JP2014066717A - 周波数測定装置 - Google Patents

周波数測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014066717A
JP2014066717A JP2013239872A JP2013239872A JP2014066717A JP 2014066717 A JP2014066717 A JP 2014066717A JP 2013239872 A JP2013239872 A JP 2013239872A JP 2013239872 A JP2013239872 A JP 2013239872A JP 2014066717 A JP2014066717 A JP 2014066717A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
output
filter
counter
moving average
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013239872A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5877188B2 (ja
Inventor
Masayoshi Gohara
正義 轟原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2009123749A priority Critical patent/JP5517033B2/ja
Priority to US12/783,900 priority patent/US8664933B2/en
Priority to CN201010184264.9A priority patent/CN101893658B/zh
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2013239872A priority patent/JP5877188B2/ja
Publication of JP2014066717A publication Critical patent/JP2014066717A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5877188B2 publication Critical patent/JP5877188B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Abstract

【課題】短ゲートカウント方式周波数測定装置においてフィルター部等の回路を可及的に簡素化し、回路動作の高速化と低電力化を可能とした周波数測定装置を提供する。
【解決手段】周波数測定装置は、被測定信号の周波数を計数して連続な2値の計数出力を発生する短ゲートタイムカウンター部(10)と、連続な2値の計数出力から高周波成分を除去する、複数段のフィルターで形成されるローパスフィルター部(20)と、を備え、短ゲートタイムカウンター部の少なくとも一部(12)とローパスフィルター部の第一段目フィルター(21)とが一体的に回路形成され(13)、第一段目のフィルターは、連続な2値の計数出力を入力とし、高周波成分を低減した連続な2値の出力をなす移動平均フィルターであり、第二段目のフィルター(22)は、移動平均フィルターの連続な2値の出力列に対して間欠的な平均値演算を行って高周波成分を低減した出力をなす。
【選択図】図29

Description

本発明は周波数測定装置等に関し、特に、被測定信号を所定の時間で計数し、計数値列から高周波成分を除いて周波数変動成分を検出する周波数測定装置を用いて絶対周波数を測定可能とする周波数測定装置の改良に関する。
周波数測定の方式には、決められたゲートタイム内に通過するパルスをカウントする直接カウント方式(例えば、特許文献1参照)、パルス周期を正確に計測しその時間の逆数から周波数を求めるレシプロカル方式(例えば、特許文献2参照)、ΔΣ変調信号を得ることで周波数を知る方式(例えば、特許文献3参照)が知られている。
特開2001−119291号公報 特開平5−172861号公報 米国特許第7230458号
出願人は、上記に加え新たな提案として、短ゲートタイムカウント方式による周波数測定装置の研究開発を行っている。
その周波数カウント方式は、被測定信号であるパルス信号を含む信号を短いゲートタイムで途切れることなく繰り返しカウント(サンプリング)を行い、得られたカウント値の列から高周波成分を取り除いて周波変化成分を抽出するようにしたもの(フィルタリング処理)で、時間分解能・周波数分解能ともに大幅に改善することができる。本方式の周波数カウンターは、カウンター回路と小規模な演算回路で構成され、回路規模の増大を抑えつつマルチチャネル(channel)化が容易という特長を持つ。また、サンプリング周波数(カウンター回路のゲート時間の逆数)を高めるほど分解能が向上する等の特徴がある。
上記高周波成分を取り除くためにローパスフィルターが使用される。例えば、ローパスフィルター部の構成としてデジタルフィルターを用いる場合、メモリと演算装置が必要になる。ローパスフィルターとして移動平均フィルターを用いることで演算量を大幅に削減することができ、高精度なリアルタイム測定が可能となる。カウンター回路(後述の短ゲートタイムカウンター)はハードウエアとしても単純な構成であるため高速動作に適しているのに対し、フィルター部の処理には多ビットの加減算が必要となるため、リアルタイム測定におけるサンプリング周波数の上限を決定するのは、主にフィルター部の処理能力である。特に、二段以上の移動平均フィルターを用いる場合、多ビットの情報を処理する必要が生じるため回路が複雑化する。かかる部分の回路が簡素化されれば、高速動作化、リアルタイム処理、低消費電力化が可能となる。
本発明の一態様の周波数測定装置は、ローパスフィルター部等の回路を可及的に簡素化し、回路動作の高速化と低消費電力化を可能とした周波数測定装置を提供するものである。
また、本発明の一態様の周波数測定装置は、被測定信号が2値レベルであるパルス列信号(例えば、ビットストリーム信号)であるとき、当該周波数測定装置をより簡易に構成することを可能としたものである。
また、本発明の一態様の周波数測定装置は、出力をビットストリーム化(シリアルデジタル出力化)した周波数測定装置において、二段以上のフィルターよりなるローパスフィルター部等の回路を可及的に簡素化し、回路動作の高速化と低電力化を可能としたものである。
本発明の周波数測定装置の実施態様一つは、パルス信号を含む信号(被測定信号)を所定の時間で計数し、上記パルス信号を含む信号の周波数に対応した2値の計数値を出力するカウンター部と、上記計数値をフィルタリング処理する、ローパスフィルター部と、を備え、上記ローパスフィルター部は、第一段目のフィルター及び第二段目のフィルターを含み、上記第一段目のフィルターは、上記計数値が入力され、高周波成分を低減した2値の出力をなす移動平均フィルターであり、上記第二段目のフィルターは、上記2値の出力に対して平均値演算を行って高周波成分を低減した出力をなす。ここで、フィルタリング処理は、短ゲートタイムカウンター部の出力から不要成分(高周波成分)を取り除いて目的成分(被測定信号の周波数変化成分)を抽出する処理である。
かかる構成とすることによって、カウンターの入力部からローパスフィルターの一段目移動平均フィルターの出力部まで、信号の流れをビットストリーム化し、更にローパスフィルター部の平均値演算回数を減らして構成を簡易化することが可能となる。これにより、回路の簡易化、高速化、低消費電力化を図ることが可能となる。
上記一段目のフィルターの動作周波数よりも上記第二段目のフィルターの動作周波数が低いことが望ましい。一段目の移動平均フィルターによって高周波成分が減少するので、その後段のフィルターのサンプリング周波数(あるいは動作周波数)を下げてもフィルター特性の劣化は少ない。第二段目のフィルター出力の動作を第一段目のフィルター出力の動作よりも下げることによって回路の簡易化、低消費電力化が可能となる。
上記第二段目のフィルターは、移動平均フィルターであることが望ましい。
上記第二段目のフィルターは、区間平均値を計算するためのアップカウンターを含む、ことが望ましい。アップカウンターは加算のみであり、アップダウンカウンターのように減算を行わないので、回路構成が簡単であり、高速動作が可能である。
上記アップカウンターは、非同期カウンター又はグレイコードカウンターを含むことが望ましい。これ等カウンターはアップダウンカウンターよりも、回路構成が簡単で動作が速い。また、回路の消費電力が少なくて済む利点がある。
上記カウンター部の一部及び上記一段目の移動平均フィルターが、ラッチ回路と、シフトレジスタ回路と、排他的論理和回路によって構成される。それにより、簡易な回路構成で1ビットカウンター及び移動平均フィルターが簡易な構成で得られる。
上記周波数測定装置は、更に、上記カウンター部の出力端から上記ローパスフィルター部の出力端までの間に設けられて、供給される反転/非反転指令に応じて2値出力の列を反転又は非反転する反転/非反転調整部と、を備えることが望ましい。それにより、カウンターの2値出力が補数状態で出力された場合に修正されるので具合がよい。
また、本発明の周波数測定装置は、更に、被測定信号の周波数を増加又は減少させると共にこれに対応して上記カウンターから出力されるカウント値の増減方向を判別し、該判別結果に基づいて該カウンターのカウント値の正逆に対応した反転/非反転指令を出力する極性判別回路(判定部)とを含む。
被測定パルス列信号の周波数変化が少ない場合には1ビットのカウンターでカウンター部をより簡易に回路構成することが可能であるが、この場合には、カウントしている「0」と「1」の値が大小(真値)を意味しているのか、補数を意味するのかが不明であるので、極性判別回路によってパルス列信号の周波数を一方向に変化させ、これに対応してカウント値が増加したか減少したかを判別することによってカウント値の意味(真値か、補数値か)を判別可能とする。
上記二段目移動平均フィルターの後段に一段もしくは複数段の移動平均フィルターが設けられる、ことが望ましい。それにより、より良いローパスフィルター特性が得られる。
上記二段目移動平均フィルターの後段にDA変換部が設けられる、ことが望ましい。それにより、より良いローパスフィルター特性が得られる。
上述した周波数測定装置は、水晶振動子を用いたQCM(Quartz Crystal Microbalance)法を使用することで、振動子基板表面の微量の質量変化を周波数変化に変換するようにしたQCMデバイス、例えば、質量センサ、ニオイセンサ、ガスセンサ、バイオセンサ等に使用して好適である。
1ビット出力の短ゲートタイムカウンターの出力の正逆を補正する回路を備えた短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置の例を説明するブロック図である。 短ゲートタイムカウンターの回路簡略化の過程を説明する説明図である。 ビットストリーム構成の1ビットカウンターと移動平均フィルターの構成例を説明するブロック図である。 移動平均フィルターの構成例を示すブロック図である。 1ビット短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの等価回路化を説明するブロック図である。 1ビット短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの等価回路化を説明するブロック図である。 1ビット短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの等価回路化を説明する説明図である。 1ビット短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの等価回路化を説明する説明図である。 1ビット短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの等価回路化を説明する説明図である。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの出力例(周波数変化大の例)を示すグラフである。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの出力例(周波数変化小の例)を示すグラフである。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの出力例(タップ数調整例)を示すグラフである。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルターの出力例(サンプリング周波数調整例)を示すグラフである。 パターン雑音を説明する説明図である。 一段移動平均フィルター出力におけるダイナミックレンジを説明する説明図である。 一段移動平均フィルターの出力レンジとカウント値の対応を説明する説明図である。 一段移動平均フィルターの出力レンジの偶数奇数の対応を説明する説明図である。 一段移動平均フィルター出力レンジにおけるカウント値の正逆の対応を説明する説明図である。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルター+アナログフィルター構成の例を説明するブロック図である。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルター+アナログフィルターの出力例(動作点パラメータ0.336)を示すグラフである。 短ゲートカウンター+一段移動平均フィルター+アナログフィルターの出力例(動作点パラメータ調整例)を示すグラフである。 短ゲートカウンター+二段移動平均フィルター構成の例を説明するブロック図である。 短ゲートカウンター+二段移動平均フィルターの出力例(動作点パラメータ0.336)を説明するグラフである。 短ゲートカウンター+二段移動平均フィルターの出力例(動作点パラメータ調整例)を説明するグラフである。 ローパスフィルター部20の二段目移動平均フィルターを、アップダウンカウンターを使用して構成した例を示すブロック図である。 ローパスフィルター部20の二段移動平均フィルターの出力例を説明する説明図である。 不感期間のある場合の二段移動平均フィルターの出力例(区間平均値)を説明する説明図である。 不感期間のない場合の二段移動平均フィルターの出力例(区間平均値)を説明する説明図である。 二段目の移動平均フィルターを、アップカウンターを使用して構成した例を示すブロック図である。 図29の制御部の構成例を説明する説明図である。 二段目の移動平均フィルターにグレイカウンターを使用して構成した例を示すブロック図である。 ローパスフィルターに二段移動平均フィルターを使用した出力例を示すグラフである。 実施例の二段目の移動平均フィルターで間引きを行った場合の出力例を示すグラフである。 二段目の移動平均フィルターに非同期カウンターを使用して構成した例を示すブロック図である。 図34に示す構成における被測定周波数とアナログ出力例(不感期間無)を示すグラフである。 図34に示す構成における被測定周波数とアナログ出力例(不感期間無、不感期間有)を示すグラフである。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。
本発明の短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置では、被測定信号の入力部から一段移動平均フィルターの出力部までの信号の流れをビットストリーム化(2値信号の出力列)する。また、2値出力の回路で処理すべく、当該ビットストリーム部分において桁上げ、桁下げが生じないように、被測定信号周波数、サンプリング周波数、動作点パラメータ、一段移動平均フィルターのタップ数、ダイナミックレンジ等のパラメータが調整される。
後述するように、動作点パラメータは、次のように定義される。
動作点パラメータ=被測定周波数÷サンプリング周波数−Int(被測定周波数÷サンプリング周波数) ただし、Int(c)はcの整数部を返す関数である。定義式より、動作点パラメータの値は0〜1の間の値を取る。動作点パラメータはパターン雑音レベルに関係する。
ダイナミックレンジは「サンプリング周波数÷移動平均フィルターのタップ数」として定義する。ダイナミックレンジ内に被測定信号の周波数変化を収めれば、移動平均フィルターの出力に桁上がり(オーバーフロー)、桁下がり(アンダーフロー)が生じない。
(実施例1)
まず、本願で説明する短ゲートタイムカウント方式は、供給されるパルス列信号を短いゲート時間で連続的に計数して該パルス列信号の周波数に対応したパルス列状に振る舞う一連のカウント値を得て、この一連のカウント値から高周波成分を除去して供給されるパルス列信号の周波数に対応する一連の信号を得ることによって周波数変化を抽出するものである。かかる短ゲートタイムカウント方式の基本については、既述した特願2008−099721号に回路構成や動作について詳細に説明されている。また、1ビットカウンターで短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置を構成した例が特願2008−099728号に説明されている。
図1は、短ゲートタイムカウント方式を使用して1ビット(2値)出力のカウンターで周波数測定装置を構成する例を説明するブロック図である。
同図に示すように、短ゲートタイムカウンター部10、ローパスフィルター部20及び反転/非反転部80等によって周波数測定装置が構成されている。
短ゲートタイムカウンター部10は、図示しないQCMデバイスの水晶発振器などから供給される被測定信号(パルス列信号)の周波数を1ビット出力のカウンターで所定のゲート時間で連続的に計数してビットストリーム(一連の2値出力)の計数出力を発生する。信号源の周波数変化範囲が既知である場合、短ゲートカウンター部10のサンプリング周波数を適宜に設定することによって1ビットのカウンターにおいて桁上がりの生じない動作をさせることが可能である。このような条件下では、1ビットのカウンターで測定結果を得ることが出来る。
後述するように、例えば、簡略化された短ゲートタイムカウンター部10は、サンプリング周波数fsで動作するデータラッチと、1ビット出力の2進カウンターと、タップ数mの移動平均フィルターとを含んで構成される。
ローパスフィルター部20は、短ゲートタイムカウンター部10が出力するビットストリーム信号の計数出力から高周波成分を除去(フィルタ処理)して周波数変化に対応した計測値を出力する。フィルター処理は、その中に含まれている不要なものを取り除き、目的とする情報を取り出す処理である。
後述するように、1ビットカウンターの出力は、その「0」と「1」の列が計数値の大小に対応している場合(正出力の場合)と、出力値列が逆(補数)となっている場合(補数出力)とがある。これは、例えば、手動によって被測定信号の周波数を増加又は減少させ、これに対応して計数値が増加又は減少した場合には、出力値は入力周波数に正しく対応していると判別できる。また、被測定信号の周波数を増加又は減少させ、計数値が減少又は増加した場合には、出力値は補数出力になっていると判別できる。
反転/非反転部80は、上記極性の判別結果に基づいて短ゲートタイムカウンター部10の2値出力を反転又は非反転としてローパスフィルター部20に中継する。これにより、1ビットカウンターを用いた周波数測定装置であっても、正しい周波数計数値を得ることができる。
図1(B)は、上述したカウンター出力の補数判別・修正を自動的に行うようにした短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置の例を示している。
同図において、図1(A)と対応する部分には同一符号を付し、かかる部分の説明は省略する。
上述したように、1ビット出力の2進カウンターでサンプリングを行い、計数値を出力した場合には、1ビットの情報では、カウント値の0と1の出力がカウント値の大小に対応しているのか、補数の関係なのかを判断することが出来ない。そこで、この実施例ではビット判定部70を更に設けている。他の構成は図1(A)と同様である。
判定部70は、例えば、コンピュータシステムに制御プログラムによって実行される機能として構成される。判定部70(より正確にはコンピュータ)は所定イベントの発生に応じて動作する。判定部70は、まず、up/down信号によって信号源10の発振周波数を増減させる。これに対応してローパスフィルター部20の出力が増減する場合には、カウンター部10の「0」と「1」の出力がカウント値の大小に対応していると判別する。
また、信号源10の発振周波数を増減させ、これに対応してローパスフィルターの出力が減増する場合には、カウンター部10の「0」と「1」の出力が補数の関係(出力が逆)になっていると判別する。補数の関係になっている場合には、判定部70は補数判別信号を反転/非反転部80に与え、カウンター部10の「0」と「1」の出力を反転させてローパスフィルター部20に中継させる。
なお、判定部70がモニタする出力は、ローパスフィルター部20の出力の他、カウンター部10の出力や反転/非反転部80の出力であっても良い。
次に、1ビット(2値)出力のカウンターを使用する短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置の回路簡略化について説明する。
図2(A)乃至同図(G)は、周波数測定装置の回路簡易化過程の各段階を示している。各図において対応する部分には同一符号を付し、かかる部分の説明は省略する。
まず、図2(A)に示すように、基本的な短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置は、被測定信号(QCMデバイスの水晶発振器等から供給されるパルス列信号)を所定サンプリング周波数で計数するkビット出力のカウンター部10と、カウンター部10が出力する連続的なカウント値列から高周波成分を除いて周波変化成分を抽出するローパスフィルター部20を備えている。
同図(B)は、短ゲートタイムカウンター部10が1ビット出力カウンターで構成されている。被測定信号の周波数変化範囲は既知であるか、余裕を見た十分大きい変化範囲(変化範囲がaで範囲幅のバラツキがbであるとき、例えば、a+3b等)を仮定する。例えば、既述QCMデバイスの水晶発振器等では予め周波数変化範囲が判っているものがある。このため、後述するように、計数結果に桁上がり、桁下がりが生じないようにサンプリング周波数が予め選定(周波数変化範囲<サンプリング周波数)されている。この条件下では、短ゲートタイムカウンター部10として1ビットカウンターを使用することができる。1ビットカウンター10の連続な2値の出力をローパスフィルター部20で信号処理する。
同図(C)に示すように、1ビットのカウンターは、例えば、サンプリング周波数で動作するラッチ11と、1ビットのカウンターとして機能するカウント計算部12によって構成することができる。1ビットのカウンターは、保持値が「0」のときに「0」が入力されると、出力は「0」、保持値が「0」のときに「1」が入力されると、出力は「1」、保持値が「1」のときに「0」が入力されると、出力は「1」、保持値が「1」のときに「1」が入力されると、出力は「0」となる。ローパスフィルター部20は、例えば、3段の移動平均フィルター21〜23によって構成することができる。
同図(D)に示すように、ローパスフィルター部20の三段移動平均フィルター21〜23のうち一段目21を1ビットカウンター部10側に移動しても回路的に同じである。
同図(E)に示すように、残りのローパスフィルター部20はローパスフィルターとして機能するものであればよい。後述するように、デジタルフィルターでもアナログフィルターであっても所要の特性が得られればよい。
図3は、図2(C)乃至同図(E)に示した、ラッチ部11、カウント値計算部12、移動平均フィルター21の具体的な構成例を示している。1ビットカウンターは、1個のラッチ11、1個のレジスタz-1と1個の排他的論理和回路によって構成することができる。移動平均フィルター21は、1ビットmタップ(m段)のシフトレジスタz-mとアップダウンカウンターによって構成することができる(後述の図4)。
図2(F)は、上述した、カウント値計算部12と移動平均フィルター21とを簡略化した、後述のカウント/フィルター部13で構成した例を示している。
更に、同図(G)に示すように、1ビット出力のカウンター部10を使用する場合(あるいは2値信号のビットストリームで信号処理をする場合)には、出力が補数状態となる場合があるので、カウント/フィルター部13の後段(一段目移動平均フィルターの出力に相当)に前述した反転/非反転部80を設け、適宜にカウント出力の反転/非反転を行うようにしている。反転/非反転部80の動作は、判定部70によって制御される(図1参照)。このようにして、正しい計数値出力を維持することができる。
同図(H)は、反転/非反転部80をカウント値計算部12と移動平均フィルター部21との間に設けた例を示している。また、図示しないが、反転/非反転部80をローパスフィルター部20の後段に設けても良い。このように、反転/非反転部80は都合の良い位置に配置することができる。
図4は、移動平均フィルター21の構成例を示している。移動平均フィルター21は、1ビットmタップ(m段)のシフトレジスタz-mと、カウント値計算部12の出力を増加入力(+)に受け、シフトレジスタz-mの出力を減少入力(−)に受けるアップダウンカウンターとによって構成することができる。
図5(A)は、図4に示される移動平均フィルター(アップダウンカウンター形式)21を、mタップのシフトレジスタ、排他的論理和回路、1タップのシフトレジスタ、排他的論理和回路、によって構成した例を示している。ビットストリーム演算の場合、インクリメントとデクリメントは同じ結果となることから、アップダウンカウンターは排他的論理和と等価である。
更に、同図(B)は、同図(A)のカウント値計算部12及び移動平均フィルター21の部分を、その等価回路であるmタップのシフトレジスタz-mと排他的論理和回路とに置き換えた例を示している。
図6乃至図9は、図5(A)の論理回路と同図(B)の論理回路が等価であることを説明する図である。図6(A)及び同図(B)に示すように各部の信号A(i)〜J(i)を設定すると、図9に示すように、G(i)=A(i)+A(i−n)=J(i)として求められる。
この結果を利用すると、図2(F)に示したように、カウント計算部12と移動平均フィルター21の機能を、同等機能を有する簡略化されたカウント/フィルター回路13(図5(B))に置き換えることができる。
次に、上述したビットストリーム(シリアルデジタルデータ)信号を処理する短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置において選定すべきパラメータ(ダイナミックレンジ、動作点パラメータ)について説明する。ダイナミックレンジは短ゲートタイムカウント方式のカウンター部10における、桁上がり・桁下がりの発生に関連する。動作点パラメータはパターン雑音の発生・雑音レベルに関連する。
まず、ビットストリーム信号処理において桁上がり、桁下がりが生じない条件について説明する。
図10は、図2(E)に示す、短ゲートタイムカウンター部(1ビットカウンター+一段移動平均フィルター)10において、例えば、サンプリング周波数1kHz、動作点パラメータ0.283付近、一段目移動平均フィルター21のタップ数100とした場合の、出力例(一段移動平均フィルター)を示している。図示のように比較的に大きい周波数変化の被測定信号(図中に太い実線で示されている。)が入力されると、桁変動が生じ、図中に細線で示されるように出力は多値に及ぶ。
このような桁変動が生じる条件は、「被測定信号周波数変化>一段目移動平均フィルターのダイナミックレンジ」である。この場合、ダイナミックレンジは「サンプリング周波数÷移動平均フィルターのタップ数」で表される。
これを図10の例に当てはめてみると、周波数変化は約25Hz、サンプリング周波数は1kHz、タップ数は100である。ダイナミックレンジは、1kHz÷100=10Hzとなる。周波数変化約25Hz>ダイナミックレンジ10Hzより、移動平均フィルター出力は多値に及ぶ。
図11は、被測定信号の周波数変化が比較的に少ない場合の例を示している。他は図10の場合と同条件である。移動平均フィルター部21の出力は2値に収まっている。このような桁変動が生じない条件は、「被測定信号の周波数変化<一段移動平均フィルターのダイナミックレンジ」である。この条件を満たすことによって、ビットストリーム(2値信号列)として信号を処理することができる。
具体的に当てはめてみると、周波数変化は約7Hzである。周波数変化約7Hz<ダイナミックレンジ10Hzであることから、上の必要条件を満たしており、移動平均フィルター21の出力値を2値に収めることができる。
図12は、図10の被測定信号の周波数変化測定において、タップ数を減らすことでビットストリーム化に対処した例を示す。移動平均フィルターのタップ数を100から25に減らすことで、1kHz÷25=40Hzとし、ダイナミックレンジを10Hzから40Hzに上げて上記必要条件を満たしている。
図13は、図10の被測定信号の周波数変化測定において、サンプリング周波数を増加することでビットストリーム化に対処した例を示す。カウンター及び移動平均フィルターの動作を1kHzから3kHzに引き上げ、3kHz÷100=30Hzとし、ダイナミックレンジを10Hzから30Hzに上げて上記必要条件を満たしている。
以上説明したように、短ゲートカウント法では、ダイナミックレンジに関連するパラメータを適切に選択することによって、桁変化が生じないようにすることができる。被測定信号周波数がダイナミックレンジ内に収まり、カウント値は2値となり、情報はビットストリームで表現することができる。
ダイナミックレンジに関連するパラメータとしては、被測定信号周波数、サンプリング周波数fs、一段移動平均フィルター21のタップ数m、などがある。
図14は、短ゲートタイムカウント法におけるパターン雑音強度分布の動作点パラメータ依存性の例を示している。
前述したように、動作点パラメータは「被測定周波数÷サンプリング周波数−Int(被測定周波数÷サンプリング周波数)として定義される。ただし、Int(c)はcの整数部を返す関数である。
定義式より、動作点パラメータは0〜1の間の値を取ることがわかる。短ゲートタイムカウント方式では、出力にパターン雑音の発生が見られる。パターン雑音の強度は動作点パラメータの複雑な関数であり、動作点パラメータ0.5で対称性を持つ。すなわち、動作点パラメータ0.5−dにおけるパターン雑音強度は、動作点パラメータ0.5+dにおけるパターン雑音強度に等しいという性質がある(0<d≦0.5)。
そこで、図14は、雑音強度と動作点パラメータの関係は、動作点パラメータ0〜0.5の範囲で示している。
同図から判るように、動作点パラメータ(被測定周波数とサンプリング周波数の比)が単純な有理数値に近い場合、大きなパターン雑音が発生する。1次ΔΣ変調においては、出力が周期的系列を生成するような入力値があり、これに近い入力が加えられた場合に発生するパターン雑音が知られているが、これと同じアナロジーである。
しかしながら、ΔΣ変調時におけるパターン雑音の回避方法と、短ゲートタイムカウント方式におけるパターン雑音の回避方法では、その思想が異なる。
ΔΣ変調の場合、パターン雑音自体を抑制するために高次の構成や多段の構成とする工夫がなされる。これは、ΔΣ変調を用いたAD変換器ではダイナミックレンジと同程度の入力信号変化を扱うことに起因する。短ゲートタイムカウント方式の場合、入力信号変化の幅をダイナミックレンジに対してある範囲に収まるように設計することが可能であるため、構成を変更することなく、動作点パラメータの範囲を適宜選ぶことにより有害なパターン雑音を回避することができる。
上記2値化の条件選択に際しては、動作点パラメータも適切になるようにパラメータを選ぶことでSN比を改善することができることが判る。
次に、図15乃至図18を参照して、上述した、短ゲートタイムカウンター方式の短ゲートカウント出力の反転について説明する。
を補足する。
図15は、既述した、短ゲートカウント出力及び一段移動平均フィルター出力をビットストリームとして扱う場合の、サンプリング周波数と移動平均フィルタータップ数とダイナミックレンジの関係を説明するグラフである。
図示のグラフの横軸は時間(秒)、縦軸は周波数シフト(Hz)である。グラフ中には、ゲート時間を0.1秒(サンプリング周波数10Hz)としたときの、短ゲートカウンターの出力(サンプリング周波数の下限値と上限値との間に細線で示されるパルス状の出力)、移動平均フィルター(タップ数5)の出力(太線で示されるパルス状の出力)、ローパスフィルターの出力(パルス列内の曲線に示される移動平均フィルターの出力)を示している。以下の図16乃至図18においても同じである。
既述のように、ダイナミックレンジが「ダイナミックレンジ=サンプリング周波数÷移動平均フィルターのタップ数」として定義される。この例では、ダイナミックレンジは2(=10÷5)である。このダイナミックレンジ内に被測定信号の周波数変動が収まっていれば、カウンターに桁上がり桁下がりが生じず、カウンター出力(一段移動平均フィルタ出力)は2値出力状態となってビットストリームの出力となる。これは、被測定信号の周波数に対してサンプリング周波数と移動平均フィルターのタップ数の選定によって実現できる。短ゲートタイムカウンター及び一段移動平均フィルターの部分の信号をビットストリームとすることによって、上述したように同部分の回路構成を論理ゲートなどによって簡略化することができる。後続する回路もデジタル(2値)回路で処理できるので簡略化することができる。
図16乃至図18は、カウンターの2値出力が補数かどうかを判別する他の手順を説明するものである。
まず、図16は、短ゲートカウント値と移動平均フィルターの出力値の例(カウント値と移動平均値を整数として扱う場合)を示している。
例えば、120Hz〜130Hzの間で変化する被測定信号をゲート時間0.1秒(サンプリング周波数10Hz)で測定した場合、短ゲートカウント値は12又は13となる。移動平均の計算は、区間内のカウント値の和をタップ数で除したものであるが、スケーリングを考えない場合はタップ数で除さなくとも良い。タップ数が5の場合、移動平均値として60〜65の値のいずれかが出力される。
図17は、短ゲートカウント値と移動平均フィルターの出力値の例(カウント値と移動平均値をビットストリームとして扱う場合)を示している。ビットストリームとして扱う場合には、2値に置き換える。すなわち、図16のグラフの右側に示された、「13」→「1」、「12」→「0」、「65」→「1」、「64」→「0」、…、「60」→「0」のように置き換えられる。
図18は、移動平均フィルターの出力値の例(カウント値と移動平均値をビットストリームとして扱う場合)を示している。同図のグラフの右側には、図17中の「1」、「0」、…、「0」に対応して、移動平均フィルターの出力値の各レンジに「OK」、「補数」、「OK」、…、「OK」が記載されている。
図16と図18とを比較すると、被測定周波数(図16の右側欄)がどこのレンジ内に収まるかにより、移動平均フィルターの出力値の大小関係が被測定周波数の増減関係と対応しているか、反転しているかが判る(図18の右側欄)。
(実施例2)
図19は、ローパスフィルター部20の他の構成例を示している。この例では、カウントフィルター計算部(1ビットカウンター+移動平均フィルターの機能)13の後段に公知のアナログローパスフィルターを接続することによってアナログのレベル出力が得られる。
図20は、パラメータをサンプリング周波数3kHz、動作点パラメータ0.336付近、に設定した場合の上記アナログフィルターの出力例である。被測定信号と比べると、歪みがある。
図21は、動作点パラメータ0.283付近とし、他を図20の場合と同条件とした場合の上記アナログフィルターの出力例を示している。略被測定信号と同じ出力が得られている。図20及び図21を比べると、動作点パラメータにより、SN比が異なることがわかる。
上記図19に示すような、デジタルフィルター(例えば、移動平均フィルター21)とアナログフィルターとを用いるハイブリッドフィルターの利点について検討する。
フィルター処理をデジタルで処理する場合、情報の劣化が無く高SN比を確保できるが、計算に必要な情報を保持するためのメモリが必要となる。
アナログフィルターの場合、デジタルフィルターで必要であったメモリ部が省略できるため回路が単純化できるというメリットがあるが、高いサンプリング周波数を用いる際は被測定信号の変化量に対し大きく変化する信号を扱うことになるため、非線形ひずみ対策に工夫が必要な場合が出てくることがあり、これを補正するための回路が複雑化する。また、ダイナミックレンジに対し信号変化が小さいと、高SN比を確保することが本質的に困難となる。
ハイブリッドフィルターでは、デジタルフィルターの出力をアナログフィルターに入力する構成とする。この場合、2レベルで大きく変化する信号がデジタルフィルター(ここでは移動平均フィルター)により小さいステップサイズに変換されるので、アナログフィルターの設計が容易になる、高SN比が確保できる、デジタルフィルターに高い性能も必要としないためデジタルフィルター部の構成が容易となる、等のメリットがある。
(実施例3)
図22は、上記一段移動平均フィルター21(カウント/フィルター回路13)の後段に、mタップのシフトレジスタz-mとアップダウンカウンターを用いた二段目の移動平均フィルター22を設けて二段移動平均フィルター構成でデジタル出力を得るようにした例を示している。アップダウンカウンターまではビットストリームで信号が伝送され、アップダウンカウンターで複数ビットの出力となる。デジタル出力は、Int(log2m+1)ビットとなる。
図23は、サンプリング周波数3kHz、動作点パラメータ0.336、二段移動平均フィルターのタップ数200とした場合のデジタルフィルターの出力例を示している。被測定信号に比べるとノイズが大きいことが判る。
図24は、動作点パラメータを0.283とし、他の条件を同じとした場合でのデジタルフィルターの出力例を示している。ノイズが減少していることが判る。このように、動作点パラメータの選択によって、SN比が異なることがわかる。
図25は、図22の構成においてアナログ出力を得たい場合の回路構成例を示している。同図に示すように、二段目の移動平均フィルターのアップダウンカウンター22aの出力にDA変換器30を接続することによってアナログ出力の周波数変位を得ている。
(実施例4)
上述した実施例では、1ビットカウンター12(短ゲートタイムカウンター部10)と移動平均フィルター21(ローパスフィルター部20)とを組み合わせて、回路構成を簡略化したカウント/フィルター部13を構成している。更に、上述したローパスフィルター部の第二段目以降の移動平均フィルター22、23も簡略化できれば具合がよい(図2参照)。
実施例では、周波数変位の検出帯域がサンプリング周波数に比べて低周波であることから、二段目移動平均フィルターの出力値の全ての値が必要なわけではない。すなわち要求仕様によっては二段目移動平均フィルターの出力値は間欠的で十分な場合がある。
ここで、ある期間(nクロック期間)における一段目移動平均フィルター出力をカウントした値は、二段目移動平均フィルター(nタップ)の出力の瞬時値と等価であることから、間欠的な出力で十分な場合はアップカウンターを採用することができる。後述のように、このときのカウントには不感期間が生じても良いので、カウンターとして一番単純な非同期アップカウンターを採用することもできるし、低電力化を優先させる場合はグレイカウンターを採用すれば良い。いずれも図25のアップダウンカウンター22aに比べると回路構成は単純化・簡単化される。
一方、アップカウンターに不感期間を設けない構成とすると、ノイズシェーピングを機能させることができるため、三段目移動平均フィルター出力値の精度を改善することが可能である。このことは、ここで得られる二段移動平均フィルター出力をさらに後段でフィルター処理する場合等に特に効果がある。
図26乃至図28は、二段目の移動平均フィルター22の構成を簡略化するための説明図ある。短ゲートタイムカウント法においては、短ゲートタイムカウンター10は不感期間のないカウンターが使用される。不感期間とは、カウンターのリセット期間のように入力信号を測定できない期間である。不感期間のないカウンターは、例えば、計数期間とリセット期間とをシフトした2つのカウンターを交互に動作させることによって実現することができる(既述特願2008−099721号を参照されたい。)。
種々検討の結果、短ゲートタイムカウンター及び一段目移動平均フィルターにおいては、不感期間のない動作が必要であるが、二段目以降の移動平均フィルターでは、不感期間があっても出力特性に影響が少ないことが判った。これは、一段目(前段の)移動平均フィルターによって出力中の高周波成分が減少したため、二段目(後段の)移動平均フィルターではサンプリング周波数を下げても影響が少ないためと考えられる。このような傾向を利用すれば、ローパスフィルター回路をより簡易に構成することができる。
図26は、ローパスフィルター部20を構成する多段(二段)移動平均フィルターの出力関係を概略的に説明する説明図である。なお、同図では説明の便宜のため、10進数で示している。
この例では、計測の対象となるパルス列信号の周波数が123.34Hzを維持している状態から124.7Hzに徐々に変化するものとする。まず、ゲート時間0.1秒でサンプリングすると、カウンター10から、12または13の計数値がある割合で送られる。10個のデータのトータルの3つの組は124、123、125…となって124.7Hz方向に値が移動する。ここで、12または13の計数値の10個(タップ数10)を移動平均計算の対象とする(一段目の移動平均)。一段目の移動平均値より、右方向に移動するにつれて数値が増えたデータの出現が増加することがわかる。更に、一段目の移動平均値を入力として二段目の移動平均(タップ数10)の計算を行うとこの傾向は強められ、精度も向上する。移動平均フィルターを多段用いることは、ローパスフィルターの特性である減衰傾度を急峻にすることに相当し、同時に12または13からなるパルス列の周波数スペクトルから高域成分を取り除くことに相当する。
図27は、二段目の移動平均フィルターで一段目の移動平均フィルターの出力をカウントする際に、ある区間の平均値演算段階において、不感期間がある場合の例を示している。図26と図27とを対比すると、ある区間のカウント値は、移動平均フィルターの出力値を間引いた値(平均値出力回数を減らした場合の平均出力値)と等価であることが判る。
図28は、二段目の移動平均フィルターで一段目の移動平均フィルターの出力をカウント(区間平均値演算)する際に、不感期間がない場合の例を示している。図27と同様、移動平均フィルター出力値を間引いた値と等価である。二段移動平均フィルター出力値を間欠的に得ることが目的である場合、その値を得るためのカウンターの不感期間の有無は、得られる値の精度には関係ないことがわかる(間引くタイミングがシフトするだけなので)。従って、不感期間があるカウンターを使用することができる。後述のように、回路構成が簡単で高速動作であるが、リセット期間のあるアップカウンターを使用することができる。アップカウンターは非同期カウンターであっても良い。また、アップカウンターはグレイカウンターなどであっても良い。
なお、二段移動平均フィルターの出力値を間欠的に得た後にさらなる信号処理(三段目の移動平均フィルター等)を施すような場合、不感期間の有無は結果に影響を与える場合がある。また、不感期間があるとノイズシェーピング効果(高い周波数で被測定信号をサンプリング(量子化)することにより、低域のノイズが広帯域に分散されることによってSNが向上する効果)が得られなくなるので、出力値の間引きは用途によって適宜に選択する。
図29は、上記の着目により構成した二段目移動平均フィルター22の変形例を示している。この例では、図25にて示した移動平均フィルター22のn段シフトレジスタz-nとアップダウンカウンター22aがアップカウンター22bと制御部22cによって構成されている。また、DA変換器30の動作タイミングが制御部22cによって調整されている。制御部22cは、アップカウンター22bにnクロック区間に入力されたカウント値を保持させ、DA変換器30に出力させる。その後、アップカウンター22bをリセットする。
図30は、制御部22cの動作を説明するものであり、同図(A)に示すように、制御部22cの機能はタイミング発生器210とタイミング調整器212によって構成されている。なお、マイクロコンピュータによって同様の制御を行うことができる。同図(B)は、タイミング発生器210とタイミング調整器212から出力される各種制御信号のタイミングチャートである。
アップカウンター22bは、Enable信号がHighの場合、入力信号がHighであればクロックに合わせてカウントアップする。Enable信号がLowの場合、カウント値を保持する。Reset信号が入力されると、カウント値をリセットする。DA変換器30は、Trigger信号が入力されるとBusy信号をHighにした後、カウント値を読み出す。カウント値に応じたアナログ値を出力し、Busy信号をLowにする。タイミング発生器210は、アップカウンター22cのカウント期間を規定する信号(Enable信号)を生成する。nカウント区間に相当する時間だけHighを出力する。タイミング発生器210は、例えば、クロック分周回路で構成できる。タイミング調整器212は、タイミング発生器のEnable信号がLowになると、ある設定時間(カウント値が確定するに十分な時間)後にTrigger信号を出力する。DA変換器30からのBusy信号がHighからLowに切り替わるのを受けて、Reset信号を出力する(Busy線を省略し、Trigger出力から一定時間後にResetを出力する構成でも良い)。このような動作を繰り返して、アップカウンター22bによる計数が行われる。
(実施例5)
図31は、上述した移動平均フィルター22に代えてグレイカウンター22dを使用した例を示している。グレイカウンターは、出力信号のビット変化が常に、1ビットであるカウンターである。このため、消費電力が少ない利点がある。グレイコードカウンターの保持値は復調器22eによってカウント値に戻される。グレイコードカウンター22d及び復調器22eは制御部22cによって動作が制御される。
図32は、二段移動平均フィルター(一段目タップ数100、二段目タップ数64)を使用した短ゲートタイムカウンターの比較例(図24)を示している。サンプリング周波数1kHz、動作点パラメータ0.290に設定されている。
図33は、二段目の移動平均フィルターとしてグレイカウンター22dを使用した例を示している。サンプリング周波数1kHz、動作点パラメータ0.290に設定されている。同図中の細点線は被測定信号を、太実線は既述「不感期間なし」の例を、太点線は既述「不感期間あり」の例を示している。二段移動平均フィルターの比較例(図22)と比較して消費電力が低下した。SN比は不感期間の有無にかかわらず、比較例と同等である。
なお、グレイカウンターと後続の非同期カウンターとを比較すると、カウンター部の消費電力は、グレイカウンターの方が小さく、1/3程度まで抑制された。
(実施例6)
図34は、上述した二段目移動平均フィルターのアップダウンカウンター22aに代えて非同期カウンター22fを使用した例を示している。また、DA変換器30の出力を、アナログローパスフィルター22gを介することにより、アナログの周波数変位を出力している。非同期カウンター22fは、同期カウンターが各桁の出力がクロック信号に同期して同時に出力されるのに対し、出力が入力に応じて変化する。非同期カウンター22fは、同期カウンターよりも回路構成が簡単である利点がある。
図35は、図34に示す構成のローパスフィルター22gから出力されるアナログ出力と被測定周波数の例(不感期間なし)を示している。サンプリング周波数は1kHz、動作点パラメータは0.290、アップカウンターのカウント期間64区間である。
図36は、図35に示す不感期間なしの例(太実線)に6区間(10%)の不感期間を設けた例(太点線)を示している。不感期間なしの条件での出力結果においてノイズシェーピングの効果が確認できる。
上述した各実例の周波数測定装置においては、既述した入力信号周波数の増減と出力レベルの増減の対応を判別する等によって、周波数測定出力の極性は適宜に修正される。
以上説明したように、本発明の実施例では、ビットストリーム化(2値信号化)された短ゲートカウント部+一段移動平均フィルター部の構成を使用しているので、ビットストリーム化されていない場合と比較して回路構成を簡単化することができ、高速動作が可能である。また、高速動作によって測定分解能が向上し、回路構成の簡単化によって消費電力を抑制することが可能である。
また、ビットストリーム化された短ゲートカウント部+一段移動平均フィルター部の構成が等価回路によって簡単化され、回路面積が減り、消費電力の抑制が図られる。
また、短ゲートカウント部+一段移動平均フィルター部の構成において、サンプリング周波数とタップ数を適切に選択する(ダイナミックレンジを適切に選定する)ことによって出力を2値出力とすることができ、当該構成における信号をビットストリーム化することができる。また、動作点パラメータの選択を適切に行うことによって、ビットストリーム化した際のパターン雑音の影響を低減できる。
また、短ゲートカウント部+一段移動平均フィルター部+アナログフィルター部の構成とすることによって、簡単な構成で高分解能なアナログ出力を得ることができる。
また、短ゲートカウント部+一段移動平均フィルター部+アップダウンカウンターの構成とすることによって、簡単な構成で二段移動平均フィルター出力(デジタル出力)を得ることができる。
また、ビットストリーム化された短ゲートカウント部+一段移動平均フィルター部+アップカウンターの構成とすることによって、「短ゲートカウント+二段移動平均フィルター」の構成に比べ、構成が容易となる。
上記アップカウンターとして、非同期カウンター、グレイカウンター、を使用することができる。非同期カウンターは、アップカウンターの中ではもっとも回路が簡単である。グレイカウンターは、一度のカウントで高々1ビットしか変化しないので、低電力化が図られる。
上記構成+DA変換器によるアナログ出力とすることができる。それにより、簡単な構成で高分解能なアナログ出力を得ることができる。低速のサンプリングレートで良いので、DA変換回路に要求される性能を下げることができる。
入力パルス列信号のカウントに不感期間があっても良い。不感期間を設ける場合には、カウンター回路をリセットすることができ、回路構成が簡素化される。
入力パルス列信号のカウントに不感期間を設けない場合には、短ゲートタイムカウントによるノイズシェーピングを機能させることができるため、二段目移動平均フィルター出力値の精度を改善することが可能である。このことは、ここで得られる二段移動平均フィルター出力を後段でさらにフィルター処理する場合などに特に効果がある。
上述した周波数測定装置は、回路規模が小さく実装が容易なため、装置を小型化・高精度化・軽量化・低コスト化できる。例えば、水晶を用いた各種センサの小型化・高分解能化に好適である。水晶を用いた各種センサの集積化・プラットフォーム化に好適である。
ニオイセンサ、ガスセンサ、バイオセンサ用トランスデューサアレイ、QCMデバイス等に使用して好適である。
本発明のパルス列信号の周波数を測定する、短ゲートタイムカウンター部とローパスフィルター部を備える周波数測定装置によれば、ローパスフィルター部を複数段構成の移動平均フィルターとし、一段目(前段)の移動平均フィルターの動作周波数よりも第二段目(後段)のフィルターの動作周波数が低い(間欠的動作)。一段目の移動平均フィルターによってフィルター出力中の高周波成分が減少するので、その後段のフィルターのサンプリング周波数(動作周波数)を下げてもフィルター特性の劣化は少ない。第二段目(後段)のフィルター出力の動作を第一段目(前段)のフィルター出力の動作周波数よりも下げることによって回路の簡易化、低消費電力化が可能となる。
10 短ゲートタイムカウンター部、13 カウント/フィルター部、20 ローパスフィルター部、50 アップカウンター部、70 判定部、80 反転非反転部
本発明の周波数測定装置の実施態様の一つは、パルス信号を含む被測定信号を所定のサンプリング周波数で計数し、上記パルス信号を含む被測定信号の周波数に対応した2値の計数値を出力するカウンター部と、上記2値の計数値をフィルタリング処理するローパスフィルター部と、上記カウンター部と上記ローパスフィルター部との間に設けられて、上記被測定信号の周波数の増減に対応した上記ローパスフィルター部の出力の増減方向に基づく反転/非反転指令に応じて上記2値の計数値を反転又は非反転させる反転/非反転調整部と、を備え、上記ローパスフィルター部は、第一及び第二段目の移動平均フィルターを含み、上記第一段目の移動平均フィルターは、上記計数値が入力され、高周波成分を低減した2値の出力をなし、上記カウンター部の所定のサンプリング周波数が上記被測定信号の周波数の変化幅より大きく、かつ上記サンプリング周波数を上記第一段目の移動平均フィルターのタップ数で割り算した値が上記被測定信号の周波数の変化幅よりも大きくなるように設定され、上記第二段目の移動平均フィルターは、上記第一段目の移動平均フィルターが出力する2値出力の列に対して平均値演算を行って、上記第一段目の移動平均フィルターと共に上記ローパスフィルター部全体のフィルタ特性を設定する
参考例の周波数測定装置の実施態様の一つは、パルス信号を含む信号(被測定信号)を所定の時間で計数し、上記パルス信号を含む信号の周波数に対応した2値の計数値を出力するカウンター部と、上記計数値をフィルタリング処理する、ローパスフィルター部と、を備え、上記ローパスフィルター部は、第一段目のフィルター及び第二段目のフィルターを含み、上記第一段目のフィルターは、上記計数値が入力され、高周波成分を低減した2値の出力をなす移動平均フィルターであり、上記第二段目のフィルターは、上記2値の出力に対して平均値演算を行って高周波成分を低減した出力をなす。ここで、フィルタリング処理は、短ゲートタイムカウンター部の出力から不要成分(高周波成分)を取り除いて目的成分(被測定信号の周波数変化成分)を抽出する処理である。
ダイナミックレンジは「サンプリング周波数÷移動平均フィルターのタップ数」として定義する。ダイナミックレンジ内に被測定信号の周波数変化を収めれば、移動平均フィルターの出力に桁上がり(オーバーフロー)、桁下がり(アンダーフロー)が生じない。
同図(B)は、短ゲートタイムカウンター部10が1ビット出力カウンターで構成されている。被測定信号の周波数変化範囲(周波数変化幅)は既知であるか、余裕を見た十分大きい変化範囲(変化範囲がaで範囲幅のバラツキがbであるとき、例えば、a+3b等)を仮定する。例えば、既述QCMデバイスの水晶発振器等では予め周波数変化範囲が判っているものがある。このため、後述するように、計数結果に桁上がり、桁下がりが生じないようにサンプリング周波数が予め選定(周波数変化範囲<サンプリング周波数)されている。この条件下では、短ゲートタイムカウンター部10として1ビットカウンターを使用することができる。1ビットカウンター10の連続な2値の出力をローパスフィルター部20で信号処理する。
このような桁変動が生じる条件は、「被測定信号周波数変化>一段目移動平均フィルターのダイナミックレンジ」である。この場合、ダイナミックレンジは「サンプリング周波数÷移動平均フィルターのタップ数」で表される。
図11は、被測定信号の周波数変化が比較的に少ない場合の例を示している。他は図10の場合と同条件である。移動平均フィルター部21の出力は2値に収まっている。このような桁変動が生じない条件は、「被測定信号の周波数変化<一段移動平均フィルターのダイナミックレンジ」である。この条件を満たすことによって、ビットストリーム(2値信号列)として信号を処理することができる。

Claims (9)

  1. パルス信号を含む信号を所定の時間で計数し、前記パルス信号を含む信号の周波数に対した2値の計数値を出力するカウンター部と、
    前記計数値をフィルタリング処理する、ローパスフィルター部と、を備え、
    前記ローパスフィルター部は、
    第一段目のフィルター及び第二段目のフィルターを含み、
    前記第一段目のフィルターは、前記計数値が入力され、高周波成分を低減した2値の出力をなす移動平均フィルターであり、
    前記第二段目のフィルターは、前記2値の出力に対して平均値演算を行って高周波成分を低減した出力をなす、
    周波数測定装置。
  2. 前記第一段目のフィルターの動作周波数よりも前記第二段目のフィルターの出力動作周波数が低い、請求項1に記載の周波数測定装置。
  3. 前記第二段目のフィルターは、移動平均フィルターである、請求項1又は2に記載の周波数測定装置。
  4. 前記第二段目のフィルターは、区間平均値を計算するためのアップカウンターを含む、請求項1乃至3のいずれかに記載の周波数測定装置。
  5. 前記アップカウンターは、非同期カウンター又はグレイコードカウンターを含む、請求項4に記載の周波数測定装置。
  6. 前記カウンター部の一部及び前記第一段目の移動平均フィルターが、ラッチ回路と、シフトレジスタ回路と、排他的論理和回路とによって構成される、請求項1乃至5のいずれかに記載の周波数測定装置。
  7. 更に、前記カウンター部の出力端から前記ローパスフィルター部の出力端までの間に設けられて、供給される反転指令に応じて2値出力の列を反転又は非反転する反転/非反転調整部と、を備える請求項1乃至3のいずれかに記載のいずれかに記載の周波数測定装置。
  8. 前記第二段目のフィルターの後段に、更に、一段もしくは複数段の移動平均フィルターが設けられる、請求項1乃至7のいずれかに記載の周波数測定装置。
  9. 前記第二段目の移動平均フィルターの後段にDA変換部が設けられる、請求項1乃至7のいずれかに記載の周波数測定装置。
JP2013239872A 2009-05-22 2013-11-20 周波数測定装置 Expired - Fee Related JP5877188B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009123749A JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2009-05-22 周波数測定装置
US12/783,900 US8664933B2 (en) 2009-05-22 2010-05-20 Frequency measuring apparatus
CN201010184264.9A CN101893658B (zh) 2009-05-22 2010-05-21 频率测量装置
JP2013239872A JP5877188B2 (ja) 2009-05-22 2013-11-20 周波数測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009123749A JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2009-05-22 周波数測定装置
JP2013239872A JP5877188B2 (ja) 2009-05-22 2013-11-20 周波数測定装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009123749A Division JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2009-05-22 周波数測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014066717A true JP2014066717A (ja) 2014-04-17
JP5877188B2 JP5877188B2 (ja) 2016-03-02

Family

ID=61005272

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009123749A Expired - Fee Related JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2009-05-22 周波数測定装置
JP2013239872A Expired - Fee Related JP5877188B2 (ja) 2009-05-22 2013-11-20 周波数測定装置

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009123749A Expired - Fee Related JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2009-05-22 周波数測定装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8664933B2 (ja)
JP (2) JP5517033B2 (ja)
CN (1) CN101893658B (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010271091A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Seiko Epson Corp 周波数測定装置
JP5440999B2 (ja) * 2009-05-22 2014-03-12 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置
JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2014-06-11 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置
JP5582447B2 (ja) 2009-08-27 2014-09-03 セイコーエプソン株式会社 電気回路、同電気回路を備えたセンサーシステム、及び同電気回路を備えたセンサーデバイス
JP5815918B2 (ja) 2009-10-06 2015-11-17 セイコーエプソン株式会社 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置
JP5876975B2 (ja) 2009-10-08 2016-03-02 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置及び周波数測定装置における変速分周信号の生成方法
JP5883558B2 (ja) 2010-08-31 2016-03-15 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置及び電子機器
CN102749508B (zh) * 2011-04-20 2015-08-12 北京德威特继保自动化科技股份有限公司 频率测量装置和方法
CN102497164A (zh) * 2011-12-04 2012-06-13 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 一种适合微小颗粒测量的qcm自适应宽频振荡系统
CN102680782A (zh) * 2012-06-08 2012-09-19 东莞市翔丰电子科技实业有限公司 一种用低频时钟源计算高频信号频率的方法
CN103760414B (zh) * 2013-11-29 2016-06-01 成都亿盟恒信科技有限公司 基于抗干扰低通滤波的低速脉冲周期采集方法
CN104020349B (zh) * 2014-06-20 2016-09-21 西南大学 基于周期跟踪法和移动式整数周期法的信号频率测量方法
CN107817383B (zh) * 2017-10-31 2019-10-15 郑州轻工业学院 一种基于运动辐射源的高精度频率测量系统
CN107894270B (zh) * 2017-11-13 2019-07-23 成都信息工程大学 基于stm32的8通道qcm测试系统
RU187313U1 (ru) * 2018-05-23 2019-03-01 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет) Цифровой частотомер для маломощных интегральных схем
CN111398676B (zh) * 2020-04-08 2021-03-30 电子科技大学 一种通过次/超同步振荡频率判定振荡传播路径的方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS647706A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Pioneer Electronic Corp Fm detecting device
JP2000505547A (ja) * 1996-02-14 2000-05-09 テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) 位相および周波数検出器
JP2001502050A (ja) * 1996-06-28 2001-02-13 カーティン ユニバーシティー オブ テクノロジー 精密なデジタル周波数の検出

Family Cites Families (278)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2627033A (en) 1949-12-01 1953-01-27 Garold K Jensen Frequency meter
US2840812A (en) 1954-08-03 1958-06-24 Giacomo Anthony J Di Frequency measurement device
US2944219A (en) 1956-06-20 1960-07-05 Koden Electronics Co Ltd Variable frequency dividing system
US3026473A (en) 1959-10-09 1962-03-20 Metrolog Corp Frequency response analyzer
US3056085A (en) 1959-11-30 1962-09-25 Bell Telephone Labor Inc Communication system employing pulse code modulation
US3144623A (en) 1960-02-12 1964-08-11 Itt Frequency generator system
CH387752A (de) 1960-07-21 1965-02-15 Ibm Verfahren und Einrichtung zur Regelung einer durch elektrische Schwingungen veränderliche Frequenz dargestellten Grösse eines Vorganges
US3310660A (en) * 1963-04-23 1967-03-21 Sperry Rand Corp Asynchronous counting devices
US3486007A (en) 1964-09-29 1969-12-23 Massachusetts Inst Technology Rate counter
US3407290A (en) 1965-09-03 1968-10-22 Ibm Serial digital multiplier
US3372346A (en) 1966-09-09 1968-03-05 Gen Dynamics Corp Frequency synthesizer system for generating signals having frequencies over a wide band of frequencies all of which are phase coherent with frequency standard signals
US3440617A (en) 1967-03-31 1969-04-22 Andromeda Inc Signal responsive systems
US3609308A (en) * 1968-04-23 1971-09-28 Chesapeake Instr Corp Digital measuring systems
US3551826A (en) 1968-05-16 1970-12-29 Raytheon Co Frequency multiplier and frequency waveform generator
JPS5020421B1 (ja) 1968-06-03 1975-07-15
US3553579A (en) 1968-06-20 1971-01-05 Sylvania Electric Prod Apparatus for measuring the difference in phase between two signals of the same frequency, one having noise associated therewith
US3624494A (en) 1968-12-30 1971-11-30 Orhan Turan Apparatus for monitoring the response of a resonant circuit
US3557796A (en) 1969-03-10 1971-01-26 Cordis Corp Digital counter driven pacer
US3605017A (en) 1969-06-06 1971-09-14 Eg & G Inc Single sideband data transmission system
US3818477A (en) 1969-12-31 1974-06-18 American Standard Inc Pulse-operated receiver
US3652838A (en) 1970-03-02 1972-03-28 Edac Co Demand automated computer
US3708686A (en) 1970-04-30 1973-01-02 Lorain Prod Corp Frequency comparator
US3795771A (en) * 1970-05-15 1974-03-05 Hughes Aircraft Co Passenger entertainment/passenger service and self-test system
US3942123A (en) 1970-06-15 1976-03-02 Ivac Corporation Electronic measurement system
JPS5140818B1 (ja) * 1970-11-04 1976-11-06
US3686565A (en) 1970-12-01 1972-08-22 Us Army Frequency detector
US3704414A (en) 1971-01-18 1972-11-28 Bogue Elec Mfg Co Frequency meter
US3736510A (en) 1971-03-25 1973-05-29 Time And Frequency Tech Inc Frequency and modulation monitor
CH531179A (de) 1971-05-10 1972-11-30 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren und Einrichtung zur Messung der Frequenz von einem einen bestimmten, einstellbaren Pegel überschreitenden elektrischen Signal
US3750014A (en) 1971-07-23 1973-07-31 Gaw Co Inc Frequency measuring apparatus
US3697870A (en) * 1971-09-24 1972-10-10 Burroughs Corp Digitally nulled magnetic detection system
US3742353A (en) 1971-09-27 1973-06-26 Parisi Ass Inc Frequency measuring apparatus including phase locked loop
CH537119A (de) 1971-10-07 1973-05-15 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren und Einrichtung zur Frequenzdarstellung
US3733471A (en) * 1971-12-07 1973-05-15 Ncr Co Recirculating counter
US3766818A (en) 1972-05-01 1973-10-23 L Prohofsky Electronic frequency measuring apparatus
US3761740A (en) 1972-06-23 1973-09-25 Wavetek Frequency detector
US3780346A (en) * 1972-07-03 1973-12-18 United Aircraft Corp Digital anti-spin and anti-slide system for moving vehicles
US3775681A (en) 1972-07-14 1973-11-27 L Konrad Frequency measuring means
US3755734A (en) 1972-07-24 1973-08-28 Abex Corp Frequency deviation monitor and measuring device
US3812427A (en) 1972-08-17 1974-05-21 Tull Aviation Corp Method and apparatus for monitoring frequency
US3777121A (en) 1972-11-06 1973-12-04 Rothmans Of Pall Mall Electronic counter
US4053839A (en) * 1973-05-29 1977-10-11 Knoedl Jr George Method and apparatus for the frequency multiplication of composite waves
JPS5057568A (ja) 1973-09-21 1975-05-20
US3838338A (en) 1973-10-09 1974-09-24 Flann Microwave Instr Ltd Frequency measurements
SE379862B (ja) 1974-02-07 1975-10-20 Asea Ab
CA1033015A (en) 1976-04-09 1978-06-13 Roger C. Palmer Microwave frequency counter
US4041387A (en) 1975-09-18 1977-08-09 Hewlett-Packard Company Apparatus and method for measuring the frequency of a sweeping signal
JPS52112311A (en) 1976-03-18 1977-09-20 Sony Corp Demodulating circuit
US4051434A (en) 1976-05-28 1977-09-27 General Motors Corporation Digital frequency measuring circuitry
US4144490A (en) 1976-10-21 1979-03-13 Music Specialities Corp. Electronic sensing and measuring apparatus for signals in audio frequency range
US4130799A (en) 1977-07-05 1978-12-19 Cherry Harvey A Method and apparatus for continuous frequency measurement
US4137497A (en) 1977-10-31 1979-01-30 Raythoon Company Frequency measuring apparatus
US4139819A (en) 1977-12-01 1979-02-13 Worley Eugene R Multifunction frequency counter
US4150432A (en) 1977-12-19 1979-04-17 Hewlett-Packard Company Frequency counter and method
US4169213A (en) 1978-06-01 1979-09-25 Santa Barbara Research Center Apparatus and method for ordering independent signals
JPS5580061A (en) 1978-12-12 1980-06-16 Advantest Corp Frequency measuring apparatus
JPS5596773A (en) 1979-01-19 1980-07-23 Hitachi Ltd Discrimination unit
US4339722A (en) * 1979-05-23 1982-07-13 Micro Consultants Limited Digital frequency multiplier
JPS5698660A (en) 1980-01-09 1981-08-08 Advantest Corp Frequency measuring device
JPS56169923A (en) * 1980-06-03 1981-12-26 Mitsubishi Electric Corp Digital low-pass filter device
US4345206A (en) * 1980-06-10 1982-08-17 Motorola Inc. Frequency and frequency error counting in test apparatus
CA1144986A (en) 1980-08-20 1983-04-19 Canadian General Electric Company Limited Frequency determining apparatus
US4389642A (en) 1981-07-01 1983-06-21 Kahn William M Digital matrix switching
US4514592A (en) 1981-07-27 1985-04-30 Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation Cryptosystem
CA1188735A (en) 1982-01-18 1985-06-11 Andrzej Barszczewski Fast frequency measuring system
CA1133058A (en) 1982-02-18 1982-10-05 Geonics Limited Electromagnetic geophysical surveying system
US4583211A (en) * 1982-06-15 1986-04-15 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Frequency detecting circuit for digital information reproducing system
JPS59102167A (ja) * 1982-12-03 1984-06-13 Oki Electric Ind Co Ltd 移動平均値検出装置
GB2134269B (en) * 1983-01-22 1986-07-02 Marconi Instruments Ltd Frequency counting
FR2559586B1 (fr) * 1984-02-14 1986-10-17 France Etat Procede et dispositif de mesure de frequence a comptage du nombre de passages a zero
US4616173A (en) 1984-03-21 1986-10-07 Sencore, Inc. Frequency counter
US4546490A (en) 1984-03-22 1985-10-08 Northern Telecom Limited Single frequency detection circuit
US4603292A (en) 1984-04-03 1986-07-29 Honeywell Information Systems Inc. Frequency and time measurement circuit
US4609990A (en) 1984-08-06 1986-09-02 General Electric Company Frequency measurement system
US4672556A (en) 1984-09-17 1987-06-09 Sundstrand Corporation Frequency detector system
US4588979A (en) * 1984-10-05 1986-05-13 Dbx, Inc. Analog-to-digital converter
JPH0630444B2 (ja) 1985-05-02 1994-04-20 株式会社日立製作所 A/d変換器試験方式
US4695791A (en) 1985-06-04 1987-09-22 Hewlett-Packard Company Auto ranging of a frequency measuring instrument
US4667689A (en) 1985-06-07 1987-05-26 Nishihara Shokai Co., Ltd. Display device of cumulative amount of money for coins
CA1290813C (en) * 1985-08-12 1991-10-15 Michael B. Sweeney Pacemaker for detecting and terminating a tachycardia
US4707653A (en) 1985-10-17 1987-11-17 Ampex Corporation Frequency measurement circuit
US4760536A (en) 1985-12-06 1988-07-26 Curtis Jerald C Autoranging frequency sensor
JPS62136120A (ja) * 1985-12-10 1987-06-19 Mitsubishi Electric Corp ロ−パスフイルタ
US4695792A (en) * 1985-12-16 1987-09-22 Ecole Polytechnique Method and system for measuring the amplitude and phase angle of harmonics in a periodic signal
US4769836A (en) 1986-04-07 1988-09-06 Casio Computer Co., Ltd. Dialing tone generator employing low frequency oscillator
US4864588A (en) * 1987-02-11 1989-09-05 Hillier Technologies Limited Partnership Remote control system, components and methods
US4716363A (en) 1987-05-08 1987-12-29 Hewlett-Packard Company Exponential decay time constant measurement using frequency of offset phase-locked loop: system and method
FR2620827B1 (fr) * 1987-09-21 1990-01-26 Crouzet Sa Procede de mesure de la frequence d'un signal periodique et frequence metre pour la mise en oeuvre du procede
JPH01126023A (ja) 1987-11-11 1989-05-18 Hitachi Ltd 送受同時通信無線機
GB2217536B (en) 1988-04-21 1992-05-13 Marconi Instruments Ltd Frequency counter
JPH0220802U (ja) * 1988-07-26 1990-02-13
JP2734566B2 (ja) * 1988-10-31 1998-03-30 松下電器産業株式会社 アナログ・デジタル変換装置
JPH02141116A (ja) * 1988-11-22 1990-05-30 Yamaha Corp デジタル信号処理回路および該回路を搭載してなるデジタルフィルタ
JPH02252306A (ja) * 1989-03-27 1990-10-11 Toshiba Corp Fm復調装置
JPH0354416A (ja) 1989-07-21 1991-03-08 Okuma Mach Works Ltd 位置検出装置
US4942365A (en) * 1989-07-24 1990-07-17 Teltest Electronics Laboratories, Inc. Synchronous phase and/or frequency detection system
US5122758A (en) 1989-12-18 1992-06-16 Nec Corporation Differential phase demodulator for psk-modulated signals
KR910014609A (ko) 1990-01-23 1991-08-31 야마무라 가쯔미 마이크로 펌프 관리 제어 방법 및 장치
US5095279A (en) 1990-04-26 1992-03-10 Macrovision Corporation Variable frequency sine wave carrier signal generator
JPH0448271A (ja) * 1990-06-15 1992-02-18 Yokogawa Electric Corp 周波数変化測定装置
US5095264A (en) 1990-09-12 1992-03-10 Sundstrand Data Control, Inc. Frequency counter and method of counting frequency of a signal to minimize effects of duty cycle modulation
US5128607A (en) 1990-11-09 1992-07-07 Hewlett-Packard Company Constant events frequency measurement and fast inverse circuit
JPH04219786A (ja) 1990-12-20 1992-08-10 Sony Corp 周波数判別回路
JPH0530772A (ja) 1991-07-23 1993-02-05 Sharp Corp サーボ制御装置
US5168215A (en) * 1991-11-15 1992-12-01 Lockheed Sanders, Inc. Instantaneous frequency measurement apparatus and method
US5262714A (en) 1992-02-05 1993-11-16 Vladimir Friedman Sinewave frequency measuring apparatus
DE4211946C1 (ja) * 1992-04-06 1993-09-23 Siemens Ag, 80333 Muenchen, De
JPH05327515A (ja) * 1992-05-18 1993-12-10 Mitsubishi Electric Corp 情報変換方式および情報記録再生装置
US5313154A (en) 1992-10-28 1994-05-17 Honeywell Inc. Apparatus for detecting a frequency deviation between two frequency sources
US5304938A (en) 1992-11-18 1994-04-19 Gec Plessey Semiconductors, Inc. Method and apparatus for providing a lower frequency signal with reference to a higher frequency signal
JPH06164372A (ja) * 1992-11-19 1994-06-10 Mitsubishi Electric Corp 非同期式アップ/ダウンカウンタ
US5317215A (en) 1992-12-01 1994-05-31 3Com Corporation Method and apparatus for frequency discriminating computer network signals
US5302916A (en) 1992-12-21 1994-04-12 At&T Bell Laboratories Wide range digital frequency detector
US5463627A (en) 1993-02-23 1995-10-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Frame synchronizing apparatus for quadrature modulation data communication radio receiver
US5365181A (en) 1993-03-15 1994-11-15 Texas Instruments Incorporated Frequency doubler having adaptive biasing
US5448606A (en) * 1993-06-30 1995-09-05 The United States Of America As Represented By The Secratary Of The Navy Gray code counter
US5381085A (en) 1993-07-06 1995-01-10 Motorola, Inc. Phase lock loop with self test circuitry and method for using the same
JPH0738423A (ja) 1993-07-23 1995-02-07 Mitsubishi Electric Corp 分周回路
JP3139659B2 (ja) * 1993-08-19 2001-03-05 横河電機株式会社 周波数変化測定装置
US5442278A (en) 1993-09-24 1995-08-15 Acer Peripherals, Inc. Apparatus for detecting the frequency of an input signal by counting pulses during an input signal cycle
JPH07229910A (ja) * 1994-02-22 1995-08-29 Yokogawa Electric Corp パルスカウンタ回路
JP3514529B2 (ja) * 1994-06-06 2004-03-31 沖電気工業株式会社 多値fsk検波回路
US5710710A (en) * 1994-09-21 1998-01-20 Optoelectronics, Inc. Frequency counter with reduced false correlations
JPH08125494A (ja) * 1994-10-25 1996-05-17 Oki Micro Design Miyazaki:Kk 移動平均フィルタ
KR0137529B1 (ko) 1995-03-20 1998-07-01 김주용 4상 위상 변조기
JP3434095B2 (ja) 1995-09-08 2003-08-04 株式会社アドバンテスト 周波数測定装置
US5650954A (en) 1996-01-30 1997-07-22 Seagate Technology, Inc. Frequency and time domain adaptive filtration in a sampled communication channel
US6359938B1 (en) 1996-10-31 2002-03-19 Discovision Associates Single chip VLSI implementation of a digital receiver employing orthogonal frequency division multiplexing
US5941974A (en) 1996-11-29 1999-08-24 Motorola, Inc. Serial interface with register selection which uses clock counting, chip select pulsing, and no address bits
JP3185689B2 (ja) * 1996-12-13 2001-07-11 日本電気株式会社 周波数判別器
KR100232017B1 (ko) 1997-06-03 1999-12-01 김영환 업/다운 전환 카운터
EP0884597A3 (en) 1997-06-10 1999-10-27 BCF Designs Limited Method and apparatus for testing frequency dependent electrical circuits
JP3039464B2 (ja) 1997-07-31 2000-05-08 日本電気株式会社 クロック発生回路
EP0937339B1 (en) 1997-08-08 2005-10-05 Sony Deutschland Gmbh Calibration of n-port receiver
JPH11163696A (ja) 1997-11-26 1999-06-18 Fujitsu Ltd 周波数比較器及びこれを用いたクロック再生回路
FR2773933B1 (fr) 1998-01-21 2000-03-03 Sgs Thomson Microelectronics Dispositif de demodulation d'un signal binaire module en phase par impulsions codees
US6181829B1 (en) 1998-01-21 2001-01-30 Xerox Corporation Method and system for classifying and processing of pixels of image data
JPH11220369A (ja) * 1998-02-03 1999-08-10 Advantest Corp クロック検出回路
US6127950A (en) 1998-02-16 2000-10-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Transmission circuit and reception circuit
US6282803B1 (en) * 1998-04-24 2001-09-04 Laser Technology, Inc. Self calibration circuit for determining an accurate zero compensation for a fluxgate compass
JP2000011305A (ja) * 1998-06-18 2000-01-14 Fujitsu Ltd 磁気記憶装置のサーマルアスピリティ検出方法及びその回路
US6360090B1 (en) 1998-08-26 2002-03-19 Integration Associates, Inc. Method and apparatus for receiving infrared signals with improved noise immunity
DE19844126C1 (de) * 1998-09-25 2000-06-08 Siemens Ag Frequenzdetektionsverfahren zur Taktsignalfrequenz-Nachstellung und Frequenzdetektorschaltung zur Durchführung des Verfahrens
JP3034851B1 (ja) * 1998-10-15 2000-04-17 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Rfコイル並びに磁気共鳴撮像方法および装置
EP1006437A1 (en) 1998-11-30 2000-06-07 TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (publ) Digital value processor for estimating the square of a digital value
US6172579B1 (en) 1999-02-02 2001-01-09 Cleveland Medical Devices Inc. Three point modulated phase locked loop frequency synthesis system and method
JP2000252795A (ja) * 1999-02-26 2000-09-14 Oki Micro Design Co Ltd 移動平均フィルタ
EP1037058B1 (de) * 1999-03-18 2005-02-02 Nanosurf AG Elektronische Frequenzmesseinrichtung und ihre Verwendung
JP3447617B2 (ja) 1999-06-04 2003-09-16 エヌイーシーマイクロシステム株式会社 ディジタル可変周波数オシレータ
JP3479617B2 (ja) * 1999-09-27 2003-12-15 大崎電気工業株式会社 移動平均フィルタ
JP3691310B2 (ja) 1999-10-21 2005-09-07 富士通株式会社 周波数測定回路
JP2001127632A (ja) * 1999-10-29 2001-05-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 周波数シンセサイザ及び発振周波数制御方法
JP2001177378A (ja) * 1999-12-16 2001-06-29 Sharp Corp Firデジタルフィルタ
JP2001195899A (ja) 2000-01-06 2001-07-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6675326B1 (en) 2000-07-11 2004-01-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and apparatus for detecting a data receiving error
US6476673B2 (en) * 2000-07-12 2002-11-05 Monolithic Power Systems, Inc. Class D audio amplifier
US6963521B2 (en) 2001-03-30 2005-11-08 Sony Corporation Disc drive apparatus
TWI248721B (en) 2001-04-27 2006-02-01 Mediatek Inc Phase-locked loop with dual-mode phase/frequency detection
US7046964B1 (en) 2001-05-21 2006-05-16 Counter Technologies, Llc Method and apparatus for determining the frequency of a radio signal during periods of stability and monitoring communications with a radio receiver
DE10126298A1 (de) * 2001-05-30 2002-12-12 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Phasenverschiebung zwischen einem periodischen Signal und einem Ausgangssignal an einem Ausgang eines elektronischen Bauelements
US6856206B1 (en) 2001-06-25 2005-02-15 Silicon Laboratories, Inc. Method and apparatus for acquiring a frequency without a reference clock
US6549479B2 (en) 2001-06-29 2003-04-15 Micron Technology, Inc. Memory device and method having reduced-power self-refresh mode
US6590400B2 (en) * 2001-06-29 2003-07-08 Inductive Signature Technologies Inductive signature measurement circuit
JP3775258B2 (ja) * 2001-07-31 2006-05-17 株式会社デンソー フィルタリング方法及びフィルタ機能を有するa/d変換装置
US7200561B2 (en) 2001-08-23 2007-04-03 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Digital signal coding and decoding methods and apparatuses and programs therefor
JP4032681B2 (ja) 2001-08-27 2008-01-16 株式会社デンソー 同期検波方法及び装置並びにセンサ信号検出装置
JP4240269B2 (ja) * 2001-08-27 2009-03-18 横河電機株式会社 波形測定器
US6873213B2 (en) 2001-10-02 2005-03-29 Nec Compound Semiconductor Devices, Ltd. Fractional N frequency synthesizer
JP3869699B2 (ja) 2001-10-24 2007-01-17 株式会社アドバンテスト タイミング発生器、半導体試験装置、及びタイミング発生方法
US6856925B2 (en) 2001-10-26 2005-02-15 Texas Instruments Incorporated Active removal of aliasing frequencies in a decimating structure by changing a decimation ratio in time and space
US6665367B1 (en) 2001-12-27 2003-12-16 Applied Micro Circuits Corporation Embedded frequency counter with flexible configuration
US7167110B2 (en) 2002-01-08 2007-01-23 Nec Corporation Multi-level communication system and method with error correction
US6885186B2 (en) 2002-03-13 2005-04-26 Caterpillar Inc Resonant circuit for increasing variable reluctance sensor output
US7124153B2 (en) * 2002-03-18 2006-10-17 Genesis Microchip Inc. Frequency converter and methods of use thereof
US6646478B2 (en) 2002-03-26 2003-11-11 Semtech Corporation Method and apparatus for increasing capture range and jitter tolerance in phase detection circuits
JP2003315356A (ja) * 2002-04-26 2003-11-06 Toyota Motor Corp センサ装置
US6680607B2 (en) * 2002-05-15 2004-01-20 Delphi Technologies, Inc. Method of detecting steady-state convergence of a signal
JP3771195B2 (ja) 2002-05-17 2006-04-26 株式会社イシダ 重量測定用ノイズ除去装置および重量測定用ノイズ除去方法
US7075948B2 (en) 2002-05-22 2006-07-11 Stmicroelectronics, Inc. Frequency offset estimator
JP3558625B2 (ja) 2002-07-01 2004-08-25 沖電気工業株式会社 同期誤り検出回路
JP3938395B2 (ja) 2002-07-01 2007-06-27 富士通株式会社 クロック逓倍回路
US7027940B2 (en) 2002-08-13 2006-04-11 Iannuzzi John F Stepped sine wave frequency response measurement system
US7372875B2 (en) 2002-09-30 2008-05-13 Lucent Technologies Inc. Systems and methods for synchronization in asynchronous transport networks
US7409031B1 (en) 2002-10-04 2008-08-05 Silicon Image, Inc. Data sampling method and apparatus with alternating edge sampling phase detection for loop characteristic stabilization
JP4269710B2 (ja) 2002-10-22 2009-05-27 横河電機株式会社 周波数測定回路およびそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器
US8321427B2 (en) * 2002-10-31 2012-11-27 Promptu Systems Corporation Method and apparatus for generation and augmentation of search terms from external and internal sources
DE10257185B3 (de) 2002-12-06 2004-02-05 Infineon Technologies Ag Phasenregelschleife mit Sigma-Delta-Modulator
US7242223B1 (en) 2003-03-10 2007-07-10 National Semiconductor Corporation Clock frequency monitor
US6829548B2 (en) 2003-04-03 2004-12-07 Sun Microsystems, Inc. DLL static phase error measurement technique
SE0301005D0 (sv) 2003-04-03 2003-04-03 Ericsson Telefon Ab L M Method and system of jitter compensation
JP2005020554A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Neuro Solution Corp デジタルフィルタ
EP1673587A4 (en) 2003-09-17 2010-03-24 Aeroflex Inc ATMOSPHERIC TURBULENCE RISK DETECTOR
KR100812291B1 (ko) * 2003-10-22 2008-03-10 가부시키가이샤후지쿠라 절연 열화 진단 장치
US7068041B2 (en) 2003-11-26 2006-06-27 General Electric Company Method and system for multi-frequency inductive ratio measurement
JP2005210610A (ja) 2004-01-26 2005-08-04 Toyota Industries Corp Ifカウント方式
DE102004009116B3 (de) 2004-02-25 2005-04-28 Infineon Technologies Ag Delta-Sigma-Frequenzdiskriminator
US6834093B1 (en) * 2004-03-19 2004-12-21 National Semiconductor Corporation Frequency comparator circuit
JP2005311945A (ja) 2004-04-26 2005-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Pll回路、無線通信装置及び発振周波数制御方法
US7042380B2 (en) 2004-06-02 2006-05-09 Catalyst Semiconductor, Inc. Digital potentiometer with resistor binary weighting decoding
US7266756B2 (en) 2004-06-25 2007-09-04 Via Telecom Co., Ltd. Read enable generator for a turbo decoder deinterleaved symbol memory
JP2006029874A (ja) * 2004-07-13 2006-02-02 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 感知装置
US8340309B2 (en) * 2004-08-06 2012-12-25 Aliphcom, Inc. Noise suppressing multi-microphone headset
JP4335113B2 (ja) 2004-10-14 2009-09-30 パナソニック株式会社 Dcオフセットキャリブレーションシステム
JP4643276B2 (ja) 2005-01-11 2011-03-02 株式会社東芝 無線受信装置
JP4468196B2 (ja) 2005-02-03 2010-05-26 富士通株式会社 デジタルpll回路
JP2006250934A (ja) * 2005-03-08 2006-09-21 Synthesys Research Inc デューティ・サイクルを測定するための方法及び装置
US7750685B1 (en) * 2005-03-17 2010-07-06 Rf Micro Devices, Inc. Frequency measurement based frequency locked loop synthesizer
US8139685B2 (en) 2005-05-10 2012-03-20 Qualcomm Incorporated Systems, methods, and apparatus for frequency control
DE102005024648B4 (de) * 2005-05-25 2020-08-06 Infineon Technologies Ag Elektrische Schaltung zum Messen von Zeiten und Verfahren zum Messen von Zeiten
US7474160B2 (en) * 2005-05-25 2009-01-06 Qualcomm Incorporated Systems and methods for calibrating a filter
US7826670B2 (en) 2005-06-15 2010-11-02 Fujifilm Corporation Data compression apparatus and data compression program storage medium
JP2007057393A (ja) * 2005-08-24 2007-03-08 Epson Toyocom Corp 周波数安定度測定装置
JP2007060447A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Kenwood Corp Firフィルタ
JP4925630B2 (ja) 2005-09-06 2012-05-09 株式会社アドバンテスト 試験装置および試験方法
CN100501421C (zh) * 2005-09-19 2009-06-17 华为技术有限公司 一种快速频率测量系统及方法
US7692419B1 (en) 2005-09-26 2010-04-06 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for enhanced frequency measurement
US7412337B2 (en) 2005-10-13 2008-08-12 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Method for determining fill level on the basis of travel time of a high-frequency measuring signal
JP4951931B2 (ja) 2005-10-24 2012-06-13 日本電気株式会社 ノイズ測定回路、該測定回路に用いられるノイズ測定方法及び該測定回路が設けられている大規模集積回路
US20070132442A1 (en) * 2005-12-12 2007-06-14 Jones Philip M Filter tuning
US7667544B2 (en) 2006-01-12 2010-02-23 Yokogawa Electric Corporation Clock reproducing apparatus
US20090237070A1 (en) * 2006-02-01 2009-09-24 Paul Le Roux Herselman Method of instantaneously determining or estimating the frequency or amplitude of an input signal
JP4500358B2 (ja) 2006-02-24 2010-07-14 富士通株式会社 演算処理装置および演算処理方法
JP4687512B2 (ja) * 2006-03-08 2011-05-25 トヨタ自動車株式会社 Δς型ad変換器
DE102006011126B4 (de) 2006-03-08 2008-01-03 Micronas Gmbh Verfahren und Schaltung zum zeilenverkoppelten Erzeugen eines Taktes
FR2898743A1 (fr) * 2006-03-15 2007-09-21 St Microelectronics Sa Compteur avec circuit de correction
KR100710127B1 (ko) * 2006-03-17 2007-04-20 지씨티 세미컨덕터 인코포레이티드 지연 동기 루프를 이용한 클록 생성기 및 클록 생성 방법
US7265559B1 (en) 2006-07-13 2007-09-04 Pepperl + Fuchs Self-calibrating corrosion measurement field device with improved signal measurement and excitation circuitry
US7750618B1 (en) 2006-07-25 2010-07-06 Integrated Device Technology, Inc. System and method for testing a clock circuit
US7809516B2 (en) * 2006-08-10 2010-10-05 Advantest Corporation Probability density function separating apparatus, probability density function separating method, program, testing apparatus, bit error rate measuring apparatus, electronic device, and jitter transfer function measuring apparatus
WO2008047684A1 (fr) 2006-10-17 2008-04-24 Advantest Corporation Appareil de mesure, procédé de mesure, programme et appareil d'expérimentation
JP4258545B2 (ja) * 2006-11-22 2009-04-30 トヨタ自動車株式会社 デジタルローパスフィルタ
JP2008131560A (ja) * 2006-11-24 2008-06-05 Yokogawa Electric Corp 分周回路
JP4296518B2 (ja) 2006-12-07 2009-07-15 ソニー株式会社 情報処理装置および情報処理方法
US7560962B2 (en) * 2006-12-12 2009-07-14 Texas Instruments Incorporated Generating an output signal with a frequency that is a non-integer fraction of an input signal
US8582547B2 (en) * 2006-12-19 2013-11-12 Hitachi Metals, Ltd. High frequency circuit, high frequency component and communication device
JP4331202B2 (ja) 2006-12-25 2009-09-16 株式会社東芝 再生装置及び再生方法
US7504976B1 (en) * 2007-01-31 2009-03-17 Lockheed Martin Corporation Direct radio frequency generation using power digital-to-analog conversion
US8532243B2 (en) * 2007-02-12 2013-09-10 Silicon Laboratories Inc. Digital hold in a phase-locked loop
US7551009B2 (en) 2007-02-28 2009-06-23 Silicon Laboratories Inc. High-speed divider with reduced power consumption
JP4432990B2 (ja) 2007-03-22 2010-03-17 セイコーエプソン株式会社 センサ及び電子機器
US7696741B2 (en) * 2007-04-27 2010-04-13 Korry Electronics, Co. System and method for adaptively determining the transition rate of a quantized signal
US7919997B2 (en) 2007-05-11 2011-04-05 Skyworks Solutions, Inc. Systems and methods for providing a clock signal
US7899267B2 (en) * 2007-05-23 2011-03-01 Zoran Corporation Dynamic range compensation by filter cascade
DE112008001376T5 (de) 2007-05-28 2010-04-08 Advantest Corporation Messgerät und Programm
GB2453099A (en) * 2007-07-19 2009-04-01 Univ Sussex Sensor system with tunable narrow band filter.
JP4786608B2 (ja) 2007-07-30 2011-10-05 パナソニック株式会社 磁界検出装置
JP5225994B2 (ja) * 2007-08-15 2013-07-03 株式会社アドバンテスト 測定装置、試験装置および測定方法
US7737730B2 (en) * 2007-08-31 2010-06-15 Infineon Technologies Ag Method of detecting the frequency of an input clock signal of an integrated circuit and integrated circuit
US8242941B2 (en) 2007-11-20 2012-08-14 The Tc Group A/S Pulse modulation A/D-converter with feedback
CN101451824B (zh) 2007-11-30 2010-11-10 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 光栅尺计数控制系统及方法
KR20090062536A (ko) 2007-12-13 2009-06-17 삼성전기주식회사 주파수 발생기
US8655296B2 (en) 2007-12-18 2014-02-18 Harris Corporation Frequency synthesizer and related method for generating wideband signals
US8154321B2 (en) 2007-12-21 2012-04-10 Power Integrations, Inc. Method and apparatus for time-differential comparison of an analog signal
JP4513865B2 (ja) 2008-01-25 2010-07-28 セイコーエプソン株式会社 並列演算装置および並列演算方法
US7932751B2 (en) * 2008-02-06 2011-04-26 Fairchild Semiconductor Corporation Frequency mode selection discriminator and low pass filter
JP5066121B2 (ja) * 2008-03-20 2012-11-07 アナパス・インコーポレーテッド クロック情報とデータを伝送する装置及び方法
JP4636106B2 (ja) 2008-03-31 2011-02-23 ソニー株式会社 Pll回路およびそのic
JP2009250807A (ja) 2008-04-07 2009-10-29 Seiko Epson Corp 周波数測定装置及び測定方法
TWI361281B (en) * 2008-04-17 2012-04-01 Cyrustek Co A measurement unit including an auto switch low-pass filter
GB0807625D0 (en) 2008-04-25 2008-06-04 Glonav Ltd Method and system for detecting timing characteristics in a communications system
DE102008023535B4 (de) 2008-05-14 2011-05-12 Texas Instruments Deutschland Gmbh Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Auswertung einer variablen Kapazität
TWI355805B (en) * 2008-06-03 2012-01-01 Ind Tech Res Inst Frequency divider
AR073129A1 (es) * 2008-08-26 2010-10-13 Spx Corp Modulo de osciloscopio digital con deteccion de fallas en la recepcion de la senal.
KR100975040B1 (ko) 2008-09-02 2010-08-11 고려대학교 산학협력단 프로그램 가능한 주파수 분주기 및 분주 방법
US8140283B2 (en) * 2008-12-24 2012-03-20 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Independent frequency measurement and tracking
TWI376877B (en) * 2008-12-26 2012-11-11 Ind Tech Res Inst Clock generator and multimodulus frequency divider and delta-sigma modulator thereof
JP2010271091A (ja) 2009-05-20 2010-12-02 Seiko Epson Corp 周波数測定装置
JP5517033B2 (ja) 2009-05-22 2014-06-11 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置
JP5440999B2 (ja) 2009-05-22 2014-03-12 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置
US7847597B1 (en) * 2009-06-15 2010-12-07 The Aerospace Corporation Precision frequency change detector
JP5582447B2 (ja) 2009-08-27 2014-09-03 セイコーエプソン株式会社 電気回路、同電気回路を備えたセンサーシステム、及び同電気回路を備えたセンサーデバイス
JP2011071816A (ja) 2009-09-28 2011-04-07 Fujitsu Semiconductor Ltd 周波数測定回路及びそれを有するpllシンセサイザ
JP5815918B2 (ja) 2009-10-06 2015-11-17 セイコーエプソン株式会社 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置
JP5876975B2 (ja) * 2009-10-08 2016-03-02 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置及び周波数測定装置における変速分周信号の生成方法
US8258831B1 (en) * 2009-11-09 2012-09-04 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Method and apparatus for clock generator lock detector
JP4708495B1 (ja) 2010-01-28 2011-06-22 ファナック株式会社 停電検出機能を有するモータ駆動装置
US8125250B2 (en) 2010-03-26 2012-02-28 Apple Inc. Frequency detection mechanism for a clock generation circuit
JP5883558B2 (ja) 2010-08-31 2016-03-15 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置及び電子機器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS647706A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Pioneer Electronic Corp Fm detecting device
JP2000505547A (ja) * 1996-02-14 2000-05-09 テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) 位相および周波数検出器
JP2001502050A (ja) * 1996-06-28 2001-02-13 カーティン ユニバーシティー オブ テクノロジー 精密なデジタル周波数の検出

Also Published As

Publication number Publication date
JP5877188B2 (ja) 2016-03-02
CN101893658A (zh) 2010-11-24
JP2010271210A (ja) 2010-12-02
US8664933B2 (en) 2014-03-04
JP5517033B2 (ja) 2014-06-11
US20100295536A1 (en) 2010-11-25
CN101893658B (zh) 2015-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5877188B2 (ja) 周波数測定装置
US8718961B2 (en) Frequency measurement method, frequency measurement device and apparatus equipped with frequency measurement device
US8461821B2 (en) Frequency measuring apparatus
CN102401857B (zh) 频率测量装置和电子设备
JPH0661789A (ja) サンプリング周波数変換器
JP2012244199A (ja) オペアンプレス・キャパシタレスad変換器およびtd変換器
US8732510B2 (en) Digital forced oscilation by direct digital synthesis to generate pulse stream having frequency relative to a reference clock signal and to eliminate an off-chip filter
CN109655644B (zh) 一种降低任意波信号输出抖动的方法和装置
JP2012175598A (ja) 時間デジタル変換装置
JP5841930B2 (ja) 周波数測定装置
US10734977B1 (en) Efficient voltage controlled oscillator (VCO) analog-to-digital converter (ADC)
JP5829259B2 (ja) 周波数測定装置
CN113258842B (zh) 一种基于脉冲变频控制的步进电机控制系统及方法
TWI327825B (en) Sampling control system and method for a/d converter
JP4335381B2 (ja) クロック生成装置、及びクロック生成方法
JP5883705B2 (ja) 信号生成器
US11496049B2 (en) Instantaneous power estimation in a continuous time digital signal processing system
JP6787105B2 (ja) デジタルフィルター、レシプロカルカウント値生成回路および物理量センサー
JP5131167B2 (ja) クロック発生装置およびクロック発生方法
CN117544133B (zh) 一种应用于低速δ-σadc的数字滤波方法、数字滤波器及δ-σadc
JP5854221B2 (ja) Ad変換回路

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140820

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140901

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141027

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20141117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150213

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20150223

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20150327

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151127

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160125

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5877188

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees