JP6311240B2 - 樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 - Google Patents
樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6311240B2 JP6311240B2 JP2013182017A JP2013182017A JP6311240B2 JP 6311240 B2 JP6311240 B2 JP 6311240B2 JP 2013182017 A JP2013182017 A JP 2013182017A JP 2013182017 A JP2013182017 A JP 2013182017A JP 6311240 B2 JP6311240 B2 JP 6311240B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- frame
- lead frame
- faced
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/93—Batch processes
- H01L24/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L24/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/93—Batch processes
- H01L2224/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L2224/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Description
このような半導体装置は、枠体に多面付けされたリードフレーム(リードフレームの多面付け体)に樹脂層を形成して樹脂付きリードフレームの多面付け体を作製し、半導体素子を電気的に接続し、透明樹脂層を形成して、パッケージ単位に切断することによって同時に複数製造される。
ここで、使用されるリードフレームの多面付け体は、銅などの導電性のある金属材料から形成され、また、その表面及び裏面にはめっき層が形成されている。リードフレームの多面付け体や樹脂つきリードフレームの多面付け体は、半導体装置の製造工程において、搬送装置の治具により搬送されたり、複数枚、所定の間隔で積層する収納ケースに収納されたりする場合があり、枠体の裏面や外周側面に表出する金属面と、治具や収納ケースのレールとが摩擦接触し、金属粉が発生してしまう場合があった。このようなリードフレームの多面付け体は、エッチング加工により形成された場合、枠体の裏面や外周側面から突出する凸部が形成されてしまう場合がある。このような場合には、特に、この凸部が最もレール等に接触しやすいため、摩擦接触により削れてより多くの金属粉が発生してしまう。
この金属粉がリードフレームの端子部に付着すると、端子部間を短絡させてしまう場合があり、半導体素子を適正に作動させることができない等の不具合を有する半導体装置が製造されてしまう要因となっていた。
第2の発明は、第1の発明のリードフレームの多面付け体(MS)において、前記枠体樹脂部(14)は、硬化性樹脂で形成されていること、を特徴とするリードフレームの多面付け体である。
第3の発明は、第1の発明又は第2の発明のリードフレームの多面付け体(MS)において、前記枠体樹脂部(14)は、その樹脂のショア硬さ(D形、JIS Z2246)が50HSD以上で形成されること、を特徴とするリードフレームの多面付け体である。
第4の発明は、第1の発明から第3の発明までのいずれかのリードフレームの多面付け体(MS)において、前記枠体樹脂部(14)は、外部に表出する面の表面粗さ(算術平均粗さRa、JIS B0601−2001)が、10μm以上700μm以下で形成されること、を特徴とするリードフレームの多面付け体である。
第5の発明は、第1の発明から第4の発明までのいずれか1項に記載のリードフレームの多面付け体(MS)において、前記枠体樹脂部(14)は、前記リードフレーム(10)の色とは異なる色で形成されること、を特徴とするリードフレームの多面付け体である。
第7の発明は、第6の発明の樹脂付きリードフレームの多面付け体(R)において、前記樹脂層(20)は、前記リードフレーム(10)の前記半導体素子(2)が接続される側の面に突出して形成されるリフレクタ樹脂部(20b)を有すること、を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体である。
第8の発明は、第6の発明又は第7の発明の樹脂付きリードフレームの多面付け体(R)において、前記枠体樹脂部(14)は、前記リードフレーム(10)及び前記樹脂層(20)の色とは異なる色で形成されること、を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体である。
以下、図面等を参照して、本発明の第1実施形態について説明する。
図1は、第1実施形態の光半導体装置1の全体構成を示す図である。図1(a)、図1(b)、図1(c)は、それぞれ光半導体装置1の平面図、側面図、裏面図を示す。図1(d)は、図1(a)のd−d断面図を示す。
図2は、第1実施形態のリードフレームの多面付け体MSの全体図である。図2(a)、図2(b)、図2(c)は、それぞれリードフレームの多面付け体MSの平面図、右側面図、裏面図を示す。
図3は、第1実施形態のリードフレームの多面付け体MSの詳細を説明する図である。図3(a)、図3(b)は、それぞれリードフレームの多面付け体MSの平面図、裏面図を示す。図3(c)、図3(d)は、それぞれ図3(a)のc−c断面図、d−d断面図を示す。図3(e)は、図3(d)のe部詳細図を示す。
図5は、第1実施形態のリードフレームの多面付け体MSを収納する収納ケース50を示す概略図である。図5(a)は、収納ケース50にリードフレームMSが収納される状態を示す図であり、図5(b)は、図5(a)のb部詳細図である。
各図において、光半導体装置1、リードフレームの多面付け体MS、樹脂付きリードフレームの多面付け体Rの平面図における左右方向をX方向、上下方向をY方向、厚み方向をZ方向とする。
光半導体装置1は、多面付けされたリードフレーム10(リードフレームの多面付け体MS、図3(a)参照)に光反射樹脂層20を形成して樹脂付きリードフレームの多面付け体R(図4参照)を作製し、LED素子2を電気的に接続し、透明樹脂層30を形成して、パッケージ単位に切断(ダイシング)することによって製造される(詳細は後述する)。
LED素子2は、発光層として一般に用いられるLED(発光ダイオード)の素子であり、例えば、GaP、GaAs、GaAlAs、GaAsP、AlInGaP等の化合物半導体単結晶、又は、InGaN等の各種GaN系化合物半導体単結晶からなる材料を適宜選ぶことにより、紫外光から赤外光に渡る発光波長を選択することができる。
また、リードフレームの多面付け体MSに光反射樹脂層20を形成する樹脂が充填されることによって、樹脂付きリードフレームの多面付け体Rが形成される。
枠体Fは、リードフレーム10の集合体G毎に、リードフレーム10を固定する部材であり、その外形が矩形状に形成されている。枠体Fの裏面側の外周縁には、図3に示すように、その外周側面から突出する凸部Tが形成されている。
この凸部Tは、後述のエッチング加工によって、金属基板からリードフレームの多面付け体MSが形成された場合に、枠体Fの外周側面に形成されるものであり、その加工特性から、図3(e)に示すように、凸部Tの先端は鋭く尖る場合がある。
この金属粉がリードフレームに付着すると、端子部11、12間を短絡させてしまう場合があり、LED素子2を発光させることができない等の不具合を有する光半導体装置1が製造されてしまう要因となっていた。
枠体樹脂部14が、枠体Fの外周側面及び枠体Fの裏面に形成されることによって、枠体Fの金属部がレール等と直接接触するのを防ぐことができ、上述の金属粉の発生を防止する。本実施形態では、リードフレームの多面付け体MSの収納ケースへの収納方向や、治具等への配置方向が、枠体Fの長辺と平行な方向であるので、枠体樹脂部14は、枠体Fの長辺側の外周側面及び裏面に形成される。より具体的には、枠体樹脂部14は、枠体Fの長辺に沿うようにして、枠体Fの外周側面の全面及び裏面の外周縁側の面に形成されている。
以上より、リードフレームの多面付け体MS、樹脂付きリードフレームの多面付け体R、及び、光半導体装置の多面付け体は、上述したような不具合を有する光半導体装置1が製造されてしまうのを回避することができる。
また、枠体樹脂部14は、光硬化性樹脂を用いる場合、例えば、アクリルや、ゴム、ゼラチンやカゼイン等のたんぱく質、PVA(ポリビニルアルコール)などを使用することも可能である。
また、枠体樹脂部14は、リードフレーム10や光反射樹脂層20の色とはコントラストの差が大きい色で着色されていることが望ましい。例えば、リードフレーム10の色が銀色であり、光反射樹脂層20の色が白色である場合、枠体樹脂部14の色は、黒色で着色されていることが望ましい。これにより、枠体樹脂部14から削れた樹脂粉が、リードフレーム10や光反射樹脂層20上に付着した場合に、その樹脂粉を、リードフレーム10や光反射樹脂層20上から目立たせることができ、樹脂粉の発見を更に容易にすることができる。
なお、枠体樹脂部14の着色は、硬化性樹脂に所定の色の顔料を混ぜることによって行われる。
また、枠体樹脂部14は、その外部に表出する面、すなわち、レールや治具等と接触する面が鏡面ではなく、表面粗さ(算術平均粗さRa、JIS B0601−2001)が、10μm以上700μm以下であることが望ましい。このように表面粗さを規定することによって、収納ケースのレール等に対して、表面粗さ分の空隙を設けることができるため、摩擦力が減少し、枠体樹脂部14を滑りやすくすることができる。
端子部11、12は、それぞれ導電性のある材料、例えば、銅、銅合金、42合金(Ni40.5%〜43%のFe合金)等により形成されており、本実施形態では、熱伝導及び強度の観点から銅合金から形成されている。
端子部11、12は、図3に示すように、互いに対向する辺の間に空隙部Sが形成されており、電気的に独立している。端子部11、12は、1枚の金属基板(銅板)をプレス又はエッチング加工することにより形成されるため、両者の厚みは同等である。
端子部12は、その表面にLED素子2のボンディングワイヤ2aが接続されるLED端子面12aが形成され、また、その裏面に外部機器に実装される外部端子面12bが形成される、いわゆるリード側端子部を構成する。
端子部11、12は、その表面及び裏面にめっき層Cが形成されており(図6(e)参照)、表面側のめっき層Cは、LED素子2の発する光を反射する反射層としての機能を有し、裏面側のめっき層Cは、外部機器に実装されるときの半田の溶着性を高める機能を有する。
凹部Mは、リードフレーム10の裏面側から見て、各端子部11、12の外周部に形成された窪みであり、その窪みの厚みは、端子部11、12の厚みの1/3〜2/3程度に形成されている。
連結部13は、端子部11、12を形成する各辺のうち、端子部11、12が対向する辺を除いた辺に形成されている。
連結部13cは、端子部12の上側の辺と、上側に隣接する他のリードフレーム10の端子部12の下側の辺とを接続し、また、端子部12の下側の辺と、下側に隣接する他のリードフレーム10の端子部12の上側の辺とを接続する。枠体Fに隣接する端子部12に対しては、連結部13cは、端子部12の上側又は下側の辺と、枠体Fとを接続している。
具体的には、連結部13dは、端子部12の上側の辺と、上側に隣接する他のリードフレーム10の端子部11の下側の辺とを接続し、また、端子部11の下側の辺と、下側に隣接する他のリードフレーム10の端子部12の上側の辺とを接続する。また、枠体Fに隣接する端子部11、12に対しては、連結部13dは、端子部12の上側の辺又は端子部11の下側の辺と、枠体Fとを接続している。
また、光反射樹脂層20が形成されたリードフレーム10の裏面には、図4(b)に示すように、矩形状の外部端子面11b、12bが表出することとなり、光半導体装置1の外観を向上させることができることに加え、半田で基板に実装する場合に、基板側への半田印刷を容易にしたり、半田を均一に塗布したり、リフロー後に半田内へのボイドの発生を抑制したりすることができる。また、光半導体装置1の面内(XY平面内)の中心線に対して線対称であることから、熱応力等に対する信頼性を向上させることができる。
フレーム樹脂部20aは、リードフレーム10の外周側面(端子部11、12の外周側面及び端子部間の空隙部S)だけでなく、各端子部に設けられた凹部Mや、連結部13の裏面にも形成される。
リフレクタ樹脂部20bは、リードフレーム10の表面側(リードフレーム10のLED素子2が接続される側)に突出するように形成され、リードフレーム10に接続されるLED素子2から発光する光の方向等を制御するリフレクタを構成する。このリフレクタ樹脂部20bは、端子部11、12のLED端子面11a、12aを囲むようにして、リードフレーム10の表面側に突出しており、LED端子面11aに接続されるLED素子2から発光する光を反射させて、光半導体装置1から光を効率よく照射させる。
リフレクタ樹脂部20bは、その外形が、枠体Fの内周縁に沿うようにして形成されており、その厚み(高さ)寸法が、LED端子面11aに接続されるLED素子2の厚み寸法よりも大きい寸法で形成される。
光反射樹脂層20を形成する樹脂は、凹み部分への樹脂充填に関しては、樹脂形成時には流動性が高いことが、凹み部分での接着性に関しては、分子内に反応基を導入しやすいためにリードフレームとの化学接着性を得られることが必要なため、熱硬化性樹脂が望ましい。
例えば、熱可塑性樹脂としては、ポリアミド、ポリフタルアミド、ポリフェニレンサルファイド、液晶ポリマー、ポリエーテルサルホン、ポリブチレンテレフタレート、ポリオレフィン等を用いることができる。
さらに、これらの樹脂中に光反射材として、二酸化チタン、二酸化ジルコニウム、チタン酸カリウム、窒化アルミニウム及び窒化ホウ素のうちいずれかを添加することによって、光の反射率を増大させることができる。
また、ポリオレフィンなどの熱可塑性樹脂を成形した後に、電子線を照射することで架橋させる方法を用いた、いわゆる電子線硬化樹脂を用いてもよい。
透明樹脂層30は、光の取り出し効率を向上させるために、LED素子2の発光波長において光透過率が高く、また、屈折率が高い材料を選択するのが望ましい。例えば、耐熱性、耐光性、及び機械的強度が高いという特性を満たす樹脂として、エポキシ樹脂や、シリコーン樹脂を選択することができる。特に、LED素子2に高輝度LED素子を用いる場合、透明樹脂層30は、強い光にさらされるため、高い耐光性を有するシリコーン樹脂からなることが好ましい。また、波長変換用の蛍光体を使用してもよく、透明樹脂に分散させてもよい。
図6は、第1実施形態のリードフレーム10の製造過程を説明する図である。
図6(a)は、レジストパターンを形成した金属基板100を示す平面図と、その平面図のa−a断面図とを示す。図6(b)は、エッチング加工されている金属基板100を示す図である。図6(c)は、エッチング加工後の金属基板100を示す図である。図6(d)は、レジストパターンが除去された金属基板100を示す図である。図6(e)は、めっき処理が施された金属基板100を示す図である。
なお、図6においては、1枚のリードフレーム10の製造過程について図示するが、実際には、1枚の金属基板100からリードフレームの多面付け体MSが製造される。
次に、図6(b)に示すように、レジストパターン40a、40bを耐エッチング膜として、金属基板100に腐食液でエッチング処理を施す。腐食液は、使用する金属基板100の材質に応じて適宜選択することができる。本実施形態では、金属基板100として銅板を使用しているため、塩化第二鉄水溶液を使用し、金属基板100の両面からスプレーエッチングすることができる。
エッチング処理により金属基板100には、図6(c)に示すように、凹部Mが形成された端子部11、12が形成され、金属基板100上に枠体Fに多面付けされたリードフレーム10が形成される。このとき、枠体Fには、その外周側面から突出した凸部Tが形成される(図3(e)参照)。
そして、図6(e)に示すように、リードフレーム10が形成された金属基板100にめっき処理を行い、端子部11、12にめっき層Cを形成する。めっき処理は、例えば、シアン化銀を主成分とした銀めっき液を用いた電界めっきを施すことにより行われる。
なお、めっき層Cを形成する前に、例えば、電解脱脂工程、酸洗工程、銅ストライク工程を適宜選択し、その後、電解めっき工程を経てめっき層Cを形成してもよい。
以上により、リードフレーム10は、図2及び図3に示すように、枠体Fに多面付けされた状態で製造される。なお、図2及び図3において、めっき層Cは省略されている。
本実施形態では、まずリードフレームの多面付け体MSを搬送装置に配置して長手方向(X方向)に移動させる。そして、長手方向に移動するリードフレームの多面付け体MSの枠体Fの凸部Tを含む外周側面及び裏面に対して、ノズルから枠体樹脂部14を形成する熱硬化性樹脂を噴出させて塗布(コーティング)する。
それから、リードフレームの多面付け体MS(枠体F)を所定の温度で加熱して、枠体Fに塗布された熱硬化性樹脂を硬化させる。以上により、枠体Fの外周側面及び裏面には、図3(e)に示すように、枠体樹脂部14が形成される。
また、枠体Fの枠体樹脂部14を形成する部分を、容器内に溜めた硬化性樹脂に漬け込み、その後に加熱や光の照射によって硬化性樹脂を硬化させるようにして、枠体樹脂部14を形成してもよい。この場合、枠体樹脂部14の形成をより簡易に行うことができる。
図7は、第1実施形態の光半導体装置1の製造過程を説明する図である。
図7(a)は、光反射樹脂層20が形成されたリードフレーム10の断面図であり、図7(b)は、LED素子2が電気的に接続されたリードフレーム10の断面図を示す。図7(c)は、透明樹脂層30が形成されたリードフレーム10の断面図を示す。図7(d)は、ダイシングにより個片化された光半導体装置1の断面図を示す。
なお、図7においては、1台の光半導体装置1の製造過程について図示するが、実際には、1枚の金属基板100から複数の光半導体装置1が製造されるものとする。また、図7(a)〜(d)は、それぞれ図6(a)の断面図に基づくものである。
図8は、第1実施形態の光半導体装置の多面付け体を示す図である。
これにより、光反射樹脂層20が形成されたリードフレームの多面付け体MSは、その表面及び裏面に、それぞれ各端子部11、12のLED端子面11a、12aと、外部端子面11b、12bとが表出した状態となる(図4(a)、図4(b)参照)。
以上により、図4に示す樹脂付きリードフレームの多面付け体Rが形成される。
透明樹脂層30は平坦な形状のほかレンズ形状、屈折率勾配等、光学的な機能を持たせてもよい。以上により、図8に示すように、多面付けされた光半導体装置1が形成される。
最後に、図7(d)に示すように、光半導体装置1の外形(図8中の破線)に合わせて、光反射樹脂層20及び透明樹脂層30とともに、リードフレーム10の連結部13を切断(ダイシング、パンチング、カッティング等)して、1パッケージに分離(個片化)された光半導体装置1(図1参照)を得る。
図9は、トランスファ成形の概略を説明する図である。図9(a)は、金型の構成を説明する図であり、図9(b)〜図9(i)は、樹脂付きリードフレームの多面付け体Rが完成するまでの工程を説明する図である。
図10は、インジェクション成形の概略を説明する図である。図10(a)〜図10(c)は、樹脂付きリードフレームの多面付け体Rが完成するまでの工程を説明する図である。
なお、図9及び図10において、説明を明確にするために、リードフレーム10の単体に対して光反射樹脂層20が成形される図を示すが、実際には、リードフレームの多面付け体MSに対して光反射樹脂層20が形成される。
トランスファ成形は、図9(a)に示すように、上型111及び下型112等から構成される金型110を使用する。
まず、作業者は、上型111及び下型112を加熱した後、図9(b)に示すように、上型111と下型112との間にリードフレームの多面付け体MSを配置するとともに、下型112の設けられたポット部112aに光反射樹脂層20を形成する樹脂を充填する。
そして、図9(c)に示すように、上型111及び下型112を閉じて(型締め)、樹脂を加熱する。樹脂が十分に加熱されたら、図9(d)及び図9(e)に示すように、プランジャー113によって樹脂に圧力をかけて、樹脂を金型110内へと充填(トランスファ)させ、所定の時間その圧力を一定に保持する。
インジェクション成形は、図10(a)に示すように、上から順に、ノズルプレート121、スプループレート122、ランナープレート123(上型)、下型124等から構成される金型120を使用する。
まず、作業者は、ランナープレート123及び下型124間にリードフレームの多面付け体MSを配置して、金型120を閉じる(型締め)。
そして、図10(b)に示すように、ノズル125をノズルプレート121のノズル穴に配置して、光反射樹脂層20を形成する樹脂を金型120内に射出する。ノズル125から射出された樹脂は、スプループレート122のスプルー122aを通過し、ランナープレート123のランナー123a及びゲートスプルー123bを通過した上で、リードフレームの多面付け体MSが配置された金型120内へと樹脂が充填される。
(1)リードフレームの多面付け体は、枠体Fの外周側面の凸部Tを覆う枠体樹脂部14を備えるので、凸部Tの金属部分と、収納ケースのレールや治具等との摩擦接触を回避することができ、金属粉の発生を防ぐことができる。これにより、リードフレームの多面付け体は、金属粉が端子部11、12間を短絡させ、LED素子2を発光させることができない等の不具合を有する光半導体装置1が製造されてしまうのを回避することができる。
また、リードフレームの多面付け体は、枠体Fの裏面にも枠体樹脂部14が形成されているので、枠体Fの裏面の金属面と、収納ケースのレールや治具等との摩擦接触を回避することができ、金属粉の発生を防ぐことができる。
(3)枠体樹脂部14は、ショア硬さ(D形、JIS Z2246)が50HSD以上に形成されているので、リードフレームの多面付け体MSが収納ケースのレールや治具等に載置された場合に、枠体樹脂部14のレールや治具等に対する滑りを良くすることができる。
(4)枠体樹脂部14は、リードフレーム10や光反射樹脂層20の色とは相違する色で形成されているので、枠体樹脂部14が収納ケースのレール等と接触し、削れて樹脂粉が発生したとしても、その樹脂粉をリードフレームの多面付け体MSから発見するのを容易にすることができる。また、枠体樹脂部14の色は、リードフレーム10及び光反射樹脂層20の色とのコントラストの差が大きいので、樹脂粉の発見をより容易にすることができる。
図11は、第1実施形態のリードフレーム10に設けられた枠体樹脂部の他の形態を説明する図である。図11(a)〜(f)は、それぞれ、枠体Fに設けられた枠体樹脂部の断面図であり、図3(e)に対応する図である。なお、図11(a)〜(f)においても、枠体樹脂部は、上述の説明と同様に、枠体Fの長辺側の凸部Tに形成されるものとする。なお、以下の説明及び図面において、前述した形態と同様の機能を果たす部分には、同一の符号又は末尾に同一の符号を付して、重複する説明を適宜省略する。
枠体Fに形成される凸部Tは、上述した形態(図3(e)参照)に限られず、エッチング加工の処理過程等を変更することによって、図11に示す他の形態に形成される場合があり、その場合、枠体樹脂部は、その形態に対応させて変更することができる。
図11(a)に示すように、枠体Fは、その外周側面から突出する凸部Tが形成されている。より具体的には、枠体Fは、その裏面側の外周縁において、外周側面から突出するようにして凸部Tが形成されている。
枠体樹脂部214は、凸部Tの先端部分及びその周囲のみを覆うようにして形成されており、図11(a)に示す断面図において、凸部Tの先端部を中心にして略円形状に形成されている。そのため、枠体樹脂部214は、枠体Fの外周側面や裏面よりも外側に突出することとなる。
以上の構成により、枠体樹脂部214は、リードフレームの多面付け体MSが収納ケースに収納等された場合に、収納ケースのレール等に対して枠体Fの凸部Tや裏面が直接接触して金属分が発生してしまうのを防ぐことができる。これにより、不具合を有する光半導体装置が製造されてしまうのを回避することができる。
また、本形態のリードフレームの多面付け体MSは、上述の枠体樹脂部14の場合に比べ、枠体樹脂部214を形成する樹脂の量を削減することができ、リードフレームの多面付け体MSの生産コストを削減することができる。
図11(b)に示すように、枠体Fには、その外周側面の表面側及び裏面側の外周縁から突出する凸部T1、T2が形成されている。また、枠体Fには、その外周側面の厚み方向のほぼ中央部に凸部T3が形成されている。
各凸部T1〜T3は、上述したように、いずれも枠体Fの外周側面から突出しており、凸部T3が、他の凸部T1、T2に比べ最も外側に突出している。
枠体樹脂部314は、枠体Fの表裏面の外周縁及びその近傍と、枠体Fの凸部T1〜T3を含む外周側面とを覆うようにして形成される。
以上の構成により、枠体樹脂部314は、リードフレームの多面付け体MSが収納ケースに収納等された場合に、収納ケースのレール等に対して枠体Fの凸部T1〜T3や裏面が直接接触して金属粉が発生してしまうのを防ぐことができる。これにより、不具合を有する光半導体装置が製造されてしまうのを回避することができる。
また、枠体樹脂部314は、枠体Fの表面側にも形成されているので、リードフレームの多面付け体MSを複数枚、直接積層させたとしても、表面側の枠体樹脂部314が他のリードフレームの多面付け体MSの裏面側の枠体樹脂部314と接触することとなる。そのため、枠体樹脂部314は、端子部11、12等の製品となる部分(図3(a)の破線部内)が傷ついたり、汚損したりするのを防ぐことができる。
図11(c)に示すように、枠体Fには、上述の他の形態2と同様に、その外周側面の表面側及び裏面側の外周縁から突出する凸部T1、T2が形成されている。また、枠体Fには、その外周側面の厚み方向のほぼ中央部に凸部T3が形成されている。
各凸部T1〜T3は、いずれも枠体Fの外周側面から突出しており、凸部T3が、他の凸部T1、T2に比べ最も外側に突出している。
枠体樹脂部414は、凸部T1〜T3をそれぞれ覆うようにして形成された樹脂であり、凸部T1を覆う樹脂部414aと、凸部T2を覆う樹脂部414bと、凸部T3を覆う樹脂部414cとを備える。
以上の構成により、枠体樹脂部414は、リードフレームの多面付け体MSが収納ケースに収納等された場合に、収納ケースのレール等に対して枠体Fの各凸部T1〜T3や裏面が直接接触して金属粉を発生してしまうのを防ぐことができる。これにより、不具合を有する光半導体装置が製造されてしまうのを回避することができる。
また、枠体樹脂部414は、枠体Fの表面側にも樹脂部414aが形成されているので、リードフレームの多面付け体MSを複数枚、直接積層させたとしても、樹脂部414aが他のリードフレームの多面付け体MSの樹脂部414bと接触することとなる。そのため、枠体樹脂部414は、端子部11、12等の製品となる部分が傷ついたり、汚損したりするのを防ぐことができる。
更に、本形態のリードフレームの多面付け体MSは、上述の他の形態2の場合に比べ、枠体樹脂部414を形成する樹脂の量を削減することができ、リードフレームの多面付け体MSの生産コストを削減することができる。
図11(d)に示すように、枠体Fには、上述の他の形態2と同様に、その外周側面の表面側及び裏面側の外周縁から突出する凸部T1、T2が形成されている。また、枠体Fは、その外周側面の厚み方向のほぼ中央部にも凸部T3が形成されている。
各凸部T1〜T3は、いずれも枠体Fの外周側面から突出しており、凸部T3が、他の凸部T1、T2に比べ最も外側に突出している。
枠体樹脂部514は、凸部T3の先端部分及びその周囲のみを覆うようにして形成されており、図11(d)に示す断面図において、凸部Tの先端部を中心にして略円形状に形成されている。そのため、枠体樹脂部514は、枠体の外周側面よりも外側に突出することとなる。
以上の構成により、枠体樹脂部514は、リードフレームの多面付け体MSが収納ケースに収納等された場合に、レール等との接触により最も金属粉の発生する可能性の高い枠体Fの凸部T3におけるレール等の接触を防ぎ、金属粉の発生を防止することができる。これにより、不具合を有する光半導体装置が製造されてしまうのを回避することができる。
本形態の枠体樹脂部514は、枠体Fの裏面から発生する金属粉の量が問題ない程度に少ない場合等に特に有効であり、必要最小限の枠体樹脂部の構成により上記効果を奏することができ、リードフレームの多面付け体MSの生産コストを低減することができる。
図11(e)に示すように、枠体Fには、その外周側面の表面側及び裏面側の外周縁から突出する凸部T1、T2が形成されている。
枠体樹脂部614は、凸部T1、T2をそれぞれ覆うようにして形成された樹脂であり、凸部T1を覆う樹脂部614aと、凸部T2を覆う樹脂部614bを備える。
各樹脂部614a、614bは、それぞれ凸部T1、T2の先端部分及びその周囲のみを覆うようにして形成されており、図11(e)に示す断面図において、各凸部T1、T2の先端部を中心にして略円形状に形成されている。そのため、樹脂部614aは、枠体Fの表面及び外周側面から外側に突出し、樹脂部614bは、枠体Fの裏面及び外周側面から外側に突出する。
また、枠体樹脂部614は、枠体Fの表面側にも樹脂部614aが形成されているので、リードフレームの多面付け体MSを複数枚、直接積層させたとしても、樹脂部614aが他のリードフレームの多面付け体MSの樹脂部614bと接触することとなる。そのため、枠体樹脂部614は、端子部11、12等の製品となる部分が傷ついたり、汚損したりするのを防ぐことができる。
図11(f)に示すように、枠体Fは、その外周縁において、その裏面から突出する凸部Tが形成されている。
枠体樹脂部714は、凸部Tの先端部分及びその周囲のみを覆うようにして形成されており、図11(f)に示す断面図において、凸部Tの先端部を中心にして略円形状に形成されている。そのため、枠体樹脂部714は、枠体Fの外周側面や裏面よりも外側に突出することとなる。
以上の構成により、枠体樹脂部714は、枠体Fの裏面に突出する凸部Tが形成されている場合においても、枠体Fの凸部Tが収納ケースのレール等に直接接触して金属粉が発生してしまうのを防ぐことができる。また、枠体樹脂部714は、凸部Tの先端部を中心にして略円形状に形成されているので、枠体Fの裏面だけでなく、外周側面の外側にも突出することとなり、枠体Fの外周側面がレール等に直接接触するのも防ぐことができる。これにより、不具合を有する光半導体装置が製造されてしまうのを回避することができる。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。
図12は、第2実施形態の半導体装置801の全体構成を示す図である。図12(a)、図12(b)、図12(c)は、それぞれ半導体装置801の平面図、側面図、裏面図を示す。図12(d)は、図12(a)のd−d断面図を示す。
図13は、第2実施形態のリードフレームの多面付け体MSの全体図である。図13(a)、図13(b)、図13(c)は、それぞれリードフレームの多面付け体MSの平面図、側面図、裏面図を示す。
なお、以下の説明及び図面において、前述した第1実施形態と同様の機能を果たす部分には、同一の符号又は末尾に同一の符号を付して、重複する説明を適宜省略する。
半導体装置801は、図12に示すように、リードフレーム10、ダイオード802、樹脂層820を備える。半導体装置801は、多面付けされたリードフレーム10にダイオード802を電気的に接続し、樹脂層820を形成して、パッケージ単位に切断(ダイシング)することによって製造される。
ダイオード802は、整流(電流を一定方向にしか流さない)作用を有する半導体素子であり、n型半導体とp型半導体とが接合されることによって構成される。
樹脂層820は、リードフレーム10の各端子部11、12間を絶縁したり、ダイオード802を外部から絶縁したりする樹脂の層であり、例えば、エポキシ樹脂等から形成される。
また、リードフレームの多面付け体MSは、枠体Fの裏面にも枠体樹脂部814が形成されるので、枠体Fの裏面の金属面を起因とした金属粉の発生も防ぐことができる。
なお、本実施形態において、リードフレームの多面付け体MSは、凸部Tを、第1実施形態に記載の他の形態1〜8(図11参照)の凸部Tに置き換えることが可能であり、また、枠体樹脂部814の形態もその凸部Tの形状に合わせて置き換えることが可能である。枠体樹脂部814の形態を置き換えることによって得られる効果は、第1実施形態の各他の形態1〜8に記載した効果と同様に本実施形態においても奏することができる。
(1)第1実施形態においては、リードフレームの多面付け体MSは、半導体装置としてLED素子2を実装した光半導体装置1に適用される例を示したが、これに限定されない。例えば、第2実施形態のように、ダイオードや、トランジスタを実装する半導体装置に適用することも可能である。この場合、この半導体装置は、半導体素子を覆う樹脂層を透明にする必要がないため、光反射樹脂層20と透明樹脂層30とを備える必要がなく、両樹脂層を一の樹脂層として形成することができる。
なお、枠体Fの短辺に平行な方向である場合、リードフレームの多面付け体は、枠体Fの短辺側の凸部T上に枠体樹脂部を形成することで、枠体Fの凸部Tを起因とした金属粉の発生を防止することができる。
また、枠体Fの短辺に平行な方向と長辺に平行な方向との両方である場合は、枠体Fの短辺側及び長辺側の両方の凸部T上に枠体樹脂部を形成することで、枠体Fの凸部Tを起因とした金属粉の発生を防止することができる。
2 LED素子
10 リードフレーム
11 端子部
12 端子部
13 連結部
14 枠体樹脂部
20 光反射樹脂層
20a フレーム樹脂部
20b リフレクタ樹脂部
30 透明樹脂層
50 収納ケース
51 レール
801 半導体装置
802 ダイオード
820 樹脂層
F 枠体
G 集合体
M 凹部
MS リードフレームの多面付け体
R 樹脂付きリードフレームの多面付け体
S 空隙部
T 凸部
Claims (6)
- 半導体素子が表面に接続されるリードフレームが、枠体に多面付けされたリードフレームの多面付け体と、
前記リードフレームの外周側面に形成されるフレーム樹脂部を有する樹脂層とを備え、
前記枠体は、その外周側面及び裏面の少なくともいずれかの面から突出する凸部を有し、
前記枠体の凸部の少なくとも一部を覆うようにして形成される枠体樹脂部を備え、
前記枠体樹脂部は、前記リードフレーム及び前記樹脂層の色とは異なる色で形成されること、
を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体。 - 請求項1に記載の樹脂付きリードフレームの多面付け体において、
前記枠体樹脂部は、硬化性樹脂で形成されていること、
を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体。 - 請求項1又は請求項2に記載の樹脂付きリードフレームの多面付け体において、
前記枠体樹脂部は、その樹脂のショア硬さ(D形、JIS Z2246)が50HSD以上で形成されること、
を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体。 - 請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の樹脂付きリードフレームの多面付け体において、
前記枠体樹脂部は、外部に表出する面の表面粗さ(算術平均粗さRa、JIS B0601−2001)が、10μm以上700μm以下で形成されること、
を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体。 - 請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の樹脂付きリードフレームの多面付け体において、
前記樹脂層は、前記リードフレームの前記半導体素子が接続される側の面に突出して形成されるリフレクタ樹脂部を有すること、
を特徴とする樹脂付きリードフレームの多面付け体。 - 請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の樹脂付きリードフレームの多面付け体と、
前記樹脂付きリードフレームの多面付け体の前記各リードフレームに接続される半導体素子と、
前記樹脂付きリードフレームの多面付け体の前記半導体素子が接続される側の面に形成され、前記半導体素子を覆う透明樹脂層と、
を備える半導体装置の多面付け体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013182017A JP6311240B2 (ja) | 2013-09-03 | 2013-09-03 | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013182017A JP6311240B2 (ja) | 2013-09-03 | 2013-09-03 | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015050370A JP2015050370A (ja) | 2015-03-16 |
JP6311240B2 true JP6311240B2 (ja) | 2018-04-18 |
Family
ID=52700123
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013182017A Active JP6311240B2 (ja) | 2013-09-03 | 2013-09-03 | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6311240B2 (ja) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH065645A (ja) * | 1992-06-23 | 1994-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子の樹脂成形方法 |
JP2004319816A (ja) * | 2003-04-17 | 2004-11-11 | Fujitsu Ltd | リードフレーム及びその製造方法 |
JP4506491B2 (ja) * | 2005-02-07 | 2010-07-21 | 凸版印刷株式会社 | 面付けリードフレーム及びその製造方法並びに半導体装置 |
JP2007088160A (ja) * | 2005-09-21 | 2007-04-05 | Sharp Corp | 半導体デバイスの製造方法、半導体デバイス、及び電子機器 |
US8933548B2 (en) * | 2010-11-02 | 2015-01-13 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Lead frame for mounting LED elements, lead frame with resin, method for manufacturing semiconductor devices, and lead frame for mounting semiconductor elements |
-
2013
- 2013-09-03 JP JP2013182017A patent/JP6311240B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015050370A (ja) | 2015-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6209826B2 (ja) | リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6115671B2 (ja) | リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、光半導体装置 | |
JP6197297B2 (ja) | リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6167556B2 (ja) | リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP5590105B2 (ja) | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6171360B2 (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体、樹脂付きリードフレーム、光半導体装置 | |
JP6311240B2 (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 | |
JP6311250B2 (ja) | リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 | |
JP2017027991A (ja) | 樹脂付きリードフレーム、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体、樹脂付きリードフレーム用金型 | |
JP2014060370A (ja) | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP5884789B2 (ja) | リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレーム、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP2014138088A (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体 | |
JP2015038917A (ja) | リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6064649B2 (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体 | |
JP2014168102A (ja) | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP2015032699A (ja) | リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体、リードフレーム、樹脂付きリードフレーム、光半導体装置 | |
JP6065599B2 (ja) | リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6111628B2 (ja) | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6111683B2 (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6201335B2 (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6375753B2 (ja) | リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、半導体装置の多面付け体 | |
JP6172253B2 (ja) | リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレーム、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置 | |
JP6136345B2 (ja) | 樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置の多面付け体 | |
JP6123200B2 (ja) | 光半導体装置用リードフレーム、樹脂付き光半導体装置用リードフレーム、リードフレームの多面付け体、樹脂付きリードフレームの多面付け体、光半導体装置、光半導体装置の多面付け体 | |
JP2014175388A (ja) | 保護部材付きリードフレームの多面付け体、保護部材及び樹脂付きリードフレームの多面付け体、保護部材付き半導体装置の多面付け体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160721 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20160928 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170509 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170707 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170801 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170926 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180220 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180305 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6311240 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |