KR102270460B1 - 유기 발광 표시 장치 및 이의 열화 보상 방법 - Google Patents

유기 발광 표시 장치 및 이의 열화 보상 방법 Download PDF

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유기 발광 표시 장치가 제공된다. 유기 발광 표시 장치는 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 유기 발광 소자의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터를 각각 검출하고, 상기 복수의 화소 중 인접하게 배치된 적어도 두 개의 화소들간의 열화 데이터 차이를 산출하는 센싱부, 상기 열화 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하고, 입력된 영상 데이터에서 상기 보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 제어부를 포함한다.

Description

유기 발광 표시 장치 및 이의 열화 보상 방법{Organic Light Emitting Display And Compensation Method Of Degradation}
본 발명은 유기 발광 표시 장치 및 이의 열화 보상 방법에 관한 것이다.
차세대 디스플레이로 주목 받고 있는 유기발광 표시장치는 스스로 발광하는 자체 발광 소자를 구비하여 응답속도가 빠르고 발광효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있다. 유기발광 표시장치는 자체 발광 소자인 유기 발광 소자(Organic Light Emitting Diode : 이하, "OLED"라 함)를 가진다. OLED는 애노드 전극, 캐소드 전극 및 양 전극들 사이에 형성된 유기 화합물층(HIL, HTL, EML, ETL, EIL)을 구비한다. 유기 화합물층은 정공주입층(Hole Injection layer, HIL), 정공수송층(Hole transport layer, HTL), 발광층(Emission layer, EML), 전자수송층(Electron transport layer, ETL) 및 전자주입층(Electron Injection layer, EIL)을 포함한다. 애노드 전극과 캐소드 전극에 구동전압이 인가되면 정공수송층(HTL)을 통과한 정공과 전자수송층(ETL)을 통과한 전자가 발광층(EML)으로 이동되어 여기자를 형성하고, 그 결과 발광층(EML)이 가시광을 발생하게 된다.
유기 발광 소자는 사용 시간 경과에 따라 열화되어 표시 휘도를 떨어뜨린다. 유기 발광 소자의 열화 정도는 입력 영상의 밝기에 영향을 받는다. 밝은 영상을 많이 표시한 유기 발광 소자는 어두운 영상을 많이 표시한 유기 발광 소자에 비해 열화 정도가 심하다. 즉, 표시 패널에서 유기 발광 소자의 열화는 부분적으로 다르게 진행된다. 따라서, 유기 발광 소자의 열화 정도에 따라 휘도를 보상하여 한 화면의 표시 휘도를 균일하게 맞추는 기술이 제안되었다. 다만, 종래 기술은 열화 정도에 비례하여 유기 발광 소자에 인가되는 전류를 높임으로써 휘도를 보상하기 때문에, 열화된 영역에 보다 부담을 주어 열화 진행 속도를 촉진시킬 수 있다. 즉, 열화가 많이 진행된 유기 발광 소자에 더 큰 전류를 인가하기 때문에 오히려 열화 속도가 가속화되고 표시 장치의 수명이 더욱 짧아진다.
또한, 유기 발광 소자의 열화 정보는 열화된 유기 발광 소자의 발광 휘도와 선형적으로 검출되지 않을 수 있다. 즉, 검출된 열화 정보에 기초하여 열화된 유기 발광 소자를 보상하더라도 이에 따른 휘도 증가가 선형적이지 않을 수 있다. 따라서, 열화된 유기 발광 소자에 대한 직접적인 보상을 하더라도 인접하는 다른 화소와의 휘도 차는 여전히 발생할 수 있다.
이에, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 열화된 화소 영역의 경계 영역을 보정하여 표시 패널의 휘도 편차가 실질적으로 시인되지 않는 유기 발광 표시 장치를 제공하는 것이다.
또한, 본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 열화된 화소 영역의 경계 영역을 보정하여 표시 패널의 휘도 편차가 실질적으로 시인되지 않는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 유기 발광 소자의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터를 각각 검출하고, 상기 복수의 화소 중 인접하게 배치된 적어도 두 개 화소들간의 열화 데이터 차이를 산출하는 센싱부 및 상기 열화 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하고, 입력된 영상 데이터에서 상기 보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 제어부를 포함한다.
상기 보상 영역은 상기 열화 데이터 차이가 기준 데이터보다 큰 제1 영역을 포함할 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제1 영역의 내부 영역을 열화 영역으로 설정하고, 상기 제1 영역의 외부 영역을 정상 영역으로 설정할 수 있다.
상기 보상 영역의 휘도 레벨은 상기 정상 영역과 인접한 영역에서 상기 열화 영역과 인접한 영역으로 갈수록 감소하되, 상기 휘도 레벨은 상기 정상 영역의 휘도 레벨에서 상기 열화 영역의 휘도 레벨까지 소정의 기울기에 따라 감소할 수 있다.
상기 복수의 화소들은 매트릭스 형태로 배열되며, 상기 인접하게 배치된 화소들은 행 방향 및 열 방향으로 따라 나란히 배치되지 않을 수 있다.
상기 복수의 화소들은 매트릭스 형태로 배열되며, 상기 인접하게 배치된 화소들은 행 방향 또는 열 방향으로 따라 나란히 배치될 수 있다.
상기 보상 영역은 상기 복수의 화소 중 열화된 유기 발광 소자를 포함하는 화소와 열화되지 않은 유기 발광 소자를 포함하는 화소 사이에 배치된 화소들로 정의될 수 있다.
상기 보상 영상 데이터는 상기 보상 영역으로 정의된 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상할 수 있다.
상기 제어부는 상기 열화 데이터 차이를 제공받고 상기 열화 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하는 보상 영역 설정부와, 설정된 보상 영역에 따라 입력된 영상 데이터를 처리하여 보상 영상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성부를 포함할 수 있다.
상기 각 화소는 센싱 모드가 활성화된 경우 상기 유기 발광 소자에 테스트 전류를 인가하는 감지 트랜지스터를 더 포함하고, 상기 열화 데이터는 상기 테스트 전류에 의한 유기 발광 소자의 구동 전압 값일 수 있다.
상기 열화 데이터는 상기 각 화소가 연결된 각 데이터 라인을 통해 검출될 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법은 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함하는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법에 있어서, 상기 유기 발광 소자의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터를 각각 검출하는 단계, 상기 복수의 화소 중 인접하게 배치된 적어도 두 개 화소들간의 열화 검출 데이터 차이를 산출하는 단계, 상기 열화 검출 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하는 단계 및 상기 보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함한다.
상기 보상 영역은 상기 열화 데이터 차이가 기준 데이터보다 큰 제1 영역을 포함하도록 설정될 수 있다.
상기 보상 영역 설정 단계는, 상기 제1 영역의 내부 영역을 열화 영역으로 설정하고, 상기 제1 영역의 외부 영역을 정상 영역으로 설정할 수 있다.
상기 보상 영역의 휘도 레벨은 상기 정상 영역과 인접한 영역에서 상기 열화 영역과 인접한 영역으로 갈수록 감소하되, 상기 휘도 레벨은 상기 정상 영역의 휘도 레벨에서 상기 열화 영역의 휘도 레벨까지 소정의 기울기에 따라 감소할 수 있다.
상기 보상 영역은 상기 복수의 화소 중 열화된 유기 발광 소자를 포함하는 화소와 열화되지 않은 유기 발광 소자를 포함하는 화소 사이에 배치된 화소들로 정의될 수 있다.
상기 보상 영상 데이터는 상기 보상 영역으로 정의된 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상할 수 있다.
상기 각 화소는 센싱 모드가 활성화된 경우 상기 유기 발광 소자에 테스트 전류를 인가하는 감지 트랜지스터를 더 포함하고, 상기 열화 데이터는 상기 테스트 전류에 의한 유기 발광 소자의 구동 전압 값일 수 있다.
상기 열화 데이터는 상기 각 화소가 연결된 각 데이터 라인을 통해 검출될 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.
표시 패널의 휘도 편차가 실질적으로 시인되지 않아 개선된 표시 품질을 제공할 수 있다.
또한, 열화된 화소를 직접적으로 보상하지 않으므로 상기 화소의 열화 속도가 가속화되지 않을 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소의 회로도이다.
도 3은 각 화소에 대응되는 열화 데이터를 매핑한 개략도이다.
도 4는 열화 데이터 차이를 매핑한 개략도이다.
도 5는 본 실시예에 따른 제어부의 블록도이다.
도 6은 보상 영역이 설정된 열화 데이터 차이를 나타낸 개략도이다.
도 7은 도 6의 Ⅰ-Ⅰ’ 영역의 휘도, 열화 데이터 차이 및 데이터 보상을 나타낸 그래프이다.
도 8은 보상 영상 데이터가 적용된 각 영역의 휘도를 나타낸 도면이다.
도 9는 도 8의 Ⅱ-Ⅱ’ 영역의 휘도 변화를 나타낸 그래프이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법의 순서도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "위(on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대해 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 블록도이며, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소의 회로도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 유기 발광 표시 장치(10)는 표시 패널(110), 센싱부(120), 제어부(130), 데이터 구동부(140) 및 스캔 구동부(150)를 포함한다.
표시 패널(110)은 화상이 표시되는 영역일 수 있다. 표시 패널(110)은 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn), 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)과 교차하는 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm) 및 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn) 중 하나와 및 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm) 중 하나와 각각 연결되는 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 여기서, n과 m은 서로 다른 자연수이다. 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm) 각각은 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)과 교차할 수 있다. 즉, 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)은 제1 방향(d1)을 따라 연장될 수 있으며, 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)들은 제1 방향(d1)과 교차하는 제2 방향(d2)을 따라 연장될 수 있다. 여기서, 제1 방향(d1)은 열 방향일 수 있으며, 제2 방향(d2)은 행 방향일 수 있다. 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)은 제1 방향(d1)을 따라 순서대로 배치된 제1 내지 제n 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)을 포함할 수 있다. 복수의 데이터 라인들 (DL1, DL2, ..., DLm)은 제2 방향(d2)을 따라 순서대로 배치된 제1 내지 제m 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)을 포함할 수 있다.
복수의 화소(PX)는 매트릭스 형상으로 배치될 수 있다. 복수의 화소(PX) 각각은 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn) 중 하나 및 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm) 중 하나와 연결될 수 있다. 복수의 화소(PX) 각각은 연결된 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)으로부터 제공되는 스캔 신호(S1, S2, ..., Sn)에 대응하여 연결된 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)에 인가되는 데이터 전압(D1, D2, ..., Dm)을 수신할 수 있다. 즉, 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)은 각 화소(PX)에 인가되는 스캔 신호(S1, S2, ..., Sn)가 제공될 수 있으며, 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)에는 데이터 전압(D1, D2, ..., Dm)이 제공될 수 있다. 여기서, 제1 방향(d1)은 열 방향일 수 있으며, 제2 방향(d2)은 행 방향일 수 있다. 각 화소(PX)는 제1 전원 라인(미도시)을 통해 제1 전원 전압(ELVDD)을 공급받을 수 있으며, 제2 전원 라인(미도시)를 통해서 제2 전원 전압(ELVSS)를 공급받을 수 있다.
여기서, 표시 패널(110)은 복수의 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)과 동일한 방향으로 연장되는 복수의 게이트 라인(GL1, GL2, ..., GLn)을 포함할 수 있다. 복수의 게이트 라인(GL1, GL2, ..., GLn)은 제1 방향(d1)을 따라 순서대로 배치된 제1 게이트 라인 내지 제n 게이트 라인(GL1, GL2, ..., GLn)을 포함할 수 있다. 여기서 제1 스캔 라인(SL1)과 제1 게이트 라인(GL1)은 동일한 화소 행 그룹과 연결될 수 있으며, 나머지 스캔 라인과 게이트 라인들도 각각 동일한 화소 행 그룹과 연결될 수 있다. 여기서, 스캔 라인과 게이트 라인은 각 화소에 포함된 서로 다른 트랜지스터를 턴 온 하는 신호를 제공할 수 있다.
복수의 화소(PX) 각각은 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 커패시터(C), 제3 트랜지스터(T3) 및 유기 발광 소자(EL) 포함할 수 있다. 이하, 제j 스캔 라인(SLj)과 제k 데이터 라인(DLk)과 연결된 화소(PX)를 기준으로 각 화소(PX)의 구성에 대해 설명한다. 상기 j는 n이하의 자연수이며, 상기 k는 m이하의 자연수일 수 있다. 또한, 화소(PX)의 구성은 유기 발광 소자의 열화 센싱이 가능한 구조라면 공지의 어떠한 것이라도 무방할 수 있다. 상기 화소(PX)의 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 단은 제 j 스캔 라인과 연결될 수 있으며, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 단은 제k 데이터 라인(DLk)과 연결될 수 있으며, 제1 트랜지스터의(T1)의 드레인 단은 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 단에 연결될 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 제어 트랜지스터일 수 있다. 즉, 제1 트랜지스터(T1)는 제j 스캔 라인(SLj)을 통해 인가되는 스캔 신호(Sk)에 의해 턴 온되어 데이터 라인(DLk)을 통해 제공되는 데이터 전압(Dk)을 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 단에 제공할 수 있다. 커패시터(C)는 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 단과 제1 전원 전압(ELVDD)를 연결할 수 있다. 데이터 전압(Dk)은 커패시터(C)에 충전될 수 있으며, 충전된 데이터 전압(Dk)은 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 단으로 제공될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 단은 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 단과 연결되고, 제2 트랜지스터(T2)의 소스 단은 제1 전원 전압(ELVDD)와 연결되며, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 단은 유기 발광 소자(EL)과 연결될 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)은 게이트 단에 인가되는 데이터 전압과 소스-드레인 단의 전압 관계에 상응하는 전류(Ids)가 채널에 형성될 수 있다. 상기 전류(Ids)는 유기 발광 소자(EL)를 발광시키는 구동 전류일 수 있으며, 제2 트랜지스터(T2)는 구동 트랜지스터일 수 있다. 유기 발광 소자(EL)는 애노드 단이 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 단과 연결될 수 있으며, 캐소드 단이 제2 전원 전압(ELVSS)와 연결될 수 있다. 유기 발광 소자(EL)는 상기 구동 전류에 대응하는 밝기로 발광될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 단은 제j 게이트 라인(GLj)에 연결될 수 있으며, 제3 트랜지스터(T3)의 소스 단은 제k 데이터 라인(DLk)에 연결될 수 있으며, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 단은 유기 발광 소자(EL)와 연결될 수 있다. 즉, 제3 트랜지스터(T3)의 드레인 단은 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 단과 연결될 수 있다. 여기서, 게이트 신호(G1)은 센싱 모드가 활성화 된 상태에서 제공된 상태에서 제공될 수 있다. 즉, 제3 트랜지스터(T3)는 감지 트랜지스터로서 센싱 모드가 비활성화된 상태에서는 동작되지 않을 수 있다. 센싱 모드가 활성화된 상태에서 소정의 제1 전류가 유기 발광 소자(EL)에 제공될 수 있다. 상기 제1 전류는 제k 데이터 라인(DLk)을 통해 제공될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 별도의 라인(미도시)을 통해 제공될 수 도 있다. 여기서, 제1 전류는 유기 발광 소자(EL)의 열화 정도를 감지하기 위한 테스트 전류로 임의로 설정된 크기를 가질 수 있다. 제1 전류에 의한 유기 발광 소자(EL)의 현재 구동 전압이 제3 트랜지스터(T3)을 거쳐 제k 데이터 라인(DLk)에 인가될 수 있다. 여기서, 구동 전압은 유기 발광 소자의 문턱 전압일 수 있으며, 문턱 전압은 유기 발광 소자의 열화 진행에 따라 증가할 수 있다. 즉, 현재 구동 전압은 유기 발광 소자(EL)의 열화 정도를 반영하는 전압일 수 있다. 즉, 센싱 모드에서 상기 제1 전류에 의해 제k 데이터 라인(DLk)에 형성되는 구동 전압은 유기 발광 소자의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터(DI)일 수 있다. 여기서, 열화 데이터(DI)를 검출하는 방법은 상술한 것에 한정되는 것은 아니다. 즉, 유기 발광 소자(EL)의 열화 센싱이 가능한 다른 공지의 기술이 적용될 수 있다. 몇몇 실시예에서 유기 발광 소자를 흐르는 전류를 측정할 수 있으며, 이 경우 열화 데이터(DI)는 전류 값으로 검출될 수 있다.
센싱부(120)는 표시 패널(110)의 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)과 연결될 수 있다. 센싱모드에서, 복수의 화소(PX)는 순차적으로 제공되는 게이트 신호(G1, G2, ..., Gn)에 따라 순차적으로 턴 온되는 화소 행 그룹이 정의될 수 있다. 센싱부(120)는 각 화소 행 그룹에서 대응되어 연결된 각 화소의 열화 데이터를 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)을 통해 측정할 수 있다. 여기서, 센싱부(120)는 복수의 화소(PX) 중 인접하게 배치된 화소간의 열화 데이터 차이를 검출할 수 있다.
데이터 구동부(140)는 복수의 데이터 전압(D1, D2, ..., Dm)을 표시 패널(110)의 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)에 제공할 수 있다. 데이터 구동부(140)는 제어부(130)로부터 데이터 제어 신호(DCS)와 보정 데이터 신호(DATA1)를 입력 받을 수 있으며, 데이터 구동부(140)는 데이터 제어 신호(DCS)에 따라 보정 데이터 신호(DATA1)를 처리하여, 복수의 데이터 전압(D1, D2, ..., Dm)으로 변환할 수 있다. 여기서, 본 실시예와 같이 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)을 통해 열화 데이터를 검출하는 경우에, 센싱 모드가 활성화된 상태의 복수의 데이터 전압(D1, D2, ..., Dm)이 출력되는 각 라인은 복수의 데이터 라인(DL1, DL2, ..., DLm)와 차단될 수 있다.
스캔 구동부(150)는 복수의 스캔 신호(S1, S2, ..., Sn)을 생성할 수 있다. 스캔 구동부(120)는 복수의 스캔 신호(S1, S2, ..., Sn)를 순차적으로 제1 내지 제 n 스캔 라인(SL1, SL2, ..., SLn)에 제공할 수 있다. 센싱 모드가 활성화된 상태에서 스캔 구동부(150)는 복수의 게이트 신호(G1, G2, ..., Gn)을 생성할 수 있다. 스캔 구동부는 제1 내지 제n 게이트 신호(G1, G2, ..., Gn)을 제1 내지 제n 게이트 라인(GL1, GL2, ..., GLn)에 순차적으로 제공할 수 있다.
제어부(130)는 외부 시스템으로부터 제어 신호(CS) 및 영상 신호(R, G, B)를 입력 받을 수 있다. 여기서, 제어 신호(CS)는 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE) 및 클럭 신호(CLK)일 수 있다. 제어부(130)는 제어 신호(CS)에 기초하여 스캔 구동부(140)를 제어하기 위한 스캔 제어 신호(SCS) 및 데이터 구동부(130)를 제어하기 위한 데이터 제어 신호(DCS)를 생성할 수 있다. 데이터 제어 신호(DCS)는 예를 들어, 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse: SSP), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock: SSC) 및 소스 출력 인에이블 신호(Source Output Enable Signal: SOE)일 수 있다. 스캔 제어 신호(SCS)는 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse: GSP) 및 게이트 샘플링 클럭(Gate Sampling Clock: GSC)일 수 있다. 제어 신호(CS)는 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE) 및 클럭 신호(CLK)일 수 있다.
제어부(130)는 센싱부(120)를 제어하는 센싱 제어 신호(TCS)를 생성할 수 있다. 센싱 제어 신호(TCS)는 센싱 모드를 활성화 및 비활성화를 제어하는 신호일 수 있다. 여기서, 센싱 모드는 유기 발광 표시 장치(10)의 전체적인 전원이 턴 오프 또는 턴 온되는 경우 활성화될 수 있다. 즉, 전원이 턴 온 또는 턴 오프되는 대기 시간 동안 센싱 모드는 활성화될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 유기 발광 표시 장치(10)의 동작 중에 센싱 모드는 일정 주기 또는 사용자의 설정에 의해 활성화될 수도 있다.
또한, 제어부(130)는 센싱부(120)에서 제공된 센싱 정보(DI)를 반영하여 입력된 영상 데이터(DATA)를 처리하여 보정 영상 데이터(DATA1)로 변환할 수 있다. 보정 영상 데이터(DATA1)는 표시 패널(110)의 열화 정보를 반영하여 보상된 영상 데이터일 수 있다. 즉, 본 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(10)는 표시 패널(110)의 열화 정보를 반영하여 생성된 보정 영상 데이터(DATA1)에 의해 구동되므로, 개선된 표시 품질을 제공할 수 있다.
이하, 도 3 내지 도 9를 참조하여, 센싱부(120)와 제어부(130)의 구성 및 기능에 대해 보다 상세히 설명하도록 한다.
도 3은 각 화소에 대응되는 열화 데이터를 매핑한 개략도이며, 도 4는 열화 데이터 차이를 매핑한 개략도이며, 도 5는 본 실시예에 따른 제어부의 블록도이며, 도 6은 보상 영역이 설정된 열화 데이터 차이를 나타낸 개략도이며, 도 7은 도 6의 Ⅰ-Ⅰ’ 영역의 휘도, 열화 데이터 차이 및 데이터 보상을 나타낸 그래프이며, 도 8은 보상 영상 데이터가 적용된 각 영역의 휘도를 나타낸 도면이며, 도 9는 도 8의 Ⅱ-Ⅱ’ 영역의 휘도 변화를 나타낸 그래프이다.
도 3 내지 도 9를 참조하면, 센싱부(120)는 각 화소(PX)의 유기 발광 소자(EL)의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터(DI)를 각각 검출할 수 있다. 여기서, 열화 데이터(DI)는 전압 값일 수 있으며, 상기 전압 값은 아날로그 디지털 변환부를 거쳐 디지털 값으로 변환될 수 있다. 각 화소(PX)에 대응되는 열화 데이터(DI)는 디지털 값으로 매핑되어 임시 메모리에 저장될 수 있다.
센싱부(120)는 인접하게 배치된 적어도 두 화소들간의 열화 데이터(DI) 차이를 산출할 수 있다. 인접하게 배치된 두 화소들은 행 방향 및 열 방향을 따라 나란히 배치되지 않을 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 센싱부(120)는 대각선 방향으로 이웃하는 두 화소들간의 열화 데이터 차이를 산출할 수 있다. 센싱부(120)는 임시 메모리에 저장된 상기 화소들의 열화 데이터를 각각 독출한 뒤, 이의 차분을 산출할 수 있다. 여기서, 인접하게 배치된 두 화소들의 위치 관계는 상술한 것에 에 한정되는 것은 아니며, 인접하게 배치된 두 화소들은 행 방향 또는 열 방향을 따라 나란히 배치될 수 있다. 즉, 열 방향으로 이웃하는 두 화소들간의 열화 데이터 차이 또는 행 방향으로 이웃하는 두 화소들간의 열화 데이터 차이를 산출할 수 도 있다. 여기서, 산출된 열화 데이터 차이(s)은 수치화된 디지털 값일 수 있으며, 센싱부(120)는 이를 도 4와 같이 매핑(mapping)하여 저장할 수 있다. 이웃하는 두 화소들간의 열화 데이터 차이가 나지 않은 경우, 저장되는 값은 0일 수 있으며, 각 열화 데이터 차이(s)는 두 화소들간의 열화 데이터 차이에 대응되는 수치를 가질 수 있다. 열화 데이터 차이(s)의 산출 방법은 상술한 것에 한정되는 것은 아니며, 몇몇 실시예에서 인접하는 화소들의 열화 데이터들은 디지털 값으로 변환되지 않고 메모리화되지 않을 수 있다. 즉, 검출된 아날로그 전압 차이는 차동 증폭기 등을 통해 산출될 수 있으며, 산출된 값을 디지털 값으로 변환하여 열화 데이터 차이(s)를 바로 생성할 수도 있다. 산출된 열화 데이터 차이(s)는 제어부(130)로 제공될 수 있다.
제어부(130)는 보상 영역 설정부(131)와 데이터 보상부(132)를 포함할 수 있다. 보상 영역 설정부(131)는 열화 데이터 차이(s)를 제공 받고 열화 데이터 차이(s)를 이용하여 보상 영역(A)을 설정할 수 있다. 보상 영역 설정부(131)는 보상 영역(A)이 설정된 보상 열화 데이터(s’)를 데이터 보상부(132)에 제공할 수 있다. 데이터 보상부(132)은 입력된 영상 데이터(DATA)와 보상 열화 데이터(s’)을 제공 받고 이들을 처리하여 보상 영상 데이터(DATA1)를 생성할 수 있다. 보상 영상 데이터(DATA1)은 보상 열화 데이터(s’)에 따라 입력된 영상 데이터(DATA)를 보상한 영상 데이터일 수 있다. 데이터 보상부(132)는 생성된 보상 영상 데이터(DATA1)를 데이터 구동부(140)에 제공할 수 있다.
보상 영역 설정부(131)는 열화 데이터 차이(s)가 기준 데이터보다 큰 제1 영역(A1)을 보상 영역(A)으로 설정할 수 있다. 여기서, 기준 데이터는 열화 데이터 차이가 나지 않은 0일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 몇몇 실시예에서, 기준 데이터는 사용자가 실질적으로 휘도 차를 인식하지 못하는 정도의 열화 데이터 차이로 설정될 수 있다. 보상 영역(A)은 제1 영역(A1)과 이의 주변 영역인 제2 영역(A2)을 포함할 수 있다. 이에 대해서는 보다 상세히 후술하도록 한다. 보상 영역(A)은 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 경계 영역일 수 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 보상 영역(A)의 내부 영역은 열화 영역(D)으로 정의될 수 있으며, 보상 영역(A)의 외부 영역은 정상 영역(N)으로 정의될 수 있다. 보다 정확하게는 휘도 편차가 발생하는 제1 영역(A1)을 기준으로 이의 내부 영역은 열화 영역(D)일 수 있으며, 이의 외부 영역은 정상 영역(N)일 수 있다. 열화 영역(D)의 유기 발광 소자(EL)는 열화 진행에 따라 문턱전압이 증가된 상태일 수 있으며, 동일한 크기의 테스트 전류에 대해 정상 영역(N)보다 낮은 휘도 값을 나타낼 수 있다. 여기서, 사용자가 표시 품질이 저하되었다고 인식하는 부분은 휘도 편차가 발생하는 영역일 수 있다. 즉, 사용자는 정상 영역(N)과 열화 영역(D)의 경계 영역과 같이 휘도의 변화가 급격하게 나타나는 영역에 대해 표시 품질이 저하된 것으로 인식할 수 있다. 본 실시예에서 열화 영역(D)으로 정의된 각 화소들은 열화 영역(D) 내부의 화소들과 실질적으로 휘도 차이가 발생하지 않기 때문에 사용자는 열화 영역(D) 자체에 대해서 표시 품질 저하를 인식하지 못할 수 있다. 제어부(130)는 사용자가 실질적으로 휘도 편차를 인식하지 못하도록, 열화 영역(D)에 대한 집적적인 보상이 아닌 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 경계 영역을 보상 영역(A)으로 설정하고 이를 보상할 수 있다. 즉, 보상 영역(A)은 열화 영역(D)의 화소들과 정상 영역(N)의 화소들 사이에 배치된 화소들로 정의될 수 있다. 제어부(130)는 상기 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상하는 보상 영상 데이터(DATA1)을 생성할 수 있다.
여기서, 제어부(130)는 보상 영역(A)의 열화 데이터 차이가 실질적으로 나타나지 않도록 보상 영역(A)을 보상할 수 있다. 즉, 제어부(120)는 정상 영역(N)과 열화 영역(D)의 휘도 변화가 급격하게 나타나지 않고 제1 기울기를 형성하도록 보상 영역(A)을 보상할 수 있다. 상기 제1 기울기는 사용자가 실질적으로 휘도 차이를 인식하지 못하는 정도의 휘도 변화를 제공하는 소정의 기울기일 수 있다. 제1 기울기는 일정한 값으로 정상 영역(N)과 열화 영역(D)의 휘도 변화는 선형적으로 보상될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
여기서, 제1 기울기에 대응하도록 보상 영역(A)은 휘도 편차가 발생하는 영역인 제1 영역(A1)보다 더 넓게 설정될 수 있다. 즉, 도 7에 도시된 바와 같이 휘도 편차가 발생하는 영역과 휘도 편차가 발생하지 않는 정상 영역(N)과 열화 영역(D)의 일부 영역인 제2 영역(A1) 또한 상기 제1 기울기에 부합하는 휘도 편차를 제공하기 위해 보상 영역(A)으로 설정될 수 있다. 보상 영역 설정부(131)는 이러한 보상 영역(A)을 설정하여 데이터 보상부(132)로 제공할 수 있으며, 데이터 보상부(132)는 정상 영역(N)과 열화 영역(D)이 제1 기울기의 휘도 편차를 가지도록 보상량을 결정할 수 있다. 데이터 보상부(132)는 상기 보상량에 따라 보상 영역(A)에 해당하는 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상하여 보상 영상 데이터(DATA1)을 생성할 수 있다.
보상 영상 데이터(DATA1)에 의한 휘도는 도 8 및 도 9와 같이 나타날 수 있다. 즉, 정상 영역(N), 보상 영역(A) 및 열화 영역(D)은 그라데이션(Gradation) 형태로 보상이 수행될 수 있다. 보상 영상 데이터(DATA1)에 따라 화상을 표시하더라도 정상 영역(N)의 휘도 레벨과 열화 영역(D)은 휘도 레벨은 서로 상이할 수 있다. 다만, 보상 영역(A)은 정상 영역과 인접한 영역에서 열화 영역(D)과 인접한 영역으로 갈수록 휘도가 감소할 수 있다. 여기서, 보상 영역(A)의 휘도 레벨은 정상 영역(N)의 휘도 레벨에서 열화 영역(D)의 휘도 레벨까지 제1 기울기에 따라 감소될 수 있다. 따라서, 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 휘도 차이는 실질적으로 사용자의 눈이 시인되지 않을 수 있기에 유기 발광 소자(EL)의 열화에 따른 표시 품질 저하는 인식되지 않을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(10)는 상술한 바와 같은 보정으로 개선된 표시 품질을 제공할 수 있다. 그리고, 열화된 화소에 대한 직접적인 보정이 아니므로, 열화된 화소의 열화 속도가 더욱 가속화되는 문제점도 해소할 수 있다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법에 대해 설명하도록 한다. 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법의 순서도이다.
도 10을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 구동 방법은 열화 데이터를 검출하는 단계(S110), 두 화소들 간의 열화 검출 데이터 차이를 산출하는 단계(S120), 보상 영역을 설정하는 단계(S130), 보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 단계(S140)를 포함한다.
먼저, 열화 데이터를 검출한다(S110).
여기서, 본 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함할 수 있다. 유기 발광 표시 장치는 상술한 도 1 내지 도 9의 유기 발광 표시 장치가 적용될 수 있으므로 이의 구성에 대한 보다 구체적인 설명은 생략한다.
유기 발광 표시 장치의 제어부(130)는 감지 모드를 활성화할 수 있다. 여기서, 감지 모드는 유기 발광 표시 장치(10)의 전체적인 전원이 턴 오프 또는 턴 온되는 경우 활성화될 수 있다. 즉, 전원이 턴 온 또는 턴 오프되는 대기 시간 동안 감지 모드는 활성화될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 유기 발광 표시 장치(10)의 동작 중에 감지 모드는 일정 주기 또는 사용자의 설정에 의해 활성화될 수 있다. 제어부(130)는 열화 데이터를 검출하기 위한 게이트 신호(G1, G2, ..., Gn)를 스캔 구동부(140)가 출력하도록 스캔 구동부(140)를 제어할 수 있으며, 데이터 구동부(150)에서 출력되는 데이터 전압이 데이터 라인으로 인가되지 않도록 이들 간의 연결을 차단할 수 있다. 또한, 제어부(130)는 테스트 전류를 각 데이터 라인으로 인가할 수 있다. 게이트 신호(G1, G2, ..., Gn)에 의해 턴 온되는 감지 트랜지스터를 통해 테스트 전류는 각 화소의 유기 발광 소자(EL)로 흐를 수 있다. 유기 발광 소자(EL)의 구동 전압은 연결된 각 데이터 라인 인가될 수 있으며, 센싱부(120)는 상기 구동 전압을 측정하여 각 유기 발광 소자(EL)의 열화 정도를 검출할 수 있다. 여기서, 구동 전압은 유기 발광 소자의 문턱 전압일 수 있으며, 문턱 전압은 유기 발광 소자의 열화 진행에 따라 증가할 수 있다. 즉, 현재 구동 전압은 유기 발광 소자(EL)의 열화 정도를 반영하는 전압일 수 있다. 여기서, 열화 데이터를 검출하는 방법은 상술한 것에 한정되는 것은 아니다. 즉, 유기 발광 소자(EL)의 열화 센싱이 가능한 다른 공지의 기술이 적용될 수 있다. 몇몇 실시예에서 유기 발광 소자를 흐르는 전류를 측정할 수 있으며, 이 경우 열화 데이터는 전류 값으로 검출될 수 있다.
이어서, 두 화소들 간의 열화 검출 데이터 차이를 산출한다(S120).
센싱부(120)는 열화 데이터를 각 픽셀에 대응하도록 매핑하여 임시 메모리에 저장할 수 있다. 또한, 센싱부(120)는 인접하게 배치된 적어도 두 화소들간의 열화 데이터 차이를 산출할 수 있다. 인접하게 배치된 두 화소들은 행 방향 및 열 방향을 따라 나란히 배치되지 않을 수 있다. 즉, 두 화소들은 대각선 방향으로 이웃할 수 있다. 센싱부(120)는 임시 메모리에 저장된 상기 화소들의 열화 데이터를 각각 독출한 뒤, 이의 차분을 산출할 수 있다. 여기서, 산출된 열화 데이터 차이(s)은 수치화된 디지털 값일 수 있으며, 센싱부(120)는 이를 매핑(mapping)하여 저장할 수 있다. 센싱부(120)는 생성된 열화 데이터 차이(s)를 제어부(130)로 제공할 수 있다. 여기서, 열화 데이터 차이(s)의 산출 방법은 상술한 것에 한정되는 것은 아니다. 몇몇 실시예에서 인접하는 화소들의 열화 데이터들은 디지털 값으로 변환되지 않고 메모리화되지 않을 수 있다. 즉, 검출된 아날로그 전압 차이는 차동 증폭기 등을 통해 산출될 수 있으며, 산출된 값을 디지털 값으로 변환하여 열화 데이터 차이(s)를 바로 생성할 수도 있다.
보상 영역을 설정한다(S130).
제어부(130)는 열화 데이터 차이(s)가 기준 데이터보다 큰 제1 영역(A1)을 보상 영역(A)으로 설정할 수 있다. 여기서, 기준 데이터는 열화 데이터 차이가 나지 않은 0일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 몇몇 실시예에서, 기준 데이터는 사용자가 실질적으로 휘도 차를 인식하지 못하는 정도의 열화 데이터 차이로 설정될 수 있다. 보상 영역(A)은 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 경계 영역일 수 있다. 보다 정확하게는 휘도 편차가 발생하는 제1 영역(A1)을 기준으로 이의 내부 영역은 열화 영역(D)으로 정의될 수 있으며, 이의 외부 영역은 정상 영역(N)으로 정의될 수 있다. 여기서, 사용자가 표시 품질이 저하되었다고 인식하는 부분은 휘도 편차가 발생하는 영역일 수 있다. 즉, 사용자는 정상 영역(N)과 열화 영역(D)의 경계 영역과 같이 휘도의 변화가 급격하게 나타나는 영역에 대해 표시 품질이 저하된 것으로 인식할 수 있다. 제어부(130)는 사용자가 실질적으로 휘도 편차를 인식하지 못하도록, 열화 영역(D)에 대한 집적적인 보상이 아닌 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 경계 영역을 보상 영역(A)으로 설정할 수 있다. 보상 영역(A)은 정상 영역(N)과 인접한 영역에서 열화 영역(D)과 인접한 영역으로 갈수록 휘도가 감소하도록 보상될 수 있다. 이러한, 휘도 감소는 사용자가 실질적으로 휘도 차이를 인식하지 못하는 정도의 휘도 변화를 제공하는 제1 기울기를 따라 감소할 수 있다. 즉, 보상 영역(A)은 상기 제1 기울기에 대응되는 영역만큼 설정될 수 있다. 상기 영역을 보장하기 위해, 휘도 편차가 발생하는 제1 영역(A1)의 주변 영역인 제2 영역(A2)은 보상 영역(A)에 포함될 수 있다. 즉, 제2 영역(A2)은 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 일부 영역일 수 있으며, 상술한 제1 기울기에 따른 보상을 보장하기 위해 보상 영역(A)에 포함될 수 있다.
보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성한다(S140).
제어부(130)는 입력된 영상 데이터(DATA)에서 보상 영역(A)에 해당하는 영역을 보상하여 보상 영상 데이터(DATA1)를 생성할 수 있다. 여기서, 보상 영역(A)은 열화 영역(D)의 화소들과 정상 영역(N)의 화소들 사이에 배치된 화소들로 정의될 수 있다. 제어부(130)는 상기 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상하는 보상 영상 데이터(DATA1)을 생성할 수 있다. 즉, 정상 영역(N), 보상 영역(A) 및 열화 영역(D)은 그라데이션(Gradation) 형태로 보상이 수행될 수 있다. 보상 영상 데이터(DATA1)에 따라 화상을 표시하더라도 정상 영역(N)의 휘도 레벨과 열화 영역(D)은 휘도 레벨은 서로 상이할 수 있다. 다만, 보상 영역(A)은 정상 영역과 인접한 영역에서 열화 영역(D)과 인접한 영역으로 갈수록 휘도가 감소할 수 있다. 여기서, 보상 영역(A)의 휘도 레벨은 정상 영역(N)의 휘도 레벨에서 열화 영역(D)의 휘도 레벨까지 제1 기울기에 따라 감소될 수 있다. 따라서, 열화 영역(D)과 정상 영역(N)의 휘도 차이는 실질적으로 사용자의 눈이 시인되지 않을 수 있기에 유기 발광 소자(EL)의 열화에 따른 표시 품질 저하는 인식되지 않을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법은 상술한 바와 같은 보정으로 개선된 표시 품질을 제공할 수 있다. 그리고, 열화된 화소에 대한 직접적인 보정이 아니므로, 열화 화소의 열화 속도가 더욱 가속화되는 문제점도 해소할 수 있다.
그 밖에 유기 발광 표시 장치의 구동 방법에 대한 다른 설명은 도 1 내지 도 9의 유기 발광 표시 장치에 포함된 동일한 명칭을 갖는 설명들과 실질적으로 동일하므로 생략하도록 한다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 유기 발광 표시 장치
110: 표시 패널
120: 센싱부
130: 제어부
140: 데이터 구동부
150: 스캔 구동부

Claims (19)

  1. 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널;
    상기 복수의 화소에 테스트 신호를 인가하고 상기 테스트 신호를 센싱하여 상기 유기 발광 소자의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터를 각각 검출하고, 상기 복수의 화소 중 인접하게 배치된 적어도 두 개 화소들간의 열화 데이터 차이를 산출하는 센싱부; 및
    상기 열화 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하고, 입력된 영상 데이터에서 상기 보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 제어부를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 보상 영역은 상기 열화 데이터 차이가 기준 데이터보다 큰 제1 영역을 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 영역의 내부 영역을 열화 영역으로 설정하고,
    상기 제1 영역의 외부 영역을 정상 영역으로 설정하는 유기 발광 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 보상 영역의 휘도 레벨은 상기 정상 영역과 인접한 영역에서 상기 열화 영역과 인접한 영역으로 갈수록 감소하되,
    상기 휘도 레벨은 상기 정상 영역의 휘도 레벨에서 상기 열화 영역의 휘도 레벨까지 소정의 기울기에 따라 감소하는 유기 발광 표시 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 화소들은 매트릭스 형태로 배열되며,
    상기 인접하게 배치된 화소들은 행 방향 및 열 방향으로 따라 나란히 배치되지 않은 유기 발광 표시 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 화소들은 매트릭스 형태로 배열되며,
    상기 인접하게 배치된 화소들은 행 방향 또는 열 방향으로 따라 나란히 배치되는 유기 발광 표시 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 보상 영역은 상기 복수의 화소 중 열화된 유기 발광 소자를 포함하는 화소와 열화되지 않은 유기 발광 소자를 포함하는 화소 사이에 배치된 화소들로 정의되는 유기 발광 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 보상 영상 데이터는 상기 보상 영역으로 정의된 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상하는 유기 발광 표시 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 열화 데이터 차이를 제공받고 상기 열화 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하는 보상 영역 설정부와, 설정된 보상 영역에 따라 입력된 영상 데이터를 처리하여 보상 영상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성부를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 각 화소는 센싱 모드가 활성화된 경우 상기 유기 발광 소자에 상기 테스트 신호로서 테스트 전류를 인가하는 감지 트랜지스터를 더 포함하고,
    상기 열화 데이터는 상기 테스트 전류에 의한 유기 발광 소자의 구동 전압 값인 유기 발광 표시 장치.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 열화 데이터는 상기 각 화소가 연결된 각 데이터 라인을 통해 검출되는 유기 발광 표시 장치.
  12. 유기 발광 소자를 포함하는 복수의 화소를 포함하는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법에 있어서,
    상기 복수의 화소에 테스트 신호를 인가하고 상기 테스트 신호를 센싱하여 상기 유기 발광 소자의 열화 정도를 나타내는 열화 데이터를 각각 검출하는 단계;
    상기 복수의 화소 중 인접하게 배치된 적어도 두 개 화소들간의 열화 검출 데이터 차이를 산출하는 단계;
    상기 열화 검출 데이터 차이를 이용하여 보상 영역을 설정하는 단계; 및
    상기 보상 영역을 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 보상 영역은 상기 열화 검출 데이터 차이가 기준 데이터보다 큰 제1 영역을 포함하도록 설정되는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 보상 영역 설정 단계는,
    상기 제1 영역의 내부 영역을 열화 영역으로 설정하고,
    상기 제1 영역의 외부 영역을 정상 영역으로 설정하는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 보상 영역의 휘도 레벨은 상기 정상 영역과 인접한 영역에서 상기 열화 영역과 인접한 영역으로 갈수록 감소하되,
    상기 휘도 레벨은 상기 정상 영역의 휘도 레벨에서 상기 열화 영역의 휘도 레벨까지 소정의 기울기에 따라 감소하는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  16. 제12 항에 있어서,
    상기 보상 영역은 상기 복수의 화소 중 열화된 유기 발광 소자를 포함하는 화소와 열화되지 않은 유기 발광 소자를 포함하는 화소 사이에 배치된 화소들로 정의되는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 보상 영상 데이터는 상기 보상 영역으로 정의된 화소들에 인가되는 데이터 전압을 보상하는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  18. 제12 항에 있어서,
    상기 각 화소는 센싱 모드가 활성화된 경우 상기 유기 발광 소자에 상기 테스트 신호로서 테스트 전류를 인가하는 감지 트랜지스터를 더 포함하고,
    상기 열화 데이터는 상기 테스트 전류에 의한 유기 발광 소자의 구동 전압 값인 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 열화 데이터는 상기 각 화소가 연결된 각 데이터 라인을 통해 검출되는 유기 발광 표시 장치의 열화 보상 방법.
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