KR20130115266A - Led 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임 - Google Patents

Led 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임 Download PDF

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Abstract

LED 소자 탑재용 리드 프레임(10)은, 프레임체 영역(13)과, 프레임체 영역(13) 내에 다열 및 다단으로 배치된 다수의 패키지 영역(14)을 구비하고 있다. 다수의 패키지 영역(14)은, 각각이 LED 소자(21)가 탑재되는 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)에 인접하는 리드부(26)를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역(15)을 개재하여 접속되어 있다. 하나의 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 상하로 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 경사 보강편(51)에 의해 연결되어 있다.

Description

LED 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임 {LED-ELEMENT MOUNTING LEAD FRAME, RESIN-ATTACHED LEAD FRAME, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR-ELEMENT MOUNTING LEAD FRAME}
본 발명은 LED 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 관한 것이다.
종래, 수지 밀봉형 반도체 장치용의 리드 프레임으로서, 예를 들어 일본 특허 공개 제2001-326316호 공보에 기재된 것이 존재한다. 이러한 리드 프레임에 있어서는, 각 다이 패드 주위에 다수의 단자부가 배치되어 있고, 이들 다수의 단자부와 현수 리드를 연결하는 타이 바가, 종횡으로 격자 형상으로 배치되어 있다.
한편, 최근 들어, LED(발광 다이오드) 소자를 광원으로서 사용하는 조명 장치가, 각종 가전, OA 기기, 차량 기기의 표시등, 일반 조명, 차량 탑재 조명 및 디스플레이 등에 사용되고 있다. 이러한 조명 장치 중에는, 리드 프레임에 LED 소자를 탑재함으로써 제작된 반도체 장치를 포함하는 경우가 있다.
일본 특허 공개 제2001-326316호 공보
LED 소자용의 반도체 장치 또는 디스크리트 반도체 소자용의 반도체 장치에 있어서는, 다이 패드의 주위에, 다이 패드와 리드가 직선상으로 일렬로 배치된 것이 있다. 이러한 반도체 장치에 사용되는 리드 프레임의 경우, 상술한 종래의 리드 프레임과 달리, 종횡의 격자 형상의 타이 바를 형성하지 않고, 서로 인접하는 다이 패드끼리 및 리드부끼리를 연결하는 것이, 1개의 리드 프레임 중의 소자의 실장(imposition) 수를 많게 할 수 있어, 리드 프레임을 효율적으로 제조할 수 있다.
이 경우, 다이 패드와 리드부는, 단락이 발생하지 않도록 이격하여 배치할 필요가 있다. 이로 인해, 각 다이 패드와 각 리드부 사이의 간극이 연결되어, 리드 프레임의 한 변에 평행한, 복수의 가늘고 긴 공간이 발생한다는 문제가 생긴다. 이로 인해, 리드 프레임이 발(bamboo blind) 형상이 되어, 취급할 때에 리드 프레임에 변형이 발생해버릴 우려가 있다.
본 발명은 이러한 점을 고려하여 이루어진 것으로, 다이 패드와 리드부 사이의 간극이 연결되어, 리드 프레임에 가늘고 긴 공간이 발생함으로써 리드 프레임이 발 형상이 되는 것을 방지하고, 취급 시에 변형이 발생하는 것을 방지하는 것이 가능한, LED 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드와 다이 패드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이 패드측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 리드부측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 적어도 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되고, 하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 경사 보강편은, 본체와, 본체 위에 형성된 도금층을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 수지 부착 리드 프레임에 있어서, 리드 프레임과, 리드 프레임의 각 패키지 영역 주연 위에 배치된 반사 수지를 구비한 것을 특징으로 하는 수지 부착 리드 프레임이다.
본 발명은, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 수지 부착 리드 프레임을 준비하는 공정과, 수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내이며 각 다이 패드 위에 LED 소자를 탑재하는 공정과, LED 소자와 각 리드부를 도전부에 의해 접속하는 공정과, 수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내에 밀봉 수지를 충전하는 공정과, 반사 수지 및 리드 프레임을 절단함으로써, 반사 수지 및 리드 프레임을 LED 소자마다 분리하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법이다.
본 발명은, 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드와 다이 패드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이 패드측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 리드부측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 적어도 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되고, 하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명에 따르면, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있으므로, 각 다이 패드와 각 리드부의 사이의 간극이 연결되어, 리드 프레임의 한 변에 대하여 평행한, 복수의 가늘고 긴 공간이 발생하지 않는다. 따라서, 취급 시에 리드 프레임이 변형되는 것을 방지할 수 있다.
본 발명은, LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고, 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 보강편은, 프레임체 영역 내측의 전체 길이에 걸쳐 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 보강편에 의해 연결되어 있지 않은 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 보강편은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부에 각각 연결된 다이 패드 연결부 및 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 각 패키지 영역은, 1개의 다이 패드와, 이 다이 패드의 양측에 위치하는 제1 리드부 및 제2 리드부를 포함하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부와 각각 다이 패드 연결부, 제1 리드 연결부 및 제2 리드 연결부에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부를 연결하고, 상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부를 연결하는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 세로 방향으로 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 일부의 다이싱 영역에 위치하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 당해 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 소정수 걸러 주기적으로 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 불규칙하게 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 보강편은, 본체와, 본체 위에 형성된 도금층을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 수지 부착 리드 프레임에 있어서, 리드 프레임과, 리드 프레임의 각 패키지 영역 주연 위에 배치된 반사 수지를 구비한 것을 특징으로 하는 수지 부착 리드 프레임이다.
본 발명은, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 수지 부착 리드 프레임을 준비하는 공정과, 수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내이며 각 다이 패드 위에 LED 소자를 탑재하는 공정과, LED 소자와 각 리드부를 도전부에 의해 접속하는 공정과, 수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내에 밀봉 수지를 충전하는 공정과, 반사 수지 및 리드 프레임을 절단함으로써, 반사 수지 및 리드 프레임을 LED 소자마다 분리하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법이다.
본 발명은, 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고, 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 보강편은, 프레임체 영역 내측의 전체 길이에 걸쳐 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 보강편에 의해 연결되어 있지 않은 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 보강편은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부에 각각 연결된 다이 패드 연결부 및 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 각 패키지 영역은, 1개의 다이 패드와, 이 다이 패드의 양측에 위치하는 제1 리드부 및 제2 리드부를 포함하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부와 각각 다이 패드 연결부, 제1 리드 연결부 및 제2 리드 연결부에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부를 연결하고, 상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부를 연결하는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서, 프레임체 영역과, 프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고, 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 세로 방향으로 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 일부의 다이싱 영역에 위치하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 당해 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 소정수 걸러 주기적으로 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명은, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 불규칙하게 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임이다.
본 발명에 따르면, 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있으므로, 각 다이 패드와 각 리드부의 사이의 간극이 연결되어, 리드 프레임의 한 변에 대하여 평행한, 복수의 가늘고 긴 공간이 발생하지 않는다. 따라서, 취급 시에 리드 프레임이 변형되는 것을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임을 나타내는 전체 평면도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임을 나타내는 부분 확대 평면도(도 1의 A부 확대도)이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임을 도시하는 단면도(도 2의 B-B선 단면도)이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임에 의해 제작된 반도체 장치를 도시하는 단면도(도 5의 C-C선 단면도)이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임에 의해 제작된 반도체 장치를 도시하는 평면도이다.
도 6은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 제조 방법을 도시하는 도면이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임을 사용하여, 반도체 장치를 제조하는 방법을 도시하는 도면이다.
도 8은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임을 사용하여, 반도체 장치를 제조하는 방법을 도시하는 도면이다.
도 9는 반도체 장치를 제조하는 방법 중, 다이싱 공정을 도시하는 도면이다.
도 10은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-1)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 11은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-2)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 12는 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-3)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 13은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-4)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 14는 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-5)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 15는 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-6)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 16은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-7)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 17은 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 1-8)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 18은 반도체 장치의 변형예(변형예 A)를 도시하는 단면도이다.
도 19는 반도체 장치의 변형예(변형예 B)를 도시하는 단면도이다.
도 20은 반도체 장치의 변형예(변형예 C)를 도시하는 단면도이다.
도 21은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임을 나타내는 전체 평면도이다.
도 22는 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임을 나타내는 부분 확대 평면도(도 21의 D부 확대도)이다.
도 23은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임을 도시하는 단면도(도 22의 E-E선 단면도)이다.
도 24는 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임에 의해 제작된 반도체 장치를 도시하는 단면도(도 25의 F-F선 단면도)이다.
도 25는 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임에 의해 제작된 반도체 장치를 도시하는 평면도이다.
도 26은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 제조 방법을 도시하는 도면이다.
도 27은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임을 사용하여, 반도체 장치를 제조하는 방법을 도시하는 도면이다.
도 28은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임을 사용하여, 반도체 장치를 제조하는 방법을 도시하는 도면이다.
도 29는 반도체 장치를 제조하는 방법 중, 다이싱 공정을 도시하는 도면이다.
도 30은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-1)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 31은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-2)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 32는 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-3)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 33은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-4)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 34는 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-5)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 35는 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-6)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 36은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-7)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 37은 변형예 2-7(도 36)에 의한 리드 프레임을 사용하여 제작된 반도체 장치를 도시하는 개략 평면도이다.
도 38은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-8)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 39는 변형예 2-8(도 38)에 의한 리드 프레임을 사용하여 제작된 반도체 장치를 도시하는 개략 평면도이다.
도 40은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-9)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 41은 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 리드 프레임의 변형예(변형예 2-10)를 나타내는 부분 확대 평면도이다.
도 42는 본 발명의 제3 실시 형태에 의한 리드 프레임을 도시하는 단면도이다.
도 43은 본 발명의 제3 실시 형태에 의한 리드 프레임에 의해 제작된 반도체 장치를 도시하는 단면도이다.
도 44는 본 발명의 제3 실시 형태에 의한 리드 프레임을 사용하여, 반도체 장치를 제조하는 방법을 도시하는 단면도이다.
(제1 실시 형태)
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 제1 실시 형태에 대해 설명한다. 도 1 내지 도 6은 본 발명의 제1 실시 형태를 도시하는 도면이다.
이하, 본 발명의 제1 실시 형태에 대해서 도 1 내지 도 20을 참조하여 설명한다.
리드 프레임의 구성
우선, 도 1 내지 도 3에 의해, 본 실시 형태에 의한 LED 소자 탑재용 리드 프레임의 개략에 대하여 설명한다. 도 1은 본 실시 형태에 의한 리드 프레임의 전체 평면도이며, 도 2는 도 1의 A부 확대도이며, 도 3은 도 2의 B-B선 단면도이다.
도 1에 도시하는 리드 프레임(10)은 LED 소자(21)를 탑재한 반도체 장치(20)(도 4 및 도 5)를 제작할 때에 사용되는 것이다. 이러한 리드 프레임(10)은 직사각 형상의 외형을 갖는 프레임체 영역(13)과, 프레임체 영역(13) 내에 다열 및 다단으로(매트릭스 형상으로) 배치된 다수의 패키지 영역(14)을 구비하고 있다.
도 2에 도시한 바와 같이, 복수의 패키지 영역(14)은, 각각 LED 소자(21)가 탑재되는 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)에 인접하는 리드부(26)를 포함하고 있다. 또한, 복수의 패키지 영역(14)은 서로 다이싱 영역(15)을 개재하여 접속되어 있다.
하나의 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와 리드부(26) 사이에는, 간극이 형성되어 있어, 다이싱된 후, 다이 패드(25)와 리드부(26)는 서로 전기적으로 절연되도록 되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14)은 각각 개개의 반도체 장치(20)에 대응하는 영역이다. 또한, 도 2에서, 각 패키지 영역(14)을 2점 쇄선으로 나타내고 있다.
한편, 다이싱 영역(15)은, 각 패키지 영역(14)의 사이에 종횡으로 연장되어 있다. 이 다이싱 영역(15)은, 후술하는 바와 같이, 반도체 장치(20)를 제조하는 공정에서, 리드 프레임(10)을 패키지 영역(14)마다 분리할 때에 블레이드(38)가 통과하는 영역이 된다. 또한, 도 2에서, 다이싱 영역(15)을 빗금으로 나타내고 있다.
또한, 본 명세서에서, 도 2에 도시한 바와 같이, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 다이 패드(25)를 좌우로 나란히 배치한 경우의 가로 방향이 X 방향에 대응하고, 세로 방향이 Y 방향에 대응한다. 또한 이 경우, Y 방향 플러스측, Y 방향 마이너스측을 각각 상방, 하방이라 하고, X 방향 플러스측, X 방향 마이너스측을 각각 우측 방향, 좌측 방향이라 한다.
도 2에 도시한 바와 같이, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 그 상방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 경사 보강편(51)에 의해 서로 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 그 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 경사 보강편(51)에 의해 서로 연결되어 있다. 각 경사 보강편(51)은 다이싱 영역(15)에 위치하고 있고, 또한 도 2의 X 방향 및 Y 방향 중 어디에 대해서도 경사지도록 배치되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 각각 리드 연결부(52)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각각 다이 패드 연결부(53)에 의해 연결되어 있다. 이들 각 리드 연결부(52) 및 각 다이 패드 연결부(53)는 모두 다이싱 영역(15)에 위치하고 있고, 또한 Y 방향으로 평행하게 배치되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 그 우측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 그 좌측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 각 패키지 영역 연결부(54)는, 다이싱 영역(15)에 위치하고 있고, 또한 X 방향으로 평행하게 배치되어 있다.
또한, 가장 외주에 위치하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26) 및 다이 패드(25)는, 경사 보강편(51), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54) 중 1개 또는 복수에 의해 프레임체 영역(13)에 연결되어 있다.
한편, 도 3의 단면도에 도시한 바와 같이, 리드 프레임(10)은, 리드 프레임 본체(11)와, 리드 프레임 본체(11) 위에 형성된 도금층(12)을 포함하여 이루어져 있다.
이 중 리드 프레임 본체(11)는 금속판을 포함하여 이루어져 있다. 리드 프레임 본체(11)를 구성하는 금속판의 재료로는, 예를 들어 구리, 구리 합금, 42 합금(Ni 42%의 Fe 합금) 등을 들 수 있다. 이 리드 프레임 본체(11)의 두께는, 반도체 장치의 구성에도 의하지만, 0.05mm 내지 0.5mm로 하는 것이 바람직하다.
또한, 도금층(12)은, 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면의 전체에 설치되어 있다. 표면측의 도금층(12)은, LED 소자(21)로부터의 광을 반사하기 위한 반사층으로서 기능한다. 한편, 이면측의 도금층(12)은, 땜납과의 밀착성을 높이는 역할을 한다. 이 도금층(12)은, 예를 들어 은(Ag)의 전해 도금층을 포함하여 이루어져 있다. 도금층(12)은, 그 두께가 매우 얇게 형성되어 있으며, 구체적으로는 0.005㎛ 내지 0.2㎛가 되는 것이 바람직하다. 또한, 도금층(12)은, 반드시 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면의 전체에 설치할 필요는 없고, 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면 중 일부에만 설치해도 된다.
또한, 다이 패드(25)의 이면에 제1 아우터 리드부(27)가 형성되고, 리드부(26)의 저면에 제2 아우터 리드부(28)가 형성되어 있다. 제1 아우터 리드부(27) 및 제2 아우터 리드부(28)는, 각각 반도체 장치(20)와 외부의 배선 기판을 접속할 때에 사용된다.
또한 리드 프레임(10)의 표면에는, 리드 프레임(10)과 반사 수지(23)(후술)의 밀착성을 높이기 위한 홈(18)이 형성되어 있다. 또한, 도 2에서는, 홈(18)의 표시를 생략하고 있다.
반도체 장치의 구성
이어서, 도 4 및 도 5에 의해, 도 1 내지 도 3에 도시하는 리드 프레임을 사용하여 제작된 반도체 장치의 일 실시 형태에 대하여 설명한다. 도 4 및 도 5는 각각 반도체 장치(SON 타입)를 도시하는 단면도 및 평면도이다.
도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 반도체 장치(20)는, (개편화된) 리드 프레임(10)과, 리드 프레임(10)의 다이 패드(25)에 적재된 LED 소자(21)와, LED 소자(21)와 리드 프레임(10)의 리드부(26)를 전기적으로 접속하는 본딩 와이어(도전부)(22)를 구비하고 있다.
또한, LED 소자(21)를 둘러싸도록, 오목부(23a)를 갖는 반사 수지(23)가 설치되어 있다. 이 반사 수지(23)는 리드 프레임(10)과 일체화되어 있다. 또한, LED 소자(21)와 본딩 와이어(22)는 투광성의 밀봉 수지(24)에 의해 밀봉되어 있다. 이 밀봉 수지(24)는 반사 수지(23)의 오목부(23a) 내에 충전되어 있다.
이하, 이러한 반도체 장치(20)를 구성하는 각 구성 부재에 대해서, 순차 설명한다.
LED 소자(21)는 발광층으로서 예를 들어 GaP, GaAs, GaAlAs, GaAsP, AlInGaP 또는 InGaN 등의 화합물 반도체 단결정을 포함하여 이루어지는 재료를 적절히 선택함으로써, 자외광에서부터 적외광에 걸친 발광 파장을 선택할 수 있다. 이러한 LED 소자(21)로는, 종래 일반적으로 사용되고 있는 것을 사용할 수 있다.
또한 LED 소자(21)는, 땜납 또는 다이 본딩 페이스트에 의해, 반사 수지(23)의 오목부(23a) 내에서 다이 패드(25) 위에 고정 실장되어 있다. 또한, 다이 본딩 페이스트를 사용하는 경우, 내광성이 있는 에폭시 수지나 실리콘 수지를 포함하여 이루어지는 다이 본딩 페이스트를 선택하는 것이 가능하다.
본딩 와이어(22)는, 예를 들어 금 등의 도전성이 좋은 재료를 포함하여 이루어지고, 그 일단부가 LED 소자(21)의 단자부(21a)에 접속됨과 함께, 그 타단이 리드부(26) 위에 접속되어 있다.
반사 수지(23)는, 예를 들어 리드 프레임(10) 위에 열가소성 수지를 예를 들어 사출 성형 또는 트랜스퍼 성형함으로써 형성된 것이다. 반사 수지(23)의 형상은, 사출 성형 또는 트랜스퍼 성형에 사용하는 금형의 설계에 의해, 다양하게 실현하는 것이 가능하다. 예를 들어, 반사 수지(23)의 전체 형상을, 도 4 및 도 5에 도시하는 바와 같이 직육면체로 해도 되고, 또는 원통형 또는 뿔형 등의 형상으로 하는 것도 가능하다. 또한 오목부(23a)의 저면은, 직사각형, 원형, 타원형 또는 다각형 등으로 할 수 있다. 오목부(23a)의 측벽의 단면 형상은, 도 4와 같이 직선으로 구성되어 있어도 되고, 또는 곡선으로 구성되어 있어도 된다.
반사 수지(23)에 사용되는 열가소성 수지에 대해서는, 특히 내열성, 내후성 및 기계적 강도가 우수한 것을 선택하는 것이 바람직하다. 열가소성 수지의 종류로는, 폴리아미드, 폴리프탈아미드, 폴리페닐렌술피드, 액정 중합체, 폴리에테르술폰, 실리콘, 에폭시, 폴리에테르이미드, 폴리우레탄 및 폴리부틸렌테레프탈레이트 등을 사용할 수 있다. 또한, 이들 수지 중에 광 반사제로서, 이산화티타늄, 이산화지르코늄, 티타늄산칼륨, 질화알루미늄 및 질화붕소 중 어느 하나를 첨가함으로써, 오목부(23a)의 저면 및 측면에서, 발광 소자로부터의 광의 반사율을 증대시켜, 반도체 장치(20) 전체의 광 취출 효율을 증대시키는 것이 가능하게 된다.
밀봉 수지(24)로는, 광의 취출 효율을 향상시키기 위해서, 반도체 장치(20)의 발광 파장에 있어서 광투과율이 높고, 또한 굴절률이 높은 재료를 선택하는 것이 바람직하다. 따라서 내열성, 내후성 및 기계적 강도가 높은 특성을 만족하는 수지로서, 에폭시 수지나 실리콘 수지를 선택하는 것이 가능하다. 특히, LED 소자(21)로서 고휘도 LED를 사용하는 경우, 밀봉 수지(24)가 강한 광에 노출되기 때문에, 밀봉 수지(24)는 높은 내후성을 갖는 실리콘 수지를 포함하여 이루어지는 것이 바람직하다.
또한, 리드 프레임(10)의 구성에 대해서는, 도 1 내지 도 3을 사용하여 이미 설명했으므로, 여기에서는 상세한 설명을 생략한다.
LED 소자 탑재용 리드 프레임의 제조 방법
이어서, 도 1 내지 도 3에 도시하는 리드 프레임(10)의 제조 방법에 대해서, 도 6의 (a) 내지 (f)를 사용하여 설명한다.
우선 도 6의 (a)에 도시한 바와 같이, 평판 형상의 금속 기판(31)을 준비한다. 이 금속 기판(31)으로는, 상술한 바와 같이 구리, 구리 합금, 42 합금(Ni 42%의 Fe 합금) 등을 포함하여 이루어지는 금속 기판을 사용할 수 있다. 또한 금속 기판(31)은 그 양면에 대하여 탈지 등을 행하고, 세정 처리를 실시한 것을 사용하는 것이 바람직하다.
이어서, 금속 기판(31)의 표리 전체에 각각 감광성 레지스트(32a, 33a)를 도포하고, 이것을 건조한다(도 6의 (b)). 또한 감광성 레지스트(32a, 33a)로는, 종래 공지된 것을 사용할 수 있다.
계속해서, 이 금속 기판(31)에 대하여 포토마스크를 통해 노광하고 현상함으로써, 원하는 개구부(32b, 33b)를 갖는 에칭용 레지스트층(32, 33)을 형성한다(도 6의 (c)).
이어서, 에칭용 레지스트층(32, 33)을 내부식 막으로 해서 금속 기판(31)에 부식액으로 에칭을 실시한다(도 6의 (d)). 부식액은, 사용하는 금속 기판(31)의 재질에 따라서 적절히 선택할 수 있으며, 예를 들어 금속 기판(31)으로서 구리를 사용하는 경우, 통상, 염화제2철 수용액을 사용하여, 금속 기판(31)의 양면으로부터 스프레이 에칭으로 행할 수 있다.
계속해서, 에칭용 레지스트층(32, 33)을 박리하여 제거함으로써, 리드 프레임 본체(11)가 얻어진다(도 6의 (e)). 또한 이때, 도 2에 도시하는 경사 보강편(51), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)가 에칭에 의해 형성된다.
이어서, 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면에 전해 도금을 실시함으로써, 리드 프레임 본체(11) 위에 금속(은)을 석출시켜, 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면에 도금층(12)을 형성한다(도 6의 (f)). 이 경우, 경사 보강편(51), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)가, 모두 본체(리드 프레임 본체(11))와, 본체 위에 형성된 도금층(12)을 포함하여 이루어져 있으므로, 이들 경사 보강편(51), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)의 강도를 높일 수 있다.
그 사이에, 구체적으로는, 예를 들어 전해 탈지 공정, 산 세정 공정, 화학 연마 공정, 구리 스트라이크 공정, 수세 공정, 중성 탈지 공정, 시안 세정 공정 및 은 도금 공정을 순차 거침으로써, 리드 프레임 본체(11)에 도금층(12)을 형성한다. 이 경우, 은 도금 공정에서 사용되는 전해 도금용의 도금액으로는, 예를 들어 시안화은을 주성분으로 한 은 도금액을 들 수 있다. 실제의 공정에서는, 각 공정간에 필요에 따라 적절히 수세 공정을 첨가한다. 또한, 상기 공정 도중에 패터닝 공정을 개재시킴으로써, 리드 프레임 본체(11)의 일부에 도금층(12)을 형성해도 된다.
이와 같이 하여, 도 1 내지 도 3에 도시하는 리드 프레임(10)이 얻어진다(도 6의 (f)).
또한, 도 6의 (a) 내지 (f)에서, 에칭에 의해 리드 프레임(10)을 제조하는 방법을 나타냈지만, 프레스에 의한 제조 방법을 사용해도 된다.
반도체 장치의 제조 방법
이어서, 도 4 및 도 5에 도시하는 반도체 장치(20)의 제조 방법에 대해서, 도 7의 (a) 내지 (d), 도 8의 (a) 내지 (e) 및 도 9의 (a) 내지 (b)를 사용하여 설명한다.
우선 상술한 공정에 의해(도 6의 (a) 내지 (f)), 리드 프레임(10)을 제작한다(도 7의 (a)).
계속해서, 이 리드 프레임(10)을, 사출 성형기 또는 트랜스퍼 성형기(도시하지 않음)의 금형(35) 내에 장착한다(도 7의 (b)). 금형(35) 내에는, 반사 수지(23)의 형상에 대응하는 공간(35a)이 형성되어 있다.
이어서, 사출 성형기 또는 트랜스퍼 성형기의 수지 공급부(도시하지 않음)로부터 금형(35) 내에 열가소성 수지를 유입하고, 그 후 경화시킴으로써, 리드 프레임(10)의 도금층(12) 위에 반사 수지(23)를 형성한다(도 7의 (c)).
계속해서, 반사 수지(23)가 형성된 리드 프레임(10)을 금형(35) 내로부터 꺼낸다. 이와 같이 하여, 반사 수지(23)와 리드 프레임(10)이 일체로 형성된 수지 부착 리드 프레임(30)이 얻어진다(도 7의 (d)). 본 실시 형태에서, 이와 같이, 리드 프레임(10)과, 리드 프레임(10)의 각 패키지 영역(14)의 주연 위에 배치된 반사 수지(23)를 구비한 수지 부착 리드 프레임(30)도 제공한다.
이어서, 수지 부착 리드 프레임(30)의 각 반사 수지(23) 내이며, 리드 프레임(10)의 다이 패드(25) 위에 LED 소자(21)를 탑재한다. 이 경우, 땜납 또는 다이 본딩 페이스트를 사용하여, LED 소자(21)를 다이 패드(25) 위에 적재하여 고정한다(다이 어태치 공정)(도 8의 (a)).
이어서, LED 소자(21)의 단자부(21a)와 리드부(26) 표면을, 본딩 와이어(22)에 의해 서로 전기적으로 접속한다(와이어 본딩 공정)(도 8의 (b)).
그 후, 반사 수지(23)의 오목부(23a) 내에 밀봉 수지(24)를 충전하고, 밀봉 수지(24)에 의해 LED 소자(21)와 본딩 와이어(22)를 밀봉한다(도 8의 (c)).
이어서, 반사 수지(23) 및 리드 프레임(10) 중 다이싱 영역(15)에 대응하는 부분을 절단함으로써, 반사 수지(23) 및 리드 프레임(10)을 LED 소자(21)마다 분리한다(다이싱 공정)(도 8의 (d)). 이때, 우선 리드 프레임(10)을 다이싱 테이프(37) 위에 적재하여 고정하고, 그 후, 예를 들어 다이아몬드 지석 등으로 이루어지는 블레이드(38)에 의해, 각 LED 소자(21) 사이의 반사 수지(23), 및 리드 프레임(10)의 경사 보강편(51), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)를 절단한다.
이때, 도 9의 (a)에 도시한 바와 같이, 다이싱 영역(15)의 폭에 대응하는 상대적으로 두꺼운 블레이드(38)에 의해 리드 프레임(10)을 절단해도 된다. 이 경우, 1회의 절단 작업으로, 인접하는 패키지 영역(14)끼리를 효율적으로 분리할 수 있다. 또는, 도 9의 (b)에 도시한 바와 같이, 다이싱 영역(15)의 폭보다 좁은 상대적으로 얇은 블레이드(38)를 사용하여, 2회의 절단 작업에 의해 리드 프레임(10)을 절단해도 된다. 이 경우, 1회의 절단 작업당의 블레이드(38)의 이송 속도를 빨리할 수 있고, 또한 블레이드(38)의 수명을 길게 할 수 있다.
이와 같이 하여, 도 4 및 도 5에 도시하는 반도체 장치(20)를 얻을 수 있다(도 8의 (e)).
이상 설명한 바와 같이 본 실시 형태에 의하면, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 경사 보강편(51)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 따라서, 리드 프레임(10)의 상하 방향을 따라서 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(10)이 상하 방향으로 발 형상이 되지 않는다. 이에 의해, 취급 시에 리드 프레임(10)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 리드 연결부(52)에 의해 연결되고, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와 다이 패드 연결부(53)에 의해 연결되어 있다. 따라서, 리드 프레임(10)의 좌우 방향을 따라 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(10)이 좌우 방향으로 발 형상이 되지 않는다. 이에 의해, 취급 시에 리드 프레임(10)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
이와 같이, 리드 프레임(10)의 변형을 방지함으로써, 리드 프레임(10)에 반사 수지(23)를 형성할 때(도 7의 (b), (c)), 리드 프레임(10)에 대한 반사 수지(23)의 형성 위치가 어긋나지 않는다. 따라서, 작은 패키지 영역(14)에 대하여 대면적의 LED 소자(21)를 탑재하거나, 복수의 LED 소자(21)를 탑재하거나, 또는 LED 소자(21) 이외에 정전 파괴 소자를 탑재하는 것도 용이해진다.
또한, 본 실시 형태에 의하면, 각 패키지 영역(14)의 주위에 종횡의 타이 바를 설치할 필요가 없기 때문에, 각 패키지 영역(14)끼리를 접근시켜 배치할 수 있고, 리드 프레임(10)당의 패키지 영역(14)의 취득 개수를 증가시킬 수 있다(고밀도 실장이 가능하게 된다).
또한, 본 실시 형태에 의하면, 각 패키지 영역(14)의 코너부에 현수 리드 등의 커넥팅 바가 존재하지 않으므로, 반도체 장치(20)의 코너부에서, 반사 수지(23)가 리드 프레임(10)으로부터 박리할 우려가 없어, 반도체 장치(20)의 신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.
리드 프레임의 변형예
이하, 본 실시 형태에 의한 리드 프레임의 각종 변형예(변형예 1-1 내지 변형예 1-8)에 대해서, 도 10 내지 도 17을 참조하여 설명한다. 도 10 내지 도 17은, 각각 리드 프레임의 변형예를 나타내는 부분 확대 평면도(도 2에 대응하는 도)이다. 도 10 내지 도 17에서, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 동일 부분에는 동일한 부호를 부여하고, 상세한 설명은 생략한다.
변형예 1-1
도 10은 본 실시 형태의 하나의 변형예(변형예 1-1)에 의한 리드 프레임(10A)을 나타내고 있다. 도 10에 도시하는 리드 프레임(10A)에 있어서, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 달리, 다이 패드(25)끼리를 연결하는 다이 패드 연결부(53)는 설치되어 있지 않다.
즉 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 상방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 경사 보강편(51)에 의해 연결되고, 우측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있지만, 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와는 직접 연결되어 있지 않다.
이와 같이, 다이 패드 연결부(53)를 설치하지 않음으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 대략 동일하다.
변형예 1-2
도 11은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-2)에 의한 리드 프레임(10B)을 나타내고 있다. 도 11에 도시하는 리드 프레임(10B)에 있어서, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 달리, 리드부(26)끼리를 연결하는 리드 연결부(52)는 설치되어 있지 않다.
즉 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와 경사 보강편(51)에 의해 연결되고, 좌측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있지만, 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와는 직접 연결되어 있지 않다.
이와 같이, 리드 연결부(52)를 설치하지 않음으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 대략 동일하다.
변형예 1-3
도 12는 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-3)에 의한 리드 프레임(10C)을 나타내고 있다. 도 12에 나타내는 리드 프레임(10C)에 있어서, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 달리, 각 패키지 영역(14)은 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)를 갖고 있다(3pin 타입).
이 경우, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 상방에 인접하는 패키지 영역(14)(제1 패키지 영역) 내의 제1 리드부(26a)는, 제1 경사 보강편(51a)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 하방에 인접하는 패키지 영역(14)(각 패키지 영역(14)에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역) 내의 제2 리드부(26b)는, 제2 경사 보강편(51b)에 의해 연결되어 있다. 또한, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)은 모두 다이싱 영역(15)에 위치하고 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14)(제1 패키지 영역 및 제2 패키지 영역) 내의 다이 패드(25)와, 각각 다이 패드 연결부(53)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14)(제1 패키지 영역 및 제2 패키지 영역) 내의 제1 리드부(26a)와, 각각 제1 리드 연결부(52a)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14)(제1 패키지 영역 및 제2 패키지 영역) 내의 제2 리드부(26b)와, 각각 제2 리드 연결부(52b)에 의해 연결되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는 그 우측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 그 좌측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다.
이와 같이, 각 패키지 영역(14)이 다이 패드(25)와 한 쌍의 리드부(26a, 26b)를 갖는 경우에도, 리드 프레임(10C)이 발 형상으로 되는 것을 방지하여, 취급 시에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
변형예 1-4
도 13은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-4)에 의한 리드 프레임(10D)을 나타내고 있다. 도 13에 나타내는 리드 프레임(10D)에 있어서, 도 12에 나타내는 변형예 1-3과 달리, 다이 패드(25)끼리를 연결하는 다이 패드 연결부(53)는 설치되어 있지 않다.
즉 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 상방에 인접하는 다른 패키지 영역(14)(제1 패키지 영역) 내의 제1 리드부(26a)와 제1 경사 보강편(51a)에 의해 연결되고, 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14)(제2 패키지 영역) 내의 제2 리드부(26b)와 제2 경사 보강편(51b)에 의해 연결되어 있다. 한편, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14)(제1 패키지 영역 및 제2 패키지 영역) 내의 다이 패드(25)와는 직접 연결되어 있지 않다.
이와 같이, 다이 패드 연결부(53)를 설치하지 않음으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 12에 나타내는 변형예 1-3과 대략 동일하다.
변형예 1-5
도 14는 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-5)에 의한 리드 프레임(10E)을 나타내고 있다. 도 14에 도시하는 리드 프레임(10E)에 있어서, 도 12에 나타내는 변형예 1-3과 달리, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)이 연결된 다이 패드(25)와, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)이 연결되어 있지 않은 다이 패드(25)가 상하 방향 1개 간격으로 설치되어 있다.
예를 들어, 도 14에서, 패키지 영역(14(14b))의 다이 패드(25)에는, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)이 모두 연결되어 있지 않다. 이에 반해, 패키지 영역(14(14b))의 상방에 인접하는 패키지 영역(14(14a))과, 패키지 영역(14(14b))의 하방에 인접하는 패키지 영역(14(14c))에는, 각각 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)이 연결되어 있다.
이와 같이, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)의 수를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 12에 나타내는 변형예 1-3과 대략 동일하다.
변형예 1-6
도 15는 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-6)에 의한 리드 프레임(10F)을 나타내고 있다. 도 15에 도시하는 리드 프레임(10F)에 있어서, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 달리, 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)는 설치되어 있지 않다.
이 경우, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 상방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 제1 경사 보강편(51a)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 각 패키지 영역(14)의 상방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 제2 경사 보강편(51b)에 의해 연결되어 있다. 또한, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)은 모두 다이싱 영역(15)에 위치하고 있다. 또한, 제1 경사 보강편(51a) 및 제2 경사 보강편(51b)은, 서로 교차함으로써 X자 형상을 이루고 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 제2 경사 보강편(51b)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 각 패키지 영역(14)의 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 제1 경사 보강편(51a)에 의해 연결되어 있다.
이와 같이, 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)를 설치하지 않음으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태와 대략 동일하다.
변형예 1-7
도 16은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-7)에 의한 리드 프레임(10G)을 나타내고 있다. 도 16에 나타내는 리드 프레임(10G)에 있어서, 도 15에 도시하는 변형예 1-6과 달리, 패키지 영역 연결부(54)는 설치되어 있지 않다.
이 경우, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 다이 패드(25)측(우측)에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)에, 다이싱 영역(15)에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편(55a, 55b)에 의해 연결되어 있다. 즉, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 추가 경사 보강편(55a)에 의해 우측 경사 상방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)에 연결되고, 추가 경사 보강편(55b)에 의해 우측 경사 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)에 연결되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 리드부(26)측(좌측)에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)에, 다이싱 영역(15)에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편(55b, 55a)에 의해 연결되어 있다. 즉, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 좌측 경사 상방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)에 추가 경사 보강편(55b)에 의해 연결되고, 좌측 경사 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)에 추가 경사 보강편(55a)에 의해 연결되어 있다. 그 외의 구성은, 도 15에 도시하는 변형예 1-6과 대략 동일하다.
변형예 1-8
도 17은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 1-8)에 의한 리드 프레임(10H)을 나타내고 있다. 도 17에 나타내는 리드 프레임(10H)에 있어서, 도 16에 나타내는 변형예 1-7과 달리, 각 패키지 영역(14)은, 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b))를 갖고 있다.
이 경우, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 상방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 제1 경사 보강편(51a)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 제2 경사 보강편(51b)에 의해 연결되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 상방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 제3 경사 보강편(51c)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각 패키지 영역(14)의 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 제4 경사 보강편(51d)에 의해 연결되어 있다.
각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 제1 리드부(26a)측(좌측)에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)에, 각각 다이싱 영역(15)에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편(55b, 55a)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)에, 각각 제2 경사 보강편(51b) 및 제1 경사 보강편(51a)에 의해 연결되어 있다.
각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 제2 리드부(26b)측(우측)에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)에, 각각 다이싱 영역(15)에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편(55a, 55b)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)에, 각각 제4 경사 보강편(51d) 및 제3 경사 보강편(51c)에 의해 연결되어 있다.
이상, 도 10 내지 도 17에 나타내는 리드 프레임(변형예 1-1 내지 변형예 1-8)에 대해서도, 상술한 도 1 내지 도 9에 나타내는 실시 형태의 효과와 대략 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다.
반도체 장치의 변형예
이어서, 본 실시 형태에 의한 반도체 장치의 변형예(변형예 A 내지 변형예 C)에 대해서, 도 18 내지 도 20을 참조하여 설명한다. 도 18 내지 도 20은 각각 반도체 장치의 변형예를 도시하는 단면도(도 4에 대응하는 도)이다. 도 18 내지 도 20에서, 도 4 및 도 5에 도시하는 실시 형태와 동일 부분에는 동일한 부호를 부여하고, 상세한 설명은 생략한다.
변형예 A
도 18은 본 실시 형태의 일 변형예(3pin 타입)에 의한 반도체 장치(20A)를 나타내고 있다. 도 18에 나타내는 반도체 장치(20A)에 있어서, 리드 프레임(10)은 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b))를 갖고 있다.
또한, LED 소자(21)는 한 쌍의 단자부(21a)를 갖고 있으며, 이 한 쌍의 단자부(21a)는, 각각 본딩 와이어(22)를 개재하여 제1 리드부(26a) 및 제2 리드부(26b)에 접속되어 있다. 이 경우, 리드 프레임(10)으로는, 예를 들어 도 12, 도 13, 도 14 또는 도 17에 나타내는 것(리드 프레임(10C, 10D, 10E, 10H))을 사용할 수 있다. 그 외의 구성은 상술한 도 4 및 도 5에 도시하는 반도체 장치(20)와 대략 동일하다.
변형예 B
도 19는 본 실시 형태의 일 변형예(렌즈 부착 일괄 몰드 타입)에 의한 반도체 장치(20B)를 나타내고 있다. 도 19에 나타내는 반도체 장치(20B)에 있어서, 반사 수지(23)는 다이 패드(25)와 리드부(26) 사이에 충전되어 있다. 한편, 도 4 및 도 5에 도시하는 반도체 장치(20)와 달리, 리드 프레임(10) 상에는 반사 수지(23)가 설치되어 있지 않다.
또한 도 19에서, LED 소자(21)는, 본딩 와이어(22) 대신에, 땜납 볼(도전부)(41a, 41b)에 의해 리드 프레임(10)에 접속되어 있다. 즉, 땜납 볼(41a, 41b) 중, 한쪽의 땜납 볼(41a)은 다이 패드(25)에 접속되고, 다른 쪽의 땜납 볼(41b)은 리드부(26)에 접속되어 있다. 또한, 도 19에서, 밀봉 수지(24)의 표면에, LED 소자(21)로부터의 광의 조사 방향을 제어하는 돔 형상의 렌즈(61)가 형성되어 있다.
변형예 C
도 20은 본 실시 형태의 일 변형예(일괄 몰드 타입)에 의한 반도체 장치(20C)를 나타내고 있다. 도 20에 나타내는 반도체 장치(20C)에 있어서, 반사 수지(23)를 사용하지 않고, 밀봉 수지(24)에 의해서만 LED 소자(21)와 본딩 와이어(22)가 일괄 밀봉되어 있다. 또한, 다이 패드(25)와 리드부(26) 사이에는, 밀봉 수지(24)가 충전되어 있다.
(제2 실시 형태)
이어서, 도 21 내지 도 41을 참조하여 본 발명의 제2 실시 형태에 대하여 설명한다. 도 21 내지 도 41은 본 발명의 제2 실시 형태를 도시하는 도면이다. 도 21 내지 도 41에서, 제1 실시 형태와 동일 부분에는 동일한 부호를 부여하여 상세한 설명은 생략한다.
리드 프레임의 구성
우선, 도 21 내지 도 23에 의해, 본 실시 형태에 의한 LED 소자 탑재용 리드 프레임의 개략에 대하여 설명한다. 도 21은 본 실시 형태에 의한 리드 프레임의 전체 평면도이며, 도 22는 도 21의 D부 확대도이며, 도 23은 도 22의 E-E선 단면도이다.
도 21 내지 도 23에 나타내는 리드 프레임(70)은, LED 소자(21)를 탑재한 반도체 장치(80)(도 24 및 도 25)를 제작할 때에 사용되는 것이다. 이러한 리드 프레임(70)은, 직사각 형상의 외형을 갖는 프레임체 영역(13)과, 프레임체 영역(13) 내에 다열 및 다단으로(매트릭스 형상에) 배치된 다수의 패키지 영역(14)을 구비하고 있다.
도 22에 도시한 바와 같이, 복수의 패키지 영역(14)은, 각각 LED 소자(21)가 탑재되는 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)에 인접하는 리드부(26)를 포함하고 있다. 또한, 복수의 패키지 영역(14)은, 서로 다이싱 영역(15)을 개재하여 접속되어 있다.
하나의 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와 리드부(26) 사이에는, 간극이 형성되어 있고, 다이싱된 후, 다이 패드(25)와 리드부(26)는 서로 전기적으로 절연되도록 되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14)은, 각각 개개의 반도체 장치(80)에 대응하는 영역이다. 또한, 도 22에서, 각 패키지 영역(14)을 2점 쇄선으로 나타내고 있다.
한편, 다이싱 영역(15)은, 각 패키지 영역(14) 사이에 종횡으로 연장되어 있다. 이 다이싱 영역(15)은 후술하는 바와 같이, 반도체 장치(80)를 제조하는 공정에서, 리드 프레임(70)을 패키지 영역(14)마다 분리할 때에 블레이드(38)가 통과하는 영역이 된다. 또한, 도 22에서, 다이싱 영역(15)을 빗금으로 나타내고 있다.
도 22에 도시한 바와 같이, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 각각 리드 연결부(52)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각각 다이 패드 연결부(53)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 이들 각 리드 연결부(52) 및 각 다이 패드 연결부(53)는 Y 방향에 대하여 평행하게 배치되어 있다.
또한, 각 다이 패드 연결부(53) 및 각 리드 연결부(52)는 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다. 이 경우, 보강편(57)은 X 방향에 대하여 평행하게 배치되어 있고, 프레임체 영역(13) 내측의 전체 길이에 걸쳐 일직선상으로 연장되어, 복수의 다이 패드 연결부(53) 및 복수의 리드 연결부(52)를 연결하고 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 그 우측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 그 좌측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 각 패키지 영역 연결부(54)는 X 방향에 대하여 평행하게 배치되어 있다.
또한, 가장 외주에 위치하는 패키지 영역(14) 내의 리드부(26) 및 다이 패드(25)는, 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54) 중 1개 또는 복수에 의해, 프레임체 영역(13)에 연결되어 있다.
또한, 도 21 내지 도 23에서, 리드 프레임 본체(11) 및 도금층(12)의 구성은, 제1 실시 형태에서의 것과 마찬가지이므로, 여기서는 설명을 생략한다.
반도체 장치의 구성
이어서, 도 24 및 도 25에 의해, 도 21 내지 도 23에 나타내는 리드 프레임을 사용하여 제작된 반도체 장치의 제2 실시 형태에 대하여 설명한다. 도 24 및 도 25는 각각 반도체 장치(SON 타입)를 도시하는 단면도 및 평면도이다.
도 24 및 도 25에 도시한 바와 같이, 반도체 장치(80)는 (개편화된) 리드 프레임(70)과, 리드 프레임(70)의 다이 패드(25)에 적재된 LED 소자(21)와, LED 소자(21)와 리드 프레임(70)의 리드부(26)를 전기적으로 접속하는 본딩 와이어(도전부)(22)를 구비하고 있다.
또한, LED 소자(21)를 둘러싸도록, 오목부(23a)를 갖는 반사 수지(23)가 설치되어 있다. 이 반사 수지(23)는, 리드 프레임(70)과 일체화되어 있다. 또한, LED 소자(21)와 본딩 와이어(22)는, 투광성의 밀봉 수지(24)에 의해 밀봉되어 있다. 이 밀봉 수지(24)는, 반사 수지(23)의 오목부(23a) 내에 충전되어 있다.
이러한 반도체 장치(80)를 구성하는, LED 소자(21), 본딩 와이어(22), 반사 수지(23) 및 밀봉 수지(24)의 구성은, 제1 실시 형태에서의 것과 마찬가지이므로, 여기서는 설명을 생략한다.
LED 소자 탑재용 리드 프레임 및 반도체 장치의 제조 방법
이어서, 도 21 내지 도 23에 나타내는 리드 프레임(70) 및 도 24 및 도 25에 나타내는 반도체 장치(80)의 제조 방법에 대해서, 도 26 내지 도 29를 사용하여 설명한다. 또한, 도 26 내지 도 28에 나타내는 제조 방법은, 도 6 내지 도 8에 나타내는 제조 방법과 대략 마찬가지이므로, 이하에서는 일부 설명을 생략한다.
우선, 평판 형상의 금속 기판(31)을 준비한다(도 26의 (a)). 이어서, 이 금속 기판(31)의 표리 전체에 각각 감광성 레지스트(32a, 33a)를 도포하고, 이것을 건조한다(도 26의 (b)).
계속해서, 이 금속 기판(31)에 대하여 포토마스크를 통해 노광하고 현상함으로써, 원하는 개구부(32b, 33b)를 갖는 에칭용 레지스트층(32, 33)을 형성한다(도 26의 (c)). 이어서, 에칭용 레지스트층(32, 33)을 내부식 막으로 해서 금속 기판(31)에 부식액으로 에칭을 실시한다(도 26의 (d)).
계속해서, 에칭용 레지스트층(32, 33)을 박리하여 제거함으로써, 리드 프레임 본체(11)가 얻어진다(도 26의 (e)). 또한 이때, 도 22에 나타내는 보강편(57), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)가 에칭에 의해 형성된다.
이어서, 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면에 전해 도금을 실시함으로써, 리드 프레임 본체(11) 위에 금속(은)을 석출시켜서, 리드 프레임 본체(11)의 표면 및 이면에 도금층(12)을 형성한다(도 26의 (f)). 이 경우, 보강편(57), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)가 모두 본체(리드 프레임 본체(11))와, 본체 위에 형성된 도금층(12)을 포함하여 이루어지고 있으므로, 이들 보강편(57), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)의 강도를 높일 수 있다.
이와 같이 하여, 도 21 내지 도 23에 나타내는 리드 프레임(70)이 얻어진다(도 26의 (f)).
계속해서, 이와 같이 하여 얻어진 리드 프레임(70)을(도 27의 (a)), 사출 성형기 또는 트랜스퍼 성형기(도시하지 않음)의 금형(35) 내에 장착한다(도 27의 (b)). 그 후, 금형(35) 내에 열가소성 수지를 유입하여 경화시킴으로써, 리드 프레임(70)의 도금층(12) 위에 반사 수지(23)가 형성된다(도 27의 (c)).
계속해서, 반사 수지(23)가 형성된 리드 프레임(70)을 금형(35) 내로부터 꺼냄으로써 수지 부착 리드 프레임이 얻어진다(도 27의 (d)). 본 실시 형태에서, 이와 같이, 리드 프레임(10)과, 리드 프레임(10)의 각 패키지 영역(14)의 주연 위에 배치된 반사 수지(23)를 구비한 수지 부착 리드 프레임(90)도 제공한다.
이어서, 수지 부착 리드 프레임(90)의 각 반사 수지(23) 내이며, 리드 프레임(70)의 다이 패드(25) 위에 LED 소자(21)를 탑재한다(도 28의 (a)).
이어서, LED 소자(21)의 단자부(21a)와, 리드부(26) 표면을, 본딩 와이어(22)에 의해 서로 전기적으로 접속한다(도 28의 (b)).
그 후, 반사 수지(23)의 오목부(23a) 내에 밀봉 수지(24)를 충전하고, 밀봉 수지(24)에 의해 LED 소자(21)와 본딩 와이어(22)를 밀봉한다(도 28의 (c)).
이어서, 반사 수지(23) 및 리드 프레임(70) 중 다이싱 영역(15)을 절단함으로써, 반사 수지(23) 및 리드 프레임(70)을 LED 소자(21)마다 분리한다(도 28의 (d)). 이때, 우선 리드 프레임(70)을 다이싱 테이프(37) 위에 적재하여 고정한다. 그 후, 예를 들어 다이아몬드 지석 등으로 이루어지는 블레이드(38)에 의해, 각 LED 소자(21) 사이에 위치하는 반사 수지(23), 및 리드 프레임(70)의 보강편(57), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)를 각각 절단한다.
이때, 도 29의 (a)에 도시한 바와 같이, 다이싱 영역(15)의 폭에 대응하는 상대적으로 두꺼운 블레이드(38)에 의해 리드 프레임(70)을 절단해도 된다. 즉, 블레이드(38)를 리드 프레임(70)의 보강편(57)을 따라 이동하여, 보강편(57)과, 보강편(57) 주위에 위치하는 각 리드 연결부(52) 및 각 다이 패드 연결부(53)를 통합해서 절단한다. 이 경우, 1회의 절단 작업으로, 인접하는 패키지 영역(14)끼리를 효율적으로 분리할 수 있다.
또는, 도 29의 (b)에 도시한 바와 같이, 다이싱 영역(15)의 폭보다 좁은 상대적으로 얇은 블레이드(38)를 사용하여, 2회의 절단 작업에 의해 리드 프레임(70)을 절단해도 된다. 즉, 블레이드(38)를 리드 프레임(70)의 보강편(57)에 대하여 평행하게 이동하여, 보강편(57)을 직접 절단하지 않고, 보강편(57) 주위에 위치하는 각 리드 연결부(52) 및 각 다이 패드 연결부(53)를 절단한다. 이 경우, 1회의 절단 작업당의 블레이드(38)의 이송 속도를 빠르게 할 수 있음과 함께, 블레이드(38)의 수명을 길게 할 수 있다.
이와 같이 하여, 도 24 및 도 25에 나타내는 반도체 장치(80)를 얻을 수 있다(도 28의 (e)).
이상 설명한 바와 같이 본 실시 형태에 의하면, 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 따라서, 리드 프레임(70)의 상하 방향을 따라서 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(70)이 상하 방향으로 발 형상이 되지 않는다. 이에 의해, 취급 시에 리드 프레임(70)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)와 리드 연결부(52)에 의해 연결되고, 또한 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와 다이 패드 연결부(53)에 의해 연결되어 있다. 따라서, 리드 프레임(70)의 좌우 방향을 따라 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(70)이 좌우 방향으로 발 형상이 되지 않는다. 이에 의해, 취급 시에 리드 프레임(70)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
이와 같이, 리드 프레임(70)의 변형을 방지함으로써, 리드 프레임(70)에 반사 수지(23)를 형성할 때(도 27의 (b), (c)), 리드 프레임(70)에 대한 반사 수지(23)의 형성 위치가 어긋나지 않는다. 따라서, 작은 패키지 영역(14)에 대하여 대면적의 LED 소자(21)를 탑재하거나, 복수의 LED 소자(21)를 탑재하거나, 또는 LED 소자(21) 이외에 정전 파괴 소자를 탑재하는 것도 용이해진다.
또한, 본 실시 형태에 의하면, 각 패키지 영역(14)의 주위에 종횡의 타이 바를 설치할 필요가 없기 때문에, 각 패키지 영역(14)끼리를 접근시켜 배치할 수 있고, 리드 프레임(70)당의 패키지 영역(14)의 취득 개수를 증가시킬 수 있다(고밀도 실장이 가능하게 된다).
또한, 본 실시 형태에 의하면, 각 패키지 영역(14)의 코너부에 현수 리드 등의 커넥팅 바가 존재하지 않으므로, 반도체 장치(80)의 코너부에 있어서, 반사 수지(23)가 리드 프레임(70)으로부터 박리할 우려가 없어, 반도체 장치(80)의 신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.
리드 프레임의 변형예
이하, 본 실시 형태에 의한 리드 프레임의 각종 변형예(변형예 2-1 내지 변형예 2-6)에 대해서, 도 30 내지 도 35를 참조하여 설명한다. 도 30 내지 도 35는 각각 리드 프레임의 변형예를 나타내는 부분 확대 평면도(도 2에 대응하는 도)이다. 도 30 내지 도 35에서, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 동일 부분에는 동일한 부호를 부여하고, 상세한 설명은 생략한다.
변형예 2-1
도 30은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-1)에 의한 리드 프레임(70A)을 나타내고 있다. 도 30에 나타내는 리드 프레임(70A)에서, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 달리, 각 패키지 영역(14)은 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)를 갖고 있다(3pin 타입).
이 경우, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)와, 각 패키지 영역(14)의 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 각각 제1 리드 연결부(52a)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)와, 각 패키지 영역(14)의 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 각각 제2 리드 연결부(52b)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 각각 다이 패드 연결부(53)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 또한, 다이 패드 연결부(53), 제1 리드 연결부(52a) 및 제2 리드 연결부(52b)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다. 이 경우, 보강편(57)은, 프레임체 영역(13) 내측의 전체 길이에 걸쳐 일직선상으로 연장되어, 복수의 다이 패드 연결부(53), 복수의 제1 리드 연결부(52a) 및 복수의 제2 리드 연결부(52b)를 연결하고 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 그 우측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 그 좌측 방향에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)와, 패키지 영역 연결부(54)에 의해 연결되어 있다.
이와 같이, 각 패키지 영역(14)이 다이 패드(25)와 한 쌍의 리드부(26a, 26b)를 갖는 경우에도, 보강편(57)이 설치되어 있음으로써, 리드 프레임(70A)의 상하 방향을 따라서 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(70A)이 발 형상으로 되는 것을 방지할 수 있어, 취급 시에 리드 프레임(70A)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
변형예 2-2
도 31은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-2)에 의한 리드 프레임(70B)을 나타내고 있다. 도 31에 나타내는 리드 프레임(70B)에 있어서, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 달리, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)과, 보강편(57)이 설치되어 있지 않은 다이싱 영역(15)이 상하 방향 교대로 배치되어 있다.
즉, 도 31에서, 패키지 영역(14(14b))에서 보아 상방에 인접하는 패키지 영역(14(14a))을 제1 패키지 영역(14a)으로 하고, 패키지 영역(14(14b))에서 보아 하방에 인접하는 패키지 영역(14(14c))을 제2 패키지 영역(14c)으로 한다.
이 경우, 패키지 영역(14b) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)와, 제1 패키지 영역(14a) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)를 각각 연결하는 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다. 한편, 패키지 영역(14b) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)와, 제2 패키지 영역(14c) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)를 각각 연결하는 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)는, 보강편(57)에 의해 연결되어 있지 않다.
이와 같이, 보강편(57)의 수를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 대략 동일하다.
또한, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치되어 있지 않은 다이싱 영역(15)의 폭(Wa)을, 보강편(57)이 설치되어 있는 다이싱 영역(15)의 폭(Wb)보다 좁게 하는 것이 바람직하다(Wa<Wb). 이 경우, 1개의 리드 프레임(70)당의 패키지 영역(14)의 취득 개수를 증가시킬 수 있다. 또한, 상대적으로 얇은 블레이드(38)를 사용하여 다이싱 영역(15)을 절단할 경우에는(도 29의 (b)), 보강편(57)이 설치되어 있지 않은 다이싱 영역(15)은 1회의 절단 작업으로 절단할 수 있으므로, 절단 작업의 횟수를 저감시킬 수 있다.
변형예 2-3
도 32는 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-3)에 의한 리드 프레임(70C)을 나타내고 있다. 도 32에 나타내는 리드 프레임(70C)은, 도 30에 나타내는 변형예 2-1과, 도 31에 나타내는 변형예 2-2를 조합한 것이다.
도 32에서, 각 패키지 영역(14)은, 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)를 갖고 있다(3pin 타입).
또한, 도 32에서, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)과, 보강편(57)이 설치되어 있지 않은 다이싱 영역(15)이 상하 방향 교대로 존재하고 있다.
즉, 도 32에서, 하나의 패키지 영역(14(14b)) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26a, 26b)와, 이 패키지 영역(14(14b))의 상방에 인접하는 제1 패키지 영역(14(14a)) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26a, 26b)를 각각 연결하는 다이 패드 연결부(53), 제1 리드 연결부(52a) 및 제2 리드 연결부(52b)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다.
한편, 하나의 패키지 영역(14(14b)) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26a, 26b)와, 이 패키지 영역(14(14b))의 하방에 인접하는 제2 패키지 영역(14(14c)) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26a, 26b)를 각각 연결하는 다이 패드 연결부(53), 제1 리드 연결부(52a) 및 제2 리드 연결부(52b)는, 보강편(57)에 의해 연결되어 있지 않다.
그 외의 구성은, 도 30에 나타내는 변형예 2-1 및 도 31에 나타내는 변형예 2-2와 대략 동일하다.
변형예 2-4
도 33은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-4)에 의한 리드 프레임(70D)을 나타내고 있다. 도 33에 나타내는 리드 프레임(70D)에 있어서, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 달리, 보강편(57)은 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)에 각각 연결된 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)간에만 연장되어, 이들 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)를 연결하고 있다.
즉, 하나의 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)와, 이 패키지 영역(14)의 상방(또는 하방)에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26)는, 각각 리드 연결부(52) 및 다이 패드 연결부(53)에 의해 연결되어 있다. 이 경우, 보강편(57)은 이들 리드 연결부(52)와 다이 패드 연결부(53)간에만 연장되어, 리드 연결부(52)와 다이 패드 연결부(53)를 연결하고 있다. 한편, 보강편(57)은, 리드 연결부(52)의 좌측 방향과, 다이 패드 연결부(53)의 우측 방향으로는 각각 연장되어 있지 않다.
이와 같이, 다이싱 영역(15)에서의 보강편(57)의 전체적인 길이를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 대략 동일하다.
변형예 2-5
도 34는 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-5)에 의한 리드 프레임(70E)을 나타내고 있다. 도 34에 나타내는 리드 프레임(70E)은, 도 30에 나타내는 변형예 2-1과, 도 33에 나타내는 변형예 2-4를 조합한 것이다.
도 34에서, 각 패키지 영역(14)은, 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)를 갖고 있다(3pin 타입).
또한, 도 34에서, 보강편(57)은, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25) 및 리드부(26a, 26b)에 각각 연결된 제1 리드 연결부(52a), 다이 패드 연결부(53) 및 제2 리드 연결부(52b)간에만 연장되어, 이들 제1 리드 연결부(52a), 다이 패드 연결부(53) 및 제2 리드 연결부(52b)를 연결하고 있다.
이와 같이, 다이싱 영역(15)에서의 보강편(57)의 전체적인 길이를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 30에 나타내는 변형예 2-1 및 도 33에 나타내는 변형예 2-4와 대략 동일하다.
변형예 2-6
도 35는 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-6)에 의한 리드 프레임(70F)을 나타내고 있다. 도 35에 나타내는 리드 프레임(70F)에 있어서, 각 패키지 영역(14)은 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b))를 갖고 있다(3pin 타입).
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25), 제1 리드부(26a) 및 제2 리드부(26b)는, 상하에 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25), 제1 리드부(26a) 및 제2 리드부(26b)와 각각 다이 패드 연결부(53), 제1 리드 연결부(52a) 및 제2 리드 연결부(52b)에 의해 연결되어 있다.
도 35에 도시한 바와 같이, 다이 패드 연결부(53) 및 제1 리드 연결부(52a)만을 연결하는 보강편(57)과, 다이 패드 연결부(53) 및 제2 리드 연결부(52b)만을 연결하는 보강편(57)이 상하 방향 1개 간격으로 설치되어 있다.
즉, 도 35에서, 패키지 영역(14(14b))에서 보아 상방에 인접하는 패키지 영역(14(14a))을 제1 패키지 영역(14a)으로 하고, 패키지 영역(14(14b))에서 보아 하방에 인접하는 패키지 영역(14(14c))을 제2 패키지 영역(14c)으로 한다.
이 경우, 패키지 영역(14b)과 제1 패키지 영역(14a) 사이의 다이싱 영역(15)에 있어서, 보강편(57)은 다이 패드 연결부(53) 및 제1 리드 연결부(52a)간에만 연장되어, 다이 패드 연결부(53) 및 제1 리드 연결부(52a)만을 연결하고 있다.
한편, 패키지 영역(14b)과 제2 패키지 영역(14c) 사이의 다이싱 영역(15)에 있어서, 보강편(57)은 다이 패드 연결부(53) 및 제2 리드 연결부(52b)간에만 연장되어, 다이 패드 연결부(53) 및 제2 리드 연결부(52b)만을 연결하고 있다.
이와 같이, 보강편(57)의 수를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 34에 나타내는 변형예 2-5와 대략 동일하다.
본 실시 형태의 보강편을 적용할 수 있는 리드 프레임의 다른 예로는, 도 36에 나타내는 리드 프레임(70G)(변형예 2-7)과 같이, 각 패키지 영역(14) 내에 2개의 다이 패드(25a, 25b)(이하, 제1 다이 패드부(25a), 제2 다이 패드부(25b)라고도 함)와, 다이 패드(25a, 25b)의 양측에 인접하여 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)를 갖고 있는 4pin 타입의 형태나, 도 38에 나타내는 리드 프레임(70H)(변형예 2-8)과 같이 각 패키지 영역(14) 내에 1개의 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 한쪽 측에 인접하여 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)와, 다이 패드(25)의 다른 쪽 측에 인접하여 위치하는 1개의 리드부(26c)를 갖는 4pin 타입의 형태를 예시할 수 있다.
이들 예에 공통되는 과제는, 각 패키지 영역(14)의 다이 패드(25(25a, 25b))와 리드부(26(26a, 26b, 26c))가 직선상으로 일렬로 배치되어 있기 때문에, 다이 패드(25)와 리드부(26)가 단락하지 않도록 각 패키지 영역(14) 사이를 연결하는 리드 연결부(52) 및 다이 패드 연결부(53)를 배치하면, 각 다이 패드(25)와 각 리드부(26) 사이의 간극이 연결되어, 리드 프레임(70)의 한 변에 평행한, 복수의 가늘고 긴 공간이 발생해버려, 구조적으로 변형이 발생하기 쉬워진다는 문제를 갖는 것이다. 이들 과제는 이미 설명한 대로, 본 실시 형태의 보강편(57)에 의해 효과적으로 해결할 수 있다. 또한, 이하에 나타내는 변형예 2-7 내지 2-10(도 36 내지 도 41)에서도, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 동일 부분에는 동일한 부호를 부여하고, 상세한 설명은 생략한다.
변형예 2-7
도 36은 본 실시 형태의 일 변형예 2-7에 의한 리드 프레임(70G)을 나타내고 있다. 도 36에 나타내는 리드 프레임(70G)에 있어서, 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태와 달리, 각 패키지 영역(14)은 2개의 다이 패드(25a, 25b)(이하, 제1 다이 패드부(25a), 제2 다이 패드부(25b)라고도 함)와, 다이 패드(25a, 25b)의 양측에 인접하여 위치하는 한 쌍의 리드부(26a, 26b)(이하, 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26b)라고도 함)를 갖고 있다(4pin 타입). 이러한 리드 프레임(70G)을 사용하면, 1 패키지에 2개의 LED 소자(21)를 저장한 반도체 장치(80)를 실현할 수 있다(도 37).
이 변형예 2-7에서는, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)와, 각 패키지 영역(14)의 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 각각 제1 리드 연결부(52a)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)와, 각 패키지 영역(14)의 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26b)는, 각각 제2 리드 연결부(52b)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다.
또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 다이 패드(25a)와 제2 다이 패드(25b)는, 그 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 대응하는 다이 패드(25a, 25b)와, 각각 제1 다이 패드 연결부(53a), 제2 다이 패드 연결부(53b)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 또한, 제1 다이 패드 연결부(53a), 제2 다이 패드 연결부(53b), 제1 리드 연결부(52a) 및 제2 리드 연결부(52b)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다. 이 경우, 보강편(57)은 프레임체 영역(13) 내측의 전체 길이에 걸쳐 일직선상으로 연장되어, 복수의 제1 다이 패드 연결부(53a), 복수의 제2 다이 패드 연결부(53b), 복수의 제1 리드 연결부(52a) 및 복수의 제2 리드 연결부(52b)를 연결하고 있다.
또한, 도 36에 나타내는 리드 프레임(70G)에 있어서는, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)과, 보강편(57)이 설치되어 있지 않은 다이싱 영역이 상하 방향 교대로 배치되어 있다.
이와 같이, 각 패키지 영역(14)이 2개의 다이 패드(25a, 25b)와 한 쌍의 리드부(26a, 26b)를 갖는 경우에도, 보강편(57)에 의해 리드 프레임(70G)의 상하 방향을 따라 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(70G)이 발 형상으로 되는 것을 방지할 수 있어, 취급 시에 리드 프레임(70G)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 또, 복수의 다이싱 영역(15) 중 일부의 다이싱 영역(15)에만 보강편(57)을 갖기 때문에, 다이서의 이의 마모를 경감할 수 있다.
변형예 2-8
도 38은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-8)에 의한 리드 프레임(70H)을 나타내고 있다. 도 38에 나타내는 리드 프레임(70H)에 있어서, 각 패키지 영역(14)은 다이 패드(25)와, 다이 패드(25)의 양측에 위치하는 한 쌍의 리드 배치 영역(16L), 리드 배치 영역(16R)을 갖고 있다. 리드 배치 영역(16L)에는 리드부(26a)를 배치하고, 리드 배치 영역(16R)에는 2개의 리드부(26c와 26d)를 다이 패드(25)를 따라 일렬로 배치하고 있다(이하, 리드부(26a, 26c, 26d)를, 각각 제1 리드부(26a), 제2 리드부(26c), 제3 리드부(26d)라고도 함). 이러한 리드 프레임(70H)을 사용하면, 1 패키지에 3개의 LED 소자(21)를 저장한 반도체 장치(80)를 실현할 수 있다(도 39).
변형예 2-1(도 30) 또는 변형예 2-3(도 32)은, 제2 리드부(26c), 제3 리드부(26d)를 갖는 점에서 다른데, 도 38에 나타내는 리드 프레임(70H)에 있어서는, 제2 리드부(26c)와 제3 리드부(26d)를 연결하는 부분 리드 연결부(55)를 설치하고, 다이싱 영역(15)에 위치하는 제2 리드 연결부(52c)를 개재하여 제2 리드부(26c)와 제3 리드부(26d)를 연결하고 있다. 또한 제2 리드 연결부(52c)는, 다이싱 영역(15) 내에서, 프레임체 영역(13)의 내측의 전체 길이에 걸쳐 세로 방향으로 연장되어 있다.
리드 프레임(10H)의 각 패키지 영역(14) 사이에서, 각 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)와, 각 패키지 영역(14)의 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제1 리드부(26a)는, 각각 제1 리드 연결부(52a)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 또한, 각 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26c) 및 제3 리드부(26d)는, 각 패키지 영역(14)의 상방 및 하방에 인접하는 패키지 영역(14) 내의 제2 리드부(26c) 및 제3 리드부(26d)와, 각각 부분 리드 연결부(55)를 개재하여 제2 리드 연결부(52c)에 의해 다이싱 영역(15)을 넘어서 연결되어 있다. 이 변형예에서 나타낸 바와 같이, 제2 리드부(26c) 및 제3 리드부(26d)를 부분 리드 연결부(55)에 의해 일체의 리드로서 취급하는 것이 가능한 경우, 일체로서 취급하는 제2 리드부(26c) 및 제3 리드부(26d)(즉, 리드 배치 영역(16R))와, 다이 패드(25), 제1 리드부(26a)가 일직선상에 일렬로 배치되어 있으면, 본원 발명의 보강편(57)을 사용하여 리드 프레임에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
또한, 도 38에 나타내는 리드 프레임(70H)에 있어서는, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)과, 보강편(57)이 설치되어 있지 않은 다이싱 영역이 상하 방향 교대로 배치되어 있다.
변형예 2-9
도 40은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-9)에 의한 리드 프레임(70I)을 나타내고 있다. 도 40에 나타내는 리드 프레임(70I)에 있어서, 도 31에 나타내는 변형예 2-2와 달리, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)이 상하 방향으로 소정수 걸러 주기적으로 설치되어 있다. 도 40에서, 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)은 2개 걸러 설치되어 있지만, 이에 한정되지 않고, 예를 들어 3개 또는 4개 거르는 등의 간격으로 설치해도 된다.
이와 같이, 보강편(57)의 수를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 31에 나타내는 변형예 2와 대략 동일하다.
변형예 2-10
도 41은 본 실시 형태의 일 변형예(변형예 2-10)에 의한 리드 프레임(70J)을 나타내고 있다. 도 41에 나타내는 리드 프레임(70J)에 있어서, 도 40에 나타내는 변형예 2-9와 달리, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역(15) 중 보강편(57)이 설치된 다이싱 영역(15)은 주기적으로 배치되어 있지 않고, 상하 방향으로 불규칙적으로 배치되어 있다.
이 경우에도, 보강편(57)의 수를 저감시킴으로써, 다이싱 시에 블레이드(38)에 가해지는 부하를 경감할 수 있다. 그 외의 구성은, 도 31에 나타내는 변형예 2-2와 대략 동일하다.
이상, 도 30 내지 도 41에 나타내는 리드 프레임(변형예 2-1 내지 변형예 2-10)에 대해서도, 상술한 도 21 내지 도 29에 나타내는 실시 형태의 효과와 대략 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다.
또한, 도 21 내지 도 23, 도 31, 도 33, 도 40, 도 41에 나타내는 리드 프레임(70, 70B, 70D, 70I, 70J)을 사용하여 제작되는 반도체 장치로는, 도 24 및 도 25에 나타내는 것에 한하지 않고, 도 19(변형예 B) 또는 도 20(변형예 C)에 나타내는 반도체 장치이어도 된다. 또한, 도 30, 도 32, 도 34, 도 35에 나타내는 리드 프레임(70A, 70C, 70E, 70F)을 사용하여 제작되는 반도체 장치로는, 도 18(변형예 A)에 나타내는 반도체 장치이어도 된다.
(제3 실시 형태)
이어서, 도 42 내지 도 44를 참조하여 본 발명의 제3 실시 형태에 대하여 설명한다. 도 42 내지 도 44는 본 발명의 제3 실시 형태를 도시하는 도면이다. 도 42 내지 도 44에 나타내는 제3 실시 형태는, LED 소자(21) 대신에 다이오드 등의 반도체 소자(45)를 사용하는 점이 주로 다른 점이며, 다른 구성은, 상술한 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태와 대략 동일하다. 도 42 내지 도 44에서, 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태와 동일 부분에는 동일한 부호를 부여하여 상세한 설명은 생략한다.
리드 프레임의 구성
도 42는 본 실시 형태에 의한 리드 프레임(60)을 도시하는 단면도이다. 본 실시 형태에 의한 리드 프레임(60)은, LED 소자(21) 대신에 다이오드 등의 반도체 소자(45)(도 42 참조)를 탑재하기 위한 것이고, 도금층(12)이 리드부(26)의 일부(본딩 와이어(22)가 접속되는 부분)에만 형성되어 있다. 그 외의 구성은, 도 1 내지 3에 나타내는 리드 프레임(10) 또는 도 21 내지 도 23에 나타내는 리드 프레임(70)과 동일하다.
또한, 본 실시 형태에 있어서, 리드 프레임(60)의 평면 형상은, 도 1 내지 도 3에 도시하는 리드 프레임(10)의 형상 또는 도 21 내지 도 23에 나타내는 리드 프레임(70)의 형상에 한하지 않고, 도 10 내지 도 17에 나타내는 각 리드 프레임의 형상 또는 도 30 내지 도 41에 나타내는 각 리드 프레임이 형상으로 이루어져 있어도 된다.
반도체 장치의 구성
도 43은 본 실시 형태에 의한 반도체 장치(65)를 나타내고 있다. 반도체 장치(65)는, 도 42에 나타내는 리드 프레임(60)을 사용하여 제작된 것이며, (개편화된) 리드 프레임(60)과, 리드 프레임(60)의 다이 패드(25)에 적재된 반도체 소자(45)를 구비하고 있다. 반도체 소자(45)는 예를 들어 다이오드 등의 디스크리트 반도체 소자로 이루어져 있어도 된다. 또한, 반도체 소자(45)의 단자부(45a)와, 리드부(26) 위에 설치된 도금층(12)은, 본딩 와이어(22)에 의해 전기적으로 접속되어 있다. 또한, 반도체 소자(45)와 본딩 와이어(22)가 밀봉 수지(24)에 의해 밀봉되어 있다.
또한, 밀봉 수지(24)로는, 에폭시 수지나 실리콘 수지를 포함하여 이루어지는 것을 선택하는 것이 가능한데, 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태와 달리, 반드시 투명한 것이 아니어도 되고, 흑색 등의 불투명한 수지를 포함하여 이루어져 있어도 된다.
반도체 장치의 제조 방법
이어서, 도 43에 나타내는 반도체 장치(65)의 제조 방법에 대해서, 도 44의 (a) 내지 (f)를 사용하여 설명한다. 도 44의 (a) 내지 (f)는 본 실시 형태에 의한 반도체 장치의 제조 방법을 도시하는 도면이다.
우선, 상술한 공정(도 6의 (a) 내지 (f) 및 도 26의 (a) 내지 (f))과 대략 마찬가지로 하여 리드 프레임(60)을 제작한다(도 44의 (a)). 또한, 이 경우, 도금층(12)을 형성하는 공정(도 6의 (f) 및 도 26의 (f))에서, 도금층(12)은 리드 프레임 본체(11)의 전체면이 아니라, 리드부(26)의 일부에만 형성된다.
이어서, 리드 프레임(60)의 다이 패드(25) 위에 반도체 소자(45)를 탑재한다. 이 경우, 땜납 또는 다이 본딩 페이스트를 사용하여, 반도체 소자(45)를 다이 패드(25) 위에 적재하여 고정한다(도 44의 (b)).
이어서, 반도체 소자(45)의 단자부(45a)와, 리드부(26) 위의 도금층(12)을 본딩 와이어(22)에 의해 서로 전기적으로 접속한다(도 44의 (c)).
그 후, 밀봉 수지(24)에 의해, 반도체 소자(45)와 본딩 와이어(22)를 일괄적으로 밀봉한다(도 44의 (d)). 또한, 이때, 리드 프레임(60)의 이면에, 도시하지 않은 백 테이프를 부착함으로써, 밀봉 수지(24)가 제1 아우터 리드부(27) 및/또는 제2 아우터 리드부(28)의 이면으로 돌아 들어가는 것을 방지해도 된다.
이어서, 밀봉 수지(24) 및 리드 프레임(60) 중 다이싱 영역(15)에 대응하는 부분을 절단함으로써, 밀봉 수지(24) 및 리드 프레임(60)을 반도체 소자(45)마다 분리한다(도 44의 (e)). 이때, 우선 리드 프레임(60)을 다이싱 테이프(37) 위에 적재하여 고정하고, 그 후, 예를 들어 다이아몬드 지석 등으로 이루어지는 블레이드(38)에 의해, 각 반도체 소자(45) 사이의 밀봉 수지(24), 및 리드 프레임(60)의 경사 보강편(51)(또는 보강편(57)), 리드 연결부(52), 다이 패드 연결부(53) 및 패키지 영역 연결부(54)를 절단한다. 또한, 블레이드(38)에 의해 리드 프레임(60)을 절단할 때, 상술한 도 9의 (a), (b) 또는 도 29의 (a), (b)에 나타내는 방법을 사용해도 된다.
이와 같이 하여, 도 43에 나타내는 반도체 장치(65)를 얻을 수 있다(도 44의 (e)).
이와 같이, 본 실시 형태에서는, LED 소자(21) 대신에 다이오드 등의 반도체 소자(45)를 적재하고 있어, 리드 프레임(60) 위에는 반사 수지(23)가 설치되어 있지 않다. 이 경우, 반도체 장치(65)를 제조하는 공정에서(도 44의 (a) 내지 (f)), 그 도중에 반사 수지(23)에 의해 리드 프레임(60)이 보강되는 경우가 없기 때문에, 밀봉 수지(24)에 의해 밀봉될 때까지의 동안에, 리드 프레임(60)(도 44의 (e))의 변형을 방지할 필요가 발생한다. 구체적으로는, 반도체 소자(45)를 탑재할 때, 리드 프레임(60)은, 그 단부면을 통해 레일에 의해 반송되는 경우가 있고, 이때 리드 프레임(60)이 변형되지 않도록 할 필요가 있다. 또한, 공정 본딩에 의해 반도체 소자(45)를 접합하는 경우에는, 리드 프레임(60)에 열이 가해지기 때문에(예를 들어 400℃에서 10분간 열이 가해지는 등), 이 열에 의해 리드 프레임(60)의 강도가 저하되는 것을 방지할 필요가 있다. 또한, 와이어 본딩 시에도 열 및 충격이 가해지기 때문에, 이 열에 의해 리드 프레임(60)의 강도가 저하되는 것을 방지하는 것도 필요하다. 따라서, 반사 수지(23)를 설치하는 경우에 비해, 더 한층 리드 프레임(60)의 강도를 높일 것이 요구된다.
이에 반해 본 실시 형태에 의하면, 각 패키지 영역(14) 내의 다이 패드(25)와, 인접하는 다른 패키지 영역(14) 내의 리드부(26)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 경사 보강편(51)에 의해 연결되어 있다. 또는, 다이 패드 연결부(53) 및 리드 연결부(52)는, 다이싱 영역(15)에 위치하는 보강편(57)에 의해 연결되어 있다. 이에 의해, 리드 프레임(60)의 상하 방향을 따라 가늘고 긴 공간이 발생하지 않아, 리드 프레임(60)이 상하 방향으로 발 형상이 되지 않는다. 이에 의해, 취급 시에 리드 프레임(60)에 변형이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
그 외에, 본 실시 형태에서도, 상술한 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태와 마찬가지의 작용 효과를 얻을 수 있다.

Claims (38)

  1. LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  2. 제1항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  3. 제1항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드와 다이 패드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  4. 제1항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  5. 제1항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  6. 제1항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이 패드측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  7. 제1항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 리드부측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  8. LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    적어도 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되고,
    하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  9. 제1항에 있어서, 경사 보강편은, 본체와, 본체 위에 형성된 도금층을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  10. 수지 부착 리드 프레임에 있어서,
    제1항의 리드 프레임과,
    리드 프레임의 각 패키지 영역 주연 위에 배치된 반사 수지를 구비한 것을 특징으로 하는 수지 부착 리드 프레임.
  11. 반도체 장치의 제조 방법에 있어서,
    제10항의 수지 부착 리드 프레임을 준비하는 공정과,
    수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내이며 각 다이 패드 위에 LED 소자를 탑재하는 공정과,
    LED 소자와 각 리드부를 도전부에 의해 접속하는 공정과,
    수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내에 밀봉 수지를 충전하는 공정과,
    반사 수지 및 리드 프레임을 절단함으로써, 반사 수지 및 리드 프레임을 LED 소자마다 분리하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법.
  12. 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  13. 제12항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  14. 제12항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드와 다이 패드 연결부에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  15. 제12항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  16. 제12항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부는, 다이싱 영역에 위치하는 제1 경사 보강편에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 상기 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 제2 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  17. 제12항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이 패드측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  18. 제12항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 리드부측에 인접하는 비스듬한 상방 및 비스듬한 하방의 패키지 영역 내의 리드부에, 다이싱 영역에 위치하는 한 쌍의 추가 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  19. 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    적어도 하나의 패키지 영역 내의 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 리드부와 리드 연결부에 의해 연결되고,
    하나의 패키지 영역 내의 리드부와, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드는, 다이싱 영역에 위치하는 경사 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  20. LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고,
    다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  21. 제20항에 있어서, 보강편은, 프레임체 영역 내측의 전체 길이에 걸쳐 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  22. 제20항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되고, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 보강편에 의해 연결되어 있지 않은 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  23. 제20항에 있어서, 보강편은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부에 각각 연결된 다이 패드 연결부 및 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  24. 제20항에 있어서, 각 패키지 영역은, 1개의 다이 패드와, 이 다이 패드의 양측에 위치하는 제1 리드부 및 제2 리드부를 포함하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부와 각각 다이 패드 연결부, 제1 리드 연결부 및 제2 리드 연결부에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부를 연결하고,
    상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부를 연결하는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  25. LED 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 LED 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 세로 방향으로 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고,
    가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 일부의 다이싱 영역에 위치하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 당해 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  26. 제25항에 있어서, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 소정수 걸러 주기적으로 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  27. 제25항에 있어서, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 불규칙하게 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  28. 제20항에 있어서, 보강편은, 본체와, 본체 위에 형성된 도금층을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  29. 수지 부착 리드 프레임에 있어서,
    제20항의 리드 프레임과,
    리드 프레임의 각 패키지 영역 주연 위에 배치된 반사 수지를 구비한 것을 특징으로 하는 수지 부착 리드 프레임.
  30. 반도체 장치의 제조 방법에 있어서,
    제29항의 수지 부착 리드 프레임을 준비하는 공정과,
    수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내이며 각 다이 패드 위에 LED 소자를 탑재하는 공정과,
    LED 소자와 각 리드부를 도전부에 의해 접속하는 공정과,
    수지 부착 리드 프레임의 각 반사 수지 내에 밀봉 수지를 충전하는 공정과,
    반사 수지 및 리드 프레임을 절단함으로써, 반사 수지 및 리드 프레임을 LED 소자마다 분리하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법.
  31. 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고,
    다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  32. 제31항에 있어서, 보강편은, 프레임체 영역 내측의 전체 길이에 걸쳐 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  33. 제31항에 있어서, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부를 각각 연결하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 보강편에 의해 연결되어 있지 않은 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  34. 제31항에 있어서, 보강편은, 상기 하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부에 각각 연결된 다이 패드 연결부 및 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 리드 연결부를 연결하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  35. 제31항에 있어서, 각 패키지 영역은, 1개의 다이 패드와, 이 다이 패드의 양측에 위치하는 제1 리드부 및 제2 리드부를 포함하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부는, 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드, 제1 리드부 및 제2 리드부와 각각 다이 패드 연결부, 제1 리드 연결부 및 제2 리드 연결부에 의해 연결되고,
    상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하는 제1 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제1 리드 연결부를 연결하고,
    상기 하나의 패키지 영역과, 상기 하나의 패키지 영역에 인접하고 상기 하나의 패키지 영역에 대하여 제1 패키지 영역과는 반대측에 위치하는 제2 패키지 영역의 사이에서, 보강편은, 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부간에만 연장되어 다이 패드 연결부 및 제2 리드 연결부를 연결하는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  36. 반도체 소자 탑재용 리드 프레임에 있어서,
    프레임체 영역과,
    프레임체 영역 내에 다열 및 다단으로 배치되고, 각각이 반도체 소자가 탑재되는 다이 패드와, 다이 패드에 인접하는 리드부를 포함함과 함께 서로 다이싱 영역을 개재하여 접속된 다수의 패키지 영역을 구비하고,
    하나의 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부는, 세로 방향으로 인접하는 다른 패키지 영역 내의 다이 패드 및 리드부와 각각 다이 패드 연결부 및 리드 연결부에 의해 연결되고,
    가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 일부의 다이싱 영역에 위치하는 다이 패드 연결부 및 리드 연결부는, 당해 다이싱 영역에 위치하는 보강편에 의해 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  37. 제36항에 있어서, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 소정수 걸러 주기적으로 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
  38. 제36항에 있어서, 가로 방향으로 연장되는 복수의 다이싱 영역 중 보강편이 설치된 다이싱 영역은, 불규칙하게 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임.
KR1020137011129A 2010-11-02 2011-10-31 Led 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임 KR101778832B1 (ko)

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PCT/JP2011/075091 WO2012060336A1 (ja) 2010-11-02 2011-10-31 Led素子搭載用リードフレーム、樹脂付リードフレーム、半導体装置の製造方法、および半導体素子搭載用リードフレーム

Related Child Applications (1)

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KR1020137011129A KR101778832B1 (ko) 2010-11-02 2011-10-31 Led 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임

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US (8) US8933548B2 (ko)
JP (6) JP5896302B2 (ko)
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TW (3) TWI621288B (ko)
WO (1) WO2012060336A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019075430A (ja) * 2017-10-13 2019-05-16 株式会社三井ハイテック リードフレームの製造方法及びリードフレーム

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105845816A (zh) * 2010-11-02 2016-08-10 大日本印刷株式会社 附有树脂引线框及半导体装置
TW201250964A (en) * 2011-01-27 2012-12-16 Dainippon Printing Co Ltd Resin-attached lead frame, method for manufacturing same, and lead frame
JP6019988B2 (ja) * 2012-09-19 2016-11-02 大日本印刷株式会社 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
JP6155584B2 (ja) * 2012-09-19 2017-07-05 大日本印刷株式会社 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
JP6123200B2 (ja) * 2012-09-19 2017-05-10 大日本印刷株式会社 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
JP6115058B2 (ja) * 2012-09-19 2017-04-19 大日本印刷株式会社 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
JP6349648B2 (ja) * 2012-11-16 2018-07-04 大日本印刷株式会社 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
JP2014120515A (ja) * 2012-12-13 2014-06-30 Shin Etsu Chem Co Ltd 光学半導体装置用基板とその製造方法、集合基板、及び光学半導体装置とその製造方法
JP6241238B2 (ja) * 2013-01-11 2017-12-06 株式会社カネカ 発光素子実装用リードフレーム、樹脂成型体及び表面実装型発光装置
JP2014138088A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体
JP6111683B2 (ja) * 2013-01-21 2017-04-12 大日本印刷株式会社 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体
JP6201335B2 (ja) * 2013-02-20 2017-09-27 大日本印刷株式会社 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体
JP6020246B2 (ja) * 2013-02-20 2016-11-02 大日本印刷株式会社 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体
JP6136345B2 (ja) * 2013-02-20 2017-05-31 大日本印刷株式会社 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体
JP6167556B2 (ja) * 2013-02-21 2017-07-26 大日本印刷株式会社 リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
JP6499387B2 (ja) * 2013-03-05 2019-04-10 日亜化学工業株式会社 リードフレーム及び発光装置
JP6291713B2 (ja) * 2013-03-14 2018-03-14 日亜化学工業株式会社 発光素子実装用基体及びそれを備える発光装置、並びにリードフレーム
DE102013206186A1 (de) 2013-04-09 2014-10-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement
CN104103748B (zh) * 2013-04-10 2016-12-07 重庆市路迪机械厂 发光二极管封装结构及其制造方法
US9515241B2 (en) * 2013-07-12 2016-12-06 Lite-On Opto Technology (Changzhou) Co., Ltd. LED structure, metallic frame of LED structure, and carrier module
CN104282821B (zh) * 2013-07-12 2017-03-29 光宝光电(常州)有限公司 发光二极管结构、发光二极管结构金属支架及承载座模块
JP6825660B2 (ja) * 2013-07-31 2021-02-03 日亜化学工業株式会社 リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、樹脂パッケージ、発光装置及び樹脂パッケージの製造方法
JP6603982B2 (ja) 2013-07-31 2019-11-13 日亜化学工業株式会社 リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、樹脂パッケージ、発光装置及び樹脂パッケージの製造方法
JP6268793B2 (ja) * 2013-08-02 2018-01-31 大日本印刷株式会社 リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体、リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、光半導体装置
JP5884789B2 (ja) * 2013-08-12 2016-03-15 大日本印刷株式会社 リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレーム、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
KR101538543B1 (ko) * 2013-08-13 2015-07-22 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 디바이스 및 그 제조 방법
JP6311240B2 (ja) * 2013-09-03 2018-04-18 大日本印刷株式会社 樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体
JP2015056540A (ja) * 2013-09-12 2015-03-23 株式会社東芝 半導体装置及びその製造方法
JP6311250B2 (ja) * 2013-09-19 2018-04-18 大日本印刷株式会社 リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体
US9691959B2 (en) 2013-12-19 2017-06-27 Koninklijke Philips N.V. Light emitting device package
CN103855275A (zh) * 2013-12-25 2014-06-11 深圳市瑞丰光电子股份有限公司 Led封装支架模组及其单体、led封装结构
JP6548066B2 (ja) * 2013-12-26 2019-07-24 大日本印刷株式会社 Led素子搭載用リードフレーム、led素子搭載用樹脂付きリードフレーム及び半導体装置
KR102409220B1 (ko) * 2014-01-07 2022-06-16 루미리즈 홀딩 비.브이. 발광 디바이스 패키지
JP6314493B2 (ja) * 2014-01-20 2018-04-25 株式会社カネカ 発光素子実装用リードフレーム、発光素子実装用樹脂成型体、表面実装型発光装置、及び表面実装型発光装置の製造方法
KR101501020B1 (ko) * 2014-02-17 2015-03-13 주식회사 루멘스 발광 소자 패키지, 백라이트 유닛, 조명 장치 및 발광 소자 패키지의 제조 방법
DE102014102810A1 (de) * 2014-03-04 2015-09-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Herstellung optoelektronischer Bauelemente
US10431532B2 (en) * 2014-05-12 2019-10-01 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device with notched main lead
JP6680321B2 (ja) * 2014-05-29 2020-04-15 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP6398563B2 (ja) 2014-05-29 2018-10-03 日亜化学工業株式会社 発光装置
KR102188500B1 (ko) * 2014-07-28 2020-12-09 삼성전자주식회사 발광다이오드 패키지 및 이를 이용한 조명장치
CN106663731B (zh) * 2014-08-05 2019-08-06 西铁城电子株式会社 半导体装置及其制造方法
US10217918B2 (en) * 2014-08-26 2019-02-26 Lg Innotek Co., Ltd. Light-emitting element package
JP6520022B2 (ja) * 2014-09-01 2019-05-29 株式会社カネカ 発光素子実装用リードフレーム、これを用いた発光素子実装用樹脂成型体及び表面実装型発光装置
KR20160028014A (ko) * 2014-09-02 2016-03-11 삼성전자주식회사 반도체 소자 패키지 제조방법
JP6458471B2 (ja) * 2014-12-04 2019-01-30 株式会社カネカ 発光素子実装用リードフレーム、これを用いた発光素子実装用樹脂成型体及び表面実装型発光装置
US20160172275A1 (en) * 2014-12-10 2016-06-16 Stmicroelectronics S.R.L. Package for a surface-mount semiconductor device and manufacturing method thereof
JP6572540B2 (ja) 2014-12-26 2019-09-11 日亜化学工業株式会社 パッケージ、発光装置およびその製造方法
CN104993041B (zh) * 2015-06-04 2019-06-11 陈建伟 一种led倒装芯片固晶导电粘接结构及其安装方法
JP2017027991A (ja) * 2015-07-16 2017-02-02 大日本印刷株式会社 樹脂付きリードフレーム、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体、樹脂付きリードフレーム用金型
DE102015116855A1 (de) 2015-10-05 2017-04-06 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement mit einem Leiterrahmen mit einer Versteifungsstruktur
JP6842234B2 (ja) * 2015-10-13 2021-03-17 ローム株式会社 光半導体装置の製造方法および光半導体装置
JP6172253B2 (ja) * 2015-12-17 2017-08-02 大日本印刷株式会社 リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレーム、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置
JP6213582B2 (ja) * 2016-01-22 2017-10-18 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP6387973B2 (ja) 2016-01-27 2018-09-12 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP2017147272A (ja) 2016-02-15 2017-08-24 ローム株式会社 半導体装置およびその製造方法、ならびに、半導体装置の製造に使用されるリードフレーム中間体
MY197351A (en) * 2016-03-11 2023-06-14 Atotech Deutschland Gmbh Lead-frame structure, lead-frame, surface mount electronic device and methods of producing same
US9824959B2 (en) * 2016-03-23 2017-11-21 Texas Instruments Incorporated Structure and method for stabilizing leads in wire-bonded semiconductor devices
JP6636846B2 (ja) * 2016-04-14 2020-01-29 ローム株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
CN109791968A (zh) 2016-07-26 2019-05-21 克利公司 发光二极管、组件和相关方法
TWM531057U (zh) * 2016-08-09 2016-10-21 Chang Wah Technology Co Ltd 預成形封裝導線架
USD810058S1 (en) * 2016-08-18 2018-02-13 Airgain Incorporated Antenna apparatus
JP6643213B2 (ja) * 2016-09-16 2020-02-12 新光電気工業株式会社 リードフレーム及びその製造方法と電子部品装置
JP2016225655A (ja) * 2016-09-21 2016-12-28 大日本印刷株式会社 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体
US10147673B2 (en) * 2016-09-30 2018-12-04 Stmicroelectronics, Inc. Tapeless leadframe package with underside resin and solder contact
US11158619B2 (en) 2016-10-31 2021-10-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Redistribution layers in semiconductor packages and methods of forming same
US10304801B2 (en) * 2016-10-31 2019-05-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Redistribution layers in semiconductor packages and methods of forming same
JP6443429B2 (ja) * 2016-11-30 2018-12-26 日亜化学工業株式会社 パッケージ及びパッケージの製造方法、発光装置及び発光装置の製造方法
US10177057B2 (en) * 2016-12-15 2019-01-08 Infineon Technologies Ag Power semiconductor modules with protective coating
JP6772087B2 (ja) * 2017-02-17 2020-10-21 新光電気工業株式会社 リードフレーム及びその製造方法
JP6558389B2 (ja) 2017-03-17 2019-08-14 日亜化学工業株式会社 リードフレーム
US9972558B1 (en) * 2017-04-04 2018-05-15 Stmicroelectronics, Inc. Leadframe package with side solder ball contact and method of manufacturing
US10700252B2 (en) * 2017-04-18 2020-06-30 Bridgelux Chongqing Co., Ltd. System and method of manufacture for LED packages
DE102017110073A1 (de) * 2017-05-10 2018-11-15 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines strahlungsemittierenden Halbleiterbauelements und strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement
DE102017115798A1 (de) * 2017-07-13 2019-01-17 Alanod Gmbh & Co. Kg Reflektierendes Verbundmaterial, insbesondere für oberflächenmontierte Bauelemente (SMD), und lichtemittierende Vorrichtung mit einem derartigen Verbundmaterial
JP6637002B2 (ja) * 2017-09-04 2020-01-29 サンコール株式会社 バスバーアッセンブリの製造方法
JP6637003B2 (ja) * 2017-09-08 2020-01-29 サンコール株式会社 バスバーアッセンブリ
US11031350B2 (en) * 2017-12-26 2021-06-08 Stmicroelectronics, Inc. Leadframe with pad anchoring members and method of forming the same
US10873015B2 (en) 2018-03-01 2020-12-22 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing the light emitting device
US10862015B2 (en) 2018-03-08 2020-12-08 Samsung Electronics., Ltd. Semiconductor light emitting device package
JP6879262B2 (ja) * 2018-05-08 2021-06-02 日亜化学工業株式会社 発光装置
US11121298B2 (en) * 2018-05-25 2021-09-14 Creeled, Inc. Light-emitting diode packages with individually controllable light-emitting diode chips
JP7164804B2 (ja) * 2018-06-25 2022-11-02 日亜化学工業株式会社 パッケージ、発光装置およびそれらの製造方法
US11335833B2 (en) 2018-08-31 2022-05-17 Creeled, Inc. Light-emitting diodes, light-emitting diode arrays and related devices
USD902448S1 (en) 2018-08-31 2020-11-17 Cree, Inc. Light emitting diode package
US11233183B2 (en) 2018-08-31 2022-01-25 Creeled, Inc. Light-emitting diodes, light-emitting diode arrays and related devices
CN110970384A (zh) * 2018-09-28 2020-04-07 光宝光电(常州)有限公司 搭载芯片用的导线架阵列及多芯片发光二极管封装结构
CN109473533A (zh) * 2018-11-30 2019-03-15 江苏欧密格光电科技股份有限公司 一种led支架结构及led封装工艺
JP7174240B2 (ja) * 2018-11-30 2022-11-17 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
US11101411B2 (en) 2019-06-26 2021-08-24 Creeled, Inc. Solid-state light emitting devices including light emitting diodes in package structures
JP7448770B2 (ja) * 2019-07-09 2024-03-13 日亜化学工業株式会社 リードフレーム及び発光装置の製造方法
DE102019220215A1 (de) * 2019-12-19 2021-06-24 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen und Halbleiterbauelement
DE102021119707A1 (de) * 2021-07-29 2023-02-02 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Träger mit eingebetteter elektrischer verbindung, bauelement und verfahren zur herstellung eines trägers
DE102022119750A1 (de) * 2022-08-05 2024-02-08 Ams-Osram International Gmbh Optoelektronisches bauteil und verfahren zur herstellung eines optoelektronischen bauteils
DE102022123579A1 (de) 2022-09-15 2024-03-21 Ams-Osram International Gmbh Gehäuse, leiterrahmenverbund und herstellungsverfahren

Family Cites Families (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH038459A (ja) 1989-06-05 1991-01-16 Geinzu:Kk シャワーヘッド
JPH0543560A (ja) 1991-08-09 1993-02-23 Ajinomoto Co Inc 新規n−カルボキシアミノ酸無水物及びこれを原料とするポリペプチドの製造法
JP3329073B2 (ja) * 1993-06-04 2002-09-30 セイコーエプソン株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP3198243B2 (ja) 1995-12-13 2001-08-13 富士通株式会社 半導体装置及びその製造方法
JPH10270618A (ja) 1997-03-24 1998-10-09 Seiko Epson Corp リードフレーム、リードフレームの製造方法および半導体装置
JPH10335566A (ja) 1997-04-02 1998-12-18 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および樹脂封止型半導体装置の製造方法
MY133357A (en) 1999-06-30 2007-11-30 Hitachi Ltd A semiconductor device and a method of manufacturing the same
JP3461332B2 (ja) 1999-09-10 2003-10-27 松下電器産業株式会社 リードフレーム及びそれを用いた樹脂パッケージと光電子装置
JP3574026B2 (ja) 2000-02-01 2004-10-06 三洋電機株式会社 回路装置およびその製造方法
US6562660B1 (en) 2000-03-08 2003-05-13 Sanyo Electric Co., Ltd. Method of manufacturing the circuit device and circuit device
JP4840893B2 (ja) 2000-05-12 2011-12-21 大日本印刷株式会社 樹脂封止型半導体装置用フレーム
TW507482B (en) 2000-06-09 2002-10-21 Sanyo Electric Co Light emitting device, its manufacturing process, and lighting device using such a light-emitting device
JP2002094125A (ja) * 2000-09-18 2002-03-29 Rohm Co Ltd リードフレーム及びそれを用いたled装置
JP4574868B2 (ja) * 2001-01-12 2010-11-04 ローム株式会社 半導体装置
JP3879410B2 (ja) 2001-02-06 2007-02-14 凸版印刷株式会社 リードフレームの製造方法
JP4703903B2 (ja) 2001-07-17 2011-06-15 ローム株式会社 半導体装置の製造方法および半導体装置
JP4672201B2 (ja) * 2001-07-26 2011-04-20 ローム株式会社 半導体装置の製造方法
JP4889169B2 (ja) * 2001-08-30 2012-03-07 ローム株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP2003086750A (ja) * 2001-09-11 2003-03-20 Rohm Co Ltd 電子部品の製造方法
EP1437776B1 (en) * 2001-10-12 2011-09-21 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacture thereof
JP2003124421A (ja) * 2001-10-15 2003-04-25 Shinko Electric Ind Co Ltd リードフレーム及びその製造方法並びに該リードフレームを用いた半導体装置の製造方法
JP2003124420A (ja) * 2001-10-16 2003-04-25 Shinko Electric Ind Co Ltd リードフレーム及び該リードフレームを用いた半導体装置の製造方法
JP3606837B2 (ja) 2001-12-19 2005-01-05 株式会社三井ハイテック リードフレームおよびこれを用いた半導体装置
JP2003258183A (ja) 2002-03-04 2003-09-12 Shinko Electric Ind Co Ltd リードフレームの製造方法
EP1500136A1 (en) 2002-04-11 2005-01-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Semiconductor device and method of manufacturing same
JP2003309241A (ja) 2002-04-15 2003-10-31 Dainippon Printing Co Ltd リードフレーム部材とリードフレーム部材の製造方法、及び該リードフレーム部材を用いた半導体パッケージとその製造方法
DE10243247A1 (de) 2002-09-17 2004-04-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Leadframe-basiertes Bauelement-Gehäuse, Leadframe-Band, oberflächenmontierbares elektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung
JP3940124B2 (ja) 2003-01-16 2007-07-04 松下電器産業株式会社 装置
JP2004247613A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP3910171B2 (ja) 2003-02-18 2007-04-25 シャープ株式会社 半導体発光装置、その製造方法および電子撮像装置
US6977431B1 (en) * 2003-11-05 2005-12-20 Amkor Technology, Inc. Stackable semiconductor package and manufacturing method thereof
JP4137782B2 (ja) * 2003-12-19 2008-08-20 シャープ株式会社 リードフレーム、このリードフレームを用いた面実装型半導体装置およびこの面実装型半導体装置を回路基板上に搭載した電子機器
JP4455166B2 (ja) 2004-05-28 2010-04-21 アピックヤマダ株式会社 リードフレーム
JP3915992B2 (ja) * 2004-06-08 2007-05-16 ローム株式会社 面実装型電子部品の製造方法
JP4359195B2 (ja) 2004-06-11 2009-11-04 株式会社東芝 半導体発光装置及びその製造方法並びに半導体発光ユニット
US7087461B2 (en) * 2004-08-11 2006-08-08 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Process and lead frame for making leadless semiconductor packages
JP2006072013A (ja) 2004-09-02 2006-03-16 Noritsu Koki Co Ltd 情報記録システム
JP5192811B2 (ja) * 2004-09-10 2013-05-08 ソウル セミコンダクター カンパニー リミテッド 多重モールド樹脂を有する発光ダイオードパッケージ
JP2006100500A (ja) 2004-09-29 2006-04-13 Sanken Electric Co Ltd 半導体発光素子及びその製造方法
TWI277223B (en) 2004-11-03 2007-03-21 Chen-Lun Hsingchen A low thermal resistance LED package
US20060131708A1 (en) 2004-12-16 2006-06-22 Ng Kee Y Packaged electronic devices, and method for making same
JP2006245032A (ja) 2005-02-28 2006-09-14 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置およびledランプ
KR100593945B1 (ko) * 2005-05-30 2006-06-30 삼성전기주식회사 고출력 led 패키지 및 그 제조방법
US20070034886A1 (en) 2005-08-11 2007-02-15 Wong Boon S PLCC package with integrated lens and method for making the package
KR101187943B1 (ko) * 2005-09-20 2012-10-05 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 Led 광원 및 그 제조 방법
JP2007109887A (ja) 2005-10-13 2007-04-26 Toshiba Corp 半導体発光装置
JP2007134376A (ja) 2005-11-08 2007-05-31 Akita Denshi Systems:Kk 発光ダイオード装置及びその製造方法
JP5232369B2 (ja) 2006-02-03 2013-07-10 日立化成株式会社 光半導体素子搭載用パッケージ基板の製造方法およびこれを用いた光半導体装置の製造方法
JP2007287800A (ja) 2006-04-13 2007-11-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 配線とこれを用いた半導体装置用パッケージ部品及び配線基板
KR100735325B1 (ko) * 2006-04-17 2007-07-04 삼성전기주식회사 발광다이오드 패키지 및 그 제조방법
JP2007294631A (ja) 2006-04-25 2007-11-08 Matsushita Electric Works Ltd 樹脂反射鏡及びこれを用いた照明器具
US8044418B2 (en) 2006-07-13 2011-10-25 Cree, Inc. Leadframe-based packages for solid state light emitting devices
JP2008041699A (ja) 2006-08-01 2008-02-21 Showa Denko Kk Ledパッケージ
US8053799B2 (en) * 2006-09-29 2011-11-08 Seoul Semiconductor Co., Ltd. LED package
JP2008091818A (ja) 2006-10-05 2008-04-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光半導体装置用リードフレームおよびこれを用いた光半導体装置、並びにこれらの製造方法
US8088635B2 (en) 2006-10-17 2012-01-03 C.I. Kasei Company, Limited Vertical geometry light emitting diode package aggregate and production method of light emitting device using the same
US7741704B2 (en) * 2006-10-18 2010-06-22 Texas Instruments Incorporated Leadframe and mold compound interlock in packaged semiconductor device
TW200820463A (en) 2006-10-25 2008-05-01 Lighthouse Technology Co Ltd Light-improving SMD diode holder and package thereof
CN101536198A (zh) * 2006-11-08 2009-09-16 希爱化成株式会社 发光装置及其制造方法
US7999277B2 (en) 2006-11-08 2011-08-16 C. I. Kasei Company, Limited Light emitting device and production method of same
JP4963950B2 (ja) 2006-12-12 2012-06-27 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置およびその製造方法
JP5197953B2 (ja) * 2006-12-27 2013-05-15 新光電気工業株式会社 リードフレーム及びその製造方法、及び半導体装置
EP2109157B1 (en) 2006-12-28 2018-11-28 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacturing the same
JP5004601B2 (ja) * 2007-01-22 2012-08-22 パナソニック株式会社 パッケージ部品の製造方法および半導体装置の製造方法
JP5132961B2 (ja) * 2007-03-19 2013-01-30 ハリソン東芝ライティング株式会社 光半導体装置及びその製造方法
JP5122172B2 (ja) 2007-03-30 2013-01-16 ローム株式会社 半導体発光装置
KR101318969B1 (ko) 2007-03-30 2013-10-17 서울반도체 주식회사 발광 다이오드
JP2008258411A (ja) 2007-04-05 2008-10-23 Rohm Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
TW200843130A (en) * 2007-04-17 2008-11-01 Wen Lin Package structure of a surface-mount high-power light emitting diode chip and method of making the same
US7683463B2 (en) * 2007-04-19 2010-03-23 Fairchild Semiconductor Corporation Etched leadframe structure including recesses
JP2008282917A (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 C I Kasei Co Ltd 発光装置および発光装置を作製する基板用リードフレーム
JPWO2008139981A1 (ja) 2007-05-09 2010-08-05 シーアイ化成株式会社 発光装置および発光装置用パッケージ集合体
JP4489791B2 (ja) 2007-05-14 2010-06-23 株式会社ルネサステクノロジ Qfnパッケージ
US20110036621A1 (en) 2007-06-29 2011-02-17 The Furukawa Electric Co., Ltd. Metal material, method for producing the same, and electrical/electronic component using the same
JP2009021481A (ja) 2007-07-13 2009-01-29 Toshiba Lighting & Technology Corp 発光装置
JP5245594B2 (ja) 2007-07-27 2013-07-24 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
KR100877881B1 (ko) 2007-09-06 2009-01-08 엘지이노텍 주식회사 발광다이오드 패키지 및 그 제조방법
JP2009065002A (ja) 2007-09-07 2009-03-26 Nichia Corp 発光装置
JP4758976B2 (ja) 2007-12-03 2011-08-31 日立ケーブルプレシジョン株式会社 半導体発光素子搭載用リードフレーム及びその製造方法並びに発光装置
JP2009224536A (ja) 2008-03-17 2009-10-01 Citizen Holdings Co Ltd Ledデバイスおよびその製造方法
JP2009260077A (ja) 2008-04-17 2009-11-05 Toshiba Corp 発光装置およびリードフレーム
JP2009272345A (ja) 2008-04-30 2009-11-19 Panasonic Electric Works Tatsuno Co Ltd 発光素子用リードフレームのめっき構造
JP5355219B2 (ja) 2008-05-21 2013-11-27 京セラ株式会社 発光素子搭載用基板および発光装置
JP2009302339A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Sanken Electric Co Ltd 半導体発光装置
TW201003991A (en) 2008-07-03 2010-01-16 jia-han Xie Package structure of LED and light bar using the same
JP5217800B2 (ja) 2008-09-03 2013-06-19 日亜化学工業株式会社 発光装置、樹脂パッケージ、樹脂成形体並びにこれらの製造方法
JP2010097982A (ja) * 2008-10-14 2010-04-30 Sanyo Electric Co Ltd 発光装置
JP2010103164A (ja) 2008-10-21 2010-05-06 Seiko Instruments Inc 電子部品及びその製造方法
TWI471995B (zh) 2008-11-07 2015-02-01 Toppan Printing Co Ltd 導線架及其製造方法、以及使用該導線架之半導體發光裝置
WO2010053133A1 (ja) 2008-11-07 2010-05-14 凸版印刷株式会社 リードフレーム及びその製造方法及びそれを用いた半導体発光装置
WO2010071182A1 (ja) 2008-12-19 2010-06-24 古河電気工業株式会社 光半導体装置用リードフレーム及びその製造方法
JP2010166044A (ja) 2008-12-19 2010-07-29 Furukawa Electric Co Ltd:The 光半導体装置用リードフレーム及びその製造方法
JP4897981B2 (ja) 2008-12-26 2012-03-14 古河電気工業株式会社 光半導体装置用リードフレーム、その製造方法および光半導体装置
JP2009076948A (ja) 2009-01-14 2009-04-09 Panasonic Corp 光半導体装置用リードフレームおよびこれを用いた光半導体装置、並びにこれらの製造方法
CN201336320Y (zh) * 2009-01-19 2009-10-28 健策精密工业股份有限公司 发光二极管的封装结构及引线框架
JP2010171218A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Sony Corp 光学素子パッケージの製造方法
JP5428358B2 (ja) 2009-01-30 2014-02-26 ソニー株式会社 光学素子パッケージの製造方法
JP2010199105A (ja) 2009-02-23 2010-09-09 Stanley Electric Co Ltd 発光装置およびその製造方法
JP2010199166A (ja) 2009-02-24 2010-09-09 Panasonic Corp 光半導体装置用リードフレームおよび光半導体装置用リードフレームの製造方法
JP5108825B2 (ja) * 2009-04-24 2012-12-26 信越化学工業株式会社 光半導体装置用シリコーン樹脂組成物及び光半導体装置
JP5322801B2 (ja) 2009-06-19 2013-10-23 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及びその製造方法
TW201108377A (en) 2009-06-24 2011-03-01 Furukawa Electric Co Ltd Lead frame for optical semiconductor device, process for manufacturing lead frame for optical semiconductor device, and optical semiconductor device
JP5726409B2 (ja) * 2009-07-01 2015-06-03 シャープ株式会社 発光装置および発光装置の製造方法
JP5710128B2 (ja) 2010-01-19 2015-04-30 大日本印刷株式会社 樹脂付リードフレームの製造方法
JP5473738B2 (ja) 2010-04-14 2014-04-16 武海 秋元 Ledパッケージ
US8304277B2 (en) 2010-09-09 2012-11-06 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of forming base substrate with cavities formed through etch-resistant conductive layer for bump locking
CN105845816A (zh) * 2010-11-02 2016-08-10 大日本印刷株式会社 附有树脂引线框及半导体装置
JP5758459B2 (ja) 2013-08-27 2015-08-05 大日本印刷株式会社 樹脂付リードフレーム、リードフレーム、半導体装置および樹脂付リードフレームの製造方法
JP5908874B2 (ja) 2013-08-27 2016-04-26 大日本印刷株式会社 樹脂付リードフレーム、リードフレーム、半導体装置および樹脂付リードフレームの製造方法
JP6026397B2 (ja) 2013-12-10 2016-11-16 大日本印刷株式会社 樹脂付リードフレームの製造方法
JP6115836B2 (ja) 2015-03-10 2017-04-19 大日本印刷株式会社 樹脂付リードフレーム、リードフレーム、半導体装置および樹脂付リードフレームの製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019075430A (ja) * 2017-10-13 2019-05-16 株式会社三井ハイテック リードフレームの製造方法及びリードフレーム

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