JP2933879B2 - 透過型液晶表示装置およびその製造方法 - Google Patents

透過型液晶表示装置およびその製造方法

Info

Publication number
JP2933879B2
JP2933879B2 JP21177996A JP21177996A JP2933879B2 JP 2933879 B2 JP2933879 B2 JP 2933879B2 JP 21177996 A JP21177996 A JP 21177996A JP 21177996 A JP21177996 A JP 21177996A JP 2933879 B2 JP2933879 B2 JP 2933879B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating film
wiring
liquid crystal
interlayer insulating
pixel electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP21177996A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09152625A (ja
Inventor
尚幸 島田
優 梶谷
昌也 岡本
直文 近藤
幹雄 片山
由和 咲花
明弘 山本
幸伸 中田
博彦 錦
吉祐 嶋田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Original Assignee
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=27328626&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2933879(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC filed Critical Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Priority to JP21177996A priority Critical patent/JP2933879B2/ja
Publication of JPH09152625A publication Critical patent/JPH09152625A/ja
Priority to TW86109346A priority patent/TW466373B/zh
Application granted granted Critical
Publication of JP2933879B2 publication Critical patent/JP2933879B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136227Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばコンピュー
タやテレビジョン装置などのディスプレイに利用され、
アドレス素子として薄膜トランジスタ(以下TFTとい
う)などのスイッチング素子を備えた透過型液晶表示装
置およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図16は、アクティブマトリクス基板を
備えた従来の透過型液晶表示装置の構成を示す回路図で
ある。
【0003】図16において、このアクティブマトリク
ス基板には、複数の画素電極1がマトリクス状に形成さ
れており、この画素電極1には、スイッチング素子であ
るTFT2が接続されて設けられている。このTFT2
のゲート電極には走査信号を供給するためのゲート配線
3が接続され、ゲート電極に入力されるゲート信号によ
ってTFT2が駆動制御される。また、TFT2のソー
ス電極には表示信号(データ信号)を供給するためソー
ス配線4が接続され、TFT2の駆動時に、TFT2を
介してデータ(表示)信号が画素電極1に入力される。
各ゲート配線3とソース配線4とは、マトリクス状に配
列された画素電極1の周囲を通り、互いに直交差するよ
うに設けられている。さらに、TFT2のドレイン電極
は画素電極1および付加容量5に接続されており、この
付加容量5の対向電極はそれぞれ共通配線6に接続され
ている。付加容量5は液晶層に印加される電圧を保持す
るために用いられる。付加容量は、アクティブマトリク
ス基板に形成された画素電極と対向基板に形成された対
向電極とに持された液晶層を含む液晶容量と、並列に
設けられる。
【0004】図17は従来の液晶表示装置におけるアク
ティブマトリクス基板のTFT部分の断面図である。
【0005】図17において、透明絶縁性基板11上
に、図16のゲート配線3に接続されたゲート電極12
が形成され、その上を覆ってゲート絶縁膜13が形成さ
れている。さらにその上にはゲート電極12と重畳する
ように半導体層14が形成され、その中央部上にチャネ
ル保護層15が形成されている。このチャネル保護層1
5の両端部および半導体層14の一部を覆い、チャネル
保護層15上で分断された状態で、ソース電極16aお
よびドレイン電極16bとなるn+Si層が形成されて
いる。一方のn+Si層であるソース電極16a上に
は、図16のソース配線4となる金属層17aが形成さ
れ、他方のn+Si層であるドレイン電極16b上に
は、ドレイン電極16bと画素電極1とを接続する金属
層17bが形成されている。さらに、これらのTFT
2、ゲート配線3およびソース配線4上部を覆って層間
絶縁膜18が形成されている。
【0006】この層間絶縁膜18の上には、画素電極1
となる透明導電膜が形成され、この透明導電膜は、層間
絶縁膜18を貫くコンタクトホール19を介して、TF
T2のドレイン電極16bと接続した金属層17bと接
続されている。
【0007】このように、ゲート配線3およびソース配
線4と、画素電極1となる透明導電膜との間に層間絶縁
膜18が形成されているので、各配線3,4に対して画
素電極1をオーバーラップさせることができる。このよ
うな構造は、例えば特開昭58−172685号公報に
開示されており、これによって液晶表示装置の開口率を
向上させることができると共に、各配線3,4に起因す
る電界をシールドしてディスクリネーションを抑制する
ことができる。
【0008】上記層間絶縁膜18としては、従来、窒化
シリコン(SiN)などの無機膜をCVD法を用いて膜
厚500nm程度に形成していた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この層
間絶縁膜18上に透明絶縁膜であるSiNx,SiO2
TaOxなどをCVD法またはスパッタ法により成膜し
た場合、その下地膜の膜厚による凹凸を反映するので、
画素電極1をこの上に形成したときに下地膜の段差によ
り段差が形成されて液晶分子の配向不良を引き起こすと
いう問題があった。
【0010】また、画素部を平坦化するためにポリイミ
ドなどの有機膜の塗布により成膜した場合、画素電極と
ドレイン電極を電気的に接続させるためのコンタクトホ
ールを形成するために、マスク材を用いてフォトパター
ニングを行い、エッチングにより、コンタクトホールの
加工を行って、最後に不要となったフォトレジストを剥
離する工程を必要としていた。また、このエッチングお
よび剥離工程を短縮化するために感光性ポリイミド膜を
使用する方法も考えられるが、この場合、層間絶縁膜を
形成した後の樹脂が着色して見えるために、高い光透過
性および透明性が要求される液晶表示装置の層間絶縁膜
には適さないという問題があった。
【0011】また、上記従来の液晶表示装置のように、
ゲート配線3およびソース配線4と、画素電極1との間
に層間絶縁膜18を形成すると、各配線3,4に対して
画素電極1をオーバーラップさせることができ、液晶表
示装置の開口率向上させることができる。ところが、こ
のように、各配線3,4と画素電極1とをオーバーラッ
プさせる構造とした場合、各配線3,4と画素電極1と
の間の容量が増加するという問題を有していた。特に、
窒化シリコン膜などの無機膜は比誘電率が8と高く、C
VD法を用いて成膜しており、500nm程度の膜厚と
なる。この程度の膜厚では各配線3,4と画素電極1と
の間の容量の増加が大きくなり、以下の(1),(2)
に示すような問題があった。なお、窒化シリコン膜など
の無機膜をそれ以上の膜厚に成膜しようとすると、製造
プロセス上、時間がかかりすぎるという問題を有してい
た。
【0012】(1)ソース配線4と画素電極1とをオー
バーラップさせる構造とした場合、ソース配線4と画素
電極1との間の容量が大きくなって信号透過率が大きく
なり、保持期間の間に画素電極1に保持されているデー
タ信号は、データ信号の電位によって揺動を受けること
になる。このため、その画素の液晶に印加される実効電
圧が変動し、実際の表示において特に縦方向の隣の画素
に対して縦クロストークが観察されるという問題があっ
た。
【0013】このようなソース配線4と画素電極1との
間の容量が表示に与える影響を減らす方法の1つとし
て、例えば特開平6−230422号公報には、1ソー
スライン毎に対応する画素に与えるデータ信号の極性を
反転させる駆動方法が提案されている。この駆動方法で
は、隣接する画素の表示に相関が高い白黒表示のパネル
に対しては有効であったが、通常のノートブック型
ソナルコンピューターなどのように、画素電極を縦スト
ライプ状に配列した場合(カラー表示の場合、画素電極
の形状は、例えば正方形の画素をR,G,Bで3等分し
た縦長の長方形状である縦ストライプ状をしている)に
は、ソース配線4に対する隣接画素は、表示色がそれぞ
れ異なっている。このため、上記1ソースライン毎の極
性反転駆動方法は、白黒表示の場合には縦クロストーク
低減に効果があったものの、一般的なカラー表示の場合
にはクロストーク低減に効果が不十分であった。
【0014】(2)画素電極1と、その画素を駆動する
ゲート配線3とをオーバーラップさせる構造とした場
合、ゲート配線3と画素電極1との間の容量が大きくな
って、TFT2を制御するスイッチング信号に起因し
て、画素への書き込み電圧のフィードスルーが大きくな
るという問題があった。
【0015】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、平坦な画素電極と各配線をオーバーラップさせて液
晶表示装置の開口率の向上および液晶の配向不良の抑制
を図ることができるとともに製造工程が簡略化でき、か
つ各配線と画素電極との間の容量成分が表示に与えるク
ロストークなどの影響をより低減して良好な表示を得る
ことができる透過型液晶表示装置およびその製造方法を
提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の透過型液晶表示
装置は、ゲート配線と、ソース配線と、ゲート配線とソ
ース配線との交差部の近傍に設けられたスイッチング素
子とを有し、該スイッチング素子は該ゲート配線に接続
されたゲートと、該ソース配線に接続されたソースと、
液晶層に電圧を印加するための画素電極に接続された
レインとを有する透過型液晶表示装置であって、該スイ
ッチング素子、該ゲート配線および該ソース配線の上部
に、透明度の高い絶縁膜からなる層間絶縁膜が設けら
れ、該層間絶縁膜を貫くコンタクトホールを介して該画
素電極と該ドレインとを、遮光性の前記ゲート配線また
は付加容量配線上部で接続する電極を有し、そのことに
よって上記目的が達成される。
【0017】記層間絶縁膜は感光性絶縁膜であること
が好ましい。
【0018】記画素電極と、前記ソース配線および前
記ゲート配線のうち少なくともいずれかとが、配線幅方
向に1μm以上重なって設けられていることが好まし
い。
【0019】前記層間絶縁膜の膜厚が1.5μm以上で
あることが好ましい。
【0020】前記画素電極と前記ドレインとを接続する
前記電極が透明導電材料からなるのが好ましい。
【0021】前記液晶層に印加される電圧を保持するた
めの付加容量をさらに有し、前記コンタクトホールが、
該付加容量の一方の電極または前記ゲート配線の上部に
設けられていることが好ましい。
【0022】本発明の透過型液晶表示装置の製造方法
は、基板上に、複数のスイッチング素子をマトリクス状
に形成すると共に、該スイッチング素子のゲートに接続
されたゲート配線および、該スイッチング素子のソース
に接続されたソース配線を互いに交差するように形成
し、かつ該スイッチング素子のドレインに接続された
加容量配線を形成する工程と、該スイッチング素子、該
ゲート配線、該ソース配線および該付加容量配線の上部
に、透明度の高い絶縁膜を形成した後、該絶縁膜をパタ
ーニングして層間絶縁膜を形成すると共に、該層間絶縁
膜を貫くコンタクトホールを形成する工程と、該層間絶
縁膜上およびコンタクトホール内に、透明導電材料から
なる画素電極形成する工程と、該コンタクトホールを
介して該画素電極と該ドレインとを、遮光性の該ゲート
配線または該付加容量配線上部で接続する電極を形成す
る工程とを含み、そのことによって上記目的が達成され
る。
【0023】記画素電極の膜厚を50nm以上に形成
するのが好ましい。
【0024】前記層間絶縁膜として感光性樹脂からなる
有機膜を用い、該有機膜のパターニングは、該有機膜を
露光し、該露光された有機膜を現像する工程を包含する
ことが好ましい。
【0025】前記有機膜を、その濃度が0.1から1.
0mol%のテトラメチルアンモニウムヒドロオキサイ
ド現像液により現像して層間絶縁膜を形成するのが好ま
い。
【0026】下に、本発明の作用を説明する。
【0027】本発明においては、スイッチング素子、ゲ
ート配線およびソース配線の上部に層間絶縁膜が設けら
れ、その上に画素電極が設けられて、層間絶縁膜を貫く
コンタクトホールを介して接続電極によりTFTのドレ
イン電極と接続されている。このように、スイッチング
素子のドレイン電極に接続電極を介して画素電極を接続
するようにすれば、TFTが小さくなった場合であって
も、層間絶縁膜を貫くコンタクトホールなどによる接続
部を容易に取ることが可能となる。つまり、TFTの大
きさを小さくすることができるので開口率を向上させる
ことができる。また、層間絶縁膜が設けられることによ
り、各配線と画素電極とをオーバーラップさせることが
できて、開口率を向上することが可能となると共に液晶
の配向不良が抑制可能となる。しかも、この層間絶縁膜
として、アクリル系感光性樹脂などの有機材料を用いる
、従来用いられていた窒化シリコンなどの無機薄膜に
比べて比誘電率が低く、透明度が高い良質な膜を生産性
よく得られるので、膜厚を厚くすることが可能となっ
て、各配線と画素電極との間の容量分が低減されて信号
透過率も抑制され、これにより、各配線と画素電極との
間の容量成分が表示に与えるクロストークなどの影響を
より低減してより良好な表示が得られる。
【0028】の層間絶縁膜は、感光性アクリル系樹脂
などの感光性の絶縁膜デポし、露光および現像により
パターニングという簡易な方法で、生産性よく得られ
る。
【0029】さらに、画素電極と各配線とを1μm以上
オーバーラップさせると、開口率を最大限にすることが
できると共に、画素電極の各配線に対する加工精度が粗
くても良い。つまり、加工精度が粗くても画素電極と各
配線が重なっていれば、重なった各配線によって光漏れ
は遮断される。
【0030】さらに、層間絶縁膜の膜厚を1.5μm以
上にすると、画素電極と各配線とを1μm以上オーバー
ラップさせても、各配線と画素電極との間の容量は十分
小さくなって時定数も小さくなり、容量成分が表示に与
えるクロストークなどの影響をより低減してより良好な
表示が得られる。
【0031】TFTのドレイン電極と画素電極とを接続
する接続電極に、透明導電膜を用いれば、開口率はさら
に向上する。
【0032】さらに、層間絶縁膜を貫くコンタクトホー
ルが、遮光性の付加容量配線またはゲート配線の上部に
設けられていると、液晶の配向乱れによる光漏れが開口
部以外の遮光部で発生することになり、コントラストの
低下が生じない。
【0033】らに、本発明に比較的膜厚の厚い層間絶
縁膜を用いることにより平坦化が可能になって、従来、
その下層の配線などによる段差部で起こっていた画素電
極のドレイン側における断線など、段差による影響がな
くなり、また、段差による配向不良が防止される。ま
た、ソース配線と画素電極間の層間絶縁膜で絶縁されて
おり、ソース配線と画素電極間の電気的リークによる欠
陥絵素が極めて少なくなり、製造歩留の向上が可能にな
り、製造コストの減少も可能になる。さらに、従来、層
間絶縁膜を形成するために必要であった成膜、フォトレ
ジストによるパターン形成工程、エッチング、レジスト
剥離、洗浄工程が、本発明では感光性絶縁膜形成工程の
みで形成可能であるため、製造工程の短縮化および簡素
化を図ることが可能となり、製造コストの減少をも図る
ことが可能となる。
【0034】らに、画素電極の膜厚が50nm以上で
あれば、膜表面隙間からの薬液の侵入が防止可能とな
り、剥離液に使用する薬液によって生ずる樹脂の膨潤が
抑制される。
【0035】さらに、本発明においては、画素電極と各
配線との間に従来設けていたマージンを無くすことで、
画素電極が大きくなり、表示開口率が向上してその明る
さも向上し、コントラストが非常に良くなって、コント
ラストが悪化することなくリタデーションを小さくして
視野角を広くすることが可能となり、多大なる広視野角
化が図られる。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
【0037】(実施形態1) 図1は、本発明の実施形態1の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の1画素部分の構成を示
す平面図である。
【0038】図1において、アクティブマトリクス基板
には、複数の画素電極21がマトリクス状に設けられて
おり、これらの画素電極21の周囲を通り、互いに直交
差するように、走査信号を供給するための各ゲート配線
22と表示信号を供給するためのソース配線23が設け
られている。これらのゲート配線22とソース配線23
はその一部が画素電極21の外周部分とオーバーラップ
している。また、これらのゲート配線22とソース配線
23の交差部分において、画素電極21に接続されるス
イッチング素子としてのTFT24が設けられている。
このTFT24のゲート電極にはゲート配線22が接続
され、ゲート電極に入力される信号によってTFT24
が駆動制御される。また、TFT24のソース電極には
ソース配線23が接続され、TFT24のソース電極に
データ信号が入力される。さらに、TFT24のドレイ
ン電極は、接続電極25さらにコンタクトホール26を
介して画素電極21と接続されるとともに、接続電極2
5を介して付加容量の一方の電極である付加容量電極2
5aと接続されている。この付加容量の他方の電極であ
る付加容量対向電極27は共通配線(図16の6)に接
続されている。
【0039】図2は図1の透過型液晶表示装置における
アクティブマトリクス基板のA−A’断面図である。
【0040】図2において、透明絶縁性基板31上に、
図1のゲート配線22に接続されたゲート電極32が設
けられ、その上を覆ってゲート絶縁膜33が設けられて
いる。その上にはゲート電極32と重畳するように半導
体層34が設けられ、その中央部上にチャネル保護層3
5が設けられている。このチャネル保護層35の両端部
および半導体層34の一部を覆い、チャネル保護層35
上で分断された状態で、ソース電極36aおよびドレイ
ン電極36bとなるn+Si層が設けられている。一方
のn+Si層であるソース電極36aの端部上には、透
明導電膜37cと金属層37bとが設けられて2層構造
のソース配線23となっている。また、他方のn+Si
層であるドレイン電極36bの端部上には、透明導電膜
37a’と金属層37b’とが設けられ、透明導電膜3
7a’は延長されて、ドレイン電極36bと画素電極2
1とを接続するとともに付加容量の一方の電極である付
加容量電極25aに接続される接続電極25となってい
る。さらに、TFT24、ゲート配線22およびソース
配線23、接続電極25の上部を覆って層間絶縁膜38
が設けられている。
【0041】この層間絶縁膜38上には、画素電極21
となる透明導電膜が設けられ、層間絶縁膜38を貫くコ
ンタクトホール26を介して、接続電極25である透明
導電膜37a’によりTFT24のドレイン電極36b
と接続されている。
【0042】以上のように本実施形態1のアクティブマ
トリクス基板が構成され、以下のようにして製造するこ
とができる。
【0043】まず、ガラス基板などの透明絶縁性基板3
1上に、ゲート電極32、ゲート絶縁膜33、半導体層
34、チャネル保護層35、ソース電極36aおよびド
レイン電極36bとなるn+Si層を順次成膜して形成
する。ここまでの作製プロセスは、従来のアクティブマ
トリクス基板の製造方法と同様にして行うことができ
る。
【0044】次に、ソース配線23および接続電極25
を構成する透明導電膜37a,37a’および金属層3
7b,37b’を、スパッタ法により順次成膜して所定
形状にパターニングする。
【0045】さらに、その上に、層間絶縁膜38として
感光性のアクリル樹脂をスピン塗布法により例えば3μ
mの膜厚で形成する。この樹脂に対して、所望のパター
ンに従って露光し、アルカリ性の溶液によって現像処理
する。これにより露光された部分のみがアルカリ性の溶
液によってエッチングされ、層間絶縁膜38を貫通する
コンタクトホール26が形成されることになる。
【0046】その後、画素電極21となる透明導電膜を
スパッタ法により形成し、パターニングする。これによ
り画素電極21は、層間絶縁膜38を貫くコンタクトホ
ール26を介して、TFT24のドレイン電極36bと
接続されている透明導電膜37a’と接続されることに
なる。このようにして、本実施形態1のアクティブマト
リクス基板を製造することができる。
【0047】したがって、このようにして得られたアク
ティブマトリクス基板は、ゲート配線22、ソース配線
23およびTFT24と、画素電極21との間に厚い膜
厚の層間絶縁膜38が形成されているので、各配線2
2,23およびTFT24に対して画素電極21をオー
バーラップさせることができるとともにその表面を平坦
化させることができる。このため、アクティブマトリク
ス基板と対向基板の間に液晶を介在させた透過型液晶表
示装置の構成とした時に、開口率を向上させることがで
きると共に、各配線22,23に起因する電界を画素電
極21でシールドしてディスクリネーションを抑制する
ことができる。
【0048】また、層間絶縁膜38を構成するアクリル
系樹脂は、比誘電率が3.4から3.8と無機膜(窒化
シリコンの比誘電率8)に比べて低く、また、その透明
度も高くスピン塗布法により容易に3μmという厚い膜
厚にすることができるので、ゲート配線22と画素電極
21との間の容量および、ソース配線23と画素電極2
1との間の容量を低くすることができて時定数が低くな
り、各配線22,23と画素電極21との間の容量成分
が表示に与えるクロストークなどの影響をより低減する
ことができて良好で明るい表示を得ることができる。ま
た、露光およびアルカリ現像によってパターニングを行
うことにより、コンタクトホール26のテーパ形状を良
好にすることができ、画素電極21と接続電極37a’
との接続を良好にすることができる。さらに、感光性の
アクリル樹脂を用いることにより、スピン塗布法を用い
て薄膜が形成できるので、数μmという膜厚の薄膜を容
易に形成でき、しかも、パターニングにフォトレジスト
工程も不要であるので、生産性の点で有利である。ここ
で、層間絶縁膜38として用いたアクリル系樹脂は、塗
布前に着色しているものであるが、パターニング後に全
面露光処理を施してより透明化することができる。この
ように、樹脂の透明化処理は、光学的に行うことができ
るだけではなくて、化学的にも行うことが可能である。
【0049】本実施形態で層間絶縁膜38として用いた
感光性樹脂の露光には、i線(波長365nm)、h線
(波長405nm)及びg線(波長436nm)の輝線
を含む水銀灯の光線を用いるのが一般的である。感光性
樹脂としては、これらの輝線のなかで最もエネルギーの
高い(波長の最も短い)i線に感光性(吸収ピーク)を
有する感光性樹脂を用いることが好ましい。コンタクト
ホールの加工精度を高くするとともに、感光剤に起因す
る着色を最小限に抑制することができる。
【0050】また、エキシマーレーザからの短波長の紫
外線を用いてもよい。
【0051】このようにして、着色のない層間絶縁膜を
用いることによって、透過型液晶表示装置の透過率を高
めることができる。従って、液晶表示装置の高輝度化や
バックライトからの光量をえることによって低消費電
力化を図ることができる。
【0052】また、層間絶縁膜38を、従来の層間絶縁
膜と比べて厚く、数μmの厚さに形成するので、層間絶
縁膜の透過率はできるだけ高い方が好ましい。但し、人
間の目の視感度は、緑や赤に比べて青に対しては若干低
いので、層間絶縁膜の分光透過率は青色光に対する透過
率が若干低くても、表示品位の低下は少ない。なお、本
実施例では、層間絶縁膜38の膜厚を3μmとしたが、
これに限られるでなく、光透過率や誘電率を考慮し適
宜設定することができる。なお、容量を十分に小さくす
るためには、層間絶縁膜の膜厚は約1.5μm以上が好
ましく、約2.0μm以上が更に好ましい。
【0053】さらに、TFT24のドレイン電極36b
と画素電極21とを接続する接続電極25として透明導
電膜37a’を形成することにより、以下のような利点
を有する。即ち、従来のアクティブマトリクス基板にお
いては、この接続電極を金属層によって形成していたた
め、接続電極が開口部に存在すると開口率の低下の原因
となっていた。これを防ぐため、従来は、TFTまたは
TFTのドレイン電極上に接続電極を形成し、その上に
層間絶縁膜のコンタクトホールを形成してTFTのドレ
イン電極と画素電極とを接続するという方法が用いられ
てきた。しかし、この従来の方法では、特に、開口率を
向上させるためにTFTを小型化した場合に、コンタク
トホールを完全にTFTの上に設けることができず、開
口率の低下を招いていた。また、層間絶縁膜を数μmと
いう厚い膜厚に形成した場合、画素電極が下層の接続電
極とコンタクトするためには、コンタクトホールをテー
パ形状にする必要があり、さらにTFT上の接続電極領
域を大きく取ることが必要であった。例えば、そのコン
タクトホールの径を5μmとした場合、コンタクトホー
ルのテーパ領域およびアラインメント精度を考慮する
と、接続電極の大きさとしては14μm程度が必要であ
り、従来のアクティブマトリクス基板では、これよりも
小さいサイズのTFTを形成すると接続電極に起因する
開口率の低下を招いていた。これに対して、本実施形態
1のアクティブマトリクス基板では、接続電極25が透
明導電膜37a’により形成されているので、開口率の
低下が生じない。また、この接続電極25は延長され
て、TFTのドレイン電極36bと、透明導電膜37
a’により形成された付加容量の一方の電極である付加
容量電極25aとを接続する役割も担っており、この延
長部分も透明導電膜37a’により形成されているの
で、この配線による開口率の低下も生じない。
【0054】さらには、ソース配線23を2層構造とす
ることにより、ソース配線23を構成する金属層37b
の一部に膜の欠損があったとしても、ITOなどの透明
導電膜37aにより電気的に接続されるので、ソース配
線23の断線を少なくできるという利点がある。
【0055】(実施形態2) 本実施形態2では、層間絶縁膜38の作製プロセスにつ
いて、他の方法を説明する。
【0056】まず、感光性でない有機薄膜をスピン塗布
法により形成する。その上にフォトレジストを形成して
パターニングした後、エッチング処理を施して層間絶縁
膜38を貫通するコンタクトホール26を形成すると共
に層間絶縁膜38のパターニングを行う。
【0057】または、感光性でない有機薄膜を積層し、
その上にフォトレジストを形成してパターニングした
後、エッチング処理を施して層間絶縁膜38のパターニ
ングを行ってもよい。
【0058】感光性を有さない有機薄膜の材料として
は、例えば、熱硬化性アクリル系樹脂を用いることがで
きる。具体的には、日本合成ゴム社製のJSS-924(2液
タイプ)やJSS-925(1液タイプ)を用いることができ
る。これらの樹脂も概ね280℃以上の耐熱性を有して
いる。また、感光性を有さない樹脂を用いて層間絶縁膜
を形成することによって、樹脂の設計の自由度が上が
り、例えば、ポリイミド樹脂を用いることもできる。無
色透明なポリイミド樹脂としては、2,2−ビス(ジカ
ルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロピレン酸二無水
物、オキシジフタル酸無水物、及びビフェニルテトラカ
ルボン酸無水物などの酸二無水物と、スルホン基及び/
またはエーテル基を有するメタ位置換芳香族ジアミン、
ヘキサフルオロプロピレン基を有するジアミンとも組み
合わせから得られるポリイミドを挙げることができる。
これらのポリイミド樹脂については、例えば、藤田ら、
日東技報、第29巻、第1号、第20〜28頁(199
1)に開示されている。また、これらの無色透明ポリイ
ミド樹脂のなかでも、酸二無水物及びジアミンの両方が
ヘキサフルオロプロピレン基を有する樹脂の透明性が高
い。これらフッ素系のポリイミド以外のフッ素系の樹脂
を用いることもできる。フッ素系の材料は無色透明性に
優れるとともに、低誘電率および高耐熱性という特徴を
有している。
【0059】また、感光性を有さない有機材料からなる
層間絶縁膜をパターニングするために用いるフォトレジ
ストの材料としては、シリコン元素を含有するフォトレ
ジストを用いることが好ましい。上記有機薄膜のエッチ
ングは、CF4、CF3HやSF6等を含有するエッチン
グガスを用いたドライエッチング法で行うのが一般的で
ある。エッチングされる層間絶縁膜もエッチングレジス
トとして機能するフォトレジストもともに有機材料から
なるので、上記方法でエッチングを行うと選択比を大き
くすることが困難である。特に、本実施形態のように、
1.5μm以上の膜厚の層間絶縁膜をエッチングする場
合、層間絶縁膜の厚さとレジスト層の膜厚とがほぼ同程
度なので、材料自身のエッチング速度に十分な差(選択
比)があることが好ましい。例えば、本実施形態の感光
性アクリル系樹脂と通常のフォトレジスト(例えば、東
京応化工業社製OFPR−800)との選択比は、約
1.5である。これに対し、本実施形態で用いたシリコ
ン元素含有のフォトレジストと感光性アクリル系樹脂と
の選択比は、約2.0以上であり、高精度のパターニン
グが可能である。
【0060】さらに、他の方法として、シリコン元素を
含有しない通常のフォトレジスト層を形成した後、フォ
トレジスト層の表面にシランカップリング剤(例えば、
ヘキサメチルジシラザン)を塗布し、このシランカップ
リング剤層を酸素プラズマ処理することによって、フォ
トレジスト層のエッチング速度を小さくすることができ
る。これは、シランカップリング剤層が酸素プラズマ処
理によって、酸化シリコン層となり、フォトレジスト層
の保護層として機能するからである。この方法は、シリ
コン元素を含むフォトレジスト材料と組み合わせて用い
ることもできる。
【0061】上述したシリコン元素を利用して選択比を
向上する方法は、CF4、CF3HまたはSF6を含有す
るエッチングガスを用いたドライエッチング法において
特に顕著な効果が得られる。
【0062】このようにして層間絶縁膜38を形成した
アクティブマトリクス基板においても、上記実施形態1
のアクティブマトリクス基板と同様に、開口率の高い透
過型液晶表示装置を実現することができる。
【0063】また、層間絶縁膜38として感光性でない
有機薄膜を用いても、その比誘電率が低く、また、透明
度も高いので3μmという厚い膜厚にすることができ
る。よって、ゲート配線22と画素電極21との間の容
量およびソース配線23と画素電極21との間の容量
を、その低い比誘電率と容量の電極間距離が離れる分、
低くすることができる。
【0064】(実施形態3) 図3は、本発明の実施形態3の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の1画素部分の構成を示
す平面図であり、図4は図3の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板のB−B’断面図であ
る。なお、図1および図2と同様の作用効果を奏する部
材には同一の符号を付けてその説明を省略する。
【0065】本実施形態3のアクティブマトリクス基板
では、TFT24のドレイン電極36bに接続される接
続電極25の先端部である、画素の付加容量の一方の電
極である付加容量電極25aに対向する付加容量対向電
極27が、図16の付加容量共通配線6を通じて対向基
板上に形成された対向電極に接続される構成となってい
るが、層間絶縁膜38を貫くコンタクトホール26aの
形成位置を、この付加容量共通配線6の一端である付加
容量対向電極27および付加容量電極25aの上部に形
成している。つまり、このコンタクトホール26aは、
遮光性の金属膜で構成されている付加容量配線上部に設
けられている。
【0066】これにより、以下のような利点を有する。
【0067】例えば、層間絶縁膜38の膜厚を3μmに
すると、液晶セルの厚みである4.5μmと比較しても
無視できない厚みであるので、コンタクトホール26a
の周辺に液晶の配向乱れによる光漏れが発生する。した
がって、透過型液晶表示装置の開口部にこのようなコン
タクトホール26aを形成した場合には、この光漏れに
よるコントラストの低下が生じる。これに対して、本実
施形態3のアクティブマトリクス基板では、付加容量共
通配線6の一端である付加容量対向電極27および付加
容量電極25aの遮光性の金属膜上部にコンタクトホー
ル26aが形成されているので、このような問題は生じ
ない。つまり、このコンタクトホール26aが、遮光性
の金属膜である付加容量配線上部に設けられていると、
液晶の配向乱れによる光漏れが発生しても、開口部以外
の遮光部であってコントラストの低下は生じない。これ
は、隣接するゲート配線22の一部を付加容量電極とし
て付加容量を形成する場合にも同様であり、この場合に
は、隣接するゲート配線22上にコンタクトホール26
aを形成することにより、ゲート配線22で遮光してコ
ントラストの低下を防ぐことができる。
【0068】また、このアクティブマトリクス基板は、
TFT24のドレイン電極36bと、コンタクトホール
26aとを接続する接続電極25として透明導電膜37
a’を形成しているので、コンタクトホール26aを付
加容量上に形成しても開口率の低下は生じない。
【0069】したがって、ホール下部においては付加容
量対向電極27で遮光しているのでその部分で液晶の配
向が乱れたとしても表示には影響無く、コンタクトホー
ル26aの形成には、その寸法精度を重視する必要がな
く、大きくしかも滑らかに形成することができて、層間
絶縁膜38上に形成される画素電極21がコンタクトホ
ール26aで切れることなく、よりうまくつながって、
歩留まりも向上する。
【0070】(実施形態4) 図5は、本発明の実施形態4の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の構成を示す一部断面図
である。
【0071】本実施形態4のアクティブマトリクス基板
では、層間絶縁膜38を貫くコンタクトホール26bが
付加容量共通配線6の上部に形成されており、このコン
タクトホール26bの下部に形成された透明導電膜37
a’の上に金属窒化物層41が形成されている。
【0072】これにより、以下のような利点を有する。
【0073】層間絶縁膜38を構成する樹脂と、透明導
電膜であるITOなど、または金属であるTa、Alな
どとの密着性には問題がある。例えば、コンタクトホー
ル26bの開口後の洗浄工程において、コンタクトホー
ル26bの開口部から、その樹脂と下地との間の界面に
洗浄液が侵入し、樹脂の膜剥がれが生じるという問題が
あった。これに対して、本実施形態4のアクティブマト
リクス基板では、その樹脂との密着性が良好なTaNや
AlNなどの金属窒化物層41を形成するので、膜剥が
れなどの密着性に関する問題は生じない。
【0074】この金属窒化物層41は、層間絶縁膜38
を構成する樹脂や、透明導電膜である接続電極37a’
およびTa、Alなどの金属などと密着性のよいもので
あればいずれを用いてもよいが、接続電極37a’と画
素電極21とを電気的に接続する必要があるので、良好
な導電性を有している必要がある。
【0075】(実施形態5) 本実施形態5では、透過型液晶表示装置の駆動方法につ
いて説明する。
【0076】本発明の透過型液晶表示装置においては、
層間絶縁膜を形成することにより各配線と画素電極とを
オーバーラップさせている。画素電極と各配線とがオー
バーラップせずに、その間に間隔が開いていると液晶に
電界の印加されない領域が発生するが、このように画素
電極を各配線にオーバーラップさせることにより、この
領域をなくすことができる。また、隣接する画素電極の
間の液晶にも電界が印加されないが、それによる光漏れ
を各配線により遮断することができる。このため、対向
基板上に、両基板の貼り合わせずれを見込んだ形でブラ
ックマスクを形成する必要がなくなり、開口率を向上さ
せることができる。また、各配線に起因する電界をシー
ルドすることもできるので、液晶の配向不良の抑制を図
ることができるという利点もある。
【0077】但し、このオーバーラップ幅は、実際の製
造工程でのばらつきを見込んで設定する必要があり、例
えば1.0μm程度以上に設定されることが望ましい。
【0078】上述のように、ソース配線と画素電極とを
オーバーラップさせる構造とした場合には、ソース配線
と画素電極との間の容量に起因してクロストークが発生
し、表示品位を低下させるという問題があった。特に、
ノートブック型ーソナルコンピューターに用いられる
液晶パネルにおいては、一般的に画素を縦ストライプに
配列するため、ソース配線と画素電極との間の容量の表
示に対する影響が大きい。この理由として、この配列で
は画素電極の形状がソース信号と隣接する部分を長辺と
する長方形となるので、画素電極とソース配線との間の
容量が相対的に大きくなること、また、隣接するソース
配線の表示の色が異なっているため、信号の相関性が少
なく、容量の影響をキャンセルさせることができないこ
となどが考えられる。
【0079】本発明の透過型液晶表示装置においては、
層間絶縁膜が有機薄膜からなるので比誘電率が小さく、
また、膜厚を容易に厚くできるので、画素電極と各配線
との間の容量を小さくすることができる。さらにこれに
加えて、ソース配線と画素電極との間の容量の影響を小
さくして、ノートブック型ーソナルコンピューターに
おいても縦クロストークを十分低減させるためには、以
下のような駆動方法を用いることができる。
【0080】本実施形態5の透過型液晶表示装置の駆動
方法は、ソース配線と画素電極との間の容量の表示に対
する影響を低減させるために、データ信号の極性を一水
平期間毎に反転させる駆動方法(以下1H反転という)
を用いて駆動する。
【0081】図6に、1H反転の場合(図7a)と、デ
ータ信号の極性をフィールド毎に反転させる駆動方法
(以下フィールド反転という)の場合(図7b)とにつ
いて、ソース配線と画素電極との間の容量が画素の充電
率に与える影響を示している。
【0082】図6において、縦軸の充電率差とは、中間
調の一様表示の場合と、中間調表示の中に縦方向の占有
率が33%である黒のウィンドーパターンを表示させた
場合とにおいて、中間調表示部の液晶に印加される電圧
の実効値差の割合を示している。また、横軸の容量比と
は、ソース配線と画素電極との間の容量に起因する画素
電極の電圧変動に比例し、下記式(1)で定義される。
【0083】 容量比=Csd/(Csd+Cls+Cs) ・・・(1) 但し、Csdは画素電極とソース配線との間の容量値を示
し、Clsは各画素を構成する液晶の中間調表示における
容量値を示し、Csは各画素を構成する付加容量の容量
値を示している。なお、中間調表示とは、透過率が50
%の場合を示している。
【0084】図6から明かなように、本実施形態5によ
る1H反転の駆動方法は、フィールド反転による駆動方
法に比べて、ソース配線と画素電極との間の容量が同じ
であっても、実際の液晶に印加される実効電圧への影響
を1/5〜1/10に低減することができることが解
る。この理由は、1H反転駆動の場合には、1フィール
ドの間に1フィールドの時間に対して十分に短い周期
で、データ信号の極性が反転されるので、+極性の信号
と−極性の信号とが表示に与える影響がキャンセルされ
るためである。
【0085】ところで、対角26cmのVGAパネルで
表示実験を行ったところ、中間調において充電率差が
0.6%以上になるとクロストークが顕著になって、表
示品位に問題が生じることが解った。このスペックを図
6の図中に点線で示している。図6によれば、充電率差
を0.6%以下にするためには、容量比を10%以下に
すればよいことが解る。
【0086】図8に、対角26cmのVGAパネルにお
いて、層間絶縁膜の膜厚をパラメーターとして計算した
場合の、画素電極とソース配線とのオーバーラップ量
と、画素電極とソース配線との間の容量との関係を示し
ている。ここで、層間絶縁膜は、上記実施態様1で用い
たアクリル系感光性樹脂(比誘電率3.4)とした。ま
た、このとき、加工精度を考慮すると、画素電極とソー
ス配線との間のオーバーラップ幅は少なくとも1μmは
必要である。図6および図8によれば、オーバーラップ
幅を1μmとして充電率差を0.6%以下とするために
は、層間絶縁膜の膜厚が2.0μm以上であればよいこ
とが解る。
【0087】このように、画素電極をソース配線に対し
てオーバーラップさせた場合、1水平期間毎に信号の極
性を反転させる1H反転駆動を行うことにより、隣接す
るソース配線の信号の極性を反転させるソースライン反
転駆動を行わななくても縦クロストークが認められない
良好な表示を得ることができ、ノートブック型パーソナ
ルコンピュータにも十分対応することができる。
【0088】また、1H反転駆動において横方向に隣接
する画素電極に入力する信号の極性を反転する、ドット
反転駆動を用いても、上記1H反転駆動と同様な効果が
得られる。また、ソースライン反転駆動においても、画
素電極とソース配線との間の容量が十分小さい場合に
は、効果的である。さらに、本願発明によると画素電極
とソース配線との間の容量が十分小さいので、隣接する
画素電極に供給される信号に相関が低いカラー表示を行
う場合においても、クロストークの発生を抑制すること
ができる。
【0089】(実施形態6) 本実施形態6では、液晶に印加される電圧の極性を1ゲ
ート配線毎に反転させると共に、対向電極に印加される
信号をソース信号の極性の反転と同期させて、交流駆動
する駆動方法について説明する。
【0090】このように対向電極を駆動することによ
り、ソース信号の振幅を小さく抑えることができる。
【0091】上記図6に、対向電極を振幅5Vで交流駆
動した場合について、同時に示している。図6によれ
ば、対向電極を交流駆動することにより約1割程度、充
電率差が大きくなるものの、1H反転駆動を行っている
ためにフィールド反転駆動に比べて十分充電率差を小さ
くできる。したがって、この駆動方法でも、縦クロスト
ークが見られない良好な表示を実現することができる。
【0092】(実施形態7) 本実施形態7は、平坦な画素電極と各配線をオーバーラ
ップさせて液晶表示の開口率の向上および液晶の配向不
良の抑制を図ることができるとともに製造工程が簡略化
でき、かつ各配線と画素電極との間の容量成分が表示に
与えるクロストークなどの影響をより低減して良好な表
示を得る場合であり、これに加えて、層間絶縁膜の露光
および現像後、前記感光性透明アクリル樹脂に使用する
感光剤に対して、基板全面に露光を行い、不要な感光剤
を完全に反応させることで、透明度の高い層間絶縁膜と
する場合である。
【0093】図9は、本発明の実施形態7の透過型液晶
表示装置におけるアクティブマトリクス基板の1画素部
分の構成を示す平面図である。
【0094】図9において、アクティブマトリクス基板
には、複数の画素電極51がマトリクス状に設けられて
おり、これらの画素電極51の周囲を通り、互いに直交
差するように、各ゲート配線52とソース配線53が設
けられている。これらのゲート配線52とソース配線5
3はその一部が画素電極51の外周部分とオーバーラッ
プしている。また、これらのゲート配線52とソース配
線53の交差部分において、画素電極51に接続される
スイッチング素子としてのTFT54が設けられてい
る。このTFT54のゲート電極にはゲート配線52が
接続され、ゲート電極に入力される信号によってTFT
54が駆動制御される。また、TFT54のソース電極
にはソース配線53が接続され、TFT54のソース電
極にデータ信号が入力される。さらに、TFT54のド
レイン電極は、接続電極55さらにコンタクトホール5
6を介して画素電極51と接続されるとともに、接続電
極55を介して付加容量の一方の電極である付加容量電
極55aと接続されている。この付加容量の他方の電極
である付加容量対向電極57は共通配線に接続されてい
る。
【0095】図10は図9の透過型液晶表示装置におけ
るアクティブマトリクス基板のC−C’断面図である。
【0096】図10において、透明絶縁性基板61上
に、図9のゲート配線52に接続されたゲート電極62
が設けられ、その上を覆ってゲート絶縁膜63が設けら
れている。その上にはゲート電極62と重畳するように
半導体層64が設けられ、その中央部上にチャネル保護
層65が設けられている。このチャネル保護層65の両
端部および半導体層64の一部を覆い、チャネル保護層
65上で分断された状態で、ソース電極66aおよびド
レイン電極66bとなるn+Si層が設けられている。
一方のn+Si層であるソース電極66aの端部上に
は、透明導電膜67aと金属層67bとが設けられて2
層構造のソース配線53となっている。また、他方のn
+Si層であるドレイン電極66bの端部上には、透明
導電膜67a’と金属層67b’とが設けられ、透明導
電膜67a’は延長されて、ドレイン電極66bと画素
電極51とを接続するとともに付加容量の一方の電極で
ある付加容量電極55aに接続される接続電極55とな
っている。さらに、TFT54、ゲート配線52および
ソース配線53、接続電極55の上部を覆って、感光部
分が現像液に溶解する透明度の高い透明アクリル樹脂
(感光性透明アクリル樹脂)からなる層間絶縁膜68が
設けられている。
【0097】この層間絶縁膜68上には、画素電極51
となる透明導電膜が設けられ、層間絶縁膜68を貫くコ
ンタクトホール66を介して、接続電極55である透明
導電膜67a’によりTFT54のドレイン電極66b
と接続されている。
【0098】以上のように本実施形態7のアクティブマ
トリクス基板が構成され、以下のようにして製造するこ
とができる。
【0099】まず、ガラス基板などの透明絶縁性基板6
1上に、Ta,Al,Mo,W,Crなどよりなるゲー
ト電極62、SiNx,SiO2,Ta25などよりなる
ゲート絶縁膜63、半導体膜(i−Si)64、SiN
x,Ta25などよりなるチャネル保護膜65、ソース
電極66aおよびドレイン電極66bとなるn+Si層
を順次成膜して形成する。さらに、ソース配線53およ
び接続電極55を構成する透明導電膜67a,67a’
および、Ta,Al,MoW,Crなどよりなる金属
膜67b,67b’を、スパッタ法により順次成膜して
所定形状にパターニングする。本実施形態7において
も、ソース配線53を構成する金属膜67b,67b’
と透明導電膜67a,67a’であるITO膜の2層構
造とした。この構成には、仮にソース配線53を構成す
る金属膜67b,67b’に欠損があったとしても、I
TO膜によって電気的に接続されるためにソース配線5
3の断線を少なくすることができるという利点がある。
【0100】さらに、その上に、層間絶縁膜68として
感光性のアクリル樹脂をスピン塗布法により例えば2μ
mの膜厚で形成する。この感光性のアクリル樹脂に対し
て、所望のパターンに従って露光し、アルカリ性の溶液
によって現像処理する。これにより露光された部分のみ
がアルカリ性の溶液によってエッチングされ、層間絶縁
膜68を貫通するコンタクトホール56などが形成され
る。
【0101】その後、これら層間絶縁膜68およびコン
タクトホール56上に、画素電極51となる透明導電膜
をスパッタ法により形成し、これをパターニングする。
これにより、画素電極51は、層間絶縁膜68を貫くコ
ンタクトホール56を介して、TFT54のドレイン電
極66bと接続されている透明導電膜67a’と接続さ
れることになる。このようにして、本実施形態7のアク
ティブマトリクス基板を製造することができる。
【0102】本実施形態7では、層間絶縁膜68を形成
する材料として、感光部分が現像液に溶解する透明度の
高い感光性透明アクリル樹脂(ポジ型感光性アクリル系
樹脂)を用いる。
【0103】ポジ型感光性アクリル系樹脂としては、例
えば、メタクリル酸とグリシジルメタクリレートとの共
重合体からなるベースポリマーに、ナフトキノンジアジ
ド系ポジ型感光剤を混合した材料が好ましい。この樹脂
はグリシジル基を含むので、加熱によって架橋(硬化)
することができる。硬化後の物性として、誘電率:約
3.4程度、400nm〜800nmの波長範囲の光に
対する透過率:90%以上が得られる。また、i線(3
65nm)の紫外線を照射することより、短時間で脱色
することができる。また、パターニングには、i線以外
の紫外線を用いることができる。本実施形態で使用し
た、感光性アクリル系樹脂の耐熱温度は概ね280℃な
ので、約250℃〜280℃以下の温度条件で、層間絶
縁膜形成後の画素電極の形成等のプロセスを行うことに
よって、層間絶縁膜の劣化は抑制できる。
【0104】上述の透明度の高い感光性透明アクリル樹
脂による層間絶縁膜68の形成工程を、以下にさらに詳
しく説明する。
【0105】この層間絶縁膜68の形成工程は、まず、
感光性透明アクリル樹脂材料を含んだ溶液を基板上にス
ピン塗布し、プリベーキング、パターン露光、アルカリ
現像、純水洗浄の順に一連の通常のフォトパターニング
工程と同様に行う。
【0106】即ち、層間絶縁膜68を感光性透明アクリ
ル樹脂を含んだ溶液をスピン塗布法により、3μmの膜
厚に形成する。この場合、粘度29.0cpのアクリル
樹脂をスピン回転数900〜1100rpmで塗布す
る。そうすることにより、画素電極が平坦化されて従来
のような段差が無くなって液晶の配向不良が抑制され、
表示品位が向上する。続いて、基板を約100℃に加熱
して感光性透明アクリル樹脂の溶媒(乳酸エチル、プロ
ピレングリコールモノメチルエーテルアセテートなど)
の乾燥を行った。続いて、この感光性透明アクリル樹脂
に対して所望のパターンに従って露光を行い、アルカリ
性の溶液(テトラメチルアンモニウムヒドロオキサイ
ド;以下TMAHという)などにより現像処理を行っ
た。このアルカリ性の溶液により、露光された部分がエ
ッチングされ、層間絶縁膜68を貫通するコンタクトホ
ール56を形成することができた。現像液(TMAHの
場合)の濃度は0.1〜1.0mol%が好ましい。そ
の濃度が1.0mol%以上であると、露光しない部分
の感光性透明アクリル樹脂の膜厚の減少量が大きく、膜
厚の制御が難しくなる。現像液の濃度が2.4mol%
と高濃度で使用すると、現像のヌキの部分にアクリル樹
脂の変質物が残さとして残り、コンタクト不良が生じ
る。また、濃度が0.1mol%より低いと、現像液を
循環して繰り返し使用する方式の現像装置では濃度の変
動が大きいために濃度制御が難しくなる。
【0107】さらに、純水により基板表面に残った現像
液を洗浄する。このように感光性透明アクリル樹脂はス
ピン塗布法により形成できるので、数μmの膜厚であっ
てもスピンコーターの回転速度と感光性透明アクリル樹
脂の粘度を適度に選ぶことにより容易に膜厚を均一に形
成することが可能である。また、コンタクトホール部の
テーパ形状は、パターン露光時の露光量と現像液濃度、
現像時間を適度に選ぶことにより緩やかな形状を得るこ
とができる。
【0108】現像後、感光性透明アクリル樹脂に使用す
る感光剤の種類(例えばナフトキノンジアジト系感光
剤、ナフトキノンジアジド系ポジ型感光剤)や量によっ
ては、樹脂が着色して見えることがある。そのため、基
板全面に露光を行い、樹脂に含まれる着色している不要
な感光剤を完全に反応させて、可視領域での光吸収をな
くし、アクリル樹脂の透明化を図る。感光剤としてナフ
トキシジアジド系ポジ型感光剤または/およびナフトキ
ノンジアジド系感光剤などを含む。ここで、アクリル樹
脂の膜厚を3μm塗布した後、透過光の波長(nm)に
対する、表面を露光した場合の露光前後の透過率の変化
を図11に示している。図11からも解るように、例え
ば透過光の波長400nmにおいて、紫外光などの光を
照射しなかった場合、その透過率が65パーセントであ
ったものが、光照射後にはその透過率が90パーセント
以上に改善されている。この場合、露光は基板の前面か
ら行うが、裏面からの露光を併用することにより短時間
でこの処理を完了することができ、装置スループットの
向上に寄与することができる。
【0109】最後に、基板の加熱を行い、架橋反応によ
り樹脂を硬化させる。つまり、樹脂を硬化させるために
基板をホットプレート上またはクリーンオーブン内に設
置し、約200℃で加熱を行う。
【0110】このように、透明感光性樹脂を用いること
により、従来のようなエッチング、レジスト剥離工程を
経ずにフォト工程のみで、層間絶縁膜68および、この
層間絶縁膜68上に形成された画素電極とスイッチング
素子のドレイン電極とを接続するための層間絶縁膜68
を貫くコンタクトホール56を形成することができて製
造工程が簡略化される。このときの感光性透明アクリル
樹脂の膜厚は、樹脂溶液の粘度とスピン塗布時のスピン
コーターの回転速度を適当に選ぶことにより、0.05
μmから10μmまでの必要とされる膜厚(本実施形態
7の場合には3μm、膜厚が厚くなればその分だけ光透
過率が低下して着色してくる)に均一に形成することが
できる。
【0111】さらに、ITOをスパッタリングによりこ
の感光性透明アクリル樹脂上に50〜150nmの膜厚
に成膜し、パターニングを行い画素電極51を形成す
る。この画素電極51であるITO膜の膜厚が50nm
以上であれば、このITO膜の表面隙間からの薬液の侵
入を防ぐことができ、剥離液に使用する薬液(ジメチル
スルホキシド等)によって生ずる樹脂の膨潤を抑制する
のに効果が得られた。以上の製造方法により、本実施形
態7のアクティブマトリクス基板を作製することができ
る。
【0112】したがって、本実施形態7においても、層
間絶縁膜68の存在により、ソース配線およびゲート配
線部分以外は画素開口部分となる高光透過率の高開口率
の明るい液晶表示装置を実現することができる。
【0113】また、層間絶縁膜68の存在により平坦化
が可能になり、下層の配線およびスイッチング素子によ
る段差の影響をなくすることができ、従来、段差部で起
こっていた画素電極のドレイン側の断線をなくすること
ができ、欠陥画素を減少させることができる。また、こ
の段差による液晶の配向不良をも防止することができ
る。さらに、ソース配線53と画素電極51の間は層間
絶縁膜68を間に挟んで絶縁されているために、従来生
じていたソース配線53と画素電極51の間の電気的リ
ークによる欠陥絵素も減少することになる。
【0114】さらに、従来、層間絶縁膜68を形成する
のに必要であった成膜、フォトレジストによるパターン
形成工程、エッチング工程、レジスト剥離工程、洗浄工
程が、本実施形態7においては樹脂形成工程のみで形成
することができ、製造工程が簡略化される。
【0115】(実施形態8) 本実施形態8は、上記実施形態7における層間絶縁膜6
8とその下地膜との間の密着性を向上させる場合であ
る。
【0116】下地膜の材料によっては、層間絶縁膜68
として用いる感光性透明アクリル樹脂との密着性が良く
ない場合があるが、この場合に、図9の上記実施形態7
における感光性透明アクリル樹脂の塗布前の基板表面の
下地膜として、ゲート絶縁膜63、チャネル保護膜6
5、ソース電極66a、ドレイン電極66b、透明導電
膜67a,67a’および金属膜67b,67b’の表
面に、M型水銀ランプ(860W)を使用して酸素雰囲
気中で紫外光の照射を行ってその表面を荒らし、その
後、その荒れた表面上に感光性透明アクリル樹脂による
層間絶縁膜68を形成する。その他の形成工程は上記実
施形態7と同様な方法によりアクティブマトリクス基板
を作製する。この形成方法により、表面が荒れた下地膜
と感光性透明アクリル樹脂との間の密着性が向上するた
めに、下地膜と感光性透明アクリル樹脂による層間絶縁
膜68との界面に、例えばある種の薬品、例えばITO
をエッチングする塩酸と塩化鉄との混合液などが侵入す
ることによってこれらの膜間で膜剥がれが起こるという
従来の問題はなくなる。
【0117】このように、層間絶縁膜68を形成する前
の基板表面に紫外光を照射することにより、層間絶縁膜
68とその下地膜との間の密着性が向上し、プロセス中
の処理に対して安定なデバイスを実現することができ
る。
【0118】また、本発明において、層間絶縁膜68と
その下地膜との間の密着性を向上する方法として、層間
絶縁膜68を形成するための樹脂を塗布する前に、下地
膜の表面をシランカップリング剤で表面処理を行う方法
がある。シランカップリング剤のなかでも、ヘキサメチ
ルジシラザン、ジメチルジエトキシシラン、n−ブチル
トリメトキシシラン等が、特に密着性の改善効果が著し
い。例えば、下地膜として、窒化シリコン膜を用いた場
合、シランカップリング剤処理を行うことによって、無
処理の場合と比較して、約10%密着強度が向上した。
また、樹脂と下地膜との密着性が低い場合に起こる、樹
脂の架橋反応に伴う内部応力によって樹脂のパターンが
ずれるという現象が、シランカップリング剤処理を行う
ことによって完全に防止することができた。
【0119】なお、シランカップリング剤は、上述のよ
うに下地膜に塗布してもよいし、層間絶縁膜を形成する
樹脂材料中にブレンドしてもよいし、これらを併用して
もよい。例えば、感光性アクリル系樹脂にジメチルエト
キシシランを1wt%添加することによって、シリコン
窒化膜との密着強度が70%向上した。
【0120】(実施形態9) 本実施形態9は、上記実施形態7における層間絶縁膜6
8とその上に成膜される画素電極材料との間の密着性を
向上させる場合である。
【0121】図9の上記実施形態7において、感光性透
明アクリル樹脂による層間絶縁膜68を形成した後、ド
ライエッチング装置を用いて酸素プラズマにより、層間
絶縁膜68の表面から100〜500nmの膜厚まで灰
化処理を行った。この灰化処理においては、平行平板型
プラズマエッチング装置が使用され、RFパワー1.2
KW、圧力800mTorr、酸素流量300scc
m、温度70℃、RF印加時間120secの条件で、
アクリル樹脂の表面を灰化させる。このとき、酸素プラ
ズマ中で行ってその表面は有機物の酸化分解で水と二酸
化炭素が抜けて出て行き、荒れた状態となる。
【0122】その後、画素電極51となるITO膜をス
パッタリングにより、この灰化処理を行って表面が荒れ
た感光性透明アクリル樹脂上に50〜150nmの膜厚
に成膜し、パターニングを行って画素電極51を形成す
ることで、アクティブマトリクス基板を作製する。この
灰化処理を行うことにより、画素電極51と、その下層
膜として表面が荒れた感光性透明アクリル樹脂による層
間絶縁膜68との密着性が大きく向上し、基板洗浄時に
超音波を印加してもこれらの膜の間で膜剥がれが無くな
った。上記灰化処理膜厚であるが、100nmより薄い
場合には効果が得られず、また、500nmよりも厚い
場合には、感光性透明アクリル樹脂の膜減りが大きすぎ
るために、基板内での感光性透明アクリル樹脂の膜厚に
ばらつきが大きくなりすぎて、表示上問題となる。上記
のドライエッチング装置はバレル方式、RIE方式など
その方式によらず密着性改善効果が得られた。
【0123】このように、層間絶縁膜68上に画素電極
材料を成膜する前に酸素プラズマによりその表面を灰化
することにより、この層間絶縁膜68とその上に成膜さ
れる画素電極材料との間の密着性が向上し、プロセス中
の処理に対してより安定なデバイスを実現することがで
きる。さらに、この灰化処理を行うことにより、コンタ
クトホール部の残留物を除去することができるので、コ
ンタクトホール部における接続不良の発生を抑制する効
果もある。
【0124】本実施形態において、層間絶縁膜を形成す
る樹脂の架橋処理の後で灰化処理を行った。樹脂の架橋
反応はガスの発生を伴うので、樹脂の架橋処理を行う前
に灰化処理を行うよりも、架橋処理後に灰化処理を行う
ことによって、灰化処理が安定するという効果がある。
【0125】(実施形態10) 本発明の実施形態10による透過型液晶表示装置のアク
ティブマトリクス基板の1画素部分の構成を図14に示
す。また、図14のアクティブマトリクス基板のD−
D’に沿った断面図を図15に示す。なお、図1及び図
2と同様の機能を有する部材には同じ参照符号を付し、
説明を省略する。
【0126】本実施形態のアクティブマトリクス基板で
は、TFT24と画素電極21とのコンタクトと、付加
容量電極25aと画素電極21とのコンタクトとを、そ
れぞれコンタクトホール26aと26bを介して取って
いる。また、ソース配線23を金属からなる単層で形成
した。勿論、2層以上の多層構造としてもよい。付加容
量電極25aは、これまでの実施形態と同様に、ソース
配線23と同じ材料を用い、同一の工程で形成した。層
間絶縁膜38を貫くコンタクトホール26a及び26b
の形成位置は、それぞれ、ドレイン電極36bに一部が
重なるように形成された金属電極23b上部および付加
容量電極25a上とした。すなわち、コンタクトホール
26a及び26bは、何れも遮光性を有する金属電極上
に形成されている。
【0127】本実施形態による透過型液晶表示装置は、
以下の利点を有する。本発明で用いられる層間絶縁膜3
8の膜厚は従来に比べて非常に厚く、例えば、3μmで
ある。この厚さは、典型的な液晶層の厚さ(セルギャッ
プ)4.5μmと同等であるので、コンタクトホール2
6aおよび26bの周辺に液晶分子の配向乱れによる光
漏れが生じる。従って、コンタクトホール26aおよび
26bを透過型液晶表示装置の開口部に形成すると、光
漏れによってコントラストの低下が生じる。これに対
し、本実施形態のアクティブマトリクス基板では、付加
容量を形成する一方の電極である付加容量電極25aで
コンタクトホール26bの近傍を遮光するとともに、金
属電極23bでコンタクトホール26aの近傍を遮光し
ているので、コンタクトホール25a及び25bによる
コントラストの低下の問題を防止できる。また、付加容
量対向電極27を付加容量電極25aからはみ出さない
ように形成することによって、更に開口率を向上するこ
とができる。
【0128】なお、本実施形態ではCs−Common
方式について説明したが、Cs−on−Gate方式で
も同様の効果が得られる。
【0129】以上の各実施形態1〜10においては、画
素電極と各配線をオーバーラップさせて液晶表示の開口
率の向上および液晶の配向不良の抑制を図ることができ
るとともに製造工程が簡略化でき、かつ各配線と画素電
極との間の容量成分が表示に与えるクロストークなどの
影響をより低減して良好な表示を得ることができる。ま
た、これに加えて、広視野角化を図ることができる。
【0130】この広視野角化が図られる理由としては、
画素電極の表面が平坦なために液晶の配向乱れが無くな
ったこと、また、配線電界によるディスクリネーション
ラインがなくなったこと、また、隣接する開口部の間隔
が約数μmから十数μmであるのに対し、層間絶縁膜を
数μmの厚膜に形成することによって、バックライトか
らの斜め光を有効に利用できること、さらには、コント
ラストが大きくなったこと(10.4インチのSVGA
で1:300以上)などが挙げられる。そのために、液
晶の屈折率異方性(△n)×セル厚(d)であるリタデ
ーションの値を小さくすることが可能になった。ここで
は主にセル厚dを変えている。一般に、△n×dを小さ
くすると視野角が広くなるが、コントラストが悪くなっ
てしまう。ところが、本発明においては、画素電極と各
配線との間に従来設けていたマージンを無くすことで、
画素電極が大きくなり、例えば、10.4インチVGA
では、開口率が65パーセントから85パーセントとな
って20ポイント(約30%)増え、その明るさも1.
5倍以上となった。また、12.1インチXGAでは、
開口率が55%から80%に大幅に改善される。これ
は、例えば、従来の構成において、ソース配線幅が6μ
m、ソース配線と絵素電極との間隔が3μm、貼り合わ
せ精度が5μmとすると、隣接する開口部の間隔として
22μm以上必要であったのに対し、ソース配線に絵素
電極を重ねる構成を用いれば、隣接する開口部の間隔は
ソース配線の幅6μmとすることがで、表示に寄与しな
い領域の面積を大幅に減少できるので、開口率を大幅に
向上できる。
【0131】なお、上記実施形態3,4では、付加容量
の一方の電極(付加容量電極)が付加容量共通配線を通
じて対向電極に接続される構造の透過型液晶表示装置に
ついて説明したが、付加容量電極が、隣接する画素のゲ
ート配線22である構造としても同様の効果が得られ
る。この場合を図12および図13のCs−on−Ga
te方式の液晶表示装置に示している。このCs−on
−Gate方式とは、直前または次のゲート配線22と
画素電極21とを重ねて付加容量Csを形成する方式で
ある。このとき、画素電極21は自段ゲートには少しし
かのせず、直前または次のゲートに大きくのせるのが望
ましい。
【0132】また、上記各実施形態1〜10では、スピ
ン塗布法により透明度の高い感光性透明アクリル樹脂を
塗布した後、これをパターニングして層間絶縁膜を形成
すると共に、この層間絶縁膜を貫いて該接続電極に達す
るコンタクトホールを形成したものを用いているが、ス
ピン塗布法に限らず他の塗布法、例えばロールコート法
(凹凸の付いたロールとベルトの間に、塗布面をロール
側にして基板部を通す。この凹凸の程度で塗布する厚さ
が決定される。)およびスロットコート法(吐出口の下
に基板部を通す。この吐出口の幅で塗布する厚さが決定
される。)であっても本発明の効果を奏することができ
る。
【0133】さらに、上記各実施形態7,8では、一般
に露光プロセスで用いられる紫外線の輝線であるi線
(波長365nm)、h線(波長405nm)、g線
(波長436nm)のうちで、最も波長の短いi線(波
長365nm)を用いる。これにより、光照射時間を短
くすることができ、実施形態7の脱色効率も高く、ま
た、実施形態8の表面を荒らす効率も高い。
【0134】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、スイッチ
ング素子のドレイン電極に接続電極を介して画素電極を
接続するようにすれば、TFTが小さくなった場合であ
っても、層間絶縁膜を貫くコンタクトホールなどによる
接続部を容易に取ることが可能となる。つまり、TFT
の大きさを小さくすることができるので開口率を向上さ
せることができる。また、層間絶縁膜を設けることによ
り、各配線と画素電極とをオーバーラップさせることが
でき、開口率を向上すると共に液晶の配向不良を抑制で
きる。この層間絶縁膜として有機薄膜を用いた場合、比
誘電率が無機薄膜に比べて低く、膜厚も容易に厚くでき
るので、各配線と画素電極との間の容量を低減すること
ができる。よって、ソース配線と画素電極との間の容量
に起因する縦クロストークを低減でき、また、画素電極
とゲート配線との間の容量に起因する絵素への書き込み
電圧のフィードスルーや製造工程のばらつきを低減でき
る。
【0135】また、この層間絶縁膜は、感光性アクリル
系樹脂などの感光性絶縁膜デポし、露光および現像に
よりパターニングという簡易な方法で、生産性よく得ら
れる。このため、生産コストを大幅に増大することなく
開口率の高い透過型液晶表示装置を実現することができ
る。
【0136】らに、TFTのドレイン電極と画素電極
とを接続する接続電極は、透明導電膜を用いて形成する
ことにより、開口率をさらに向上できる。この透明導電
膜は、ソース配線を2層構造として同時に形成すること
ができ、ソース配線を2層構造にするとソース配線の断
線を防ぐことができる。
【0137】さらに、層間絶縁膜を貫くコンタクトホー
ルは、付加容量配線またはゲート配線の上部に形成する
ことにより、光漏れが付加容量部分で遮光されてコント
ラスト比を向上できる。
【0138】らに、画素電極とソース配線とを1μm
以上オーバーラップさせると、開口率を向上できると共
に、その加工精度も良好である。また、層間絶縁膜の膜
厚を1.5μm(好ましくは2.0μm)以上にする
と、画素電極とソース配線とを1μm以上オーバーラッ
プさせても、ソース配線と画素電極との間の容量を十分
小さくすることができ、良好な表示を得ることができ
る。
【0139】らに、本発明に比較的膜厚の厚い層間絶
縁膜を用いることにより平坦化が可能になって、従来、
その下層の配線などによる段差部で起こっていた画素電
極のドレイン側における断線など、段差による影響がな
くなり、また、段差による配向不良が防止される。ま
た、ソース配線と画素電極間の層間絶縁膜で絶縁されて
おり、ソース配線と画素電極間の電気的リークによる欠
陥絵素が極めて少なくなり、製造歩留の向上が可能にな
り、製造コストの減少も可能になる。さらに、従来、層
間絶縁膜を形成するために必要であった成膜、フォトレ
ジストによるパターン形成工程、エッチング、レジスト
剥離、洗浄工程が、本発明では感光性絶縁膜形成工程の
みで形成可能であるため、製造工程の短縮化および簡素
化を図ることが可能となり、製造コストの減少をも図る
ことが可能となる。
【0140】らに、画素電極の膜厚が50nm以上で
あれば、膜表面隙間からの薬液の侵入を防ぐことがで
き、剥離液に使用する薬液によって生ずる樹脂の膨潤を
抑制することができる。
【0141】さらには、表示の開口率を向上させること
ができるため、その明るさも向上させることができ、コ
ントラストを悪化させることなくリタデーションを小さ
くして視野角を広くすることができて、多大なる広視野
角化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の1画素部分の構成を示
す平面図である。
【図2】図1の透過型液晶表示装置におけるアクティブ
マトリクス基板のA−A’断面図である。
【図3】本発明の実施形態3の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の1画素部分の構成を示
す平面図である。
【図4】図3の透過型液晶表示装置におけるアクティブ
マトリクス基板のB−B’断面図である。
【図5】本発明の実施態様4の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の一部断面図である。
【図6】本発明の実施態様5,6の透過型液晶表示装置
と従来の液晶表示装置とにおける液晶の充電率差と容量
比との関係を示す図である。
【図7】(a)は本発明の実施態様5,6の1H反転の
場合のデータ信号の波形図、(b)は従来のフィールド
反転の場合のデータ信号の波形図である。
【図8】本発明の実施態様5の透過型液晶表示装置にお
ける液晶の容量比とオーバーラップ幅との関係を示す図
である。
【図9】本発明の実施形態7の透過型液晶表示装置にお
けるアクティブマトリクス基板の1画素部分の構成を示
す平面図である。
【図10】図9の透過型液晶表示装置におけるアクティ
ブマトリクス基板のC−C’断面図である。
【図11】本発明の実施形態7の透過型液晶表示装置に
おいて、アクリル樹脂の透過光の波長(nm)に対する
露光前後の透過率の変化を示す図である。
【図12】Cs−on−Gate方式の液晶表示装置の
構成を示す回路図である。
【図13】本発明の実施形態3の構成を図12の液晶表
示装置に適用した場合のアクティブマトリクス基板の1
画素部分の構成を示す平面図である。
【図14】本発明の実施形態10の透過型液晶表示装置
におけるアクティブマトリクス基板の1画素部分の構成
を示す平面図である。
【図15】図14の透過型液晶表示装置におけるアクテ
ィブマトリクス基板のD−D’断面図である。
【図16】アクティブマトリクス基板を備えた従来の液
晶表示装置の構成を示す回路図である。
【図17】従来の液晶表示装置におけるアクティブマト
リクス基板のTFT部分の断面図である。
【符号の説明】
6 付加容量用共通配線 21,51 画素電極 22,52 ゲート配線 23,53 ソース配線 24,54 TFT 25,55 接続電極 26,26a,26b,56 コンタクトホール 31,61 透明絶縁性基板 32,62 ゲート電極 36a,66a ソース電極 36b,66b ドレイン電極 37a,37a’,67a,67a’ 透明導電膜 37b,37b’,67b,67b’ 金属層 38,68 層間絶縁膜 41 窒化チタン層
フロントページの続き (72)発明者 近藤 直文 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 片山 幹雄 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 咲花 由和 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 山本 明弘 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 中田 幸伸 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 錦 博彦 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 嶋田 吉祐 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 平9−90404(JP,A) 特開 平9−90397(JP,A) 特開 平9−80416(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02F 1/136 500

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゲート配線と、ソース配線と、ゲート配
    線とソース配線との交差部の近傍に設けられたスイッチ
    ング素子とを有し、該スイッチング素子は該ゲート配線
    に接続されたゲートと、該ソース配線に接続されたソー
    と、液晶層に電圧を印加するための画素電極に接続さ
    れたドレインとを有する透過型液晶表示装置であって、 該スイッチング素子、該ゲート配線および該ソース配線
    の上部に、透明度の高い絶縁膜からなる層間絶縁膜が設
    けられ、該層間絶縁膜を貫くコンタクトホールを介して該画素電
    極と該ドレインとを、遮光性の前記ゲート配線または付
    加容量配線上部で接続する電極を有する 透過型液晶表示
    装置。
  2. 【請求項2】 前記層間絶縁膜は感光性絶縁膜である請
    求項1に記載の透過型液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 前記画素電極と、前記ソース配線および
    前記ゲート配線のうち少なくともいずれかとが、配線幅
    方向に1μm以上重なって設けられている請求項に記
    載の透過型液晶表示装置。
  4. 【請求項4】 前記層間絶縁膜の膜厚が1.5μm以上
    である請求項1から3のうちいずれかに記載の透過型液
    晶表示装置
  5. 【請求項5】 前記画素電極と前記ドレインとを接続す
    る前記電極が透明導電材料からなる請求項1に記載の透
    過型液晶表示装置。
  6. 【請求項6】 前記液晶層に印加される電圧を保持する
    ための付加容量をさらに有し、前記コンタクトホール
    は、該付加容量の一方の電極または前記ゲート配線の上
    部に設けられている請求項1に記載の透過型液晶表示装
    置。
  7. 【請求項7】 基板上に、複数のスイッチング素子をマ
    トリクス状に形成すると共に、該スイッチング素子の
    ートに接続されたゲート配線および、該スイッチング素
    子のソースに接続されたソース配線を互いに交差するよ
    うに形成し、かつ該スイッチング素子のドレインに接続
    された付加容量配線を形成する工程と、 該スイッチング素子、該ゲート配線、該ソース配線およ
    該付加容量配線の上部に、透明度の高い絶縁膜を形成
    した後、該絶縁膜をパターニングして層間絶縁膜を形成
    すると共に、該層間絶縁膜を貫くコンタクトホールを形
    成する工程と、 該層間絶縁膜上およびコンタクトホール内に、透明導電
    材料からなる画素電極形成する工程と 該コンタクトホールを介して該画素電極と該ドレインと
    を、遮光性の該ゲート配線または該付加容量配線上部で
    接続する電極を形成する工程と を含む透過型液晶表示装
    置の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記画素電極の膜厚を50nm以上に形
    成する請求項7に記載の透過型液晶表示装置の製造方
    法。
  9. 【請求項9】 前記層間絶縁膜として感光性樹脂からな
    る有機膜を用い、該有機膜のパターニングは、該有機膜
    を露光し、該露光された有機膜を現像する工程を包含す
    る請求項7に記載の透過型液晶表示装置の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記有機膜を、その濃度が0.1から
    1.0mol%のテトラメチルアンモニウムヒドロオキ
    サイド現像液により現像して層間絶縁膜を形成する請求
    項9に記載の透過型液晶表示装置の製造方法。
JP21177996A 1995-08-11 1996-08-09 透過型液晶表示装置およびその製造方法 Expired - Lifetime JP2933879B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21177996A JP2933879B2 (ja) 1995-08-11 1996-08-09 透過型液晶表示装置およびその製造方法
TW86109346A TW466373B (en) 1996-08-09 1997-07-02 Transmission type liquid crystal display device and method for fabricating the same

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20636795 1995-08-11
JP7-254043 1995-09-29
JP25404395 1995-09-29
JP7-206367 1995-09-29
JP21177996A JP2933879B2 (ja) 1995-08-11 1996-08-09 透過型液晶表示装置およびその製造方法

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22021998A Division JP3247870B2 (ja) 1995-08-11 1998-08-04 液晶表示装置の製造方法
JP22022098A Division JP3253589B2 (ja) 1995-08-11 1998-08-04 液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09152625A JPH09152625A (ja) 1997-06-10
JP2933879B2 true JP2933879B2 (ja) 1999-08-16

Family

ID=27328626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21177996A Expired - Lifetime JP2933879B2 (ja) 1995-08-11 1996-08-09 透過型液晶表示装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2933879B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6667777B2 (en) 2000-08-11 2003-12-23 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
DE112011102793T5 (de) 2010-08-24 2013-08-08 Az Electronic Materials Usa Corp. Positiv arbeitende lichtempfindliche Siloxanzusammensetzung
KR20140103131A (ko) 2011-11-29 2014-08-25 에이제토 엘렉토로닉 마티리알즈 아이피 (재팬) 가부시키가이샤 네거티브형 감광성 실록산 조성물
KR20140104355A (ko) 2013-02-20 2014-08-28 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 네거티브형 감광성 실록산 조성물
KR20140144274A (ko) 2012-04-06 2014-12-18 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 네거티브형 감광성 실록산 조성물
KR20140144275A (ko) 2012-04-06 2014-12-18 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 네거티브형 감광성 실록산 조성물
KR20140146008A (ko) 2013-06-14 2014-12-24 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 저온 경화 가능한 네거티브형 감광성 조성물
US8993214B2 (en) 2011-05-20 2015-03-31 Az Electronic Materials Usa Corp. Positive photosensitive siloxane composition
US9580567B2 (en) 2012-11-22 2017-02-28 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Positive-type photosensitive siloxane composition
WO2017140409A1 (en) 2016-02-19 2017-08-24 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.À. R.L. Negative type photosensitive composition curable at low temperature
WO2017144148A1 (en) 2016-02-23 2017-08-31 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.À R.L. Positive type photosensitive siloxane composition
WO2017162831A1 (en) 2016-03-25 2017-09-28 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Photosensitive siloxane composition
WO2017167690A1 (en) 2016-03-30 2017-10-05 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Negative type photosensitive composition curable at low temperature

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6940566B1 (en) 1996-11-26 2005-09-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal displays including organic passivation layer contacting a portion of the semiconductor layer between source and drain regions
JP3176565B2 (ja) * 1997-07-14 2001-06-18 三菱電機株式会社 液晶表示装置
JPH11143379A (ja) 1997-09-03 1999-05-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体表示装置補正システムおよび半導体表示装置の補正方法
JP3830115B2 (ja) 1997-10-06 2006-10-04 シャープ株式会社 液晶表示素子
KR19990048101A (ko) * 1997-12-08 1999-07-05 김영환 능동 액정 표시 소자의 제조 방법
TWI250337B (en) * 1998-02-09 2006-03-01 Seiko Epson Corp An electro-optical apparatus and electronic appliances
JPH11243204A (ja) * 1998-02-25 1999-09-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd アクティブマトリックス基板及びその液晶表示装置
JP3230664B2 (ja) 1998-04-23 2001-11-19 日本電気株式会社 液晶表示装置とその製造方法
US6822701B1 (en) 1998-09-04 2004-11-23 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display apparatus
US6255130B1 (en) * 1998-11-19 2001-07-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Thin film transistor array panel and a method for manufacturing the same
US6353464B1 (en) 1998-11-20 2002-03-05 Kabushiki Kaisha Advanced Display TFT array substrate, liquid crystal display using TFT array substrate, and manufacturing method thereof in which the interlayer insulating film covers the guard resistance and the short ring
JP3544489B2 (ja) 1999-04-20 2004-07-21 Nec液晶テクノロジー株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP3310238B2 (ja) * 1999-06-22 2002-08-05 三菱電機株式会社 液晶表示装置
US6654073B1 (en) 1999-09-01 2003-11-25 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display having storage capacitance electrodes and method of fabricating the same
US6317174B1 (en) 1999-11-09 2001-11-13 Kabushiki Kaisha Advanced Display TFT array substrate, liquid crystal display using TFT array substrate, and manufacturing method thereof
JP3719939B2 (ja) 2000-06-02 2005-11-24 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板およびその製造方法ならびに表示装置および撮像装置
JP2002258320A (ja) 2001-02-28 2002-09-11 Nec Corp 液晶表示装置
JP2002296609A (ja) 2001-03-29 2002-10-09 Nec Corp 液晶表示装置及びその製造方法
JP4248835B2 (ja) 2002-04-15 2009-04-02 シャープ株式会社 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置
JP3656640B2 (ja) * 2002-08-28 2005-06-08 セイコーエプソン株式会社 樹脂絶縁層の製造方法、電気光学装置用基板、電気光学装置の製造方法、及び電気光学装置
JP4049639B2 (ja) * 2002-08-30 2008-02-20 シャープ株式会社 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置
JP3958306B2 (ja) 2003-09-02 2007-08-15 シャープ株式会社 液晶表示装置
JP4055764B2 (ja) 2004-01-26 2008-03-05 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
JP4088619B2 (ja) 2004-01-28 2008-05-21 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及び表示装置
JP4522145B2 (ja) 2004-05-25 2010-08-11 シャープ株式会社 表示装置用基板、その製造方法及び表示装置
WO2005116745A1 (en) 2004-05-27 2005-12-08 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, method for correcting a pixel deffect therein and manufacturing method thereof
JP4693781B2 (ja) 2004-11-17 2011-06-01 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及び表示装置
JP2006171723A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Samsung Electronics Co Ltd アレイ基板、その製造方法、及びこれを有する液晶表示装置
US7714948B2 (en) 2004-12-16 2010-05-11 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, method for fabricating active matrix substrate, display device, liquid crystal display device, and television device
JP2006245075A (ja) * 2005-03-01 2006-09-14 Fuji Electric Holdings Co Ltd 太陽電池およびその製造方法
US7768590B2 (en) * 2005-04-26 2010-08-03 Sharp Kabushiki Kaisha Production method of active matrix substrate, active matrix substrate, and liquid crystal display device
JP2007183452A (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Epson Imaging Devices Corp 半透過型液晶表示装置
US7719008B2 (en) * 2006-02-03 2010-05-18 Samsung Electronics Co., Thin film transistor substrate and method of manufacturing the same and mask for manufacturing thin film transistor substrate
CN101432793B (zh) 2006-07-14 2012-02-01 夏普株式会社 有源矩阵基片和配备该基片的显示装置
US8228273B2 (en) 2006-08-02 2012-07-24 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device having the same
WO2008105244A1 (ja) * 2007-02-28 2008-09-04 Zeon Corporation アクティブマトリックス基板及びその製造方法並びに平面表示装置
JP2010156805A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Casio Computer Co Ltd 液晶表示素子
JP2011077450A (ja) * 2009-10-01 2011-04-14 Fujifilm Corp 薄膜トランジスタ及び薄膜トランジスタの製造方法
WO2011043194A1 (en) 2009-10-09 2011-04-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
WO2011155469A1 (ja) * 2010-06-07 2011-12-15 株式会社アルバック 液晶表示装置及び液晶表示装置の製造方法並びに液晶表示装置用電極基板
WO2011155470A1 (ja) * 2010-06-07 2011-12-15 株式会社アルバック 液晶表示装置及び液晶表示装置の製造方法、並びに液晶表示装置用電極基板
JP6306278B2 (ja) * 2012-04-09 2018-04-04 Jsr株式会社 半導体素子、半導体基板、感放射線性樹脂組成物、保護膜および表示素子
US9690155B2 (en) 2014-04-16 2017-06-27 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display panel and method for producing same
JP6921150B2 (ja) 2019-07-24 2021-08-18 株式会社Screenホールディングス 追加露光装置およびパターン形成方法

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6667777B2 (en) 2000-08-11 2003-12-23 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
DE112011102793T5 (de) 2010-08-24 2013-08-08 Az Electronic Materials Usa Corp. Positiv arbeitende lichtempfindliche Siloxanzusammensetzung
US8883397B2 (en) 2010-08-24 2014-11-11 Az Electronic Materials Usa Corp. Positive photosensitive siloxane composition
DE112011102793B4 (de) 2010-08-24 2023-01-12 Merck Patent Gmbh Positiv arbeitende lichtempfindliche Siloxanzusammensetzung, daraus gebildeter gehärteter Film und Element mit diesem
US8993214B2 (en) 2011-05-20 2015-03-31 Az Electronic Materials Usa Corp. Positive photosensitive siloxane composition
KR20140103131A (ko) 2011-11-29 2014-08-25 에이제토 엘렉토로닉 마티리알즈 아이피 (재팬) 가부시키가이샤 네거티브형 감광성 실록산 조성물
US9164386B2 (en) 2012-04-06 2015-10-20 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Negative-working photosensitive siloxane composition
KR20140144275A (ko) 2012-04-06 2014-12-18 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 네거티브형 감광성 실록산 조성물
KR20140144274A (ko) 2012-04-06 2014-12-18 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 네거티브형 감광성 실록산 조성물
US9684240B2 (en) 2012-04-06 2017-06-20 AZ Electronic Materials (Luxembourg) S.à.r.l. Negative-working photosensitive siloxane composition
US9580567B2 (en) 2012-11-22 2017-02-28 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Positive-type photosensitive siloxane composition
KR20140104355A (ko) 2013-02-20 2014-08-28 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 네거티브형 감광성 실록산 조성물
KR20140146008A (ko) 2013-06-14 2014-12-24 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 저온 경화 가능한 네거티브형 감광성 조성물
WO2017140409A1 (en) 2016-02-19 2017-08-24 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.À. R.L. Negative type photosensitive composition curable at low temperature
KR20180112052A (ko) 2016-02-19 2018-10-11 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 저온 경화 가능한 네거티브형 감광성 조성물
US11630390B2 (en) 2016-02-19 2023-04-18 Merck Patent Gmbh Negative type photosensitive composition curable at low temperature
KR20180112070A (ko) 2016-02-23 2018-10-11 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 포지티브형 감광성 실록산 조성물
US10409161B2 (en) 2016-02-23 2019-09-10 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Positive type photosensitive siloxane composition
WO2017144148A1 (en) 2016-02-23 2017-08-31 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.À R.L. Positive type photosensitive siloxane composition
WO2017162831A1 (en) 2016-03-25 2017-09-28 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Photosensitive siloxane composition
KR20180120784A (ko) 2016-03-25 2018-11-06 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 감광성 실록산 조성물
KR20190080978A (ko) 2016-03-25 2019-07-08 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 감광성 실록산 조성물
US10606173B2 (en) 2016-03-25 2020-03-31 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Photosensitive siloxane composition
WO2017167690A1 (en) 2016-03-30 2017-10-05 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Negative type photosensitive composition curable at low temperature
KR20180124138A (ko) 2016-03-30 2018-11-20 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. 저온 경화 가능한 네가티브형 감광성 조성물
US11506978B2 (en) 2016-03-30 2022-11-22 Merck Patent Gmbh Negative type photosensitive composition curable at low temperature

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09152625A (ja) 1997-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2933879B2 (ja) 透過型液晶表示装置およびその製造方法
JP3247870B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法
JP3209317B2 (ja) 透過型液晶表示装置およびその製造方法
KR100292129B1 (ko) 투과형 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
JP3027541B2 (ja) 液晶表示装置
JPH1048668A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
JP3541026B2 (ja) 液晶表示装置、およびアクティブマトリクス基板
JP2002055359A (ja) 液晶表示パネルの製造方法
JP3253589B2 (ja) 液晶表示装置
JP2001296559A (ja) 液晶表示装置、およびアクティブマトリクス基板
CN1904707B (zh) 透射型液晶显示器件及其制造方法
JP2001290172A (ja) 液晶表示装置
JP3093976B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法
JP3541014B2 (ja) 液晶表示装置
JP3371853B2 (ja) アクティブマトリクス型液晶表示装置とその製造方法
JPH10268285A (ja) 液晶表示装置
KR100269017B1 (ko) 액정표시장치및액티브매트릭스기판
JPH09127548A (ja) 液晶表示装置
JP2001004991A (ja) アクティブマトリクス型液晶表示装置
JP2004004529A (ja) 液晶表示素子およびその製造方法
JPH09105951A (ja) 液晶表示装置およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990513

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080528

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140528

Year of fee payment: 15

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D04

EXPY Cancellation because of completion of term