JP2017175162A - 半導体装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 70
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 40
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 38
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 description 36
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 24
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 22
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 19
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 19
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 19
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 18
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 18
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 15
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 8
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 7
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N zinc oxide Inorganic materials [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 4
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 4
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 4
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 3
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 3
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000005499 laser crystallization Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 1
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] Chemical compound [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- ZOCHARZZJNPSEU-UHFFFAOYSA-N diboron Chemical compound B#B ZOCHARZZJNPSEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical group [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- -1 silicon oxide nitride Chemical class 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- NXHILIPIEUBEPD-UHFFFAOYSA-H tungsten hexafluoride Chemical compound F[W](F)(F)(F)(F)F NXHILIPIEUBEPD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[O-2].[In+3] OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
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Abstract
【解決手段】(1)点光源を線状の導光板により線光源に変換し、さらに面状の導光板で
面光源に変換する。(2)点光源をランプリフレクタで反射し、面状の導光板の少なくと
も二つの側面から入射する。(3)上面が直方形の面状の導光板を、上面から見て、この
直方形の一辺に対し45°の線で切断する。除去後の、上面から見て5角形である面状の
導光板において他辺に対し45°となる辺を一辺とする側面の手前に点光源を配置する。
【選択図】図1
Description
換する照明装置に関する。
気光学装置には直視型の液晶電気光学装置と、投射型の液晶電気光学装置がある。直視型
で透過型の液晶電気光学装置の場合、バックライトにより観測者が画像を認識する。直視
型で反射型の液晶電気光学装置の場合、フロントライトにより観測者が画像を認識する。
視図に示す。平板状の導光板105の互いに対向する二つの側面に、線光源である冷陰極
蛍光管等の光源104が設けられる。平板状の導光板の裏面に加工したインクドット10
6により、平板状の導光板105に入射した光が散乱されて透過型の液晶電気光学装置1
01の側に出射する。正面方向の輝度を高くするためにプリズムシート103を平板状の
導光板の上方に用いても良い。平板状の導光板から出射し、プリズムシートによって指向
性を持った光は拡散板102に入射し、拡散板により面内の輝度分布を均一にされる。イ
ンクドットにより散乱されて平板状の導光板から下方に漏れた光は反射板107により反
射されて、液晶電気光学装置101の側へ戻る。
板状の導光板を設け、平板状の導光板の側面に線光源を配置している。
そして、光源が発光する光は平板状の導光板の内部で全反射を繰り返しながら、平板状の
導光板の全域に行き渡る。図20(A)〜図20(B)は平板状の導光板の内部での光の
伝播を示す断面図であり、平板状の導光板105の厚み方向の断面を示している。なお、
光の伝播を説明するにあたって平板状の導光板の六つの面を図19(A)の斜視図に定義
する。観測者側の面を上面735とする。上面に対向する面を下面736とする。光源7
37から発光される光が入射する側面を端面738とする。端面に対し直交する面を側面
739とする。残りの側面を、端面に平行な面740とする。
109に沿って光が入射したときの光の伝播を示す。平板状の導光板の端面に沿って入射
した光はスネルの法則に従って屈折し、平板状の導光板の端面の法線方向に対して42°
の角度で伝播し、平板状の導光板の下面110に48°と臨界角を超える角度で入射し全
反射される。さらに、光は平板状の導光板の上面111に48°の角度で入射し全反射さ
れる。こうして、平板状の導光板の上面111と平板状の導光板の下面とで光は全反射を
繰り返す。図20(B)は屈折率が1の空気から、屈折率が1.49の平板状の導光板1
05の端面109の法線方向に対し、90°より小さな角度(θ1)で光が入射したとき
の光の伝播を示す。平板状の導光板の内部に入射した光は、平板状の導光板の上面111
及び平板状の導光板の下面110に臨界角を超えた角度(θ2)で入射し、平板状の導光
板の上面及び下面で全反射を繰り返し、端面109に平行な面からこの面の法線方向に対
しθ1の角度の傾きをもって出射する。
の導光板の内部で光はすべて全反射される。よって、平板状の導光板の上面又は下面に構
造物を設けない限り平板型導光板の上面と下面からは、光は全く出射しない。また、スネ
ルの法則より計算すると空気から平板状の導光板の端面にいずれの角度で光が入射しても
、平板状の導光板の内部を進行する光は平板状の導光板の端面の法線方向に対する傾きが
42°以下である。
ンクドットを形成するとよい。図23はエッジライト型バックライトの断面図である。図
22と同じ数字は同じ要素を示す。平板状の導光板の端面109の近傍に光源104が設
けられており、ランプリフレクタ108が光源の周りに形成されている。光源から発光す
る光及びランプリフレクタにより反射された光は平板状の導光板105の端面から平板状
の導光板の内部に入射する。平板状の導光板の内部で光は上面111及び下面110に入
射し全反射されるが、平板状の導光板の下面には白いインクドット106が印刷されてい
るため、インクドットに光が入射すると、インクドットの形状や屈折率に起因して光が散
乱される。インクドットにより散乱され、臨界角よりも小さい角度で平板状の導光板の上
面111に入射すれば、光は外部へ出射する。そこで、インクドットの大きさ、ピッチ、
密度を最適化することにより、平板状の導光板から出る光の輝度を面内で均一にすること
ができる。
トライトに適用することができる。直視型で反射型の液晶電気光学装置の場合、フロント
ライトの照明を反射型の液晶電気光学装置の表示領域に照射することにより観測者が画像
を認識する。フロントライトは外光が少ないときに点灯して画像を見やすくするために用
いられる。
示す。反射型の液晶電気光学装置201の表示領域の上方にプリズム面が上面に形成され
た平板状の導光板202が配置されている。平板状の導光板の端面213の手前には光源
203が配置されている。光源から出射される光を効率よく平板状の導光板の端面に導く
ためランプリフレクタ204がある。
点灯していないと、外光205が平板状の導光板202を透過した後、反射型の液晶電気
光学装置201で反射し、画像情報を持った反射光が観測者側に出射する。
光源203が点灯していると、光源203を出射した光206が、ランプリフレクタ20
4で反射され、平板状の導光板202の端面213に入射する。そして平板状の導光板2
02に入射した光206は、プリズムの側面で表面反射されて反射型の液晶電気光学装置
201に入射する。反射型の液晶電気光学装置により反射された光は、臨界角より小さい
角度で平板状の導光板と空気との界面に入射し平板状の導光板の外に出る。
面に突起を設けた例もある。図25(A)の断面図に突起型のフロントライトを示す。平
板状の導光板207の下面には、断面が四角形の突起208が形成されている。突起の形
状は四角形だけに関わらず、シボ状にしても良い。光源209から出射される光を効率よ
く平板状の導光板の端面に導くためランプリフレクタ210がある。平板状の導光板の下
方に反射型の液晶電気光学装置212がある。
していないと、外光211が平板状の導光板207を透過した後、反射型の液晶電気光学
装置212で反射され、観測者側に出射する。
点灯していると、光源209を出射した光213が、ランプリフレクタ210で反射され
、平板状の導光板207の端面に入射する。平板状の導光板の端面から入射した光が、平
板状の導光板の内部を伝播する。平板状の導光板の下面に形成された突起208の底面に
入射した場合は、光は全反射され平板状の導光板の内部を伝搬する。突起208の側面に
光が入射すると、光が全反射する条件が破れて光が突起の側面で屈折する。屈折した光は
、ほとんどが反射型の液晶電気光学装置に入射し、画像情報を持った反射光が観測者側に
出射する。
光は、光が全反射する条件が破れ反射型の液晶電気光学装置に入射する。反射型の液晶電
気光学装置に光が均一に入射するために、突起形状は光源付近で低い密度で、光源から離
れるにつれ高い密度で形成する。
びフロントライトから光を投射して用いられる。バックライト及びフロントライトの光源
としては冷陰極蛍光管が一般的である。しかし、冷陰極蛍光管を光源として用いたときは
、低消費電力の液晶表示装置にあって、バックライト及びフロントライトが液晶表示装置
の電力消費の大半を占める。液晶表示装置の低消費電力化を図るため、最近は冷陰極蛍光
管に変わり、発光ダイオード(Light Emitting Diode;LED)が
光源として用いられている。発光ダイオードにより冷陰極蛍光管の数分の一以下に電力消
費を抑えることができる。
できる。液晶表示装置を小型化するために発光ダイオードを用いることができる。発光ダ
イオードは点状の光源であるため、点状の光源を面内の輝度の均一性の高い面状の光源に
変換するための手段が必要となる。
ようとしても輝度むらができてしまう。
の点光源301〜303を平板状の導光板304の側面に複数個配置すると、点光源から
平板状の導光板へと入射した光が平板状の導光板の内部で面状に広がる。
することはできない。すでに説明したように、平板状の導光板にアクリル樹脂を用いると
屈折率が1の空気から屈折率が1.49のアクリル樹脂に光が入射するため、媒質の屈折
率の違いから屈折が起こる。スネルの法則から計算されるように平板状の導光板と空気と
の界面で屈折した光は平板状の導光板の入射面の法線方向に対し最大でも42°の角度(
θA)でしか広がらない。
域と光が行き渡らない領域305とができる。液晶電気光学装置用のフロントライトまた
はバックライトとして照明光を用いる場合は、画面上の輝度を均一にする必要があり、輝
度むらが大きいと著しく視認性が損なわれる。発光ダイオード等の点光源301〜303
と平板導光板304との間に拡散板を用いても、拡散された光の均一性が悪く、バックラ
イトまたはフロントライトから照射される照明光は面内で輝度むらができる。
18号公報に記載された例がある。この照明装置は点光源が配置される場所が平板状の導
光板の側面の中央部である。つまり、図31の上面図のように平板状の導光板304と、
平板状の導光板の側面の中央部にある点光源307だけの照明装置のため、平板状の導光
板に広がる点光源の光が表示領域の全域に行き渡らず、表示領域の隅の部分306が暗く
なる。
段が望ましい。また、点光源を面光源化する照明装置はできるだけ小型化されることが好
ましい。また、導光板の形状と導光板に点光源を配置する位置は光の利用効率を考慮して
決められることが好ましい。
)の斜視図に定義する。観測者側の面を上面735とする。上面に対向する面を下面73
6とする。光源737からでる光が入射する側面を端面738とする。端面に対し直交す
る面を側面739とする。残りの側面を、端面に平行な面740とする。図1〜図3を用
いた以下の説明はこの定義に基づいてされている。
光源に変換する。これにより、点光源を用いても輝度むらの少ない面光源が形成される。
の斜視図は本発明の照明装置における光の伝播を説明するための切断面を示し、図3の断
面図は本発明の照明装置を伝播する光の経路を示す。図2(A)〜(C)と図1の構成要
素は同じである。図1と図3において同じ要素を同じ数字で示している。
、インクドット404により線光源が形成される。線状の導光板403の周囲には反射板
405、408、415がある。図示してはいないが、線状の導光板の端面に平行な面に
向かい合って反射板を設けても良い。発光ダイオードの発光する光が線状の導光板により
線光源化され、平板状の導光板406に入射し、面光源に変換される。平板状の導光板の
下面にはインクドット407が形成されている。インクドットにより平板状の導光板の下
方に散乱された光を観測者の側に反射するため反射板408が平板導光板の下方にある。
光を線状の導光板に効率良く集める機能を持つ。
り、かつ平板状の導光板の上面に対し平行な平面(図2(A)の鎖線A−A')で切断した
ときの断面面を図3(A)に示す。線状の導光板の端面に対し垂直であり、かつ線状の導
光板の上面に対し垂直な平面(図2(B)の鎖線B−B')で切断したときの断面面を図3
(B)に示す。平板状の導光板の上面に対し垂直であり、かつ平板状の導光板の側面に対
し平行な平面(図2(C)の鎖線C−C')で切断したときの断面面を図3(C)に示す。
。発光ダイオード401から発光した光がランプリフレクタ402により反射される。発
光ダイオードから発光された光及びランプリフレクタにより反射された光は、線状の導光
板403の端面429から線状の導光板の内部に入射し、線状の導光板の内部を全反射を
繰り返しながら伝播する。
に光が入射すると、インクドットにより光が散乱され、線状の導光板から平板状の導光板
406の端面411へと光が出射する。インクドット404は発光ダイオードの近くで低
い密度で形成し、発光ダイオードから遠いところでは高い密度で形成するようにして、線
状の導光板403の側面431(光の出射面)から均一に光が出射するようにすると良い
。
クドットが設けられた側面の後方に反射板405が配置されている。注意すべきことは、
反射板405と線状の導光板403とを密着させてはいけないことである。つまり、線状
の導光板403は空気と接している必要がある。なぜなら、線状の導光板の内部に入射し
た光は、全反射しながら線状の導光板の内部を進行させる必要があるからである。全反射
の反射率はほぼ100%であり、エネルギーの損失が無い。一方、銀などの金属面で光を
反射させた場合、反射率は90%程度である。光が金属面で反射すると、金属に微小電流
が流れ熱に変わりエネルギーの損失がある。よって繰り返し、光が金属面で反射すると、
大きくエネルギーが損失する。以上のことから、線状の導光板の内部で、光は全反射しな
がら伝播させる必要があり、線状の導光板に密着させずに反射板405を配置する。
。しかし、いずれの角度から入射しても、光は平板状の導光板406の端面に直交してい
る平板状の導光板の側面409〜410で全反射される。このため、平板状の導光板の側
面409〜410からほとんど光が出射しない。これは、平板状の導光板の側面409〜
410にプリズム、突起、インクドットのような光が全反射する条件を破るものが形成さ
れていないからである。
した光は平板状の導光板の端面に平行な面412から出射する。しかし、実際の光は3次
元的に平板状の導光板を進んでおり、平板状の導光板の下面に形成されたインクドットに
より、観測者側に光が出射し、平板状の導光板の端面411から離れるにつれて、徐々に
光の強度が低くなる。このため、平板状の導光板の端面に平行な面412に到達する光は
ごくわずかである。平板状の導光板の側面409〜410と平板状の導光板の端面に平行
な面412からはほとんど光が出射しない。
光ダイオード401から出射する光がランプリフレクタ402により反射され、線状の導
光板の端面429に入射する。線状の導光板403の端面に入射した光は、線状の導光板
の上面と下面とで全反射する。つまり、基本的に線状の導光板の上面と線状の導光板の下
面とからは光が出射しない。これは、線状の導光板の上面413と線状の導光板の下面4
14とにプリズム、突起、インクドットのような光が全反射する条件を破るものが形成さ
れていないからである。
413と線状の導光板の下面414とからも出射する。そこで、線状の導光板の上面と線
状の導光板の下面とから漏れた光416を有効に利用するために、線状の導光板の周囲に
反射板408や反射板415を設けると良い。また、インクドットにより光が散乱され、
線状の導光板から平板状の導光板側へと光が出射するため、線状の導光板の端面から離れ
るにつれて、徐々に光の強度が低くなる。線状の導光板の端面に対し平行な面417に到
達する光はごくわずかである。
た光の伝播を示す。線状の導光板403の側面に形成されたインクドット404により光
は散乱し、線状の導光板の側面431(光の出射面)から光が出射して平板状の導光板4
06の端面411に入射する。インクドットにより散乱した光は線状の導光板の上面41
3と下面414とからも出射するため、線状の導光板の上方に空気層を介して設けられた
反射板415と、線状の導光板の下方に空気層を介して設けられた反射板408とにより
線状の導光板から出射した光を反射させて、線状の導光板の内部に戻す。
平板状の導光板の上面と平板状の導光板の下面とで全反射を繰り返して平板状の導光板4
06を進んでいく。ただし平板状の導光板の下面に形成されたインクドット407に光が
入射したときは、インクドットにより光が散乱し、平板状の導光板406の観測者側の面
(上面)に光が出射する。このとき、平板状の導光板の端面411から離れるにつれ徐々
に光の強度が低くなる。このため平板状の導光板406の下面に形成されたインクドット
407は、平板状の導光板の端面の近くで低い密度で形成し、平板状の導光板の端面から
遠いところでは高い密度で形成するようにして、平板状の導光板側の上面から観測者側へ
と均一に光が出射するようにすると良い。
板の下面にインクドットが形成されているため光が出射する面は平板状の導光板の上面で
ある。図1〜3の構成の照明装置は透過型の液晶電気光学装置のバックライトあるいは半
透過型の液晶電気光学装置のバックライトとして用いることができる。
明したが、線状の導光板の側面のうち平板状の導光板と反対側の面をプリズム状にしても
良い。また、線状の導光板の側面のうち平板状の導光板側の面を突起状にしても良い。
下面にインクドットを形成する代わりに、平板状の導光板の観測者側の面(上面)をプリ
ズム状にすると良い。また、平板状の導光板の下面を突起状にしても良い。反射型の電気
光学装置のフロントライトとして用いるときは液晶電気光学装置は平板状の導光板の下方
に配置する。
成する材料と屈折率の異なる材料を形成すると良い。あるいは、平板状の導光板の表面に
凹凸を設け、光が全反射する角度より小さい角度で、凹凸面に光が入射するように調節す
ると良い。
れたバックライトの構成を説明するにあたり、平板状の導光板の面を、図19(B)の斜
視図のように定義する。観測者側の面を上面741とする。上面に対向する面を下面74
2とする。残りの面を側面743とする。
側面が接してできる角のうち少なくとも一つに配置する。発光ダイオード等の点光源が発
光する光は、点光源の周りに形成されたランプリフレクタ503により反射され、平板状
の導光板の少なくとも二つの側面から入射することで平板状の導光板の全域に光が行き渡
り、面光源に変換される。
にインクドット504が形成されている。インクドットにより平板状の導光板の下方に散
乱する光は反射板505により観測者側に反射される。本発明により発光ダイオード等の
点光源が一つでも面光源が作製される。本発明を透過型の液晶電気光学装置のバックライ
トとして用いることができる。図8において観測者側から見た面における光の伝播を示す
断面図を図9(A)〜図9(C)に示す。
513)にのみ入射したときに、平板状の導光板に光が広がる第1の領域506を示す。
図9(B)は、点光源501の発光が第1の側面と隣接する側面(第2の側面514)に
のみ入射したときに、平板状の導光板502に光が広がる第2の領域507を示す。
空気の屈折率を1、平板状の導光板の屈折率を1.49とする。スネルの法則から計算さ
れるように空気から平板状の導光板の側面に入射した光は平板状の導光板の内部で広がる
が、光の広がる領域は端面の法線方向に対し最大でも42°の角度である。このため、図
9(A)と図9(B)に示すように、平板状の導光板の一つの側面のみから光が入射した
場合、光が広がる領域と光が行き渡らない領域とができてしまう。
。ランプリフレクタ503により、発光ダイオード501から出射した光が平板状の導光
板502の角と、平板状の導光板502の少なくとも二つの側面(第1の側面及び第2の
側面)から平板状の導光板の内部に入射する。このため、二つの側面から入射した光が広
がる領域、つまり平板状の導光板に光が広がる第1の領域506と平板状の導光板に光が
広がる第2の領域507とを合わせると、平板状の導光板502の全域に光が行き渡る。
平板状の導光板502を全反射を繰り返しながら進む光がインクドットに入射すると、イ
ンクドット504により光が全反射を起こす条件が破れ、観測者側に光が出射する。光源
から離れたところほどインクドットの密度を高くすると良い。また、図9(C)にある平
板状の導光板に光が照射される第1の領域506及び平板状の導光板に光が照射される第
2の領域507が重なる第3の領域はインクドットの密度を低くすると良い。
だけに適用するものではない。点光源を面光源に変換する手段として本発明を広く使うこ
とができる。また、本発明の平板状の導光板は直方体等の加工性の良い形状を使用すれば
良く、安価にバックライトを生産することが可能となる。
701を互いに直交する二方向の軸703〜706で分割する。第1の軸〜第2の軸は第
3の軸〜第4の軸と直交する。すると点光源は、いずれの方向の軸で輝度分布を比較して
も異なる輝度分布を有する。例えば、第1の軸(ax)703、第2の軸(bx)704は
それぞれの輝度分布707、708が異なる。かつ、第3の軸(ay)705、第4の軸
(by)706はそれぞれの輝度分布709、710が異なる。
照射面701を分割する。第1の軸〜第3の軸は第4の軸〜第6の軸と直交する。すると
線光源は、一方の方向の軸では均一な輝度分布を有し、他方の方向の軸では異なる輝度分
布を有する。例えば、第1の軸(ax)711、第2の軸(bx)712、第3の軸(cx
)713はそれぞれの輝度分布717〜719が異なる。ただし、第4の軸(ay)71
4、第5の軸(by)715、第6の軸(cy)716はそれぞれの輝度分布720〜72
2が実用に問題のない範囲で均一になる。均一な輝度分布とは、第4の軸〜第6の軸にお
いてXが同座標のときの輝度を比較したときに、輝度は平均値±5%〜10%の範囲であ
ることをいう。
728で照射面701を分割する。すると、面光源は、いずれの軸においても均一な輝度
分布を有する。例えば、第1の軸(ax)723、第2の軸(bx)724、第3の軸(c
x)725、第4の軸(ay)726、第5の軸(by)727、第6の軸(cy)728と
もそれぞれの輝度分布729〜734が実用に問題のない範囲で均一になる。この均一な
輝度分布とは、照射面内において、輝度は平均値±5%〜10%の範囲であることをいう
。
に線光源を面状の導光板により、面光源へと変換できる。このように二段階で点光源を面
光源に変換することで均一な面光源ができる。このとき発光ダイオードを線状の導光板の
端面に設ければ良いため、少数の発光ダイオードでも均一な面光源ができる。さらに、線
状の導光板を用いて、光の伝播方向を設計することで、面内均一性の良い光源ができる。
導光板一枚でも面光源ができる。
携帯端末用途に適した照明装置を作製することができる。
実施形態1は、本発明を透過型の液晶電気光学装置のバックライトに適用した例を示す
ものである。実施形態1を図1により説明する。
図に定義する。観測者側の面を上面735とする。上面に対向する面を下面736とする
。光源737からでる光が入射する面を端面738とする。端面に対し直交する面を側面
739とする。残りの側面を、端面に平行な面740とする。図1を用いた以下の説明は
この定義に基づいてされている。また、線状の導光板の端面を第1の端面、平板状の導光
板の端面を第2の端面として区別する。
置されている。発光ダイオードは線状の導光板403の両端(第1の端面及び第1の端面
に平行な面)に一つずつ配置し、合計2個配置しても構わない。
えて、カラー表示をする場合は、赤色、緑色、青色の3個の発光ダイオード401を用意
する。フィールドシーケンシャル方式を用いると、バックライトの光源の色を切り替えて
、人間の眼の残像を利用してカラー表示ができる。このため、液晶電気光学装置に用いら
れているカラーフィルターが不要になり、明るい表示ができる。
に白色発光ダイオードを用いると良い。もちろん、赤色、緑色、青色の発光ダイオードを
用いて色バランスを調節して同時に発光させることで白色の発光色とすることもできる。
れている。よって、発光ダイオード401を出た光のほとんどが線状の導光板403の第
1の端面を通って線状の導光板の内部に入射する。このため、ランプリフレクタ402の
外に光は漏れない。また、線状の導光板403から発光ダイオード401の側に戻ってき
た光も、ランプリフレクタ402で反射され、再び、線状の導光板403に戻る。
導光板の内部を全反射を繰り返しながら伝搬していく。そして、線状の導光板403の側
面のうち、平板状の導光板に対向する第1の側面433とは反対側の側面に印刷されたイ
ンクドット404により散乱される。そして、線状の導光板から出射し、平板状の導光板
(第2の導光板)406の第2の端面434へと入射する。
造も容易であるからである。ただし全反射可能であれば、別の形状例えば楕円などでも構
わない。また、線状の導光板の材質はアクリルなど、全反射可能のものであればどのよう
な材質でも構わない。
出射した光を有効に利用するため、インクドットが設けられた側面の後方に反射板405
が配置されている。注意すべきことは、反射板405と線状の導光板403とを密着させ
てはいけないことである。つまり、線状の導光板403は空気と接している必要がある。
る。よって、線状の導光板403の周囲を反射板405、408、415で囲っても良い
。
インクドットは、均一に印刷してあると、発光ダイオード付近で明るく、遠くで暗い、と
いうふうになってしまう。よって、均一な線光源にするため、インクドットの大きさや、
密度を変える。つまり、発光ダイオード付近では、光が散乱されにくくするため、インク
ドットの大きさを小さくしたり、密度を低くしたりする。遠くなるほど、ドットの大きさ
を大きくし、密度を高くする。
り、光を散乱させる機能があればよい。よって、インクドット以外のもの、つまり、プリ
ズムを形成したり、ざらざらした面を作ったり、突起を形成したりしても良い。
板状の導光板406との間に、拡散シートやレンチキュラーレンズを配置しても良い。
の最大4つの側面に配置しても良い。こうして点光源を用いても線状の導光板により線状
光化することで均一な線光源ができる。
ため、平板状の導光板に入射した光を観測者側に散乱させるために、平板状の導光板40
6の下面(観測者側の上面とは反対側)にインクドット407が印刷される。光を効率良
く散乱させるためにインクドットの色は白とすることが望ましい。
てあると、面内で輝度むらができる。均一な面光源にするため、インクドットの大きさや
、密度を変える。つまり、線状の導光板付近では、光が散乱されにくくするため、インク
ドットの大きさを小さくしたり、密度を低くしたりする。遠くなるほど、ドットの大きさ
を大きくしたり、密度を高くしたりする。以上のようにして、点光源が面光源に変換され
、面内で輝度むらの少ない均一なバックライトができる。
さび形の形状とすることも可能である。図30に本実施形態において点光源を線光源に変
換する手段としてくさび形状の導光板を用いた照明装置の上面図を示す。くさび形の形状
の導光板1100、くさび形の導光板の側面から空気層を介して設けられた平板状の導光
板1101及び点光源1103とが図示されている。
状の導光板に入射する。このため、点光源の光を直接平板導光板に入射させるより広い面
積で一様な明るさを得ることができる。ただし、くさび形の形状の導光板は平板状の導光
板の一辺が長くなるにつれ、平板導光板に直交する成分1104が長くなる。液晶表示装
置は外形寸法のうち表示領域を除く周辺部分を額縁といい、近年額縁の面積を狭くする狭
額縁化が進んでいる。くさび形の導光板が表示領域に対し大きな割合を占めると狭額縁化
が困難となるため、できるだけ本実施形態で示した点光源を線光源に変換する導光板は横
幅が一定である線状の導光板を用いることが好ましい。
実施形態2は、本発明を反射型液晶電気光学装置のフロントライトに適用した例を示す
ものである。発光ダイオードによる点光源を線状の導光板により線光源にするところが特
徴である。
義する。観測者側の面を上面735とする。上面に対向する面を下面736とする。光源
737からでる光が入射する側面を特に端面738とする。端面に対し直交する面を側面
739とする。残りの側面を、端面に平行な面740とする。図4〜図7を用いた以下の
説明はこの定義に基づいてされている。
適用するため、平板状の導光板が実施形態1と異なる。発光ダイオードと線状の導光板を
用いて、点光源を線光源に変換する点は実施形態1と同じである。
ライトを示す。発光ダイオード401から出射された光が、ランプリフレクタ402によ
り反射され、線状の導光板403の端面に入射し、線状の導光板の側面に形成されたイン
クドット404により平板状の導光板419の側に散乱される。インクドット404によ
り散乱された光は、線状の導光板403の上面と下面とからも出射する。このため反射板
421〜422及び反射板405により線状の導光板を囲み、インクドットにより散乱さ
れて線状の導光板の外部へと漏れた光を反射し、線状の導光板へと戻し光の利用効率を高
くする。
の導光板の端面に直交する平板状の導光板の側面で全反射され内部を広がる。ただし、平
板状の導光板419の上面には特殊加工418がほどこされており、平板状の導光板の上
面で表面反射された反射光が、反射型の液晶電気光学装置420に入射する。
5(B)は平板状の導光板419の上面をプリズム状に特殊加工したプリズム型のフロン
トライトの例を示す。図5は図4を鎖線D−D’で切断したものである。
外光423は反射型の液晶電気光学装置420により反射され、画像情報を持った光が観
測者に認識される。
板403を伝播し、インクドット404により散乱される。インクドットから散乱した光
は、平板状の導光板419に入射する。このとき平板状の導光板に入射する光は線状の導
光板により線光源となっている。そして、平板状の導光板の上面の特殊加工418つまり
プリズム形状により、表面反射されて、反射型の液晶電気光学装置420に入射する。こ
れにより、画像情報を持った光が観測者に認識される。
斜視図は平板状の導光板425の下面を突起形状426に特殊加工した突起型のフロント
ライトの例である。図6の発光ダイオード401、ランプリフレクタ402、線状の導光
板403、インクドット404、反射板421〜422及び反射板405の機能は図4を
用いて説明されたものと同じである。
5の端面に入射した光は、平板状の導光板の端面に直交する二つの側面で全反射されて、
平板状の導光板の全域に広がる。平板状の導光板425の下面には特殊加工がされ、突起
形状426が形成されている。
〜図7(B)に示す。図7(A)〜図7(B)の断面図は図6の斜視図を鎖線E−E’で
切断したものである。図7(A)〜図7(B)は平板状の導光板、線状の導光板及び反射
型の液晶電気光学装置の側面から見た光の伝播を示す。
の導光板425に外光427が入射する。外光427は反射型の液晶電気光学装置420
により反射され、画像情報を持った光が観測者に認識される。
の導光板403を伝播し、線状の導光板の側面に形成されたインクドット404により散
乱する。インクドットから散乱した光は、平板状の導光板425に入射する。そして、突
起形状426により全反射条件が破れて、突起形状と空気との界面で屈折して反射型の液
晶電気光学装置に入射する。これにより、反射型の液晶電気光学装置の表示領域で光が反
射して画像情報を持った光が観測者に認識される。
用した例を説明した。
本発明を実施形態3で説明する。本実施形態は平板状の導光板の形状に特徴がある。本
実施例は平板状の導光板において光が入射する第1の側面を、平板導光板の他の側面に対
し45°の角度となるようにする。発光ダイオード等の点光源は第1の側面の手前にある
。
の斜視図のように定義する。観測者側の面を上面741とする。上面に対向する面を下面
742とする。残りの面を側面743とする。図10〜図11を用いた説明はこの定義に
基づいてされている。
示す。図11(A)〜図11(B)を用いて光の伝播を説明する。
ず、平板状の導光板502の第1の側面513の手前に設けられた発光ダイオード501
から光が出射し、かつ、ランプリフレクタ503により反射されて、発光ダイオード50
1から出射した光が平板状の導光板502の第1の側面に入射する。このとき、光が伝播
する媒質が屈折率が1の空気から屈折率が1.49の平板状の導光板に変わるため、空気
から任意の角度で平板状の導光板の第1の側面に入射した光は、第1の側面の法線方向に
対し42°の角度の傾きを持つ領域の内側に広がる。平板状の導光板の内部において光が
確実に照射される領域を509に示す。
光が確実に照射される領域509は矩形の表示領域512を包含する。
このため図11(B)に示すように、表示領域512の全域に光が広がる。
用効率が良い。また、平板状の導光板の側面に臨界角より小さい角度で入射する光は平板
状の導光板の外部へと漏れてしまうため、全反射条件からはずれた光は平板状の導光板の
周囲に設けられた反射板511により平板状の導光板に戻す必要がある。図11(B)で
は反射板111は平板導光板と離しているが、アルミの蒸着してある反射性のテープを平
板状の導光板に接するように貼っても良い。
大きくする効果が得られ、表示領域外となる額縁の面積が低減し、表示装置の狭額縁化を
図ることができる。また、本実施形態で用いる平板状の導光板は加工の容易な単純な構成
のため、量産面でも高い生産性を持たせることができる。
02の下面にはインクドット504が印刷されている。平板状の導光板502を全反射を
繰り返しながら進む光が、インクドットに入射するとインクドットにより散乱され観測者
側に光が出射する。光源から離れたところほどインクドットの密度を高くすると良い。平
板状の導光板の内部で光が広がる領域508は、平板導光板のほぼ全域である。また、平
板状の導光板の第1の面の手前に点光源501がありランプリフレクタ503が点光源の
周囲を囲み第1の側面の周縁部に接して設けられている。
ドだけに適用するものではない。例えば点光源として豆電球を用いることも可能である。
図10の構造は本発明の照明装置を透過型の液晶電気光学装置のバックライトとして用い
るものである。また、図10の平板状の導光板の下面に形成されたインクドットを断面が
直方形の突起に変えることで反射型の液晶電気光学装置のフロントライトとして本実施形
態の照明装置を用いることもできる。
本実施形態では、点光源を線光源に変換し、線光源を面光源に変換する照明装置におい
て実施形態1に比べて照明装置の小型化を図るものである。本実施形態を図29を用いて
説明をする。図29は本実施形態のバックライトの光の伝播を説明する断面図である。
図に定義する。観測者側の面を上面735とする。上面に対向する面を下面736とする
。光源737からでる光が入射する側面を特に端面738とする。端面に対し直交する面
を側面739とする。残りの側面を、端面に平行な面740とする。図29を用いた説明
はこの定義に基づいてされている。
に配置される。第1の端面と直交する第1の導光板の第1の側面と第2の導光板(平板状
の導光板)1002の第2の端面とが接している。
屈折率が1.49のアクリル樹脂を用いる。第1の導光板の内部で光を全反射させるため
、第1の導光板の屈折率は1.8以上とすることが好ましい。
ただし、第1の導光板の屈折率が高すぎると、全反射により第1の導光板から出射し、第
2の導光板の内部へと入射する光の量が減るため、第1の導光板の屈折率は3.0以下と
することが好ましい。本実施形態では第1の導光板の屈折率を2.0とする。
設ける。インクドットに入射した光は散乱し、第1の導光板から出射し、第2の導光板の
第2の端面を通過して第2の導光板の内部へと入射する。第2の導光板の下面には公知の
方法でインクドット等を設け、第2の導光板の上面から面状光化された光を出射させる。
し、スネルの法則により第1の端面の法線方向に対し最大で30°の角度で広がる。さら
に、第1の導光板と空気との界面1005へと光は伝播するが、臨界角を超えた角度で第
1の導光板と空気との界面に光が入射するため、第1の導光板と空気との界面で光は全反
射する。
超えた角度で第1の導光板と第2の導光板との界面に光が入射するため、第1の導光板と
第2の導光板との界面に入射した光は全反射される。第1の導光板の内部を全反射を繰り
返して伝播する光を第1の導光板から出射させ、第2の導光板へと入射させるために、第
1の導光板と第2の導光板とが接する面に向かい合う面にインクドット1007を設ける
。点光源から離れるにつれてインクドットの密度を低くすると良い。
に戻すために、第1の導光板及び第2の導光板の側面及び下面の周囲を囲んで反射板10
08を設けると良い。
光板とを空気層を介して設ける必要があった。しかし、本実施形態では第1の導光板の屈
折率を第2の導光板の屈折率に比べて高くしているため、第1の導光板と第2の導光板と
が接していても、第1の導光板の内部で光が全反射を繰り返して伝播する。このため第2
の導光板と第1の導光板との間に空気層を介した構成の実施形態1に比べて照明装置を小
型化することができる。
光板から第2の導光板へと線状光化された光が出射し、第2の導光板の上面から面状光化
された光を出射させることができる。
6を参照して説明する。なお、図12〜図16において対応する部分には同じ符号を用い
ている。図14の鎖線F−F’は図16を鎖線F―F’で切断した断面図に対応している
。
ソース配線と、ゲート配線とソース配線の交差部近傍の画素TFTを有する画素部と、n
チャネル型TFTとpチャネル型TFTを有する駆動回路とを含む。ゲート配線は、行方
向に配置されたゲート配線とゲート電極とがコンタクトホールにより電気的に接続したも
のを指している。
が同一層に形成される。ゲート電極836及びゲート電極838から延在する電極は容量
電極をかねる。ソース配線839、ゲート電極836及びゲート電極838に接するよう
に第一の層間絶縁膜(図14の864)が形成される。第一の層間絶縁膜上に第二の層間
絶縁膜(図14の865)が形成されている。さらに、第二の層間絶縁膜のうえにゲート
配線871、容量接続電極873、ドレイン電極872、ソース接続電極870が形成さ
れている。
4が形成されている。画素電極874は透明導電膜からなる。画素電極874は容量接続
電極873、ドレイン電極872と重なるように形成される。
膜と第二の層間絶縁膜を介して設けられている。図16における画素構造においては、こ
のゲート電極836及びゲート電極838は島状のパターンであり、ゲート電極となるだ
けでなく、前述のように隣りあう画素の保持容量を構成する電極の一つとなる役目をも果
たしている。
体とする。画素電極874と容量接続電極873とが電気的に接続し、さらに容量接続電
極873と島状半導体膜806とが電気的に接続する。これにより、島状半導体膜806
が第一の容量電極として機能する。ゲート電極836及びゲート電極838が第二の容量
電極として機能する。
能となる。
説明する。
に代表されるバリウムホウケイ酸ガラス、またはアルミノホウケイ酸ガラスなどのガラス
から成る基板800上に酸化シリコン膜、窒化シリコン膜または酸化窒化シリコン膜など
の絶縁膜から成る下地膜801〜802を形成する。
例えば、プラズマCVD法でSiH4、NH3、N2Oから作製される酸化窒化シリコン膜
801を10〜200nm(好ましくは90〜100nm)形成し、同様にSiH4、N2Oか
ら作製される酸化窒化水素化シリコン膜802を90〜200nm(好ましくは100〜
190nm)の厚さに積層形成する。本実施例では下地膜を2層構造として示したが、前記
絶縁膜の単層膜または2層以上積層させた構造として形成しても良い。
知の熱結晶化法を用いて作製した結晶質半導体膜で形成する。この島状半導体膜803〜
806の厚さは25〜80nm(好ましくは30〜60nm)
の厚さで形成する。結晶質半導体膜の材料に限定はないが、好ましくはシリコンまたはシ
リコンゲルマニウム(SiGe)合金などで形成すると良い。
エキシマレーザーやYAGレーザー、YVO4レーザーを用いる。これらのレーザーを用
いる場合には、レーザー発振器から放射されたレーザー光を光学系で線状に集光し半導体
膜に照射する方法を用いると良い。結晶化の条件は実施者が適宣選択するものであるが、
エキシマレーザーを用いる場合はパルス発振周波数30Hzとし、レーザーエネルギー密
度を100〜800mJ/cm2(代表的には200〜300mJ/cm2)とする。また、YAGレー
ザーを用いる場合にはその第二高調波を用いパルス発振周波数1〜10kHzとし、レー
ザーエネルギー密度を300〜600mJ/cm2(代表的には390〜900mJ/cm2)とすると
良い。
そして幅100〜1000μm、例えば800μmで線状に集光したレーザー光を基板全
面に渡って照射し、この時の線状レーザー光の重ね合わせ率(オーバーラップ率)を80
〜98%として行う。
については、結晶質半導体膜を特開平7−130652号公報で開示されている触媒元素
を用いて結晶化する方法がある。
ゲート絶縁膜807はプラズマCVD法またはスパッタ法を用い、厚さを80〜190n
mとしてシリコンを含む絶縁膜で形成する。本実施例では、120nmの厚さの酸化窒化
シリコン膜で形成する。勿論、ゲート絶縁膜はこのような酸化窒化シリコン膜に限定され
るものでなく、他のシリコンを含む絶縁膜を単層または積層構造として用いても良い。例
えば、酸化シリコン膜を用いる場合には、プラズマCVD法でTEOS(Tetraethyl Ort
hosilicate)とO2とを混合し、反応圧力80Pa、基板温度300〜800℃とし、高周
波(13.56MHz)電力密度0.5〜0.8W/cm2で放電させて形成することができる。
このようにして作製される酸化シリコン膜は、その後800〜900℃の熱アニールによ
りゲート絶縁膜として良好な特性を得ることができる。
二の導電膜809とを形成する。本実施例では、第一の導電膜808をTaNで90〜1
00nmの厚さに形成し、第二の導電膜809をWで100〜300nmの厚さに形成す
る。
ッ化タングステン(WF6)を用いる熱CVD法で形成することもできる。いずれにして
もゲート電極として使用するためには低抵抗化を図る必要があり、W膜の抵抗率は20μ
Ωcm以下にすることが望ましい。W膜は結晶粒を大きくすることで低抵抗率化を図るこ
とができるが、W膜中に酸素などの不純物元素が多い場合には結晶化が阻害され高抵抗化
する。このことより、スパッタ法による場合、純度99.9999%のWターゲットを用
い、さらに成膜時に気相中からの不純物の混入がないように十分配慮してW膜を形成する
ことにより、抵抗率9〜20μΩcmを実現することができる。
、いずれもTa、W、Ti、Mo、Al、Cuから選ばれた元素、または前記元素を主成
分とする合金材料若しくは化合物材料で形成してもよい。また、リン等の不純物元素をド
ーピングした多結晶シリコン膜に代表される半導体膜を用いてもよい。本実施例以外の組
み合わせとしては、第一の導電膜を窒化タンタル(TaN)で形成し、第二の導電膜をA
lとする組み合わせ、第一の導電膜を窒化タンタル(TaN)で形成し、第二の導電膜を
Cuとする組み合わせなどがある。
第一のエッチング処理(図12(B))を行う。本実施例ではICP(Inductively Coup
led Plasma:誘導結合型プラズマ)エッチング法を用い、エッチング用ガスにCF4とC
l2を混合し、1Paの圧力でコイル型の電極に900WのRF(13.56MHz)電力を投入して
プラズマを生成して行う。基板側(試料ステージ)にも100WのRF(13.56MHz)電力
を投入し、実質的に負の自己バイアス電圧を印加する。CF4とCl2を混合した場合には
W膜及びTa膜とも同程度にエッチングされる。
、基板側に印加するバイアス電圧の効果により第一の導電層及び第二の導電層の端部がテ
ーパー部の角度が15〜85°のテーパー形状となる。ゲート絶縁膜上に残渣を残すこと
なくエッチングするためには、10〜20%程度の割合でエッチング時間を増加させると
良い。W膜に対する酸化窒化シリコン膜の選択比は2〜4(代表的には3)であるので、
オーバーエッチング処理により、酸化窒化シリコン膜が露出した面は20〜90nm程度エ
ッチングされることになる。こうして、第一のエッチング処理により第一の導電層と第二
の導電層から成る第一の形状の導電層820〜825(第一の導電層820a〜825a
と第二の導電層820b〜825b)を形成する。818はゲート絶縁膜であり、第一の
形状の導電層820〜825で覆われない領域は20〜90nm程度エッチングされ薄くな
った領域が形成される。
グ法を用い、エッチングガスにCF4とCl2とO2を混合して、1Paの圧力でコイル型の
電極に900WのRF電力(13.56MHz)を供給し、プラズマを生成して行う。基板側(試料
ステージ)には90WのRF(13.56MHz)電力を投入し、第一のエッチング処理に比べ低
い自己バイアス電圧を印加する。このような条件によりW膜を異方性エッチングし、かつ
、それより遅いエッチング速度で第一の導電層であるTaNを異方性エッチングして第二
の形状の導電層834〜839(第一の導電層834a〜839aと第二の導電層834
b〜839b)を形成する。875はゲート絶縁膜であり、第二の形状の導電層834〜
839で覆われない領域はさらに20〜90nm程度エッチングされ薄くなった領域が形成
される。
加する。ドーピングの方法はイオンドープ法若しくはイオン注入法で行えば良い。n型を
付与する不純物元素として15族に属する元素、典型的にはリン(P)または砒素(As
)を用いるが、ここではリン(P)を用いる。この場合、導電層834〜838がn型を
付与する不純物元素に対するマスクとなり、自己整合的に第一の不純物領域828〜83
2が形成される。本明細書では、第一の導電層(834a〜838a)であるTaNに覆
われている不純物領域を第一の不純物領域(828〜832)と明記し、第一の導電層(
834a〜838a)であるTaNに覆われていない不純物領域を第二の不純物領域(8
41〜845)と明記する。第一の不純物領域(828〜832)の濃度は2×1016〜
5×1019atoms/cm3となるようにする。
として、ゲート絶縁膜をエッチングした。第一の導電層とゲート絶縁膜が重なり合ってい
ない領域がエッチングにより除去される。その後NMPを主成分とする剥離液により図1
2(B)に示すレジスト811〜816を剥離した。
ング処理を行う。この場合、n型を付与する不純物元素を低濃度高加速度で島状半導体膜
に添加する。引き続きn型を付与する不純物元素を高濃度低加速度で島状半導体膜に添加
する。これにより島状半導体膜に形成された第二の不純物領域(図12(C)に示す84
1〜845)の端部に新たな不純物領域として、第三の不純物領域850〜858ができ
る。ゲート絶縁膜を介してn型の不純物元素が添加された領域は、第三の不純物領域より
不純物濃度が低い第四の不純物領域(866〜867)が形成される。
1019atoms/cm3となるようにする。また第二の不純物領域(841、843、845)
の濃度は1×1016〜5×1018atoms/cm3となるようにする。
第三の不純物領域(850〜858)のn型不純物の濃度は1×1020〜1×1022atom
s/cm3となるようにする。第四の不純物領域(866〜867)のn型不純物の濃度は第
三の不純物領域の濃度より低く、第二の不純物領域の濃度より高くなる。
9、レジスト860を形成する。レジスト859、レジスト860をマスクとして第三の
ドーピング処理をする。これにより、p型を付与する不純物元素を島状半導体膜に注入し
、pチャネル型TFTを形成する。島状半導体膜803に第五の不純物領域(861、8
76)と第六の不純物領域862〜863が形成される。このとき、nチャネル型TFT
を形成する島状半導体層804〜806はレジスト859〜860をマスクとして全面を
被覆しておく。第五の不純物領域(861、876)と第六の不純物領域862〜863
は異なる濃度でp型を付与する不純物元素が添加されている。第三のドーピング処理はジ
ボラン(B2H6)を用いたイオンドープ法を用いる。p型を付与する不純物元素の濃度は
nチャネル型の不純物領域をpチャネル型の不純物領域に反転させるのに充分な量とする
。
と重なる導電層834〜836、導電層838がTFTのゲート電極として機能する。8
39はソース配線、837は容量電極として機能する。
活性化する工程を行う。この工程はファーネスアニール炉を用いる熱アニール法で行う。
その他に、レーザーアニール法、またはラピッドサーマルアニール法(RTA法)を適用
することができる。熱アニール法では酸素濃度が1ppm以下、好ましくは0.1ppm
以下の窒素雰囲気中で800〜700℃、代表的には900〜600℃で行うものであり
、本実施例では900℃で4時間の熱処理を行う。ただし、834〜839に用いた配線
材料が熱に弱い場合には、配線等を保護するため層間絶縁膜(シリコンを主成分とする)
を形成した後で活性化を行うことが好ましい。
処理を行い、島状半導体層を水素化する工程を行う。この工程は熱的に励起された水素に
より半導体層のダングリングボンドを終端する工程である。水素化の他の手段として、プ
ラズマ水素化(プラズマにより励起された水素を用いる)を行っても良い。
縁膜864を形成する。第一の層間絶縁膜は酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、窒化
シリコン膜、またはこれらを組み合わせた積層膜で形成すれば良い。いずれにしても第一
の層間絶縁膜864は無機絶縁物材料から形成する。
第一の層間絶縁膜864の膜厚は100〜200nmとする。
エチル(Tetraethyl Orthosilicate:TEOS)とO2とを混
合し、反応圧力80Pa、基板温度300〜800℃とし、高周波(176MHz)電力
密度0.5〜0.8W/cm2で放電させて形成することができる。酸化窒化シリコン膜
を用いる場合には、プラズマCVD法でSiH4、N2O、NH3から作製される酸化窒化
シリコン膜、またはSiH4、N2Oから作製される酸化窒化シリコン膜で形成すれば良い
。この場合の作製条件は反応圧力20〜200Pa、基板温度300〜800℃とし、高
周波(60MHz)電力密度0.1〜1.0W/cm2で形成することができる。また、
SiH4、N2O、H2から作製される酸化窒化水素化シリコン膜を適用しても良い。窒化
シリコン膜も同様にプラズマCVD法でSiH4、NH3から作製することが可能である。
本実施例では第一の層間絶縁膜864を酸化窒化シリコン膜から100〜200nmの厚
さで形成する。
厚を有して形成する。有機樹脂材料としては、ポリイミド、アクリル、ポリアミド、ポリ
イミドアミド、BCB(ベンゾシクロブテン)等を使用することができる。例えば、基板
に塗布後、熱重合するタイプのポリイミドを用いる場合には、クリーンオーブンで300
℃で焼成して形成する。また、アクリルを用いる場合には、2液性のものを用い、主材と
硬化剤を混合した後、スピナーを用いて基板全面に塗布した後、ホットプレートで80℃
で60秒の予備加熱を行い、さらにクリーンオーブンで290℃で60分焼成して形成す
ることができる。
平坦化させることができる。また、有機樹脂材料は一般に誘電率が低いので、寄生容量を
低減することができる。しかし、吸湿性があり保護膜としては適さないので、本実施例の
ように、第一の層間絶縁膜864として形成した酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、
窒化シリコン膜などと組み合わせて用いる必要がある。
島状半導体膜に形成されたソース領域またはドレイン領域に達するコンタクトホールを形
成する。コンタクトホールの形成はドライエッチング法により行う。この場合、エッチン
グガスにCF4、O2、Heの混合ガスを用い有機樹脂材料から成る第二の層間絶縁膜86
5をまずエッチングし、その後、続いてエッチングガスをCF4、O2として第一の層間絶
縁膜864をエッチングする。さらに、島状半導体層との選択比を高めるために、エッチ
ングガスをCHF3に切り替えてゲート絶縁膜をエッチングすることにより、良好にコン
タクトホールを形成することができる。
ストをマスクとしてパターンを形成し、エッチングによってソース配線866〜867、
ドレイン配線868〜869、ドレイン電極872、ソース接続電極870、容量接続電
極873及びゲート配線871を形成する。
のである。容量接続電極873は保持容量904の電極として機能する島状半導体層80
6に電位を与える。ゲート配線871は上面図の図16で説明したが、ゲート電極836
、ゲート電極838とコンタクトホールにより電気的に接続するものである。なお、本実
施例の保持容量904は画素電極874と同一画素内にある。
導体膜のソース領域またはドレイン領域とコンタクトを形成し、Ti膜上に重ねてアルミ
ニウム(Al)を300〜800nmの厚さで形成し、さらにTi膜または窒化チタン(
TiN)膜を100〜200nmの厚さで形成して3層構造とした。この構成にすると、
後述する画素電極874はドレイン電極872、容量接続電極873を形成するTi膜の
みと接触することになる。その結果、透明導電膜とAlとが反応するのを防止できる。
ッチング処理により画素電極874を形成する。画素電極874は、層間絶縁膜865上
に形成され、画素TFT903のドレイン電極872と、保持容量904の容量接続電極
873と重なる部分を設け、接続構造を形成している。これにより、保持容量904の電
極として機能する島状半導体膜806と画素電極874とが電気的に接続する。
n2O3―SnO2;ITO膜)などをスパッタ法や真空蒸着法などを用いて形成して用い
ることができる。このような材料のエッチング処理は塩酸系の溶液により行う。しかし、
特にITO膜のエッチングは残渣が発生しやすいので、エッチング加工性を改善するため
に酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)を用いても良い。酸化インジウム酸
化亜鉛合金は表面平滑性に優れ、ITO膜に対して熱安定性にも優れており、ドレイン配
線872と容量接続配線873にAlを用いても、表面で接触するAlとの腐蝕反応を防
止できる。同様に、酸化亜鉛(ZnO)も適した材料であり、さらに可視光の透過率や導
電率を高めるためにガリウム(Ga)を添加した酸化亜鉛(ZnO:Ga)などを用いる
ことができる。
えば、3〜100%の水素を含む雰囲気中で、300〜890℃で1〜12時間の熱処理
を行うと良く、あるいはプラズマ水素化法を用いても同様の効果が得られた。島状半導体
膜803〜806中の欠陥密度を1016/cm3以下とすることが望ましく、そのために
水素を0.01〜0.1atomic%程度付与すれば良かった。
動回路部905と、画素TFT903、保持容量904とを有する画素部906とを同一
基板上に形成することができる。本明細書中ではこのような基板をアクティブマトリクス
基板と呼ぶ。
の数を7枚(島状半導体層パターン、第一配線パターン[ゲート電極、ソース配線、容量
配線]、nチャネル領域のマスクパターン、pチャネル領域のマスクパターン、コンタク
トホールパターン、第二配線パターン[ソース配線、ドレイン配線、ソース接続電極、ド
レイン電極、容量接続電極、ゲート配線]、画素電極パターン)とすることができる。
0nmの厚さで形成する。寄生容量がつかないようにするために駆動回路部の上部のIT
O膜はフォトマスクを用いたパターニング処理及びエッチング処理により除去する。IT
O膜908は対向電極として機能する。本明細書中ではこのような基板を対向基板と呼ぶ
。
色の三原色を並列に配置する。これはシアン、マゼンダ、イエローの減法混色のカラーフ
ィルターを並列に配置するより色純度が良い。
に形成する。配向膜はSE7792(日産化学)を用いる。
をパターニングにより所定の位置に形成し、スペーサーとしても良い。
スペーサーの高さは4μmとする。
シール材を塗布後、シール材を、90℃、0.5時間程度で焼成する。
ときにアクティブマトリクス基板と対向基板のラビング方向が直交するようにする。貼り
合わせた一対の基板に対し、0.3〜1.0kgf/cm2の圧力を基板平面に垂直な方
向にかつ基板全面に加え、同時にクリーンオーブンにて160℃、2時間程度加熱してシ
ール材を硬化してアクティブマトリクス基板と対向基板とを接着させる。
ーによる分断を行う。
プにより、真空容器内部を1.33×10-5〜1.33×10-7Pa程度の真空状態にした
後、注入口を液晶が盛られた液晶皿に浸漬させる。液晶はZLI4792(メルク)を用
いる。
内の気圧と大気圧との圧力差と液晶の毛細管現象の作用により液晶パネルの注入口から液
晶が注入され、注入口側から徐々に反対側に液晶が進行し注入工程が完了する。
5分後、余分な液晶材料をふきとり、加圧した状態で注入口(図示しない)に紫外線硬化
型樹脂(図示しない)を塗布し、加圧を弱める。その際、紫外線硬化型樹脂が侵入する。
この状態で紫外線照射(4〜10mW/cm2、120秒間)により、紫外線硬化型樹脂
を硬化させ、注入口封止をおこなった。
で洗浄した。その後、130℃、0.5時間程度で液晶を再配向させた。
t;FPC)が接続されて、アクティブマトリクス基板と対向基板に偏光板が張り付けら
れ、TN方式の液晶電気光学装置が完成する。
明の照明装置であるバックライトを本実施例の透過型の液晶電気光学装置と組み合わせて
用いることで、電力消費が少なく、面内の輝度分布が均一な画像が観測者に認識される。
ターニングすると、反射型の液晶電気光学装置が作製できる。実施形態2で開示した本発
明の照明装置であるフロントライトを用いることで、電力消費が少なく、面内の輝度分布
が均一な画像が観測者に認識される。
して、そのような電気光学装置を表示媒体として組み込んだ電子機器全てに本発明を適用
することができる。電子機器としては、パーソナルコンピュータ、デジタルカメラ、ビデ
オカメラ、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、電子書籍など)、ナビゲー
ションシステムなどが上げられる。それらの一例を示す。
03、表示装置9004、操作スイッチ9005、アンテナ9006から構成されている
。本願発明はアクティブマトリクス基板を備えた表示装置9004に適用することができ
る。
103、操作スイッチ9104、バッテリー9105、受像部9106から成っている。
本願発明は表示装置9102に適用することができる。
メラ部9202、受像部9203、操作スイッチ9204、表示装置9205で構成され
ている。本願発明は表示装置9205に適用することができる。
、アーム部9303で構成される。本願発明は表示装置9302に適用することができる
。
、受信装置9404、増幅装置9405等で構成される。本願発明は表示装置9403に
適用することができる。
体9504、操作スイッチ9505、アンテナ9506から構成されており、ミニディス
ク(MD)やDVDに記憶されたデータや、アンテナで受信したデータを表示するもので
ある。表示装置9502、9503は直視型の表示装置であり、本願発明は表示装置95
02、9503に適用することができる。
表示装置9603、キーボード9604で構成される。本願発明は表示装置9603に適
用することができる。
ーヤーであり、本体9701、表示装置9702、スピーカ部9703、記録媒体970
4、操作スイッチ9705で構成される。なお、この装置は記録媒体としてDVD(Di
gtial Versatile Disc)、CD等を用い、音楽鑑賞や映画鑑賞やゲ
ームやインターネットを行うことができる。
本願発明は表示装置9702に適用することができる。
03、操作スイッチ9804、受像部(図示しない)で構成される。本願発明は表示装置
9802に適用することができる。
Claims (2)
- 半導体膜と、
ゲート電極と、
前記半導体膜と前記ゲート電極との間のゲート絶縁膜と、
導電膜と、
前記ゲート電極上、及び前記導電膜上の、絶縁膜と、
前記絶縁膜上のゲート配線と、を有し、
前記絶縁膜は、有機絶縁材料を有し、
前記ゲート電極は、前記導電膜と共通した導電性材料を有し、
前記ゲート配線は、前記導電膜と交差するように延在していることを特徴とする半導体装置。 - 第1の半導体膜及び第2の半導体膜と、
前記第1の半導体膜上、及び前記第2の半導体膜上の、第1の絶縁膜と、
前記絶縁膜上の第1の導電膜及び第2の導電膜と、
前記第1の導電膜上、及び前記第2の導電膜上の、第2の絶縁膜と、
前記第2の絶縁膜上のゲート配線と、を有し、
前記第1の導電膜は、ゲート電極として機能し、
前記ゲート電極と重なる前記第1の絶縁膜は、ゲート絶縁膜として機能し、
前記第2の絶縁膜は、有機絶縁材料を有し、
前記ゲート配線は、前記第2の導電膜と交差するように延在していることを特徴とする半導体装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000111345 | 2000-04-12 | ||
JP2000111345 | 2000-04-12 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016052254A Division JP2016106380A (ja) | 2000-04-12 | 2016-03-16 | 照明装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018091104A Division JP6613337B2 (ja) | 2000-04-12 | 2018-05-10 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017175162A true JP2017175162A (ja) | 2017-09-28 |
JP6415640B2 JP6415640B2 (ja) | 2018-10-31 |
Family
ID=18623692
Family Applications (9)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010150867A Withdrawn JP2010212264A (ja) | 2000-04-12 | 2010-07-01 | 照明装置 |
JP2011008412A Expired - Fee Related JP4987128B2 (ja) | 2000-04-12 | 2011-01-19 | 照明装置 |
JP2012056671A Withdrawn JP2012134176A (ja) | 2000-04-12 | 2012-03-14 | 照明装置 |
JP2014037981A Withdrawn JP2014143204A (ja) | 2000-04-12 | 2014-02-28 | 照明装置 |
JP2015094515A Withdrawn JP2015165507A (ja) | 2000-04-12 | 2015-05-05 | 照明装置 |
JP2016052254A Withdrawn JP2016106380A (ja) | 2000-04-12 | 2016-03-16 | 照明装置 |
JP2017112389A Expired - Lifetime JP6415640B2 (ja) | 2000-04-12 | 2017-06-07 | 半導体装置 |
JP2018091104A Expired - Lifetime JP6613337B2 (ja) | 2000-04-12 | 2018-05-10 | 半導体装置 |
JP2019132992A Withdrawn JP2019201213A (ja) | 2000-04-12 | 2019-07-18 | 半導体装置 |
Family Applications Before (6)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010150867A Withdrawn JP2010212264A (ja) | 2000-04-12 | 2010-07-01 | 照明装置 |
JP2011008412A Expired - Fee Related JP4987128B2 (ja) | 2000-04-12 | 2011-01-19 | 照明装置 |
JP2012056671A Withdrawn JP2012134176A (ja) | 2000-04-12 | 2012-03-14 | 照明装置 |
JP2014037981A Withdrawn JP2014143204A (ja) | 2000-04-12 | 2014-02-28 | 照明装置 |
JP2015094515A Withdrawn JP2015165507A (ja) | 2000-04-12 | 2015-05-05 | 照明装置 |
JP2016052254A Withdrawn JP2016106380A (ja) | 2000-04-12 | 2016-03-16 | 照明装置 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018091104A Expired - Lifetime JP6613337B2 (ja) | 2000-04-12 | 2018-05-10 | 半導体装置 |
JP2019132992A Withdrawn JP2019201213A (ja) | 2000-04-12 | 2019-07-18 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (8) | US6789910B2 (ja) |
JP (9) | JP2010212264A (ja) |
Families Citing this family (99)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6646692B2 (en) * | 2000-01-26 | 2003-11-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid-crystal display device and method of fabricating the same |
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- 2004-09-02 US US10/932,022 patent/US7204635B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-03-23 US US11/690,190 patent/US7594743B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-09-02 US US12/552,303 patent/US8042984B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-07-01 JP JP2010150867A patent/JP2010212264A/ja not_active Withdrawn
-
2011
- 2011-01-19 JP JP2011008412A patent/JP4987128B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-10-19 US US13/276,367 patent/US8487315B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
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-
2013
- 2013-07-12 US US13/940,475 patent/US8829529B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-02-28 JP JP2014037981A patent/JP2014143204A/ja not_active Withdrawn
- 2014-09-04 US US14/476,810 patent/US9704996B2/en not_active Expired - Fee Related
-
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US9704996B2 (en) | 2017-07-11 |
JP2011086637A (ja) | 2011-04-28 |
US20070177406A1 (en) | 2007-08-02 |
US20090316069A1 (en) | 2009-12-24 |
US20010030860A1 (en) | 2001-10-18 |
JP6415640B2 (ja) | 2018-10-31 |
JP2015165507A (ja) | 2015-09-17 |
US20120037964A1 (en) | 2012-02-16 |
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JP6613337B2 (ja) | 2019-11-27 |
US8042984B2 (en) | 2011-10-25 |
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JP4987128B2 (ja) | 2012-07-25 |
US20170309741A1 (en) | 2017-10-26 |
JP2019201213A (ja) | 2019-11-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180313 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180904 |
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