|
JPS6151188A
(ja)
*
|
1984-08-21 |
1986-03-13 |
セイコーインスツルメンツ株式会社 |
アクテイブ・マトリクス表示装置用基板
|
|
JPH0282221A
(ja)
|
1988-09-20 |
1990-03-22 |
Seiko Epson Corp |
電気光学素子の配線方法
|
|
JPH02260460A
(ja)
*
|
1989-03-31 |
1990-10-23 |
Casio Comput Co Ltd |
薄膜トランジスタ
|
|
JPH07113728B2
(ja)
|
1989-05-26 |
1995-12-06 |
シャープ株式会社 |
アクティブマトリクス基板
|
|
DE69107101T2
(de)
*
|
1990-02-06 |
1995-05-24 |
Semiconductor Energy Lab |
Verfahren zum Herstellen eines Oxydfilms.
|
|
JP2851495B2
(ja)
*
|
1992-08-28 |
1999-01-27 |
シャープ株式会社 |
アクティブマトリクス基板の製造方法
|
|
JPH06317809A
(ja)
*
|
1993-05-07 |
1994-11-15 |
Fujitsu Ltd |
薄膜トランジスタマトリクスの製造方法
|
|
JP3423380B2
(ja)
*
|
1993-11-18 |
2003-07-07 |
キヤノン株式会社 |
液晶表示装置
|
|
US5644327A
(en)
*
|
1995-06-07 |
1997-07-01 |
David Sarnoff Research Center, Inc. |
Tessellated electroluminescent display having a multilayer ceramic substrate
|
|
DE69635107D1
(de)
*
|
1995-08-03 |
2005-09-29 |
Koninkl Philips Electronics Nv |
Halbleiteranordnung mit einem transparenten schaltungselement
|
|
JP3541026B2
(ja)
*
|
1995-08-11 |
2004-07-07 |
シャープ株式会社 |
液晶表示装置、およびアクティブマトリクス基板
|
|
KR970011972A
(ko)
*
|
1995-08-11 |
1997-03-29 |
쯔지 하루오 |
투과형 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
|
|
JP2933879B2
(ja)
*
|
1995-08-11 |
1999-08-16 |
シャープ株式会社 |
透過型液晶表示装置およびその製造方法
|
|
US5808691A
(en)
*
|
1995-12-12 |
1998-09-15 |
Cirrus Logic, Inc. |
Digital carrier synthesis synchronized to a reference signal that is asynchronous with respect to a digital sampling clock
|
|
JP3625598B2
(ja)
*
|
1995-12-30 |
2005-03-02 |
三星電子株式会社 |
液晶表示装置の製造方法
|
|
JP3325793B2
(ja)
*
|
1996-03-22 |
2002-09-17 |
三洋電機株式会社 |
非晶質半導体及びその製造方法並びに光起電力装置
|
|
JPH10189992A
(ja)
*
|
1996-12-27 |
1998-07-21 |
Sony Corp |
半導体装置及びその製造方法
|
|
KR100229613B1
(ko)
*
|
1996-12-30 |
1999-11-15 |
구자홍 |
액정 표시 장치 및 제조 방법
|
|
JP3436487B2
(ja)
*
|
1998-05-18 |
2003-08-11 |
シャープ株式会社 |
アクティブマトリクス基板の製造方法
|
|
JP3592535B2
(ja)
*
|
1998-07-16 |
2004-11-24 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
|
JP2000150861A
(ja)
*
|
1998-11-16 |
2000-05-30 |
Tdk Corp |
酸化物薄膜
|
|
JP3276930B2
(ja)
*
|
1998-11-17 |
2002-04-22 |
科学技術振興事業団 |
トランジスタ及び半導体装置
|
|
US6524876B1
(en)
*
|
1999-04-08 |
2003-02-25 |
Samsung Electronics Co., Ltd. |
Thin film transistor array panels for a liquid crystal display and a method for manufacturing the same
|
|
US6362507B1
(en)
*
|
1999-04-20 |
2002-03-26 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Electro-optical devices in which pixel section and the driver circuit are disposed over the same substrate
|
|
JP4403329B2
(ja)
*
|
1999-08-30 |
2010-01-27 |
ソニー株式会社 |
液晶表示装置の製造方法
|
|
WO2001061760A1
(en)
*
|
2000-02-15 |
2001-08-23 |
Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. |
Method of manufacturing thin-film transistor, and liquid-crystal display
|
|
KR20020038482A
(ko)
*
|
2000-11-15 |
2002-05-23 |
모리시타 요이찌 |
박막 트랜지스터 어레이, 그 제조방법 및 그것을 이용한표시패널
|
|
JP4801262B2
(ja)
*
|
2001-01-30 |
2011-10-26 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
|
JP3997731B2
(ja)
*
|
2001-03-19 |
2007-10-24 |
富士ゼロックス株式会社 |
基材上に結晶性半導体薄膜を形成する方法
|
|
JP4090716B2
(ja)
*
|
2001-09-10 |
2008-05-28 |
雅司 川崎 |
薄膜トランジスタおよびマトリクス表示装置
|
|
JP4164562B2
(ja)
|
2002-09-11 |
2008-10-15 |
独立行政法人科学技術振興機構 |
ホモロガス薄膜を活性層として用いる透明薄膜電界効果型トランジスタ
|
|
US7061014B2
(en)
*
|
2001-11-05 |
2006-06-13 |
Japan Science And Technology Agency |
Natural-superlattice homologous single crystal thin film, method for preparation thereof, and device using said single crystal thin film
|
|
KR100825102B1
(ko)
*
|
2002-01-08 |
2008-04-25 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
|
|
JP4083486B2
(ja)
*
|
2002-02-21 |
2008-04-30 |
独立行政法人科学技術振興機構 |
LnCuO(S,Se,Te)単結晶薄膜の製造方法
|
|
US7049190B2
(en)
*
|
2002-03-15 |
2006-05-23 |
Sanyo Electric Co., Ltd. |
Method for forming ZnO film, method for forming ZnO semiconductor layer, method for fabricating semiconductor device, and semiconductor device
|
|
AU2003235271A1
(en)
|
2002-04-19 |
2003-11-03 |
Max Co., Ltd. |
Motor stapler
|
|
JP2004022625A
(ja)
*
|
2002-06-13 |
2004-01-22 |
Murata Mfg Co Ltd |
半導体デバイス及び該半導体デバイスの製造方法
|
|
US7105868B2
(en)
*
|
2002-06-24 |
2006-09-12 |
Cermet, Inc. |
High-electron mobility transistor with zinc oxide
|
|
JP2004077718A
(ja)
*
|
2002-08-15 |
2004-03-11 |
Hitachi Displays Ltd |
液晶表示装置
|
|
US7067843B2
(en)
*
|
2002-10-11 |
2006-06-27 |
E. I. Du Pont De Nemours And Company |
Transparent oxide semiconductor thin film transistors
|
|
TW588462B
(en)
*
|
2003-03-31 |
2004-05-21 |
Quanta Display Inc |
Method of fabricating a thin film transistor array panel
|
|
US7262463B2
(en)
*
|
2003-07-25 |
2007-08-28 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Transistor including a deposited channel region having a doped portion
|
|
JP2005062802A
(ja)
*
|
2003-07-28 |
2005-03-10 |
Advanced Display Inc |
薄膜トランジスタアレイ基板の製法
|
|
JP4712352B2
(ja)
*
|
2003-11-14 |
2011-06-29 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
発光装置の作製方法
|
|
JP4737971B2
(ja)
*
|
2003-11-14 |
2011-08-03 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
液晶表示装置および液晶表示装置の作製方法
|
|
JP4667051B2
(ja)
*
|
2004-01-29 |
2011-04-06 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
|
US7145174B2
(en)
*
|
2004-03-12 |
2006-12-05 |
Hewlett-Packard Development Company, Lp. |
Semiconductor device
|
|
US7282782B2
(en)
*
|
2004-03-12 |
2007-10-16 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Combined binary oxide semiconductor device
|
|
EP2413366B1
(en)
*
|
2004-03-12 |
2017-01-11 |
Japan Science And Technology Agency |
A switching element of LCDs or organic EL displays
|
|
US7211825B2
(en)
*
|
2004-06-14 |
2007-05-01 |
Yi-Chi Shih |
Indium oxide-based thin film transistors and circuits
|
|
KR100968339B1
(ko)
*
|
2004-06-30 |
2010-07-08 |
엘지디스플레이 주식회사 |
액정 표시 장치 및 그 제조 방법
|
|
JP2006100760A
(ja)
*
|
2004-09-02 |
2006-04-13 |
Casio Comput Co Ltd |
薄膜トランジスタおよびその製造方法
|
|
US7285501B2
(en)
*
|
2004-09-17 |
2007-10-23 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Method of forming a solution processed device
|
|
JP4633434B2
(ja)
*
|
2004-10-18 |
2011-02-16 |
シャープ株式会社 |
半導体装置およびその製造方法
|
|
US7298084B2
(en)
*
|
2004-11-02 |
2007-11-20 |
3M Innovative Properties Company |
Methods and displays utilizing integrated zinc oxide row and column drivers in conjunction with organic light emitting diodes
|
|
KR101171175B1
(ko)
*
|
2004-11-03 |
2012-08-06 |
삼성전자주식회사 |
도전체용 식각액 및 이를 이용한 박막 트랜지스터표시판의 제조 방법
|
|
US7863611B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2011-01-04 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Integrated circuits utilizing amorphous oxides
|
|
US7453065B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2008-11-18 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Sensor and image pickup device
|
|
US7791072B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2010-09-07 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Display
|
|
US7868326B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2011-01-11 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Field effect transistor
|
|
US7829444B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2010-11-09 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Field effect transistor manufacturing method
|
|
CN101057339B
(zh)
*
|
2004-11-10 |
2012-12-26 |
佳能株式会社 |
无定形氧化物和场效应晶体管
|
|
CA2585063C
(en)
*
|
2004-11-10 |
2013-01-15 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Light-emitting device
|
|
KR101054344B1
(ko)
*
|
2004-11-17 |
2011-08-04 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
|
|
KR101282397B1
(ko)
*
|
2004-12-07 |
2013-07-04 |
삼성디스플레이 주식회사 |
표시 장치용 배선, 상기 배선을 포함하는 박막 트랜지스터표시판 및 그 제조 방법
|
|
US7579224B2
(en)
*
|
2005-01-21 |
2009-08-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Method for manufacturing a thin film semiconductor device
|
|
JP4777078B2
(ja)
*
|
2005-01-28 |
2011-09-21 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
|
TWI562380B
(en)
*
|
2005-01-28 |
2016-12-11 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
Semiconductor device, electronic device, and method of manufacturing semiconductor device
|
|
TWI445178B
(zh)
*
|
2005-01-28 |
2014-07-11 |
半導體能源研究所股份有限公司 |
半導體裝置,電子裝置,和半導體裝置的製造方法
|
|
US7858451B2
(en)
*
|
2005-02-03 |
2010-12-28 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Electronic device, semiconductor device and manufacturing method thereof
|
|
US7948171B2
(en)
*
|
2005-02-18 |
2011-05-24 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Light emitting device
|
|
JP2006236683A
(ja)
*
|
2005-02-23 |
2006-09-07 |
Sanyo Electric Co Ltd |
有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法
|
|
JP5117667B2
(ja)
*
|
2005-02-28 |
2013-01-16 |
カシオ計算機株式会社 |
薄膜トランジスタパネル
|
|
US20060197092A1
(en)
*
|
2005-03-03 |
2006-09-07 |
Randy Hoffman |
System and method for forming conductive material on a substrate
|
|
KR20060097381A
(ko)
*
|
2005-03-09 |
2006-09-14 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법
|
|
US8681077B2
(en)
*
|
2005-03-18 |
2014-03-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, and display device, driving method and electronic apparatus thereof
|
|
FI119894B
(fi)
*
|
2005-03-30 |
2009-04-30 |
Labmaster Oy |
Elektrokemiluminesenssiin perustuva analyysimenetelmä ja siinä käytettävä laite
|
|
JP4687259B2
(ja)
*
|
2005-06-10 |
2011-05-25 |
カシオ計算機株式会社 |
液晶表示装置
|
|
US7402506B2
(en)
*
|
2005-06-16 |
2008-07-22 |
Eastman Kodak Company |
Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby
|
|
US7381586B2
(en)
*
|
2005-06-16 |
2008-06-03 |
Industrial Technology Research Institute |
Methods for manufacturing thin film transistors that include selectively forming an active channel layer from a solution
|
|
KR100711890B1
(ko)
*
|
2005-07-28 |
2007-04-25 |
삼성에스디아이 주식회사 |
유기 발광표시장치 및 그의 제조방법
|
|
JP2007059128A
(ja)
*
|
2005-08-23 |
2007-03-08 |
Canon Inc |
有機el表示装置およびその製造方法
|
|
JP4280736B2
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2009-06-17 |
キヤノン株式会社 |
半導体素子
|
|
JP5116225B2
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2013-01-09 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体デバイスの製造方法
|
|
JP2007073705A
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2007-03-22 |
Canon Inc |
酸化物半導体チャネル薄膜トランジスタおよびその製造方法
|
|
JP4850457B2
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2012-01-11 |
キヤノン株式会社 |
薄膜トランジスタ及び薄膜ダイオード
|
|
KR100729043B1
(ko)
|
2005-09-14 |
2007-06-14 |
삼성에스디아이 주식회사 |
투명 박막 트랜지스터 및 그의 제조방법
|
|
JP5078246B2
(ja)
*
|
2005-09-29 |
2012-11-21 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置、及び半導体装置の作製方法
|
|
EP3614442A3
(en)
*
|
2005-09-29 |
2020-03-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufactoring method thereof
|
|
JP5064747B2
(ja)
*
|
2005-09-29 |
2012-10-31 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置、電気泳動表示装置、表示モジュール、電子機器、及び半導体装置の作製方法
|
|
US7982215B2
(en)
*
|
2005-10-05 |
2011-07-19 |
Idemitsu Kosan Co., Ltd. |
TFT substrate and method for manufacturing TFT substrate
|
|
US8149346B2
(en)
*
|
2005-10-14 |
2012-04-03 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Display device and manufacturing method thereof
|
|
EP1935027B1
(en)
*
|
2005-10-14 |
2017-06-28 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device and manufacturing method thereof
|
|
JP5427340B2
(ja)
*
|
2005-10-14 |
2014-02-26 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
|
|
JP2007109918A
(ja)
|
2005-10-14 |
2007-04-26 |
Toppan Printing Co Ltd |
トランジスタおよびその製造方法
|
|
JP2007115807A
(ja)
|
2005-10-19 |
2007-05-10 |
Toppan Printing Co Ltd |
トランジスタ
|
|
JP5037808B2
(ja)
*
|
2005-10-20 |
2012-10-03 |
キヤノン株式会社 |
アモルファス酸化物を用いた電界効果型トランジスタ、及び該トランジスタを用いた表示装置
|
|
KR101117948B1
(ko)
*
|
2005-11-15 |
2012-02-15 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
액정 디스플레이 장치 제조 방법
|
|
US7821613B2
(en)
*
|
2005-12-28 |
2010-10-26 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Display device and manufacturing method thereof
|
|
TWI292281B
(en)
*
|
2005-12-29 |
2008-01-01 |
Ind Tech Res Inst |
Pixel structure of active organic light emitting diode and method of fabricating the same
|
|
US7867636B2
(en)
*
|
2006-01-11 |
2011-01-11 |
Murata Manufacturing Co., Ltd. |
Transparent conductive film and method for manufacturing the same
|
|
JP4977478B2
(ja)
*
|
2006-01-21 |
2012-07-18 |
三星電子株式会社 |
ZnOフィルム及びこれを用いたTFTの製造方法
|
|
TWI332589B
(en)
*
|
2006-01-27 |
2010-11-01 |
Au Optronics Corp |
Pixel structure and mehtod for fabricating the same and detecting and repair defect of the same
|
|
US7576394B2
(en)
*
|
2006-02-02 |
2009-08-18 |
Kochi Industrial Promotion Center |
Thin film transistor including low resistance conductive thin films and manufacturing method thereof
|
|
KR100791290B1
(ko)
|
2006-02-10 |
2008-01-04 |
삼성전자주식회사 |
디바이스 간에 악성 어플리케이션의 행위 정보를 사용하는장치 및 방법
|
|
US7977169B2
(en)
*
|
2006-02-15 |
2011-07-12 |
Kochi Industrial Promotion Center |
Semiconductor device including active layer made of zinc oxide with controlled orientations and manufacturing method thereof
|
|
JP5110803B2
(ja)
*
|
2006-03-17 |
2012-12-26 |
キヤノン株式会社 |
酸化物膜をチャネルに用いた電界効果型トランジスタ及びその製造方法
|
|
JP5016831B2
(ja)
*
|
2006-03-17 |
2012-09-05 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体薄膜トランジスタを用いた発光素子及びこれを用いた画像表示装置
|
|
JP2007286150A
(ja)
*
|
2006-04-13 |
2007-11-01 |
Idemitsu Kosan Co Ltd |
電気光学装置、並びに、電流制御用tft基板及びその製造方法
|
|
JP2007292976A
(ja)
*
|
2006-04-25 |
2007-11-08 |
Hitachi Displays Ltd |
液晶表示装置及びその製造方法
|
|
JP5312728B2
(ja)
*
|
2006-04-28 |
2013-10-09 |
凸版印刷株式会社 |
表示装置およびその製造方法
|
|
JP5250944B2
(ja)
*
|
2006-04-28 |
2013-07-31 |
凸版印刷株式会社 |
構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法
|
|
JP5060738B2
(ja)
*
|
2006-04-28 |
2012-10-31 |
株式会社ジャパンディスプレイイースト |
画像表示装置
|
|
JP5105044B2
(ja)
*
|
2006-05-09 |
2012-12-19 |
株式会社ブリヂストン |
酸化物トランジスタ及びその製造方法
|
|
JP5056142B2
(ja)
|
2006-05-11 |
2012-10-24 |
日亜化学工業株式会社 |
窒化物半導体レーザ素子の製造方法及び窒化物半導体レーザ素子
|
|
JP2007310334A
(ja)
*
|
2006-05-19 |
2007-11-29 |
Mikuni Denshi Kk |
ハーフトーン露光法を用いた液晶表示装置の製造法
|
|
JP2006293385A
(ja)
*
|
2006-05-24 |
2006-10-26 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
表示装置
|
|
US20080000851A1
(en)
|
2006-06-02 |
2008-01-03 |
Rohm And Haas Electronic Materials Llc |
Apparatus with fillet radius joints
|
|
US8106865B2
(en)
*
|
2006-06-02 |
2012-01-31 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Display device and driving method thereof
|
|
JP4609797B2
(ja)
*
|
2006-08-09 |
2011-01-12 |
Nec液晶テクノロジー株式会社 |
薄膜デバイス及びその製造方法
|
|
JP4999400B2
(ja)
*
|
2006-08-09 |
2012-08-15 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体膜のドライエッチング方法
|
|
US8400599B2
(en)
*
|
2006-08-16 |
2013-03-19 |
Samsung Display Co., Ltd. |
Liquid crystal display panel having a light blocking electrode
|
|
JP4332545B2
(ja)
*
|
2006-09-15 |
2009-09-16 |
キヤノン株式会社 |
電界効果型トランジスタ及びその製造方法
|
|
JP5145676B2
(ja)
*
|
2006-09-15 |
2013-02-20 |
凸版印刷株式会社 |
薄膜トランジスタおよびその製造方法
|
|
JP4274219B2
(ja)
*
|
2006-09-27 |
2009-06-03 |
セイコーエプソン株式会社 |
電子デバイス、有機エレクトロルミネッセンス装置、有機薄膜半導体装置
|
|
JP5164357B2
(ja)
*
|
2006-09-27 |
2013-03-21 |
キヤノン株式会社 |
半導体装置及び半導体装置の製造方法
|
|
KR101293573B1
(ko)
*
|
2006-10-02 |
2013-08-06 |
삼성디스플레이 주식회사 |
박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
|
|
KR20080030798A
(ko)
*
|
2006-10-02 |
2008-04-07 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
|
|
US7622371B2
(en)
*
|
2006-10-10 |
2009-11-24 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Fused nanocrystal thin film semiconductor and method
|
|
US20080105872A1
(en)
*
|
2006-10-13 |
2008-05-08 |
Chunghwa Picture Tubes, Ltd. |
Pixel structure
|
|
JP4497328B2
(ja)
*
|
2006-10-25 |
2010-07-07 |
セイコーエプソン株式会社 |
電気光学装置及び電子機器
|
|
US7772021B2
(en)
*
|
2006-11-29 |
2010-08-10 |
Samsung Electronics Co., Ltd. |
Flat panel displays comprising a thin-film transistor having a semiconductive oxide in its channel and methods of fabricating the same for use in flat panel displays
|
|
JP2008140684A
(ja)
*
|
2006-12-04 |
2008-06-19 |
Toppan Printing Co Ltd |
カラーelディスプレイおよびその製造方法
|
|
JP5105842B2
(ja)
*
|
2006-12-05 |
2012-12-26 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体を用いた表示装置及びその製造方法
|
|
KR101303578B1
(ko)
*
|
2007-01-05 |
2013-09-09 |
삼성전자주식회사 |
박막 식각 방법
|
|
KR100787464B1
(ko)
*
|
2007-01-08 |
2007-12-26 |
삼성에스디아이 주식회사 |
박막 트랜지스터, 및 그 제조방법
|
|
US8207063B2
(en)
*
|
2007-01-26 |
2012-06-26 |
Eastman Kodak Company |
Process for atomic layer deposition
|
|
KR101377456B1
(ko)
*
|
2007-02-07 |
2014-03-25 |
삼성디스플레이 주식회사 |
표시 기판, 이의 제조 방법 및 이를 갖는 표시 장치
|
|
JP5196870B2
(ja)
*
|
2007-05-23 |
2013-05-15 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体を用いた電子素子及びその製造方法
|
|
KR100858088B1
(ko)
*
|
2007-02-28 |
2008-09-10 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
|
|
JP5244331B2
(ja)
|
2007-03-26 |
2013-07-24 |
出光興産株式会社 |
非晶質酸化物半導体薄膜、その製造方法、薄膜トランジスタの製造方法、電界効果型トランジスタ、発光装置、表示装置及びスパッタリングターゲット
|
|
KR101380225B1
(ko)
*
|
2007-04-13 |
2014-04-01 |
엘지디스플레이 주식회사 |
액정표시장치용 어레이 기판
|
|
US8513678B2
(en)
*
|
2007-05-18 |
2013-08-20 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Light-emitting device
|
|
KR100873081B1
(ko)
*
|
2007-05-29 |
2008-12-09 |
삼성모바일디스플레이주식회사 |
박막 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 박막 트랜지스터를구비하는 평판 표시 장치
|
|
TWI354377B
(en)
*
|
2007-05-30 |
2011-12-11 |
Au Optronics Corp |
Pixel structure of lcd and fabrication method ther
|
|
KR101415561B1
(ko)
*
|
2007-06-14 |
2014-08-07 |
삼성디스플레이 주식회사 |
박막 트랜지스터 표시판 및 그의 제조 방법
|
|
KR101376073B1
(ko)
*
|
2007-06-14 |
2014-03-21 |
삼성디스플레이 주식회사 |
박막 트랜지스터, 이를 포함하는 어레이 기판 및 이의 제조방법
|
|
US7807520B2
(en)
*
|
2007-06-29 |
2010-10-05 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Method for manufacturing semiconductor device
|
|
JP5215158B2
(ja)
*
|
2007-12-17 |
2013-06-19 |
富士フイルム株式会社 |
無機結晶性配向膜及びその製造方法、半導体デバイス
|
|
JP5540517B2
(ja)
*
|
2008-02-22 |
2014-07-02 |
凸版印刷株式会社 |
画像表示装置
|
|
TWI875442B
(zh)
*
|
2008-07-31 |
2025-03-01 |
日商半導體能源研究所股份有限公司 |
半導體裝置及半導體裝置的製造方法
|
|
JP2008282050A
(ja)
*
|
2008-08-11 |
2008-11-20 |
Seiko Epson Corp |
電気光学装置
|
|
JP5451280B2
(ja)
*
|
2008-10-09 |
2014-03-26 |
キヤノン株式会社 |
ウルツ鉱型結晶成長用基板およびその製造方法ならびに半導体装置
|
|
JP5491833B2
(ja)
*
|
2008-12-05 |
2014-05-14 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
|