JP2009124150A - R−Fe−B系希土類焼結磁石 - Google Patents

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Abstract

【課題】重希土類元素RHを効率よく活用し、磁石が比較的厚くとも、磁石全体にわたって主相結晶粒の外殻部に重希土類元素RHを拡散させたR−Fe−B系希土類焼結磁石を提供する。
【解決手段】R−Fe−B系希土類焼結磁石は、軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有するR2Fe14B型化合物結晶粒を主相として有し、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有する。磁石表面から深さ100μmまでの表層領域において、前記R2Fe14B型化合物結晶粒の外郭部に重希土類元素RHの濃度が前記結晶粒の中央部におけるよりも高い重希土類元素RH濃縮層を有し、かつ、前記R2Fe14B型化合物結晶粒の中央部における重希土類元素RHの濃度が前記結晶粒の粒界3重点における重希土類元素RHの濃度よりも1原子%以上低い組織を有している。
【選択図】なし

Description

本発明は、RFe14B型化合物結晶粒(Rは希土類元素)を主相として有するR−Fe−B系希土類焼結磁石およびその製造方法に関し、特に、軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有し、かつ、軽希土類元素RLの一部が重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)によって置換されているR−Fe−B系希土類焼結磁石に関している。
Nd2Fe14B型化合物を主相とするR−Fe−B系の希土類焼結磁石は、永久磁石の中で最も高性能な磁石として知られており、ハードディスクドライブのボイスコイルモータ(VCM)や、ハイブリッド車搭載用モータ等の各種モータや家電製品等に使用されている。R−Fe−B系希土類焼結磁石をモータ等の各種装置に使用する場合、高温での使用環境に対応するため、耐熱性に優れ、高保磁力特性を有することが要求される。
R−Fe−B系希土類焼結磁石の保磁力を向上する手段として、重希土類元素RHを原料として配合し、溶製した合金を用いることが行われている。この方法によると、希土類元素Rとして軽希土類元素RLを含有するR2Fe14B相の希土類元素Rが重希土類元素RHで置換されるため、R2Fe14B相の結晶磁気異方性(保磁力を決定する本質的な物理量)が向上する。しかし、R2Fe14B相中における軽希土類元素RLの磁気モーメントは、Feの磁気モーメントと同一方向であるのに対して、重希土類元素RHの磁気モーメントは、Feの磁気モーメントと逆方向であるため、軽希土類元素RLを重希土類元素RHで置換するほど、残留磁束密度Brが低下してしまうことになる。
一方、重希土類元素RHは希少資源であるため、その使用量の削減が望まれている。これらの理由により、軽希土類元素RLの全体を重希土類元素RHで置換する方法は好ましくない。
比較的少ない量の重希土類元素RHを添加することにより、重希土類元素RHによる保磁力向上効果を発現させるため、重希土類元素RHを多く含む合金・化合物などの粉末を、軽希土類RLを多く含む主相系母合金粉末に添加し、成形・焼結させることが提案されている。この方法によると、重希土類元素RHがR2Fe14B相の粒界近傍に多く分布することになるため、主相外殻部におけるR2Fe14B相の結晶磁気異方性を効率よく向上させることが可能になる。R−Fe−B系希土類焼結磁石の保磁力発生機構は核生成型(ニュークリエーション型)であるため、主相外殻部(粒界近傍)に重希土類元素RHが多く分布することにより、結晶粒全体の結晶磁気異方性が高められ、逆磁区の核生成が妨げられ、その結果、保磁力が向上する。また、保磁力向上に寄与しない結晶粒の中心部では、重希土類元素RHによる置換が生じないため、残留磁束密度Brの低下を抑制することもできる。
しかしながら、実際にこの方法を実施してみると、焼結工程(工業規模で1000℃から1200℃で実行される)で重希土類元素RHの拡散速度が大きくなるため、重希土類元素RHが結晶粒の中心部にも拡散してしまう結果、期待していた組織構造を得ることは容易でない。
さらにR−Fe−B系希土類焼結磁石の別の保磁力向上手段として、焼結磁石の段階で重希土類元素RHを含む金属、合金、化合物等を磁石表面に被着後、熱処理、拡散させることによって、残留磁束密度をそれほど低下させずに保磁力を回復または向上させることが検討されている(特許文献1、特許文献2、および特許文献3)。
特許文献1は、Ti、W、Pt、Au、Cr、Ni、Cu、Co、Al、Ta、Agのうち少なくとも1種を1.0原子%〜50.0原子%含有し、残部R´(R´はCe、La、Nd、Pr、Dy、Ho、Tbのうち少なくとも1種)からなる合金薄膜層を焼結磁石体の被研削加工面に形成することを開示している。
特許文献2は、小型磁石の最表面に露出している結晶粒子の半径に相当する深さ以上に金属元素R(このRは、YおよびNd、Dy、Pr、Ho、Tbから選ばれる希土類元素の1種又は2種以上)を拡散させ、それによって加工変質損傷部を改質して(BH)maxを向上させることを開示している。
特許文献3は、厚さ2mm以下の磁石の表面に希土類元素を主体とする化学気相成長膜を形成し、磁石特性を回復させることを開示している。
特許文献4は、R−Fe−B系微小焼結磁石や粉末の保磁力を回復するため、希土類元素の収着法を開示している。この方法では、収着金属(Yb、Eu、Smなどの沸点が比較的低い希土類金属)をR−Fe−B系微小焼結磁石や粉末と混合した後、攪拌しながら真空中で均一に加熱するための熱処理が行われる。この熱処理により、希土類金属が磁石表面に被着するとともに、内部に拡散する。また特許文献4には、沸点の高い希土類金属(例えばDy)を収着させる実施形態も記載されている。このDyなどを使用した実施形態においては、高周波加熱方式により、Dyなどを選択的に高温に加熱しているが、例えばDyの沸点は2560℃であり、沸点1193℃のYbを800〜850℃に加熱していることや、通常の抵抗加熱では十分に加熱することができないと記載されていることから、Dyは少なくとも1000℃を超える温度に加熱しているものと考えられる。さらに、R−Fe−B系微小焼結磁石や粉末の温度は700〜850℃に保つことが好ましいと記載されている。
特開昭62−192566号公報 特開2004−304038号公報 特開2005−285859号公報 特開2004−296973号公報
特許文献1、特許文献2および特許文献3に開示されている従来技術は、いずれも、加工劣化した焼結磁石表面の回復を目的としているため、表面から内部に拡散される金属元素の拡散範囲は、焼結磁石の表面近傍に限られている。このため、厚さ3mm以上の磁石では、保磁力の向上効果がほとんど得られない。
一方、特許文献4に開示されている従来技術では、Dyなどの希土類金属を充分に気化する温度に加熱し、成膜を行っているため、磁石中の拡散速度よりも成膜速度の方が圧倒的に高く、磁石表面上に厚いDy膜が形成される。その結果、磁石表層領域(表面から数十μmの深さまでの領域)では、Dy膜と焼結磁石体との界面におけるDy濃度の大きな濃度差を駆動力として、Dyが主相中にも拡散することを避けられず、残留磁束密度Brが低下してしまう。
また、特許文献4の方法では、成膜処理時に装置内部の磁石以外の部分(例えば真空チャンバーの内壁)にも多量に希土類金属が堆積するため、貴重資源である重希土類元素の省資源化に反することになる。
更に、Ybなどの低沸点の希土類金属を対象とした実施形態においては、確かに個々のR−Fe−B系微小磁石の保磁力は回復するが、拡散熱処理時にR−Fe−B系磁石と収着金属が融着したり、処理後お互いを分離することが困難であり、焼結磁石体表面に未反応の収着金属(RH)の残存が事実上避けられない。これは、磁石成形体における磁性成分比率を下げ磁石特性の低減を招くのみならず、希土類金属は本来非常に活性で酸化しやすいため、実用環境において未反応収着金属が腐食の起点になりやすく好ましくない。また、混合攪拌するための回転と真空熱処理を同時に行う必要があるため、耐熱性、圧力(気密度)を維持しながら回転機構を組み込んだ特別な装置が必要になり、量産製造時に設備投資や品質安定製造の観点で課題がある。また、収着原料に粉末を使用した場合は安全性の問題(発火や人体への有害性)や作製工程に手間がかかりコストアップ要因となる。
また、Dyを含む高沸点希土類金属を対象とした実施形態においては、高周波によって収着原料と磁石の双方を加熱するため、希土類金属のみを充分な温度に加熱し磁石を磁気特性に影響を及ぼさない程度の低温に保持することは容易ではなく、磁石は、誘導加熱されにくい粉末の状態か極微小なものに限られてしまう。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、少ない量の重希土類元素RHを効率よく活用し、磁石が比較的厚くとも、磁石全体にわたって主相結晶粒の外殻部に重希土類元素RHを拡散させたR−Fe−B系希土類焼結磁石を提供することにある。
本発明によるR−Fe−B系希土類焼結磁石の製造方法は、軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有するR2Fe14B型化合物結晶粒を主相として有するR−Fe−B系希土類焼結磁石体を用意する工程(a)と、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有するバルク体を、前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体とともに処理室内に配置する工程(b)と、前記バルク体および前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体を700℃以上1000℃以下に加熱することにより、前記バルク体から重希土類元素RHを前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体の表面に供給しつつ、前記重希土類元素RHを前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体の内部に拡散させる工程(c)とを包含する。
好ましい実施形態において、前記工程(c)において、前記バルク体と前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体は接触することなく前記処理室内に配置され、かつ、その平均間隔を0.1mm以上300mm以下の範囲内に設定する。
好ましい実施形態において、前記工程(c)において、前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体の温度と前記バルク体の温度との温度差が20℃以内である。
好ましい実施形態において、前記工程(c)において、前記処理室内の雰囲気ガスの圧力を10-5〜500Paの範囲内に調整する。
好ましい実施形態において、前記工程(c)において、前記バルク体および前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体の温度を700℃以上1000℃以下の範囲内に10分〜600分保持する。
好ましい実施形態において、前記焼結磁石体は、0.1質量%以上5.0質量%以下の重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有する。
好ましい実施形態において、前記焼結磁石体は、重希土類元素RHの含有量が1.5質量%以上3.5質量%以下である。
好ましい実施形態において、前記バルク体は、重希土類元素RHおよび元素X(Nd、Pr、La、Ce、Al、Zn、Sn、Cu、Co、Fe、Ag、およびInからなる群から選択された少なくとも1種)の合金を含有している。
好ましい実施形態において、前記元素XはNdおよび/またはPrである。
好ましい実施形態において、前記工程(c)の後、前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体に対する追加熱処理を施す工程を含む。
本発明による他のR−Fe−B系希土類焼結磁石の製造方法は、軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有するR−Fe−B系希土類磁石粉末の成形体を、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有するバルク体に対向させて処理室内に配置する工程(A)と、前記処理室内で焼結を行うことによってR2Fe14B型化合物結晶粒を主相として有するR−Fe−B系希土類焼結磁石体を作製する工程(B)と、前記処理室内において前記バルク体および前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体を加熱することにより、前記バルク体から重希土類元素RHを前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体の表面に供給しつつ、前記重希土類元素RHを前記R−Fe−B系希土類焼結磁石体の内部に拡散させる工程(C)とを包含する。
好ましい実施形態において、前記工程(B)は、前記処理室内の真空度を1〜105Pa、前記処理室内の雰囲気温度を1000〜1200℃として、30分〜600分間の焼結を行う。
好ましい実施形態において、前記工程(C)は、前記処理室内の真空度を1×10-5Pa〜1Pa、前記処理室内の雰囲気温度を800〜950℃とし、10分〜600分間の加熱処理を行う。
好ましい実施形態において、前記工程(B)の後、前記処理室内の雰囲気温度が950℃以下に達した後、前記処理室内の真空度を1×10-5Pa〜1Paに調整する工程(B')を含む。
好ましい実施形態において、前記工程(B)の後、前記処理室内の真空度を1×10-5Pa〜1Pa、前記処理室内の雰囲気温度を1000〜1200℃とし、30〜300分間加熱処理を行い、その後、前記処理室内雰囲気の温度を950℃以下とする工程(B")をさらに含む。
本発明によるR−Fe−B系希土類焼結磁石は、上記いずれかの製造方法により製造され、軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有するR2Fe14B型化合物結晶粒を主相として有するR−Fe−B系希土類焼結磁石であって、表面から粒界拡散によって内部に導入された重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有し、前記表面から深さ100μmまでの表層領域において、前記R2Fe14B型化合物結晶粒の中央部における重希土類元素RHの濃度と、前記R2Fe14B型化合物結晶粒の粒界相における重希土類元素RHの濃度との間に1原子%以上の差異が発生している。
本発明では、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)の粒界拡散を行うことにより、焼結磁石体内部の奥深い位置まで重希土類元素RHを供給し、主相外殻部において軽希土類元素RLを効率よく重希土類元素RHで置換することができる。その結果、残留磁束密度Brの低下を抑制しつつ、保磁力HcJを上昇させることが可能になる。
本発明のR−Fe−B系希土類焼結磁石は、焼結体の表面から粒界拡散によって内部に導入された重希土類元素RHを含有している。ここで、重希土類元素RHは、Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種である。
本発明のR−Fe−B系希土類焼結磁石は、重希土類バルク体(RHバルク体)から重希土類元素RHを焼結磁石体表面に供給しつつ、重希土類元素RHを焼結体の表面から内部へ拡散させることによって好適に製造される。
本発明の製造方法では、気化(昇華)しにくい重希土類元素RHのバルク体、および希土類焼結磁石体を700℃以上1000℃以下に加熱することにより、RHバルク体の気化(昇華)をRH膜の成長速度がRHの磁石内部への拡散速度よりも極度に大きくならない程度に抑制しつつ、焼結磁石体の表面に飛来した重希土類元素RHを速やかに磁石体内部に拡散させる。700℃以上1000℃以下の温度範囲は、重希土類元素RHの気化(昇華)がほとんど生じない温度であるが、R−Fe−B系希土類焼結磁石における希土類元素の拡散が活発に生じる温度でもある。このため、磁石体表面に飛来した重希土類元素RHが磁石体表面に膜を形成するよりも優先的に、磁石体内部への粒界拡散を促進させることが可能になる。
なお、本明細書では、重希土類バルク体(RHバルク体)から重希土類RHを焼結磁石体表面に供給しつつ、重希土類RHを焼結磁石体の表面から内部に拡散させることを簡単に「蒸着拡散」と称する場合がある。本発明によれば、焼結磁石体表面の近傍に位置する主相の内部に重希土類元素RHが拡散して行く速度(レート)よりも高い速度で重希土類元素RHが磁石内部に拡散・浸透して行くことになる。
従来、Dyなどの重希土類元素RHの気化(昇華)には、1000℃を超える高温に加熱することが必要であると考えられており、700℃以上1000℃以下の加熱では磁石体表面にDyを析出させることは無理であると考えられていた。しかしながら、本発明者の実験によると、従来の予測に反し、700℃以上1000℃以下でも対向配置された希土類磁石に重希土類元素RHを供給し、拡散させることが可能であることがわかった。
重希土類元素RHの膜(RH膜)を焼結磁石体の表面に形成した後、熱処理により焼結磁石体の内部に拡散させる従来技術では、RH膜と接する表層領域で「粒内拡散」が顕著に進行し、磁石特性が劣化してしまう。これに対し、本発明では、RH膜の成長レートを低く抑えた状態で、重希土類元素RHを焼結磁石体の表面に供給しながら、焼結磁石体の温度を拡散に適したレベルに保持するため、磁石体表面に飛来した重希土類元素RHが、粒界拡散によって速やかに焼結磁石体内部に浸透して行く。このため、表層領域においても、「粒内拡散」よりも優先的に「粒界拡散」が生じ、残留磁束密度Brの低下を抑制し、保磁力HcJを効果的に向上させることが可能になる。
R−Fe−B系希土類焼結磁石の保磁力発生機構はニュークリエーション型であるため、主相外殻部における結晶磁気異方性が高められると、主相における粒界相の近傍で逆磁区の核生成が抑制される結果、主相全体の保磁力HcJが効果的に向上する。本発明では、焼結磁石体の表面に近い領域だけでなく、磁石表面から奥深い領域においても重希土類置換層を主相外殻部に形成することができるため、磁石全体にわたって結晶磁気異方性が高められ、磁石全体の保磁力HcJが充分に向上することになる。したがって、本発明によれば、消費する重希土類元素RHの量が少なくとも、焼結体の内部まで重希土類元素RHを拡散・浸透させることができ、主相外殻部で効率良く重希土類元素RHが濃縮された層を形成することにより、残留磁束密度Brの低下を抑制しつつ保磁力HcJを向上させることが可能になる。
主相外殻部で軽希土類元素RLと置換させるべき重希土類元素RHとしては、蒸着拡散の起こりやすさ、コスト等を考慮すると、Dyが最も好ましい。ただし、Tb2Fe14Bの結晶磁気異方性は、Dy2Fe14Bの結晶磁気異方性よりも高く、Nd2Fe14Bの結晶磁気異方性の約3倍の大きさを有しているので、Tbを蒸着拡散させると、焼結磁石体の残留磁束密度を下げずに保磁力を向上させることが最も効率的に実現できる。Tbを用いる場合は、Dyを用いる場合よりも、高温高真空度で蒸着拡散を行うことが好ましい。
上記説明から明らかなように、本発明では、必ずしも原料合金の段階において重希土類元素RHを添加しておく必要はない。すなわち、希土類元素Rとして軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を含有する公知のR−Fe−B系希土類焼結磁石を用意し、その表面から重希土類元素RHを磁石内部に拡散する。従来の重希土類層のみを磁石表面に形成した場合は、拡散温度を高めても、磁石内部の奥深くまで重希土類元素RHを拡散させることは困難であったが、本発明によれば、重希土類元素RHの粒界拡散により、焼結磁石体の内部に位置する主相の外殻部にも重希土類元素RHを効率的に供給することが可能になる。もちろん、本発明は、原料合金の段階において重希土類元素RHが添加されているR−Fe−B系焼結磁石に対して適用しても良い。ただし、原料合金の段階で多量の重希土類元素RHを添加したのでは、本発明の効果を充分に奏することはできないため、相対的に少ない量の重希土類元素RHが添加され得る。
次に、図1を参照しながら、本発明による拡散処理の好ましい例を説明する。図1は、焼結磁石体2とRHバルク体4との配置例を示している。図1に示す例では、高融点金属材料からなる処理室6の内部において、焼結磁石体2とRHバルク体4とが所定間隔をあけて対向配置されている。図1の処理室6は、複数の焼結磁石体2を保持する部材と、RHバルク体4を保持する部材とを備えている。図1の例では、焼結磁石体2と上方のRHバルク体4がNb製の網8によって保持されている。焼結磁石体2およびRHバルク体4を保持する構成は、上記の例に限定されず、任意である。ただし、焼結磁石体2とRHバルク体4との間を遮断するような構成は採用されるべきではない。本願における「対向」とは焼結磁石体とRHバルク体が間を遮断されることなく向かい合っていることを意味する。また、「対向配置」とは、主たる表面どうしが平行となるように配置されていることを必要としない。
不図示の加熱装置で処理室6を加熱することにより、処理室6の温度を上昇させる。このとき、処理室6の温度を、例えば700℃〜1000℃、好ましくは850℃〜950℃の範囲に調整する。この温度領域では、重希土類金属RHの蒸気圧は僅かであり、ほとんど気化しない。従来の技術常識によれば、このような温度範囲では、RHバルク体4から蒸発させた重希土類元素RHを焼結磁石体2の表面に供給し、成膜することはできないと考えられていた。
しかしながら、本発明者は、焼結磁石体2とRHバルク体4とを接触させることなく、近接配置させることにより、焼結磁石体2の表面に毎時数μm(例えば0.5〜5μm/Hr)の低いレートで重希土類金属を析出させることが可能であり、しかも、焼結磁石体2の温度をRHバルク体4の温度と同じかそれよりも高い適切な温度範囲内に調節することにより、気相から析出した重希土類金属RHを、そのまま焼結磁石体2の内部に深く拡散させ得ることを見出した。この温度範囲は、RH金属が焼結磁石体2の粒界相を伝って内部へ拡散する好ましい温度領域であり、RH金属のゆっくりとした析出と磁石体内部への急速な拡散が効率的に行われることになる。
本発明では、上記のようにして僅かに気化したRHを焼結磁石体表面に低いレートで析出させるため、従来の気相成膜によるRHの析出のように、1000℃を超える高温に処理室内を加熱したり、焼結磁石体やRHバルク体に電圧を付加したりする必要がない。
本発明では、前述のように、RHバルク体の気化・昇華を抑制しつつ、焼結磁石体の表面に飛来した重希土類元素RHを速やかに磁石体内部に拡散させる。このためには、RHバルク体の温度は700℃以上1000℃以下の範囲内に設定し、かつ、焼結磁石体の温度は700℃以上1000℃以下の範囲内に設定することが好ましい。
焼結磁石体2とRHバルク体4の間隔は0.1mm〜300mmに設定する。この間隔は、1mm以上50mm以下であることが好ましく、20mm以下であることがより好ましく、10mm以下であることが更に好ましい。このような距離で離れた状態を維持できれば、焼結磁石2とRHバルク体4の配置関係は上下でも左右でも、また互いが相対的に移動するような配置であってもよい。ただし、蒸着拡散処理中の焼結磁石体2およびRHバルク体4の距離は変化しないことが望ましい。例えば、焼結磁石体を回転バレルに収容して攪拌しながら処理するような形態は好ましくない。また、気化したRHは上記のような距離範囲内であれば均一なRH雰囲気を形成するので、対向している面の面積は問われず、お互いの最も狭い面積の面が対向していてもよい。 発明者の検討によれば、焼結磁石体2の磁化方向(c軸方向)と垂直にRHバルク体を設置した時、RHは最も効率よく焼結磁石体2の内部に拡散することがわかった。これは、RHが焼結磁石体2の粒界相を伝って内部へ拡散する際、磁化方向の拡散速度がその垂直方向の拡散速度よりも大きいからであると考えられる。磁化方向の拡散速度がその垂直方向の拡散速度よりも大きい理由は、結晶構造による異方性の違いによるものと推定される。
従来の蒸着装置の場合、蒸着材料供給部分の周りの機構が障害となったり、蒸着材料供給部分に電子線やイオンを当てる必要があるため、蒸着材料供給部分と被処理物との間に相当の距離を設ける必要があった。このため、本発明のように、蒸着材料供給部分(RHバルク体4)を被処理物(焼結磁石体2)に近接して配置させることが行われてこなかった。その結果、蒸着材料を充分に高い温度に加熱し、充分に気化させない限り、被処理物上に蒸着材料を充分に供給できないと考えられていた。
これに対し、本発明では、蒸着材料を気化(昇華)させるための特別な機構を必要とせず、処理室全体の温度を制御することにより、磁石表面にRH金属を析出させることができる。なお、本明細書における「処理室」は、焼結磁石体2とRHバルク体4を配置した空間を広く含むものであり、熱処理炉の処理室を意味する場合もあれば、そのような処理室内に収容される処理容器を意味する場合もある。
また、本発明では、RH金属の気化量は少ないが、焼結磁石体とRHバルク体4とが非接触かつ至近距離に配置されるため、気化したRH金属が焼結磁石体表面に効率よく析出し、処理室内の壁面などに付着することが少ない。さらに、処理室内の壁面がNbなどの耐熱合金やセラミックスなどRHと反応しない材質で作製されていれば、壁面に付着したRH金属は再び気化し、最終的には焼結磁石体表面に析出する。このため、貴重資源である重希土類元素RHの無駄な消費を抑制することができる。
本発明で行う拡散工程の処理温度範囲では、RHバルク体は溶融軟化せず、その表面からRH金属が気化(昇華)するため、一回の処理工程でRHバルク体の外観形状に大きな変化は生じず、繰り返し使用することが可能である。
さらに、RHバルク体と焼結磁石体とを近接配置するため、同じ容積を有する処理室内に搭載可能な焼結磁石体の量が増え、積載効率が高い。また、大掛かりな装置を必要としないため、一般的な真空熱処理炉が活用でき、製造コストの上昇を避けることが可能であり、実用的である。
熱処理時における処理室内は不活性雰囲気であることが好ましい。本明細書における「不活性雰囲気」とは、真空、または不活性ガスで満たされた状態を含むものとする。また、「不活性ガス」は、例えばアルゴン(Ar)などの希ガスであるが、RHバルク体および焼結磁石体との間で化学的に反応しないガスであれば、「不活性ガス」に含まれ得る。不活性ガスの圧力は、大気圧よりも低い値を示すように減圧される。処理室内の雰囲気圧力が大気圧に近いと、RHバルク体からRH金属が焼結磁石体の表面に供給されにくくなるが、拡散量は磁石表面から内部への拡散速度によって律速されるため、処理室内の雰囲気圧力は例えば102Pa以下であれば充分で、それ以上処理室内の雰囲気圧力を下げても、RH金属の拡散量(保磁力の向上度)は大きくは影響されない。拡散量は、圧力よりも焼結磁石体の温度に敏感である。
焼結磁石体の表面に飛来し、析出したRH金属は、雰囲気の熱および磁石界面におけるRH濃度の差を駆動力として、粒界相中を磁石内部に向かって拡散する。このとき、R2Fe14B相中の軽希土類元素RLの一部が、磁石表面から拡散浸透してきた重希土類元素RHによって置換される。その結果、R2Fe14B相の外殻部に重希土類元素RHが濃縮された層が形成される。
このようなRH濃縮層の形成により、主相外殻部の結晶磁気異方性が高められ、保磁力HcJが向上することになる。すなわち、少ないRH金属の使用により、磁石内部の奥深くにまで重希土類元素RHを拡散浸透させ、主相外殻部に効率的にRH濃化層を形成するため、残留磁束密度Brの低下を抑制しつつ、磁石全体にわたって保磁力HcJを向上させることが可能になる。
従来技術によれば、Dyなどの重希土類元素RHが焼結磁石体の表面に堆積する速さ(膜の成長レート)が、重希土類元素RHが焼結磁石体の内部に拡散する速さ(拡散速度)に比較して格段に高かった。このため、焼結磁石体の表面に厚さ数μm以上のRH膜を形成した上で、そのRH膜から重希土類元素RHが焼結磁石体の内部に拡散していた。気相からではなく固相であるRH膜から供給される重希土類元素RHは、粒界を拡散するだけではなく、焼結磁石体の表層領域に位置する主相の内部にも粒内拡散し、残留磁束密度Brの低下を引き起こしていた。主相内部にも重希土類元素RHが粒内拡散し、主相と粒界相との間でRH濃度に差異がなくなる領域は、焼結磁石体の表層領域(例えば厚さ100μm以下)に限定されるが、磁石全体の厚さが薄い場合は、残留磁束密度Brの低下を避けることはできなくなる。
しかしながら、本発明によれば、気相から供給されるDyなどの重希土類元素RHが、焼結磁石体の表面に衝突した後、焼結磁石体の内部に速やかに拡散して行く。このことは、重希土類元素RHが表層領域に位置する主相の内部に拡散する前に、より高い拡散速度で粒界相を通じて焼結磁石体の内部に奥深く浸透して行くことを意味している。
本発明によれば、焼結磁石体の表面から深さ100μmまでの表層領域において、R2Fe14B型化合物結晶粒の中央部における重希土類元素RHの濃度と、R2Fe14B型化合物結晶粒の粒界相における重希土類元素RHの濃度との間に1原子%以上の差異が発生している。残留磁束密度Brの低下を抑制するには、2原子%の濃度差を形成することが好ましい。
また、拡散するRHの含有量は、磁石全体の重量比で0.05%以上1.5%以下の範囲に設定することが好ましい。1.5%を超えると、残留磁束密度Brの低下を抑制できなくなる可能性があり、0.1%未満では、保磁力HcJの向上効果が小さいからである。上記の温度領域および圧力で、10〜180分熱処理することにより、0.1%〜1%の拡散量が達成できる。処理時間は、RHバルク体および焼結磁石体の温度が700℃以上1000℃以下および圧力が10-5Pa以上500Pa以下にある時間を意味し、必ずしも特定の温度、圧力に一定に保持される時間のみを表すのではない。
焼結磁石の表面状態はRHが拡散浸透しやすいよう、より金属状態に近い方が好ましく、事前に酸洗浄やブラスト処理等の活性化処理を行った方がよい。ただし、本発明では、重希土類元素RHが気化し、活性な状態で焼結磁石体の表面に被着すると、固体の層を形成するよりも高い速度で焼結磁石体の内部に拡散していく。このため、焼結磁石体の表面は、例えば焼結工程後や切断加工が完了した後の酸化が進んだ状態にあってもよい。
本発明によれば、主として粒界相を介して重希土類元素RHを拡散させることができるため、処理時間を調節することにより、磁石内部のより深い位置へ効率的に重希土類元素RHを拡散させることが可能である。
また、処理雰囲気の圧力を調節することにより、重希土類元素RHの蒸発レートを制御することが可能であるため、例えば焼結工程時にすでにRHバルク体を装置内に配置しておき、焼結工程時には相対的に高い雰囲気ガス圧力のもとでRHの蒸発を抑制しつつ、焼結反応を進めることも可能である。この場合、焼結完了後は、雰囲気ガス圧力を低下させ、RHの蒸着・拡散を進行させることにより、焼結工程と保磁力向上工程とを同一設備を用いて連続的に実施することが可能になる。このような方法については、実施形態3において詳しく説明する。
RHバルク体の形状・大きさは特に限定されず、板状であってもよいし、不定形(石ころ状)であってもよい。RHバルク体に多数の微小孔(直径数10μm程度)が存在してもよい。RHバルク体は少なくとも1種の重希土類元素RHを含むRH金属またはRHを含む合金から形成されていることが好ましい。また、RHバルク体の材料の蒸気圧が高いほど、単位時間あたりのRH導入量が大きくなり、効率的である。重希土類元素RHを含む酸化物、フッ化物、窒化物などは、その蒸気圧が極端に低くなり、本条件範囲(温度、真空度)内では、ほとんど蒸着拡散が起こらない。このため、重希土類元素RHを含む酸化物、フッ化物、窒化物などからRHバルク体を形成しても、保磁力向上効果が得られない。
本発明によれば、例えば厚さ3mm以上の厚物磁石に対しても、僅かな量の重希土類元素RHを用いて残留磁束密度Brおよび保磁力HcJの両方を高め、高温でも磁気特性が低下しない高性能磁石を提供することができる。このような高性能磁石は、超小型・高出力モータの実現に大きく寄与する。粒界拡散を利用した本発明の効果は、厚さが10mm以下の磁石において特に顕著に発現する。
本発明においては、焼結磁石体の表面全体から重希土類元素RHを拡散浸透させても良いし、焼結磁石体表面の一部分から重希土類元素RHを拡散浸透させても良い。焼結磁石体表面の一部分からRHを拡散浸透させるには、例えば、焼結磁石体のうちRHを拡散浸透させたくない部分をマスキングする等して、上記の方法と同様の方法で熱処理すればよい。このような方法によれば、部分的に保磁力HcJが向上した磁石を得ることができる。
本発明の蒸着拡散工程を経た磁石に対して、さらに追加熱処理を行うと、保磁力(HcJ)をさらに向上させることができる。追加熱処理の条件(処理温度、時間)は、蒸着拡散条件と同様の条件でよく、700℃〜1000℃の温度で、10分〜600分保持することが好ましい。
追加熱処理は、拡散工程終了後、Ar分圧を103Pa程度に上げて重希土類元素RHを蒸発させないようにし、そのまま熱処理のみを行ってもよいし、一度拡散工程を終了した後、RH蒸発源を配置せずに再度拡散工程と同じ条件で熱処理のみを行ってもよい。
蒸着拡散を施すことにより、焼結磁石体における抗折強度などの機械的強度が向上するため、実用上好ましい。これは、蒸着拡散時において、焼結磁石体に内在する歪の開放が起こったり、加工劣化層が回復したり、重希土類元素RHが拡散していくことにより、主相と粒界相との結晶整合性が向上した結果であると推測される。主相と粒界相との結晶整合性が向上すると、粒界が強化され、粒界破断に対する耐性が向上する。
以下、本発明によるR−Fe−B系希土類焼結磁石を製造する方法の好ましい実施形態を説明する。
(実施形態1)
[原料合金]
まず、25質量%以上40質量%以下の軽希土類元素RLと、0.6質量%〜1.6質量%のB(硼素)と、残部Feおよび不可避的不純物とを含有する合金を用意する。Bの一部はC(炭素)によって置換されていてもよいし、Feの一部(50原子%以下)は、他の遷移金属元素(例えばCoまたはNi)によって置換されていてもよい。この合金は、種々の目的により、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、Ga、Zr、Nb、Mo、Ag、In、Sn、Hf、Ta、W、Pb、およびBiからなる群から選択された少なくとも1種の添加元素Mを0.01〜1.0質量%程度含有していてもよい。
上記の合金は、原料合金の溶湯を例えばストリップキャスト法によって急冷して好適に作製され得る。以下、ストリップキャスト法による急冷凝固合金の作製を説明する。
まず、上記組成を有する原料合金をアルゴン雰囲気中において高周波溶解によって溶融し、原料合金の溶湯を形成する。次に、この溶湯を1350℃程度に保持した後、単ロール法によって急冷し、例えば厚さ約0.3mmのフレーク状合金鋳塊を得る。こうして作製した合金鋳片を、次の水素粉砕前に例えば1〜10mmの大きさのフレーク状に粉砕する。なお、ストリップキャスト法による原料合金の製造方法は、例えば、米国特許第5、383、978号明細書に開示されている。
[粗粉砕工程]
上記のフレーク状に粗く粉砕された合金鋳片を水素炉の内部へ収容する。次に、水素炉の内部で水素脆化処理(以下、「水素粉砕処理」と称する場合がある)工程を行う。水素粉砕後の粗粉砕合金粉末を水素炉から取り出す際、粗粉砕粉が大気と接触しないように、不活性雰囲気下で取り出し動作を実行することが好ましい。そうすれば、粗粉砕粉が酸化・発熱することが防止され、磁石の磁気特性の低下が抑制できるからである。
水素粉砕によって、希土類合金は0.1mm〜数mm程度の大きさに粉砕され、その平均粒径は500μm以下となる。水素粉砕後、脆化した原料合金をより細かく解砕するとともに冷却することが好ましい。比較的高い温度状態のまま原料を取り出す場合は、冷却処理の時間を相対的に長くすれば良い。
[微粉砕工程]
次に、粗粉砕粉に対してジェットミル粉砕装置を用いて微粉砕を実行する。本実施形態で使用するジェットミル粉砕装置にはサイクロン分級機が接続されている。ジェットミル粉砕装置は、粗粉砕工程で粗く粉砕された希土類合金(粗粉砕粉)の供給を受け、粉砕機内で粉砕する。粉砕機内で粉砕された粉末はサイクロン分級機を経て回収タンクに集められる。こうして、0.1〜20μm程度(典型的には3〜5μm)の微粉末を得ることができる。このような微粉砕に用いる粉砕装置は、ジェットミルに限定されず、アトライタやボールミルであってもよい。粉砕に際して、ステアリン酸亜鉛などの潤滑剤を粉砕助剤として用いてもよい。
[プレス成形]
本実施形態では、上記方法で作製された磁性粉末に対し、例えばロッキングミキサー内で潤滑剤を例えば0.3wt%添加・混合し、潤滑剤で合金粉末粒子の表面を被覆する。次に、上述の方法で作製した磁性粉末を公知のプレス装置を用いて配向磁界中で成形する。印加する磁界の強度は、例えば1.5〜1.7テスラ(T)である。また、成形圧力は、成形体のグリーン密度が例えば4〜4.5g/cm3程度になるように設定される。
[焼結工程]
上記の粉末成形体に対して、650〜1000℃の範囲内の温度で10〜240分間保持する工程と、その後、上記の保持温度よりも高い温度(例えば1000〜1200℃)で焼結を更に進める工程とを順次行なうことが好ましい。焼結時、特に液相が生成されるとき(温度が650〜1000℃の範囲内にあるとき)、粒界相中のRリッチ相が融け始め、液相が形成される。その後、焼結が進行し、焼結磁石体が形成される。前述の通り、焼結磁石体の表面が酸化された状態でも蒸着拡散処理を施すことができるため、焼結工程の後、時効処理(400℃〜700℃)や寸法調整のための研削を行っても良い。
[蒸着拡散工程]
次に、こうして作製された焼結磁石体に重希土類元素RHを効率良く拡散浸透させて、保磁力HcJを向上させる。具体的には、図1に示す処理室内に重希土類元素RHを含むRHバルク体と焼結磁石体とを配置し、加熱により、RHバルク体から重希土類元素RHを焼結磁石体の表面に供給しつつ、焼結磁石体の内部に拡散させる。
本実施形態における拡散工程では、焼結磁石体の温度をバルク体の温度と同じかそれ以上にすることが好ましい。ここで、焼結磁石体の温度がバルク体の温度と同じとは、両者の温度差が20℃以内にあることを意味するものとする。具体的には、RHバルク体の温度を700℃以上1000℃以下の範囲内に設定し、かつ、焼結磁石体の温度を700℃以上1000℃以下の範囲内に設定することが好ましい。また、焼結磁石体とRHバルク体の間隔は、前述の通り、0.1mm〜300mm、好ましくは3mm〜100mm、より好ましくは4mm〜50mmに設定する。
また、蒸着拡散工程時における雰囲気ガスの圧力は、10-5〜500Paであれば、RHバルク体の気化(昇華)が適切に進行し、蒸着拡散処理を行うことができる。効率的に蒸着拡散処理を行うためには、雰囲気ガスの圧力を10-3〜1Paの範囲内に設定することが好ましい。また、RHバルク体および焼結磁石体の温度を700℃以上1000℃以下の範囲内に保持する時間は、10分〜600分の範囲に設定されることが好ましい。ただし、保持時間は、RHバルク体および焼結磁石体の温度が700℃以上1000℃以下および圧力が10-5Pa以上500Pa以下にある時間を意味し、必ずしも特定の温度、圧力に一定に保持される時間のみを表すのではない。
本実施形態における拡散工程は、焼結磁石体の表面状況に敏感ではなく、拡散工程の前に焼結磁石体の表面にAl、Zn、またはSnからなる膜が形成されていてもよい。Al、Zn、およびSnは、低融点金属であり、しかも、少量であれば磁石特性を劣化させず、また上記の拡散の障害ともならないからである。 なお、バルク体は、一種類の元素から構成されている必要はなく、重希土類元素RHおよび元素X(Nd、Pr、La、Ce、Al、Zn、Sn、Cu、Co、Fe、Ag、およびInからなる群から選択された少なくとも1種)の合金を含有していてもよい。このような元素Xは、粒界相の融点を下げるため、重希土類元素RHの粒界拡散を促進する効果が期待できる。このような合金のバルク体とNd焼結磁石とを離間配置した状態で真空熱処理することにより、重希土類元素RHおよび元素Xを磁石表面上に蒸着するとともに、優先的に液相となった粒界相(Ndリッチ相)を介して磁石内部へ拡散させることができる。
また、拡散のための熱処理に際して、粒界相のNd、Prが微量ながら気化するため、元素XがNdおよび/またはPrであれば、蒸発したNdおよび/またはPrを補うことができ、好ましい。
拡散処理の後、前述の追加熱処理(700℃〜1000℃)を行っても良い。また、必要に応じて時効処理(400℃〜700℃)を行うが、追加熱処理(700℃〜1000℃)を行う場合は、時効処理はその後に行うことが好ましい。追加熱処理と時効処理とは、同じ処理室内で行っても良い。
実用上、蒸着拡散後の焼結磁石体に表面処理を施すことが好ましい。表面処理は公知の表面処理でよく、例えばAl蒸着や電気Niめっきや樹脂塗装などの表面処理を行うことができる。表面処理を行う前にはサンドブラスト処理、バレル処理、エッチング処理、機械研削等公知の前処理を行ってもよい。また、拡散処理の後に寸法調整のための研削を行っても良い。このような工程を経ても、保磁力向上効果はほとんど変わらない。寸法調整のための研削量は、1〜300μm、より好ましくは5〜100μm、さらに好ましくは10〜30μmである。
(実施形態2)
本実施形態では、まず、25質量%以上40質量%以下の希土類元素(そのうち、重希土類元素RHが0.1質量%以上5.0質量%以下で残りが軽希土類元素RL)と、0.6質量%以上〜1.6質量%のB(硼素)と、残部Fe及び不可避的不純物とを含有する合金を用意する。Bの一部はC(炭素)によって置換されていてもよいし、Feの一部(50原子%以下)は、他の遷移金属元素(例えばCoまたはNi)によって置換されていてもよい。この合金は、種々の目的により、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、Ga、Zr、Nb、Mo、Ag、In、Sn、Hf、Ta、W、Pb、およびBiからなる群から選択された少なくとも1種の添加元素Mを0.01〜1.0質量%程度含有していてもよい。
このように、本実施形態では、原料合金に0.1質量%以上5.0質量%以下の重希土類元素RHを添加しておく。すなわち、希土類元素Rとして軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)と、0.1質量%以上5.0質量%以下の重希土類元素RHとを含有する公知のR−Fe−B系希土類焼結磁石を用意した後、更に蒸着拡散により表面から重希土類元素RHを磁石内部に拡散する。
本実施形態では、蒸着拡散を行う前のR−Fe−B系希土類焼結磁石体が、軽希土類元素RLを主たる希土類元素Rとして含有するR2Fe14B型化合物相結晶粒を主相として有し、かつ、0.1質量%以上5.0質量%以下の重希土類元素RHを含有している。この重希土類元素RHは、主相および粒界相のいずれの相にも存在しているため、原料合金に重希土類元素RHを添加していなかった場合に比べて、蒸着拡散時の焼結磁石体表面における重希土類元素RHの濃度差が相対的に小さくなる。主相内への粒内拡散は、この濃度差に強く依存し、主相内への粒内拡散が抑制される。その結果、粒界拡散が優先的に進行するため、磁石体表面への重希土類元素RHの供給量を低下させても、重希土類元素RHを焼結磁石体の内部に効果的に拡散させることができる。
これに対し、前もって重希土類元素RHを添加していなかった焼結磁石体の場合は、表面における重希土類元素RHの濃度差が相対的に大きくなるため、主相への粒内拡散が生じやすく、粒界拡散する割合が低下する。
なお、蒸着拡散前の焼結磁石体が5質量%以上の重希土類元素RHを含有していると、粒界相における重希土類元素RHの濃度差も小さくなるため、蒸着拡散による保磁力の向上度が低下してしまう。このため、重希土類元素RHの粒界拡散を効率よく行うという観点から、蒸着拡散前の焼結磁石体が含有する重希土類元素RHの量は1.5質量%以上3.5質量%以下が好ましい。
本実施形態では、所定量の重希土類元素RHを含有する焼結磁石体に対して、さらに焼結磁石体の表面から重希土類元素RHの粒界拡散を行うことにより、主相外郭部において軽希土類元素RLを非常に効率よくRHで置換することができる。その結果、残留磁束密度Brの低下を抑制しつつ、保磁力HcJを上昇させることが可能になる。
(実施形態3)
本実施形態によるR−Fe−B系希土類焼結磁石の製造方法は、R−Fe−B系希土類磁石粉末成形体の焼結工程と、重希土類元素RHの拡散工程とを同一の処理室内で連続して実行する。より具体的には、まず、軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有するR−Fe−B系希土類磁石粉末の成形体を、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有するバルク体に対向させて処理室内に配置する工程(A)を行う。
次に、処理室内で焼結を行うことによってR2Fe14B型化合物結晶粒を主相として有するR−Fe−B系希土類焼結磁石体を作製する工程(B)を実行する。その後、その処理室内において、バルク体およびR−Fe−B系希土類焼結磁石体を加熱することにより、バルク体から重希土類元素RHをR−Fe−B系希土類焼結磁石体の表面に供給しつつ、重希土類元素RHをR−Fe−B系希土類焼結磁石体の内部に拡散させる工程(C)を実行する。
本実施形態では、焼結・拡散工程以外は、実施形態1における工程と同一であるため、以下、異なる工程のみを説明する。
[焼結・拡散工程]
図2を参照しながら、実施形態3における焼結・拡散工程を説明する。図2は、焼結・拡散工程における処理室内の雰囲気温度および雰囲気ガス圧力の時間変化を示すグラフである。グラフ中の一点鎖線が雰囲気ガス圧力を示し、実線が雰囲気温度を示している。
まず、図1に示す処理室6に磁石粉末の成形体およびRHバルク体を配置し、減圧を開始する(工程A)。ここで、磁石粉末の成形体は、公知の方法によって作製された希土類焼結磁石用微粉末を公知の方法で成形することによって得られる。
磁石粉末成形体およびRHバルク体を処理室6に配置した後、焼結処理を開始するため、処理室6内の温度を1000〜1200℃の範囲内の所定温度に上昇させる。昇温は、処理室6内の雰囲気ガス圧力を焼結時の圧力(1Pa〜1×105Pa)に低下させてから実行することが好ましい。焼結時の圧力は、RHバルク体の蒸発を充分に抑制することのできる比較的高いレベルに維持することが重要である。前述したように、RHバルク体からの重希土類元素RHの蒸発レートは、雰囲気ガスの圧力が高い場合には著しく抑制されるため、処理室6内に粉末成形体とRHバルク体とが共存しても、雰囲気ガス圧力を適切な範囲に制御することにより、重希土類元素RHを粉末成形体中に導入しない状態で焼結工程を進行させることが可能になる。
焼結工程(工程B)は、上記の雰囲気圧力および温度の範囲で10分〜600分間保持することによって行うことができる。本実施形態では、昇温時および工程Bにおける雰囲気ガス圧力が1Pa〜1×105Paに設定されているので、RHバルク体の蒸発が抑制された状態で、焼結反応が速やかに進行する。工程Bにおける雰囲気ガス圧力が1Paを下回ると、RHバルク体から重希土類元素RHの蒸発が進むため、焼結反応のみを進行させることが困難になる。一方、工程Bにおける雰囲気ガス圧力が1×105Paを超えると、焼結過程で粉末成形体中にガスが残存し、焼結磁石体に空孔部が残る可能性がある。このため、工程Bにおける雰囲気ガス圧力を1Pa〜1×105Paの範囲に設定することが好ましく、5×102Pa〜104Paの範囲に設定することが更に好ましい。
焼結工程(工程B)の終了後、処理室6の雰囲気温度を800〜950℃に降下させる(工程B´1)。その後、雰囲気ガス圧力を1×10-5Pa〜1Paに減圧する(工程B´2)。重希土類元素RHの拡散に適した温度は、800〜950℃であり、この温度範囲に低下させる過程(工程B´1)では、RHバルク体の蒸発を抑制することが好ましい。本実施形態では、雰囲気温度を800〜950℃に低下させた後、雰囲気圧力の低下(工程B´2)を開始する。このため、蒸着拡散に適した温度に降下してからRHバルク体の蒸発を開始させ、拡散工程Cを効率的に実行することができる。
拡散工程Cでは、雰囲気ガス圧力を1×10-5Pa〜1Pa、処理室温度を800〜950℃に保持し、前述した蒸着拡散を進行させる。拡散工程Cでは、蒸着拡散により、粒界拡散が優先的に起こるため、粒内拡散層の形成を抑制し、残留磁束密度Brの低下を抑えることができる。
図3は、図2に示す実施形態とは異なる圧力温度変化を示すグラフである。図3に示す例では、焼結工程Bが終了しないうちに、雰囲気ガス圧力を下げる(工程B´´1)。そして、雰囲気ガス圧力1×10-5Pa〜1Pa、処理室内の温度1000〜1200℃で10分〜300分間の熱処理(工程B´´2)を実行した後、処理室6の温度を800〜950℃に降下させる(工程B´´3)。図3の例では、焼結工程Bの途中でRHバルク体の蒸発を開始するため、全工程のトータル時間を短縮することが可能となる。
なお、焼結工程を行う前の昇温は、図2、図3に示すように一定のレートで行う必要はなく、昇温途中で例えば650〜1000℃の範囲内の温度で10〜240分間保持する工程を追加しても良い。
なお、本実施形態における拡散工程は、焼結磁石体の表面状況に敏感ではなく、拡散工程の前に焼結磁石体の表面にAlやZnやSnからなる膜が形成されていてもよい。AlやZnやSnは、低融点金属であり、しかも、少量であれば磁石特性を劣化させず、また上記の拡散の障害ともならないからである。AlやZnやSnなどの元素をRHバルク体に含有させておいても良い。
以上の説明から明らかなように、本実施形態では、従来の工程を大幅に変更することなく、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)の粒界拡散を行うことにより、焼結磁石体内部の奥深い位置まで重希土類元素RHを供給し、主相外殻部において軽希土類元素RLを効率よく重希土類元素RHで置換することができる。その結果、残留磁束密度Brの低下を抑制しつつ、保磁力HcJを上昇させることが可能になる。
(実施例1)
まず、Nd:31.8、B:0.97、Co:0.92、Cu:0.1、Al:0.24、残部:Fe(質量%)の組成を有するように配合した合金を用いてストリップキャスト法により厚さ0.2〜0.3mmの合金薄片を作製した。
次に、この合金薄片を容器内に充填し、水素処理装置内に収容した。そして、水素処理装置内を圧力500kPaの水素ガス雰囲気で満たすことにより、室温で合金薄片に水素吸蔵させた後、放出させた。このような水素処理を行うことにより、合金薄片を脆化し、大きさ約0.15〜0.2mmの不定形粉末を作製した。
上記の水素処理により作製した粗粉砕粉末に対し粉砕助剤として0.05wt%のステアリン酸亜鉛を添加し混合した後、ジェットミル装置による粉砕工程を行うことにより、粉末粒径が約3μmの微粉末を作製した。
こうして作製した微粉末をプレス装置により成形し、粉末成形体を作製した。具体的には、印加磁界中で粉末粒子を磁界配向した状態で圧縮し、プレス成形を行った。その後、成形体をプレス装置から抜き出し、真空炉により1020℃で4時間の焼結工程を行った。こうして、焼結体ブロックを作製したあと、この焼結体ブロックを機械的に加工することにより、厚さ1mm×縦10mm×横10mmの焼結磁石体を得た。
この焼結磁石体を0.3%硝酸水溶液で酸洗し、乾燥させた後、図1に示す構成を有する処理容器内に配置した。本実施例で使用する処理容器はMoから形成されており、複数の焼結磁石体を支持する部材と、2枚のRHバルク体を保持する部材とを備えている。焼結磁石体とRHバルク体との間隔は5〜9mm程度に設定した。RHバルク体は、純度99.9%のDyから形成され、30mm×30mm×5mmのサイズを有している。
次に、図1の処理容器を真空熱処理炉において加熱し、熱処理を行った。熱処理の条件は、以下の表1に示す通りである。なお、以下特に示さない限り、熱処理温度は焼結磁石体およびそれとほぼ等しいRHバルク体の温度を意味することとする。
表1に示す条件で熱処理を行った後、時効処理(圧力2Pa、500℃で60分)を行った。
また、焼結磁石体の表面をバレル方式の電子線加熱蒸着法(出力16kW、30分)によりAlコーティング(厚さ:1μm)したサンプルも用意し、表1に示す条件X、Yで熱処理を行った。熱処理後、時効処理(圧力2Pa、500℃で60分)を行った。
各サンプルについて、3MA/mのパルス着磁を行った後、B−Hトレーサで磁石特性(残留磁束密度:Br、保磁力:HcJ)を測定した。また、EPMA(島津製作所製EPM−810)により、磁石内部へのDyの拡散状況を評価した。測定によって得た残留磁束密度Brおよび保磁力HcJを以下の表2に示す。
サンプル1の比較例では、Dyの蒸着拡散処理は行わずに、サンプル2〜6と同じ熱処理条件で時効処理を行った。表2からわかるように、本発明におけるDy拡散を行ったサンプル2〜6では、比較例(サンプル1)に比べて保磁力HcJが大幅に向上した。また、拡散を行う前にAl膜(厚さ1μm)を焼結磁石体表面に形成したサンプル3、4でも、特にAl膜の存在がDy拡散の支障にはならず、保磁力HcJが向上することがわかった。
図4および図5は、それぞれ、サンプル2およびサンプル4について得られた断面EPMA分析結果を示す写真である。図4(a)、(b)、(c)、および(d)は、それぞれ、BEI(反射電子線像)、Nd、Fe、およびDyの分布を示すマッピング写真である。図5についても同様であり、各写真における上部の面が焼結磁石体の表面に相当している。
図4(d)および図5(d)の写真では、Dyが相対的に高い濃度で存在する部分が明るく示されている。これらの写真からわかるように、Dyが相対的に高い濃度で存在する領域は粒界近傍である。磁石表面に近い部分でも、主相中央部に粒界近傍と同程度の濃度でDyが拡散した領域は少ない。Dy膜を焼結磁石体表面に堆積し、そのDy膜からDyを焼結磁石体の内部に拡散する方法によれば、焼結磁石体の表面に近い領域において、高い濃度でDyが拡散した主相が多数観察される。
本発明によれば、焼結磁石体の表面から深さ100μmまでの表層領域においても、主相(Nd2Fe14B型化合物結晶粒)の中央部にはDyが拡散しておらず、主相中央部におけるDy濃度は、粒界近傍におけるDy濃度よりも低い。このことは、上記の表層領域において粒内拡散が進行する前に、Dyが粒界相を通って焼結磁石体の内部に拡散したことを意味している。このため、残留磁束密度Brをほとんど低下させずに、保磁力HcJが向上した希土類焼結磁石を得ることができる。
図6は、サンプル2、3について、主相中央部および粒界3重点におけるDy濃度を測定した結果を示している。ここで、サンプル2における主相中央部および粒界3重点のDy濃度は、それぞれ、「◆」および、「◇」で示され、サンプル3における主相中央部および粒界3重点のDy濃度は、それぞれ、「●」および、「○」で示されている。
焼結磁石体の表面から約50μmの深さに位置する領域では、主相中央部のDy濃度は極めて低いのに対して、粒界3重点のDy濃度は著しく上昇している。一方、焼結磁石体の表面から500μmの深さに位置する領域では、いずれのサンプルについてもDyはほとんど検出されなかった。
図7は、サンプル4、5について、主相中央部および粒界3重点におけるDy濃度を測定した結果を示している。サンプル4、5の主相中央部については、最もDy濃度が高かった位置をα、最もDy濃度が低かった位置をβで表記することとする。サンプル4における主相中央部α、主相中央部β、および粒界3重点のDy濃度は、それぞれ、「◆」、「△」、および、「◇」で示され、一方、サンプル5における主相中央部α、主相中央部β、および粒界3重点のDy濃度は、それぞれ、「●」、「□」、および、「○」で示される。
以上の結果から、いずれのサンプルにおいても、主相中央部と粒界相との間にはDy濃度に2mol%(=2原子%)以上の差異が発生した。
(実施例2)
実施例1について説明した方法と同様の方法によって作製した焼結磁石体を用意した。サイズは、7mm×7mm×3mmであった。磁化方向は、厚さ3mmの方向に設定した。上記の焼結磁石体を0.3%硝酸で酸洗し、乾燥させた後、図1に示すようにDy板(30mm×30mm×5mm、99.9%)と対向するように配置した。
次に、図1の処理容器を真空熱処理炉において加熱し、表3に示す条件で熱処理を行った後、時効処理(圧力2Pa、500℃で60分)を行った。
なお、拡散処理を行わずに実施例2と同様の条件で時効処理を行った比較例をサンプル7とする。時効処理後、B−Hトレーサによって磁石特性(残留磁束密度Br、保磁力HcJ)を測定した。測定結果を以下の表4に示す。
これらの結果からわかるように、本実施例では、焼結磁石体の厚さが3mmであっても、残留磁束密度Brをほとんど低下させずに保磁力HcJを大幅に向上している。
図8(a)および(b)は、それぞれ、処理温度と残留磁束密度Brおよび保磁力HcJとの関係を示すグラフである。これらのグラフからわかるように、保磁力HcJは処理温度(圧力:1×10-2Pa、時間:30min)の増加に伴って増大している。グラフ中、「酸洗上り」は、焼結磁石体の表面を0.3%硝酸によって洗浄した後、表面に被膜を形成しなかったサンプルを意味し、「Alコーティング」は焼結磁石体表面に電子線加熱蒸着法でAl膜を堆積したサンプルを意味する。
図9(a)および(b)は、それぞれ、処理時間と残留磁束密度Brおよび保磁力HcJとの関係を示すグラフである。これらのグラフからわかるように、保磁力HcJは処理時間(圧力:1×10-2Pa、温度:900℃)の増加に伴って増大している。グラフ中、「酸洗上り」および「Alコーティング」は、上述の通りであり、「切断上り」とは、ダイアモンドカッターによる切断上り品を意味する。
図10(a)および(b)は、それぞれ、処理容器内の圧力と残留磁束密度Brおよび保磁力HcJとの関係を示すグラフである。グラフの横軸は、処理容器内のアルゴンガス雰囲気の圧力を示している。図10(b)からわかるように、圧力1×102Pa以下の場合、保磁力HcJは圧力にほとんど依存しない。圧力が1×105Pa(大気圧)の場合、保磁力HcJの向上効果は得られなかった。磁石表面のEPMA分析によると、処理容器内の圧力が大気圧の場合は、Dyが蒸着・拡散していないことがわかった。この結果から、処理雰囲気の圧力が充分に高いと、Dy板を加熱しても、近接する焼結磁石体にはDyが蒸着・拡散しないようにすることが可能である。したがって、雰囲気圧力を制御することにより、焼結工程とDy蒸着・拡散工程とを同一の処理室内で順次実行することも可能である。すなわち、焼結工程を行うときは、雰囲気圧力を充分に高め、Dy板からのDyの蒸着・拡散が抑制された状態で焼結を進行させる。そして、焼結が完了した後、雰囲気圧力を低下させることにより、Dy板から焼結磁石体へDyを供給し、かつ、拡散させることが可能である。このように同一装置内で焼結工程とDy拡散工程を実行することができれば、製造コストの低減が可能になる。
(実施例3)
本実施例では、Dy析出と処理雰囲気の圧力(真空度)との関係を検討した。本実施例では、図11に示すMo製容器(Moパック)を用い、その内部にDy板(30mm×30mm×5mm、99.9%)をセットした。Moパックの内壁には、Nb箔が貼りつけられている。図11のMoパックを真空熱処理炉内に収容し、900℃で180分の熱処理を行った。真空熱処理炉内の圧力(真空度)は(1)1×10-2Pa、(2)1Pa、(3)150Paの3条件とした。
図12は、熱処理後におけるMoパック内壁の外観観察結果を示す写真である。Moパックの内壁面上で変色している部分がDy析出領域である。(1)の真空度では、DyはMoパックの内壁全域に均一に堆積している。(2)の真空度では、Dy板の近傍のみにDy堆積が生じている。(3)の真空度では、Dy蒸発量が少なくなり、Dy堆積領域の面積も縮小している。なお、変色部分にはDyはほとんど成膜されておらず、いったん内壁の変色部分に付着したDyが再び気化しているものと推測される。このように熱処理雰囲気の真空度を調節することにより、Dyの蒸発速度(量)および析出領域を制御することが可能である。
(実施例4)
実施例1について説明した方法と同様の方法で作製した焼結磁石体とDy板(30mm×30mm×5mm、99.9%)とを、図13に示すように配置し、真空熱処理炉にて900℃120分の熱処理を行った。真空度は、(1)1×10-2Pa、(2)1Pa、(3)150Paの3条件に設定した。
図13に示す焼結磁石体のサンプルA〜Cは、7mm×7mm×3mm(厚さ:磁化方向)のサイズを有し、サンプルDのみが10mm×10mm×1.2mm(厚さ:磁化方向)のサイズを有している。これらの焼結磁石体は、いずれも、0.3%硝酸による酸洗・乾燥後に、熱処理を施された。
更に500℃、60分、真空度2Paの条件で時効処理を行った後、BHトレーサを用いて磁石特性(残留磁束密度:Br、保磁力:HcJ)を測定した。表5は、真空度(1)〜(3)について、サンプルA〜Dに関する重量などのデータと、磁石特性の測定結果を示している。
表5からわかるように、焼結磁石体A〜Dの特性は、ほとんどバラツキなく向上した。なお、表5に示す熱処理前後の重量変化からDy歩留まりを求めた。ここで、Dy歩留まりは、(被処理材(焼結磁石体やNb箔)のDy増量)/(Dy板の減量)×100で表される。真空度が低くなるにつれてDy歩留まりが向上し、(3)の真空度では約83%となった。また、全ての真空度((1)〜(3))において、焼結磁石体に比べ、Nb箔の重量増加率(単位面積あたり)が格段に小さかった。これは、Dyと反応(合金化)しないNb表面では、Nb表面に飛来し、析出したDyが再蒸発し、Nb箔上でのDy成膜に寄与しないことを示している。言い換えると、Dy板から蒸発したDyは、焼結磁石体上に優先的に蒸着し、拡散するため、他の公知の拡散方法に比べて、Dy歩留まりが向上し、省資源化に大きく寄与することになる。
(実施例5)
実施例1について説明した方法と同様の方法で作製した焼結磁石体とDy板(20mm×30mm×5mm、99.9%)とを図14に示すように配置し、900℃、1×10-2Paの条件で熱処理を行った。このとき、表6に示すように磁石とDy板の距離を変えた。焼結磁石体は7mm×7mm×3mm(厚さ:磁化方向)を0.3%硝酸にて酸洗・乾燥させたものである。熱処理後500℃、60分、2Paの条件で時効処理を行った後、BHトレーサにて磁石特性(残留磁束密度:Br、保磁力:HcJ)を測定した。
表7、図15に示すように焼結磁石体とDy板の距離に依存し、保磁力の向上度合いが変わる。距離が30mmまでは向上度に遜色がないが、距離が大きくなると向上度も小さくなる。ただし、距離が30mm以上であっても、熱処理時間を延長することによって保磁力を向上させることができる。
(実施例6)
実施例1について説明した方法と同様の方法で作製した焼結磁石体とDy板(30mm×30mm×5mm99.9%)とを図16に示すように配置し、真空熱処理炉にて900℃、1×10-2Paの条件で熱処理を行った。このとき、Dy板の配置を上下、上のみ、下のみの場合で熱処理を行った。焼結磁石体は、7mm×7mm×3mm(厚さ:磁化方向)のサイズを有し、0.3%硝酸にて酸洗し、乾燥させたものである。
500℃、60分、2Paの条件で時効処理を行った後、BHトレーサにて磁石特性(残留磁束密度:Br、保磁力:HcJ)を測定した。図17は、磁石特性の測定結果を示している。
図17に示すように、Dy板の配置に関わらず、保磁力が向上している。これは、真空熱処理時において、気化したDyが焼結磁石体の表面近傍で均一に存在しているためであると考えられる。
図18は、Dy板を焼結磁石体の下のみに配置したときの熱処理後の焼結磁石体表面のEPMA分析結果を示す。図18(a)は、焼結磁石体の上面中央部における分析結果を示した写真であり、(b)は、焼結磁石体の下面中央部における分析結果を示した写真である。焼結磁石体の上面中央部においても、下面中央部とほぼ同様にDyが蒸着・拡散していることがわかる。このことは、蒸発したDyが焼結磁石体の表面近傍において均一に分布していることを意味している。
(実施例7)
実施例1の条件X(900℃×30min)で蒸着拡散処理を行ったサンプルについて、耐湿潤性試験(80℃、90%RH)を実施した。図19は耐湿潤性試験後の磁石体表面の発錆状況を示す写真であり、「酸洗上り」は、焼結磁石体を0.3%硝酸で酸洗し乾燥させた後、蒸着拡散処理を行わずに時効処理(圧力2Pa、500℃で60分)を行ったもの、「1−A」は、「酸洗上り」と同じ条件で酸洗後、実施例1の条件Xで蒸着拡散処理と時効処理を行ったもの、「1−B」は、「酸洗上り」と同じ条件で酸洗後、実施例1と同じ条件でAlコーティングを行い、実施例1の条件Xで蒸着拡散処理と時効処理を行ったものを示す。図19からわかるように、「酸洗上り」のサンプルに比べ、「1−A」、「1−B」を問わず、耐湿潤性が向上している。本発明による拡散処理を行うと、DyまたはNdの緻密な混相組織が形成され、電位の均一性が高まり、その結果、電位差腐食が進行しにくくなるためと考えられる。
(実施例8)
実施例1の条件で作製した31.8Nd−bal.Fe−0.97B−0.92Co−0.1Cu−0.24Al(質量%)組成(Dy0%組成)のNd焼結磁石を、10mm×10mm×3mm(磁化方向)に切断加工した。図20に示すように配置し、900℃、1×10-2Pa、120分間熱処理した。その後、500℃、2Pa、120分間時効処理を行った。表8にDy−X合金の組成を示す。
Dy−Ndは、全率固溶合金であるため、DyおよびNdの組成比率は50:50(質量%)とした。その他の合金については、DyおよびXが共晶化合物を作る組成比率を選択した。
蒸着拡散前後のサンプルについて、B−Hトレーサにて磁石特性(残留磁束密度Br、保磁力HcJ)を測定した。図21(a)、(b)、および(c)は、それぞれ、残留磁束密度Br、保磁力HcJ、および角形比(Hk/HcJ)を示すグラフである。
図21(b)のグラフからわかるように、すべてのサンプルについて、保磁力HcJが向上した。これは、焼結磁石体内部へのDy拡散により、主相(Nd2Fe14B結晶)の外殻部に異方性磁界の高いDy濃化層を形成したことによるものである。Dy−Al以外のDy−Xについては、Dy単独の場合に比べて保磁力向上度は同等であるが、残留磁束密度および角形比(Hk/HcJ)の低下は抑制された。これは、Dyのみならず、X元素をも蒸着拡散させることにより、粒界相の融点を下げることができたため、Dyの拡散が更に促進されたと推定される。この効果は、元素XとしてNdを含む場合に顕著である。これは、バルク体がNdを焼結磁石体に供給することにより、熱処理時に焼結磁石体の粒界相から蒸発した微量の希土類元素(Nd、Pr)を補填することができたためであると考えられる。
なお、上記と同じ方法にて、表8のX元素以外の元素(La、Ce、Cu、Co、Ag、Zn、Sn)についても同様の効果があることを確認した。
(実施例9)
実施例1について説明した方法と同様の方法で作成した焼結磁石体を切断加工し、6mm(磁化方向)×6mm×6mmの焼結磁石体を得た。この焼結磁石体とDy板を図22(a)に示すように配置した。具体的には、焼結磁石体の上下にDy板を置き、焼結磁石体の磁化方向が上下のDy板における対向面に対して略垂直となるように配置した。この配置状態のまま、真空熱処理炉において900℃、1×10-2Paの条件で、それぞれ120、240、600分間の熱処理を行った。その後、500℃、2Pa、120分間の時効処理を行った。
図22(b)は、焼結磁石体の結晶方位を示す図である。図22(b)では、立方体形状を有する焼結磁石体の表面のうち、c軸(磁化方向)に垂直な面を「aa面」、c軸に垂直ではない面を「ac面」と表記している。
上記熱処理の際に、試料aa2では、焼結磁石体の6面のうち、2つの「aa面」のみを露出させ、その他の4つの面は厚さ0.05mmのNb箔で覆った。同様に、試料ac2では、2つの「ac面」のみを露出させ、その他の4つの面を厚さ0.05mmのNb箔で覆っていた。
上記熱処理前後のサンプルについて、B−Hトレーサによって磁石特性(残留磁束密度Br、保磁力HcJ)を測定した。
図23は、保磁力HcJの増加量および残留磁束密度Brの低下量を示すグラフである。熱処理時間が240分以上になると、試料aaおよび試料acは、残留磁束密度Brの低下量は同程度であるが、保磁力HcJの向上量は試料aaが試料acに比べて100kA/m程度大きい。
次に、Dyの拡散距離を調べるために、240分処理のサンプルを用いて、試料aa2および試料ac2について、表面から0.2mmだけ研削するごとにB−Hトレーサによって磁石特性を測定した。
図24は、こうして測定された保磁力HcJを示すグラフである。試料ac2では、合計で約0.6mm研削したとき、保磁力HcJが熱処理前の値に略等しくなる。一方、試料aaでは、合計で約1.2mm研削したとき、保磁力HcJが熱処理前の値に略等しくなる。以上のことから明らかなように、c軸方向(配向方向)の拡散速度は、これに垂直な方向の拡散速度の約2倍に達することがわかる。
(実施例10)
実施例1について説明した方法と同様の方法で作成した厚さ3mm(磁化方向)×縦25mm×横25mmサイズの焼結磁石体に対し、図25(a)に示すように、焼結磁石体の表面の約50%をNb箔で覆った。そして、図1に示すように配置し、真空熱処理炉にて900℃、1×10-2Paの条件で、120分間の熱処理を行った。その後、500℃、2Pa、120分間の時効処理を行った。熱処理後、Nb箔に付着したDyは極僅かであり、また焼結磁石体と反応して焼結磁石体に溶着されることなく、容易に剥がすことができた。
上記熱処理後のサンプルについて、図25(b)に示す箇所から、ダイアモンドカッターにより、厚さ3mm(磁化方向)×縦7mm×横7mmのサイズを有する部分を切り出した。そして、Dyを拡散浸透させた部分(サンプルE)、および、Nb箔で包んだ部分(サンプルF)の磁石特性(残留磁束密度Br、保磁力HcJ)をB−Hトレーサにより測定した。
測定結果を以下の表9に示す。Nb箔で包まずにDyを拡散浸透させた部分では、Nb箔で包んだ部分に比べ、保磁力HcJが向上していることを確認した。このように、本実施例によれば、焼結磁石体の特定部分に対して選択的にDyを拡散し、その部分の磁石特性を他の部分から変化させることが可能になる。
(実施例11)
まず、表10の5種類の組成(L〜P)を有するように配合した合金のインゴットを用いてストリップキャスト法により厚さ0.2〜0.3mmの合金薄片を作製した。
次に、この合金薄片を容器内に充填し、水素処理装置内に収容した。そして、水素処理装置内を圧力500kPaの水素ガス雰囲気で満たすことにより、室温で合金薄片に水素吸蔵させた後、放出させた。このような水素処理を行うことにより、合金薄片を脆化し、大きさ約0.15〜0.2mmの不定形粉末を作製した。
上記の水素処理により作製した粗粉砕粉末に対し粉砕助剤として0.05wt%のステアリン酸亜鉛を添加し混合した後、ジェットミル装置による粉砕工程を行うことにより、粉末粒径が約3μmの微粉末を作製した。
こうして作製した微粉末をプレス装置により成形し、粉末成形体を作製した。具体的には、印加磁界中で粉末粒子を磁界配向した状態で圧縮し、プレス成形を行った。その後、成形体をプレス装置から抜き出し、真空炉により1020℃で4時間の焼結工程を行った。こうして、焼結体ブロックを作製した後、この焼結体ブロックを機械的に加工することにより表11の寸法の焼結磁石体を得た。
この焼結磁石体を0.3%硝酸水溶液で酸洗し、乾燥させた後、図1に示す構成を有する処理容器内に配置した。本実施例で使用する処理容器はMoから形成されており、複数の焼結磁石体を支持する部材と、2枚のRHバルク体を保持する部材とを備えている。焼結磁石体とRHバルク体との間隔は5〜9mm程度に設定した。RHバルク体は、純度99.9%のDy板から形成され、30mm×30mm×5mmのサイズを有している。
次に、図1の処理容器を真空熱処理炉において加熱し、蒸着拡散のための熱処理を行った。熱処理の条件は、表11に示す通りである。なお、特に示さない限り、熱処理温度は、焼結磁石体およびそれとほぼ等しいRHバルク体の温度を意味することとする。
表11に示す条件で蒸着拡散を行った後、時効処理(圧力2Pa、500℃で60分)を行った。
蒸着拡散前および時効処理後の各サンプルについて、3MA/mのパルス着磁を行った後、B−Hトレーサで磁石特性(保磁力:HcJ、残留磁束密度:Br、)を測定した。この測定により、蒸着拡散を行う前のサンプルの保磁力HcJおよび残留磁束密度Brに対して、蒸着拡散(時効処理)によって生じた変化の量を算出した。
図26(a)は、組成L〜Pについての保磁力変化量ΔHcJを示すグラフである。グラフ中における◇、□、◆、および■のデータポイントは、それぞれ、表11におけるα、β、γ、およびδの条件で蒸着拡散を行った試料の保磁力変化量ΔHcJを示している。
一方、図26(b)は、組成L〜Pについての残留磁束密度変化量ΔBrを示すグラフである。グラフ中における◇、□、◆、および■のデータポイントは、それぞれ、表11におけるα、β、γ、およびδの条件で蒸着拡散を行った試料の残留磁束密度変化量ΔBrを示している。
図26(a)、(b)から明らかなように、組成B(Dy2.5%)の焼結磁石において、残留磁束密度Brの低下を抑制しつつ、最も高い保磁力HcJを得ることができた。
表11の蒸着拡散前のサンプル、および、蒸着拡散後(時効処理後)のサンプルに対して断面研磨を施した後、EPMA(島津製作所製EPM−1610)による分析(ZAF法)を行った。以下の表12は、主相中央部および粒界3重点部におけるDy量(質量%)を示している。
組成Mのサンプルで優れた磁石特性が得られた理由は、表12からわかるように、組成Mを有するサンプルでは、粒界相へのDy拡散を最も効率よく行うことができたためであると推定できる。
(実施例12)
まず、Nd:31.8、B:0.97、Co:0.92、Cu:0.1、Al:0.24、残部:Fe(質量%)の組成を有するように配合した合金のインゴットを用いてストリップキャスト法により厚さ0.2〜0.3mmの合金薄片を作製した。
次に、この合金薄片を容器内に充填し、水素処理装置内に収容した。そして、水素処理装置内を圧力500kPaの水素ガス雰囲気で満たすことにより、室温で合金薄片に水素吸蔵させた後、放出させた。このような水素処理を行うことにより、合金薄片を脆化し、大きさ約0.15〜0.2mmの不定形粉末を作製した。
上記の水素処理により作製した粗粉砕粉末に対し粉砕助剤として0.05wt%のステアリン酸亜鉛を添加し混合した後、ジェットミル装置による粉砕工程を行うことにより、粉末粒径が約3μmの微粉末を作製した。
こうして作製した微粉末をプレス装置により成形し、20mm×10mm×5mm(磁界方向)の粉末成形体を作製した。具体的には、印加磁界中で粉末粒子を磁界配向した状態で圧縮し、プレス成形を行った。その後、成形体をプレス装置から抜き出し、図1に示す構成を有する処理容器内に配置した。本実施例で使用する処理容器はMoから形成されており、複数の成形体を支持する部材と、2枚のRHバルク体を保持する部材とを備えている。成形体とRHバルク体との間隔は5〜9mm程度に設定した。RHバルク体は、純度99.9%のDy板から形成され、30mm×30mm×5mmのサイズを有している。
この処理容器を真空炉に収容し、表13に示す条件により、焼結工程および拡散工程を行った。表1には、「1−A」〜「6−B」の12個のサンプルに関する焼結・拡散工程の条件が示されている。表13の「A」は、図1に示すように粉末成形体をDy板とともに配置して熱処理を行った実施例を意味している。一方、表13の「B」は、Dy板を配置せず、粉末成形体に対して同条件の熱処理を行った比較例を示している。いずれのサンプルについても、拡散工程の後は、500℃、2Pa、120分間の時効処理を行った。
得られた各サンプルについて、B−Hトレーサで磁石特性(残留磁束密度Br、保磁力HcJ)を測定した。
図27(a)は、12個のサンプルに関する残留磁束密度Brの測定値を示すグラフであり、図27(b)は、同サンプルに関する保磁力HcJの測定値を示すグラフである。
これらの図からわかるように、全ての実施例(1−A、2−A、3−A、4−A、5−A、6−A)について、その保磁力HcJが比較例(1−B、2−B、3−B、4−B、5−B、6−B)の保磁力HcJを大幅に上回っていることがわかる。特にサンプル4−Aでは、残留磁束密度Brの低下率が最も小さい。これは、相対的に高い雰囲気圧力で焼結を完了してから、Dyの蒸発拡散を開始する場合、Dyが最も効果的に粒界相を拡散し、効率的に保磁力HcJを高めることを示している。
(実施例13)
まず、Nd:32.0、B:1.0、Co:0.9、Cu:0.1、Al:0.2、残部:Fe(質量%)の組成を有するように配合した合金を用いて、実施例1と同様に焼結磁石体を作製した。この焼結磁石を7mm×7mm×3mmのサイズに切断した。
図1に示す構成のうち、RHバルク体4としてTb板を用いて熱処理を行った。熱処理は、900℃または950℃、1×10-3Pa、120分間行った。その後、500℃、2Pa、120分間の時効処理を行った。
蒸着拡散前後のサンプルについて、B−Hトレーサにて磁石特性(残留磁束密度Br、保磁力HcJ)を測定したところ、蒸着拡散前の磁石体の磁気特性は、Br=1.40T、HcJ=850kA/mであり、蒸着拡散後の磁石体の磁気特性は、それぞれBr=1.40T、HcJ=1250kA/m、Br=1.40T、HcJ=1311kA/mであった。
この結果より、Tbを蒸着拡散させることで、残留磁束密度Brを低下させることなく保磁力HcJを向上させることができることが確認できた。
(実施例14)
上記の実施例13と同様にして焼結磁石のサンプルを作製した。図1に示すように配置した後、DyからなるRHバルク体4から焼結磁石体に蒸着拡散を行った。具体的には、900℃、1×10-2Pa、60分間または120分間の熱処理を行った。
一部のサンプルに対しては、蒸着拡散の後、500℃、2Pa、120分間時効処理を行った。残りのサンプルに対しては、図1に示す構成において、RHバルク体4を取り除いた状態で、900℃、1×10-2Pa、120分間の熱処理を行った後、500℃、2Pa、120分間の時効処理を行った。その後、上記の各サンプルについて、B−Hトレーサにて磁石特性を測定した。測定結果を表14に示す。
追加熱処理を施すことにより、さらに保磁力が向上することがわかった。
本発明によれば、外殻部に効率よく重希土類元素RHが濃縮された主相結晶粒を焼結磁石体の内部にも効率よく形成することができるため、高い残留磁束密度と高い保磁力とを兼ね備えた高性能磁石を提供することができる。
本発明によるR−Fe−B系希土類焼結磁石の製造方法に好適に用いられる処理容器の構成と、処理容器内におけるRHバルク体と焼結磁石体との配置関係の一例を模式的に示す断面図である。 本発明の焼結・拡散工程における処理室内の雰囲気温度および雰囲気ガス圧力の時間変化を示すグラフである。グラフ中の一点鎖線が雰囲気ガス圧力を示し、実線が雰囲気温度を示している。 本発明の焼結・拡散工程における処理室内の雰囲気温度および雰囲気ガス圧力の他の時間変化を示すグラフである。グラフ中の一点鎖線が雰囲気ガス圧力を示し、実線が雰囲気温度を示している。 本発明の実施例であるサンプル2について得られた断面EPMA分析結果を示す写真であり、(a)、(b)、(c)、および(d)は、それぞれ、BEI(反射電子線像)、Nd、Fe、およびDyの分布を示すマッピング写真である。 本発明の実施例であるサンプル4について得られた断面EPMA分析結果を示す写真であり、(a)、(b)、(c)、および(d)は、それぞれ、BEI(反射電子線像)、Nd、Fe、およびDyの分布を示すマッピング写真である。 本発明の実施例であるサンプル2、3について、主相中央部および粒界3重点におけるDy濃度を測定した結果を示すグラフである。 本発明の実施例であるサンプル4、5について、主相中央部および粒界3重点におけるDy濃度を測定した結果を示すグラフである。 (a)は、残留磁束密度Brと処理温度との関係を示すグラフであり、(b)は、保磁力HcJと処理温度との関係を示すグラフである。 (a)は、残留磁束密度Brと処理時間との関係を示すグラフであり、(b)は、保磁力HcJと処理時間との関係を示すグラフである。 (a)は、残留磁束密度Brと雰囲気圧力との関係を示すグラフであり、(b)は、保磁力HcJと雰囲気圧力との関係を示すグラフである。 本発明の実施例で使用したMoパック内の配置を示す断面図である。 熱処理後におけるMoパック内壁の外観観察結果を示す写真である。 本発明の実施例で使用したMoパック内の配置を示す断面図である。 本発明の実施例におけるDy板と焼結磁石体との配置関係を示す図である。 磁石体からDy板までの距離と磁石特性との関係を示すグラフである。 Dy板と焼結磁石体との配置関係を示す断面図である。 Dy板の配置と磁石特性との関係を示すグラフである。 Dy板を焼結磁石体の下のみに配置したときの熱処理後の焼結磁石体表面のEPMA分析結果を示す写真であり、(a)は、焼結磁石体の上面中央部における分析結果を示す写真であり、(b)は、焼結磁石体の下面中央部における分析結果を示す写真である。 実施例7を示す写真である。 実施例8の製造に用いられた処理容器内におけるDy−X合金板と焼結磁石体との配置関係を示す断面図である。 (a)、(b)、および(c)は、それぞれ、本発明の製造方法で作製された磁石のサンプルについて、残留磁束密度Br、保磁力HcJ、および角形性(Hk/HcJ)を示すグラフである。 (a)は、焼結磁石体とDy板との配置関係を示す図であり、(b)は、焼結磁石体の結晶方位を示す図である。 (a)は、実施例9について測定された残留磁束密度Brを示すグラフであり、(b)は、実施例9について測定された保磁力HcJを示すグラフである。 実施例9について得られた保磁力HcJと研削量との関係を示すグラフである。 (a)および(b)は、実施例10について、焼結磁石体の表面のどの部分をNb箔で覆ったかを示す斜視図である。 (a)は、組成L〜Pについて、B−Hトレーサで測定した保磁力変化量ΔHcJを示すグラフであり、(b)は、それらの残留磁束密度変化量ΔBrを示すグラフである。 (a)は、12個のサンプルに関する残留磁束密度Brの測定値を示すグラフであり、(b)は、同サンプルに関する保磁力HcJの測定値を示すグラフである。
符号の説明
2 焼結磁石体
4 RHバルク体
6 処理室
8 Nb製の網

Claims (5)

  1. 軽希土類元素RL(NdおよびPrの少なくとも1種)を主たる希土類元素Rとして含有するR2Fe14B型化合物結晶粒を主相として有し、重希土類元素RH(Dy、Ho、およびTbからなる群から選択された少なくとも1種)を含有するR−Fe−B系希土類焼結磁石であって、
    前記磁石表面から深さ100μmまでの表層領域において、前記R2Fe14B型化合物結晶粒の外郭部に重希土類元素RHの濃度が前記R2Fe14B型化合物結晶粒の中央部における重希土類元素RHの濃度よりも高い重希土類元素RH濃縮層を有し、かつ、前記R2Fe14B型化合物結晶粒の中央部における重希土類元素RHの濃度が前記R2Fe14B型化合物結晶粒の粒界3重点における重希土類元素RHの濃度よりも1原子%以上低い組織を有している、R−Fe−B系希土類焼結磁石。
  2. 前記磁石表面から磁石中央部に向かって保磁力が漸減する部位を有する請求項1に記載のR−Fe−B系希土類焼結磁石。
  3. 異方性を有し、c軸方向に保磁力が漸減する部位を有する請求項2に記載のR−Fe−B系希土類焼結磁石。
  4. 少なくとも前記表層領域において、前記組織を有する特定部分と、前記組織を有しない他の部分とを含む請求項1に記載のR−Fe−B系希土類焼結磁石。
  5. 前記特定部分と前記他の部分とで保磁力が異なる請求項4に記載のR−Fe−B系希土類焼結磁石。
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