JP2014517346A - 経年変化ピクセル領域を向上した推定速度で補正する適応フィードバックシステム - Google Patents

Abstract

ディスプレイパネルの領域において、測定特性が継続的に変化（例えば、経年変化又は緩和）する領域を集中的に走査する、局部の優先度に基づいた走査方式である。アルゴリズムは、補正を必要とする領域又は部分を識別し、一つの領域内の単一のピクセルの電流測定値を一つの候補として利用して、その領域の残りの部分が更なる補正を必要とするかどうかを判定する。したがって、本アルゴリズムは、新たに変化した領域を速やかに検出し、十分な注意を必要とする領域に、時間のかかる測定を集中させる。省略可能であるが、測定されたピクセルが補正を必要とする場合には、近隣ピクセルも補正を必要とする傾向があることを考慮して、測定されたピクセルと同じ状態（例えば、経年変化又は過剰補正）を共有している近隣ピクセルも自動的に補正することができる。

Description

（著作権）
本発明明細書の開示の一部に、著作権保護の対象となる内容を含む。著作権の所有者は、特許商標庁の包袋又は記録における、本発明の開示者による複写には異議を申し立てないが、これ以外についてはいかなる場合にも、著作権が留保される。

既存のシステムは、ディスプレイパネルのピクセル内の駆動トランジスタ及び有機発光素子（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｅｖｉｃｅ，ＯＬＥＤ）による経年変化を補正するための電気的フィードバックを提供する。ディスプレイパネルは、複数のブロックに分割することができる。各フレームにおいて、非常に少数のピクセルの電気的経年変化が、ブロック毎に測定され得る。このため、パネル全体の走査は、非常に長大なプロセスであり、高速経年変化現象及び熱の影響がある場合に問題が生じる。

米国特許出願第１２／９５６，８４２号明細書 米国特許出願第１３／０２０，２５２号明細書

例えば、パネルサイズが６００×８００ピクセル又は１２００×１６００サブピクセルであるとして、一つの制御回路が２１０列を制御すると想定した場合、このような制御回路が８つ必要になる。フレームレートが６０Ｈｚで、８つの各回路において、１０個のサブピクセルが各フレームで同時に測定される場合、パネル全体の走査時間は、１２００×２１０／１０／６０／６０、すなわち７分である。したがって、初期評価からの絶対値差の１００を用いて経年変化／緩和領域を補正するには、少なくとも１００×７＝７００分、すなわち１１時間以上という、受け入れ難い膨大な長さの時間がかかる。より効率のよい補正方式が求められている。

ピクセル内の変動又は急激な変化（例えば、経年変化、緩和、色ずれ、温度変化、又は処理の不均一性等の、ピクセルに悪影響を与える現象によって生じる変化）を補正するプロセスの効率を向上させるアルゴリズムが開示され、これは、以前の測定値からの変化（経年変化／緩和等）が生じる可能性（経年変化、緩和、色ずれ、温度変化、又は処理の不均一性等に起因）、又は基準値から逸脱する可能性（駆動電流、Ｖ_ＯＬＥＤ，輝度、色純度等の不整合に起因）の高い領域を測定するように適応的に仕向け、このような領域における推定速度を上昇させ、測定されないピクセルに推定される変化（例えば、経年変化）を、他のピクセルの測定値を用いて更新するプロセスを提供することによってなされる。

本開示の一態様によれば、以前の状態から、又は事前に測定された基準値から逸脱した領域を区別する方法が開示される。これらの領域は、ピクセルのクラスタに編成されたピクセルから成るディスプレイパネルの領域である。本方法は、第１基準が満たされるまで、第１クラスタ内の少なくとも一つの各ピクセルを走査することを含む。この走査は、第１クラスタ内のピクセルのうちの一つの対象ピクセルの特性を測定し、測定特性と基準特徴とを比較して、対象ピクセルの状態を特定し、対象ピクセルの状態が、その対象ピクセルの以前の測定値から変化している場合に、第１基準が満たされたと判定することを含む。本方法は、更に、第１基準が満たされたことに反応して、走査したピクセルの状態に少なくとも基づいて、ディスプレイパネルの測定特性の逸脱を自動補正し、測定特性を基準特性側に変位させることを含む。

ディスプレイのピクセルは、更に複数の領域に編成することができる。これらの領域のうちの少なくともいくつかの各領域には、ピクセルの複数のクラスタが存在してよい。走査は、各領域内の少なくとも一つのクラスタに実行することができる。第１基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされてよい。この状態は、対象ピクセルが経年変化したことを表す経年変化状態にあるのかどうかを少なくとも示すことができる。自動補正は、第１クラスタ内の少なくとも一つのピクセルの経年変化又は過剰補正を補正できる。

測定特性は、対象ピクセル内の発光素子の駆動に用いられる電流であってよい。走査は、第１クラスタ内の右上のピクセルから開始して左下のピクセルで終了する走査順序で実行されてよい。測定は、自動補正を行う前に、第１クラスタ内の一部のピクセルだけに実行されてよい。

本方法は、第１クラスタ内の測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、第１クラスタに優先順序を付けて、優先度値を生成することを更に含んでよい。前述の状態は、対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを更に示すことができる。関数は、第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。

本方法は、更に、より高い優先度値が、第１クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、第１クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、追加ピクセルそれぞれの特性を測定して、各追加ピクセルの状態を特定することを含んでよい。状態は、対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを更に示すことができる。関数は、第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。追加ピクセルの個数は、絶対差が、第１クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときに、ゼロであってよい。

本方法は、優先度値が閾値を超えたときに、測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、測定されたピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する絶対経年変化値を調整することを更に含むことができる。絶対経年変化値は、測定されたピクセルが経年変化した程度、又は過剰補正された程度を示すことができる。

本方法は、絶対経年変化値が調整された各近隣ピクセルについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタの係数を減じることを更に含んでよい。この調整は、測定されたピクセルの状態が経年変化状態であることに反応して、絶対経年変化値に１を増分し、測定されたピクセルが過剰補正状態にあることに反応して、絶対経年変化値に１を減分することを含んでよい。

絶対経年変化値は、定数値によって、又は優先度の関数として調整することができ、この関数において、絶対経年変化値は、優先度値のより高いものについて、優先度値のより低いものよりも大きく調整される。本方法は、測定されたクラスタのうちの対応するクラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、各領域内の少なくとも一つのクラスタに優先順序を付けて、対応する優先度値を各領域に生成することを更に含んでよい。状態は、対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを示すことができる。関数は、各領域内の少なくとも一つの各クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、各領域の少なくとも一つの各クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。絶対差は、優先度値に対応してよい。本方法は、各領域について、より高い優先度値が、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定することを更に含んでよい。

第１クラスタ内の対象ピクセルは、その第１クラスタの第１行に位置してよい。走査は、１フレームの中で、第１クラスタ内の第２の対象ピクセルの特性を測定することを更に含んでよい。第２の対象ピクセルは、第１クラスタ内で第１行とは異なる第２行に存在するものであってよい。各追加ピクセルは、第１クラスタ内の連続した、又は連続していない異なる複数の行に存在してよい。各追加ピクセルの特性の測定は、１フレームの中で、異なる行に位置する少なくとも２つの追加ピクセルに実行することができる。

状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを更に示すことができる。測定特性は、対象ピクセル内の発光素子によって引き込まれる電流値であってよく、基準特性は、基準電流であってよい。基準電流は、ディスプレイパネル内の基準ピクセルによって引き込まれる電流である。

本開示の他の態様によれば、ピクセルから成るディスプレイパネルのピクセル領域の特性が、以前に測定した値又は基準値から逸脱している可能性の高い領域に優先度を設定する方法は、ディスプレイパネルのピクセルのうちの少なくとも一部のピクセルの特性を測定し、測定されたピクセルそれぞれについて、測定特性と、対応する基準特性とを比較して、測定された各ピクセルの対応する状態を特定し、各領域内の測定されたピクセルの状態の関数として、ディスプレイパネルの領域に優先度を設定して優先順序を生成し、優先順序に従って、領域内の測定特性の、基準特性からの逸脱を自動補正することを含む。

本方法は、第１基準が満たされるまで、第１クラスタ内の少なくともいくつかの各ピクセルを走査することを更に含んでよい。走査は、測定特性と基準特性とを比較して、第１クラスタ内の対象ピクセルの状態について、対象ピクセルが経年変化していることを表す経年変化状態にあるのかどうかを少なくとも示す状態を特定し、対象ピクセルの状態がその対象ピクセルの以前の測定値から変化していた場合に、第１基準が満たされたと判定することを更に含んでよい。自動補正は、走査されたピクセルの状態に少なくとも基づいて、領域の経年変化又は過剰補正を補正するものである。

ディスプレイのピクセルは、更に、複数の領域に編成することができる。領域のうちの少なくともいくつかの各領域は、ピクセルのクラスタを複数個含んでよい。走査は、各領域の少なくとも一つのクラスタにおいて実行することができる。第１基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされてよい。

測定特性は、対象ピクセル内の発光素子の駆動に使用される電流であってよく、基準特性は、基準電流である。走査は、第１クラスタ内の右上のピクセルから開始して左下のピクセルで終了する走査順序に従って実行されてよい。

状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示すことができる。関数は、第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。

優先度の設定は、第１クラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として第１クラスタの優先度を設定して、優先度値を生成することを含んでよい。本方法は、より高い優先度値が、第１クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、第１クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、各追加ピクセルの特性を測定して、追加ピクセルそれぞれの状態を特定することを更に含んでよい。

状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示すことができる。関数は、第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。追加ピクセルの個数は、絶対差が、第１クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときに、ゼロであってよい。

状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示すことができる。本方法は、優先度値が閾値を越えたときに、測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、測定されたピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する経年変化絶対値を調整することを更に含むことができ、経年変化絶対値は、ピクセルが経年変化している程度又は過剰補正された程度を示す値に対応する。本方法は、経年変化絶対値が調整された近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに対応付けられた平均化フィルタの係数を小さくすることを更に含んでよい。

調整は、測定されたピクセルの状態が経年変化状態にあることに反応して、経年変化絶対値に１を増分し、測定されたピクセルの状態が過剰補正状態にあることに反応して、経年変化絶対値に１を減分することを含んでよい。経年変化絶対値は、定数値によって、又は優先度値の関数として調整することができ、この関数において、絶対経年変化値は、優先度値の高いものについて、優先度値の低いものよりも大きく調整される。

本開示の更に他の態様によれば、ピクセルの既知の測定値を用いて、ディスプレイパネルの近隣ピクセルの推定経年変化を更新する方法が開示される。ディスプレイパネルは、ピクセルのクラスタに編成される。本方法は、ディスプレイパネルのクラスタのうちの第１クラスタ内の各ピクセルの特性を測定し、クラスタ内の各ピクセルについて、そのピクセルの測定特性と基準特性とを比較し、ピクセルの状態であって、ピクセルが経年変化状態にあるのか、過剰補正状態にあるのか、又はそのいずれでもない状態にあるのかを表す状態を特定し、クラスタ内の選択ピクセルの状態が、その選択ピクセルの以前の測定値から不変であり、且つ、その選択ピクセルの状態が、クラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じである場合に、選択ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値が、ピクセルの経年変化状態又は緩和状態を表し、且つ、ディスプレイパネルに連結されたメモリに格納される経年変化値を調整し、近隣ピクセルの経年変化値に少なくとも部分的に基づいてディスプレイパネルの経年変化又は緩和を自動補正することを含む。

本方法は、経年変化値が調整された近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタの係数を小さくすることを更に含んでよい。近隣ピクセルは、選択ピクセルのすぐ隣に位置するものであってよい。

本開示の更に他の態様によれば、ピクセルを含み、複数のピクセルクラスタに分割されるディスプレイパネルの領域を選択的に走査する方法は、第１フェーズにおいて、第１基準が満たされるまで、クラスタのうちの少なくともいくつかを走査することを含む。この走査は、ピクセル走査順序に従って走査されているクラスタ内の対象ピクセルの特性を測定し、測定特性と基準特性とを比較して、対象ピクセルの状態であって、その対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、緩和状態にあるのか、又はそのいずれでもない状態にあるのかを示す状態を生成し、対象ピクセルの状態がその対象ピクセルの以前の状態と異なる場合に、第１基準が満たされたと判定し、クラスタ内で所定数の対象ピクセルが走査されたときに、第１基準が満たされたと判定することを含む。本方法は、第１基準が満たされたときに、少なくとも一つのクラスタを更に走査する。更に走査することは、走査しているクラスタの経年変化の程度又は緩和の程度の関数として、追加ピクセルを走査する優先度を決定し、走査しているクラスタ内のいくつかの追加の対象ピクセルであって、その追加の対象ピクセルの個数は優先度の関数である、追加の対象ピクセルの特性を測定し、対象ピクセルの状態が、走査しているクラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じであるときに、対象ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値が、ピクセルの経年変化状態又は緩和状態を示し、且つメモリ内に格納された経年変化値を調整することを含む。

本開示の前述した態様、他の態様、及び実施形態は、各種の実施形態若しくは態様、又はその両方についての詳細な説明を参照することで当業者に明らかになるであろう。詳細な説明は、下記に簡単な説明を示した図面を参照しながら提供される。

本発明の前述した利点及び他の利点は、下記の詳細な説明を読み、且つ図面を参照することで明らかになるであろう。

ピクセルのアレイが行列構造に並べられたアクティブマトリクス領域又はピクセルアレイを有する電子ディスプレイシステム又はパネルを示す図である。 ３つの拡張集積回路（Ｅｎｈａｎｃｅｍｅｎｔ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ，ＥＩＣ）によって制御されるピクセルアレイにおいて、各ＥＩＣがピクセルアレイの列ブロックを制御するピクセルアレイの例を示す機能ブロック図である。 ピクセル毎に用いられて、ピクセルが経年変化若しくは緩和した状態、又はそのいずれでもない状態にあるのかを追跡する状態機械の例を示す図である。 複数のピクセルで構成されるピクセルクラスタであって、ピクセルが更に複数のサブピクセルで構成され得るピクセルクラスタによって構成される領域の構成方式を示す機能ブロック図である。 本開示の一態様に係る、経年変化／緩和の激しい領域を推定する推定システムの例を示す機能ブロック図である。 本開示の一態様に係る推定アルゴリズムのフローチャート図である。 図３の推定アルゴリズムのフェーズＩ又はＩＩにおいて呼び出される、本発明の一態様に係る測定更新アルゴリズムのフローチャート図である。 図３の推定アルゴリズムのフェーズＩ又はＩＩにおいて呼び出される、本発明の一態様に係る測定更新アルゴリズムのフローチャート図である。 図３の推定アルゴリズムのフェーズＩＩにおいて呼び出されて、走査すべきいくつかの追加ピクセルを求める、本開示の一態様に係るアルゴリズムのフローチャート図である。 図４Ｂの測定更新アルゴリズムによって呼び出される近隣更新アルゴリズムのフローチャート図である。

本開示は、各種の変形及び代替の形式を許容するものであるが、特定の実施形態及び実装例が、図面において例として示されると共に、本明細書において詳細に記述される。ただし、本開示は、開示した特定の形式に限定されるものではないことを理解されたい。むしろ、本開示は、付属の請求項に定義された本発明の精神及び範囲に包含される変形物、等価物、及び代替物を全て網羅するものである。

本開示は、経年変化若しくは緩和等の現象、温度変化、又は処理の不均一性が引き起こすようなピクセルの特性変化を補正するために、ピクセルアレイの領域を識別するものであることに留意されたい。有害な現象に起因する特性の変化は、適切な測定回路又はアルゴリズムによって測定することができ、ピクセル（具体的にはピクセルの駆動トランジスタ）が経年変化又は緩和していることを示す基準値、又は、ピクセルの輝度性能、ピクセルの色ずれ、若しくは所望の輝度を実現するために必要な予想駆動電流値からの電流の逸脱を示す基準値等の基準値を用いて追跡することができる。これらのピクセル領域が特定された後、その領域をどのように補正するのか（経年変化又は緩和の補正方式）については、本開示の着目事項ではない。ディスプレイ内のピクセルの経年変化又は緩和を補正する開示の例は既に知られている。これらの例は、２０１０年１１月３０日に「Ｓｙｓｔｅｍ ａｎｄ Ｍｅｔｈｏｄｓ Ｆｏｒ Ａｇｉｎｇ Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ ｉｎ ＡＭＯＬＥＤ Ｄｉｓｐｌａｙｓ（ＡＭＯＬＥＤディスプレイにおける経年変化補正システム及び方法）」の名称で出願され、本願と共に譲渡された同時係属中の米国特許出願第１２／９５６，８４２号明細書、及び２０１１年２月３日に「Ｓｙｓｔｅｍ ａｎｄ Ｍｅｔｈｏｄｓ Ｆｏｒ Ｅｘｔｒａｃｔｉｎｇ Ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ Ｃｕｒｖｅｓ Ｆｏｒ ａｎ Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｅｖｉｃｅ（有機発光素子の補正曲線を抽出するシステム及び方法）」の名称で出願され、本願と共に譲渡された同時係属中の米国特許出願第１３／０２０，２５２号明細書で参照できる。本開示は、ディスプレイ内のピクセル（発光素子又は発光素子に電流を送る駆動ＴＦＴトランジスタ）の経年変化現象と緩和現象の両方（ただし、ピクセルは、経年変化状態、緩和状態、又は経年変化若しくは緩和のいずれでもない状態、すなわち通常の「正常な」状態のいずれかにあるため、両方を同時にではない）、温度変化、処理のばらつきに起因する不均一性を補正することに関し、これらの用語は、本開示が属する分野の当業者に理解される通りの意味である。概括すると、このような現象に起因するピクセル回路の測定可能な特性における何らかの変化、例えば、ピクセルの発光素子に与えられる駆動電流、発光素子の輝度（例えば、輝度出力は、従来から光センサ又は他のセンサ回路で測定可能である）、発光素子の色ずれ、ピクセル回路内の電子デバイスに関連付けられた、ピクセル内の発光素子端電圧に相当するＶ_ＯＬＥＤ等の電圧等の変化を補正することに関する。本開示において、「経年変化／緩和」又は「経年変化した／緩和した」等の組み合わせ表現が用いられる場合もあるが、経年変化に関する説明は、同様に緩和にも当てはまり、またその逆もあり得ると共に、ピクセル又はピクセル回路の測定可能な特性の基準状態からの逸脱の原因となる他の現象にも該当する。緩和の代わりに、「回復する」、「緩和する」、又は「過剰補正される」という用語も用いられ、これらの用語は、本明細書において交換可能であり、且つ互いに同義に用いられる。本開示全体を通じて「経年変化／緩和」の不自然な記述を避けるために、本開示では、経年変化又は緩和の一方しか言及しない場合があるが、本明細書に開示する概念及び態様は、両方の現象に同等に適用されることを理解されたい。経年変化する、経年変化した、緩和した、緩和する、又は緩和等、経年変化又は緩和の動詞の各種の文法的変化形は、本明細書において交換可能に用いられる。本明細書の例では、補正される現象が、ピクセルの駆動トランジスタの経年変化又は緩和であると想定されるが、本開示は、経年変化又は緩和のみを高速に補正することに限定されるものではなく、むしろピクセル／ピクセル回路の特性を測定し、測定した特性を以前の測定値又は基準値と比較して、ピクセル／ピクセル回路が、前述の現象（例えば、経年変化、過剰補正、色ずれ、温度変化、処理のバラつき、又は駆動電流若しくはＶ_ＯＬＥＤの基準電流若しくは電圧からの逸脱）による悪影響を受けているかどうかを判定することによって、ピクセル又はピクセルに対応するピクセル回路の各種の変動現象を補正することにも同様に適用可能であることを強調しておく。

便宜上、変動（経年変化や緩和等の）領域を特定するシステム及び方法は、単に推定アルゴリズムと記述される。推定アルゴリズムは、図面に関連付けて下記で説明するように、変動（例えば、経年変化／緩和）が生じている可能性の高い該当領域内のピクセルを測定するように適応的に仕向けるため、補正の推定速度が速くなる。新たに変動（例えば、経年変化又は緩和）した表示パネルの領域は、全てのピクセルを対象としたフルパネル走査を行う必要なしに、推定アルゴリズムによって迅速に判別することができる。この変動は、ピクセル又は対応するピクセル回路の特性の変化を意味する。上記で説明した特性は、例えば、駆動ＴＦＴ回路、Ｖ_ＯＬＥＤ、ピクセル輝度、又は色の純度であってよい。これらの変動は、ピクセルの経年変化若しくは過剰補正、環境温度変化を含む一つ以上の現象の結果として、又は基板上のピクセル若しくはピクセルクラスタに性能のばらつきをもたらす、半導体製造工程に固有の材料の不均一性に起因して生じ得る。

図１Ａは、アクティブマトリクス領域、すなわちアクティブピクセル１０４ａ〜１０４ｄのアレイが行列構造に並べられたピクセルアレイ１０２を有する電子ディスプレイシステム１００である。説明を容易にするため、２つの行及び列のみを図示した。ピクセルアレイ１０２であるアクティブマトリクス領域の外側は、周辺領域１０６で、この領域には、ピクセルアレイ１０２の領域を駆動及び制御する周辺回路が配設される。周辺回路は、ゲート又はアドレス駆動回路１０８、ソース又はデータ駆動回路１１０、制御装置１１２、及び省略可能な電源電圧（例えば、Ｖｄｄ）制御部１１４を含む。制御装置１１２は、ゲート、ソースの駆動回路１０８，１１０、及び電源電圧制御部１１４を制御する。制御装置１１２によって制御されるゲート駆動回路１０８は、ピクセルアレイ１０２内のピクセル１０４の各行に一つずつ対応するアドレスライン又は選択ラインＳＥＬ［ｉ］，ＳＥＬ［ｉ＋１］等を動作させる。ピクセル共有構造において、ゲート又はアドレス駆動回路１０８は、省略可能であるが、２行ずつのピクセル１０４ａ〜１０４ｄというように、ピクセルアレイ１０２内のピクセル１０４ａ〜１０４ｄの複数のラインに作用するグローバル選択ラインＧＳＥＬ［ｊ］及び省略可能な／ＧＳＥＬ［ｊ］を動作させてもよい。制御装置１１２に制御されるソース駆動回路１１０は、ピクセルアレイ１０２内のピクセル１０４ａ〜１０４ｄの各列に一つずつ対応する電圧データラインＶｄａｔａ［ｋ］，Ｖｄａｔａ［ｋ＋１］等を動作させる。電圧データラインは、ピクセル１０４内の各発光素子又は各構成要素の輝度を表す電圧プログラム情報を各ピクセル１０４に送る。各ピクセル１０４内のキャパシタ等の蓄積要素は、発光又は駆動サイクルにより発光素子がオンになるまで電圧プログラム情報を保存する。制御装置１１２に制御される、省略可能な電源電圧駆動回路１１４は、ピクセルアレイ１０２のピクセル１０４ａ〜１０４ｄの各行に一つずつ対応する電源電圧（ＥＬ＿Ｖｄｄ）ラインを制御する。

ディスプレイシステム１００は、電流バイアスラインに所定電流を供給する電流源回路を含んでもよい。一部の構成において、基準電流を電流源回路に供給することができる。この構成では、電流源制御部が、電流バイアスラインにバイアス電流を与えるタイミングを制御する。電流源回路に基準電流が供給されない構成では、電流源アドレス駆動回路が、電流バイアスラインにバイアス電流を与えるタイミングを制御する。

既に知られているように、ディスプレイシステム１００内の各ピクセル１０４ａ〜１０４ｄには、ピクセル１０４ａ〜１０４ｄ内の発光素子の輝度を示す情報がプログラムされなければならない。フレームによって定義される期間は、ディスプレイシステム１００内の全ての各ピクセルが、輝度を表すプログラム電圧でプログラムされる期間であるプログラムサイクル又はフェーズと、各ピクセル内の各発光素子がオンになって、蓄積要素に保存されたプログラム電圧に対応する輝度で発光する期間である駆動若しくは発光サイクル又はフェーズとを含む。したがって、フレームは、ディスプレイシステム１００に表示される完全な動画像を構成する多数の静止画像のうちの一つである。ピクセルをプログラムして駆動する方式として、行単位方式及びフレーム単位方式の少なくとも２つが存在する。行単位プログラムでは、１行のピクセルがプログラムされて駆動され、その後で次の行のピクセルがプログラムされて駆動される。フレーム単位プログラムでは、最初にディスプレイシステム１００内の全ての行のピクセルがプログラムされてから、全てのフレームが行単位で駆動される。いずれの方式においても、ピクセルのプログラムも駆動も行われない期間である短い垂直帰線消去時間を各フレームの最初又は最後に採用できる。

ピクセルアレイ１０２の外部に設けられる構成要素は、ピクセルアレイ１０２が配置されている同じ物理基板上で、ピクセルアレイ１０２の周りの周辺領域１０６に配置されてよい。これらの構成要素としては、ゲート駆動回路１０８、ソース駆動回路１１０、及び省略可能な電源電圧制御部１１４がある。代替の構成として、周辺領域の一部の構成要素をピクセルアレイ１０２と同じ基板上に配置し、他の構成要素を別の基板に配置しても、又は外周領域の全ての構成要素が、ピクセルアレイ１０２が配置された基板とは異なる基板に配置されてもよい。ゲート駆動回路１０８、ソース駆動回路１１０、及び電源電圧制御部１１４が共にディスプレイ駆動回路を構成する。一部の構成において、ディスプレイ駆動回路は、ゲート駆動回路１０８及びソース駆動回路１１０を含むが、電源電圧制御部１１４は含まなくてもよい。

ディスプレイシステム１００は、ピクセルアレイ１０２内のピクセル１０４ａ，１０４ｃの列にそれぞれ一つのデータ出力ラインＶＤ［ｋ］，ＶＤ［ｋ＋１］等から出力データを読み出す電流供給読み出し回路１２０を更に含む。１セットの列基準ピクセル１３０が、ピクセル１０４ａ及び１０４ｃの列等の各列の終端において、ピクセルアレイ１０２の端部に作製される。また、列基準ピクセル１３０は、制御装置１１２から入力信号を受け取り、対応する電流信号又は電圧信号を電流供給読み出し回路１２０に出力することもできる。列基準ピクセル１３０は、基準駆動トランジスタ、及びＯＬＥＤ等の基準発光素子をそれぞれ含むが、これらの基準ピクセルは、画像を表示するピクセルアレイ１０２の一部ではない。列基準ピクセル１３０は、画像を表示するピクセルアレイ１０２の一部ではないため、ほとんどのプログラムサイクルでは駆動されず、ピクセル１０４ａ及び１０４ｃとは異なり、プログラム電圧の一定の付与による経年変化を受けない。図１には、一つずつの列基準ピクセル１３０のみが図示されているが、任意の数の列基準ピクセルが存在できることは理解されよう。ただし、本例において、各ピクセル列には、このような基準ピクセルをそれぞれ２つから５つ用いることができる。これに対応して、アレイ１０２の各ピクセル行も、ピクセル１０４ａ及び１０４ｂ等のピクセルの各行の最後に行基準ピクセル１３２を含む。行基準ピクセル１３２は、基準駆動トランジスタ及び基準発光素子を含むが、ピクセルアレイ１０２の画像を表示する部分を構成するものではない。行基準ピクセル１３２は、製造時に決定された、ピクセルの輝度曲線に対する基準照合値を提供する。

ディスプレイパネル１００のピクセルアレイ１０２は、列（ｋ・・・ｋ＋ｗ）において、図１Ｂに示すような列領域又は列ブロックに分割され、各ブロックは、制御装置１１２に接続された拡張集積回路（ＥＩＣ）１４０ａ，ｂ，ｃによってそれぞれ制御される。各ＥＩＣ１４０ａ，ｂ，ｃは、ピクセルアレイ１０２の各ピクセル領域１７０ａ，ｂ，ｃを制御する。１フレーム期間中に、図１Ｂの行ｉ及び行ｊ等のいくつかの行（通常は、基準ピクセル用の２行とパネルピクセル用の数行）が、各ＥＩＣ１４０ａ，ｂ，ｃにおいて規定の列（ｋ・・・ｋ＋ｗ）に選択され、その選択されたピクセルに測定が実行される。各ピクセル１０４の発光素子の駆動に使用される駆動電流Ｉ_ｐ等のピクセル特性が測定されて、基準電流Ｉ_ｒ等の基準特性又は基準値と比較される。基準電流は、基準ピクセル１３０，１３２から、又は所定の電流源から取得できる。この比較により、各ピクセル１０４が過剰補正されているのか（この場合、Ｉ_ｐ＞Ｉ_ｒ）、又は経年変化しているのか（この場合、Ｉ_ｐ＜Ｉ_ｒ）が判明する。図１Ｃに示した、各ピクセルの状態機械が、結果的に得られる各ピクセルの比較結果を追跡し続けて、比較がノイズに起因するのか、又は実際の経年変化／回復に起因するのかを判定する。

メモリは、各クラスタ化方式（すなわち、絶対経年変化［ｉ，ｊ，色，ｃｓ］）内の全サブピクセルの絶対経年変化推定値を記録する。ピクセルが状態１にあり、且つＩ_ｐ＜Ｉ_ｒである場合、そのピクセルに対応するメモリ内容に１が増分される。メモリ内の該当ピクセルに対応付けられた絶対経年変化値から１が減分されるのは、該当ピクセルが状態２にあり、且つＩ_ｐ＞Ｉ_ｒである場合である。メモリは、従来通りに、制御装置１１２内に組み込まれても、又は制御装置１１２に接続されてもよい。絶対経年変化値は基準値の例であり、この基準値を利用して、対象とする特性（例えば、駆動電流、Ｖ_ＯＬＥＤ、輝度、色強度）についての以前の測定値からピクセルが変化したかどうかを追跡し、ピクセルの性能、効率、又は寿命に影響を与える現象（例えば、駆動ＴＦＴ又は発光素子の経年変化／緩和、色ずれ、温度変動、処理のばらつき）を補正することができる。

図１Ｄを参照すると、一つの領域１７０ａが図示されている。各領域は、ピクセルの複数のクラスタ１６０ａ，ｂ，ｃを含む（単なる例として３つを図示）。クラスタ１６０ａ，ｂ，ｃは、ピクセルの集合であり、一般に矩形であり得るが、いずれか他の形状であってもよい。各クラスタ１６０ａは、複数のピクセル１０４ａ，ｂ，ｃで構成される（単なる例として３つのピクセルを図示）。各ピクセル１０４ａは、ＲＧＢ，ＲＧＢＷ，ＲＧＢ１Ｂ２等、一つ以上の「有色」サブピクセル１５０ａ，ｂ，ｃで構成することができる。サブピクセル１５０ａ，ｂ，ｃは、ディスプレイパネル１００上の物理電子回路であり、光を生成することができる。本明細書で用いる「ピクセル」の用語は、サブピクセルをピクセルと称すると便利であることから、サブピクセル（すなわち、単一の発光素子を有する離散ピクセル回路）を指す場合もある。最後に、本明細書において、クラスタ化方式は、ディスプレイパネル１００をクラスタ１６０ａ，ｂ，ｃに分割する方式である。例えば、デカルト格子を用いて、パネル１００を矩形クラスタ１６０ａ，ｂ，ｃに分割できる。デカルト格子方式の変形例として、空間変位を代わりに用いてもよい。補正処理全体の中で各種異なるクラスタ化方式を利用しても、又は、補正処理全体を通し単一のクラスタ化方式を用いてもよい。

前述の背景技術の段落に記載した例は、ピクセルの経年変化／緩和を補正する手法として、極めて効率の悪い総当り的手法を示したものである。各ＥＩＣ領域の従来の全パネル走査は、極めて低速の処理である。好都合なことに、ピクセルの経年変化／緩和は、純粋にランダムなものではない。パネル１０２に表示される映像内容の空間的相関性によって、経年変化／緩和に空間的相関性が生じる傾向が強い。すなわち、ピクセル１０４が経年変化／緩和して、そのピクセル１０４の輝度が失われた場合、又は色、駆動電流、若しくはＶ_ＯＬＥＤが変化した場合、そのピクセルに近接している他のピクセル１０４（すなわち、近隣ピクセル）にも同じ現象が作用して、近隣ピクセルを変化させている可能性が高い。本開示に係る推定アルゴリズムは、この傾向を利用して、より高速の推定速度を達成し、特性変化が最も深刻な領域に補正を集中させる。

本明細書に開示した推定アルゴリズムは、連続的に変化している領域の走査により高い優先順位を与える、局部優先度基準の走査方式である。ある領域が、補正（例えば、経年変化又は緩和に対する補正）を必要とする領域として識別され得るならば、その領域内の単一ピクセルから得られる単一の測定データを一つの候補として用いて、残りの領域が更なる補正を必要とするかどうかを判定することも妥当である。この知見は、推定アルゴリズムが、新たに変化した領域を迅速に検出する一方で、十分な注意を必要とする領域に予め測定を集中させるという方式に統合されて設計される。

経年変化分布の局部性を活用するために、各ＥＩＣの領域１７０ａは、８×８のピクセル１０４（例えば、１６×１６のサブピクセル１５０）のクラスタ１６０ａ，ｂ，ｃに分割される。推定アルゴリズムは、結果的に各クラスタ１６０ａ，ｂ，ｃで実行される２つのフェーズ（フェーズＩ及びフェーズＩＩ）で構成される。フェーズＩの主な役割は、クラスタ１６０ａ，ｂ，ｃが、フェーズＩＩにおいて十分な注意を必要とするかどうかを可能な限り速やかに判定することである。フェーズＩにおいて、６４個のピクセル１０４から成るクラスタ１６０ａ，ｂ，ｃの所定の色（例えば、赤、緑、青、又は白）が走査されるが、この走査は、クラスタ１０６ａ，ｂ，ｃが重要でないことを確認する十分な程度で、又はクラスタ１６０ａ，ｂ，ｃが一度、完全に走査されるまで実行される。この高速走査によって確実に、新たに現れた変化（例えば、経年変化／緩和）領域が迅速に検出される。ただし、フェーズＩＩにおいて、以前の測定に基づいて数量化されたクラスタ内の優先度の知見を利用して、クラスタ１６０ａ，ｂ，ｃ内のより多くのピクセルに測定処理を拡張すると共に、経年変化／緩和の絶対値、又は対象としている他の基準値の変更を高速化し、ノイズフィルタリングを高速化し、更に、測定したピクセルの近隣ピクセルの残りを同様に検査する。

図２は、推定アルゴリズム２００に関連のある構成要素又はモジュールの機能ブロック図である。各ＥＩＣ１４０ａ，ｂ，ｃは、検査中のピクセル１０４に対応する測定電流Ｉ_{ｐｉｘｅｌ}を出力する。この測定電流は、例えば、発光サイクル又は駆動サイクルにおいてピクセル内の発光素子によって引き込まれる電流の量を表す。基準電流Ｉ_ｒｅｆは、測定更新ブロック（フェーズＩ）２０４に提供されるか、又は測定更新ブロック（フェーズＩ）２０４によって既知になり、測定されたピクセルは、基準電流と比較されて、そのピクセルが経年変化状態にあるのか、又は緩和状態にあるのかが判定される。ピクセルの状態（図１Ｃを参照）は、その状態が以前の測定値から変化した場合に更新される。対象とする特性が、これ以外で経年変化又は緩和現象に関わる駆動ＴＦＴ電流、Ｖ_ＯＬＥＤ、ピクセル輝度、色等である場合、ＥＩＣは、その特性の測定値を表す測定信号を出力し、測定値と、その特性に対応付けられた基準値と比較して、対象とする特性が前回の測定値から変化しているかどうかを判定する。

ここで、主なブロックについて説明する。これらの各ブロックの詳細内容は、下記においてフローチャートに関連付けて説明する。測定更新ブロック２０４は、一つ以上のピクセルの状態がフリップ（より一般的には、基準値がピクセル特性の以前の測定から変化）したかどうかを、全てのＥＩＣ１４０ａ，ｂ，ｃの同一位置（例えば、ＥＩＣ１（１４０ａ）の位置ｉ，ｋのピクセルＡ、ＥＩＣ２（１４０ｂ）の位置ｉ，ｋのピクセルＢ、及びＥＩＣ３（１４０ｃ）の位置ｉ，ｋのピクセルＣ）において判定し、フリップしていた場合に、追加ピクセル走査ブロック（フェーズＩＩ）２０８に推定アルゴリズムの制御を渡す。フェーズＩＩにおいて、追加ピクセル走査ブロック２０８が、追加のピクセルを測定する必要があると判定した場合、測定更新ブロック２０４は、追加のピクセルを測定し、以前の測定値から状態が変化している測定ピクセルに対応する状態機械論理を更新する。追加ピクセル走査ブロック２０８は、優先度参照テーブル（ＬＵＴ）２１２に問い合わせを行い、経年変化状態又は緩和状態にあるクラスタ内のピクセルの個数から決定された優先度値に基づいて、走査すべきいくつかの追加ピクセルを決定できる。したがって、所定のクラスタ内の経年変化／緩和したピクセルが多くなるにつれて、そのクラスタにより高い優先度値を割り当てることができ、その結果、より多くのピクセルに、更なる測定対象としてのフラグが付けられる。

省略可能であるが、測定更新ブロック２０４は、測定したピクセルを更新した方式と同様の方式で、近隣のピクセルを省略可能な近隣更新ブロック２０６を用いて更新することができる。したがって、測定したピクセルの状態が、近隣の大多数のものと同じ状態である場合、これらの近隣ピクセルの絶対経年変化／緩和値は、各ピクセルの絶対経年変化／緩和値を格納する絶対経年変化テーブル２１０内で、図１Ｃにおいて特定された状態の関数として調整及び更新することができる。絶対経年変化テーブル２１０は、補正ブロック２０２に提供されるか、又は補正ブロック２０２によってアクセスされる。この補正ブロック２０２は、既に説明したように、経年変化／緩和状態にあるピクセルを補正する、例えば、Ｖ_ＯＬＥＤ変動（すなわち、ピクセル１０４内の発光素子端電圧の変動）、ＴＦＴ経年変化（すなわち、ピクセル１０４内の発光素子を駆動する駆動トランジスタの閾電圧Ｖ_Ｔの変動）、ＯＬＥＤの効率損失（すなわち、Ｖ_ＯＬＥＤ変動以外の現象に起因するもの）、又はＯＬＥＤの色ずれを補正する各種の適切な方法、回路、又はアルゴリズムであってよい。補正ブロック２０２は、ピクセルアレイ１０２に送り返されて、例えば、プログラム電圧、バイアス電流、電源電圧、及びタイミングの少なくともいずれかを調整して経年変化／緩和を補正する信号を出力する。

これまで図２を参照しながら主なブロックについて説明してきたが、次に、推定アルゴリズムについてのより高度な説明を提供する。「ステップ」という用語は、動作、機能、ブロック、又はモジュールの用語と同義に用いられる。各ステップの番号は、必ずしも時間を限定したシーケンスの順序を表すことを意図したものではなく、単に一つのステップを別のステップと区別するためのものである。

ステップ０：第１／次のクラスタ化方式を選択する。上記に定義したように、クラスタ化方式は、ディスプレイパネル１００をクラスタに分割する方式を定義するものである。本例では、矩形クラスタ化方式が想定される。

ステップ１：第１／次の色を選択する。既に説明したように、各ピクセル１０４は、赤、緑、又は青等の異なる色をそれぞれ発光する複数のサブピクセル１５０で構成することができる。

ステップ２：第１／次のクラスタを選択する（例えば、クラスタ１６０ａから開始する）。走査は、任意の所望の順序で実行されてよい。例えば、各クラスタは、右上から左下に向かう走査順序で走査されてよい。

ステップ３（フェーズＩの開始）：現在のクラスタ（例えば、クラスタ１６０ａ）内で、測定すべき次のピクセルを選択する。ピクセル１０４ａに測定更新ブロック２０４を実行し、比較器において、ピクセル１０４ａの測定電流を基準電流と比較し、更に、比較器の出力を用いて、図１Ｃに従ってピクセルの状態を特定することによって、ピクセル１０４ａの状態が経年変化しているのか、緩和しているのか、又はそのいずれでもないのかを判定する。走査したピクセル１０４ａの座標は、推定アルゴリズムに記録することができ、これにより、今回中断した場所から次回の走査を行うことができる。

ステップ４：全てのＥＩＣ１４０ａ，ｂ，ｃについて比較結果（０又は１）が少なくとも一度はフリップするまで、ステップ３に戻る。ただし、このループ（ステップ３からステップ４）が１６回繰り返されたら中断してステップ５に進む。したがって、一つのＥＩＣ領域１７０ａ内のクラスタが既に経年変化／緩和している場合、比較器の出力は、１６回の測定全て（全クラスタ走査）で同一（＞又は＜のいずれか）のまま維持されるはずであり、そうでない場合は、比較器のフリップがフェーズＩの続行を阻止する。

ステップ５（フェーズＩＩの開始）：走査されている現在のクラスタの最高優先度Ｐ_ＭＡＸを求める。最高優先度は、全てのＥＩＣの対応するクラスタ（省略可能であるが近隣ピクセルを含む）の最高優先度に等しい。ＥＩＣ内のクラスタの優先度値は、状態２（図１Ｃを参照）にあるピクセル数と状態１にあるピクセル数の絶対差である。したがって、クラスタが既に経年変化（又は緩和）している場合、そのクラスタのピクセルのほとんどは状態１（又は状態２）である。フェーズＩでは、クラスタが近時に経年変化／緩和した場合にも、フェーズＩの測定サイクルが十分に長く、そのクラスタの状態機械に更新値が確実に存在することに留意されたい。

ステップ６：ステップ５で決定された最高優先度Ｐ_ＭＡＸに基づき、このクラスタ（ＮＥｘ）内で走査する必要のある追加ピクセル数が、ＬＵＴ２１２に従って設定される。ＬＵＴ２１２の一例を上記の表１に示した。

ステップ７：クラスタ（通常は、全てのＥＩＣ１４０ａ，ｂ，ｃのクラスタ）内のＮＥｘ個の追加対象ピクセルが、フェーズＩにおいて最後に測定されたピクセルの座標から始めて走査される。走査中、各ＥＩＣのクラスタの優先度値に基づいて、下記のタスクが実行される。

ステップ７．１（近隣の更新）：現在のフレームで測定された各ピクセル１０４について、そのピクセルのクラスタの優先度値ＰがＰ＞Ｔｈｒ（例えば、Ｔｈｒ＝２４又はＴｈｒ＝３０）であり、ピクセル１０４の状態が測定後においても不変のままであると同時に、その状態がクラスタ内のほとんどのピクセルの状態と同じであれば、測定したピクセルに隣接し、且つ測定したピクセルと同一の色及び同一の状態機械値を有する８つのピクセルの絶対経年変化に１を増分又は減分する（絶対経年変化値テーブル２１０内）。測定したピクセルの状態が１であれば１を加え、測定したピクセルの状態が２であれば１を減じる。省略可能であるが、この場合、測定したピクセルに隣接し、測定したピクセルと同一の色及び同一の状態機械値を有する８つのピクセルの指数移動平均フィルタの係数を２で除算する。これにより、優先度の高いクラスタについての平均化（雑音除去）が、より短い待ち時間で確実に実行される。平均化フィルタ係数には、それ以上は除算できなくなる限界がある。

ステップ８：ステップ１に戻る。

推定アルゴリズムの高度な動作について説明してきたが、この後、番号付けした下記の段落で追加の考慮事項について説明する。

１．本開示の態様の例示的実施例において、推定経年変化の絶対値に、定数値（例えば、１又は２）が可算／減算される。代替例として、絶対値の変更は、優先度の高いクラスタ内にあるピクセルの絶対経年変化値が、優先度の高いクラスタ内に存在しないピクセルの絶対経年変化値よりも大きく変化するように、加速してもよい。

２．走査すべきピクセルのリストは、測定待ち行列（Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ Ｑｕｅｕｅ，ＭＱ）に保存することができる。ピクセルの測定時間を短縮するため、制御装置１１２は、フレーム毎に複数行の測定を行うように構成することができる。したがって、前述したステップ３及び７において、対象ピクセルと共に追加の行を測定することができる。これらの追加の行は、各行が異なるクラスタに位置し、この追加の行に対応するクラスタがＥＩＣでの最大累積優先度を有するように選択される。これらの局部座標（行及び列）は、対象ピクセルと同一である。本明細書において、「対象」ピクセル又は「選択された」ピクセルは、近隣ピクセル又は次のピクセルとは異なる、測定中又は検討中の特定のピクセルを意味し、近隣ピクセル又は次のピクセルは、検討中の対象ピクセル又は選択されたピクセルに隣接するピクセルを意味する。

３．絶対経年変化値（絶対経年変化テーブル２１０に保存）が、近隣作用により、その値に１が可算又は減算されて変化したときに、平均経年変化値及びデルタ経年変化値を格納するテーブル等の、関連する他の参照テーブルも更新されてよい。

４．一例として、推定アルゴリズムの初期化時に、全てのクラスタ優先度をゼロにし、ピクセルの状態機械を全てゼロにリセットし、且つ、クラスタ内で最後に測定されたピクセルの位置をランダムに設定するか又はクラスタの右上部のピクセルに初期化することができる。

５．クラスタ内でピクセルを測定する順序は、所望の順序に設定できる。一例として、下記の表２に、６４ピクセルのクラスタについての右上から左下への順序を示した。クラスタ内で測定された最後のピクセルの座標は保存されるため、推定アルゴリズムがそのクラスタを次に参照するときには、最後に測定されたピクセルの次のピクセルから測定を開始できる。ピクセル６４の後に測定される次のピクセルはピクセル１である。

６．クラスタの優先度値は、状態１のピクセル数と状態２のピクセル数の絶対差と等しい（図１Ｃを参照）。クラスタは、そのクラスタ内の大多数のピクセルが、一方の状態、すなわち、状態１（経年変化）又は状態２（過剰補正）にある場合に高い優先度値を有する。

疑似コードの例を下記に示す。
１− 初期化
２− Ｗｈｉｌｅ （ｔｒｕｅ） ／／主ループ
３− クラスタを４ピクセル右及び下に移動、又は既に移動している場合は戻る
４− Ｆｏｒ 全色 ／／赤、緑、及び青
５− Ｆｏｒ 全クラスタ行 ／／上から下
６− Ｆｏｒ 全クラスタ列 ／／右から左
７− フェーズＩに移行
８− 現在のクラスタ内で上から下、次に右から左の順で次の対象ピクセルを選択。最後に測定したピクセルの次から開始。既にクラスタの最後である場合、クラスタ内で右上のピクセルから開始。
９− 全ＥＩＣでのクラスタの累積優先度値に基づいて、現在のクラスタの最上部及び最下部にクラスタの優先度値を分類。最も高い優先度のクラスタを追加の行ピクセル測定用に選択。
１０− フリップ（遷移）の確認のために後で利用できるように、全ＥＩＣの対象クラスタにおける、最後の電流比較結果を記録。
１１− 対象ピクセルの測定電流と、基準電流とを比較して、そのピクセルの状態を特定（図１Ｃに従って特定）することによって、全ＥＩＣの全ての選択行に測定を実行。
１２− Ｆｏｒ 全て、ステップ９で選択されたクラスタ行
１３− Ｉｆクラスタの優先度値＞３０ならば、
１４− 絶対ステップサイズに２を乗算、最大で８
１５− 平均化フィルタ係数を２で除算、最小で４
１６− Ｅｌｓｅ
１７− 絶対ステップサイズを２で除算、最小で１
１８− 平均化フィルタ係数に２を乗算、最大で６４
１９− Ｅｎｄ Ｉｆ
２０− Ｅｎｄ Ｆｏｒ
２１− 絶対値、平均値、及び差分の参照テーブルを更新
２２− 優先度を算出して更新
２３− ＩｆフェーズＩならば、現在のクラスタに１６回未満の測定を実行し、異なるＥＩＣ内の対象クラスタの一部が既にフリップしていた場合は８に移動。
２４− フェーズＩＩに移行
２５− Ｆｏｒ測定された全てのピクセル
２６− Ｉｆピクセルの状態機械が変化せず、状態が、クラスタ内の大多数のピクセルの状態と同じならば、
２７− Ｉｆクラスタの優先度値＞２４ならば、
２８− 測定されたピクセルを取り囲む３×３個の同一色ピクセルに１を可算／減算。ただし、状態（例えば、０、１、又は２）が測定ピクセルと同じ場合。
２９− 近隣の平均化フィルタ係数を２で除算、最小で４。
３０− Ｅｎｄ Ｉｆ
３１− Ｅｎｄ Ｉｆ
３２− Ｅｎｄ Ｆｏｒ
３３− Ｉｆ対象ピクセルの状態機械が変化せず、状態が、クラスタ内の大多数のピクセルの状態と同じならば、このクラスタ内で１回のみ
３４− Ｅｎｄ Ｉｆ
３５− Ｅｎｄ Ｆｏｒ
３６− Ｅｎｄ Ｆｏｒ
３７− Ｅｎｄ Ｆｏｒ
３８− Ｅｎｄ Ｗｈｉｌｅ

図３〜図６のフローチャートは、上記の疑似コードをモデル化できる推定アルゴリズム３００の例示的態様を実施するものである。第１又は次のクラスタ化方式が、前述したように選択される（３０２）。例えば、クラスタ化方式は、所定数の行及び列を有するピクセル群が各クラスタに定義される四角形であってよい。第１又は次の色が、赤、次に、緑、そして青というように選択される（３０４）。初期化時に、第１の色（例えば、赤）が選択される。前述したように、各ピクセル１０４は、それぞれ異なる色の光を発光する複数のサブピクセル１５０で構成することができる。クラスタ変数ｃが、第１クラスタ（アルゴリズム全体を通じて初回である場合）、又は次のクラスタ（以前のクラスタが既に走査されている場合）に割り当てられる（３０６）。フリップレジスタＦｌｉｐ＿ｒｅｇが、フェーズＩにおいてゼロに初期化される（３０８）。次のピクセル変数ｓが、クラスタｃ内で測定される予定の第１ピクセル又は次のピクセルに割り当てられる（３１０）。このピクセルｓは、測定更新ブロック２０４に渡される（３１２）。これについて、図４Ａ及び図４Ｂと関連付けて下記に説明する。

推定アルゴリズム３００は、フェーズＩ又はフェーズＩＩのいずれにあるのかを判定する（３１４）。このフェーズがフェーズＩである場合、フリップレジスタｆｌｉｐ＿ｒｅｇは、測定したピクセルｓの状態が以前の測定値から変化したかどうかを反映するように更新される（３１６）。推定アルゴリズム３００は、現在走査しているＥＩＣのピクセルｓと同じ座標位置にある、他の各ＥＩＣのピクセルの状態がフリップしたかどうか（例えば、ピクセルの状態が経年変化状態から緩和状態に変化したかどうか）を判定する。変化していない場合、推定アルゴリズム３００は、クラスタ内の最後のピクセルが測定されたかどうかを判定する（３２０）。測定されていない場合、推定アルゴリズム３００は、そのピクセルの電流引き込み量を測定して絶対経年変化テーブル２１０を更新する処理を、全てのＥＩＣの同一座標位置のピクセルの状態がフリップする（３１８）、又は現在のクラスタ内の全てのピクセルが走査される（３２０）まで続行する。

クラスタ内の全てのピクセルが走査された場合、推定アルゴリズム３００は、追加のクラスタを走査する必要があるかどうかを判断する（３２２）。走査すべき追加のクラスタが残っている場合は、クラスタ変数ｃを、次のクラスタ（例えば、ちょうど走査が完了したクラスタのすぐ隣のクラスタ）に割り当て（３０６）、割り当てられた次のクラスタのピクセルを走査して、個々の状態を特定し、その特定された状態が以前の測定値から変化したかどうかを判定する。

全てのクラスタが走査されたら、推定アルゴリズム３００は、最後の色が走査されたかどうか（例えば、最初に赤が選択された場合は、走査対象として青及び緑が残る）を判定する（３２４）。走査すべき色がまだ残っている場合は、次の色を選択し（３０４）、選択した次の色に対応するクラスタを走査する（３０８）、（３１０）、（３１２）、（３１４）、（３１６）、（３１８）、（３２０）、（３２２）。全ての色（例えば、赤、青、及び緑）が走査されたら、推定アルゴリズム３００は、最後のクラスタ化方式が選択されたかどうかを判定する（３２６）。選択されていない場合、推定アルゴリズム３００は、次のクラスタ化方式３０２を選択し、選択した次のクラスタ化方式に従って、全ての色及びクラスタに対する走査を繰り返す。選択されていた場合、アルゴリズム３００は、最初から処理を繰り返す。

ブロック３１８に戻り、全てのＥＩＣで同一座標位置にあるピクセルの状態が変化（例えば、経年変化状態から緩和状態にフリップ）したら、アルゴリズム３００は、フェーズＩＩに移行し（３３６）、図２に示した追加ピクセル走査ブロック２０８に対応するＦｉｎｄ＿ＮＥｘという名称のモジュール又は関数を呼び出す（３３４）。このＦｉｎｄ＿ＮＥｘアルゴリズム３３４について、下記において図５と関連付けてより詳しく説明する。

フェーズＩＩの第１回目のループの開始時に、追加カウント変数ＣｎｔＥｘがゼロに初期化され（３３２）、そのループを通る毎に増分される（３３０）。Ｆｉｎｄ＿ＮＥｘアルゴリズム３３４は、例えば、上記の表１に基づいて、走査する必要のある追加のピクセル数に対応する値ＮＥｘを返す。一時カウンタＣｎｔＰ２は、フェーズＩＩのループを通った回数を追跡し続ける。アルゴリズム３００は、追加ピクセル数（ＮＥｘ）に対応する全ての追加ピクセルが測定更新ブロック２０３によって走査されるまで、フェーズＩＩのループ（３２０，３１０，３１２，３１４，３３０，３２８）を反復し（３１２）、フェーズＩＩのループを通過する毎に変数ＣｎｔＥｘ及びＣｎｔＰ２を増分する。

測定更新ブロック２０４（３１２）は、図４Ａ及び図４Ｂにフローチャート図として示されている。走査予定の対象ピクセルは、推定アルゴリズム３００によって測定更新アルゴリズム３１２に入力されたピクセルｓである。走査予定のピクセルの順序及び座標位置を指定する測定待ち行列（Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ Ｑｕｅ，ＭＱ）が選択される（４０２）。測定待ち行列内の各ピクセルには、本アルゴリズム３１２において変数ｑが割り当てられるため、これらのピクセルは、メインの推定アルゴリズム３００全体で繰り返されるピクセルｓと区別される。省略可能であるが、クラスタの優先度値によっては、上記の疑似コードのステップ１２〜１８に記載したように、ステップサイズ及び平均化フィルタ係数を更新できる（４０４）。

測定ブロック（４０６）は、対象ピクセルｓによって引き込まれる電流を測定し、比較器内で基準電流と比較する。測定待ち行列内のピクセルｑ毎に、測定更新アルゴリズム３１２が比較器の出力を判定する（４０８）。出力がフリップしなかった場合、アルゴリズム３１２は、図１Ｃに従ってピクセルの状態を判定する。待ち行列内のピクセルｑの以前の状態が１（経年変化）である場合、アルゴリズム３１２は、絶対経年変化テーブル２１０内の該当ピクセルの絶対経年変化値から１を減分することによって、その絶対経年変化値を更新し（４１０）、省略可能であるが、該当ピクセルｑのステップサイズも更新する。ピクセルｑの以前の状態が０である場合は、ピクセルｑの状態を状態１に変化させる（４１６）。ピクセルｑの以前の状態が２（過剰補正）である場合は、ピクセルｑの状態を状態０に変化させる（４１８）。

比較器の出力がフリップして（４０８）、１を示す場合、ピクセルｑの状態は次のように更新される（４１２）。ピクセルｑの以前の状態が２（過剰補正）であった場合は、そのピクセルｑの絶対経年変化値が、絶対経年変化テーブル２１０において１で増分され、省略可能であるが、そのピクセルのステップサイズも更新される（４２０）。ピクセルｑの以前の状態が０であった場合、そのピクセルの状態は、状態２に変更される（４２２）。ピクセルｑの以前の状態が１であった場合、そのピクセルｑの状態は、状態０に変更される（４２４）。

アルゴリズム３１２は、図４Ｂに引き継がれ、そこで比較器の出力が読み込まれる（４２６）。比較器の出力が変化していない場合（４２６）、ピクセルｑに関連付けられた優先度値は、状態０又は状態２である（４３４，４３６）ピクセルｑの状態において減分される（４２６）。そうでなく、ピクセルｑの状態が状態１（経年変化）である場合、優先度値は変更されない（４３２）。比較器の出力がフリップしていた場合（４２６）、ピクセルｑに関連付けられた優先度値は、ピクセルｑの状態が状態０又は状態１である場合に、増分される（４４０，４４２）。そうでなく、ピクセルｑの状態が状態２（過剰補正）である場合、優先度値は変更されない（４３８）。

省略可能であるが、測定待ち行列内の各ピクセルｑについて、そのピクセルｑに関連付けられている平均経年変化値を更新することができる（４４４）。省略可能であるが、測定待ち行列内の各ピクセルｑについて、その近隣ピクセルが、後述するように、図６に示した近隣更新アルゴリズム４４６において更新されてもよい。この後、制御は、推定アルゴリズム３００に戻される。

図５は、走査すべきいくつかの追加ピクセルを求める、上記の図３に記載した推定アルゴリズム３００内のＦｉｎｄ−ＮＥｘ３３４という名称のアルゴリズムのフローチャート図である。このアルゴリズム３３４において、優先度値がクラスタに割り当てられ、この優先度値に基づいて、走査すべきいくつかの追加ピクセルが、図２に記載した優先度参照テーブル２１２等の参照テーブルに従って決定される。Ｆｉｎｄ−ＮＥｘアルゴリズム３３４は、図２に示した追加ピクセル走査ブロック２０８に組み込むことができる。このアルゴリズム３３４は、ピクセルｓから開始され、クラスタｃは、ピクセルｓが配置されたクラスタである。アルゴリズム３３４は、現在のクラスタｃのＥＩＣから初めて、全てのＥＩＣで繰り返される（５０４）。アルゴリズム３３４は、状態２のピクセル数と状態１のピクセル数の絶対差を計算することによって、対象ＥＩＣ内の現在のクラスタ又は対象クラスタの優先度値を決定し、優先度値が最大優先度Ｐ_ＭＡＸ（図５では、図を簡単にするためＰＭと短縮されている）を超えているかどうかを上記で定義したように判定する（５０６）。最大優先度ＰＭが、対象ＥＩＣ内の対象クラスタについて算出された優先度値と等しい場合、アルゴリズム３３４は、次クラスタ変数ｃｎが次の近隣クラスタ（例えば、対象クラスタのすぐ隣のクラスタ）に関連付けられるように定義する（５１０）。アルゴリズム３３４は、次クラスタｃｎの優先度値が最大優先度ＰＭを超えているかどうかを判定する（５１２）。超えている場合、アルゴリズム３３４は、最大優先度ＰＭが、次クラスタｃｎについて算出された優先度値と等しいかどうかを判定する（５１４）。等しい場合、アルゴリズムは、優先度参照テーブル２１２から最大優先度ＰＭに対応するＮＥｘを検索し（５１６）、そのＮＥｘ値をアルゴリズム３００に渡す。

ブロック５０６に戻り、対象ＥＩＣ内の対象クラスタｃについて算出された優先度値が最大優先度ＰＭを超えていない場合、アルゴリズム３３４は、追加のＥＩＣを走査する必要があるかどうかを判定する（５１８）。ブロック５０８に戻り、最大優先度ＰＭが、対象ＥＩＣ内の対象クラスタについて算出された優先度値と等しくない場合（５０８）に、アルゴリズム３３４は、追加のＥＩＣを走査する必要があるかどうかを判定する（５１８）。全てのＥＩＣが走査されて、そのＥＩＣのクラスタの優先度が評価されている場合、アルゴリズム３３４は、対象ＥＩＣ内の最後の近隣クラスタが走査されたかどうかを判定する（５２０）。走査されていない場合、次の近隣クラスタ（例えば、対象クラスタｃのすぐ隣のクラスタ）を走査し、そのクラスタに対応付けられた優先度値を求める（５１０，５１２，５１４）。ブロック５１２及び５１４に戻り、近隣クラスタｃｎの優先度値が最大優先度ＰＭを超えていない場合（５１２）、又は最大優先度ＰＭが、近隣クラスタｃｎに算出された優先度値と等しくない場合（５１４）に、アルゴリズム３３４は、更に他の近隣クラスタを走査する必要があるかどうかを判定する（５２０）。対象ＥＩＣ内の全てのクラスタが走査されたら（５２０）、ＮＥｘ値が、優先度参照テーブル２１２から取り出されて、アルゴリズム３００に戻される。

図４Ｂにおいて、省略可能な構成である近隣更新ブロック２０６（４４６）を参照したが、このアルゴリズムは図６にフローチャートで示されている。アルゴリズム４４６は、対象クラスタｃ（対象ピクセルが配置されたクラスタ）内の対象ピクセルｓから開始する。このクラスタに関連付けられた優先度値が最低閾値優先度値Ｐ＿Ｔｈｒを超えている場合（６０２）、アルゴリズム４４６は、対象ピクセルｓの状態が測定後に変化しないままであるかどうか（すなわち、測定が実行されて、該当ピクセルのピクセル電流と基準電流とが比較される前後において状態１であった）かどうかを判定する（６０４）。不変である場合、次近隣変数ｎｂｒが定義される（６０６）。例えば、対象ピクセルｓを直接取り巻くピクセルの３×３アレイを近隣として選択することができる。アルゴリズム４４６は、近隣ピクセルの状態が、対象ピクセルｓの状態と同一であるかどうかを判定する（６０８）。同一でない場合、アルゴリズム４４６は、最後の近隣（例えば、３×３アレイ内の最後）が分析されたかどうかを判定し（６１８）、分析されていない場合、クラスタｃ内の次近隣ピクセルｎｂｒが分析される（６０６）。分析されていた場合（６１８）、アルゴリズム４４６は、推定アルゴリズム３００に制御を戻す。

ブロック６０８に戻り、近隣ピクセルｎｂｒの状態が対象ピクセルｓの状態と同一である場合、アルゴリズム４４６は、ピクセルｓの状態を判定する（６１０）。ピクセルｓの状態が状態１（経年変化）である場合、近隣ピクセルｎｂｒの絶対経年変化値が１だけ減分されて、近隣ピクセルｎｂｒの平均化フィルタ係数が、ステップ７．１で上記に説明したように更新される（６１６）。ピクセルｓの状態が状態２（過剰補正）である場合、近隣ピクセルｎｂｒの絶対経年変化値が１だけ増分されて、ｎｂｒの平均化フィルタ係数が更新される（６１２）。アルゴリズム４４６は、分析すべき更なる近隣ピクセルが存在するかどうかを判定し（６１８）、存在しない場合は、アルゴリズム３００に制御を戻す。絶対経年変化値及び平均化フィルタ係数は、端縁検出ブロックに基づいて調整することができる（６１４）。

本明細書において説明した方法はいずれも、（ａ）プロセッサ、（ｂ）制御装置１１２等の制御装置、及び（ｃ）各種の他の適切な処理装置のうちの少なくともいずれかによって実行される機械可読命令又はコンピュータ可読命令を含むことができる。本明細書で開示した、図３〜図６に提示したような各種のアルゴリズム、ソフトウェア、又は方法は、例えば、フラッシュメモリ、ＣＤ−ＲＯＭ、フロッピディスク、ハードドライブ、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、又は他のメモリデバイス等、一つ以上の持続性の複数又は単一の有形媒体を有するコンピュータプログラム製品として具現できるが、当業者であれば容易に理解されるように、アルゴリズムの全て及びその一部の少なくともいずれかは、制御装置以外の装置によって代わりに実行されても、ファームウェア若しくは専用ハードウェアに周知の方式で埋め込まれても、又はその両方であってもよい（例えば、特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ，ＡＳＩＣＳ）、プログラマブル論理回路（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ，ＰＬＤ）、フィールドプログラマブル論理回路（Ｆｉｅｌｄ ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ，ＦＰＬＤ）、個別論理等によって実装されてよい）。

また、アルゴリズムについて、特定の機能を実行して互いに作用し合う各種のモジュール又はブロックを有するものとして本明細書において図示及び説明した。これらのモジュールは、単に説明のためにその機能に基づいて分離されたものであり、これらのモジュールは、コンピュータハードウェア、若しくは適切な演算ハードウェア上で実行されるコンピュータ可読媒体に格納される実行可能ソフトウェアコード、又はその両方を表すものであることは理解されよう。異なるモジュール及びユニットの各種の機能は、ハードウェアとして、若しくは前述したような持続性のコンピュータ可読媒体に格納されたソフトウェアとして、又はその両方として、任意の方式で組み合わされても、又は分離されてもよく、独立して又は組み合わせて利用することができる。

本開示の特定の実施例及び態様について図示及び説明したが、本開示は、本明細書に開示した正確な構造及び構成要素に限定されないこと、各種の修正、変更、及び変形が、付属の請求項に定義される本発明の精神及び範囲から外れることなく、上記の記載から明らかであることを理解されたい。

Claims (35)

1. クラスタに編成されたピクセルから成るディスプレイパネルの領域において、以前の状態又は予め測定された基準値から逸脱した領域を判別する方法であって、
   第１基準が満たされるまで、第１クラスタ内の各ピクセルを少なくとも一つ走査し、
   前記走査において、
   前記第１クラスタ内のピクセルのうち、一つの対象ピクセルの特性を測定し、
   測定特性と基準特性とを比較して、前記対象ピクセルの状態を特定し、
   前記対象ピクセルの前記状態が、その対象ピクセルの以前の測定値から変化した場合に、前記第１基準が満たされたと判断することを含み、
   更に、
   前記第１基準が満たされたときに、少なくとも前記走査したピクセルの状態に基づいて、前記ディスプレイパネルの測定特性の逸脱を自動補正して、前記測定特性を基準特性側に変位させること、を含む方法。
2. 前記ディスプレイのピクセルは、更に、複数の領域に編成され、前記領域のうちの少なくともいくつかの各領域は、ピクセルのクラスタを複数個有し、
   前記走査は、各領域内の少なくとも一つのクラスタにおいて実行され、
   前記第１基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされ、
   前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化していることを表す経年変化状態にあるかどうかを少なくとも示し、
   前記自動補正することは、前記第１クラスタ内の少なくとも一つのピクセルの経年変化又は過剰補正を補正するものである、
   請求項１に記載の方法。
3. 前記測定特性は、前記対象ピクセル内の発光素子の駆動に使用される電流であり、
   前記走査は、前記第１クラスタ内の右上のピクセルから開始して、左下のピクセルで終了する走査順序で実行される、
   請求項１に記載の方法。
4. 前記測定は、前記自動補正を実行する前に、前記第１クラスタ内の一部のピクセルのみに実行される、
   請求項１に記載の方法。
5. 前記第１クラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、前記第１クラスタに優先度を設定し、優先度値を生成すること、を更に含む、
   請求項１に記載の方法。
6. 前記状態は、前記対象ピクセルが過剰補正状態にあるのかどうかを更に示し、
   前記関数は、前記第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含む、
   請求項５に記載の方法。
7. より高い優先度値が、前記第１クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、前記第１クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、
   前記追加ピクセルそれぞれの特性を測定して、各追加ピクセルの状態を特定すること、を更に含む、
   請求項５に記載の方法。
8. 前記状態は、前記対象ピクセルが過剰補正状態にあるのかどうかを更に示し、
   前記関数は、前記第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含み、
   前記追加ピクセルの個数は、前記絶対差が、前記第１クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときにゼロである、
   請求項７に記載の方法。
9. 前記優先度値が閾値を越えたときに、測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、前記測定されたピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する絶対経年変化値を調整することを更に含み、
   前記絶対経年変化値は、前記測定されたピクセルが経年変化した程度又は過剰補正された程度を示すものである、
   請求項７に記載の方法。
10. 絶対経年変化値が調整された前記近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタ係数を減じることを更に含む、
    請求項９に記載の方法。
11. 前記調整は、前記測定されたピクセルの状態が経年変化状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に１を増分し、前記測定されたピクセルの状態が過剰補正状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に１を減分することを含む、
    請求項９に記載の方法。
12. 前記絶対経年変化値は、定数値によって、又は優先度値の関数として調整され、前記関数において、前記絶対経年変化値は、優先度値のより高いものについて、優先度値のより低いものよりも大きく調整される、
    請求項９に記載の方法。
13. 測定されたクラスタのうちの対応するクラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、各領域内の少なくとも一つのクラスタに優先度を設定して、各領域に、対応する優先度値を生成すること、を更に含む、
    請求項２に記載の方法。
14. 前記状態は、前記対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを示し、
    前記関数は、各領域内の少なくとも一つのクラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、各領域内の少なくとも一つのクラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含み、
    前記絶対差は前記優先度値に対応する、
    請求項１３に記載の方法。
15. より高い優先度値が、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定すること、を更に含む、
    請求項１４に記載の方法。
16. 前記第１クラスタ内の前記対象ピクセルは、前記第１クラスタ内の第１行に位置し、
    前記走査は、１フレームの中で、第１クラスタ内の第２の対象ピクセルの特性を測定することを更に含み、
    前記第２の対象ピクセルは、前記第１クラスタ内で前記第１行とは異なる第２行に位置する、
    請求項１に記載の方法。
17. 各追加ピクセルは、第１クラスタ内の連続した、又は連続していない異なる複数の行に存在し、
    前記各追加ピクセルの特性の測定は、１フレームの中で、異なる行に位置する少なくとも２つの追加ピクセルに実行される、
    請求項７に記載の方法。
18. 前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態であるのか、又は過剰補正状態であるのかを更に示す、
    請求項１に記載の方法。
19. 前記測定特性は、前記対象ピクセル内の発光素子によって引き込まれる電流であり、前記基準特性は基準電流である、
    請求項１に記載の方法。
20. 前記基準電流は、前記ディスプレイパネル内の基準ピクセルによって引き込まれる電流である、
    請求項１９に記載の方法。
21. ピクセルから成るディスプレイパネルのピクセル領域の特性が、以前に測定された値又は基準値から逸脱している可能性の高い領域に優先度を設定する方法であって、
    前記ディスプレイパネルのピクセルのうちの少なくとも一部のピクセルの特性を測定し、
    測定されたピクセルそれぞれについて、測定特性と、対応する基準特性とを比較して、前記測定されたピクセルそれぞれの対応する状態を特定し、
    各領域内の前記測定されたピクセルの状態の関数として、前記ディスプレイパネルの領域に優先度を設定して優先順序を生成し、
    前記優先順序に従って、前記領域内の前記測定特性の、前記基準特性からの逸脱を自動補正すること、を含む方法。
22. 第1基準が満たされるまで、第１クラスタ内の少なくともいくつかの各ピクセルを走査することを更に含み、
    前記走査は、
    前記測定特性と、基準特性とを比較して、前記第１クラスタ内の対象ピクセルの状態であって、対象ピクセルが経年変化していることを表す経年変化状態にあるのかどうかを少なくとも示す状態を特定し、
    前記対象ピクセルの前記状態が、その対象ピクセルの以前の測定値から変化していた場合に前記第１基準が満たされたと判定すること、を含み、
    前記自動補正は、前記走査されたピクセルの状態に少なくとも基づいて、前記領域の経年変化又は過剰補正を補正するものである、
    請求項２１に記載の方法。
23. 前記ディスプレイの前記ピクセルは、更に、複数の領域に編成され、
    前記領域のうちの少なくともいくつかの各領域は、ピクセルのクラスタを複数個有し、
    前記走査は、各領域の少なくとも一つのクラスタにおいて実行され、
    前記第１基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされる、
    請求項２２に記載の方法。
24. 前記測定特性は、前記対象ピクセル内の発光素子の駆動に使用される電流であり、前記基準特性は基準電流であり、
    前記走査は、前記第１クラスタ内の右上のピクセルから開始して左下のピクセルで終了する走査順序に従って実行される、
    請求項２２に記載の方法。
25. 前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示し、
    前記関数は、前記第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含む、
    請求項２２に記載の方法。
26. 前記優先度の設定は、前記第１クラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、前記第１クラスタに優先度を設定して、優先度値を生成することを含み、
    前記方法は、
    より高い優先度値が、第１クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す前記優先度値に基づいて、前記第１クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、
    各追加ピクセルの特性を測定して、前記追加ピクセルそれぞれの状態を特定することを更に含む、
    請求項２２に記載の方法。
27. 前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示し、
    前記関数は、前記第１クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第１クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含み、
    前記追加ピクセルの個数は、前記絶対差が、前記第１クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときにゼロである、
    請求項２６に記載の方法。
28. 前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態であるのか、又は過剰補正状態であるのかを示し、
    前記方法は、前記優先度値が閾値を越えたときに、前記測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、前記測定ピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する絶対経年変化値を調整することを更に含み、
    前記絶対経年変化値は、ピクセルが経年変化している程度又は過剰補正された程度を示す値に対応する、
    請求項２６に記載の方法。
29. 絶対経年変化値が調整された前記近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタ係数を減じることを更に含む、
    請求項２８に記載の方法。
30. 前記調整は、前記測定されたピクセルの状態が経年変化状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に１を増分し、前記測定されたピクセルの状態が過剰補正状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に１を減分することを含む、
    請求項２８に記載の方法。
31. 前記絶対経年変化値は、定数値によって、又は前記優先度値の関数として調整され、前記関数において、絶対経年変化値は、優先度値のより高いものについて、優先度値のより低いものよりも大きく調整される、
    請求項２８に記載の方法。
32. ピクセルのクラスタに編成されたディスプレイパネルにおいて、ピクセルの既知の測定値を用いて、前記ディスプレイパネルの近隣ピクセルの推定経年変化を更新する方法であって、
    前記ディスプレイパネルのクラスタのうちの第１クラスタ内の各ピクセルの特性を測定し、
    前記クラスタ内の各ピクセルについて、そのピクセルの測定特性と基準特性とを比較し、ピクセルの状態であって、ピクセルが経年変化状態にあるのか、過剰補正状態にあるのか、又はそのいずれでもない状態にあるのかを表す状態を特定し、
    前記クラスタ内の選択ピクセルの状態が、その選択ピクセルの以前の測定値から不変であり、且つ、その選択ピクセルの状態が、前記クラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じである場合に、前記選択ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値がピクセルの経年変化状態又は緩和状態を表し、且つ、前記ディスプレイパネルに連結されたメモリ内に格納される経年変化値を調整し、
    前記近隣ピクセルの前記経年変化値に少なくとも部分的に基づいて、前記ディスプレイパネルの経年変化又は緩和を自動補正することを含む、方法。
33. 経年変化値が調整された前記近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタの係数を減じることを更に含む、
    請求項３２に記載の方法。
34. 前記近隣ピクセルは前記選択ピクセルに直接隣接している、
    請求項３２に記載の方法。
35. ピクセルを有し、複数のピクセルクラスタに分割されるディスプレイパネルの領域を選択的に走査する方法であって、
    第１フェーズにおいて、第１基準が満たされるまで、前記クラスタのうちの少なくともいくつかを走査し、
    前記走査において、
    ピクセル走査順序に従って走査されているクラスタ内の対象ピクセルの特性を測定し、
    測定特性と基準特性とを比較して、対象ピクセルの状態であって、前記対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、緩和状態にあるのか、そのいずれでもない状態にあるのかを示す状態を生成し、
    前記対象ピクセルの状態が、その対象ピクセルの以前の状態と異なる場合に、前記第１基準が満たされたと判定し、
    前記クラスタ内の所定数の対象ピクセルが走査されたときに、前記第１基準が満たされたと判定することを含み、
    更に、
    前記第１基準が満たされたときに、前記クラスタのうちの少なくとも一つを更に走査すること、を含み、
    前記更に走査することは、
    走査しているクラスタの経年変化の程度又は緩和の程度の関数として、追加ピクセルを走査する優先度を決定し、
    走査しているクラスタ内のいくつかの追加の対象ピクセルであって、その追加の対象ピクセルの個数は前記優先度の関数である、追加の対象ピクセルの特性を測定し、
    前記対象ピクセルの状態が、走査しているクラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じであるときに、前記対象ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値が、ピクセルの経年変化状態又は緩和状態を示し、且つメモリに格納された経年変化値を調整することを含む、方法。

Images