TWI396160B - Self - luminous display device - Google Patents

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Description

自發光顯示裝置
本發明之一形態係關於自發光顯示面板之燒屏補正技術。
此外，發明者所提出之發明係包括自發光顯示裝置、電子機器、燒屏補正裝置及程式。
平面顯示器已廣泛地普及於電腦顯示器、手持終端機、電視影像機等之製品。現在，亦被採用於液晶顯示器面板，然而，依然有視場角較狹窄及回應速度較慢之問題。
另一方面，利用自發光元件所形成之有機EL顯示器，除了可以克服前述之視場角及回應性之課題以外，尚可實現不需背光之薄形態、高亮度、高對比。因此，成為用以取代液晶顯示器之次世代顯示裝置係可期待的事。
然而，有機EL元件及其他自發光元件，具有對應發光量及發光時間而劣化之特性。
另一方面，顯示於自發光顯示裝置之影像內容不一樣。因此，自發光元件之劣化容易發生於其一部份。例如，時刻顯示區域(固定顯示區域)之亮度，比其他顯示區域(動畫顯示區域)更快劣化。
發生劣化之自發光元件之亮度，會相對低於其他顯示區域之亮度。一般而言，該此現象稱為"燒屏"。以下，以"燒屏"來表示部份自發光元件之劣化。
現在，針對"燒屏"現象之改善對策進行各種手法之檢討。
[專利文獻1]日本特開2003－228329號公報[專利文獻2]日本特開2000－132139號公報[專利文獻3]日本特開2001－175221號公報
燒屏現象之補正時，有時會於影像之顯示，同時實施燒屏現象之補正。此時，要求事前預測顯示內容並以無誤差來補正各像素之劣化量差。
然而，顯示內容經常變化。亦即，補正量只是預測值而已，有些實際之顯示內容，可能無法保証正確之補正動作。
所以，發明者提出組合著以下各機能之補正技術，做為用以對基體上配置著矩陣狀之複數自發光元件之顯示面板之燒屏進行補正之裝置。
(a)於第1發光期間，用以計算補正對象像素及基準像素之間所發生之劣化量差之劣化量計算部(b)依據基準像素之預測劣化量，針對各補正對象像素計算於第2發光期間消除計算所得之劣化量差之必要補正量之補正量計算部(c)以計算所得之補正量補正對應像素之灰階值之劣化量差補正部(d)對經過劣化量差補正部進行補正之灰階值實施伽瑪轉換並供應給顯示面板之伽瑪轉換部(e)輸入伽瑪轉換部對顯示面板供應之灰階值，計算對應基準像素之實際劣化量之實際劣化量計算部(f)檢測針對基準像素計算所得之預測劣化量及實際劣化量之偏差量，以消除該偏差量之方式來更新伽瑪轉換部所使用之輸出入關係之預測偏差檢測部
發明者所提出之補正技術，於基準像素之預測劣化量及實際劣化量之間出現偏差時，以消除該偏差量之方式來實施補正後之灰階值之伽瑪轉換。亦即，發明者所提出之補正技術，以使實際劣化量與計算補正量時所預測之基準像素之預測劣化量成為一致之方式來實施全部像素之灰階值之伽瑪轉換。結果，藉由滿足補正動作之前提條件，而可保証正確之補正動作。
以下，針對發明所採用之技術手法之燒屏現象之補正技術進行說明。
此外，本說明書未特別圖示或記載之部份，可以適用該技術分野之眾所皆知或公知之技術。
此外，以下所說明之實施形態，只是本發明之一實施形態，本發明未受限於此。
(A)有機EL顯示器之適用例
(A－1)整體構成第1圖係有機EL顯示器之形態例。有機EL顯示器係申請專利範圍之「自發光顯示裝置」之一例。
有機EL顯示器1係由燒屏補正部3及有機EL面板模組5所構成。
燒屏補正部3係用以實施預測補正部31及預測偏差補正部33之2個處理之處理裝置。該燒屏補正部3係對應於申請專利範圍之「燒屏補正裝置」。其中，預測補正部31係以於補正期間內消除發生於基準像素之間之各像素之劣化量差之方式來補正輸入影像信號之處理裝置。此外，預測偏差補正部33係以消除實際劣化量及預測劣化量之間所發生之偏差之方式來補正預測補正後之輸入影像信號(灰階值)之處理裝置。
有機EL面板模組5係將有機EL元件使用於自發光元件之顯示裝置。
有機EL面板模組5係由有效顯示區域及其驅動電路(資料驅動器、掃描驅動器等)所構成。
於有效顯示區域，配置著矩陣狀之有機EL元件。此外，發光色為R(紅)、G(綠)、B(藍)之三色。以此三色為一組來形成顯示上之1像素。
(A-2)燒屏補正部3之內部構成
第2圖係燒屏補正部3之內部構成例。
(a)預測補正部31
預測補正部31係由灰階值/劣化量轉換部311、劣化 量差計算部313、總劣化量蓄積部315、補正量計算部317、以及劣化量差補正部319所構成。
灰階值/劣化量轉換部311係將實際供應給有機EL面板模組5之影像信號(灰階值)轉換成劣化量參數之處理裝置。將灰階值轉換成劣化量參數係因為現在實用化之有機EL元件之劣化量未必與灰階值成比例。
所以，配置灰階值/劣化量轉換部311，將對應於各發光色之各像素之灰階值轉換成劣化量。此形態例時，係利用實驗求取灰階值及有機EL元件之劣化量之關係，並將其對應關係資料儲存成一覽表。
第3圖係灰階值/劣化量轉換表之一例。第3圖所示之灰階值/劣化量轉換表時，係以使劣化率及劣化量與灰階值產生關連之方式來儲存。劣化率係指單位時間之劣化量。因此，劣化量可以利用發光時間t乘以劣化率來求取。
劣化量差計算部313係用以計算構成有效顯示區域之各像素(補正對象像素)及基準像素之劣化量差之處理裝置。基準像素係實施燒屏補正時之補正基準。此形態例時，係假設成以構成有效顯示區域之全部像素之平均灰階值進行發光之像素。基準像素可以為顯示面板上之實際像素，亦可以為利用信號處理之虛擬像素。
劣化量差計算部313係從補正對象像素之劣化量減去基準像素之劣化量並將該差分值視為劣化量差。
例如，發光期間為t1、補正對象像素之劣化率為α 1、基準像素之劣化率為α 2時，劣化量差Y如下式所示。
Y＝(α 1－α 2)．t1
此外，劣化量差為正值時，表示補正對象像素之劣化大於基準像素。另一方面，劣化量差為負值時，表示補正對象像素之劣化小於基準像素。
總劣化量蓄積部315係用以儲存基準像素之劣化量之累積值及各像素(補正對象像素)之劣化量差之累積值之記憶區域或記憶裝置。例如，使用半導體記憶體、硬碟裝置、及其他之磁氣記憶媒體、光碟、及其他光記憶媒體。
補正量計算部317係依據基準像素之預測劣化量，計算於將來期間(補正期間)內消除針對各像素計算所得之劣化量差之補正量之處理裝置。
第4圖係補正量計算部317之補正量之計算原理。第4圖係表示於補正期間t2內使前一期間t1所發生之劣化量差成為零之條件。此外，第4圖係以虛線表示對應於基準像素之劣化量之變化，並以實線表示對應於補正對象像素之劣化量之變化。
補正期間t2之預測劣化率為β 2時，補正對象像素之預測劣化率β 1可以利用前一期間t1所發生之劣化量差Y(＝(α 1－α 2)．t1)而以下式來表示。
β 1＝β 2－Y/t2＝β 2－(α 1－α 2)．t1/t2
補正量計算部317參照灰階值/劣化量轉換表(第3圖)，求取對應於計算所得之劣化率β 1之灰階值。
此外，該灰階值係針對補正後之影像信號所求取之灰階值。補正量計算部317以滿足該灰階值之方式，從補正對象像素之預測灰階值扣除應有之灰階值(對應於β 1)，來計算針對補正對象像素之補正量。
例如，預測灰階值大於應有之灰階值時，補正值成為負值。此外，預測灰階值小於應有之灰階值時，補正值成為正值。
劣化量差補正部319係以計算所得之補正量補正對應像素之灰階值之處理裝置。例如，劣化量差補正部319實施將灰階值加至輸入影像信號之處理。
(b)預測偏差補正部33預測偏差補正部33係由實際劣化量計算部331、預測偏差檢測部333、以及伽瑪轉換部335所構成。
實際劣化量計算部331係輸入供應給有機EL面板模組5之灰階值，並計算對應於基準像素之實際劣化量之處理裝置。
如前面所述，此形態例時，對應於基準像素之實際劣化量係採用用以構成有效顯示區域之全部像素之平均灰階值。亦即，實際劣化量計算部331係執行求取對應於全部像素之灰階值之劣化量參數之平均值之處理。轉換成劣化量參數係使用前述灰階值/劣化量轉換表(第3圖)。此外，全部像素之平均灰階值係針對各發光色來求取。
預測偏差檢測部333係檢測針對基準像素計算所得之預測劣化量及實際劣化量之偏差量，以消除該偏差量之方式來更新伽瑪轉換部335所使用之輸出入關係之處理裝置。
如前面所述，預測補正部31預測基準像素之補正期間內之灰階值，並以該灰階值為基準來決定補正值。
然而，只是預測而已，依據實際時間所輸入之顯示影像之內容，補正值之計算時，做為前提之基準像素之灰階值可能會與預測值不同。亦即，實際畫面之平均亮度可能比預測之平均亮度亮或暗。
因此，預測偏差檢測部333係以附有符號之方式來計算針對預測劣化量之實際劣化量之差分。
差分值為正值時，表示實際影像之平均亮度小於預測影像(較暗)。另一方面，差分值為負值時，表示實際影像之平均亮度大於預測影像(較亮)。
因此，檢測到比預測值更為劣化時，預測偏差檢測部333以降低平均亮度之方式變更伽瑪轉換部335之輸出入關係。此外，檢測到劣化低於預測值時，預測偏差檢測部333以提高平均亮度之方式變更伽瑪轉換部335之輸出入關係。
第5圖係伽瑪曲線(輸出入關係)之控制概念。此外，於預測劣化量及實際劣化量之間無偏差時，伽瑪曲線係圖中之粗線所示之直線。
此處，伽瑪曲線(y＝x^1/γ)之γ值，於偏差量愈大時，係大於或小於1之值。此外，偏差量為0(零)時，γ值為1。
對應於偏差量之伽瑪曲線之輸出入關係(轉換表)，係依據偏差量別儲存於預測偏差檢測部333內。
第6圖係預測偏差檢測部333所儲存之轉換表之集合例。第6圖時，偏差量D係在於劣化量換算值之－50至＋50之範圍。此外，有對應於偏差量D之全部灰階分之伽瑪曲線資料(輸出入資料)。
第7圖係各伽瑪曲線之平均位準及偏差量D之關係。對應於偏差量之各伽瑪曲線之平均位準，係以與偏差量為0(零)之伽瑪曲線之平均位準之差分與預測劣化量及實際劣化量之偏差量D成為一致之方式來設定。
只是，實際之系統時，會發生補正延遲。所以，此形態例時，係使其對應平均位準之差分大於消除真正偏差量時之伽瑪曲線(輸出入關係)。
例如，伽瑪曲線B係採用使其對應於小於預測劣化量及實際劣化量之真正偏差量D之偏差量之手法。
伽瑪轉換部335係依據設定之伽瑪曲線(輸出入關係)來對經過劣化量差補正部31進行補正後之影像信號(灰階值)實施伽瑪轉換之處理裝置。
伽瑪曲線(輸出入關係)之變更係由預測偏差檢測部333逐次執行。
(A－3)燒屏現象之補正動作接著，針對利用預測補正部31及預測偏差補正部33所實現之燒屏補正動作進行說明。以下，係分別針對預測補正部31之補正動作及預測偏差補正部33之補正動作來進行說明。
(a)預測補正動作第8圖係預測補正動作之處理步驟例。預測補正動作係以交互蓄積像素間之劣化量差之期間及對其進行補正之期間來實施。
首先，灰階值/劣化量轉換部311分別針對補正對象像素及基準像素進行灰階值之檢測(S1)。
其次，灰階值/劣化量轉換部311利用第3圖所示之灰階值/劣化量轉換表來導出分別對應於補正對象像素及基準像素之劣化率。亦即，分別導出補正對象像素之劣化率α 1及基準像素之劣化率α 2(S2)。此外，依序或並列地指定補正對象像素之用以構成有效顯示區域之全部像素。
劣化量差計算部313計算補正對象像素及基準像素之間所發生之劣化量差(S3)。
計算所得之劣化量累積地蓄積於總劣化量蓄積部315。蓄積期間t1結束時，總劣化量蓄積部315計算對應於各補正對象像素之累積劣化量差Y＝(α 1－α 2)．t1(S4)。
其次，補正量計算部317決定補正期間之發光期間t2(S5)。發光期間t2可以設定成任意之值。只是，若太短，則單位時間內之補正量較大，會使畫質降低。因此，補正量應在容許之範圍。例如，將發光期間t2設定成與蓄積期間t1相同。
其後，補正量計算部317依據應於發光期間t2輸入之基準像素之預測灰階值，來導出劣化率β 2(S6)。
藉由劣化率β 2之導出，可確定用以計算補正對象像素之劣化率β 1之必要全部值(劣化率α 1、α 2、β 2、以及發光期間t1、t2)。
其後，補正量計算部317依據前述之補正條件式，求取消除劣化量差之必要劣化率β 1(S7)。亦即，利用β 1＝β 2－(α 1－α 2)×t1/t2來計算劣化率β 1。
此外，補正量計算部317求取對應於導出之劣化率β 1之灰階值(S8)。
其次，補正量計算部317以滿足所求取之灰階值之方式，針對補正對象像素之預測灰階值計算補正量(S9)。亦即，補正量係相對於預測灰階值來進行決定。
藉由以此方式所決定之補正量，劣化量差補正部319實施對應之補正對象像素之灰階值之補正。
(b)預測偏差補正動作其次，針對預測偏差補正動作之處理步驟例進行說明。
如預測補正部31所預測之灰階值被當做輸入影像信號提供時，如前面所述，於補正期間t2之結束時點，基準像素及各補正對象像素之發光亮度差應為0(零)。
第9圖係補正動作之概念圖。第9圖時，如虛線及一點虛線所示，時點t3時，補正對象像素之發光亮度及基準像素之發光亮度應為相同。
然而，如第9圖之實線及點線所示，補正對象像素之實際劣化量之變化及基準像素之實際劣化量之變化於時點3之時點，可能未收斂。
這是因為預測精度之問題，然而，輸入影像信號之內容之預測也有其限度。
所以，預測偏差補正部33實施以下之補正動作。
第10圖係預測偏差補正動作之處理步驟例。
首先，實際劣化量計算部331逐一計算基準像素之實際劣化量(S101)。亦即，計算各框之發光色別之平均灰階值。計算所得之實際劣化量則提供給預測偏差檢測部333。
其次，預測偏差檢測部333讀取補正量計算部317執行補正處理時所預測之劣化量(預測劣化量)(S102)。
其後，預測偏差檢測部333計算預測劣化量及實際劣化量之差分，亦即，計算偏差量(S103)。如前面所述，計算之差分值係正值或負值，係用以反映偏差量之大小之值。
預測偏差檢測部333讀取對應於偏差量之轉換表，並將其設定於伽瑪轉換部335(S104)。此外，轉換表之設定係即時且持續地執行。
伽瑪轉換部335參照所設定之轉換表，實施各補正對象像素之灰階值之伽瑪轉換，並輸出至有機EL顯示器模組5。
該伽瑪轉換之結果，實際劣化量小於預測劣化量時，以提高畫面整體之平均亮度之方式來實施灰階值之轉換，實際劣化量大於預測劣化量時，以降低畫面整體之平均亮度之方式來實施灰階值之轉換。
當然，平均亮度之調整量係對應於實際劣化量及預測劣化量之偏差量之最佳化。
結果，顯示於有機EL顯示器上之影像之平均亮度，滿足燒屏補正時所預測之條件。因此，可實現補正之前提，而隨時皆可得到適當補正效果。
第11圖係應用預測偏差補正動作時之劣化量之變化。
(A－4)形態例之效果如以上之說明所示，此形態例所說明之有機EL顯示器時，因為利用反映發光亮度之降低之參數之劣化率來檢測各像素之劣化量，故可比傳統技術更正確地檢測發光特性之劣化量，而可更正確地決定補正值。
此外，採用以消除預測之影像內容及實際之影像內容之差異所導致之基準像素之劣化量之偏差之方式，亦即，採用以消除平均亮度值之偏差之方式來實施畫面整體之灰階值之伽瑪轉換之手法。
因此，可確實使預測補正時之前提條件成立，而持續地執行正確之燒屏補正動作。
亦即，即使發光特性之劣化與顯示灰階並非比例關係時，亦可使補正對象像素之發光亮度更確實地接近基準像素之發光亮度，且預測劣化量及實際劣化量之間發生偏差時，亦可實現可確實消除該偏差之燒屏補正技術。
此外，預測偏差補正部33之處理可利用簡易之信號處理來實現。因此，畫面尺寸大型化時，不會增加顯示面板本身之生產難度，且幾乎不會導致成本增加。如此，亦可有效提高製造技術。
(B)其他形態例
(a)前述之形態例時，係針對發光色單位計算各像素之劣化量差及畫面整體之平均灰階值時進行說明。
然而，亦可適用於將發光色別之灰階值轉換成層次上之灰階值，並計算對應於該層次上之灰階值之劣化量差及畫面整體之平均灰階值時。
(b)前述之形態例時，係針對只準備1個灰階值/劣化量轉換表，並實現劣化量(率)及灰階值之相互轉換時進行說明。
然而，灰階值及劣化率(量)可能因為使用環境或材料特性等之影響而產生時效變化時，亦可採用選擇適合各條件之複數方式之灰階值/劣化量轉換表來使用之方法。此時，亦可配置溫度感測器、使用時間計時器、及其他檢測裝置，並依據其檢測結果，切換各處理部所參照之灰階值/劣化量轉換表。
(c)前述之形態例時，係針對只準備1個灰階值/劣化量轉換表，並實現劣化量(率)及灰階值之相互轉換時進行說明。
然而，亦可採用以下之構成，亦即，將用以檢測有機EL元件之發光特性之時效變化之虛擬像素配置於顯示面板內，並藉由亮度檢測感測器來檢測其發光特性之時效變化，再修正輸出入關係。
例如，亦可採用針對各灰階值檢測全部或部份之劣化率，依據其檢測結果，計算對應於各灰階值之劣化率(量)之手法。
(d)前述之形態例時，係針對準備對應於預測劣化量及實際劣化量之偏差量之伽瑪曲線(輸出入關係)之轉換表時進行說明。
然而，亦可採用藉由輸出入關係之計算來求取並更新之構成。
(e)前述之形態例時，係利用使伽瑪曲線(輸出入關係)對應於預測劣化量及實際劣化量之偏差量之轉換表來對應用以消除大於消除真正偏差量時之偏差量之輸出入關係時進行說明。
然而，原則上，只要對應於消除真正偏差量之必要輸出入關係即可。
(f)前述之形態例時，係針對基本原色為RGB之3色時進行說明。然而，亦可適用於基本原色為包含補色在內之4色以上時。此時，虛擬像素只要準備該等基本原色之數即可。
(g)前述之形態例時，係未針對基本原色之發色形態進行說明，然而，基本原色別亦可以為發光元件材料不同之有機EL元件，亦可以為利用濾色器方式或色轉換方式來產生基本原色。
(h)前述之形態例時，係以自發光顯示裝置之一實例之有機EL顯示器面板為例，然而，亦可適用於其他自發光顯示裝置。例如，亦可適用於FED(field emission display)、無機EL顯示器面板、LED面板、以及其他。
(i)前述之形態例時，燒屏補正量之預測方法係將灰階值轉換成劣化量參數，並以消除與基準像素之劣化量之差之方式來決定燒屏補正值時進行說明。
然而，燒屏補正值之計算處理可以採用包括眾所皆知之處理技術在內之任意手法。
(j)前述之形態例時，係對灰階值/劣化量轉換部311回饋供應給有機EL面板模組5之影像信號，並計算對應於各補正對象像素之劣化量時進行說明。
然而，亦可將輸入至預測補正部31之影像信號或經過劣化量差補正部319進行補正後之影像信號提供給灰階值/劣化量轉換部311，並計算劣化量。
(k)前述之形態例時，係針對以用以構成有效顯示區域之全部像素之平均亮度值發光之像素做為基準像素時進行說明。
然而，劣化量之收斂目的之基準像素並未受限於平均亮度值。例如，亦可以採用像素單位所累積之劣化量最小之像素或劣化量最大之像素做為基準像素之手法。決定補正值時，應配合實裝系統，來決定以那一像素或灰階值來做為基準值。
(1)前述之形態例時，係針對將燒屏補正部3配載於有機EL顯示器1時進行說明。
然而，燒屏補正部3亦可配載於配載或控制自發光顯示措施之各種電子機器。
例如，可配載於電腦、印刷裝置、攝影機、數位相機、遊戲機、個人數位助理(攜帶型電腦、行動電話機、攜帶型遊戲機、電子書等)、手錶、影像再生裝置(例如，光碟裝置、本地伺服器)。
此外，任一之電子機器時，殼體、信號處理部(MPU)、以及外部介面係共通構成，且為組合著對應商品形態之周邊裝置之構成。
例如，行動電話機及其他具有通信機能之電子機器時，除了前述之構成以外，尚具有傳送及接收電路及天線。第12圖(A)係此種電子機器之概略構成例。該例時，電子機器501係由信號處理部503、操作部505、通信部507、以及顯示面板509所構成。
此外，例如，遊戲機、電子書、以及其他具有記憶媒體之電子機器時，除了前述之構成以外，尚具有記憶媒體之驅動電路等。第12圖(B)係此種電子機器之概略構成例。該例時，電子機器601係由信號處理部603、操作部605、媒體驅動部607、以及顯示面板609所構成。
此外，例如，印刷裝置時，除了前述之構成以外，尚配載著印刷單元。印刷單元係配載著對應印刷方式之最適者。印刷方式如雷射方式、噴墨方式、以及其他。第13圖(A)係此種電子機器之概略構成例。該例時，電子機器701係由信號處理部703、操作部705、印刷單元707、以及顯示面板709所構成。
此外，例如，攝影機及數位相機時，除了前述之構成以外，尚配載著攝影機單元及用以將攝取之影像資料儲存於記憶媒體之寫入電路。第13圖(B)係此種電子機器之概略構成例。該例時，電子機器801係由信號處理部803、操作部805、攝影部807、以及顯示面板809所構成。
(m)前述之形態例時，係從機能面針對燒屏補正機能進行說明，當然，亦可以硬體及軟體來實現相同之機能。
此外，不但該等處理機能可以全部以硬體或軟體來實現，亦可以硬體或軟體來實現其一部份。亦即，可以為由硬體及軟體所組合之構成。
(n)前述之形態例於發明之要旨範圍內，可以有各種變形例。此外，亦可以為依據本說明書之記載所創作之各種變形例及應用例。
1．．．有機EL顯示器
3．．．燒屏補正部
5．．．有機EL面板模組
31．．．預測補正部
35．．．預測偏差補正部
311．．．灰階值/劣化量轉換部
313．．．劣化量差計算部
315．．．總劣化量蓄積部
317．．．補正量計算部
319．．．劣化量差補正部
331．．．實際劣化量計算部
333．．．預測偏差檢測部
335．．．伽瑪轉換部
第1圖係有機EL顯示器之概略構成例圖。
第2圖係燒屏補正部之內部構成例圖。
第3圖係用以儲存灰階值及劣化率之對應關係之轉換表例圖。
第4圖係燒屏現象之補正處理原理之說明圖。
第5圖係預測偏差之補正處理原理之說明圖。
第6圖係偏差量及伽瑪曲線之對應關係圖。
第7圖係伽瑪曲線之平均亮度位準差之說明圖。
第8圖係預測補正動作之處理步驟圖。
第9圖係未實施預測偏差補正時所發生之劣化量變化之說明圖。
第10圖係預測偏差補正動作之處理步驟圖。
第11圖係實施預測偏差補正時之劣化量變化之說明圖。
第12圖係其他電子機器之應用例之說明圖。
第13圖係其他電子機器之應用例之說明圖。
1．．．有機EL顯示器
3．．．燒屏補正部
5．．．有機EL面板模組
31．．．預測補正部
33．．．預測偏差補正部

Claims (1)

  1. 一種自發光顯示裝置，係配載著於基體上配置著矩陣狀之複數自發光元件之顯示面板之自發光顯示裝置，其特徵為具有：劣化量差計算部，用以計算第1發光期間於補正對象像素及基準像素之間所發生之劣化量差；補正量計算部，依據基準像素之預測劣化量，針對各補正對象像素計算於第2發光期間消除計算所得之劣化量差之必要補正量；劣化量差補正部，以計算所得之補正量補正對應像素之灰階值；伽瑪轉換部，對經過前述劣化量差補正部進行補正之灰階值實施伽瑪轉換並供應給顯示面板；實際劣化量計算部，輸入前述伽瑪轉換部對顯示面板供應之灰階值，計算對應基準像素之實際劣化量；以及預測偏差檢測部，檢測針對基準像素計算所得之前述預測劣化量及前述實際劣化量之偏差量，以消除該偏差量之方式來更新前述伽瑪轉換部所使用之輸出入關係，前述補正量計算部利用該期間所發生之補正對象像素之劣化率α 1及基準像素之劣化率α 2，以Y=(α 1-α 2)．t1來求取第1發光期間t1於補正對象像素及基準像素之間所發生之劣化 量差Y，利用第2發光期間內所預測之基準像素之劣化率β 2，以β 1=β 2-Y/t2來求取於第2發光期間t2以消除前述劣化量差Y為目的之必要補正對象像素之劣化率β 1。
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