JP2001024650A

JP2001024650A - Ａｔｍ交換機及びそれにおける回線装置の試験方法

Info

Publication number: JP2001024650A
Application number: JP11189691A
Authority: JP
Inventors: Kenichi Akita; 賢一秋田
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1999-07-02
Filing date: 1999-07-02
Publication date: 2001-01-26

Abstract

(57)【要約】【課題】試験時間を短縮できるＡＴＭ交換機の回線装置
の試験方法を提供する。【解決手段】ＡＴＭ交換機におけるポイント・ツー・マ
ルチポイント通信を利用して、試験セル発生装置の一回
のセル送出によって、複数の回線装置に同時に試験セル
を送出し、回線装置の品質監視回路が試験セルの品質監
視を行うことによって、回線装置の障害検出が行われ
る。従って、一回のセル送出で、ＡＴＭ交換機内に収容
される全ての回線装置に対する試験を実施することがで
きるので、試験時間を短縮することができる。また、複
数の回線装置のうち、障害を有する回線装置を特定する
ことも可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＡＴＭ(Asynchron
ous Transfer Mode)交換機などにおける回線装置の障害
を検出するための回線装置の試験方法及びそれを実行す
るＡＴＭ交換機に関する。

【０００２】

【従来の技術】大容量交換が可能であるＡＴＭ交換機
は、最近、ネットワークの基幹システムとして使用され
ている。そして、従来から、そのＡＴＭ交換機の信頼性
を維持するために、例えば、ＡＴＭ交換機内に設けら
れ、且つＡＴＭセルが伝送する回線を終端する回線装置
を定期的に試験し、障害を事前に検出する手段が講じら
れている。

【０００３】図１１は、従来の回線装置の試験方法の第
一の例を説明するための図である。図１１では、例え
ば、ＡＴＭ交換機内に設けられる３つの回線装置(LC1、
LC2、LC3)を試験する場合について説明する。まず、Ａ
ＴＭ交換機内に設けられる試験セル発生装置(BTSU)から
回線装置(LC1)へのパス（ＶＰＩ／ＶＣＩ）を設定し、
試験セル発生装置３５から回線装置３４ａに、試験用Ａ
ＴＭセル（試験セル）を送出する（矢印（１））。回線
装置(LC1)に流入した試験セルは、回線インターフェー
ス変換部を経由して、ループ回路によって折り返され、
再度、試験セル発生装置に回収される（矢印
（１’））。そして、試験セル発生装置が、回収した試
験セルの誤り検査を行い、回線装置(LC1)の障害の有無
を判定する。

【０００４】続いて、試験セル発生装置は、回線装置(L
C2)に対して、上述と同様の試験方法を実施し（矢印
（２）及び（２’）参照）、さらに続いて、回線装置(L
C3)に対して、上記試験方法（矢印（３）及び（３’）
参照）を実施する。

【０００５】図１２は、従来の試験方法の第二の例を説
明するための図である。図１２では、試験セル発生装置
から各回線装置を通過して試験セル発生装置にもどるよ
うなパスが設定される。従って、試験セル発生装置から
送出される試験セルは、まず、回線装置(LC1)に入力
し、回線装置(LC1)のループ回路によって折り返され、
次に回線装置(LC2)に入力する。そして、試験セルは、
回線装置(LC2)のループ回路によって折り返され、次に
回線装置(LC3)に入力する。さらに、試験セルは、回線
装置(LC3)のループ回路によって折り返され、試験セル
発生装置に回収される。そして、試験セル発生装置は、
回収された試験セルに対して誤り検査を実施する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の試験方法の第一の例では、回線装置毎に試験を実施
するため、回線装置の数に比例して試験時間が増加する
という問題がある。

【０００７】また、上記第二の例では、一回の試験で、
ＡＴＭセルはすべての回線装置を通過可能であるが、障
害のある回線装置が途中に含まれている場合に、その障
害を有する回線装置の識別が、試験セル発生装置が回収
したＡＴＭセルからでは特定できない。従って、結局、
上記第一の例にて、再度、試験を実施する必要が生じ、
試験時間の短縮の根本解決にはならない。

【０００８】従って、本発明の目的は、試験時間を短縮
できるＡＴＭ交換機などの回線装置の試験方法及びそれ
を実施するＡＴＭ交換機を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、ＡＴＭ交換機におけるポイント・ツー
・マルチポイント通信を利用して、試験セル発生装置の
一回のセル送出によって、複数の回線装置に同時に試験
セルを送出し、回線装置の品質監視回路が試験セルの品
質監視を行うことによって、回線装置の障害検出が行わ
れる。

【００１０】即ち、上記目的を達成するための本発明の
ＡＴＭ交換機は、複数の回線装置を備えるＡＴＭ交換機
において、回線装置の障害の有無を判定する試験のため
の試験セルを生成する試験セル発生装置と、試験セル発
生装置から送出される試験セルをポイント・ツー・マル
チポイント通信によって各回線装置に送出するスイッチ
ング装置と、スイッチング装置から各回線装置に入力し
た試験セルを各回線装置内のループ回路によって折り返
して各回線装置内の品質監視回路に入力させ、品質監視
回路による試験セルの誤り検査に基づいて、各回線装置
の障害の有無を判定する試験制御部とを備えることを特
徴とする。

【００１１】また、上記目的を達成するための本発明の
試験方法は、試験セル発生装置を有するＡＴＭ交換機に
収容される複数の回線装置の試験方法において、試験セ
ル発生装置から送出される試験セルをポイント・ツー・
マルチポイント通信によって、各回線装置に送信するス
テップと、試験セルが各回線装置内の品質監視回路に入
力するように、各回線装置内のループ回路によって前記
試験セルを折り返すステップと、品質監視回路による試
験セルの誤り検査に基づいて、各回線装置の障害の有無
を検出するステップとを備えることを特徴とする。

【００１２】従って、一回のセル送出で、ＡＴＭ交換機
内に収容される全ての回線装置に対する試験を実施する
ことができるので、試験時間を短縮することができる。
また、複数の回線装置のうち、障害を有する回線装置を
特定することも可能となる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。しかしながら、本発明の技術的範囲が、本
実施の形態に限定されるものではない。

【００１４】図１は、本発明の実施の形態における試験
方法を実施するＡＴＭ交換機の構成例である。図１にお
いて、ＡＴＭ交換機は、中央処理装置３１、呼制御装置
３２、スイッチング装置（ＳＷ）３３、回線装置３４及
び試験セル発生装置（ＢＴＳＵ）３５を備える。中央処
理装置３１は、例えば、本発明の試験方法を実行するプ
ログラムを実行するＣＰＵを有する。呼制御部３１１
は、プログラムに従って、呼制御装置３２の制御下にあ
るスイッチング装置３３や複数の回線装置３４を制御す
る。また、試験制御部３１２は、試験セル発生装置３５
に定期的に試験指示を行う。試験セル発生装置３５は、
試験用ＡＴＭセル（以下、試験セルという）をスイッチ
ング装置３３を介して試験セルを各回線装置３４に送信
する。

【００１５】そして、本発明の実施の形態では、ポイン
ト・ツー・マルチポイント通信を利用して、試験セル発
生装置３５から各回線装置３４に同時に試験セルを送信
し、回線装置３４内に設けられる品質監視回路（後述）
により試験セルの品質を監視することにより、各回線装
置３４の試験を実施する。ポイント・ツー・マルチポイ
ント(Point-to-Multi Point)通信は、一つのパス（ＶＰ
Ｉ／ＶＣＩ）から入力されたＡＴＭセルを、複数のパス
に同時に出力する通信サービスである。

【００１６】ポイント・ツー・マルチポイント通信を実
施するために、スイッチング装置３３に設けられたセル
コピー回路３３１が、試験セル発生装置３５から送出さ
れた試験セルを回線装置３４の数分だけコピーして、各
回線装置３４に送信する。なお、セルコピー回路３３１
は、装置制御部３３２によって制御され、装置制御部３
３２は、中央処理装置３１の呼制御部３１１によって制
御される。

【００１７】図２は、ポイント・ツー・マルチポイント
通信におけるセルコピー回路３３１の機能を説明するた
めの図である。図２において、一般的に、光ファイバな
どの光回線である加入者／局回線から送信側の回線装置
３４に入力したＡＴＭセルは、光変換モジュール３４５
によって電気信号に変換される。そして、ＡＴＭセルは
図示されない品質監視回路を通過して、回線インターフ
ェース変換部３４１によって所定の方路情報が付加され
てから、スイッチング装置３３内の書き込みメモリに書
き込まれる。セルコピー回路３３１は、あらかじめパス
設定時に生成された方路インデックステーブルを参照し
て、通信相手となる複数の相手回線のＶＰＩ／ＶＣＩを
収容する読み出しメモリそれぞれに、書き込みメモリに
書き込まれたＡＴＭセルをコピーする。なお、各相手回
線へのＶＰＩ／ＶＣＩはそれぞれ異なるので、コピーさ
れるＡＴＭセルのヘッダに設定されるＶＰＩ／ＶＣＩ
は、方路インデックステーブルを参照して、セルコピー
回路３３１によって書き換えられる。

【００１８】図３は、方路インデックステーブルの例で
ある。方路インデックステーブルは、中央処理装置３１
の呼制御部３１１の制御に基づいて、スイッチング装置
３３の装置制御部３３２によってパス設定時に生成され
る。図３において、方路インデックステーブルは、パス
設定時に呼制御部３３１から送信されるパス情報に含ま
れる方路番号の登録個数情報と、各方路番号（１…ｎ）
に対応するＶＰＩ／ＶＣＩとを有する。

【００１９】読み出しメモリにＡＴＭセルがコピーされ
ると、それに対応する各回線装置３４は、読み出しメモ
リに書き込まれたＡＴＭセルを読み出す。そして、回線
インターフェース部３４１で方路情報を除去し、さらに
光変換モジュールで光信号に変換して出力する。

【００２０】また、図１において、回線装置３４は、品
質監視回路３４３、回線インターフェース変換部３４
１、ループ回路３４２を備える。また、これらの装置
は、装置制御部３４４によって制御される。また、装置
制御部３４４は、中央処理装置３１の呼制御部３１１に
よって制御される。

【００２１】回線装置３４の回線インターフェース変換
部３４１は、加入者／局回線側から入力した５３バイト
のＡＴＭセルに対して、スイッチング装置３３でルーテ
ィングするための方路情報（１１バイト）を付与し、さ
らに、スイッチング装置３３から入力したＡＴＭセルに
対してその方路情報を除く処理を行う回路である。図４
は、方路情報が付与されたＡＴＭセルのフォーマット構
成図である。図４において、ＡＴＭセルは、ヘッダ（５
バイト）とデータ（４８バイト）を備え、ヘッダには、
ＶＰＩ（仮想パス識別子）、ＶＣＩ（仮想チャネル識別
子）、ＰＴ（ペイロードタイプ）、ＣＬＰ（セル損失優
先表示）及びＨＥＣ（ヘッダ誤り制御）などが設定され
る。ＨＥＣ（ヘッダ誤り制御）は、後述する品質監視回
路３４３が実施するＣＲＣ演算に用いられる。

【００２２】また、ＡＴＭセルに付与される方路情報に
は、１：１（ポイント・ツー・ポイント）通信／１：ｎ
（ポイント・ツー・マルチポイント）通信識別情報、相
手方路番号、スイッチング装置３３内のＱＣＰ情報など
が設定される。方路番号は、ＡＴＭセルが送出される相
手先のＶＰＩ／ＶＣＩに対応する番号である。また、Ｑ
ＣＰ情報は、ＶＰＩ／ＶＣＩに対して与えられる帯域の
情報である。回線装置３４のループ回路３４２は、ＡＴ
Ｍセルのヘッダに含まれるＶＰＩ／ＶＣＩに従って、Ａ
ＴＭセルを折り返す回路であって、後述する回線装置３
４の試験を実施するために配置される回路である。

【００２３】図５は、回線装置３４内におけるループ回
路３４２の配置を説明するための図である。図５に示さ
れるように、回線装置３４内には、例えば、光変換モジ
ュール３４５内に配置されたループ回路３４２ａ、品質
監視回路３４３と回線インターフェース変換部３４１の
間に配置されたループ回路３４２ｂ、回線インターフェ
ース変換部３４１のスイッチング装置側に配置されたル
ープ回路３４２ｃが設けられる。そして、各ループ回路
３４２は、回線装置３４内のメモリに設定されたループ
登録テーブルを参照して、入力されたＡＴＭセルのＶＰ
Ｉ／ＶＣＩの折り返し位置（ループ位置）が自己の位置
である場合、そのＡＴＭセルを折り返す。

【００２４】図６は、ループ登録テーブルの例である。
ループ登録テーブルは、中央処理装置３１の呼制御部３
１１の制御に基づいて、回線装置３４の装置制御部３４
４によってパス設定時に生成される。図６において、ル
ープ登録テーブルは、入力されるＡＴＭセルのＶＰＩ／
ＶＣＩに対応して、ループ登録の有無及びループ位置の
情報を有する。本発明の実施の形態においては、スイッ
チング装置３３から回線装置３４に流入した試験セルを
品質監視回路３４３に入力するために、ループ回路３４
２ａによって、試験セルは折り返されるようにループ登
録テーブルは設定される。即ち、回線装置３４に流入す
る試験セルのＶＰＩ／ＶＣＩに対応して設定されるルー
プ登録テーブルには、ループ登録「有」情報及びループ
位置としてループ回路３４２ａの情報が設定される。従
って、ループ回路３４２ａに試験セルが入力されると、
ループ回路３４２ａは、その試験セルのＶＰＩ／ＶＣＩ
に対応するループ登録テーブルを参照することにより、
その試験セルを折り返す。

【００２５】なお、ループ回路３４２ａ、ｂ、ｃそれぞ
れは、ループ登録テーブルを参照したときに、ループ登
録「無」情報又はループ情報として自己でないループ回
路の情報が設定されている場合は、入力されたＡＴＭセ
ルをそのまま透過する。

【００２６】回線装置３４の品質監視回路３４３は、加
入者／局回線側から入力されたＡＴＭセルの正常性の監
視及び異常セルの検出を行う回路である。本発明の実施
の形態では、この品質監視回路３４３が、試験セルの品
質を監視することによって、従来の試験セル発生装置に
代わって、回線装置３４の障害を検出する。

【００２７】図７は、品質監視回路３４３の動作フロー
チャートである。図７において、ＡＴＭセル（試験セル
を含む）が入力すると、入力したＡＴＭセルのＶＰＩ／
ＶＣＩ（以下、入力ＶＰＩ／ＶＣＩという）に対するパ
スインデックステーブルを決定し（ステップＳ１）、入
力ＶＰＩ／ＶＣＩがパス設定済みのＶＰＩ／ＶＣＩであ
るかを判定する（ステップＳ２）。

【００２８】図８は、パスインデックステーブルの例で
ある。パスインデックステーブルは、品質監視回路３４
の装置制御部３４４によって、パス設定時に生成され
る。図８において、パスインデックステーブルは、パス
設定時に呼制御部３３１から送信されるパス情報に含ま
れる方路番号、それに対応するＶＰＩ／ＶＣＩ、パス登
録有無情報、試験セル送出数及びスイッチ内ＱＣＰなど
の情報を有する。

【００２９】入力ＶＰＩ／ＶＣＩがパスインデックステ
ーブルに設定済みのＶＰＩ／ＶＣＩでない場合は、その
ＡＴＭセルを、未登録セルとみなし、品質監視回路３４
３の未登録カウンタをカウントアップしてから（ステッ
プＳ３）、廃棄する（ステップＳ４）。一方、ステップ
Ｓ２において、入力ＶＰＩ／ＶＣＩがパス設定済みのＶ
ＰＩ／ＶＣＩである場合、入力したＡＴＭセルに対し
て、ＣＲＣ（巡回冗長検査）演算を実施する（ステップ
Ｓ５）。ＣＲＣ演算は次のような順序で実施される。ま
ず、送信側（試験セル発生装置及び加入者端末など）に
おいて、（１）ＡＴＭセルのヘッダの上位４バイト（Ｘ
₃₁〜Ｘ₀）を抽出し、（２）取り出したビット列にＸ₈を
乗算し、（３）（２）の結果を生成多項式Ｘ₈＋Ｘ₂＋Ｘ
＋１で除算し、（４）（３）の余り（ａＸ₇＋ｂＸ₆＋…
＋ｈ）の各係数（ａ、ｂ、…、ｈ）をＨＥＣに設定する
（これをＣＲＣ符号という）。そして、受信側（品質監
視回路）において、（５）入力したＡＴＭセルのヘッダ
のＨＥＣに書かれたＣＲＣ符号を生成多項式Ｘ₈＋Ｘ₂＋
Ｘ＋１で除算する。

【００３０】このようなＣＲＣ演算が実施されると、ス
テップＳ６において、（５）による余りが０（ゼロ）で
あるか（即ち、ＨＥＣと一致するか）を判定する。一致
しない場合、品質監視回路３４３は、そのＡＴＭセル
を、異常セルとみなし、異常セルカウンタをカウントア
ップする（ステップＳ７）。さらに、品質監視回路３４
３は、障害検出を装置制御部３４４に通知し（ステップ
Ｓ８）、その後、そのＡＴＭセルを廃棄する（ステップ
Ｓ９）。さらに、装置制御部３４２は、呼制御装置３２
を経由して、障害検出を試験制御部３３２に通知する。
試験制御部３２は障害検出を受信すると、例えば、図示
しないモニタなどに警告表示などを行う。

【００３１】これにより、試験方法を実施しているオペ
レータは、回線装置の障害を認識することができる。さ
らに、各回線装置毎に障害検出は送信されるので、障害
を有する回線装置が特定可能である。

【００３２】一方、ステップＳ６において、一致する場
合、品質監視回路３４３は、そのＡＴＭセルを、正常セ
ルとみなし、正常セルカウンタをカウントアップしてか
ら（ステップＳ１０）、回線インターフェース変換部３
４１へ送出する（ステップＳ１１）。ただし、ポイント
・ツー・マルチポイント通信の場合、送信方向（試験セ
ル発生装置から回線装置への方向）のみの帯域しか確保
されないため、品質監視回路３４３から送信方向と反対
方向に出力したＡＴＭセルのＶＰＩ／ＶＣＩに対して
は、帯域が設定されていないので廃棄され、試験セル発
生装置３５には、回収されない。

【００３３】このように、本発明の実施の形態では、セ
ルコピー回路３３１を用いてポイント・ツー・マルチポ
イントのパス（ＶＰ／ＶＣ）を設定することによって、
試験セル発生装置３５から全ての回線装置３４に同時に
試験セルが送出される。また、スイッチング装置３３か
ら回線装置３４に入力する試験セルは、ループ回路３４
２によって折り返され、各回線装置３４に具備される品
質監視回路３４３に入力する。そして、品質監視回路３
４３による試験セルの品質監視により回線装置の障害が
検出される。

【００３４】従って、一回のセル送出で、ＡＴＭ交換機
内に収容される全ての回線装置に対する試験を実施する
ことができるので、試験時間を短縮することができる。
また、一回のセル送出で、複数の回線装置のうち、障害
を有する回線装置３４を特定することも可能となる。

【００３５】図９及び図１０は、上述の構成のＡＴＭ交
換機における本発明の実施の形態における回線装置の試
験方法の処理シーケンス図である。図１を参照しなが
ら、図９及び図１０について説明する。図９において、
試験制御部３１２は定期的に起動され、試験が開始され
る。試験開始時、試験制御部３１２は呼制御部３１１に
対して試験セル発生装置３５から各回線装置３４までの
ポイント・ツー・マルチポイント通信によるパスの設定
要求を行う。呼制御部３１１は、パス設定要求を受信す
ると、呼制御装置３２にパス設定指示を行う。そうする
と、呼制御装置３２はスイッチング装置３３の装置制御
部３３２及び各回線装置３４の装置制御部３４４に対し
てパス設定指示を行う。

【００３６】スイッチング装置３３の装置制御部３３２
は、パス設定指示を受信すると、パス設定指示内に含ま
れるパス情報を元にセルコピー回路３３１が参照する方
路インデックステーブルをスイッチング装置３３のメモ
リに設定する。また、回線装置３４の装置制御部３４４
それぞれは、パス設定指示を受信すると、品質監視回路
３４３が参照するパスインデックステーブルを回線装置
３４のメモリ上に設定する。これらのテーブルの設定に
よりパス設定が完了すると、呼制御装置３２は、呼制御
部３３１を経由して試験制御部３３２にパス設定完了を
通知する。

【００３７】パス設定完了後、試験制御部３１２は、呼
制御装置３２にループ設定要求を行い、呼制御装置３２
は回線装置３４の装置制御部３４４にループ設定指示を
行う。回線装置３４の装置制御部３４４それぞれは、ル
ープ設定指示を受信すると、ループ回路３４２が参照す
るループ登録テーブルを回線装置３４のメモリ上に設定
する。ループ登録テーブルの設定が完了すると、呼制御
装置３２は、呼制御部３３１を経由して試験制御部３３
２にループ設定完了を通知する。

【００３８】ループ設定終了後、試験制御部３１２が試
験セル発生装置３５に試験セル発生要求を行うと、スイ
ッチング装置３３を経由して各回線装置３４に試験セル
が送出される。回線装置３４では、流入した試験セルが
ループ回路３４２で折り返され、品質監視回路３４３に
入力する。品質監視回路３４３は、入力する試験セルの
品質監視を行い、ビット化けなどの異常セルを検出する
と、装置制御部３４４に対して障害検出を通知する。装
置制御部３４４は、障害検出（セルのビット化け）を受
信すると、さらに、呼制御装置３２を経由して試験制御
部３１１に障害検出を通知する。

【００３９】次に、図１０において、予定されていた試
験セルの送出が終了すると、試験セル発生装置３５より
試験制御部３１２に試験セル発生終了が通知される。試
験制御部３１２は、試験セル発生終了を受信すると、呼
制御部３１１に対して、試験セル発生装置３５から各回
線装置３４までのポイント・ツー・マルチポイント通信
により設定されたパスの解除要求を行う。呼制御部３２
は、パス解除要求を受信すると、呼制御装置３２にパス
解除指示を行う。そうすると、呼制御装置３２は、スイ
ッチング装置３３の装置制御部３３２及び各回線装置３
４の装置制御部３４４にパス解除指示を行う。

【００４０】スイッチング装置３３の装置制御部３３２
は、パス解除指示を受信すると、上記方路インデックス
テーブルをスイッチング装置３３のメモリから消去す
る。また、回線装置の３４の装置制御部３４４それぞれ
は、パス解除指示を受信すると、上記パスインデックス
テーブルを回線装置３４のメモリから消去する。これら
のテーブルの消去が完了すると、呼制御装置３２は、呼
制御部３３１を経由して試験制御部３３２にパス解除完
了を通知する。

【００４１】さらに、装置制御部３４４は、該当パスに
対して品質監視回路３４３の正常カウンタがカウントア
ップした試験セルの数と、パス設定時にパスインデック
ステーブルに設定された試験セル送出数の比較を行い、
差分がある場合は、セル抜け検出として、障害検出を装
置制御部３４４に通知する。装置制御部３４４は、障害
検出（セル抜け）を受信すると、呼制御部３１１を介し
て試験制御部３１２に障害検出を通知する。

【００４２】パス解除完了後、試験制御部３１２は、呼
制御装置３１１にループ解除要求を行い、呼制御装置３
１１は回線装置３４の装置制御部３４４にループ解除指
示を行う。回線装置３４４の装置制御部３４４は、ルー
プ解除指示を受信すると、上記ループ登録テーブルを回
線装置３４のメモリから消去する。ループ登録テーブル
の消去が完了すると、呼制御装置３２は、呼制御部３３
１を経由して試験制御部３３２にループ解除完了を通知
する。

【００４３】本発明の保護範囲は、上記の実施の形態に
限定されず、特許請求の範囲に記載された発明とその均
等物に及ぶものである。

【００４４】

【発明の効果】以上、本発明によれば、ポイント・ツー
・マルチポイント通信を利用して、試験セル発生装置の
一回のセル送出によって、複数の回線装置に同時に試験
セルを送出し、回線装置の品質監視回路が試験セルの品
質監視を行うことによって、回線装置の障害検出が行わ
れる。従って、一回のセル送出で、ＡＴＭ交換機内に収
容される全ての回線装置に対する試験を実施することが
できるので、試験時間を短縮することができる。また、
複数の回線装置のうち、障害を有する回線装置を特定す
ることも可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態における試験方法を実施す
るＡＴＭ交換機の構成例である。

【図２】ポイント・ツー・マルチポイント通信における
セルコピー回路３３１の機能を説明するための図であ
る。

【図３】方路インデックステーブルの例である。

【図４】方路情報が付与されたＡＴＭセルのフォーマッ
ト構成図である。

【図５】回線装置３４内におけるループ回路３４２の配
置を説明するための図である。

【図６】ループ登録テーブルの例である。

【図７】品質監視回路３４３の動作フローチャートであ
る。

【図８】パスインデックステーブルの例である。

【図９】本発明の実施の形態における回線装置の試験方
法の処理シーケンス図である。

【図１０】本発明の実施の形態における回線装置の試験
方法の処理シーケンス図である。

【図１１】従来の試験方法の第一の例を説明するための
図である。

【図１２】従来の試験方法の第二の例を説明するための
図である。

【符号の説明】

３１中央処理装置３２呼制御装置３３スイッチング装置３４回線装置３５試験セル発生装置３１１呼制御部３１２試験制御部３３１セルコピー回路３４２ループ回路３４３品質監視回路 0

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続きＦターム(参考） 5K019 AA04 AC09 BA51 BB41 CB01 CC14 CC15 CC16 CD08 5K030 GA14 HA10 HB12 HB19 HB29 JA06 JA10 KA02 MB01 MC02 5K035 AA07 BB04 EE02 GG01 GG06 HH07 KK01 9A001 CC02 CC06 LL05

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の回線装置を備えるＡＴＭ交換機にお
いて、前記回線装置の障害の有無を判定する試験のための試験
セルを生成する試験セル発生装置と、前記試験セル発生装置から送出される前記試験セルをポ
イント・ツー・マルチポイント通信によって各回線装置
に送出するスイッチング装置と、前記スイッチング装置から各回線装置に入力した前記試
験セルを各回線装置内のループ回路によって折り返して
各回線装置内の品質監視回路に入力させ、前記品質監視
回路による前記試験セルの誤り検査に基づいて、各回線
装置の障害の有無を判定する試験制御部とを備えること
を特徴とするＡＴＭ交換機。
【請求項２】請求項１において、前記品質監視回路は、前記試験セルに含まれる巡回符号
検査（ＣＲＣ）符号に基づいて、前記試験セルの誤り検
査を行うことを特徴とするＡＴＭ交換機。
【請求項３】請求項１又は２において、前記品質監視回路は、誤り検査に基づいた各回線装置毎
の障害検出を前記試験制御部に通知することを特徴とす
るＡＴＭ交換機。
【請求項４】試験セル発生装置を有するＡＴＭ交換機に
収容される複数の回線装置の試験方法において、前記試験セル発生装置から送出される試験セルをポイン
ト・ツー・マルチポイント通信によって、各回線装置に
送信するステップと、前記試験セルが各回線装置内の品質監視回路に入力する
ように、各回線装置内のループ回路によって前記試験セ
ルを折り返すステップと、前記品質監視回路による前記試験セルの誤り検査に基づ
いて、各回線装置の障害の有無を判定するステップとを
備えることを特徴とする回線装置の試験方法。
【請求項５】試験セル発生装置を有するＡＴＭ交換機に
収容される複数の回線装置の試験方法を実行するための
プログラムを格納する記憶媒体において、前記試験セル発生装置から送出される試験セルをポイン
ト・ツー・マルチポイント通信によって、各回線装置に
送信するステップと、前記試験セルが各回線装置内の品質監視回路に入力する
ように、各回線装置内のループ回路によって前記試験セ
ルを折り返すステップと、前記品質監視回路による前記試験セルの誤り検査に基づ
いて、各回線装置の障害の有無を判定するステップとを
備えることを特徴とするプログラムを格納する記憶媒
体。