TWI389505B - 測試裝置、測試方法以及程式 - Google Patents

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Tetsu Katagiri
Masaru Goishi
Hiroyasu Nakayama
Masaru Tsuto
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Description

測試裝置、測試方法以及程式
本發明是有關於一種測試裝置、測試方法以及程式(program)。
先前，眾所周知有進行封包通訊(packet communication)的元件(device)。從而需要對此種進行封包通訊的元件進行測試的測試裝置。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2001-67395號公報
[專利文獻2]日本專利特開2002-215712號公報
於封包通訊中，在元件間進行交換的各封包(packet)中，除了包含實體資料(entity data)以外，還包含各種附加性的資料。對進行封包通訊的元件進行測試的測試裝置，必需產生包含此種附加性的資料的複雜的測試圖案(test pattern)。基於此種複雜的測試圖案的測試結果較為複雜，而有可能變得讓使用者(user)難以理解。
為了解決上述課題，本發明的第1態樣提供一種測試裝置，對被測試元件進行測試，且包括：標籤(tag)抽取部，自測試程式抽取多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯，該測試程式中描述著與被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案、及為了讓使用者識別上述多個測 試圖案的各個而分別附加的上述多個標籤；通訊部，執行測試程式，而對與被測試元件之間的通訊進行測試；標籤指定部，指定與通訊部及被測試元件之間進行通訊的測試圖案的各個相對應的標籤；以及顯示部，與和被測試元件之間進行通訊的測試圖案建立關聯而顯示由標籤指定部所指定的標籤。
此外，上述發明的概要並未列舉本發明的所有必要的特徵。而且，該些特徵群的次組合(subcombination)亦可成為發明。
以下，通過發明的實施形態來說明本發明，但以下的實施形態並不會限定申請專利範圍的發明。而且，實施形態中所說明的特徵的組合的全部，並不一定是發明的解決方法所必需的。
圖1是一併表示本實施形態的測試裝置100的構成與被測試元件500。測試裝置100是與至少1個被測試元件500之間進行封包通訊，來對被測試元件500進行測試。即，測試裝置100是對被測試元件500發送封包以及自被測試元件500接收封包，來對被測試元件500進行測試。
測試裝置100包括模擬器(simulator)200、轉換部300、以及測試部400。模擬器200是藉由模擬環境(Simulation Environment)600來模擬被測試元件500的動作。模擬環境600包含於被測試元件500的設計階段製作而成的元件模擬模型(device simulation model)610。作 為一示例，元件模擬模型610是以用功能區塊(functional block)間的一系列交換(事務(transaction))的單位來表示內部動作的事務級(transaction level)而進行描述。
轉換部300根據模擬被測試元件500的動作的模擬環境600，而生成由該測試裝置100執行的用以測試被測試元件500的測試用的封包通訊程式。轉換部300對所生成的測試用的封包通訊程式進行編譯(compile)並儲存於測試部400中。另外，模擬器200以及轉換部300亦可藉由設置於包含測試部400的測試裝置本體外部的工作站(workstation)等的電腦(computer)來實現。
測試部400執行由轉換部300所生成的測試用的封包通訊程式，而與被測試元件500之間進行封包通訊來對被測試元件500進行測試。更詳細而言，測試部400對被測試元件500發送包含測試資料的封包，並對應於此而接收自被測試元件500所輸出的封包。接著，測試部400將所接收到的封包中所含的資料與期望資料進行比較來判定被測試元件500的良否。
此處，測試用的封包通訊程式包含程序(procedure)、及封包函數。程序描述對被測試元件500執行的測試的順序。作為一示例，程序描述與在模擬環境600中所執行的事務單位下的模擬順序相對應的測試順序。程序例如可描述與在封包的交換單位下的模擬順序相對應的測試順序。
程序中包含封包函數的調用來作為控制順序。此外，程序包含條件分支、無條件分支以及調用其他程序的次常 式(subroutine)調用等的控制敍述(control statement)來作為測試順序。
而且，程序可對變數進行處理。變數可代替根據程序內的運算式、代入式等所得的值，而儲存封包內的資料列(data row)。作為一示例，程序可與封包函數之間接收發送變數。
封包函數包含該封包的資料列、以及用以生成該資料列的指令列。測試用的封包通訊程式可包含多種封包函數。作為一示例，測試用的封包通訊程式可包含用以生成寫入封包(write packet)、讀取封包(read packet)以及閒置封包(idle packet)等的各個的封包函數。
圖2表示本實施形態的測試用的封包通訊程式的階層(hierarchy)構成。測試用的封包通訊程式例如包含1個或多個程序。各程序包含1個或多個封包列表(packet list)。
封包列表包含與被測試元件500之間進行通訊的一系列的封包。作為一示例，封包列表包含指令列、及變數，該指令列用以依序調用與和被測試元件500之間進行通訊的多個封包相對應的多個封包函數，該變數用以與封包函數間接收發送針對每個封包而變更的個別資料。
封包中包含多個資料。作為一示例，封包不論封包的種類而包含固定的資料。作為一示例，封包包含封包的起始碼(start code)以及終止碼(end code)。
此外，作為一示例，封包亦可包含按照每種封包而共 用的共用資料。作為一示例，封包亦可包含表示封包種類的指令(command)來作為共用資料。
此外，作為一示例，封包亦可包含針對每個封包而變更的個別資料。作為一示例，封包亦可包含位址以及實體的資料。個別資料是藉由自程序或封包列表所提交的變數而指定。
另外，作為一示例，封包亦可包含根據狀態而變化的資料。而且，作為一示例，封包亦可包含檢查碼(check code)，該檢查碼用以對該封包中所含的資料列的錯誤進行檢測。
此種測試用的封包通訊程式對與被測試元件500進行通訊的內容劃分階層，即劃分為表示封包的通訊順序的程序、以及表示各封包的資料內容的封包函數。藉此，測試裝置100可將程序設為與在模擬環境600中所執行的事務單位下的模擬順序相對應的描述。
而且，此種測試用的封包通訊程式可使程序重複調用相同的封包函數。藉此，根據測試用的封包通訊程式，可使用共用的封包函數來描述在測試中重複生成的資料列，因此可減小測試裝置100所儲存的資料量。
圖3表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第1例。第1例的模擬器200是以事務級來模擬被測試元件500的動作。此種模擬環境600包含元件模擬模型610、以及事務‧刺激源(Transaction‧Stimulus)620。
元件模擬模型610包含以事務級來描述的被測試元件 500的邏輯模型。事務‧刺激源620以事務單位來指定被測試元件500與外部之間的信號的接收發送。
事務‧刺激源620亦可為表示自外部輸入至被測試元件500的封包以及自被測試元件500而向外部輸出的封包的接收發送的描述。模擬環境600使用此種元件模擬模型610以及事務‧刺激源620來執行模擬，並判斷被測試元件500是否進行了適當的動作。
第1例的轉換部300包含封包定義資料記憶部310、取得部320、以及封包通訊程式生成部330。封包定義資料記憶部310記憶封包定義資料，該封包定義資料對多種封包的各個中所包含的資料列進行定義。
取得部320抽取模擬環境600中所含的事務‧刺激源620的描述，而取得於該測試裝置100及被測試元件500之間進行通訊的封包行。作為一示例，取得部320基於封包定義資料，並根據事務‧刺激源620的描述，而指定於測試裝置100及被測試元件500之間進行通訊的封包的種類以及順序。另外，作為一示例，取得部320根據事務‧刺激源620的描述，而指定各封包中所含的資料。
封包通訊程式生成部330根據由取得部320所取得的封包行，而生成由該測試裝置100來執行、並用於與被測試元件500之間進行封包行中所含的封包的通訊的測試用的封包通訊程式。作為一示例，封包通訊程式生成部330根據由取得部320所指定的封包的種類以及順序，而生成表示封包的通訊順序的程序。
另外，作為一示例，封包通訊程式生成部330根據由取得部320所指定的封包的種類，而生成封包函數。而且，作為一示例，封包通訊程式生成部330根據由取得部320所指定的各封包中所含的資料，而生成變數的值。根據此種轉換部300，可根據模擬環境600中的事務‧刺激源620的描述，而自動生成測試用的封包通訊程式。
圖4表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第2例。第2例的模擬器200以及轉換部300具有與第1例大致相同的構成以及功能，因此以下將省略除不同點以外的說明。
第2例的模擬器200包含於模擬的執行過程中能夠監控被測試元件500所通訊的封包的監控點(monitoring point)。第2例的取得部320於模擬環境600的模擬的執行過程中對被測試元件500所通訊的封包進行監控，並取得於該測試裝置100及被測試元件500之間進行通訊的封包行。作為一示例，取得部320根據封包定義資料，而指定於模擬的執行過程中所監控的被測試元件500所通訊的封包的種類。即，例如取得部320檢查所監控的封包與封包定義資料中的哪一種封包定義匹配，並根據檢查結果來指定所監控的封包的種類。
根據此種轉換部300，可根據於事務級下的模擬執行中的被測試元件500所通訊的封包，而自動生成測試用的封包通訊程式。
圖5表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的 構成的第3例。第3例的模擬器200以及轉換部300具有與第1例大致相同的構成以及功能，因此以下將省略除不同點以外的說明。
第3例的模擬環境600包含元件模擬模型610、事務‧刺激源620、以及轉接器(adapter)630。第3例的模擬器200是以網表級(netlist level)來模擬被測試元件500的動作。第3例的元件模擬模型610是以網表級來進行描述。
轉接器630執行事務‧刺激源620所描述的事務、與藉由以網表級所描述的元件模擬模型610而接收發送的信號之間的轉換。模擬環境600使用此種元件模擬模型610、事務‧刺激源620以及轉接器630來執行模擬，並判斷被測試元件500是否進行了適當的動作。
第3例的轉換部300更包含波形轉儲記憶部340。波形轉儲記憶部340取得執行模擬環境600的模擬的結果所獲得的被測試元件500的輸入輸出信號的波形轉儲，並加以記憶。
此外，第3例的取得部320根據波形轉儲記憶部340中所記憶的波形轉儲，而抽取於該測試裝置100及被測試元件500之間進行通訊的封包行。作為一示例，取得部320對波形轉儲記憶部340中所記憶的波形轉儲以及由封包定義資料所定義的資料進行比較，從而指定被測試元件500所通訊的封包的種類。
根據此種轉換部300，可根據於事務級的模擬執行中的被測試元件500所通訊的信號的波形轉儲，而自動生成 測試用的封包通訊程式。
圖6表示本實施形態的測試部400的構成的一示例。測試部400執行由轉換部300所生成的測試用的封包通訊程式(以下亦稱作測試程式)，而測試至少1個被測試元件500。
測試部400包括運算處理部410、1個或多個執行處理部420、1個或多個通訊處理部430、測試程式記憶部440、以及程式供給部450。各執行處理部420經由例如匯流排(Bus)，而連接於運算處理部410。各通訊處理部430可連接於任一執行處理部420。
運算處理部410對測試程式中的運算式進行處理。各執行處理部420指定測試程式中的多個封包列表中、應由連接於該執行處理部420的各通訊處理部430來執行的封包列表。各通訊處理部430與對應的被測試元件500之間，依序對由對應的執行處理部420所指定的封包列表中所含的封包進行通訊。
作為一示例，測試部400可包括1個運算處理部410、8個執行處理部420、以及256個通訊處理部430。此時，作為一示例，8個執行處理部420的各個上連接著32個通訊處理部430。測試部400並不限定於此種連接構成，亦可為其他連接構成。
測試程式記憶部440對測試程式進行記憶。程式供給部450於測試之前，向運算處理部410、執行處理部420以及通訊處理部430載入(load)測試程式。
圖7表示本實施形態的運算處理部410的構成的一示例、以及多個執行處理部420及多個通訊處理部430中的作為代表的1個執行處理部420及通訊處理部430。運算處理部410包含變數記憶部412、以及運算部414。各執行處理部420包含流程(flow)控制部426。而且，各通訊處理部430包含封包列表記憶部432、以及封包通訊部434。此外，封包列表記憶部432是設置於封包通訊部434的外部，但亦可設置於封包通訊部434的內部。
程式供給部450自測試程式記憶部440所記憶的測試程式中，抽取分別包含藉由對應的通訊處理部430進行通訊的一系列封包的多個封包列表，並將該些封包列表儲存於對應的通訊處理部430內的封包列表記憶部432中。然後，程式供給部450生成描述控制流程的控制程式並供給至流程控制部426，上述控制流程使自測試程式所抽取的多個封包列表依序執行。接著，程式供給部450生成運算程式並供給至運算部414，上述運算程式執行自測試程式所抽取的運算式。
流程控制部426根據測試程式的執行流程，對於所對應的通訊處理部430內的封包通訊部434，而指定執行多個封包列表的各個的順序。更具體而言，流程控制部426執行自程式供給部450所供給的控制程式，並對於所對應的通訊處理部430內的封包通訊部434，指定封包列表記憶部432中儲存的多個封包列表中接下來應執行的封包列表。作為一示例，流程控制部426向封包通訊部434發送 接下來應執行的封包列表的於封包列表記憶部432中的位址。
此外，流程控制部426於控制程式包含運算式時，調用執行該運算式的運算程式，並讓運算處理部410內的運算部414來執行。而且，流程控制部426會根據運算處理部410的運算式的運算結果，來指定接下來應執行的封包列表。此時，流程控制部426亦可等待下一封包列表的指定而直至接收到運算處理部410的運算結果為止，並根據運算結果來選擇所指定的封包列表。
封包列表記憶部432對自程式供給部450所提供的多個封包列表進行記憶。封包通訊部434與對應的被測試元件500之間，對由對應的執行處理部420內的流程控制部426依序指定的封包列表中所含的一系列封包依序進行通訊，而測試相對應的被測試元件500。
作為一示例，封包通訊部434從自流程控制部426所接收的位址中讀出封包列表，並與對應的被測試元件500之間，對所讀出的封包列表中所含的一系列封包依序進行通訊。而且，封包通訊部434將自被測試元件500所接收的封包中所含的資料值，作為變數值並經由流程控制部426而發送至運算處理部410內的變數記憶部412。
變數記憶部412將自多個通訊處理部430所包含的多個封包通訊部434的各個接收的資料值，作為變數值而進行記憶。運算部414執行測試程式所包含的運算式，並將執行結果發送至多個執行處理部420內的流程控制部 426。而且，運算部414於運算式中包含自被測試元件500所接收的資料值時，會自變數記憶部412中讀出作為運算式的參數(parameter)的變數值，並進行由運算式所指定的計算。此外，運算部414亦可將發送至被測試元件500的封包中所含的資料值，作為變數值而發送至封包通訊部434。
此種測試部400是使上位側的運算處理部410執行測試程式中的運算式，並使下位側的流程控制部426以及封包通訊部434執行流程控制。藉此，根據測試部400，可藉由運算能力高的處理器(processor)來實現上位側的運算處理部410而集中管理變數，並藉由動作頻率高的處理器或定序器(sequencer)來實現下位側的流程控制部426以及封包通訊部434，從而可構築整體效率良好的系統(System)。
此外，此種測試部400在上位側的運算處理部410中將自被測試元件500所接收的資料值作為變數而加以記憶。因此，根據此種測試部400，可使自1個被測試元件500所接收的封包的內容，反映於對於其他被測試元件500而發送的封包中。
圖8表示本實施形態的程式供給部450的構成。程式供給部450包括通訊區塊(communication block)抽取部442、封包列表生成部444、控制區塊抽取部446、以及控制程式生成部448。
測試程式可分割成包含應依序通訊的一系列封包的 通訊區塊、包含運算式的運算區塊、以及控制區塊，該控制區塊包含條件分支、無條件分支、及次常式調用，並指定接下來應執行的通訊區塊。程式供給部450抽取測試程式中的、包含應依序通訊的一系列封包的多個通訊區塊。封包列表生成部444生成與通訊區塊抽取部442所抽取的多個通訊區塊相對應的多個封包列表，並將該些封包列表儲存於封包列表記憶部432中。
控制區塊抽取部446抽取多個控制區塊，該些控制區塊執行測試程式中的條件分支、無條件分支、及次常式調用中的至少1個，並指定接下來應執行的通訊區塊。控制程式生成部448生成控制程式並供給至流程控制部426，該控制程式執行控制區塊抽取部446所抽取的多個控制區塊。
運算區塊抽取部452抽取測試程式中的、包含運算式的多個運算區塊。運算程式生成部454生成運算程式並供給至運算部414，該運算程式執行運算區塊抽取部452所抽取的多個運算區塊。
此種程式供給部450可使封包通訊部434執行不包含條件分支、無條件分支或次常式調用而包含依序執行的指令的封包列表。另外，程式供給部450可使運算處理部410對運算式進行運算。而且，程式供給部450可使流程控制部426指定封包通訊部434根據運算結果而執行條件分支、無條件分支或次常式調用後接下來應執行的封包列表。
圖9表示本實施形態的封包通訊部434的構成。封包 通訊部434包括發送側區塊12、以及接收側區塊14。發送側區塊12按照由封包列表所指定的順序，而對被測試元件500發送封包。接收側區塊14自被測試元件500接收封包，並對封包列表所指定的封包與所接收的封包進行比較，來判定被測試元件500的良否。
圖10表示本實施形態的發送側區塊12的構成。發送側區塊12包含封包列表記憶部432、封包列表處理部22、封包指令列記憶部24、封包資料列記憶部26、下位定序器28、資料處理部32、資料轉換部34、以及發送部36。封包列表記憶部432對自程式供給部450所提供的多個封包列表進行記憶。
封包列表處理部22執行封包列表記憶部432中記憶的多個封包列表中的由流程控制部426所指定的封包列表，並依序指定與被測試元件500進行通訊的各封包。作為一示例，封包列表處理部22從自流程控制部426所接收到的位址起執行封包列表，並依序指定發送至被測試元件500的封包。
作為一示例，封包列表處理部22對記憶著用以產生所指定的封包的指令列的封包指令列記憶部24上的位址進行指定。另外，作為一示例，封包列表處理部22針對與被測試元件500之間進行通訊的封包，而指定封包資料列記憶部26內的該封包中所含的資料列的位址(address)(例如資料列的前置位址(lead address))。
如此，封包列表處理部22個別地指定用以產生封包 的指令列的位址、以及該封包中所含的資料列的位址。另外，於該情形時，當對封包列表中兩個或兩個以上的封包指定著共用的指令列或資料列時，封包列表處理部22亦可對該兩個或兩個以上的封包指定相同的指令列的位址或相同的資料列的位址。
封包指令列記憶部24按照每種封包，來記憶用以產生多種封包的各個的指令列。作為一示例，封包指令列記憶部24對用以產生寫入封包的指令列、用以產生讀取封包的指令列、以及用以產生閒置封包的指令列等進行記憶。
封包資料列記憶部26按照每種封包，來記憶多種封包的各個中所含的資料列。作為一示例，封包資料列記憶部26可包含寫入封包中所含的資料列、讀取封包中所含的資料列、以及閒置封包中所含的資料列等。
作為一示例，封包資料列記憶部26可包含共用資料記憶部40、共用資料指標(pointer)42、第1個別資料記憶部44-1、第2個別資料記憶部44-2、第1個別資料指標46-1、以及第2個別資料指標46-2。共用資料記憶部40對多種封包的各個中所含的資料列中的、按照每種封包而共用的共用資料進行記憶。作為一示例，共用資料記憶部40按照每種封包而記憶表示封包起始的起始碼、表示封包結束的終止碼、以及用以識別該封包的種類的指令碼等。
共用資料指標42自封包列表處理部22中，取得儲存著由封包列表處理部22所指定的封包中所含的共用資料的區塊(block)的前置位址。另外，共用資料指標42自 下位定序器28中取得該區塊內的偏移位置(offset position)。而且，共用資料指標42對共用資料記憶部40提供根據前置位址以及偏移位置而規定的位址(例如於前置位址上加上偏移位置所得的位址)，並對資料處理部32提供該位址中所儲存的共用資料。
第1及第2個別資料記憶部44-1、44-2對多種封包的各個中所含的資料列中的、按照每個封包而變更的個別資料進行記憶。作為一示例，第1及第2個別資料記憶部44-1、44-2可記憶各封包中所含的、發送至被測試元件500的實體資料或自被測試元件500所接收的實體資料。
第1個別資料記憶部44-1記憶與所執行的封包列表無關而預先規定的個別資料。第2個別資料記憶部44-2對按照每個所執行的封包列表來變更的個別資料進行記憶。作為一示例，第2個別資料記憶部44-2於測試之前或測試中，適當地自執行處理部420內的流程控制部426接受個別資料的傳輸。
第1及第2個別資料指標46-1、46-2自封包列表處理部22接收儲存著由封包列表處理部22所指定的封包中所含的個別資料的區塊的前置位址。另外，第1及第2個別資料指標46-1、46-2自下位定序器28取得該區塊內的偏移位置。而且，第1及第2個別資料指標46-1、46-2對第1及第2個別資料記憶部44-1、44-2提供根據前置位址以及偏移位置而規定的位址(例如於前置位址上加上偏移位置所得的位址)，並對資料處理部32提供該位址中所儲存 的個別資料。
下位定序器28自封包指令列記憶部24中讀出由封包列表處理部22所指定的封包的指令列、即由封包列表處理部22指定了位址的指令列後，依序執行所讀出的指令列中所含的各指令。另外，下位定序器28使由封包列表處理部22所指定的封包的資料列、即由封包列表處理部22指定了位址的資料列，按照指令列的執行而依序自封包資料列記憶部26輸出，並生成用於與被測試元件500之間的測試的測試資料列。
作為一示例，下位定序器28對共用資料指標42、第1個別資料指標46-1以及第2個別資料指標46-2，提供儲存著由封包列表處理部22所指定的封包中所含的資料列的區塊中的、表示與已執行的指令相對應的資料位置的偏移位置。此時，下位定序器28亦可於最初的指令產生初始值，並於每次所執行的指令轉移時產生遞增(increment)的計數值來作為偏移位置。
此外，每次執行指令時，下位定序器28對資料處理部32以及資料轉換部34提供控制資料，該控制資料指示對所讀出的個別資料以及共用資料實施指定的處理(運算或資料轉換)。藉此，下位定序器28可將由封包列表處理部22所指定的封包中的、所指定的資料部分，作為已對所讀出的資料實施指定處理的資料。
而且，每次執行指令時，下位定序器28會指定將共用資料、個別資料(與所執行的封包列表無關而預先規定 的個別資料或按照每個所執行的封包列表來變更的個別資料)、以及由資料處理部32已實施處理的資料中的何者輸出到資料處理部32。即，每次執行指令時，下位定序器28會對資料處理部32指定自共用資料記憶部40、第1個別資料記憶部44-1、第2個別資料記憶部44-2、或資料處理部32內的儲存著已實施指定處理的資料的暫存器(register)中的何者讀出並輸出資料。
藉此，下位定序器28可根據自個別資料記憶部44所讀出的個別資料，而生成由封包列表處理部22所指定的封包中的、應按照每個封包而變更的資料部分。另外，下位定序器28可根據自共用資料記憶部40所讀出的共用資料，而生成由封包列表處理部22所指定的封包中的、按照每種封包而共用的資料部分。此外還有，下位定序器28可對由封包列表處理部22所指定的封包中的被指定的資料部分，實施指定的處理。
而且，下位定序器28可根據由封包列表處理部22所指定的封包的指令列的執行的結束，而對封包列表處理部22提供結束通知。藉此，封包列表處理部22可根據下位定序器28的指令列的執行的進展，而依序指定封包。
此外，下位定序器28對發送部36指定發送至被測試元件500的信號的邊緣時序(edge timing)。作為一示例，下位定序器28對發送部36提供時序信號，並按照每個封包來控制邊緣時序。
而且，下位定序器28與下述圖13所示的接收側區塊 14中所含的接收側的下位定序器28進行通訊。藉此，發送側區塊12中所含的發送側的下位定序器28可與接收側區塊14包含的接收側的下位定序器28進行訊號交握(handshake)，從而可與接收側的下位定序器28同步地執行指令列。
作為一示例，發送側的下位定序器28通知接收側的下位定序器28已將預先指定的封包的測試資料列發送至被測試元件500。藉此，發送側的下位定序器28在直至接收側的下位定序器28接收到來自發送側的下位定序器28的通知為止的期間，可禁止對所接收的資料列進行良否判定。
此外，作為一示例，發送側的下位定序器28自接收側的下位定序器28接收到已接收到與所生成的測試資料列一致的資料列的通知後，生成預先指定的封包的測試資料列。藉此，發送側的下位定序器28可於自被測試元件500接收到規定的封包之後，對被測試元件500發送預先指定的封包。
資料處理部32自封包資料列記憶部26中讀出由封包列表處理部22所指定的封包的資料列，並生成用於被測試元件500的測試的測試資料列。作為一示例，資料處理部32輸入來自共用資料記憶部40、第1個別資料記憶部44-1以及第2個別資料記憶部44-2的資料，並對所輸入的資料實施由下位定序器28所指定的處理後，作為測試資料列的各資料而加以輸出。
另外，資料處理部32亦可將所輸入的資料直接作為測試資料列的資料而輸出。圖11中說明資料處理部32的構成的一示例。
資料轉換部34在由下位定序器28所指定的時序上，對自資料處理部32所輸出的測試資料列進行資料轉換。作為一示例，資料轉換部34根據預先設定的表格(table)等而對測試資料列進行8b-10b轉換等。此外，作為一示例，資料轉換部34亦可對測試資料列進行加擾(scramble)處理。而且，資料轉換部34將轉換後的資料列加以輸出。
發送部36對被測試元件500發送資料轉換部34所生成的測試資料列。圖12中說明發送部36的構成的一示例。
圖11表示本實施形態的發送側區塊12內的資料處理部32的構成的一示例。作為一示例，發送側區塊12內的資料處理部32包括至少1個暫存器52、前段選擇部54、至少1個運算器56、以及後段選擇部60。
至少1個暫存器52的各個記憶前一週期的運算處理結果。在本例中，資料處理部32包含第1暫存器52-1、以及第2暫存器52-2。
於每個週期，前段選擇部54選擇來自共用資料記憶部40的共用資料、來自各別資料記憶部44(本例中是第1個別資料記憶部44-1以及第2個別資料記憶部44-2)的個別資料、以及各暫存器52(本例中是第1暫存器52-1以及第2暫存器52-2)的資料中的、由下位定序器28所指定的資料。而且，於每個週期，前段選擇部54將所選擇的 資料的各個供給至由下位定序器28所指定的運算器56或後段選擇部60。
至少1個運算器56的各個是對應於至少1個暫存器52的各個而設置。在本例中，資料處理部32包含與第1暫存器52-1相對應的第1運算器56-1、以及與第2暫存器52-2相對應的第2運算器56-2。作為一示例，各運算器56進行邏輯運算、四則運算、擬隨機數(pseudo-random number)產生以及糾錯碼(error-correcting code)生成等的運算。於每個週期，各運算器56對由前段選擇部54所選擇的資料，進行由下位定序器28所指定的運算並儲存於相對應的暫存器52中。
於每個週期，後段選擇部60選擇前段選擇部54所選擇的資料(本例中是來自共用資料記憶部40、第1個別資料記憶部44-1或第2個別資料記憶部44-2的資料)、以及至少1個暫存器52內的資料中的由下位定序器28所指定的資料。而且，後段選擇部60將所選擇的資料作為測試資料列的各資料而加以輸出。
圖12表示本實施形態的發送側區塊12內的發送部36的構成的一示例。作為一示例，發送部36包括串聯器(serializer)72、格式控制器(format controller)74、以及驅動器(driver)76。
串聯器72將自資料處理部32所接收的測試資料列轉換為串列(serial)的波形圖案。格式控制器74生成具有與自串聯器72接收到的波形圖案相對應的波形的信號。另 外，格式控制器74於由下位定序器28所指定的邊緣時序，輸出邏輯產生變化的波形的信號。驅動器76將自格式控制器74所輸出的信號供給至被測試元件500。
圖13表示本實施形態的接收側區塊14的構成。接收側區塊14具有與圖10所示的發送側區塊12大致相同的構成以及功能。對於接收側區塊14所包含的構件中的、與發送側區塊12所包含的構件的構成以及功能大致相同的構件，附上相同的符號並省略除不同點以外的說明。
接收側區塊14包含封包列表記憶部432、封包列表處理部22、封包指令列記憶部24、封包資料列記憶部26、下位定序器28、資料處理部32、資料轉換部34、接收部82、以及判定部84。接收部82自被測試元件500接收封包的資料列。圖14中說明接收部82的構成的一示例。
接收側區塊14內的資料轉換部34於由下位定序器28所指定的時序上，對由接收部82所接收到的資料列進行資料轉換。作為一示例，接收側區塊14內的資料轉換部34根據預先設定的表格等，而對所接收到的資料列進行8b-10b轉換等。另外，作為一示例，接收側區塊14內的資料轉換部34亦可對所接收到的資料列進行解擾(descramble)處理。而且，接收側區塊14內的資料轉換部34將轉換後的資料列加以輸出。
然後，接收側區塊14內的資料轉換部34將轉換後的資料列供給至判定部84。另外，接收側區塊14內的資料轉換部34亦可將轉換後的資料列儲存於封包資料列記憶 部26內的第2個別資料記憶部44-2的指定的位址。藉此，流程控制部426可將自被測試元件500所接收的資料列作為變數值，而自封包資料列記憶部26中讀出並傳輸至運算處理部410。
作為一示例，接收側區塊14內的封包列表處理部22從自流程控制部426所接收到的位址起執行封包列表。而且，接收側區塊14內的封包列表處理部22依序指定期望自被測試元件500接收到的封包。
接收側區塊14內的下位定序器28使期望自被測試元件500輸出的封包的資料列，作為測試資料列而自封包資料列記憶部26輸出。而且，接收側區塊14內的下位定序器28對接收部82指定取得自被測試元件500所輸出的信號的資料值的選通時序(strobe timing)。接收側區塊14內的資料處理部32將所生成的測試資料列供給至判定部84。
判定部84自資料處理部32接收測試資料列，並且接收自資料轉換部34所接收的資料列。判定部84根據將所接收的資料列與測試資料列進行比較的結果，來判定與被測試元件500之間的通訊的良否。作為一示例，判定部84包含：邏輯比較部，對接收部82所接收到的資料列與測試資料列是否一致進行比較；以及失效記憶體(fail memory)，對比較結果進行記憶。此外，作為一示例，判定部84亦可對下位定序器28通知接收部82所接收的資料列與所指定的資料列相一致。
而且，接收側區塊14內的下位定序器28與圖10所 示的發送側區塊12所包含的發送側的下位定序器28進行通訊。藉此，接收側區塊14所包含的接收側的下位定序器28可與發送側區塊12所包含的發送側的下位定序器28進行訊號交握，從而可與發送側的下位定序器28同步地執行指令列。
作為一示例，接收側的下位定序器28對發送側的下位定序器28通知已接收到與該接收側的下位定序器28所生成的測試資料列一致的資料列。藉此，發送側的下位定序器28自接收側的下位定序器28接收已接收到與所生成的測試資料列一致的資料列的通知，從而可生成預先指定的封包的測試資料列。
作為一示例，接收側的下位定序器28於直至自發送側的下位定序器28接收到已將預先指定的封包的測試資料列發送至被測試元件500的通知為止的期間，禁止判定部84對接收部82所接收的資料列進行良否判定。藉此，接收側的下位定序器28可在對被測試元件500發送規定的封包之後，判定是否自被測試元件500輸出了與該規定的封包相對應的應答(response)。
圖14表示本實施形態的接收側區塊14內的接收部82的構成的一示例。作為一示例，接收部82包含位準比較器(level comparator)86、時序比較器(timing comparator)88、解串器(deserializer)90、相位調整部92、以及搜尋(hunt)部94。
位準比較器86將自被測試元件500所輸出的信號與 臨限值進行比較，並輸出邏輯信號。時序比較器88以由下位定序器28所指定的選通時序，依序取得由位準比較器86所輸出的邏輯信號的資料。
解串器90將由時序比較器88所取得的資料列轉換為平行(parallel)的資料列。相位調整部92檢測封包的前置的指定碼，並對由解串器90所轉換成的平行的資料列的截止相位(cutout phase)進行調整。搜尋部94將由時序比較器88所取得的資料列與封包的前置的指定碼進行比較，並以位元(pit)單位來調整封包的前置位置。
此種接收部82可自被測試元件500接收以不確定的時序而輸出的封包。藉此，根據接收側區塊14，可對以不確定的時序而自被測試元件500輸出的封包中所含的資料列、及預期自被測試元件500輸出的測試資料列進行比較。
圖15表示本實施形態的封包列表的一示例。封包列表中描述著依序執行的多個指令。作為一示例，封包列表中描述著NOP指令、IDXI指令以及EXIT指令等。NOP指令使執行轉移至下一指令。IDXI指令在重複指定次數的執行之後，使執行轉移至下一指令。EXIT指令使該封包序列的執行結束。
此外，於封包列表中與各指令相對應地描述著封包函數。作為一示例，封包列表中描述著產生寫入封包、讀取封包、以及產生規定碼的閒置封包等的封包函數。
另外，封包列表中與各封包函數相對應地描述著用以產生由該封包函數所指定的封包的指令列的前置位址、由 該封包函數所指定的封包中所含的共用資料以及個別資料的前置位址。封包列表處理部22藉由執行此種封包列表，而於每次依序執行各指令時，可調用與所執行的指令相對應的封包函數。
圖16表示編譯後載入本實施形態的封包通訊部434的封包函數的一示例。載入封包通訊部434的封包函數中描述著依序執行的多個指令。
作為一示例，封包函數中描述著NOP指令、IDXI指令以及RTN指令等。NOP指令將儲存在由指標所指定的位址上的資料輸出一次後，使執行轉移至下一指令。IDXI指令將儲存在由指標所指定的位址上的資料重複輸出指定次數後，使執行轉移至下一指令。RTN指令將儲存在由指標所指定的位址上的資料輸出一次後，將執行返回至封包列表。
此外，封包函數中與各指令對應地描述著控制資料。作為一示例，控制資料包含供給至運算器56的運算式。在圖16的示例中，控制資料包含將該第1暫存器52-1的資料與所輸出的資料的互斥或(exclusive or)回寫至第1暫存器52-1中的運算式(REG1=REG1^DB1或REG1=REG1^DB2)。代替此，控制資料亦可指定資料轉換部34的轉換處理。
而且，封包函數中與各指令對應地描述著指定應與該指令相對應而輸出的資料的儲存場所的資訊。作為一示例，封包函數指定共用資料記憶部40、個別資料記憶部44 以及暫存器52中的任一者來作為儲存場所。
在圖16的示例中，0x0F或0x01這樣的十六進數值表示共用資料記憶部40的位址來作為資料的儲存場所。而且，DB1表示第1個別資料記憶部44-1來作為資料的儲存場所。DB2表示第2個別資料記憶部44-2來作為資料的儲存場所。REG1表示第1暫存器52-1來作為資料的儲存場所。下位定序器28可藉由執行此種封包函數所表示的指令列，而輸出由各封包函數所指定的資料列。
圖17表示本實施形態的測試部400的處理流程。首先，封包列表處理部22執行封包列表，並依序指定與被測試元件500之間進行通訊的各封包(S11、S16)。接著，若下位定序器28接收到封包列表處理部22的封包的指定，則重複執行步驟S12至步驟S15的處理。
若下位定序器28接收到封包的指定，則自封包指令列記憶部24調用用以產生該封包的指令列，並自前置的指令起依序執行。每次執行各指令時，下位定序器28會進行步驟S13以及步驟S14的處理(S12、S15)。
在步驟S13中，下位定序器28輸出與該指令相對應的資料。而且，在步驟S14中，下位定序器28執行與該指令相對應的運算或資料轉換。下位定序器28是並行執行步驟S13以及步驟S14。
下位定序器28執行最後的指令後，則會將處理返回至封包列表處理部22，並自封包列表處理部22接收下一封包的指定(S15)。然後，若封包列表處理部22結束直 至封包序列中的最後封包為止的處理，則會結束該流程(S16)。
根據如上所述的本實施形態的測試部400，表示封包序列的封包列表、以及封包內的指令列可藉由個別的定序器來執行。藉此，根據測試部400，可簡化程式的描述。另外，根據測試部400，可將用以產生共用種類的封包的指令列以及資料共用化，因此可減小所儲存的資訊量。
此外，本實施形態的測試部400是由封包列表處理部22來個別地指定下位定序器28所執行的指令列的位址以及下位定序器28所讀出的資料列的位址。藉此，根據測試部400，可藉由相同的指令列而產生不同的資料列。因此，根據測試部400，不對相同的指令列進行多次儲存即可，因此可減小所儲存的資訊量。
另外，本實施形態的測試部400是由資料處理部32來對自共用資料記憶部40以及個別資料記憶部44所讀出的資料，執行指定的處理(即運算或轉換)。即，資料處理部32可根據封包通訊的下位層(靠近物理層的層)的規定，而生成應處理的資料轉換以及錯誤檢測碼。
藉此，測試部400只要生成用以輸出封包通訊的上位層的資料的指令列以及資料列，並個別地指定封包通訊的下位層的處理便可。因此，根據測試部400，可簡化程式的描述，另外可減小所儲存的資訊量。
此外，本實施形態的測試部400是使發送側區塊12、以及接收側區塊14分離，且上述發送側區塊12及接收側 區塊14的各個包含封包列表處理部22以及下位定序器28，上述發送側區塊12生成用以對被測試元件500發送信號的測試資料列，上述接收側區塊14生成用以與自被測試元件500所接收的信號進行比較的測試資料列。根據測試部400，可獨立地描述發送側以及接收側的程式，因此可簡化程式。
而且，測試部400可於發送側的下位定序器28與接收側的下位定序器28之間進行通訊。藉此，根據測試部400，例如由發送側產生的事件(event)觸發(trigger)而開始接收側的動作、或者由接收側產生的事件觸發而開始發送側的動作變得容易。
另外，測試部400亦可為包括多個發送側區塊12以及接收側區塊14的組的構成。此時，執行處理部420對發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個提供個別的序列(個別的封包列表)，而使該些區塊彼此獨立地執行。藉此，測試部400可使發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個彼此非同步地進行動作。
而且，執行處理部420亦可使發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個彼此同步地進行動作。此時，執行處理部420對發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個提供相同的序列(相同的封包列表)，而使該些區塊彼此同步地開始執行。藉此，測試部400可並行測試包含相同種類或不同種類的封包通訊型介面(interface)的多個被測試元件500。
圖18一併表示本實施形態的測試裝置100的構成的變形例與被測試元件500。測試裝置100對類比電路(analog circuit)、數位電路(digital circuit)、記憶體、以及系統晶片(System On Chip，SOC)等中、特別是發送及接收封包的封包通訊型的被測試元件500進行測試。本變形例的測試裝置100採用與圖1至圖17所示的本實施形態的測試裝置100大致相同的構成以及功能，因此對與圖1至圖17所示的測試裝置100所包含的構件的構成以及功能大致相同的構件附上相同符號，並省略除以下不同點以外的說明。
測試裝置100對被測試元件500中輸入基於用以測試被測試元件500的測試圖案的測試信號，並根據被測試元件500對應於測試信號而輸出的輸出信號，來判定被測試元件500的良否。此處，測試裝置100是將基於測試圖案的測試信號，以分割為較小的資料並對各個附加發送源及發送目的地的位址等的控制資訊的封包形式，而供給至被測試元件500。測試裝置100包括轉換部300、作為通訊部的一示例的測試部400、以及結果處理部800。
轉換部300對測試部400提供測試程式。轉換部300包含封包定義資料記憶部310、取得部320、封包通訊程式生成部330、以及標籤抽取部810。
封包定義資料記憶部310將與多個封包的各個對應的各標籤作為封包定義資料的一部分而加以記憶，以便讓使用者識別多個測試圖案的各個。此處，多個標籤與多個封 包的關聯可為各自一對一的關係，或者亦可為1個標籤與多個封包關聯，亦可存在未附加著標籤的封包。
取得部320及封包通訊程式生成部330生成多個測試圖案、以及描述著多個標籤的測試程式。此處，多個標籤亦可由使用者描述在封包函數上。此外，此時多個標籤可以規定的格式來描述於由外部來描述的測試程式中，亦可描述於例如模擬器200所供給的事務級的模擬模型中。此處，取得部320以及封包通訊程式生成部330亦可自動生成附加著標籤的測試程式。封包通訊程式生成部330將所生成的測試程式供給至標籤抽取部810。
標籤抽取部810自描述著與被測試元件500之間進行通訊的多個測試圖案、及多個標籤的測試程式中，抽取多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯。標籤抽取部810將多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯資訊供給至結果處理部800。然後，標籤抽取部810將除去測試程式中所描述的多個標籤的資訊並加以編譯後的測試程式的目標碼(object code)供給至測試部400。
測試部400執行測試程式，而測試與被測試元件500之間的通訊。測試部400將測試結果以及自被測試元件500所接收到的封包的資訊供給至結果處理部800。結果處理部800根據多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯資訊、以及來自測試部400的測試結果的資訊，使用標籤來顯示測試結果。結果處理部800含有標籤指定部820、以及顯示部830。
標籤指定部820指定與測試部400及被測試元件500之間進行通訊的測試圖案的各個對應的標籤。標籤指定部820根據自標籤抽取部810所供給的多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯資訊，來指定各標籤的內容。
此處，標籤指定部820亦可指定與自被測試元件500所接收到的封包相對應的標籤。標籤指定部820可指定基於應自正常的被測試元件500接收到的封包與實際上所接收到的封包的差異的標籤，或者代替此，亦可指定與所接收到的資料相對應的標籤。標籤指定部820將指定後的結果傳送至顯示部830。
顯示部830將與被測試元件500之間進行通訊的測試圖案的值、及標籤指定部820所指定的標籤建立關聯而加以顯示。顯示部830可包含於測試裝置100的本體中，或者亦可以有線或無線的方式與測試裝置100的本體連接並設置於離開測試裝置100的本體的位置上。
圖19表示本實施形態的測試程式900的構成。測試程式900包含封包函數910及/或多個發送資料920。封包函數910亦可包含至少1個發送資料920、以及與發送資料920相對應的標籤930。例如，圖中的測試程式900包含描述成「SOF」以及「PUT_DATA0」的兩個封包函數910。封包函數SOF包含多個發送資料920、以及與多個發送資料920的各個對應的標籤930。
屬於封包函數SOF的封包資料「(DataBus<=b10000000)」藉由例如在與其相同的列上記載%ID= “SYNC”，而與指定的標籤「SYNC」建立關聯。同樣地封包資料「(DataBus<=b01011010)」是與標籤「PID」相關聯。此處，標籤SYNC以及標籤PID等亦可為故意讓使用者識別的字符串(character string)以及代碼(code)。
封包函數910亦可與指定的標籤建立關聯。例如圖中的封包函數PUT_DATA0是藉由在與其相同的列上記載%ID=“Data2”，而與指定的標籤「Data2」建立關聯。此外，當封包函數910中並未記載指定的標籤時，亦可將函數名作為標籤來建立關聯。例如圖中的封包函數SOF中並未記載指定的標籤，故可與標籤「SOF」建立關聯。
圖20表示本實施形態的顯示結果1000的構成。作為一示例，顯示結果1000表示了藉由在電腦上動作的軟體(software)而顯示的示例。顯示結果1000包含時間軸1010、以及封包資訊1020。時間軸1010可相對性地表示自開始測試的時刻起的時間或時間順序。例如，可自圖中的垂直上方朝垂直下方來表示自測試開始起算的時間經過。
封包資訊1020較理想的是顯示與自測試裝置100發送至被測試元件500的封包相關的資訊。封包資訊1020較理想的是顯示在自測試開始時刻起進行計測而相當於直至發送至被測試元件500為止的時刻的時間軸1010上的位置。根據測試程式，封包資訊1020亦可進一步表示與自被測試元件500發送至測試裝置100的封包相關的資訊。此時，封包資訊1020較理想的是顯示在自測試開始時刻起進 行計測而相當於直至測試部400接收為止的時刻的時間軸1010上的位置。
在圖中表示了於1個時間軸1010上顯示著多個封包資訊1020的示例，但亦可代替此而使用多個時間軸1010來顯示。例如，封包資訊1020亦可顯示在自垂直上方朝垂直下方來表示自測試開始起的時間經過的兩個時間軸1010上，並分別於一時間軸1010上顯示自測試裝置100發送至被測試元件500的封包資訊1020，而於另一時間軸1010上顯示與自被測試元件500發送至測試裝置100的封包相關的資訊。封包資訊1020包含標籤號(tag number)1030、封包函數的標籤1040、以及含有標籤的封包的顯示1050。
標籤號1030表示與被測試元件500之間進行通訊的封包的編號。標籤號1030可按照自測試開始起接收發送的封包的順序來進行編號，代替此而亦可按照每個指定的封包來進行編號。標籤號1030較理想的是可根據使用者的指定而自如地變更所顯示的編號的規則。
封包函數的標籤1040表示附加於封包函數上的標籤。含有標籤的封包的顯示1050表示封包的資料欄位(data field)以及與封包建立關聯的標籤。封包函數的標籤1040以及與封包建立關聯的標籤是由標籤抽取部810抽取關聯並由標籤指定部820來指定。
封包資訊1020中的封包函數的標籤1040以及包含標籤的封包的顯示1050，表示於與封包函數的標籤1040建 立關聯的封包函數中，包含與含有標籤的封包的顯示1050建立關聯的封包。標籤號1030、封包函數的標籤1040、以及包含標籤的封包的顯示1050較理想的是，可根據使用者的指定而自如地變更顯示或不顯示各個、及/或顯示各個的順序。
以「No.21」表示標籤號1030的封包資訊1020表示與標籤「SOF」建立關聯的封包函數。在圖中的示例中，與標籤「SOF」建立關聯的封包函數，意味著包含分別與標籤「PID」、標籤「Frame」、以及標籤「CRC」建立關聯的封包資料。
圖21表示本實施形態的測試裝置100的變形例的動作。測試裝置100執行與測試對應的測試程式。取得部320以及封包通訊程式生成部330生成與測試對應的測試程式(S1100)。
標籤抽取部810自所生成的測試程式中抽取多個測試圖案與多個標籤的關聯，上述多個測試圖案表示測試裝置100與被測試元件500之間進行通訊的各封包中所含的資料欄位的值，且上述多個標籤是用以讓使用者識別資料欄位(S1110)。在此階段，測試裝置100與被測試元件500之間進行通訊的封包是明確的，因此顯示部830亦可於與被測試元件500進行通訊之前顯示預先發送的封包資訊1020(S1120)。
此處，顯示部830顯示由標籤指定部820所指定的、與測試裝置100及被測試元件500之間進行通訊的測試圖 案的各個對應的標籤。以下，當顯示部830顯示封包資訊1020時，會顯示由標籤指定部820所指定的標籤。另外，當根據測試裝置100所發送的封包而應自進行正常動作的被測試元件500發送的封包已明確時，顯示部830亦可顯示上述封包資訊1020。
測試部400將與測試程式相對應的測試圖案作為封包而發送至被測試元件500(S1130)。在此階段，顯示部830亦可顯示所發送的封包資訊1020。此外，在步驟S1120中，當顯示預先發送的封包資訊1020時，顯示部830亦可於顯示所發送的封包的部分附上標記(mark)或者改變顏色等，以便使用者能夠判別向被測試元件500的封包發送狀況。
測試部400接收被測試元件500根據所發送的封包而發送的封包(S1140)。在此階段，顯示部830亦可顯示所接收的封包資訊1020。此外，在步驟S1120中，當顯示能夠預先預測到接收的封包資訊1020時，顯示部830亦可於顯示上述封包的部分附上標記或者改變顏色等，以便使用者能夠判別自被測試元件500的封包接收狀況。
測試裝置100根據與測試圖案相對應的被測試元件500的應答，來判斷被測試元件500的良否。顯示部830顯示測試結果(S1150)。顯示部830亦可針對良否而改變字元(character)、標記、或顏色等並作為測試結果來加以顯示，以便使用者能夠判別測試結果。當測試結果為否時，顯示部830亦可使所發送的封包的資訊的顏色為例如紅色 來進行顯示。或者，代替此，顯示部830亦可使所接收的封包資訊1020為例如紅色來進行顯示。
此處，亦可為：標籤指定部820指定與根據測試程式而應和被測試元件500之間進行通訊的測試圖案相對應的標籤後，顯示部830中與和被測試元件500之間實際上通訊的測試圖案建立關聯而顯示標籤指定部820所指定的標籤。藉此，可藉由標籤而將原本應接收的測試圖案、與實際上接收的圖案建立關聯並加以輸出。而且，當實際上接收的圖案與原本應接收的測試圖案不一致時，亦可以紅色等來顯示不一致的圖案。
測試裝置100判定測試程式中所描述的測試圖案是否已全部發送至被測試元件500(S1160)。當應發送的測試圖案已全部發送時，測試裝置100判斷為測試結束。當仍存在應發送的測試圖案時，測試裝置100返回至步驟S1130，並重複步驟S1130至步驟S1150的順序而直至測試結束為止。
如上所述，根據本實施形態的測試裝置100的變形例，藉由使用將進行封包通訊的被測試元件500的測試結果與所接收發送的封包建立關聯的標籤，而能夠讓使用者識別所執行的測試圖案及其測試結果。而且，根據本實施形態的測試裝置100的變形例，藉由在封包的發送及/或接收的階段顯示封包以及標籤的資訊，而能夠讓使用者一面實施測試一面識別測試的執行結果。
於以上的本實施形態的測試裝置100的變形例中說明 了如下示例，即顯示部830於時間軸1010上顯示封包資訊1020，以便讓使用者識別所執行的測試圖案及其測試結果。代替此，顯示部830亦可以表形式來表示封包資訊1020的要素即標籤號1030、封包函數的標籤1040、以及含有標籤的封包的顯示1050。藉此，測試裝置100可將所得的表形式的資料作為資料而供給至表計算軟體等。
於以上的本實施形態的測試裝置100的變形例中說明了如下示例，即標籤指定部820指定與測試部400及被測試元件500之間進行通訊的多個測試圖案的各個對應的標籤。代替此，標籤指定部820亦可自描述著與多個測試圖案的各個的值或值的範圍相對應的多個標籤的各個的測試程式900，而抽取多個測試圖案的值或值的範圍與多個標籤的各個的關聯。
此處，當測試圖案的值具有指定的範圍時，測試程式900可於與測試圖案相同的列附上標籤，此外代替此而亦可於標籤定義用的檔案(file)或程序頭部(program header)部分等另外指定標籤部分。藉此，顯示部830會根據具體的測試圖案的值來顯示標籤，因此使用者可根據所顯示的封包資訊1020來識別測試圖案。
另外，當多個標籤中的1個標籤含有參照測試程式中的變數的意思的描述時，標籤指定部820亦可根據該變數的值而生成該1個標籤的字符串，並將多個測試圖案中的與該1個標籤相對應的1個測試圖案、及該1個標籤的字符串建立關聯而加以抽取。藉此，即便於測試程式中的描 述中使用變數來接收發送封包時，由於所對應的標籤亦可同樣地使用變數來表現，因此顯示部830可顯示與多個測試圖案的各個相對應的標籤。
圖22表示本實施形態的電腦1900的硬體(hardware)構成的一示例。本實施形態的電腦1900包括：中央處理單元(central processing unit，CPU)周邊部，包含藉由主機控制器(host controller)2082而相互連接的CPU2000、隨機存取記憶體(Random-Access Memory，RAM)2020、圖形控制器(Graphic Controller)2075、及顯示裝置2080；輸入輸出部，包含藉由輸入輸出控制器2084而連接於主機控制器2082的通訊介面2030、硬碟驅動器(Harddisk Driver)2040、及數位多功能光碟(Digital Versatile Disc，DVD)驅動器2060；以及舊有(legacy)輸入輸出部，包含連接於輸入輸出控制器2084上的唯讀記憶體(Read Only Memory，ROM)2010、軟碟驅動器(Flexible Disc Driver)2050、及輸入輸出晶片(chip)2070。
主機控制器2082將RAM2020、及以高傳輸率(transmission rate)對RAM2020進行存取(access)的CPU2000以及圖形控制器2075加以連接。CPU2000根據儲存於ROM2010以及RAM2020中的程式而進行動作，並進行各部分的控制。圖形控制器2075取得CPU2000等在設置於RAM2020內的碼框緩衝器(frame buffer)上所生成的圖像資料，並使該圖像資料顯示於顯示裝置2080上。代替此，圖形控制器2075亦可於內部包含儲存著CPU2000 等所生成的圖像資料的碼框緩衝器。
輸入輸出控制器2084將主機控制器2082、與作為比較高速的輸入輸出裝置的通訊介面2030、硬碟驅動器2040、DVD驅動器2060加以連接。通訊介面2030經由網路(network)而與其他裝置進行通訊。硬碟驅動器2040儲存電腦1900內的CPU2000所使用的程式以及資料。DVD驅動器2060自數位多功能光碟-唯讀記憶體(Digital Versatile Disc-Read Only Memory，DVD-ROM)2095中讀取程式或資料，並經由RAM2020而供給至硬碟驅動器2040。
此外，輸入輸出控制器2084上連接著ROM2010、軟碟驅動器2050、以及輸入輸出晶片2070的比較低速的輸入輸出裝置。ROM2010儲存著電腦1900於啟動時所執行的開機程式(boot program)、及/或依賴於電腦1900的硬體的程式等。軟碟驅動器2050自軟碟2090中讀取程式或資料，並經由RAM2020而供給至硬碟驅動器2040。輸入輸出晶片2070將軟碟驅動器2050連接至輸入輸出控制器2084，並且經由例如平行埠(parallel port)、串聯埠(serial port)、鍵盤埠(keyboard port)、滑鼠埠(mouse port)等而將各種輸入輸出裝置連接至輸入輸出控制器2084。
經由RAM2020而供給至硬碟驅動器2040的程式是儲存於軟碟2090、DVD-ROM2095、或積體電路(Integrated Circuit，IC)卡(card)等的記錄媒體中並由使用者提供。自記錄媒體讀出程式後經由RAM2020而將該程式安裝 (install)於電腦1900內的硬碟驅動器2040中，並由CPU2000來執行該程式。
安裝於電腦1900中、並使電腦1900作為測試裝置100的轉換部300以及結果處理部800來發揮功能的程式，包含封包定義資料記憶模組(module)、取得模組、封包通訊程式生成模組、標籤抽取模組、標籤指定模組、以及顯示模組。該些程式或模組使CPU2000等啟動而使電腦1900分別作為封包定義資料記憶部310、取得部320、封包通訊程式生成部330、標籤抽取部810、標籤指定部820、及顯示部830而發揮功能。
該些程式中所描述的資訊處理是藉由讀入至電腦1900，而作為軟體與上述各種硬體資源協動的具體機構即封包定義資料記憶部310、取得部320、封包通訊程式生成部330、標籤抽取部810、標籤指定部820、及顯示部830來發揮功能。而且，藉由該些具體機構，來實現本實施形態中的與電腦1900的使用目的對應的資訊的運算或加工，藉此可構築與使用目的對應的特有的測試裝置100。
作為一示例，當電腦1900與外部的裝置等之間進行通訊時，CPU2000執行載入至RAM2020上的通訊程式，並根據通訊程式中所描述的處理內容，來對通訊介面2030指示通訊處理。通訊介面2030受到CPU2000的控制，而讀出設置於RAM2020、硬碟驅動器2040、軟碟2090、或DVD-ROM2095等的記憶裝置上的發送緩衝區域等中所記憶的發送資料並發送至網路，或者將自網路所接收的接收 資料寫入至記憶裝置上所設置的接收緩衝區域等中。如此，通訊介面2030可藉由直接記憶體存取(direct memory access，DMA)方式而與記憶裝置之間對接收發送資料進行傳輸，代替此，亦可藉由CPU2000自傳輸源的記憶裝置或通訊介面2030讀出資料，並向傳輸目的地的通訊介面2030或記憶裝置寫入資料，來對接收發送資料進行傳輸。
此外，CPU2000藉由DMA傳輸等方式，而自儲存於硬碟驅動器2040、DVD驅動器2060(DVD-ROM2095)、軟碟驅動器2050(軟碟2090)等的外部記憶裝置中的檔案或資料庫(database)等中、將全部或必要部分讀入至RAM2020，並對RAM2020上的資料進行各種處理。接著，CPU2000藉由DMA傳輸等方式而將已結束處理的資料回寫至外部記憶裝置中。於此種處理中，RAM2020可看作是暫時保存外部記憶裝置的內容的機構，因此本實施形態中將RAM2020以及外部記憶裝置等統稱為記憶體、記憶部、或記憶裝置等。本實施形態中的各種程式、資料、表格、資料庫等的各種資訊是儲存於此種記憶裝置上並成為資訊處理的對象。再者，CPU2000亦可將RAM2020的一部分保持於快取記憶體(cache memory)中，並於快取記憶體上進行讀寫。於此種形態下，快取記憶體承擔著RAM2020的一部分功能，因此本實施形態中除了區別表示的情況之外，快取記憶體亦屬於RAM2020、記憶體、及/或記憶裝置。
而且，CPU2000對於自RAM2020所讀出的資料，進 行由程式的指令列所指定的、包含本實施形態中記載的各種運算、資訊加工、條件判斷、資訊的檢索及替換等的各種處理，並將該資料回寫至RAM2020。例如，CPU2000於進行條件判斷時，將本實施形態中所示的各種變數與其他變數或常數(constant)進行比較，來判斷是否滿足大、小、大於等於、小於等於、相等等的條件，且當條件成立時(或不成立時)，分支至不同的指令列，或者調用次常式。
此外，CPU2000可檢索記憶裝置內的檔案或資料庫等中儲存的資訊。例如，當記憶裝置中儲存著第2屬性的屬性值分別關聯於第1屬性的屬性值的多個項(entry)時，CPU2000自記憶裝置中儲存的多個項中檢索第1屬性的屬性值與指定的條件相一致的項，並讀出該項中儲存的第2屬性的屬性值，藉此可獲得與滿足規定條件的第1屬性相關聯的第2屬性的屬性值。
以上所示的程式或模組亦可儲存於外部的記錄媒體中。作為記錄媒體，除了可使用軟碟2090、DVD-ROM2095之外，還可使用DVD或光碟(Compact Disc，CD)等的光學記錄媒體、磁光碟(Magneto-Optical，MO)等的磁光記錄媒體、磁帶媒體(tape medium)、IC卡等的半導體記憶體等。此外，亦可將連接於專用通訊網路或網際網路(Internet)的伺服器系統(server system)中設置的硬碟或RAM等的記憶裝置作為記錄媒體來使用，而經由網路來對電腦1900提供程式。
以上，使用實施形態而說明了本發明，但本發明的技 術性範圍並不限定於上述實施形態所揭示的範圍。熟悉此技藝者應瞭解可於上述實施形態中附加多種變更或改良。根據申請專利範圍的記載當瞭解，加以此種變更或改良的形態亦可屬於本發明的技術性範圍。
應注意到如下情況，即於申請專利範圍、說明書、以及圖式中所示的裝置、系統、程式、以及方法中的動作、順序、步驟、以及階段等的各處理的執行順序，只要未特別明示「比…靠前」、「在…之前」等，而且只要不是將前一處理的輸出用於後一處理，則可按照任意順序來實現。關於申請專利範圍、說明書、以及圖式中的動作流程，即便方便起見而使用「首先、」、「其次、」等來進行了說明，亦並不意味著必需以此順序來實施。
12‧‧‧發送側區塊
14‧‧‧接收側區塊
22‧‧‧封包列表處理部
24‧‧‧封包指令列記憶部
26‧‧‧封包資料列記憶部
28‧‧‧下位定序器
32‧‧‧資料處理部
34‧‧‧資料轉換部
36‧‧‧發送部
40‧‧‧共用資料記憶部
42‧‧‧共用資料指標
44‧‧‧個別資料記憶部
44-1‧‧‧第1個別資料記憶部
44-2‧‧‧第2個別資料記憶部
46-1‧‧‧第1個別資料指標
46-2‧‧‧第2個別資料指標
52‧‧‧暫存器
52-1‧‧‧第1暫存器
52-2‧‧‧第2暫存器
54‧‧‧前段選擇部
56‧‧‧運算器
56-1‧‧‧第1運算器
56-2‧‧‧第2運算器
60‧‧‧後段選擇部
72‧‧‧串聯器
74‧‧‧格式控制器
76‧‧‧驅動器
82‧‧‧接收部
84‧‧‧判定部
86‧‧‧位準比較器
88‧‧‧時序比較器
90‧‧‧解串器
92‧‧‧相位調整部
94‧‧‧搜尋部
100‧‧‧測試裝置
200‧‧‧模擬器
300‧‧‧轉換部
310‧‧‧封包定義資料記憶部
320‧‧‧取得部
330‧‧‧封包通訊程式生成部
340‧‧‧波形轉儲記憶部
400‧‧‧測試部
410‧‧‧運算處理部
412‧‧‧變數記憶部
414‧‧‧運算部
420‧‧‧執行處理部
426‧‧‧流程控制部
430‧‧‧通訊處理部
432‧‧‧封包列表記憶部
434‧‧‧封包通訊部
440‧‧‧測試程式記憶部
442‧‧‧通訊區塊抽取部
444‧‧‧封包列表生成部
446‧‧‧控制區塊抽取部
448‧‧‧控制程式生成部
450‧‧‧程式供給部
452‧‧‧運算區塊抽取部
454‧‧‧運算程式生成部
500‧‧‧被測試元件
600‧‧‧模擬環境
610‧‧‧元件模擬模型
620‧‧‧事務‧刺激源
630‧‧‧轉接器
800‧‧‧結果處理部
810‧‧‧標籤抽取部
820‧‧‧標籤指定部
830‧‧‧顯示部
900‧‧‧測試程式
910‧‧‧封包函數
920‧‧‧發送資料
930‧‧‧標籤
1000‧‧‧顯示結果
1010‧‧‧時間軸
1020‧‧‧封包資訊
1030‧‧‧標籤號
1040‧‧‧封包函數的標籤
1050‧‧‧含有標籤的封包的顯示
1900‧‧‧電腦
2000‧‧‧CPU
2010‧‧‧ROM
2020‧‧‧RAM
2030‧‧‧通訊介面
2040‧‧‧硬碟驅動器
2050‧‧‧軟碟驅動器
2060‧‧‧DVD驅動器
2070‧‧‧輸入輸出晶片
2075‧‧‧圖形控制器
2080‧‧‧顯示裝置
2082‧‧‧主機控制器
2084‧‧‧輸入輸出控制器
2090‧‧‧軟碟
2095‧‧‧DVD-ROM
S11、S12、S13、S14、S15、S16、S1100、S1110、S1120、S1130、S1140、S1150、S1160‧‧‧步驟
圖1是一併表示本實施形態的測試裝置100的構成與被測試元件500。
圖2表示本實施形態的測試用的封包通訊程式的階層構成。
圖3表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第1例。
圖4表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第2例。
圖5表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第3例。
圖6表示本實施形態的測試部400的構成的一示例。
圖7表示本實施形態的運算處理部410的構成的一示例、以及多個執行處理部420以及多個通訊處理部430中的代表性的1個執行處理部420以及通訊處理部430的構成。
圖8表示本實施形態的程式供給部450的構成。
圖9表示本實施形態的封包通訊部434的構成。
圖10表示本實施形態的發送側區塊12的構成。
圖11表示本實施形態的發送側區塊12內的資料處理部32的構成的一示例。
圖12表示本實施形態的發送側區塊12內的發送部36的構成的一示例。
圖13表示本實施形態的接收側區塊14的構成。
圖14表示本實施形態的接收側區塊14內的接收部82的構成的一示例。
圖15表示本實施形態的封包列表的一示例。
圖16表示本實施形態的封包函數的一示例。
圖17表示本實施形態的測試部400的處理流程。
圖18表示本實施形態的測試裝置100的構成的變形例。
圖19表示本實施形態的測試程式900的構成。
圖20表示本實施形態的顯示結果1000的構成。
圖21表示本實施形態的測試裝置100的變形例的動作。
圖22表示本實施形態的電腦1900的硬體構成的一示 例。
100‧‧‧測試裝置
200‧‧‧模擬器
300‧‧‧轉換部
400‧‧‧測試部
500‧‧‧被測試元件
600‧‧‧模擬環境
610‧‧‧元件模擬模型

Claims (8)

  1. 一種測試裝置，對被測試元件進行測試，且包括：標籤抽取部，自測試程式中抽取多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯，上述測試程式中描述著與上述被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案、及為了讓使用者識別上述多個測試圖案的各個而分別附加的上述多個標籤；通訊部，執行上述測試程式，而測試與上述被測試元件之間的通訊；標籤指定部，指定與上述通訊部及上述被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案的各個相對應的上述標籤；以及顯示部，與和上述被測試元件之間進行通訊的上述測試圖案建立關聯而顯示由上述標籤指定部所指定的上述標籤。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中上述標籤抽取部是自上述測試程式中抽取上述關聯，上述測試程式中描述著分別表示與上述被測試元件之間進行通訊的封包中所含的資料欄位的值的上述多個測試圖案、及與上述多個測試圖案的各個相對應的用以讓使用者識別上述資料欄位的上述多個標籤，上述顯示部是與上述被測試元件及上述測試裝置之間進行通訊的封包中所含的至少1個資料欄位建立關聯而顯示由上述標籤指定部所指定的上述標籤。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中上述顯示部將與上述被測試元件之間進行通訊的上述測試圖案的值、與上述標籤指定部所指定的上述標籤建立關聯而加以顯示。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之測試裝置，其中上述標籤抽取部自上述測試程式中抽取上述多個測試圖案的值或值的範圍與上述多個標籤的各個的關聯，上述測試程式中描述著上述多個測試圖案、及與上述多個測試圖案的各個的值或值的範圍相對應的上述多個標籤的各個。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試裝置，其中當上述多個標籤中的1個標籤包含參照上述測試程式中的變數的意思的描述時，上述標籤抽取部根據上述變數的值而生成上述1個標籤的字符串，並將上述多個測試圖案中的與上述1個標籤相對應的1個測試圖案、與上述1個標籤的字符串建立關聯而加以抽取。
  6. 如申請專利範圍第1項至5項中任一項所述之測試裝置，其中上述標籤指定部指定與根據上述測試程式而應和上述被測試元件之間進行通訊的上述測試圖案相對應的上述標籤，上述顯示部是與和上述被測試元件之間實際上進行通訊的上述測試圖案建立關聯而顯示由上述標籤指定部所指定的上述標籤。
  7. 一種程式，用以使電腦作為對被測試元件進行測試的測試裝置的控制裝置來發揮功能， 上述程式使上述電腦作為下列各者而發揮功能：標籤抽取部，自測試程式中抽取多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯，上述測試程式中描述著與上述被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案、及為了讓使用者識別上述多個測試圖案的各個而分別附加的上述多個標籤；標籤指定部，根據上述測試裝置藉由執行上述測試程式而與上述被測試元件之間進行通訊，來指定在上述測試裝置和上述被測試元件之間的通訊的測試中與上述測試裝置和上述被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案的各個相對應的上述標籤；以及顯示部，與上述測試裝置及上述被測試元件之間進行通訊的上述測試圖案建立關聯而顯示由上述標籤指定部所指定的上述標籤。
  8. 一種測試方法，藉由測試裝置來對被測試元件進行測試，且包括：標籤抽取步驟，自測試程式中抽取多個測試圖案的各個與多個標籤的各個的關聯，上述測試程式中描述著與上述被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案、及為了讓使用者識別上述多個測試圖案的各個而分別附加的上述多個標籤；通訊步驟，藉由上述測試裝置來執行上述測試程式，而對與上述被測試元件之間的通訊進行測試；標籤指定步驟，指定在上述測試裝置和上述被測試元 件之間的通訊的測試中與上述測試裝置和上述被測試元件之間進行通訊的上述多個測試圖案的各個相對應的上述標籤；以及顯示步驟，與上述測試裝置和上述被測試元件之間進行通訊的上述測試圖案建立關聯而顯示上述標籤指定步驟中所指定的上述標籤。
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