CN103477184A - 具有预对准且可更换的光学台的万向节仪器 - Google Patents

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Abstract

一种方法，包括：提供光学组件，该光学组件包括壳体、分束器和位置检测器；以及提供对准固定装置；将所述组件设置在所述固定装置上，使得所述固定装置与所述组件在第一区域上接触；将第三光束投射到第一表面上；在所述固定装置上围绕第六轴旋转所述组件；感测第三光束响应于所述组件围绕第六轴的旋转的位置变化；调节第一路径以使第三光束对准至第六轴；将所述组件附接至空间测量装置；将第三光束指向回射器目标；从所述目标反射第三光束的一部分作为第四光束；以及将第四光束的第三部分从所述分束器发送至位置检测器。

Description

具有预对准且可更换的光学台的万向节仪器
相关申请的交叉引用
本申请要求2012年1月30日提交的美国临时专利申请No.61/592,049和2011年4月15日提交的美国临时专利申请No.61/475,703的优先权，在此通过引用包含这两个申请的全部内容。
背景技术
本公开涉及坐标测量装置。一组坐标测量装置属于通过向点发送激光束来测量该点的三维(3D)坐标的一类仪器。该激光束可能直接照射在该点上或照射在与该点相接触的回射器目标上。在任一情况下，该仪器通过测量到该目标的距离和两个角来确定该点的坐标。该距离是利用诸如绝对距离仪或干涉仪的测距装置来测量的。这些角是利用诸如角编码器的角测装置来测量的。该仪器内的万向光束转向机构使激光束指向关注点。
激光追踪器是利用其发射的一个或多个激光束追踪回射器目标的特定类型的坐标测量装置。与激光追踪器紧密相关的坐标测量装置是激光扫描仪和全能测量仪。激光扫描仪使一个或多个激光束移动（step）至表面上的点。激光扫描仪拾取从表面散射的光并且根据该光确定到各点的距离和两个角。勘测应用中最常使用的全能测量仪可以用来测量漫反射或回射目标的坐标。在下文，在广义上使用术语激光追踪器以包括激光扫描仪和全能测量仪。
通常，激光追踪器向回射器目标发送激光束。回射器目标的常用类型是包括嵌入金属球体内的立方隅角回射器的球形安装的回射器(SMR)。立方隅角回射器包括三个相互垂直的镜。作为这三个镜的共同交叉点的顶点位于球体的中心。由于球体内立方隅角的该配置，即使在SMR转动时，从顶点到保持SMR的任何表面的垂直距离保持恒定。结果，激光追踪器可以通过随着SMR在表面上移动而跟踪SMR的位置来测量表面的3D坐标。换言之，激光追踪器仅需要测量三个自由度(一个径向距离和两个角)以完全表征表面的3D坐标。
一种类型的激光追踪器仅包括干涉仪(IFM)而不包括绝对距离仪(ADM)。在对象阻断了来自这些追踪器之一的激光束的路径的情况下，IFM丢失其距离参考。于是，操作员必须将回射器追踪至已知位置以在继续测量之前重置至参考距离。绕过这种限制的方式是将ADM置于追踪器中。如以下更详细地所述，ADM可以以对准即拍（point-and-shoot）的方式测量距离。一些激光追踪器仅包含ADM而不具有干涉仪。Bridges等人的美国专利No.7,352,446(‘446)(其内容通过引用包含于此)描述了仅具有能够精确地扫描移动目标的ADM(且无IFM)的追踪器。在‘446专利之前，绝对距离仪过慢而无法准确地找出移动目标的位置。
激光追踪器内的万向机构可以用来将来自追踪器的激光束指向SMR。由SMR回射的光的一部分入射到激光追踪器中并且传递至位置检测器上。激光追踪器内的控制系统可以使用光在位置检测器上的位置来调节激光追踪器的机械轴的转动角，以保持激光束在SMR上居中。这样，追踪器能够跟随(追踪)在关注对象的表面上移动的SMR。用于激光追踪器的万向机构可以用于很多其它应用。作为简单示例，激光追踪器可以用于具有可视指示光束但没有测距仪的万向转向装置，以将光束转向至一系列回射器目标并且测量每个目标的角度。
将诸如角编码器的角度测量装置附接至追踪器的机械轴。由激光追踪器所进行的一个距离测量和两个角度测量足以完全指定SMR的三维位置。
可利用或提出了用以测量六自由度而非普通的三自由度的几种激光追踪器。Bridges等人的美国专利No.7,800,758(‘758)(其全部内容通过引用包含于此)和Bridges等人的美国公开专利申请No.2010/0128259(其全部内容通过引用包含于此)描述了示例性的六自由度(六DOF)系统。
以前，光学部件直接安装在激光追踪器的框架内。重新对准和维修会相对困难且成本高。需要一种具有光学台的激光追踪器，该光学台被配置成预对准且可更换的，从而简化制造和维修。
发明内容
根据本发明的实施例，空间测量装置将第一光束发送至远程的回射器目标，回射器目标具有空间位置，回射器目标返回第一光束的一部分作为第二光束。该测量设备包括：第一马达和第二马达，该第一马达和第二马达一起将第一光束指向第一方向，该第一方向由围绕第一轴的第一旋转角和围绕第二轴的第二旋转角确定，第二轴基本上垂直于第一轴，第一轴与第二轴基本上相交于万向点，第一旋转角由第一马达产生，以及第二旋转角由第二马达产生。该设备还包括：光学组件，该光学组件包括壳体、光元件、透镜、第一分束器和位置检测器，其中，光元件、透镜、第一分束器和位置检测器固定地附接至壳体，该壳体在壳体的外表面的至少第一区域上具有基本上圆柱形状，该圆柱形状具有穿过圆柱形状的中心线的第三轴，从第三轴到第一区域上的点的距离是基本上恒定的值，光元件为光源或附接至光源的光纤部件，光元件被配置成发射第一光，该第一光束是从光学组件发射的第一光的一部分，光学组件被配置成沿着第四轴发送第一光束，第三轴与第四轴基本上重合，以及与万向点基本上在一条直线上，以及基本上在包含第一轴且垂直于第二轴的平面上，第一分束器被配置成将第二光束的第二部分发送至位置检测器，位置检测器被配置成响应于第二部分在位置检测器上的位置产生第一信号；以及控制系统，该控制系统向第一马达发送第二信号以及向第二马达发送第三信号，第二信号和第三信号至少部分地基于第一信号，该控制系统被配置成将第一方向调节至回射器目标的空间位置。
根据本发明的另一实施例，一种用于预对准光学组件、将光学组件安装到空间测量装置中并且使用空间测量装置来测量远程的回射器目标的方法。该方法包括步骤：提供第一马达和第二马达，该第一马达和第二马达一起使第五轴与第一方向对准，第一方向由围绕第一轴的第一旋转角和围绕第二轴的第二旋转角确定，第二轴基本上垂直于第一轴，第一轴、第二轴和第五轴基本上相交于万向点，第一旋转角由第一马达产生，以及第二旋转角由第二马达产生。该方法还包括：提供光学组件，该光学组件包括壳体、光元件、透镜、第一分束器和位置检测器，其中，光元件、透镜、第一分束器和位置检测器固定地附接至壳体，该壳体在壳体的外表面的至少第一区域上具有基本上圆柱形状，该圆柱形状具有穿过圆柱形状的中心线的第六轴，从第六轴到第一区域上的点的距离具有基本上恒定的值，光元件为光源或附接至光源的光纤部件，光元件被配置成发射第一光，第三光束是第一光的一部分，第三光束具有与光学组件有关的第一路径，光学组件被配置成使得能够调节第一路径。该方法还包括：提供对准装置，该对准装置被配置成在第一区域上支承光学组件以及限制光学组件围绕第六轴的旋转；将光学组件以如下方式设置在对准装置上，该方式使得对准装置在第一区域上的接触点处与光学组件接触；将第三光束投射到第一表面上，该第一表面在距离光学组件第一距离处；在对准装置上围绕第六轴旋转光学组件；感测第三光束在第一表面上的位置响应于光学组件围绕第六轴的旋转的变化；调节第一路径以使第三光束对准至第六轴，该调节至少部分地基于第三光束在第一表面上的所观测的位置变化；将光学组件附接至空间测量装置，其中，该附接使第三光束与第五轴对准；将第三光束指向远程的回射器目标；从回射器目标反射第三光束的一部分作为第四光束；以及将第四光束的第三部分从分束器发送至位置检测器。
附图说明
现在参考附图，示出了不应当被解释为限制本公开的整个范围的示例性实施例，其中在几个附图中元件被类似地编号：
图1是根据本发明实施例的具有回射器目标的激光追踪器系统的立体图；
图2是根据本发明实施例的具有六DOF目标的激光追踪器系统的立体图；
图3是说明根据本发明实施例的激光追踪器的光学和电子学元件的框图；
包括图4A和4B的图4示出两种类型的现有技术的无焦扩束器；
图5示出现有技术的光纤光束发射；
图6A～6D是示出四种类型的现有技术的位置检测器组件的示意图；
图6E和6F是示出根据本发明的实施例的位置检测器组件的示意图；
图7是现有技术的ADM内的电气和光电元件的框图；
图8A和8B是示出现有技术的光纤网络内的光纤元件的示意图；
图8C是示出根据本发明实施例的光纤网络内的光纤元件的示意图；
图9是现有技术的激光追踪器的分解图；
图10是现有技术的激光追踪器的截面图；
图11是根据本发明实施例的激光追踪器的计算和通信元件的框图；
图12A是根据本发明实施例的使用单个波长的激光追踪器中的元件的框图；
图12B是根据本发明实施例的使用单个波长的激光追踪器中的元件的框图；
图13是根据本发明实施例的具有六DOF能力的激光追踪器中的元件的框图；
图14A至14D是根据本发明的两个实施例的方位摄像头的俯视图、侧视图、俯视剖面图和侧视剖面图；
图15是根据本发明实施例的去除了盖并移除了光学块后的激光追踪器的立体图；
图16是示出根据本发明实施例的与激光追踪器的其它元件有关的光学台的分解图；
图17是根据本发明实施例的天顶轴、光学台和第一光学组件的分解图；
图18是根据本发明实施例的天顶轴、光学台和第二光学组件的分解图；
图19是根据本发明实施例的装配在一起的天顶轴、光学台和第二光学组件的立体图；
图20是根据本发明实施例的方位摄像头光学组件的俯视图；
图21是根据本发明实施例的光学台、光学组件和位置检测器组件的横截面图；
图22是根据本发明实施例的安装在对准固定装置上的光学台的立体图；
图23是根据本发明实施例的光学台的光学路径内的两个分束器的横截面图；
图24是示出根据本发明实施例用于光学台的对准的方法中的步骤的流程图；
图25是根据本发明实施例的预对准光学组件、将光学组件安装在空间测量装置中，以及使用该装置来测量远程的回射器目标的方法的流程图；
图26是根据本发明实施例的从图25的标记A开始的方法的流程图；
图27是根据本发明实施例的从图25的标记A开始的方法的流程图；
图28是根据本发明实施例的从图25的标记A开始的方法的流程图；以及
图29是根据本发明实施例的从图25的标记A开始的方法的流程图。
具体实施方式
图1示出的示例性激光追踪器系统5包括激光追踪器10、回射器目标26、可选辅助单元处理器50和可选辅助计算机60。激光追踪器10的示例性万向光束转向机构12包括安装在方位基座16上并且绕方位轴20转动的天顶滑架14。有效载荷15安装在天顶滑架14上并且绕天顶轴18转动。在追踪器10内部，天顶轴18和方位轴20在通常作为距离测量的原点的万向点22处垂直相交。激光束46实际上穿过万向点22并且指向成与天顶轴18垂直。换句话说，激光束46存在于与天顶轴18大致垂直并且穿过方位轴20的平面内。输出激光束46由于有效载荷15绕天顶轴18的转动以及天顶滑架14绕方位轴20的转动而指向期望方向。将追踪器内部的天顶角编码器附接至与天顶轴18对准的天顶机械轴。将追踪器内部的方位角编码器附接至与方位轴20对准的方位机械轴。天顶角编码器和方位角编码器以相对较高的精度测量转动的天顶角和方位角。输出激光束46传播至例如可能是如上所述的球形安装的回射器(SMR)的回射器目标26。通过测量万向点22和回射器26之间的径向距离、绕天顶轴18的转动角和绕方位轴20的转动角，在追踪器的球面坐标系中找到回射器26的位置。
如以下所述，输出激光束46可以包括一个或多个激光波长。为了清楚和简便，在以下论述中假定图1所示的这种转向机构。然而，其它类型的转向机构是可以的。例如，能够使激光束从绕方位轴和天顶轴转动的镜反射。无论转向机构的类型如何，均可应用本文描述的技术。
在激光追踪器上可以包括磁槽17以针对例如1.5、7/8和1/2英寸的SMR的不同大小的SMR将激光追踪器重置为“初始”位置。可以使用追踪器上回射器19将追踪器重置为参考距离。另外，如美国专利No.7,327,446（其内容通过引用并入本文）所述，可以将从图1不可见的追踪器上镜与追踪器上回射器相结合使用以使得能够进行自补偿。
图2示出示例性激光追踪器系统7，其中，除了以六DOF探测器1000替换回射器目标26以外，激光追踪器系统7与图1的激光追踪器系统5相同。在图1中，可以使用其它类型的回射器目标。例如，有时使用作为光会聚至玻璃结构的反射后表面上的小光斑的玻璃回射器的猫眼回射器。
图3是示出激光追踪器实施例中的光学和电气元件的框图。图3示出如下激光追踪器的元件：该激光追踪器发出两个波长的光并且用于追踪，其中，第一波长用于ADM，第二波长用于可见指示器。可见指示器使得用户能够看见追踪器所发出的激光束光斑的位置。使用自由空间分束器来组合这两个不同波长。电光(EO)系统100包括可见光源110、隔离器115、可选第一光纤发射器170、可选干涉仪(IFM)120、扩束器140、第一分束器145、位置检测器组件150、第二分束器155、ADM160和第二光纤发射器170。
可见光源110可以是激光器、超发光二极管或其它发光装置。隔离器115可以是Faraday隔离器、衰减器或能够减少反射回至光源的光的其它装置。可选IFM可以被配置成多种方式。作为可能实现的具体示例，IFM可以包括分束器122、回射器126、四分之一波板124、130和相位分析器128。可见光源110可以将光发射到自由空间，然后该光经过隔离器115和可选IFM120在自由空间内传播。可选地，隔离器115可以经由光纤线缆耦接至可见光源110。在这种情况下，如以下参考图5所论述的，来自隔离器的光可以经过第一光发射器170发射到自由空间内。
可以使用各种透镜结构来设置扩束器140，但在图4A、4B中示出两种常用的现有技术结构。图4A示出基于使用负透镜141A和正透镜142A的结构140A。入射到负透镜141A上的准直光束220A从正透镜142A出射为较大的准直光束230A。图4B示出基于使用两个正透镜141B、142B的结构140B。入射到第一正透镜141B上的准直光束220B从第二正透镜142B出射为较大的准直光束230B。在从扩束器140离开的光中，少量光在从追踪器出来的路上从分束器145、155反射并且丢失。穿过分束器155的那部分光与来自ADM160的光相组合以形成离开激光追踪器并且传播至回射器90的复合光束188。
在实施例中，ADM160包括光源162、ADM电子器件164、光纤网络166、互连电缆165和互连光纤168、169、184、186。ADM电子器件将电气调制和偏置电压发送至光源162，其中该光源162例如可以是以约1550nm的波长工作的分布式反馈激光器。在实施例中，光纤网络166可以是图8A所示的现有技术的光纤网络420A。在本实施例中，来自图3中的光源162的光经由与图8A中的光纤432等同的光纤184传播。
图8A的光纤网络包括第一光纤耦合器430、第二光纤耦合器436和低传输反射器435、440。光经由第一光纤耦合器430传播并且分裂成以下两个路径，其中第一路径经由光纤433至第二光纤耦合器436，第二路径经过光纤422和光纤长度均衡器423。光纤长度均衡器423连接至图3的光纤长度168，其中该光纤长度168传播至ADM电子器件164的参考通道。光纤长度均衡器423的目标是使光在参考通道内所经过的光纤的长度与光在测量通道内所经过的光纤的长度一致。这种方式的光纤长度一致减少了因环境温度的变化所引起的ADM误差。由于光纤的有效光路长度与光纤的平均折射率乘以光纤长度相等，因此可能产生这样的误差。由于光纤的折射率依赖于光纤的温度，因此光纤的温度变化导致测量通道和参考通道的有效光路长度出现变化。在测量通道内的光纤的有效光路长度相对于参考通道内的光纤的有效光路长度改变的情况下，即使回射器目标90保持静止，该结果也将在回射器目标90的位置发生明显偏移。为了避免该问题，采取两个步骤。首先，使参考通道内的光纤的长度与测量通道内的光纤的长度尽可能匹配。其次，并排铺设测量光纤和参考光纤以达到能够确保两个通道内的光纤经历近乎相同的温度变化的程度。
光经由第二光纤光耦合器436传播并且分裂成以下两个路径，其中，第一路径至低反射光纤终端440，第二路径至光纤438，其中光从光纤438传播至图3的光纤186。光穿过光纤186而传播至第二光纤发射器170。
在实施例中，在现有技术的图5中示出光纤发射器170。来自图3中的光纤186的光入射到图5中的光纤172。光纤发射器170包括光纤172、箍174和透镜176。光纤172附接至箍174，其中箍174稳定地附接至激光追踪器10内的结构。如果需要，可以将光纤的端部打磨成角以减少背向反射。根据所使用的光的波长和光纤的特定类型，光250从可以是直径为4～12微米的单模光纤的光纤的纤芯出射。光250分叉成一定角并且与透镜176相交，其中透镜176使光250准直。参考专利‘758中的图3说明了经由ADM系统中的单模光纤来发射和接收光信号的方法。
参考图3，分束器155可以是发射不同于所反射的波长的两色分束器。在实施例中，来自ADM160的光从两色分束器155反射并且与透过两色分束器155的来自可见激光110的光合并。复合光束188从激光追踪器传播出来至回射器90作为第一光束，其中回射器90返回光的一部分作为第二光束。第二光束部分以ADM波长从两色分束器155反射并且返回至第二光纤发射器170，其中第二光纤发射器170将光返回耦接至光纤186。
在实施例中，光纤186与图8A中的光纤438相对应。返回光自光纤438穿过第二光纤耦合器436传播并且分裂成两个路径。在本实施例中，第一路径通往光纤424，光纤424与通往图3中的ADM电子器件164的测量通道的光纤169相对应。第二路径通往光纤433，然后通往第一光纤耦合器430。离开第一光纤耦合器430的光分裂成两个路径，第一路径至光纤432，第二路径至低反射终端435。在实施例中，光纤432与通往图3中的光源162的光纤184相对应。在大多情况中，光源162包含使从光纤432进入光源的光量最小化的内置Faraday隔离器。在相反方向上反馈到激光内的过多的光可能会使激光不稳定。
来自光纤网络166的光经由光纤168、169入射到ADM电子器件164。在图7中示出现有技术的ADM电子器件的实施例。图3中的光纤168与图7中的光纤3232相对应，并且图3中的光纤169与图7中的光纤3230相对应。现在参考图7，ADM电子器件3300包括频率参考3302、合成器3304、测量检测器3306、参考检测器3308、测量混合器3310、参考混合器3312、调节电子器件3314、3316、3318、3320、N分预分频器3324和模数转换器(ADC)3322。例如可以是恒温控制的晶体振荡器(OCXO)的频率参考将例如可以为10MHz的参考频率fREF发送至合成器，其中合成器产生两种电信号：频率为fRF的一个信号和频率为fLO的两个信号。信号fRF进入与图3中的光源162相对应的光源3102。频率为fLO的两个信号进入测量混合器3310和参考混合器3312。来自图3中的光纤168,169的光分别出现在图7中的光纤3232,3230上，并且分别入射到参考通道和测量通道。参考检测器3308和测量检测器3306将光信号转换成电信号。这些信号分别由电气组件3316、3314进行调节，并且分别被发送至混合器3312、3310。这些混合器产生与fLO–fRF的绝对值相等的频率fIF。信号fRF可以是例如2GHz的相对高的频率，而信号fIF可以是例如10kHz的相对较低的频率。
将参考频率fREF发送至预分频器3324，其中预分频器3324将频率除以整数值。例如，可以将10MHz的频率除以40以获得250kHz的输出频率。在该示例中，以250kHz的速率对进入ADC3322的10kHz信号进行采样，由此产生25个样本/每周期。将来自ADC3322的信号发送至数据处理器3400，其中数据处理器3400例如可以是位于图3的ADM电子器件164中的一个或多个数字信号处理器(DSP)单元。
用于提取距离的方法基于针对参考通道和测量通道的ADC信号的相位的计算。在Bridges等人的美国专利No.7,701,559(‘559)中详细描述了该方法，其内容通过引用包含于此。计算包括使用专利‘559的等式(1)～(8)。另外，在ADM首次开始测量回射器时，将合成器所生成的频率改变若干次(例如，3次)，并且在各情况下计算可能的ADM距离。通过针对所选择的各频率比较可能的ADM距离，消除了ADM测量时的不确定。专利‘559的等式(1)～(8)连同关于专利‘559的图5所述的同步方法和专利‘559所述的Kalman滤波器方法使得ADM能够测量移动目标。在其它实施例中，可以使用用于获得绝对距离测量的其它方法，例如通过使用脉冲飞行时间（time-of-flight）而不是相位差来获得绝对距离测量的方法。
返回光束190的穿过分束器155的部分到达分束器145，其中分束器145将该光的一部分发送至扩束器140并且将该光的另一部分发送至位置检测器组件150。从激光追踪器10或EO系统100出射的光可被看作第一光束，并且从回射器90或26反射的光的一部分可被看作第二光束。反射光束的部分被发送至EO系统100的不同功能元件。例如，可以将第一部分发送至诸如图3中的ADM160的测距仪。可以将第二部分发送至位置检测器组件150。在一些情况下，可以将第三部分发送至诸如可选干涉仪120的其它功能单元。理解以下很重要：在图3的示例中，尽管第二光束的第一部分和第二部分在从分束器155和145反射之后分别被发送至测距仪和位置检测器，但可以使光透过而不是反射到测距仪或位置检测器上。
在图6A～6D中示出现有技术的位置检测器组件150A～150D的四个示例。图6A示出最简单的实现方式，其中位置检测器组件包括安装在用于从电子箱350获得电力并且将信号返回至电子箱350的电路板152上的位置传感器151，其可以表示在激光追踪器10、辅助单元50或外部计算机60内的任意位置处的电子处理能力。图6B包括用于阻断不期望的光波长到达位置传感器151的光学滤波器154。例如，还可以通过利用适当膜涂覆分束器145或位置传感器151的表面来阻断不期望的光波长。图6C包括用于减小光束的大小的透镜153。图6D包括光学滤波器154和透镜153这两者。
图6E示出根据本发明实施例的、包括光学调节器149E的位置检测器组件。光学调节器包括透镜153并且还可以包含可选的波长滤波器154。另外，光学调节器包括扩散器156和空间滤波器157中的至少一个。如以上所述，普遍类型的回射器为立方隅角回射器。一种类型的立方隅角回射器由三个镜构成，其中，每个镜与其它两个镜以直角结合。这三个镜相结合的截交线可以具有光不会被完全反射回至追踪器的有限厚度。有限厚度的线随着它们传播而衍射，使得这些线在到达位置检测器时可以不出现在位置检测器上的完全相同位置处。然而，衍射光模式通常将不满足完全对称。结果，照射位置检测器151的光例如在衍射线附近可能光学功率(热点)下降或上升。由于来自回射器的光的均一性在各回射器之间可能改变，并且还由于位置检测器上的光的分布也可能随着回射器转动或倾斜而改变，因此包括扩散器156以提高照射位置检测器151的光的平滑度可能是有利的。可能会争辩，由于理想位置检测器应当对应于质心并且理想扩散器应当对称地扩散光斑，因此不会对位置检测器所给出的结果位置产生影响。然而，实际上，观察到扩散器改进了位置检测器组件的性能，这可能是因为位置检测器151和透镜153的非线性(不完善)的影响。由玻璃制成的立方隅角回射器还可能在位置检测器151处产生非均匀的光斑。如根据共同受让人的于2012年2月10日提交的美国专利申请No.13/370,339和于2012年2月29日提交的美国专利申请No.13/407,983（这两个申请通过应用包含于此）可以更加清楚地理解，位置检测器处的光斑的变化相对于从六DOF目标中的立方隅角反射的光特别明显。在实施例中，扩散器156是全息扩散器。全息扩散器在指定扩散角上提供受控的同质光。在其它实施例中，使用诸如毛玻璃或“乳色玻璃”扩散器的其它类型的扩散器。
位置检测器组件150E的空间滤波器157的目标是阻断例如可能作为光学表面的不期望的反射结果的重影光束照射位置检测器151。空间滤波器包括具有孔径的板157。通过将空间滤波器157布置为距透镜的距离近似等于透镜的焦距，返回光243E在接近其最窄时（即光束的腰部处）穿过空间滤波器。例如，作为光学元件的反射结果而以不同角传播的光束偏离孔径照射空间滤波器并且被阻止达到位置检测器151。在图6E中示出如下示例：不期望的重影光束244E从分束器145的表面反射并且传播至空间滤波器157，在空间滤波器157处，该重影光束被阻断。在不存在空间滤波器的情况下，重影光束244E将与位置检测器151相交，由此导致不正确地确定光束243E在位置检测器151上的位置。在重影光束位于距光的主要斑点相对大的距离处的情况下，即使微弱的重影光束也可能极大地改变位置检测器151上质心的位置。
这里论述的这种回射器、立方隅角或猫眼反射器具有例如反射沿与入射光线平行的方向入射到回射器的光射线的性质。另外，入射光线和反射光线关于回射器的对称点对称配置。例如，在露天的立方隅角回射器中，回射器的对称点是立方隅角的顶点。在玻璃立方隅角回射器中，对称点也是顶点，但这种情况下必须考虑玻璃空气界面处的光的弯曲。在衍射率为2.0的猫眼回射器中，对称点也是球体中心。在由对称地位于共同面上的两个玻璃半球体制成的猫眼回射器中，对称点是存在于该平面上并且处于各半球体的球形中心的点。对于激光追踪器通常使用的回射器类型，主点是将回射器返回至追踪器的光偏向相对于入射激光束的顶点的另一侧。
图3中的回射器90的该行为是利用激光追踪器来追踪回射器的基础。位置传感器在其表面上具有理想折回点。该理想折回点是发送至回射器的对称点(例如，SMR中的立方隅角回射器的顶点)的激光束将返回的点。通常，折回点接近位置传感器的中心。在将激光束发送至回射器的一侧的情况下，该激光束在另一侧上反射回来并且呈现为离开位置传感器上的折回点。通过注意位置传感器上的返回光束的位置，激光追踪器10的控制系统可以使马达将光束朝向回射器的对称点移动。
在回射器以恒定速度相对于追踪器横向移动的情况下，回射器处的光束(在解决了瞬态之后)在距回射器的对称点固定偏移距离处照射回射器。激光追踪器基于从控制测量所获得的缩放因数和从位置传感器上的光束到理想折回点的距离进行校正，以补偿回射器处的该偏移距离。
如以上所述，位置检测器进行两个主要功能，这两个功能使得能够追踪并校正测量以补偿回射器的移动。位置检测器内的位置传感器可以是能够测量位置的任意类型的装置。例如，位置传感器可以是位置感测检测器或感光阵列。位置感测检测器例如可以是横向效应检测器或象限检测器。感光阵列例如可以是CMOS或CCD阵列。
在实施例中，没有从分束器145反射的返回光穿过扩束器140，从而变得较小。在另一实施例中，颠倒位置检测器的位置和测距仪的位置，以使得分束器145所反射的光传播至测距仪并且透过分束器的光传播至位置检测器。
光继续穿过可选IFM，穿过隔离器并且入射到可见光源110。在该阶段，光学功率应足够小以使得其不会使可见光源110不稳定。
在实施例中，经由图5中的光束发射器170发射来自可见光源110的光。光纤发射器可以附接至光源110的输出或隔离器115的光纤输出。
在实施例中，图3的光纤网络166可以是图8的现有技术的光纤网络420B。这里，图3的光纤184、186、168、169与图8B的光纤443、444、424、422相对应。除了图8B的光纤网络具有单个光纤耦合器而非两个光纤耦合器之外，图8B的光纤网络与图8A的光纤网络相同。图8B相对于图8A的优点是简洁；然而，图8B更可能使不期望的光学背向反射进入光纤422和424。
在实施例中，图3的光纤网络166是图8C的光纤网络420C。这里，图3的光纤184、186、168、169与图8C的光纤447、455、423、424相对应。光纤网络420C包括第一光纤耦合器445和第二光纤耦合器451。第一光纤耦合器445是具有两个输入端口和两个输出端口的2×2耦合器。这种耦合器通常通过邻近地配置两个光纤纤芯然后在被加热时拉制这些光纤制成。这样，光纤之间的倏逝波耦合（evanescent coupling）可以将光的期望部分分离到相邻光纤。第二光纤耦合器451是所谓的环行器类型。第二光纤耦合器451包括三个端口，每个端口具有仅在指定方向上发送或接收光的能力。例如，光纤448上的光入射到端口453并且如由箭头所示朝向端口454传播。在端口454处，光可以被传输至光纤455。同样，在端口455上传播的光可以入射到端口454并且沿箭头方向传播至端口456，其中在端口456处，一些光可以被传输至光纤424。在仅需要三个端口的情况下，环行器451可能经受比2×2耦合器小的光学功率损耗。另一方面，环行器451可能比2×2耦合器更贵，并且可能经历在一些情形下可能成为问题的偏振模式分散。
图9和10分别示出Bridges等人的美国公开专利申请No.2010/0128259的图2和3中所述的现有技术的激光追踪器2100的分解图和截面图，其中通过引用包含该申请。方位组件2110包括柱状壳体2112、方位编码器组件2120、下方位轴承2114A和上方位轴承2114B、方位马达组件2125、方位滑环组件2130和方位电路板2135。
方位编码器组件2120的目标是准确地测量轭2142相对于柱状壳体2112的转动角。方位编码器组件2120包括编码器盘2121和读取头组件2122。编码器盘2121附接至轭壳体2142的轴，并且读取头组件2122附接至支柱组件2110。读取头组件2122包括其上紧固有一个或多个读取头的电路板。发送自读取头的激光从编码器盘2121上的细光栅线反射出来。对编码器读取头上的检测器拾取到的反射光进行处理以求出编码器盘相对于固定读取头转动的角。
方位马达组件2125包括方位马达转子2126和方位马达定子2127。方位马达转子包括直接附接至轭壳体2142的轴的永磁体。方位马达定子2127包括产生规定的磁场的场绕组。该磁场与方位马达定子2126的磁体相互作用以产生期望的转动动作。方位马达定子2127附接至柱状架2112。
方位电路板2135表示用于提供诸如编码器和马达的方位组件所需的电气功能的一个或多个电路板。方位滑环组件2130包括外部部件2131和内部部件2132。在实施例中，线束2138从辅助单元处理器50露出。线束2138可以将电力传递至追踪器或者将信号传输至追踪器或从追踪器传输信号。线束2138中的一些布线可以指向电路板上的连接器。在图10所示的示例中，将线布到方位电路板2135、编码器读取头组件2122和方位马达组件2125。其它线布到达滑环组件2130的内部部件2132。内部部件2132附接至柱状组件2110并且因而保持静止。外部部件2131附接至轭组件2140并且因而相对于内部部件2132转动。滑环组件2130被设计成随着外部部件2131相对于内部部件2132转动而允许低阻抗电气接触。
天顶部件2140包括轭壳体2142、天顶编码器组件2150、左天顶轴承2144A和右天顶轴承2144B、天顶马达组件2155、天顶滑环组件2160和天顶电路板2165。
天顶编码器组件2150的目标是准确地测量有效载荷框架2172相对于轭壳体2142的转动角。天顶编码器组件2150包括天顶编码器盘2151和天顶读取头组件2152。编码器盘2151附接至有效载荷壳体2142并且读取头组件2152附接至轭壳体2142。天顶读取头组件2152包括其上紧固有一个或多个读取头的电路板。发送自读取头的激光从编码器盘2151上的细光栅线反射出来。对编码器读取头上的检测器所拾取的反射光进行处理，以求出编码器盘相对于固定读取头转动的角。
天顶马达组件2155包括方位马达转子2156和方位马达定子2157。天顶马达转子2156包括直接附接至有效载荷框架2172的轴的永磁体。天顶马达定子2157包括用于生成规定的磁场的场绕组。该磁场与转子磁体相互作用以产生期望的转动动作。天顶马达定子2157附接至轭框架2142。
天顶电路板2165表示用于提供诸如编码器和马达的天顶部件所需的电气功能的一个或多个电路板。天顶滑环组件2160包括外部部件2161和内部部件2162。线束2168从方位外部滑环2131露出并且可以输送电力或信号。线束2168中的一些布线可以指向电路板上的连接器。在图10所示的例子中，将线布到天顶电路板2165、天顶马达组件2150和编码器读取头组件2152。将其它线布到滑环组件2160的内部部件2162。内部部件2162附接至轭框架2142并且因而仅以方位角而不以天顶角转动。外部部件2161附接至有效载荷框架2172并且因而以天顶角和方位角这两者转动。滑环组件2160被设计成随着外部部件2161相对于内部部件2162转动而允许低阻抗电气接触。有效载荷组件2170包括主光学组件2180和副光学组件2190。
图11是示出空间测量电子处理系统1500的框图，其中，空间测量电子处理系统1500包括激光追踪器电子处理系统1510、外围元件1582、1584、1586的处理系统、计算机1590和这里表示为云的其它网络部件1600。示例性的激光追踪器电子处理系统1510包括主处理器1520、有效载荷功能电子器件1530、方位编码器电子器件1540、天顶编码器电子器件1550、显示器和用户界面(UI)电子器件1560、可移除存储硬件1565、射频识别(RFID)电子器件和天线1572。有效载荷功能电子器件1530包括多个子功能，包含六DOF电子器件1531、摄像头电子器件1532、ADM电子器件1533、位置检测器(PSD)电子器件1534和电平电子器件1535。大多数子功能具有例如可以是数字信号处理器(DSP)或现场可编程门阵列(FPGA)的至少一个处理器单元。电子单元1530、1540和1550由于它们在激光追踪器内的位置而单独示出。在实施例中，有效载荷功能1530位于图9、10的有效载荷2170内，而方位编码器电子器件1540位于方位组件2110内并且天顶编码器电子器件1550位于天顶组件2140内。
可以具有多种外围装置，但这里示出三个这种装置：温度传感器1582、六DOF探测器1584和例如可以是智能电话的个人数字助理1586。激光追踪器可以通过各种方式与外围装置通信，包括：通过诸如摄像头的视觉系统和通过激光追踪器向诸如六DOF探测器1584的协作目标的距离读取和角读取来经由天线1572进行无线通信。外围装置可以包含处理器。六DOF辅助设备可以包括六DOF探测系统、六DOF扫描仪、六DOF投射器、六DOF传感器和六DOF指示器。这些六DOF装置内的处理器可以结合激光追踪器内的处理装置以及外部计算机和云处理资源来使用。通常，在使用术语激光追踪器处理器或测量装置处理器时，这意味着包括可能的外部计算机和云支持。
在实施例中，单独的通信总线从主处理器1520到达各电子单元1530、1540、1550、1560、1565和1570。每个通信线例如可以具有三个串行线，这三个串行线包括数据线、时钟线和帧线。帧线表示电子单元是否应关注时钟线。在帧线表示应注意的情况下，电子单元在各时钟信号读取数据线的当前值。时钟信号例如可能对应于时钟脉冲的上升沿。在实施例中，以包的形式经由数据线来传输信息。在实施例中，每个包包括地址、数字值、数据消息和校验和。该地址表示数字消息要指向电子单元内的何处。该位置例如可以与电子单元内的处理器子例程相对应。数字值表示数据消息的长度。数据消息包含电子单元要执行的数据或指令。校验和是用于使经由通信线传输误差的机会最小的数字值。
在实施例中，主处理器1520将信息包经由总线1610发送至有效载荷功能电子器件1530，经由总线1611发送至方位编码器电子器件1540，经由总线1612发送至天顶编码器电子器件1550，经由总线1613发送至显示器和UI电子器件1560，经由总线1614发送至可移除存储硬件1565，并且经由总线1616发送至RFID和无线电子器件1570。
在实施例中，主处理器1520还将同步脉冲经由同步总线1630同时发送至各电子单元。同步脉冲提供使激光追踪器的测量功能所收集到的值同步的方式。例如，方位编码器电子器件1540和天顶电子器件1550一旦接收到同步脉冲，就锁存它们的编码器值。类似地，有效载荷功能电子器件1530锁存由有效载荷内包含的电子器件所收集的数据。在给出同步脉冲时，六DOF、ADM和位置检测器全部锁存数据。在多数情况下，摄像头和倾斜仪以比同步脉冲速率慢的速率收集数据但可以以同步脉冲周期的多倍锁存数据。
方位编码器电子器件1540和天顶编码器电子器件1550彼此分开并且经由图9、10所示的滑环2130、2160与有效载荷电子器件1530分开。这就是将总线1610、1611和1612描述为图11中的单独总线的原因。
激光追踪器电子处理系统1510可以与外部计算机1590进行通信，或者可以提供激光追踪器内的计算、显示和UI功能。激光追踪器经由例如可以是以太网线或无线连接的通信链路1606与计算机1590进行通信。激光追踪器还可以经由可以包括诸如以太网线缆的一个或多个电缆以及一个或多个无线连接的通信链路1602来与以云为代表的其它元件1600进行通信。元件1600的示例是可以利用激光追踪器来重新定位的例如关节臂CMM的其它三维测试仪器。计算机1590和元件1600之间的通信链路1604可以是有线(例如，以太网)或无线的。坐在远程计算机1590处的操作员可以经由以太网或无线线路连接至以云1600为代表的因特网，而云1600经由以太网或无线线路连接至主处理器1520。这样，用户可以对远程激光追踪器的动作进行控制。
如今激光追踪器针对ADM使用一个可见波长(通常为红色)和一个红外波长。红色波长可以由适合用在干涉仪中并且还用来提供红色指示光束的频率稳定的氦氖(HeNe)激光是来提供。可选地，红色波长可以由仅用作指示光束的二极管激光来提供。使用两个光源的缺点在于额外光源、分束器、隔离器和其它部件所需的额外空间和附加成本。使用两个光源的另一缺点是难以使这两个光束沿着光束传播的整个路径完全对准。这可能会导致各种问题，包括无法从以不同波长工作的不同子系统同时获得良好性能。在图12A的光电系统500中示出使用单个光源并由此消除这些缺点的系统。
图12A包括可见光源110、隔离器115、光纤网络420、ADM电子器件530、光纤发射器170、分束器145和位置检测器150。可见光源110例如可以是红色或绿色二极管激光或垂直腔面发射激光(VCSEL)。隔离器可以是Faraday隔离器、衰减器或能够充分减少反馈至光源的光量的任何其它装置。来自隔离器115的光传播至光纤网络420，在实施例中，光纤网络420为图8A的光纤网络420A。
图12B示出光电系统400的实施例，其中，在光电系统400中，使用单波长的光但通过光的电光调制而不是光源的直接调制来实现调制。光电系统400包括可见光源110、隔离器115、电光调制器410、ADM电子器件475、光纤网络420、光纤发射器170、分束器145和位置检测器150。可见光源110例如可以是红色或绿色激光二极管。经由例如可以是Faraday隔离器或衰减器的隔离器115来发送激光。可以在隔离器115的输入端口和输出端口进行光纤耦合。隔离器115将光发送至电光调制器410，其中，电光调制器410将光调制为选择频率，选择频率可以根据需要高达10GHz或更高。来自ADM电子器件475的电信号476驱动电光调制器410内的调制。来自电光调制器410的调制光传播至光纤网络420，其可以是以上所述的光纤网络420A、420B、420C或420D。光的一些部分经由光纤422传播至ADM电子器件475内的参考通道。光的另一部分传播到追踪器外、从回射器90反射、返回至追踪器并且到达分束器145。少量的光从分束器反射并且传播至以上参考图6A～6F所述的位置检测器150。光的一部分穿过分束器145入射到光纤发射器170、经由光纤网络420入射到光纤424，并且入射到ADM电子器件475的测量通道。通常，为了比图12B的系统400省钱，可以制造图12A的系统500；然而，电光调制器410能够实现更高的调制频率，这在一些情形下是有利的。
图13示出定位摄像头系统950和光电系统900的实施例，其中，方位摄像头910与3D激光追踪器的光电功能相结合来测量六自由度。光电系统900包括可见光源905、隔离器910、可选光电调制器410、ADM电子器件715、光纤网络420、光纤发射器170、分束器145、位置检测器150、分束器922和方位摄像头910。来自可见光源的光在光纤980中发出并且经由输入端口和输出端口可以耦合有光纤的隔离器910传播。光可以经由利用来自ADM电子器件715的电信号716调制的电光调制器410传播。可选地，ADM电子器件715可以经由线缆717发送电信号以对可见光源905进行调制。入射到光纤网络的光的一部分经由光纤长度均衡器423和光纤422传播以入射到ADM电子器件715的参考通道。可以可选地将电信号469应用于光纤网络420以将开关信号提供至光纤网络420内的光纤开关。光的一部分从光纤网络传播至光纤发射器170，其中该光纤发射器170将光纤上的光作为光束982发送到自由空间内。少量的光从分束器145反射并且丢失。光的一部分穿过分束器145、穿过分束器922，并且传播到追踪器外而到达六自由度(DOF)装置4000。六DOF装置4000可以是探测器、扫描仪、投射器、传感器或其它装置。
在其返回路径上，来自六DOF装置4000的光入射到光电系统900并且到达分束器922。光的一部分从分束器922反射并且入射到方位摄像头910。方位摄像头910记录设置在回射器目标上的一些标记的位置。根据这些标记，求出六DOF探测器的方位角(即，三自由度)。以下说明本申请及专利‘758中的方位摄像头的原理。分束器145处的光的一部分经由分束器传播并且通过光纤发射器170发射到光纤上。光传播至光纤网络420。该光的一部分传播至光纤424，其中该光从光纤424入射到ADM电子器件715的测量通道。
定位摄像头系统950包括摄像头960和一个或多个光源970。在图1中也示出该定位摄像头系统，其中摄像头为元件52并且光源是元件54。摄像头包括透镜系统962、感光阵列964和主体966。定位摄像头系统950的一个用途是在工作体积中定位回射器目标。这通过使光源970闪光来进行，其中摄像头将光源970拍摄作为感光阵列964上的亮点。定位摄像头系统950的第二个用途是基于反射器光点或LED在六DOF装置4000上的观察位置来建立六DOF装置4000的粗略方位。在激光追踪器上可存在两个或更多个定位摄像头的情况下，可以使用三角测量原理来计算至工作体积中的每个回射器目标的方向。在单个定位摄像头被定位成拍摄沿着激光追踪器的光轴反射的光的情况下，可以找到至每个回射器目标的方向。在单个摄像头被定位为偏离激光追踪器的光轴的情况下，可以根据感光阵列上的图像立即获得至回射器目标的近似方向。在这种情况下，可以通过使激光的机械轴朝向不止一个方向转动并且观察感光阵列上的光点位置的变化来求出至目标的更精确方向。
图14A示出了方位摄像头910的实施例，方位摄像头910可以用于图13的光电系统中。专利’758中描述了方位摄像头的基本原理，并且方位摄像头910大体上遵循这些原理。在实施例中，方位摄像头910包括主体1210、无焦光束缩减器1220、放大器1240、路径长度调节器1230、致动器组件1260和感光阵列1250。无焦光束缩减器包括正透镜1222、镜1223和负透镜1224、1226。无焦光束缩减器具有如下属性：平行于光轴（穿过透镜中心的轴）进入透镜122的光射线仍然平行于光轴从透镜1226出射。无焦光束缩减器还具有如下属性：无论透镜到对象的距离如何，图像具有恒定尺寸。放大器1240包括正透镜1242、负透镜1244、1248和镜1246。放大器具有与显微镜物镜相同的功能，但是按比例缩放以提供更大的图像。感光阵列1250可以是例如CMOS或CCD阵列，其中，CMOS或CCD阵列将照射在其上的光转换成表示感光阵列每个像素处光的辐照度的一组数字值。辐照度的图案例如可以展现6-DOF目标上的标记。路径长度调节器1230包括平台1231、两个镜1232、1233以及球形滑块1234。镜1232、1233安装在平台1231上，使得当平台1231移动时，无焦光束缩减器1220与放大器1240之间的距离变化。需要这种距离上的变化以针对激光追踪器到目标的变化的距离在感光阵列1250上保持清晰的图像。平台1231安装在球形滑块1234上，球形滑块1234为平台提供低摩擦的线性运动。在实施例中，致动器组件1260包括马达1261、马达轴1262、挠性联结器1263、转接器1264和马达螺母1265。马达螺母1265固定地附接至转接器。随着马达1261旋转螺纹马达轴1262，马达螺母1265依据马达轴的旋转方向而远离马达或靠近马达移动。即使马达轴1262和球形滑块1234彼此不平行，附接至转接器1264的挠性联结器1263也使得平台能够自由地移动。
在实施例中，方位摄像头910针对到目标的不同的距离提供恒定的横向放大倍数。在此，横向放大倍数被定义为图像尺寸除以对象尺寸。选择图27所示的透镜，以针对13mm大小的对象在感光阵列1250上产生3mm的恒定图像尺寸。在该实例中，横向放大倍数是3mm/13mm=0.23。该横向放大倍数对于距离追踪器0.5米至30米设置的目标保持恒定。该3mm的图像尺寸可以适合于1/4英寸的CCD或CMOS阵列。在实施例中，横向放大倍数是0.23的4倍，使得适用于1英寸的CCD或CMOS阵列。通过改变放大器1240中的三个透镜的焦距和间距，可以在相同尺寸的主体1210中获得具有该增大的横向放大倍数的方位摄像头。
在图13所示的实施例中，光束缩减器1220的三个透镜元件1222、1224和1226的有效焦距分别是85.9mm、-29.6mm和-7.2mm。在来自对象的光穿过这三个透镜元件之后形成虚像。对于设置在距离激光追踪器0.5米远的对象，虚像1229具有0.44mm的尺寸并且位于与透镜1226相距7mm处。对于设置在距离激光追踪器30米远的对象，虚像1228具有0.44mm的尺寸并且位于与透镜1224相距1.8mm处。虚像1228与虚像1129之间的距离是39.8mm，这表示平台需要该数值的二分之一或19.9mm的最大移动范围。光束缩减器1220的横向放大倍数是0.44mm/13mm=0.034。放大器的三个透镜元件1242、1244和1228的有效焦距分别是28.3mm、-8.8mm和-8.8mm。对于距离激光追踪器0.5米的目标、距离激光追踪器30米的目标或者距离激光追踪器0.5米至30米之间的任意距离的目标，感光阵列1250上的图像尺寸都是3mm。放大器的横向放大倍数为3mm/0.44mm=6.8。方位摄像头的整体横向放大倍数是3mm/13mm=0.23。在另一实施例中，放大器的横向放大倍数增加4倍为4x6.8=27，从而对于从0.5米至30米之间的任意距离，产生12mm/13mm=0.92的整体横向放大倍数。
图14B至图14D中示出了方位摄像头的其它实施例。图14B是方位摄像头组件的侧视图2750B。图14C是图14B所示的截面A-A的俯视图2750C。图14D是图14C的截面B-B的侧视剖面图2750D。在三个图中的每个图中示出了光束路径2755。光穿过第一组透镜2760、经镜2762反射、穿过透镜2764、经镜2766、2768反射、穿过第二组透镜2770、经镜2772、2774反射，然后照射在感光阵列2776上。第一组透镜2760和透镜2764形成无焦透镜系统。如上文所说明的，这表示平行于光轴进入第一组透镜2760的光将会平行于光轴离开透镜2764。因为回射器（图14B至图14D中未示出）距离激光追踪器有限的距离，所以无焦透镜系统将在距离透镜2764一定距离处产生虚像2778。距离透镜2764的距离d将取决于回射器距离激光追踪器的距离。例如，在实施例中，当回射器距离追踪器4米远时，虚像距离透镜2764大约d=82mm，并且当回射器距离追踪器40米远时，虚像距离透镜2764大约d=51mm。第二组透镜将虚像2778中继到感光阵列上。机动致动器2780调节镜2766、2768的位置以维持虚像2778距离第二组透镜2770的正确距离，从而保持感光阵列2776上的图像在焦点上。在实施例中，第一组透镜2755具有112mm的组合焦距，透镜2764具有-5.18mm的焦距，以及第二组透镜2770具有约59.3mm的组合焦距。系统的整体放大倍数为近似1/8，这表示感光阵列2776上的光图案尺寸是回射器上光图案尺寸的约八分之一。这是无论激光追踪器距回射器的距离如何均维持恒定放大倍数的透镜系统的一个示例。
可以组合透镜的其它组合以使得方位摄像头具有恒定的横向放大倍数。另外，尽管具有恒定的横向放大倍数是有帮助的，但其它透镜系统也是可用的。总之，图14A至图14D的摄像头通过具有变焦能力、窄视场以及与激光追踪器的光轴对准来区分。
现今可用的一类激光追踪器使用镜对光束进行转向。另一类激光追踪器直接从有效负载组件（例如，类似图9、图10的有效负载组件2170或图1的有效负载15）发射光束。对于直接从有效负载组件发射光束的情况，在将光学部件和光源组装到激光追踪器中之后，现有技术的追踪器需要执行对准步骤。这种方法的难点在于，一旦遇到问题难以补救。这样的问题有时发生在制造过程期间，其它时候发生在用户使用激光追踪器期间。结果是用于解决问题的时间延迟和额外的成本。现在所描述的实施例提供了一种克服现有技术激光追踪器中发现的这些缺点的方法。
图15示出了激光追踪器3600的实施例，为了清晰起见，去除了前盖并省略了一些光学和电气部件。如图16中所示，在实施例中，光学台组件3620包括配合管3622。图16示出了万向节组件3610，万向节组件3610包括天顶轴3630和光学台组件3620。天顶轴包括轴3634和配合套筒3632。天顶轴3630可以由单片金属制成以提高刚性和温度稳定性。图17示出了光学台组件3720和天顶轴3630的实施例。光学台组件3720包括主光学组件3650和次光学组件3740。主光学组件3650的壳体可以由单片金属制成以提高刚性和温度稳定性，并且主光学组件3650包括配合管3622。在实施例中，配合管3622的中心轴57与配合套筒3632的中心轴53对准。在实施例中，如图17和图18所示，四个螺母3664将次光学组件3740附接至主光学组件3650。将配合管3622插入配合套筒3632中并且用三个螺母3662固定在适当位置。在实施例中，借助于将配合管3622一端的两个销子插入如图17所示的孔3666中，使配合管3622与配合套筒3632对准。
尽管万向节组件3610被设计成与光学台3620匹配，但是也可以在天顶轴3630上布置其它类型的装置，诸如摄像头、激光雕刻器、视频追踪器、激光指示器以及角度测量装置，或者LIDAR系统。由于配合套筒3632提供的精密对准，这些装置可以容易且精确地附接至万向节组件3610。
在实施例中，图17的主光学组件3650包括图3中的元件。这些元件包括可见光源110、隔离器115、可选的IFM120、四分之一波板130、扩束器140、分束器145、位置检测器150和分束器155。次光学组件3740包括来自图3的光纤发射器170和ADM组件。在其它实施例中，可以使用替选的光电系统。
图18示出从激光追踪器有效负载中移除的光学台组件3620的实施例。次光学组件910为图13的方位摄像头910，以及主光学组件3650包括图13的光电系统900内的其它元件。
图19示出光学台组件3620和天顶轴3630的实施例的等距视图。光学台组件3620包括主光学组件3650和次光学组件910。图20示出次光学组件910的方位摄像头的俯视图。之前参照图14A描述了这些元件。图21示出沿着图20的线A-A的横截面图3800。在实施例中，经由光纤3812发送可见激光。光源将光输入光纤，经由光纤网络（如果有的话）给光提供路径，并且光纤3812全部随着光学台组件3620旋转。在实施例中，光纤3812包括连接器，该连接器能够快速与源自光源的光纤断开。如果光源提供可见光，那么光可以用作操作人员可见的指示光束以及可以用作用于距离、角度等的测量的测量光束。激光从箍3814射出，箍3814可以被机械地调节以将激光束指向期望的方向。在实施例中，以约8度的角度抛光箍3814和箍所保持的光纤的面，以减少光纤中光的背反射。调节箍以使得由光纤发射的光束平行于配合管3622的中心轴57传播。横截面图3800示出，在这种情况下，来自箍3814的光穿过透镜3822和3824，尽管可以使用很多不同的透镜布置。光穿过分束器3832和分束器3834至追踪器外部而到达回射器目标（未示出）。在从回射器目标的返回路径上，一些光经分束器3834反射、穿过透镜1222、经镜1223反射并继续通过如上文中参照图14A所说明的多种光学元件。剩余的光穿过分束器3834并且传播至分束器3832，一些光在分束器3832上反射、穿过光学扩散器/滤波器3847、穿过透镜3844，并且照射在位置检测器3846上。光也可以穿过设置在透镜3844和位置检测器3846之间的孔径。这样的孔径的目的是阻挡重影光束。在这种情况下，移动位置检测器远离透镜3844，以使得孔径能够设置于光束的焦点位置（如图6E所未示）。在实施例中，使位置检测器3846倾斜，以使得以一定角度反射背反射光，从而降低经位置检测器3846的表面反射的光在另一表面（例如，孔径/空间滤光器157的表面）反弹并且返回位置检测器的几率。位置检测器引脚3848借助于直通套接口（未示出）附接至随光学台组件旋转的电路板（未示出）。直通套接口是弹簧式套接口，其允许建立电连接而不用焊接部件。这些套接口是有利的，因为在快速维修操作中它们使光学台能够容易地移除和更换。未传播至位置检测器3846的光继续通过分束器3832以及光学元件3824、3822，光学元件3824、3822将光聚焦到箍3814内的光纤3812中。
尽管在此描述的布置包括具有箍3814和光纤3812的光纤发射器，但本领域的普通技术人员应当认识到，可以利用离散光源（如固定附接至组件3650的激光二极管）替代光纤发射器。可以利用电线将电源输送到离散光源，该电线可从插座上拆下，从而使得组件易于更换。
如上文所讨论的，光学台组件3650设计的优点是：它可以容易地在激光追踪器之外对准并且插入到任何万向节组件3600、3610中。光学台组件3650还可以插入到被配置成接纳可旋转的光学台组件的其它类型的万向节组件中。具有可拆装的光学台组件的优点包括更快速的生产和更容易的维修。
为了获得可以在安装有万向节的装置（如激光追踪器）中方便地更换的预对准组件，不必将预对准配件对准到测量仪器的预期精度。例如，在一些条件下，激光追踪器可能具有大约25微米的精度，但是这不表示当预对准配件被组装到激光追踪器上时预对准配件也必须保持类似的精度。在预对准配件被替换到激光追踪器中之后，可执行一系列的补偿过程以修正光学元件和机械元件中微小的未对准。在激光追踪器装置的实施例中，可以执行三种这样的补偿：指向补偿、R0补偿和位置检测器补偿。
通过测量回射器和镜相对于激光追踪器多种距离和角度的组合来执行指向补偿。在每个位置处，在前视模式和后视模式下测量回射器或镜。前视模式被认为是仪器的正常操作模式。通过开始于前视模式、围绕方位角轴180度旋转追踪器有效负载，然后围绕天顶轴旋转追踪器有效负载以指向回目标回射器或目标镜，可以获得后视模式。在理想的追踪器中，前视模式和后视模式下测量的三维坐标是相同的，但在实际的追踪器中，读数稍微改变。可以对读数的差异进行分析，以获得表示从追踪器发射的光束相对于万向点的偏移距离的参数。与这些偏移距离相关联的补偿参数有时被称为TX和TY参数。还可以对读数的差异进行分析，以获得表示激光束相对于包括方位角轴并且垂直于天顶轴的平面的角度偏差的参数。与这些角度偏差相关联的补偿参数有时被称为RX和RY参数。
R0值是从激光追踪器的万向点到参考位置的距离，参考位置可以是例如图1中所示的追踪器前面的磁槽17中的一个磁槽处的SMR的位置。通过执行以下过程来得到激光追踪器内的干涉仪或ADM的R0距离，在该过程中使用测距仪来测量与追踪器万向点对准的两个SMR之间的距离，第一个SMR和追踪器在槽之外，第二个SMR和追踪器在槽之间。通过比较测量值，可以计算出R0误差，并且将结果保存在一个或更多个补偿参数中。
位置检测器补偿意在找到位置检测器折返位置相比较于位置检测器中心的二维距离。折返位置（或折返点）的含义已经在上文中参照图3讨论过。为折返偏移距离提供补偿值。
由于上面所描述的补偿执行起来相对快速和简单，因此在不需具有完美对准的情况下，在激光追踪器或其它万向节仪器内更换光学台是可行的。
对准固定装置3810用于对准光学台组件3650，光学台组件之后将被插入到天顶轴3630中。在实施例中，对准固定装置3810包括嵌入到块3815中的四个滚轴轴承3813。图22中可以看见滚轴轴承3813中的两个滚轴轴承，但所有四个滚轴轴承用来支承配合管3622。在保持配合管的中心对称轴57的固定位置的同时，对准固定装置使得配合管能够平稳地旋转。另外，由于滚轴轴承3813可以自由旋转，配合管3622的表面在旋转期间不会被刮伤。在另一实施例中，对准固定装置3810包括四个钢球而不是四个滚轴轴承。在另一实施例中，对准固定装置3810包括具有成V形的两个平面的V形块。在该实施例中，配合管3622在V形块上旋转。V形块的变形是包含两个凸柱面而非两个平面的块。
为避免光学台组件3650倾翻，砝码3817附接至配合管3622。在实施例中，光从如图21所示的箍3814中射出。光通过光纤3812被输送到箍3814。在对准过程期间，通过砝码3817导向光纤3812。光还可以从位于配合管内的光源发射。
如图21所示，光学台3650包括从箍3814中获得的光源、一组透镜3822、3824、分束器3832、3834以及窗（未示出）。重要的是，来自箍3814的光被集中在透镜3822、3824上并且还与两个透镜的光轴对准。否则，光学像差会比可能的其他方式大，从而降低系统的性能。进行此的最有效的方式是，在移除分束器3832、3834的情况下首先使光源（箍3814）对准透镜。通过移除分束器并使用下面描述的过程检查偏斜，可以获得光束到透镜的精确对准。为使该方法可行，分束器必须对准使得光能够沿着同一条线进入和离开一对分束器。换言之，如图23中沿着中心轴57定向的双向光线55所指示的，在光源端处的配合管3622的中心发射的光束应该在配合管的另一端离开光学台组件3650。现描述用于获得这种条件的方法。两个分束器3832、3834中的每一个分束器具有微小的楔角，以最小化作为不期望的反射光束的重影光束。例如，在图23所示的实施例中，分束器3832在一个拐角处具有直角c2，并且在相邻拐角处具有c1=90.16度的角。该分束器的楔角为90.16-90=0.16度。分束器3834的楔角为c3–c4=90–89.87=0.13度。当光从空气以入射角a1入射在折射率为n的玻璃上时，光以折射角a2进入玻璃，折射角a2由折射定律给出：a2=arcsin(sin(a1)/n)。例如，如果a1=45度且n=1.5，那么折射角为a2=arcsin(sin(45°)/1.5)=28.13°。折射定律可以用于选择图23中的厚度h1、h2以及角b1、b2，以产生期望的状态。对于上面提到的N-BK7玻璃和楔角，满足期望条件的厚度和角度是h1=14.3mm、h2=10.31mm、b1=55度以及b2=45度。图23中所示出的一个重要特征是，光学元件被配置成当光束从初始发射点穿过以离开光学台组件时保持光束的原线。当然，精确的对准取决于包括在光学台组件内的光学元件的数量和类型。
现参照图24的步骤4000描述用于对准光源的方法。步骤4010用于将光学台组件设置在对准固定装置上。步骤4020用于调节光源的焦点。在实施例中，可以调节光以获得一个或更多个距离处的特定光束尺寸。例如，可以通过将光源（例如，光纤3812和箍3814）附接至拧入配合管3622的块内来获得图22中所示的焦点调节dZ。通过扭转箍3814更接近于透镜3822，使得光束的焦点被移动得远离激光追踪器。步骤4030用于在对准固定装置上旋转光学台组件。步骤4040用于调节光源以最小化偏斜。在此，偏斜被定义为，当光学台组件旋转时在某距离处光图案的直径。在很多情况下，最小化不至一个位置（例如，可能距追踪器一米的近位置以及可能距追踪器32米的远位置）处的旋转是有利的。可以通过平移tx、ty以及旋转rx、ry实现该调节，其中，平移可能使用槽和螺母布置，旋转可能使用倾斜机构。通常，靠近追踪器的光束的尺寸将相对更多地受平移调节tx、ty影响，而远离追踪器的光束的尺寸将相对更多地受旋转调节rx、ry影响。可以在近的位置和远的位置之间重复平移以最小化偏斜。步骤4050用于将光学台插入到光束转向系统中，光束转向系统可以是光束转向系统3600、3610。步骤4060用于使用光束转向系统将光束指向期望的方向。
步骤4000可适用于将光束发射到空间的装置。另外，如果光束被装置接收，如在激光追踪器的情况下，那么位置检测器可以附接以及对准至光学台组件3650。图21中示出了位置检测器组件3840的横截面图。位置检测器配件3840可以包括扩散器/滤波器3847、孔径（图21中未示出）和位置检测器3846。现描述使位置检测器组件对准的方法。首先，来自光学台的光被集中到回射器上，其中，回射器沿着光外出方向将光返回。进行此的一种方便的方法是将立方隅角回射器直接安装到光学台组件3650的输出端，使得输出光束照射到回射器的顶点上。在实施例中，使用运动学磁座将立方角安装到光学台组件3650的前面。从回射器返回的光照射分束器3832并且穿过光学台组件的底表面3827中的开口。（位置检测器组件的元件将被安装到该开口中）。外部单独安装的位置检测器被设置在表面3827中的开口前面。观察从分束器3832反射的光照射外部位置检测器的位置。将扩散器/滤波器3847和透镜3842设置在适当的位置，并且使用机械结构3842调节扩散器/滤波器3847和透镜3842以将光束集中到外部位置检测器上的第一观察位置。将内部位置检测器3848设置在合适的位置，并且调节内部位置检测器3848以将光束近似地设置在位置检测器3848的中心。可以在完成了光学台组件3650的对准之后将进入和离开次光学组件3740、910的光对准。
图25为用于预对准光学组件、将光学组件安装到空间测量装置中并且使用空间测量装置测量远程的回射器目标的方法6300的流程图。
步骤6305用于提供第一马达和第二马达，第一马达和第二马达一起使第五轴对准第一方向，该第一方向由围绕第一轴的第一旋转角和围绕第二轴的第二旋转角确定，第二轴基本上垂直于第一轴，第一轴、第二轴以及第五轴基本上相交于万向点，第一旋转角由第一马达产生，以及第二旋转角由第二马达产生。
步骤6310用于提供光学组件，该光学配件包括壳体、光元件、透镜、第一分束器和位置检测器，其中，光元件、透镜、第一分束器和位置检测器固定地附接至壳体，该壳体在壳体的外表面的至少第一区域上具有基本上圆柱形状，该圆柱形状具有穿过圆柱形状的中心线的第六轴，从第六轴到第一区域上的点的距离具有基本上恒定的值，光元件可以是光源或附接至光源的光纤部件，光元件被配置成发射第一光，第三光束是第一光的一部分，第三光束具有与光学组件相关的第一路径，光学配件被配置成使得能够调节第一路径。
步骤6315用于提供对准固定装置，该对准固定装置被配置成在第一区域支承光学组件并且限制光学组件围绕第六轴的旋转。
步骤6320用于以如下方式将光学组件设置在对准固定装置上，该方式使得对准固定装置在第一区域上的接触点处与光学组件接触。
步骤6325用于将第三光束投射到第一表面上，该第一表面在距光学组件第一距离处。
步骤6330用于在对准固定装置上围绕第六轴旋转光学配件。
步骤6335用于感测第三光束在第一表面上的位置响应于光学组件围绕第六轴的旋转的变化。
步骤6440用于调节第一路径以使第三光束对准第六轴，该调节至少部分地基于所观测的第三光束在第一表面上的位置变化。
步骤6445用于将光学组件附接至空间测量装置，其中，该附接使第三光束对准第五轴。
步骤6450用于将第三光束指向远程的回射器目标。
步骤6455用于从回射器目标反射第三光束的一部分作为第四光束。
步骤6460用于将第四光束的第三部分从分束器发送至位置检测器。方法6300结束于标记A。
图26是从图25的标记A开始的方法6400的流程图。步骤6405用于将第三光束投射到第二表面上，该第二表面在距光学组件第二距离处。步骤6410用于调节第一路径以使第三光束对准第六轴，该调节至少部分地基于第三光束在第二表面上的所观测的位置变化。
图27是从图25的标记A开始的方法6500的流程图。步骤6505用于提供测距仪，该测距仪至少部分地基于由第一光学检测器接收的第二光束的第一部分来对从万向点到回射器目标的第三距离进行测量。步骤6510用于测量第三距离。
图28是从图25的标记A开始的方法6600的流程图。步骤6605提供用于测量第一旋转角的第一角度测量装置和用于测量第二旋转角的第二角度测量装置。步骤6610用于测量第一旋转角和第二旋转角。
图29是从图25的标记A开始的方法6700的流程图。步骤6705用于提供位置检测器，该位置检测器被配置成响应于位置检测器上第三部分的位置产生第一信号。步骤6710用于提供控制系统，该控制系统被配置成向第一马达发送第二信号以及向第二马达发送第三信号，第二信号和第三信号至少部分地基于第一信号，并且该控制系统被配置成将第一方向调节至回射器目标的空间位置。步骤6715用于调节第一方向。
尽管已经参考示例实施例说明了本发明，但本领域技术人员应当理解，可以在没有背离本发明的范围的情况下进行各种变化并且可以利用等同物来替换元件。另外，可以在没有背离本发明的实质范围的情况下进行多种变形以使特定情形或材料适合本发明的教导。因此，期望本发明不限于作为用于执行本发明考虑的最佳模式所公开的特定实施例，但本发明将包括落在所附权利要求书的范围内的所有实施例。此外，术语第一、第二等的使用并不表示任何顺序或重要度，而是使用术语第一、第二等来将各元件区分开。此外，术语“一”、“一个”等的使用并不表示量的限制，而是表示存在至少一个所引用的项。
权利要求书(按照条约第19条的修改)
1.一种空间测量装置（10），所述空间测量装置（10）将第一光束（46）发送至远程的回射器目标（26），所述回射器目标具有空间位置，所述回射器目标返回所述第一光束的一部分作为第二光束（47），所述测量装置包括：
第一马达（2125）和第二马达（2155），所述第一马达（2125）和所述第二马达（2155）一起将所述第一光束指向第一方向（53），所述第一方向由围绕第一轴（20）的第一旋转角和围绕第二轴（18）的第二旋转角确定，所述第二轴基本上垂直于所述第一轴，所述第一轴与所述第二轴基本上相交于万向点（22），所述第一旋转角由所述第一马达产生，并且所述第二旋转角由所述第二马达产生；
万向节组件（3610），所述万向节组件包括光学组件（3650），所述光学组件作为整体从所述万向节组件上可拆卸，所述光学组件还包括壳体（3622）、光元件（3814）、透镜（3822，3824）、第一分束器（3832）和位置检测器（3846），其中，所述光元件、所述透镜、所述第一分束器和所述位置检测器固定地附接至所述壳体，所述壳体在所述壳体的外表面的至少第一区域上具有大致圆柱形状，所述圆柱形状具有穿过所述圆柱形状的中心线的第三轴（57），从所述第三轴到所述第一区域上的点的距离为基本上恒定的值，所述光元件为光源或附接至所述光源的光纤部件，所述光元件被配置成发射第一光，所述第一光穿过所述透镜和所述第一分束器，所述第一光束是从所述光学组件发射的所述第一光的一部分，所述光学组件被配置成沿着第四轴发送所述第一光束，所述第三轴和所述第四轴基本上重合并且与所述万向点基本上在一条直线上，并且基本上在包括所述第一轴且垂直于所述第二轴的平面上，所述透镜基本上以所述第三轴和所述第四轴为中心，所述第一分束器被配置成将所述第二光束的第二部分发送至所述位置检测器，所述位置检测器被配置成响应于所述第二部分在所述位置检测器上的位置产生第一信号；以及
控制系统（1520，1530，1540，1550），用于将第二信号发送至所述第一马达以及将第三信号发送至所述第二马达，所述第二信号和所述第三信号至少部分地基于所述第一信号，所述控制系统被配置成将所述第一方向调节至所述回射器目标的所述空间位置。
2.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光学组件被配置成将所述第一光束定向为沿着所述第三轴。
3.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述第一区域是金属的。
4.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光纤部件为箍。
5.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光源为二极管激光器。
6.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述透镜被配置成使所述第一光准直。
7.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光学组件包括第二分束器，所述第一分束器和所述第二分束器为分束器组。
8.根据权利要求7所述的空间测量装置，其中，所述光学组件被配置成使进入所述分束器组的第一光与离开所述分束器组的第一光沿着所述第四轴对准。
9.根据权利要求1所述的空间测量装置，还包括测距仪，所述测距仪至少部分地基于由第一光学检测器（3306）所接收的所述第二光束的第一部分，来测量从所述万向点到所述回射器目标的第一距离。
10.根据权利要求1所述的空间测量装置，还包括用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置（2120）和用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置（2150）。
11.根据权利要求8所述的空间测量装置，还包括用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置和用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置。
12.一种用于预对准光学组件（3650）、将所述光学组件安装到空间测量装置（10）中并且使用所述空间测量装置来测量远程的回射器目标（26）的方法（6300），所述方法包括如下步骤：
提供第一马达（2125）和第二马达（2155），所述第一马达（2125）和所述第二马达（2155）一起将第五轴（53）与第一方向对准，所述第一方向由围绕第一轴（20）的第一旋转角和围绕第二轴（18）的第二旋转角确定，所述第二轴基本上垂直于所述第一轴，所述第一轴、所述第二轴和所述第五轴基本上相交于万向点（22），所述第一旋转角由所述第一马达产生，并且所述第二旋转角由所述第二马达产生（6305）；
提供光学组件，所述光学组件包括壳体（3622）、光元件（3814）、透镜（3822，3824）、第一分束器（3832）和位置检测器（3846），其中，所述光元件、所述透镜、所述第一分束器和所述位置检测器固定地附接至所述壳体，所述壳体在所述壳体的外表面的至少第一区域上具有大致圆柱形状，所述圆柱形状具有穿过所述圆柱形状的中心线的第六轴（57），从所述第六轴到所述第一区域上的点的距离具有基本上恒定的值，所述光元件为光源或附接至所述光源的光纤部件，所述光元件被配置成发射第一光，第三光束（55）是所述第一光的一部分，所述第三光束具有与所述光学组件相关的第一路径，所述光学组件被配置成使得能够调节所述第一路径（6310）；
提供对准固定装置（3815），所述对准固定装置被配置成在所述第一区域上支承所述光学组件并限制所述光学组件围绕所述第六轴的旋转（6315）；
将所述光学组件设置在所述对准固定装置上，使得所述对准固定装置在所述第一区域上的接触点处与所述光学组件接触（6320）；
将所述第三光束投射到第一表面上，所述第一表面处于距离所述光学组件的第一距离处（6325）；
在所述对准固定装置上围绕所述第六轴旋转所述光学组件（6330）；
感测所述第三光束在所述第一表面上的位置响应于所述光学组件围绕所述第六轴的旋转的变化（6335）；
调节所述第一路径以使所述第三光束与所述第六轴对准，所述调节至少部分地基于所观测的所述第三光束在所述第一表面上的位置变化（6340）；
将所述光学组件附接至所述空间测量装置，其中，所述附接使所述第三光束与所述第五轴对准（6345）；
将所述第三光束指向远程的回射器目标（6350）；
从所述回射器目标反射所述第三光束的一部分作为第四光束（6355）；以及
将所述第四光束的第三部分从所述分束器发送至所述位置检测器（6360）。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述感测所述第三光束在所述第一表面上的位置响应于所述光学组件围绕所述第六轴的旋转的变化的步骤还包括：测量所述第一表面处的第一偏斜直径。
14.根据权利要求13所述的方法（6400），还包括以下步骤：
将所述第三光束投射到第二表面上，所述第二表面处于距离所述光学组件的第二距离处（6405）；以及
调节所述第一路径以使所述第三光束与所述第六轴对准，所述调节至少部分地基于所观测的所述第三光束在所述第二表面上的位置变化（6410）。
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述调节所述第一路径以使所述第三光束与所述第六轴对准的步骤还包括：测量所述第二表面处的第二偏斜直径。
16.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述感测所述第三光束在所述第一表面上的位置变化的步骤中，所述第一表面为光学检测器的表面。
17.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述提供光学组件的步骤中，所述第一区域是金属的。
18.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述提供光学组件的步骤中，所述光纤部件为箍。
19.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述提供光学组件的步骤中，所述光源为二极管激光器。
20.根据权利要求12所述的方法，其中，所述提供光学组件的步骤还包括：提供被配置成使所述第一光准直的透镜。
21.根据权利要求12所述的方法（6500），还包括：
提供测距仪，所述测距仪至少部分地基于由第一光学检测器（3306，6505）所接收的所述第二光束的第一部分，来测量从所述万向点到所述回射器目标的第三距离；以及
测量所述第三距离（6510）。
22.根据权利要求12所述的方法（6600），还包括：
提供用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置以及用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置（6605）；以及
测量所述第一旋转角以及所述第二旋转角（6610）。
23.根据权利要求21所述的方法，还包括：提供用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置以及用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置。
24.根据权利要求12所述的方法（6700），还包括如下步骤：
提供所述位置检测器，所述位置检测器被配置成响应于所述第三部分在所述位置检测器上的位置产生第一信号（6705）；
提供控制系统（1520，1530，1540，1550），所述控制系统被配置成将第二信号发送至所述第一马达以及将第三信号发送至所述第二马达，所述第二信号和所述第三信号至少部分地基于所述第一信号，所述控制系统被配置成将所述第一方向调节至所述回射器目标的空间位置（6710）；以及
调节所述第一方向（6715）。

Claims (24)

1.一种空间测量装置（10），所述空间测量装置（10）将第一光束（46）发送至远程的回射器目标（26），所述回射器目标具有空间位置，所述回射器目标返回所述第一光束的一部分作为第二光束（47），所述测量装置包括：
第一马达（2125）和第二马达（2155），所述第一马达（2125）和所述第二马达（2155）一起将所述第一光束指向第一方向（53），所述第一方向由围绕第一轴（20）的第一旋转角和围绕第二轴（18）的第二旋转角确定，所述第二轴基本上垂直于所述第一轴，所述第一轴与所述第二轴基本上相交于万向点（22），所述第一旋转角由所述第一马达产生，并且所述第二旋转角由所述第二马达产生；
光学组件（3650），其包括壳体（3622）、光元件（3814）、透镜（3822，3824）、第一分束器（3832）和位置检测器（3846），其中，所述光元件、所述透镜、所述第一分束器和所述位置检测器固定地附接至所述壳体，所述壳体在所述壳体的外表面的至少第一区域上具有大致圆柱形状，所述圆柱形状具有穿过所述圆柱形状的中心线的第三轴（57），从所述第三轴到所述第一区域上的点的距离为基本上恒定的值，所述光元件为光源或附接至所述光源的光纤部件，所述光元件被配置成发射第一光，所述第一光束是从所述光学组件发射的所述第一光的一部分，所述光学组件被配置成沿着第四轴发送所述第一光束，所述第三轴和所述第四轴基本上重合并且与所述万向点基本上在一条直线上，并且基本上在包括所述第一轴且垂直于所述第二轴的平面上，所述第一分束器被配置成将所述第二光束的第二部分发送至所述位置检测器，所述位置检测器被配置成响应于所述第二部分在所述位置检测器上的位置产生第一信号；以及
控制系统（1520，1530，1540，1550），用于将第二信号发送至所述第一马达以及将第三信号发送至所述第二马达，所述第二信号和所述第三信号至少部分地基于所述第一信号，所述控制系统被配置成将所述第一方向调节至所述回射器目标的所述空间位置。
2.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光学组件被配置成将所述第一光束定向为沿着所述第三轴。
3.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述第一区域是金属的。
4.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光纤部件为箍。
5.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光源为二极管激光器。
6.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述透镜被配置成使所述第一光准直。
7.根据权利要求1所述的空间测量装置，其中，所述光学组件包括第二分束器，所述第一分束器和所述第二分束器为分束器组。
8.根据权利要求7所述的空间测量装置，其中，所述光学组件被配置成使进入所述分束器组的第一光与离开所述分束器组的第一光沿着所述第四轴对准。
9.根据权利要求1所述的空间测量装置，还包括测距仪，所述测距仪至少部分地基于由第一光学检测器（3306）所接收的所述第二光束的第一部分，来测量从所述万向点到所述回射器目标的第一距离。
10.根据权利要求1所述的空间测量装置，还包括用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置（2120）和用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置（2150）。
11.根据权利要求8所述的空间测量装置，还包括用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置和用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置。
12.一种用于预对准光学组件（3650）、将所述光学组件安装到空间测量装置（10）中并且使用所述空间测量装置来测量远程的回射器目标（26）的方法（6300），所述方法包括如下步骤：
提供第一马达（2125）和第二马达（2155），所述第一马达（2125）和所述第二马达（2155）一起将第五轴（53）与第一方向对准，所述第一方向由围绕第一轴（20）的第一旋转角和围绕第二轴（18）的第二旋转角确定，所述第二轴基本上垂直于所述第一轴，所述第一轴、所述第二轴和所述第五轴基本上相交于万向点（22），所述第一旋转角由所述第一马达产生，并且所述第二旋转角由所述第二马达产生（6305）；
提供光学组件，所述光学组件包括壳体（3622）、光元件（3814）、透镜（3822，3824）、第一分束器（3832）和位置检测器（3846），其中，所述光元件、所述透镜、所述第一分束器和所述位置检测器固定地附接至所述壳体，所述壳体在所述壳体的外表面的至少第一区域上具有大致圆柱形状，所述圆柱形状具有穿过所述圆柱形状的中心线的第六轴（57），从所述第六轴到所述第一区域上的点的距离具有基本上恒定的值，所述光元件为光源或附接至所述光源的光纤部件，所述光元件被配置成发射第一光，第三光束（55）是所述第一光的一部分，所述第三光束具有与所述光学组件相关的第一路径，所述光学组件被配置成使得能够调节所述第一路径（6310）；
提供对准固定装置（3815），所述对准固定装置被配置成在所述第一区域上支承所述光学组件并限制所述光学组件围绕所述第六轴的旋转（6315）；
将所述光学组件设置在所述对准固定装置上，使得所述对准固定装置在所述第一区域上的接触点处与所述光学组件接触（6320）；
将所述第三光束投射到第一表面上，所述第一表面处于距离所述光学组件的第一距离处（6325）；
在所述对准固定装置上围绕所述第六轴旋转所述光学组件（6330）；
感测所述第三光束在所述第一表面上的位置响应于所述光学组件围绕所述第六轴的旋转的变化（6335）；
调节所述第一路径以使所述第三光束与所述第六轴对准，所述调节至少部分地基于所观测的所述第三光束在所述第一表面上的位置变化（6340）；
将所述光学组件附接至所述空间测量装置，其中，所述附接使所述第三光束与所述第五轴对准（6345）；
将所述第三光束指向远程的回射器目标（6350）；
从所述回射器目标反射所述第三光束的一部分作为第四光束（6355）；以及
将所述第四光束的第三部分从所述分束器发送至所述位置检测器（6360）。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述感测所述第三光束在所述第一表面上的位置响应于所述光学组件围绕所述第六轴的旋转的变化的步骤还包括：测量所述第一表面处的第一偏斜直径。
14.根据权利要求13所述的方法（6400），还包括以下步骤：
将所述第三光束投射到第二表面上，所述第二表面处于距离所述光学组件的第二距离处（6405）；以及
调节所述第一路径以使所述第三光束与所述第六轴对准，所述调节至少部分地基于所观测的所述第三光束在所述第二表面上的位置变化（6410）。
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述调节所述第一路径以使所述第三光束与所述第六轴对准的步骤还包括：测量所述第二表面处的第二偏斜直径。
16.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述感测所述第三光束在所述第一表面上的位置变化的步骤中，所述第一表面为光学检测器的表面。
17.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述提供光学组件的步骤中，所述第一区域是金属的。
18.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述提供光学组件的步骤中，所述光纤部件为箍。
19.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述提供光学组件的步骤中，所述光源为二极管激光器。
20.根据权利要求12所述的方法，其中，所述提供光学组件的步骤还包括：提供被配置成使所述第一光准直的透镜。
21.根据权利要求12所述的方法（6500），还包括：
提供测距仪，所述测距仪至少部分地基于由第一光学检测器（3306，6505）所接收的所述第二光束的第一部分，来测量从所述万向点到所述回射器目标的第三距离；以及
测量所述第三距离（6510）。
22.根据权利要求12所述的方法（6600），还包括：
提供用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置以及用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置（6605）；以及
测量所述第一旋转角以及所述第二旋转角（6610）。
23.根据权利要求21所述的方法，还包括：提供用于测量所述第一旋转角的第一角度测量装置以及用于测量所述第二旋转角的第二角度测量装置。
24.根据权利要求12所述的方法（6700），还包括如下步骤：
提供所述位置检测器，所述位置检测器被配置成响应于所述第三部分在所述位置检测器上的位置产生第一信号（6705）；
提供控制系统（1520，1530，1540，1550），所述控制系统被配置成将第二信号发送至所述第一马达以及将第三信号发送至所述第二马达，所述第二信号和所述第三信号至少部分地基于所述第一信号，所述控制系统被配置成将所述第一方向调节至所述回射器目标的空间位置（6710）；以及
调节所述第一方向（6715）。
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WO (11) WO2012141868A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110045386A (zh) * 2015-03-27 2019-07-23 伟摩有限责任公司 用于光检测与测距光学对准的方法与系统

Families Citing this family (230)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8488972B2 (en) * 2006-05-30 2013-07-16 Tai-Her Yang Directional control/transmission system with directional light projector
US9482755B2 (en) 2008-11-17 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker
US8803055B2 (en) * 2009-01-09 2014-08-12 Automated Precision Inc. Volumetric error compensation system with laser tracker and active target
US8659749B2 (en) 2009-08-07 2014-02-25 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter with optical switch
US9400170B2 (en) 2010-04-21 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
RU2010124265A (ru) * 2010-06-16 2011-12-27 Алексей Владиславович Жданов (RU) Способ и устройство определения направления начала движения
US8411285B2 (en) * 2010-11-22 2013-04-02 Trimble Navigation Limited Stationing an unleveled optical total station
CN102096069B (zh) * 2010-12-17 2012-10-03 浙江大学 一种相控阵三维声学摄像声纳实时处理系统和方法
US8902408B2 (en) 2011-02-14 2014-12-02 Faro Technologies Inc. Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector
GB2511236B (en) 2011-03-03 2015-01-28 Faro Tech Inc Target apparatus and method
GB201105587D0 (en) * 2011-04-01 2011-05-18 Elliptic Laboratories As User interfaces for electronic devices
US9164173B2 (en) 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US8537376B2 (en) 2011-04-15 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Enhanced position detector in laser tracker
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
USD688577S1 (en) 2012-02-21 2013-08-27 Faro Technologies, Inc. Laser tracker
US9147199B2 (en) 2011-06-17 2015-09-29 Google Inc. Advertisements in view
DE112012002943T5 (de) 2011-07-13 2014-04-30 Faro Technologies Inc. Vorrichtung und Verfahren unter Verwendung eines räumlichen Lichtmodulators zum Ermitteln von 3D-Koordinaten eines Objekts
CN103649678A (zh) 2011-07-14 2014-03-19 法罗技术股份有限公司 具有相位和间距调节的基于光栅的扫描仪
US9444981B2 (en) * 2011-07-26 2016-09-13 Seikowave, Inc. Portable structured light measurement module/apparatus with pattern shifting device incorporating a fixed-pattern optic for illuminating a subject-under-test
EP2600173A1 (de) * 2011-11-29 2013-06-05 Hexagon Technology Center GmbH Verfahren zum Betreiben eines Laserscanners
US9638507B2 (en) 2012-01-27 2017-05-02 Faro Technologies, Inc. Measurement machine utilizing a barcode to identify an inspection plan for an object
CN102540170B (zh) * 2012-02-10 2016-02-10 江苏徕兹光电科技股份有限公司 基于双波长激光管相位测量的校准方法及其测距装置
WO2013167167A1 (de) * 2012-05-07 2013-11-14 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Wechselbares beleuchtungsmodul für ein koordinatenmessgerät
TWI549655B (zh) * 2012-05-18 2016-09-21 國立成功大學 關節活動度量測裝置及其量測方法
GB2502149B (en) * 2012-05-18 2017-01-18 Acergy France SAS Improvements relating to pipe measurement
US9671566B2 (en) 2012-06-11 2017-06-06 Magic Leap, Inc. Planar waveguide apparatus with diffraction element(s) and system employing same
US9733717B2 (en) * 2012-07-12 2017-08-15 Dual Aperture International Co. Ltd. Gesture-based user interface
US9354051B2 (en) 2012-09-13 2016-05-31 Laser Technology, Inc. System and method for a rangefinding instrument incorporating pulse and continuous wave signal generating and processing techniques for increased distance measurement accuracy
US9879995B2 (en) 2012-09-13 2018-01-30 Laser Technology, Inc. System and method for superimposing a virtual aiming mechanism with a projected system beam in a compact laser-based rangefinding instrument
US9213101B2 (en) * 2012-09-13 2015-12-15 Laser Technology, Inc. Self-aligned aiming system and technique for a laser rangefinder incorporating a retroreflector
US9383753B1 (en) 2012-09-26 2016-07-05 Google Inc. Wide-view LIDAR with areas of special attention
DE102012112025B4 (de) 2012-12-10 2016-05-12 Carl Zeiss Ag Verfahren und Vorrichtungen zur Positionsbestimmung einer Kinematik
DE102012223929A1 (de) * 2012-12-20 2014-06-26 Hilti Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der zweidimensionalen Ortskoordinaten eines Zielobjektes
DK2936194T3 (da) 2012-12-20 2020-06-15 Raytheon Canada Ltd Optisk flerstråleapparat med bredt synsfelt
CN103134441A (zh) * 2012-12-28 2013-06-05 中国空气动力研究与发展中心设备设计及测试技术研究所 大型风洞挠性喷管激光跟踪测量方法
DE102013104490A1 (de) * 2013-01-25 2014-07-31 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von Strukturen mittels Computertomografie
US9036134B2 (en) * 2013-02-12 2015-05-19 Faro Technologies, Inc. Multi-mode optical measurement device and method of operation
US9746560B2 (en) 2013-02-12 2017-08-29 Faro Technologies, Inc. Combination scanner and tracker device having a focusing mechanism
US9188430B2 (en) * 2013-03-14 2015-11-17 Faro Technologies, Inc. Compensation of a structured light scanner that is tracked in six degrees-of-freedom
US9046360B2 (en) 2013-03-14 2015-06-02 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
GB2527993B (en) * 2013-03-15 2018-06-27 Faro Tech Inc Three-Dimensional Coordinate Scanner And Method Of Operation
US9041914B2 (en) * 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9294758B2 (en) * 2013-04-18 2016-03-22 Microsoft Technology Licensing, Llc Determining depth data for a captured image
US9234742B2 (en) 2013-05-01 2016-01-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
EP2801839B1 (de) * 2013-05-10 2020-03-04 Leica Geosystems AG Handhaltbares Messhilfsmittel zur Verwendung mit einem 6-DoF-Lasertracker
TWI487115B (zh) * 2013-06-07 2015-06-01 Sinopower Semiconductor Inc 溝渠式功率元件及其製造方法
US9476695B2 (en) * 2013-07-03 2016-10-25 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that cooperates with a remote camera bar and coordinate measurement device
US9113154B2 (en) * 2013-07-10 2015-08-18 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional measurement device having three-dimensional overview camera
US10408613B2 (en) * 2013-07-12 2019-09-10 Magic Leap, Inc. Method and system for rendering virtual content
WO2015006784A2 (en) 2013-07-12 2015-01-15 Magic Leap, Inc. Planar waveguide apparatus with diffraction element(s) and system employing same
US10812694B2 (en) 2013-08-21 2020-10-20 Faro Technologies, Inc. Real-time inspection guidance of triangulation scanner
FR3009881B1 (fr) 2013-08-23 2017-03-17 Stmi Soc Des Techniques En Milieu Ionisant Modelisation 3d topographique et radiologique d'un environnement
US9443310B2 (en) * 2013-10-09 2016-09-13 Microsoft Technology Licensing, Llc Illumination modules that emit structured light
DK2866047T3 (da) * 2013-10-23 2021-03-29 Ladar Ltd Detekteringssystem til detektering af en genstand på en vandoverflade
EP2881704B1 (en) * 2013-12-04 2018-05-09 Hexagon Technology Center GmbH Systems and methods for automated measurement of an object and corresponding computer programme product
US9121689B2 (en) * 2013-12-11 2015-09-01 Faro Technologies, Inc. Method for correcting a spherically mounted retroreflector when resetting a distance meter
US9239238B2 (en) * 2013-12-11 2016-01-19 Faro Technologies, Inc. Method for correcting a 3D measurement of a spherically mounted retroreflector on a nest
US9594250B2 (en) 2013-12-18 2017-03-14 Hexagon Metrology, Inc. Ultra-portable coordinate measurement machine
US9606235B2 (en) * 2014-01-16 2017-03-28 The Boeing Company Laser metrology system and method
US9952033B2 (en) 2014-02-14 2018-04-24 Palo Alto Research Center Incorporated Spatial modulation of light to determine object length
US10451482B2 (en) 2014-02-14 2019-10-22 Palo Alto Research Center Incorporated Determination of color characteristics of objects using spatially modulated light
US10061027B2 (en) * 2014-02-25 2018-08-28 Adsys Controls, Inc. Laser navigation system and method
CN103984193B (zh) * 2014-03-14 2020-10-16 广州虹天航空科技有限公司 拍摄设备稳定器及其控制方法
USD734337S1 (en) 2014-04-01 2015-07-14 Datalogic Ip Tech S.R.L. Coded information reader
USD735595S1 (en) 2014-04-02 2015-08-04 Franklin B White Support for GPS apparatus
US9400174B2 (en) * 2014-04-07 2016-07-26 Palo Alto Research Center Incorporated Monitor for particle injector
US9921046B2 (en) 2014-05-14 2018-03-20 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of servicing
US9829305B2 (en) 2014-05-14 2017-11-28 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of changing operating system
US9746308B2 (en) * 2014-05-14 2017-08-29 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of performing an inspection
US9803969B2 (en) * 2014-05-14 2017-10-31 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of communicating with portable devices
US9903701B2 (en) 2014-05-14 2018-02-27 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a rotary switch
US9739591B2 (en) 2014-05-14 2017-08-22 Faro Technologies, Inc. Metrology device and method of initiating communication
DE102014007908A1 (de) * 2014-05-27 2015-12-03 Carl Zeiss Meditec Ag Chirurgie-System
US10021379B2 (en) 2014-06-12 2018-07-10 Faro Technologies, Inc. Six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality
US9402070B2 (en) 2014-06-12 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device with a six degree-of-freedom handheld probe and integrated camera for augmented reality
DE102014009269B4 (de) * 2014-06-25 2017-06-08 Thyssenkrupp Ag Vorrichtung zur räumlichen Ausrichtung eines berührungslosen Messkopfes
US9395174B2 (en) * 2014-06-27 2016-07-19 Faro Technologies, Inc. Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit
US9291447B2 (en) * 2014-07-09 2016-03-22 Mitutoyo Corporation Method for controlling motion of a coordinate measuring machine
EP3167517B1 (en) 2014-07-10 2021-11-10 Brunson Instrument Company Laser tracker calibration system and methods
US11879995B2 (en) 2014-07-10 2024-01-23 Brunson Instrument Company Laser tracker calibration system and methods
EP2980526B1 (de) * 2014-07-30 2019-01-16 Leica Geosystems AG Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Messen von Koordinaten
JP2017524944A (ja) * 2014-08-11 2017-08-31 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 拡張現実のための６自由度三角計測スキャナとカメラ
DE102014113395B4 (de) * 2014-09-17 2017-05-18 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren und Anlage zur Vermessung von Oberflächen
KR20160034719A (ko) * 2014-09-22 2016-03-30 한화테크윈 주식회사 라이다 시스템
US10176625B2 (en) 2014-09-25 2019-01-08 Faro Technologies, Inc. Augmented reality camera for use with 3D metrology equipment in forming 3D images from 2D camera images
JP1529086S (zh) * 2014-09-30 2016-10-31
US9897690B2 (en) 2014-10-27 2018-02-20 Laser Technology, Inc. Technique for a pulse/phase based laser rangefinder utilizing a single photodiode in conjunction with separate pulse and phase receiver circuits
CN104266611A (zh) * 2014-10-29 2015-01-07 中航成飞民用飞机有限责任公司 测飞机应急门止动块卡孔中心线用辅助工具
DE102014224851A1 (de) * 2014-12-04 2016-06-09 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Darstellung von Strukturinformation über ein technisches Objekt
US9506744B2 (en) * 2014-12-16 2016-11-29 Faro Technologies, Inc. Triangulation scanner and camera for augmented reality
US10126415B2 (en) 2014-12-31 2018-11-13 Faro Technologies, Inc. Probe that cooperates with a laser tracker to measure six degrees of freedom
WO2016118637A1 (en) * 2015-01-20 2016-07-28 Volfson Leo Single aperture laser range finder
JP6550849B2 (ja) * 2015-03-30 2019-07-31 セイコーエプソン株式会社 プロジェクター、及び、プロジェクターの制御方法
JP6601489B2 (ja) * 2015-03-31 2019-11-06 株式会社ニコン 撮像システム、撮像装置、撮像方法、及び撮像プログラム
JP6533690B2 (ja) * 2015-04-28 2019-06-19 株式会社トプコン 三次元位置計測システム
JP6533691B2 (ja) * 2015-04-28 2019-06-19 株式会社トプコン 三次元位置計測システム
GB2538385B (en) * 2015-04-28 2021-09-22 Faro Tech Inc Combination scanner and tracker device having a focusing mechanism
US10512508B2 (en) 2015-06-15 2019-12-24 The University Of British Columbia Imagery system
CN106443697A (zh) * 2015-08-06 2017-02-22 信泰光学(深圳)有限公司 自走式装置及其环境测距装置
US10007108B2 (en) * 2015-08-07 2018-06-26 Sony Interactive Entertainment Inc. Systems and methods for using multiple MEMS projectors to determine a position of a photosensor of an HMD or another controller
JP6553999B2 (ja) 2015-09-17 2019-07-31 株式会社トプコン ポリゴンミラーとファンビーム出力装置と測量システム
GB2542762B (en) * 2015-09-21 2018-11-21 Imetrum Ltd Measuring device and method
EP3165876A3 (de) * 2015-11-03 2017-07-26 Hexagon Technology Center GmbH Opto-elektronisches vermessungsgerät
CN105372642B (zh) * 2015-11-06 2017-08-29 中国人民解放军空军装备研究院雷达与电子对抗研究所 一种基于调制频率测量的超高密度激光二维扫描装置
US10812778B1 (en) 2015-11-09 2020-10-20 Cognex Corporation System and method for calibrating one or more 3D sensors mounted on a moving manipulator
US10757394B1 (en) 2015-11-09 2020-08-25 Cognex Corporation System and method for calibrating a plurality of 3D sensors with respect to a motion conveyance
US11562502B2 (en) 2015-11-09 2023-01-24 Cognex Corporation System and method for calibrating a plurality of 3D sensors with respect to a motion conveyance
US10539661B2 (en) * 2015-11-25 2020-01-21 Velodyne Lidar, Inc. Three dimensional LIDAR system with targeted field of view
EP3173739A1 (de) * 2015-11-30 2017-05-31 HILTI Aktiengesellschaft Verfahren zum überprüfen und/oder kalibrieren einer vertikalachse eines rotationslasers
CN108431626B (zh) * 2015-12-20 2022-06-17 苹果公司 光检测和测距传感器
US10101154B2 (en) * 2015-12-21 2018-10-16 Intel Corporation System and method for enhanced signal to noise ratio performance of a depth camera system
DE102015122846A1 (de) * 2015-12-27 2017-06-29 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung mittels einer 3D-Messvorrichtung und Nahfeldkommunikation
JP6668764B2 (ja) * 2016-01-13 2020-03-18 セイコーエプソン株式会社 画像認識装置、画像認識方法および画像認識ユニット
US9815204B2 (en) * 2016-01-22 2017-11-14 The Boeing Company Apparatus and method to optically locate workpiece for robotic operations
EP3199913B1 (de) 2016-01-28 2019-04-03 Leica Geosystems AG Vorrichtung zum automatischen auffinden eines beweglichen geodätischen zielobjekts
CN108778179A (zh) * 2016-02-26 2018-11-09 思想外科有限公司 用于指导用户定位机器人的方法和系统
US9752865B1 (en) 2016-04-07 2017-09-05 International Business Machines Corporation Height measurement using optical interference
US9800330B1 (en) 2016-05-03 2017-10-24 Microsoft Technology Licensing, Llc Methods and systems for providing a fiber optic cable network testing platform
TWI595252B (zh) * 2016-05-10 2017-08-11 財團法人工業技術研究院 測距裝置及其測距方法
JP6748908B2 (ja) * 2016-05-24 2020-09-02 清水建設株式会社 インテリジェント反射ターゲット
US10563330B2 (en) 2016-06-08 2020-02-18 One Sciences, Inc. Methods and systems for stitching along a predetermined path
WO2017218467A1 (en) * 2016-06-13 2017-12-21 Vixar, Llc Improved self-mix module utilizing filters
US10107650B2 (en) 2016-06-15 2018-10-23 The Boeing Company Systems and methods for measuring angular position of a laser beam emitter
US10027410B2 (en) 2016-06-23 2018-07-17 Abl Ip Holding Llc System and method using a gated retro-reflector for visible light uplink communication
JP6823482B2 (ja) * 2016-07-04 2021-02-03 株式会社トプコン 三次元位置計測システム，三次元位置計測方法，および計測モジュール
EP3485109B1 (en) 2016-07-15 2021-09-29 Fastbrick IP Pty Ltd Boom for material transport
WO2018009981A1 (en) 2016-07-15 2018-01-18 Fastbrick Ip Pty Ltd Brick/block laying machine incorporated in a vehicle
JP6857979B2 (ja) * 2016-07-27 2021-04-14 株式会社トプコン レーザスキャナの光学系及び測量装置
US10884127B2 (en) * 2016-08-02 2021-01-05 Samsung Electronics Co., Ltd. System and method for stereo triangulation
US10546373B2 (en) 2016-08-03 2020-01-28 Sightline Innovation Inc. System and method for integrated laser scanning and signal processing
US10298913B2 (en) * 2016-08-18 2019-05-21 Apple Inc. Standalone depth camera
DE102017118671B4 (de) 2016-08-19 2019-06-13 National Research Council Of Canada Verfahren, Kit und Target für Multimodales 3D-Bildgebungssystem
US10408574B2 (en) * 2016-08-24 2019-09-10 The Boeing Company Compact laser and geolocating targeting system
US9948395B2 (en) * 2016-09-12 2018-04-17 The United States Of America As Represented By Secretary Of The Navy System and method for line-of-sight optical broadcasting using beam divergence and an orbiting or airborne corner cube reflector
US20180088202A1 (en) 2016-09-23 2018-03-29 Faro Technologies, Inc. Apparatus and method for relocating an articulating-arm coordinate measuring machine
US20180095174A1 (en) 2016-09-30 2018-04-05 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate measuring device
US10401154B2 (en) * 2016-10-12 2019-09-03 The Boeing Company Apparatus and method to detect aircraft wing deflection and twist during flight
US10099774B2 (en) * 2016-10-12 2018-10-16 The Boeing Company System and method for correcting wing twist of an aircraft
DE102016220708A1 (de) 2016-10-21 2018-04-26 Volkswagen Aktiengesellschaft Lidar-Sensor und Verfahren zum optischen Abtasten einer Umgebung
EP3315901B1 (de) * 2016-10-27 2019-06-05 Pepperl & Fuchs GmbH Messvorrichtung und verfahren zur triangulationsmessung
US10486060B2 (en) 2016-11-23 2019-11-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Tracking core for providing input to peripherals in mixed reality environments
WO2018123453A1 (ja) * 2016-12-28 2018-07-05 アルプス電気株式会社 直流整流子電動機の回転に関する情報を取得する装置及び方法
US10866320B2 (en) 2017-01-13 2020-12-15 Faro Technologies, Inc. Remote control of a laser tracker using a mobile computing device
US10546427B2 (en) 2017-02-15 2020-01-28 Faro Technologies, Inc System and method of generating virtual reality data from a three-dimensional point cloud
CN107016733A (zh) * 2017-03-08 2017-08-04 北京光年无限科技有限公司 基于增强现实ar的交互系统及交互方法
KR102353513B1 (ko) * 2017-03-16 2022-01-20 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 회전 거리 측정 장치
US10378442B2 (en) * 2017-03-31 2019-08-13 The Boeing Company Mechanical flywheel for bowed rotor mitigation
WO2019005260A1 (en) 2017-06-29 2019-01-03 Apple Inc. FLIGHT TIME DEPTH MAPPING WITH PARALLAX COMPENSATION
ES2648643B2 (es) * 2017-07-04 2018-07-25 Javier IBAÑEZ CRUZ Sistema de posicionamiento
CN111095355B (zh) 2017-07-05 2023-10-20 快砖知识产权私人有限公司 实时定位和定向跟踪器
US10684124B1 (en) * 2017-07-20 2020-06-16 Michael Hanchett Scanning and measurement system for repair of structures
US10534084B2 (en) * 2017-07-27 2020-01-14 Blackmore Sensors & Analytics, Llc Method and system for using square wave digital chirp signal for optical chirped range detection
CN107290739B (zh) * 2017-08-04 2020-06-16 美国西北仪器公司 探测器组件、探测器及激光测距系统
CN111226090B (zh) 2017-08-17 2023-05-23 快砖知识产权私人有限公司 具有改进的横滚角测量的激光跟踪器
CN107655459B (zh) * 2017-09-07 2020-11-27 南京理工大学 一种野外岩石结构面粗糙度的量测及计算方法
JP7084705B2 (ja) * 2017-09-13 2022-06-15 株式会社トプコン 測量装置
EP3692396A4 (en) * 2017-10-08 2021-07-21 Magik Eye Inc. DISTANCE MEASUREMENT USING A LONGITUDINAL GRID PATTERN
US11401115B2 (en) 2017-10-11 2022-08-02 Fastbrick Ip Pty Ltd Machine for conveying objects and multi-bay carousel for use therewith
CN107631710B (zh) * 2017-10-26 2023-07-18 清华大学深圳研究生院 一种固定桥式测量机斜桥型横梁的连接装置
US10402640B1 (en) * 2017-10-31 2019-09-03 Intuit Inc. Method and system for schematizing fields in documents
KR102054562B1 (ko) * 2017-11-10 2019-12-10 김진형 원거리 계측기
US11022434B2 (en) 2017-11-13 2021-06-01 Hexagon Metrology, Inc. Thermal management of an optical scanning device
US10591603B2 (en) * 2017-11-15 2020-03-17 Faro Technologies, Inc. Retroreflector acquisition in a coordinate measuring device
CN111465870B (zh) 2017-12-18 2023-08-29 苹果公司 使用可寻址发射器阵列的飞行时间感测
US10887723B2 (en) 2017-12-22 2021-01-05 Qualcomm Incorporated Millimeter wave ranging with six degrees of freedom
CN108253931B (zh) * 2018-01-12 2020-05-01 内蒙古大学 一种双目立体视觉测距方法及其测距装置
WO2019147829A2 (en) * 2018-01-24 2019-08-01 Cyberoptics Corporation Structured light projection for specular surfaces
KR102061040B1 (ko) * 2018-02-02 2019-12-31 호서대학교 산학협력단 레이저 거리 측정 및 스캐너 장치
CN108667523B (zh) * 2018-03-06 2021-02-26 苏州大学 基于无数据辅助的knn算法的光纤非线性均衡方法
JP6911803B2 (ja) * 2018-03-23 2021-07-28 豊田合成株式会社 近赤外線センサカバー
US10949992B2 (en) * 2018-04-12 2021-03-16 Francis Bretaudeau Localization system with a cooperative optronic beacon
US10565718B2 (en) 2018-04-18 2020-02-18 Faro Technologies, Inc. System and method of scanning an environment
US10274979B1 (en) * 2018-05-22 2019-04-30 Capital One Services, Llc Preventing image or video capture of input data provided to a transaction device
GB2574064B (en) * 2018-05-25 2020-05-27 Imetrum Ltd Motion encoder
CN110623763B (zh) * 2018-06-22 2023-03-14 阿莱恩技术有限公司 用多个微型摄像头和微型图案投射器的口内3d扫描仪
KR102637175B1 (ko) * 2018-07-02 2024-02-14 현대모비스 주식회사 라이다 센싱장치
JP7257113B2 (ja) * 2018-08-01 2023-04-13 株式会社キーエンス 三次元座標測定装置
EP3837113B1 (en) 2018-08-13 2024-01-03 Triton Metal Products Inc. Machine integrated positioning system
US11619481B2 (en) 2018-08-13 2023-04-04 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device
USD866364S1 (en) 2018-08-20 2019-11-12 Faro Technologies, Inc. Measurement device
EP3627100B1 (de) * 2018-09-20 2021-12-01 Hexagon Technology Center GmbH Retroreflektor mit fischaugenobjektiv
USD875573S1 (en) 2018-09-26 2020-02-18 Hexagon Metrology, Inc. Scanning device
CN111121651A (zh) 2018-10-31 2020-05-08 财团法人工业技术研究院 光学测量稳定性控制系统
JP7219056B2 (ja) * 2018-11-09 2023-02-07 株式会社キーエンス 変位測定装置
EP3650803B1 (en) * 2018-11-12 2021-04-14 Hexagon Technology Center GmbH Distance measuring system and associated measuring methods
US10641870B1 (en) * 2018-11-14 2020-05-05 BAE Systems Imaging Solutions Inc. LIDAR system that is resistant to noise caused by nearby LIDAR systems
CN109343073A (zh) * 2018-11-15 2019-02-15 北京遥感设备研究所 一种用于高速磁悬浮列车速度测量的激光探测装置及探测方法
EP3671115B1 (en) * 2018-12-17 2023-10-11 Leica Geosystems AG Geodetic stake-out system
EP3671273B1 (en) * 2018-12-18 2022-05-04 Leica Geosystems AG System for rough localization of moveable cooperative targets during laser tracker based industrial object measurement
US10438010B1 (en) 2018-12-19 2019-10-08 Capital One Services, Llc Obfuscation of input data provided to a transaction device
WO2020145886A1 (en) * 2019-01-11 2020-07-16 Agency For Science, Technology And Research Apparatus and method for assessing surface roughness
DE102019200733A1 (de) * 2019-01-22 2020-07-23 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von mindestens einer räumlichen Position und Orientierung mindestens einer getrackten Messvorrichtung
CN110108233B (zh) * 2019-05-16 2020-09-04 浙江机电职业技术学院 一种用于3d打印的三维扫描仪
CN110082781B (zh) * 2019-05-20 2021-12-17 东北大学秦皇岛分校 基于slam技术与图像识别的火源定位方法及系统
USD918913S1 (en) * 2019-06-28 2021-05-11 Hand Held Products, Inc. Optical reader
CN110500990B (zh) * 2019-07-09 2020-08-18 同济大学 一种六自由度测量系统及方法
EP3783308B1 (en) * 2019-08-19 2024-01-10 Leica Geosystems AG Geodetic system
US10989528B2 (en) * 2019-08-27 2021-04-27 Raytheon Company High speed beam component-resolved profile and position sensitive detector
US11467556B2 (en) * 2019-09-04 2022-10-11 Honda Motor Co., Ltd. System and method for projection of light pattern on work-piece
JP2022548645A (ja) * 2019-09-17 2022-11-21 カーボン オートノマス ロボティック システムズ， インコーポレイテッド 自律レーザ雑草根絶
ES2824873A1 (es) * 2019-11-13 2021-05-13 Fund Tekniker Metodo y sistema para el seguimiento espacial de objetos
US11733359B2 (en) 2019-12-03 2023-08-22 Apple Inc. Configurable array of single-photon detectors
CN110988892B (zh) * 2019-12-09 2022-04-26 北京信息科技大学 一种激光主动探测系统
CN111023971B (zh) * 2019-12-19 2021-06-01 中国科学院光电技术研究所 一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法
KR20210079788A (ko) 2019-12-20 2021-06-30 엘지전자 주식회사 프로젝터
WO2021051724A1 (zh) * 2020-01-03 2021-03-25 深圳市速腾聚创科技有限公司 激光收发模组及其光调方法、激光雷达及自动驾驶设备
CN111257855B (zh) * 2020-02-14 2023-03-14 北京工业大学 位置敏感探测器性能对激光追踪测量系统跟踪性能影响的分析方法
US11549800B2 (en) * 2020-03-17 2023-01-10 Topcon Positioning Systems, Inc. Self-leveling system for rotating laser systems
CN111473734B (zh) * 2020-04-29 2021-12-07 同济大学 一种小净距隧道中夹岩稳定性监测系统及其方法
US11758272B2 (en) * 2020-06-02 2023-09-12 Intelligent Fusion Technology, Inc. Apparatus and method for target detection and localization
CN111678407B (zh) * 2020-06-09 2022-01-18 广东电网有限责任公司东莞供电局 两点测距装置
WO2022008230A1 (de) * 2020-07-07 2022-01-13 Osram Gmbh Lidar interferenzerkennung
EP3936817A1 (en) * 2020-07-08 2022-01-12 Hexagon Technology Center GmbH Close-range electronic distance measurement
CN112362037B (zh) * 2020-11-10 2021-08-13 南京航空航天大学 一种基于组合测量的激光跟踪仪站位规划方法
CN112704817B (zh) * 2020-12-14 2023-01-24 上海联影医疗科技股份有限公司 放射治疗系统
US11604219B2 (en) 2020-12-15 2023-03-14 Teradyne, Inc. Automatic test equipement having fiber optic connections to remote servers
CN112556579A (zh) * 2020-12-25 2021-03-26 深圳市中图仪器股份有限公司 一种六自由度空间坐标位置和姿态测量装置
US20220207759A1 (en) 2020-12-29 2022-06-30 Faro Technologies, Inc. Automatic registration of multiple measurement devices
US11681028B2 (en) 2021-07-18 2023-06-20 Apple Inc. Close-range measurement of time of flight using parallax shift
US20230098766A1 (en) * 2021-09-30 2023-03-30 Topcon Corporation Surveying instrument
US11814053B2 (en) 2021-10-20 2023-11-14 Micron Technology, Inc. Vehicle occupant emergency monitoring
US20240065613A1 (en) * 2021-11-05 2024-02-29 Bired Imaging, Inc. Spatial and characteristic property data to detect a source in a system
IN202221001096A (zh) * 2022-01-08 2022-11-25
CN114459427A (zh) * 2022-02-10 2022-05-10 中新国际联合研究院 一种自动调平高精度测量仪及测量方法
EP4345412A1 (en) 2022-06-09 2024-04-03 Faro Technologies, Inc. On-site compensation of measurement devices
CN115453750B (zh) * 2022-08-30 2024-03-01 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 拼接式反射镜的面形精度分析方法、装置、设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW381361B (en) * 1998-06-29 2000-02-01 Quarton Inc Calibration method for the optical axis of laser apparatus
CN1608212A (zh) * 2001-08-22 2005-04-20 精密自动化股份有限公司 六维激光跟踪系统及方法
WO2007123604A1 (en) * 2006-03-30 2007-11-01 Raytheon Company Pointable optical system with coude optics having a short on-gimbal path length
CN101371160A (zh) * 2006-01-13 2009-02-18 莱卡地球系统公开股份有限公司 跟踪方法以及配有激光跟踪仪的测量系统
EP2259010A1 (en) * 2008-03-11 2010-12-08 Nikon Corporation Reference sphere detecting device, reference sphere position detecting device, and three-dimensional coordinate measuring device
WO2010148525A1 (de) * 2009-06-23 2010-12-29 Leica Geosystems Ag Koordinatenmessgerät

Family Cites Families (539)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2484641A (en) 1945-10-12 1949-10-11 Western Electric Co Method of separating adhering sheets by an air blast
US2612994A (en) 1949-10-20 1952-10-07 Norman J Woodland Classifying apparatus and method
US2682804A (en) 1950-09-26 1954-07-06 Taylor Taylor & Hobson Ltd Optical micrometer for alignment telescopes
US2784641A (en) 1952-06-20 1957-03-12 Keuffel & Esser Co Alignment telescope
US3497695A (en) * 1961-12-11 1970-02-24 Raytheon Co Radiant energy transmitting device
GB1104021A (en) 1963-11-11 1968-02-21 Nat Res Dev Distance measuring apparatus
LU46404A1 (zh) 1964-06-26 1972-01-01
DE1210360B (de) 1964-11-07 1966-02-03 Leitz Ernst Gmbh Mit einem Laser-Entfernungsmesser gekoppelte Visiervorrichtung
US3365717A (en) 1965-09-03 1968-01-23 South African Inventions Method of and apparatus for providing a measure of the distance between two spaced points
US3627429A (en) 1968-08-14 1971-12-14 Spectra Physics Laser optical surveying instrument and method
US3658426A (en) 1968-09-11 1972-04-25 Itek Corp Alignment telescope
US3619058A (en) 1969-11-24 1971-11-09 Hewlett Packard Co Distance measuring apparatus
US3779645A (en) 1970-05-20 1973-12-18 Nippon Kogaku Kk Distance measuring device
US3728025A (en) 1971-03-08 1973-04-17 Cubic Corp Optical distance measuring equipment
US3740141A (en) 1971-09-20 1973-06-19 Laser Systems & Electronics Timing and measuring methods and means for laser distance measurements
US3813165A (en) 1971-09-20 1974-05-28 Laser Syst & Electronics Inc Digital distance measuring apparatus employing modulated light beam
US3832056A (en) 1972-03-13 1974-08-27 Aga Corp Distance measuring device using electro-optical techniques
DE2553691C2 (de) 1975-11-28 1986-10-30 MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung zwischen einem Meß- und einem Zielpunkt und Entfernungsmeßgerät zur Durchführung dieses Verfahrens
DE2235318C3 (de) 1972-07-19 1980-02-14 Ito-Patent Ag, Zuerich (Schweiz) Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung und der Höhendifferenz und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
FR2206510A1 (zh) 1972-11-15 1974-06-07 Aga Ab
CH589856A5 (zh) 1975-12-29 1977-07-15 Kern & Co Ag
US4113381A (en) 1976-11-18 1978-09-12 Hewlett-Packard Company Surveying instrument and method
DE7704949U1 (de) 1977-02-18 1977-06-30 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Projektor mit versenkbarem tragegriff
US4178515A (en) 1978-05-12 1979-12-11 Lockheed Electronics Co., Inc. Optical signal communicating apparatus
GB2066015B (en) 1979-10-23 1984-02-15 South African Inventions Distance measurment
US4453825A (en) 1979-12-07 1984-06-12 Hewlett-Packard Company Distance transducer
US4413907A (en) 1980-11-07 1983-11-08 Robert F. Deike Remote control surveying
DE3103567A1 (de) 1981-02-03 1982-08-12 MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn Entfernungsmessverfahren nach dem prinzip der laufzeitmessung eines messlichtimpulses und vorrichtung zu seiner durchfuehrung
JPS6318960Y2 (zh) 1981-03-12 1988-05-27
JPS5848880A (ja) 1981-06-09 1983-03-22 エムテ−ツエ−　メステヒニ−ク　ウント　オプトエレクトロニ−ク　ア−ゲ− 距離測定装置の動特性制御装置
DE3219423C2 (de) 1981-06-09 1986-04-30 MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel Entfernungsmeßverfahren und Vorrichtung zu seiner Durchführung
US4498764A (en) 1981-06-09 1985-02-12 Ludwig Bolkow Dynamic control arrangement for a distance measuring apparatus
SE450975B (sv) 1981-08-07 1987-09-07 Geotronics Ab Anordning for operatorskommunikation i ett system for elektronisk distansmetning
JPS5838880A (ja) 1981-08-31 1983-03-07 Tokyo Optical Co Ltd 光波距離計
DE3371561D1 (en) 1982-08-26 1987-06-19 Shell Int Research A method and apparatus for tank gauging using diode lasers and optical fibres
US4537475A (en) 1983-04-01 1985-08-27 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Scattering apodizer for laser beams
US4692023A (en) 1983-07-30 1987-09-08 Tokyo Kagaku Kikai Kabushiki Kaisha Optical adapter for a light-wave rangefinder
DE3328335A1 (de) 1983-08-05 1985-02-14 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn Datenfernueberwachungssystem
DE3476583D1 (en) 1983-12-22 1989-03-09 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Interferometer
JPS60237307A (ja) 1984-05-11 1985-11-26 Yokogawa Hewlett Packard Ltd レ−ザ測長器
DE3530922A1 (de) 1984-08-29 1986-04-30 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Projektionseinrichtung fuer einen leitstrahl
US4777660A (en) 1984-11-06 1988-10-11 Optelecom Incorporated Retroreflective optical communication system
SE448199B (sv) 1985-05-09 1987-01-26 Ericsson Telefon Ab L M Anleggning med flera berbara, snorlosa telefonapparater
US4632547A (en) 1985-09-10 1986-12-30 Broomer Research Corporation Autocollimating alignment telescope
JPS6253310U (zh) * 1985-09-24 1987-04-02
US4767257A (en) 1985-12-23 1988-08-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Industrial robot
US4714339B2 (en) 1986-02-28 2000-05-23 Us Commerce Three and five axis laser tracking systems
JPH052807Y2 (zh) * 1987-02-10 1993-01-25
US4790651A (en) 1987-09-30 1988-12-13 Chesapeake Laser Systems, Inc. Tracking laser interferometer
US4839507A (en) 1987-11-06 1989-06-13 Lance May Method and arrangement for validating coupons
SE464782B (sv) * 1987-12-22 1991-06-10 Geotronics Ab Anordning vid ett avstaandsmaetningsinstrument saasom hjaelpmedel vid utsaettning
US5069524A (en) 1988-03-07 1991-12-03 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Robot hand optical fiber connector coupling assembly
JP2717408B2 (ja) 1988-03-16 1998-02-18 株式会社トプコン 直線性誤差補正機能を有する光波測距装置
US4983021A (en) 1988-08-10 1991-01-08 Fergason James L Modulated retroreflector system
DE3827458C3 (de) 1988-08-12 1998-04-09 Michael H Dipl Ing Korte Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Raumkoordinaten eines beliebigen Meßpunktes
JP2731565B2 (ja) 1989-01-11 1998-03-25 松下電工株式会社 測距センサー
SE500856C2 (sv) 1989-04-06 1994-09-19 Geotronics Ab Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete
GB8909357D0 (en) 1989-04-25 1989-06-14 Renishaw Plc Position determining apparatus
JPH0331715A (ja) 1989-06-29 1991-02-12 Hazama Gumi Ltd 測点の変位自動計測方法及びその装置
US4963832A (en) * 1989-08-08 1990-10-16 At&T Bell Laboratories Erbium-doped fiber amplifier coupling device
IT1238032B (it) * 1990-01-30 1993-06-23 Pirelli Cavi Spa Linea di telecomunicazione a fibre ottiche con canali separati di servizio
GB9003221D0 (en) 1990-02-13 1990-04-11 Optical Measuring Systems Limi Electronic distance measurement
US5440326A (en) 1990-03-21 1995-08-08 Gyration, Inc. Gyroscopic pointer
US5138154A (en) 1990-04-04 1992-08-11 Gyration Inc. Shaft angle encoder with rotating off-axis interference pattern
JPH068733B2 (ja) 1990-07-05 1994-02-02 佐藤工業株式会社 レーザーポジショナー及びこれを用いた定点マーキング方法
DE69119500T2 (de) 1990-07-18 1996-11-14 Spectra Physics Laserplane Inc System und Verfahren zur dreidimensionalen Positionserfassung
US5082364A (en) 1990-08-31 1992-01-21 Russell James T Rf modulated optical beam distance measuring system and method
US5198877A (en) 1990-10-15 1993-03-30 Pixsys, Inc. Method and apparatus for three-dimensional non-contact shape sensing
US5198868A (en) 1990-11-16 1993-03-30 Sato Kogyo Co., Ltd. Laser surveying system having a function of marking reference points
US5121242A (en) 1991-02-04 1992-06-09 Martin Marietta Corporation Retro-reflective optical transceiver
US5175601A (en) 1991-10-15 1992-12-29 Electro-Optical Information Systems High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system
JPH05257005A (ja) 1992-02-06 1993-10-08 Nec Corp 光反射器
DE9205427U1 (zh) 1992-04-21 1992-06-25 Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen, De
JP3132894B2 (ja) 1992-04-24 2001-02-05 工業技術院長 距離測定装置
JP2584875Y2 (ja) 1992-05-26 1998-11-11 株式会社ニコン 光波測距装置
DE4227492A1 (de) 1992-08-20 1994-02-24 Fritz Stahlecker Faserbandführungsvorrichtung für Streckwerke von Spinnereimaschinen
JPH0697288A (ja) 1992-09-09 1994-04-08 Kawasaki Steel Corp 半導体装置の製造方法
US5263103A (en) 1992-11-16 1993-11-16 At&T Bell Laboratories Apparatus comprising a low reflection optical fiber termination
US5331468A (en) 1992-11-27 1994-07-19 Eastman Kodak Company Intensity redistribution for exposure correction in an overfilled symmetrical laser printer
JP3300998B2 (ja) 1992-12-08 2002-07-08 株式会社ソキア 三次元座標測定装置
US5319434A (en) 1992-12-30 1994-06-07 Litton Systems, Inc. Laser rangefinder apparatus with fiber optic interface
US5301005A (en) 1993-02-10 1994-04-05 Spectra-Physics Laserplane, Inc. Method and apparatus for determining the position of a retroreflective element
JP3268608B2 (ja) 1993-02-12 2002-03-25 株式会社トプコン 測量装置
JPH06241802A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Topcon Corp 測量機
US5611147A (en) 1993-02-23 1997-03-18 Faro Technologies, Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US5402582A (en) 1993-02-23 1995-04-04 Faro Technologies Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
JPH06241779A (ja) 1993-02-23 1994-09-02 Toshiba Corp 微小位置決め装置
JPH0665818U (ja) 1993-02-24 1994-09-16 株式会社ニコン 電子レベルシステム
JPH0785016B2 (ja) 1993-03-12 1995-09-13 株式会社愛工社 測量ターゲットおよび送電用鉄塔
US5416321A (en) 1993-04-08 1995-05-16 Coleman Research Corporation Integrated apparatus for mapping and characterizing the chemical composition of surfaces
US5455670A (en) 1993-05-27 1995-10-03 Associated Universities, Inc. Optical electronic distance measuring apparatus with movable mirror
US5392521A (en) 1993-06-10 1995-02-28 Allen; Michael P. Surveyor's prism target
JPH074967A (ja) 1993-06-15 1995-01-10 Nikon Corp 測量装置
US5724264A (en) 1993-07-16 1998-03-03 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object
US5500737A (en) 1993-07-21 1996-03-19 General Electric Company Method for measuring the contour of a surface
JP3307730B2 (ja) 1993-08-30 2002-07-24 浜松ホトニクス株式会社 光学測定装置
US5402193A (en) 1993-08-30 1995-03-28 Optical Gaging Products, Inc. Method and means for projecting images in a contour projector
US5448505A (en) 1993-11-24 1995-09-05 Tbe Boeing Company Feed through dimensional measurement system
US5347306A (en) 1993-12-17 1994-09-13 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Animated electronic meeting place
JPH07190772A (ja) 1993-12-24 1995-07-28 Mitsui Constr Co Ltd 測量装置
US5532816A (en) 1994-03-15 1996-07-02 Stellar Industries, Inc. Laser tracking wheel alignment measurement apparatus and method
SE9402047L (sv) 1994-06-13 1995-12-14 Contractor Tools Ab Förfarande och anordning för fjärrstyrning av en eller flera arbetsmaskiner
DE4438955C2 (de) 1994-10-31 1996-09-26 Swarovski Optik Kg Zielfernrohr
US5594169A (en) 1994-11-04 1997-01-14 Gyration,Inc. Optically sensed wire gyroscope apparatus and system, and methods for manufacture and cursor control
JP2627871B2 (ja) 1994-11-25 1997-07-09 日本鉄道建設公団 三次元測量用ターゲット
US5926388A (en) 1994-12-09 1999-07-20 Kimbrough; Thomas C. System and method for producing a three dimensional relief
JP3599805B2 (ja) 1994-12-09 2004-12-08 株式会社トプコン 測量機
JPH08220232A (ja) 1995-02-08 1996-08-30 Asahi Optical Co Ltd 光波測距装置および光波測距装置における光路切り換え方法
JP3523368B2 (ja) 1995-05-12 2004-04-26 ペンタックス株式会社 光波距離計
US6262801B1 (en) 1995-05-25 2001-07-17 Kabushiki Kaisha Topcon Laser reference level setting device
US5671160A (en) 1995-06-05 1997-09-23 Gcs Properties Position sensing system
JPH0914965A (ja) 1995-06-27 1997-01-17 Nikon Corp 測量用ターゲット
GB9515311D0 (en) 1995-07-26 1995-09-20 3D Scanners Ltd Stripe scanners and methods of scanning
SE504941C2 (sv) 1995-09-14 1997-06-02 Geotronics Ab Förfarande och anordning för inriktning
NO301999B1 (no) 1995-10-12 1998-01-05 Metronor As Kombinasjon av laser tracker og kamerabasert koordinatmåling
JPH09113223A (ja) 1995-10-18 1997-05-02 Fuji Xerox Co Ltd 非接触距離姿勢測定方法及び装置
USD378751S (en) 1995-10-19 1997-04-08 Gyration, Inc. Graphic display controller
DE19542490C1 (de) 1995-11-15 1997-06-05 Leica Ag Elektro-optisches Meßgerät für absolute Distanzen
US5742379A (en) 1995-11-29 1998-04-21 Reifer; Michael H. Device and method for electronically measuring distances
US5867305A (en) * 1996-01-19 1999-02-02 Sdl, Inc. Optical amplifier with high energy levels systems providing high peak powers
US5698784A (en) 1996-01-24 1997-12-16 Gyration, Inc. Vibratory rate gyroscope and methods of assembly and operation
DE19602327C2 (de) 1996-01-24 1999-08-12 Leica Geosystems Ag Meßkugel-Reflektor
JPH09236662A (ja) 1996-02-29 1997-09-09 Ushikata Shokai:Kk 光波距離計
US5825350A (en) 1996-03-13 1998-10-20 Gyration, Inc. Electronic pointing apparatus and method
JP3741477B2 (ja) 1996-03-18 2006-02-01 株式会社トプコン 測量システム
JP3837609B2 (ja) 1996-03-19 2006-10-25 株式会社トプコン レーザー照射装置
DE19614108C1 (de) 1996-04-10 1997-10-23 Fraunhofer Ges Forschung Anordnung zur Vermessung der Koordinaten eines an einem Objekt angebrachten Retroreflektors
JP3200017B2 (ja) * 1996-07-05 2001-08-20 旭光学工業株式会社 電気機器におけるハンドグリップの取り付け構造
US5892575A (en) 1996-05-10 1999-04-06 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for imaging a scene using a light detector operating in non-linear geiger-mode
US6681145B1 (en) 1996-06-06 2004-01-20 The Boeing Company Method for improving the accuracy of machines
JPH102722A (ja) 1996-06-18 1998-01-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 三次元位置計測装置
US5732095A (en) * 1996-09-20 1998-03-24 Hewlett-Packard Company Dual harmonic-wavelength split-frequency laser
US5754284A (en) 1996-10-09 1998-05-19 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical time domain reflectometer with internal reference reflector
DE19643287A1 (de) 1996-10-21 1998-04-23 Leica Ag Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten
US5817243A (en) 1996-10-30 1998-10-06 Shaffer; Wayne K. Method for applying decorative contrast designs to automotive and motorcycle parts using lasers
DE19647152A1 (de) 1996-11-14 1998-05-28 Sick Ag Laserabstandsermittlungsvorrichtung
JP2002511204A (ja) 1997-02-11 2002-04-09 クワンタムビーム リミテッド 信号送受システム
US5886775A (en) 1997-03-12 1999-03-23 M+Ind Noncontact digitizing imaging system
US5957559A (en) 1997-04-29 1999-09-28 Virtek Vision Corporation Laser scanned menu
JP2965938B2 (ja) 1997-05-23 1999-10-18 マック株式会社 自動削孔システム
US5861956A (en) 1997-05-27 1999-01-19 Spatialmetrix Corporation Retroreflector for use with tooling ball
JPH1114361A (ja) * 1997-06-23 1999-01-22 Topcon Corp レーザー測量機のビームアタッチメント
US6330379B1 (en) 1997-08-01 2001-12-11 Jds Uniphase Inc. Cascaded optical switch comprising at least one gate
DE19733491B4 (de) 1997-08-01 2009-04-16 Trimble Jena Gmbh Verfahren zur Zielsuche für geodätische Geräte
US6720949B1 (en) 1997-08-22 2004-04-13 Timothy R. Pryor Man machine interfaces and applications
US6052190A (en) 1997-09-09 2000-04-18 Utoptics, Inc. Highly accurate three-dimensional surface digitizing system and methods
US6017125A (en) 1997-09-12 2000-01-25 The Regents Of The University Of California Bar coded retroreflective target
US6111563A (en) 1997-10-27 2000-08-29 Hines; Stephen P. Cordless retroreflective optical computer mouse
US6344846B1 (en) 1997-10-27 2002-02-05 Stephen P. Hines Optical retroreflective remote control
US6034722A (en) 1997-11-03 2000-03-07 Trimble Navigation Limited Remote control and viewing for a total station
US6171018B1 (en) 1997-11-10 2001-01-09 Kabushiki Kaisha Topcon Automatic control system for construction machinery
JP3805504B2 (ja) * 1997-11-14 2006-08-02 株式会社トプコン 測量機の通信システム
JP3784154B2 (ja) 1997-11-14 2006-06-07 株式会社トプコン 測量機の通信システム
DE69830295T2 (de) 1997-11-27 2005-10-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma Steuerungsverfahren
JP3569426B2 (ja) 1997-12-05 2004-09-22 ペンタックス株式会社 測量用反射部材
TW367407B (en) * 1997-12-22 1999-08-21 Asml Netherlands Bv Interferometer system with two wavelengths, and lithographic apparatus provided with such a system
JPH11218673A (ja) 1998-01-30 1999-08-10 Olympus Optical Co Ltd カメラシステム
JP3941215B2 (ja) 1998-04-16 2007-07-04 株式会社ニコン 測量機及びポイント設定方法
US6317954B1 (en) 1998-05-11 2001-11-20 Vought Aircraft Industries, Inc. System and method for aligning aircraft coordinate systems
US6433866B1 (en) 1998-05-22 2002-08-13 Trimble Navigation, Ltd High precision GPS/RTK and laser machine control
JPH11337642A (ja) 1998-05-26 1999-12-10 Nikon Corp 光波測距装置
US6347290B1 (en) 1998-06-24 2002-02-12 Compaq Information Technologies Group, L.P. Apparatus and method for detecting and executing positional and gesture commands corresponding to movement of handheld computing device
US6573883B1 (en) 1998-06-24 2003-06-03 Hewlett Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for controlling a computing device with gestures
US7353954B1 (en) 1998-07-08 2008-04-08 Charles A. Lemaire Tray flipper and method for parts inspection
US6681031B2 (en) 1998-08-10 2004-01-20 Cybernet Systems Corporation Gesture-controlled interfaces for self-service machines and other applications
US6369794B1 (en) 1998-09-09 2002-04-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Operation indication outputting device for giving operation indication according to type of user's action
JP2000111340A (ja) 1998-10-08 2000-04-18 Topcon Corp 測量機の光通信装置
DE19855296C1 (de) 1998-12-01 2000-08-31 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Entfernungsmessung mittels eines Halbleiterlasers im sichtbaren Wellenlängenbereich nach dem Laufzeitverfahren
US6222465B1 (en) 1998-12-09 2001-04-24 Lucent Technologies Inc. Gesture-based computer interface
JP4088906B2 (ja) 1998-12-16 2008-05-21 株式会社トプコン 測量機の受光装置
JP2000234930A (ja) 1999-02-16 2000-08-29 Topcon Corp 反射プリズム装置
US6100540A (en) 1999-02-22 2000-08-08 Visidyne, Inc. Laser displacement measurement system
JP2000266540A (ja) 1999-03-17 2000-09-29 Topcon Corp 電子レベル
USD427087S (en) 1999-03-19 2000-06-27 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Measurement surveying device
US6630993B1 (en) 1999-03-22 2003-10-07 Arc Second Inc. Method and optical receiver with easy setup means for use in position measurement systems
JP4320099B2 (ja) 1999-03-26 2009-08-26 株式会社トプコン 測量装置
JP4236326B2 (ja) * 1999-03-26 2009-03-11 株式会社トプコン 自動測量機
JP2000284169A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Olympus Optical Co Ltd 測距装置
US7800758B1 (en) 1999-07-23 2010-09-21 Faro Laser Trackers, Llc Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates
JP3467207B2 (ja) * 1999-05-06 2003-11-17 ペンタックス プレシジョン株式会社 測量機の把手装置
AT407202B (de) 1999-06-10 2001-01-25 Perger Andreas Dr Kombinierte fernrohr- und entfernungsmessvorrichtung
JP4206568B2 (ja) 1999-07-01 2009-01-14 株式会社ニコン 自動測量システム
US6766036B1 (en) 1999-07-08 2004-07-20 Timothy R. Pryor Camera based man machine interfaces
JP2001021354A (ja) * 1999-07-09 2001-01-26 Topcon Corp 光学位置検出装置
JP4223634B2 (ja) 1999-07-21 2009-02-12 株式会社 ソキア・トプコン 測量装置
US6490027B1 (en) 1999-07-27 2002-12-03 Suzanne K. Rajchel Reduced noise optical system and method for measuring distance
DE50001460C5 (de) 1999-07-28 2018-12-20 Leica Geosystems Ag Verfahren und anordnung zur bestimmung von räumlichen positionen und orientierungen
GB9923492D0 (en) * 1999-10-06 1999-12-08 Malbon Raymond M A composition for use in adding an additive to a liquid
US6567101B1 (en) 1999-10-13 2003-05-20 Gateway, Inc. System and method utilizing motion input for manipulating a display of data
JP2001165662A (ja) 1999-12-08 2001-06-22 Toshiyasu Kato 反射プリズム等の正対装置
DE10006493C2 (de) 2000-02-14 2002-02-07 Hilti Ag Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
US6501543B2 (en) 2000-02-28 2002-12-31 Arc Second, Inc. Apparatus and method for determining position
CN1095417C (zh) 2000-03-09 2002-12-04 北京邮电大学 三轴近似正交的六自由度并联机构
SE0000850D0 (sv) 2000-03-13 2000-03-13 Pink Solution Ab Recognition arrangement
US6193371B1 (en) 2000-03-27 2001-02-27 Richard Snook Keratometer/pachymeter
JP2001272468A (ja) 2000-03-27 2001-10-05 Nikon Corp 光導波路デバイス及びこれを用いた光波測距装置
JP3658269B2 (ja) 2000-03-29 2005-06-08 株式会社ルネサステクノロジ 固体表面及び半導体製造装置の処理方法並びにそれを用いた半導体装置の製造方法
GB0008303D0 (en) 2000-04-06 2000-05-24 British Aerospace Measurement system and method
DE10022054B4 (de) 2000-05-06 2006-05-24 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Distanzsensor
JP3881498B2 (ja) 2000-05-25 2007-02-14 ペンタックス株式会社 光波測距儀
JP2001353112A (ja) 2000-06-15 2001-12-25 Sanyo Electric Co Ltd 電気掃除機
JP4416925B2 (ja) 2000-07-19 2010-02-17 株式会社トプコン 位置測定設定システム及びそれに使用する受光センサ装置
US6754370B1 (en) 2000-08-14 2004-06-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Real-time structured light range scanning of moving scenes
ATE520042T1 (de) 2000-08-25 2011-08-15 Leica Geosystems Ag Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung
GB0022444D0 (en) 2000-09-13 2000-11-01 Bae Systems Plc Positioning system and method
JP3780836B2 (ja) 2000-09-21 2006-05-31 株式会社大林組 山岳トンネル用マーキング装置の制御方法
US6563569B2 (en) 2000-09-25 2003-05-13 Agency Of Industrial Science & Technology, Ministry Of International Trade & Industry Laser tracking interferometric length measuring instrument and method of measuring length and coordinates using the same
JP2002098762A (ja) 2000-09-26 2002-04-05 Nikon Corp 光波測距装置
JP2004512505A (ja) 2000-09-27 2004-04-22 ギガー，クルト 測距器における信号検知装置および信号検知方法
JP4432246B2 (ja) 2000-09-29 2010-03-17 ソニー株式会社 観客状況判定装置、再生出力制御システム、観客状況判定方法、再生出力制御方法、記録媒体
JP4916899B2 (ja) 2000-10-18 2012-04-18 シャープ株式会社 発光型表示素子
US6668466B1 (en) 2000-10-19 2003-12-30 Sandia Corporation Highly accurate articulated coordinate measuring machine
CN1290850A (zh) 2000-10-31 2001-04-11 上海交通大学 非接触式六自由度运动测量与分析系统
JP2004513443A (ja) 2000-11-02 2004-04-30 エッセンシャル　リアリティー，インコーポレイティド 電子ユーザ装着インタフェイス装置及びそれを使用した方法
JP4767403B2 (ja) 2000-11-06 2011-09-07 本田技研工業株式会社 三次元計測装置および三次元計測方法
EP1211481A3 (de) 2000-11-29 2004-05-19 microSystems GmbH Prüfvorrichtung zum Erkennen der Geometrie und/oder Lage von Bauteilen
ATE392632T1 (de) 2000-11-30 2008-05-15 Geosystems Ag Leica Verfahren und vorrichtung zur frequenzsynthese in einem entfernungsmessgerät
US6650222B2 (en) 2000-12-07 2003-11-18 Cooper Technologies Company Modular fuseholder
JP2002209361A (ja) 2001-01-10 2002-07-26 Canon Electronics Inc モーター
US7031875B2 (en) 2001-01-24 2006-04-18 Geo Vector Corporation Pointing systems for addressing objects
ATE336742T1 (de) 2001-02-02 2006-09-15 Renishaw Plc Messonde für werkzeugmaschine
KR20020097172A (ko) 2001-02-08 2002-12-31 닛폰 고칸 가부시키가이샤 3차원 좌표 계측방법, 3차원 좌표 계측장치 및 대형구조물의 건조방법
US7030861B1 (en) 2001-02-10 2006-04-18 Wayne Carl Westerman System and method for packing multi-touch gestures onto a hand
US6964113B2 (en) 2001-03-06 2005-11-15 Faro Laser Trackers, Llc Scale-bar artifact and methods of use
EP1241436B1 (fr) 2001-03-14 2014-11-19 Tesa Sa Colonne de mesure de dimensions, et procédé permettant d'introduire une commande de changement de mode de mesure dans une telle colonne.
AUPR402501A0 (en) 2001-03-29 2001-04-26 Connolly, Michael Laser levelling apparatus
EP1407291B1 (en) 2001-04-10 2010-12-15 Faro Technologies Inc. Chopper-stabilized absolute distance meter
DE10118392A1 (de) 2001-04-13 2002-11-07 Zeiss Carl System und Verfahren zum Bestimmen einer Position oder/und Orientierung zweier Objekte relativ zueinander sowie Strahlführungsanordnung, Interferometeranordnung und Vorrichtung zum Ändern einer optischen Weglänge zum Einsatz in einem solchen System und Verfahren
US7505119B2 (en) 2001-04-13 2009-03-17 Optical Air Data Systems, Llc Multi-function optical system and assembly
US6598306B2 (en) 2001-04-17 2003-07-29 Homer L. Eaton Self-loading spatial reference point array
KR100421428B1 (ko) 2001-04-24 2004-03-09 한국과학기술원 반사체를 이용한 미소 6자유도 운동 측정 장치
US20030014212A1 (en) 2001-07-12 2003-01-16 Ralston Stuart E. Augmented vision system using wireless communications
US6922599B2 (en) 2001-08-13 2005-07-26 The Boeing Company System and method for producing an assembly by directly implementing three-dimensional computer-aided design component definitions
US6587253B2 (en) 2001-08-16 2003-07-01 Silicon Light Machines Enhance thermal stability through optical segmentation
JP5037765B2 (ja) 2001-09-07 2012-10-03 株式会社トプコン オペレータ誘導システム
AU2002362669A1 (en) 2001-10-11 2003-04-22 Laser Projection Technologies Inc. A Delaware Corporation Method and system for visualizing surface errors
WO2003040673A2 (en) 2001-11-02 2003-05-15 Phipps Jack M Temperature sensor with enhanced ambient air temperature detection
US6879933B2 (en) 2001-11-16 2005-04-12 Faro Technologies, Inc. Method and system for assisting a user taking measurements using a coordinate measurement machine
US6868194B2 (en) 2001-12-19 2005-03-15 General Electric Company Method for the extraction of image features caused by structure light using image reconstruction
DE10200366A1 (de) 2002-01-08 2003-07-17 Zeiss Optronik Gmbh Mehrkanalempfängersystem für winkelaufgelöste Laserentfernungsmessung
EP2275775B1 (en) * 2002-01-16 2015-09-23 Faro Technologies, Inc. Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates
JP3816807B2 (ja) * 2002-01-21 2006-08-30 株式会社トプコン 位置測定装置及びそれに使用する回転レーザ装置
US7535496B2 (en) 2002-01-30 2009-05-19 Intel Corporation Audio-based attention grabber for imaging devices
CN1160654C (zh) 2002-02-07 2004-08-04 天津大学 六自由度测量功能的激光扫描跟踪仪
US6957496B2 (en) 2002-02-14 2005-10-25 Faro Technologies, Inc. Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7246030B2 (en) 2002-02-14 2007-07-17 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US6904691B2 (en) 2002-02-14 2005-06-14 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with improved counter balance
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US7248374B2 (en) 2002-02-22 2007-07-24 Faro Laser Trackers Llc Spherically mounted light source with angle measuring device, tracking system, and method for determining coordinates
WO2003088204A1 (en) 2002-04-12 2003-10-23 Obermeyer Henry K Multi-axis joystick and transducer means therefore
AU2003225029A1 (en) 2002-04-15 2003-11-03 Toolz, Ltd. Distance measurement device
US20030206285A1 (en) 2002-05-06 2003-11-06 Automated Precision, Inc. Nine dimensional laser tracking system and method
US7440590B1 (en) 2002-05-21 2008-10-21 University Of Kentucky Research Foundation System and technique for retrieving depth information about a surface by projecting a composite image of modulated light patterns
DE10235562A1 (de) 2002-08-03 2004-02-19 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
EP1388739A1 (de) 2002-08-09 2004-02-11 HILTI Aktiengesellschaft Laserdistanzmessgerät mit Phasenlaufzeitmessung
US20040035277A1 (en) 2002-08-20 2004-02-26 Hubbs William O. Track and punch SMR marking device
US7230689B2 (en) 2002-08-26 2007-06-12 Lau Kam C Multi-dimensional measuring system
DE10239448A1 (de) 2002-08-28 2005-06-16 Robert Bosch Gmbh Entfernungsmessgerät
US20040041996A1 (en) 2002-08-28 2004-03-04 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder and method
JP2004108939A (ja) 2002-09-18 2004-04-08 Pentax Precision Co Ltd 測量機の遠隔操作システム
SE524329C8 (sv) 2002-09-20 2004-10-20 Trimble Ab Ett positionsstyrarrangemang, speciellt för ett geodektiskt instrument, samt ett geodetiskt instrument
US7765084B2 (en) 2002-09-20 2010-07-27 Trimble A.B. Position control arrangement, especially for a surveying instrument, and a surveying instrument
JP2004144629A (ja) 2002-10-25 2004-05-20 Pentax Precision Co Ltd 測量機
JP4127503B2 (ja) 2002-11-22 2008-07-30 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
JP4255682B2 (ja) 2002-11-22 2009-04-15 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
JP2004170355A (ja) 2002-11-22 2004-06-17 Topcon Corp 反射体自動追尾装置
US7110194B2 (en) 2002-11-27 2006-09-19 Hubbs Machine & Manufacturing Inc. Spherical retro-reflector mount negative
SE525290C2 (sv) 2002-12-20 2005-01-25 Trimble Ab Geodetiskt system för mätning/utsättning och metod för användning av detsamma
US7253891B2 (en) 2003-01-09 2007-08-07 Orbotech Ltd. Method and apparatus for simultaneous 2-D and topographical inspection
JP4104991B2 (ja) 2003-01-16 2008-06-18 株式会社トプコン 光波距離計
EP1588552A1 (en) 2003-01-22 2005-10-26 Nokia Corporation Image control
ITTO20030139A1 (it) 2003-02-27 2004-08-28 Comau Spa Robot industriale
US7286246B2 (en) 2003-03-31 2007-10-23 Mitutoyo Corporation Method and apparatus for non-contact three-dimensional surface measurement
US7233316B2 (en) 2003-05-01 2007-06-19 Thomson Licensing Multimedia user interface
DE10321749B4 (de) 2003-05-09 2018-05-30 Trimble Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der räumlichen Lage und Position eines Reflektorstabes in Bezug zu einem Aufhaltepunkt
JP2004340880A (ja) 2003-05-19 2004-12-02 Soatec Inc レーザ測定装置
JP4301863B2 (ja) 2003-05-21 2009-07-22 株式会社トプコン 測距装置
JP2005010585A (ja) 2003-06-20 2005-01-13 Tdk Corp ホログラフィック光学素子、その製造方法、及びホログラフィック記録システム
CN1297796C (zh) 2003-07-02 2007-01-31 西安交通大学 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置
US7583375B2 (en) 2003-09-05 2009-09-01 Faro Technologies, Inc. Self-compensating laser tracker
JP2007504459A (ja) 2003-09-05 2007-03-01 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 自己補償レーザトラッカ
CA2536232A1 (en) 2003-09-10 2005-03-17 Virtek Laser Systems, Inc. Laser projection systems and methods
DE10344922B4 (de) 2003-09-25 2008-06-26 Siemens Audiologische Technik Gmbh Rundum-Scanner
DE10361870B4 (de) * 2003-12-29 2006-05-04 Faro Technologies Inc., Lake Mary Laserscanner und Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung des Laserscanners
US7384220B2 (en) 2004-01-06 2008-06-10 The Boeing Company Laser-guided coordination hole drilling
JP4832720B2 (ja) 2004-01-29 2011-12-07 株式会社トプコン パルス信号の処理装置、パルス信号の処理方法およびプログラム
JP4177765B2 (ja) 2004-01-30 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
JP4842249B2 (ja) 2004-02-24 2011-12-21 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド ウインドウで覆われた逆反射器
KR100631834B1 (ko) 2004-03-03 2006-10-09 삼성전기주식회사 버튼 조작없이 번호입력이 가능한 휴대폰 및 상기 휴대폰의 번호 입력 방법
DE102004024171A1 (de) 2004-03-09 2005-09-29 Thorsten Beckmann System zum Vermessen und Einrichten von Räumen
JP4438467B2 (ja) 2004-03-19 2010-03-24 アイシン精機株式会社 ３次元測定機におけるワーク温度補正方法
DE202004004945U1 (de) 2004-03-26 2004-10-21 Aua-Map Gmbh Lotstab für Vermessungssysteme
US8320708B2 (en) 2004-04-02 2012-11-27 K-Nfb Reading Technology, Inc. Tilt adjustment for optical character recognition in portable reading machine
WO2005102202A1 (en) 2004-04-26 2005-11-03 Orthosoft Inc. Method for permanent calibration based on actual measurement
JP2005326317A (ja) 2004-05-14 2005-11-24 Sokkia Co Ltd 測量システム
JP4177784B2 (ja) 2004-05-14 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
JP3935897B2 (ja) 2004-06-15 2007-06-27 北陽電機株式会社 光波測距装置
EP1610091A1 (de) * 2004-06-23 2005-12-28 Leica Geosystems AG Scannersystem und Verfahren zur Erfassung von Oberflächen
US7111783B2 (en) 2004-06-25 2006-09-26 Board Of Trustees Operating Michigan State University Automated dimensional inspection
US20060009929A1 (en) 2004-07-06 2006-01-12 Boyette Roger L Jr In-service insulated tank certification
US20060017720A1 (en) 2004-07-15 2006-01-26 Li You F System and method for 3D measurement and surface reconstruction
US6996914B1 (en) 2004-08-09 2006-02-14 Project Consulting Services, Inc. Method and apparatus for best fitting two or more items
US7325326B1 (en) 2004-08-09 2008-02-05 Project Consulting Services, Inc. Method and apparatus for best fitting two or more items
JP2006084460A (ja) 2004-08-18 2006-03-30 Tomohisa Oumoto 指示装置、指示方法、設置情報算出装置、及び設置情報算出方法
JP4501587B2 (ja) 2004-08-18 2010-07-14 富士ゼロックス株式会社 ３次元画像測定装置および方法
US20080316503A1 (en) 2004-09-08 2008-12-25 Smarsh Steven G Automated Inspection Comparator/Shadowgraph System
US7761814B2 (en) 2004-09-13 2010-07-20 Microsoft Corporation Flick gesture
US8130362B2 (en) 2004-09-14 2012-03-06 Nikon Corporation Correction method and exposure apparatus
JP4446850B2 (ja) 2004-09-27 2010-04-07 株式会社トプコン 測量装置用ターゲット
JP4830096B2 (ja) 2004-09-30 2011-12-07 国立大学法人名古屋大学 距離測定装置および距離測定方法
EP1794620B1 (en) 2004-09-30 2014-01-01 Faro Technologies Inc. Absolute distance meter that measures a moving retroreflector
JP4707363B2 (ja) 2004-10-20 2011-06-22 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
DE102004052199A1 (de) 2004-10-20 2006-04-27 Universität Stuttgart Streifenprojektions-Triangulationsanordnung zur dreidimensionalen Objekterfassung, insbesondere auch zur dreidimensionalen Erfassung des Gesichts eines Menschen
WO2006052259A1 (en) 2004-11-11 2006-05-18 Pierre Bierre 3d point location system
US7268893B2 (en) 2004-11-12 2007-09-11 The Boeing Company Optical projection system
EP1659417A1 (de) 2004-11-19 2006-05-24 Leica Geosystems AG Verfahren zur Bestimmung der Ausrichtung eines Ausrichtungsindikators
US8989897B2 (en) 2004-11-19 2015-03-24 Dynalog, Inc. Robot-cell calibration
CN1290850C (zh) 2004-12-07 2006-12-20 王敬勉 银杏叶中银杏内酯b和白果内酯的提取方法
TWM269538U (en) 2004-12-15 2005-07-01 Enhance Prec Electronic Co Ltd Maneuverable multi-media audio/video karaoke device
US7701592B2 (en) 2004-12-17 2010-04-20 The Boeing Company Method and apparatus for combining a targetless optical measurement function and optical projection of information
DE102004061338B4 (de) 2004-12-20 2011-12-29 Steinbichler Optotechnik Gmbh Automatische Bauteilprüfung
US8396329B2 (en) 2004-12-23 2013-03-12 General Electric Company System and method for object measurement
CN101124455B (zh) * 2005-01-12 2012-07-04 特林布尔公司 角度位移的补偿测量
US7388658B2 (en) 2005-01-12 2008-06-17 Trimble Jena Gmbh Inclination detection methods and apparatus
EP1681533A1 (de) 2005-01-14 2006-07-19 Leica Geosystems AG Verfahren und geodätisches Gerät zur Vermessung wenigstens eines Zieles
EP1686350A1 (de) * 2005-01-26 2006-08-02 Leica Geosystems AG Modular erweiterbare geodätische Totalstation
AT501507B1 (de) 2005-01-27 2008-12-15 Joanneum Res Forschungsgesells Verfahren zur mobilen berührungslosen erfassung, sowie ermittlung und auswertung von körper-konturen
CN1815212B (zh) 2005-02-05 2010-06-16 香港中文大学 金属冲压过程中的诊断方法及其设备
JP4648025B2 (ja) 2005-02-09 2011-03-09 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
DE102005007916A1 (de) 2005-02-10 2006-08-17 Hensoldt Ag Zielfernrohr mit einem Entfernungsmesser
WO2006088822A2 (en) 2005-02-14 2006-08-24 Digital Signal Corporation Laser radar system and system and method for providing chirped electromagnetic radiation
JP2006242755A (ja) 2005-03-03 2006-09-14 Sokkia Co Ltd 測量システム
US7751654B2 (en) 2005-03-04 2010-07-06 Cornell Research Foundation, Inc. Electro-optic modulation
CA2656163C (en) 2005-03-11 2011-07-19 Creaform Inc. Auto-referenced system and apparatus for three-dimensional scanning
US7168174B2 (en) 2005-03-14 2007-01-30 Trimble Navigation Limited Method and apparatus for machine element control
EP1703300A1 (de) 2005-03-17 2006-09-20 Leica Geosystems AG Verfahren und System zur Bestimmung von Position und Orientierung eines Objekts
JP5016245B2 (ja) 2005-03-29 2012-09-05 ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト 物体の六つの自由度を求めるための測定システム
EP2105698A1 (en) 2005-04-11 2009-09-30 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate measuring device
US7869944B2 (en) 2005-04-18 2011-01-11 Roof Express, Llc Systems and methods for recording and reporting data collected from a remote location
JP4427486B2 (ja) 2005-05-16 2010-03-10 株式会社東芝 機器操作装置
JP4737668B2 (ja) 2005-05-30 2011-08-03 コニカミノルタセンシング株式会社 ３次元計測方法および３次元計測システム
JP4819403B2 (ja) 2005-06-06 2011-11-24 株式会社トプコン 距離測定装置
JP2006344136A (ja) 2005-06-10 2006-12-21 Fanuc Ltd ロボット制御装置
EP1734336A1 (de) 2005-06-13 2006-12-20 Leica Geosystems AG Geodätisches Zielobjekt und Vermessungssystem
GB0512261D0 (en) 2005-06-16 2005-07-27 Land Instr Int Ltd Retro-reflector assembly and opacity monitor incorporating same
JP4828167B2 (ja) 2005-06-16 2011-11-30 株式会社 ソキア・トプコン 距離測定装置及びその方法
US7613501B2 (en) 2005-06-16 2009-11-03 Best Medical International, Inc. System, tracker, and program product to facilitate and verify proper target alignment for radiation delivery, and related methods
US7804602B2 (en) 2005-06-23 2010-09-28 Faro Technologies, Inc. Apparatus and method for relocating an articulating-arm coordinate measuring machine
US7285793B2 (en) 2005-07-15 2007-10-23 Verisurf Software, Inc. Coordinate tracking system, apparatus and method of use
GB0516276D0 (en) * 2005-08-08 2005-09-14 Crampton Stephen Robust cmm arm with exoskeleton
US8625854B2 (en) * 2005-09-09 2014-01-07 Industrial Research Limited 3D scene scanner and a position and orientation system
ATE504803T1 (de) * 2005-09-12 2011-04-15 Trimble Jena Gmbh Vermessungsinstrument und verfahren zur bereitstellung von vermessungsdaten unter verwendung eines vermessungsinstruments
US7392592B2 (en) 2005-10-07 2008-07-01 Milwaukee Electric Tool Corporation Ruggedized laser level
US7301165B2 (en) 2005-10-24 2007-11-27 General Electric Company Methods and apparatus for inspecting an object
CN101297176B (zh) 2005-10-26 2010-06-09 特里伯耶拿有限公司 测量方法和测量仪器
AU2006336215B2 (en) 2005-11-10 2010-11-11 Optical Air Data Systems, Llc Single aperture multiple optical waveguide transceiver
US7511800B2 (en) * 2005-11-28 2009-03-31 Robert Bosch Company Limited Distance measurement device with short range optics
CN101351684B (zh) 2005-12-02 2013-03-06 特里伯有限公司 测量仪和测量方法
US7480037B2 (en) 2005-12-02 2009-01-20 The Boeing Company System for projecting flaws and inspection locations and associated method
US20080297808A1 (en) 2005-12-06 2008-12-04 Nabeel Agha Riza Optical Sensor For Extreme Environments
JP5187849B2 (ja) 2005-12-09 2013-04-24 トムソン ライセンシング 脱着可能トランシーバを備えた慣性センサ式ポインティング・デバイス
EP2821879A1 (en) 2006-01-06 2015-01-07 Drnc Holdings, Inc. Method for entering commands and/or characters for a portable communication device equipped with a tilt sensor
EP1984710A1 (en) 2006-02-07 2008-10-29 AstraZeneca AB Device and method for spectrometric system
JP5196725B2 (ja) 2006-02-09 2013-05-15 株式会社 ソキア・トプコン 測量機の自動視準装置
TWI287622B (en) 2006-03-02 2007-10-01 Asia Optical Co Inc Phase measurement method and application
JP4904861B2 (ja) 2006-03-14 2012-03-28 ソニー株式会社 体動検出装置、体動検出方法および体動検出プログラム
DE102006013185A1 (de) 2006-03-22 2007-09-27 Refractory Intellectual Property Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Ermittlung der Position und Orientierung einer Meß- oder Reparatureinrichtung und eine nach dem Verfahren arbeitende Vorrichtung
DE102006013290A1 (de) 2006-03-23 2007-09-27 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur optischen Distanzmessung sowie Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung
JP2007256872A (ja) 2006-03-27 2007-10-04 Hitachi Ltd プラズマディスプレイ装置
US7976387B2 (en) 2006-04-11 2011-07-12 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Free-standing input device
JP5127820B2 (ja) 2006-04-20 2013-01-23 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド カメラ利用標的座標計測方法
WO2007124009A2 (en) 2006-04-21 2007-11-01 Faro Technologies, Inc. Camera based six degree-of-freedom target measuring and target tracking device with rotatable mirror
JP5028475B2 (ja) 2006-04-27 2012-09-19 スリーディー スキャナーズ リミテッド 光学走査プローブ
DE202006020299U1 (de) 2006-05-16 2008-04-24 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. 3D-Vermessungsanordnung
JP4380663B2 (ja) 2006-06-08 2009-12-09 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定方法、装置、及びフォーカス調整方法
CN100385197C (zh) * 2006-06-08 2008-04-30 天津世纪动力光电科学仪器有限公司 便携式无导轨结构光三维扫描测量系统及其测量方法
JP2008002995A (ja) 2006-06-23 2008-01-10 Konica Minolta Sensing Inc 三次元形状測定装置
JP4910507B2 (ja) 2006-06-29 2012-04-04 コニカミノルタホールディングス株式会社 顔認証システム及び顔認証方法
JP2008014653A (ja) 2006-07-03 2008-01-24 Pentax Industrial Instruments Co Ltd 測量機
JP2008026120A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Sanyo Electric Co Ltd ラインレーザー装置およびそれを用いたレーザー墨出し器
JP2008027308A (ja) 2006-07-24 2008-02-07 Sharp Corp モード切り替え用摘みユニット
JP4238891B2 (ja) 2006-07-25 2009-03-18 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定システム、三次元形状測定方法
TWI288230B (en) 2006-08-10 2007-10-11 Asia Optical Co Inc Laser ranging system with a shutter mechanism
DE202006014576U1 (de) 2006-08-21 2008-01-03 STABILA Messgeräte Gustav Ullrich GmbH Schutzeinrichtung
CN102073083A (zh) 2006-08-22 2011-05-25 日本电石工业株式会社 三棱锥型立方角回射部件及其制造方法
US7735234B2 (en) 2006-08-31 2010-06-15 Faro Technologies, Inc. Smart probe
US7565216B2 (en) 2006-09-11 2009-07-21 Innovmetric Logiciels Inc. Clearance measurement of manufactured parts
JP5020585B2 (ja) 2006-09-27 2012-09-05 株式会社トプコン 測定システム
US7256899B1 (en) 2006-10-04 2007-08-14 Ivan Faul Wireless methods and systems for three-dimensional non-contact shape sensing
CN101523244B (zh) 2006-10-06 2011-01-26 莱卡地球系统公开股份有限公司 用于回射光照射的目标器件
US8087315B2 (en) 2006-10-10 2012-01-03 Honeywell International Inc. Methods and systems for attaching and detaching a payload device to and from, respectively, a gimbal system without requiring use of a mechanical tool
DE102006049695A1 (de) 2006-10-16 2008-04-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen Erfassen einer dreidimensionalen Kontur
US20080107305A1 (en) 2006-11-02 2008-05-08 Northern Digital Inc. Integrated mapping system
GB0622451D0 (en) 2006-11-10 2006-12-20 Intelligent Earth Ltd Object position and orientation detection device
US8538166B2 (en) 2006-11-21 2013-09-17 Mantisvision Ltd. 3D geometric modeling and 3D video content creation
US8090194B2 (en) 2006-11-21 2012-01-03 Mantis Vision Ltd. 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging
JP4888127B2 (ja) * 2007-01-17 2012-02-29 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元測定装置及び携帯型計測器
WO2008089480A2 (en) 2007-01-19 2008-07-24 Associated Universities, Inc. Fiber optically coupled, multiplexed, and chopped laser rangefinder
JP2008210732A (ja) 2007-02-28 2008-09-11 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子ビーム装置
KR101477481B1 (ko) 2007-03-05 2014-12-30 이노스 오토메이션스소프트웨어 게엠베하 위치 결정 장치 및 방법
WO2008106999A1 (en) 2007-03-08 2008-09-12 Trimble Ab Methods and instruments for estimating target motion
JP5137104B2 (ja) 2007-03-22 2013-02-06 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
US20080246974A1 (en) 2007-03-28 2008-10-09 Jean Laurent Wilson Portable Optical Measurement Assembly
US20080239281A1 (en) 2007-03-30 2008-10-02 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter
CN101652626B (zh) 2007-04-05 2011-07-13 株式会社尼康 形状测定装置及形状测定方法
US8578581B2 (en) 2007-04-16 2013-11-12 Pratt & Whitney Canada Corp. Method of making a part and related system
US7835012B1 (en) 2007-05-01 2010-11-16 Lockheed Martin Corporation Alignment interferometer telescope apparatus and method
EP1990607A1 (de) 2007-05-10 2008-11-12 Leica Geosystems AG Positionsbestimmungsverfahren für ein geodätisches Vermessungsgerät
WO2008154408A1 (en) 2007-06-06 2008-12-18 Tobey Wayland E Modular hybrid snake arm
US7876457B2 (en) 2007-06-13 2011-01-25 Nikon Metrology Nv Laser metrology system and method
JP5244339B2 (ja) 2007-06-20 2013-07-24 株式会社ミツトヨ 追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法
JP2009014639A (ja) 2007-07-09 2009-01-22 Sanyo Electric Co Ltd ビーム照射装置およびレーザレーダ
JP5943547B2 (ja) 2007-08-17 2016-07-05 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーＲｅｎｉｓｈａｗ Ｐｕｂｌｉｃ Ｌｉｍｉｔｅｄ Ｃｏｍｐａｎｙ 非接触測定を行う装置および方法
US10235827B2 (en) 2007-11-09 2019-03-19 Ball Gaming, Inc. Interaction with 3D space in a gaming system
DE102007058692A1 (de) 2007-12-06 2009-06-10 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Versenkbare Griffvorrichtung für eine Tür eines Hausgeräts und Hausgerät mit einer derartigen Griffvorrichtung
AT506110B1 (de) 2007-12-12 2011-08-15 Nextsense Mess Und Pruefsysteme Gmbh Vorrichtung und verfahren zur erfassung von körpermassdaten und konturdaten
JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2013-02-20 株式会社トプコン 測量装置
JP5043630B2 (ja) * 2007-12-18 2012-10-10 株式会社ディスコ レーザー加工機
JP2009156772A (ja) 2007-12-27 2009-07-16 Topcon Corp 測量システム
KR101281328B1 (ko) 2008-01-15 2013-07-03 (주)엘지하우시스 전자파 차폐 시트, 그 제조 방법 및 상기를 포함하는휴대폰
KR100832696B1 (ko) 2008-01-18 2008-05-28 임권현 진공척
US8384997B2 (en) 2008-01-21 2013-02-26 Primesense Ltd Optical pattern projection
US7738083B2 (en) 2008-02-05 2010-06-15 Asia Optical Co., Inc. Distant measurement method and distant measurement system
CN101946156B (zh) 2008-02-12 2012-09-19 特林布尔公司 确定觇标相对于具有摄影机的勘测仪器的坐标
US9189858B2 (en) 2008-02-29 2015-11-17 Trimble Ab Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras
US8978440B2 (en) 2008-02-29 2015-03-17 Trimble Ab Automated calibration of a surveying instrument
WO2009151711A2 (en) 2008-03-21 2009-12-17 Analog Devices, Inc. Management system for mems inertial sensors
CN102037308A (zh) 2008-03-21 2011-04-27 维尔瑞尔逊瑞达克逊科技有限公司 提高自动化精度的外部系统
US20090239581A1 (en) 2008-03-24 2009-09-24 Shu Muk Lee Accelerometer-controlled mobile handheld device
DE102008015499C5 (de) 2008-03-25 2013-01-10 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der 3D-Koordinaten eines Objekts
JP5060358B2 (ja) 2008-03-25 2012-10-31 株式会社トプコン 測量システム
EP2108917B1 (en) 2008-04-07 2012-10-03 Leica Geosystems AG Articulated arm coordinate measuring machine
US8520930B2 (en) 2008-04-18 2013-08-27 3D Scanners Ltd. Method and computer program for improving the dimensional acquisition of an object
DE102008020772A1 (de) 2008-04-21 2009-10-22 Carl Zeiss 3D Metrology Services Gmbh Darstellung von Ergebnissen einer Vermessung von Werkstücken
US8531650B2 (en) 2008-07-08 2013-09-10 Chiaro Technologies LLC Multiple channel locating
USD605959S1 (en) 2008-07-23 2009-12-15 Leica Geosystems Ag Land surveying total station measuring device
US20100025746A1 (en) 2008-07-31 2010-02-04 Micron Technology, Inc. Methods, structures and systems for interconnect structures in an imager sensor device
US20110003507A1 (en) 2008-08-14 2011-01-06 Andrew Llc Multi-shot Connector Assembly and Method of Manufacture
TW201009650A (en) 2008-08-28 2010-03-01 Acer Inc Gesture guide system and method for controlling computer system by gesture
DE202008013217U1 (de) 2008-10-04 2009-04-02 Sick Ag Beleuchtung zur Erzeugung eines Kontrastmusters
US7908757B2 (en) 2008-10-16 2011-03-22 Hexagon Metrology, Inc. Articulating measuring arm with laser scanner
JP2012509464A (ja) 2008-11-17 2012-04-19 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 六自由度計測装置及び方法
US20150331159A1 (en) 2008-11-17 2015-11-19 Faro Technologies, Inc. Markings on glass cube-corner retroreflector and method of measuring retroreflector orientation
US9739595B2 (en) 2008-12-11 2017-08-22 Automated Precision Inc. Multi-dimensional measuring system with measuring instrument having 360° angular working range
CN101750012A (zh) 2008-12-19 2010-06-23 中国科学院沈阳自动化研究所 一种测量物体六维位姿的装置
US8803055B2 (en) 2009-01-09 2014-08-12 Automated Precision Inc. Volumetric error compensation system with laser tracker and active target
JP2010169633A (ja) 2009-01-26 2010-08-05 Nikon Corp 形状測定装置
EP2219011A1 (de) 2009-02-11 2010-08-18 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungsgerät
US8861833B2 (en) 2009-02-18 2014-10-14 International Press Of Boston, Inc. Simultaneous three-dimensional geometry and color texture acquisition using single color camera
AU2010257107B2 (en) 2009-02-20 2015-07-09 Digital Signal Corporation System and method for generating three dimensional images using lidar and video measurements
DK2401575T3 (da) 2009-02-25 2020-03-30 Dental Imaging Technologies Corp Fremgangsmåde og apparatur til generering af en fremvisning af en tredimensional overflade
US8786682B2 (en) 2009-03-05 2014-07-22 Primesense Ltd. Reference image techniques for three-dimensional sensing
EP2226610A1 (de) 2009-03-06 2010-09-08 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungssystem und Verfahren zum Identifizieren einer Zieleinheit mit einem geodätischen Vermessungsgerät
WO2010103482A2 (en) 2009-03-13 2010-09-16 Primesense Ltd. Enhanced 3d interfacing for remote devices
JP2009134761A (ja) 2009-03-16 2009-06-18 Hitachi Ltd 非接触入力インターフェース装置及び情報端末装置
JP2012521005A (ja) 2009-03-19 2012-09-10 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 光学式ゲージ及び３次元表面プロファイル測定方法
US8149390B2 (en) 2009-03-31 2012-04-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy User interface for laser targeting system
US8339616B2 (en) 2009-03-31 2012-12-25 Micrometric Vision Technologies Method and apparatus for high-speed unconstrained three-dimensional digitalization
US8452569B2 (en) 2009-03-31 2013-05-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Laser targeting system
US8717417B2 (en) 2009-04-16 2014-05-06 Primesense Ltd. Three-dimensional mapping and imaging
USD629314S1 (en) 2009-04-23 2010-12-21 Nikon-Trimble Co., Ltd. Electronic tacheometer
JP5395507B2 (ja) 2009-05-21 2014-01-22 キヤノン株式会社 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム
EP2259013B1 (de) * 2009-05-25 2013-11-20 Siemens Aktiengesellschaft Topographische Messung eines Objekts
WO2010148526A1 (de) 2009-06-23 2010-12-29 Leica Geosystem Ag Tracking-verfahren und messsystem mit lasertracker
DE102009035336B3 (de) 2009-07-22 2010-11-18 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9582889B2 (en) 2009-07-30 2017-02-28 Apple Inc. Depth mapping based on pattern matching and stereoscopic information
US8659749B2 (en) 2009-08-07 2014-02-25 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter with optical switch
US7903237B1 (en) 2009-08-13 2011-03-08 Nen-Tsua Li Laser rangefinder with a voice control function
US8565479B2 (en) 2009-08-13 2013-10-22 Primesense Ltd. Extraction of skeletons from 3D maps
JP2011039005A (ja) 2009-08-18 2011-02-24 Topcon Corp 測定装置
US8773514B2 (en) 2009-08-27 2014-07-08 California Institute Of Technology Accurate 3D object reconstruction using a handheld device with a projected light pattern
DE102009040837A1 (de) 2009-09-10 2011-03-17 Carl Zeiss Ag Vorrichtungen und Verfahren zur Positionsbestimmung und Oberflächenvermessung
DE102009040863A1 (de) * 2009-09-10 2011-03-24 Carl Zeiss Ag Vorrichtung, Verfahren und Reflektoranordnung zur Positionsbestimmung
US8379224B1 (en) 2009-09-18 2013-02-19 The Boeing Company Prismatic alignment artifact
US20110069322A1 (en) * 2009-09-21 2011-03-24 Faro Technologies, Inc. Laser pointing mechanism
CN201548192U (zh) 2009-10-19 2010-08-11 天津鼎成高新技术产业有限公司 一种复合运动机构六自由度实时测量装置
US8384760B2 (en) 2009-10-29 2013-02-26 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systems for establishing eye contact through a display
US8112896B2 (en) 2009-11-06 2012-02-14 Hexagon Metrology Ab Articulated arm
US8610761B2 (en) 2009-11-09 2013-12-17 Prohectionworks, Inc. Systems and methods for optically projecting three-dimensional text, images and/or symbols onto three-dimensional objects
US20110109502A1 (en) 2009-11-09 2011-05-12 Sullivan Steven J Apparatus, system and method for displaying construction-related documents
US7894079B1 (en) * 2009-11-09 2011-02-22 Mitutoyo Corporation Linear displacement sensor using a position sensitive photodetector
US8606540B2 (en) 2009-11-10 2013-12-10 Projectionworks, Inc. Hole measurement apparatuses
AT509103B1 (de) 2009-11-16 2012-01-15 Riegl Laser Measurement Sys Verfahren zur stützung der messgenauigkeit von gps/imu-systemen
US8237934B1 (en) 2009-11-18 2012-08-07 The Boeing Company Center marking nest for method of precision locating
US8425059B2 (en) 2009-12-01 2013-04-23 The Boeing Company Low power retro-reflective communications system and method
US8630314B2 (en) * 2010-01-11 2014-01-14 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for synchronizing measurements taken by multiple metrology devices
JP5183833B1 (ja) 2010-01-18 2013-04-17 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 再帰反射器プローブアダプタ装置、レーザ追跡装置で点を測定する方法
US20110178753A1 (en) * 2010-01-20 2011-07-21 Faro Technologies, Inc. Portable Articulated Arm Coordinate Measuring Machine and Integrated Environmental Recorder
WO2011090892A2 (en) 2010-01-20 2011-07-28 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machines with removable accessories
US20110179281A1 (en) 2010-01-20 2011-07-21 Apple Inc. Hash function using a quasi-group operation
CN101776982A (zh) 2010-01-21 2010-07-14 中国传媒大学 一种利用数字罗盘进行便携设备控制的方法
JP5538929B2 (ja) 2010-02-02 2014-07-02 新菱冷熱工業株式会社 三次元位置計測及び墨出しシステムとその使用方法
DE112011100458B4 (de) 2010-02-05 2024-02-01 Trimble Navigation Limited Systeme und Verfahren zur Verarbeitung von Kartierungs- und Modellierungsdaten
GB201003363D0 (en) 2010-03-01 2010-04-14 Renishaw Plc Measurement method and apparatus
US8422034B2 (en) 2010-04-21 2013-04-16 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8537371B2 (en) 2010-04-21 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
ES2817800T3 (es) * 2010-04-22 2021-04-08 Metronor As Sistema de medición óptica
CN101806574B (zh) 2010-04-23 2012-05-30 浙江大学 可重构关节臂式坐标测量机
WO2011134083A1 (en) 2010-04-28 2011-11-03 Ryerson University System and methods for intraoperative guidance feedback
US9014848B2 (en) 2010-05-20 2015-04-21 Irobot Corporation Mobile robot system
US8485668B2 (en) 2010-05-28 2013-07-16 Microsoft Corporation 3D interaction for mobile device
US8583392B2 (en) 2010-06-04 2013-11-12 Apple Inc. Inertial measurement unit calibration system
DE102010024014B4 (de) 2010-06-16 2016-04-21 Trimble Jena Gmbh Ziel für ein geodätisches Gerät
EP2400261A1 (de) 2010-06-21 2011-12-28 Leica Geosystems AG Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche
EP2400379A1 (en) 2010-06-23 2011-12-28 MFA Informatik AG Graphical control of a computer by a user
WO2012023256A2 (en) 2010-08-19 2012-02-23 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus, method for three-dimensional measurement, and computer program
US9021344B2 (en) 2010-08-31 2015-04-28 New River Kinematics, Inc. Off-line graphical user interface system and method for three-dimensional measurement
US9204129B2 (en) 2010-09-15 2015-12-01 Perceptron, Inc. Non-contact sensing system having MEMS-based light source
EP2431708A1 (de) 2010-09-16 2012-03-21 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungssystem mit in einer Fernbedieneinheit integrierter Kamera
US8319979B2 (en) 2010-10-26 2012-11-27 Advanced Measurement Systems Single laser beam measurement system
EP2634530B1 (en) 2010-10-27 2022-05-04 Nikon Corporation Shape measuring device, shape measuring method, and structure manufacturing method
US8938099B2 (en) 2010-12-15 2015-01-20 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus, method of controlling the same, distance measurement apparatus, and storage medium
US8711206B2 (en) 2011-01-31 2014-04-29 Microsoft Corporation Mobile camera localization using depth maps
WO2012112388A1 (en) 2011-02-14 2012-08-23 Faro Technologies, Inc. Cube corner retroreflector for measuring six degrees of freedom
US8902408B2 (en) 2011-02-14 2014-12-02 Faro Technologies Inc. Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector
GB2511236B (en) 2011-03-03 2015-01-28 Faro Tech Inc Target apparatus and method
KR101592982B1 (ko) 2011-03-22 2016-02-12 라이카 게오시스템스 아게 측정 장치와 접촉하지 않고 기능하는 제스처 측정 트리거링을 갖는 전자-광학 거리 측정 장치
US20120242795A1 (en) 2011-03-24 2012-09-27 Paul James Kane Digital 3d camera using periodic illumination
JP5782786B2 (ja) 2011-04-01 2015-09-24 株式会社ニコン 形状測定装置
JP5869281B2 (ja) 2011-04-11 2016-02-24 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ
US8537376B2 (en) 2011-04-15 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Enhanced position detector in laser tracker
US9164173B2 (en) * 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
JP2012225869A (ja) 2011-04-22 2012-11-15 Hitachi Plant Technologies Ltd 計測システム
KR20140034816A (ko) 2011-05-09 2014-03-20 스마트 인스펙션 시스템즈, 엘엘씨 휴대형 광학 측정 검사 시스템
US20130031106A1 (en) 2011-07-29 2013-01-31 Microsoft Corporation Social network powered query suggestions
JP5804881B2 (ja) 2011-09-30 2015-11-04 ビアメカニクス株式会社 直接描画露光装置用半導体レーザモジュール
US9222771B2 (en) 2011-10-17 2015-12-29 Kla-Tencor Corp. Acquisition of information for a construction site
EP2602641B1 (de) 2011-12-06 2014-02-26 Leica Geosystems AG Lasertracker mit positionssensitiven Detektoren zur Suche eines Ziels
US9638507B2 (en) 2012-01-27 2017-05-02 Faro Technologies, Inc. Measurement machine utilizing a barcode to identify an inspection plan for an object
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
GB2527993B (en) 2013-03-15 2018-06-27 Faro Tech Inc Three-Dimensional Coordinate Scanner And Method Of Operation
US9234742B2 (en) 2013-05-01 2016-01-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9402070B2 (en) * 2014-06-12 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device with a six degree-of-freedom handheld probe and integrated camera for augmented reality
US10021379B2 (en) * 2014-06-12 2018-07-10 Faro Technologies, Inc. Six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW381361B (en) * 1998-06-29 2000-02-01 Quarton Inc Calibration method for the optical axis of laser apparatus
CN1608212A (zh) * 2001-08-22 2005-04-20 精密自动化股份有限公司 六维激光跟踪系统及方法
CN101371160A (zh) * 2006-01-13 2009-02-18 莱卡地球系统公开股份有限公司 跟踪方法以及配有激光跟踪仪的测量系统
WO2007123604A1 (en) * 2006-03-30 2007-11-01 Raytheon Company Pointable optical system with coude optics having a short on-gimbal path length
EP2259010A1 (en) * 2008-03-11 2010-12-08 Nikon Corporation Reference sphere detecting device, reference sphere position detecting device, and three-dimensional coordinate measuring device
WO2010148525A1 (de) * 2009-06-23 2010-12-29 Leica Geosystems Ag Koordinatenmessgerät

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110045386A (zh) * 2015-03-27 2019-07-23 伟摩有限责任公司 用于光检测与测距光学对准的方法与系统
US11822022B2 (en) 2015-03-27 2023-11-21 Waymo Llc Methods and systems for LIDAR optics alignment
CN110045386B (zh) * 2015-03-27 2024-01-16 伟摩有限责任公司 用于光检测与测距光学对准的方法与系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN103502842A (zh) 2014-01-08
GB2505354B (en) 2015-11-04
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JP2014515826A (ja) 2014-07-03
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GB201320081D0 (en) 2013-12-25
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GB201320082D0 (en) 2013-12-25
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US8558992B2 (en) 2013-10-15
JP2013538331A (ja) 2013-10-10
JP5723059B2 (ja) 2015-05-27
GB2505353B (en) 2015-05-06
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DE112012001706T5 (de) 2014-01-09
US9207309B2 (en) 2015-12-08
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WO2012142356A1 (en) 2012-10-18
DE112012001712T5 (de) 2014-01-16
JP2014515107A (ja) 2014-06-26
JP2014516410A (ja) 2014-07-10
DE112012001716T5 (de) 2014-01-16
GB2504890A (en) 2014-02-12
US20170030705A1 (en) 2017-02-02
CN103703363A (zh) 2014-04-02
CN103492870A (zh) 2014-01-01
GB2515211B (en) 2015-07-22
WO2012142064A3 (en) 2013-03-14
US9482746B2 (en) 2016-11-01
CN103477188A (zh) 2013-12-25
DE112012001724T5 (de) 2014-01-30
GB2504639B (en) 2015-10-28
WO2012142074A2 (en) 2012-10-18
GB2515211A (en) 2014-12-17
US20120262698A1 (en) 2012-10-18
WO2012141868A1 (en) 2012-10-18
WO2012142384A1 (en) 2012-10-18
GB2505354A (en) 2014-02-26
WO2012142554A1 (en) 2012-10-18
US8681320B2 (en) 2014-03-25
WO2012141888A1 (en) 2012-10-18
JP2014517262A (ja) 2014-07-17
WO2012142063A4 (en) 2013-01-24
JP2014516409A (ja) 2014-07-10
DE112012001705T5 (de) 2014-01-16
US20120262573A1 (en) 2012-10-18
GB2504891B (en) 2014-08-20
GB2504431A (en) 2014-01-29
GB2504433A (en) 2014-01-29
DE112012001714T5 (de) 2014-01-16
US9151830B2 (en) 2015-10-06
US20120262728A1 (en) 2012-10-18
GB201320086D0 (en) 2013-12-25
GB2504431B (en) 2016-01-27
WO2012142062A3 (en) 2013-03-14
DE112012001708B4 (de) 2018-05-09
DE112012001716B4 (de) 2015-10-15
CN103649676A (zh) 2014-03-19
WO2012142356A4 (en) 2013-02-21
GB2504432A (en) 2014-01-29
WO2012142064A2 (en) 2012-10-18
US20120262730A1 (en) 2012-10-18
GB2504433A8 (en) 2014-02-05
DE112012001709B4 (de) 2016-01-21
JP2014514564A (ja) 2014-06-19
US20120262699A1 (en) 2012-10-18
DE112012001714B4 (de) 2015-11-19
GB201320083D0 (en) 2013-12-25
US8842259B2 (en) 2014-09-23
JP5398936B2 (ja) 2014-01-29
US10302413B2 (en) 2019-05-28
GB2506535A (en) 2014-04-02
GB201415359D0 (en) 2014-10-15
JP5868488B2 (ja) 2016-02-24
US20120262692A1 (en) 2012-10-18
JP2014515827A (ja) 2014-07-03
GB201320075D0 (en) 2013-12-25
JP2014514561A (ja) 2014-06-19
US8908154B2 (en) 2014-12-09
US20120262694A1 (en) 2012-10-18
WO2012154322A1 (en) 2012-11-15
DE112012001708T5 (de) 2014-01-16
CN103649673A (zh) 2014-03-19
GB2504432B (en) 2015-12-09
GB201320077D0 (en) 2013-12-25
US8537376B2 (en) 2013-09-17
US20120262697A1 (en) 2012-10-18
JP5554459B2 (ja) 2014-07-23
GB201320079D0 (en) 2013-12-25
DE112012001721B4 (de) 2016-09-08
CN103765238A (zh) 2014-04-30
JP2013534636A (ja) 2013-09-05
CN103492870B (zh) 2015-11-25
CN103703389B (zh) 2015-07-22
GB201320085D0 (en) 2013-12-25

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