JP2002342153A - 多様に配置されたメモリ・コンポーネントからメモリ・オペレーションを調整する方法と装置 - Google Patents

多様に配置されたメモリ・コンポーネントからメモリ・オペレーションを調整する方法と装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 さまざまな位置に配置されたメモリ・コンポ
ーネントの間でメモリ動作を調整する方法および装置を
提供すること。 【解決手段】 本発明の実施形態によれば、複数のメモ
リ・コンポーネントに結合されたアドレス・バスについ
て、ウェーブパイプライン化が実施される。複数のメモ
リ・コンポーネントが、アドレス・バス伝搬遅延および
データ・バス伝搬遅延に関係する調整に従って構成され
る。アドレス信号および/または制御信号に関連する、
これらの信号の伝搬遅延を複製するタイミング信号が、
メモリ動作の調整に使用される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、全般的には情報の
蓄積および検索に関し、具体的には、メモリ・コンポー
ネントの調整に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータおよびデータ処理機器の能
力が高まるにつれて、ユーザは、それらの機器に対する
ますます高まる要求を課す応用例を開発してきた。した
がって、所与の時間の間により多くの情報を処理するこ
とに対する、継続的に高まる要求がある。所与の時間の
間により多くの情報を処理する方法の1つが、情報の各
要素をより短い時間で処理することである。時間が短縮
されるにつれて、電子信号の通信を支配する物理的な速
度の限界に近づく。遅延なしで情報の電子表現を移動で
きることが理想的であるが、そのような遅延は回避不能
である。実際、遅延が回避不能であるばかりではなく、
遅延の量が距離の関数なので、遅延は、通信する装置の
相対的な位置に従って変動する。
【0003】単一の電子デバイスの能力に限界があるの
で、メモリ・コンポーネントなどのデバイスを多数組み
合わせて、システムの総合性能を高めるために一緒に機
能させることが望ましいことがしばしばである。しか
し、デバイスは、空間内の同一の位置にすべてが同時に
存在することができないので、ある面積にわたって異な
る位置に配置されたデバイスを有するシステムの動作に
対する考慮が必要である。
【0004】従来は、デバイスの動作のタイミングが、
デバイスの位置の変動がその動作にとって問題になる点
まで加速されていなかった。しかし、性能の要求が高ま
ったので、従来のタイミング・パラダイムが、進歩に対
する障害になった。
【0005】既存のメモリ・システムの一例では、DD
R(double data rate)メモリ・コン
ポーネントが使用される。このメモリ・システムには、
メモリ・コントローラとメモリ・モジュールが含まれ
る。伝搬遅延が、メモリ・コントローラとメモリ・モジ
ュールの間のアドレス・バスに沿って発生する。もう1
つの伝搬遅延が、メモリ・コントローラとメモリ・モジ
ュールの間のデータ・バスに沿って発生する。
【0006】メモリ・モジュール内の制御信号および制
御クロック信号の分配が、厳密な制約を受ける。通常、
制御線は、各メモリ・コンポーネントへの長さが等しく
なるようにルーティングされる。「スター」トポロジま
たは「2進木」トポロジが、通常は使用され、この場合
に、スターの各スポークまたは2進木の各枝が、同一の
長さを有する。その意図は、メモリ・モジュールの異な
るメモリ・コンポーネントの間の制御信号および制御ク
ロック信号のタイミングの変動を除去することである
が、各メモリ・コンポーネントへのワイヤの長さの平衡
化は、システム性能を損なう(一部のパスが、必要以上
に長くなる)。さらに、等しい長さをもたらすようにワ
イヤをルーティングする必要によって、メモリ・コンポ
ーネントの数が制限され、メモリ・コンポーネントの接
続が複雑になる。
【0007】そのようなDDRシステムでは、データ・
ストローブ信号が、データ読取動作とデータ書込動作の
両方のタイミングを制御するのに使用される。データ・
ストローブ信号は、周期的なタイミング信号ではなく、
データが転送される時に限ってアサートされる。制御信
号のタイミング信号は、周期的なクロックである。書込
データのデータ・ストローブ信号は、制御信号のクロッ
クに整列される。読取データのストローブは、アドレス
・バスに沿った伝搬遅延とデータ・バスに沿った伝搬遅
延の合計に等しい、制御クロックに対する相対的な遅延
だけ遅延される。読取転送の後に書込転送が続く時に
は、シグナリングの一時停止を設けて、使用されるさま
ざまな信号線に沿った干渉を防がなければならない。そ
のような一時停止は、システム性能を低下させる。
【0008】そのようなシステムは、複数の形で制約を
受ける。第1に、制御ワイヤが、スター・トポロジまた
は2進木ルーティングを有するので、スタブ(スポーク
または枝の終点)で反射が発生する。反射は、信号の整
定時間を増やし、制御ワイヤの転送帯域幅を制限する。
その結果、制御ワイヤ上で1つの情報が駆動されるタイ
ム・インターバルが、信号波面が制御ワイヤの一端から
他端まで伝搬するのに要する時間より長くなる。さら
に、より多くのモジュールがシステムに追加される時
に、より多くのワイヤ・スタブが、データ・バスの各導
体に追加され、これによって、スタブからの反射が増え
る。これによって、信号の整定時間が増加し、データ・
バスの転送帯域幅がさらに制限される。
【0009】また、このシステム内のアドレス・バスに
沿った伝搬遅延とデータ・バスに沿った伝搬遅延の間の
関係に対する制約があるので、メモリ・コンポーネント
のタイミング・パラメータに違反せずに動作周波数を高
めることは困難である。クロック信号が、別のクロック
信号と独立である場合に、これらのクロック信号および
それに関係するコンポーネントは、異なるクロック・ド
メインであるとみなされる。メモリ・コンポーネント内
で、書込データ・レシーバは、メモリ・コンポーネント
のロジックの残りと異なるクロック・ドメインで動作し
ており、ドメイン・クロッシング回路は、これらの2つ
のドメインの間の限られた量のスキューだけに対処す
る。データのシグナリング・レートを高めると、このス
キュー・パラメータ(時間単位で測定された時の)が減
り、基板上のデータ・ワイヤと制御ワイヤの間のルーテ
ィング不一致がタイミング違反を引き起こす機会が増え
る。
【0010】また、ほとんどのDDRシステムは、アド
レス・バスおよびデータ・バスの伝搬遅延の長さ(時間
単位)に対する厳密な制限を有する。これは、通常、コ
ントローラの読取データ・レシーバ・クロック・ドメイ
ンからコントローラの残りの部分が使用するクロック・
ドメインへのクロッシングのために含まれるロジック
と、メモリ・コントローラとによって課せられる制限で
ある。通常は、これらの伝搬遅延の合計の長さに対する
制限(クロック・サイクル単位で表される)もある。マ
ザーボード・レイアウトのためにこの合計が大きくなり
すぎる(時間単位で測定された時に)場合に、システム
の信号レートを下げなければならない場合があるが、こ
れによって性能が低下する。
【0011】既存のメモリ・システムのもう1つの例で
は、制御ワイヤおよびデータ・バスが、メモリ・コント
ローラに接続され、各メモリ・モジュール上のメモリ・
コンポーネントを通って一緒にルーティングされる。1
つのクロックが、書込データ信号と制御信号のタイミン
グを制御するのに使用され、もう1つのクロックが、読
取データのタイミングを制御するのに使用される。これ
らの2つのクロックは、メモリ・コントローラで整列さ
れる。前の従来技術の例と異なって、これらの2つのタ
イミング信号は、別々のワイヤで搬送される。
【0012】そのような代替システムでは、複数の組の
制御ワイヤと1つのデータ・バスを使用して、メモリ・
コントローラを1つまたは複数のメモリ・コンポーネン
トに相互結合することができる。別の組の制御ワイヤが
必要なので、追加のコストと複雑さが導入されるが、こ
れは、望ましくない。また、大容量メモリ・システムが
必要な場合に、各データ・バス上のメモリ・コンポーネ
ントの数が、相対的に多くなる。これは、データ・バス
上の最大信号レートを制限する傾向を有し、これによっ
て性能が制限される。
【0013】既存のメモリ・システムのもう1つの例
が、ハンセン(Hansen)他に1998年7月7日
に発行された米国特許第5778419号に見られる。
ハンセン他の特許は、パケットおよびアービトレーショ
ンを使用する高帯域幅インターフェースを有するダイナ
ミック・ランダム・アクセス・メモリ(DRAM)に関
するが、そのようなDRAMは、その有用性を制限する
いくつかの不利益をこうむる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】したがって、さまざま
な位置に配置されたメモリ・コンポーネントの間でメモ
リ動作を調整する技法が必要である。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、メモリ・コン
トローラ・コンポーネントと、スライスを含むメモリ・
コンポーネントのランクと、該メモリ・コントローラ・
コンポーネントをメモリ・コンポーネントの該ランクに
結合し、該メモリ・コントローラ・コンポーネントをメ
モリ・コンポーネントの該ランクの該スライスに結合す
る導体であって、導体のうちで、アドレス信号、書込デ
ータ信号、および読取データ信号からなる群から選択さ
れた信号を搬送する1つの伝搬遅延が、該信号によって
表される情報の要素が該導体に印加される時間の量より
長く、該導体が、該メモリ・コントローラ・コンポーネ
ントを該ランクの該スライスのそれぞれに連続して接続
する共通アドレス・バスと、該メモリ・コントローラ・
コンポーネントを該ランクの該スライスのそれぞれに接
続する別のデータ・バスとを含むことを特徴とするメモ
リ・システムである。
【0016】
【発明の実施の形態】
【発明の実施の形態】さまざまな位置に配置されたメモ
リ・コンポーネントの間でメモリ動作を調整する方法お
よび装置を説明する。本発明の実施形態によれば、ウェ
ーブ・パイプライン化が、複数のメモリ・コンポーネン
トに結合されたアドレス・バスに対して実施される。複
数のメモリ・コンポーネントは、アドレス・バス伝搬遅
延およびデータ・バス伝搬遅延に関する調整に従って構
成される。アドレス信号および/または制御信号に関連
する、これらの信号の伝搬遅延を複製するタイミング信
号を使用して、メモリ動作を調整する。アドレス・バス
伝搬遅延または共通アドレス・バス伝搬遅延は、メモリ
・コントローラ・コンポーネントとメモリ・コンポーネ
ントの間でアドレス・バスに沿って進む信号の遅延を指
す。データ・バス伝搬遅延は、メモリ・コントローラ・
コンポーネントとメモリ・コンポーネントの間でデータ
・バスに沿って進む信号の遅延を指す。
【0017】本発明の一実施形態によれば、メモリ・シ
ステムに、メモリ・コンポーネントの複数のランクおよ
び複数のスライスを提供する複数のメモリ・モジュール
が含まれる。そのようなシステムは、図27に関して理
解することができる。図27のメモリ・システムには、
メモリ・モジュール2703およびメモリ・モジュール
2730が含まれる。メモリ・モジュール2703に
は、メモリ・コンポーネント2716から2618を含
むランクと、メモリ・コンポーネント2744から27
46を含むもう1つのランクが含まれる。
【0018】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。図27のメモリ・システ
ムには、メモリ・コントローラ2702の一部と、メモ
リ・コンポーネント2716および2744を含むメモ
リ・モジュール2703の一部と、メモリ・コンポーネ
ント2731および2734を含むメモリ・モジュール
2730の一部とを含むスライス2713が含まれる。
図27のメモリ・システムには、メモリ・コントローラ
2702のもう1つの部分と、メモリ・コンポーネント
2717およびメモリ・コンポーネント2745を含む
メモリ・モジュール2703のもう1つの部分と、メモ
リ・コンポーネント2732および2735を含むメモ
リ・モジュール2730のもう1つの部分とを含むもう
1つのスライス2714が含まれる。図27のメモリ・
システムには、さらに、メモリ・コントローラ2702
のもう1つの部分と、メモリ・コンポーネント2718
および2746を含むメモリ・モジュール2703のも
う1つの部分と、メモリ・コンポーネント2733およ
び2736を含むメモリ・モジュール2730のもう1
つの部分とを含むもう1つのスライス2715が含まれ
る。
【0019】複数のモジュールを使用して実施すること
ができる複数のスライスおよびランクを使用することに
よって、データ・バスまたはアドレス・バスがそれへの
多数の接続を有する時に発生する可能性がある性能低下
を回避すると同時に、メモリ・コントローラおよび複数
のメモリ・コンポーネントの効率的な相互接続が可能に
なる。スライスごとに別々のデータ・バスを設けると、
各データ・バスへの接続の数を、適度な数にすることが
できる。別々のデータ・バスは、互いに独立に異なる信
号を搬送することができる。スライスに、1モジュール
ごとに1つまたは複数のメモリ・コンポーネントを含め
ることができる。たとえば、1つのスライスに、各ラン
クの1つのメモリ・コンポーネントを含めることができ
る。用語スライスが、スライスのうちでメモリ・コント
ローラを除く部分を指すのに使用される場合があること
に留意されたい。この形で、メモリ・コントローラを、
スライスに結合されているものとみなすことができる。
複数のモジュールを使用することによって、メモリ・コ
ンポーネントを、メモリ・コントローラへのパス長に従
って編成できる。そのようなパス長のわずかな相違であ
っても、メモリ・コンポーネントのランクへの編成に従
って管理することができる。ランクおよびモジュールに
従ってメモリ・コンポーネントを編成することによっ
て、アドレス信号および制御信号を、たとえばランクま
たはモジュール内のアドレス・バスの共有を介して、効
率的に分配できる。
【0020】一実施形態では、スライスに、データ・バ
スに結合された複数の要素が含まれると理解することが
できる。一例として、これらの要素には、メモリ・コン
トローラ・コンポーネントの一部、1モジュール上の1
つまたは複数のメモリ・コンポーネント、および、任意
選択として、別のモジュール上の1つまたは複数のメモ
リ・コンポーネントを含めることができる。一実施形態
では、ランクに、共通アドレス・バスによって結合され
た複数のメモリ・コンポーネントが含まれると理解する
ことができる。共通アドレス・バスを、任意選択とし
て、1つまたは複数のモジュール上の複数のランクに結
合することができる。共通アドレス・バスは、メモリ・
コントローラ・コンポーネントを、1ランク内のスライ
スのそれぞれに連続して接続することができ、これによ
って、共通アドレス・バスを、ランクの第1スライスか
らランクの第2スライスへ、およびランクの第2スライ
スからランクの第3スライスへとルーティングすること
が可能になる。そのような構成によって、共通アドレス
・バスのルーティングを単純にすることができる。
【0021】説明のために、ある概念を例示するため
に、単純化された形のメモリ・システムをまず説明し、
その後で、複数のモジュールおよびランクを含むより複
雑なメモリ・システムを、本明細書で説明する。
【0022】図1は、本発明の実施形態を実施すること
ができる、メモリ・コンポーネントの単一のランクを有
するメモリ・システムを示すブロック図である。メモリ
・システム101には、メモリ・コントローラ・コンポ
ーネント102およびメモリ・モジュール103が含ま
れる。アドレス・バス107に沿って伝搬するアドレス
信号および制御信号に関連するタイミング信号として働
くアドレス・クロック信号がアドレス・クロック104
によって供給される。アドレス・クロック104は、ア
ドレス・クロック導体109に沿ってそのアドレス・ク
ロック信号を供給する。アドレス・クロック導体109
は、メモリ・コントローラ・コンポーネント102およ
びメモリ・モジュール103に結合される。アドレス信
号および制御信号を、時々、単にアドレス信号またはア
ドレス・バスと称する。しかし、制御信号は、アドレス
信号と共通のトポロジに従ってルーティングすることが
できるので、これらの単語は、使用される時に、アドレ
ス信号または制御信号もしくはその両方を含むものとし
て理解されなければならない。
【0023】書込クロック105は、書込動作中にデー
タ・バス108に沿って伝搬するデータ信号に関連する
タイミング信号として働く書込クロック信号を供給す
る。書込クロック105は、書込クロック導体110に
沿ってその書込クロック信号を供給し、書込クロック導
体110は、メモリ・コントローラ・コンポーネント1
02およびメモリ・モジュール103に結合される。読
取クロック106は、読取動作中にデータ・バス108
に沿って伝搬するデータ信号に関連するタイミング信号
として働く読取クロック信号を供給する。読取クロック
106は、読取クロック導体111に沿ってその読取ク
ロック信号を供給し、読取クロック導体111は、メモ
リ・コントローラ・コンポーネント102およびメモリ
・モジュール103に結合される。
【0024】終端コンポーネント120が、メモリ・コ
ントローラ・コンポーネント102の近くでデータ・バ
ス108に結合される。一例として、終端コンポーネン
ト120を、メモリ・コントローラ・コンポーネント1
02に組み込むことができる。終端コンポーネント12
1が、メモリ・モジュール103の近くでデータ・バス
108に結合される。終端コンポーネント121は、メ
モリ・モジュール103に組み込まれることが好まし
い。終端コンポーネント123が、メモリ・モジュール
103のメモリ・コンポーネント116の近くで書込ク
ロック導体110に結合される。終端コンポーネント1
23は、メモリ・モジュール103に組み込まれること
が好ましい。終端コンポーネント124が、メモリ・コ
ントローラ・コンポーネント102の近くで読取クロッ
ク導体111に結合される。一例として、終端コンポー
ネント124を、メモリ・コントローラ・コンポーネン
ト102に組み込むことができる。終端コンポーネント
125が、メモリ・モジュール103のメモリ・コンポ
ーネント116の近くで読取クロック導体111に結合
される。終端コンポーネント125は、メモリ・モジュ
ール103に組み込まれることが好ましい。終端コンポ
ーネントでは、能動デバイス(たとえばトランジスタま
たは他の半導体デバイス)または受動デバイス(たとえ
ば抵抗、コンデンサ、インダクタ)を使用することがで
きる。終端コンポーネントに、オープン接続を使用する
ことができる。終端コンポーネントを、1つまたは複数
のメモリ・コントローラ・コンポーネントもしくは1つ
または複数のメモリ・コンポーネントに組み込むことが
でき、また、モジュール上またはメイン回路基板上の別
のコンポーネントとすることができる。
【0025】メモリ・モジュール103には、メモリ・
コンポーネント116、117、および118のランク
112が含まれる。メモリ・モジュール103は、各メ
モリ・コンポーネントが1つのスライスに対応するよう
に編成される。メモリ・コンポーネント116は、スラ
イス113に対応し、メモリ・コンポーネント117
は、スライス114に対応し、メモリ・コンポーネント
118は、スライス115に対応する。図1には示され
ていないが、スライス113に関して図示されている、
データ・バスと、書込クロックおよび関連する導体と、
読取クロックおよび関連する導体とに関連する特定の回
路が、他のスライス114および115のそれぞれにつ
いて複製される。したがって、そのような回路は、図を
簡単にするために図1に図示されていないが、そのよう
なスライス単位の専用の回路が、図示のメモリ・システ
ムに含まれることが好ましいことを理解されたい。
【0026】メモリ・モジュール103内で、アドレス
・バス107が、メモリ・コンポーネント116、11
7、および118のそれぞれに結合される。アドレス・
クロック導体109が、メモリ・コンポーネント11
6、117、および118のそれぞれに結合される。メ
モリ・モジュール103内のアドレス・バス107の末
端で、終端コンポーネント119が、アドレス・バス1
07に結合される。アドレス・クロック導体109の末
端で、終端コンポーネント122が、アドレス・クロッ
ク導体109に結合される。
【0027】図1のメモリ・システムでは、各データ信
号導体が、1つのコントローラ・データ・バス・ノード
を1つのメモリ・デバイス・データ・バス・ノードに接
続する。しかし、制御信号導体およびアドレス信号導体
のそれぞれが、1つのコントローラ・アドレス/制御バ
ス・ノードを、メモリ・ランクの各メモリ・コンポーネ
ント上のアドレス/制御バス・ノードに接続することが
可能である。これは、複数の理由から可能になる。第1
に、制御信号導体およびアドレス信号導体には、単一方
向信号が流れる(信号波面が、コントローラからメモリ
・デバイスに伝搬する)。両方向信号導体(データ信号
導体など)上よりも、単一方向信号導体上の方が、よい
信号完全性を維持するのが簡単である。第2に、アドレ
ス信号と制御信号に、すべてのメモリ・デバイスについ
て同一の情報が含まれる。データ信号は、すべてのメモ
リ・デバイスについて異なる。各メモリ・デバイスにつ
いて異なる、いくつかの制御信号(書き込みイネーブル
信号など)がある可能性があることに留意されたい。こ
れらの信号は、単一方向データ信号として扱われ、この
説明においてはデータ・バスの一部とみなされる。たと
えば、いくつかの場合に、データ・バスに、多数のビッ
トに対応するデータ信号線が含まれる場合があるが、い
くつかの応用例で、データ・バスによって搬送されるビ
ットの一部だけが、特定のメモリ動作についてメモリに
書き込まれる場合がある。たとえば、16ビット・デー
タ・バスに2バイトのデータが含まれるが、特定のメモ
リ動作中に、2バイトのうちの1バイトだけが、特定の
メモリ・デバイスに書き込まれる場合がある。そのよう
な例では、追加の制御信号を、データ信号がたどるもの
に類似するパスに沿って設けることができ、データ・ビ
ット線上のデータを書き込むか否かを制御する制御信号
が、データの遅延に全般的に一致する遅延を伴うパスに
沿ってシステムをトラバースし、データの書込を制御す
る際の制御信号の使用が適当なタイミングを与えられる
ようにする。第3に、アドレス信号および制御信号のす
べてのメモリ・デバイスへのルーティングによって、コ
ントローラおよびメモリ・モジュールのインターフェー
スのピンが節約される。
【0028】その結果、制御信号およびアドレス信号
が、データ信号の伝搬に使用されるワイヤより長いワイ
ヤで伝搬されるようになる。これによって、いくつかの
場合に、データ信号で、制御信号およびアドレス信号よ
り高いシグナリング・レートを使用することが可能にな
る。
【0029】メモリ・システムの性能を損なわないよう
にするために、アドレス信号および制御信号を、本発明
の実施形態に従って、ウェーブ・パイプライン化するこ
とができる。メモリ・システムは、ウェーブ・パイプラ
イン化の助けになる複数の条件を満たすように構成され
る。第1に、複数のメモリ・コンポーネントが、ランク
として編成される。第2に、アドレス信号および制御信
号の一部またはすべてが、ランクのすべてのメモリ・コ
ンポーネントに共通する。第3に、共通のアドレス信号
および制御信号が、低ひずみで(たとえばインピーダン
スを制御されて)伝搬する。第4に、共通のアドレス信
号および制御信号が、低シンボル間干渉で(たとえば単
一終端または二重終端)伝搬する。
【0030】ウェーブ・パイプライン化は、Tbit<
Twireの時に発生し、ここで、タイミング・パラメ
ータTwireは、コントローラで作られる波面が、信
号を搬送するワイヤの端の終端コンポーネントに伝搬す
る時間遅延として定義され、タイミング・パラメータT
bitは、ワイヤ上の連続する情報(ビット)の間のタ
イム・インターバルとして定義される。そのような情報
は、個々のビットまたは、同時伝送用にエンコードされ
た複数のビットを表すことができる。ワイヤ上のウェー
ブ・パイプライン化された信号は、ワイヤに接続された
レシーバによってサンプリングされる入射波である。こ
れは、一般に、波面が伝送線(たとえばワイヤ)の端か
ら反射される前にサンプリングが行われることを意味す
る。
【0031】本発明の適用可能性を、複数の形でメモリ
・コンポーネントの単一のランクから複数のランクに拡
張することが可能である。第1に、メモリ・コンポーネ
ントの複数のランクを、1つのメモリ・モジュールに実
装することができる。第2に、複数のメモリ・モジュー
ルを、1つのメモリ・システム内に実装することができ
る。第3に、データ信号導体を、各モジュールの専用、
共有、または「チェインされる」ものとすることができ
る。チェイン化には、バスが1つのモジュールを通過で
きるようにすることと、そのモジュール上の適当な回路
に接続することが含まれるが、その特定のモジュールか
ら出た時に、別のモジュールに入るか終端に達すること
ができるようにすることが含まれる。導体のそのような
チェイン化の例を、図29、32、および35と下に示
し、さらに詳細に説明する。第4に、共通の制御信号導
体およびアドレス信号導体を、各モジュールの専用、共
有、またはチェインされるものとすることができる。第
5に、データ信号導体を、各モジュール上で終端される
伝送線または終端されるスタブとすることができる。こ
の議論について、伝送線は、その伝送線を介する正しい
信号伝送を保証するために反射および他の伝送線特性を
考慮しなければならない、十分な長さを有する信号線を
表すものと理解される。対照的に、終端されるスタブ
は、そのようなスタブに関連する寄生反射および他の伝
送線特性を一般に無視することができる限られた長さを
有すると理解される。第6に、共通の制御信号導体およ
びアドレス信号導体を、各モジュール上で終端される伝
送線または終端されるスタブとすることができる。共有
されるアドレス信号および制御信号をウェーブ・パイプ
ライン化できるようにすることによって、それらのシグ
ナリング・レートを高めることができ、これによってメ
モリ・システムの性能が向上する。
【0032】図2は、本発明の実施形態による、図1に
示されたものなどのメモリ・システムのメモリ・コンポ
ーネントのランクの1スライスのクロッキングの詳細を
示すブロック図である。メモリ・コントローラ・コンポ
ーネント102に、アドレス送出ブロック201が含ま
れ、アドレス送出ブロック201は、アドレス・バス1
07およびアドレス・クロック導体109に結合され
る。メモリ・コントローラ・コンポーネント102に
は、スライスごとに、データ送出ブロック202および
データ受取ブロック203が含まれ、これらはデータ・
バス108に結合される。データ送出ブロック202
は、書込クロック導体110に結合され、データ受取ブ
ロック203は、読取クロック導体111に結合され
る。
【0033】メモリ・コンポーネント116などの各メ
モリ・コンポーネント内に、アドレス受取ブロック20
4、データ受取ブロック205、およびデータ送出ブロ
ック206が設けられる。アドレス受取ブロック204
は、アドレス・バス107およびアドレス・クロック導
体109に結合される。データ受取ブロック205は、
データ・バス108および書込クロック導体110に結
合される。データ送出ブロック206は、データ・バス
108および読取クロック導体111に結合される。
【0034】tPD0と表される伝搬遅延207が、アド
レス・バス107に沿って、メモリ・コントローラ・コ
ンポーネント102とメモリ・モジュール103の間に
存在する。tPD1と表される伝搬遅延208が、アドレ
ス・バス107に沿って、メモリ・モジュール103内
に存在する。
【0035】図2に表された基本トポロジは、複数の属
性を有する。このトポロジには、メモリ・コントローラ
が含まれる。このトポロジには、単一のメモリ・モジュ
ールが含まれる。このトポロジには、メモリ・コンポー
ネントの単一のランクが含まれる。このトポロジには、
スライスされたデータ・バス(DQ)が含まれ、ワイヤ
の各スライスが、コントローラをメモリ・コンポーネン
トに接続する。このトポロジには、コントローラをすべ
てのメモリ・コンポーネントに接続する共通のアドレス
および制御バス(Addr/CtrlまたはAC)が含
まれる。ソース同期式クロック信号が、データ信号、制
御信号、およびアドレス信号と共に流れる。制御信号お
よびアドレス信号は、単一方向であり、コントローラか
らメモリ・コンポーネントへ流れる。データ信号は、両
方向であり、コントローラからメモリ・コンポーネント
へ流れることができ(書込動作)、メモリ・コンポーネ
ントからコントローラへ流れることができる(読取動
作)。データ信号と同一のトポロジを有する制御信号が
いくつかある場合があるが、それらの制御信号は、コン
トローラからメモリ・コンポーネントへ流れるのみであ
る。そのような信号は、たとえば書込動作で書込データ
をマスクするのに使用することができる。これらは、こ
の議論においては単一方向データ信号として扱うことが
できる。データ・ワイヤ、アドレス・ワイヤ、制御ワイ
ヤ、およびクロック・ワイヤは、低ひずみで(たとえば
インピーダンスを制御された導体に沿って)伝搬する。
データ・ワイヤ、アドレス・ワイヤ、制御ワイヤ、およ
びクロック・ワイヤは、低シンボル間干渉で(たとえば
単一方向信号の単一終端および両方向信号の二重終端が
ある)伝搬する。これらの属性は、明瞭さを保つために
リストされたものである。本発明が、これらの属性を用
いて実践されることに制限されず、他のシステム・トポ
ロジを含むように実践することができることを理解され
たい。
【0036】図2には、データ・バスおよびメモリ・コ
ンポーネントのスライス番号(S={0、1、…、
S})およびモジュール番号(M={0、1})、に
基づく2次元座標系がある。ここで、スライス番号
「0」およびモジュール番号「0」が、コントローラを
参照する。この座標系を用いると、ワイヤ上の異なる位
置で信号に命名することができる。この座標系を用いる
と、複数のメモリ・ランクまたはメモリ・モジュールを
有するトポロジへの拡張も可能になる。
【0037】図2には、3つのクロック・ソース(AC
lk信号を生成するアドレス・クロック104、WCl
k信号を生成する書込クロック105、およびRClk
信号を生成する読取クロック106)も示されており、
これらが、3種類の情報転送のためのクロッキング基準
信号を生成する。これらのクロック・ソースのそれぞれ
が、それに関連する信号バスと並列のクロック・ワイヤ
を駆動する。システム内のクロック・ソースの位置は、
クロック・ソースが対応するクロック信号を駆動する、
クロック線上の物理的位置が、バス線の関係する駆動点
に隣接し、特定のバスのクロックの伝搬が、一般に、関
連するバス上の関係する情報の伝搬を追跡するようにな
っていることが好ましい。たとえば、アドレス・クロッ
ク(AClkクロック104)の位置決めは、アドレス
信号がアドレス・バス107へ駆動される物理位置に近
いことが好ましい。そのような構成では、アドレス・ク
ロックが、回路全体を通じて伝搬する時に、アドレス・
クロック信号線と全般的に同一のルートをたどるバスに
沿って伝搬するアドレス信号が経験する遅延に類似する
遅延を経験する。
【0038】各バスのクロック信号は、関連するバスの
信号の最大ビット・レートに関係する。この関係は、通
常は、整数または整数比である。たとえば、最大データ
・レートを、データ・クロック信号の周波数の2倍とす
ることができる。クロック・ソースの1つまたは2つを
「仮想」クロック・ソースとすることも可能であり、こ
の場合に、3つのクロック・ソースが、互いに整数分数
比(N/M)関係になり、それらのいずれをも、フェー
ズ・ロック・ループ(PLL)技法を使用して周波数お
よび位相をセットすることによって、他の2つのいずれ
かから合成することができる。仮想クロック・ソース
は、回路内の実際のクロック・ソースの数を最小にする
ことができる手段を表す。たとえば、WClkクロック
を、メモリ・デバイスが受け取るアドレス・クロック
(AClk)から導出し、メモリ・デバイスが、外部ソ
ースから実際にWClkクロックを受け取る必要をなく
すことができる。したがって、メモリ・デバイスは、実
際には独自の個別に生成されたWClkクロックを受け
取らないが、AClkクロックから生成されたWClk
クロックは、機能的に同等である。合成されたクロック
信号の位相は、図示の位置のクロック・ソースによって
生成された場合と同一になるように調整される。
【0039】図示のクロック信号のいずれでも、代替案
では、情報が関連するバス上に存在する時に限ってアサ
ートされる非周期的信号(たとえばストローブ制御信
号)とすることができる。クロック・ソースに関して上
で説明したように、非周期的信号ソースは、物理的な意
味で、非周期的信号に関連する伝搬遅延がそれが対応す
るバス上の信号の伝搬遅延と全般的に一致するように、
それが対応する適当なバスに隣接して位置決めされるこ
とが好ましい。
【0040】図3は、他の図のタイミング図で使用され
るアドレス・タイミングおよび制御タイミングの表記を
示すタイミング図である。図3では、AClk信号30
1の立ち上がりエッジ302が、アドレス情報ACa
305の送出中の時刻307に発生する。AClk信号
の立ち上がりエッジ303が、アドレス情報ACb30
6の送出中の時刻308に発生する。時刻308は、A
Clk信号301の次の立ち上がりエッジ304の時刻
309より時間tCCだけ前に発生する。時間tCCは、メ
モリ・コントローラ・コンポーネントのクロック回路の
サイクル・タイムを表す。タイミング図の破線は、信号
のうちで、時間的にアドレス情報またはデータ情報と同
時の部分を示すのに使用される。たとえば、AClk信
号301には、アドレス情報ACa 305の存在に対
応する時間的部分と、アドレス情報ACb 306の存
在に対応するもう1つの時間的部分が含まれる。アドレ
ス情報は、アドレス信号としてアドレス・バスを介して
送出することができる。
【0041】1ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場
合には、アドレス・ビット311が、サイクル310中
に送出される。2ビット/ワイヤがtCCごとに発生する
場合には、アドレス・ビット313および314が、サ
イクル312中に送出される。4ビット/ワイヤがtCC
ごとに発生する場合には、アドレス・ビット316、3
17、318、および319が、サイクル315中に送
出される。8ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場合
には、アドレス・ビット321、322、323、32
4、325、326、327、および328が、サイク
ル320中に送出される。各ビット・ウィンドウの駆動
点およびサンプル点を、使用されるドライバおよびサン
プラの回路技法に応じて、オフセット(1ビット時間す
なわちt CC/NACまで)だけ遅らせるか進めることがで
きることに留意されたい。パラメータNACおよびN
DQは、それぞれアドレス/制御ワイヤおよびデータ・ワ
イヤのtCCごとのビット数を表す。一実施形態では、固
定オフセットを使用する。駆動/サンプル点とビット・
ウィンドウの間のオフセットは、駆動コンポーネントと
サンプリング・コンポーネントの間で一貫性を有しなけ
ればならない。特定のシステムで、バスの駆動ポイント
に関連するオフセットのいずれもが、システム全体を通
じて一貫性を有することが好ましい。同様に、バスに関
して理解されるサンプリング・オフセットも、一貫性を
有しなければならない。たとえば、データが、あるデー
タ・バス線の関係するクロック信号の立ち上がりエッジ
に全般的に対応する点で駆動されることが期待される場
合に、その理解されるオフセット(またはその不在)
が、すべてのデータ線について一貫した形で使用される
ことが好ましい。バスへのデータの駆動に関連するオフ
セットを、そのバスによって搬送されるデータのサンプ
リングに関連するオフセットと完全に異なるものにする
ことができることに留意されたい。したがって、上の例
を継続すると、全般的に立ち上がりエッジと同時に駆動
されるデータのサンプル点は、立ち上がりエッジに対し
て180°位相はずれとし、データの有効ウィンドウが
サンプリング点によってよりよくターゲティングされる
ようにすることができる。
【0042】図4は、他の図のタイミング図で使用され
るデータ・タイミングの表記を示すタイミング図であ
る。図4では、WClk信号401の立ち上がりエッジ
402が、書込データ情報Da 405の送出中の時刻
407に発生する。WClk信号401の立ち上がりエ
ッジ403が、時刻408に発生する。WClk信号4
01の立ち上がりエッジ404が、読取データ情報Qb
406の送出中の時刻409に発生する。時刻407
は、時刻408から時間tCCだけ離れており、時刻40
8は、時刻409から時間tCCだけ離れている。時間t
CCは、クロック・サイクルの持続時間を表す。RClk
信号410に、立ち上がりエッジ411および立ち上が
りエッジ412が含まれる。これらの立ち上がりエッジ
を、RClk信号410のクロック・サイクルに対する
基準として使用することができる。たとえば、書込デー
タ情報Da 405の送出は、RClk信号410の、
立ち上がりエッジ411を含むクロック・サイクル中に
発生し、読取データ情報Qb406の送出は、RClk
信号410の、立ち上がりエッジ412を含むクロック
・サイクル中に発生する。当業者に明白であるように、
アドレス・クロックに関連するクロック・サイクル・タ
イムは、読取クロックまたは書込クロックに関連するク
ロック・サイクル・タイムと異なるものとすることがで
きる。
【0043】書込データ情報は、書き込まれる情報の要
素であり、データ・バス上で書込データ信号として送出
することができる。読取データ情報は、読み取られる情
報の要素であり、データ・バス上で読取データ信号とし
て送出することができる。表記Dxは、書込データ情報
xを表すのに使用され、表記Qyは、読取データ情報y
を表すのに使用される。信号は、アドレス信号、書込デ
ータ信号、読取データ信号、または他の信号のいずれで
あっても、要素タイム・インターバルと称する時間の
間、導体またはバスに印加することができる。そのよう
な要素タイム・インターバルを、タイミング信号を搬送
する導体またはバス上で発生するイベントと関連付ける
ことができ、そのようなイベントを、タイミング信号イ
ベントと称する場合がある。そのようなタイミング信号
の例には、クロック信号、別の信号または情報の要素か
ら導出されるタイミング信号、および、タイミングをそ
こから導出することができる他の信号が含まれる。メモ
リ・アクセス動作では、アドレス信号がアドレス・バス
に印加され始める時からそのアドレス信号に対応するデ
ータ信号がデータ・バスに印加され始める時までの時間
を、アクセス・タイム・インターバルと称することがで
きる。
【0044】1ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場
合には、データ・ビット415が、サイクル414中に
送出される。2ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場
合には、データ・ビット417および418が、サイク
ル416中に送出される。4ビット/ワイヤがtCCごと
に発生する場合には、データ・ビット420、421、
422、および423が、サイクル419中に送出され
る。8ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場合には、
データ・ビット425、426、427、428、42
9、430、431、および432が、サイクル424
中に送出される。各ビット・ウィンドウの駆動点および
サンプル点を、使用されるドライバおよびサンプラの回
路技法に応じて、オフセット(1ビット時間すなわちt
CC/NDQまで)だけ遅らせるか進めることができること
に留意されたい。一実施形態では、固定オフセットを使
用する。駆動/サンプル点とビット・ウィンドウの間の
オフセットは、駆動コンポーネントとサンプリング・コ
ンポーネントの間で一貫性を有しなければならない。た
とえば、データがコントローラ側の適当なクロック信号
の立ち上がりエッジにサンプリングされるように、デー
タ・ウィンドウが位置決めされると仮定すると、有効な
データも回路内のその位置での対応するクロックの立ち
上がりエッジに存在すると仮定されるように、類似する
規約をメモリ・デバイスで使用しなければならない。
【0045】1ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場
合には、データ・ビット434が、サイクル433中に
送出される。2ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場
合には、データ・ビット436および437が、サイク
ル435中に送出される。4ビット/ワイヤがtCCごと
に発生する場合には、データ・ビット439、440、
441、および442が、サイクル438中に送出され
る。8ビット/ワイヤがtCCごとに発生する場合には、
データ・ビット444、445、446、447、44
8、449、450、および451が、サイクル443
中に送出される。各ビット・ウィンドウの駆動点および
サンプル点を、使用されるドライバおよびサンプラの回
路技法に応じて、オフセット(1ビット時間すなわちt
CC/NDQまで)だけ遅らせるか進めることができること
に留意されたい。一実施形態では、固定オフセットを使
用する。駆動/サンプル点とビット・ウィンドウの間の
オフセットは、駆動コンポーネントとサンプリング・コ
ンポーネントの間で一貫性を有しなければならない。上
で述べたように、特定のシステムで、あるバスの駆動点
またはサンプリング点に関連するオフセットは、システ
ム全体を通じて一貫性を有することが好ましい。
【0046】メモリ・コンポーネントのカラム・サイク
ル・タイムは、連続するカラム・アクセス動作(読取ま
たは書込)を実行するのに必要なタイム・インターバル
を表す。図示の例では、AClkクロック信号、RCl
kクロック信号、およびWClkクロック信号が、カラ
ム・サイクル・タイムに等しいサイクル・タイムを有す
るものとして図示されている。当業者に明白であるよう
に、システムで使用されるクロック信号のサイクル・タ
イムは、他の実施形態では、カラム・サイクル・タイム
と異なるものとすることができる。
【0047】その代わりに、クロックのすべてが、カラ
ム・サイクル・タイムと異なるサイクル・タイムを有す
ることができる。バス上での信号の送出または受取に適
当な速度のクロックは、分配されるクロックと合成され
たクロックの間に整数比または整数分数比がある限り、
必ず、分配されるクロックから合成することができる。
前に述べたように、必要なクロックのいずれであって
も、他のバスからの分配されるクロックのいずれかから
合成することができる。
【0048】この説明では、タイミング図をできる限り
単純にするために、各tCCインターバル中に各ワイヤ上
で単一のビットがサンプリングされるか駆動されると仮
定する。しかし、各tCCインターバル中に各信号ワイヤ
上で送出されるビット数を、変更することができる。パ
ラメータNACおよびNDQは、それぞれアドレス/制御ワ
イヤおよびデータ・ワイヤの、tCCごとのビット数を表
す。分配されるクロックまたは合成されるクロックは、
CCごとに複数のビットを駆動し、サンプリングするの
に適当なクロック・エッジを作るために逓倍される。各
ビット・ウィンドウの駆動点およびサンプル点を、使用
されるドライバおよびサンプラの回路技法に応じて、オ
フセット(1ビット時間すなわちtCC/NACまたはtCC
/NDQまで)だけ遅らせるか進めることができることに
留意されたい。一実施形態では、固定オフセットを使用
する。駆動/サンプル点とビット・ウィンドウの間のオ
フセットは、駆動コンポーネントとサンプリング・コン
ポーネントの間で一貫性を有しなければならない。やは
り、上で述べたように、特定のシステムで、あるバスの
駆動点またはサンプリング点に関連するオフセットは、
システム全体を通じて一貫性を有することが好ましい。
【0049】図5は、本発明の実施形態による、アドレ
スおよび制御バス(Addr/CtrlまたはA
SM)上で通信される信号のタイミングを示すタイミ
ング図である。このバスには、このバスと本質的に同一
のワイヤ・パスを見るクロック信号AClkSMが付随
する。添字(S、M)は、特定のモジュールMまたは特
定のスライスSでのバスまたはクロック信号を示す。コ
ントローラは、スライス0になるように定義される。
【0050】AClkクロック信号501の波形に、メ
モリ・コントローラ・コンポーネントでのAClkクロ
ック信号のタイミングが示されている。AClkクロッ
ク信号501の立ち上がりエッジ502が、時刻510
に発生し、アドレス情報ACa 518の送出に関連す
る。AClkクロック信号501の立ち上がりエッジ5
03が、時刻511に発生し、アドレス情報ACb 5
19の送出に関連する。
【0051】AClkクロック信号520の波形に、ス
ライス1に配置されたメモリ・コンポーネントでのAC
lkクロック信号のタイミングが示されている。ACl
kクロック信号520は、信号501からtPD0の遅延
だけ遅れている。たとえば、信号520の立ち上がりエ
ッジ523は、信号501のエッジ502からtPD0
遅延だけ遅れている。アドレス情報ACa 537が、
信号520の立ち上がりエッジ523に関連する。アド
レス情報ACb 538が、信号520の立ち上がりエ
ッジ525に関連する。
【0052】AClkクロック信号539の波形に、ス
ライスNSに配置されたメモリ・コンポーネントでのA
Clkクロック信号のタイミングが示されている。AC
lkクロック信号539は、信号520からtPD1の遅
延だけ遅れている。たとえば、信号539の立ち上がり
エッジ541は、信号520のエッジ523からtPD 1
の遅延だけ遅れている。アドレス情報ACa 548
が、信号539の立ち上がりエッジ541に関連する。
アドレス情報ACb 549が、信号539の立ち上が
りエッジ542に関連する。
【0053】クロック信号AClkは、カラム・サイク
ル・タイムに対応するサイクル・タイムを有するものと
して図示されている。前に述べたように、この信号は、
コントローラおよびメモリ・コンポーネントがバス上の
情報をサンプリングし、駆動するのに必要なタイミング
点を生成できるように周波数および位相が制約される限
り、より短いサイクル・タイムを有することもできる。
同様に、バスは、tCCインターバルごとに送出される単
一ビット/ワイヤを有するものとして図示されている。
前に述べたように、コントローラおよびメモリ・コンポ
ーネントが、バス上の情報をサンプリングし、駆動する
のに必要なタイミング点を生成できるので、各tCCイン
ターバルに複数のビットを転送することができる。バス
の実際の駆動点(データ信号、アドレス信号、または制
御信号もしくはこれらの組合せがバスに印加される点)
が、示されたものからのオフセット(クロックの立ち上
がりエッジおよび立ち下がりエッジに対して)を有する
ことができ、これが、コントローラおよびメモリ・コン
ポーネント内の送出回路および受取回路の設計に依存す
ることに留意されたい。一実施形態では、固定オフセッ
トを使用する。駆動/サンプル点とビット・ウィンドウ
の間のオフセットは、駆動コンポーネントとサンプリン
グ・コンポーネントの間で一貫性を有しなければならな
い。上で繰り返したように、特定のシステムで、あるバ
スの駆動点またはサンプリング点に関連するオフセット
は、システム全体を通じて一貫性を有することが好まし
い。
【0054】図5で、クロックAClkSMおよびバス
ACSMが、コントローラから第1スライスに伝搬する
際に、tPD0の遅延があることに留意されたい。図示さ
れているように、AClk信号520は、時間および空
間においてAClk信号501からシフトされている。
また、クロックAClkSMおよびバスACSMが、第1
スライスから最後のスライスNSに伝搬する際に、第2
の遅延tPD1があることに留意されたい。クロックおよ
びバスが、各スライスの間を進む際に、tPD1/(NS
1)の遅延がある。この計算では、スライスの間の全般
的に等しい間隔が仮定され、そのような物理的特性がシ
ステムに存在しない場合には、遅延がこの式に従わない
ことに留意されたい。したがって、図示されているよう
に、AClk信号539は、時間および空間においてA
Clk信号520からシフトされている。その結果、N
S個のメモリ・コンポーネントのそれぞれが、時間的に
わずかに異なる点で、アドレスおよび制御バスをサンプ
リングする。
【0055】図6は、本発明の実施形態による、データ
・バス(DQSM)上で通信される信号のタイミングを
示すタイミング図である。このバスには、本質的にこの
バスと同一のワイヤ・パスを見る2つのクロック信号R
ClkSMおよびWClkSMが付随する。添字(S、
M)は、特定のモジュールMまたは特定のスライスSで
のバスまたはクロック信号を示す。コントローラは、モ
ジュール0になるように定義される。2つのクロック
は、反対方向に進む。WClkSMには、コントローラ
によって送出され、メモリ・コンポーネントによって受
け取られる書込データが付随する。RClkSMには、
メモリ・コンポーネントによって送出され、コントロー
ラによって受け取られる読取データが付随する。説明す
る例では、読取データ(「Q」によって表される)およ
び書込データ(「D」によって表される)が、データ・
バスを同時に占有しない。他の実施形態では、同一の導
体上で搬送される複数の波形を区別でき、分解できるよ
うにする加法的シグナリングを可能にする追加回路が設
けられる場合に、こうでない場合があることに留意され
たい。
【0056】WClkクロック信号601の波形に、メ
モリ・コントローラ・コンポーネントでのWClkクロ
ック信号のタイミングが示されている。立ち上がりエッ
ジ602が、時刻610に発生し、モジュール0のスラ
イス1に存在する書込データ情報Da 618に関連す
る。立ち上がりエッジ607が、時刻615に発生し、
モジュール0のスライス1に存在する書込データ情報D
d 621に関連する。立ち上がりエッジ608が、時
刻616に発生し、モジュール0のスライス1に存在す
る書込データDe622に関連する。
【0057】RClkクロック信号623の波形に、メ
モリ・コントローラ・コンポーネント(モジュール0)
でのRClkクロック信号のタイミングが示されてい
る。立ち上がりエッジ626が、メモリ・コントローラ
・コンポーネント(モジュール0のスライス1)に存在
する読取データ情報Qb 619に関連する。立ち上が
りエッジが、メモリ・コントローラ・コンポーネント
(モジュール0のスライス1)に存在する読取データ情
報Qc 620に関連する。
【0058】WClkクロック信号632の波形に、モ
ジュール1のスライス1にあるメモリ・コンポーネント
でのWClkクロック信号のタイミングが示されてい
る。立ち上がりエッジ635が、モジュール1のスライ
ス1に存在する書込データ情報Da 649に関連す
る。立ち上がりエッジ645が、モジュール1のスライ
ス1に存在する書込データ情報Dd 652に関連す
る。立ち上がりエッジ647が、モジュール1のスライ
ス1に存在する書込データ情報De 653に関連す
る。
【0059】RClkクロック信号654の波形に、モ
ジュール1のスライス1のメモリ・コンポーネントでの
RClkクロック信号のタイミングが示されている。立
ち上がりエッジ658が、モジュール1のスライス1に
存在する読取データ情報Qb650に関連する。立ち上
がりエッジ660が、モジュール1のスライス1に存在
する読取データ情報Qc 651に関連する。
【0060】クロック信号は、tCCに対応するサイクル
・タイムを有するものとして図示されている。前に述べ
たように、クロック信号は、コントローラおよびメモリ
・コンポーネントがバス上の情報をサンプリングし、駆
動するのに必要なタイミング点を生成できるように周波
数および位相が制約される限り、より短いサイクル・タ
イムを有することもできる。同様に、バスは、単一ビッ
ト/ワイヤを有するものとして図示されている。前に述
べたように、コントローラおよびメモリ・コンポーネン
トが、バス上の情報をサンプリングし、駆動するのに必
要なタイミング点を生成できるので、各tCCインターバ
ルに複数のビットを転送することができる。バスの実際
の駆動点が、示されたものからのオフセット(クロック
の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに対して)
を有することができ、これが、コントローラおよびメモ
リ・コンポーネント内の送出回路および受取回路の設計
に依存することに留意されたい。一実施形態では、固定
オフセットを使用する。駆動/サンプル点とビット・ウ
ィンドウの間のオフセットは、駆動コンポーネントとサ
ンプリング・コンポーネントの間で一貫性を有しなけれ
ばならない。
【0061】図6では、クロックWClkSMおよびバ
スDQSM(書込データを有する)が、コントローラか
ら第1モジュールのスライスまで伝搬する際に、遅延t
PD2があることに留意されたい。したがって、WClk
クロック信号632は、時間および空間においてWCl
kクロック信号601からシフトされている。また、ク
ロックRClkSMおよびバスDQSM(読取データを有
する)が、第1モジュールのスライスからコントローラ
まで伝搬する際に、ほぼ等しい遅延tPD2があることに
留意されたい。したがって、RClkクロック信号62
3は、時間および空間においてRClkクロック信号6
54からシフトされている。
【0062】その結果、コントローラおよびメモリ・コ
ンポーネントは、書込データと読取データを同時に駆動
することを試みなくなるように、その送出ロジックを調
整されなければならない。図6の例には、書込−読取−
読取−書込−書込転送があるシーケンスが示されてい
る。読取−読取転送および書込−書込転送は、連続する
CCインターバールに行うことができることがわかる。
というのは、両方のインターバルでデータが同一方向に
進むからである。しかし、書込−読取転送および読取−
書込転送では、ギャップ(バブル)を挿入し、その結
果、ドライバが、前のインターバールに駆動されたデー
タがもはやバス上にない(バス・ワイヤのいずれかの端
の終端コンポーネントによって吸収された)時に限って
ターン・オンするようにする。
【0063】図6では、読取クロックRClkSMおよ
び書込クロックWClkSMが、各メモリ・コンポーネ
ントで同相である(しかし、各メモリ・コンポーネント
でのこれらのクロックの相対位相は、他のメモリ・コン
ポーネントと異なる。これは、後で、システム全体のタ
イミングを述べる時に示す)。この位相一致の選択が、
使用することができた複数の可能な代替案の1つである
ことに留意されたい。他の代替案のいくつかを、後で説
明する。
【0064】各メモリ・コンポーネント(スライス)で
読取クロックと書込クロックを一致させた結果として、
メモリ・コンポーネントで(図6の最下部)、読取デー
タQb 650を有するtCCインターバルが、書込デー
タDa 649を有するtCCインターバルの直後に続く
ように見えるが、コントローラでは(図6の最上部)、
読取データ・インターバルQb 619と書込データ・
インターバルDa 618の間に2×tPD2のギャップ
がある。コントローラでは、読取データQc620と書
込データDd 621の間に、(2×tCC−2×
PD2)の第2のギャップがある。読取データQc 6
51と書込データDd 621の間に、(2×tCC)の
ギャップがある。メモリ・コンポーネントとコントロー
ラでのギャップの合計が、2×tCCになることに留意さ
れたい。
【0065】次に、システム全体のタイミングを説明す
る。例のシステムでは、各メモリ・コンポーネントでA
ClkSMクロック、RClkSMクロック、およびWC
lk SMクロックの位相を整列させる(スライス番号
は、1からNSまで変化し、モジュール番号は、1に固
定される)。これは、各メモリ・コンポーネントが、単
一のクロック・ドメイン内で動作でき、ドメイン・クロ
ッシングの問題が回避されるという利益を有する。アド
レスおよび制御クロックAClkSMが、各メモリ・コ
ンポーネントを通って流れるので、各メモリ・スライス
のクロック・ドメインは、隣接するスライスからわずか
にオフセットする。この位相設定決定のコストは、コン
トローラが、各スライスの読取クロックおよび書込クロ
ックを異なる位相値に調整しなければならないことであ
る。これは、コントローラ内に1+(2×NS)個のク
ロック・ドメインがあり、これらのドメインの間のクロ
ッシングが、効率的に非常に重要になることを意味す
る。他の位相制約が、可能であり、後で説明する。
【0066】図7は、本発明の実施形態による、メモリ
・コントローラ・コンポーネントでのシステム・タイミ
ングを示すタイミング図である。前と同様に、コントロ
ーラは、制御およびアドレス・バスAClkS0M1
で、動作の書込−読取−読取−書込シーケンスを送る。
Da書込データ情報が、WClkS1M0バスおよびWC
lkSNsM0バス上で送られ、その結果、Da書込データ
情報が、アドレスおよび制御情報ACaの1サイクル後
に各スライスのメモリ・コンポーネントに達することが
好ましい。これは、WClkS1M0クロックの位相を、
AClkS0M1クロックの位相に対して全般的に(tPD0
−tPD2)と同等にする(正は遅れ、負は進みを意味す
る)ことによって行われる。これによって、これらが、
第1モジュールの第1スライスのメモリ・コンポーネン
トで同相になる。同様に、WClkSN sM0クロックの位
相は、AClkS0M1クロックの位相に対して全般的に
(tPD0+tPD1−tPD2)と同等になるように調整され
る。伝搬遅延を近似するためのクロックの位相調節を、
所望の調整からわずかに異なるものとしながら、成功裡
のシステム動作を可能にするように、ある許容範囲がシ
ステムに組み込まれることが好ましいことに留意された
い。
【0067】類似する形で、RClkS1M0クロックの
位相を、AClkS0M1クロックの位相に対して、全般
的に(tPD0+tPD2)と同等になるように調整する。こ
れによって、これらのクロックが、第1モジュールの最
終スライスのメモリ・コンポーネントで同相になる。同
様に、RClkSNsM0クロックの位相を、AClkS0M
1クロックの位相に対して式(tPD0+tPD1+tPD2)に
従って調整して、RClkSNsM0クロックおよびACl
S0M1クロックが、第1モジュールの最終スライスの
メモリ・コンポーネントで同相になるようにする。
【0068】AClkクロック信号701の波形に、ス
ライス0にあるものと示されたメモリ・コントローラ・
コンポーネントでのAClkクロック信号が示されてい
る。立ち上がりエッジ702が、時刻710に発生し、
スライス0に存在するアドレス情報ACa 718に関
連する。立ち上がりエッジ703が、時刻711に発生
し、スライス0に存在するアドレス情報ACb 719
に関連する。立ち上がりエッジ704が、時刻712に
発生し、スライス0に存在するアドレス情報ACc 7
20に関連する。立ち上がりエッジ707が、時刻71
5に発生し、スライス0に存在するアドレス情報ACd
721に関連する。
【0069】WClkクロック信号722の波形に、W
Clkクロック信号がモジュール0のメモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントに存在する時のスライス1のメモ
リ・コンポーネントのWClkクロック信号が示されて
いる。立ち上がりエッジ724が、時刻711に発生
し、存在する書込データ情報Da 730に関連する。
立ち上がりエッジ729が、時刻716に発生し、存在
する書込データ情報Dd733に関連する。
【0070】RClkクロック信号734の波形に、R
Clkクロック信号がモジュール0のメモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントに存在する時のスライス1のメモ
リ・コンポーネントのRClkクロック信号が示されて
いる。立ち上がりエッジ737が、存在する読取データ
情報Qb 731に関連する。立ち上がりエッジ738
が、存在する読取データ情報Qc 732に関連する。
【0071】WClkクロック信号741の波形に、W
Clkクロック信号がモジュール0のメモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントに存在する時のスライスNSのメ
モリ・コンポーネントのWClkクロック信号が示され
ている。書込データ情報Da756が、信号741のエ
ッジ744に関連する。書込データ情報Dd 759
が、信号741のエッジ754に関連する。
【0072】RClkクロック信号760の波形に、R
Clkクロック信号がモジュール0のメモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントに存在する時のスライスNSのメ
モリ・コンポーネントのRClkクロック信号が示され
ている。読取データ情報Qb757が、信号760のエ
ッジ764に関連する。読取データ情報Qc 758
が、信号760のエッジ766に関連する。
【0073】図8は、本発明の実施形態による、ランク
1のスライス1のメモリ・コンポーネントでのクロック
AClkS1M1、WClkS1M1、およびRClkS1M1
の整列を示すタイミング図である。3つのクロックのす
べてが、コントローラで作られるAClkS0M1クロッ
クに対してtPD0だけ遅れている。
【0074】AClkクロック信号801の波形に、モ
ジュール1のスライス1にあるメモリ・コンポーネント
のAClkクロック信号が示されている。アドレス情報
ACa 822が、信号801のエッジ802に関連す
る。アドレス情報ACb 823が、信号801のエッ
ジ804に関連する。アドレス情報ACc 824が、
信号801のエッジ806に関連する。アドレス情報A
Cd 825が、信号801のエッジ812に関連す
る。
【0075】WClkクロック信号826の波形に、モ
ジュール1のスライス1にあるメモリ・コンポーネント
のWClkクロック信号が示されている。書込データ情
報Da 841が、信号826のエッジ829に関連す
る。書込データ情報Dd 844が、信号826のエッ
ジ839に関連する。
【0076】RClkクロック信号845の波形に、モ
ジュール1のスライス1にあるメモリ・コンポーネント
のRClkクロック信号が示されている。読取データ情
報Qb 842が、信号845のエッジ850に関連す
る。読取データ情報Qc 843が、信号845のエッ
ジ852に関連する。
【0077】図9は、本発明の実施形態による、モジュ
ール1のランク1のスライスNSのメモリ・コンポーネ
ントでのクロックAClkSNsM1、WClkSNsM1、お
よびRClkSNsM1の整列を示すタイミング図である。
3つのクロックのすべてが、コントローラで作られるA
ClkS0M1クロックに対して(tPD0+tPD1)だけ遅
れている。
【0078】AClkクロック信号901の波形に、モ
ジュール1のスライスNSにあるメモリ・コンポーネン
トのAClkクロック信号が示されている。信号901
の立ち上がりエッジ902が、アドレス情報ACa 9
17に関連する。信号901の立ち上がりエッジ903
が、アドレス情報ACbに関連する。信号901の立ち
上がりエッジ904が、アドレス情報ACc 919に
関連する。信号901の立ち上がりエッジ907が、ア
ドレス情報ACd 920に関連する。
【0079】WClkクロック信号921の波形に、モ
ジュール1のスライスNSにあるメモリ・コンポーネン
トのWClkクロック信号が示されている。信号921
の立ち上がりエッジ923が、書込データ情報Da 9
37に関連する。信号921の立ち上がりエッジ928
が、書込データ情報Dd 940に関連する。
【0080】RClkクロック信号929の波形に、モ
ジュール1のスライスNSにあるメモリ・コンポーネン
トのRClkクロック信号が示されている。信号929
の立ち上がりエッジ932が、読取データ情報Qb 9
38に関連する。信号929の立ち上がりエッジ933
が、読取データ情報Qc 939に関連する。
【0081】図8および9の両方で、各メモリ・コンポ
ーネントから見た時の、アドレス/制御情報(たとえば
図9のACa 917)とそれに付随する読取情報また
は書込情報(この例では図9のDa 937)との間に
1つのtCCサイクル遅延があることに留意されたい。こ
れは、他のトポロジの場合に異なる可能性がある、すな
わち、より長いアクセス遅延がある可能性がある。一般
に、メモリ・コンポーネントでの書込動作のアクセス遅
延は、データ・バスの使用率を最大にするために、読取
動作に関するアクセス遅延と等しいか、ほぼ等しくしな
ければならない。
【0082】図10から18に、図5から9に示された
ものとほとんど同一のアドレスおよびデータのタイミン
グ関係を使用する例示的システムの詳細を示す。具体的
に言うと、3つのクロックのすべてが、各メモリ・コン
ポーネントで同相である。しかし、この例のシステム
は、前の説明に対する複数の相違を有する。第1に、2
ビット/ワイヤが、tCCインターバルごとにACバス
(アドレス/制御バスまたは単にアドレス・バス)に印
加される。第2に、8ビット/ワイヤが、tCCインター
バルごとにDQバスに印加される。第3に、クロック信
号は、ACバスに付随するが、DQバスの読取クロック
および書込クロックは、ACバスのクロックから合成さ
れる。
【0083】図10は、本発明の実施形態による、図1
に示されたものなどのメモリ・システムの1つのメモリ
・ランク(メモリ・コンポーネントの1つまたは複数の
スライス)のさらなる詳細を示すブロック図である。こ
のランクを構成するメモリ・コンポーネントの内部ブロ
ックは、外部のACバスまたはDQバスに接続される。
これらの外部バス上の直列化されたデータは、内部バス
上の並列形式との間で変換され、内部バスは、メモリ・
コア(システムの情報を保持するのに使用されるストレ
ージ・セルのアレイ)に接続される。図10に、メモリ
・ランクに接続されたすべてで32ビットのDQバスが
示されていることに留意されたい。これらの32ビット
は、複数の等しいサイズのスライスに分割され、バスの
各スライスが、1つのメモリ・コンポーネントにルーテ
ィングされる。したがって、スライスは、DQバスのう
ちで別々のメモリ・コンポーネントにルーティングされ
る部分に基づいて定義される。図10に示された例で
は、特定の例のシステムの32データ・ビットの組全体
をサポートするメモリ・コンポーネントまたはメモリ・
デバイスが示されている。他の実施形態では、そのよう
なシステムに、2つのメモリ・デバイスを含めることが
でき、各メモリ・デバイスが、32データ・ビットの半
分をサポートする。したがって、これらのメモリ・デバ
イスのそれぞれに、データ・バス全体のうちでそのデバ
イスが責任を負う部分を各デバイスが個別にサポートで
きるようにする、適当なデータ送出ブロック、データ受
取ブロック、およびメモリ・コアの分配が含まれる。デ
ータ・ビットの数は、32である必要はなく、変更でき
ることに留意されたい。
【0084】AClk信号は、ACバスに付随するクロ
ックである。これは、受け取られ、メモリ・コンポーネ
ントによって生成されるすべてのクロック信号の周波数
および位相の基準として使用される。他のクロックは、
ClkM2、ClkM8、およびClkMである。これ
らは、それぞれ、AClkの周波数の2倍、8倍、およ
び1倍である。すべてのクロックの立ち上がりエッジ
が、整列される(位相オフセットなし)。周波数および
位相の調整は、通常は、あるタイプのフェーズ・ロック
・ループ(PLL)回路を用いて行われるが、他の技法
を使用することもできる。さまざまな異なる適当なPL
L回路が、当技術分野で周知である。フィードバック・
ループに、さまざまなクロックを受取ブロックおよび送
出ブロックならびにメモリ・コアに分配するのに必要な
クロック・ドライバのスキューが含まれる。メモリ・コ
アはClkMドメインで動作すると仮定する。
【0085】メモリ・コンポーネント116に、メモリ
・コア1001、PLL 1002、PLL 100
3、およびPLL 1004が含まれる。AClkクロ
ック信号109が、バッファ1015によって受け取ら
れ、バッファ1015は、クロック信号1019をPL
L 1002、1003、および1004に供給する。
さまざまなPLL設計が、当技術分野で周知であるが、
本明細書に記載の例の実施形態で実施されるいくつかの
PLLは、所望の特定の機能性を可能にするために、多
少のカスタマイズを必要とする。したがって、本明細書
で説明するいくつかの実施形態では、PLL内のさまざ
まなブロックの特定の動作を、さらに詳細に説明する。
したがって、本明細書で説明する例の実施形態に含まれ
るPLL構造のいくつかが、極端に詳細には説明されな
いが、そのようなPLLによって達成される全般的な目
的が、当業者に周知のさまざまな回路を介して容易に認
識可能であることは、当業者に明白である。PLL 1
002には、位相比較器および電圧制御発振器(VC
O)1005が含まれる。PLL 1002は、クロッ
ク信号ClkM 1024を、メモリ・コア1001、
アドレス/制御受取ブロック204、データ受取ブロッ
ク205、およびデータ送出ブロック206に供給す
る。
【0086】PLL 1003には、プリスケーラ10
09、位相比較器およびVCO 1010、および分周
器1011が含まれる。プリスケーラ1009は、周波
数分周器(分周器1011を実装するのに使用されるも
のなど)として実装することができ、周波数分周の必要
がない補償用遅延を供給する。プリスケーラ1009
は、信号1021を位相比較器およびVCO 1010
に供給する。VCO 1010内の位相比較器は、2つ
の入力と1つの出力を有する三角形として表されてい
る。位相比較器1010の機能性は、その入力の1つで
あるフィードバック信号1023の位相が基準信号10
21に対して全般的に位相整列されることを保証する出
力信号を作るように構成されることが好ましい。この規
約は、本明細書で説明する他のPLLに含まれる類似す
る構造に適用可能であることが好ましい。分周器101
1は、フィードバック信号1023を位相比較器および
VCO1010に供給する。PLL 1003は、クロ
ック信号ClkM2 1025をアドレス/制御受取ブ
ロック204に供給する。
【0087】PLL 1004には、プリスケーラ10
06、位相比較器およびVCO 1007、および分周
器1008が含まれる。プリスケーラ1006は、周波
数分周器(分周器1011を実装するのに使用されるも
のなど)として実装することができ、周波数分周の必要
がない補償用遅延を供給する。プリスケーラ1006
は、信号1020を位相比較器およびVCO 1007
に供給する。分周器1008は、フィードバック信号1
022を位相比較器およびVCO 1007に供給す
る。PLL 1004は、クロック信号ClkM8 1
026をデータ受取ブロック205およびデータ送出ブ
ロック206に供給する。
【0088】アドレス・バス107は、バッファ101
2を介して、結合1016を介してアドレス/制御受取
ブロック204に結合される。データ送出ブロック20
6のデータ出力1018は、バッファ1014を介して
データ・バス108に結合される。データ・バス108
は、バッファ1013を介してデータ受取ブロック20
5のデータ入力1017に結合される。
【0089】アドレス/制御受取ブロック204は、内
部アドレス・バス1027を介してメモリ・コア100
1にアドレス情報を供給する。データ受取ブロック20
5は、内部書込データ・バス1028を介してメモリ・
コア1001に書込データを供給する。メモリ・コア1
001は、内部読取データ・バス1029を介してデー
タ送出ブロック206に読取データを供給する。
【0090】図11は、本発明の実施形態による、図1
0の受取ブロックおよび送出ブロックで使用されるロジ
ックを示すブロック図である。この図では、わかりやす
くするために、各バスの1ビットだけに関する要素が図
示されている。そのような要素が、バスのビットごとに
複製される場合があることを理解されたい。
【0091】アドレス/制御受取ブロック204に、レ
ジスタ1101、1102、および1103が含まれ
る。アドレス・バス導体1016が、レジスタ1101
および1102に結合され、レジスタ1101および1
102は、一緒にシフト・レジスタを形成し、ClkM
2クロック信号1025によってクロッキングされ、そ
れぞれ結合1104および1105を介してレジスタ1
103に結合される。レジスタ1103は、ClkMク
ロック信号1024によってクロッキングされ、内部ア
ドレス・バス1027にアドレス/制御情報を供給す
る。図11のレジスタ1101および1102の表現
は、これらがシフト・レジスタを形成し、1サイクル中
にレジスタ1101に入るデータが、後続サイクル中に
レジスタ1101に新しいデータが入る時にレジスタ1
102に転送されることを意味すると理解されることが
好ましい。図11に示された特定の実施形態では、デー
タの移動が、クロック信号ClkM2 1025によっ
て制御される。クロックClkM2 1025が、クロ
ックClkM 1024の周波数の2倍で動作する場合
に、受取ブロック204は、一般に、直列−並列シフト
・レジスタとして動作し、2つの連続する直列ビット
が、信号線RAC 1027に出力される前に、一緒に
2ビット並列フォーマットにグループ化される。したが
って、図で、複数のレジスタが類似する構成で一緒にグ
ループ化される他の類似する表現は、レジスタによって
形成されるパスに沿って直列にデータをシフトできるよ
うにするのに必要な相互接続を含むと理解されることが
好ましい。例には、送出ブロック206に含まれるレジ
スタ1123から1130と、受取ブロック205に含
まれるレジスタ1106から1113が含まれる。その
結果、入力1016の直列情報が、出力1027で並列
形式に変換される。
【0092】データ受取ブロック205に、レジスタ1
106、1107、1108、1109、1110、1
111、1112、1113、および1114が含まれ
る。データ入力1017は、レジスタ1106、110
7、1108、1109、1110、1111、111
2、および1113に結合され、これらのレジスタは、
ClkM8クロック信号1026によってクロッキング
され、それぞれ結合1115、1116、1117、1
118、1119、1120、1121、および112
2を介してレジスタ1114に結合される。レジスタ1
114は、ClkMクロック信号1024によってクロ
ッキングされ、書込データを内部書込データ・バス10
28に供給する。その結果、入力1017の直列情報
が、出力1028の並列形式に変換される。
【0093】データ送出ブロック206に、レジスタ1
123、1124、1125、1126、1127、1
128、1129、1130、および1131が含まれ
る。内部読取データ・バス1029からの読取データ
が、レジスタ1131に供給され、レジスタ1131
は、ClkMクロック1024によってクロッキングさ
れ、結合1132、1133、1134、1135、1
136、1137、1138、および1139を介して
レジスタ1123、1124、1125、1126、1
127、1128、1129、および1130に結合さ
れる。レジスタ1123、1124、1125、112
6、1127、1128、1129、および1130
は、ClkM8クロック1026によってクロッキング
され、データ出力1018を供給する。その結果、入力
1029の並列情報が、出力1018の直列形式に変換
される。
【0094】図示されているのは、アドレス/制御デー
タおよび書込データをサンプリングし、読取データを駆
動するのに必要なレジスタ要素である。この例では、各
CCインターバルにアドレス/制御(AC[i])ワイ
ヤごとに2ビットが転送されることと、各tCCインター
バルに読取データ(Q[i])ワイヤまたは書込データ
(D[i])ワイヤごとに8ビットが転送されることが
仮定されている。プライマリ・クロックClkM(tCC
のサイクル・タイムを有する)のほかに、生成される2
つの他の整列されるクロックがある。ClkM2(tCC
/2のサイクル・タイムを有する)と、ClkM8(t
CC/8のサイクル・タイムを有する)がある。これらの
より高周波数のクロックによって、情報が、メモリ・コ
ンポーネントへシフト・インされるか、メモリ・コンポ
ーネントからシフト・アウトされる。各tCCインターバ
ルに1回、直列データが、ClkMによってクロッキン
グされる並列レジスタとの間で転送される。
【0095】ClkM2クロックおよびClkM8クロ
ックが、ClkMクロックに対して周波数および位相を
ロックされることに留意されたい。この2つのより高周
波数のクロックの正確な位相整列は、ドライバ・ロジッ
クおよびサンプラ・ロジックの回路実施形態に依存す
る。ドライバ遅延またはサンプラ遅延を考慮に入れるた
めにわずかなオフセットがある場合がある。ClkMク
ロックに対するACバスおよびDQバスのビット有効ウ
ィンドウの正確な位置を考慮に入れるためにわずかなオ
フセットがある場合もある。
【0096】メモリ・コンポーネント内で、ClkM2
クロックまたはClkM8クロックを、それぞれtCC
サイクル・タイムを有するが、tCCインターバル全体に
またがって等しい増分の位相のオフセットを有する2ク
ロックまたは8クロックに置換できることにも留意され
たい。送出ブロック204内のレジスタ1101から1
102、送出ブロック206内のレジスタ1123から
1130、受取ブロック205内のレジスタ1106か
ら1113を含む直列レジスタが、2個または8個のレ
ジスタのブロックによって置換され、各レジスタに、異
なるクロック信号がロードされ、その結果、ACバスお
よびDQバスのビット・ウィンドウが、正しくサンプリ
ングされるか駆動されるようになる。たとえば、送出ブ
ロック204では、2つの個別のレジスタが含まれ、一
方のレジスタが、特定の位相を有する第1クロック信号
によってクロッキングされ、第2のレジスタが、異なる
位相を有する異なるクロック信号によってクロッキング
され、この2つのクロック信号の間の位相関係は、上で
詳細に説明したものと同等の直列−並列変換を達成でき
るものであると理解される。もう1つの可能性は、エッ
ジ・センシティブ・ストレージ要素(レジスタ)ではな
くレベル・センシティブ・ストレージ要素(ラッチ)を
使用し、その結果、クロック信号の立ち上がりエッジと
立ち下がりエッジが、異なるストレージ要素のロードを
引き起こすようにすることである。
【0097】直列化を実施する方法に無関係に、各ワイ
ヤ上でtCCインターバルごとに複数のビット・ウィンド
ウがあり、これらのビット・ウィンドウを正しく駆動
し、サンプリングするために、tCCインターバルごとに
複数のクロック・エッジが、メモリ・コンポーネント内
で作成される。
【0098】図12は、本発明の実施形態による、図1
に示されたものなどのメモリ・システムのメモリ・コン
トローラ・コンポーネントの詳細を示すブロック図であ
る。メモリ・コントローラ・コンポーネント102に、
PLL 1202、1203、1204、および120
5と、アドレス/制御送出ブロック201と、データ送
出ブロック202と、データ受取ブロック203と、コ
ントローラ・ロジック・コア1234が含まれる。PL
L 1202に、位相比較器およびVCO 1206が
含まれる。PLL 1202は、ClkInクロック信
号1201を受け取り、コントローラ・ロジック・コア
1234およびバッファ1224にClkCクロック信
号1215を供給し、バッファ1224は、AClkク
ロック信号109を出力する。
【0099】PLL 1203に、プリスケーラ120
7、位相比較器およびVCO 1208、および分周器
1209が含まれる。プリスケーラ1207は、周波数
分周器として実装することができ、周波数分周の必要が
ない補償用遅延を供給する。プリスケーラ1207は、
ClkInクロック信号1201を受け取り、位相比較
器およびVCO 1208に信号1216を供給する。
分周器1209は、フィードバック信号1218を位相
比較器およびVCO 1208に供給し、位相比較器お
よびVCO 1208は、ClkC2クロック出力12
17をアドレス/制御送出ブロック201に供給する。
【0100】PLL 1204に、位相比較器およびV
CO 1210、ダミー位相オフセット・セレクタ12
12、および分周器1211が含まれる。ダミー位相オ
フセット・セレクタ1212は、ある量の遅延を挿入し
て、位相オフセット・セレクタに固有の遅延を模倣し、
信号1220を分周器1211に供給し、分周器121
1は、フィードバック信号1221を位相比較器および
VCO 1210に供給する。位相比較器およびVCO
1210は、ClkInクロック入力1201を受け
取り、データ送出ブロック202およびデータ受取ブロ
ック203にClkC8クロック出力1219を供給す
る。
【0101】PLL 1205に、位相シフト回路12
14と位相比較器およびVCO 1213が含まれる。
位相シフト回路1214は、位相比較器およびVCO
1213にフィードバック信号1223を供給する。位
相比較器およびVCO 1213は、ClkInクロッ
ク信号1201を受け取り、データ送出ブロック202
およびデータ受取ブロック203にClkCDクロック
信号1222を供給する。
【0102】コントローラ・ロジック・コア1234
は、データ送出ブロック202にTPhShB信号12
35およびTPhShA信号1236を供給する。コン
トローラ・ロジック・コア1234は、データ受取ブロ
ック203にRPhShB信号1237およびRPhS
hA信号1238を供給する。コントローラ・ロジック
・コア1234は、データ送出ブロック202およびデ
ータ受取ブロック203に、LoadSkip信号12
39を供給する。コントローラ・ロジック・コア123
4に、PhShCブロック1240が含まれる。コント
ローラ・ロジック・コア1234の機能性は、図17に
関して下でさらに詳細に説明する。
【0103】コントローラ・ロジック・コア1234
は、内部アドレス・バス1231を介してアドレス/制
御送出ブロック201にアドレス/制御情報を供給す
る。コントローラ・ロジック・コア1234は、内部書
込データ・バス1232を介してデータ送出ブロック2
02に書込データを供給する。コントローラ・ロジック
・コア1234は、内部読取データ・バス1233を介
してデータ受取ブロック203から読取データを受け取
る。
【0104】アドレス/制御送出ブロック201は、出
力1228を介してバッファ1225に結合され、バッ
ファ1225は、ACバス107を駆動する。データ送
出ブロック202は、バッファ1226に出力1229
を供給し、バッファ1226は、DQバス108を駆動
する。バッファ1227は、DQバス108を、データ
受取ブロック203の入力1230に結合する。
【0105】アドレス/制御送出ブロック201のそれ
ぞれが、ACバスに接続され、ブロック202および2
03のそれぞれが、DQバスに接続される。これらの外
部バス上の直列化されたデータは、コントローラ・ロジ
ックの残りに接続される並列形式の内部バスの間で変換
される。コントローラの残りはClkCクロック・ドメ
インで動作すると仮定する。
【0106】図示の実施形態では、ClkIn信号が、
メモリ・サブシステム全体のマスタ・クロックである。
これは、受け取られ、コントローラによって使用される
すべてのクロック信号の周波数および位相の基準として
使用される。他のクロックは、ClkC2、ClkC
8、ClkC、およびClkCDである。これらは、そ
れぞれClkInの周波数の2倍、8倍、1倍、および
1倍である。ClkCは、ClkInに対する位相オフ
セットがなく、ClkCDは、90°遅れている。Cl
kC2は、1つおきの立ち上がりエッジを、ClkIn
の立ち上がりエッジに整列される。
【0107】8つおきのClkC8立ち上がりエッジ
が、周波数分周器と送出ブロックおよび受取ブロックの
位相オフセット・セレクタとの遅延を補償するオフセッ
トを除いて、ClkInの立ち上がりエッジに整列され
る。ClkC8信号に対して位相シフトされる「N」個
の追加のClkC8信号(ClkC8[N:1])があ
る。これらの他のClkC8位相は、メモリ・コンポー
ネントとの通信に必要な送出クロック・ドメインおよび
受取クロック・ドメインを合成するのに使用される。
【0108】周波数および位相の調整は、通常は、ある
タイプのフェーズ・ロック・ループ(PLL)回路を用
いて行われるが、他の技法を使用することもできる。P
LL回路のフィードバック・ループに、さまざまなクロ
ックを受取ブロックおよび送出ブロックならびにコント
ローラ・ロジックの残りに分配するのに必要なクロック
・ドライバのスキューが含まれる。
【0109】図13は、本発明の実施形態による、図1
2の受取ブロックおよび送出ブロックで使用されるロジ
ックを示すブロック図である。メモリ・コントローラ・
コンポーネント102に、アドレス/制御送出ブロック
201、データ送出ブロック202、およびデータ受取
ブロック203が含まれる。わかりやすくするために、
1ビットだけに関する要素が図示されている。そのよう
な要素が、バスのビットごとに複製される場合があるこ
とを理解されたい。
【0110】アドレス/制御送出ブロック201に、レ
ジスタ1301と、レジスタ1302および1303が
含まれる。内部アドレス・バス1231が、レジスタ1
301に結合され、レジスタ1301は、ClkCクロ
ック1215によってクロッキングされ、それぞれ結合
1304および1305を介してレジスタ1302およ
び1303に出力を供給する。レジスタ1302および
1303は、ClkC2クロック1217によってクロ
ッキングされ、ACバスに出力1328を供給する。そ
の結果、内部アドレス・バス1231上の並列情報が、
出力1228の直列形式に変換される。アドレス/制御
送出ブロック201の追加の機能の詳細を、下で図13
に関して提供する。
【0111】一般に、図13に示されたデータ送出ブロ
ック202およびデータ受取ブロック203は、データ
の直列−並列変換または並列−直列変換を実行する機能
をサービスする(変換のタイプは、データ・フローの方
向に依存する)。そのようなブロックは、メモリ・デバ
イス内に存在するブロックに類似するが、この特定のシ
ステムのコントローラに含まれる送出ブロックおよび受
取ブロックの場合には、これらの直列−並列変換および
並列−直列変換を実行するのに必要な適当なクロッキン
グ信号を得るために、追加回路が必要である。この例の
メモリ・デバイスでは、クロックが、メモリ・デバイス
内で位相を整列されると理解されるので、そのようなク
ロック調整回路は不要である。しかし、メモリ・デバイ
ス内の位相整列が、コントローラに関するメモリ・デバ
イスの物理的な位置決めに起因してシステムの他の部分
での位相不一致を引き起こすというシステム内での前提
に起因して、コントローラ内ではそのような位相整列を
保証することができない。したがって、コントローラか
ら第1の距離に位置決めされたメモリ・デバイスは、コ
ントローラと通信される信号に関する、第2の位置に位
置決めされた第2のメモリ・デバイスとは異なる特性遅
延の組を有する。したがって、コントローラが、メモリ
・デバイスのそれぞれによって供給される読取データを
正しく取り込むことを保証されるようにし、メモリ・デ
バイスのそれぞれによって受け取られることを意図され
た書込データをコントローラが正しく駆動できるように
するために、個々のクロック調整回路が、そのようなメ
モリ・デバイスに関してコントローラ内で必要になる。
【0112】送出ブロック202内で、送出用のデータ
が、TDバス1232を介して並列形式で受け取られ
る。このデータは、クロックClkC信号1215に基
づいてレジスタ1310にロードされる。レジスタ13
10にロードされた後に、このデータは、マルチプレク
サ1312を介してレジスタ1313に直接に渡される
か、ClkC信号の立ち下がりエッジによってクロッキ
ングされるレジスタ1311を含むマルチプレクサ13
12を介するパスをトラバースすることによって1/2
クロック・サイクルだけ遅延されるかのいずれかにな
る。そのような回路によって、ClkCクロック・ドメ
インに含まれるTDバス上のデータを、その送出に必要
なクロック・ドメインに成功裡に転送できる。このクロ
ック・ドメインは、TClkC1Bクロック・ドメイン
であり、これは、ClkCクロックと同一の周波数を有
するが、必ずしもClkCクロック信号に位相を整列さ
れてはいない。類似する回路を受取ブロック203内に
含めて、RClkC1Bクロック・ドメインで受け取ら
れたデータを、ClkCクロック・ドメインで動作する
RQバスに成功裡に転送することができる。
【0113】データ送出ブロック202に、PhShA
ブロック1306と、クロック・ドライバ回路1307
と、レジスタ1308、1309、1310、131
1、および1313と、マルチプレクサ1312と、シ
フト・レジスタ1314が含まれる。TPhShA信号
1236およびClkC8クロック信号1219が、P
hShAブロック1306に供給される。PhShAブ
ロック1306に関する追加の詳細を、下で図15に関
して提供する。クロック分周器回路1307に、1/1
分周器回路1324と、1/8分周器回路1325が含
まれる。TPhShB信号1235が、1/8分周器回
路1325に供給される。PhShAブロック1306
の出力が、1/1分周器回路1324および1/8分周
器回路1325の入力に供給される。1/1分周器回路
1324の出力が、シフト・レジスタ1314をクロッ
キングするために供給される。1/8分周器回路132
5の出力が、レジスタ1313をクロッキングするため
に供給され、入力としてレジスタ1308に供給され
る。
【0114】レジスタ1308は、ClkCDクロック
信号1222によってクロッキングされ、レジスタ13
09に出力を供給する。レジスタ1309は、ClkC
クロック信号1215によってクロッキングされ、Lo
adSkip信号1238を受け取って、マルチプレク
サ1312への出力と、レジスタ1310および131
1をクロッキングするための出力を供給する。レジスタ
1310は、書込データ・バス1232から書込データ
を受け取り、レジスタ1311およびマルチプレクサ1
312に出力を供給する。レジスタ1311は、マルチ
プレクサ1312に出力を供給する。マルチプレクサ1
312は、レジスタ1313に出力を供給する。レジス
タ1313は、並列出力をシフト・レジスタ1314に
供給する。シフト・レジスタ1314は、出力1229
を供給する。その結果、入力1232の並列情報が、出
力1229の直列形式に変換される。
【0115】データ受取ブロック203に、PhShA
ブロック1315と、クロック分周回路1316と、レ
ジスタ1317、1318、1320、1321、およ
び1323と、シフト・レジスタ1319と、マルチプ
レクサ1322が含まれる。クロック分周回路1316
には、1/1分周器回路1326と1/8分周器回路1
327が含まれる。RPhShA信号1238およびC
lkC8クロック信号1219が、PhShAブロック
1315に供給され、PhShAブロック1315は、
1/1分周器回路1326および1/8分周器回路13
27に出力を供給する。RPhShB信号1237が、
1/8分周器回路1327の入力に供給される。1/1
分周器回路1326は、シフト・レジスタ1319のク
ロッキングに使用される出力を供給する。1/8分周器
回路1327は、レジスタ1320のクロッキングに使
用され、レジスタ1317への入力として使用される出
力を供給する。レジスタ1317は、ClkCDクロッ
ク信号1222によってクロッキングされ、レジスタ1
318に出力を供給する。レジスタ1318は、Loa
dSkip信号1238を受け取り、ClkCクロック
信号1215によってクロッキングされ、マルチプレク
サ1322への出力と、レジスタ1321および132
3のクロッキングに使用される出力を供給する。
【0116】シフト・レジスタ1319は、入力123
0を受け取り、レジスタ1320に並列出力を供給す
る。レジスタ1320は、レジスタ1321とマルチプ
レクサ1322に出力を供給する。レジスタ1321
は、マルチプレクサ1322に出力を供給する。マルチ
プレクサ1322は、レジスタ1323に出力を供給す
る。レジスタ1323は、内部読取データ・バス123
3に出力を供給する。その結果、入力1230の直列情
報が、出力1233の並列形式に変換される。
【0117】図示されているのは、アドレス/制御デー
タおよび書込データを駆動し、読取データをサンプリン
グするのに必要なレジスタおよびゲーティング要素であ
る。この例では、各tCCインターバルにアドレス/制御
(AC[i])ワイヤごとに2ビットが転送されること
と、各tCCインターバルに、読取データ(Q[i])ワ
イヤまたは書込データ(D[i])ワイヤごとに8ビッ
トが転送されることが仮定されている。プライマリ・ク
ロックClkC(tCCのサイクル・タイムを有する)の
ほかに、生成される2つの他の整列されるクロックがあ
る。ClkC2(tCC/2のサイクル・タイムを有す
る)とClkC8(tCC/8のサイクル・タイムを有す
る)がある。これらのより高周波数のクロックによっ
て、情報が、コントローラへシフト・インされるか、コ
ントローラからシフト・アウトされる。各tCCインター
バルに1回、直列データが、ClkCによってクロッキ
ングされる並列レジスタとの間で転送される。
【0118】コントローラ内で、ClkC2クロックま
たはClkC8クロックを、それぞれtCCのサイクル・
タイムを有するが、tCCインターバル全体にまたがって
等しい増分の位相のオフセットを有する2クロックまた
は8クロックに置換できることに留意されたい。そのよ
うな実施形態では、直列レジスタが、2つまたは8つの
レジスタのブロックに置換され、各レジスタに、異なる
クロック信号がロードされ、その結果、ACバスおよび
DQバスのビット・ウィンドウが、正しくサンプリング
または駆動されるようになる。もう1つの可能性は、エ
ッジ・センシティブ・ストレージ要素(レジスタ)では
なくレベル・センシティブ・ストレージ要素(ラッチ)
を使用し、その結果、クロック信号の立ち上がりエッジ
と立ち下がりエッジが、異なるストレージ要素のロード
を引き起こすようにすることである。
【0119】直列化を実施する方法に無関係に、各ワイ
ヤ上でtCCインターバルごとに複数のビット・ウィンド
ウがあり、多くの実施形態で、これらのビット・ウィン
ドウを正しく駆動し、サンプリングするために、コント
ローラ内でtCCインターバルごとに複数のクロック・エ
ッジが使用される。
【0120】図13には、各スライスに受け取られ、送
出される読取データおよび書込データが、異なるクロッ
ク・ドメイン内にあるという事実をコントローラがどの
ように扱うかも示されている。スライスは、単一ビット
まで狭くすることができるので、コントローラ内に、3
2個の読取クロック・ドメインと32個の書込クロック
・ドメインが同時に存在することができる(この例で
は、32ビットのDQバス幅を仮定する)。この例で、
読取データおよび書込データと共にクロックが転送され
ず、そのようなクロックが、周波数ソースから合成され
ることが好ましいことを想起されたい。複数クロック・
ドメインの問題は、クロックが読取データおよび書込デ
ータと共に転送された場合であっても存在する。これ
は、メモリ・コンポーネントが、システム内で、すべて
のローカル・クロックが同相であることが好ましい点で
あるからである。他のシステム・クロッキング・トポロ
ジを、本明細書で後程説明する。
【0121】図13のアドレス/制御バス(AC)の送
出ブロックでは、ClkC2クロックおよびClkCク
ロックを使用して、2対1直列化を実行する。ClkC
2クロックによって、直列レジスタ1302および13
03が、ACワイヤ1328にシフトされる。ClkC
2クロックの正確な位相整列が、ドライバ・ロジックの
回路実施形態に依存することに留意されたい。ドライバ
遅延を考慮に入れるためにわずかなオフセットがある場
合がある。ClkCクロックに対するACバス上のビッ
ト駆動ウィンドウの正確な位置を考慮に入れるために、
わずかなオフセットがある場合もある。たとえば、出力
ドライバが、既知の遅延を有する場合に、出力回路の一
部が、データが実際に外部信号線に駆動される時よりわ
ずかに前に出力ドライバにデータを供給し始めるよう
に、ClkC2クロック信号の位相を調整することがで
きる。したがって、ClkC2クロック信号の位相のシ
フトを使用して、出力ドライバに固有の遅延を考慮に入
れることができ、データが、所望の時刻に外部データ線
に実際に提示されるようになる。同様に、ClkC2ク
ロック信号の位相の調整を使用して、ClkC2クロッ
ク信号に基づいて駆動されるデータの有効データ・ウィ
ンドウの位置が最適に配置されることを保証することも
できる。
【0122】類似する形で、図13の書込データ・バス
(D)の送出ブロックで、位相を遅らされたClkC8
クロックを使用して、8対1直列化を実行することがで
きる。位相を遅らされたClkC8クロックによって、
直列レジスタ1314がDQワイヤにシフトされる。位
相を遅らされたClkC8クロックの正確な整列が、ド
ライバ・ロジックの回路実施形態に依存することに留意
されたい。ドライバ遅延を考慮に入れるために、わずか
なオフセットがある場合がある。DQバス上のビット駆
動ウィンドウの正確な位置を考慮に入れるために、わず
かなオフセットがある場合もある。
【0123】TPhShA[i][n:0]制御信号1
236によって、入力基準ベクトルClkC8[N:
1]に対する適当な位相オフセットが選択される。位相
オフセット・セレクタは、単純なマルチプレクサ、より
精巧な位相補間器、または他の位相オフセット選択技法
を使用して実施することができる。位相補間器の一例で
は、所望より小さい位相オフセットの第1基準ベクトル
と、所望より大きい位相オフセットの第2基準ベクトル
が選択される。重みづけ値を適用して、第1基準ベクト
ルの一部と第2基準ベクトルの一部を組み合わせて、T
ClkC8Aクロックの所望の出力位相オフセットを得
る。したがって、TClkC8Aクロックの所望の出力
位相オフセットは、第1基準ベクトルと第2基準ベクト
ルから効果的に補間される。位相マルチプレクサの一例
では、TPhShA[i][n:0]制御信号1236
を使用して、ClkC8[N:1]クロック信号121
9の1つを選択して、TClkC8Aクロックにパス・
スルーする(2n+1=Nであることに留意されたい)。
使用される位相は、一般に、コントローラ上の送出スラ
イスごとに異なる。コントローラ上のスライスごとの位
相は、初期化中の較正処理中に選択されることが好まし
い。この処理を、本明細書で後程詳細に説明する。
【0124】TClkC8Aクロックは、並列レジスタ
1313および直列レジスタ1314をクロッキングす
る前に、1/8周波数分周器1325および1/1周波
数分周器1324を通過する。分配されるClkC8
[N:1]信号が、位相オフセット選択ブロック(Ph
ShA)1306と周波数分周器ブロック1324およ
び1325の遅延を補償するために、小さい位相オフセ
ットを有することに留意されたい。このオフセットは、
フェーズ・ロック・ループ回路によって生成され、供給
電圧および温度の変動に追随する。
【0125】送出位相シフト値を正しくセットされた
(その結果、Dバス1229上のビット・ウィンドウが
正しく駆動される)状態であっても、並列レジスタ13
13に使用されるTClkC1Bクロックの位相が、整
列されない可能性がある(位相の可能な組合せが8つあ
る)。この問題を扱う方法は複数ある。図示の実施形態
で使用される方式では、入力TPhShB1235を設
け、この入力にパルスが与えられる時に、TClkC1
Bの位相が、サイクルの1/8(45°)だけシフトさ
れるようにする。初期化ソフトウェアによって、並列レ
ジスタに正しい時に直列レジスタがロードされるように
なるまで、このクロックの位相を調整する。この初期化
処理は、本明細書で後程詳細に説明する。
【0126】その代わりに、送出ブロック202へのロ
ードのためにTDバス1232を準備する時に、Clk
Cドメイン内で位相調整を実行することも可能である。
それを行うために、マルチプレクサおよびレジスタを使
用して、ClkCサイクル境界にまたがって書込データ
を回転することができる。初期化で較正処理を提供し
て、送出ブロック202のパワー・アップ中にTClk
C1Bクロックの位相に対処することができる。
【0127】位相シフト制御を正しく調整した後に、書
込データを、並列レジスタ1313からDバスに送出す
ることができる。しかし、書込データは、ClkC12
15ドメイン内のTDバス1232から、TClkC1
Bドメイン内の並列レジスタ1313に転送される必要
がある。これは、スキップ・マルチプレクサ1312を
用いて達成される。このマルチプレクサは、ClkCの
立ち上がりエッジでクロッキングされるレジスタ131
0とClkCの立ち下がりエッジでクロッキングされる
レジスタ1311の間で選択を行う。SkipT値によ
って、どのマルチプレクサ・パスが選択されるかが決定
される。SkipT値は、ClkCDクロック1222
によってTClkC1Bクロックをサンプリングするこ
とによって決定される。結果の値が、初期化ルーチン中
に、LoadSkip信号1238によってレジスタ1
309にロードされる。この回路は、本明細書で後程詳
細に説明する。
【0128】読取データQの受取ブロック203が、図
13の下部に示されている。受取ブロックは、本質的
に、上で説明した送出ブロックと同一の要素を有する
が、データの流れが逆転していることが異なる。しか
し、クロック・ドメイン・クロッシングの問題は、本質
的に類似する。
【0129】RPhShA[i][n:0]制御信号1
238によって、ClkC8[N:1]クロック信号1
219の1つが選択されて、RClkC8クロックにパ
ス・スルーされる。使用される位相は、一般に、コント
ローラ上の受取スライスごとに異なる。位相は、初期化
中の較正処理中に選択される。この処理を、本明細書で
後程詳細に説明する。
【0130】RClkC8Aクロックは、並列レジスタ
1320および直列レジスタ1319をクロッキングす
る前に、1/8周波数分周器1327および1/1周波
数分周器1326を通過する。分配されるClkC8
[N:1]信号1219が、位相オフセット選択ブロッ
ク(PhShA)1315および周波数分周器ブロック
1326および1327の遅延を補償するために小さい
位相オフセットを有することに留意されたい。このオフ
セットは、フェーズ・ロック・ループ回路によって生成
され、供給電圧および温度の変動に追随する。
【0131】受取位相シフト値を正しくセットされた
(その結果、Qバス上のビット・ウィンドウが正しくサ
ンプリングされる)状態であっても、並列レジスタ13
20に使用されるRClkC1Bクロックの位相が、不
一致になる可能性がある(位相の可能な組合せが8つあ
る)。この問題を扱う方法は複数ある。図示の実施形態
で使用される方式では、入力RPhShB1237を設
け、この入力にパルスが与えられる時に、RClkC1
Bクロックの位相が、サイクルの1/8(45°)だけ
シフトされるようにする。初期化ソフトウェアによっ
て、並列レジスタ1320に正しい時に直列レジスタ1
319がロードされるようになるまで、このクロックの
位相を調整する。この初期化処理は、本明細書で後程詳
細に説明する。
【0132】送出回路について説明したものに類似する
スキップ・マルチプレクサを使用して、RClkC1B
クロック・ドメインとClkCクロック・ドメインの間
を移動する。位相シフト制御を正しく調整した後に、読
取データを、Qバス1230から受け取り、並列レジス
タ1320にロードすることができる。しかし、読取デ
ータは、RClkC1Bドメイン内の並列レジスタ13
20から、ClkC1215ドメイン内のレジスタ13
23に転送される必要がある。これは、スキップ・マル
チプレクサ1322を用いて達成される。このマルチプ
レクサによって、ClkCの負エッジでクロッキングさ
れるレジスタ1321を、RClkC1Bの立ち上がり
エッジでクロッキングされるレジスタ1320とClk
Cの立ち上がりエッジでクロッキングされるレジスタ1
323の間に挿入するか否かを決定することができる。
SkipR値によって、どのマルチプレクサ・パスが選
択されるかが決定される。SkipR値は、ClkCD
クロック1222によってRClkC1Bクロックをサ
ンプリングすることによって決定される。結果の値が、
初期化ルーチン中に、LoadSkip信号1238に
よってレジスタ1318にロードされる。この回路は、
本明細書で後程詳細に説明する。
【0133】図14は、本発明の実施形態による、図1
2に示されたものなどのClkC8信号の生成に使用さ
れるPLLの詳細を示すロジック図である。PLL 1
204に、PLL回路1401、調整可能整合遅延14
02、整合バッファ1403および位相比較器1404
が含まれる。PLL回路1401に、VCO 140
5、ダミー位相オフセット・セレクタ1406、周波数
分周器1407、および位相比較器1408が含まれ
る。ClkInクロック信号1201が、VCO140
5および位相比較器1408に供給される。VCO 1
405は、調整可能整合遅延1402および整合バッフ
ァ1403に出力を供給する。調整可能整合遅延140
2は、整合バッファ1403に複数の増分式に遅延され
る出力を供給する。
【0134】PLL回路1401は、入力クロック信号
ClkIn 1201の周波数の8倍のクロック信号を
生成し、生成された信号は、図14の回路によって作ら
れるクロック信号のパスに存在すると予定される遅延を
考慮に入れるために位相シフトされる。したがって、予
定される遅延は、クロック生成処理中に補償され、実際
に使用される点に現れるクロック信号が、正しく位相を
調整される。ブロック1204のうちで、PLL回路1
401の外部の残りの部分は、PLL回路1401によ
って作られたクロックの等しい位相間隔を設けられた版
を生成するのに使用される。これは、周知のDLL(d
elay locked loop)技法を介して達成
され、このDLLは、等間隔のクロック信号を生成する
機構を提供する。図14のブロック1204の結果とし
て作られるクロック信号は、図15に関して下で説明す
る位相シフト・ロジックに供給される。図14および1
5の回路によって実行されるクロック生成の結果は、上
で図13で説明した直列−並列変換または並列−直列変
換の実行に使用される。
【0135】整合バッファ1403の出力1409は、
調整可能整合遅延1402によって遅延されておらず、
ダミー位相オフセット・セレクタ1406の入力および
位相比較器1404の入力に供給され、ClkC8クロ
ック信号を供給する。遅延された出力1410が、Cl
kC81クロック信号を供給する。遅延された出力14
11が、ClkC82クロック信号を供給する。遅延さ
れた出力1412が、ClkC83クロック信号を供給
する。遅延された出力1413が、ClkC8N -1クロ
ック信号を供給する。遅延された出力1414が、Cl
kC8Nクロック信号を供給し、これが、位相比較器1
404の入力に供給される。位相比較器1404は、調
整可能整合遅延1402にフィードバック信号を供給
し、これによって、DLLが形成される。整合バッファ
1403のそれぞれは、実質的に類似する伝搬遅延を有
し、これによって、出力1409と遅延された出力14
10から1414の間に意図されないタイミング・スキ
ューを導入せずに、バッファリングされた出力を供給す
る。
【0136】ClkIn基準クロック1201が、PL
L 1204によって受け取られ、8倍だけ周波数を逓
倍される。整合バッファ1403によって導入されるバ
ッファ遅延、ダミー位相オフセット・セレクタ1406
によって導入されるダミー位相オフセット選択遅延、お
よび周波数分周器1407によって導入される周波数分
周器遅延を含む複数の遅延が、PLL 1204のPL
Lフィードバック・ループに含まれる。これらの遅延を
フィードバック・ループに含めることによって、DQの
ビットのサンプリングおよび駆動に使用されるクロック
を、ClkIn基準に一致させ、温度および供給電圧の
低速のドリフトによって引き起こされる遅延変動を追跡
する。
【0137】PLL回路1401の出力を、Nタップを
有する遅延線1402に通す。各要素の遅延は、同一で
あり、適当な範囲にわたって調整可能であり、その結
果、N個の要素の総遅延を、1つのClkC8サイクル
(tCC/8)と等しくすることができる。遅延されない
ClkC8の位相を最大遅延のClkC8[N]を有す
るクロックと比較するフィードバック・ループ1404
がある。遅延要素は、これらの信号の位相が整合される
(遅延線全体にわたってtCC/8の遅延が存在すること
を意味する)まで調整される。
【0138】ClkC8[N:1]信号は、同一のバッ
ファ1403を通過し、それが接続される送出スライス
および受取スライスから同一の負荷を見る。ClkC8
基準信号1409も、バッファと、遅延を模倣する整合
ダミー負荷を有する。
【0139】図15は、本発明の実施形態による、図1
3に示されたものなどのメモリ・コントローラ・コンポ
ーネントの送出ブロックおよび受取ブロックでClkC
8[N:1]信号がどのように使用されるかを示すブロ
ック図である。PhShAロジック・ブロック1501
に、位相オフセット選択回路1502が含まれ、位相オ
フセット選択回路1502に、位相オフセット・セレク
タ1503が含まれる。位相オフセット・セレクタ15
03は、ClkC81クロック信号1410、ClkC
2クロック信号1411、ClkC83クロック信号1
412、ClkC8N-1クロック信号1413、および
ClkC8Nクロック信号1414(すなわち、Clk
C8クロック信号のN個の変形)を受け取り、ClkC
8Aクロック信号1504を選択し、供給する。これ
は、制御信号PhShA[i][n:0](ただしN=
n+1)の設定に応じて信号の1つを選択するN対1マ
ルチプレクサ1503を使用して達成される。これによ
って、スライス[i]のClkC8A出力クロックの位
相を、tCC/8Nの増分で1つのClkC8サイクル
(tCC/8)にわたって変更できる。
【0140】初期化時に、ソフトウェアまたはハードウ
ェアもしくはその両方を用いて較正手順を実行し、制御
信号PhShA[i][n:0]の各組合せの下でテス
ト・ビットをサンプリングし、駆動する。最良のマージ
ンをもたらす組合せが、スライスごとに選択される。こ
の静的な値によって、コントローラとメモリ・コンポー
ネントの間のDQ信号およびAC信号の飛行時間が補償
される。この飛行時間は、主にプリント配線基板上のト
レース長および伝搬速度の要因であり、システム動作中
に大きくは変動しない。供給電圧および温度に起因する
他の遅延変動は、システム内のPLLのフィードバック
・ループによって自動的に追跡される。
【0141】図16は、図13のPhShB回路130
7および1316を示すブロック図である。図16のク
ロック変換回路1601は、図13の1/1分周器回路
1324および1/1分周器回路1326に対応するこ
とが好ましい。同様に、図16のクロック変換回路16
02は、図13の1/8分周器回路1325および1/
8分周器回路1327に対応することが好ましい。この
回路は、本発明の好ましい実施形態に従って、ClkC
8Aクロックに基づいてClkC8BクロックおよびC
lkC1Bクロックを作る。クロック変換回路1601
には、マルチプレクサ1603が含まれ、マルチプレク
サ1603が、ClkC8A信号1504を受け取り、
ClkC8B信号1604を作る。クロック変換回路1
602には、レジスタ1605、1606、1607、
および1612と、論理ゲート1608と、マルチプレ
クサ1611と、増分回路1609および1610が含
まれる。PhShB信号1614が、レジスタ1605
に印加され、ClkC8Aクロック信号1504が、レ
ジスタ1605をクロッキングするのに使用される。レ
ジスタ1605の出力は、入力およびクロック入力とし
てレジスタ1606に印加される。レジスタ1606の
1つの出力は、レジスタ1607および論理ゲート16
08への入力として印加される。レジスタ1606の1
つの出力は、レジスタ1607のクロッキングに使用さ
れる。レジスタ1607の1つの出力は、論理ゲート1
608に印加される。レジスタ1607の1つの出力
は、レジスタ1612のクロッキングに使用される。論
理ゲート1608の出力が、マルチプレクサ1611に
印加される。
【0142】増分回路1609は、入力の3ビット値を
2つ増分する。増分回路1610は、入力の3ビット値
を、111から000へラップするように2進式に1つ
増分する。マルチプレクサ1611は、増分回路160
9および1610の3ビット出力のどちらかを選択し、
3ビット出力をレジスタ1612に供給する。レジスタ
1612は、増分回路1609および1610の入力3
ビット値として使用される3ビット出力を供給する。こ
の3ビット出力の最上位ビット(MSB)を使用して、
ClkC1Bクロック信号1613を供給する。
【0143】図16では、PhShA(図13の130
6および1315)ブロックによって作られるClkC
8Aクロックが、同一周波数のClkC8Bクロック
と、1/8周波数のClkC1Bクロックを作るのに使
用される。これらの2つのクロックは、互いに位相を整
列される(ClkC1Bの各立ち上がりエッジが、Cl
kC8Bの立ち下がりエッジに整列される)。
【0144】ClkC1B 1613は、それを1/8
カウンタ1602に通すことによって作られる。Clk
C8Aは、各クロック・エッジで増分する3ビット・レ
ジスタ1612をクロッキングする。最上位ビットが、
ClkC1Bになるが、これは、ClkC8Aの1/8
の周波数である。ClkC8B 1604クロックは、
3ビット・レジスタのクロック−出力遅延を模倣するマ
ルチプレクサによってつくられ、その結果、ClkC1
BとClkC8Bが整列される。当業者に明白であるよ
うに、他の遅延手段を、ブロック1601に図示された
マルチプレクサの代わりに使用して、1/8カウンタを
介する遅延を整合させる作業を達成することができる。
【0145】図13に関して説明したように、ClkC
1B 1613の位相を調整し、その結果、並列レジス
タが、適当な時に送出ブロックおよび受取ブロック内の
直列レジスタからロードされるか、これにロードするよ
うにする必要がある。初期化時に、較正手順で、テスト
・ビットを送出し、受け取って、ClkC1Bクロック
の適当な位相設定を判定する。この手順では、PhSh
B制御入力1614を使用する。この入力が立ち上がり
エッジを有する時に、3ビット・カウンタが、それに続
くClkC8Aエッジの1つ(同期化後)に、+1では
なく+2だけ増分される。ClkC1Bクロックの位相
が、サイクルの1/8だけ進む方にシフトされる。較正
手順を継続して、ClkC1Bクロックの位相を進め、
TD[i][7:0]バスおよびRQ[i][7:0]
バスのテスト・ビットの位置を検査する。テスト・ビッ
トが正しい位置にある時に、ClkC1Bの位相を凍結
する。
【0146】図17は、本発明の実施形態による、Ph
ShCブロック(図12の1240)の詳細を示すブロ
ック図である。PhShCブロック1240に、ブロッ
ク1701から1704が含まれる。ブロック1701
に、レジスタ1705とマルチプレクサ1706が含ま
れる。書込データ入力1714が、レジスタ1705お
よびマルチプレクサ1706に供給される。レジスタ1
705は、ClkCクロック信号1215によってクロ
ッキングされ、マルチプレクサ1706に出力を供給す
る。マルチプレクサ1706は、TPhShC[0]選
択入力1713を受け取り、書込データ出力1715を
供給する。ブロック1702に、レジスタ1707とマ
ルチプレクサ1708が含まれる。読取データ入力17
17が、レジスタ1707およびマルチプレクサ170
8に供給される。レジスタ1707は、ClkCクロッ
ク信号1215によってクロッキングされ、マルチプレ
クサ1708に出力を供給する。マルチプレクサ170
8は、RPhShC[0]選択入力1716を受け取
り、読取データ出力1718を供給する。ブロック17
03に、レジスタ1709とマルチプレクサ1710が
含まれる。書込データ入力1720が、レジスタ170
9およびマルチプレクサ1710に供給される。レジス
タ1709は、ClkCクロック信号1215によって
クロッキングされ、マルチプレクサ1710に出力を供
給する。マルチプレクサ1710は、TPhShC[3
1]選択入力1719を受け取り、書込データ出力17
21を供給する。ブロック1704に、レジスタ171
1とマルチプレクサ1712が含まれる。読取データ入
力1723が、レジスタ1711およびマルチプレクサ
1712に供給される。レジスタ1711は、ClkC
クロック信号1215によってクロッキングされ、マル
チプレクサ1712に出力を供給する。マルチプレクサ
1712は、RPhShC[31]選択入力1722を
受け取り、読取データ出力1724を供給する。書込デ
ータに関するブロックの2つのインスタンスと読取デー
タに関するブロックの2つのインスタンスだけが図示さ
れているが、これらのブロックが、書込データの各ビッ
トおよび読取データの各ビットについて複製される可能
性があることを理解されたい。
【0147】PhShCブロック1240は、32×8
読取データ・ビットおよび32×8書込データ・ビット
の遅延を調整し、その結果、すべてがコントローラ・ロ
ジック・ブロック内の同一のClkCクロック・エッジ
で駆動またはサンプリングされるようにするのに使用さ
れる、最後のロジック・ブロックである。これは、スラ
イスごとに読取データおよび書込データのパスに挿入す
ることができる8ビット・レジスタを用いて達成され
る。遅延の挿入は、2つの制御バスTPhShC[3
1:0]およびRPhShC[31:0]によって決定
される。読取データおよび書込データの伝搬遅延が、い
ずれかのメモリ・スライス位置でClkC境界をまたぐ
可能性があるので、スライスごとに1つの制御ビットが
ある。メモリ・スライスにまたがる読取データおよび書
込データにより大きいスキューを有する一部のシステム
では、1ClkCを超える調整が必要になる可能性があ
る。図示のPhShCセルは、より多くのレジスタおよ
びより多くのマルチプレクサ入力を追加することによっ
て、追加の遅延を提供するように簡単に拡張することが
できる。
【0148】2つの制御バスTPhShC[31:0]
およびRPhShC[31:0]は、初期化中に較正手
順を用いて構成される。他の位相調整ステップと同様
に、テスト・ビットが、各メモリ・スライスから読み取
られ、書き込まれ、図示の例では、コントローラ・ロジ
ックが、256個のすべての読取データ・ビットを1C
lkCサイクルでサンプリングでき、256個のすべて
の書込データ・ビットを1ClkCサイクルで駆動でき
る値が、制御ビットにセットされる。
【0149】図18は、本発明の実施形態による、メモ
リ・コントローラ・コンポーネントの受取ブロック20
3(図13)からのスキップ・ロジックのロジックの詳
細を示すブロック図である。スキップ・ロジックに、レ
ジスタ1801、1802、1803、1804、およ
び1806と、マルチプレクサ1805が含まれる。R
ClkC1Bクロック入力1807が、レジスタ180
1に供給され、レジスタ1803のクロッキングに使用
される。ClkCDクロック入力1222が、レジスタ
1801のクロッキングに使用され、レジスタ1801
は、レジスタ1802に出力を供給する。レジスタ18
02は、LoadSkip信号1238を受け取り、C
lkCクロック信号1215によってクロッキングさ
れ、マルチプレクサ1805に出力を供給し、レジスタ
1804および1806のクロッキングに使用される出
力を供給する。レジスタ1803は、入力1808でド
メインRClkC1Bのデータを受け取り、レジスタ1
804およびマルチプレクサ1805に出力を供給す
る。レジスタ1804は、マルチプレクサ1805に出
力を供給する。マルチプレクサ1805は、レジスタ1
806に出力を供給する。レジスタ1806は、出力1
809でドメインClkCのデータを供給する。
【0150】この回路は、RClkC1Bクロック・ド
メインのデータをClkCドメインに転送する。これら
の2つのクロックは、同一の周波数を有するが、どのよ
うな位相整列でも有することができる。解決策は、Cl
kCDと称するClkCの遅延された版(遅延の限界
は、システムが判定することができるが、一実施形態で
は、公称遅延がClkCサイクルの1/4である)を用
いてRClkC1Bをサンプリングすることである。こ
のサンプリングされた値を、SkipRと呼び、これに
よって、RClkC1Bレジスタ内のデータをClkC
レジスタに直接に転送することができるか、データをま
ず負エッジ・トリガされるClkCレジスタに通さなけ
ればならないかが判定される。
【0151】図18に関して、下記のワースト・ケース
・セットアップ制約を仮定することができる。 ケースB0 TD,MAX+tH1,MIN+tCL,MIN+tV,MAX+tM,MAX+t
S,MIN≦tCYCLE または tD,MAX≦tCHMIN−tH1,MIN−tV,MAX−tM,MAX−t
S,MIN ** 制約S ** ケースD1 tD,MAX+tH1,MIN+tCYCLE+tV,MAX+tS,MIN≦t
CYCLE+tCL,MIN または tD,MAX≦tCL,MIN−tH1,MIN−tV,MAX−tS,MIN 下記のワースト・ケース・ホールド制約を仮定すること
ができる。 ケースA1 tD,MIN−tS1,MIN+tV,MIN≧tH,MIN または tD,MIN≧tH,MIN+tS1,MIN−tV,MIN ** 制約
H ** ケースC0 tD,MIN−tS1,MIN+tV,MIN+tM,MIN≧tH,MIN または tD,MIN≧tH,MIN+tS1,MIN−tV,MIN−tM,MIN 上で使用されたタイミング・パラメータは、次のように
定義される。 tS1 クロック・サンプラのセットアップ時間 tH1 クロック・サンプラのホールド時間 tS データ・レジスタのセットアップ時間 tH データ・レジスタのホールド時間 tV データ・レジスタの有効遅延(クロック−出力) tM データ・マルチプレクサの伝搬遅延 tCYCLE クロック・サイクル・タイム(RClkC1
B、ClkC、ClkCD) tCH クロック・ハイ時間(RClkC1B、Clk
C、ClkCD) tCL クロック・ロウ時間(RClkC1B、Clk
C、ClkCD) tD ClkCとClkCDの間のオフセット(Clk
CDが後) 注意: tD,NOM〜tCYCLE/4 tCH,NOM〜tCYCLE/2 tCL,NOM〜tCYCLE/2
【0152】図19は、本発明の実施形態による、受取
ブロック203(図13に図示)のスキップ・ロジック
のタイミングの詳細を示すタイミング図である。図19
には、ClkCDクロック信号1901、ClkCクロ
ック信号1902、RClkC1B(ケースA0)クロ
ック信号1903、RClkC1B(ケースA1)クロ
ック信号1904、RClkC1B(ケースB0)クロ
ック信号1905、RClkC1B(ケースB1)クロ
ック信号1906、RClkC1B(ケースC0)クロ
ック信号1907、RClkC1B(ケースC1)クロ
ック信号1908、RClkC1B(ケースD0)クロ
ック信号1909、およびRClkC1B(ケースD
1)クロック信号1910の波形が示されている。1ク
ロック・サイクルのインターバルの時刻1911、19
12、1913、1914、1915、1916、19
17、および1918が、クロック信号の間のタイミン
グの差を示すために図示されている。
【0153】図19には、A0からD1というラベルを
付けられた8つのケースとして、RClkC1BとCl
kCの可能な位相整列が全般的に要約されている。これ
らのケースは、RClkC1BをサンプリングしてSk
ipR値を決定するClkCDの立ち上がりエッジのセ
ット/ホールド・ウィンドウに対するRClkC1Bの
立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジの位置によっ
て区別される。明らかに、RClkC1Bの立ち上がり
エッジまたは立ち下がりエッジがこのウィンドウの外に
ある場合に、これが正しくサンプリングされる。このエ
ッジが、ウィンドウの縁またはウィンドウ内にある場合
には、0または1のいずれかとしてサンプリングされる
可能性がある(すなわち、サンプルの有効性を保証でき
ない)。スキップ・ロジックは、どちらの場合でも正し
く機能するように設計され、このスキップ・ロジック
が、ClkCDクロックの遅延tDに対する限界を判定
する。
【0154】受取ブロックの場合、ケースB0 190
5が、ワースト・ケース・セットアップ制約であり、ケ
ースA1 1904が、ワースト・ケース・ホールド制
約である。 tD,MAX≦tCH,MIN−tH1,MIN−tV,MAX−tM,MAX−t
S,MIN ** 制約S** tD,MIN≧tH,MIN+tS1,MIN−tV,MIN ** 制約
H **
【0155】前に述べたように、tD(ClkCに対す
るClkCDの遅延)の公称値は、ClkCサイクルの
1/4になると期待される。tDの値は、上で示したt
D,MAX値まで上に、または上で示したtD,MIN値まで下に
変動する可能性がある。セットアップ時間(たとえば、
S1、tS)、ホールド時間(たとえば、tH1、tH)、
マルチプレクサ伝搬遅延時間(たとえば、tM)、およ
び有効時間(たとえば、tV)のすべてが0になる場合
には、tDの値は、上にtCH,MIN(ClkCの最小ハイ
時間)、下に0まで変動する可能性がある。しかし、レ
ジスタの有限のセット/ホールド・ウィンドウ、有限の
クロック−出力(有効時間)遅延およびマルチプレクサ
遅延が組み合わされて、tD値の許容可能な変動が減ら
される。
【0156】スキップ・ロジックの基本機能を変更せず
に、スキップ・ロジックの要素の一部を変更できること
に留意されたい。たとえば、より遅いものではなくより
早いサンプリング・クロックClkCDを使用すること
ができる(制約の式が変更されるが、さまざまなセッ
ト、ホールド、および有効時間パラメータに対するCl
kCからClkCDまでのタイミング・スキュー範囲の
類似する依存性がある)。他の実施形態では、ドメイン
・クロッシング・パスへのClkCレジスタの代わり
に、負エッジでトリガされるRClkC1Bレジスタを
使用する(やはり、制約の式が変更されるが、さまざま
なセット、ホールド、および有効時間パラメータに対す
るClkCからClkCDまでのタイミング・スキュー
範囲の類似する依存性がある)。
【0157】最後に、使用されるスキップ値が、初期化
中に1回生成され、その後、レジスタにロードされる
(LoadSkip制御信号を用いて)ことが好ましい
ことに留意されたい。そのような静的値は、すべてのC
lkCDエッジでサンプリングされる値より好ましい。
というのは、RClkC1Bの整列が、RClkC1B
がClkCDサンプリング・レジスタのセット/ホール
ド・ウィンドウ内での遷移を有するようになるものであ
る場合に、サンプリングされるたびに異なるスキップ値
が生成される可能性があるからである。これは、クロッ
ク・ドメイン・クロッシングの信頼性には影響しない
(RClkC1BデータがClkCレジスタに正しく転
送される)が、コントローラ内でClkCサイクル単位
で測定される読取データの明白な待ち時間に影響する。
すなわち、時々、読取データが、他の時間より1Clk
Cサイクルだけ長い時間を要する。スキップ値をサンプ
リングし、それをすべてのドメイン・クロッシングに使
用することによって、この問題が解決される。また、較
正中に、RClkC1Bの位相が調節されるたびに、ス
キップ値が変化する場合にLoadSkip制御のパル
スが生成されることに留意されたい。
【0158】図20は、本発明の実施形態による、図1
3の送出ブロック202のスキップ・ロジックのロジッ
クの詳細を示すブロック図である。このスキップ・ロジ
ックには、レジスタ2001、2002、2003、2
004、および2006と、マルチプレクサ2005が
含まれる。TClkC1Bクロック入力2007が、レ
ジスタ2001に供給され、レジスタ2006のクロッ
キングに使用される。ClkCDクロック入力1222
が、レジスタ2001のクロッキングに使用され、レジ
スタ2001は、レジスタ2002に出力を供給する。
レジスタ2002は、LoadSkip信号1238を
受け取り、ClkCクロック信号1215によってクロ
ッキングされ、マルチプレクサ2005に出力を供給
し、レジスタ2003および2004のクロッキングに
使用される出力を供給する。レジスタ2003は、入力
2008でドメインClkCのデータを受け取り、レジ
スタ2004およびマルチプレクサ2005に出力を供
給する。レジスタ2004は、マルチプレクサ2005
に出力を供給する。マルチプレクサ2005は、レジス
タ2006に出力を供給する。レジスタ2006は、出
力2009でドメインTClkC1Bのデータを供給す
る。
【0159】図20の回路は、TClkC1Bドメイン
へのClkCクロック・ドメインのデータの転送に使用
される。2つのクロックClkCおよびTClkC1B
は、同一の周波数を有するが、位相が不一致である可能
性がある。このクロック・ドメイン・クロッシングに使
用することができる技法の1つが、ClkCDと称する
ClkCの遅延された版(遅延の限界は、変更すること
ができるが、一実施形態では、選択される遅延が、Cl
kCサイクルの1/4である)を用いてTClkC1B
をサンプリングすることである。このサンプリングされ
た値SkipTによって、ClkCレジスタ内のデータ
をTClkC1Bレジスタに直接に転送するか、データ
をまず負エッジ・トリガされるClkCレジスタに通す
かが判定される。
【0160】図20に関して、下記のワースト・ケース
・セットアップ制約を仮定することができる。 ケースC0 tD,MIN−tS1,MIN≧tV,MAX+tM,MAX+tS,MIN または tD,MIN≧tS1,MIN+tV,MAX+tM,MAX+tS,MIN
* 制約S ** ケースA1 tD,MIN−tS1,MIN≧tV,MAX+tS,MIN または tD,MIN≧tS1,MIN+tV,MAX+tS,MIN 下記のワースト・ケース・ホールド制約を仮定すること
ができる。 ケースD1 tH,MIN≦tCH,MIN−tD,MAX−tH1,MIN−tV,MIN または tD,MAX≦tCH,MIN−tH1,MIN−tV,MIN−tH,MIN または tD,MAX≦tCL,MIN−tH1,MIN−tV,MIN−tM,MIN−t
H,MIN ケースB0 tH,MIN≦tCL,MIN−tD,MAX−tH1,MIN−tV,MIN−t
M,MIN または tD,MAX≦tCL,MIN−tH1,MIN−tV,MIN−tM,MIN−t
H,MIN ** 制約H** 上で使用されたタイミング・パラメータの定義は、上の
図18の説明にある。
【0161】図21は、本発明の実施形態による、図1
3の送出ブロック202のスキップ・ロジックのタイミ
ングの詳細を示すタイミング図である。図21には、C
lkCDクロック信号2101、ClkCクロック信号
2102、TClkC1B(ケースA0)クロック信号
2103、TClkC1B(ケースA1)クロック信号
2104、TClkC1B(ケースB0)クロック信号
2105、TClkC1B(ケースB1)クロック信号
2106、TClkC1B(ケースC0)クロック信号
2107、TClkC1B(ケースC1)クロック信号
2108、TClkC1B(ケースD0)クロック信号
2109、およびTClkC1B(ケースD1)クロッ
ク信号2110の波形が示されている。1クロック・サ
イクルのインターバルの時刻2111、2112、21
13、2114、2115、2116、2117、およ
び2118が、クロック信号の間のタイミングの差を示
すために図示されている。
【0162】図21には、A0からD1というラベルを
付けられた8つのケースとして、TClkC1BとCl
kCの可能な位相整列が全般的に要約されている。これ
らのケースは、TClkC1BをサンプリングしてSk
ipT値を決定するClkCDの立ち上がりエッジのセ
ット/ホールド・ウィンドウに対するTClkC1Bの
立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジの位置によっ
て区別される。明らかに、TClkC1Bの立ち上がり
エッジまたは立ち下がりエッジがこのウィンドウの外に
ある場合に、これが正しくサンプリングされる。このエ
ッジが、ウィンドウの縁またはウィンドウ内にある場合
には、0または1のいずれかとしてサンプリングされる
可能性がある(すなわち、サンプルの有効性を保証でき
ない)。スキップ・ロジックは、どちらの場合でも正し
く機能するように設計され、このスキップ・ロジック
が、ClkCDクロックの遅延tDに対する限界を判定
する。
【0163】送出ブロックについて、ケースC0 21
07が、ワースト・ケース・セットアップ制約を有し、
ケースB0 2105が、ワースト・ケース・ホールド
制約を有する。 tD,MIN≧tS1,MIN+tV,MAX+tM,MAX+tS,MIN
* 制約S ** tD,MAX≦tCL,MIN−tH1,MIN−tV,MIN−tM,MIN−t
H,MIN ** 制約H**
【0164】前に述べたように、tD(ClkCに対す
るClkCDの遅延)の公称値は、ClkCサイクルの
1/4になると期待される。この値は、上で示したt
D,MAX値まで上に、またはtD,MIN値まで下に変動する可
能性がある。セット時間、ホールド時間、mux(すな
わちマルチプレクサ)時間、および有効時間のすべてが
0になる場合には、tDの値は、上にtCH,MIN(Clk
Cの最小ハイ時間)、下に0まで変動する可能性があ
る。しかし、レジスタの有限のセット/ホールド・ウィ
ンドウ、有限のクロック−出力(有効時間)遅延および
マルチプレクサ遅延が組み合わされて、tD値の許容可
能な変動が減らされる。
【0165】上で図19に関して説明したように、スキ
ップ・ロジックのいくつかの要素を、その全般的な機能
性を保ちながら異なる実施形態のために変更することが
できる。同様に、図19のスキップ・ロジックに関して
説明したように、使用されるスキップ値が、初期化中に
生成され、その後、レジスタにロードされる(Load
Skip制御信号を用いて)ことが好ましい。
【0166】図22は、本発明の実施形態による、デー
タ・クロッキング配置の例を示すタイミング図である。
しかし、この例では、メモリ・コントローラおよびメモ
リ・コンポーネントのクロック位相が、図5から21に
示された例の値と異なる値の組に調整されている。WC
lkS1,M0クロック信号2201およびRClkS1,M0
ロック信号2202の波形が、スライス0のメモリ・コ
ントローラ・コンポーネントの展望からのスライス1の
データ・タイミングを示すために図示されている。WC
lkS1,M0クロック信号2201のシーケンシャル・サ
イクルの立ち上がりエッジは、それぞれ、時刻220
5、2206、2207、2208、2209、221
0、2211、および2212に発生する。書込データ
情報Da2213が、時刻2205にコントローラのデ
ータ線に存在する。読取データ情報Qb 2214が、
時刻2208に存在する。読取データ情報Qc 221
5が、時刻2209に存在する。書込データ情報Dd
2216が、時刻2210に存在する。書込データ情報
De 2217が、時刻2211に存在する。
【0167】WClkS1,M1クロック信号2203およ
びRClkS1,M1クロック信号2204の波形が、スラ
イス1のメモリ・コンポーネントの展望からのスライス
1のデータ・タイミングを示すために図示されている。
書込データ情報Da 2218が、時刻2206にメモ
リ・コンポーネントのデータ線に存在する。読取データ
情報Qb 2219が、時刻2207に存在する。読取
データ情報Qc 2220が、時刻2208に存在す
る。書込データ情報Dd 2221が、時刻2211に
存在する。書込データ情報De 2222が、時刻22
12に存在する。
【0168】図5から21に示された例示的システムで
は、読取データおよび書込データのクロックが、各メモ
リ・コンポーネントで同相であることが仮定されてい
た。図22では、スライスごとに、各メモリ・コンポー
ネントの読取クロックが、コントローラでの書込クロッ
クと同相であり(RClkSi,M0=WClkSi,M1)、伝
搬遅延tPD2が各方向で同一なので、各メモリ・コンポ
ーネントの書込クロックが、コントローラでの読取クロ
ックと同相である(WClkSi,M0=RClkSi, M1)と
仮定される。この位相の関係によって、読取データおよ
び書込データのタイミング・スロットが、図6に対して
シフトされるが、書込−読取−読取−書込シーケンス中
に2つのアイドル・サイクルが挿入されるという事実は
変化しない。この位相の関係によって、システム内でド
メイン・クロッシングが発生する位置が変更される(一
部のドメイン・クロッシング・ロジックが、コントロー
ラからメモリ・コンポーネントに移動される)。
【0169】図23から26は、本発明の実施形態によ
る、データ・クロッキング配置の例を示すタイミング図
である。しかし、この例では、メモリ・コントローラ内
のクロック位相とメモリ・コンポーネント内のクロック
位相が、図5から21に示された例の値と異なる値の組
に調整されている。図23から26の例では、図22の
例と異なるクロック位相値の組も使用される。
【0170】図23は、本発明の実施形態による、デー
タ・クロッキング配置の例を示すタイミング図である。
WClkSi,M0クロック信号2301およびRClk
S1,M0クロック信号2302の波形が、スライス0のメ
モリ・コントローラ・コンポーネントの展望からのスラ
イス1のデータ・タイミングを示すために図示されてい
る。WClkSi,M0クロック信号2301のシーケンシ
ャル・サイクルの立ち上がりエッジが、それぞれ、時刻
2305、2306、2307、および2308に発生
する。書込データ情報Da 2309が、WClk
Si,M0クロック信号2301の第1サイクル中にコント
ローラのデータ・バスに存在する。読取データ情報Qb
2310が、WClkSi,M0クロック信号2301の
第4サイクルに存在する。読取データ情報Qc 231
1が、時刻2305に存在する。書込データ情報Dd
2312が、時刻2306に存在する。書込データ情報
De 2313が、時刻2307に存在する。
【0171】WClkS1,M1クロック信号2303およ
びRClkS1,M1クロック信号2304の波形が、スラ
イス1のメモリ・コンポーネントの展望からのスライス
1のデータ・タイミングを示すために図示されている。
書込データ情報Da 2314が、スライス0のメモリ
・コントローラ・コンポーネントの展望からの位置に対
して1クロック・サイクル進んでいる。言い換えると、
書込データは、コントローラのデータ・バスに現れる時
より約1クロック・サイクル後にメモリ・デバイスのデ
ータ・バスに現れる。読取データ情報Qb 2315
は、スライス0のメモリ・コントローラ・コンポーネン
トの展望からの位置に対して1クロック・サイクル遅れ
ている。読取データ情報Qc 2316も、スライス0
のメモリ・コントローラ・コンポーネントの展望からの
位置に対して1クロック・サイクル遅れている。書込デ
ータ情報Dd 2317は、時刻2307に存在する。
書込データ情報De 2318は、時刻2308に存在
する。
【0172】この例のシステムでは、読取データおよび
書込データのクロックが、各メモリ・コンポーネントで
同相であると仮定されている。図23では、各スライス
について、読取クロックおよび書込クロックが、コント
ローラで同相であり(RClkSi,M0=WCl
Si,M0)、また、各スライスが、コントローラ側の他
のすべてのスライスと同相である(WClkSi,M0=W
ClkSjM0)と仮定されている。これによって、読取
データおよび書込データのタイミング・スロットが、図
6および図22に対してシフトされるが、書込−読取−
読取−書込シーケンス中に2つのアイドル・サイクルが
使用されるという事実は変化しない。この位相の関係に
よって、システム内でドメイン・クロッシングが発生す
る位置が変更される(すべてのドメイン・クロッシング
・ロジックが、コントローラからメモリ・コンポーネン
トに移動される)。
【0173】図6は、3つのすべてのクロック位相(ア
ドレス、読取データ、および書込データ)が、各メモリ
・コンポーネントで同一にされるケースを表し、図23
は、3つのすべてのクロック位相(アドレス、読取デー
タ、および書込データ)が、メモリ・コントローラで同
一にされるケースを表し、図22は、1つの可能な中間
のケースを表す。このケースの範囲は、本発明のさまざ
まな実施形態をさまざまな位相設定で実施できることを
強調するために示されたものである。メモリ・コントロ
ーラおよびメモリ・コンポーネントは、クロック位相設
定のあらゆる組合せをサポートするように簡単に構成す
ることができる。
【0174】3つのすべてのクロック位相(アドレス、
読取データ、および書込データ)が各メモリ・コンポー
ネントで同一にされる1つの極端のケース(図5から2
1に図示)は、各メモリ・コンポーネント内に単一のク
ロック・ドメインがあるので重要である。3つのすべて
のクロック位相(アドレス、読取データ、および書込デ
ータ)がメモリ・コントローラで同一にされるもう一方
の極端のケース(図23)も、コントローラ内に単一の
クロック・ドメインがあるので重要である。図24から
26に、このケースをさらに示す。
【0175】図24は、本発明の実施形態による、図2
3に示されたデータ・クロッキング配置の例のメモリ・
コントローラ・コンポーネントでのタイミングを示すタ
イミング図である。AClkS0M1クロック信号240
1が、スライス0のメモリ・コントローラ・コンポーネ
ントの展望からのメモリ・モジュール1のアドレス/制
御タイミングを示すために図示されている。ACl
S0M1クロック信号2401のシーケンシャル・サイ
クルの立ち上がりエッジは、それぞれ、時刻2406、
2407、2408、2409、2410、2411、
2412、および2413に発生する。アドレス情報A
Ca 2414が、時刻2406にコントローラのアド
レス信号線に存在する。アドレス情報ACb 2415
が、時刻2407に存在する。アドレス情報ACc 2
416が、時刻2408に存在する。アドレス情報AC
d 2417が、時刻2412に存在する。
【0176】WClkS1,M0クロック信号2402およ
びRClkS1,M0クロック信号2403の波形が、モジ
ュール0のメモリ・コントローラ・コンポーネントの展
望からのスライス1のデータ・タイミングを示すために
図示されている。書込データ情報Da 2418が、時
刻2407にコントローラのデータ線に存在する。読取
データ情報Qb 2419が、時刻2411に存在す
る。読取データ情報Qc2420が、時刻2412に存
在する。書込データ情報Dd 2421が、時刻241
3に存在する。
【0177】WClkSNsM0クロック信号2404およ
びRClkSNsM0クロック信号2405の波形が、モジ
ュール0のメモリ・コントローラ・コンポーネントの展
望からのスライスNSのデータ・タイミングを示すため
に図示されている。書込データ情報Da 2422が、
時刻2407にコントローラのデータ線に存在する。読
取データ情報Qb 2423が、時刻2411に存在す
る。読取データ情報Qc 2424が、時刻2412に
存在する。書込データ情報Dd 2425が、時刻24
13に存在する。
【0178】図24から26は、すべてのクロック位相
がコントローラで整列されるケースの総合システム・タ
イミングを示す図である。図24は、コントローラでの
タイミングであり、クロックのすべてが、各メモリ・ス
ライスではなくコントローラで共通であるという事実を
除いて、図7に類似する。その結果、クロックは、図2
4ではすべてが整列され、コントローラが書込−読取−
読取−書込シーケンスに挿入する2サイクルのギャップ
が、アドレス・パケットACcとACdの間で明白であ
る。
【0179】図25は、本発明の実施形態による、図2
3に示されたデータ・クロッキング配置の例のメモリ・
コンポーネントの1ランクの第1スライスでのタイミン
グを示すタイミング図である。AClkS1,M1クロック
信号2501の波形が、スライス1のメモリ・コンポー
ネントの展望からのメモリ・モジュール1のアドレス/
制御タイミングを示すために図示されている。時刻25
04、2505、2506、2507、2508、25
09、2510、および2511が、それぞれ図24の
時刻2406、2407、2408、2409、241
0、2411、2412、および2413に対応する。
信号AClkS1,M1 2501は、図24の信号ACl
S0M1 2401に対してtPD0の遅延だけ遅れてい
る。言い換えると、AClk信号は、コントローラから
メモリ・コンポーネントに伝搬するのに時間tPD0を要
する。アドレス情報ACa 2512が、信号2501
のエッジ2530に関連する。アドレス情報ACb 2
513が、信号2501のエッジ2531に関連する。
アドレス情報ACc 2514が、信号2501のエッ
ジ2532に関連する。アドレス情報ACd 2515
が、信号2501のエッジ2533に関連する。
【0180】WClkS1,M1クロック信号2502およ
びRClkS1,M1クロック信号2503の波形が、モジ
ュール1のメモリ・コンポーネントの展望からのスライ
ス1のデータ・タイミングを示すために図示されてい
る。図25には、第1メモリ・コンポーネント(スライ
ス1)のタイミングが示されており、クロックは、伝搬
遅延tPD2およびtPD0のゆえに不整列になっている。信
号WClkS1,M1 2502は、図24の信号WClk
S1,M0 2402に対してtPD2の遅延だけ遅れている。
書込データ情報Da 2516が、信号2502のエッ
ジ2534に関連する。書込データ情報Dd 2519
が、信号2502のエッジ2537に関連する。信号R
ClkS1,M1 2503は、図24の信号RClkS1,M0
2403よりtPD2だけ進んでいる。読取データ情報
Qb 2517が、信号2503のエッジ2535に関
連する。読取データ情報Qc 2518が、信号250
3のエッジ2536に関連する。
【0181】図26は、本発明の実施形態による、図2
3に示されたデータ・クロッキング配置の例のメモリ・
コンポーネントの1ランクの最終スライスでのタイミン
グを示すタイミング図である。AClkSNsM1クロック
信号2601の波形が、スライスNSのメモリ・コンポ
ーネントの展望からのメモリ・モジュール1のアドレス
/制御タイミングを示すために図示されている。時刻2
604、2605、2606、2607、2608、2
609、2610、および2611は、それぞれ、図2
4の時刻2406、2407、2408、2409、2
410、2411、2412、および2413に対応す
る。信号AClkSNsM1 2601は、図24の信号A
ClkS0M1 2401に対してtPD0+tPD1の遅延だ
け遅れている。言い換えると、アドレス情報ACa 2
612は、信号2601のエッジ2630に関連する。
アドレス情報ACb 2613は、信号2601のエッ
ジ2631に関連する。アドレス情報ACc 2614
は、信号2601のエッジ2632に関連する。アドレ
ス情報ACd 2615は、信号2601のエッジ26
33に関連する。
【0182】WClkSNsM1クロック信号2602およ
びRClkSNsM1クロック信号2603の波形が、モジ
ュール1のメモリ・コンポーネントの展望からのスライ
スN Sのデータ・タイミングを示すために図示されてい
る。信号WClkSNsM1 2602は、図24の信号W
ClkS1,M0 2402に対してtPD2の遅延だけ遅れて
いる。書込データ情報Da 2616は、信号2602
のエッジ2634に関連する(たとえば、書込データ情
報Da 2616は、信号2602のエッジ2634が
メモリ・コンポーネントのAClkクロック導体に存在
する時に、メモリ・コンポーネントのデータ・バスに存
在する)。書込データ情報Dd 2619は、信号26
02のエッジ2637に関連する。信号RClkSNsM1
2603は、図24の信号RClkS1,M0 2403
よりtPD2だけ進んでいる。読取データ情報Qb 26
17は、信号2603のエッジ2635に関連する。読
取データ情報Qc 2618は、信号2603のエッジ
2636に関連する。
【0183】図26は、最後のメモリ・コンポーネント
(スライスNS)のタイミングを示す図であり、クロッ
クは、伝搬遅延tPD1のゆえにさらに不整列になってい
る。その結果、各メモリ・コンポーネントは、図12か
ら21に関して説明したように、コントローラ内にある
ものに類似するドメイン・クロッシング・ハードウェア
を有する。
【0184】メモとして、図2の示された例のシステム
に、単一のメモリ・モジュール、そのモジュール上のメ
モリ・コンポーネントの単一のランク、共通のアドレス
および制御バス(その結果、各コントローラ・ピンが複
数のメモリ・コンポーネントのそれぞれのピンに接続さ
れる)、およびスライスされたデータ・バス(各コント
ローラ・ピンが正確に1つのメモリ・コンポーネントの
ピンに接続される)が含まれる。これらの特性は、詳細
の説明を単純にするために、この構成が例示的な特殊な
ケースであるがゆえに、例の実施形態のために選択され
たものである。しかし、説明したクロッキング方法を、
広範囲のシステム・トポロジに拡張することができる。
したがって、本発明の実施形態を、図2の例のシステム
の特徴と異なる特徴を有するシステムを用いて実践でき
ることを理解されたい。
【0185】この議論の残りでは、複数のメモリ・モジ
ュールまたはモジュールごとに複数のメモリ・ランク
(またはその両方)を有するシステムに焦点を合わせ
る。これらのシステムでは、各データ・バス・ワイヤ
が、1つのコントローラ・ピンと、複数のメモリ・コン
ポーネントのそれぞれの1つのピンとに接続される。コ
ントローラとメモリ・コンポーネントのそれぞれの間の
PD2伝搬遅延が異なるので、コントローラ内のクロッ
ク・ドメイン・クロッシングの問題が、複雑になる。各
メモリ・コンポーネントですべてのクロックを整合させ
るという選択が行われる場合には、コントローラが、ス
ライス内のメモリ・コンポーネントのランクまたはモジ
ュールごとに1組のドメイン・クロッシング・ハードウ
ェアを必要とする。これは、大量のコントローラ面積を
必要とし、クリティカルなタイミング・パスに悪影響す
るという点で、短所を持つ。したがって、複数モジュー
ルまたは複数ランクのシステムでは、クロックのすべて
をコントローラで整列させ、ドメイン・クロッシング・
ロジックをメモリ・コンポーネント内に配置することが
望ましい可能性がある。
【0186】図27は、本発明の実施形態による、複数
のランクのメモリ・コンポーネントおよび複数のメモリ
・モジュールを含むメモリ・システムを示すブロック図
である。このメモリ・システムには、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネント2702、メモリ・モジュール2
703、メモリ・モジュール2730、書込クロック2
705、読取クロック2706、書込クロック272
6、読取クロック2727、スプリッティング・コンポ
ーネント2742、スプリッティング・コンポーネント
2743、終端コンポーネント2720、終端コンポー
ネント2724、終端コンポーネント2737、および
終端コンポーネント2740が含まれる。図示の例のシ
ステムに、スライスごとに少なくとも1つの書込クロッ
クがあることを理解されたい。
【0187】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
2703の第1ランクには、メモリ・コンポーネント2
716、2717、および2718が含まれる。メモリ
・モジュール2703の第2ランクには、メモリ・コン
ポーネント2744、2745、および2746が含ま
れる。メモリ・モジュール2730の第1ランクには、
メモリ・コンポーネント2731、2732、および2
733が含まれる。メモリ・モジュール2730の第2
ランクには、メモリ・コンポーネント2734、273
5、および2736が含まれる。
【0188】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス2713、スライス2714、およびスライス2
715が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
各メモリ・モジュール内の各スライスに、それ自体のデ
ータ・バス2708、書込クロック導体2710、およ
び読取クロック導体2711が設けられる。データ・バ
ス2708は、メモリ・コントローラ・コンポーネント
2702、メモリ・コンポーネント2716、およびメ
モリ・コンポーネント2744に結合される。終端コン
ポーネント2720が、メモリ・コントローラ・コンポ
ーネント2702の近くでデータ・バス2708に結合
され、終端コンポーネント2720を、たとえばメモリ
・コントローラ・コンポーネント2702に組み込むこ
とができる。終端コンポーネント2721が、データ・
バス2708の反対の末端の近くに結合され、好ましく
はメモリ・モジュール2703内に設けられる。書込ク
ロック2705が、書込クロック導体2710に結合さ
れ、書込クロック導体2710は、メモリ・コントロー
ラ・コンポーネント2702とメモリ・コンポーネント
2716および2744に結合される。終端コンポーネ
ント2723が、書込クロック導体2710の、メモリ
・コンポーネント2716および2744に近い末端の
近くに、好ましくはメモリ・モジュール2703内で結
合される。読取クロック2706が、読取クロック導体
2711に結合され、読取クロック導体2711は、ス
プリッティング・コンポーネント2742を介してメモ
リ・コントローラ・コンポーネント2702とメモリ・
コンポーネント2716および2744に結合される。
スプリッティング・コンポーネントは、下でさらに詳細
に説明する。終端コンポーネント2724が、メモリ・
コントローラ・コンポーネント2702の近くで結合さ
れ、終端コンポーネント2724を、たとえばメモリ・
コントローラ・コンポーネント2702に組み込むこと
ができる。終端コンポーネント2725が、メモリ・コ
ンポーネント2716および2744に近い読取クロッ
ク導体2711の末端の近くに、好ましくはメモリ・モ
ジュール2703内で結合される
【0189】メモリ・モジュール2730のスライス2
713に、データ・バス2747、書込クロック導体2
728、読取クロック導体2729が設けられる。デー
タ・バス2747は、メモリ・コントローラ・コンポー
ネント2702、メモリ・コンポーネント2731、お
よびメモリ・コンポーネント2734に結合される。終
端コンポーネント2737が、メモリ・コントローラ・
コンポーネント2702の近くでデータ・バス2747
に結合され、終端コンポーネント2737を、たとえば
メモリ・コントローラ・コンポーネント2702に組み
込むことができる。終端コンポーネント2738が、デ
ータ・バス2747の反対の末端の近くに結合され、好
ましくはメモリ・モジュール2730内に設けられる。
書込クロック2726が、書込クロック導体2728に
結合され、書込クロック導体2728は、メモリ・コン
トローラ・コンポーネント2702とメモリ・コンポー
ネント2731および2734に結合される。終端コン
ポーネント2739が、メモリ・コンポーネント273
1および2734の近くの書込クロック導体2728の
末端に、好ましくはメモリ・モジュール2730内で結
合される。読取クロック2727が、読取クロック導体
2729に結合され、読取クロック導体2729は、ス
プリッティング・コンポーネント2743を介してメモ
リ・コントローラ・コンポーネント2702とメモリ・
コンポーネント2731および2734に結合される。
終端コンポーネント2740が、メモリ・コントローラ
・コンポーネント2702の近くに結合され、終端コン
ポーネント2740を、たとえばメモリ・コントローラ
・コンポーネント2702に組み込むことができる。終
端コンポーネント2741が、メモリ・コンポーネント
2731および2734の近くの読取クロック導体27
29の末端の近くに、好ましくはメモリ・モジュール2
730内で結合される。
【0190】スライスされたデータ・バスを、メモリ・
システム内のメモリ・コンポーネントの複数のランクお
よび複数のメモリ・コンポーネントに拡張することがで
きる。この例では、各モジュールのスライスごとに専用
のデータ・バスがある。各データ・バスは、各モジュー
ル上のメモリ・デバイスのランクによって共有される。
ワイヤがメイン・プリント配線基板からモジュールに移
行する時にワイヤのインピーダンスを整合させ、その結
果、性能を損なう範囲まで異ならないようにすることが
好ましい。いくつかの実施形態では、終端コンポーネン
トが、各モジュール上にある。データと共に移動する専
用の読取クロックおよび書込クロックが、データ・バス
ごとに図示されているが、これらを仮想クロックとみな
すことができる。すなわち、読取クロックおよび書込ク
ロックを、既に説明した例示的システムのようにアドレ
ス/制御クロックから合成することができる。
【0191】図28は、本発明の実施形態による、複数
のランクのメモリ・コンポーネントおよび複数のメモリ
・モジュールを含むメモリ・システムを示すブロック図
である。このメモリ・システムには、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネント2802、メモリ・モジュール2
803、メモリ・モジュール2830、書込クロック2
805、読取クロック2806、スプリッティング・コ
ンポーネント2842、スプリッティング・コンポーネ
ント2843、スプリッティング・コンポーネント28
48、スプリッティング・コンポーネント2849、ス
プリッティング・コンポーネント2850、スプリッテ
ィング・コンポーネント2851、終端コンポーネント
2820、終端コンポーネント2824、終端コンポー
ネント2880、および終端コンポーネント2881が
含まれる。
【0192】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
2803の第1ランクには、メモリ・コンポーネント2
816、2817、および2818が含まれる。メモリ
・モジュール2803の第2ランクには、メモリ・コン
ポーネント2844、2845、および2846が含ま
れる。メモリ・モジュール2830の第1ランクには、
メモリ・コンポーネント2831、2832、および2
833が含まれる。メモリ・モジュール2830の第2
ランクには、メモリ・コンポーネント2834、283
5、および2836が含まれる。
【0193】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス2813、スライス2814、およびスライス2
815が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
複数のメモリ・モジュールにまたがる各スライスに、デ
ータ・バス2808、書込クロック導体2810、およ
び読取クロック導体2811が設けられる。データ・バ
ス2808は、メモリ・コントローラ・コンポーネント
2802に結合され、スプリッタ2848を介してメモ
リ・コンポーネント2816および2844に結合さ
れ、スプリッタ2849を介してメモリ・コンポーネン
ト2831および2834に結合される。終端コンポー
ネント2820が、メモリ・コントローラ・コンポーネ
ント2802の近くでデータ・バス2808に結合さ
れ、終端コンポーネント2820を、たとえばメモリ・
コントローラ・コンポーネント2802に組み込むこと
ができる。終端コンポーネント2880が、データ・バ
ス2808の反対の末端の近くで、スプリッタ2849
の近くに結合される。終端コンポーネント2821が、
メモリ・コンポーネント2816および2844の近く
に結合され、好ましくはメモリ・モジュール2803内
に設けられる。終端モジュール2838が、メモリ・コ
ンポーネント2831および2834の近くに結合さ
れ、好ましくはメモリ・モジュール2830内に設けら
れる。
【0194】書込クロック2805は、書込クロック導
体2810に結合され、書込クロック導体2810は、
メモリ・コントローラ・コンポーネント2802に結合
され、スプリッタ2850を介してメモリ・コンポーネ
ント2816および2844に結合され、スプリッタ2
851を介してメモリ・コンポーネント2831および
2834に結合される。終端コンポーネント2881
が、書込クロック導体2810の末端の近くで、スプリ
ッタ2851の近くに結合される。終端コンポーネント
2823が、メモリ・コンポーネント2816および2
844の近くに、好ましくはメモリ・モジュール280
3内で結合される。終端コンポーネント2839が、メ
モリ・コンポーネント2831および2834の近く
に、好ましくはメモリ・モジュール2830内で結合さ
れる。
【0195】読取クロック2806が、読取クロック導
体2811に結合され、読取クロック導体2811は、
スプリッティング・コンポーネント2843を介してメ
モリ・コンポーネント2831および2834に結合さ
れ、スプリッティング・コンポーネント2842を介し
てメモリ・コントローラ・コンポーネント2802とメ
モリ・コンポーネント2816および2844に結合さ
れる。終端コンポーネント2824が、メモリ・コント
ローラ・コンポーネント2802の近くに結合され、終
端コンポーネント2824を、たとえばメモリ・コント
ローラ・コンポーネント2802に組み込むことができ
る。終端コンポーネント2825が、読取クロック導体
2811の末端の近くでメモリ・コンポーネント281
6および2844の近くに、好ましくはメモリ・モジュ
ール2803内で結合される。終端コンポーネント28
41が、読取クロック導体2811の末端の近くでメモ
リ・コンポーネント2831および2834の近くに、
好ましくはメモリ・モジュール2830内で結合され
る。
【0196】図からわかるように、この例では、図28
に示されているようにすべてのメモリ・モジュールによ
って共有されるデータ・スライスごとに1つのデータ・
バスが使用される。この例では、各データ・ワイヤが、
ある形のスプリッティング・コンポーネントSを使用し
てタッピングされる。このスプリッタは、受動インピー
ダンス・マッチャ(デルタ構成またはy構成の3つの抵
抗)もしくはなんらかの形の能動バッファまたはスイッ
チ要素とすることができる。どちらの場合でも、各ワイ
ヤの電気インピーダンスが、その長さに沿って維持され
(製造限度内で)、その結果、信号の完全性が高く保た
れる。前の構成と同様に、スプリットされたデータ・バ
スのそれぞれが、メモリ・モジュール上で、スライス内
のすべてのメモリ・コンポーネントを通り、終端コンポ
ーネントへルーティングされる。
【0197】図29は、本発明の実施形態による、複数
のランクのメモリ・コンポーネントおよび複数のメモリ
・モジュールを含むメモリ・システムを示すブロック図
である。このメモリ・システムには、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネント2902、メモリ・モジュール2
903、メモリ・モジュール2930、書込クロック2
905、読取クロック2906、終端コンポーネント2
920、終端コンポーネント2921、終端コンポーネ
ント2923、および終端コンポーネント2924が含
まれる。
【0198】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
2903の第1ランクに、メモリ・コンポーネント29
16、2917、および2918が含まれる。メモリ・
モジュール2903の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント2944、2945、および2946が含まれ
る。メモリ・モジュール2930の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント2931、2932、および293
3が含まれる。メモリ・モジュール2930の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント2934、2935、お
よび2936が含まれる。
【0199】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス2913、スライス2914、およびスライス2
915が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
メモリ・モジュールにまたがる各スライスが、共通のデ
イジー・チェイン接続されたデータ・バス2908、共
通のデイジー・チェイン接続された書込クロック導体2
910、および共通のデイジー・チェイン接続された読
取クロック導体2911を共有する。データ・バス29
08は、メモリ・コントローラ・コンポーネント290
2、メモリ・コンポーネント2916、メモリ・コンポ
ーネント2944、メモリ・コンポーネント2931、
およびメモリ・コンポーネント2934に結合される。
終端コンポーネント2920が、メモリ・コントローラ
・コンポーネント2902の近くでデータ・バス290
8に結合され、終端コンポーネント2920を、たとえ
ばメモリ・コントローラ・コンポーネント2902に組
み込むことができる。終端コンポーネント2921が、
データ・バス2908の反対の末端の近くに結合され
る。
【0200】書込クロック2905が、書込クロック導
体2910に結合され、書込クロック導体2910は、
メモリ・コントローラ・コンポーネント2902と、メ
モリ・コンポーネント2916、2944、2931、
および2934に結合される。終端コンポーネント29
23が、書込クロック導体2910の末端の近くに結合
される。読取クロック2906が、読取クロック導体2
911に結合され、読取クロック導体2911は、メモ
リ・コントローラ・コンポーネント2902と、メモリ
・コンポーネント2916、2944、2931、およ
び2934に結合される。終端コンポーネント2924
が、メモリ・コントローラ・コンポーネント2902の
近くに結合され、終端コンポーネント2924を、たと
えばメモリ・コントローラ・コンポーネント2902に
組み込むことができる。
【0201】この実施形態では、データ・スライスごと
に単一のデータ・バスがあるが、スプリッティング・コ
ンポーネントを使用するのではなく、各データ・ワイヤ
が、メモリ・モジュール上で、スライスのすべてのメモ
リ・コンポーネントを通り、モジュールから出てメイン
・ボードにルーティングされて、別のメモリ・モジュー
ルを「チェイン」するか、終端コンポーネントに入る。
上でデータ・バスに関して説明した同一の3つの構成代
替案は、複数モジュール、複数ランク・メモリ・システ
ム内の共通制御/アドレス・バスにも適用可能である。
【0202】図30は、本発明の実施形態による、メモ
リ・モジュールごとの専用の制御/アドレス・バスを有
する複数のランクのメモリ・コンポーネントと複数のメ
モリ・モジュールを含むメモリ・システムを示すブロッ
ク図である。このメモリ・システムには、メモリ・コン
トローラ・コンポーネント3002、メモリ・モジュー
ル3003、メモリ・モジュール3030、アドレス/
制御クロック3004、アドレス/制御クロック305
3、終端コンポーネント3052、および終端コンポー
ネント3056が含まれる。
【0203】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
3003の第1ランクに、メモリ・コンポーネント30
16、3017、および3018が含まれる。メモリ・
モジュール3003の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント3044、3045、および3046が含まれ
る。メモリ・モジュール3030の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント3031、3032、および303
3が含まれる。メモリ・モジュール3030の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント3034、3035、お
よび3036が含まれる。
【0204】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス3013、スライス3014、およびスライス3
015が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
各メモリ・モジュールに、それ自体のアドレス・バス3
007およびアドレス/制御クロック導体3010が設
けられる。アドレス・バス3007は、メモリ・コント
ローラ・コンポーネント3002と、メモリ・コンポー
ネント3016、3017、3018、3044、30
45、および3046に結合される。終端コンポーネン
ト3052が、メモリ・コントローラ・コンポーネント
3002の近くでアドレス・バス3007に結合され、
終端コンポーネント3052を、たとえばメモリ・コン
トローラ・コンポーネント3002に組み込むことがで
きる。終端コンポーネント3019が、アドレス・バス
3007の反対の末端の近くに結合され、好ましくはメ
モリ・モジュール3003内に設けられる。アドレス/
制御クロック3004が、アドレス/制御クロック導体
3009に結合され、アドレス/制御クロック導体30
09は、メモリ・コントローラ・コンポーネント300
2と、メモリ・コンポーネント3016、3017、3
018、3044、3045、および3046に結合さ
れる。終端コンポーネント3022が、アドレス/制御
クロック導体3009の末端の近くに、好ましくはメモ
リ・モジュール3003内で結合される。
【0205】メモリ・モジュール3030に、アドレス
・バス3054とアドレス/制御クロック導体3055
が設けられる。アドレス・バス3054は、メモリ・コ
ントローラ・コンポーネント3002と、メモリ・コン
ポーネント3031、3032、3033、3034、
3035、および3036に結合される。終端コンポー
ネント3056が、メモリ・コントローラ・コンポーネ
ント3002の近くでアドレス・バス3054に結合さ
れ、終端コンポーネント3056を、たとえばメモリ・
コントローラ・コンポーネント3002に組み込むこと
ができる。終端コンポーネント3057が、アドレス・
バス3054の反対の末端の近くに結合され、好ましく
はメモリ・モジュール3030内に設けられる。アドレ
ス/制御クロック3053が、アドレス/制御クロック
導体3055に結合され、アドレス/制御クロック導体
3055は、メモリ・コントローラ・コンポーネント3
002と、メモリ・コンポーネント3031、303
2、3033、3034、3035、および3036に
結合される。終端コンポーネント3058が、アドレス
/制御クロック導体3055の末端の近くに、好ましく
はメモリ・モジュール3030内で結合される。
【0206】各制御/アドレス・ワイヤは、メモリ・モ
ジュール上で、すべてのメモリ・コンポーネントを通
り、終端コンポーネントへルーティングされる。ワイヤ
・ルーティングは、モジュール上のランクの方向で図示
されているが、スライスの方向にルーティングすること
もできる。
【0207】図31は、本発明の実施形態による、メモ
リ・モジュールの間で共有される単一の制御/アドレス
・バスを有する複数のランクのメモリ・コンポーネント
と複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・システムを
示すブロック図である。このメモリ・システムには、メ
モリ・コントローラ・コンポーネント3102、メモリ
・モジュール3103、メモリ・モジュール3130、
アドレス/制御クロック3104、スプリッティング・
コンポーネント3159、スプリッティング・コンポー
ネント3160、スプリッティング・コンポーネント3
161、スプリッティング・コンポーネント3162、
終端コンポーネント3163、および終端コンポーネン
ト3164が含まれる。
【0208】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
3103の第1ランクに、メモリ・コンポーネント31
16、3117、および3118が含まれる。メモリ・
モジュール3103の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント3144、3145、および3146が含まれ
る。メモリ・モジュール3130の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント3131、3132、および313
3が含まれる。メモリ・モジュール3130の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント3134、3135、お
よび3136が含まれる。
【0209】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス3113、スライス3114、およびスライス3
115が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
アドレス・バス3107およびアドレス/制御クロック
導体3109が、複数のメモリ・モジュールの間で各メ
モリ・コンポーネントに結合される。アドレス・バス3
107が、メモリ・コントローラ・コンポーネント31
02に結合され、スプリッタ3159を介してメモリ・
コンポーネント3116、3117、3118、314
4、3145、および3146に結合され、スプリッタ
3161を介してメモリ・コンポーネント3131、3
132、3133、3134、3135、および313
6に結合される。終端コンポーネント3152が、メモ
リ・コントローラ・コンポーネント3102の近くでア
ドレス・バス3107に結合され、終端コンポーネント
3152を、たとえばメモリ・コントローラ・コンポー
ネント3102に組み込むことができる。終端コンポー
ネント3163が、アドレス・バス3107の反対の末
端の近くで、スプリッタ3161の近くに結合される。
終端コンポーネント3119が、アドレス・バス310
7に、好ましくはメモリ・モジュール3103内で結合
される。終端コンポーネント3157が、アドレス・バ
ス3107に、好ましくはメモリ・モジュール3130
内で結合される。
【0210】アドレス/制御クロック3104が、アド
レス/制御クロック導体3109に結合され、アドレス
/制御クロック導体3109は、メモリ・コントローラ
・コンポーネント3102に結合され、スプリッタ31
60を介してメモリ・コンポーネント3116、311
7、3118、3144、3145、および3146に
結合され、スプリッタ3162を介してメモリ・コンポ
ーネント3131、3132、3133、3134、3
135、および3136に結合される。終端コンポーネ
ント3164が、アドレス/制御クロック導体3109
の末端の近くで、スプリッタ3162の近くに結合され
る。終端コンポーネント3122が、アドレス/制御ク
ロック導体3109に、好ましくはメモリ・モジュール
3103内で結合される。終端コンポーネント3158
が、アドレス/制御クロック導体3109に、好ましく
はメモリ・モジュール3130内で結合される。
【0211】この例では、各制御/アドレス・ワイヤ
が、ある形のスプリッティング・コンポーネントSを使
用してタッピングされる。このスプリッタは、受動イン
ピーダンス・マッチャ(デルタ構成またはy構成の3つ
の抵抗)もしくはなんらかの形の能動バッファまたはス
イッチ要素とすることができる。どちらの場合でも、各
ワイヤの電気インピーダンスが、その長さに沿って維持
され(製造限度内で)、その結果、信号の完全性が高く
保たれる。前の構成と同様に、スプリットされた制御/
アドレス・バスのそれぞれが、メモリ・モジュール上
で、すべてのメモリ・コンポーネントを通り、終端コン
ポーネントへルーティングされる。
【0212】図32は、本発明の実施形態による、すべ
てのメモリ・モジュールによって共有される単一の制御
/アドレス・バスを有する複数のランクのメモリ・コン
ポーネントと複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・
システムを示すブロック図である。このメモリ・システ
ムには、メモリ・コントローラ・コンポーネント320
2、メモリ・モジュール3203、メモリ・モジュール
3230、アドレス/制御クロック3204、終端コン
ポーネント3219、および終端コンポーネント322
2が含まれる。
【0213】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
3203の第1ランクに、メモリ・コンポーネント32
16、3217、および3218が含まれる。メモリ・
モジュール3203の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント3244、3245、および3246が含まれ
る。メモリ・モジュール3230の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント3231、3232、および323
3が含まれる。メモリ・モジュール3230の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント3234、3235、お
よび3236が含まれる。
【0214】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス3213、スライス3214、およびスライス3
215が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
メモリ・モジュールのメモリ・コンポーネントが、共通
のデイジー・チェイン接続されたアドレス・バス320
7および共通のデイジー・チェイン接続されたアドレス
/制御クロック導体3209を共有する。アドレス・バ
ス3207は、メモリ・コントローラ・コンポーネント
3202と、メモリ・コンポーネント3216、321
7、3218、3244、3245、3246、323
1、3232、3233、3234、3235、および
3236に結合される。終端コンポーネント3252
が、メモリ・コントローラ・コンポーネント3202の
近くでアドレス・バス3207に結合され、終端コンポ
ーネント3252を、たとえばメモリ・コントローラ・
コンポーネント3202に組み込むことができる。終端
コンポーネント3219が、アドレス・バス3207の
反対の末端の近くに結合される。
【0215】アドレス/制御クロック3204が、アド
レス/制御クロック導体3209に結合され、アドレス
/制御クロック導体3209は、メモリ・コントローラ
・コンポーネント3202と、メモリ・コンポーネント
3216、3217、3218、3244、3245、
3246、3231、3232、3233、3234、
3235、および3236に結合される。終端コンポー
ネント3222が、アドレス/制御クロック導体320
9の末端の近くに結合される。
【0216】図31のメモリ・システムと異なって、あ
る種のスプリッティング・コンポーネントを使用するの
ではなく、各制御/アドレス・ワイヤが、メモリ・モジ
ュール上で、すべてのメモリ・コンポーネントを通っ
て、モジュールから出てメイン・ボードにルーティング
されて、別のメモリ・モジュールをチェインするか、終
端コンポーネントに入る。
【0217】同一の3つの構成の代替案が、複数モジュ
ール複数ランク・メモリ・システム内のスライスされた
制御/アドレス・バスについて可能である。これは、こ
こまでで説明したシステムからの逸脱を表す。すなわ
ち、前のシステムのすべてが、制御/アドレス・バスを
有したが、この制御/アドレス・バスは、メモリ・スラ
イスにまたがって共通であった。そのかわりに、スライ
スごとにアドレス/制御バスを設けることも可能であ
る。各バスは、スライスごとのデータ・バスに沿ってル
ーティングされることが好ましく、書込動作だけを実行
するデータ・バスと同一のトポロジ特性を有することが
好ましい。
【0218】図33は、本発明の実施形態による、メモ
リ・モジュールごとの専用のスライスされた制御/アド
レス・バスを有する複数のランクのメモリ・コンポーネ
ントと複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・システ
ムを示すブロック図である。このメモリ・システムに
は、メモリ・コントローラ・コンポーネント3302、
メモリ・モジュール3303、メモリ・モジュール33
30、アドレス/制御クロック3304、アドレス/制
御クロック3353、終端コンポーネント3352、お
よび終端コンポーネント3356が含まれる。
【0219】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
3303の第1ランクに、メモリ・コンポーネント33
16、3317、および3318が含まれる。メモリ・
モジュール3303の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント3344、3345、および3346が含まれ
る。メモリ・モジュール3330の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント3331、3332、および333
3が含まれる。メモリ・モジュール3330の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント3334、3335、お
よび3336が含まれる。
【0220】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス3313、スライス3314、およびスライス3
315が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
各メモリ・モジュール内の各スライスに、それ自体のア
ドレス・バス3307とアドレス/制御クロック導体3
310が設けられる。アドレス・バス3307は、メモ
リ・コントローラ・コンポーネント3302と、メモリ
・コンポーネント3316および3344に結合され
る。終端コンポーネント3352が、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネント3302の近くでアドレス・バス
3307に結合され、終端コンポーネント3352を、
たとえばメモリ・コントローラ・コンポーネント330
2に組み込むことができる。終端コンポーネント331
9が、アドレス・バス3307の反対の末端の近くに結
合され、好ましくはメモリ・モジュール3303内に設
けられる。アドレス/制御クロック3304が、アドレ
ス/制御クロック導体3309に結合され、アドレス/
制御クロック導体3309は、メモリ・コントローラ・
コンポーネント3302と、メモリ・コンポーネント3
316および3344に結合される。終端コンポーネン
ト3322が、アドレス/制御クロック導体3309の
末端の近くに、好ましくはメモリ・モジュール3303
内で結合される。
【0221】メモリ・モジュール3330に、アドレス
・バス3354およびアドレス/制御クロック導体33
55が設けられる。アドレス・バス3354は、メモリ
・コントローラ・コンポーネント3302と、メモリ・
コンポーネント3331および3334に結合される。
終端コンポーネント3356が、メモリ・コントローラ
・コンポーネント3302の近くでアドレス・バス33
54に結合され、終端コンポーネント3356を、たと
えばメモリ・コントローラ・コンポーネント3302に
組み込むことができる。終端コンポーネント3357
が、アドレス・バス3354の反対の末端の近くに結合
され、好ましくはメモリ・モジュール3330内に設け
られる。アドレス/制御クロック3353が、アドレス
/制御クロック導体3355に結合され、アドレス/制
御クロック導体3355は、メモリ・コントローラ・コ
ンポーネント3302と、メモリ・コンポーネント33
31および3334に結合される。終端コンポーネント
3358が、アドレス/制御クロック導体3355の末
端の近くに、好ましくはメモリ・モジュール3330内
で結合される。各制御/アドレス・ワイヤは、メモリ・
モジュール上で、スライス内のすべてのメモリ・コンポ
ーネントを通り、終端コンポーネントへルーティングさ
れる。
【0222】図34は、本発明の実施形態による、すべ
てのメモリ・モジュールによって共有される単一の制御
/アドレス・バスを有する複数のランクのメモリ・コン
ポーネントと複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・
システムを示すブロック図である。このメモリ・システ
ムには、メモリ・コントローラ・コンポーネント340
2、メモリ・モジュール3403、メモリ・モジュール
3430、アドレス/制御クロック3404、スプリッ
ティング・コンポーネント3459、スプリッティング
・コンポーネント3460、スプリッティング・コンポ
ーネント3461、スプリッティング・コンポーネント
3462、終端コンポーネント3463、および終端コ
ンポーネント3464が含まれる。
【0223】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
3403の第1ランクに、メモリ・コンポーネント34
16、3417、および3418が含まれる。メモリ・
モジュール3403の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント3444、3445、および3446が含まれ
る。メモリ・モジュール3430の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント3431、3432、および343
3が含まれる。メモリ・モジュール3430の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント3434、3435、お
よび3436が含まれる。
【0224】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス3413、スライス3414、およびスライス3
415が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
アドレス・バス3407およびアドレス/制御クロック
導体3409が、複数のメモリ・モジュールの間の1ス
ライスの各メモリ・コンポーネントに結合される。アド
レス・バス3407は、メモリ・コントローラ・コンポ
ーネント3402に結合され、スプリッタ3459を介
してメモリ・コンポーネント3416および3444に
結合され、スプリッタ3461を介してメモリ・コンポ
ーネント3431および3434に結合される。終端コ
ンポーネント3452が、メモリ・コントローラ・コン
ポーネント3402の近くでアドレス・バス3407に
結合され、終端コンポーネント3452を、たとえばメ
モリ・コントローラ・コンポーネント3402に組み込
むことができる。終端コンポーネント3463が、アド
レス・バス3407の反対の末端の近くで、スプリッタ
3461の近くに結合される。終端コンポーネント34
19が、アドレス・バス3407に、好ましくはメモリ
・モジュール3403内で結合される。終端コンポーネ
ント3457が、アドレス・バス3407に、好ましく
はメモリ・モジュール3430内で結合される。
【0225】アドレス/制御クロック3404が、アド
レス/制御クロック導体3409に結合され、アドレス
/制御クロック導体3409は、メモリ・コントローラ
・コンポーネント3402に結合され、スプリッタ34
60を介してメモリ・コンポーネント3416および3
444に結合され、スプリッタ3462を介してメモリ
・コンポーネント3431および3434に結合され
る。終端コンポーネント3464が、アドレス/制御ク
ロック導体3409の末端の近くで、スプリッタ346
2の近くに結合される。終端コンポーネント3422
が、アドレス/制御クロック導体3409に、好ましく
はメモリ・モジュール3403内で結合される。終端コ
ンポーネント3458が、アドレス/制御クロック導体
3409に、好ましくはメモリ・モジュール3430内
で結合される。
【0226】この例では、各制御/アドレス・ワイヤ
が、ある形のスプリッティング・コンポーネントSを使
用してタッピングされる。このスプリッタは、受動イン
ピーダンス・マッチャ(デルタ構成またはy構成の3つ
の抵抗)もしくはなんらかの形の能動バッファまたはス
イッチ要素とすることができる。どちらの場合でも、各
ワイヤの電気インピーダンスが、その長さに沿って維持
され(製造限度内で)、その結果、信号の完全性が高く
保たれる。前の構成と同様に、スプリットされた制御/
アドレス・バスのそれぞれが、メモリ・モジュール上
で、すべてのメモリ・コンポーネントを通り、終端コン
ポーネントへルーティングされる。
【0227】図35は、本発明の実施形態による、すべ
てのメモリ・モジュールによって共有される単一の制御
/アドレス・バスを有する複数のランクのメモリ・コン
ポーネントと複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・
システムを示すブロック図である。このメモリ・システ
ムには、メモリ・コントローラ・コンポーネント350
2、メモリ・モジュール3503、メモリ・モジュール
3530、アドレス/制御クロック3504、終端コン
ポーネント3519、および終端コンポーネント352
2が含まれる。
【0228】各メモリ・モジュール内で、メモリ・コン
ポーネントがランクに編成される。メモリ・モジュール
3503の第1ランクに、メモリ・コンポーネント35
16、3517、および3518が含まれる。メモリ・
モジュール3503の第2ランクに、メモリ・コンポー
ネント3544、3545、および3546が含まれ
る。メモリ・モジュール3530の第1ランクに、メモ
リ・コンポーネント3531、3532、および353
3が含まれる。メモリ・モジュール3530の第2ラン
クに、メモリ・コンポーネント3534、3535、お
よび3536が含まれる。
【0229】このメモリ・システムは、メモリ・コント
ローラ・コンポーネントおよびメモリ・モジュールにま
たがるスライスに編成される。このスライスの例に、ス
ライス3513、スライス3514、およびスライス3
515が含まれる。各スライスに、各ランクの1つのメ
モリ・コンポーネントが含まれる。この実施形態では、
メモリ・モジュールにまたがる各スライスが、共通のデ
イジー・チェイン接続されたアドレス・バス3507お
よび共通のデイジー・チェイン接続されたアドレス/制
御クロック導体3509を共有する。アドレス・バス3
507は、メモリ・コントローラ・コンポーネント35
02と、メモリ・コンポーネント3516、3544、
3531、および3534に結合される。終端コンポー
ネント3552が、メモリ・コントローラ・コンポーネ
ント3502の近くでアドレス・バス3507に結合さ
れ、終端コンポーネント3552を、たとえばメモリ・
コントローラ・コンポーネント3502に組み込むこと
ができる。終端コンポーネント3519が、アドレス・
バス3507の反対の末端の近くに結合される。
【0230】アドレス/制御クロック3504が、アド
レス/制御クロック導体3509に結合され、アドレス
/制御クロック導体3509は、メモリ・コントローラ
・コンポーネント3502と、メモリ・コンポーネント
3516、3544、3531、および3534に結合
される。終端コンポーネント3522が、アドレス/制
御クロック導体3509の末端の近くに結合される。
【0231】図34のメモリ・システムと異なって、あ
る種のスプリッティング・コンポーネントを使用するの
ではなく、各制御/アドレス・ワイヤが、メモリ・モジ
ュール上で、すべてのメモリ・コンポーネントを通っ
て、モジュールから出てメイン・ボードにルーティング
されて、別のメモリ・モジュールをチェインするか、終
端コンポーネントに入る。
【0232】上で説明した図面を参照するとわかるよう
に、本発明の実施形態を用いると、メモリ・システム、
メモリ・コンポーネント、またはメモリ・コントローラ
・コンポーネントもしくはこれらの組合せの実施が可能
になる。これらの実施形態で、スキューを、ビット時間
に従ってまたはタイミング信号に従ってもしくはその両
方で測定することができる。いくつかの実施形態では、
メモリ・コントローラ・コンポーネント内のロジック
が、スキューに対処し、他の実施形態では、メモリ・コ
ンポーネント内のロジックが、スキューに対処する。ス
キューは、ビット時間またはサイクル・タイムより大き
いものとすることができる。
【0233】本発明の一実施形態は、第1信号を搬送す
る第1ワイヤを有するメモリ・モジュールを提供する。
第1ワイヤは、第1モジュール接点ピンに接続される。
第1ワイヤは、第1メモリ・コンポーネントの第1ピン
に接続される。第1ワイヤは、第1終端デバイスに接続
される。第1ワイヤは、メモリ・モジュール上のその全
長に沿ってほぼ一定の第1インピーダンス値を維持す
る。終端コンポーネントは、この第1インピーダンス値
にほぼ一致する。任意選択として、第1ワイヤが接続さ
れない第2メモリ・コンポーネントがある。任意選択と
して、第1信号が、主に、通常動作中の制御情報、アド
レス情報、およびデータ情報から選択される情報を搬送
する。任意選択として、終端デバイスが、メモリ・モジ
ュール上の、第1メモリ・コンポーネントと別のコンポ
ーネントである。任意選択として、終端デバイスが、メ
モリ・モジュール上で第1メモリ・コンポーネントに一
体化される。そのようなメモリ・モジュールを、メモリ
・コントローラ・コンポーネントに接続することがで
き、メモリ・システム内で使用することができる。
【0234】本発明の一実施形態は、第1信号を搬送す
る第1ワイヤおよび第2信号を搬送する第2ワイヤを有
するメモリ・モジュールを提供する。第1ワイヤは、第
1モジュール接点ピンに接続される。第2ワイヤは、第
2モジュール接点ピンに接続される。第1ワイヤは、第
1メモリ・コンポーネントの第1ピンに接続される。第
2ワイヤは、第1メモリ・コンポーネントの第2ピンに
接続される。第1ワイヤは、第2メモリ・コンポーネン
トの第3ピンに接続される。第2ワイヤは、第2メモリ
・コンポーネントのピンに接続されない。第1ワイヤ
は、第1終端デバイスに接続される。第2ワイヤは、第
2終端デバイスに接続される。第1ワイヤは、メモリ・
モジュール上でその全長に沿ってほぼ一定の第1インピ
ーダンス値を維持する。第2ワイヤは、メモリ・モジュ
ール上でその全長に沿ってほぼ一定の第2インピーダン
ス値を維持する。第1終端コンポーネントは、第1イン
ピーダンス値にほぼ一致する。第2終端コンポーネント
は、第2インピーダンス値にほぼ一致する。任意選択と
して、第1または第2の終端デバイスは、メモリ・モジ
ュール上で第1メモリ・コンポーネントと別のコンポー
ネントである。任意選択として、第1または第2の終端
デバイスが、メモリ・モジュール上で第1メモリ・コン
ポーネントに一体化される。任意選択として、第1信号
が、アドレス情報を搬送し、第2信号が、データ情報を
搬送する。そのようなメモリ・モジュールを、メモリ・
コントローラ・コンポーネントに接続することができ、
メモリ・システム内で使用することができる。
【0235】本発明の一実施形態は、メモリ・システム
でメモリ動作を行う方法を提供する。メモリ・システム
に、メモリ・コントローラ・コンポーネントとメモリ・
コンポーネントのランクとが含まれる。メモリ・コンポ
ーネントに、スライスが含まれる。スライスに、第1ス
ライスと第2スライスが含まれる。メモリ・コントロー
ラ・コンポーネントは、導体に結合され、この導体に
は、メモリ・コントローラ・コンポーネントを第1スラ
イスおよび第2スライスに接続する共通アドレス・バス
と、メモリ・コントローラ・コンポーネントを第1スラ
イスに接続する第1データ・バスと、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントを第2スライスに接続する第2デ
ータ・バスとが含まれる。第1データ・バスは、第2デ
ータ・バスと別である。この方法には、導体の1つに信
号を供給するステップが含まれる。信号は、アドレス信
号、書込データ信号、または読取データ信号とすること
ができる。導体の1つの伝搬遅延は、信号によって表さ
れる情報の要素がその導体に印加される時間より長い。
任意選択として、この方法に、第1データ信号を第1デ
ータ・バスに供給し、第2データ信号を第2データ・バ
スに供給するステップを含めることができる。第1デー
タ信号は、特に第1スライスに関係し、第2データ信号
は、特に第2スライスに関係する。一例では、第1デー
タ信号が、第1スライスとの間でデータを搬送し、第2
データ信号が、第2スライスとの間でデータを搬送す
る。
【0236】本発明の一実施形態は、第1メモリ・コン
ポーネントと第2メモリ・コンポーネントの間でメモリ
動作を調整する方法を提供する。この方法には、第1タ
イム・インターバルに、共通アドレス・バスに第1メモ
リ・コンポーネントに関する第1アドレス信号を印加す
るステップが含まれる。共通アドレス・バスは、第1メ
モリ・コンポーネントおよび第2メモリ・コンポーネン
トに結合される。この方法には、第2タイム・インター
バールに、共通アドレス・バスに第2メモリ・コンポー
ネントに関する第2アドレス信号を印加するステップも
含まれる。第1タイム・インターバルは、共通アドレス
・バスの伝搬遅延より短く、第2タイム・インターバル
は、共通アドレス・バスの共通アドレス・バス伝搬遅延
より短い。この方法には、第1メモリ・コンポーネント
・タイミング信号を使用して、第1メモリ・コンポーネ
ントの第1メモリ動作を制御するステップも含まれる。
第1メモリ・コンポーネント・タイミング信号は、共通
アドレス・バス伝搬遅延と、第1メモリ・コンポーネン
トに結合された第1データ・バスの第1データ・バス伝
搬遅延との間の第1関係に依存する。この方法には、第
2メモリ・コンポーネント・タイミング信号を使用し
て、第2メモリ・コンポーネントの第2メモリ動作を制
御するステップも含まれる。第2メモリ・コンポーネン
ト・タイミング信号は、共通アドレス・バス伝搬遅延
と、第2メモリ・コンポーネントに結合された第2デー
タ・バスの第2データ・バス伝搬遅延との間の第2関係
に依存する。
【0237】本発明の一実施形態(説明Bと称する)
は、メモリ・コントローラ・コンポーネントと、単一メ
モリ・モジュール上のメモリ・コンポーネントの単一ラ
ンクと、ランクの連続するすべてのメモリ・コンポーネ
ントにコントローラを接続する共通アドレス・バスと、
ランクの各メモリ・コンポーネント(スライス)にコン
トローラを接続する別のデータ・バスと、コントローラ
から連続する各メモリ・コンポーネントを通って制御信
号およびアドレス信号を搬送するアドレス・バスと、ラ
ンクの各メモリ・コンポーネント(スライス)からコン
トローラに読取データ信号を搬送するデータ・バスと、
コントローラからランクの各メモリ・コンポーネント
(スライス)に書込データ信号を搬送するデータ・バス
と、コントローラからランクの各メモリ・コンポーネン
ト(スライス)に書込マスク信号を搬送するデータ・バ
スと(各スライスの読取データ信号および書込データ信
号が同一のデータ・バス・ワイヤを共有し(両方向)、
バスが、ワイヤ上で伝送される連続する情報が干渉しな
いように設計される)、制御信号およびアドレス信号を
伴い、情報を送出するためにコントローラによって使用
され、情報を受け取るためにメモリ・コンポーネントに
よって使用される周期的なクロック信号と、書込データ
信号および任意選択の書込マスク信号の各スライスを伴
い、情報を送出するためにコントローラによって使用さ
れ、情報を受け取るためにメモリ・コンポーネントによ
って使用される周期的なクロック信号と、読取データ信
号の各スライスを伴い、情報を送出するためにメモリ・
コンポーネントによって使用され、情報を受け取るため
にコントローラによって使用される周期的なクロック信
号とを有するメモリ・システムが提供される。
【0238】本発明の一実施形態(説明Aと称する)
は、上の説明(説明B)の特徴を有すると共に、制御信
号およびアドレス信号に関連し、これらの信号の伝搬遅
延を複製し、情報を送出するためにコントローラによっ
て使用され、情報を受け取るためにメモリ・コンポーネ
ントによって使用されるタイミング信号と、書込データ
信号および任意選択の書込マスク信号の各スライスに関
連し、これらの信号の伝搬遅延を複製し、情報を送出す
るためにコントローラによって使用され、情報を受け取
るためにメモリ・コンポーネントによって使用されるタ
イミング信号と、読取データ信号の各スライスに関連
し、これらの信号の伝搬遅延を複製し、情報を送出する
ためにメモリ・コンポーネントによって使用され、情報
を受け取るためにコントローラによって使用されるタイ
ミング信号とを有し、コントローラから最後のメモリ・
コンポーネントへ制御信号およびアドレス信号を搬送す
るワイヤの伝搬遅延が、1つの情報がコントローラによ
ってそのワイヤ上で送出される時間より長い、メモリ・
システムを提供する。
【0239】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、コントローラからメモリ・コンポー
ネントへ書込データ信号および任意選択の書込マスク信
号を搬送するワイヤの伝搬遅延が、1つの情報がコント
ローラによってそのワイヤ上で送出される時間より長
い、メモリ・システムを提供する。
【0240】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、メモリ・コンポーネントからコント
ローラへ読取データ信号を搬送するワイヤの伝搬遅延
が、1つの情報がメモリ・コンポーネントによってその
ワイヤ上で送出される時間より長い、メモリ・システム
を提供する。
【0241】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、コントローラの書込データ・トラン
スミッタ・スライスのタイミング信号の整列が、ランク
内のスライスの数に無関係にほぼ同一に調整され、コン
トローラの読取データ・レシーバ・スライスのタイミン
グ信号の整列が、ランク内のスライスの数に無関係にほ
ぼ同一に調整され、コントローラの読取データ・レシー
バ・スライスのタイミング信号の整列が、書込データ・
トランスミッタ・スライスのタイミング信号とほぼ同一
に調整される、メモリ・システムを提供する。
【0242】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、コントローラの書込データ・トラン
スミッタ・スライスのタイミング信号の整列が、ほとん
ど互いに異なるように調整される、メモリ・システムを
提供する。
【0243】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、コントローラの読取データ・レシー
バ・スライスのタイミング信号の整列が、ほとんど互い
に異なるように調整される、メモリ・システムを提供す
る。
【0244】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、各メモリ・コンポーネントの読取デ
ータ・トランスミッタのタイミング信号の整列が、同一
のメモリ・コンポーネント内の書込データ・レシーバの
タイミング信号とほぼ同一に調整され、タイミング信号
の整列が、ランク内のメモリ・コンポーネント・スライ
スごとに異なる、メモリ・システムを提供する。
【0245】本発明の一実施形態は、上の説明(説明
A)の特徴を有し、各メモリ・コンポーネントの書込デ
ータ・トランスミッタのタイミング信号の整列が、同一
のメモリ・コンポーネント内の読取データ・レシーバの
タイミング信号と異なるように調整される、メモリ・シ
ステムを提供する。
【0246】本明細書に記載の実施形態に対する多数の
変形形態が、本明細書に記載の請求項の範囲から逸脱せ
ずに可能である。これらの変形形態の例を、下で説明す
る。これらの例は、制御およびアドレス信号、読取デー
タ信号、書込データ信号、および任意選択として書込マ
スク信号に適用することができる。たとえば、信号に関
連するタイミング信号を、外部クロック・コンポーネン
トまたはコントローラ・コンポーネントによって生成す
ることができる。そのタイミング信号は、そのような信
号を搬送するワイヤと本質的に同一のトポロジを有する
ワイヤを進むことができる。そのタイミング信号は、そ
のような信号を搬送するワイヤに含まれる情報から、ま
たはそのような信号のいずれかに関連するタイミング信
号から、生成することができる。そのタイミング信号
を、情報のそれぞれがそのような信号を搬送するワイヤ
上に存在するインターバル中に絶対必要な回数だけアサ
ートすることができる。もう1つの変形形態として、絶
対必要な数の情報を、そのような信号に関連するタイミ
ング信号がアサートされるたびに、そのような信号を搬
送するワイヤ上でアサートすることができる。もう1つ
の変形形態として、絶対必要な数の情報を、そのような
信号に関連するタイミング信号が絶対必要な回数だけア
サートされるたびに、そのような信号を搬送するワイヤ
上でアサートすることができる。そのような信号に関連
するタイミング信号がアサートされる時点は、情報のそ
れぞれがそのような信号を搬送するワイヤに存在するタ
イム・インターバルに対するオフセットを有することが
できる。
【0247】他の変形形態の例として、信号の一部の終
端コンポーネントを、メイン・プリント配線基板、メモ
リ・モジュール基板、メモリ・コンポーネント、または
コントローラ・コンポーネントのいずれかの上に置くこ
とができる。また、複数のランクのメモリ・コンポーネ
ントを、メモリ・モジュール上に設け、一部の制御およ
びアドレス信号をすべてのメモリ・コンポーネントに接
続し、一部の制御およびアドレス信号をメモリ・コンポ
ーネントの一部に接続することができる。メモリ・コン
ポーネントの複数のモジュールが、メモリ・システム内
に存在し、一部の制御およびアドレス信号をすべてのメ
モリ・コンポーネントに接続し、一部の制御およびアド
レス信号をメモリ・コンポーネントの一部に接続するこ
とも可能である。
【0248】したがって、さまざまな位置に配置された
メモリ・コンポーネントの間でメモリ動作を調整する方
法および装置を説明した。さまざまな態様における本発
明の他の変形形態および修正形態の実施が、当業者に明
白であり、本発明が、説明した特定の実施形態に制限さ
れないことを理解されたい。したがって、本明細書に開
示され請求される基本の基礎となる原理の趣旨および範
囲に含まれるすべての修正形態、変形形態、および同等
物が、本発明に含まれることが企図されている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を実施することができる、メ
モリ・コンポーネントの単一のランクを有するメモリ・
システムを示すブロック図である。
【図2】本発明の実施形態による、図1に示されたもの
などのメモリ・システムのメモリ・コンポーネントのラ
ンクの1スライスのクロッキングの詳細を示すブロック
図である。
【図3】他の図のタイミング図で使用されるアドレス・
タイミングおよび制御タイミングの表記を示すタイミン
グ図である。
【図4】他の図のタイミング図で使用されるデータ・タ
イミングの表記を示すタイミング図である。
【図5】本発明の実施形態による、アドレスおよび制御
バス(Addr/CtrlまたはACS,M)上で通信さ
れる信号のタイミングを示すタイミング図である。
【図6】本発明の実施形態による、データ・バス(DQ
S,M)上で通信される信号のタイミングを示すタイミン
グ図である。
【図7】本発明の実施形態による、メモリ・コントロー
ラ・コンポーネントでのシステム・タイミングを示すタ
イミング図である。
【図8】本発明の実施形態による、ランク1のスライス
1のメモリ・コンポーネントでのクロックAClk
S1,M1、WClkS1,M1、およびRClkS1,M1の整列を
示すタイミング図である。
【図9】本発明の実施形態による、ランク1のスライス
Sのメモリ・コンポーネントでのクロックACl
SNsM1、WClkSNsM1、およびRClkSNsM1の整
列を示すタイミング図である。
【図10】本発明の実施形態による、図1に示されたも
のなどのメモリ・システムのメモリ・コンポーネントの
ランクの1スライスのさらなる詳細を示すブロック図で
ある。
【図11】本発明の実施形態による、図1に示されたも
のなどのメモリ・システムのメモリ・コンポーネントの
ランクの1スライスのクロッキング要素を示すブロック
図である。
【図12】本発明の実施形態による、図1に示されたも
のなどのメモリ・システムのメモリ・コントローラ・コ
ンポーネントの詳細を示すブロック図である。
【図13】本発明の実施形態による、図1に示されたも
のなどのメモリ・システムのメモリ・コントローラ・コ
ンポーネントのクロッキング要素を示すブロック図であ
る。
【図14】本発明の実施形態による、図12に示された
ものなどのメモリ・コントローラ・コンポーネントのC
lkC8ブロックの詳細を示すブロック図である。
【図15】本発明の実施形態による、図12に示された
ものなどのメモリ・コントローラ・コンポーネントの送
出ブロックおよび受取ブロックでClkC8[N:1]
信号がどのように使用されるかを示すブロック図であ
る。
【図16】本発明の実施形態による、ClkC8Aクロ
ックに基づいてClkC8BクロックおよびClkC1
Bクロックを作る回路を示すブロック図である。
【図17】本発明の実施形態による、PhShCブロッ
クの詳細を示すブロック図である。
【図18】本発明の実施形態による、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントの受取ブロックのコントローラ・
スライス内のスキップ・ロジックのロジックの詳細を示
すブロック図である。
【図19】本発明の実施形態による、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントの受取ブロックのコントローラ・
スライス内のスキップ・ロジックのタイミングの詳細を
示すタイミング図である。
【図20】本発明の実施形態による、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントの送出ブロックのコントローラ・
スライス内のスキップ・ロジックのロジックの詳細を示
すブロック図である。
【図21】本発明の実施形態による、メモリ・コントロ
ーラ・コンポーネントの送出ブロックのコントローラ・
スライス内のスキップ・ロジックのタイミングの詳細を
示すタイミング図である。
【図22】本発明の実施形態による、データ・クロッキ
ング配置の例を示すタイミング図である。
【図23】本発明の実施形態による、データ・クロッキ
ング配置の例を示すタイミング図である。
【図24】本発明の実施形態による、図23に示された
データ・クロッキング配置の例のメモリ・コントローラ
・コンポーネントでのタイミングを示すタイミング図で
ある。
【図25】本発明の実施形態による、図23に示された
データ・クロッキング配置の例のメモリ・コンポーネン
トの1ランクの第1スライスでのタイミングを示すタイ
ミング図である。
【図26】本発明の実施形態による、図23に示された
データ・クロッキング配置の例のメモリ・コンポーネン
トの1ランクの最終スライスでのタイミングを示すタイ
ミング図である。
【図27】本発明の実施形態による、複数のランクのメ
モリ・コンポーネントおよび複数のメモリ・モジュール
を含めることができるメモリ・システムを示すブロック
図である。
【図28】本発明の実施形態による、複数のランクのメ
モリ・コンポーネントおよび複数のメモリ・モジュール
を含めることができるメモリ・システムを示すブロック
図である。
【図29】本発明の実施形態による、複数のランクのメ
モリ・コンポーネントおよび複数のメモリ・モジュール
を含むメモリ・システムを示すブロック図である。
【図30】本発明の実施形態による、メモリ・モジュー
ルごとの専用の制御/アドレス・バスを有する複数のラ
ンクのメモリ・コンポーネントと複数のメモリ・モジュ
ールを含むメモリ・システムを示すブロック図である。
【図31】本発明の実施形態による、メモリ・モジュー
ルの間で共有される単一の制御/アドレス・バスを有す
る複数のランクのメモリ・コンポーネントと複数のメモ
リ・モジュールを含むメモリ・システムを示すブロック
図である。
【図32】本発明の実施形態による、すべてのメモリ・
モジュールによって共有される単一の制御/アドレス・
バスを有する複数のランクのメモリ・コンポーネントと
複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・システムを示
すブロック図である。
【図33】本発明の実施形態による、メモリ・モジュー
ルごとの専用のスライスされた制御/アドレス・バスを
有する複数のランクのメモリ・コンポーネントと複数の
メモリ・モジュールを含むメモリ・システムを示すブロ
ック図である。
【図34】本発明の実施形態による、すべてのメモリ・
モジュールによって共有される単一の制御/アドレス・
バスを有する複数のランクのメモリ・コンポーネントと
複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・システムを示
すブロック図である。
【図35】本発明の実施形態による、すべてのメモリ・
モジュールによって共有される単一の制御/アドレス・
バスを有する複数のランクのメモリ・コンポーネントと
複数のメモリ・モジュールを含むメモリ・システムを示
すブロック図である。
【符号の説明】
101 バッファ 102 メモリ・コントローラ・コンポーネント 103 メモリ・モジュール 104 アドレス・クロック 105 書込みクロック 106 読取クロック導体 107 アドレス・バス 108 データ・バス 109 アドレス・クロック導体 110 書込クロック導体 111 読取クロック導体 112 ランク 113、114、115 スライス 116、117、118 メモリ・コンポーネント 119、120、121、122、123、124、1
25 終端コンポーネント
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フレデリック・エイ・ウェア アメリカ合衆国・94022・カリフォルニア 州・ロス アルトス・フレモント パイン ズ レーン・13961 (72)発明者 エリー・ケイ・ツァーン アメリカ合衆国・94024・カリフォルニア 州・ロス アルトス・リヴィエラ ドライ ブ・648 (72)発明者 リチャード・イー・ペレゴ アメリカ合衆国・95134・カリフォルニア 州・サン ホゼ・ルネッサンス ドライ ブ・4337・ナンバー 120 (72)発明者 クレイグ・イー・ハンペル アメリカ合衆国・95123・カリフォルニア 州・サン ホゼ・ダン アベニュ・5927 Fターム(参考) 5B060 CC01

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリ・コントローラ・コンポーネント
    と、 スライスを含むメモリ・コンポーネントのランクと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントをメモリ・コ
    ンポーネントの該ランクに結合し、該メモリ・コントロ
    ーラ・コンポーネントをメモリ・コンポーネントの該ラ
    ンクの該スライスに結合する導体であって、導体のうち
    で、アドレス信号、書込データ信号、および読取データ
    信号からなる群から選択された信号を搬送する1つの伝
    搬遅延が、該信号によって表される情報の要素が該導体
    に印加される時間の量より長く、該導体が、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該ランクの
    該スライスのそれぞれに連続して接続する共通アドレス
    ・バスと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該ランクの
    該スライスのそれぞれに接続する別のデータ・バスとを
    含む導体とを含むメモリ・システム。
  2. 【請求項2】 該共通アドレス・バスが、複数の該スラ
    イスに結合される請求項1に記載のメモリ・システム。
  3. 【請求項3】 該別のデータ・バスが、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該スライス
    の第1スライスに接続する第1データ・バスと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該スライス
    の第2スライスに接続する第2データ・バスであって、
    該第1データ・バスおよび該第2データ・バスが互いに
    独立に異なる信号を搬送する第2データ・バスとを含む
    請求項2に記載のメモリ・システム。
  4. 【請求項4】 メモリ・コントローラ・コンポーネント
    と、 スライスを含むメモリ・コンポーネントのランクと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントをメモリ・コ
    ンポーネントの該ランクの該スライスに結合する導体で
    あって、該導体が、該メモリ・コントローラ・コンポー
    ネントおよび第1スライスに結合された第1データ・バ
    スと、該メモリ・コントローラ・コンポーネントおよび
    第2スライスに結合された第2データ・バスとを含み、
    該第1データ・バスが該第2データ・バスから分離さ
    れ、該第1スライスに関係する情報の第1要素が第1時
    刻から第2時刻までの第1要素タイム・インターバルの
    間に該第1スライスに結合された該導体の第1導体上で
    駆動され、該第2スライスに関係する情報の第2要素が
    第3時刻から第4時刻までの第2要素タイム・インター
    バルの間に該第2スライスに結合された該導体の第2導
    体上で駆動され、該メモリ・コントローラ・コンポーネ
    ントが該第1要素タイム・インターバルの第1持続時間
    より長い該第1時刻と該第3時刻との間の差に対処する
    ように適合されたロジック回路を含む導体とを含むメモ
    リ・システム。
  5. 【請求項5】 メモリ・コントローラ・コンポーネント
    と、 スライスを含むメモリ・コンポーネントのランクであっ
    て、該スライスが、第1スライスおよび第2スライスを
    含む、メモリ・コンポーネントのランクと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントをメモリ・コ
    ンポーネントの該ランクの該スライスに結合する導体で
    あって、該導体が、該メモリ・コントローラ・コンポー
    ネントおよび該第1スライスに結合された第1データ・
    バスと、該メモリ・コントローラ・コンポーネントおよ
    び該第2スライスに結合された第2データ・バスとを含
    み、該第1データ・バスが、該第2データ・バスから分
    離され、該第1スライスに関係する情報の第1要素が、
    第1時刻から第2時刻までの第1要素タイム・インター
    バルの間に該第1スライスに結合された該導体の第1導
    体上で駆動され、該第2スライスに関係する情報の第2
    要素が、第3時刻から第4時刻までの第2要素タイム・
    インターバルの間に該第2スライスに結合された該導体
    の第2導体上で駆動される導体と該メモリ・コントロー
    ラ・コンポーネントのクロック回路のサイクル・タイム
    より長い、該第1時刻と該第3時刻との間の差に対処す
    るように適合されたロジック回路とを含むメモリ・シス
    テム。
  6. 【請求項6】 該ロジック回路が、該メモリ・コントロ
    ーラ・コンポーネントに組み込まれる請求項5に記載の
    メモリ・システム
  7. 【請求項7】 該ロジック回路が、該メモリ・コンポー
    ネントの少なくとも1つに組み込まれる請求項5に記載
    のメモリ・システム
  8. 【請求項8】 メモリ・コントローラ・コンポーネント
    と、 スライスを含むメモリ・コンポーネントのランクであっ
    て、該スライスが、第1スライスおよび第2スライスを
    含む、メモリ・コンポーネントのランクと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第1スラ
    イスおよび該第2スライスに連続して接続する共通アド
    レス・バスと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第1スラ
    イスに接続する第1データ・バスと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第2スラ
    イスに接続する第2データ・バスであって、該第1デー
    タ・バスが該第2データ・バスから分離され、情報の第
    1要素が第1時刻から第2時刻までの第1要素タイム・
    インターバルの間に該第1データ・バス上で駆動され、
    情報の第2要素が第3時刻から第4時刻までの第2要素
    タイム・インターバルの間に該第2データ・バス上で駆
    動され、情報の第3要素が第5時刻から第6時刻までの
    第3要素タイム・インターバルの間に該共通アドレス・
    バス上で駆動され、該第5時刻と該第1時刻との間に第
    1アクセス・タイム・インターバルがあり、情報の第4
    要素が第7時刻から第8時刻までの第4要素タイム・イ
    ンターバルの間に該共通アドレス・バス上で駆動され、
    該第7時刻と該第3時刻との間に第2アクセス・タイム
    ・インターバルがあり、メモリ・コンポーネントの該ラ
    ンクの該メモリ・コンポーネントの少なくとも1つが該
    第1要素タイム・インターバルの第1持続時間より長い
    該第1アクセス・タイム・インターバルと該第2アクセ
    ス・タイム・インターバールとの間の差に対処するよう
    に適合されたロジック回路を含む第2データ・バスとを
    含むメモリ・システム。
  9. 【請求項9】 メモリ・コントローラ・コンポーネント
    と、第1スライスおよび第2スライスを含むスライスを
    含むメモリ・コンポーネントのランクと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントをメモリ・コ
    ンポーネントの該ランクの該スライスに結合する導体で
    あって、該導体が、該メモリ・コントローラ・コンポー
    ネントおよび該第1スライスに結合された第1データ・
    バスと、該メモリ・コントローラ・コンポーネントおよ
    び該第2スライスに結合された第2データ・バスとを含
    み、該第1データ・バスが該第2データ・バスから分離
    され、該第1スライスに関係する情報の第1要素が第1
    要素タイム・インターバルの間に該第1スライスに結合
    された該導体の第1導体上で駆動され、該第1要素タイ
    ム・インターバルが第1タイミング信号イベントに関連
    し、該第2スライスに関係する情報の第2要素が第2要
    素タイム・インターバルの間に該第2スライスに結合さ
    れた該導体の第2導体上で駆動され、該第2要素タイム
    ・インターバルが第2タイミング信号イベントに関連す
    る導体と、 該第1要素タイム・インターバルおよび該メモリ・コン
    トローラ・コンポーネントのクロック回路のサイクル・
    タイムからなる群から選択された持続時間より長い、該
    第1タイミング信号イベントと該第2タイミング信号イ
    ベントとの間の差に対処するように適合されたロジック
    回路とを含むメモリ・システム。
  10. 【請求項10】 該ロジック回路が、該メモリ・コント
    ローラ・コンポーネントに組み込まれる請求項9に記載
    のメモリ・システム。
  11. 【請求項11】 該ロジック回路が、該メモリ・コンポ
    ーネントの少なくとも1つに組み込まれる請求項9に記
    載のメモリ・システム。
  12. 【請求項12】 メモリ・コントローラ・コンポーネン
    トと、第1スライスおよび第2スライスを含むスライス
    を含むメモリ・コンポーネントのランクと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第1スラ
    イスおよび該第2スライスに連続して接続する共通アド
    レス・バスと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第1スラ
    イスに接続する第1データ・バスと、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第2スラ
    イスに接続する第2データ・バスであって、情報の第1
    要素が第1要素タイム・インターバルの間に該第1デー
    タ・バス上で駆動され、該第1要素タイム・インターバ
    ルが第1タイミング信号イベントに関連し、情報の第2
    要素が第2要素タイム・インターバルの間に該第2デー
    タ・バス上で駆動され、該第2要素タイム・インターバ
    ルが第2タイミング信号イベントに関連し、情報の第3
    要素が第3要素タイム・インターバルの間に該共通アド
    レス・バス上で駆動され、該第3要素タイム・インター
    バルが第3タイミング信号イベントに関連し、該第3タ
    イミング信号イベントと該第1タイミング信号イベント
    との間に第1アクセス・タイム・インターバルがあり、
    情報の第4要素が第4要素タイム・インターバルの間に
    該共通アドレス・バス上で駆動され、該第4要素タイム
    ・インターバルが第4タイミング信号イベントに関連
    し、該第4タイミング信号イベントと該第2タイミング
    信号イベントとの間に第2アクセス・タイム・インター
    バルがあり、メモリ・コンポーネントの該ランクの該メ
    モリ・コンポーネントの少なくとも1つが、該第1要素
    タイム・インターバルの第1持続時間より長い該第1ア
    クセス・タイム・インターバルと該第2アクセス・タイ
    ム・インターバルとの間の差に対処するように適合され
    たロジック回路を含む、第2データ・バスとを含むメモ
    リ・システム。
  13. 【請求項13】 メモリ・コンポーネントのランクの第
    1スライスとしてメモリ・コントローラ・コンポーネン
    トに結合されるように適合されたメモリ・コンポーネン
    トであって、該ランクが、さらに、第2スライスを含
    み、導体が、該メモリ・コントローラ・コンポーネント
    を該第1スライスおよび該第2スライスに結合し、該導
    体が、該第1スライスを該メモリ・コントローラ・コン
    ポーネントに結合する第1データ・バスと、該第2スラ
    イスを該メモリ・コントローラ・コンポーネントに結合
    する第2データ・バスとを含み、該第1データ・バスが
    該第2データ・バスから分離され、 メモリ・コントローラに、第1要素タイム・インターバ
    ルの第1持続時間より長い、第1時刻と第3時刻との間
    の差に対処させるように適合されたロジック回路であっ
    て、情報の第1要素が、該第1時刻から第2時刻までの
    該第1要素タイム・インターバルの間に該第1スライス
    に結合された該導体の第1導体上で駆動され、該第2ス
    ライスに関係する情報の第2要素が、第3時刻から第4
    時刻までの第2要素タイム・インターバルの間に該第2
    スライスに結合された該導体の第2導体上で駆動され
    る、ロジック回路を含むメモリ・コンポーネント。
  14. 【請求項14】 メモリ・コンポーネントのランクの第
    1スライスとしてメモリ・コントローラ・コンポーネン
    トに結合されるように適合されたメモリ・コンポーネン
    トであって、該ランクが、さらに、第2スライスを含
    み、共通アドレス・バスが、該メモリ・コントローラ・
    コンポーネントを該第1スライスおよび該第2スライス
    に連続して接続し、第1データ・バスが、該メモリ・コ
    ントローラ・コンポーネントを該第1スライスに接続
    し、第2データ・バスが、該メモリ・コントローラ・コ
    ンポーネントを該第2スライスに接続し、該第1データ
    ・バスが、該第2データ・バスから分離され、 第1要素タイム・インターバルの第1持続時間より長
    い、第1アクセス・タイム・インターバルと第2アクセ
    ス・タイム・インターバルとの間の差に対処するように
    適合されたロジック回路であって、情報の第1要素が、
    第1時刻から第2時刻までの該第1要素タイム・インタ
    ーバルの間に該第1データ・バス上で駆動され、情報の
    第2要素が第3時刻から第4時刻までの第2要素タイム
    ・インターバルの間に該第2データ・バス上で駆動さ
    れ、情報の第3要素が第5時刻から第6時刻までの第3
    要素タイム・インターバルの間に該共通アドレス・バス
    上で駆動され、該第1アクセス・タイム・インターバル
    が該第5時刻と該第1時刻との間に発生し、情報の第4
    要素が第7時刻から第8時刻までの第4要素タイム・イ
    ンターバルの間に該共通アドレス・バス上で駆動され、
    該第2アクセス・タイム・インターバルが該第7時刻と
    該第3時刻との間に発生する、ロジック回路を含むメモ
    リ・コンポーネント。
  15. 【請求項15】 メモリ・コンポーネントのランクの第
    1スライスとしてメモリ・コントローラ・コンポーネン
    トに結合されるように適合されたメモリ・コンポーネン
    トであって、該ランクが、さらに、第2スライスを含
    み、導体が、該メモリ・コントローラ・コンポーネント
    をメモリ・コンポーネントの該ランクの該スライスに結
    合し、該導体が、該メモリ・コントローラ・コンポーネ
    ントおよび該第1スライスに結合された第1データ・バ
    スと、該メモリ・コントローラ・コンポーネントおよび
    該第2スライスに結合された第2データ・バスとを含
    み、該第1データ・バスが、該第2データ・バスから分
    離され、 該メモリ・コントローラ・コンポーネントに、第1要素
    タイム・インターバルの第1持続時間より長い、第1タ
    イミング信号イベントと第2タイミング信号イベントと
    の間の差に対処させるように適合されたロジック回路で
    あって、情報の第1要素が該第1要素タイム・インター
    バルの間に該第1スライスに結合された該導体の第1導
    体上で駆動され、該第1要素タイム・インターバルが該
    第1タイミング信号イベントに関連し、該第2スライス
    に関係する情報の第2要素が第2要素タイム・インター
    バルの間に該第2スライスに結合された該導体の第2導
    体上で駆動され、該第2要素タイム・インターバルが該
    第2タイミング信号イベントに関連する、ロジック回路
    を含むメモリ・コンポーネント。
  16. 【請求項16】 メモリ・コンポーネントのランクの第
    1スライスとしてメモリ・コントローラ・コンポーネン
    トに結合されるように適合されたメモリ・コンポーネン
    トであって、メモリ・コンポーネントの該ランクが、さ
    らに、第2スライスを含み、共通アドレス・バスが該メ
    モリ・コントローラ・コンポーネントを該第1スライス
    および該第2スライスに連続して接続し、第1データ・
    バスが該メモリ・コントローラ・コンポーネントを該第
    1スライスに接続し、第2データ・バスが該メモリ・コ
    ントローラ・コンポーネントを該第2スライスに接続
    し、 第1要素タイム・インターバルの第1持続時間より長
    い、第1アクセス・タイム・インターバルと第2アクセ
    ス・タイム・インターバルとの間の差に対処するように
    適合されたロジック回路であって、情報の第1要素が該
    第1要素タイム・インターバルの間に該第1データ・バ
    ス上で駆動され、該第1要素タイム・インターバルが第
    1タイミング信号イベントに関連し、情報の第2要素が
    第2要素タイム・インターバルの間に該第2データ・バ
    ス上で駆動され、該第2要素タイム・インターバルが第
    2タイミング信号イベントに関連し、情報の第3要素が
    第3要素タイム・インターバルの間に該共通アドレス・
    バス上で駆動され、該第3要素タイム・インターバルが
    第3タイミング信号イベントに関連し、該第1アクセス
    ・タイム・インターバルが該第3タイミング信号イベン
    トと該第1タイミング信号イベントとの間に発生し、情
    報の第4要素が第4要素タイム・インターバルの間に該
    共通アドレス・バス上で駆動され、該第4要素タイム・
    インターバルが第4タイミング信号イベントに関連し、
    該第2アクセス・タイム・インターバルが該第4タイミ
    ング信号イベントと該第2タイミング信号イベントとの
    間に発生する、ロジック回路を含むメモリ・コンポーネ
    ント。
  17. 【請求項17】 メモリ・コントローラ・コンポーネン
    トとスライスを含むメモリ・コンポーネントのランクと
    を含むメモリ・システムでメモリ動作を行う方法であっ
    て、該スライスが、第1スライスおよび第2スライスを
    含み、該メモリ・コントローラ・コンポーネントが、導
    体に結合され、該導体が、該メモリ・コントローラ・コ
    ンポーネントを該第1スライスおよび該第2スライスに
    接続する共通アドレス・バスと、該メモリ・コントロー
    ラ・コンポーネントを該第1スライスに接続する第1デ
    ータ・バスと、該メモリ・コントローラ・コンポーネン
    トを該第2スライスに接続する第2データ・バスとを含
    み、該第1データ・バスが該第2データ・バスから分離
    され、 該導体の1つに信号を供給するステップであって、該信
    号が、アドレス信号、書込データ信号、および読取デー
    タ信号からなる群から選択され、該導体の該1つの伝搬
    遅延が、該信号によって表される情報の要素が該導体に
    印加される時間の量より長い、該導体の1つに信号を供
    給するステップを含む方法。
  18. 【請求項18】 該第1データ・バスに第1データ信号
    を供給し、該第2データ・バスに第2データ信号を供給
    するステップであって、該第1データ信号が、特に該第
    1スライスに関係し、該第2データ信号が、特に該第2
    スライスに関係する、供給するステップをさらに含む請
    求項17に記載の方法。
  19. 【請求項19】 第1メモリ・コンポーネントと第2メ
    モリ・コンポーネントとの間でメモリ動作を調整する方
    法であって、 第1タイム・インターバルに共通アドレス・バスに該第
    1メモリ・コンポーネントに関係する第1アドレス信号
    を印加するステップであって、該共通アドレス・バス
    が、該第1メモリ・コンポーネントおよび該第2メモリ
    ・コンポーネントに結合される、第1アドレス信号を印
    加するステップと、 第2タイム・インターバルに該共通アドレス・バスに該
    第2メモリ・コンポーネントに関係する第2アドレス信
    号を印加するステップであって、該第1タイム・インタ
    ーバルが、該共通アドレス・バスの伝搬遅延より短く、
    該第2タイム・インターバルが、該共通アドレス・バス
    の共通アドレス・バス伝搬遅延より短い、第2アドレス
    信号を印加するステップと、 第1メモリ・コンポーネント・タイミング信号を使用し
    て該第1メモリ・コンポーネントの第1メモリ動作を制
    御するステップであって、該第1メモリ・コンポーネン
    ト・タイミング信号が、該共通アドレス・バス伝搬遅延
    と該第1メモリ・コンポーネントに結合された第1デー
    タ・バスの第1データ・バス伝搬遅延との間の第1関係
    に依存する第1メモリ動作を制御するステップと、 第2メモリ・コンポーネント・タイミング信号を使用し
    て該第2メモリ・コンポーネントの第2メモリ動作を制
    御するステップであって、該第2メモリ・コンポーネン
    ト・タイミング信号が、該共通アドレス・バス伝搬遅延
    と該第2メモリ・コンポーネントに結合された第2デー
    タ・バスの第2データ・バス伝搬遅延との間の第2関係
    に依存する、第2メモリ動作を制御するステップとを含
    む方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002342154A (ja) * 2001-04-24 2002-11-29 Rambus Inc メモリ・システムのデバイス間のシグナリングの方法および装置
JP2004327008A (ja) * 2003-04-29 2004-11-18 Hynix Semiconductor Inc ドメインクロシング回路
JP2008500668A (ja) * 2004-05-21 2008-01-10 ラムバス・インコーポレーテッド 多重メモリアクセスレイテンシ時間をサポートするコンピュータメモリシステムにおける性能を改善するためのシステムおよび方法
JP2008512749A (ja) * 2004-09-07 2008-04-24 インテル コーポレイション 隣り合わせで反転される、メモリのアドレス及びコマンドバス
KR100951600B1 (ko) 2007-09-18 2010-04-09 후지쯔 가부시끼가이샤 메모리 제어 회로, 지연 시간 제어 장치, 지연 시간 제어 방법 및 지연 시간 제어 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독가능한 기록 매체
JP2012059184A (ja) * 2010-09-13 2012-03-22 Nec Computertechno Ltd メモリコントローラ、これを備えたメモリシステム及びメモリデバイスの制御方法

Families Citing this family (188)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6401167B1 (en) 1997-10-10 2002-06-04 Rambus Incorporated High performance cost optimized memory
US7024257B2 (en) * 2001-02-09 2006-04-04 Motion Engineering, Inc. System for motion control, method of using the system for motion control, and computer-readable instructions for use with the system for motion control
US6675272B2 (en) * 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
US8391039B2 (en) * 2001-04-24 2013-03-05 Rambus Inc. Memory module with termination component
US7076595B1 (en) * 2001-05-18 2006-07-11 Xilinx, Inc. Programmable logic device including programmable interface core and central processing unit
DE10141376A1 (de) * 2001-08-23 2003-03-13 Boehringer Ingelheim Pharma Verfahren zur Herstellung von Inhalationspulvern
WO2003036850A1 (en) * 2001-10-22 2003-05-01 Rambus Inc. Phase adjustment apparatus and method for a memory device signaling system
US6950910B2 (en) * 2001-11-08 2005-09-27 Freescale Semiconductor, Inc. Mobile wireless communication device architectures and methods therefor
TW550563B (en) * 2002-02-01 2003-09-01 Silicon Integrated Sys Corp Memory data receiver and method
US6934922B1 (en) 2002-02-27 2005-08-23 Xilinx, Inc. Timing performance analysis
US7231306B1 (en) * 2002-04-30 2007-06-12 Rambus Inc. Method and apparatus for calibrating static timing offsets across multiple outputs
US8861667B1 (en) 2002-07-12 2014-10-14 Rambus Inc. Clock data recovery circuit with equalizer clock calibration
US7292629B2 (en) 2002-07-12 2007-11-06 Rambus Inc. Selectable-tap equalizer
US6807125B2 (en) * 2002-08-22 2004-10-19 International Business Machines Corporation Circuit and method for reading data transfers that are sent with a source synchronous clock signal
US7203262B2 (en) * 2003-05-13 2007-04-10 M/A-Com, Inc. Methods and apparatus for signal modification in a fractional-N phase locked loop system
US7234099B2 (en) * 2003-04-14 2007-06-19 International Business Machines Corporation High reliability memory module with a fault tolerant address and command bus
JP4836794B2 (ja) * 2003-05-13 2011-12-14 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド シリアルメモリインターコネクトを介して複数のメモリモジュールに接続されたホストを含むシステム
US6999887B2 (en) * 2003-08-06 2006-02-14 Infineon Technologies Ag Memory cell signal window testing apparatus
JP2005078592A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Brother Ind Ltd メモリ制御装置及び画像形成装置
US6924660B2 (en) 2003-09-08 2005-08-02 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US7330993B2 (en) * 2003-09-29 2008-02-12 Intel Corporation Slew rate control mechanism
US6980020B2 (en) * 2003-12-19 2005-12-27 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
KR100558557B1 (ko) * 2004-01-20 2006-03-10 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치에서의 데이터 샘플링 방법 및 그에따른 데이터 샘플링 회로
US8270501B2 (en) * 2004-08-18 2012-09-18 Rambus Inc. Clocking architectures in high-speed signaling systems
US7171321B2 (en) 2004-08-20 2007-01-30 Rambus Inc. Individual data line strobe-offset control in memory systems
US7301831B2 (en) 2004-09-15 2007-11-27 Rambus Inc. Memory systems with variable delays for write data signals
US7196567B2 (en) * 2004-12-20 2007-03-27 Rambus Inc. Systems and methods for controlling termination resistance values for a plurality of communication channels
US7543172B2 (en) * 2004-12-21 2009-06-02 Rambus Inc. Strobe masking in a signaling system having multiple clock domains
US7688672B2 (en) * 2005-03-14 2010-03-30 Rambus Inc. Self-timed interface for strobe-based systems
KR100630742B1 (ko) * 2005-03-17 2006-10-02 삼성전자주식회사 Dqs도메인에서 클록 도메인으로의 변환을 위한 데이터샘플링 방법 및 이를 이용한 동기식 반도체 메모리 장치의데이터 입력 회로
US7401245B2 (en) * 2005-04-29 2008-07-15 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Count calibration for synchronous data transfer between clock domains
US7477712B2 (en) * 2005-04-29 2009-01-13 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Adaptable data path for synchronous data transfer between clock domains
US7558317B2 (en) * 2005-04-29 2009-07-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Edge calibration for synchronous data transfer between clock domains
US7332950B2 (en) * 2005-06-14 2008-02-19 Micron Technology, Inc. DLL measure initialization circuit for high frequency operation
US7593430B2 (en) * 2005-07-28 2009-09-22 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method and apparatus for generating virtual clock signals
US7519778B2 (en) * 2005-08-10 2009-04-14 Faraday Technology Corp. System and method for cache coherence
US7366966B2 (en) * 2005-10-11 2008-04-29 Micron Technology, Inc. System and method for varying test signal durations and assert times for testing memory devices
US7174474B1 (en) * 2005-10-12 2007-02-06 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Distributed autonomous control system for multi-axis motion control
US7321524B2 (en) 2005-10-17 2008-01-22 Rambus Inc. Memory controller with staggered request signal output
DE102005051792A1 (de) * 2005-10-28 2007-05-03 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Datenübertragung in einer Speichervorrichtung, Vorrichtung zur Kopplung eines Speichermoduls mit einer Speichersteuerung und entsprechendes Speichermodul
US7269093B2 (en) * 2005-10-31 2007-09-11 Infineon Technologies Ag Generating a sampling clock signal in a communication block of a memory device
US7610417B2 (en) * 2005-11-30 2009-10-27 Rambus Inc. Data-width translator coupled between variable-width and fixed-width data ports and supporting multiple data-width configurations
US7863946B2 (en) * 2005-12-01 2011-01-04 Ricoh Company, Ltd. Electric signal outputting apparatus with a switching part, an impedance matching part, and an auxiliary switching part
US7650526B2 (en) * 2005-12-09 2010-01-19 Rambus Inc. Transmitter with skew reduction
US20070132485A1 (en) * 2005-12-09 2007-06-14 Elad Alon Four-wire signaling system
US7439760B2 (en) 2005-12-19 2008-10-21 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US20070189049A1 (en) * 2006-02-16 2007-08-16 Srdjan Djordjevic Semiconductor memory module
US8121237B2 (en) 2006-03-16 2012-02-21 Rambus Inc. Signaling system with adaptive timing calibration
US7486104B2 (en) * 2006-06-02 2009-02-03 Rambus Inc. Integrated circuit with graduated on-die termination
US7886122B2 (en) * 2006-08-22 2011-02-08 Qimonda North America Corp. Method and circuit for transmitting a memory clock signal
US7587571B2 (en) * 2006-11-29 2009-09-08 Qimonda Ag Evaluation unit in an integrated circuit
WO2008079911A1 (en) 2006-12-21 2008-07-03 Rambus Inc. Dynamic on-die termination of address and command signals
US7388795B1 (en) * 2006-12-28 2008-06-17 Intel Corporation Modular memory controller clocking architecture
US7836324B2 (en) 2007-02-09 2010-11-16 Apple Inc. Oversampling-based scheme for synchronous interface communication
US8874831B2 (en) 2007-06-01 2014-10-28 Netlist, Inc. Flash-DRAM hybrid memory module
KR100902104B1 (ko) * 2007-06-08 2009-06-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치
US8068357B2 (en) * 2007-09-05 2011-11-29 Rambus Inc. Memory controller with multi-modal reference pad
KR20090045773A (ko) * 2007-11-02 2009-05-08 주식회사 하이닉스반도체 고속으로 동작하는 반도체 장치의 지연 고정 회로
KR101532529B1 (ko) 2007-12-21 2015-06-29 램버스 인코포레이티드 메모리 시스템 내 기록 타이밍을 교정하기 위한 방법 및 장치
KR100910852B1 (ko) * 2007-12-26 2009-08-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자
US7804735B2 (en) * 2008-02-29 2010-09-28 Qualcomm Incorporated Dual channel memory architecture having a reduced interface pin requirements using a double data rate scheme for the address/control signals
US8516185B2 (en) * 2009-07-16 2013-08-20 Netlist, Inc. System and method utilizing distributed byte-wise buffers on a memory module
CN102177551B (zh) * 2008-08-08 2015-05-20 惠普开发有限公司 与标准存储器模块管脚兼容的存储器模块中的独立可控制和可重新配置的虚拟存储器设备
US7886103B2 (en) * 2008-09-08 2011-02-08 Cisco Technology, Inc. Input-output module, processing platform and method for extending a memory interface for input-output operations
US8856434B2 (en) * 2008-09-26 2014-10-07 Cypress Semiconductor Corporation Memory system and method
US8095747B2 (en) * 2008-09-26 2012-01-10 Cypress Semiconductor Corporation Memory system and method
US7957216B2 (en) * 2008-09-30 2011-06-07 Intel Corporation Common memory device for variable device width and scalable pre-fetch and page size
US8806258B2 (en) * 2008-09-30 2014-08-12 Intel Corporation Platform communication protocol
KR100991383B1 (ko) * 2008-12-26 2010-11-02 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치의 출력 드라이버
WO2010078383A1 (en) * 2008-12-31 2010-07-08 Rambus Inc. Active calibration for high-speed memory devices
EP2387754A4 (en) * 2009-01-13 2013-05-01 Rambus Inc PROTOCOL WITH TIME CALIBRATION BETWEEN A MEMORY REQUEST AND A DATA TRANSMISSION
US9520986B2 (en) * 2009-03-30 2016-12-13 Coriant Operations, Inc. Method and appartus for exchanging data between devices operating at different clock rates
US9128632B2 (en) * 2009-07-16 2015-09-08 Netlist, Inc. Memory module with distributed data buffers and method of operation
JP2011079308A (ja) 2009-09-14 2011-04-21 Ricoh Co Ltd 感熱記録材料及びその製造方法
IN2012DN06399A (ja) 2010-02-07 2015-10-02 Zeno Semiconductor Inc
US9384152B2 (en) 2010-02-23 2016-07-05 Rambus Inc. Coordinating memory operations using memory-device generated reference signals
US8307235B2 (en) 2010-05-05 2012-11-06 National Instruments Corporation Cross controller clock synchronization
US9985634B2 (en) 2010-05-20 2018-05-29 Kandou Labs, S.A. Data-driven voltage regulator
US9251873B1 (en) 2010-05-20 2016-02-02 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for pin-efficient memory controller interface using vector signaling codes for chip-to-chip communications
US9077386B1 (en) * 2010-05-20 2015-07-07 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for selection of unions of vector signaling codes for power and pin efficient chip-to-chip communication
US9246713B2 (en) 2010-05-20 2016-01-26 Kandou Labs, S.A. Vector signaling with reduced receiver complexity
US9288082B1 (en) 2010-05-20 2016-03-15 Kandou Labs, S.A. Circuits for efficient detection of vector signaling codes for chip-to-chip communication using sums of differences
US9106220B2 (en) 2010-05-20 2015-08-11 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for high bandwidth chip-to-chip communications interface
US8495327B2 (en) 2010-06-04 2013-07-23 Nvidia Corporation Memory device synchronization
WO2011159465A2 (en) 2010-06-17 2011-12-22 Rambus Inc. Balanced on-die termination
US9069688B2 (en) * 2011-04-15 2015-06-30 Sandisk Technologies Inc. Dynamic optimization of back-end memory system interface
US8464135B2 (en) 2010-07-13 2013-06-11 Sandisk Technologies Inc. Adaptive flash interface
US8583957B2 (en) 2010-07-27 2013-11-12 National Instruments Corporation Clock distribution in a distributed system with multiple clock domains over a switched fabric
WO2012021380A2 (en) * 2010-08-13 2012-02-16 Rambus Inc. Fast-wake memory
KR20120044668A (ko) 2010-10-28 2012-05-08 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그를 포함하는 반도체 시스템
JP5541373B2 (ja) * 2011-01-13 2014-07-09 富士通株式会社 メモリコントローラ、及び情報処理装置
US8743634B2 (en) * 2011-01-28 2014-06-03 Lsi Corporation Generic low power strobe based system and method for interfacing memory controller and source synchronous memory
WO2012118714A2 (en) * 2011-03-02 2012-09-07 Rambus Inc. Timing calibration for multimode i/o systems
US9235537B2 (en) 2011-10-26 2016-01-12 Rambus Inc. Drift detection in timing signal forwarded from memory controller to memory device
JP2013118033A (ja) * 2011-12-05 2013-06-13 Elpida Memory Inc 半導体装置
JP2013125561A (ja) * 2011-12-14 2013-06-24 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9082464B2 (en) * 2012-02-14 2015-07-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory module for high-speed operations
WO2013141921A1 (en) 2012-03-19 2013-09-26 Rambus Inc. High capacity memory systems
US8836394B2 (en) * 2012-03-26 2014-09-16 Rambus Inc. Method and apparatus for source-synchronous signaling
WO2013147886A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 Intel Corporation Virtual device sparing
JP5677376B2 (ja) * 2012-07-06 2015-02-25 株式会社東芝 メモリ制御装置、半導体装置、およびシステムボード
WO2014101172A1 (zh) * 2012-12-31 2014-07-03 香港中国模拟技术有限公司 一种流水线型模数转换器
US8692600B1 (en) 2013-01-09 2014-04-08 International Business Machines Corporation Multi-protocol driver slew rate calibration system for calibration slew rate control signal values
JP6091239B2 (ja) * 2013-02-13 2017-03-08 キヤノン株式会社 プリント回路板、プリント配線板および電子機器
KR102241045B1 (ko) 2013-04-16 2021-04-19 칸도우 랩스 에스에이 고 대역폭 통신 인터페이스를 위한 방법 및 시스템
EP2997704B1 (en) 2013-06-25 2020-12-16 Kandou Labs S.A. Vector signaling with reduced receiver complexity
US9285828B2 (en) 2013-07-11 2016-03-15 Apple Inc. Memory system with improved bus timing calibration
US9554131B1 (en) * 2013-07-23 2017-01-24 Harmonic, Inc. Multi-slice/tile encoder with overlapping spatial sections
WO2015017356A1 (en) 2013-07-27 2015-02-05 Netlist, Inc. Memory module with local synchronization
US9377966B2 (en) 2013-10-09 2016-06-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for efficiently processing storage commands
US9806761B1 (en) 2014-01-31 2017-10-31 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for reduction of nearest-neighbor crosstalk
WO2015117102A1 (en) 2014-02-02 2015-08-06 Kandou Labs SA Method and apparatus for low power chip-to-chip communications with constrained isi ratio
US10521387B2 (en) * 2014-02-07 2019-12-31 Toshiba Memory Corporation NAND switch
EP3111607B1 (en) 2014-02-28 2020-04-08 Kandou Labs SA Clock-embedded vector signaling codes
CN103927131B (zh) * 2014-03-25 2017-02-15 四川和芯微电子股份有限公司 同步闪存u盘的启动方法及其控制系统
US9804931B2 (en) 2014-04-25 2017-10-31 Rambus Inc. Memory mirroring utilizing single write operations
US9509437B2 (en) 2014-05-13 2016-11-29 Kandou Labs, S.A. Vector signaling code with improved noise margin
US10339079B2 (en) * 2014-06-02 2019-07-02 Western Digital Technologies, Inc. System and method of interleaving data retrieved from first and second buffers
US9852806B2 (en) 2014-06-20 2017-12-26 Kandou Labs, S.A. System for generating a test pattern to detect and isolate stuck faults for an interface using transition coding
US9112550B1 (en) 2014-06-25 2015-08-18 Kandou Labs, SA Multilevel driver for high speed chip-to-chip communications
KR102288337B1 (ko) 2014-07-10 2021-08-11 칸도우 랩스 에스에이 증가한 신호대잡음 특징을 갖는 벡터 시그널링 코드
US9432082B2 (en) 2014-07-17 2016-08-30 Kandou Labs, S.A. Bus reversable orthogonal differential vector signaling codes
US9444654B2 (en) 2014-07-21 2016-09-13 Kandou Labs, S.A. Multidrop data transfer
KR101949964B1 (ko) 2014-08-01 2019-02-20 칸도우 랩스 에스에이 임베딩된 클록을 갖는 직교 차동 벡터 시그널링 코드
US9921993B2 (en) 2014-08-11 2018-03-20 Qualcomm Incorporated Memory circuit configuration schemes on multi-drop buses
US9674014B2 (en) 2014-10-22 2017-06-06 Kandou Labs, S.A. Method and apparatus for high speed chip-to-chip communications
US9734127B2 (en) * 2015-02-05 2017-08-15 Weng Tianxiang Systematic method of synthesizing wave-pipelined circuits in HDL
WO2016210445A1 (en) 2015-06-26 2016-12-29 Kandou Labs, S.A. High speed communications system
US10055372B2 (en) 2015-11-25 2018-08-21 Kandou Labs, S.A. Orthogonal differential vector signaling codes with embedded clock
US10622032B2 (en) 2015-12-08 2020-04-14 Rambus Inc. Low power signaling interface
WO2017130983A1 (ja) * 2016-01-25 2017-08-03 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 メモリコントローラ
EP3408935B1 (en) 2016-01-25 2023-09-27 Kandou Labs S.A. Voltage sampler driver with enhanced high-frequency gain
US9841922B2 (en) 2016-02-03 2017-12-12 SK Hynix Inc. Memory system includes a memory controller
EP3826184A1 (en) 2016-04-22 2021-05-26 Kandou Labs, S.A. High performance phase locked loop
US10003454B2 (en) 2016-04-22 2018-06-19 Kandou Labs, S.A. Sampler with low input kickback
CN109313622B (zh) 2016-04-28 2022-04-15 康杜实验室公司 用于密集路由线组的向量信令码
US10153591B2 (en) 2016-04-28 2018-12-11 Kandou Labs, S.A. Skew-resistant multi-wire channel
EP3449606A4 (en) 2016-04-28 2019-11-27 Kandou Labs S.A. LOW POWER MULTILAYER ATTACK CIRCUIT
US10152262B2 (en) 2016-05-03 2018-12-11 Micron Technology, Inc. Memory access techniques in memory devices with multiple partitions
US10141926B2 (en) 2016-07-19 2018-11-27 Ciena Corporation Ultra-low power cross-point electronic switch apparatus and method
US10872055B2 (en) 2016-08-02 2020-12-22 Qualcomm Incorporated Triple-data-rate technique for a synchronous link
US9997220B2 (en) * 2016-08-22 2018-06-12 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path
US9906358B1 (en) 2016-08-31 2018-02-27 Kandou Labs, S.A. Lock detector for phase lock loop
US10411922B2 (en) 2016-09-16 2019-09-10 Kandou Labs, S.A. Data-driven phase detector element for phase locked loops
US10789185B2 (en) 2016-09-21 2020-09-29 Rambus Inc. Memory modules and systems with variable-width data ranks and configurable data-rank timing
US10200188B2 (en) 2016-10-21 2019-02-05 Kandou Labs, S.A. Quadrature and duty cycle error correction in matrix phase lock loop
US10200218B2 (en) 2016-10-24 2019-02-05 Kandou Labs, S.A. Multi-stage sampler with increased gain
US10372665B2 (en) 2016-10-24 2019-08-06 Kandou Labs, S.A. Multiphase data receiver with distributed DFE
KR102656219B1 (ko) * 2016-11-07 2024-04-11 삼성전자주식회사 메모리 장치, 그것을 포함하는 메모리 시스템, 및 그것의 슬루 레이트 조정 방법
US10476509B2 (en) 2016-12-07 2019-11-12 Integrated Device Technology, Inc. Time slotted bus system for multiple coupled digital phase-locked loops
US10379748B2 (en) 2016-12-19 2019-08-13 International Business Machines Corporation Predictive scheduler for memory rank switching
US11017839B2 (en) 2017-01-13 2021-05-25 Mediatek Inc. DRAM, memory controller and associated training method
US10090057B2 (en) * 2017-02-23 2018-10-02 Sandisk Technologies Llc Dynamic strobe timing
US10761589B2 (en) * 2017-04-21 2020-09-01 Intel Corporation Interconnect fabric link width reduction to reduce instantaneous power consumption
US10116468B1 (en) 2017-06-28 2018-10-30 Kandou Labs, S.A. Low power chip-to-chip bidirectional communications
US10686583B2 (en) 2017-07-04 2020-06-16 Kandou Labs, S.A. Method for measuring and correcting multi-wire skew
US10203226B1 (en) 2017-08-11 2019-02-12 Kandou Labs, S.A. Phase interpolation circuit
US10157661B1 (en) 2017-08-25 2018-12-18 Micron Technology, Inc. Mitigating line-to-line capacitive coupling in a memory die
US10290332B1 (en) * 2017-10-31 2019-05-14 Sandisk Technologies Llc Signal path optimization for read operations in storage devices
US10467177B2 (en) 2017-12-08 2019-11-05 Kandou Labs, S.A. High speed memory interface
US10326623B1 (en) 2017-12-08 2019-06-18 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for providing multi-stage distributed decision feedback equalization
US10554380B2 (en) 2018-01-26 2020-02-04 Kandou Labs, S.A. Dynamically weighted exclusive or gate having weighted output segments for phase detection and phase interpolation
US10607671B2 (en) * 2018-02-17 2020-03-31 Micron Technology, Inc. Timing circuit for command path in a memory device
US10884958B2 (en) * 2018-06-25 2021-01-05 Intel Corporation DIMM for a high bandwidth memory channel
US10963404B2 (en) * 2018-06-25 2021-03-30 Intel Corporation High bandwidth DIMM
WO2020117481A1 (en) 2018-12-04 2020-06-11 Rambus Inc. Off-module data buffer
US10825493B2 (en) * 2018-12-14 2020-11-03 Micron Technology, Inc. Feedback for multi-level signaling in a memory device
WO2020132277A1 (en) * 2018-12-19 2020-06-25 Micron Technology, Inc. Memory devices, modules and systems having memory devices with varying physical dimensions, memory formats, and operational capabilities
WO2020176448A1 (en) 2019-02-27 2020-09-03 Rambus Inc. Low power memory with on-demand bandwidth boost
US10777253B1 (en) * 2019-04-16 2020-09-15 International Business Machines Corporation Memory array for processing an N-bit word
US11321511B2 (en) 2019-07-09 2022-05-03 SiFive, Inc. Reset crossing and clock crossing interface for integrated circuit generation
US10902171B1 (en) * 2019-07-09 2021-01-26 SiFive, Inc. Clock crossing interface for integrated circuit generation
US11699471B2 (en) 2019-09-25 2023-07-11 Intel Corporation Synchronous dynamic random access memory (SDRAM) dual in-line memory module (DIMM) having increased per data pin bandwidth
US10885959B1 (en) * 2019-10-02 2021-01-05 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for semiconductor devices including clock signal lines
KR20210074429A (ko) * 2019-12-11 2021-06-22 삼성전자주식회사 클럭 신호를 보상하기 위한 보상 회로 및 그것을 포함하는 메모리 장치
CN113571118A (zh) * 2020-04-29 2021-10-29 瑞昱半导体股份有限公司 存储器控制器装置与相位校正方法
US11409684B2 (en) 2020-07-31 2022-08-09 Alibaba Group Holding Limited Processing accelerator architectures
US11625341B2 (en) 2020-08-11 2023-04-11 Alibaba Group Holding Limited Narrow DRAM channel systems and methods
CN114115440B (zh) 2020-08-26 2023-09-12 长鑫存储技术有限公司 存储器
CN114115439A (zh) * 2020-08-26 2022-03-01 长鑫存储技术有限公司 存储器
CN114115437B (zh) 2020-08-26 2023-09-26 长鑫存储技术有限公司 存储器
CN114115441A (zh) 2020-08-26 2022-03-01 长鑫存储技术有限公司 存储器
KR20220046211A (ko) * 2020-10-07 2022-04-14 에스케이하이닉스 주식회사 저항성 메모리 장치를 제어하기 위한 메모리 컨트롤러 및 이를 포함하는 메모리 시스템
TWI786763B (zh) * 2021-08-10 2022-12-11 群聯電子股份有限公司 訊號調變裝置、記憶體儲存裝置及訊號調變方法
TWI788160B (zh) * 2021-12-24 2022-12-21 晶豪科技股份有限公司 資料控制電路以及記憶體裝置
CN114756496A (zh) * 2022-03-11 2022-07-15 Tcl空调器(中山)有限公司 Eeprom芯片的数据读取方法、系统、空调器及存储介质
US11881255B2 (en) 2022-04-27 2024-01-23 Nvidia Corp. Look ahead switching circuit for a multi-rank system
US11967396B2 (en) * 2022-04-27 2024-04-23 Nvidia Corp. Multi-rank receiver

Family Cites Families (315)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7056A (en) * 1850-01-29 Am-photo-uthft co
US1660754A (en) * 1926-03-31 1928-02-28 Christian H Kenneweg Fuel-injection valve
DE1291778B (de) 1967-04-29 1969-04-03 Licentia Gmbh Taktsignalgenerator
US3820081A (en) 1972-10-05 1974-06-25 Honeywell Inf Systems Override hardware for main store sequencer
US3950735A (en) 1974-01-04 1976-04-13 Honeywell Information Systems, Inc. Method and apparatus for dynamically controlling read/write operations in a peripheral subsystem
US4866680A (en) 1977-12-05 1989-09-12 Scherbatskoy Serge Alexander Method and apparatus for transmitting information in a borehole employing signal discrimination
US4183095A (en) 1978-09-01 1980-01-08 Ncr Corporation High density memory device
US4315308A (en) 1978-12-21 1982-02-09 Intel Corporation Interface between a microprocessor chip and peripheral subsystems
US4266282A (en) 1979-03-12 1981-05-05 International Business Machines Corporation Vertical semiconductor integrated circuit chip packaging
US4280221A (en) * 1979-05-31 1981-07-21 The Boeing Company Digital data communication system
JPS5634186A (en) 1979-08-29 1981-04-06 Hitachi Ltd Bipolar memory circuit
US4330852A (en) 1979-11-23 1982-05-18 Texas Instruments Incorporated Semiconductor read/write memory array having serial access
JPS5764895U (ja) 1980-10-03 1982-04-17
JPS57101957A (en) 1980-12-17 1982-06-24 Hitachi Ltd Storage control device
FR2513407B1 (fr) * 1981-09-24 1987-01-16 Finger Ulrich Systeme d'arbitrage des demandes d'acces de plusieurs processeurs a des ressources communes, par l'intermediaire d'un bus commun
US4567545A (en) 1983-05-18 1986-01-28 Mettler Rollin W Jun Integrated circuit module and method of making same
US4656605A (en) 1983-09-02 1987-04-07 Wang Laboratories, Inc. Single in-line memory module
US4646270A (en) 1983-09-15 1987-02-24 Motorola, Inc. Video graphic dynamic RAM
US4763249A (en) 1983-09-22 1988-08-09 Digital Equipment Corporation Bus device for use in a computer system having a synchronous bus
US4654790A (en) 1983-11-28 1987-03-31 Amdahl Corporation Translation of virtual and real addresses to system addresses
JPS60136086A (ja) 1983-12-23 1985-07-19 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS6142795A (ja) 1984-08-03 1986-03-01 Toshiba Corp 半導体記憶装置の行デコ−ダ系
US4637018A (en) 1984-08-29 1987-01-13 Burroughs Corporation Automatic signal delay adjustment method
DE3543911A1 (de) 1984-12-14 1986-06-26 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo Digitale verzoegerungseinheit
US4712190A (en) 1985-01-25 1987-12-08 Digital Equipment Corporation Self-timed random access memory chip
US4719602A (en) 1985-02-07 1988-01-12 Visic, Inc. Memory with improved column access
US4637545A (en) * 1985-03-25 1987-01-20 Winfield Corporation Waste management system
JPS628614A (ja) 1985-07-05 1987-01-16 Nec Corp 入力インバ−タ回路
US4920483A (en) 1985-11-15 1990-04-24 Data General Corporation A computer memory for accessing any word-sized group of contiguous bits
US4792926A (en) 1985-12-09 1988-12-20 Kabushiki Kaisha Toshiba High speed memory system for use with a control bus bearing contiguous segmentially intermixed data read and data write request signals
US4755937A (en) 1986-02-14 1988-07-05 Prime Computer, Inc. Method and apparatus for high bandwidth shared memory
DE3607141A1 (de) * 1986-03-05 1987-09-10 Irs Ind Rationalis Syst Gmbh Verfahren und vorrichtung zum explosionsschutz von anlagen, rohrleitungen u. dgl. durch druckueberwachung
JPS634493A (ja) 1986-06-24 1988-01-09 Mitsubishi Electric Corp デユアルポ−トメモリ
JPH0774606B2 (ja) 1986-07-09 1995-08-09 本田技研工業株式会社 三弁・sohc型内燃機関
US4800530A (en) 1986-08-19 1989-01-24 Kabushiki Kasiha Toshiba Semiconductor memory system with dynamic random access memory cells
US4845664A (en) 1986-09-15 1989-07-04 International Business Machines Corp. On-chip bit reordering structure
US4799199A (en) 1986-09-18 1989-01-17 Motorola, Inc. Bus master having burst transfer mode
US5140688A (en) 1986-11-10 1992-08-18 Texas Instruments Incorporated GaAs integrated circuit programmable delay line element
US4845684A (en) * 1986-12-09 1989-07-04 International Business Machines Corporation Acoustic contact sensor for handwritten computer input
JPS63276795A (ja) 1986-12-16 1988-11-15 Mitsubishi Electric Corp 可変長シフトレジスタ
US4821226A (en) 1987-01-30 1989-04-11 Rca Licensing Corporation Dual port video memory system having a bit-serial address input port
US4792929A (en) 1987-03-23 1988-12-20 Zenith Electronics Corporation Data processing system with extended memory access
JPS63271679A (ja) 1987-04-30 1988-11-09 Toshiba Corp デ−タ書込み方式
US4817058A (en) 1987-05-21 1989-03-28 Texas Instruments Incorporated Multiple input/output read/write memory having a multiple-cycle write mask
JP2590122B2 (ja) 1987-08-07 1997-03-12 富士通株式会社 半導体メモリ
US4845677A (en) 1987-08-17 1989-07-04 International Business Machines Corporation Pipelined memory chip structure having improved cycle time
US5179687A (en) 1987-09-26 1993-01-12 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device containing a cache and an operation method thereof
JPS6488662A (en) 1987-09-29 1989-04-03 Fujitsu Ltd Semiconductor memory
JP2701030B2 (ja) 1987-10-09 1998-01-21 株式会社日立製作所 高速記憶装置の書込制御回路
KR970008786B1 (ko) 1987-11-02 1997-05-29 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체 집적회로
JPH01146187A (ja) 1987-12-02 1989-06-08 Mitsubishi Electric Corp キヤッシュメモリ内蔵半導体記憶装置
US4916670A (en) 1988-02-02 1990-04-10 Fujitsu Limited Semiconductor memory device having function of generating write signal internally
US4866676A (en) 1988-03-24 1989-09-12 Motorola, Inc. Testing arrangement for a DRAM with redundancy
US5301278A (en) 1988-04-29 1994-04-05 International Business Machines Corporation Flexible dynamic memory controller
US4866679A (en) 1988-08-11 1989-09-12 Western Atlas International, Inc. Method for identifying anomalous noise amplitudes in seismic data
US5335337A (en) 1989-01-27 1994-08-02 Digital Equipment Corporation Programmable data transfer timing
US4937734A (en) 1989-02-21 1990-06-26 Sun Microsystems, Inc. High speed bus with virtual memory data transfer and rerun cycle capability
US5001672A (en) 1989-05-16 1991-03-19 International Business Machines Corporation Video ram with external select of active serial access register
US5097489A (en) 1989-05-19 1992-03-17 Tucci Patrick A Method for incorporating window strobe in a data synchronizer
KR940008295B1 (ko) 1989-08-28 1994-09-10 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체메모리
IL96808A (en) 1990-04-18 1996-03-31 Rambus Inc Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage
US5428389A (en) 1990-06-14 1995-06-27 Fuji Photo Film Co., Ltd. Image data storage/processing apparatus
JP2519580B2 (ja) 1990-06-19 1996-07-31 三菱電機株式会社 半導体集積回路
US5404483A (en) * 1990-06-29 1995-04-04 Digital Equipment Corporation Processor and method for delaying the processing of cache coherency transactions during outstanding cache fills
KR100214435B1 (ko) 1990-07-25 1999-08-02 사와무라 시코 동기식 버스트 엑세스 메모리
US5077693A (en) 1990-08-06 1991-12-31 Motorola, Inc. Dynamic random access memory
US5260905A (en) 1990-09-03 1993-11-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Multi-port memory
US5357621A (en) 1990-09-04 1994-10-18 Hewlett-Packard Company Serial architecture for memory module control
US5117389A (en) 1990-09-05 1992-05-26 Macronix International Co., Ltd. Flat-cell read-only-memory integrated circuit
US5239639A (en) * 1990-11-09 1993-08-24 Intel Corporation Efficient memory controller with an independent clock
TW198135B (ja) 1990-11-20 1993-01-11 Oki Electric Ind Co Ltd
JP3100622B2 (ja) 1990-11-20 2000-10-16 沖電気工業株式会社 同期型ダイナミックram
US5379438A (en) 1990-12-14 1995-01-03 Xerox Corporation Transferring a processing unit's data between substrates in a parallel processor
JPH04216392A (ja) 1990-12-18 1992-08-06 Mitsubishi Electric Corp ブロックライト機能を備える半導体記憶装置
JP3992757B2 (ja) 1991-04-23 2007-10-17 テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド マイクロプロセッサと同期するメモリ、及びデータプロセッサ、同期メモリ、周辺装置とシステムクロックを含むシステム
WO1992021088A1 (en) 1991-05-17 1992-11-26 Eastman Kodak Company Novel electrical bus structure
US5345573A (en) 1991-10-04 1994-09-06 Bull Hn Information Systems Inc. High speed burst read address generation with high speed transfer
JP2599539B2 (ja) 1991-10-15 1997-04-09 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 直接メモリ・アクセス装置及びルック・アヘッド装置
US5381538A (en) 1991-10-15 1995-01-10 International Business Machines Corp. DMA controller including a FIFO register and a residual register for data buffering and having different operating modes
JPH05134973A (ja) * 1991-11-14 1993-06-01 Toshiba Corp データ転送装置
US5381376A (en) 1991-11-22 1995-01-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Video RAM having block selection function during serial write transfer operation
US5276858A (en) 1991-12-26 1994-01-04 Intel Corporation Memory controller with integrated delay line circuitry
KR950000503B1 (ko) 1992-01-10 1995-01-24 삼성전자 주식회사 블럭라이트 기능을 갖는 반도체 메모리장치
JP2740097B2 (ja) 1992-03-19 1998-04-15 株式会社東芝 クロック同期型半導体記憶装置およびそのアクセス方法
JP2830594B2 (ja) 1992-03-26 1998-12-02 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
US5164916A (en) 1992-03-31 1992-11-17 Digital Equipment Corporation High-density double-sided multi-string memory module with resistor for insertion detection
US5384745A (en) 1992-04-27 1995-01-24 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Synchronous semiconductor memory device
US5608896A (en) 1992-05-28 1997-03-04 Texas Instruments Incorporated Time skewing arrangement for operating memory devices in synchronism with a data processor
JP2950018B2 (ja) 1992-06-02 1999-09-20 日本電気株式会社 半導体記憶回路とそれを用いた半導体記憶モジュール及び音響信号再生装置
US5731633A (en) 1992-09-16 1998-03-24 Gary W. Hamilton Thin multichip module
US5553248A (en) 1992-10-02 1996-09-03 Compaq Computer Corporation System for awarding the highest priority to a microprocessor releasing a system bus after aborting a locked cycle upon detecting a locked retry signal
JP3476231B2 (ja) 1993-01-29 2003-12-10 三菱電機エンジニアリング株式会社 同期型半導体記憶装置および半導体記憶装置
CA2109043A1 (en) 1993-01-29 1994-07-30 Charles R. Moore System and method for transferring data between multiple buses
JP2605576B2 (ja) 1993-04-02 1997-04-30 日本電気株式会社 同期型半導体メモリ
US5392239A (en) 1993-05-06 1995-02-21 S3, Incorporated Burst-mode DRAM
JP3277603B2 (ja) 1993-05-19 2002-04-22 富士通株式会社 半導体記憶装置
US5511024A (en) 1993-06-02 1996-04-23 Rambus, Inc. Dynamic random access memory system
WO1994029871A1 (en) 1993-06-14 1994-12-22 Rambus, Inc. Method and apparatus for writing to memory components
JP4018159B2 (ja) 1993-06-28 2007-12-05 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
JP3543336B2 (ja) 1993-07-20 2004-07-14 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置および半導体装置の配線方式
US5504874A (en) 1993-09-29 1996-04-02 Silicon Graphics, Inc. System and method of implementing read resources to maintain cache coherency in a multiprocessor environment permitting split transactions
US5511025A (en) 1993-10-18 1996-04-23 Texas Instruments Incorporated Write per bit with write mask information carried on the data path past the input data latch
US5386375A (en) 1993-11-01 1995-01-31 Motorola, Inc. Floating point data processor and a method for performing a floating point square root operation within the data processor
US5530623A (en) 1993-11-19 1996-06-25 Ncr Corporation High speed memory packaging scheme
JP3328638B2 (ja) 1994-01-21 2002-09-30 株式会社日立製作所 メモリ装置
US5386385A (en) * 1994-01-31 1995-01-31 Texas Instruments Inc. Method and apparatus for preventing invalid operating modes and an application to synchronous memory devices
US5406518A (en) * 1994-02-08 1995-04-11 Industrial Technology Research Institute Variable length delay circuit utilizing an integrated memory device with multiple-input and multiple-output configuration
KR0122099B1 (ko) 1994-03-03 1997-11-26 김광호 라이트레이턴시제어기능을 가진 동기식 반도체메모리장치
JPH07253962A (ja) * 1994-03-14 1995-10-03 Fujitsu Ltd 半導体装置
US5579352A (en) 1994-04-06 1996-11-26 National Semiconductor Corporation Simplified window de-skewing in a serial data receiver
US5533204A (en) 1994-04-18 1996-07-02 Compaq Computer Corporation Split transaction protocol for the peripheral component interconnect bus
JPH07311735A (ja) * 1994-05-18 1995-11-28 Hitachi Ltd データ転送装置
EP0692764B1 (en) 1994-06-17 2000-08-09 Advanced Micro Devices, Inc. Memory throttle for PCI master
US5655113A (en) * 1994-07-05 1997-08-05 Monolithic System Technology, Inc. Resynchronization circuit for a memory system and method of operating same
US5528177A (en) * 1994-09-16 1996-06-18 Research Foundation Of State University Of New York Complementary field-effect transistor logic circuits for wave pipelining
JPH08123717A (ja) 1994-10-25 1996-05-17 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
US5548788A (en) 1994-10-27 1996-08-20 Emc Corporation Disk controller having host processor controls the time for transferring data to disk drive by modifying contents of the memory to indicate data is stored in the memory
US5475690A (en) * 1994-11-10 1995-12-12 Digital Equipment Corporation Delay compensated signal propagation
JPH08278916A (ja) * 1994-11-30 1996-10-22 Hitachi Ltd マルチチャネルメモリシステム、転送情報同期化方法及び信号転送回路
US5611068A (en) * 1994-12-27 1997-03-11 Motorola, Inc. Apparatus and method for controlling pipelined data transfer scheme between stages employing shift register and associated addressing mechanism
US5577236A (en) 1994-12-30 1996-11-19 International Business Machines Corporation Memory controller for reading data from synchronous RAM
JP2962463B2 (ja) 1995-01-13 1999-10-12 焼津水産化学工業株式会社 生鮮長芋の保存方法及び生鮮長芋冷凍品の製造方法
JP3487458B2 (ja) 1995-01-27 2004-01-19 株式会社リコー 並列信号伝送装置
US5638520A (en) * 1995-03-31 1997-06-10 Motorola, Inc. Method and apparatus for distributing bus loading in a data processing system
US5578940A (en) 1995-04-04 1996-11-26 Rambus, Inc. Modular bus with single or double parallel termination
US5638531A (en) 1995-06-07 1997-06-10 International Business Machines Corporation Multiprocessor integrated circuit with video refresh logic employing instruction/data caching and associated timing synchronization
US5852640A (en) 1995-06-26 1998-12-22 Kliza; Phillip S. Clock distribution apparatus with current sensed skew cancelling
US5764963A (en) 1995-07-07 1998-06-09 Rambus, Inc. Method and apparatus for performing maskable multiple color block writes
US5742840A (en) * 1995-08-16 1998-04-21 Microunity Systems Engineering, Inc. General purpose, multiple precision parallel operation, programmable media processor
US5692165A (en) 1995-09-12 1997-11-25 Micron Electronics Inc. Memory controller with low skew control signal
US6810449B1 (en) 1995-10-19 2004-10-26 Rambus, Inc. Protocol for communication with dynamic memory
US6035369A (en) * 1995-10-19 2000-03-07 Rambus Inc. Method and apparatus for providing a memory with write enable information
US6470405B2 (en) 1995-10-19 2002-10-22 Rambus Inc. Protocol for communication with dynamic memory
US5748914A (en) 1995-10-19 1998-05-05 Rambus, Inc. Protocol for communication with dynamic memory
JPH09161472A (ja) * 1995-12-13 1997-06-20 Hitachi Ltd メモリ制御方法
JP3986578B2 (ja) 1996-01-17 2007-10-03 三菱電機株式会社 同期型半導体記憶装置
JP3410922B2 (ja) * 1996-04-23 2003-05-26 株式会社東芝 クロック制御回路
US6211703B1 (en) 1996-06-07 2001-04-03 Hitachi, Ltd. Signal transmission system
US6125419A (en) 1996-06-13 2000-09-26 Hitachi, Ltd. Bus system, printed circuit board, signal transmission line, series circuit and memory module
JP3546613B2 (ja) * 1996-10-25 2004-07-28 株式会社日立製作所 回路基板
JPH1022458A (ja) * 1996-07-04 1998-01-23 Fujitsu Ltd 半導体装置及びピン配列
US5802395A (en) 1996-07-08 1998-09-01 International Business Machines Corporation High density memory modules with improved data bus performance
US5742798A (en) 1996-08-09 1998-04-21 International Business Machines Corporation Compensation of chip to chip clock skew
JP3204108B2 (ja) * 1996-08-23 2001-09-04 トヨタ自動車株式会社 空気温センサの異常検出装置
US6088774A (en) 1996-09-20 2000-07-11 Advanced Memory International, Inc. Read/write timing for maximum utilization of bidirectional read/write bus
US6226723B1 (en) * 1996-09-20 2001-05-01 Advanced Memory International, Inc. Bifurcated data and command/address communication bus architecture for random access memories employing synchronous communication protocols
EP0831402A1 (en) 1996-09-23 1998-03-25 Hewlett-Packard Company Dynamically configuring timing to match memory bus loading conditions
US5892981A (en) 1996-10-10 1999-04-06 Hewlett-Packard Company Memory system and device
US5933379A (en) * 1996-11-18 1999-08-03 Samsung Electronics, Co., Ltd. Method and circuit for testing a semiconductor memory device operating at high frequency
US6115318A (en) 1996-12-03 2000-09-05 Micron Technology, Inc. Clock vernier adjustment
JP3455040B2 (ja) * 1996-12-16 2003-10-06 株式会社日立製作所 ソースクロック同期式メモリシステムおよびメモリユニット
KR19980064365A (ko) 1996-12-19 1998-10-07 윌리엄비.켐플러 메모리 모듈로의 어드레스 및 데이타 분산용 장치 및 방법
US5966343A (en) 1997-01-02 1999-10-12 Texas Instruments Incorporated Variable latency memory circuit
US5943573A (en) 1997-01-17 1999-08-24 United Microelectronics Corp. Method of fabricating semiconductor read-only memory device
DE69731066T2 (de) * 1997-01-23 2005-10-06 Hewlett-Packard Development Co., L.P., Houston Speichersteuerungsvorrichtung mit programmierbarer Impulsverzögerung
US6912680B1 (en) * 1997-02-11 2005-06-28 Micron Technology, Inc. Memory system with dynamic timing correction
US5987576A (en) 1997-02-27 1999-11-16 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for generating and distributing clock signals with minimal skew
JPH10302471A (ja) 1997-02-28 1998-11-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2935694B2 (ja) 1997-04-25 1999-08-16 松下電器産業株式会社 半導体集積回路およびシステム、並びにクロック信号とデータ信号との間のスキューを低減する方法
US5952691A (en) 1997-05-14 1999-09-14 Ricoh Company, Ltd. Non-volatile electrically alterable semiconductor memory device
US5946712A (en) 1997-06-04 1999-08-31 Oak Technology, Inc. Apparatus and method for reading data from synchronous memory
JPH10340222A (ja) * 1997-06-09 1998-12-22 Nec Corp メモリ装置の入力回路及び出力回路
US6247138B1 (en) 1997-06-12 2001-06-12 Fujitsu Limited Timing signal generating circuit, semiconductor integrated circuit device and semiconductor integrated circuit system to which the timing signal generating circuit is applied, and signal transmission system
KR100213241B1 (ko) * 1997-06-23 1999-08-02 윤종용 데이터 입출력 회로 및 데이터 입출력 방법
US6232792B1 (en) * 1997-06-25 2001-05-15 Sun Microsystems, Inc. Terminating transmission lines using on-chip terminator circuitry
US6286062B1 (en) 1997-07-01 2001-09-04 Micron Technology, Inc. Pipelined packet-oriented memory system having a unidirectional command and address bus and a bidirectional data bus
US6292903B1 (en) * 1997-07-09 2001-09-18 International Business Machines Corporation Smart memory interface
US6044429A (en) 1997-07-10 2000-03-28 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for collision-free data transfers in a memory device with selectable data or address paths
US6124727A (en) 1997-07-11 2000-09-26 Adaptec, Inc. Bias compensator for differential transmission line with voltage bias
JP3922765B2 (ja) * 1997-07-22 2007-05-30 富士通株式会社 半導体装置システム及び半導体装置
US6442644B1 (en) * 1997-08-11 2002-08-27 Advanced Memory International, Inc. Memory system having synchronous-link DRAM (SLDRAM) devices and controller
JPH11161601A (ja) * 1997-08-19 1999-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 複数伝送線路間の遅延時間の調整装置
JPH1185345A (ja) 1997-09-02 1999-03-30 Toshiba Corp 入出力インターフェース回路及び半導体システム
US6067594A (en) * 1997-09-26 2000-05-23 Rambus, Inc. High frequency bus system
JPH11167515A (ja) * 1997-10-03 1999-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd データ伝送装置及びデータ伝送方法
KR100618242B1 (ko) * 1997-10-10 2006-09-04 람버스 인코포레이티드 소자 타이밍 보정용 소자 및 방법
US6075730A (en) * 1997-10-10 2000-06-13 Rambus Incorporated High performance cost optimized memory with delayed memory writes
US6401167B1 (en) 1997-10-10 2002-06-04 Rambus Incorporated High performance cost optimized memory
US6343352B1 (en) * 1997-10-10 2002-01-29 Rambus Inc. Method and apparatus for two step memory write operations
US6226757B1 (en) 1997-10-10 2001-05-01 Rambus Inc Apparatus and method for bus timing compensation
EP1035158A4 (en) * 1997-10-29 2002-01-30 Kanebo Ltd BIODEGRADABLE RESIN COMPOSITION CAPABLE OF FORMING FOAM
US6003118A (en) * 1997-12-16 1999-12-14 Acer Laboratories Inc. Method and apparatus for synchronizing clock distribution of a data processing system
US6005776A (en) 1998-01-05 1999-12-21 Intel Corporation Vertical connector based packaging solution for integrated circuits
US6111757A (en) 1998-01-16 2000-08-29 International Business Machines Corp. SIMM/DIMM memory module
KR100278653B1 (ko) 1998-01-23 2001-02-01 윤종용 이중 데이터율 모드 반도체 메모리 장치
US6968419B1 (en) * 1998-02-13 2005-11-22 Intel Corporation Memory module having a memory module controller controlling memory transactions for a plurality of memory devices
US6105144A (en) 1998-03-02 2000-08-15 International Business Machines Corporation System and method for alleviating skew in a bus
DE19808888A1 (de) * 1998-03-03 1999-09-09 Huels Chemische Werke Ag Verstärkte Formmasse
US6154821A (en) 1998-03-10 2000-11-28 Rambus Inc. Method and apparatus for initializing dynamic random access memory (DRAM) devices by levelizing a read domain
US6359815B1 (en) * 1998-03-12 2002-03-19 Hitachi, Ltd. Data transmitter
US6327205B1 (en) * 1998-03-16 2001-12-04 Jazio, Inc. Signal latching of high bandwidth DRAM arrays when skew between different components is higher than signal rate
GB2352375B (en) * 1998-03-16 2003-06-04 Jazio Inc High speed signaling for interfacing VLSI CMOS circuits
JPH11265313A (ja) * 1998-03-18 1999-09-28 Hitachi Ltd 記憶装置
US5933387A (en) 1998-03-30 1999-08-03 Richard Mann Divided word line architecture for embedded memories using multiple metal layers
AU3021799A (en) * 1998-04-01 1999-10-18 Mosaid Technologies Incorporated Semiconductor memory asynchronous pipeline
CA2233789C (en) * 1998-04-01 2013-06-11 Ian Mes Semiconductor memory asynchronous pipeline
US6356260B1 (en) * 1998-04-10 2002-03-12 National Semiconductor Corporation Method for reducing power and electromagnetic interference in conveying video data
JP3727778B2 (ja) * 1998-05-07 2005-12-14 株式会社東芝 データ高速転送同期システム及びデータ高速転送同期方法
TW429686B (en) * 1998-05-12 2001-04-11 Mitsubishi Electric Corp Circuit and method for generating clock
JP4079507B2 (ja) * 1998-05-12 2008-04-23 富士通株式会社 メモリ制御システムおよびメモリ制御方法
KR100305647B1 (ko) * 1998-05-27 2002-03-08 박종섭 동기식메모리장치
US6041419A (en) 1998-05-27 2000-03-21 S3 Incorporated Programmable delay timing calibrator for high speed data interface
US6016282A (en) * 1998-05-28 2000-01-18 Micron Technology, Inc. Clock vernier adjustment
US6057743A (en) * 1998-06-22 2000-05-02 Hubbell Incorporation Distributed noise reduction circuits in telecommunication system connector
JP2000035831A (ja) 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp 可変閾値電圧トランジスタを用いた低スキュークロックツリー回路
US6178517B1 (en) * 1998-07-24 2001-01-23 International Business Machines Corporation High bandwidth DRAM with low operating power modes
US6510503B2 (en) * 1998-07-27 2003-01-21 Mosaid Technologies Incorporated High bandwidth memory interface
US6049467A (en) * 1998-08-31 2000-04-11 Unisys Corporation Stackable high density RAM modules
US6279090B1 (en) 1998-09-03 2001-08-21 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for resynchronizing a plurality of clock signals used in latching respective digital signals applied to a packetized memory device
US6029250A (en) * 1998-09-09 2000-02-22 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for adaptively adjusting the timing offset between a clock signal and digital signals transmitted coincident with that clock signal, and memory device and system using same
KR100318257B1 (ko) * 1998-11-07 2002-04-22 박종섭 인쇄회로기판및그의신호배선방법
US6336205B1 (en) * 1998-11-12 2002-01-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for designing semiconductor integrated circuit
KR100287542B1 (ko) * 1998-11-26 2001-04-16 윤종용 웨이브 파이프라인 스킴을 구비한 동기형 반도체 메모리 장치및 그것의 데이터 패스 제어 방법
JP3803204B2 (ja) 1998-12-08 2006-08-02 寛治 大塚 電子装置
US6222785B1 (en) * 1999-01-20 2001-04-24 Monolithic System Technology, Inc. Method and apparatus for refreshing a semiconductor memory using idle memory cycles
US6347367B1 (en) 1999-01-29 2002-02-12 International Business Machines Corp. Data bus structure for use with multiple memory storage and driver receiver technologies and a method of operating such structures
JP4115028B2 (ja) 1999-02-17 2008-07-09 富士通株式会社 集積回路デバイス及びそれを搭載したモジュール
US6253266B1 (en) * 1999-02-19 2001-06-26 Inet Technologies, Inc. Apparatus and method for controlling information flow in a card cage having multiple backplanes
US6654897B1 (en) * 1999-03-05 2003-11-25 International Business Machines Corporation Dynamic wave-pipelined interface apparatus and methods therefor
US6137734A (en) * 1999-03-30 2000-10-24 Lsi Logic Corporation Computer memory interface having a memory controller that automatically adjusts the timing of memory interface signals
JP2000284873A (ja) 1999-03-31 2000-10-13 Adtec:Kk メモリ回路基板
JP3880286B2 (ja) 1999-05-12 2007-02-14 エルピーダメモリ株式会社 方向性結合式メモリシステム
KR100316713B1 (ko) 1999-06-26 2001-12-12 윤종용 반도체 메모리 장치 및 이에 적합한 구동신호 발생기
US6629222B1 (en) 1999-07-13 2003-09-30 Micron Technology Inc. Apparatus for synchronizing strobe and data signals received from a RAM
US6839393B1 (en) * 1999-07-14 2005-01-04 Rambus Inc. Apparatus and method for controlling a master/slave system via master device synchronization
US6370668B1 (en) * 1999-07-23 2002-04-09 Rambus Inc High speed memory system capable of selectively operating in non-chip-kill and chip-kill modes
JP3813768B2 (ja) 1999-07-30 2006-08-23 株式会社日立製作所 半導体装置及び半導体モジュール
US6477592B1 (en) 1999-08-06 2002-11-05 Integrated Memory Logic, Inc. System for I/O interfacing for semiconductor chip utilizing addition of reference element to each data element in first data stream and interpret to recover data elements of second data stream
US6180754B1 (en) * 1999-09-03 2001-01-30 The Dow Chemical Company Process for producing cross-linked polyallylamine polymer
US6640292B1 (en) 1999-09-10 2003-10-28 Rambus Inc. System and method for controlling retire buffer operation in a memory system
US6646953B1 (en) * 2000-07-06 2003-11-11 Rambus Inc. Single-clock, strobeless signaling system
US6321282B1 (en) * 1999-10-19 2001-11-20 Rambus Inc. Apparatus and method for topography dependent signaling
US6643787B1 (en) 1999-10-19 2003-11-04 Rambus Inc. Bus system optimization
US6526469B1 (en) * 1999-11-12 2003-02-25 International Business Machines Corporation Bus architecture employing varying width uni-directional command bus
US6643752B1 (en) 1999-12-09 2003-11-04 Rambus Inc. Transceiver with latency alignment circuitry
US6172895B1 (en) * 1999-12-14 2001-01-09 High Connector Density, Inc. High capacity memory module with built-in-high-speed bus terminations
US6502161B1 (en) 2000-01-05 2002-12-31 Rambus Inc. Memory system including a point-to-point linked memory subsystem
US6760857B1 (en) * 2000-02-18 2004-07-06 Rambus Inc. System having both externally and internally generated clock signals being asserted on the same clock pin in normal and test modes of operation respectively
US6179687B1 (en) * 2000-03-10 2001-01-30 Elena Lee Undergarments with invisible strap
US6191997B1 (en) 2000-03-10 2001-02-20 Mosel Vitelic Inc. Memory burst operations in which address count bits are used as column address bits for one, but not both, of the odd and even columns selected in parallel.
JP2001265708A (ja) * 2000-03-16 2001-09-28 Toshiba Corp 電子機器及び電子機器の基板
US6833984B1 (en) 2000-05-03 2004-12-21 Rambus, Inc. Semiconductor module with serial bus connection to multiple dies
US6449159B1 (en) 2000-05-03 2002-09-10 Rambus Inc. Semiconductor module with imbedded heat spreader
US6388886B1 (en) * 2000-05-08 2002-05-14 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory module and module system
JP2001319500A (ja) * 2000-05-10 2001-11-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US6545875B1 (en) * 2000-05-10 2003-04-08 Rambus, Inc. Multiple channel modules and bus systems using same
JP3757757B2 (ja) 2000-05-18 2006-03-22 株式会社日立製作所 リード優先メモリシステム
JP2001339283A (ja) 2000-05-26 2001-12-07 Mitsubishi Electric Corp 遅延回路およびそのための半導体回路装置
US6611905B1 (en) 2000-06-29 2003-08-26 International Business Machines Corporation Memory interface with programable clock to output time based on wide range of receiver loads
KR100608346B1 (ko) * 2000-06-30 2006-08-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 시스템 버스 구조
US6316980B1 (en) 2000-06-30 2001-11-13 Intel Corporation Calibrating data strobe signal using adjustable delays with feedback
US6760856B1 (en) 2000-07-17 2004-07-06 International Business Machines Corporation Programmable compensated delay for DDR SDRAM interface using programmable delay loop for reference calibration
US6333893B1 (en) 2000-08-21 2001-12-25 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for crossing clock domain boundaries
US6807613B1 (en) 2000-08-21 2004-10-19 Mircon Technology, Inc. Synchronized write data on a high speed memory bus
US6691214B1 (en) 2000-08-29 2004-02-10 Micron Technology, Inc. DDR II write data capture calibration
US6928571B1 (en) 2000-09-15 2005-08-09 Intel Corporation Digital system of adjusting delays on circuit boards
US6853557B1 (en) * 2000-09-20 2005-02-08 Rambus, Inc. Multi-channel memory architecture
JP2002117670A (ja) 2000-10-04 2002-04-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6411122B1 (en) 2000-10-27 2002-06-25 Intel Corporation Apparatus and method for dynamic on-die termination in an open-drain bus architecture system
US6553472B2 (en) 2001-01-12 2003-04-22 Sun Microsystems, Inc. Method for programming clock delays, command delays, read command parameter delays, and write command parameter delays of a memory controller in a high performance microprocessor
US6873939B1 (en) * 2001-02-02 2005-03-29 Rambus Inc. Method and apparatus for evaluating and calibrating a signaling system
JP2002230985A (ja) * 2001-02-06 2002-08-16 Sharp Corp 不揮発性半導体記憶装置及びその制御方法
US7313715B2 (en) 2001-02-09 2007-12-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system having stub bus configuration
US6445624B1 (en) * 2001-02-23 2002-09-03 Micron Technology, Inc. Method of synchronizing read timing in a high speed memory system
US6788593B2 (en) * 2001-02-28 2004-09-07 Rambus, Inc. Asynchronous, high-bandwidth memory component using calibrated timing elements
US6618736B1 (en) * 2001-03-09 2003-09-09 Ensim Corporation Template-based creation and archival of file systems
US6658523B2 (en) * 2001-03-13 2003-12-02 Micron Technology, Inc. System latency levelization for read data
US6684283B1 (en) * 2001-03-13 2004-01-27 Texas Instruments Incorporated Method for interfacing a cardbay card to the host system by indicating a 16-bit or cardbus PC card insertion to host software
US6456544B1 (en) 2001-03-30 2002-09-24 Intel Corporation Selective forwarding of a strobe based on a predetermined delay following a memory read command
EP1249438A1 (en) * 2001-04-13 2002-10-16 Dsm N.V. Continuous hydroformylation process for producing an aldehyde
US6675272B2 (en) 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
EP1253521B1 (en) 2001-04-24 2011-01-26 Rambus Inc. Method and apparatus for signaling between devices of a memory system
US8391039B2 (en) 2001-04-24 2013-03-05 Rambus Inc. Memory module with termination component
JP2003005831A (ja) 2001-06-20 2003-01-08 Nippon Yusoki Co Ltd 接触検出装置
US6801989B2 (en) 2001-06-28 2004-10-05 Micron Technology, Inc. Method and system for adjusting the timing offset between a clock signal and respective digital signals transmitted along with that clock signal, and memory device and computer system using same
US6697918B2 (en) 2001-07-18 2004-02-24 Broadcom Corporation Cache configured to read evicted cache block responsive to transmitting block's address on interface
US6807614B2 (en) 2001-07-19 2004-10-19 Shine C. Chung Method and apparatus for using smart memories in computing
US6970988B1 (en) 2001-07-19 2005-11-29 Chung Shine C Algorithm mapping, specialized instructions and architecture features for smart memory computing
US7102958B2 (en) * 2001-07-20 2006-09-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Integrated circuit memory devices that support selective mode register set commands and related memory modules, memory controllers, and methods
US6504790B1 (en) * 2001-08-09 2003-01-07 International Business Machines Corporation Configurable DDR write-channel phase advance and delay capability
JP2003085974A (ja) 2001-09-13 2003-03-20 Toshiba Corp 半導体集積回路およびメモリシステム
US6748465B2 (en) 2001-09-28 2004-06-08 Intel Corporation Local bus polling support buffer
JP4308461B2 (ja) * 2001-10-05 2009-08-05 ラムバス・インコーポレーテッド 半導体記憶装置
WO2003036850A1 (en) * 2001-10-22 2003-05-01 Rambus Inc. Phase adjustment apparatus and method for a memory device signaling system
KR100393232B1 (ko) * 2001-10-23 2003-07-31 삼성전자주식회사 제1 또는 제2메모리 아키텍쳐로의 구현이 가능한 반도체메모리 장치 및 이를 이용한 메모리 시스템
US6661721B2 (en) 2001-12-13 2003-12-09 Infineon Technologies Ag Systems and methods for executing precharge commands using posted precharge in integrated circuit memory devices with memory banks each including local precharge control circuits
KR100414943B1 (ko) 2001-12-28 2004-01-16 엘지전자 주식회사 콤팩트 피씨아이에 기반한 다중 처리 시스템에서의 클럭분배 장치 및 방법
CN1509475B (zh) * 2002-01-11 2010-05-26 索尼公司 存储设备、运动矢量检测器、和运动补偿预测编码器
US6804764B2 (en) 2002-01-22 2004-10-12 Mircron Technology, Inc. Write clock and data window tuning based on rank select
US7043599B1 (en) * 2002-06-20 2006-05-09 Rambus Inc. Dynamic memory supporting simultaneous refresh and data-access transactions
US20040003194A1 (en) * 2002-06-26 2004-01-01 Amit Bodas Method and apparatus for adjusting DRAM signal timings
JP4481588B2 (ja) 2003-04-28 2010-06-16 株式会社東芝 半導体集積回路装置
JP4205553B2 (ja) * 2003-11-06 2009-01-07 エルピーダメモリ株式会社 メモリモジュール及びメモリシステム
JP4015986B2 (ja) 2003-11-12 2007-11-28 沖電気工業株式会社 半導体集積回路装置
JP4741226B2 (ja) 2003-12-25 2011-08-03 株式会社日立製作所 半導体メモリモジュール、およびメモリシステム
JP4565883B2 (ja) 2004-04-27 2010-10-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
US7224595B2 (en) 2004-07-30 2007-05-29 International Business Machines Corporation 276-Pin buffered memory module with enhanced fault tolerance
US7519877B2 (en) 2004-08-10 2009-04-14 Micron Technology, Inc. Memory with test mode output
US7301831B2 (en) * 2004-09-15 2007-11-27 Rambus Inc. Memory systems with variable delays for write data signals
US7542322B2 (en) 2004-09-30 2009-06-02 Intel Corporation Buffered continuous multi-drop clock ring
TWI304395B (en) * 2004-11-26 2008-12-21 Ind Tech Res Inst A method for fabricating a high specific surface area mesoporous alumina
US7688672B2 (en) * 2005-03-14 2010-03-30 Rambus Inc. Self-timed interface for strobe-based systems
DE102005019041B4 (de) * 2005-04-23 2009-04-16 Qimonda Ag Halbleiterspeicher und Verfahren zur Anpassung der Phasenbeziehung zwischen einem Taktsignal und Strobe-Signal bei der Übernahme von zu übertragenden Schreibdaten
US8077535B2 (en) * 2006-07-31 2011-12-13 Google Inc. Memory refresh apparatus and method
US7609567B2 (en) * 2005-06-24 2009-10-27 Metaram, Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
KR100615580B1 (ko) * 2005-07-05 2006-08-25 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 입출력 방법과이를 구비한 메모리 시스템
US7839792B2 (en) * 2005-08-30 2010-11-23 Tektronix, Inc. Time-correlated, simultaneous measurement and analysis of network signals from multiple communication networks
JP5072072B2 (ja) 2007-03-15 2012-11-14 東洋ゴム工業株式会社 研磨パッド
US7872937B2 (en) * 2008-03-31 2011-01-18 Globalfoundries Inc. Data driver circuit for a dynamic random access memory (DRAM) controller or the like and method therefor
US8661285B2 (en) * 2008-06-06 2014-02-25 Uniquify, Incorporated Dynamically calibrated DDR memory controller
JP4405565B2 (ja) * 2008-06-19 2010-01-27 株式会社東芝 メモリシステムおよびメモリデバイス
US7733685B2 (en) 2008-07-09 2010-06-08 Sandisk 3D Llc Cross point memory cell with distributed diodes and method of making same
US8239590B1 (en) * 2009-01-31 2012-08-07 Xilinx, Inc. Method and apparatus for transferring data between two different interfaces
US8902693B2 (en) * 2013-04-25 2014-12-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. System and method for per-bit de-skew for datamask in a double data-rate memory device interface
US8937846B2 (en) * 2013-05-09 2015-01-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Write level training using dual frequencies in a double data-rate memory device interface

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002342154A (ja) * 2001-04-24 2002-11-29 Rambus Inc メモリ・システムのデバイス間のシグナリングの方法および装置
JP4535664B2 (ja) * 2001-04-24 2010-09-01 ラムバス・インコーポレーテッド メモリ・システムのデバイス間のシグナリングの方法および装置
JP2004327008A (ja) * 2003-04-29 2004-11-18 Hynix Semiconductor Inc ドメインクロシング回路
JP4535747B2 (ja) * 2003-04-29 2010-09-01 株式会社ハイニックスセミコンダクター ドメインクロシング回路
JP2008500668A (ja) * 2004-05-21 2008-01-10 ラムバス・インコーポレーテッド 多重メモリアクセスレイテンシ時間をサポートするコンピュータメモリシステムにおける性能を改善するためのシステムおよび方法
JP4926963B2 (ja) * 2004-05-21 2012-05-09 ラムバス・インコーポレーテッド 多重メモリアクセスレイテンシ時間をサポートするコンピュータメモリシステムにおける性能を改善するためのシステムおよび方法
JP2008512749A (ja) * 2004-09-07 2008-04-24 インテル コーポレイション 隣り合わせで反転される、メモリのアドレス及びコマンドバス
KR100951600B1 (ko) 2007-09-18 2010-04-09 후지쯔 가부시끼가이샤 메모리 제어 회로, 지연 시간 제어 장치, 지연 시간 제어 방법 및 지연 시간 제어 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독가능한 기록 매체
JP2012059184A (ja) * 2010-09-13 2012-03-22 Nec Computertechno Ltd メモリコントローラ、これを備えたメモリシステム及びメモリデバイスの制御方法

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