CN102472944B - 相机的抖动校正装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供能够实现小型且薄型化的抖动校正装置。抖动校正装置(10)通过使包括聚焦线圈(26)和设置于该聚焦线圈的外侧的永磁体(28)的自动聚焦用透镜驱动装置(20)整体沿与光轴(O)正交且彼此正交的第一方向(X)和第二方向(Y)移动，从而校正抖动。抖动校正装置(10)包含：基座(14)，在自动聚焦用透镜驱动装置(20)的底面部隔开地设置；多根吊线(16)，一端固定于该基座的外周部，且沿着光轴(O)延伸，以自动聚焦用透镜驱动装置(20)整体能够沿第一方向(X)和第二方向(Y)摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置(20)整体；以及抖动校正用线圈(18)，与永磁体(28)相对设置。

Description

相机的抖动校正装置
技术领域
本发明涉及相机的抖动校正装置，特别是涉及通过校正利用移动电话用小型相机拍摄静止图像时产生的抖动(振动)而能够拍摄无像模糊的图像的抖动校正装置。
背景技术
以往以来，提出有各种即使在拍摄静止图像时抖动(振动)也能够防止成像面上的像模糊而进行清晰拍摄的抖动校正装置(像模糊校正装置)。
作为抖动校正方式，已知传感器移动方式、透镜移动方式等光学方式、以及通过利用软件进行的图像处理而校正抖动的软件方式。
传感器移动方式例如公开于日本特开2004-274242号公报(专利文献1)中。专利文献1所公开的数码相机构成为，摄像元件(CCD：电荷耦合器件)能够利用致动器以标准位置(中央)为中心移动。致动器使CCD与通过振动传感器检测到的抖动对应地移动，从而进行抖动校正。CCD设置于CCD移动单元内。通过该CCD移动单元，CCD能够在与Z轴正交的XY平面内移动。CCD移动单元主要包括固定地设于壳体的底板、相对于底板沿X轴方向移动的第一滑动件、和相对于第一滑动件沿Y轴方向移动的第二滑动件这三个部件。
在专利文献1所公开的传感器移动方式中，CCD移动单元(可动机构)会变大。因此，将传感器移动方式的抖动校正装置运用于移动电话用小型相机在尺寸(外形、高度)方面是困难的。
接着，说明透镜移动方式。
例如，日本特开2009-145771号公报(专利文献2)公开了包含用于驱动校正透镜的抖动校正单元的像模糊校正装置。抖动校正单元包括：作为固定部件的底板；能够移动地保持校正透镜的可动镜筒；被底板与可动镜筒夹持的三个球；相对于底板弹性支承可动镜筒的多个弹性体；固定在底板上的两个线圈；以及固定在可动镜筒上的两个磁体。
另外，日本特开2006-65352号公报(专利文献3)公开了“像模糊校正装置”，通过对包括多个透镜组的摄像光学系统(成像光学系统)中的特定的一个透镜组(以下称为“校正透镜”)，在与光轴垂直的面内彼此正交的两个方向上进行移动控制而校正像模糊的。在专利文献3所公开的像模糊校正装置中，通过纵摇移动框架以及横摇移动框架，相对于固定框架沿上下方向(纵向)以及左右方向(横向)移动自如地支承校正透镜。
日本特开2008-26634号公报(专利文献4)公开了“抖动校正单元”，包含通过沿与成像光学系统的光轴交叉的方向移动而校正由成像光学系统所形成的像的模糊的校正光学部件。在专利文献4所公开的校正光学部件中，保持校正透镜的透镜保持框架借助纵滑动件以及横滑动件，相对于收容筒沿纵向以及横向移动自如地被支承。
日本特开2006-215095号公报(专利文献5)公开了“像模糊校正装置”，能够以小的驱动力使校正透镜移动，能够迅速且高精度地进行像模糊校正。专利文献5所公开的像模糊校正装置包括：保持校正透镜的保持框架；以该保持框架沿第一方向(纵向)滑动自如的方式支承该保持框架的第一滑动件；以保持框架沿第二方向(横向)滑动自如的方式支承该保持框架的第二滑动件；沿第一方向驱动第一滑动件的第一线圈电机；以及沿第二方向驱动第二滑动件的第二线圈电机。
日本特开2008-15159号公报(专利文献6)公开了包括能够沿与光轴正交的方向移动地设置的模糊校正光学系统的透镜镜筒。在专利文献6所公开的模糊校正光学系统中，设置于VR(Vibration Reduction：抖动校正)主体单元内的可动VR单元被设置成保持校正透镜(第三透镜组)，并能够在与光轴正交的XY平面内移动。
日本特开2007-212876号公报(专利文献7)公开了“像模糊校正装置”，使保持于移动框架的校正透镜能够相对于透镜系统的光轴沿彼此正交的第一方向以及第二方向移动，并通过驱动单元控制成使校正透镜的光轴与透镜系统的光轴重合，从而能够校正像模糊。
日本特开2007-17957号公报(专利文献8)公开了“像模糊校正装置”，通过透镜驱动单元的动作，向与透镜系统的光轴正交的方向并且彼此正交的第一方向以及第二方向，驱动用于校正由透镜系统形成的像的模糊的校正透镜，从而校正像模糊。在专利文献8所公开的像模糊校正装置中，将透镜驱动单元设置于与校正透镜的光轴正交的方向的一侧。
日本特开2007-17874号公报(专利文献9)公开了“像模糊校正装置”，使保持于移动框架的校正透镜能够沿与透镜系统的光轴正交的方向并且彼此正交的第一方向以及第二方向移动，并控制成使校正透镜的光轴与透镜系统的光轴重合，从而能够校正像模糊的。该专利文献9所公开的像模糊校正装置包括具有能够相对地移动的线圈和磁体的驱动单元。线圈和磁体中的一者固定于移动框架，另一者固定于支承框架，该支承框架以移动框架能够移动的方式支承该移动框架。另外，该专利文献9所公开的像模糊校正装置包括：第一霍尔元件，通过检测磁体的磁力而检测校正透镜有关第一方向的位置信息；以及第二霍尔元件，通过检测磁体的磁力而检测校正透镜有关第二方向的位置信息。
上述专利文件2至9所公开的透镜移动方式的像模糊校正装置(抖动校正装置)均具有在与光轴垂直的平面内对校正透镜进行移动调整的构造。可是，这样的构造的像模糊校正装置(抖动校正装置)具有构造复杂且不适宜小型化的问题。即，与上述传感器移动方式的抖动校正装置同样，将透镜移动方式的抖动校正装置运用于移动电话用小型相机在尺寸(外形、高度)方面是困难的。
软件方式例如公开于日本特开第平11-64905号公报(专利文献10)中。在专利文献10所公开的抖动校正方法中，从检测单元的检测结果中去除噪点成分，根据去除了该噪点成分的检测信号，计算校正摄像装置的因抖动而造成的图像模糊所需的特定信息，从而在摄像装置静止并无抖动的状态下，拍摄图像也静止。
可是，对于该专利文献10所公开的软件方式，存在与上述光学式相比画质较差的问题。而且，对于软件方式，由于还包含软件的处理，所以存在拍摄时间花费较长时间的缺点。
为了解决上述问题，已提出了通过使保持透镜和摄像元件(图象传感器)的透镜组件(相机组件)自身摇动而校正抖动(像模糊)的抖动校正装置(像模糊校正装置)。在此将那样的方式称为“光学单元倾斜(tilt)方式”。
以下，就“光学单元倾斜方式”进行说明。
例如，日本特开2007-41455号公报(专利文献11)公开了“光学装置的像模糊校正装置”，该光学装置的像模糊校正装置包括：透镜组件，保持透镜和摄像元件；框架构造，利用转动轴以该透镜组件能够转动的方式支承该透镜组件；驱动单元(致动器)，通过对转动轴的被驱动单元(转动件)赋予驱动力，使透镜组件相对于框架构造转动；以及施力单元(板簧)，将驱动单元(致动器)压靠于转动轴的被驱动单元(转动件)。框架构造包括内框架和外框架。驱动单元(致动器)被设置为相对于转动轴的被驱动单元(转动件)自与光轴垂直的方向抵接。驱动单元(致动器)包括压电元件和转动轴侧的作用单元。作用单元利用压电元件的纵振动以及弯曲振动驱动转动轴。
另外，日本特开2007-93953号公报(专利文献12)公开了“相机的抖动校正装置”，通过将摄像透镜以及图像传感器一体化而成的相机组件收容于壳体的内部，并且利用轴将相机组件以与摄像光轴正交且彼此垂直交叉的第一轴和第二轴为中心摇动自如地支承于壳体，与由抖动传感器检测到的壳体的抖动对应地在壳体内部控制相机组件整体的姿势，从而校正拍摄静止图像时的抖动。专利文献12所公开的相机的抖动校正装置包括：中间框架，从固定有相机组件的内框架的外侧支承该内框架，使该内框架以第一轴为中心摇动自如；外框架，固定于壳体，从中间框架的外侧支承该中间框架，使该中间框架以第二轴为中心摇动自如；第一驱动单元，组装于中间框架，使内框架与来自抖动传感器(检测纵向的抖动的第一传感器组件)的抖动信号对应地绕第一轴摇动；以及第二驱动单元，组装于外框架，使中间框架与来自抖动传感器(检测横向的抖动的第二传感器组件)的抖动信号对应地绕第二轴摇动。第一驱动单元包括：第一步进电机；使该第一步进电机减速的第一减速齿轮机构；以及与最后级的齿轮一体旋转，并通过设于内框架的第一凸轮从动件使内框架摇动的第一凸轮。第二驱动单元包括：第二步进电机；使该第二步进电机减速的第二减速齿轮机构；以及与最后级的齿轮一体旋转，并通过设于中间框架的第二凸轮从动件使中间框架摇动的第二凸轮。
还有，日本特开2009-288770号公报(专利文献13)公开了通过改善对摄像单元的摇动校正用的摄像单元驱动机构的结构而能够可靠地校正摇动的摄像用光学装置。在专利文献13所公开的摄像用光学装置中，在固定罩的内侧构成了摄像单元(可动组件)和用于使该摄像单元位移而进行摇动校正的摇动校正机构。摄像单元用于使透镜沿光轴的方向移动。摄像单元具有：在内侧保持透镜以及固定光圈的移动体、使该移动体沿光轴方向移动的透镜驱动机构、和搭载透镜驱动机构以及移动体的支承体。透镜驱动机构包括：透镜驱动用线圈、透镜驱动用磁体和磁轭。摄像单元利用4根吊线被支承于固定体上。两个成为一对的摇动校正用的第一摄像单元驱动机构以及第二摄像单元驱动机构分别设于中间隔着光轴的两侧的两个部位。在这些摄像单元驱动机构中，在可动体侧保持摄像单元驱动用磁体，在固定体侧保持摄像单元驱动用线圈。
另外，日本特开2007-142938号公报(专利文献14)公开了具有使用陀螺仪等角速度传感器而校正拍摄时的抖动的功能的移动信息终端设备。为了进行摄像图像的抖动的校正，需要在与相机透镜的光轴正交的面内，设定彼此正交的、作为基准的纵轴和横轴，并检测以纵轴为旋转的中心轴线的旋转和以横轴为旋转的中心轴线的旋转这两者的角速度。专利文献14公开了在摄像装置的侧面配置有检测绕纵轴旋转的旋转角速度的第一陀螺仪、和检测绕横轴旋转的旋转角速度的第二陀螺仪的装置。
另外，日本特开2008-20668号公报(专利文献15)公开了沿光轴方向驱动透镜的透镜驱动装置。该专利文献15所公开的透镜驱动装置包括：固定于透镜支承体的外周的多个线圈体、和与线圈体相对设置的磁体单元。磁体单元在径向上分极为N极和S极且在透镜的光轴方向上具有不同的磁极N、S。线圈体与磁极对应地设于磁体单元，在相邻的线圈体中流过彼此相反方向的电流。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2004-274242号公报
专利文献2：日本特开2009-145771号公报
专利文献3：日本特开2006-65352号公报
专利文献4：日本特开2008-26634号公报
专利文献5：日本特开2006-215095号公报
专利文献6：日本特开2008-15159号公报
专利文献7：日本特开2007-212876号公报
专利文献8：日本特开2007-17957号公报
专利文献9：日本特开2007-17874号公报
专利文献10：日本特开平11-64905号公报
专利文献11：日本特开2007-41455号公报
专利文献12：日本特开2007-93953号公报
专利文献13：日本特开2009-288770号公报(图1至图5)
专利文献14：日本特开2007-142938号公报(段落0005、段落0006、图2)
专利文献15：日本特开2008-20668号公报
发明内容
发明要解决的问题
因为上述专利文献1所公开的“传感器移动方式”的抖动校正装置(数码相机)中，CCD移动单元(可动机构)较大，所以在尺寸(外形、高度)方面难以将其适用于移动电话用小型相机。
另一方面，因为上述专利文献2至9所公开的“透镜移动方式”的像模糊校正装置(抖动校正装置)均是在与光轴垂直的平面内对校正透镜进行移动调整，所以存在构造复杂且不适宜小型化的问题。
另外，由于专利文献10所公开的“软件方式”的抖动校正方法存在与光学式相比画质较差的问题，还存在拍摄时间也包括软件的处理，花费较长时间的缺点。
另一方面，在专利文献11所公开的“光学单元倾斜方式”的像模糊校正装置中，需要以包括内框架和外框架的框架构造覆盖透镜组件。其结果，存在像模糊校正装置成为大型的问题。在专利文献12所公开的“光学单元倾斜方式”的抖动校正装置中，也需要以内框架、中间框架和外框架覆盖相机组件。其结果，抖动校正装置成为大型。而且，在“光学单元倾斜方式”中，还存在：由于存在旋转轴，产生孔-轴之间的摩擦，所以产生磁滞(hysteresis)的问题。在专利文献13所公开的“光学单元倾斜方式”的摄像用光学装置中，除了需要透镜驱动用磁体之外，还需要摄像单元驱动用磁体。其结果，存在摄像用光学装置成为大型的问题。
另外，专利文献14所公开的移动信息终端设备仅公开了使用陀螺仪等角速度传感器作为抖动传感器。
另外，专利文献15仅公开了沿光轴方向驱动透镜的透镜驱动装置。
因而，本发明的解决课题在于提供能够实现小型且薄型化的抖动校正装置。
本发明的其他的目的随着说明的进行而明确。
对本发明的典型的方式的要点进行说明，抖动校正装置通过使用于使透镜镜筒沿光轴移动的自动聚焦用透镜驱动装置整体或其可动部沿与光轴正交且彼此正交的第一方向和第二方向移动，从而校正抖动。自动聚焦用透镜驱动装置包括聚焦线圈和与该聚焦线圈相对设置且相对于光轴设置于聚焦线圈的径向外侧的永磁体。根据本发明的典型的方式，抖动校正装置具有：基座，在自动聚焦用透镜驱动装置的底面部隔开地设置；多根吊线，一端固定于该基座的外周部，且沿着光轴延伸，支承该自动聚焦用透镜驱动装置整体或其可动部；以及抖动校正用线圈，与永磁体相对设置。
对于本发明，因为将自动聚焦用透镜驱动装置的永磁体作为抖动校正装置的永磁体共用，所以能够实现小型且薄型化。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式的抖动校正装置的分解立体图。
图2是表示图1所示的抖动校正装置所使用的自动聚焦用透镜驱动装置20的分解立体图。
图3是表示去除了保护罩而表示图1所示的抖动校正装置的组装立体图。
图4是表示控制图1至图3所示的抖动校正装置的抖动校正致动器的结构的方框图。
图5是本发明的第二实施方式的抖动校正装置的外观立体图。
图6是图5所示的抖动校正装置的纵剖视图。
图7是表示图5所示的抖动校正装置的分解立体图。
图8是表示图5所示的抖动校正装置所使用的自动聚焦用透镜驱动装置的分解立体图。
图9是图6以及图7所示的抖动校正装置所使用的磁路的立体图。
图10是图9所示的磁回路的纵剖视图。
图11是省略了图9所示的磁回路中的4片第一永磁体片和第一聚焦线圈而表示的俯视图。
图12是本发明的第三实施方式的抖动校正装置的外观立体图。
图13是图12所示的抖动校正装置的纵剖视图。
图14是表示图12所示的抖动校正装置的分解立体图。
图15是表示图12所示的抖动校正装置所使用的自动聚焦用透镜驱动装置的可动部的分解立体图。
图16是表示图12的抖动校正装置所使用的位置检测单元的位置信息单元的俯视图。
图17是表示在图6所示的抖动校正装置中使用光学式位置检测单元作为位置检测单元的变形例的纵剖视图。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的实施方式。
参照图1至图3，说明本发明的第一实施方式的抖动校正装置10。图1是表示抖动校正装置10的分解立体图。图2是表示图1所示的抖动校正装置10所使用的自动聚焦用透镜驱动装置20的分解立体图。图3是表示去除了保护罩而表示图1所示的抖动校正装置10的组装立体图。
在此，如图1至图3所示那样，使用正交坐标系(X、Y、Z)。在图1至图3所示的状态下，正交坐标系(X、Y、Z)中，X轴方向是前后方向(进深方向)，Y轴方向是左右方向(宽度方向)，Z轴方向是上下方向(高度方向)。并且，在图1至图3所示的例子中，上下方向Z是透镜的光轴O方向。另外，在本第一实施方式中，X轴方向(前后方向)也称为第一方向，Y轴方向(左右方向)也称为第二方向。
但是，实际使用状况下，光轴O方向即Z轴方向成为前后方向。换言之，Z轴的上方向成为前方向，Z轴的下方向成为后方向。
图示的抖动校正装置10是通过校正利用移动电话用小型相机拍摄静止图像时所产生的抖动(振动)而能够拍摄无像模糊的图像的装置。抖动校正装置10是通过使自动聚焦用透镜驱动装置20整体沿与光轴O正交且彼此正交的第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)移动而校正抖动的装置。
自动聚焦用透镜驱动装置20用于使透镜镜筒12沿光轴O移动。从自动聚焦用透镜驱动装置20的底面隔开地设置基座印刷电路板(基座)14。该基座印刷电路板14的下部(后部)搭载有未图示的设置于摄像基板上的摄像元件。该摄像元件摄像由透镜镜筒12成像的被摄体并变换为电信号。摄像元件例如由CCD(charge coupled device，电荷耦合器件)型图像传感器、CMOS(complementary metal oxide semiconductor，互补金属氧化物半导体)型图像传感器等构成。因而，通过组合透镜驱动装置20、摄像基板和摄像元件构成相机组件。
接着，参照图2说明自动聚焦用透镜驱动装置20。
自动聚焦用透镜驱动装置20包括：具有用于保持透镜镜筒12的筒状部240的透镜保持架24；以位于筒状部240的周围的方式固定于该透镜保持架24的聚焦线圈26；保持与该聚焦线圈26相对地设置于聚焦线圈26的外侧的永磁体28的磁体保持架30；以及设于透镜保持架24的筒状部240的光轴O方向两侧的一对板簧32、34。一对板簧32、34以透镜保持架24在径向被定位的状态下透镜保持架24能够沿光轴O方向位移的方式支承该透镜保持架24。一对板簧32、34中的一侧的板簧32被称为上侧板簧，另一侧的板簧34被称为下侧板簧。
另外，如上述那样，在实际的使用状况下，Z轴方向(光轴O方向)的上方向成为前方向，Z轴方向(光轴O方向)的下方向成为后方向。因而，上侧板簧32也被称为前侧弹簧，下侧板簧34也被称为后侧弹簧。
磁体保持架30呈八边筒状。即，磁体保持架30具有八边筒形状的外筒部302；设于该外筒部302的上端(前端)的八边形的上侧环状端部304；以及设于外筒部302的下端(后端)的八边形的下侧环状端部306。上侧环状端部304具有向上方突出的八个上侧突起304a。下侧环状端部306也具有向下方突出的八个下侧突起306a。
聚焦线圈26呈与八边筒状的磁体保持架30的形状相匹配的八边筒状。永磁体28包含沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此隔开地设置于磁体保持架30的八边筒形状的外筒部302的4片矩形状的永磁体片282。总之，永磁体28与聚焦线圈26隔有间隔地设置。
上侧板簧(前侧弹簧)32设置于透镜保持架24的光轴O方向上侧(前侧)，下侧板簧(后侧弹簧)34设置于透镜保持架24的光轴O方向下侧(后侧)。上侧板簧(前侧弹簧)32与下侧板簧(后侧弹簧)34具有大致相同的结构。
上侧板簧(前侧弹簧)32具有安装于透镜保持架24的上端部的上侧内圈部322、和安装于磁体保持架30的上侧环状端部304的上侧外圈部324。在上侧内圈部322与上侧外圈部324之间设有四个上侧臂部326。即，四个臂部326连接上侧内圈部322与上侧外圈部324。
上侧外圈部324具有分别与磁体保持架30的八个上侧突起304a卡合的八个卡合缺口324a。在上侧板簧(前侧弹簧)32的上部设置环状的上侧印刷电路板(上侧基板)36。上侧印刷电路板36具有分别供磁体保持架30的八个上侧突起304a压入(嵌入)的八个上侧基板孔36a。即，磁体保持架30的八个上侧突起304a分别经由上侧外圈部324的八个卡合缺口324a，压入(嵌入)上侧印刷电路板36的八个上侧基板孔36a。即，上侧板簧(前侧弹簧)32的上侧外圈部324被夹持而固定在磁体保持架30的上侧环状端部304与上侧印刷电路板36之间。
同样，下侧板簧(后侧弹簧)34具有安装于透镜保持架24的下端部的下侧内圈部(未图示)、和安装于磁体保持架30的下侧环状端部306的下侧外圈部344。在下侧内圈部与上侧外圈部344之间设有四个下侧臂部(未图示)。即，四个下侧臂部连接下侧内圈部与下侧外圈部344。
下侧外圈部344具有分别与磁体保持架30的八个下侧突起306a卡合的八个下侧卡合缺口344a。在下侧板簧(后侧弹簧)34的下部设置环状的止动件38。止动件38具有分别供磁体保持架30的八个下侧突起306a压入(嵌入)的八个止动件缺口38a。即，磁体保持架30的八个下侧突起306a分别经由下侧外圈部344的八个卡合缺口344a，压入(嵌入)止动件38的八个止动件缺口38a。即，下侧板簧(后侧弹簧)34的下侧外圈部344被夹持而固定在磁体保持架30的下侧环状端部306与止动件38之间。
包括上侧板簧32和下侧板簧34的弹性部件作为引导透镜保持架24使其仅沿光轴O方向移动的引导单元而发挥作用。上侧板簧32和下侧板簧34分别由铍青铜、磷青铜等构成。
在透镜保持架24的筒状部240的内周壁上切削有内螺纹242。另一方面，在透镜镜筒12的外周壁上切削有与上述内螺纹242相配的外螺纹122。因而，为了在透镜保持架24上安装透镜镜筒12，通过使透镜镜筒12相对于透镜保持架24的筒状部240绕光轴O旋转并沿光轴O方向旋入，将透镜镜筒12收容于透镜保持架24内，并利用粘接剂等彼此接合。
通过对聚焦线圈26通电，在永磁体28的磁场与由聚焦线圈26中流过的电流产生的磁场相互作用下，能够对透镜保持架24(透镜镜筒12)沿光轴O方向进行位置调整。
接着，参照图1以及图3，说明抖动校正装置10。
抖动校正装置10具有一端被固定于基座印刷电路板(基座)14的四角部的4根吊线16、和与上述自动聚焦用透镜驱动装置20的永磁体28相对地设置于永磁体28的外侧的抖动校正用线圈18。
4根吊线16沿光轴O延伸，以自动聚焦用透镜驱动装置20整体能够沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置20整体。4根吊线16的另一端固定于上述自动聚焦用透镜驱动装置20的上侧印刷电路板36。详细而言，上侧印刷电路板36具有供4根吊线16的另一端插入(嵌入)的四个线固定用孔36b。将4根吊线16的另一端插入(嵌入)到上述四个线固定用孔36b中，并利用粘接剂、焊锡等固定。
4根吊线16中的两根吊线也使用于对聚焦线圈26供电。
如上述那样，永磁体28由沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相对地设置的4片永磁体片282构成。
抖动校正装置10包括与4片永磁体片282分别相对地隔开设置的四个线圈基板40。在上述四个线圈基板40上形成有上述抖动校正用线圈18。
详细而言，在各线圈基板40的两端部形成有一对抖动校正用线圈18。因而，合计具有八个抖动校正用线圈18。
形成于在第二方向(左右方向)Y上彼此相对设置的两个线圈基板40上的四个抖动校正用线圈18用于使自动聚焦用透镜驱动装置20沿第一方向(前后方向)X移动(摇动)。
这样的四个抖动校正用线圈18被称为第一方向致动器18(1)。
另一方面，形成于在第一方向(前后方向)X上彼此相对设置的两个线圈基板40上的四个抖动校正用线圈18用于使自动聚焦用透镜驱动装置20沿第二方向(左右方向)Y移动(摇动)。这样的四个抖动校正用线圈18被称为第二方向致动器18(2)。
总之，抖动校正用线圈18用于与永磁体28配合，沿X轴方向(第一方向)和Y轴方向(第二方向)驱动自动聚焦用透镜驱动装置20整体。另外，抖动校正用线圈18与永磁体28的组合作为音圈电机而发挥作用。
这样，图示的抖动校正装置10通过使收容于自动聚焦用透镜驱动装置20的透镜镜筒12本身沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y移动，校正抖动。因而，抖动校正装置10被称为“镜筒移动方式”的抖动校正装置。
抖动校正装置10还包括：包含了覆盖四个线圈基板40的四边筒部422的保护罩42。在图示的例子中，如图1所示那样，四个线圈基板40安装于保护罩42的四边筒部422的内壁上。
图示的抖动校正装置10还包括用于检测自动聚焦用透镜驱动装置20相对于基座印刷电路板14的位置的位置检测单元50。图示的位置检测单元50由安装在基座印刷电路板14上的四个霍尔元件50构成。上述四个霍尔元件50分别与4片永磁体片282隔开地相对设置。
在第一方向(前后方向)X上相对设置的一对霍尔元件50通过检测与该一对霍尔元件50相对的一对永磁体片282的磁力，检测跟随第一方向(前后方向)X的移动(摇动)的第一位置。在第二方向(左右方向)Y上相对设置的一对霍尔元件50通过检测与该一对霍尔元件50相对的一对永磁体片282的磁力，检测跟随第二方向(左右方向)Y的移动(摇动)的第二位置。
图4是表示对抖动校正装置10进行控制的抖动校正致动器600的结构的方框图。抖动校正装置10搭载于带相机的移动电话(未图示)中。
在带相机的移动电话的壳体(未图示)中，设有用于检测第一方向(前后方向)X的抖动的第一方向陀螺仪602、和用于检测第二方向(左右方向)Y的抖动的第二方向陀螺仪604。
第一方向陀螺仪602检测第一方向(前后方向)X的角速度，并输出表示检测到的第一方向(前后方向)X的角速度的第一角速度信号。第二方向陀螺仪604检测第二方向(左右方向)Y的角速度，并输出表示检测到的第二方向(左右方向)Y的角速度的第二角速度信号。第一角速度信号以及第二角速度信号被提供给抖动校正控制单元606。快门按钮608将快门操作指令信号提供给抖动校正控制单元606。
抖动校正控制单元606具有根据第一角速度信号以及第二角速度信号检测带相机的移动电话的壳体的抖动的抖动检测电路612、和接受快门操作指令信号的时序控制电路614。抖动检测电路612包含滤波电路和放大电路。抖动检测电路612将抖动检测信号提供给抖动量检测电路616。抖动量检测电路616根据抖动检测信号检测带相机的移动电话的壳体的抖动量，并将抖动量检测信号输出到系数变换电路618。系数变换电路618对抖动量检测信号进行系数变换，并将系数变换了的信号输出到控制电路620。来自设于抖动校正装置10的位置检测单元(位置传感器)50的位置检测信号被提供给该控制电路620。
控制电路620响应系数变换了的信号，基于位置检测信号，输出控制信号以抵消由抖动检测电路612检测到的抖动。时序控制电路614响应快门操作指令信号，控制抖动量检测电路616、系数变换电路618和控制电路620的动作时机。控制信号被提供给驱动电路622。
如上述那样，抖动校正装置10，包括用于使自动聚焦用透镜驱动装置20整体沿第一方向(前后方向)X移动(摇动)的第一方向致动器18(1)、和用于使自动聚焦用透镜驱动装置20整体沿第二方向(左右方向)Y移动(摇动)的第二方向致动器18(2)作为音圈电机。总之，抖动校正装置10包含第一方向致动器18(1)和第二方向致动器18(2)。
驱动电路622响应控制信号，驱动第一方向致动器18(1)和第二方向致动器18(2)。
通过这样的结构，抖动校正装置10能够使自动聚焦用透镜驱动装置20整体移动(摇动)从而抵消带相机的移动电话的壳体的抖动。其结果，能够校正抖动。
如上所述的本发明的第一实施方式的抖动校正装置10发挥以下说明的效果。
因为在自动聚焦用透镜驱动装置20上设置抖动校正装置10，共用永磁体28，所以能够削减元件件数。其结果，能够缩小(降低)抖动校正装置10的尺寸(主要是高度)。
在光学单元倾斜方式的抖动校正装置中，由于存在旋转轴，所以产生孔-轴之间的摩擦从而产生磁滞。相对于此，在本第一实施方式的抖动校正装置10中，因为利用4根吊线16机械地支承自动聚焦用透镜驱动装置20整体，所以不易产生磁滞。
与以往的光学式抖动校正方式(透镜移动方式、传感器移动方式、光学单元倾斜方式)的抖动校正装置相比，因为采用镜筒移动方式，所以能够使抖动校正装置10的尺寸(主要是高度)与自动聚焦用透镜驱动装置20大致相等。其结果，能够将本第一实施方式的抖动校正装置10搭载于移动电话用光学抖动校正相机中。
另外，在第一实施方式中，作为位置检测单位(位置传感器)，使用了由霍尔元件50构成的磁式位置检测单元，但是也可以使用光反射器等光学式位置检测单元那样的其他位置检测单元(位置传感器)替代霍尔元件50。
另外，在上述第一实施方式中，永磁体28由在第一方向X和第二方向Y上彼此相对设置的4片永磁体片282构成，但是永磁体片的数量不限定于4片，例如也可以由不仅在第一方向和第二方向上而且在对角线方向上也相对设置的8片永磁体片构成。在该情况下，抖动校正用线圈18的个数、线圈基板40的个数也与永磁体片282的片数对应地变更。另外，在上述第一实施方式中，4根吊线16的一端固定于基座14的四角部，但是也可以固定于基座14的外周部。而且，吊线16的根数也不限定于4根，也可以是多根。
参照图5至图8，说明本发明的第二实施方式的抖动校正装置10A。图5是抖动校正装置10A的外观立体图。图6是抖动校正装置10A的纵剖视图。图7是表示抖动校正装置10A的分解立体图。图8是表示图5所示的抖动校正装置10A所使用的自动聚焦用透镜驱动装置20A的分解立体图。
在此，如图5至图8所示那样，使用正交坐标系(X、Y、Z)。在图5至图8所示的状态下，正交坐标系(X、Y、Z)中，X轴方向是前后方向(进深方向)，Y轴方向是左右方向(宽度方向)，Z轴方向是上下方向(高度方向)。并且，在图5至图8所示的例子中，上下方向Z是透镜的光轴O方向。另外，在本第二实施方式中，X轴方向(前后方向)也称为第一方向，Y轴方向(左右方向)也称为第二方向。
但是，实际使用状况下，光轴O方向即Z轴方向成为前后方向。换言之，Z轴的上方向成为前方向，Z轴的下方向成为后方向。
图示的抖动校正装置10A是通过校正利用移动电话用小型相机拍摄静止图像时所产生的抖动(振动)而能够拍摄无像模糊的图像的装置。抖动校正装置10A是通过使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体沿与光轴O正交且彼此正交的第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)移动而校正抖动的装置。
自动聚焦用透镜驱动装置20A用于使透镜镜筒12A沿光轴O移动。从自动聚焦用透镜驱动装置20A的底部向径向外侧隔开地设置基座14A。在该基座14A的下部(后部)搭载有未图示的设置于摄像基板上的摄像元件。该摄像元件摄像由透镜镜筒12A成像的被摄体并变换为电信号。摄像元件例如由CCD型图像传感器、CMOS型图像传感器等构成。因而，通过组合透镜驱动装置20A、摄像基板和摄像元件构成相机组件。
基座14A由外形是四边形且内部具有圆形开口的环形状的基部142A和从该基部142A的外缘向光轴O方向的上侧突出的四边筒形状的筒状部144A构成。
抖动校正装置10A具有：4根吊线16A，其一端固定于基座14A的基部142A的四角部；以及抖动校正用线圈18A，其如后述那样地与后述的自动聚焦用透镜驱动装置20A的永磁体28A相对设置。
4根吊线16A沿光轴O延伸，以自动聚焦用透镜驱动装置20A整体能够沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置20A整体。4根吊线16A的另一端如后述那样地固定于上述自动聚焦用透镜驱动装置20A的上端部。
抖动校正装置10A如后述那样包括与永磁体28A相对地隔开设置的一个四边环形状的线圈基板40A。该线圈基板40A安装于基座14A的筒状部144A的上端。在该线圈基板40A上形成有上述抖动校正用线圈18A。
接着，参照图8说明自动聚焦用透镜驱动装置20A。
自动聚焦用透镜驱动装置20A包括：具有用于保持透镜镜筒12A的筒状部240A的透镜保持架24A；以位于筒状部240A的周围的方式固定于该透镜保持架24A上的第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2；保持与这些第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2相对地设置于第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2的外侧的永磁体28A的磁体保持架30A；以及设于透镜保持架24A的筒状部240A的光轴O方向两侧的一对板簧32A、34A。
第一聚焦线圈26A-1安装于透镜保持架24A的筒状部240A的光轴O方向的上侧，第二聚焦线圈26A-2安装于透镜保持架24A的筒状部240A的光轴O方向的下侧。
一对板簧32A、34A以透镜保持架24A在径向被定位的状态下透镜保持架24A能够沿光轴O方向位移的方式支承该透镜保持架24A。一对板簧32A、34A中的一侧的板簧32A被称为上侧板簧，另一侧的板簧34A被称为下侧板簧。
另外，如上述那样，在实际的使用状况下，Z轴方向(光轴O方向)的上方向成为前方向，Z轴方向(光轴O方向)的下方向成为后方向。因而，上侧板簧32A也被称为前侧弹簧，下侧板簧34A也被称为后侧弹簧。
磁体保持架30A呈八边筒状。即，磁体保持架30A具有八边筒形状的外筒部302A；设于该外筒部302A的上端(前端)的四边形的上侧环状端部304A；以及设于外筒部302A的下端(后端)的八边形的下侧环状端部306A。
第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2分别呈与八边筒状的磁体保持架30A的形状相匹配的八边筒状。永磁体28A由在第一方向(前后方向)X、第二方向(左右方向)Y和上下方向Z彼此隔开地设置于磁体保持架30A的八边筒形状的外筒部302A的8片矩形状的永磁体片构成。在上述8片矩形状永磁体中，4片第一永磁体片282A-1设置于外筒部302A的光轴O方向的上侧，其余的4片第二永磁体片282A-2设置于外筒部302A的光轴O方向的下侧。4片第一永磁体片282A-1与第一聚焦线圈26A-1隔有间隔地设置，4片第二永磁体片282A-2与第二聚焦线圈26A-2隔有间隔地设置。
上侧板簧(前侧弹簧)32A设置于透镜保持架24A的光轴O方向上侧(前侧)，下侧板簧(后侧弹簧)34A设置于透镜保持架24A的光轴O方向下侧(后侧)。上侧板簧(前侧弹簧)32A与下侧板簧(后侧弹簧)34A具有大致相同的结构。
上侧板簧(前侧弹簧)32A具有安装于透镜保持架24A的上端部的上侧内圈部322A、和安装于磁体保持架30A的上侧环状端部304A的上侧外圈部324A。在上侧内圈部322A与上侧外圈部324A之间设有四个上侧臂部326A。即，四个臂部326A连接上侧内圈部322A与上侧外圈部324A。
上侧外圈部324A具有供上述4根吊线16A的另一端插入(嵌入)的四个线固定用孔324Aa。
同样，下侧板簧(后侧弹簧)34A具有安装于透镜保持架24A的下端部的下侧内圈部342A、和安装于磁体保持架30A的下侧环状端部306A的下侧外圈部344A。在下侧内圈部342A与上侧内圈部344A之间设有四个下侧臂部346A。即，四个下侧臂部346A连接下侧内圈部342A与下侧外圈部344。
包括上侧板簧32A和下侧板簧34A的弹性部件作为引导透镜保持架24A使其仅沿光轴O方向移动的引导单元而发挥作用。上侧板簧32A和下侧板簧34A分别由铍青铜、磷青铜等构成。
在透镜保持架24A的筒状部240A的内周壁上切削有内螺纹(未图示)。另一方面，在透镜镜筒12A的外周壁上切削有与上述内螺纹相配的外螺纹(未图示)。因而，为了在透镜保持架24A上安装透镜镜筒12A，通过使透镜镜筒12A相对于透镜保持架24A的筒状部240A绕光轴O旋转并沿光轴O方向旋入，将透镜镜筒12A收容于透镜保持架24A内，并利用粘接剂等彼此接合。
如后述那样，通过在第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2中分别流过第一自动聚焦(AF)电流和第二自动聚焦(AF)电流，在永磁体28A的磁场与由第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2中流过的AF电流产生的磁场相互作用下，能够对透镜保持架24A(透镜镜筒12A)沿光轴O方向进行位置调整。
接着，参照图6和图7，更详细地说明抖动校正装置10A。
抖动校正装置10A如上述那样具有一端被固定于基座14A的基部142A的四角部的4根吊线16A、和与上述自动聚焦用透镜驱动装置20A的永磁体28A相对设置的抖动校正用线圈18A。
4根吊线16A沿光轴O延伸，以自动聚焦用透镜驱动装置20A整体能够沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置20A整体。4根吊线16A的另一端固定于上述自动聚焦用透镜驱动装置20A的上端部。
详细而言，如上述那样，上侧板簧32A的上侧外圈部324A具有供4根吊线16A的另一端插入(嵌入)的四个线固定用孔324Aa(参照图8)。另外，磁体保持架30A的上侧环状端部304A具有供4根吊线16A的另一端插入的四个线插入用孔304Aa(参照图8)。将4根吊线16A的另一端经由上述四个线插入用孔304Aa插入(嵌入)四个线固定用孔324Aa中，并利用粘接剂、焊锡等固定。
4根吊线16A也用于对第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2进行供电。
如上述那样，永磁体28A由在第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相对且沿光轴O方向上下隔开地设置的4片第一永磁体片282A-1和4片第二永磁体片282A-2构成。
抖动校正装置10A包括插入4片第一永磁体片282A-1与4片第二永磁体片282A-2之间，并隔开地设置的一个环状线圈基板40A。线圈基板40A在其四角具有供4根吊线16A穿过的贯穿孔40Aa。在该一个线圈基板40A上形成有上述抖动校正用线圈18A。
详细而言，在线圈基板40A上作为抖动校正用线圈18A形成有四个抖动校正用线圈18Af、18Ab、18Al和18Ar(参照图9)。
在第一方向(前后方向)X上彼此相对设置的两个抖动校正用线圈18Af和18Ab用于使自动聚焦用透镜驱动装置20A沿第一方向(前后方向)X移动(摇动)。这样的两个抖动校正用线圈18Af和18Ab被称为第一方向致动器。另外，在此，将对于光轴O位于前侧的抖动校正用线圈18Af称为“前侧抖动校正用线圈”，将对于光轴O位于后侧的抖动校正用线圈18Ab称为“后侧抖动校正用线圈”。
另一方面，在第二方向(左右方向)Y上彼此相对设置的两个抖动校正用线圈18Al和18Ar用于使自动聚焦用透镜驱动装置20A沿第二方向(左右方向)Y移动(摇动)。这样的两个抖动校正用线圈18Al和18Ar被称为第二方向致动器。另外，在此，将对于光轴O位于左侧的抖动校正用线圈18Al称为“左侧抖动校正用线圈”，将对于光轴O位于右侧的抖动校正用线圈18Ar称为“右侧抖动校正用线圈”。
总之，四个抖动校正用线圈18Af、18Ab、18Al和18Ar用于与永磁体28A配合，沿X轴方向(第一方向)和Y轴方向(第二方向)驱动自动聚焦用透镜驱动装置20A整体。另外，抖动校正用线圈18Af、18Ab、18Al和18Ar与永磁体28A的组合作为音圈电机发挥作用。
这样，图示的抖动校正装置10A通过使收容于自动聚焦用透镜驱动装置20A的透镜镜筒12A本身沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y移动，校正抖动。因而，抖动校正装置10A被称为“镜筒移动方式”的抖动校正装置。
抖动校正装置10A还包括：包含了覆盖自动聚焦用透镜驱动装置20A的上部(4片第一永磁体片282A-1)的四边筒部422A的罩42A。
图示的抖动校正装置10A还包括用于检测自动聚焦用透镜驱动装置20A相对于基座14A的位置的位置检测单元50A。图示的位置检测单元50A包括磁式位置检测单元，该磁式位置检测单元由安装在基座14A的基部142A上的两个霍尔元件50A构成。上述两个霍尔元件50A与4片第二永磁体片282A-2中的两片永磁体片分别隔开地相对设置。如图10所示那样，各霍尔元件50A被设置成横穿从第二永磁体片282A-2的N极至S极的方向。
在相对于光轴O第一方向(前后方向)X上设置的一个霍尔元件50A通过检测与该一个霍尔元件50A相对的一片第二永磁体片282A-2的磁力，检测跟随第一方向(前后方向)X的移动(摇动)的第一位置。相对于光轴O在第二方向(左右方向)Y上设置的一个霍尔元件50A通过检测与该一个霍尔元件50A相对的一片第二永磁体片282A-2的磁力，检测跟随第二方向(左右方向)Y的移动(摇动)的第二位置。
另外，在第二实施方式的抖动校正装置10A中，使用了由两个霍尔元件50A构成的磁式位置检测单元作为位置检测单元50A，但是也可以如上述第一实施方式的抖动校正装置10那样，采用由四个霍尔元件50构成的磁式位置检测单元。
参照图9至图11，详细地说明图6和图7所示的抖动校正装置10A所使用的磁路。图9是磁路的立体图，图10是磁路的纵剖视图。图11是省略了磁路中的4片第一永磁体片282A-2和第一聚焦线圈26A-1而表示的俯视图。
4片第一永磁体片282A-1和4片第二永磁体片282A-2在透镜保持架24A的径向外侧和内侧，分别磁化为相邻彼此不同的磁极。例如，如图10所示那样，第一永磁体片282A-1内侧磁化为S极，外侧磁化为N极，第二永磁体片282A-2内侧磁化为N极，外侧磁化为S极。图10所示的箭头表示由这些永磁体片282A-1、282A-2产生的磁通量的方向。
接着，参照图9说明对透镜保持架24A(透镜镜筒12A)沿光轴O方向进行位置调整的情况的动作。
在第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2中，沿彼此相反方向分别流过第一AF电流和第二AF电流。例如，如图9所示那样，在第一聚焦线圈26A-1中，以顺时针旋转的方式流过以箭头IAF1所示那样的第一AF电流，在第二聚焦线圈26A-2中，以逆时针旋转的方式流过以箭头IAF2所示那样的第二AF电流。
在该情况下，按照弗来明左手定则，如图9所示那样，在第一聚焦线圈26A-1中作用为以箭头IAF1所示那样的上方向的电磁力，也在第二聚焦线圈26A-2中作用为以箭头IAF2所示那样的上方向的电磁力。其结果，能够使透镜保持架24A(透镜镜筒12A)向光轴O方向的上方移动。
相反地，通过在第一聚焦线圈26A-1中以逆时针旋转的方式流过第一AF电流，在第二聚焦线圈26A-2中以顺时针旋转的方式流过第二AF电流，能够使透镜保持架24A(透镜镜筒12A)向光轴O方向的下方移动。
接着，参照图11，说明使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体沿第一方向(前后方向)X或第二方向(左右方向)Y移动的情况的动作。
首先，说明使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体向第二方向(左右方向)Y的右侧移动的情况的动作。在该情况下，如图11所示那样，在左侧抖动校正用线圈18Al中，以顺时针旋转的方式流过如箭头IIS1所示那样的第一抖动校正(IS)电流，在右侧抖动校正用线圈18Ar中，以逆时针旋转的方式流过如箭头IIS2所示那样的第二抖动校正(IS)电流。
在该情况下，按照弗来明左手定则，在左侧抖动校正用线圈18Al中作用为左方向的电磁力，也在右侧抖动校正用线圈18Ar中作用为左方向的电磁力。可是，因为这些抖动校正用线圈18Al和18Ar固定于基座14A，所以作为其反作用力，在自动聚焦用透镜驱动装置20A整体中作用为如图11的箭头FIS1和FIS2所示那样的、右方向的电磁力。其结果，能够使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体向右方向移动。
相反地，通过在左侧抖动校正用线圈18Al中以逆时针旋转的方式流过第一IS电流，在右侧抖动校正用线圈18Ar中以顺时针旋转的方式流过第二IS电流，能够使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体向左方向移动。
另一方面，通过在后侧抖动校正用线圈18Ab中以顺时针旋转的方式流过第三IS电流，在前侧抖动校正用线圈18Af中以逆时针旋转的方式流过第四IS电流，能够使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体向前方向移动。
另外，通过在后侧抖动校正用线圈18Ab中以逆时针旋转的方式流过第三IS电流，在前侧抖动校正用线圈18Af中以顺时针旋转的方式流过第四IS电流，能够使自动聚焦用透镜驱动装置20A整体向后方向移动。
这样，能够校正相机的抖动。
对于如上述那样的、本发明的第二实施方式的抖动校正装置10A，发挥如下说明那样的效果。
因为在自动聚焦用透镜驱动装置20A上设置抖动校正装置10A，共用永磁体28A，所以能够削减元件件数。其结果，能够缩小(降低)抖动校正装置10A的尺寸(主要是高度)。
在光学单元倾斜方式的抖动校正装置中，由于存在旋转轴，所以产生孔-轴之间的摩擦从而产生磁滞。相对于此，在本第二实施方式的抖动校正装置10A中，因为利用4根吊线16A机械地支承自动聚焦用透镜驱动装置20A整体，所以不易产生磁滞。
与以往的光学式抖动校正方式(透镜移动方式、传感器移动方式、光学单元倾斜方式)的抖动校正装置相比，因为采用镜筒移动方式，所以能够使抖动校正装置10A的尺寸(主要是高度)与自动聚焦用透镜驱动装置20A大致相等。其结果，能够将本第二实施方式的抖动校正装置10A搭载于移动电话用光学抖动校正相机中。
另外，因为在上侧的4片第一永磁体片282A-1与下侧的4片第二永磁体片282A-2之间设置抖动校正用线圈18A，所以能够实现高灵敏度的致动器。
另外，在第二实施方式中，作为位置检测单位(位置传感器)，使用了由两个霍尔元件50A构成的磁式位置检测单元，但是，如后述，也可以使用光反射器等光学式位置检测单元那样的其他位置检测单元(位置传感器)替代霍尔元件50A。
在上述第二实施方式中，永磁体片28A由在第一方向X和第二方向Y上彼此相对并沿光轴O方向上下隔开地设置的4片第一永磁体片282A-1和4片第二永磁体片282A-2构成，但是第一永磁体片和第二永磁体片各自的片数不限定于4片，例如也可以由不仅在第一方向和第二方向上而且在对角线方向上也相对地设置的8片永磁体片构成。在该情况下，抖动校正用线圈18A的个数也变更为八个。另外，在上述第二实施方式中，4根吊线16A自基座14A的基部142A的四角部竖立设置，但是可以自基部142A的外周部竖立设置。而且，吊线16A的根数也不限定于4根，可以是多根。
上述第一实施方式和第二实施方式的抖动校正装置10和10A采用永磁体18和18A移动(可动)的“移动磁体方式”。可是，作为抖动校正装置，也可以采用线圈移动(可动)的“移动线圈方式”。由此，能够实现自动聚焦用相机驱动装置的可动部的轻量化。
参照图12至图15，说明本发明的第三实施方式的抖动校正装置10B。图12是抖动校正装置10B的外观立体图。图13是抖动校正装置10B的纵剖视图。图14是表示抖动校正装置10B的分解立体图。图15是表示图12所示的抖动校正装置10B所使用的自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部的分解立体图。
在此，如图12至图15所示，使用正交坐标系(X、Y、Z)。在图12至图15所示的状态下，正交坐标系(X、Y、Z)中，X轴方向是前后方向(进深方向)，Y轴方向是左右方向(宽度方向)，Z轴方向是上下方向(高度方向)。并且，在图12至图15所示的例子中，上下方向Z是透镜的光轴O方向。另外，在本第三实施方式中，X轴方向(前后方向)也称为第一方向，Y轴方向(左右方向)也称为第二方向。
但是，实际使用状况下，光轴O方向即Z轴方向成为前后方向。换言之，Z轴的上方向成为前方向，Z轴的下方向成为后方向。
图示的抖动校正装置10B是通过校正利用移动电话用小型相机拍摄静止图像时所产生的抖动(振动)而能够拍摄无像模糊的图像的装置。抖动校正装置10B是通过使自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部沿与光轴O正交且彼此正交的第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)移动而校正抖动的装置。图示的抖动校正装置10B是采用了“移动线圈方式”的抖动校正装置。
自动聚焦用透镜驱动装置20B用于使透镜镜筒(未图示)沿光轴O移动。从自动聚焦用透镜驱动装置20B的底部向径向外侧隔开地设置基座14B。在该基座14B的下部(后部)搭载未图示的设置于摄像基板上的摄像元件。该摄像元件拍摄由透镜镜筒成像的被摄体并变换为电信号。摄像元件例如由CCD型图像传感器、CMOS型图像传感器等构成。因而，由透镜驱动装置20B、摄像基板和摄像元件的组合构成相机组件。
基座14B由外形是四边形且内部具有圆形开口的环形状的基部142B和从该基部142B的外缘向光轴O方向的上侧突出的具有四个矩形开口144Ba的四边筒形状的筒状部144B。
抖动校正装置10B具有成对地一端固定于基座14B的基部142B的四角部的8根吊线16B、和如后述那样地与后述的自动聚焦用透镜驱动装置20B的永磁体28B相对设置的抖动校正用线圈18B。
8根吊线16B沿光轴O延伸，以自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部能够沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部。8根吊线16B的另一端如后述那样固定于上述自动聚焦用透镜驱动装置20B的上端部。
抖动校正装置10B如后述那样包括与永磁体28B相对地隔开设置的一个四边环形状的线圈基板40B。该线圈基板40B安装在线圈保持架44B上。在该线圈基板40B上形成有上述抖动校正用线圈18B。
线圈保持架44B在四角具有与光轴O方向平行地延伸的四个柱部442B、设于上述四个柱部442B的上端(前端)的大致四边形的上侧环状端部444B、和设于四个柱部442B的下端(后端)的下侧环状端部446B。上侧环状端部444B在四角具有向上方突出的四个上侧突起444Ba。下侧环状端部446B也具有向上方突出的四个下侧突起446Ba。
接着，参照图14和图15说明自动聚焦用透镜驱动装置20B。
自动聚焦用透镜驱动装置20B包括：具有用于保持透镜镜筒的筒状部240B的透镜保持架24B；以位于筒状部240B的周围的方式固定于该透镜保持架24B上的第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2；保持与这些第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2相对地设置于第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2的外侧的永磁体28B的四个磁体保持架30B；以及设于透镜保持架24B的筒状部240B的光轴O方向两侧的一对板簧32B、34B。
第一聚焦线圈26B-1安装于透镜保持架24B的筒状部240B的光轴O方向的上侧，第二聚焦线圈26B-2安装于透镜保持架24B的筒状部240B的光轴O方向的下侧。
一对板簧32B、34B以透镜保持架24B在径向被定位的状态下透镜保持架24B能够沿光轴O方向位移的方式支承该透镜保持架24B。一对板簧32B、34B中的一侧的板簧32B被称为上侧板簧，另一侧的板簧34B被称为下侧板簧。
另外，如上述那样，在实际的使用状况下，Z轴方向(光轴O方向)的上方向成为前方向，Z轴方向(光轴O方向)的下方向成为后方向。因而，上侧板簧32B也被称为前侧弹簧，下侧板簧34B也被称为后侧弹簧。
四个磁体保持架30B嵌入(插入地固定于)基座14B的筒状部144B的四个矩形开口144Ba中。永磁体28B由在四个磁体保持架30B上分别各两个在第一方向(前后方向)X、第二方向(左右方向)和上下方向Z彼此隔开地设置的、8片矩形状的永磁体片构成。在上述8片矩形状永磁体中，4片第一永磁体片282B-1设置于四个磁体保持架30B的光轴O方向的上侧，其余的4片第二永磁体片282B-2设置于四个磁体保持架30B的光轴O方向的下侧。4片第一永磁体片282B-1与第一聚焦线圈26B-1隔有间隔地设置，4片第二永磁体片282B-2与第二聚焦线圈26B-2隔有间隔地设置。
上侧板簧(前侧弹簧)32B设置于透镜保持架24B的光轴O方向上侧(前侧)，下侧板簧(后侧弹簧)34B设置于透镜保持架24B的光轴O方向下侧(后侧)。上侧板簧(前侧弹簧)32B与下侧板簧(后侧弹簧)34B具有大致相同的结构。
上侧板簧(前侧弹簧)32B具有安装于透镜保持架24B的上端部的上侧内圈部322A、和安装于线圈保持架44B的上侧环状端部444B的上侧外圈部324B。在上侧内圈部322B与上侧外圈部324B之间设有四个上侧臂部326B。即，四个臂部326B连接上侧内圈部322B与上侧外圈部324B。
上侧外圈部324B具有供线圈保持架44B的四个上侧突起444Ba分别压入(装入)的四个上侧孔324Ba。即，线圈保持架44B的四个上侧突起444Ba分别压入(装入)上侧板簧32B的上侧外圈部324B的四个上侧孔324Ba。另一方面，在透镜保持架24B的筒状部240B的上端具有四个上侧突起240Ba。上侧内圈部322B具有供该筒状部240B的四个上侧突起240Ba分别压入(装入)的四个上侧孔322Ba。即，透镜保持架24B的筒状部240B的四个上侧突起240Ba分别压入(装入)上侧板簧32B的上侧内圈部322B的四个上侧孔322Ba。
同样，下侧板簧(后侧弹簧)34B具有安装于透镜保持架24B的下端部的下侧内圈部342B、和安装于线圈保持架44B的下侧环状端部446B的下侧外圈部344B。在下侧内圈部342B与下侧外圈部344B之间设有四个下侧臂部346B。即，四个下侧臂部346B连接下侧内圈部342B与下侧外圈部344B。
下侧外圈部344B具有供线圈保持架44B的四个下侧突起446Ba分别压入(装入)的四个下侧孔344Ba。即，线圈保持架44B的四个下侧突起446Ba分别压入(装入)下侧板簧34B的下侧外圈部344B的四个下侧孔344Ba。
包括上侧板簧32B和下侧板簧34B的弹性部件作为能够引导透镜保持架24B使其仅沿光轴O方向移动的引导单元而发挥作用。上侧板簧32B和下侧板簧34B分别由铍青铜、磷青铜等构成。
在透镜保持架24B的筒状部240B的内周壁上切削有内螺纹(未图示)。另一方面，在透镜镜筒的外周壁上切削有与上述内螺纹相配的外螺纹(未图示)。因而，为了在透镜保持架24B上安装透镜镜筒，通过使透镜镜筒相对于透镜保持架24B的筒状部240B绕光轴O旋转并沿光轴O方向旋入，将透镜镜筒收容于透镜保持架24B内，并利用粘接剂等彼此接合。
通过在第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2中分别流过第一自动聚焦(AF)电流和第二自动聚焦(AF)电流，在永磁体28B的磁场与由第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2中流过的第一AF电流和第二AF电流产生的磁场相互作用下，能够对透镜保持架24B(透镜镜筒)沿光轴O方向进行位置调整。
接着，参照图13和图14，更详细地说明抖动校正装置10B。
抖动校正装置10B如上述那样具有成对地一端固定于基座14B的基部142B的四角部的8根吊线16B、和与上述自动聚焦用透镜驱动装置20B的永磁体28B相对设置的抖动校正用线圈18B。
因此，基部142B在其四角部具有供成对的8根吊线16B的一端插入(嵌入)的八个线固定用孔142Ba。
8根吊线16B沿光轴O延伸，以自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部能够沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部。8根吊线16B的另一端固定于上述自动聚焦用透镜驱动装置20B的上端部。
详细而言，线圈保持架44B在上侧环状端部444B的四角还具有向径向外侧突出的四个突出部448B(参照图15)。四个突出部448B分别具有供两根吊线16B的另一端插入(嵌入)的两个线固定用孔448Ba。因而，将8根吊线16B的另一端插入(嵌入)到上述八个线固定用孔448Ba中，并利用粘接剂、焊锡等固定。
另外，在本第三实施方式中，使吊线16B的根数为8根是为了借助上述8根吊线16B，向第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2、以及抖动校正用线圈18B供电。
如上述那样，永磁体28B由在第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相对并沿光轴O方向上下隔开地设置的4片第一永磁体片282B-1和4片第二永磁体片282B-2构成。
抖动校正装置10B包括插入4片第一永磁体片282B-1与4片第二永磁体片282B-2之间，并隔开地设置的一个环状线圈基板40B。在该一个线圈基板40B上形成有上述抖动校正用线圈18B。
详细而言，在线圈基板40B上形成有四个抖动校正用线圈18B。
在第一方向(前后方向)X上彼此相对地设置的两个抖动校正用线圈18B用于使自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部沿第一方向(前后方向)X移动(摇动)。这样的两个抖动校正用线圈18B被称为第一方向致动器。
另一方面，在第二方向(左右方向)Y上彼此相对地设置的两个抖动校正用线圈18B用于使自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部沿第二方向(左右方向)Y移动(摇动)。这样的两个抖动校正用线圈18B被称为第二方向致动器。
总之，抖动校正用线圈18B用于与永磁体28B配合，沿X轴方向(第一方向)和Y轴方向(第二方向)驱动自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部。另外，抖动校正用线圈18B与永磁体28B的组合作为音圈电机而发挥作用。
这样，图示的抖动校正装置10B通过使收容于自动聚焦用透镜驱动装置20B的透镜镜筒本身沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y移动，校正抖动。因而，抖动校正装置10B被称为“镜筒移动方式”的抖动校正装置。
抖动校正装置10B还包括覆盖了自动聚焦用透镜驱动装置20B的上部的罩42B。
另外，除了参照图13和图14之外，还参照图16，抖动校正装置10B还包括用于检测自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部相对于基座14B的位置的位置检测单元50B、51B。
详细而言，图示的位置检测单元50B、51B由光学式位置检测单元构成。位置检测单元50B、51B由两个位置检测器构成，各位置检测器由彼此相对设置的光反射器50B和位置信息单元51B构成。两个位置信息单元51B沿第一方向X和第二方向Y设置于线圈保持架44B的下侧环状端部446B的下表面(在图13中，仅图示了沿第二方向Y设置的一个位置信息单元)。
如图16所示那样，各位置信息单元51B由反射带(胶带)构成，贴附于下侧环状端部446B的下表面。反射带51B具有沿第一方向X或第二方向Y以基准位置为界白黑明暗清晰地区分的图案。
另一方面，如图14所示那样，两个光反射器50B安装于基座14B的基部142B上。两个光反射器50B与两个位置信息单元51B分别隔开地相对设置。
相对于光轴O沿第一方向(前后方向)X设置的一个光反射器50B如图16的箭头所示那样横穿与其相对的一个位置信息单元51B的明暗，接受来自该位置信息单元51B的反射光(检测反射光的光强度)，由此检测跟随第一方向(前后方向)X的移动(摇动)的第一位置作为电压电平。相对于光轴O沿第二方向(左右方向)Y设置的一个光反射器50B如图16的箭头所示那样横穿与其相对的一个位置信息单元51B的明暗，接受来自该位置信息单元51B的反射光(检测反射光的光强度)，由此检测跟随第二方向(左右方向)Y的移动(摇动)的第二位置作为电压电平。
另外，在第三实施方式的抖动校正装置10B中，作为位置检测单元50B使用了包含两个光反射器50B的光学式位置检测单元，但是也可以采用包含四个光反射器的光学式位置检测单元。另外，位置信息单元51B的图案也不限定于白黑的明暗(2值)图案，可以是色彩层次连续的图案、面积比变化连续的图案等各种图案。
在这样的结构的抖动校正装置10B中，因为对透镜保持架24B(透镜镜筒)沿光轴O方向进行位置调整的情况下的动作与参照图9说明了的第二实施方式的抖动校正装置10A相同，所以省略其说明。另外，因为使自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部沿第一方向(前后方向)X或第二方向(左右方向)Y移动的情况下的动作也与参照图11说明了的第二实施方式的抖动校正装置10A相同，所以省略其说明。
如上述那样的、本发明的第三实施方式的抖动校正装置10B，发挥以下所述那样的效果。
因为在自动聚焦用透镜驱动装置20B上设置抖动校正装置10B，共用永磁体28B，所以能够削减元件件数。其结果，能够缩小(降低)抖动校正装置10B的尺寸(主要是高度)。
在光学单元倾斜方式的抖动校正装置中，由于存在旋转轴，所以产生孔-轴之间的摩擦从而产生磁滞。相对于此，在本第三实施方式的抖动校正装置10B中，因为利用8根吊线16B机械地支承自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部，所以不易产生磁滞。
与以往的光学式抖动校正方式(透镜移动方式、传感器移动方式、光学单元倾斜方式)的抖动校正装置相比，因为采用镜筒移动方式，所以能够使抖动校正装置10B的尺寸(主要是高度)与自动聚焦用透镜驱动装置20B大致相等。其结果，能够将本第三实施方式的抖动校正装置10B搭载于移动电话用光学抖动校正相机中。
另外，因为在上侧的4片第一永磁体片282B-1与下侧的4片第二永磁体片282B-2之间设置抖动校正用线圈18B，所以能够实现高灵敏度的致动器。
而且，因为采用移动线圈方式，所以与移动磁体方式相比，能够使自动聚焦用透镜驱动装置20B的可动部轻量化。
详细而言，在第二实施方式的“移动磁体方式”的抖动校正装置10A中，自动聚焦用透镜驱动装置20B整体作为可动部动作。即，如图8所示那样，可动部的元件包括透镜镜筒12A、透镜保持架24A、第一聚焦线圈26A-1和第二聚焦线圈26A-2、上侧板簧32A、下侧板簧34A、永磁体28A和磁体保持架30A。因此，移动磁体方式的可动部的总重量例如成为1620mg。
相对于此，在第三实施方式的“移动线圈方式”的抖动校正装置10B中，其可动部的元件如图15所示那样，包括透镜镜筒、透镜保持架24B、第一聚焦线圈26B-1和第二聚焦线圈26B-2、抖动校正用线圈18B和线圈保持架44B。因此，移动线圈方式的可动部的总重量例如成为765mg。
这样，能够削减可动部的重量，因此能够改善偏置校正电流值，其结果，能够提高可动部的推力。
在上述第三实施方式中，永磁体片28B由在第一方向X和第二方向Y上彼此相对并沿光轴O方向上下隔开地设置的4片第一永磁体片282B-1和4片第二永磁体片282B-2构成，但是第一永磁体片和第二永磁体片各自的片数不限定于4片，例如也可以由不仅在第一方向和第二方向而且在对角线方向上也相对地设置的8片永磁体片构成。在该情况下，抖动校正用线圈18B的个数也变更为八个。另外，在上述第三实施方式中，8根吊线16B自基座14B的基部142B的四角部成对地竖立设置，但是也可以自基部142B的外周部成对地竖立设置。而且，吊线16B的根数也不限定于8根，也可以是多根。
图17是表示在上述第二实施方式的抖动校正装置10A中作为位置检测单元使用了在上述第三实施方式的抖动校正装置10B中采用的光学式位置检测单元的变形例的纵剖视图。
在该变形例中，代替两个霍尔元件50A，在设置它们的位置设有两个光反射器50B。即，上述两个光反射器50B与4片第二永磁体片282A-2中的两片第二永磁体片分别隔开地相对设置。并且，在与上述两个光反射器50B相对的可动部(自动聚焦用透镜驱动装置20A)上，分别贴附了两个位置信息单元(反射带)51B。在图示的例子中，两个位置信息单元(反射带)51B设于(贴附于)下侧板簧34A的下表面。
因为该光学式位置检测单元的位置检测动作与上述第三实施方式的光学式位置检测单元的位置检测动作相同，所以为了简化说明，省略了其说明。
另外，虽未图示，但是毋庸置疑，在上述第一实施方式的抖动校正装置10中也可以使用上述光学式位置检测单元以代替磁式位置检测单元。
以下，说明本发明的典型的形态。
上述本发明的典型的形态的抖动校正装置中，自动聚焦用透镜驱动装置可以包括：透镜保持架，具有用于保持透镜镜筒的筒状部，聚焦线圈以位于筒状部的周围的方式固定于透镜保持架；磁体保持架，设置于该透镜保持架的外周，保持永磁体；以及一对板簧，以透镜保持架在径向被定位的状态下该透镜保持架能够沿光轴方向位移的方式支承该透镜保持架。
根据本发明的第一形态的抖动校正装置，自动聚焦用透镜驱动装置可以具有安装于磁体保持架的上端的上侧基板。在该情况下，多根吊线的另一端固定于上侧基板。另外，一对板簧可以在透镜保持架与磁体保持架之间连接并被固定。永磁体可以包含在第一方向和第二方向上彼此相对设置的多个永磁体片。在该情况下，抖动校正线圈设置于多个永磁体片的外侧，抖动校正装置可以包括与多个永磁体片分别相对地隔开设置并形成有抖动校正用线圈的多个线圈基板。抖动校正装置还可以包括覆盖多个线圈基板的保护罩。在该情况下，多个线圈基板可以安装在保护罩的内壁上。抖动校正装置优选具有用于检测自动聚焦用透镜驱动装置相对于基座的位置的位置检测单元。位置检测单元例如可以由与永磁体片隔开地相对设置，安装在基座上的霍尔元件构成。
根据本发明的其他形态的抖动校正装置，永磁体由在第一方向和第二方向上彼此相对设置且在光轴方向上彼此隔开地设置的、多个第一永磁体片和多个第二永磁体片构成。第一永磁体片和第二永磁体片的各个永磁体片沿径向分极为N极和S极，第一永磁体片和第二永磁体片沿光轴方向具有不同的磁极。聚焦线圈由第一聚焦线圈和第二聚焦线圈构成，该第一聚焦线圈和第二聚焦线圈分别固定为与多个第一永磁体片和多个第二永磁体片相对并位于透镜保持架的筒状部的周围。抖动校正用线圈由在多片第一永磁体片与4片第二永磁体片之间插入设置的多个抖动校正用线圈构成。抖动校正装置包括形成有多个抖动校正用线圈的环形状的线圈基板。
根据本发明的第二形态的抖动校正装置，基座可以由环形状的基部和从该基部的外缘向光轴方向的上侧突出的筒状部构成。在该情况下，线圈基板被固定在基座的筒状部的上端，一对板簧在透镜保持架与磁体保持架之间连接并被固定。另外，多根吊线可以自基部的外周部竖立设置。在该情况下，磁体保持架可以具有上侧环状端部，该上侧环状端部具有供多根吊线的另一端插入的多个线插入用孔，一对板簧中的位于光轴方向的上侧的上侧板簧可以具有供多根吊线的另一端嵌入的多个线固定用孔。线圈基板可以具有供多根吊线穿过的多个贯穿孔。抖动校正装置优选具有用于检测自动聚焦用透镜驱动装置相对于基座的位置的位置检测单元。位置检测单元例如可以由至少两个霍尔元件构成，该至少两个霍尔元件分别与多个第二永磁体片中的沿第一方向和第二方向设置的至少两片第二永磁体片隔开地相对设置，安装在基部上。取而代之，位置检测单元可以由彼此相对设置的、至少两个光反射器和至少两个位置信息单元构成。在该情况下，至少两个位置信息单元沿第一方向和第二方向设置于一对板簧中的位于光轴方向的下侧的下侧板簧的下表面，至少两个光反射器分别与至少两个位置信息单元隔开地相对设置，安装在基部上。
根据本发明的第三形态的抖动校正装置，抖动校正装置可以还包括保持线圈基板的线圈保持架，基座可以由环形状的基部、和从该基部的外缘向光轴方向的上侧突出的具有多个开口的筒状部构成。在该情况下，磁体保持架由分别保持一片第一永磁体片和一片第二永磁体片的多个磁体保持架构成。多个磁体保持架插入地固定于基座的筒状部的多个开口中，一对板簧在透镜保持架与线圈保持架之间连接并被固定。另外，多根吊线可以自基部的外周部成对地竖立设置。在该情况下，线圈保持架可以具有上侧环状端部、和从该上侧环状端部的外周部向径向外侧突出的多个突出部，所述多个突出部具有供多根吊线的另一端嵌入的多个线固定用孔。抖动校正装置优选具有用于检测自动聚焦用透镜驱动装置的可动部相对于基座的位置的位置检测单元。线圈保持架可以还包括下侧环状端部，所述位置检测单元可以由彼此相对设置的、至少两个光反射器和至少两个位置信息单元构成。在该情况下，至少两个位置信息单元沿第一方向和第二方向设置于线圈保持架的下侧环状端部的下表面，至少两个光反射器分别与至少两个位置信息单元隔开地相对设置，安装在基部上。
以上，参照本发明的实施方式特别表示并说明了本发明，但是本发明不限定于这些实施方式。可以了解在不脱离由权利要求书规定的本发明的主旨和范围之下，本领域技术人员能够在形式或详细结构上作到各种变形。例如，在上述实施方式中，作为位置检测单元(位置传感器)，使用了由霍尔元件构成的磁式位置检测单元、或者包括光反射器的光学式位置检测单元，但也可以使用其他的位置检测单元(位置传感器)。
本发明基于2009年8月21日提交的日本专利申请第2009-191619号以及2010年7月13日提交的日本专利申请第2010-158602号，主张优先权的权利，它们的公开内容作为参考文献全部援用于本发明。

Claims (20)

1.一种抖动校正装置(10；10A；10B)，通过使自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)整体或其可动部沿与光轴(O)正交且彼此正交的第一方向(X)以及第二方向(Y)移动，从而校正抖动，该自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)用于使透镜镜筒(12；12A)沿所述光轴(O)移动，其中，
所述自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)具备：
聚焦线圈(26；26A-1、26A-2；26B-1、26B-2)；以及
永磁体(28；28A；28B)，与该聚焦线圈相对设置且相对于所述光轴(O)设置于该聚焦线圈的径向外侧，
所述抖动校正装置(10；10A；10B)具有：
基座(14；14A；14B)，在所述自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)的底面部隔开地设置；
多根吊线(16；16A；16B)，一端固定于该基座的外周部，且沿着所述光轴(O)延伸，以使所述自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)整体或其可动部能够沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)整体或其可动部；以及
抖动校正用线圈(18；18A；18B)，与所述永磁体相对设置。
2.如权利要求1所述的抖动校正装置(10；10A；10B)，其中，
所述自动聚焦用透镜驱动装置(20；20A；20B)具备：
透镜保持架(24；24A；24B)，具有用于保持所述透镜镜筒(12；12A)的筒状部(240；240A；240B)，所述聚焦线圈(26；26A-1、26A-2；26B-1、26B-2)以位于所述筒状部(240；240A；240B)的周围的方式固定于所述透镜保持架；
磁体保持架(30；30A；30B)，设置于该透镜保持架的外周，保持所述永磁体(28；28A；28B)；以及
一对板簧(32、34；32A、34A；32B、32B)，支承该透镜保持架(24；24A；24B)，以使所述透镜保持架(24；24A；24B)在径向被定位的状态下能够沿所述光轴(O)方向进行位移。
3.如权利要求2所述的抖动校正装置(10)，其中，
所述自动聚焦用透镜驱动装置(20)具有安装于所述磁体保持架(30)的上端的上侧基板(36)，所述多根吊线(16)的另一端固定于所述上侧基板(36)。
4.如权利要求2或3所述的抖动校正装置(10)，其中，
所述一对板簧(32、43)在所述透镜保持架(24)与所述磁体保持架(30)之间连接并被固定。
5.如权利要求4所述的抖动校正装置(10)，其中，
所述永磁体(28)包含在所述第一方向(X)以及所述第二方向(Y)上彼此相对设置的多个永磁体片(282)，
所述抖动校正用线圈(18)设置于所述多个永磁体片的外侧，
所述抖动校正装置(10)具备与所述多个永磁体片(282)分别相对地隔开设置并形成有所述抖动校正用线圈(18)的多个线圈基板(40)。
6.如权利要求5所述的抖动校正装置(10)，其中，
还包括：覆盖所述多个线圈基板(40)的保护罩(42)。
7.如权利要求6所述的抖动校正装置(10)，其中，
所述多个线圈基板(40)安装在所述保护罩(42)的内壁上。
8.如权利要求5至7中任一项所述的抖动校正装置(10)，其中，
包括用于检测所述自动聚焦用透镜驱动装置(20)相对于所述基座(14)的位置的位置检测单元(50)。
9.如权利要求8所述的抖动校正装置(10)，其中，
所述位置检测单元由与所述永磁体片(182)隔开地相对设置并安装在所述基座(14)上的霍尔元件(50)构成。
10.如权利要求2所述的抖动校正装置(10A；10B)，其中，
所述永磁体(28A；28B)由在所述第一方向(X)以及所述第二方向(Y)上彼此相对设置且在所述光轴(O)方向上彼此隔开地设置的多个第一永磁体片(282A-1；282B-1)以及多个第二永磁体片(282A-2；282B-2)构成，所述第一永磁体片和所述第二永磁体片分别沿径向分极为N极和S极，所述第一永磁体片和所述第二永磁体片沿所述光轴(O)方向具有不同的磁极，
所述聚焦线圈由第一及第二聚焦线圈(26A-1、26A-2；26B-1、26B-2)构成，该第一及第二聚焦线圈分别与所述多个第一永磁体片以及所述多个第二永磁体片相对设置并固定于所述透镜保持架(24A；24B)的筒状部(240A；240B)的周围，
所述抖动校正用线圈(10A；10B)由插入设置在所述多个第一永磁体片与所述多个第二永磁体片之间的多个抖动校正用线圈(18A；18B)构成，
所述抖动校正装置具备形成有所述多个抖动校正用线圈的环形状的线圈基板(40A；40B)。
11.如权利要求10所述的抖动校正装置(10A)，其中，
所述基座(14A)由环形状的基部(142A)和自该基部的外缘向所述光轴(O)方向的上侧突出的筒状部(144A)构成，
所述线圈基板(40A)固定于所述基座的筒状部的上端，
所述一对板簧(32A、43A)在所述透镜保持架(24A)与所述磁体保持架(30A)之间连接并被固定。
12.如权利要求11所述的抖动校正装置(10A)，其中，
所述多根吊线(16A)自所述基部(142A)的外周部竖立设置，
所述磁体保持架(30A)具备上侧环状端部(304A)，该上侧环状端部具有供所述多根吊线的另一端插入的多个线插入用孔(304Aa)，
所述一对板簧中的位于所述光轴(O)方向的上侧的上侧板簧(32A)具有供所述多根吊线的另一端嵌入的多个线固定用孔(324Aa)。
13.如权利要求12所述的抖动校正装置(10A)，其中，
所述线圈基板(40A)具有供所述多根吊线(16A)穿过的多个贯穿孔(40Aa)。
14.如权利要求11至13中任一项所述的抖动校正装置(10A)，其中，
具有用于检测所述自动聚焦用透镜驱动装置(20A)相对于所述基座(14A)的位置的位置检测单元(50A；50B、51B)。
15.如权利要求14所述的抖动校正装置(10A)，其中，
所述位置检测单元由至少两个霍尔元件(50A)构成，该至少两个霍尔元件分别与所述多个第二永磁体片中的沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)设置的至少两片第二永磁体片隔开地相对设置，且安装在所述基部(142A)上。
16.如权利要求14所述的抖动校正装置(10A)，其中，
所述位置检测单元由彼此相对设置的至少两个光反射器(50B)和至少两个位置信息单元(51B)构成，
所述至少两个位置信息单元(51B)沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)设置于所述一对板簧中的位于所述光轴(O)方向的下侧的下侧板簧(34A)的下表面，
所述至少两个光反射器(50B)与所述至少两个位置信息单元(51B)分别隔开地相对设置，且安装在所述基部(142A)上。
17.如权利要求10所述的抖动校正装置(10B)，其中，
还包括：保持所述线圈基板(40B)的线圈保持架(44B)，
所述基座(14B)由环形状的基部(142B)和自该基部的外缘向所述光轴(O)方向的上侧突出的具有多个开口(144Ba)的筒状部(144B)构成，
所述磁体保持架(30B)由分别保持一片所述第一永磁体片和一片所述第二永磁体片的多个磁体保持架(30B)构成，
所述多个磁体保持架插入并固定于所述基座的筒状部(144B)的所述多个开口(144Ba)中，
所述一对板簧(32B、34B)在所述透镜保持架(24B)与所述线圈保持架(44B)之间连接并被固定。
18.如权利要求17所述的抖动校正装置(10B)，其中，
所述多根吊线(16B)自所述基部(142B)的外周部成对地竖立设置，
所述线圈保持架(44B)具备上侧环状端部(444B)和自该上侧环状端部的外周部向径向外侧突出的多个突出部(448B)，该多个突出部具有供所述多根吊线的另一端嵌入的多个线固定用孔(448Ba)。
19.如权利要求17或18所述的抖动校正装置(10B)，其中，
具有用于检测所述自动聚焦用透镜驱动装置(20B)的可动部相对于所述基座(14B)的位置的位置检测单元(50B、51B)。
20.如权利要求19所述的抖动校正装置(10B)，其中，
所述线圈保持架(44B)还具备下侧环状端部(446B)，
所述位置检测单元由彼此相对设置的至少两个光反射器(50B)和至少两个位置信息单元(51B)构成，
所述至少两个位置信息单元(51B)沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)设置于所述线圈保持架(44B)的所述下侧环状端部(446B)的下表面，
所述至少两个光反射器(50B)与所述至少两个位置信息单元(51B)分别隔开地相对设置，且安装在所述基部(142B)上。
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