JP2014016354A5 - - Google Patents

Claims (4)

1. 第１、第２及び第３ターゲットをはじめ非共線的に配置された３個以上の再帰反射ターゲットを含む一群の再帰反射ターゲット並びに自トラッカ周辺に対し固定的な第１座標系に準拠するレーザトラッカを備え、そのレーザトラッカに、第１軸周り及び第２軸周りで可回動な構造体、第１光ビームを発する第１光源、第１光源と連携する絶対距離計、第１軸周り回動角たる第１回動角を計測する第１角度トランスデューサ、第２軸周り回動角たる第２回動角を計測する第２角度トランスデューサ、再帰反射ターゲットのうちいずれかの中心に向かうよう第１光ビームの方向を操作する追尾システム、第１レンズ系及び第１感光アレイを有する第１カメラ、第２光ビームを発する第２光源並びに自トラッカを動作させるプロセッサが備わるシステムを準備するシステム準備ステップと、
   第１、第２及び第３ターゲット並びに１個又は複数個ある補助点の第２座標系準拠三次元座標たる定格座標をリスト化保存するリスト化ステップと、
   第２光源出射光のうち第１、第２又は第３ターゲットで反射された部分を第１感光アレイで捉える反射光受光ステップと、
   第１、第２及び第３ターゲットそれぞれでの反射光が第１感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測するステップと、
   第１感光アレイ上での第１、第２及び第３スポット位置と第１、第２及び第３ターゲットの定格座標との間の対応関係を特定する対応関係特定ステップと、
   第１スポット位置及び第１ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第１ターゲットに差し向ける第１ターゲット指向ステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第１ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第２スポット位置及び第２ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第２ターゲットに差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第２ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第３スポット位置及び第３ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第３ターゲットに差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第３ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第１、第２及び第３ターゲットについての三次元座標計測結果並びに１個又は複数個ある補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づき補助点の第１座標系準拠三次元座標を求める補助点座標導出ステップと、
   補助点についての第１座標系準拠三次元座標導出結果を保存するステップと、
   第１光ビームを１個又は複数個の補助点へと差し向けるステップと、
   第１光ビーム又はその一部が反射されるよう再帰反射ターゲットのうちいずれかを配置するターゲット配置ステップと、
   その再帰反射ターゲットの中心へと第１光ビームを差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用いその再帰反射ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   検査計画に従い計測を実行する計画準拠計測ステップと、
   を有し、
   前記計画準拠計測ステップが更に、相応の再帰反射ターゲットを移動させ検査計画に従い計測を行うよう第１光ビームの移動でオペレータに示唆するステップを含む計画準拠計測ステップを含む、
   計測方法。
2. 第１、第２及び第３ターゲットをはじめ非共線的に配置された３個以上の再帰反射ターゲットを含む一群の再帰反射ターゲット並びに自トラッカ周辺に対し固定的な第１座標系に準拠するレーザトラッカを備え、そのレーザトラッカに、第１軸周り及び第２軸周りで可回動な構造体、第１光ビームを発する第１光源、第１光源と連携する絶対距離計、第１軸周り回動角たる第１回動角を計測する第１角度トランスデューサ、第２軸周り回動角たる第２回動角を計測する第２角度トランスデューサ、再帰反射ターゲットのうちいずれかの中心に向かうよう第１光ビームの方向を操作する追尾システム、第１レンズ系及び第１感光アレイを有する第１カメラ、第２光ビームを発する第２光源並びに自トラッカを動作させるプロセッサが備わるシステムを準備するシステム準備ステップと、
   第１、第２及び第３ターゲット並びに１個又は複数個ある補助点の第２座標系準拠三次元座標たる定格座標をリスト化保存するリスト化ステップと、
   第２光源出射光のうち第１、第２又は第３ターゲットで反射された部分を第１感光アレイで捉える反射光受光ステップと、
   第１、第２及び第３ターゲットそれぞれでの反射光が第１感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測するステップと、
   第１感光アレイ上での第１、第２及び第３スポット位置と第１、第２及び第３ターゲットの定格座標との間の対応関係を特定する対応関係特定ステップと、
   第１スポット位置及び第１ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第１ターゲットに差し向ける第１ターゲット指向ステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第１ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第２スポット位置及び第２ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第２ターゲットに差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第２ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第３スポット位置及び第３ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第３ターゲットに差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第３ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第１、第２及び第３ターゲットについての三次元座標計測結果並びに１個又は複数個ある補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づき補助点の第１座標系準拠三次元座標を求める補助点座標導出ステップと、
   補助点についての第１座標系準拠三次元座標導出結果を保存するステップと、
   第１光ビームを１個又は複数個の補助点へと差し向けるステップと、
   第１光ビーム又はその一部が反射されるよう再帰反射ターゲットのうちいずれかを配置するターゲット配置ステップと、
   その再帰反射ターゲットの中心へと第１光ビームを差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用いその再帰反射ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   検査計画に従い計測を実行する計画準拠計測ステップと、
   を有し、
   前記計画準拠計測ステップが、更に、
   オペレータが再帰反射ターゲットを誤った位置に配置したことを検出するステップと、
   レーザトラッカで第１光ビームを移動させその再帰反射ターゲットの正しい位置を提示することでその再帰反射ターゲットを正しい位置に動かすようオペレータに示唆するステップと、
   を含む、計測方法。
3. 第１、第２及び第３ターゲットをはじめ非共線的に配置された３個以上の再帰反射ターゲットを含む一群の再帰反射ターゲット並びに自トラッカ周辺に対し固定的な第１座標系に準拠するレーザトラッカを備え、そのレーザトラッカに、第１軸周り及び第２軸周りで可回動な構造体、第１光ビームを発する第１光源、第１光源と連携する絶対距離計、第１軸周り回動角たる第１回動角を計測する第１角度トランスデューサ、第２軸周り回動角たる第２回動角を計測する第２角度トランスデューサ、再帰反射ターゲットのうちいずれかの中心に向かうよう第１光ビームの方向を操作する追尾システム、第１レンズ系及び第１感光アレイを有する第１カメラ、第２光ビームを発する第２光源並びに自トラッカを動作させるプロセッサが備わるシステムを準備するシステム準備ステップと、
   第１、第２及び第３ターゲット並びに１個又は複数個ある補助点の第２座標系準拠三次元座標たる定格座標をリスト化保存するリスト化ステップと、
   第２光源出射光のうち第１、第２又は第３ターゲットで反射された部分を第１感光アレイで捉える反射光受光ステップと、
   第１、第２及び第３ターゲットそれぞれでの反射光が第１感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測するステップと、
   第１感光アレイ上での第１、第２及び第３スポット位置と第１、第２及び第３ターゲットの定格座標との間の対応関係を特定する対応関係特定ステップと、
   第１スポット位置及び第１ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第１ターゲットに差し向ける第１ターゲット指向ステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第１ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第２スポット位置及び第２ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第２ターゲットに差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第２ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第３スポット位置及び第３ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第１光ビームを第３ターゲットに差し向けるステップと、
   絶対距離計並びに第１及び第２角度トランスデューサを用い第３ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
   第１、第２及び第３ターゲットについての三次元座標計測結果並びに１個又は複数個ある補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づき補助点の第１座標系準拠三次元座標を求める補助点座標導出ステップと、
   補助点についての第１座標系準拠三次元座標導出結果を保存するステップと、
   第１光ビームを１個又は複数個の補助点へと差し向けるステップと、
   第１光ビームの位置にて加工動作を実行する加工ステップと、
   を有する計測方法。
4. 請求項３に記載の計測方法であって、上記加工ステップが、第１光ビームの位置にて計測対象物に穿孔するステップを含む計測方法。