JP5310372B2 - 表示装置、輝度劣化補正方法および電子機器 - Google Patents
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Description
あらかじめ定められた輝度で発光駆動される第1の基準画素部と、
輝度の劣化量を検出するときに発光駆動される第2の基準画素部とを用い、
前記第1、第2の基準画素部の各輝度の検出結果を基に表示に寄与する有効画素の輝度の劣化分を補正する。
1.本発明が適用される表示装置(有機EL表示装置の例)
1−1.システム構成
1−2.画素回路
2.第1実施形態(基準画素と劣化測定画素を横に並べた例)
2−1.基準画素部の構成
2−2.輝度センサの構成
2−3.輝度劣化補正処理部
2−4.輝度劣化量の測定方法
2−5.第1実施形態の作用効果
3.第2実施形態(基準画素を中心に劣化測定画素を上下左右斜めに並べた例)
3−1.基準画素部の構成
3−2.輝度センサの構成
3−3.第2実施形態の作用効果
4.変形例
5.適用例(電子機器)
[1−1.システム構成]
図1は、本発明が適用されるアクティブマトリクス型表示装置の構成の概略を示すシステム構成図である。ここでは、一例として、デバイスに流れる電流値に応じて発光輝度が変化する電流駆動型の電気光学素子、例えば有機EL素子を画素(画素回路)の発光素子として用いたアクティブマトリクス型有機EL表示装置の場合を例に挙げて説明するものとする。
図2は、画素(画素回路)20の具体的な回路構成の一例を示す回路図である。
[2−1.基準画素部の構成]
図3は、本発明の第1実施形態に係る有機EL表示装置10Aの構成例を示す概略構成図である。図3において、図1と同等部分(対応する部分)には同一符号を付して示し、その詳細な説明については重複するのでここでは省略する。
劣化測定画素部51を基準輝度で常時発光駆動する。基準輝度としては、例えば、有機EL表示装置10Aの最大輝度または当該最大輝度の1/2の輝度が考えられる。
発光条件例2)
有機EL表示装置10Aの全体に表示されている輝度の平均レベルで劣化測定画素部51を常時発光駆動する。
図3の例では、劣化測定画素部51および基準画素部52の対を、画素アレイ部30の左右両側の額縁領域に複数組ずつ、例えば5組ずつ計10組配置している。この配置例において、10組の劣化測定画素部51の発光駆動に関して、例えば次の2つの駆動例が考えられる。
10組の対の配置例において、一方の額縁側の5組の対の劣化測定画素部51についてそれぞれ異なる輝度、計5段階の輝度で発光駆動するようにする。他方の額縁側の5組の対の劣化測定画素部51についても、一方の額縁側の5組の劣化測定画素部51と同じ計5段階の輝度で発光駆動するようにする。
10組の対の配置例において、一方の額縁側の5組の対の劣化測定画素部51および他方の額縁側の5組の対の劣化測定画素部51について全て異なる輝度で発光駆動するようにする。すなわち、画素アレイ部30の片側5組、計10組の対の劣化測定画素部51について全て異なる輝度、即ち計10段階の輝度で発光駆動するようにする。
輝度センサは、例えば劣化測定画素部51および基準画素部52の発光面側に設けられる。輝度センサには周知の光検出素子を用いることができる。一例として、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサを用いることができる。輝度センサは、例えば、電流値として検出される輝度情報(光量情報)を電圧値として出力する。以下に、輝度センサの配置構造の具体的な実施例について説明する。
図5は、実施例1に係る輝度センサの配置構造を示す図であり、(A)は平面図、(B)は側断面図である。
図6は、実施例2に係る輝度センサの配置構造を示す図であり、(A)は平面図、(B)は側断面図である。
図7は、実施例3に係る輝度センサの配置構造を示す側断面図である。
続いて、劣化測定画素部51および基準画素部52の輝度検出データを基に、画素アレイ部30の全画素(有効画素)20の輝度の劣化分を補正する輝度劣化補正処理部60の構成および処理について説明する。
次に、輝度劣化量の測定方法について、図15のフローチャートを用いて説明する。ここでは、実施例1に係る輝度センサの配置構造、即ち劣化測定画素部51および基準画素部52に対して輝度センサ53,54が1個ずつ配置されている配置構造の場合を例に挙げて説明するものとする。
初期状態比100%(経過0時間)=センサ測定値(劣化測定画素輝度)
/センサ測定値(基準画素輝度) …(1)
基準輝度で発光させる。例えば、有機EL表示装置10の最大輝度。または、有機EL表示装置10の最大輝度の1/2。
表示例2)
有機EL表示装置10全体に表示されている平均レベルで発光させる。
劣化率(経過時間h)=センサ測定値(劣化測定画素輝度)
/センサ測定値(基準画素輝度) …(2)
よって、温度や湿度による輝度センサ53,54の特性変動や有機EL表示装置10自身の温度特性が直接測定値に現れてしまうことになる。
以上説明したように、劣化測定基準画素部51と基準画素部52とを用い、これら画素部51,52の各輝度の検出結果を基に、有効画素20の輝度の劣化分を補正する処理を行うことで、次のような作用効果をすることができる。
[3−1.基準画素部の構成]
図16は、本発明の第2実施形態に係る有機EL表示装置10Bの構成例を示す概略構成図である。図16において、図3と同等部分(対応する部分)には同一符号を付して示し、その詳細な説明については重複するのでここでは省略する。
輝度センサについては、第1実施形態の場合と同様に、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサを用いることができる。また、劣化測定画素部51−1〜51−8および基準画素部52との関係においては、第1実施形態の実施例1また実施例3に係る輝度センサの配置構造を採ることができる。
第1実施形態の実施例1に係る配置構造の場合と同様に、劣化測定画素部51−1〜51−8および基準画素部52に対して輝度センサを1対1の対応関係をもって1個ずつ配置する(図5参照)。このとき、輝度センサは、劣化測定画素部51−1〜51−8および基準画素部52の各受光面と対向するように配置される。
第1実施形態の実施例3に係る配置構造の場合と同様に、劣化測定画素部51−1〜51−8および基準画素部52に対して単一の輝度センサを共用する一方、当該輝度センサと劣化測定画素部51−1〜51−8および基準画素部52との間に拡散板を配置する(図7参照)。
本実施形態に係る有機EL表示装置10Bの場合にも、基本的に、第1実施形態に係る有機EL表示装置10Aの場合と同様に作用効果、即ち有機EL表示装置10Bが置かれる環境条件の影響を受けることなく、有効画素20の輝度の劣化量を検出することができる。加えて、本実施形態に係る有機EL表示装置10Bの場合には、劣化測定画素部51−1〜51−8の発光条件を複数設定することができるために、より細やかな補正のための劣化状況を把握することができる。
上記実施形態では、画素20の電気光学素子(発光素子)として、有機EL素子を用いた有機EL表示装置に適用した場合を例に挙げて説明したが、本発明はこの適用例に限られるものではない。すなわち、本発明は、無機EL素子、LED素子、半導体レーザー素子などの自発光素子を画素20の電気光学素子として用いる自発光型の表示装置全般に対して適用可能である。
以上説明した本発明による表示装置は、電子機器に入力された映像信号、若しくは、電子機器内で生成した映像信号を、画像若しくは映像として表示するあらゆる分野の電子機器の表示装置に適用することが可能である。一例として、図18〜図22に示す様々な電子機器、例えば、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話等の携帯端末装置、ビデオカメラなどの表示装置に適用することが可能である。
Claims (13)
- あらかじめ定められた輝度で発光駆動される第1の基準画素部と、
輝度の劣化量を検出するときに発光駆動される第2の基準画素部と、
前記第1、第2の基準画素部の各輝度の検出結果を基に表示に寄与する有効画素の輝度の劣化分を補正する補正部と
を備え、
前記第1、第2の基準画素部は、前記有効画素が配置されてなる画素アレイ部の周辺部に隣接して設けられており、
前記第1の基準画素部は、異なる輝度で発光駆動される複数の基準画素部からなる表示装置。 - 前記第2の基準画素部は、前記第1の基準画素部の複数の基準画素部に対して1対1の対応関係をもって設けられる複数の基準画素部からなる請求項1に記載の表示装置。
- 前記第1、第2の基準画素部は、前記画素アレイ部を挟んで当該画素アレイ部の両側に設けられている請求項2に記載の表示装置。
- 前記第1の基準画素部は、前記画素アレイ部を挟んで両側に設けられるとき、一方側の複数の基準画素部と他方側の複数の基準画素部とが同じ輝度で発光駆動される請求項3に記載の表示装置。
- 前記第1の基準画素部は、前記画素アレイ部を挟んで両側に設けられるとき、一方側の複数の基準画素部と他方側の複数の基準画素部とが全て異なる輝度で発光駆動される請求項3に記載の表示装置。
- 前記第2の基準画素部は、単一の基準画素部からなり、
前記第1の基準画素部の複数の基準画素部は前記第2の基準画素部を囲んで設けられている請求項1に記載の表示装置。 - 前記第1、第2の基準画素部の組は、前記画素アレイ部を挟んで当該画素アレイ部の両側に設けられている請求項6に記載の表示装置。
- 前記第1の基準画素部の輝度の劣化を検出する第1の輝度センサと、
前記第2の基準画素部の輝度の劣化を検出する第2の輝度センサとを有する請求項1に記載の表示装置。 - 前記第1、第2の輝度センサの周りが遮光板で囲まれている請求項8に記載の表示装置。
- 前記第1、第2の輝度センサは、前記第1、第2の基準画素部の中間位置に共通に設けられた単一の輝度センサからなる請求項8に記載の表示装置。
- 前記第1、第2の輝度センサと前記単一の輝度センサとの間に拡散板が設けられている請求項10に記載の表示装置。
- あらかじめ定められた輝度で発光駆動される第1の基準画素部と、
輝度の劣化量を検出するときに発光駆動される第2の基準画素部と
を備え、
前記第1、第2の基準画素部は、表示に寄与する有効画素が配置されてなる画素アレイ部の周辺部に隣接して設けられており、
前記第1の基準画素部は、異なる輝度で発光駆動される複数の基準画素部からなる表示装置の輝度劣化の補正に当たって、
前記第1、第2の基準画素部の各輝度の検出結果を基に前記有効画素の輝度の劣化分を補正する輝度劣化補正方法。 - あらかじめ定められた輝度で発光駆動される第1の基準画素部と、
輝度の劣化量を検出するときに発光駆動される第2の基準画素部と、
前記第1、第2の基準画素部の各輝度の検出結果を基に表示に寄与する有効画素の輝度の劣化分を補正する補正部と
を備え、
前記第1、第2の基準画素部は、前記有効画素が配置されてなる画素アレイ部の周辺部に隣接して設けられており、
前記第1の基準画素部は、異なる輝度で発光駆動される複数の基準画素部からなる表示装置を有する電子機器。
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