TWI392889B - 測試裝置與測試方法 - Google Patents

Description

測試裝置與測試方法

本發明是有關於一種測試裝置以及測試方法。

作為一例，進行封包(packet)通信的元件(device)在通信對象的元件之間執行通信的請求以及拒絕的交換、通信的開始以及結束的響應的交換、通信的成功以及失敗的交換等的交握(handshake)。而且，對進行封包通信的被測試元件進行測試的測試裝置在與被測試元件之間執行交握，以進行測試。

然而，在對進行封包通信的被測試元件進行測試時，測試裝置必須預先存儲與自被測試元件所接收的封包的內容相應的多種測試向量(test vector)。但是，近年來，元件的大規模化不斷發展，測試向量亦變得龐大，從而變得難以使測試裝置存儲著測試向量。

而且，在對進行封包通信的被測試元件進行測試時，測試裝置必需根據自被測試元件所接收的封包內的資料(data)，來對接下來發送至被測試元件的封包中所含的資料進行變更。然而，先前的測試裝置中，由於是使用內容已確定的測試向量來生成測試信號，因此難以進行如此之處理。

為了解決上述課題，在本發明的第1技術方案中，提供一種測試裝置，其對被測試元件進行測試，此測試裝置包括：接收部，自上述被測試元件接收封包；發送資料處理部，使與上述接收部所接收的封包中所含的接收資料相應的值包含於與對上述被測試元件發送的封包相應的測試資料行中；以及發送部，對上述被測試元件發送上述發送資料處理部所生成的上述測試資料行。

再者，上述的發明概要並未列舉本發明的所有必要特徵。而且，該些特徵群的次(sub)組合亦可成為發明。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

以下，透過發明的實施形態來說明本發明，但以下的實施形態並未限定申請專利範圍的發明。而且，實施形態中所說明的所有特徵組合未必限於發明內容所必需者。

圖1是與被測試元件500一同表示本實施形態的測試裝置100的構成。測試裝置100是在與至少1個被測試元件500之間進行封包通信，以對被測試元件500進行測試。亦即，測試裝置100對被測試元件500發送封包以及自被測試元件500接收封包，以對被測試元件500進行測試。

測試裝置100包括模擬器(simulator)200、轉換部300以及測試部400。模擬器200藉由模擬(simulation)環境600來模擬被測試元件500的動作。該模擬環境600具有在被測試元件500的設計階段製作成的元件模擬模型(model)610。作為一例，元件模擬模型610是以交易層級(transaction level)來描述，該交易層級以功能區塊(block)間的一系列交換(交易(transaction))的單位來表示內部動作。

轉換部300根據模擬被測試元件500的動作的模擬環境600，而生成由該測試裝置100來執行的、用於對被測試元件500進行測試的測試用的封包通信程式(program)。轉換部300對所生成的測試用的封包通信程式進行編譯(compile)，並存儲至測試部400。再者，模擬器200以及轉換部300亦可藉由在具備測試部400的測試裝置本體的外部所設的工作站(workstation)等的電腦(computer)來實現。

測試部400執行由轉換部300所生成的測試用的封包通信程式，與被測試元件500之間進行封包通信，以對被測試元件500進行測試。更詳細而言，測試部400對被測試元件500發送包含測試資料的封包，並接收與此相應地自被測試元件500輸出的封包。繼而，測試部400將所接收的封包中所含的資料與期待資料進行比較，以判定被測試元件500的良否。

此處，測試用的封包通信程式具有程序(procedure)以及封包函數。程序描述對被測試元件500所執行的測試的過程。作為一例，程序描述了與在模擬環境600下執行的交易單位的模擬過程對應的測試過程。程序例如可描述與封包交換單位的模擬過程對應的測試過程。

程序包括封包函數的叫出以作為控制過程。而且，程序包括叫出條件分支、無條件分支以及其他程序的次常式(subroutine)叫出等的控制語法以作為測試過程。

而且，程序可處理變數。變數可取代藉由程序內的運算式、代入式等所獲得的值，而存儲封包內的資料行。作為一例，程序可在與封包函數之間授受變數。

封包函數包含該封包的資料行以及用於生成該資料行的命令行。測試用的封包通信程式可具有多種封包函數。作為一例，測試用的封包通信程式具有用於生成寫(write)封包、讀(read)封包以及空閒(idle)封包等的各個封包的封包函數。

圖2表示本實施形態的測試用的封包通信程式的層級構成。測試用的封包通信程式例如具有1個或多個程序。各個程序包含1個或多個封包列表(list)。

封包列表包含有與被測試元件500之間進行通信的一系列封包。作為一例，封包列表包含：命令行，用於依序叫出與在被測試元件500之間進行通信的多個封包對應的多個封包函數；以及變數，用於與封包函數授受針對每個封包而變更的各別資料。

封包包含多個資料。作為一例，無論封包的種類如何，封包均包含固定的資料。作為一例，封包包含封包的開始碼(start code)以及結束碼(end code)。

而且，作為一例，封包亦可包含每個封包的種類所共用的共用資料。作為一例，封包可包含表示封包種類的指令(command)以作為共用資料。

而且，作為一例，封包亦可包含針對每個封包而變更的各別資料。作為一例，封包可包含位址(address)以及實體的資料。各別資料是由自程序或封包列表所提交的變數來指定。

而且，作為一例，封包亦可包含視狀態而變化的資料。而且，作為一例，封包亦可包含用於對該封包內所含的資料行的錯誤進行檢測的檢查碼(check code)。

此種測試用的封包通信程式將與被測試元件500進行通信的內容在層級上分為表示封包的通信過程的程序、與表示各個封包的資料內容的封包函數。藉此，測試裝置100可將程序設為與在模擬環境600下執行的交易單位的模擬過程所對應的描述。

而且，此種測試用的封包通信程式可反覆叫出程序相同的封包函數。藉此，根據測試用的封包通信程式，可使用共用的封包函數來描述在測試中反覆生成的資料行，因此可縮小測試裝置100所存儲的資料量。

圖3表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第1例。第1例的模擬器200以交易層級來模擬被測試元件500的動作。此種模擬環境600具有元件模擬模型610；以及交易激源(transaction stimulus)620。

元件模擬模型610包含以交易層級來描述的被測試元件500的邏輯模型。交易激源620以交易單位來指定被測試元件500與外部之間的信號授受。

交易激源620可為表示自外部輸入被測試元件500的封包以及自被測試元件500向外部輸出的封包的授受的描述。模擬環境600使用此種元件模擬模型610以及交易激源620來執行模擬，以判定被測試元件500是否進行妥當的動作。

第1例的轉換部300具有封包定義資料記憶部310、獲取部320以及封包通信程式生成部330。封包定義資料記憶部310記憶著對多種封包的各個中所含的資料行進行定義的封包定義資料。

獲取部320提取模擬環境600中所含的交易激源620的描述，以獲取在該測試裝置100以及被測試元件500之間進行通信的封包行。作為一例，獲取部320基於封包定義資料，且根據交易激源620的描述來指定在測試裝置100以及被測試元件500之間進行通信的封包的種類以及順序。進而，作為一例，獲取部320根據交易激源620的描述來指定各個封包中所含的資料。

封包通信程式生成部330根據由獲取部320所獲取的封包行來生成測試用的封包通信程式，該測試用的封包通信程式是由該測試裝置100來執行，用於在與被測試元件500之間的封包行中所含的封包的通信。作為一例，封包通信程式生成部330根據由獲取部320所指定的封包的種類以及順序而生成表示封包的通信過程的程序。

進而，作為一例，封包通信程式生成部330根據由獲取部320所指定的封包的種類而生成封包函數。進而，作為一例，封包通信程式生成部330根據由獲取部320所指定的各個封包中所含的資料而生成變數的值。根據此種轉換部300，可根據模擬環境600中的交易激源620的描述而自動生成測試用的封包通信程式。

圖4表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第2例。第2例的模擬器200以及轉換部300具有與第1例大致相同的構成以及功能，因此以下除了不同點以外省略說明。

第2例的模擬器200具有在模擬的執行中可對被測試元件500所通信的封包進行監控(monitoring)的監控點(monitoring point)。第2例的獲取部320在模擬環境600的模擬的執行中對被測試元件500所通信的封包進行監控，以獲取在該測試裝置100以及被測試元件500之間進行通信的封包行。作為一例，獲取部320根據封包定義資料，來指定該模擬的執行中監控的被測試元件500所通信的封包的種類。亦即，例如，獲取部320檢查所監控的封包是與封包定義資料中的哪種封包定義相匹配(match)，並根據檢查結果來指定監控的封包的種類。

根據此種轉換部300，可根據交易層級下的模擬的執行中的被測試元件500所通信的封包，而自動生成測試用的封包通信程式。

圖5表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第3例。第3例的模擬器200以及轉換部300具有與第1例大致相同的構成以及功能，因此以下除了不同點以外省略說明。

第3例的模擬環境600具有元件模擬模型610、交易激源620以及配接器(adapter)630。第3例的模擬器200以網表層級(netlist level)來模擬被測試元件500的動作。第3例的元件模擬模型610是以網表層級來描述。

配接器630執行由交易激源620所描述的交易、與藉由以網表層級所描述的元件模擬模型610來授受的信號之間的轉換。模擬環境600使用此種元件模擬模型610、交易激源620以及配接器630來執行模擬，以判斷被測試元件500是否進行妥當的動作。

第3例的轉換部300更具有波形轉儲(dump)記憶部340。波形轉儲記憶部340獲取並記憶藉由模擬環境600執行模擬的結果所得的被測試元件500的輸出入信號的波形轉儲。

而且，第3例的獲取部320自波形轉儲記憶部340中記憶的波形轉儲而提取在該測試裝置100以及被測試元件500之間進行通信的封包行。作為一例，獲取部320對波形轉儲記憶部340中記憶的波形轉儲與由封包定義資料定義的資料進行比較，以指定被測試元件500所通信的封包的種類。

根據此種轉換部300，可根據交易層級下的模擬的執行中的被測試元件500所通信的信號的波形轉儲，而自動生成測試用的封包通信程式。

圖6表示本實施形態的測試部400的構成的一例。測試部400執行由轉換部300所生成的測試用的封包通信程式(以下，亦稱作測試程式)，以對至少1個被測試元件500進行測試。

測試部400包括運算處理部410、1個或多個執行處理部420、1個或多個通信處理部430、測試程式記憶部440以及程式供給部450。各個執行處理部420例如經由匯流排(bus)而連接於運算處理部410。各個通信處理部430連接於任一個執行處理部420。

運算處理部410對測試程式中的運算式進行處理。各個執行處理部420對測試程式中的多個封包列表中、連接於該執行處理部420的各個通信處理部430所應執行的封包列表進行指定。各個通信處理部430將由對應的執行處理部420所指定的封包列表中所含的封包，在與對應的被測試元件500之間依序進行通信。

作為一例，測試部400可包括1個運算處理部410、8個執行處理部420以及256個通信處理部430。此時，作為一例，於8個執行處理部420的各個連接有32個通信處理部430。測試部400並不限於此種連接構成，可為其他連接構成。

測試程式記憶部440記憶該測試程式。程式供給部450在測試之前，將該測試程式加載(load)至運算處理部410、執行處理部420以及通信處理部430。

圖7表示本實施形態的運算處理部410的構成的一例、以及多個執行處理部420及多個通信處理部430中的代表的一個執行處理部420以及通信處理部430的構成。運算處理部410具有變數記憶部412以及運算部414。各個執行處理部420具有流程(flow)控制部426。而且，各個通信處理部430具有封包列表記憶部432以及封包通信部434。再者，封包列表記憶部432是記載於封包通信部434的外部，但亦可設於封包通信部434的內部。

程式供給部450自測試程式記憶部440中記憶的測試程式，提取分別包含由對應的通信處理部430進行通信的一系列封包的多個封包列表，並存儲至對應的通信處理部430內的封包列表記憶部432。而且，程式供給部450生成控制程式，其描述有使自測試程式提取的多個封包列表依序執行的控制流程，並將此控制程式供給至流程控制部426。而且，程式供給部450生成執行由測試程式提取的運算式的運算程式，並供給至運算部414。

流程控制部426根據測試程式的執行流程，對於對應的通信處理部430內的封包通信部434而指定執行多個封包列表的各個的順序。更具體而言，流程控制部426執行自程式供給部450供給的控制程式，對於對應的通信處理部430內的封包通信部434而指定封包列表記憶部432中存儲的多個封包列表中接下來應執行的封包列表。作為一例，流程控制部426將接下來應執行的封包列表的位在封包列表記憶部432中的位址(address)發送至封包通信部434。

而且，當控制程式中含有運算式時，流程控制部426叫出執行該運算式的運算程式，使運算處理部410內的運算部414執行該運算式。繼而，流程控制部426根據運算處理部410對運算式的運算結果，來指定接下來應執行的封包列表。此時，流程控制部426可等待下個封包列表的指定，直至接收到運算處理部410的運算結果為止，並根據運算結果來選擇所指定的封包列表。

封包列表記憶部432記憶自程式供給部450供給的多個封包列表。封包通信部434將由對應的執行處理部420內的流程控制部426依序指定的封包列表中所含的一系列封包，在與對應的被測試元件500之間依序通信，以測試對應的被測試元件500。

作為一例，封包通信部434根據自流程控制部426接收的位址來讀出封包列表，將讀出的封包列表中所含的一系列封包在與對應的被測試元件500之間依序通信。而且，封包通信部434將自被測試元件500接收的封包中所含的資料值作為變數值而經由流程控制部426發送至運算處理部410內的變數記憶部412。

變數記憶部412將自多個通信處理部430所具有的多個封包通信部434的各個所接收的資料值作為變數值而予以記憶。運算部414執行測試程式中所含的運算式，並將執行結果發送至多個執行處理部420內的流程控制部426。而且，當運算式中包含自被測試元件500接收的資料值時，運算部414自變數記憶部412讀出成為運算式的參數(parameter)的變數值，以進行由運算式所指定的計算。而且，運算部414亦可將發送至被測試元件500的封包中所含的資料值作為變數值而發送至封包通信部434。

此種測試部400使上位側的運算處理部410執行測試程式中的運算式，使下位側的流程控制部426以及封包通信部434執行流程控制。藉此，根據測試部400，藉由運算能力較高的處理器(processor)來實現上位側的運算處理部410而使變數得到集中管理，並藉由動作頻率較高的處理器或定序器來實現下位側的流程控制部426以及封包通信部434，從而可構築整體上效率良好的系統。

而且，此種測試部400在上位側的運算處理部410中將自被測試元件500接收的資料值作為變數而予以記憶。因此，根據此種測試部400，可使自一個被測試元件500接收的封包的內容反映於對其他被測試元件500發送的封包中。

進而，此種測試部400將自被測試元件500接收的資料值自下位側的通信處理部430傳輸至上位側的運算處理部410，因此可對所接收的資料進行複雜的運算。並且，測試部400將如此之運算結果自上位側的運算處理部410傳輸至下位側的通信處理部430，因此可使對接收資料進行複雜的運算所獲得的資料包含於新生成的封包中。

圖8表示本實施形態的程式供給部450的構成。程式供給部450包括通信區塊提取部442、封包列表生成部444、控制區塊提取部446以及控制程式生成部448。

測試程式被分割為：通信區塊，包含應按序通信的一系列封包；運算區塊，包含運算式；以及控制區塊，包含條件分支、無條件分支以及次常式叫出，並對接下來應執行的通信區塊進行指定。程式供給部450提取測試程式中的多個通信區塊，該多個控制區塊包含應按序通信的一系列封包。封包列表生成部444生成與通信區塊提取部442所提取的多個通信區塊對應的多個封包列表，並存儲至封包列表記憶部432中。

控制區塊提取部446提取測試程式中的多個控制區塊，上述多個控制區塊執行條件分支、無條件分支以及次常式叫出的至少1種，並對接下來應執行的通信區塊進行指定。控制程式生成部448生成執行控制區塊提取部446所提取的多個控制區塊的控制程式，並供給至流程控制部426。

運算區塊提取部452提取測試程式中的包含運算式的多個運算區塊。運算程式生成部454生成執行運算區塊提取部452所提取的多個運算區塊的運算程式，並供給至運算部414。

此種程式供給部450可使封包通信部434執行不包含條件分支、無條件分支或次常式叫出而是包含依序執行的命令的封包列表。進而，程式供給部450可使運算處理部410對運算式進行運算。並且，程式供給部450可根據運算結果來使封包通信部434執行條件分支、無條件分支或次常式叫出，以使流程控制部426指定接下來應執行的封包列表。

圖9表示本實施形態的封包通信部434的構成。封包通信部434包含發送側區塊12以及接收側區塊14。發送側區塊12以由封包列表所指定的順序來將封包發送至被測試元件500。接收側區塊14自被測試元件500接收封包，並對封包列表所指定的封包與所接收的封包進行比較，以判定被測試元件500的良否。

圖10表示本實施形態的發送側區塊12以及接收側區塊14的構成。

首先，對發送側區塊12進行說明。發送側區塊12包括封包列表記憶部432、封包列表處理部22、封包命令行記憶部24、封包資料行記憶部26、下位定序器28、資料處理部32、資料轉換部34以及發送部36。封包列表記憶部432記憶自程式供給部450所供給的多個封包列表。

封包列表處理部22執行封包列表記憶部432所記憶的多個封包列表中由流程控制部426所指定的封包列表，依序指定與被測試元件500進行通信的各封包。作為一例，封包列表處理部22根據自流程控制部426接收的位址來執行封包列表，依序指定發送至被測試元件500的封包。

作為一例，封包列表處理部22指定封包命令行記憶部24上的位址，該封包命令行記憶部24記憶有用於產生所指定的封包的命令行。進而，作為一例，封包列表處理部22針對在與被測試元件500之間進行通信的封包，指定該封包中所含的資料行在封包資料行記憶部26內的位址(例如資料行的先頭位址)。

如此，封包列表處理部22各別地指定用於產生封包的命令行的位址、與該封包中所含的資料行的位址。再者，此時，當在封包列表中，對大於等於2個的封包而指定有共用的命令行或資料行時，封包列表處理部22亦可針對該大於等於2個的封包而指定相同的命令行的位址或相同的資料行的位址。

封包命令行記憶部24對應每個封包的種類而記憶用於產生多種封包的各個的命令行。作為一例，封包命令行記憶部24記憶用於產生寫封包的命令行、用於產生讀封包的命令行以及用於產生空閒(idle)封包的命令行等。

封包資料行記憶部26對應每個封包的種類而記憶多種封包的各個中所含的資料行。作為一例，封包資料行記憶部26可包含寫封包中所含的資料行、讀封包中所含的資料行以及空閒封包中所含的資料行等。而且，作為一例，封包資料行記憶部26亦可區別為各別記憶區域來記憶針對每個封包而變更的各別資料、以及每個封包的種類所共用的共用資料。再者，在圖11中說明封包資料行記憶部26的構成的一例。

進而，發送側的封包資料行記憶部26自接收側區塊14內的資料轉換部34來接收該接收側區塊14內的接收部82所接收的封包中所含的接收資料。繼而，發送側的封包資料行記憶部26記憶該接收側區塊14內的接收部82所接收的封包中所含的接收資料。

下位定序器28自封包命令行記憶部24讀出由封包列表處理部22所指定的封包的命令行，亦即讀出由封包列表處理部22指定了位址的命令行，並依序執行所讀出的命令行中所含的各命令。進而，下位定序器28依照命令行的執行而依序自封包資料行記憶部26輸出由封包列表處理部22所指定的封包的資料行，亦即輸出由封包列表處理部22指定了位址的資料行，以生成在與被測試元件500之間的測試中所用的測試資料行。

而且，下位定序器28每當命令的執行時，將控制資料給予至資料處理部32以及資料轉換部34，該控制資料指示對讀出的各別資料以及共用資料實施指定的處理(運算或資料轉換)。藉此，下位定序器28可將由封包列表處理部22所指定的封包中的、被指定的資料部分作為對讀出的資料實施有指定處理的資料。

而且，下位定序器28可對應於由封包列表處理部22所指定的封包的命令行的執行已完成，而將結束通知給予至封包列表處理部22。藉此，封包列表處理部22可對應於下位定序器28之對命令行的執行的進展，來依序指定封包。

而且，發送側區塊12所具有的發送側的下位定序器28對發送部36指定一種對被測試元件500發送的信號的邊緣時序(edge timing)。作為一例，下位定序器28對發送部36給予時序信號，以對每個封包控制邊緣時序。

而且，發送側的下位定序器28是與接收側區塊14所具有的接收側的下位定序器28進行通信。藉此，發送側的下位定序器28可與接收側的下位定序器28進行交握，以與接收側的下位定序器28同步地執行命令行。

作為一例，發送側的下位定序器28通知接收側的下位定序器28已將預先指定的封包的測試資料行發送至被測試元件500。藉此，發送側的下位定序器28在直至接收側的下位定序器28接收到來自發送側的下位定序器28的通知為止的期間，可禁止所接收的資料行的良否判定。

而且，作為一例，發送側的下位定序器28自接收側的下位定序器28接收已接收到與所生成的測試資料行一致的資料行的通知，以生成預先指定的封包的測試資料行。藉此，發送側的下位定序器28可在自被測試元件500接收到規定的封包之後，將預先指定的封包發送至被測試元件500。

資料處理部32自封包資料行記憶部26讀出由封包列表處理部22所指定的封包的資料行，生成在被測試元件500的測試中所用的測試資料行。此時，發送側的資料處理部32可使與對被測試元件500發送的封包相應的測試資料行中，包含與接收側區塊14內的接收部82所接收的封包中所含的接收資料相應的值。

例如，發送側的資料處理部32自發送側的封包資料行記憶部26讀出資料，生成將對被測試元件500發送的封包的資料行中被預先指定的部分作為與接收資料相應的值(例如接收資料本身的值或對接收資料實施某些處理所得的值)的測試資料行。如此之發送側的資料處理部32可使與自被測試元件500接收的封包中所含的接收資料相應的值包含於封包中而發送。再者，在圖12中說明資料處理部32的構成的一例。

資料轉換部34在由下位定序器28所指定的時序中，對自資料處理部32輸出的測試資料行進行資料轉換。作為一例，資料轉換部34根據預先設定的表格(table)等來對測試資料行進行8b-10b轉換等。進而，作為一例，資料轉換部34亦可對測試資料行進行加擾(scramble)處理。繼而，資料轉換部34輸出轉換後的資料行。

發送部36對被測試元件500發送資料轉換部34所生成的測試資料行。在圖13中說明發送部36的構成的一例。

接著，對接收側區塊14進行說明。接收側區塊14具有與發送側區塊12大致相同的構成以及功能，因此對於接收側區塊14，針對發送側區塊12的不同點進行說明。

接收側區塊14包含封包列表記憶部432、封包列表處理部22、封包命令行記憶部24、封包資料行記憶部26、下位定序器28、資料處理部32、資料轉換部34、接收部82以及判定部84。接收部82自被測試元件500接收封包的資料行。在圖14中說明接收部82的構成的一例。

接收側的資料轉換部34在由接收側的下位定序器28所指定的時序中，對由接收部82所接收的資料行進行資料轉換。作為一例，接收側的資料轉換部34根據預先設定的表格等來對所接收的資料行進行8b-10b轉換等。進而，作為一例，接收側的資料轉換部34亦可對所接收的資料行進行解擾(de-scramble)處理。

繼而，接收側的資料轉換部34將轉換後的資料行供給至判定部84。而且，接收側的資料轉換部34亦可將轉換後的資料行供給至接收側的封包資料行記憶部26或發送側的封包資料行記憶部26的至少一者。

接收側的封包列表處理部22執行由流程控制部426所指定的封包列表，依序指定期待自被測試元件500接收的封包。而且，接收側的資料處理部32將所生成的測試資料行供給至判定部84。

接收側的下位定序器28自接收側的封包資料行記憶部26輸出期待自被測試元件500輸出的封包的資料行，以作為測試資料行。而且，接收側的下位定序器28對接收部82指定一種選通(strobe)時序，該選通時序用於導入自被測試元件500輸出的信號的資料值。

判定部84自接收側的資料處理部32接收測試資料行，並且接收自接收側的資料轉換部34接收的資料行。判定部84根據將接收的資料行與測試資料行進行比較的結果，來判定與被測試元件500之間的通信的良否。作為一例，判定部84包含：對接收部82所接收的資料行與測試資料行是否一致進行比較的邏輯比較部；以及記憶比較結果的失效記憶體(fail memory)。而且，作為一例，判定部84亦可對接收側的下位定序器28通知接收部82所接收的資料行與所指定的資料行一致。

而且，接收側的下位定序器28與發送側的下位定序器28進行通信。藉此，接收側的下位定序器28可與發送側的下位定序器28進行交握，以與發送側的下位定序器28同步地執行命令行。

作為一例，接收側的下位定序器28對發送側的下位定序器28通知已接收到與該接收側的下位定序器28所生成的測試資料行一致的資料行。藉此，發送側的下位定序器28可自接收側的下位定序器28接收已接收到與所生成的測試資料行一致的資料行的通知，以生成預先指定的封包的測試資料行。

而且，作為一例，接收側的下位定序器28在直至自發送側的下位定序器28接收到已將預先指定的封包的測試資料行發送至被測試元件500的通知為止的期間，禁止判定部84對接收部82所接收的資料行的良否判定。藉此，接收側的下位定序器28可在將規定的封包發送至被測試元件500之後，判定是否自被測試元件500輸出有與該規定的封包相應的響應。

接收側的封包資料行記憶部26自接收側區塊14側的資料轉換部34接收該接收部82所接收的封包中所含的接收資料。繼而，接收側的封包資料行記憶部26記憶該接收部82所接收的封包中所含的接收資料。

進而，接收側的資料處理部32使期待自被測試元件500輸出的封包中所含的測試資料行中，包含與接收部82已接收的封包中所含的接收資料相應的值。例如，接收側的資料處理部32自接收側的封包資料行記憶部26讀出資料，以生成將期待自被測試元件500接收的封包的資料行中被預先指定的部分作為與接收資料相應的值(例如接收資料本身的值或實施某些處理後所得的值)的測試資料行。

例如，接收側的資料處理部32可使與應自被測試元件500接收的第2封包相應的測試資料行中，包含與接收部82已接收的第1封包中所含的接收資料相應的值。藉此，根據接收側的資料處理部32，例如可參照自被測試元件500接收的封包中所含的識別符(IDentifier，ID)等，來判定以後的封包中應含的ID是否正確。

如上所述，根據本實施形態的測試部400，可在相對較靠近被測試元件500的位置進行使與所接收的封包中所含的接收資料相應的值包含於以後的封包內的處理。藉此，根據測試部400，可高速地對與被測試元件500的交換作出響應。

而且，較好的是，測試部400具備藉由動作頻率相對較高的運算處理單元(unit)等而實現的資料處理部32。藉此，測試部400可高速地進行根據所接收的封包中所含的資料而生成包含於以後的封包中的資料的處理。

圖11表示本實施形態的下位定序器28以及封包資料行記憶部26的構成的一例。作為一例，封包資料行記憶部26可包含共用資料記憶部40、共用資料指示器(pointer)42、第1各別資料記憶部44-1、第2各別資料記憶部44-2、第1各別資料指示器46-1以及第2各別資料指示器46-2。

共用資料記憶部40記憶多種封包的各個中所含的資料行中的、每個封包的種類所共用的共用資料。作為一例，共用資料記憶部40針對每個封包的種類而記憶著表示封包的開始的開始碼、表示封包的結束的結束碼以及用於識別該封包的種別的指令碼等。

共用資料指示器42自封包列表處理部22獲取存儲有由封包列表處理部22所指定的封包中所含的共用資料的區塊的先頭位址。進而，共用資料指示器42自下位定序器28獲取該區塊內的偏移(offset)位置。繼而，共用資料指示器42將根據先頭位址以及偏移位置而確定的位址(例如將先頭位址加上偏移位置所得的位址)給予至共用資料記憶部40，並使存儲於該位址上的共用資料供給至資料處理部32。

第1各別資料記憶部44-1以及第2各別資料記憶部44-2記憶著多種封包的各個中所含的資料行中的、針對每個封包而變更的各別資料。作為一例，第1各別資料記憶部44-1以及第2各別資料記憶部44-2可記憶各封包中所含的、對被測試元件500發送的實體資料或者自被測試元件500接收的實體資料。

第1各別資料記憶部44-1不論所執行的封包列表如何，均記憶預定的各別資料。第2各別資料記憶部44-2記憶著針對所執行的每個封包列表而變更的各別資料。作為-例，第2各別資料記憶部44-2在測試之前或在測試中適當地自執行處理部420內的流程控制部426接受各別資料的傳輸。

進而，第2各別資料記憶部44-2自接收側區塊14所具有的接收側的資料轉換部34接收由接收部82所接收的接收資料，並將所接收的接收資料作為各別資料而予以記憶。藉此，資料處理部32可自第2各別資料記憶部44-2讀出該接收資料，並使該接收資料包含於測試資料行中。

第1各別資料指示器46-1以及第2各別資料指示器46-2自封包列表處理部22接收存儲有由封包列表處理部22所指定的封包中所含的各別資料的區塊的先頭位址。進而，第1各別資料指示器46-1以及第2各別資料指示器46-2自下位定序器28獲取該區塊內的偏移位置。繼而，第1各別資料指示器46-1以及第2各別資料指示器46-2將根據先頭位址以及偏移位置而確定的位址(例如將先頭位址加上偏移位置所得的位址)給予至第1各別資料記憶部44-1以及第2各別資料記憶部44-2，並使存儲於該位址上的各別資料供給至資料處理部32。

作為一例，下位定序器28將偏移位置供給至共用資料指示器42、各別資料指示器46-1以及各別資料指示器46-2，該偏移位置表示在存儲有由封包列表處理部22所指定的封包中所含的資料行的區塊中的、與所執行的命令對應的資料的位置。此時，下位定序器28亦可在最初的命令中產生初始值，並產生每當執行的命令轉變時增量(increment)後的計數(count)值，以作為偏移(offset)位置。藉此，下位定序器28可依照命令行的執行而依序自封包資料行記憶部26輸出由封包列表處理部22所指定的封包的資料行，亦即輸出由封包列表處理部22指定了位址的資料行，以生成在與被測試元件500之間的測試中所用的測試資料行。

而且，下位定序器28每當命令的執行時，對資料處理部32指定是否自共用資料記憶部40、第1各別資料記憶部44-1、第2各別資料記憶部44-2或資料處理部32內存儲有實施了指定處理的資料的暫存器(register)的任一個讀出資料並輸出資料。

藉此，下位定序器28可根據自各別資料記憶部44讀出的各別資料，而生成由封包列表處理部22所指定的封包中的、應針對每個封包而變更的資料部分。進而，下位定序器28可根據自共用資料記憶部40讀出的共用資料而生成由封包列表處理部22所指定的封包中的、每個封包的種類所共用的資料部分。而且，進而，下位定序器28可對由封包列表處理部22所指定的封包中被指定的資料部分實施指定的處理。

圖12表示本實施形態的發送側區塊12內的資料處理部32的構成的一例。作為一例，發送側區塊12內的資料處理部32包含至少1個暫存器52、前段選擇部54、至少1個運算器56以及後段選擇部60。

至少1個暫存器52的各個記憶前週期(cycle)的運算處理結果。在本例中，資料處理部32包含第1暫存器52-1以及第2暫存器52-2。

前段選擇部54在每個週期選擇來自共用資料記憶部40的共用資料、來自各個各別資料記憶部44(本例中為第1各別資料記憶部44-1以及第2各別資料記憶部44-2)的各別資料、以及各個暫存器52(本例中為第1暫存器52-1以及第2暫存器52-2)的資料中由下位定序器28所指定的資料。並且，前段選擇部54在每個週期中將所選擇的各個資料供給至由下位定序器28所指定的運算器56或後段選擇部60。

至少1個運算器56的各個是對應於至少1個暫存器52的各個而設置。於本例中，資料處理部32包含與第1暫存器52-1對應的第1運算器56-1以及與第2暫存器52對應的第2運算器56-2。作為一例，各個運算器56進行邏輯運算、四則運算、擬隨機數產生以及錯誤訂正符號生成等的運算。各個運算器56在每個週期，對由前段選擇部54所選擇的資料，進行由下位定序器28所指定的運算並存儲至對應的暫存器52。

後段選擇部60在每個週期，選擇前段選擇部54所選擇的資料(本例中為來自共用資料記憶部40、第1各別資料記憶部44-1或第2各別資料記憶部44-2的資料)以及至少1個暫存器52內的資料中由下位定序器28所指定的資料。並且，後段選擇部60將所選擇的資料作為測試資料行的各資料而輸出。

圖13表示本實施形態的發送側區塊12內的發送部36的構成的一例。作為一例，發送部36包含串聯器(serializer)72、格式控制器(format controller)74以及驅動器(driver)76。

串聯器72將自資料處理部32接收的測試資料行轉換為串列的波形圖案(pattern)。格式控制器74生成具有與自串聯器72接收的波形圖案相應的波形的信號。進而，格式控制器74在由下位定序器28所指定的邊緣時序中，輸出邏輯可變化的波形的信號。驅動器76將自格式控制器74輸出的信號供給至被測試元件500。

圖14表示本實施形態的接收側區塊14內的接收部82的構成的一例。作為一例，接收部82包含位準比較器(level comparator)86、時序比較器(timing comparator)88、解串器(deserializer)90、相位調整部92以及尋線(hunt)部94。

位準比較器86將自被測試元件500輸出的信號與臨限值進行比較，並輸出邏輯信號。時序比較器88以由下位定序器28所指定的選通時序，依序導入由位準比較器86所輸出的邏輯信號的資料。

解串器90將由時序比較器88所導入的資料行轉換為並行(parallel)的資料行。相位調整部92檢測封包的先頭的指定碼，並調整該解串器90對並行的資料行的切出相位。尋線部94將由時序比較器88所導入的資料行與封包的先頭的指定碼進行比較，以位元(bit)為單位來調整封包的先頭位置。

如此之接收部82可接收自被測試元件500以非確定的時序而輸出的封包。藉此，根據接收側區塊14，可對自被測試元件500以非確定的時序而輸出的封包中所含的資料行、與期待自被測試元件500輸出的測試資料行進行比較。

圖15表示本實施形態的封包列表的一例。於封包列表中，描述依序執行的多個命令。作為一例，於封包列表中，描述NOP命令、IDXI命令以及EXIT命令等。NOP命令使執行轉變為下一個命令。IDXI命令反覆執行所指定的次數後，使執行轉變為下一個命令。EXIT命令使該封包序列的執行結束。

而且，於封包列表中，對應於各命令而描述封包函數。作為一例，於封包列表中，描述了產生寫封包、讀封包以及用於產生規定的碼的空閒封包等的封包函數。

進而，於封包列表中，對應於各封包函數而描述用於產生由該封包函數所指定的封包的命令行的先頭位址、由該封包函數所指定的封包中所含的共用資料以及各別資料的先頭位址。封包列表處理部22藉由執行如此之封包列表，從而每當依序執行各命令時，可叫出與所執行的命令對應的封包函數。

圖16表示本實施形態的封包通信部434中可編譯並加載的封包函數的一例。在加載至封包通信部434的封包函數中，描述了依序執行的多個命令。

作為一例，於封包函數中，描述NOP命令、IDXI命令以及RTN命令等。NOP命令將存儲於由指示器所指定的位址上的資料輸出1次，以使執行轉變至下一個命令。

IDXI命令反覆以指定的次數輸出存儲於由指示器所指定的位址上的資料，以使執行轉變至下一個命令。RTN命令將存儲於由指示器所指定的位址上的資料輸出1次，以使執行返回封包列表。

而且，於封包函數中，對應於各命令而描述了控制資料。作為一例，控制資料包含給予至運算器56的運算式。於圖16的例中，控制資料包含將該第1暫存器52-1的資料與輸出的資料的互斥或(Exclusive OR)回寫至第1暫存器52-1的運算式(REG1=REG1^{^} DB1或REG1=REG1^{^} DB2)。亦可取代於此，該控制資料指定資料轉換部34的轉換處理。

而且，封包函數對應於各命令，而描述指定應對應於該命令而輸出的資料的存儲場所的資訊。作為一例，封包函數指定共用資料記憶部40、各別資料記憶部44以及暫存器52的任一者，以作為存儲場所。

於圖16的例中，0x0F或0x01之類的十六進制數值表示作為資料的存儲場所的共用資料記憶部40的位址。而且，DB1表示作為資料的存儲場所的第1各別資料記憶部44-1。DB2表示作為資料的存儲場所的第2各別資料記憶部44-2。REG1表示作為資料的存儲場所的第1暫存器52-1。下位定序器28藉由執行此種封包函數中所示的命令行，從而可輸出由各封包函數所指定的資料行。

圖17表示本實施形態的測試部400的處理流程。首先，封包列表處理部22執行封包列表，以依序指定在與被測試元件500之間進行通信的各封包(S11、S16)。繼而，下位定序器28當接收到封包列表處理部22對封包的指定時，反覆執行步驟S12至步驟S15的處理。

下位定序器28當接收到封包的指定時，自封包命令行記憶部24叫出用於產生該封包的命令行，自先頭的命令開始依序執行。下位定序器28每當各命令的執行時，進行步驟S13以及步驟S14的處理(S12、S15)。

於步驟S13中，下位定序器28輸出與該命令對應的資料。而且，於步驟S14中，下位定序器28執行與該命令對應的運算或資料轉換。下位定序器28並行地執行步驟S13以及步驟S14。

下位定序器28當執行最後的命令時，使處理返回封包列表處理部22，自封包列表處理部22接收下一個封包的指定(S15)。繼而，封包列表處理部22當直至封包序列中的最後的封包為止的處理完成時，結束該流程(S16)。

根據如上所述的本實施形態的測試部400，由各別定序器來執行表示封包序列的封包列表與封包內的命令行。藉此，根據測試部400，可使程式的描述變得簡單。進而，根據測試部400，可將用於產生共用種類的封包的命令行以及資料得以共用化，因此可減少所存儲的資訊量。

進而，本實施形態的測試部400自封包列表處理部22各別地指定下位定序器28所執行的命令行的位址以及下位定序器28所讀出的資料行的位址。藉此，根據測試部400，可藉由相同的命令行而產生不同的資料行。因此，根據測試部400，可不存儲多個相同的命令行，因此可減少所存儲的資訊量。

進而，本實施形態的測試部400使資料處理部32執行對自共用資料記憶部40以及各別資料記憶部44讀出的資料所指定的處理(亦即，運算或轉換)。亦即，資料處理部32可生成應根據封包通信中的下位層(靠近物理層的層)的規定而處理的資料轉換以及錯誤檢測符號。

藉此，測試部400只要生成用於輸出封包通信中的上位層的資料的命令行以及資料行，並各別地指定封包通信中的下位層的處理即可。因此，根據測試部400，可使程式的描述變得簡單，進而，可減少所存儲的資訊量。

進而，本實施形態的測試部400將生成用於對被測試元件500發送信號的測試資料行的發送側區塊12、與生成用於與自被測試元件500所接收的信號進行比較的測試資料行的接收側區塊14予以分離，且各自具有封包列表處理部22以及下位定序器28。根據測試部400，可獨立地描述發送側以及接收側的程式，因此可使程式變得簡單。

並且，測試部400可在發送側的下位定序器28與接收側的下位定序器28之間進行通信。藉此，根據測試部400，例如容易將發送側產生的事件(event)作為觸發器(trigger)而開始接收側的動作，或者將接收側產生的事件作為觸發器而開始發送側的動作。

再者，測試部400亦可為具備多個發送側區塊12以及接收側區塊14的組的構成。此時，執行處理部420對發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個給予各別序列(各別封包列表)，從而彼此獨立地執行各別序列。藉此，測試部400可使發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個彼此非同步地動作。

而且，執行處理部420亦可使發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個彼此同步地動作。此時，執行處理部420對發送側區塊12以及接收側區塊14的組的各個給予相同的序列(相同的封包列表)，從而彼此同步地開始執行該序列。藉此，測試部400可並行地對具備相同種類或不同種類的封包通信型介面(interface)的多個被測試元件500進行測試。

圖18表示本實施形態的變形例的測試部400的構成的一例。本變形例採用與參照圖1至圖17而說明的測試部400大致相同的構成以及功能，因此，以下對大致相同的構成以及功能的構件標注相同的符號，以下除了不同點以外省略說明。

本變形例的封包通信部434具備多個發送側區塊12以及多個接收側區塊14。一個發送側區塊12是與若干個接收側區塊14相對應。對應的發送側區塊12以及接收側區塊14設於同一封包通信部434內。

並且，多個接收側區塊14的各個將接收部82所接收的封包中所含的接收資料存儲至多個發送側區塊中與該接收側區塊14相對應的發送側區塊內的封包資料行記憶部26。如此之變形例的測試部400在並行地測試多個被測試元件500時，可針對每個被測試元件500而生成與接收資料相應的測試資料行。

而且，於本變形例的測試部400中，多個接收側區塊14的各個亦可將接收資料以及與接收資料相應的值的至少一者傳輸至運算處理部410。此時，運算處理部410對應於測試程式中的代入式而將自多個接收側區塊14中的一個接收側區塊14傳輸的值作為變數值而予以記憶。

並且，當由測試程式指定在多個發送側區塊中的一個發送側區塊中使變數值包含在測試資料行中時，運算處理部410將變數值傳輸至該一個發送側區塊內的發送側的資料處理部32。如此之本變形例的測試部400可使與自一個被測試元件500接收的封包中所含的接收資料相應的值，包含於發送至其他被測試元件500的封包中。

以上，使用實施形態說明了本發明，但本發明的技術範圍並不限定於上述實施形態中記載的範圍。本領域技術人員當明白的是，於上述實施形態中可添加多種變更或改良。由申請專利範圍的記載可明白，此種添加有變更或改良的形態亦可包含於本發明的技術範圍內。

應留意的是，申請專利範圍、說明書以及圖式中所示的裝置、系統、程式以及方法中的動作、過程、步驟以及階段等的各處理的執行順序只要未特別明示「之前」、「以前」等，而且只要未將前處理的輸出用於後處理中，則能夠以任意順序來實現。關於申請專利範圍、說明書以及圖式中的動作流程，即使為便於說明而使用「首先，」、「其次，」等，亦並非意味著必須以該順序來實施。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

12．．．發送側區塊

14．．．接收側區塊

22．．．封包列表處理部

24．．．封包命令行記憶部

26．．．封包資料行記憶部

28．．．下位定序器

32．．．資料處理部

34．．．資料轉換部

36．．．發送部

40．．．共用資料記憶部

42．．．共用資料指示器

44．．．各別資料記憶部

44-1．．．第1各別資料記憶部

44-2．．．第2各別資料記憶部

46．．．各別資料指示器

46-1．．．第1各別資料指示器

46-2．．．第2各別資料指示器

52．．．暫存器

52-1．．．第1暫存器

52-2．．．第2暫存器

54．．．前段選擇部

56．．．運算器

56-1．．．第1運算器

56-2．．．第2運算器

60．．．後段選擇部

72．．．串聯器

74．．．格式控制器

76．．．驅動器

82．．．接收部

84．．．判定部

86．．．位準比較器

88．．．時序比較器

90．．．解串器

92．．．相位調整部

94．．．尋線部

100．．．測試裝置

200．．．模擬器

300．．．轉換部

310．．．封包定義資料記憶部

320．．．獲取部

330．．．封包通信程式生成部

340．．．波形轉儲記憶部

400．．．測試部

410．．．運算處理部

412．．．變數記憶部

414．．．運算部

420．．．執行處理部

426．．．流程控制部

430．．．通信處理部

432．．．封包列表記憶部

434．．．封包通信部

440．．．測試程式記憶部

442．．．通信區塊提取部

444．．．封包列表生成部

446．．．控制區塊提取部

448．．．控制程式生成部

450．．．程式供給部

452．．．運算區塊提取部

454．．．運算程式生成部

500．．．被測試元件

600．．．模擬環境

610．．．元件模擬模型

620．．．交易激源

630．．．配接器

圖1是與被測試元件500一同表示本實施形態的測試裝置100的構成。

圖2表示本實施形態的測試用的封包通信程式的層級構成。

圖3表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第1例。

圖4表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第2例。

圖5表示本實施形態的模擬器200以及轉換部300的構成的第3例。

圖6表示本實施形態的測試部400的構成的一例。

圖7表示本實施形態的運算處理部410的構成的一例、以及多個執行處理部420及多個通信處理部430中的代表的一個執行處理部420以及通信處理部430的構成。

圖8表示本實施形態的程式供給部450的構成。

圖9表示本實施形態的封包通信部434的構成。

圖10表示本實施形態的發送側區塊12以及接收側區塊14的構成。

圖11表示本實施形態的下位定序器(sequencer)28以及封包資料行記憶部26的構成的一例。

圖12表示本實施形態的發送側區塊12內的資料處理部32的構成的一例。

圖13表示本實施形態的發送側區塊12內的發送部36的構成的一例。

圖14表示本實施形態的接收側區塊14內的接收部82的構成的一例。

圖15表示本實施形態的封包列表的一例。

圖16表示本實施形態的封包函數的一例。

圖17表示本實施形態的測試部400的處理流程。

圖18表示本實施形態的變形例的測試部400的構成的一例。

100．．．測試裝置

200．．．模擬器

300．．．轉換部

400．．．測試部

500．．．被測試元件

600．．．模擬環境

610．．．元件模擬模型

Claims (6)

1. 一種測試裝置，其對被測試元件進行測試，此測試裝置包括：接收部，自上述被測試元件接收封包；發送資料處理部，使與上述接收部所接收的封包中所含的接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者包含在與對上述被測試元件發送的封包相應的測試資料行中；發送部，對上述被測試元件發送上述發送資料處理部所生成的上述測試資料行；封包資料行記憶部，記憶多種封包的各個中所含的資料行、以及上述接收部所接收的封包中所含的上述接收資料；接收資料處理部，使與上述接收部已接收的第1封包中所含的上述接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者包含在與應自上述被測試元件接收的第2封包相應的測試資料行中；以及判定部，根據將上述接收部所接收的上述第2封包的資料行與上述接收資料處理部所生成的上述測試資料行進行比較的結果，來判定與上述被測試元件之間的通信的良否；上述發送資料處理部自上述封包資料行記憶部讀出資料，以生成將對上述被測試元件發送的封包的資料行中被預先指定的部分作為與上述接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者的上述測試資料行。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括：多個發送側區塊，分別具有上述發送資料處理部、上述發送部以及上述封包資料行記憶部；以及多個接收側區塊，分別具有上述接收部、上述接收資料處理部以及上述判定部，上述多個接收側區塊的各個將上述接收部所接收的上述封包中所含的上述接收資料，存儲至上述多個發送側區塊中相對應的發送側區塊內的上述封包資料行記憶部。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，更包括：運算處理部，對用於測試上述被測試元件的測試程式中的運算式進行處理，上述多個接收側區塊的各個將與上述接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者傳輸至上述運算處理部，上述運算處理部對應於上述測試程式中的代入式而將自上述多個接收側區塊中的一個接收側區塊所傳輸的值作為變數值來予以記憶著，當由上述測試程式來指定上述多個發送側區塊中的一個發送側區塊中使上述變數值包含在上述測試資料行中時，上述運算處理部將上述變數值傳輸至該一個發送側區塊內的上述發送資料處理部。
4. 一種測試方法，其對被測試元件進行測試，該方法包括：接收步驟，自上述被測試元件接收封包；發送資料處理步驟，生成測試資料行，該測試資料行 包含與所接收的封包中所含的接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者，且與對上述被測試元件發送的封包相應；發送步驟，對上述被測試元件發送所生成的上述測試資料行；封包資料行記憶步驟，記憶多種封包的各個中所含的資料行、以及所接收的封包中所含的上述接收資料；接收資料處理步驟，使與已接收的第1封包中所含的上述接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者包含在與應自上述被測試元件接收的第2封包相應的測試資料行中；以及判定步驟，根據所接收的上述第2封包的資料行與所生成的上述測試資料行進行比較的結果，來判定與上述被測試元件之間的通信的良否；於上述發送資料處理步驟中，讀出上述封包資料行記憶步驟中所記憶的資料，以生成將對上述被測試元件發送的封包的資料行中被預先指定的部分作為與上述接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者的上述測試資料行。
5. 如申請專利範圍第4項所述之測試方法，更包括：藉由多個發送側區塊，分別實現上述發送資料處理步驟、上述發送步驟以及上述封包資料行記憶步驟；以及藉由多個接收側區塊，分別實現上述接收步驟、上述接收資料處理步驟以及上述判定步驟； 上述多個接收側區塊的各個將上述接收步驟中所接收的上述封包中所含的上述接收資料，於上述多個發送側區塊中相對應的發送側區塊內所實現的上述封包資料行記憶步驟中，進行存儲。
6. 如申請專利範圍第5項所述之測試方法，更包括：運算處理步驟，對用於測試上述被測試元件的測試程式中的運算式進行處理；上述多個接收側區塊的各個將與上述接收資料以及上述接收資料相應的值的至少一者，在上述運算處理步驟中進行傳輸；上述運算處理步驟，包括：對應於上述測試程式中的代入式而將自上述多個接收側區塊中的一個接收側區塊所傳輸的值作為變數值來予以記憶著；以及當由上述測試程式來指定上述多個發送側區塊中的一個發送側區塊中使上述變數值包含在上述測試資料行中時，在該一個發送側區塊內所實現的上述發送資料處理步驟中，傳輸上述變數值。