JPH1114361A - レーザー測量機のビームアタッチメント - Google Patents

レーザー測量機のビームアタッチメント

Info

Publication number
JPH1114361A
JPH1114361A JP16588597A JP16588597A JPH1114361A JP H1114361 A JPH1114361 A JP H1114361A JP 16588597 A JP16588597 A JP 16588597A JP 16588597 A JP16588597 A JP 16588597A JP H1114361 A JPH1114361 A JP H1114361A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
laser
light
collimating
beam attachment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16588597A
Other languages
English (en)
Inventor
Etsuji Kanbe
悦治 神戸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP16588597A priority Critical patent/JPH1114361A/ja
Publication of JPH1114361A publication Critical patent/JPH1114361A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 対物レンズのほぼ全面を通して太いレーザー
光を視準点に向けて照射するレーザー測量機を用いて、
視準方向にほぼ平行で比較的細いレーザー光を視準点に
向けて照射することを可能にするレーザー測量機のビー
ムアタッチメントを提供する。 【解決手段】 この発明のビームアタッチメントは、対
物レンズ2を通して視準点を観察する視準光学系1を備
え、対物レンズ2を通してレーザー光S1を視準点に向
けて照射するレーザー測量機に用いられ、対物レンズ2
の前面に着脱可能でかつ対物レンズ2から相対的に細い
レーザー光が出射されるようにレーザー光S1の一部の
透過を遮る遮光部30とレーザー光S1の残りを透過さ
せる透過部29とが形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、対物レンズを通して視
準点を観察する視準光学系を備え、対物レンズを通して
レーザー光を視準点に向けて照射するレーザー測量機の
ビームアタッチメントに関する。
【0002】
【従来の技術】レーザー測量機には、対物レンズを通し
て視準点を観察する視準光学系を備え、対物レンズを通
してレーザー光を視準点に向けて照射するものが知られ
ている(特願平8−286419号:平成8年10月2
9日出願参照。)。そのレーザー光は、例えば、視準位
置を指し示すポイントレーザー光として使用される。図
5は視準位置を指し示すポイントレーザー光を出射する
レーザー測量機の視準光学系の光学配置図である。
【0003】その視準光学系1は、対物レンズ2、合焦
レンズ3、正立正像プリズム4、焦点板5、接眼レンズ
6を有する。合焦レンズ3をその視準光学系1の光軸O
に沿って可動させることにより、視準方向前方に存在す
る視準点の像が焦点板5にピントの合った状態で結像さ
れる。その合焦レンズ3と正立正像プリズム4との間に
は偏光ビームスプリッタ7が設けられている。この偏光
ビームスプリッタ7は、半導体レーザー光源8から射出
された直線偏光のレーザー光S1をその反射面7aによ
り対物レンズ2に向けて反射する役割を果たす。その半
導体レーザー光源8と偏光ビームスプリッタ7との間に
は集光レンズ9が存在する。
【0004】そのレーザー光S1は合焦レンズ3により
拡げられて、太い光束とされて対物レンズ2のほぼ全面
を透過して視準点に向けて照射されて視準点に結像さ
れ、通常、その太いレーザー光S1の照射径が大きいほ
どより遠方にレーザーポイントが形成される。そして、
視準点から対物レンズ2に向けて到来する光束は、合焦
レンズ3、偏光ビームスプリッタ7、正立正像プリズム
4を通して焦点板5に結像される。これにより、測量作
業者は視準点を接眼レンズ6を通じて視準できる。ま
た、視準点で反射されたレーザー光も対物レンズ2、合
焦レンズ3、偏光ビームスプリッタ7、正立正像プリズ
ム4を通して焦点板5に導かれ、焦点板5と半導体レー
ザー光源8とが合焦レンズ3に関して共役であるので焦
点板5に結像され、測量業者は視準点と共に視準点を指
し示すレーザーポイントを視準できる。従って、対物レ
ンズ2から出射される太いレーザー光は視準位置を指し
示すポイントレーザー光としての役割を果たす。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、レーザー測
量機には、図6に示すように、レーザー光S2をガイド
光として視準方向に向けて出射する構成のものも知られ
ている。その図6において、9は視準光学系、10はレ
ーザー光源部で、視準光学系9は対物レンズ11、ミラ
ープリズム12、合焦レンズ13、焦点板14、接眼レ
ンズ15を有し、レーザー光源部10はレーザー管1
6、集光レンズ17、合焦レンズ18、反射ミラー19
を有する。レーザー管16から出射された細いレーザー
光S2は集光レンズ17により集光される。合焦レンズ
18は光軸上にレーザー光源の像を形成するように位置
され、すなわち、レーザー光源からのレーザー光束が無
限遠に形成されるように合焦レンズ18は調整される。
合焦レンズ18を透過したレーザー光S2は、反射ミラ
ー19、ミラープリズム12により対物レンズ11に向
けて反射され、その対物レンズ11の中央部から視準方
向に向けてほぼ平行光束として出射される。
【0006】このレーザー光S2をガイド光として視準
方向に向けて出射するレーザー測量機を用いて、合焦レ
ンズ18をその光軸方向に移動させることによりレーザ
ーポイントを視準点に形成することはできるが、視準点
に向けて照射されるレーザー光S2が比較的細いため、
対物レンズ2の全面からレーザー光S1を視準点に向け
て出射させるレーザー測量機に較べて、それほど遠方に
レーザーポイントを形成することができず不便である。
一方、対物レンズ2の全面からレーザー光S1を視準点
に向けて照射するレーザー測量機(図5参照)は、遠方
にレーザーポイントを形成でき、かつ、レーザー光が対
物レンズ2から視準方向に向けて平行に出射されるよう
に合焦レンズ3を調整することができるが、視準方向に
平行な太いレーザー光S1が対物レンズ2の全面から出
射されるため、図5に示すレーザー測量機は、ガイド光
のように視準方向にほぼ平行で比較的細いレーザー光を
必要とする用途には不向きである。
【0007】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、対物レンズのほぼ全面を通して太いレーザー光を
視準点に向けて照射するレーザー測量機を用いて、視準
方向にほぼ平行で比較的細いレーザー光を視準点に向け
て照射することを可能にするレーザー測量機のビームア
タッチメントを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に請求項1に記載のビームアタッチメントは、対物レン
ズを通して視準点を観察する視準光学系を備え、前記対
物レンズを通してレーザー光を前記視準点に向けて照射
するレーザー測量機に用いられ、前記対物レンズの前面
に着脱可能でかつ前記対物レンズから相対的に細いレー
ザー光が出射されるように前記レーザー光の一部の透過
を遮る遮光部と前記レーザー光の残りを透過させる透過
部とが形成されていることを特徴とする。
【0009】請求項2に記載のビームアタッチメント
は、前記透過部が開口からなることを特徴とする。
【0010】請求項3に記載のビームアタッチメント
は、前記開口が前記対物レンズの光軸を中心とする円形
穴であることを特徴とする。
【0011】請求項4に記載のビームアタッチメント
は、前記遮光部がデュアルパスフィルターからなること
を特徴とする。
【0012】請求項5に記載のビームアタッチメント
は、前記遮光部が偏光フィルターからなることを特徴と
する。
【0013】請求項6に記載のビームアタッチメント
は、前記透過部が複数の開口からなることを特徴とす
る。
【0014】請求項7に記載のビームアタッチメント
は、前記視準光学系が望遠鏡の鏡筒の内部に設けられ、
対物レンズの側の端部に着脱可能であることを特徴とす
る。
【0015】請求項8に記載のビームアタッチメント
は、柔軟性のある材料から構成されていることを特徴と
する。
【0016】請求項9に記載のビームアタッチメント
は、前記太いレーザー光が視準方向にほぼ平行な光束で
あることを特徴とする。
【0017】本発明によれば、ビームアタッチメントは
対物レンズの前面に設けられる。このビームアタッチメ
ントは、太いレーザー光の一部の透過を遮り、残りのレ
ーザー光の透過を許容する。合焦レンズを無限遠に調整
して、対物レンズの全面に向けて太いレーザー光を照射
すると、その一部が遮光部で遮られ、残りのレーザー光
が対物レンズを通して視準方向に平行な細いレーザー光
束として視準方向に向けて照射される。透過部が光軸を
中心とする円形穴からなり、かつビームアタッチメント
が対物レンズの前面に着脱可能な場合、対物レンズに照
射された太いレーザー光の周辺部がビームアタッチメン
トの周辺部で遮られ、対物レンズの中央から細いレーザ
ー光が視準方向に出射されるので、ガイド光に利用でき
る。この場合、ビームアタッチメントを装着しない状態
に比べて、視野が暗くなるが、細いレーザー光はビーム
アタッチメントの開口を通して視準することにより確認
できる。
【0018】遮光部がデュアルパスフィルターである場
合、対物レンズから出射されたレーザー光はビームアタ
ッチメントにより遮られるが、視準点から対物レンズに
向けて到来する視準光はデュアルパスフィルターにより
遮らずに対物レンズに入射するため視野はほとんど暗く
ならない。
【0019】遮光部が偏光フィルターである場合、対物
レンズから出射されたレーザー光はその遮光部により遮
られるが、視準点により反射されて対物レンズに到来す
るレーザー光及び対物レンズに到来する視準光は、遮光
部で遮られずに対物レンズに入射するのでデュアルパス
フィルターにより遮光部を形成した場合と同様に視野は
ほとんど暗くならない。
【0020】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係るレーザー測量
機の正面図を示し、図1において、20は基盤部、21
は装置本体部である。装置本体部21は基盤部20に対
して水平面内で回動可能である。その装置本体部21は
表示操作部22、一対の托架部23を有する。一対の托
架部23の頂部には把手24が掛け渡されている。な
お、22aは表示部、22bは操作ボタンである。一対
の托架部23の中間部には、望遠鏡部25が設けられて
いる。望遠鏡部25の鏡筒26には視準光学系が内蔵さ
れている。
【0021】この望遠鏡部25に設けられた視準光学系
は、図5に示す視準光学系1と同一であるが、視準光学
系1の構成、作用について若干補足説明を行うこととす
る。ここでは、レーザー光束S1はS偏光しており、反
射面7aはS偏光を反射し、P偏光を透過させるものと
する。
【0022】半導体レーザー8の配設位置はその集光レ
ンズ9の焦点距離内に存在し、その半導体レーザー8の
発光点と焦点板5とは合焦レンズ3に関して共役であ
る。半導体レーザー8、集光レンズ9は光源収容部27
に設けられる。レーザー光束S1は広がりつつ偏光ビー
ムスプリッタ7に導かれ、その反射面7aで反射されて
合焦レンズ3に導かれ、この合焦レンズ3により更に広
げられて、対物レンズ2により視準点に合焦結像され
る。視準点から対物レンズ2に到来する視準光は合焦レ
ンズ3を通過して偏光ビームスプリッタ7、正立正像プ
リズム4を透過して、焦点板5に結像され、測量作業者
は接眼レンズ6を通じてその焦点板5に結像された視準
光を見ることができる。同時に、視準点において反射さ
れて望遠鏡部25に到来した反射レーザー光も、対物レ
ンズ2、合焦レンズ3を透過して偏光ビームスプリッタ
7に導かれる。視準点に合焦されたレーザー光の反射光
は、その視準点における反射の際に、偏光方向がくずれ
たP偏光成分を有するため、偏光ビームスプリッタ7を
透過して焦点板5に導かれる。半導体レーザー8の発光
点と焦点板5とは合焦レンズ3に関して共役であるの
で、焦点板5に視準点からのレーザーポイントが結像さ
れる。従って、測量作業者は視準点の像と共にレーザー
光ポイントが重なった状態で視準できる。
【0023】このレーザー測量機を用いて、ガイド光を
出射させる場合には図2に示すように望遠鏡部25の鏡
筒26の対物レンズ側の端部26Aにビームアタッチメ
ント28が配置される。このビームアタッチメント28
は透過部としての円形穴(開口)29と遮光部としての
周辺部30と鏡筒26の端部26Aに着脱可能に嵌合さ
れる嵌合筒部31とを有する。円形穴29は光軸Oと同
軸である。ビームアタッチメント28は柔軟性のあるプ
ラスチックから作られており、鏡筒26の端部26Aに
被せて装着するようにできている。
【0024】このものによれば、図3に示すように、対
物レンズ2の前面に配置されたビームアタッチメント2
8の周辺部30によりレーザー光S1の周辺部が遮ら
れ、光軸O(又は視準軸)を中心とする中心部に設けら
れた開口29からレーザー光S1が照射される。この
時、レーザー光S1は開口29の大きさで定義される細
いガイド光となり、ターゲット等の視準点に照射され
る。また、開口29を通してターゲット等を視準するこ
とでレーザー光S1の照射を確認できる。このビームア
タッチメント28は、非常に安価であるから、開口29
の大きさを必要に応じて選択可能なように複数種類用意
することができる。また、開口29の形状は所望に応じ
て円形以外の形状としてもよく、複数個形成してもよ
い。
【0025】なお、この実施例ではビームアタッチメン
ト28を柔軟性のあるプラスチックから構成したが、金
属等の硬質な材料で構成してもよい。
【0026】(変形例)ここでは、図4に示すように、
ビームアタッチメント28は鏡筒27に装着される取付
環32と、レーザー光S1の一部を遮る光学部材33と
から構成されている。光学部材33の中央部34はレー
ザー光S1の残りを透過する透過部となっている。光学
部材33の周辺部35はレーザー光の透過を遮るデュア
ルパスフィルターとなっている。このデュアルパスフィ
ルターは特定の波長帯の光を反射させ、その両側の帯域
の光を透過する。このデュアルパスフィルターはたとえ
ば光学部材33に波長選択膜をコーティングすることに
より形成される。このビームアタッチメント28によれ
ば、デュアルパスフィルターは対物レンズ2に向かって
到来する視準光をほとんど遮らないので、ほとんど視界
が暗くなることがない。
【0027】なお、周辺部35にデュアルパスフィルタ
ーを形成する代わりに、ビームアタッチメント28を偏
光フィルターにより形成しても良い。この変形例の場
合、周辺部35は偏光フィルターからなっているので、
対物レンズ2に到来する視準光及び反射レーザー光を遮
ることほとんどがなく、従って、視界が暗くなるのを防
止でき、周辺部35をデュアルパスフィルターにより形
成したものに較べて反射レーザー光がより多く対物レン
ズ2に向かって透過され、ガイド光の観測が容易とな
る。ただし、この場合、レーザー光の偏光方向とビーム
アタッチメント28の偏光方向とを一致させる必要があ
る。
【0028】
【発明の効果】本発明に係るビームアタッチメントは、
対物レンズの全面からレーザー光を照射するレーザー測
量機に着脱可能なので、レーザー測量機本体を加工する
ことなく、ビームアタッチメントを対物レンズ前面に装
着し、かつ、対物レンズから平行光束が出射されるよう
に視準光学系を無限遠に調整するのみで視準方向に平行
な細いレーザービームが容易に得られる。また、ビーム
アタッチメントを適宜選択することにより、ビーム径及
びビーム形状を簡単に変更できる。さらに、ビームアタ
ッチメントの開口から視準することも妨げられない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るレーザー測量機の正面図であ
る。
【図2】 本発明に係るビームアタッチメントを望遠鏡
部に装着した状態を示し、(a)は正面図、(b)は側
面図である。
【図3】 本発明に係わるレーザービームの照射状態を
示す光学図である。
【図4】 本発明に係るビームアタッチメントの変形例
を示す図で、(a)は断面図、(b)は平面図である。
【図5】 従来のレーザー測量機の視準光学系の一例を
示す図である。
【図6】 従来のレーザー測量機の視準光学系の他の例
を示す図である。
【符号の説明】
1…視準光学系 2…対物レンズ 28…ビームアタッチメント 29…円形穴(透過部) 30…周辺部(遮光部) S1…レーザー光

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対物レンズを通して視準点を観察する視
    準光学系を備え、前記対物レンズを通してレーザー光を
    前記視準点に向けて照射するレーザー測量機に用いら
    れ、前記対物レンズの前面に着脱可能でかつ前記対物レ
    ンズから相対的に細いレーザー光が出射されるように前
    記レーザー光の一部の透過を遮る遮光部と前記レーザー
    光の残りを透過させる透過部とが形成されているビーム
    アタッチメント。
  2. 【請求項2】 前記透過部が開口からなる請求項1に記
    載のビームアタッチメント。
  3. 【請求項3】 前記開口が前記対物レンズの光軸を中心
    とする円形穴である請求項2に記載のビームアタッチメ
    ント。
  4. 【請求項4】 前記遮光部がデュアルパスフィルターか
    らなる請求項1に記載のビームアタッチメント。
  5. 【請求項5】 前記遮光部が偏光フィルターからなる請
    求項1に記載のビームアタッチメント。
  6. 【請求項6】 前記透過部が複数の開口からなる請求項
    1に記載のビームアタッチメント。
  7. 【請求項7】 前記視準光学系が望遠鏡の鏡筒の内部に
    設けられ、前記対物レンズの側の端部に着脱可能である
    請求項1に記載のビームアタッチメント。
  8. 【請求項8】 柔軟性のある材料から構成されている請
    求項1に記載のビームアタッチメント。
  9. 【請求項9】 前記太いレーザー光が視準方向にほぼ平
    行な光束である請求項1ないし請求項8のいずれか1項
    に記載のビームアタッチメント。
JP16588597A 1997-06-23 1997-06-23 レーザー測量機のビームアタッチメント Pending JPH1114361A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16588597A JPH1114361A (ja) 1997-06-23 1997-06-23 レーザー測量機のビームアタッチメント

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16588597A JPH1114361A (ja) 1997-06-23 1997-06-23 レーザー測量機のビームアタッチメント

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1114361A true JPH1114361A (ja) 1999-01-22

Family

ID=15820834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16588597A Pending JPH1114361A (ja) 1997-06-23 1997-06-23 レーザー測量機のビームアタッチメント

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1114361A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014517262A (ja) * 2011-04-15 2014-07-17 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 予配置型且つ可換型の光学ベンチを有するジンバル式装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014517262A (ja) * 2011-04-15 2014-07-17 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 予配置型且つ可換型の光学ベンチを有するジンバル式装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4711541A (en) Slit lamp and accessory device thereof
US4830483A (en) Laser applying apparatus
US5757462A (en) Ophthalmic apparatus for photographing a section of an anterior part of an eye
US4871245A (en) Surgical microscope
JPH0129020B2 (ja)
US4025785A (en) Method of and apparatus for the automatic focusing of stereoscopic microscopes
US4266861A (en) Eye fundus camera
US4183482A (en) Night guiding device for self-propelled missiles
US4712889A (en) Photometer for use with a microscope
JPH03148044A (ja) 顕微分光測定装置
JPH11295067A (ja) 測量機
JPH10132557A (ja) レーザセオドライト
JP2009198205A (ja) 干渉計
JPH1114361A (ja) レーザー測量機のビームアタッチメント
US6190012B1 (en) Cornea shape measuring apparatus
US4611115A (en) Laser etch monitoring system
GB2212040A (en) Light aiming device for medical or dental X-ray equipment
JP2003131116A (ja) 焦点検出装置
JPH08322799A (ja) 眼底カメラ
JP2596898Y2 (ja) 共焦点走査型光学顕微鏡
JPH0788086A (ja) 角膜細胞撮影装置
US4660966A (en) Optical alignment apparatus
JPS61161781A (ja) レ−ザ−調整装置
JP3876613B2 (ja) 光学式変位計および光学式変位計に用いられるビーム変換アタッチメント
JP2011507044A (ja) レーザ・ポインティング・システム