JP4885316B2 - 試験装置および試験方法 - Google Patents
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Description
Claims (13)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスとの間で信号を伝送する複数の試験モジュールと、
試験モジュールが格納したデータを、2以上の前記試験モジュールについて一括して読み出し、他の命令から区別するタグ情報を含むグループリード命令を出力する試験制御部と、
前記グループリード命令に応じて、前記2以上の試験モジュールからデータを読み出して、一括して前記試験制御部に通知する制御インターフェイス部と
を備え、
前記複数の試験モジュールのそれぞれは、前記グループリード命令に応じて読み出したデータに、前記タグ情報を付して前記制御インターフェイスに出力し、
前記制御インターフェイスは、前記タグ情報毎に異なるアドレスに、前記複数の試験モジュールから読み出したデータの演算結果を記憶するデータ記憶部を有する
試験装置。 - 前記試験制御部は、前記グループリード命令により読み出されるべきデータの個数の期待値を前記制御インターフェイス部に設定し、
前記制御インターフェイス部は、前記グループリード命令に応じて前記試験モジュールから受け取ったデータの個数が前記期待値と一致した場合に、前記試験モジュールから受け取ったデータを一括して前記試験制御部に通知する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記制御インターフェイス部は、前記グループリード命令を前記複数の試験モジュールに一括して送信し、
それぞれの前記試験モジュールは、前記グループリード命令により指定されている場合に、格納しているデータを前記制御インターフェイス部に送信する
請求項2に記載の試験装置。 - 前記制御インターフェイス部は、それぞれの前記試験モジュールから受け取ったデータの論理和または論理積を前記試験制御部に通知する
請求項2または3に記載の試験装置。 - 前記制御インターフェイス部は、
それぞれの前記試験モジュールからデータを受け取る毎に、既に受け取っているデータとの論理和または論理積を演算する論理演算部と、
前記論理演算部が演算した演算結果を記憶するデータ記憶部と、
それぞれの前記試験モジュールから受けとったデータの個数が前記期待値と一致したときに、前記データ記憶部が記憶しているデータ値を、前記試験制御部に通知させるカウンタと
を有する請求項2から4のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記データ記憶部は、前記タグ情報毎に異なるアドレスに前記演算結果を記憶し、
前記論理演算部は、それぞれの前記試験モジュールから受け取ったデータと、当該データに付された前記タグ情報に対応する前記データ記憶部のアドレスに記憶された前記演算結果との論理和または論理積を演算し、新たな演算結果を前記データ記憶部の当該アドレスに記憶する
請求項5に記載の試験装置。 - 前記試験制御部は、前記論理演算部に論理和または論理積のいずれを演算させるかを指定する命令コードを更に含む前記グループリード命令を出力し、
それぞれの前記試験モジュールは、前記グループリード命令に応じて読み出したデータに、前記命令コードを付して前記制御インターフェイスに出力し、
前記論理演算部は、それぞれの前記試験モジュールから受け取ったデータに付された前記命令コードに応じて、当該データと前記データ記憶部が記憶した前記演算結果との論理和または論理積のいずれかを演算する
請求項5または6に記載の試験装置。 - それぞれの前記試験モジュールは、受け取った前記グループリード命令により指定されていない場合において、当該グループリード命令の前記命令コードが論理和演算を指定している場合には、論理値1を読み出しデータとして出力し、当該グループリード命令の前記命令コードが論理積演算を指定している場合には、論理値0を読み出しデータとして出力する
請求項7に記載の試験装置。 - 前記試験装置は、第1の前記被試験デバイスおよび第2の前記被試験デバイスを並行して試験し、
少なくとも1つの前記試験モジュールは、
前記第1の被試験デバイスとの間で信号を伝送する1以上の第1の試験部と、
前記第2の被試験デバイスとの間で信号を伝送する1以上の第2の試験部と
を有し、
前記試験制御部は、前記第1の被試験デバイスまたは前記第2の被試験デバイスのいずれかを指定した前記グループリード命令を出力し、
それぞれの前記試験モジュールは、前記グループリード命令で指定される前記被試験デバイスに対応する1以上の試験部が格納したデータを一括して前記制御インターフェイス部に送信する
請求項1から8のいずれか一項に記載の試験装置。 - それぞれの前記試験モジュールは、前記グループリード命令で指定される前記被試験デバイスに対応する1以上の前記試験部が格納したデータの論理和または論理積を、前記制御インターフェイス部に送信する
請求項9に記載の試験装置。 - 前記試験制御部は、いずれかの前記試験モジュールを指定してデータを読み出す個別リード命令を、2以上の前記試験モジュールに対して連続して出力し、
前記制御インターフェイス部は、それぞれの前記個別リード命令に応じて、前記2以上の試験モジュールからデータを読み出し、一括して前記試験制御部に通知する
請求項1から10のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記試験制御部は、連続して出力される前記個別リード命令により読み出されるべきデータの個数の期待値を前記制御インターフェイス部に設定し、
前記制御インターフェイス部は、前記個別リード命令に応じて前記試験モジュールから受け取ったデータの個数が前記期待値と一致した場合に、前記試験モジュールから受け取ったデータを一括して前記試験制御部に通知する
請求項11に記載の試験装置。 - 被試験デバイスとの間で信号を伝送する複数の試験モジュールを用いて前記被試験デバイスを試験する試験方法であって、
試験モジュールが格納したデータを、2以上の前記試験モジュールについて一括して読み出し、他の命令から区別するタグ情報を含むグループリード命令を、試験制御部に出力させる命令出力段階と、
前記グループリード命令に応じて、前記2以上の試験モジュールから、前記複数の試験モジュールのそれぞれによって、前記グループリード命令に応じて読み出されたデータに、前記タグ情報が付されたデータを読み出して、前記タグ情報毎に異なるアドレスに、前記複数の試験モジュールから読み出したデータの演算結果を記憶し、一括して前記試験制御部に通知する読出段階と
を備える試験方法。
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