Zielfernrohr
US5594169A (en) 1994-11-04 1997-01-14 Gyration,Inc. Optically sensed wire gyroscope apparatus and system, and methods for manufacture and cursor control
JP2627871B2 (ja) 1994-11-25 1997-07-09 日本鉄道建設公団 三次元測量用ターゲット
JP3599805B2 (ja) 1994-12-09 2004-12-08 株式会社トプコン 測量機
US5926388A (en) 1994-12-09 1999-07-20 Kimbrough; Thomas C. System and method for producing a three dimensional relief
JPH08220232A (ja) 1995-02-08 1996-08-30 Asahi Optical Co Ltd 光波測距装置および光波測距装置における光路切り換え方法
JP3523368B2 (ja) 1995-05-12 2004-04-26 ペンタックス株式会社 光波距離計
US6262801B1 (en) 1995-05-25 2001-07-17 Kabushiki Kaisha Topcon Laser reference level setting device
US5671160A (en) 1995-06-05 1997-09-23 Gcs Properties Position sensing system
JPH0914965A (ja) 1995-06-27 1997-01-17 Nikon Corp 測量用ターゲット
GB9515311D0 (en) 1995-07-26 1995-09-20 3D Scanners Ltd Stripe scanners and methods of scanning
SE504941C2 (sv) 1995-09-14 1997-06-02 Geotronics Ab Förfarande och anordning för inriktning
NO301999B1 (no) 1995-10-12 1998-01-05 Metronor As Kombinasjon av laser tracker og kamerabasert koordinatmåling
JPH09113223A (ja) 1995-10-18 1997-05-02 Fuji Xerox Co Ltd 非接触距離姿勢測定方法及び装置
USD378751S (en) 1995-10-19 1997-04-08 Gyration, Inc. Graphic display controller
DE19542490C1 (de) 1995-11-15 1997-06-05 Leica Ag Elektro-optisches Meßgerät für absolute Distanzen
US5742379A (en) 1995-11-29 1998-04-21 Reifer; Michael H. Device and method for electronically measuring distances
US5867305A (en) 1996-01-19 1999-02-02 Sdl, Inc. Optical amplifier with high energy levels systems providing high peak powers
US5698784A (en) 1996-01-24 1997-12-16 Gyration, Inc. Vibratory rate gyroscope and methods of assembly and operation
DE19602327C2 (de) 1996-01-24 1999-08-12 Leica Geosystems Ag Meßkugel-Reflektor
JPH09236662A (ja) 1996-02-29 1997-09-09 Ushikata Shokai:Kk 光波距離計
US5825350A (en) 1996-03-13 1998-10-20 Gyration, Inc. Electronic pointing apparatus and method
JP3741477B2 (ja) 1996-03-18 2006-02-01 株式会社トプコン 測量システム
JP3837609B2 (ja) 1996-03-19 2006-10-25 株式会社トプコン レーザー照射装置
DE19614108C1 (de) 1996-04-10 1997-10-23 Fraunhofer Ges Forschung Anordnung zur Vermessung der Koordinaten eines an einem Objekt angebrachten Retroreflektors
JP3200017B2 (ja) * 1996-07-05 2001-08-20 旭光学工業株式会社 電気機器におけるハンドグリップの取り付け構造
US5892575A (en) 1996-05-10 1999-04-06 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for imaging a scene using a light detector operating in non-linear geiger-mode
US6681145B1 (en) 1996-06-06 2004-01-20 The Boeing Company Method for improving the accuracy of machines
JPH102722A (ja) 1996-06-18 1998-01-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 三次元位置計測装置
US5732095A (en) * 1996-09-20 1998-03-24 Hewlett-Packard Company Dual harmonic-wavelength split-frequency laser
US5754284A (en) 1996-10-09 1998-05-19 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical time domain reflectometer with internal reference reflector
DE19643287A1 (de) 1996-10-21 1998-04-23 Leica Ag Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten
US5817243A (en) 1996-10-30 1998-10-06 Shaffer; Wayne K. Method for applying decorative contrast designs to automotive and motorcycle parts using lasers
DE19647152A1 (de) 1996-11-14 1998-05-28 Sick Ag Laserabstandsermittlungsvorrichtung
JP2002511204A (ja) 1997-02-11 2002-04-09 クワンタムビーム リミテッド 信号送受システム
US5886775A (en) 1997-03-12 1999-03-23 M+Ind Noncontact digitizing imaging system
US5957559A (en) 1997-04-29 1999-09-28 Virtek Vision Corporation Laser scanned menu
JP2965938B2 (ja) 1997-05-23 1999-10-18 マック株式会社 自動削孔システム
US5861956A (en) 1997-05-27 1999-01-19 Spatialmetrix Corporation Retroreflector for use with tooling ball
JPH1114361A (ja) * 1997-06-23 1999-01-22 Topcon Corp レーザー測量機のビームアタッチメント
US6330379B1 (en) 1997-08-01 2001-12-11 Jds Uniphase Inc. Cascaded optical switch comprising at least one gate
DE19733491B4 (de) 1997-08-01 2009-04-16 Trimble Jena Gmbh Verfahren zur Zielsuche für geodätische Geräte
US6720949B1 (en) 1997-08-22 2004-04-13 Timothy R. Pryor Man machine interfaces and applications
US6052190A (en) 1997-09-09 2000-04-18 Utoptics, Inc. Highly accurate three-dimensional surface digitizing system and methods
US6017125A (en) 1997-09-12 2000-01-25 The Regents Of The University Of California Bar coded retroreflective target
US6111563A (en) 1997-10-27 2000-08-29 Hines; Stephen P. Cordless retroreflective optical computer mouse
US6344846B1 (en) 1997-10-27 2002-02-05 Stephen P. Hines Optical retroreflective remote control
US6034722A (en) 1997-11-03 2000-03-07 Trimble Navigation Limited Remote control and viewing for a total station
US6171018B1 (en) 1997-11-10 2001-01-09 Kabushiki Kaisha Topcon Automatic control system for construction machinery
JP3784154B2 (ja) 1997-11-14 2006-06-07 株式会社トプコン 測量機の通信システム
JP3805504B2 (ja) * 1997-11-14 2006-08-02 株式会社トプコン 測量機の通信システム
EP0919906B1 (de) 1997-11-27 2005-05-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Steuerungsverfahren
JP3569426B2 (ja) 1997-12-05 2004-09-22 ペンタックス株式会社 測量用反射部材
TW367407B (en) * 1997-12-22 1999-08-21 Asml Netherlands Bv Interferometer system with two wavelengths, and lithographic apparatus provided with such a system
JPH11218673A (ja) 1998-01-30 1999-08-10 Olympus Optical Co Ltd カメラシステム
JP3941215B2 (ja) 1998-04-16 2007-07-04 株式会社ニコン 測量機及びポイント設定方法
US6317954B1 (en) 1998-05-11 2001-11-20 Vought Aircraft Industries, Inc. System and method for aligning aircraft coordinate systems
US6433866B1 (en) 1998-05-22 2002-08-13 Trimble Navigation, Ltd High precision GPS/RTK and laser machine control
JPH11337642A (ja) 1998-05-26 1999-12-10 Nikon Corp 光波測距装置
US6347290B1 (en) 1998-06-24 2002-02-12 Compaq Information Technologies Group, L.P. Apparatus and method for detecting and executing positional and gesture commands corresponding to movement of handheld computing device
US6573883B1 (en) 1998-06-24 2003-06-03 Hewlett Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for controlling a computing device with gestures
US6351483B1 (en) 1998-06-29 2002-02-26 Quarton, Inc. Laser optical axis correcting method
US7353954B1 (en) 1998-07-08 2008-04-08 Charles A. Lemaire Tray flipper and method for parts inspection
US6681031B2 (en) 1998-08-10 2004-01-20 Cybernet Systems Corporation Gesture-controlled interfaces for self-service machines and other applications
US6369794B1 (en) 1998-09-09 2002-04-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Operation indication outputting device for giving operation indication according to type of user's action
JP2000111340A (ja) 1998-10-08 2000-04-18 Topcon Corp 測量機の光通信装置
DE19855296C1 (de) 1998-12-01 2000-08-31 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Entfernungsmessung mittels eines Halbleiterlasers im sichtbaren Wellenlängenbereich nach dem Laufzeitverfahren
US6222465B1 (en) 1998-12-09 2001-04-24 Lucent Technologies Inc. Gesture-based computer interface
JP4088906B2 (ja) 1998-12-16 2008-05-21 株式会社トプコン 測量機の受光装置
JP2000234930A (ja) 1999-02-16 2000-08-29 Topcon Corp 反射プリズム装置
US6100540A (en) 1999-02-22 2000-08-08 Visidyne, Inc. Laser displacement measurement system
JP2000266540A (ja) 1999-03-17 2000-09-29 Topcon Corp 電子レベル
USD427087S (en) 1999-03-19 2000-06-27 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Measurement surveying device
US6630993B1 (en) 1999-03-22 2003-10-07 Arc Second Inc. Method and optical receiver with easy setup means for use in position measurement systems
JP4320099B2 (ja) 1999-03-26 2009-08-26 株式会社トプコン 測量装置
JP4236326B2 (ja) * 1999-03-26 2009-03-11 株式会社トプコン 自動測量機
JP2000284169A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Olympus Optical Co Ltd 測距装置
US7800758B1 (en) 1999-07-23 2010-09-21 Faro Laser Trackers, Llc Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates
JP3467207B2 (ja) * 1999-05-06 2003-11-17 ペンタックス プレシジョン株式会社 測量機の把手装置
AT407202B (de) 1999-06-10 2001-01-25 Perger Andreas Dr Kombinierte fernrohr- und entfernungsmessvorrichtung
JP4206568B2 (ja) 1999-07-01 2009-01-14 株式会社ニコン 自動測量システム
US6766036B1 (en) 1999-07-08 2004-07-20 Timothy R. Pryor Camera based man machine interfaces
JP2001021354A (ja) * 1999-07-09 2001-01-26 Topcon Corp 光学位置検出装置
JP4223634B2 (ja) 1999-07-21 2009-02-12 株式会社 ソキア・トプコン 測量装置
US6490027B1 (en) * 1999-07-27 2002-12-03 Suzanne K. Rajchel Reduced noise optical system and method for measuring distance
ATE234473T1 (de) 1999-07-28 2003-03-15 Leica Geosystems Ag Verfahren und anordnung zur bestimmung von räumlichen positionen und orientierungen
GB9923492D0 (en) * 1999-10-06 1999-12-08 Malbon Raymond M A composition for use in adding an additive to a liquid
US6567101B1 (en) 1999-10-13 2003-05-20 Gateway, Inc. System and method utilizing motion input for manipulating a display of data
JP2001165662A (ja) 1999-12-08 2001-06-22 Toshiyasu Kato 反射プリズム等の正対装置
DE10006493C2 (de) 2000-02-14 2002-02-07 Hilti Ag Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
US6501543B2 (en) 2000-02-28 2002-12-31 Arc Second, Inc. Apparatus and method for determining position
CN1095417C (zh) 2000-03-09 2002-12-04 北京邮电大学 三轴近似正交的六自由度并联机构
SE0000850D0 (sv) 2000-03-13 2000-03-13 Pink Solution Ab Recognition arrangement
JP2001272468A (ja) 2000-03-27 2001-10-05 Nikon Corp 光導波路デバイス及びこれを用いた光波測距装置
US6193371B1 (en) 2000-03-27 2001-02-27 Richard Snook Keratometer/pachymeter
JP3658269B2 (ja) 2000-03-29 2005-06-08 株式会社ルネサステクノロジ 固体表面及び半導体製造装置の処理方法並びにそれを用いた半導体装置の製造方法
GB0008303D0 (en) 2000-04-06 2000-05-24 British Aerospace Measurement system and method
DE10022054B4 (de) 2000-05-06 2006-05-24 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Distanzsensor
JP3881498B2 (ja) 2000-05-25 2007-02-14 ペンタックス株式会社 光波測距儀
JP2001353112A (ja) 2000-06-15 2001-12-25 Sanyo Electric Co Ltd 電気掃除機
JP4416925B2 (ja) 2000-07-19 2010-02-17 株式会社トプコン 位置測定設定システム及びそれに使用する受光センサ装置
US6754370B1 (en) 2000-08-14 2004-06-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Real-time structured light range scanning of moving scenes
KR100780259B1 (ko) 2000-08-25 2007-11-28 라이카 게오시스템스 아게 거리 측정 방법 및 장치
GB0022444D0 (en) 2000-09-13 2000-11-01 Bae Systems Plc Positioning system and method
JP3780836B2 (ja) 2000-09-21 2006-05-31 株式会社大林組 山岳トンネル用マーキング装置の制御方法
US6563569B2 (en) 2000-09-25 2003-05-13 Agency Of Industrial Science & Technology, Ministry Of International Trade & Industry Laser tracking interferometric length measuring instrument and method of measuring length and coordinates using the same
JP2002098762A (ja) 2000-09-26 2002-04-05 Nikon Corp 光波測距装置
AU2001279533B2 (en) 2000-09-27 2006-03-09 Leica Geosystems Ag System and method for signal acquisition in a distance meter
JP4432246B2 (ja) 2000-09-29 2010-03-17 ソニー株式会社 観客状況判定装置、再生出力制御システム、観客状況判定方法、再生出力制御方法、記録媒体
JP4916899B2 (ja) 2000-10-18 2012-04-18 シャープ株式会社 発光型表示素子
US6668466B1 (en) 2000-10-19 2003-12-30 Sandia Corporation Highly accurate articulated coordinate measuring machine
CN1290850A (zh) 2000-10-31 2001-04-11 上海交通大学 非接触式六自由度运动测量与分析系统
JP2004513443A (ja) 2000-11-02 2004-04-30 エッセンシャル リアリティー,インコーポレイティド 電子ユーザ装着インタフェイス装置及びそれを使用した方法
JP4767403B2 (ja) 2000-11-06 2011-09-07 本田技研工業株式会社 三次元計測装置および三次元計測方法
EP1211481A3 (de) 2000-11-29 2004-05-19 microSystems GmbH Prüfvorrichtung zum Erkennen der Geometrie und/oder Lage von Bauteilen
KR100802969B1 (ko) 2000-11-30 2008-02-14 라이카 게오시스템스 아게 거리 측정 장치 내의 주파수 합성을 위한 방법 및 장치
US6650222B2 (en) 2000-12-07 2003-11-18 Cooper Technologies Company Modular fuseholder
JP2002209361A (ja) 2001-01-10 2002-07-26 Canon Electronics Inc モーター
US7031875B2 (en) 2001-01-24 2006-04-18 Geo Vector Corporation Pointing systems for addressing objects
WO2002063235A2 (en) 2001-02-02 2002-08-15 Renishaw Plc Machine tool probe
WO2002063241A1 (fr) 2001-02-08 2002-08-15 Nkk Corporation Procede de mesure de coordonnees tridimensionnelles, dispositif de mesure de coordonnees tridimensionnelles et procede permettant la construction d"une structure de grande dimension
US7030861B1 (en) 2001-02-10 2006-04-18 Wayne Carl Westerman System and method for packing multi-touch gestures onto a hand
US6964113B2 (en) 2001-03-06 2005-11-15 Faro Laser Trackers, Llc Scale-bar artifact and methods of use
EP1241436B1 (de) 2001-03-14 2014-11-19 Tesa Sa Koordinatenmessmaschine und Verfahren zum Einbringen eines Kommandos zum Ändern des Messmodus
AUPR402501A0 (en) 2001-03-29 2001-04-26 Connolly, Michael Laser levelling apparatus
DE60238612D1 (de) 2001-04-10 2011-01-27 Faro Tech Inc Chopper-stabilisiertes messgerät für absolute distanzen
DE10118392A1 (de) 2001-04-13 2002-11-07 Zeiss Carl System und Verfahren zum Bestimmen einer Position oder/und Orientierung zweier Objekte relativ zueinander sowie Strahlführungsanordnung, Interferometeranordnung und Vorrichtung zum Ändern einer optischen Weglänge zum Einsatz in einem solchen System und Verfahren
US7505119B2 (en) 2001-04-13 2009-03-17 Optical Air Data Systems, Llc Multi-function optical system and assembly
US6598306B2 (en) 2001-04-17 2003-07-29 Homer L. Eaton Self-loading spatial reference point array
KR100421428B1 (ko) 2001-04-24 2004-03-09 한국과학기술원 반사체를 이용한 미소 6자유도 운동 측정 장치
US20030014212A1 (en) 2001-07-12 2003-01-16 Ralston Stuart E. Augmented vision system using wireless communications
US6922599B2 (en) 2001-08-13 2005-07-26 The Boeing Company System and method for producing an assembly by directly implementing three-dimensional computer-aided design component definitions
US6587253B2 (en) 2001-08-16 2003-07-01 Silicon Light Machines Enhance thermal stability through optical segmentation
WO2003019231A1 (en) * 2001-08-22 2003-03-06 Automated Precision Inc. Six dimensional laser tracking system and method
JP5037765B2 (ja) 2001-09-07 2012-10-03 株式会社トプコン オペレータ誘導システム
ES2399883T3 (es) 2001-10-11 2013-04-04 Laser Projection Technologies, Inc. Procedimiento y sistema para la visualización de errores de superficie
WO2003040673A2 (en) 2001-11-02 2003-05-15 Phipps Jack M Temperature sensor with enhanced ambient air temperature detection
US6879933B2 (en) 2001-11-16 2005-04-12 Faro Technologies, Inc. Method and system for assisting a user taking measurements using a coordinate measurement machine
US6868194B2 (en) 2001-12-19 2005-03-15 General Electric Company Method for the extraction of image features caused by structure light using image reconstruction
DE10200366A1 (de) 2002-01-08 2003-07-17 Zeiss Optronik Gmbh Mehrkanalempfängersystem für winkelaufgelöste Laserentfernungsmessung
EP1466136B1 (de) 2002-01-16 2011-08-03 Faro Technologies, Inc. Lasergestützte koordinatenmessapparatur und lasergestütztes koordinatenmessverfahren
JP3816807B2 (ja) * 2002-01-21 2006-08-30 株式会社トプコン 位置測定装置及びそれに使用する回転レーザ装置
US7535496B2 (en) 2002-01-30 2009-05-19 Intel Corporation Audio-based attention grabber for imaging devices
CN1160654C (zh) 2002-02-07 2004-08-04 天津大学 六自由度测量功能的激光扫描跟踪仪
US7043847B2 (en) 2002-02-14 2006-05-16 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine having on-board power supply
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US7246030B2 (en) 2002-02-14 2007-07-17 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US6957496B2 (en) 2002-02-14 2005-10-25 Faro Technologies, Inc. Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
WO2003073121A1 (en) 2002-02-22 2003-09-04 Faro Laser Trackers, Llc Spherically mounted light source with angle measuring device, tracking system, and method for determining coordinates
CN1692401B (zh) 2002-04-12 2011-11-16 雷斯里·R·奥柏梅尔 多轴输入转换器装置和摇杆
US7499150B2 (en) 2002-04-15 2009-03-03 Robert Bosch Company Limited Distance measurement device
AU2003239354A1 (en) 2002-05-06 2003-11-11 Automated Precision, Inc. Nine dimensional laser tracking system and method
US7440590B1 (en) 2002-05-21 2008-10-21 University Of Kentucky Research Foundation System and technique for retrieving depth information about a surface by projecting a composite image of modulated light patterns
DE10235562A1 (de) 2002-08-03 2004-02-19 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
EP1388739A1 (de) 2002-08-09 2004-02-11 HILTI Aktiengesellschaft Laserdistanzmessgerät mit Phasenlaufzeitmessung
US20040035277A1 (en) 2002-08-20 2004-02-26 Hubbs William O. Track and punch SMR marking device
US7230689B2 (en) 2002-08-26 2007-06-12 Lau Kam C Multi-dimensional measuring system
US20040041996A1 (en) 2002-08-28 2004-03-04 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder and method
DE10239448A1 (de) 2002-08-28 2005-06-16 Robert Bosch Gmbh Entfernungsmessgerät
JP2004108939A (ja) 2002-09-18 2004-04-08 Pentax Precision Co Ltd 測量機の遠隔操作システム
SE524329C8 (sv) 2002-09-20 2004-10-20 Trimble Ab Ett positionsstyrarrangemang, speciellt för ett geodektiskt instrument, samt ett geodetiskt instrument
US7765084B2 (en) 2002-09-20 2010-07-27 Trimble A.B. Position control arrangement, especially for a surveying instrument, and a surveying instrument
JP2004144629A (ja) 2002-10-25 2004-05-20 Pentax Precision Co Ltd 測量機
JP4255682B2 (ja) 2002-11-22 2009-04-15 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
JP4127503B2 (ja) 2002-11-22 2008-07-30 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
JP2004170355A (ja) 2002-11-22 2004-06-17 Topcon Corp 反射体自動追尾装置
US7110194B2 (en) 2002-11-27 2006-09-19 Hubbs Machine & Manufacturing Inc. Spherical retro-reflector mount negative
SE525290C2 (sv) 2002-12-20 2005-01-25 Trimble Ab Geodetiskt system för mätning/utsättning och metod för användning av detsamma
US7253891B2 (en) 2003-01-09 2007-08-07 Orbotech Ltd. Method and apparatus for simultaneous 2-D and topographical inspection
JP4104991B2 (ja) 2003-01-16 2008-06-18 株式会社トプコン 光波距離計
EP1588552A1 (de) 2003-01-22 2005-10-26 Nokia Corporation Bildsteuerung
ITTO20030139A1 (it) 2003-02-27 2004-08-28 Comau Spa Robot industriale
US7286246B2 (en) 2003-03-31 2007-10-23 Mitutoyo Corporation Method and apparatus for non-contact three-dimensional surface measurement
US7233316B2 (en) 2003-05-01 2007-06-19 Thomson Licensing Multimedia user interface
DE10321749B4 (de) 2003-05-09 2018-05-30 Trimble Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der räumlichen Lage und Position eines Reflektorstabes in Bezug zu einem Aufhaltepunkt
JP2004340880A (ja) 2003-05-19 2004-12-02 Soatec Inc レーザ測定装置
JP4301863B2 (ja) 2003-05-21 2009-07-22 株式会社トプコン 測距装置
JP2005010585A (ja) 2003-06-20 2005-01-13 Tdk Corp ホログラフィック光学素子、その製造方法、及びホログラフィック記録システム
CN1297796C (zh) * 2003-07-02 2007-01-31 西安交通大学 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置
WO2005026772A2 (en) 2003-09-05 2005-03-24 Faro Technologies, Inc. Self-compensating laser tracker
US7583375B2 (en) 2003-09-05 2009-09-01 Faro Technologies, Inc. Self-compensating laser tracker
CA2536232A1 (en) 2003-09-10 2005-03-17 Virtek Laser Systems, Inc. Laser projection systems and methods
DE10344922B4 (de) 2003-09-25 2008-06-26 Siemens Audiologische Technik Gmbh Rundum-Scanner
DE10361870B4 (de) * 2003-12-29 2006-05-04 Faro Technologies Inc., Lake Mary Laserscanner und Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung des Laserscanners
US7384220B2 (en) 2004-01-06 2008-06-10 The Boeing Company Laser-guided coordination hole drilling
JP4832720B2 (ja) 2004-01-29 2011-12-07 株式会社トプコン パルス信号の処理装置、パルス信号の処理方法およびプログラム
JP4177765B2 (ja) 2004-01-30 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
DE602005027180D1 (de) 2004-02-24 2011-05-12 Faro Tech Inc Durch ein fenster abgedeckter retroreflektor
KR100631834B1 (ko) 2004-03-03 2006-10-09 삼성전기주식회사 버튼 조작없이 번호입력이 가능한 휴대폰 및 상기 휴대폰의 번호 입력 방법
DE102004024171A1 (de) 2004-03-09 2005-09-29 Thorsten Beckmann System zum Vermessen und Einrichten von Räumen
JP4438467B2 (ja) 2004-03-19 2010-03-24 アイシン精機株式会社 3次元測定機におけるワーク温度補正方法
DE202004004945U1 (de) 2004-03-26 2004-10-21 Aua-Map Gmbh Lotstab für Vermessungssysteme
US8320708B2 (en) 2004-04-02 2012-11-27 K-Nfb Reading Technology, Inc. Tilt adjustment for optical character recognition in portable reading machine
WO2005102202A1 (en) 2004-04-26 2005-11-03 Orthosoft Inc. Method for permanent calibration based on actual measurement
JP2005326317A (ja) 2004-05-14 2005-11-24 Sokkia Co Ltd 測量システム
JP4177784B2 (ja) 2004-05-14 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
JP3935897B2 (ja) 2004-06-15 2007-06-27 北陽電機株式会社 光波測距装置
EP1610091A1 (de) * 2004-06-23 2005-12-28 Leica Geosystems AG Scannersystem und Verfahren zur Erfassung von Oberflächen
US7111783B2 (en) 2004-06-25 2006-09-26 Board Of Trustees Operating Michigan State University Automated dimensional inspection
US20060009929A1 (en) 2004-07-06 2006-01-12 Boyette Roger L Jr In-service insulated tank certification
US20060017720A1 (en) 2004-07-15 2006-01-26 Li You F System and method for 3D measurement and surface reconstruction
US7325326B1 (en) 2004-08-09 2008-02-05 Project Consulting Services, Inc. Method and apparatus for best fitting two or more items
US6996914B1 (en) 2004-08-09 2006-02-14 Project Consulting Services, Inc. Method and apparatus for best fitting two or more items
JP4501587B2 (ja) 2004-08-18 2010-07-14 富士ゼロックス株式会社 3次元画像測定装置および方法
JP2006084460A (ja) 2004-08-18 2006-03-30 Tomohisa Oumoto 指示装置、指示方法、設置情報算出装置、及び設置情報算出方法
US20080316503A1 (en) 2004-09-08 2008-12-25 Smarsh Steven G Automated Inspection Comparator/Shadowgraph System
US7761814B2 (en) 2004-09-13 2010-07-20 Microsoft Corporation Flick gesture
EP1804278A4 (de) 2004-09-14 2011-03-02 Nikon Corp Korrekturverfahren und belichtungseinrichtung
JP4446850B2 (ja) 2004-09-27 2010-04-07 株式会社トプコン 測量装置用ターゲット
JP5235412B2 (ja) * 2004-09-30 2013-07-10 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド レーザ追跡装置、レーザ・デバイス及び方法
JP4830096B2 (ja) 2004-09-30 2011-12-07 国立大学法人名古屋大学 距離測定装置および距離測定方法
DE102004052199A1 (de) 2004-10-20 2006-04-27 Universität Stuttgart Streifenprojektions-Triangulationsanordnung zur dreidimensionalen Objekterfassung, insbesondere auch zur dreidimensionalen Erfassung des Gesichts eines Menschen
JP4707363B2 (ja) 2004-10-20 2011-06-22 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
WO2006052259A1 (en) 2004-11-11 2006-05-18 Pierre Bierre 3d point location system
US7268893B2 (en) 2004-11-12 2007-09-11 The Boeing Company Optical projection system
EP1659417A1 (de) 2004-11-19 2006-05-24 Leica Geosystems AG Verfahren zur Bestimmung der Ausrichtung eines Ausrichtungsindikators
WO2006055770A2 (en) 2004-11-19 2006-05-26 Dynalog, Inc. Robot cell calibration
CN1290850C (zh) 2004-12-07 2006-12-20 王敬勉 银杏叶中银杏内酯b和白果内酯的提取方法
TWM269538U (en) 2004-12-15 2005-07-01 Enhance Prec Electronic Co Ltd Maneuverable multi-media audio/video karaoke device
US7701592B2 (en) 2004-12-17 2010-04-20 The Boeing Company Method and apparatus for combining a targetless optical measurement function and optical projection of information
DE102004061338B4 (de) 2004-12-20 2011-12-29 Steinbichler Optotechnik Gmbh Automatische Bauteilprüfung
US8396329B2 (en) 2004-12-23 2013-03-12 General Electric Company System and method for object measurement
WO2006074768A1 (en) * 2005-01-12 2006-07-20 Trimble Ab Compensated measurement of angular displacement
US7388658B2 (en) 2005-01-12 2008-06-17 Trimble Jena Gmbh Inclination detection methods and apparatus
EP1681533A1 (de) 2005-01-14 2006-07-19 Leica Geosystems AG Verfahren und geodätisches Gerät zur Vermessung wenigstens eines Zieles
EP1686350A1 (de) * 2005-01-26 2006-08-02 Leica Geosystems AG Modular erweiterbare geodätische Totalstation
AT501507B1 (de) 2005-01-27 2008-12-15 Joanneum Res Forschungsgesells Verfahren zur mobilen berührungslosen erfassung, sowie ermittlung und auswertung von körper-konturen
CN1815212B (zh) 2005-02-05 2010-06-16 香港中文大学 金属冲压过程中的诊断方法及其设备
JP4648025B2 (ja) 2005-02-09 2011-03-09 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
DE102005007916A1 (de) 2005-02-10 2006-08-17 Hensoldt Ag Zielfernrohr mit einem Entfernungsmesser
EP2386245B1 (de) 2005-02-14 2012-12-19 Digital Signal Corporation Laserradarsystem zur Bereitstellung von gechirpter elektromagnetischer Strahlung
JP2006242755A (ja) 2005-03-03 2006-09-14 Sokkia Co Ltd 測量システム
US7751654B2 (en) 2005-03-04 2010-07-06 Cornell Research Foundation, Inc. Electro-optic modulation
CA2656163C (en) 2005-03-11 2011-07-19 Creaform Inc. Auto-referenced system and apparatus for three-dimensional scanning
US7168174B2 (en) 2005-03-14 2007-01-30 Trimble Navigation Limited Method and apparatus for machine element control
EP1703300A1 (de) 2005-03-17 2006-09-20 Leica Geosystems AG Verfahren und System zur Bestimmung von Position und Orientierung eines Objekts
JP5016245B2 (ja) 2005-03-29 2012-09-05 ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト 物体の六つの自由度を求めるための測定システム
WO2006121562A1 (en) 2005-04-11 2006-11-16 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate measuring device
US7869944B2 (en) 2005-04-18 2011-01-11 Roof Express, Llc Systems and methods for recording and reporting data collected from a remote location
JP4427486B2 (ja) 2005-05-16 2010-03-10 株式会社東芝 機器操作装置
JP4737668B2 (ja) 2005-05-30 2011-08-03 コニカミノルタセンシング株式会社 3次元計測方法および3次元計測システム
JP4819403B2 (ja) 2005-06-06 2011-11-24 株式会社トプコン 距離測定装置
JP2006344136A (ja) 2005-06-10 2006-12-21 Fanuc Ltd ロボット制御装置
EP1734336A1 (de) 2005-06-13 2006-12-20 Leica Geosystems AG Geodätisches Zielobjekt und Vermessungssystem
WO2006138643A2 (en) 2005-06-16 2006-12-28 Nomos Corporation System, tracker, and program product to facilitate and verify proper target alignment for radiation delivery, and related methods
JP4828167B2 (ja) 2005-06-16 2011-11-30 株式会社 ソキア・トプコン 距離測定装置及びその方法
GB0512261D0 (en) 2005-06-16 2005-07-27 Land Instr Int Ltd Retro-reflector assembly and opacity monitor incorporating same
EP1893942B9 (de) 2005-06-23 2010-07-21 Faro Technologies Inc. Gerät und verfahren zur zurücksetzung einer gelenkarmkoordinatenmessmaschine
US7285793B2 (en) 2005-07-15 2007-10-23 Verisurf Software, Inc. Coordinate tracking system, apparatus and method of use
GB0516276D0 (en) * 2005-08-08 2005-09-14 Crampton Stephen Robust cmm arm with exoskeleton
US8625854B2 (en) * 2005-09-09 2014-01-07 Industrial Research Limited 3D scene scanner and a position and orientation system
EP1944572B1 (de) * 2005-09-12 2010-03-03 Trimble Jena GmbH Vermessungsinstrument und Verfahren zur Bereitstellung von Vermessungsdaten mithilfe des Vermessungsinstruments
US7392592B2 (en) 2005-10-07 2008-07-01 Milwaukee Electric Tool Corporation Ruggedized laser level
US7301165B2 (en) 2005-10-24 2007-11-27 General Electric Company Methods and apparatus for inspecting an object
EP1941235B1 (de) 2005-10-26 2015-10-14 Trimble Jena GmbH Vermessungsverfahren und vermessungsinstrument
CA2629319C (en) 2005-11-10 2012-01-03 Optical Air Data Systems, Llc Single aperture multiple optical waveguide transceiver
US7511800B2 (en) * 2005-11-28 2009-03-31 Robert Bosch Company Limited Distance measurement device with short range optics
JP2009517672A (ja) 2005-12-02 2009-04-30 トリンブル アーベイ 測量装置及び測量方法
US7480037B2 (en) 2005-12-02 2009-01-20 The Boeing Company System for projecting flaws and inspection locations and associated method
US20080297808A1 (en) 2005-12-06 2008-12-04 Nabeel Agha Riza Optical Sensor For Extreme Environments
US8217893B2 (en) 2005-12-09 2012-07-10 Thomson Licensing Inertial sensor-based pointing device with removable transceiver
EP2821879A1 (de) 2006-01-06 2015-01-07 Drnc Holdings, Inc. Verfahren zur Eingabe von Befehlen und/oder Schriftzeichen für ein tragbares Kommunikationsgerät mit Neigungssensor
AU2007204543B2 (en) 2006-01-13 2011-05-26 Leica Geosystems Ag Tracking method and measuring system comprising a laser tracker
JP2009526224A (ja) 2006-02-07 2009-07-16 アストラゼネカ・アクチエボラーグ 分光計システムの性能を解析するための装置
JP5196725B2 (ja) 2006-02-09 2013-05-15 株式会社 ソキア・トプコン 測量機の自動視準装置
TWI287622B (en) 2006-03-02 2007-10-01 Asia Optical Co Inc Phase measurement method and application
JP4904861B2 (ja) 2006-03-14 2012-03-28 ソニー株式会社 体動検出装置、体動検出方法および体動検出プログラム
DE102006013185A1 (de) 2006-03-22 2007-09-27 Refractory Intellectual Property Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Ermittlung der Position und Orientierung einer Meß- oder Reparatureinrichtung und eine nach dem Verfahren arbeitende Vorrichtung
DE102006013290A1 (de) 2006-03-23 2007-09-27 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur optischen Distanzmessung sowie Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung
JP2007256872A (ja) 2006-03-27 2007-10-04 Hitachi Ltd プラズマディスプレイ装置
US7556389B2 (en) 2006-03-30 2009-07-07 Raytheon Company Pointable optical system with coude optics having a short on-gimbal path length
US7976387B2 (en) 2006-04-11 2011-07-12 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Free-standing input device
JP5127820B2 (ja) 2006-04-20 2013-01-23 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド カメラ利用標的座標計測方法
JP5123932B2 (ja) 2006-04-21 2013-01-23 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 回動鏡を備えるカメラ利用6自由度標的計測装置及び標的追尾装置
JP5028475B2 (ja) 2006-04-27 2012-09-19 スリーディー スキャナーズ リミテッド 光学走査プローブ
DE202006020299U1 (de) 2006-05-16 2008-04-24 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. 3D-Vermessungsanordnung
CN100385197C (zh) * 2006-06-08 2008-04-30 天津世纪动力光电科学仪器有限公司 便携式无导轨结构光三维扫描测量系统及其测量方法
JP4380663B2 (ja) 2006-06-08 2009-12-09 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定方法、装置、及びフォーカス調整方法
JP2008002995A (ja) 2006-06-23 2008-01-10 Konica Minolta Sensing Inc 三次元形状測定装置
JP4910507B2 (ja) 2006-06-29 2012-04-04 コニカミノルタホールディングス株式会社 顔認証システム及び顔認証方法
JP2008014653A (ja) 2006-07-03 2008-01-24 Pentax Industrial Instruments Co Ltd 測量機
JP2008026120A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Sanyo Electric Co Ltd ラインレーザー装置およびそれを用いたレーザー墨出し器
JP2008027308A (ja) 2006-07-24 2008-02-07 Sharp Corp モード切り替え用摘みユニット
JP4238891B2 (ja) 2006-07-25 2009-03-18 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定システム、三次元形状測定方法
TWI288230B (en) 2006-08-10 2007-10-11 Asia Optical Co Inc Laser ranging system with a shutter mechanism
DE202006014576U1 (de) 2006-08-21 2008-01-03 STABILA Messgeräte Gustav Ullrich GmbH Schutzeinrichtung
EP2056132B1 (de) 2006-08-22 2012-11-21 Nippon Carbide Kogyo Kabushiki Kaisha Retroreflexionsartikel mit kubischen ecken des dreieckigen pyramidentyps und herstellungsverfahren dafür
WO2008027588A2 (en) 2006-08-31 2008-03-06 Faro Technologies, Inc. Smart probe
US7565216B2 (en) 2006-09-11 2009-07-21 Innovmetric Logiciels Inc. Clearance measurement of manufactured parts
JP5020585B2 (ja) 2006-09-27 2012-09-05 株式会社トプコン 測定システム
US7256899B1 (en) 2006-10-04 2007-08-14 Ivan Faul Wireless methods and systems for three-dimensional non-contact shape sensing
DE502007003541D1 (de) 2006-10-06 2010-06-02 Leica Geosystems Ag Zielobjekt zur retroreflexion einer optischen strahlung
US8087315B2 (en) 2006-10-10 2012-01-03 Honeywell International Inc. Methods and systems for attaching and detaching a payload device to and from, respectively, a gimbal system without requiring use of a mechanical tool
DE102006049695A1 (de) 2006-10-16 2008-04-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen Erfassen einer dreidimensionalen Kontur
US20080107305A1 (en) 2006-11-02 2008-05-08 Northern Digital Inc. Integrated mapping system
GB0622451D0 (en) 2006-11-10 2006-12-20 Intelligent Earth Ltd Object position and orientation detection device
US8090194B2 (en) 2006-11-21 2012-01-03 Mantis Vision Ltd. 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging
US8538166B2 (en) 2006-11-21 2013-09-17 Mantisvision Ltd. 3D geometric modeling and 3D video content creation
JP4888127B2 (ja) * 2007-01-17 2012-02-29 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元測定装置及び携帯型計測器
WO2008089480A2 (en) 2007-01-19 2008-07-24 Associated Universities, Inc. Fiber optically coupled, multiplexed, and chopped laser rangefinder
JP2008210732A (ja) 2007-02-28 2008-09-11 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子ビーム装置
JP5442457B2 (ja) 2007-03-05 2014-03-12 イノス オートメーションズソフトウェア ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 位置の突き止め
ATE522831T1 (de) 2007-03-08 2011-09-15 Trimble Ab Verfahren und instrumente zur schätzung der zielbewegung
JP5137104B2 (ja) 2007-03-22 2013-02-06 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
US20080246974A1 (en) 2007-03-28 2008-10-09 Jean Laurent Wilson Portable Optical Measurement Assembly
WO2008121919A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-09 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter
EP2136178A1 (de) 2007-04-05 2009-12-23 Nikon Corporation Geometriemessinstrument und verfahren zur geometriemessung
US8578581B2 (en) 2007-04-16 2013-11-12 Pratt & Whitney Canada Corp. Method of making a part and related system
US7835012B1 (en) 2007-05-01 2010-11-16 Lockheed Martin Corporation Alignment interferometer telescope apparatus and method
EP1990607A1 (de) 2007-05-10 2008-11-12 Leica Geosystems AG Positionsbestimmungsverfahren für ein geodätisches Vermessungsgerät
US8364312B2 (en) 2007-06-06 2013-01-29 Cycogs, Llc Modular rotary multi-sensor sensor ring
US7876457B2 (en) 2007-06-13 2011-01-25 Nikon Metrology Nv Laser metrology system and method
JP5244339B2 (ja) 2007-06-20 2013-07-24 株式会社ミツトヨ 追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法
JP2009014639A (ja) 2007-07-09 2009-01-22 Sanyo Electric Co Ltd ビーム照射装置およびレーザレーダ
WO2009024758A1 (en) 2007-08-17 2009-02-26 Renishaw Plc Non-contact probe
WO2009062153A1 (en) 2007-11-09 2009-05-14 Wms Gaming Inc. Interaction with 3d space in a gaming system
DE102007058692A1 (de) 2007-12-06 2009-06-10 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Versenkbare Griffvorrichtung für eine Tür eines Hausgeräts und Hausgerät mit einer derartigen Griffvorrichtung
AT506110B1 (de) 2007-12-12 2011-08-15 Nextsense Mess Und Pruefsysteme Gmbh Vorrichtung und verfahren zur erfassung von körpermassdaten und konturdaten
JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2013-02-20 株式会社トプコン 測量装置
JP5043630B2 (ja) * 2007-12-18 2012-10-10 株式会社ディスコ レーザー加工機
JP2009156772A (ja) 2007-12-27 2009-07-16 Topcon Corp 測量システム
KR101281328B1 (ko) 2008-01-15 2013-07-03 (주)엘지하우시스 전자파 차폐 시트, 그 제조 방법 및 상기를 포함하는휴대폰
KR100832696B1 (ko) 2008-01-18 2008-05-28 임권현 진공척
US8384997B2 (en) 2008-01-21 2013-02-26 Primesense Ltd Optical pattern projection
US7738083B2 (en) 2008-02-05 2010-06-15 Asia Optical Co., Inc. Distant measurement method and distant measurement system
EP2247921B1 (de) 2008-02-12 2014-10-08 Trimble AB Bestimmung von koordinaten eines ziels in bezug auf vermessungsinstrumente mit einer kamera
WO2009106144A1 (en) 2008-02-29 2009-09-03 Trimble Automated calibration of a surveying instrument
US9189858B2 (en) 2008-02-29 2015-11-17 Trimble Ab Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras
CN101970980B (zh) * 2008-03-11 2014-04-09 株式会社尼康 基准球检测装置、基准球位置检测装置和三维坐标测量装置
JP5199452B2 (ja) 2008-03-21 2013-05-15 ヴァリエーション リダクション ソリューションズ、インコーポレイテッド ロボット精度向上のための外部システム
US8220329B2 (en) 2008-03-21 2012-07-17 Analog Devices, Inc. Management system for MEMS inertial sensors
WO2009120292A2 (en) 2008-03-24 2009-10-01 Shu Muk Lee Accelerometer-controlled mobile handheld device
JP5060358B2 (ja) 2008-03-25 2012-10-31 株式会社トプコン 測量システム
DE102008015499C5 (de) 2008-03-25 2013-01-10 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der 3D-Koordinaten eines Objekts
EP2108917B1 (de) 2008-04-07 2012-10-03 Leica Geosystems AG Koordinatenmessgerät mit Gelenkarm
US8520930B2 (en) 2008-04-18 2013-08-27 3D Scanners Ltd. Method and computer program for improving the dimensional acquisition of an object
DE102008020772A1 (de) 2008-04-21 2009-10-22 Carl Zeiss 3D Metrology Services Gmbh Darstellung von Ergebnissen einer Vermessung von Werkstücken
WO2010006081A1 (en) 2008-07-08 2010-01-14 Chiaro Technologies, Inc. Multiple channel locating
USD605959S1 (en) 2008-07-23 2009-12-15 Leica Geosystems Ag Land surveying total station measuring device
US20100025746A1 (en) 2008-07-31 2010-02-04 Micron Technology, Inc. Methods, structures and systems for interconnect structures in an imager sensor device
US20110003507A1 (en) 2008-08-14 2011-01-06 Andrew Llc Multi-shot Connector Assembly and Method of Manufacture
TW201009650A (en) 2008-08-28 2010-03-01 Acer Inc Gesture guide system and method for controlling computer system by gesture
DE202008013217U1 (de) 2008-10-04 2009-04-02 Sick Ag Beleuchtung zur Erzeugung eines Kontrastmusters
US7908757B2 (en) 2008-10-16 2011-03-22 Hexagon Metrology, Inc. Articulating measuring arm with laser scanner
US20150331159A1 (en) 2008-11-17 2015-11-19 Faro Technologies, Inc. Markings on glass cube-corner retroreflector and method of measuring retroreflector orientation
DE112009005524B3 (de) 2008-11-17 2018-01-25 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung und Verfahren zum Messen von sechs Freiheitsgraden
US9739595B2 (en) 2008-12-11 2017-08-22 Automated Precision Inc. Multi-dimensional measuring system with measuring instrument having 360° angular working range
CN101750012A (zh) 2008-12-19 2010-06-23 中国科学院沈阳自动化研究所 一种测量物体六维位姿的装置
US8803055B2 (en) 2009-01-09 2014-08-12 Automated Precision Inc. Volumetric error compensation system with laser tracker and active target
JP2010169633A (ja) * 2009-01-26 2010-08-05 Nikon Corp 形状測定装置
EP2219011A1 (de) 2009-02-11 2010-08-18 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungsgerät
US8861833B2 (en) 2009-02-18 2014-10-14 International Press Of Boston, Inc. Simultaneous three-dimensional geometry and color texture acquisition using single color camera
WO2010141120A2 (en) 2009-02-20 2010-12-09 Digital Signal Corporation System and method for generating three dimensional images using lidar and video measurements
US20110316978A1 (en) 2009-02-25 2011-12-29 Dimensional Photonics International, Inc. Intensity and color display for a three-dimensional metrology system
US8786682B2 (en) 2009-03-05 2014-07-22 Primesense Ltd. Reference image techniques for three-dimensional sensing
EP2226610A1 (de) 2009-03-06 2010-09-08 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungssystem und Verfahren zum Identifizieren einer Zieleinheit mit einem geodätischen Vermessungsgerät
US20100235786A1 (en) 2009-03-13 2010-09-16 Primesense Ltd. Enhanced 3d interfacing for remote devices
JP2009134761A (ja) 2009-03-16 2009-06-18 Hitachi Ltd 非接触入力インターフェース装置及び情報端末装置
US20130057650A1 (en) 2009-03-19 2013-03-07 Guiju Song Optical gage and three-dimensional surface profile measurement method
US8082673B2 (en) 2009-11-06 2011-12-27 Hexagon Metrology Ab Systems and methods for control and calibration of a CMM
US8149390B2 (en) 2009-03-31 2012-04-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy User interface for laser targeting system
US8339616B2 (en) 2009-03-31 2012-12-25 Micrometric Vision Technologies Method and apparatus for high-speed unconstrained three-dimensional digitalization
US8452569B2 (en) 2009-03-31 2013-05-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Laser targeting system
US8717417B2 (en) 2009-04-16 2014-05-06 Primesense Ltd. Three-dimensional mapping and imaging
USD629314S1 (en) 2009-04-23 2010-12-21 Nikon-Trimble Co., Ltd. Electronic tacheometer
JP5395507B2 (ja) 2009-05-21 2014-01-22 キヤノン株式会社 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム
EP2259013B1 (de) 2009-05-25 2013-11-20 Siemens Aktiengesellschaft Topographische Messung eines Objekts
EP2446299B1 (de) 2009-06-23 2016-08-10 Leica Geosystems AG Koordinatenmessgerät
US8681317B2 (en) 2009-06-23 2014-03-25 Leica Geosystems Ag Tracking method and measuring system having a laser tracker
DE102009035336B3 (de) 2009-07-22 2010-11-18 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
WO2011013079A1 (en) 2009-07-30 2011-02-03 Primesense Ltd. Depth mapping based on pattern matching and stereoscopic information
US8659749B2 (en) * 2009-08-07 2014-02-25 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter with optical switch
US7903237B1 (en) 2009-08-13 2011-03-08 Nen-Tsua Li Laser rangefinder with a voice control function
US8565479B2 (en) 2009-08-13 2013-10-22 Primesense Ltd. Extraction of skeletons from 3D maps
JP2011039005A (ja) 2009-08-18 2011-02-24 Topcon Corp 測定装置
WO2011031538A2 (en) 2009-08-27 2011-03-17 California Institute Of Technology Accurate 3d object reconstruction using a handheld device with a projected light pattern
DE102009040863A1 (de) * 2009-09-10 2011-03-24 Carl Zeiss Ag Vorrichtung, Verfahren und Reflektoranordnung zur Positionsbestimmung
DE102009040837A1 (de) 2009-09-10 2011-03-17 Carl Zeiss Ag Vorrichtungen und Verfahren zur Positionsbestimmung und Oberflächenvermessung
US8379224B1 (en) 2009-09-18 2013-02-19 The Boeing Company Prismatic alignment artifact
US20110069322A1 (en) 2009-09-21 2011-03-24 Faro Technologies, Inc. Laser pointing mechanism
CN201548192U (zh) 2009-10-19 2010-08-11 天津鼎成高新技术产业有限公司 一种复合运动机构六自由度实时测量装置
US8384760B2 (en) 2009-10-29 2013-02-26 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systems for establishing eye contact through a display
US8610761B2 (en) 2009-11-09 2013-12-17 Prohectionworks, Inc. Systems and methods for optically projecting three-dimensional text, images and/or symbols onto three-dimensional objects
US7894079B1 (en) * 2009-11-09 2011-02-22 Mitutoyo Corporation Linear displacement sensor using a position sensitive photodetector
US20110109502A1 (en) 2009-11-09 2011-05-12 Sullivan Steven J Apparatus, system and method for displaying construction-related documents
US8606540B2 (en) 2009-11-10 2013-12-10 Projectionworks, Inc. Hole measurement apparatuses
AT509103B1 (de) 2009-11-16 2012-01-15 Riegl Laser Measurement Sys Verfahren zur stützung der messgenauigkeit von gps/imu-systemen
US8237934B1 (en) 2009-11-18 2012-08-07 The Boeing Company Center marking nest for method of precision locating
US8425059B2 (en) 2009-12-01 2013-04-23 The Boeing Company Low power retro-reflective communications system and method
US8630314B2 (en) * 2010-01-11 2014-01-14 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for synchronizing measurements taken by multiple metrology devices
US8773667B2 (en) * 2010-01-18 2014-07-08 Faro Technologies, Inc. Sphere bar probe
US8533967B2 (en) 2010-01-20 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machines with removable accessories
WO2011090891A1 (en) 2010-01-20 2011-07-28 Faro Technologies, Inc. Display for coordinate measuring machine
US20110179281A1 (en) 2010-01-20 2011-07-21 Apple Inc. Hash function using a quasi-group operation
CN101776982A (zh) 2010-01-21 2010-07-14 中国传媒大学 一种利用数字罗盘进行便携设备控制的方法
JP5538929B2 (ja) 2010-02-02 2014-07-02 新菱冷熱工業株式会社 三次元位置計測及び墨出しシステムとその使用方法
WO2011097018A1 (en) 2010-02-05 2011-08-11 Trimble Navigation Limited Systems and methods for processing mapping and modeling data
GB201003363D0 (en) 2010-03-01 2010-04-14 Renishaw Plc Measurement method and apparatus
US8537371B2 (en) 2010-04-21 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US8619265B2 (en) * 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8422034B2 (en) 2010-04-21 2013-04-16 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
ES2817800T3 (es) * 2010-04-22 2021-04-08 Metronor As Sistema de medición óptica
CN101806574B (zh) 2010-04-23 2012-05-30 浙江大学 可重构关节臂式坐标测量机
WO2011134083A1 (en) 2010-04-28 2011-11-03 Ryerson University System and methods for intraoperative guidance feedback
US9014848B2 (en) 2010-05-20 2015-04-21 Irobot Corporation Mobile robot system
US8485668B2 (en) 2010-05-28 2013-07-16 Microsoft Corporation 3D interaction for mobile device
US8583392B2 (en) 2010-06-04 2013-11-12 Apple Inc. Inertial measurement unit calibration system
DE102010024014B4 (de) 2010-06-16 2016-04-21 Trimble Jena Gmbh Ziel für ein geodätisches Gerät
EP2400261A1 (de) 2010-06-21 2011-12-28 Leica Geosystems AG Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche
EP2400379A1 (de) 2010-06-23 2011-12-28 MFA Informatik AG Grafische Steuerung eines Computers durch einen Benutzer
US8964189B2 (en) 2010-08-19 2015-02-24 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus, method for three-dimensional measurement, and computer program
US9021344B2 (en) 2010-08-31 2015-04-28 New River Kinematics, Inc. Off-line graphical user interface system and method for three-dimensional measurement
US9204129B2 (en) 2010-09-15 2015-12-01 Perceptron, Inc. Non-contact sensing system having MEMS-based light source
EP2431708A1 (de) 2010-09-16 2012-03-21 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungssystem mit in einer Fernbedieneinheit integrierter Kamera
US8319979B2 (en) 2010-10-26 2012-11-27 Advanced Measurement Systems Single laser beam measurement system
CN103180691B (zh) 2010-10-27 2016-08-10 株式会社尼康 形状测定装置、形状测定方法、构造物的制造方法
US8938099B2 (en) 2010-12-15 2015-01-20 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus, method of controlling the same, distance measurement apparatus, and storage medium
US8711206B2 (en) 2011-01-31 2014-04-29 Microsoft Corporation Mobile camera localization using depth maps
US8902408B2 (en) 2011-02-14 2014-12-02 Faro Technologies Inc. Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector
WO2012112388A1 (en) 2011-02-14 2012-08-23 Faro Technologies, Inc. Cube corner retroreflector for measuring six degrees of freedom
GB2518769A (en) 2011-03-03 2015-04-01 Faro Tech Inc Target apparatus and method
EP2689264B1 (de) 2011-03-22 2019-06-19 Leica Geosystems AG Elektro-optisches distanzmessgerät mit einer messgerätberührungsfrei funktionierenden gesten-messungsauslösung
US20120242795A1 (en) 2011-03-24 2012-09-27 Paul James Kane Digital 3d camera using periodic illumination
JP5782786B2 (ja) 2011-04-01 2015-09-24 株式会社ニコン 形状測定装置
JP5869281B2 (ja) 2011-04-11 2016-02-24 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ
US8537376B2 (en) * 2011-04-15 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Enhanced position detector in laser tracker
US9482529B2 (en) * 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9164173B2 (en) * 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
JP2012225869A (ja) 2011-04-22 2012-11-15 Hitachi Plant Technologies Ltd 計測システム
CA2835457A1 (en) 2011-05-09 2012-11-15 Smart Inspection Systems, Llc Portable optical metrology inspection station
US20130031106A1 (en) 2011-07-29 2013-01-31 Microsoft Corporation Social network powered query suggestions
JP5804881B2 (ja) 2011-09-30 2015-11-04 ビアメカニクス株式会社 直接描画露光装置用半導体レーザモジュール
US9222771B2 (en) 2011-10-17 2015-12-29 Kla-Tencor Corp. Acquisition of information for a construction site
EP2602641B1 (de) 2011-12-06 2014-02-26 Leica Geosystems AG Lasertracker mit positionssensitiven Detektoren zur Suche eines Ziels
CN104094081A (zh) 2012-01-27 2014-10-08 法罗技术股份有限公司 利用条形码识别的检查方法
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
JP6355710B2 (ja) 2013-03-15 2018-07-11 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 非接触型光学三次元測定装置
US9234742B2 (en) 2013-05-01 2016-01-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9402070B2 (en) * 2014-06-12 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device with a six degree-of-freedom handheld probe and integrated camera for augmented reality
US10021379B2 (en) * 2014-06-12 2018-07-10 Faro Technologies, Inc. Six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016220708A1 (de) * 2016-10-21 2018-04-26 Volkswagen Aktiengesellschaft Lidar-Sensor und Verfahren zum optischen Abtasten einer Umgebung
US11041942B2 (en) 2016-10-21 2021-06-22 Volkswagen Aktiengesellschaft Lidar-sensor and method for optical scanning of an environment

Also Published As

Publication number Publication date
GB201320075D0 (en) 2013-12-25
GB2504891A (en) 2014-02-12
DE112012001705T5 (de) 2014-01-16
CN103492870B (zh) 2015-11-25
US9151830B2 (en) 2015-10-06
WO2012142063A4 (en) 2013-01-24
US8908154B2 (en) 2014-12-09
WO2012154356A1 (en) 2012-11-15
DE112012001721T5 (de) 2014-01-16
GB2504432A (en) 2014-01-29
WO2012142064A3 (en) 2013-03-14
GB201320086D0 (en) 2013-12-25
US20120265479A1 (en) 2012-10-18
CN103765238A (zh) 2014-04-30
JP2014514563A (ja) 2014-06-19
GB201320077D0 (en) 2013-12-25
JP2014517262A (ja) 2014-07-17
GB2515211B (en) 2015-07-22
GB2505354A (en) 2014-02-26
WO2012142384A1 (en) 2012-10-18
WO2012142554A1 (en) 2012-10-18
JP5723059B2 (ja) 2015-05-27
CN103649676A (zh) 2014-03-19
JP2014515107A (ja) 2014-06-26
CN103703389A (zh) 2014-04-02
WO2012142062A2 (en) 2012-10-18
JP5868488B2 (ja) 2016-02-24
WO2012142063A3 (en) 2012-12-06
JP2013538331A (ja) 2013-10-10
CN103477245A (zh) 2013-12-25
CN103492870A (zh) 2014-01-01
DE112012001714T5 (de) 2014-01-16
WO2012142062A3 (en) 2013-03-14
GB2506535B (en) 2016-03-09
US9207309B2 (en) 2015-12-08
JP5554459B2 (ja) 2014-07-23
GB201415359D0 (en) 2014-10-15
DE112012001713T5 (de) 2014-01-09
US9157987B2 (en) 2015-10-13
US8681320B2 (en) 2014-03-25
GB2504891B (en) 2014-08-20
DE112012001714B4 (de) 2015-11-19
JP5398936B2 (ja) 2014-01-29
DE112012001706T5 (de) 2014-01-09
GB201320087D0 (en) 2013-12-25
GB2504431A (en) 2014-01-29
GB2504639B (en) 2015-10-28
WO2012142356A1 (en) 2012-10-18
CN103502842A (zh) 2014-01-08
DE112012001716B4 (de) 2015-10-15
US20170030705A1 (en) 2017-02-02
JP2014516410A (ja) 2014-07-10
US8537376B2 (en) 2013-09-17
US10302413B2 (en) 2019-05-28
US20120262694A1 (en) 2012-10-18
WO2012142074A2 (en) 2012-10-18
GB2504432B (en) 2015-12-09
GB2505353A (en) 2014-02-26
US20120262728A1 (en) 2012-10-18
US20120262697A1 (en) 2012-10-18
DE112012001716T5 (de) 2014-01-16
CN103649673A (zh) 2014-03-19
JP2014514561A (ja) 2014-06-19
US8842259B2 (en) 2014-09-23
GB201320076D0 (en) 2013-12-25
CN103477188A (zh) 2013-12-25
JP2013534636A (ja) 2013-09-05
DE112012001712T5 (de) 2014-01-16
DE112012001724T5 (de) 2014-01-30
WO2012141868A1 (en) 2012-10-18
WO2012141888A1 (en) 2012-10-18
GB2505353B (en) 2015-05-06
WO2012154322A1 (en) 2012-11-15
GB2504892B (en) 2016-03-02
JP2014514564A (ja) 2014-06-19
WO2012141868A4 (en) 2013-01-10
JP2014516409A (ja) 2014-07-10
GB201320082D0 (en) 2013-12-25
DE112012001708B4 (de) 2018-05-09
GB2504892A (en) 2014-02-12
GB2505354B (en) 2015-11-04
DE112012001721B4 (de) 2016-09-08
GB2504433A8 (en) 2014-02-05
US9482746B2 (en) 2016-11-01
US20120262699A1 (en) 2012-10-18
WO2012142074A3 (en) 2013-03-21
US8570493B2 (en) 2013-10-29
GB2504431B (en) 2016-01-27
GB201320081D0 (en) 2013-12-25
CN103703363A (zh) 2014-04-02
CN103688132A (zh) 2014-03-26
US20120262573A1 (en) 2012-10-18
US20120262693A1 (en) 2012-10-18
WO2012142064A2 (en) 2012-10-18
US20120262698A1 (en) 2012-10-18
GB201320083D0 (en) 2013-12-25
CN103477184A (zh) 2013-12-25
DE112012001709B4 (de) 2016-01-21
GB2504890A (en) 2014-02-12
GB201320079D0 (en) 2013-12-25
GB201320085D0 (en) 2013-12-25
JP2014515827A (ja) 2014-07-03
US20120262730A1 (en) 2012-10-18
EP2545396A1 (de) 2013-01-16
WO2012142356A4 (en) 2013-02-21
US8848203B2 (en) 2014-09-30
GB2504433A (en) 2014-01-29
US20120262550A1 (en) 2012-10-18
US8558992B2 (en) 2013-10-15
GB2504639A (en) 2014-02-05
JP2014515826A (ja) 2014-07-03
CN103703389B (zh) 2015-07-22
EP2545396B1 (de) 2014-02-12
GB2506535A (en) 2014-04-02
WO2012142063A2 (en) 2012-10-18
US20120262692A1 (en) 2012-10-18
GB2515211A (en) 2014-12-17
DE112012001709T5 (de) 2014-01-16

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