JP4536160B2 - 試験装置およびデバッグ方法 - Google Patents
試験装置およびデバッグ方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4536160B2 JP4536160B2 JP2010504108A JP2010504108A JP4536160B2 JP 4536160 B2 JP4536160 B2 JP 4536160B2 JP 2010504108 A JP2010504108 A JP 2010504108A JP 2010504108 A JP2010504108 A JP 2010504108A JP 4536160 B2 JP4536160 B2 JP 4536160B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- packet
- unit
- test apparatus
- test
- device under
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 198
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 36
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 52
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 51
- 230000006870 function Effects 0.000 description 25
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 21
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
出願番号 12/329,635 出願日 2008年12月8日
Claims (11)
- 1以上の命令列を含むパケット単位で被試験デバイスと通信して、前記被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記試験装置の各ピンと、前記被試験デバイスとの間で送受信する前記パケットの順序を指定するパケット列情報に基づいて、前記被試験デバイスとの間で前記パケットを送受信する送受信部と、
前記試験装置の各ピンと、前記被試験デバイスとの間で送受信した前記パケットを示す情報を時系列に表示する表示部と
を備え、
前記表示部は、前記パケット列情報のソースコードを、当該パケット列情報に応じて送受信された前記パケットを示す情報と併せて表示する試験装置。 - 前記表示部は、送受信された前記パケットの情報を、前記試験装置の各ピンについて共通に設定される時間軸に沿って並列に表示する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記パケットには、当該パケットの種類を識別する識別情報が含まれており、
前記表示部は、それぞれの前記パケットの前記識別情報を含む情報を表示する
請求項1または2に記載の試験装置。 - 前記試験装置は、前記被試験デバイスとの間で送受信した前記パケットの前記識別情報を検出する検出部を更に備え、
前記表示部は、前記検出部が検出した前記識別情報を含む情報を表示する
請求項3に記載の試験装置。 - 前記表示部は、それぞれの前記パケットの種類に応じて、各パケットの表示の態様を異ならせる
請求項1から4のいずれかに記載の試験装置。 - 前記被試験デバイスから受信した予め定められた前記パケットのデータ値と、予め定められた期待値とを比較する比較部を更に備え、
前記表示部は、前記比較部における比較結果に応じて、当該パケットの表示の態様を異ならせる
請求項1から5のいずれかに記載の試験装置。 - 前記パケット列情報が含む、前記パケットを送信するか否かを判断する分岐条件に応じて、前記パケットの表示の態様を異ならせる
請求項1から6のいずれかに記載の試験装置。 - 前記表示部が表示した前記パケット列情報のソースコードのいずれかの箇所を指定し、且つ、当該箇所を変更する編集情報を受け取った場合に、前記パケット列情報のソースコードの当該箇所を変更する編集部を更に備える
請求項1から7のいずれかに記載の試験装置。 - 前記表示部が表示した前記パケットを示す情報のうち、いずれかを指定する指定情報を受け取った場合に、前記指定情報に対応する前記パケットのソースコードを前記表示部に表示させるパケット指定部を更に備える
請求項8に記載の試験装置。 - 前記編集部は、前記表示部が表示した前記パケットのソースコードのいずれかの箇所を指定し、且つ、当該箇所を変更する編集情報を受け取った場合に、前記パケットのソースコードの当該箇所を変更する
請求項9に記載の試験装置。 - 1以上の命令列を含むパケット単位で被試験デバイスと通信して試験装置をデバッグするデバッグ方法であって、
前記試験装置は、
前記試験装置の各ピンと、前記被試験デバイスとの間で送受信する前記パケットの順序を指定するパケット列情報に基づいて、前記被試験デバイスとの間で前記パケットを送受信する送受信部を備え、
前記試験装置の各ピンと、前記被試験デバイスとの間で送受信した前記パケットを示す情報を時系列に表示し、かつ、前記パケット列情報のソースコードを、当該パケット列情報に応じて送受信された前記パケットを示す情報と併せて表示するデバッグ方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/329,635 | 2008-12-08 | ||
US12/329,635 US8059547B2 (en) | 2008-12-08 | 2008-12-08 | Test apparatus and test method |
PCT/JP2009/002404 WO2010067471A1 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置およびデバッグ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP4536160B2 true JP4536160B2 (ja) | 2010-09-01 |
JPWO2010067471A1 JPWO2010067471A1 (ja) | 2012-05-17 |
Family
ID=42230947
Family Applications (11)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010504107A Active JP4595039B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置および試験方法 |
JP2010541953A Active JP4864163B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置 |
JP2010504108A Expired - Fee Related JP4536160B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置およびデバッグ方法 |
JP2010541954A Pending JPWO2010067472A1 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置および試験方法 |
JP2010504104A Expired - Fee Related JP4536159B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置および試験方法 |
JP2010541956A Active JP4885310B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置および試験方法 |
JP2010504105A Expired - Fee Related JP4480798B1 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置、試験方法、およびプログラム |
JP2010541955A Expired - Fee Related JP4934222B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置および試験方法 |
JP2010541957A Expired - Fee Related JP4870840B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置、変換回路、および、試験方法 |
JP2010541958A Expired - Fee Related JP4757958B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-07-07 | 試験装置および試験方法 |
JP2010504106A Expired - Fee Related JP4644312B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-12-03 | 試験装置および試験方法 |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010504107A Active JP4595039B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置および試験方法 |
JP2010541953A Active JP4864163B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置 |
Family Applications After (8)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010541954A Pending JPWO2010067472A1 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置および試験方法 |
JP2010504104A Expired - Fee Related JP4536159B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-05-29 | 試験装置および試験方法 |
JP2010541956A Active JP4885310B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置および試験方法 |
JP2010504105A Expired - Fee Related JP4480798B1 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置、試験方法、およびプログラム |
JP2010541955A Expired - Fee Related JP4934222B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置および試験方法 |
JP2010541957A Expired - Fee Related JP4870840B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-06-05 | 試験装置、変換回路、および、試験方法 |
JP2010541958A Expired - Fee Related JP4757958B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-07-07 | 試験装置および試験方法 |
JP2010504106A Expired - Fee Related JP4644312B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-12-03 | 試験装置および試験方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8059547B2 (ja) |
JP (11) | JP4595039B2 (ja) |
CN (2) | CN102246471A (ja) |
TW (11) | TW201027091A (ja) |
WO (11) | WO2010067470A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8483073B2 (en) * | 2008-12-08 | 2013-07-09 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
US8489837B1 (en) | 2009-06-12 | 2013-07-16 | Netlist, Inc. | Systems and methods for handshaking with a memory module |
US8060333B2 (en) * | 2009-09-10 | 2011-11-15 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
US8797880B2 (en) * | 2010-02-09 | 2014-08-05 | Juniper Networks, Inc. | Remote network device component testing |
US8963937B2 (en) * | 2011-02-10 | 2015-02-24 | Novatek Microelectronics Corp. | Display controller driver and testing method thereof |
TWI418816B (zh) * | 2011-03-02 | 2013-12-11 | Nat Univ Chung Hsing | 高解析度高頻之影像處理晶片的驗證系統 |
JP6145409B2 (ja) * | 2014-01-09 | 2017-06-14 | 日本電信電話株式会社 | 通信試験システム、通信試験方法、装置およびプログラム |
WO2015170382A1 (ja) * | 2014-05-08 | 2015-11-12 | 三菱電機株式会社 | エンジニアリングツール、プログラム編集装置およびプログラム編集システム |
US11617241B2 (en) | 2014-10-22 | 2023-03-28 | Semisilicon Technology Corp. | Pixel-controlled LED light string and method of operating the same |
US10874010B2 (en) | 2014-10-22 | 2020-12-22 | Semisilicon Technology Corp. | Pixel-controlled LED light with burnable sequence and method of operating the same |
US11570866B2 (en) | 2014-10-22 | 2023-01-31 | Semisilicon Technology Corp. | Pixel-controlled LED light string and method of operating the same |
WO2016183827A1 (zh) * | 2015-05-20 | 2016-11-24 | 韩性峰 | 智能电子开发测试系统 |
CN105808469B (zh) | 2016-03-21 | 2018-12-25 | 北京小米移动软件有限公司 | 数据处理方法、装置、终端及智能设备 |
JP6793524B2 (ja) * | 2016-11-01 | 2020-12-02 | 株式会社日立製作所 | ログ解析システムおよびその方法 |
CN108254672B (zh) * | 2018-01-18 | 2021-06-04 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种改进的伪四线测试方法及其测试结构 |
TWI702411B (zh) * | 2019-05-16 | 2020-08-21 | 致茂電子股份有限公司 | 多通道測試裝置 |
TWI705732B (zh) * | 2019-07-25 | 2020-09-21 | 矽誠科技股份有限公司 | 可燒錄定序之點控發光二極體燈及其操作方法 |
CN112351540A (zh) * | 2019-08-06 | 2021-02-09 | 矽诚科技股份有限公司 | 可刻录定序的点控发光二极管灯及其操作方法 |
US11313904B2 (en) * | 2019-11-24 | 2022-04-26 | Global Unichip Corporation | Testing device and testing method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001504626A (ja) * | 1996-11-19 | 2001-04-03 | テラダイン・インコーポレーテッド | データ圧縮を備えたメモリ・テスタ |
JP2001134469A (ja) * | 1999-08-16 | 2001-05-18 | Advantest Corp | 半導体試験用プログラムデバッグ装置 |
JP2002050196A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-15 | Advantest Corp | 半導体メモリ試験装置 |
JP2006268357A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | サンプリング装置、及び試験装置 |
Family Cites Families (71)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02243039A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-27 | Nec Corp | 試験制御装置 |
JPH02250120A (ja) * | 1989-03-23 | 1990-10-05 | Hokuriku Nippon Denki Software Kk | 情報処理システム試験診断プログラム自動化方式 |
DE4100899A1 (de) * | 1990-01-17 | 1991-07-18 | Schlumberger Technologies Inc | System fuer die steuerung des ablaufs von testsequenzen in einer informationsverarbeitungsvorrichtung |
JPH04260151A (ja) | 1991-02-14 | 1992-09-16 | Nec Eng Ltd | 通信制御装置 |
JP2751701B2 (ja) * | 1991-12-24 | 1998-05-18 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
JPH05244230A (ja) * | 1992-02-27 | 1993-09-21 | Hitachi Eng Co Ltd | データ伝送試験装置 |
JPH05336171A (ja) * | 1992-06-04 | 1993-12-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報送信装置 |
JP2755195B2 (ja) * | 1994-12-08 | 1998-05-20 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造方法及びその装置 |
JPH08335610A (ja) * | 1995-06-08 | 1996-12-17 | Advantest Corp | 半導体デバイス解析装置 |
JPH09264933A (ja) * | 1996-03-28 | 1997-10-07 | Ando Electric Co Ltd | Icテスタの並列試験方法 |
JP3612694B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2005-01-19 | ソニー株式会社 | 被試験信号生成装置及びディジタルデータ信号出力装置 |
JPH10107871A (ja) * | 1996-10-03 | 1998-04-24 | Hitachi Ltd | Dチャネル共有通信装置試験器および試験方法 |
JPH10171735A (ja) * | 1996-12-05 | 1998-06-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ネットワークサービス管理方法 |
JP3833341B2 (ja) * | 1997-05-29 | 2006-10-11 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置のテストパターン発生回路 |
JPH11168527A (ja) * | 1997-12-04 | 1999-06-22 | Nec Eng Ltd | 伝送線路障害検出システム |
US6067651A (en) * | 1998-02-20 | 2000-05-23 | Hewlett-Packard Company | Test pattern generator having improved test sequence compaction |
US6212482B1 (en) * | 1998-03-06 | 2001-04-03 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for specifying performance parameters in integrated circuits |
JP2000040391A (ja) * | 1998-05-13 | 2000-02-08 | Advantest Corp | メモリデバイス試験装置およびデ―タ選択回路 |
JPH11344528A (ja) * | 1998-05-29 | 1999-12-14 | Ando Electric Co Ltd | Icテストシステム及びその通信方法 |
JP2000112838A (ja) * | 1998-10-06 | 2000-04-21 | Fujitsu Ltd | データ転送試験装置 |
FR2787267B1 (fr) * | 1998-12-14 | 2001-02-16 | France Telecom | Dispositif et procede de traitement d'une sequence de paquets d'information |
US6678643B1 (en) * | 1999-06-28 | 2004-01-13 | Advantest Corp. | Event based semiconductor test system |
JP2001024650A (ja) * | 1999-07-02 | 2001-01-26 | Fujitsu Ltd | Atm交換機及びそれにおける回線装置の試験方法 |
JP4371488B2 (ja) * | 1999-09-03 | 2009-11-25 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | デバイス試験評価システムおよびデバイス試験評価方法 |
JP2001211078A (ja) * | 2000-01-25 | 2001-08-03 | Sony Corp | データ伝送方法及びデータ伝送装置 |
JP3478223B2 (ja) * | 2000-02-10 | 2003-12-15 | 日本電気株式会社 | スタッフィング制御回路 |
JP2001312416A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Ando Electric Co Ltd | Usbデータシミュレーション装置、および、記憶媒体 |
US6895011B1 (en) * | 2000-08-15 | 2005-05-17 | Lucent Technologies Inc. | Method and apparatus for re-sequencing data packets |
JP4376515B2 (ja) * | 2000-09-20 | 2009-12-02 | 富士通株式会社 | 移動体通信システム |
JP2002131397A (ja) * | 2000-10-19 | 2002-05-09 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
JP2002152317A (ja) | 2000-11-10 | 2002-05-24 | Fujitsu Ltd | 試験装置 |
JP2002340980A (ja) * | 2001-05-11 | 2002-11-27 | Ando Electric Co Ltd | 半導体集積回路試験装置及び試験方法 |
JP2002344563A (ja) * | 2001-05-11 | 2002-11-29 | Matsushita Electric Works Ltd | 長期安定化試験システム |
US6728916B2 (en) * | 2001-05-23 | 2004-04-27 | International Business Machines Corporation | Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design |
JP3667265B2 (ja) * | 2001-08-29 | 2005-07-06 | アンリツ株式会社 | 通信プロトコル試験装置 |
JP3752212B2 (ja) | 2002-09-30 | 2006-03-08 | アンリツ株式会社 | 試験用パケット発生装置 |
FR2845551B1 (fr) * | 2002-10-04 | 2005-01-14 | Atlinks | Poste telephonique, terminal multimedia et serveur |
JP4238591B2 (ja) | 2003-02-18 | 2009-03-18 | 沖電気工業株式会社 | Lapd試験装置 |
JP2007057541A (ja) * | 2003-03-31 | 2007-03-08 | Advantest Corp | 試験エミュレート装置 |
JP2005101754A (ja) * | 2003-09-22 | 2005-04-14 | Advantest Corp | 送信機特性測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 |
US7073109B2 (en) * | 2003-09-30 | 2006-07-04 | Agilent Technologies, Inc. | Method and system for graphical pin assignment and/or verification |
EP1687649A1 (en) * | 2003-11-26 | 2006-08-09 | Advantest Corporation | Testing apparatus |
US7107173B2 (en) * | 2004-02-03 | 2006-09-12 | Credence Systems Corporation | Automatic test equipment operating architecture |
TWI266070B (en) * | 2004-03-19 | 2006-11-11 | Realtek Semiconductor Corp | Chip-level design under test verification environment and method thereof |
TWI240345B (en) * | 2004-06-28 | 2005-09-21 | Advanced Semiconductor Eng | A method for re-testing semiconductor device |
JP4279751B2 (ja) * | 2004-08-23 | 2009-06-17 | 株式会社アドバンテスト | デバイスの試験装置及び試験方法 |
TWI267266B (en) * | 2004-11-03 | 2006-11-21 | Inventec Multimedia & Telecom | Testing apparatus and method thereof |
JP4546218B2 (ja) * | 2004-11-05 | 2010-09-15 | Necエンジニアリング株式会社 | 負荷試験方法および負荷試験システム |
JP2006214839A (ja) * | 2005-02-03 | 2006-08-17 | Fujitsu Ltd | メモリ内蔵デバイスへのテストパターン発生装置及びテストパターン発生方法 |
US8019333B2 (en) * | 2005-03-14 | 2011-09-13 | Qualcomm Incorporated | Apparatus and methods for product acceptance testing on a wireless device |
DE602005002131T2 (de) * | 2005-05-20 | 2008-05-15 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Prüfvorrichtung mit Anpassung des Prüfparameters |
JP2006352290A (ja) | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Nec Commun Syst Ltd | シナリオ作成装置、試験システム、シナリオ作成方法及びプログラム |
JP4829889B2 (ja) * | 2005-08-25 | 2011-12-07 | 株式会社アドバンテスト | Tcpハンドリング装置 |
JP2007096903A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Rohm Co Ltd | パラレルシリアル変換回路およびそれを用いた電子機器 |
JP2007123623A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-05-17 | Fujitsu Ltd | 半導体試験装置及び方法 |
US20070168729A1 (en) * | 2005-12-06 | 2007-07-19 | Mediatek Inc. | System and method for testing and debugging electronic apparatus in single connection port |
JP4873533B2 (ja) * | 2005-12-15 | 2012-02-08 | 富士通株式会社 | 高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 |
JP4946110B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2012-06-06 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置試験方法、半導体装置試験装置および半導体装置試験プログラム |
JP2007281801A (ja) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Fuji Xerox Co Ltd | 情報処理装置、コンピュータの制御方法及びプログラム |
US20070283104A1 (en) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | International Business Machines Corporation | Concurrent Hardware Selftest for Central Storage |
TW200745888A (en) * | 2006-06-05 | 2007-12-16 | Inventec Corp | Test system for automatically receiving test results and method thereof |
JP2008042410A (ja) * | 2006-08-03 | 2008-02-21 | Fujitsu Ltd | パケット転送試験装置およびパケット転送試験方法 |
JP2008072191A (ja) | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Funai Electric Co Ltd | リモコン装置 |
US7698088B2 (en) * | 2006-11-15 | 2010-04-13 | Silicon Image, Inc. | Interface test circuitry and methods |
JP4826788B2 (ja) * | 2006-12-07 | 2011-11-30 | 横河電機株式会社 | デバイステスタ |
US7831863B2 (en) * | 2007-01-11 | 2010-11-09 | International Business Machines Corporation | Method for enhancing the diagnostic accuracy of a VLSI chip |
JP4755280B2 (ja) * | 2007-03-15 | 2011-08-24 | 富士通株式会社 | ネットワーク検証システム |
JP4894575B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2012-03-14 | ソニー株式会社 | 半導体評価装置およびその方法、並びにプログラム |
US7725793B2 (en) * | 2007-03-21 | 2010-05-25 | Advantest Corporation | Pattern generation for test apparatus and electronic device |
US8102776B2 (en) * | 2007-09-05 | 2012-01-24 | Spirent Communications, Inc. | Methods and apparatus for generating simulated network traffic |
US20100110906A1 (en) * | 2008-10-30 | 2010-05-06 | Corrigent Systems Ltd | Efficient full mesh load testing of network elements |
-
2008
- 2008-12-08 US US12/329,635 patent/US8059547B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-05-29 JP JP2010504107A patent/JP4595039B2/ja active Active
- 2009-05-29 WO PCT/JP2009/002403 patent/WO2010067470A1/ja active Application Filing
- 2009-05-29 WO PCT/JP2009/002405 patent/WO2010067472A1/ja active Application Filing
- 2009-05-29 WO PCT/JP2009/002402 patent/WO2010067469A1/ja active Application Filing
- 2009-05-29 JP JP2010541953A patent/JP4864163B2/ja active Active
- 2009-05-29 JP JP2010504108A patent/JP4536160B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-29 WO PCT/JP2009/002401 patent/WO2010067468A1/ja active Application Filing
- 2009-05-29 WO PCT/JP2009/002404 patent/WO2010067471A1/ja active Application Filing
- 2009-05-29 JP JP2010541954A patent/JPWO2010067472A1/ja active Pending
- 2009-05-29 JP JP2010504104A patent/JP4536159B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-29 CN CN2009801491351A patent/CN102246471A/zh active Pending
- 2009-06-05 WO PCT/JP2009/002559 patent/WO2010067475A1/ja active Application Filing
- 2009-06-05 JP JP2010541956A patent/JP4885310B2/ja active Active
- 2009-06-05 JP JP2010504105A patent/JP4480798B1/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-06-05 WO PCT/JP2009/002556 patent/WO2010067474A1/ja active Application Filing
- 2009-06-05 WO PCT/JP2009/002547 patent/WO2010067473A1/ja active Application Filing
- 2009-06-05 JP JP2010541955A patent/JP4934222B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-06-05 JP JP2010541957A patent/JP4870840B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-06-05 WO PCT/JP2009/002560 patent/WO2010067476A1/ja active Application Filing
- 2009-07-07 WO PCT/JP2009/003159 patent/WO2010067482A1/ja active Application Filing
- 2009-07-07 JP JP2010541958A patent/JP4757958B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-12-03 JP JP2010504106A patent/JP4644312B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-12-03 CN CN2009801489008A patent/CN102239682A/zh active Pending
- 2009-12-03 WO PCT/JP2009/006610 patent/WO2010067558A1/ja active Application Filing
- 2009-12-07 TW TW098141756A patent/TW201027091A/zh unknown
- 2009-12-07 TW TW098141770A patent/TWI401914B/zh active
- 2009-12-07 TW TW098141758A patent/TWI389505B/zh active
- 2009-12-07 TW TW098141766A patent/TWI408391B/zh active
- 2009-12-07 TW TW098141767A patent/TWI402521B/zh active
- 2009-12-07 TW TW098141765A patent/TWI392889B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-12-07 TW TW098141757A patent/TWI405987B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-12-08 TW TW098141940A patent/TWI396411B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-12-08 TW TW098141939A patent/TWI448702B/zh active
- 2009-12-08 TW TW098141937A patent/TW201028712A/zh unknown
- 2009-12-08 TW TW098141936A patent/TWI412757B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001504626A (ja) * | 1996-11-19 | 2001-04-03 | テラダイン・インコーポレーテッド | データ圧縮を備えたメモリ・テスタ |
JP2001134469A (ja) * | 1999-08-16 | 2001-05-18 | Advantest Corp | 半導体試験用プログラムデバッグ装置 |
JP2002050196A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-15 | Advantest Corp | 半導体メモリ試験装置 |
JP2006268357A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | サンプリング装置、及び試験装置 |
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4536160B2 (ja) | 試験装置およびデバッグ方法 | |
US8666691B2 (en) | Test apparatus and test method | |
JP2011154026A (ja) | 試験装置および試験方法 | |
EP1451599A1 (en) | Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems | |
US20120136603A1 (en) | Test apparatus and debug method | |
CN110235393A (zh) | 自动化测试方法及系统 | |
CN107632910A (zh) | 一种测试方法和装置 | |
US20130231885A1 (en) | Test apparatus and test module | |
JP2013181834A (ja) | 試験装置および試験モジュール | |
JP4617401B1 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
JP4792541B2 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
US20240202088A1 (en) | Peripheral component interconnect board programmable link training and status state machine and state branching | |
CN118604420A (zh) | 芯片测试波形显示方法、系统、装置和存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100608 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100615 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130625 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130625 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130625 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |