JP2007240798A - 自発光表示装置、階調値／劣化量変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。
【解決手段】有効表示領域の外側に複数個のダミー画素を分散的に配置し、これらダミー画素の平均的な発光輝度を実際に測定する。この後、実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出する。次に、算出された実劣化率を用い、階調値に応じた劣化量への変換に使用する参照テーブル値を更新する。これにより、各画素の劣化状態の見積もり精度を高めることができる。
【選択図】図３

Description

この明細書で説明する発明は、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する技術に関する。また、この明細書で説明する発明は、各画素について算出された累積劣化量差の見積もり値を一括して修正する技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、階調値／劣化率変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラムとしての側面を有する。

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。

このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配列した有機ＥＬディスプレイパネルである。有機ＥＬディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。

ところで、有機ＥＬディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体（有機ＥＬ素子）の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。

劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。

従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
特開２００３−２２８３２９号公報 特開２０００−１３２１３９号公報 特開２００３−５０９７２８号公報

このうち特許文献１と特許文献２は、発光体の劣化状態を入力表示データ（階調値）の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。

その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ＥＬディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。

一方、特許文献３に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより１画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。
また、特許文献３に開示された方法は、劣化した輝度を補償するしか補正方法がなく、結果的に劣化を促進させてしまい、補正性能の限界や輝度半減期が比較的早く到来する問題がある。

そこで、発明者らは、有効表示領域の外側に複数個のダミー画素を分散して配置し、これらダミー画素の平均的な発光輝度を実際に測定することにより、有効表示領域内の実際の劣化情報を検出可能とし、この検出結果に基づいて各画素に対応する劣化情報の見積もり精度（予測精度）や補正量の決定精度（予測精度）を向上する仕組みを提案する。

（仕組み１）
劣化情報の算出時に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｅ）を搭載するものを提案する。
（ａ）測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理
（ｂ）測定タイミング毎に複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理
（ｃ）検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理
（ｄ）実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出処理
（ｅ）算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新処理

（仕組み２）
表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｆ）を搭載するものを提案する。
（ａ）測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理
（ｂ）測定タイミング毎に複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理
（ｃ）検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理
（ｄ）ダミー画素データにより生じる劣化量の見積もり値を、階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出する劣化量算出処理
（ｅ）算出された劣化量の累積値と実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理
（ｆ）算出された誤差率に基づいて、階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を一律に補正する見積もり誤差補正処理

発明者らの提案する発明によれば、分散配置された複数個のダミー画素について劣化状態を個別に測定し、その平均値を用いて累積劣化量の見積もり精度を修正することにより、劣化量の算出精度や補正精度を向上することができる。

以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。

（Ａ）発光特性の変動を劣化量の見積もり時に正確に反映する技術
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機ＥＬ素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。

そこで、発明者らは、有機ＥＬ素子の発光特性の経時的な変動を実測し、実測結果を劣化量の見積もりに反映する仕組みを提案する。
図１に、発光時点の違いによる劣化速度（率）の変動を示す。図１は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線Ｄ_APL は、ある画素（例えば、劣化特性測定用のダミー画素）を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。

図１に示す矢印Ｄ₁₀₀ は、画素に１００％信号レベルの階調値を与えた場合の輝度劣化の進行速度（劣化率）を示す。時点ｔ１を基点とする矢印Ｄ₁₀₀の傾きと時点ｔ２を基点とする矢印Ｄ₁₀₀の傾きとを比べて分かるように、同じ階調値によりある画素の発光を制御する場合でも、発光開始時の輝度劣化が異なると劣化速度は同じにならない。

劣化速度が異なれば、発光時間長は同じでも該当期間内に発生する劣化量は異なる値になる。すなわち、階調値と劣化量との対応関係は時間の経過と共に変化する。
そこで、発明者らは、固定的な対応関係に基づいて算出されたターゲット画素の累積劣化量差の見積もり値やその算出時に参照する階調値／劣化量変換テーブル値を、ダミー画素について実測した累積劣化量に基づいて逐次修正する手法を提案する。

ただし、ダミー画素の配置個数や配置位置には工夫が必要である。これは、以下の理由による。一般に、ダミー画素は、有効表示領域内の画素と同じ構造で、同画素と同じプロセスで製造する。その理由は、有効表示領域を構成する各画素の特性を正確に測定するためである。
しかし、ダミー画素が１つの場合や複数個でもそれらが１つの場所に集積されている場合には、製造装置に固有の製造ムラが検出精度に影響を与える可能性がある。具体的には、画素構造の形成誤差が発光素子の特性ムラとして顕在化し、ダミー画素の発光特性が影響を受ける可能性が懸念される。

一般的な表示装置であれば、この種の特性ムラは程度の差はあっても避け難く、必ずと言って良いほど領域的な傾向を伴う輝度ムラ等として出現する。
ただし一般的には、この種の輝度ムラ等は、人が視認できるレベル以下に抑えられる。従って、表示品質の観点から大きな問題になることはない。
しかし、ダミー画素を輝度劣化量の見積り精度向上に使用する場合には別である。
例えば、有効表示領域内の画素の最大特性や最小特性に近い場所に１つ又は複数のダミー画素が集まっている場合、誤差の程度は小さくても劣化見積り量を積算していくうちに、ほとんど全ての画素において大きな誤差として顕在化する可能性がある。

図２に、ダミー画素が１つだけの場合を示す。図２に示すように、ダミー画素３は、有効表示領域１内の近傍画素に対しては誤差量も小さく、良好な見積もり精度を期待できる。ところが、他の領域に対しては誤差量が大きくなり、良好な見積もり精度を期待できなくなる。
また、見積もり精度に影響が現れる原因は特性ムラの存在だけに限らない。例えば有効表示領域の温度ムラが大きい場合にも、ダミー画素の配置位置に応じて大きな誤差が発生する可能性が懸念される。

従って、ダミー画素を通じて見積もり精度を向上するためには、表示パネル内の特性ムラや温度ムラ等の影響を前提としても、ダミー画素を通じて検出される発光素子特性（輝度効率や劣化特性）が、有効表示領域を構成する全ての画素に対して平均（中間）的であることが求められる。
そこで、発明者らは、有効表示領域の外側に複数個のダミー画素を空間的に分散して配置し、各ダミー画素の実測劣化情報を平均化した値を有効表示領域の劣化状態を与える代表値として用いることを提案する。

（Ｂ）好適な形態例
以下、前述した累積劣化情報の修正技術を採用する有機ＥＬディスプレイ装置の形態例を説明する。
（Ｂ−１）システム例１
（ａ）有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成
図３に、累積劣化情報の修正機能を搭載する有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図３に示す有機ＥＬディスプレイ装置１１は、映像信号変換部１１１、劣化量算出部１１３、階調値／劣化量変換テーブル１１５、累積劣化量差算出部１１７、累積劣化量差蓄積部１１９、補正量決定部１２１、自発光パネル１２３、ダミー画素発光検出部１２５、検出値平均化部１２７、劣化特性実測部１２９、ダミー画素累積劣化量算出部１３１、平均階調値（ＡＰＬ：average picture level）算出部１３３、見積もり精度改善部１３５、ダミー画素データ決定部１３７で構成する。

映像信号変換部１１１は、入力表示データ信号を補正表示データ信号に変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号変換部１１１は、入力表示データ信号に補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部１２１より与えられる。また、補正表示データ信号には、ダミー画素データ決定部１３７から与えられるダミー画素用の表示データ信号が多重される。補正表示データ信号は、劣化量算出部１１３と、自発光パネル１２３と、ＡＰＬ算出部１３３に与えられる。

劣化量算出部１１３は、各画素に対応する階調値に基づいて画像の表示に伴う各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例では、階調値／劣化量変換テーブル１１５を使用する。ここでの画素は、有効表示領域内の画素とダミー画素の両方を含む。従って、劣化量算出部１１３は、有効表示領域内の各画素についての見積もり劣化量とダミー画素についての見積もり劣化量を計算する。

図４に、階調値／劣化量変換テーブル１１５の一例を示す。階調／劣化量変換テーブル１１５には、入力表示データ信号が採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。なお、劣化量Ｒは、各階調値に対応する劣化速度（劣化率）と発光期間ｔとの積として与えられる。発光期間ｔは、固定でも可変でも良い。

累積劣化量差算出部１１７は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する劣化量差の累積値を算出する処理デバイスである。基準画素は、実在する画素でも良いし、仮想的に設定した画素でも良い。前者には、例えば画素単位の累積劣化量が最も小さい画素、画素単位の累積劣化量が最も大きい画素がある。後者には、１フレーム内の平均階調値で発光する仮想の画素がある。この形態例の場合、基準画素は、画面全体の平均階調値で発光制御される画素を想定する。
有効表示領域内の各画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部１１３より与えられる。

累積劣化量差蓄積部１１９は、基準画素に対する各画素の累積劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、ある画素の劣化の基準画素に対する進行度（進んでいるか遅れているか）及び進行度の度合いを表す。
補正量決定部１２１は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。
図５に、補正量決定部１２１の内部構成例を示す。補正量決定部１２１は、見積もり誤差量補正部１２１１と補正量算出部１２１３とで構成される。

見積もり誤差量補正部１２１１は、見積もり精度改善部１３５から与えられる見積もり誤差率αに基づいて、階調値／劣化量変換テーブル１１５を参照して算出された各画素の累積劣化量差が実際の累積劣化量差に一致するように一律に修正する処理デバイスである。
この形態例の場合、見積もり誤差量αは、見積もり精度改善部１３５より、１００分率値として与えられる。従って、累積誤差量は、累積劣化量に見積もり誤差量αを乗算することで算出できる。補正原理は後述する。

補正量算出部１２１３は、補正後の累積劣化量差に基づいて各画素に対応する補正量を算出する処理デバイスである。なお、補正量算出部１２１３による補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法、視覚上の輝度差が揃うように補正値を決定する方法がある。
以上の通り、補正量決定部１２１は、累積劣化量差から累積誤差量を取り除いた値に基づいて補正値を決定する。

自発光パネル１２３は、発光体（自発光素子）を基体上にマトリクス状に配列した表示デバイスである。この形態例の場合は、発光体には、有機ＥＬ素子を使用する。
図６に、自発光パネル１２３の平面構成例を示す。なお、図６は、主に画素配置の観点から表しており、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
図６に示す自発光パネル１２３では、有効表示領域１２３１の外方下部の左右に２つのダミー画素領域１２３３を分離して配置する。

有効表示領域１２３１は、外部から観察できる領域であり、入力画像データ信号に対応する画像が表示される。一方、ダミー画素領域１２３３は、劣化状態の測定に用いられる領域であり、その発光が外部から観察されないように遮光される。なお、１つのダミー画素領域１２３３には、それぞれ複数個のダミー画素を配置することも可能であるが、この形態例ではそれぞれ１個のダミー画素を配置する。

なお、図６では、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の基本発光色に対応する基本画素を集積した表示上の１画素を１つの四角で表している。このように、この形態例では、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色を基本発光色とする。
この形態例の場合、ダミー画素領域１２３３は、表示上の１画素に対応する１つのダミー画素１２３３１で構成されるものとする。

図７に、ダミー画素領域１２３３の拡大図を示す。図７に示すように、個々のダミー画素１２３３１は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）に対応する単位画素を集積して構成される。なお、この明細書では、ダミー画素１２３３１を構成する各単位画素（Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素）もダミー画素という。

ダミー画素領域１２３３内の各ダミー画素１２３３１は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）別に発光制御される。なお、ダミー画素１２３３１は、入力表示データ信号のブランキング期間を利用して発光制御される。
図６の場合、ダミー画素１２３３１の駆動用として、データ駆動線の１本とゲート駆動線の２本を新たに配置する。

以上のように、ダミー画素１２３３１は有効表示領域１２３１内の各画素と同じ構造で実現でき、専用の又は大規模な駆動回路を必要としない。
また、ダミー画素１２３３１の構造は、有効表示領域１２３１の各画素に対応する画素回路と同構造とする。すなわち、選択トランジスタと駆動トランジスタとで構成する。従って、表示パネル自体の生産上の難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。

ダミー画素発光検出部１２５は、ダミー画素１２３３１から出力される可視光を検出して電気信号に変換する光検出素子であり、ダミー画素１２３３１の発光面と対面する位置に配置される。光検出素子には任意の検出センサーを適用する。光検出素子は、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーのようなものが望ましく、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、検出信号として出力される。

検出値平均化部１２７は、２つのダミー画素１２３３１についてそれぞれ検出された輝度値を平均化する処理デバイスである。この形態例の場合、ダミー画素１２３３１は、表示パネルの左右両側に分離して配置されているので、有効表示領域の左右方向に沿って視認レベル以下の特性ムラの影響を平均化することができる。このため、有効表示領域内の多くの画素との間で誤差の少ない劣化情報を取得することができる。

図８に、検出値平均化部１２７による平均化効果のイメージを示す。図８に示すように、平均化後の輝度検出値は、有効表示領域内で最も劣化量差が大きく現れる左右両側の画素の中間値となる。
なお、この形態例における輝度値平均化部１２７は、アナログ電圧値として与えられる検出輝度をアナログ／ディジタル変換した後にディジタル処理する手法を採用する。ただし、検出輝度値が平均化されれば他の手法を用いても良い。

劣化特性実測部１２９は、２つのダミー画素１２３３１の劣化状態を検出するタイミング（実測タイミング）と、検出タイミング時に２つのダミー画素１２３３１に印加する表示データ信号（階調値）とをダミー画素データ決定部１３７に与える処理デバイスである。この形態例の場合は、劣化状態の検出は、一定周期（一定のフレーム数毎）で実行する。また、劣化状態の検出は、常に同じ階調値を使用して実行する。同じ階調値でダミー画素１２３３１を光らせることで、発光体の劣化を発光輝度の推移として検出することが可能になる。

なお、劣化特性実測部１２９がダミー画素データ決定部１３７に与える階調値は、ＲＧＢ別に設定しても良いし、ＲＧＢのいずれにも同じ値を用いても良い。例えば、１００％階調値（階調が８ビットの場合は「２５５」）を使用する。因みに、同じ発光色に対応するダミー画素には同じ階調値を与える。
また、劣化特性実測部１２９は、初期状態に検出された発光輝度と今回検出された発光輝度との差分ΔＲを、実測期間内（実測期間の初回検出タイミングから今回の検出タイミングの間）に生じた累積劣化情報として見積もり精度改善部１３５に与える処理デバイスとしても機能する。

なお、劣化特性実測部１２９は、ダミー画素１２３３１の劣化に要した時間（この例の場合は固定値）と平均階調値も見積もり精度改善部１３５に与える。
もっとも、劣化特性実測部１２９において、実測タイミング間の劣化率を算出する場合には、算出結果のみが見積もり精度改善部１３５に与えられる。劣化率は、単位時間当たりの劣化量で与えられる。従って、ΔＲを実測期間のフレーム数で割ることで求めることができる。

ダミー画素累積劣化量算出部１３１は、ダミー画素について算出された見積もり劣化量の累積値を基本発光色別（ＲＧＢ別）に算出する処理デバイスである。各ダミー画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部１１３で算出される。
ＡＰＬ算出部１３３は、補正表示データ信号についてフレーム単位の平均階調値をＲＧＢ画素別に算出する処理と、過去に算出されたＲＧＢ画素別の平均階調値の平均値（以下「平均ＡＰＬ値」という。）を算出する処理とを実行する処理デバイスである。

なお、フレーム単位で算出されるＲＧＢ画素別の平均階調値は、ダミー画素データ決定部１３７に与えられる。また、平均ＡＰＬ値は、見積もり精度改善部１３５に与えられる。
見積もり精度改善部１３５は、劣化量の算出に使用する階調値／劣化量変換テーブル１１５の精度を改善する処理機能と、補正量の算出に使用する累積劣化量差の精度を改善する処理機能とを提供する処理デバイスである。

図９に、見積もり精度改善部１３５の内部構成例を示す。見積もり精度改善部１３５は、実測劣化率算出部１３５１と、テーブル更新部１３５３と、見積もり誤差率算出部１３５５とで構成される。
実測劣化率算出部１３５１は、ダミー画素１２３３１についてＲＧＢ別に実測された劣化率とその実測期間内の平均ＡＰＬ値とに基づいて、全ての階調値に対応する劣化率の現在値を再計算する処理と、全階調値について計算された劣化率に基づいて各階調値に対応する劣化量を計算する処理とを実行する。

テーブル更新部１３５３は、計算結果に基づいて階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブル１１５を更新する処理を実行する。
見積もり誤差率算出部１３５５は、ダミー画素１２３３１についてＲＧＢ別に実測された劣化量ΔＲと、ダミー画素累積劣化量算出部１３１で算出された累積劣化量とを比較し、実測劣化量ΔＲに対する見積もり誤差量αを１００分率で算出する。算出された見積もり誤差量αは、補正量決定部１２１に与えられる。

ダミー画素データ決定部１３７は、ダミー画素１２３３１に与えるダミー画素データ（階調値）を決定する処理デバイスである。例えば、ダミー画素１２３３１の劣化状態を実測しない期間、ダミー画素データ決定部１３７は、有効表示領域全体の平均階調値をダミー画素データに決定する。この平均階調値は、ＡＰＬ算出部１３３より与えられる。また例えば、ダミー画素１２３３１の劣化状態を実測するタイミングには、ダミー画素データ決定部１３７は、劣化特性実測部１２９から与えられる劣化状態検出用の固定階調値をダミー画素データに決定する。

（ｂ）処理動作
続いて、有機ＥＬディスプレイ装置１１で実行される処理動作を説明する。
入力画像の表示時、有機表示領域１２３１に対応する入力表示データ信号は、映像信号変換部１１１で補正処理を実行された後、補正表示データ信号として自発光パネル１２３に与えられる。

ダミー画素データ決定部１３７は、ダミー画素１２３３１の劣化状態の検出期間でない限り、各フレームについて算出される平均階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部１１１に与える。すなわち、２つのダミー画素１２３３１には、同じ表示データ信号が与えられる。
この結果、Ｒ画素用のダミー画素１２３３１は、直前フレームを構成する全Ｒ画素の平均階調値で発光制御される。また、Ｇ画素用のダミー画素１２３３１は、直前フレームを構成する全Ｇ画素の平均階調値で発光制御される。同様に、Ｂ画素用のダミー画素１２３３１は、直前フレームを構成する全Ｂ画素の平均階調値で発光制御される。

図１０に、ダミー画素データ決定部１３７が映像信号変換部１１１に出力するダミー画素１２３３１用の表示データ信号例を示す。この結果、有効表示領域の左右外側に配置された２つのダミー画素１２３３１は、有効表示領域１２３１内の平均的なＲＧＢ画素と全く同じ状態で発光することになる。すなわち、画素間の個体誤差を無視すれば、有効表示領域と全く同様に劣化が進行する。

やがて、ダミー画素１２３３１の劣化状態を検出するタイミングになると、ダミー画素データ決定部１３７は、劣化特性実測部１２９から与えられた検査用の階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部１１１に与える。図１０は、検出タイミングに１００％の階調値が与えられる様子を表している。

劣化特性実測部１２９は、この検出タイミングにダミー画素発光検出部１２５で検出された発光輝度の平均値を検出値平均化部１２７を通じて入力する。
図１１に、検出結果の推移例を示す。図中、黒丸で示す輝度が検出値である。黒丸を実線で結んで示すように、同じ１００％階調値で発光しているにも関わらず、検出された発光輝度が低下していく様子が分かる。もっとも、図１１は輝度低下を誇張して表現しており、実際には緩やかに低減する。

劣化特性実測部１２９は、ダミー画素の発光輝度が新たに検出される度に、実測期間の初回の検出値との差分ΔＲを算出する。
図１１は、発光時間ｔ０とｔ６の間について差分ΔＲを求める様子を表している。
差分ΔＲが求まると、見積もり精度改善部１３５は、実測期間内に生じた劣化量の変化速度、すなわち劣化率を算出することができる。
図１２に、劣化率の算出原理を示す。図１２は、実測期間の初回の検出タイミングｔ（ｎ）での検出輝度が１００％であり、今回の検出タイミングｔ（ｍ）での検出輝度が８５％の場合を示す。

従って、差分ΔＲは１５％である。また、検出タイミングｔ（ｎ）とｔ（ｍ）との間のフレーム数がＦであるとすると、見積もり精度改善部１３５は、ＲＧＢ画素に対応する劣化率をそれぞれΔＲ／Ｆとして算出する。
この後、見積もり精度改善部１３５は、実測期間に対応するＲＧＢ画素別の平均ＡＰＬ値をＡＰＬ算出部１３３から取得する。図１２の場合、平均階調値は、階調値換算で１００（階調値が８ビットの場合）である。

このように、実測期間内の実測劣化率と実測期間の平均ＡＰＬ値との関係が確定する。この対応関係は実測値であるので、表示画像の内容や使用環境等の全てを反映する。すなわち、平均ＡＰＬ値と劣化率（劣化量）との対応関係を正確に反映する。
ただし、実測された対応関係は、２５６通り（階調が８ビットで与えられる場合）の対応関係の１つでしかない。
従って、全ての入力階調値に対応する劣化率（劣化量）を正確に予測可能にするには、他の全ての階調値について現在の劣化率（実測劣化率）を算出する必要がある。

そこで、見積もり精度改善部１３５（実測劣化率算出部１３５１）は、この対応関係を図１３に示す階調値と劣化率との基本対応関係を用いて算出する。基本対応関係を参照するのは、階調値に対応する劣化率の実測値が変化しても、実測された対応関係と他の対応関係とは基本的に図１３に示す関係を維持すると考えられるからである。図１３に示す基本対応関係は、基本テーブル情報として実測劣化率算出部１３５１に格納される。
図１４に、実測劣化率算出部１３５１による全階調値に対応する劣化率の算出原理を示す。

図１４は、実測された対応関係が階調値の１００（階調が８ビットで表される場合）であり、その際の実測劣化率をＸ₁₀₀ として表している。このとき、任意の階調値ａに対応する実測劣化率Ｘ_a は、図１５に示す基本テーブル曲線を通じて特定される劣化率間の比率α_a ／α₁₀₀ を実測劣化率Ｘ₁₀₀ に乗算することにより算出できる。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率（劣化速度）だけ増幅された新たな対応関係が算出される。

見積もり精度改善部１３５は、全ての階調値に対応する実測劣化率Ｘ_a が算出されると、これらの値で階調値／劣化量変換テーブル１１５を更新する。なお、劣化量は、実測劣化率Ｘ_a と発光期間ｔとの積として算出する。図１６に、階調値／劣化量変換テーブル１１５を構成する全ての階調値について劣化率が更新される様子を示す。
因みに、検出期間（周期）は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。

また、この階調値／劣化量変換テーブル１１５の更新処理と並行して、見積もり誤差率算出部１３５５は、見積もり誤差率αを算出する。見積もり誤差とは、劣化量の予測時に発生した誤差が累積することにより生じる劣化量差をいう。また、見積もり誤差率とは、実輝度劣化率に対する見積もり劣化率との間の誤差の１００分率をいう。
図１７に対応関係を示す。図中、太線は実輝度劣化率ｂの変移に対応し、細線は見積もり輝度劣化率ａの変移に対応する。見積もり輝度劣化率は、劣化量算出部１１３で算出される劣化量である。

図１７は、輝度劣化率を初期値に対する１００分率で表している。この場合、見積もり誤差率αは、ｂ／ａ％で表される。従って、実輝度劣化率（量）の方が見積もり輝度率（量）よりも進んでいれば、見積もり誤差率αは１００％超の値になる。一方、実輝度劣化率（量）の方が見積もり輝度率（量）よりも遅れていれば、見積もり誤差率αは１００％未満の値になる。なお、実輝度劣化率（量）と見積もり輝度率（量）が一致していれば、見積もり誤差率αは１００％の値になる。

そこで、見積もり誤差率算出部１３５５は、実測劣化率に対するダミー画素について算出された累積劣化量を実測劣化量ΔＲで除算し、見積もり誤差率α（＝ｂ／ａ）を算出する。
見積もり誤差率αは補正量決定部１２１に出力され、補正量決定の前提となる累積劣化量差に乗算される。

図１８に、見積もり誤差率αの乗算により累積劣化量差に含まれる誤差の補正原理を説明する。見積もり誤差率αは、全ての劣化率Ｘ₀ 〜Ｘ₂₅₅ に対して同じ関係が認められるものとする。
この場合、実際の累積劣化量差（率）β２は、見積もり演算された累積劣化量差（率）β１に見積もり誤差率α（＝ｂ／ａ）として算出される。すなわち、β２＝（ｂ／ａ）×β１として算出れる。
このように、誤差分の影響を除去した状態で補正量が決定されるため、補正精度が格段に改善されることになる。

（ｃ）効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、有効表示領域１２３１の左右外側にダミー画素１２３３１をそれぞれ１つづつ配置し、各基本発光色に対応する入力表示データ信号の平均階調値で発光制御する。
これにより、ダミー画素１２３３１の劣化特性を有効表示領域内の劣化特性と一致させる。
その上で、定期的に検出されるこれらダミー画素の劣化情報の平均値を算出し、検出結果に含まれる輝度ムラの影響を排除する。

このように表示パネル内で空間的に分散的に配置された複数のダミー画素について検出される検出輝度値を平均化することにより、表示パネル内の画素及びダミー画素に傾向的な発光素子特性（輝度効率や劣化）ムラが発生していても、ダミー画素を１個だけ配置する場合又は１カ所に複数個のダミー画素を配置する場合に比して表示領域全域の平均的な特性結果に近い数値を取得することが可能になる。
すなわち、有効表示領域内の一部の画素についてだけ他の画素よりも検出結果と実際の特性状態との誤差量が極めて大きくなるのを防止することができる。

そして、このように測定値の信頼性の高められた累積劣化量の実測値に基づいて、現在時点での階調値と劣化率（劣化量）との関係を更新することにより、パネル構造上も信号処理的にも実用的な範囲内で劣化情報の予測精度を向上することができる。
この際、全ての階調値に対応する劣化率（劣化速度）は、１つの対応関係を実測するだけで更新できる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量も大幅に削減することが可能になり、この点でも製造コストの大幅な低減を実現できる。

また、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、画面サイズが大型化しても全画素について光量を検出する構造が不要であるのに加え、配置する２個のダミー画素１２３３１も通常パネルプロセスの延長線上で（パネルプロセスをほとんど変更することなく）作成することができる。
すなわち、表示パネル自体の生産難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。このように、製造技術上も効果的である。

（Ｂ−２）システム例２
（ａ）有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成
前述のシステム例では、表示パネルの左右方向に発生する発光素子特性ムラを考慮したダミー画素の配置例と実測値に基づく累積劣化情報の修正技術について説明した。
この形態例では、有効表示領域に発生する温度ムラの影響を考慮したダミー画素の配置例と実測値に基づく累積劣化情報の修正技術について説明する。

映像ソースには様々な種類が存在するが、テレビジョン放送その他の動画像の場合には、全画素の発光条件はほぼ均一になることが多いと考えられる。
ところで、画面サイズの垂直長さが２００ｍｍを超える表示パネルの場合には、表示パネルの上端側の表面温度が下端側の表面温度よりも高くなる傾向が存在する。
図１９（Ａ）に、温度ムラの発生例を示す。温度ムラの発生領域を図では斜線で示す。なお、温度ムラが発生する領域は、図１９（Ｂ）に示すように、画面サイズによらずほぼ画面下部の２００ｍｍの範囲である。

従って、前述したシステム例１のように、ダミー画素を有効表示領域の下端側の左右両側に配置したのでは、この領域部分の発光素子特性を反映したとしても、画面上部の発光素子特性については誤差が大きくなる可能性がある。
特に、有機ＥＬ素子の場合には、温度が高ければ劣化速度が加速する特性がある。すなわち、表面温度のムラは劣化速度のムラを発生することにつながり、焼き付き補正動作の誤差を発生させてしまう。しかも、製造装置に起因した発光特性ムラの劣化速度差に比較し、垂直方向の温度ムラによる劣化速度差は傾向が一様であり、必ず発生する問題でもある。

そこで、システム例２においては、図２０に示すように、２つのダミー画素を有効表示領域の上端側と下端側とに分離して配置し、一連の修正動作も温度特性が均一な上部領域側と温度ムラが発生する下部領域側とで別々に実行する手法を採用する。
図２１に、累積劣化情報の修正機能を搭載する有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図２１に示す有機ＥＬディスプレイ装置１００の基本的なシステム構成は、図３に示す有機ＥＬディスプレイ装置１１と同じである。

ただし、このシステム例２の場合、階調値／劣化量変換テーブル１１５、補正量決定部１２１、検出値平均化部１２７、劣化特性実測部１２９、見積もり精度改善部１３５を、有効表示領域下端から２００ｍｍまでの下部領域用とそれ以外の上部領域用とで処理機能を２重化する。図２１では、上部領域用を記号Ａで示し、下部領域用を記号Ｂで示す。
上部領域用の階調値／劣化量変換テーブル１１５Ａと下部領域用の階調値／劣化量変換テーブル１１５Ｂとは、それぞれ対応する領域に位置する各画素の階調値を劣化量に変換する際に参照される。

上部領域用の補正量決定部１２１Ａと下部領域用の補正量決定部１２１Ｂは、それぞれ対応する領域に位置する各画素の入力表示データを補正するための処理、すなわち累積劣化量差の一律修正処理と補正量の算出処理を実行する。
上部領域用の検出値平均化部１２７Ａは、領域内に温度ムラがないので、有効表示領域の上端側には位置されたダミー画素について検出された輝度値をそのまま、又は上端側に複数個のダミー画素が配置される場合には、これら上端側のダミー画素のみの平均輝度値を算出する処理を実行する。

下部領域用の検出値平均化部１２７Ｂは、全ダミー画素の平均輝度値を算出する処理を実行する。図２２に、この処理動作例を示す。なお、図２２の場合には、画面サイズが小さい場合には、システム例１と同様に領域別の処理動作を実行せずに済む例も記載している。
上部領域用の劣化特性実測部１２９Ａと下部領域用の劣化特性実測部１２９Ｂは、それぞれ対応する領域別に劣化特性の実測値を求める処理を実行する。

上部領域用の見積もり精度改善部１３５Ａと下部領域用の見積もり精度改善部１３５Ｂは、それぞれ対応する領域別に劣化状態を反映してテーブル値を更新する処理と累積劣化量差の見積もり誤差量αを算出する処理を実行する。

（ｂ）処理動作及び効果
以上説明したように、このシステム例２の場合には、有効表示領域内で最も温度の高い部分と低い部分にダミー画素を配置する点を除いて、システム例１と基本的に同じ手順で処理動作が実行される。ただし、有効表示領域の上部領域側と下部領域側とではそれぞれ別々に累積劣化量の実測値が算出され、その算出結果が階調値／劣化量変換テーブル１１５Ａ及びＢと補正量決定部１２１Ａ及びＢに反映される。
この結果、垂直方向の長さが２００ｍｍを超える大型の表示パネルの場合にも、有効表示領域内の温度ムラを反映した正確な焼き付き補正動作を実現できる。

（Ｃ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、ダミー画素を有効表示領域の下部左右に２つ配置する場合と上端側と下端側との２箇所に配置する場合について説明した。
しかし、ダミー画素の配置位置はこれらに限らず、空間的に分散されていれば良い。
例えば図２３に示すように、有効表示領域の外側４隅にダミー画素を配置する方法、図２４に示すように有効表示領域の各辺につき３つの計８個のダミー画素を配置する方法を適用しても良い。
一般に、ダミー画素の配置数が増えるほど検出される累積劣化量の信頼性は向上する。勿論、同じ個数であれば空間的に分散されるほうが望ましい。

（ｂ）前述の形態例では、ダミー画素を有効表示領域の上端側と下端側との２カ所に配置する場合に、有効表示領域の上部側領域と下部側領域とで処理内容を別にする場合について説明した。
しかし、上部側領域と下部側領域との間で面積の大きい方に制御内容を統一しても良い。例えば、画面全体の累積劣化状態として２つのダミー画素の平均検出値を用いる方法を適用しても良い。
また、階調値／劣化量変換テーブルの更新処理や累積劣化量差の見積もり誤差の修正処理についても面積の大きい方の処理に統一しても良い。

（ｃ）前述の形態例でも説明したが、垂直方向の表示サイズが２００ｍｍ以下の場合には、垂直方向の温度勾配が緩やかに変化し、飽和することがない。従って、上端側に配置したダミー画素と下端側に配置したダミー画素の平均輝度値を算出すれば、有効表示領域の平均的な劣化特性として用いて実用上十分である。
また、このように表示サイズが比較的小さい場合には、モバイル用途で用いられることが多いと考えられる。モバイル用途では、表示面が様々な角度で使用されるため、画面の上下方向の温度差の影響が平均化されると考えられる。この点からも、上下方向に分離して配置したダミー画素の平均検出値を用いることが望ましい。

（ｄ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。
（ｅ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。

（ｆ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。

（ｇ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１１及び１００について説明した。
しかし、これらの機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。

（ｈ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１１及び１００について説明した。
しかし、これらの機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。

（ｉ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｊ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。

劣化率の経時的な変動を説明する図である。 発光特性ムラが水平方向に存在する場合にダミー画素を１つだけ配置することの影響を説明する図である。 有機ＥＬディスプレイ装置のシステム構成例を示す図である。 階調値／劣化量変換テーブルの構成例を示す図である。 補正量決定部の内部構成例を示す図である。 表示パネルの平面構成例を示す図である。 ダミー画素領域の拡大図である。 システム例１で採用するダミー画素の配置例と検出輝度値の関係説明する図である。 見積もり精度改善部の内部構成例を示す図である。 ダミー画素用の表示データ信号例を示す図である。 ダミー画素についての劣化特性の推移例を示す図である。 劣化率の実測原理を説明する図である。 実劣化率の算出時に参照する基本対応関係例を示す図である。 基本対応関係を参照した実劣化率の算出原理を示す図である。 基本テーブル上での劣化率間の関係を説明する図である。 階調／劣化量変換テーブルの更新動作を説明する図である。 見積もり劣化率を説明する図である。 見積もり誤差率による累積劣化量差の補正処理を説明する図である。 画面サイズが大きい場合に発生する上下方向の温度ムラを説明する図である。 表示パネルの平面構成例を示す図である。 有機ＥＬディスプレイ装置のシステム構成例を示す図である。 検出値平均化部の動作内容を説明する図である。 ダミー画素の位置関係を示す図である。 ダミー画素の他の配置例を示す図である。

符号の説明

１２１ 補正量決定部
１２５ ダミー画素発光検出部
１２７ 検出値平均化部
１２９ 劣化特性実測部
１３１ ダミー画素累積劣化量算出部
１３５ 見積もり精度改善部
１２１１ 見積もり誤差量補正部
１２１３ 補正量算出部
１３５１ 実測劣化率算出部
１３５３ テーブル更新部
１３５５ 見積もり誤差率算出部
１３７ ダミー画素データ決定部

Claims (13)

1. 有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素を配置する表示パネルと、
   輝度劣化の測定タイミングに、前記複数個のダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
   測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングには事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
   測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
   前記検出輝度の平均値に基づいて、前記複数個のダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
   実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出部と、
   算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新部と
   を有することを特徴とする自発光表示装置。
2. 請求項１に記載の自発光表示装置において、
   前記実測劣化率算出部は、
   階調値と劣化率との基本対応関係を定める基本テーブルを参照し、
   前記平均階調値ｐに対応する劣化率α_p と、算出対象とする階調値ｑに対応する劣化率α_q との対応比率α_q ／α_p を、平均階調値ｐに対応する実測劣化率Ｘ_p に乗算することより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する
   ことを特徴とする自発光表示装置。
3. 請求項１に記載の自発光表示装置において、
   前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の左右外方位置に分離して配置される
   ことを特徴とする自発光表示装置。
4. 請求項１に記載の自発光表示装置において、
   前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の上段側外方位置と下段側外方位置に分離して配置される
   ことを特徴とする自発光表示装置。
5. 請求項４に記載の自発光表示装置において、
   有効表示領域の垂直方向長さが２００ｍｍより大きい場合、
   前記劣化特性実測部は、上段側外方に位置するダミー画素の検出輝度又はその平均値に基づいて第１の実測劣化情報を求めると共に、上段側外方及び下段側外方に位置するダミー画素の検出輝度の平均値に基づいて第２の実測劣化情報を求め、
   前記実測劣化率算出部は、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以上の範囲に位置する画素用には、実測期間内の平均階調値と前記第１の実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出し、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以内の範囲に位置する画素用には、実測期間内の平均階調値と前記第２の実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する
   ことを特徴とする自発光表示装置。
6. 有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素を配置する表示パネルと、
   輝度劣化の測定タイミングに、前記複数個のダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
   測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
   測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
   前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
   階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出されるダミー画素データについての劣化量の累積値と前記実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の前記実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
   算出された誤差率に基づいて、前記階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を一律に補正する見積もり誤差補正部と
   を有することを特徴とする自発光表示装置。
7. 請求項６に記載の自発光表示装置において、
   前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の左右外方位置に分離して配置される
   ことを特徴とする自発光表示装置。
8. 請求項６に記載の自発光表示装置において、
   前記複数個のダミー画素は、少なくとも有効表示領域の上段側外方位置と下段側外方位置に分離して配置される
   ことを特徴とする自発光表示装置。
9. 請求項８に記載の自発光表示装置において、
   有効表示領域の垂直方向長さが２００ｍｍより大きい場合、
   前記劣化特性実測部は、上段側外方に位置するダミー画素の検出輝度又はその平均値に基づいて第１の実測劣化情報を求めると共に、上段側外方及び下段側外方に位置するダミー画素の検出輝度の平均値に基づいて第２の実測劣化情報を求め、
   前記見積もり誤差率算出部は、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以上の範囲に位置する画素用には、前記ダミー画素データより算出した累積劣化量の見積もり値が前記第１の実測劣化情報に対して含む誤差率を算出し、有効表示領域の下端から２００ｍｍ以内の範囲に位置する画素用には、前記ダミー画素データより算出した累積劣化量の見積もり値が前記第２の実測劣化情報に対して含む誤差率を算出する
   ことを特徴とする自発光表示装置。
10. 有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素と、当該複数個のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
    測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
    測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
    前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
    実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出部と、
    算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新部と
    を有することを特徴とする階調値／劣化率変換テーブル更新装置。
11. 有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素と、当該複数個のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置であって、
    測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定部と、
    測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化部と、
    前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測部と、
    ダミー画素データにより生じる劣化量の見積もり値を、階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出する劣化量算出部と、
    算出された劣化量の累積値と前記実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の前記実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
    算出された誤差率に基づいて、前記階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を一律に補正する見積もり誤差補正部と
    を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。
12. 有効表示領域の外側に分散的に複数個のダミー画素と、当該複数個のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
    測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理と、
    測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理と、
    前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理と、
    実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する実測劣化率算出処理と、
    算出された実測劣化率に基づいて、階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブルを更新するテーブル更新処理と
    をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
13. ダミー画素と輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに入力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
    測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値で前記複数個のダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングで事前に設定した測定用の階調値で前記複数個のダミー画素を発光制御するダミー画素データ決定処理と、
    測定タイミング毎に前記複数個のダミー画素で検出される検出輝度の平均値を求める検出輝度平均化処理と、
    前記検出輝度の平均値に基づいて、ダミー画素の平均的な実測劣化情報を求める劣化特性実測処理と、
    階調値／劣化量変換テーブルを参照して算出されるダミー画素データについての劣化量の累積値と前記実測劣化情報とを比較し、劣化量の累積値の前記実測劣化情報に対する誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理と、
    算出された誤差率に基づいて、前記階調値／劣化量変換テーブルを参照して有効表示領域を構成する画素毎に算出された劣化量の累積値を一律に補正する見積もり誤差補正処理と
    をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
    

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