JP3376272B2 - 信号処理装置の接続試験方式 - Google Patents
信号処理装置の接続試験方式Info
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- JP3376272B2 JP3376272B2 JP07195998A JP7195998A JP3376272B2 JP 3376272 B2 JP3376272 B2 JP 3376272B2 JP 07195998 A JP07195998 A JP 07195998A JP 7195998 A JP7195998 A JP 7195998A JP 3376272 B2 JP3376272 B2 JP 3376272B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＡＴＭ通信方式に
関する。本発明は、冗長構成されたＡＴＭ交換機に接続
される加入者インタフェースやＮＮＩインタフェース等
の信号処理装置の接続試験方式に利用する。
関する。本発明は、冗長構成されたＡＴＭ交換機に接続
される加入者インタフェースやＮＮＩインタフェース等
の信号処理装置の接続試験方式に利用する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＡＴＭ交換機では、加入者インタ
フェースやＮＮＩインタフェース等の信号処理を行う信
号処理装置は、ＡＴＭ交換機のＡＴＭスイッチの後に置
かれる。図３は、従来の冗長構成のＡＴＭ交換機の接続
構成の一例を示すものである。
フェースやＮＮＩインタフェース等の信号処理を行う信
号処理装置は、ＡＴＭ交換機のＡＴＭスイッチの後に置
かれる。図３は、従来の冗長構成のＡＴＭ交換機の接続
構成の一例を示すものである。
【０００３】この図３に示すように、０系のＡＴＭスイ
ッチ３０２、１系のＡＴＭスイッチ３０３が、ＡＴＭ通
信網に接続され、このＡＴＭスイッチ３０２、ＡＴＭス
イッチ３０３に、０系の信号処理装置３００がＡＴＭス
イッチ３０２、ＡＴＭスイッチ３０３の双方に接続さ
れ、同様に１系の信号処理装置３０１がＡＴＭスイッチ
３０２、ＡＴＭスイッチ３０３の双方に接続される、い
わゆる交絡接続された形態となっている。
ッチ３０２、１系のＡＴＭスイッチ３０３が、ＡＴＭ通
信網に接続され、このＡＴＭスイッチ３０２、ＡＴＭス
イッチ３０３に、０系の信号処理装置３００がＡＴＭス
イッチ３０２、ＡＴＭスイッチ３０３の双方に接続さ
れ、同様に１系の信号処理装置３０１がＡＴＭスイッチ
３０２、ＡＴＭスイッチ３０３の双方に接続される、い
わゆる交絡接続された形態となっている。
【０００４】この接続形態での信号処理装置の接続試験
動作を説明する。この接続形態では、０系信号処理装置
３００−０系ＡＴＭスイッチ３０２、０系信号処理装置
３００−１系ＡＴＭスイッチ３０３、１系信号処理装置
３０１−０系ＡＴＭスイッチ３０２、１系信号処理装置
３０１−１系ＡＴＭスイッチ３０３の４つのルートが選
択可能である。
動作を説明する。この接続形態では、０系信号処理装置
３００−０系ＡＴＭスイッチ３０２、０系信号処理装置
３００−１系ＡＴＭスイッチ３０３、１系信号処理装置
３０１−０系ＡＴＭスイッチ３０２、１系信号処理装置
３０１−１系ＡＴＭスイッチ３０３の４つのルートが選
択可能である。
【０００５】ここで、信号処理装置３００、３０１の取
り扱うＶＣＩ値は０〜２０４８の１１ビットであること
を利用し、ＶＣＩ値の１２ビット目を信号処理装置の接
続試験用セルであることを示すビットとし、ＶＣＩ値の
１０〜２ビット目の８ビットを各信号処理装置に個別に
設定された装置ＩＤ（ＦＢＩＤ）、ＶＣＩ値の１ビット
目をＡＴＭスイッチ３０２、３０３の系（０系か１系
か）、ＶＣＩ値の０ビット目に信号処理装置３００、３
０１の系にそれぞれ割り当てる。また、セルヘッダに試
験セルであることを示すビット（Ｔビット）を１ビット
割り当てる。
り扱うＶＣＩ値は０〜２０４８の１１ビットであること
を利用し、ＶＣＩ値の１２ビット目を信号処理装置の接
続試験用セルであることを示すビットとし、ＶＣＩ値の
１０〜２ビット目の８ビットを各信号処理装置に個別に
設定された装置ＩＤ（ＦＢＩＤ）、ＶＣＩ値の１ビット
目をＡＴＭスイッチ３０２、３０３の系（０系か１系
か）、ＶＣＩ値の０ビット目に信号処理装置３００、３
０１の系にそれぞれ割り当てる。また、セルヘッダに試
験セルであることを示すビット（Ｔビット）を１ビット
割り当てる。
【０００６】信号処理装置の接続試験の手順を説明す
る。信号処理装置３００、３０１にて、各ビットを設定
した信号処理装置の接続試験フレームを挿入し、セル分
割部でＶＣＩ値の１２ビット目をＴビットにコピーす
る。ＡＴＭスイッチ３０２、３０３は、ＶＣＩ値の１２
ビット目が信号処理装置の接続試験用セルであり、かつ
ＶＣＩ値の１ビット目が自系であるセルに対してＶＣＩ
値の１２ビット目を反転して、信号処理装置３００、３
０１に折り返す。信号処理装置３００、３０１はＶＣＩ
値の１２ビット目をチェックした後、受信セルのＴビッ
トをＶＣＩ値の１２ビット目にコピーしてセルを組み立
て、各ビットをチェックして、実施した試験ルートによ
る結果として正常であることを確認する。
る。信号処理装置３００、３０１にて、各ビットを設定
した信号処理装置の接続試験フレームを挿入し、セル分
割部でＶＣＩ値の１２ビット目をＴビットにコピーす
る。ＡＴＭスイッチ３０２、３０３は、ＶＣＩ値の１２
ビット目が信号処理装置の接続試験用セルであり、かつ
ＶＣＩ値の１ビット目が自系であるセルに対してＶＣＩ
値の１２ビット目を反転して、信号処理装置３００、３
０１に折り返す。信号処理装置３００、３０１はＶＣＩ
値の１２ビット目をチェックした後、受信セルのＴビッ
トをＶＣＩ値の１２ビット目にコピーしてセルを組み立
て、各ビットをチェックして、実施した試験ルートによ
る結果として正常であることを確認する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来のＡＴＭ交換機で
は、信号処理装置はＡＴＭスイッチに対して交絡接続さ
れる形態となっており、ＡＴＭスイッチを介して信号処
理装置の接続用試験セルにより折り返すことで、信号処
理装置の接続試験ができる。しかし、回線対応部に対し
て信号処理装置がそれぞれ接続される形態（対置接続形
態）では、このＡＴＭスイッチを介する接続試験方式は
信号処理装置の接続試験を複雑化する問題がある。ま
た、回線対応部に信号処理装置が対置接続される形態の
場合、従来方式で試験を行うとすると、信号処理装置、
回線対応部にそれぞれ専用ハードウエアが必要となり、
回路規模が増大するため、経済性がなくなる問題があ
る。特に信号処理装置、回線対応部が本来備えるハード
ウエアからの回路追加を低減することが望ましい。
は、信号処理装置はＡＴＭスイッチに対して交絡接続さ
れる形態となっており、ＡＴＭスイッチを介して信号処
理装置の接続用試験セルにより折り返すことで、信号処
理装置の接続試験ができる。しかし、回線対応部に対し
て信号処理装置がそれぞれ接続される形態（対置接続形
態）では、このＡＴＭスイッチを介する接続試験方式は
信号処理装置の接続試験を複雑化する問題がある。ま
た、回線対応部に信号処理装置が対置接続される形態の
場合、従来方式で試験を行うとすると、信号処理装置、
回線対応部にそれぞれ専用ハードウエアが必要となり、
回路規模が増大するため、経済性がなくなる問題があ
る。特に信号処理装置、回線対応部が本来備えるハード
ウエアからの回路追加を低減することが望ましい。
【０００８】本発明は、上述の問題を解決するもので、
それぞれの系の信号処理装置がそれれの系の回線対応部
に接続される対置接続形態において、回線対応部のルー
プバック機能を利用することにより、専用のハードウエ
アを必要としない信号処理装置の接続試験方式を提供す
ることを目的とする。
それぞれの系の信号処理装置がそれれの系の回線対応部
に接続される対置接続形態において、回線対応部のルー
プバック機能を利用することにより、専用のハードウエ
アを必要としない信号処理装置の接続試験方式を提供す
ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、冗長構成であ
るＡＴＭ交換機を備え、前記冗長構成のＡＴＭ交換機の
回線対応部にそれぞれ信号処理装置が対で接続され、前
記信号処理装置は接続試験用のセルを送出する手段を備
えた信号処理装置の接続試験方式において、前記信号処
理装置は、接続される回線対応部に系固有のＶＣＩ値を
設定した接続試験用のループバックセルを送出する手段
を備え、前記回線対応部は、この接続試験用のループバ
ックセルの折り返しを行う手段を備え、前記信号処理装
置は、前記回線対応部で折り返された接続試験用のルー
プバックセルが自系か他系のループバックセルかを前記
ＶＣＩ値により認識してセルを抽出し、他系のループバ
ックセルは廃棄する手段を含むことを特徴とする。
るＡＴＭ交換機を備え、前記冗長構成のＡＴＭ交換機の
回線対応部にそれぞれ信号処理装置が対で接続され、前
記信号処理装置は接続試験用のセルを送出する手段を備
えた信号処理装置の接続試験方式において、前記信号処
理装置は、接続される回線対応部に系固有のＶＣＩ値を
設定した接続試験用のループバックセルを送出する手段
を備え、前記回線対応部は、この接続試験用のループバ
ックセルの折り返しを行う手段を備え、前記信号処理装
置は、前記回線対応部で折り返された接続試験用のルー
プバックセルが自系か他系のループバックセルかを前記
ＶＣＩ値により認識してセルを抽出し、他系のループバ
ックセルは廃棄する手段を含むことを特徴とする。
【００１０】なお、前記信号処理装置は、ＶＣＩに設定
された系を示すビットを認識して自系の接続試験用のル
ープバックセルを抽出し、他系の接続試験用のループバ
ックセルを廃棄する手段を含むことが好ましい。また、
前記回線対応部は、前記接続試験用のループバックセル
を折り返すときに、ループバック指示値を書き換えて、
自系の信号処理装置および他系の信号処理装置に折り返
す手段を備え、前記信号処理装置の他系の接続試験用の
ループバックセルを廃棄する手段は、このループバッグ
指示値により廃棄対象のセルを認識する手段を含むこと
が好ましい。
された系を示すビットを認識して自系の接続試験用のル
ープバックセルを抽出し、他系の接続試験用のループバ
ックセルを廃棄する手段を含むことが好ましい。また、
前記回線対応部は、前記接続試験用のループバックセル
を折り返すときに、ループバック指示値を書き換えて、
自系の信号処理装置および他系の信号処理装置に折り返
す手段を備え、前記信号処理装置の他系の接続試験用の
ループバックセルを廃棄する手段は、このループバッグ
指示値により廃棄対象のセルを認識する手段を含むこと
が好ましい。
【００１１】ＡＴＭ交換機の回線対応部は、それぞれ各
系ごとに信号処理装置が対置接続される。信号処理装置
は、接続試験用のセルをセルヘッダにＬＢ indication
指示がされたループバックセルとして、対置される回線
対応部に送出する。回線対応部は、ループバックセルを
折り返す機能を有しており、回線対応部は、到来した接
続試験用のセルを自系の信号処理装置に折り返すととも
に、他系の回線対応部を介して他系の信号処理装置に折
り返す。接続試験用のセルのＶＣＩ値に系固有のＶＣＩ
値が設定されており、信号処理装置は、回線対応部から
折り返された接続試験用のセルのＶＣＩ値を認識して、
自系のセルであるか、他系のセルであるかを認識して自
系のセルを抽出し、接続試験を行う。他系のセルである
と、信号処理装置のセル抽出機能部はそのまま通過する
ので、セルの抽出機能部の後に置かれるＬＢ indicatio
n 判定廃棄機能部で、セルヘッダのＬＢ indication を
みてループバックされたものであることを認識し廃棄す
る。
系ごとに信号処理装置が対置接続される。信号処理装置
は、接続試験用のセルをセルヘッダにＬＢ indication
指示がされたループバックセルとして、対置される回線
対応部に送出する。回線対応部は、ループバックセルを
折り返す機能を有しており、回線対応部は、到来した接
続試験用のセルを自系の信号処理装置に折り返すととも
に、他系の回線対応部を介して他系の信号処理装置に折
り返す。接続試験用のセルのＶＣＩ値に系固有のＶＣＩ
値が設定されており、信号処理装置は、回線対応部から
折り返された接続試験用のセルのＶＣＩ値を認識して、
自系のセルであるか、他系のセルであるかを認識して自
系のセルを抽出し、接続試験を行う。他系のセルである
と、信号処理装置のセル抽出機能部はそのまま通過する
ので、セルの抽出機能部の後に置かれるＬＢ indicatio
n 判定廃棄機能部で、セルヘッダのＬＢ indication を
みてループバックされたものであることを認識し廃棄す
る。
【００１２】本発明は回線対応部のループバックセルの
折り返し機能を有することを利用して接続試験を行うこ
とが特徴である。回線対応部のループバック機能、信号
処理装置側のループバックセルの送出、抽出、ＬＢ ind
ication の判定廃棄は、信号処理装置の基本機能として
有しているため、これらの機能を接続試験用のセルの送
出抽出に用いることで、専用のハードウエアを必要とせ
ずに、接続試験のための回路規模を低減できる。
折り返し機能を有することを利用して接続試験を行うこ
とが特徴である。回線対応部のループバック機能、信号
処理装置側のループバックセルの送出、抽出、ＬＢ ind
ication の判定廃棄は、信号処理装置の基本機能として
有しているため、これらの機能を接続試験用のセルの送
出抽出に用いることで、専用のハードウエアを必要とせ
ずに、接続試験のための回路規模を低減できる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態の一例を説明する。
施の形態の一例を説明する。
【００１４】図１は、本発明の実施の形態の一例である
０系、１系の２系の冗長構成となったＡＴＭ交換系での
信号処理装置と回線対応部との接続形態を示す図であ
る。ここにおいて、０系信号処理装置１００は、０系回
線対応部１０２にのみ接続され、１系信号処理装置１０
１は、１系回線対応部１０３にのみ接続される。なお、
０系回線対応部１０２は、０系ＡＴＭスイッチ１０４に
接続され、１系回線対応部１０３は、１系ＡＴＭスイッ
チ１０５に接続され、それぞれＡＴＭ網に含まれて接続
される形態となる。ここで、０系回線対応部１０２、１
系回線対応部１０３とは相互に接続されており、入力さ
れた接続試験用セル（保守管理用のＯＡＭセル）を自系
の信号処理装置に折り返す機能および他系の信号処理装
置に他系の回線対応部を介して折り返す機能を有する構
成となっている。
０系、１系の２系の冗長構成となったＡＴＭ交換系での
信号処理装置と回線対応部との接続形態を示す図であ
る。ここにおいて、０系信号処理装置１００は、０系回
線対応部１０２にのみ接続され、１系信号処理装置１０
１は、１系回線対応部１０３にのみ接続される。なお、
０系回線対応部１０２は、０系ＡＴＭスイッチ１０４に
接続され、１系回線対応部１０３は、１系ＡＴＭスイッ
チ１０５に接続され、それぞれＡＴＭ網に含まれて接続
される形態となる。ここで、０系回線対応部１０２、１
系回線対応部１０３とは相互に接続されており、入力さ
れた接続試験用セル（保守管理用のＯＡＭセル）を自系
の信号処理装置に折り返す機能および他系の信号処理装
置に他系の回線対応部を介して折り返す機能を有する構
成となっている。
【００１５】なお、この接続形態は一例であり、信号処
理装置と回線対応部とが対置接続される形態は、信号処
理装置が逆にＡＴＭ網側に存在する形態等、他の接続方
式も存在する。
理装置と回線対応部とが対置接続される形態は、信号処
理装置が逆にＡＴＭ網側に存在する形態等、他の接続方
式も存在する。
【００１６】この構成において、本発明は、冗長構成で
あるＡＴＭ交換機を備え、前記冗長構成のＡＴＭ交換機
の回線対応部１０２、１０３にそれぞれ信号処理装置１
００、１０１が対で接続され、前記信号処理装置は接続
試験用のセルを送出する手段を備えた信号処理装置の接
続試験方式において、本発明の特徴として、信号処理装
置１００、１０１は、接続される回線対応部１０２、１
０３に系固有のＶＣＩ値を設定した接続試験用のループ
バックセルを送出する手段を備え、回線対応部１０２、
１０３は、この接続試験用のループバックセルの折り返
しを行う手段を備え、信号処理装置１００、１０１は、
前記回線対応部で折り返された接続試験用のループバッ
クセルが自系か他系のループバックセルかをＶＣＩ値に
より認識してセルを抽出し、他系のループバックセルは
廃棄する手段を含む。
あるＡＴＭ交換機を備え、前記冗長構成のＡＴＭ交換機
の回線対応部１０２、１０３にそれぞれ信号処理装置１
００、１０１が対で接続され、前記信号処理装置は接続
試験用のセルを送出する手段を備えた信号処理装置の接
続試験方式において、本発明の特徴として、信号処理装
置１００、１０１は、接続される回線対応部１０２、１
０３に系固有のＶＣＩ値を設定した接続試験用のループ
バックセルを送出する手段を備え、回線対応部１０２、
１０３は、この接続試験用のループバックセルの折り返
しを行う手段を備え、信号処理装置１００、１０１は、
前記回線対応部で折り返された接続試験用のループバッ
クセルが自系か他系のループバックセルかをＶＣＩ値に
より認識してセルを抽出し、他系のループバックセルは
廃棄する手段を含む。
【００１７】図２を参照して信号処理装置間試験の動作
を説明する。図２は、１系の信号処理装置から接続試験
用セルを送出したときのセルの経路とそのセルの処理を
説明する図である。
を説明する。図２は、１系の信号処理装置から接続試験
用セルを送出したときのセルの経路とそのセルの処理を
説明する図である。
【００１８】この図２において、０系信号処理装置２０
０は、接続試験用セルとしてＶＣにループバックが設定
されたセルを送出する挿入機能部２０３、到来したセル
から設定されたＶＣＩ値のセルを抽出する抽出機能部２
０２、この抽出機能部で抽出されずに通過したセルのヘ
ッダに設定されているループバック指示値（ＬＢ indic
ation)を判定してセルを廃棄するＬＢ indication 判定
廃棄機能部２０１を備える。同様に、１系信号処理装置
２０４も挿入機能部２０７、抽出機能部２０６、ＬＢ i
ndication 判定廃棄機能部２０５を備える。これらの信
号処理装置の機能部は、信号処理装置に備えられる基本
機能部に備えられたものであり、信号処理装置の接続試
験用のための専用のハードウエアではない。０系の信号
処理装置２００が接続される回線対応部２０８、１系の
信号処理装置２０４が接続される回線対応部２０９は共
に、接続された信号処理装置から到来するループバック
セルを折り返すともに、他系の回線対応部を介して他系
の信号処理装置に送出する機能を有している。
０は、接続試験用セルとしてＶＣにループバックが設定
されたセルを送出する挿入機能部２０３、到来したセル
から設定されたＶＣＩ値のセルを抽出する抽出機能部２
０２、この抽出機能部で抽出されずに通過したセルのヘ
ッダに設定されているループバック指示値（ＬＢ indic
ation)を判定してセルを廃棄するＬＢ indication 判定
廃棄機能部２０１を備える。同様に、１系信号処理装置
２０４も挿入機能部２０７、抽出機能部２０６、ＬＢ i
ndication 判定廃棄機能部２０５を備える。これらの信
号処理装置の機能部は、信号処理装置に備えられる基本
機能部に備えられたものであり、信号処理装置の接続試
験用のための専用のハードウエアではない。０系の信号
処理装置２００が接続される回線対応部２０８、１系の
信号処理装置２０４が接続される回線対応部２０９は共
に、接続された信号処理装置から到来するループバック
セルを折り返すともに、他系の回線対応部を介して他系
の信号処理装置に送出する機能を有している。
【００１９】１系の信号処理装置２０４からの接続試験
手順を図２を参照して説明する。１系の信号処理装置２
０４は、信号処理装置２０４と回線対応部２０９との間
の接続試験において、自系（１系）の接続試験用セルで
あることを識別するために、信号処理装置２００と信号
処理装置２０４でそれぞれ固有のＶＣＩ値を設定する。
本実施の形態では、ＶＣＩ値でリザーブとなっている３
０と３１とを、それぞれ０系の信号処理装置２００と１
系の信号処理装置２０４に設定する。
手順を図２を参照して説明する。１系の信号処理装置２
０４は、信号処理装置２０４と回線対応部２０９との間
の接続試験において、自系（１系）の接続試験用セルで
あることを識別するために、信号処理装置２００と信号
処理装置２０４でそれぞれ固有のＶＣＩ値を設定する。
本実施の形態では、ＶＣＩ値でリザーブとなっている３
０と３１とを、それぞれ０系の信号処理装置２００と１
系の信号処理装置２０４に設定する。
【００２０】１系の信号処理装置の挿入機能部２０７か
ら送出されたＶＣＩ値が３１の信号処理装置の接続試験
用セル２１０は、回線対応部２０９により、セルヘッダ
のＬＢ indication 値が１から０（折り返し前から折り
返し後）に書き換えられ、０系の信号処理装置２００と
１系の信号処理装置２０４に折り返される（２１１、２
１２）。１系の信号処理装置２０４は、抽出機能部２０
６によりＶＣＩ値が３１のセルを抽出対象として設定さ
れているので、折り返されたＶＣＩ値＝３１の接続試験
用セル２１１を抽出し、接続試験結果を認識する。０系
の信号処理装置２００に折り返された接続試験用セル２
１２は、０系の信号処理装置２００の抽出機能部２０２
では抽出対象に設定されていないため、抽出機能部２０
２を通過し、その後段にあるＬＢ indication 判定廃棄
機能部２０１にて、その試験用セルのＬＢ indication
が０（折り返し後）は廃棄対象としているため、廃棄さ
れる。
ら送出されたＶＣＩ値が３１の信号処理装置の接続試験
用セル２１０は、回線対応部２０９により、セルヘッダ
のＬＢ indication 値が１から０（折り返し前から折り
返し後）に書き換えられ、０系の信号処理装置２００と
１系の信号処理装置２０４に折り返される（２１１、２
１２）。１系の信号処理装置２０４は、抽出機能部２０
６によりＶＣＩ値が３１のセルを抽出対象として設定さ
れているので、折り返されたＶＣＩ値＝３１の接続試験
用セル２１１を抽出し、接続試験結果を認識する。０系
の信号処理装置２００に折り返された接続試験用セル２
１２は、０系の信号処理装置２００の抽出機能部２０２
では抽出対象に設定されていないため、抽出機能部２０
２を通過し、その後段にあるＬＢ indication 判定廃棄
機能部２０１にて、その試験用セルのＬＢ indication
が０（折り返し後）は廃棄対象としているため、廃棄さ
れる。
【００２１】
【発明の効果】本発明では以下の効果がある。
【００２２】回線対応部は到来したループバックの設定
がされている接続試験用セルをループバック制御するこ
とで接続される信号処理装置との間で接続試験を行うこ
とができるため、信号処理装置が回線対応部に対置され
る構成のＡＴＭ交換機でも、ＡＴＭスイッチを介するこ
となく接続試験を行うことができる。
がされている接続試験用セルをループバック制御するこ
とで接続される信号処理装置との間で接続試験を行うこ
とができるため、信号処理装置が回線対応部に対置され
る構成のＡＴＭ交換機でも、ＡＴＭスイッチを介するこ
となく接続試験を行うことができる。
【００２３】接続試験において、セルのＶＣＩ値によっ
て自系の信号処理装置の接続試験用セルであることを判
別し、廃棄はＬＢ indication 値によって判別するた
め、信号処理装置あるいは回線対応部に専用の試験用ハ
ードウエアを必要としないので、専用ハードウエアの追
加がなく、ＡＴＭ交換系を経済的に構築することができ
る。また、リザーブとなっているＶＣＩ値３０、３１を
用いて系の認識を行うＶＣＩ値として使用し、ユーザが
使用可能なＶＣＩ値を使用することがないので、信号処
理装置、回線対応部での接続試験用セルの扱いが簡素化
できる。
て自系の信号処理装置の接続試験用セルであることを判
別し、廃棄はＬＢ indication 値によって判別するた
め、信号処理装置あるいは回線対応部に専用の試験用ハ
ードウエアを必要としないので、専用ハードウエアの追
加がなく、ＡＴＭ交換系を経済的に構築することができ
る。また、リザーブとなっているＶＣＩ値３０、３１を
用いて系の認識を行うＶＣＩ値として使用し、ユーザが
使用可能なＶＣＩ値を使用することがないので、信号処
理装置、回線対応部での接続試験用セルの扱いが簡素化
できる。
【図１】本発明におけるＡＴＭ交換機構成の一実施の形
態を示すブロック図。
態を示すブロック図。
【図２】本実施の形態における信号処理装置の構成と試
験用セルの流れを示すブロック図。
験用セルの流れを示すブロック図。
【図３】従来におけるＡＴＭ交換機の構成の一例を示す
ブロック図。
ブロック図。
１００、１０１、２００、２０４、３００、３０１ 信
号処理装置 １０４、１０５、３０２、３０３ ＡＴＭスイッチ １０２、１０３、２０８、２０９ 回線対応部 ２０１、２０５ ＬＢ indication 判定廃棄機能部 ２０２、２０６ 抽出機能部 ２０３、２０７ 挿入機能部
号処理装置 １０４、１０５、３０２、３０３ ＡＴＭスイッチ １０２、１０３、２０８、２０９ 回線対応部 ２０１、２０５ ＬＢ indication 判定廃棄機能部 ２０２、２０６ 抽出機能部 ２０３、２０７ 挿入機能部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平７−250076（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−268668（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H04L 29/14
H04L 12/56
H04L 12/28
H04Q 3/00
Claims (2)
- 【請求項１】 冗長構成であるＡＴＭ交換機を備え、 前記冗長構成のＡＴＭ交換機の回線対応部にそれぞれ信
号処理装置が対で接続され、 前記信号処理装置は接続試験用のセルを送出する手段を
備えた 信号処理装置の接続試験方式において、 前記信号処理装置は、接続される回線対応部に系固有の
ＶＣＩ値を設定した接続試験用のループバックセルを送
出する手段を備え、 前記回線対応部は、この接続試験用のループバックセル
を自系の信号処理装置に折り返すとともに他系の回線対
応部を介して他系の信号処理装置に折り返しを行う手段
を備え、 前記信号処理装置は、前記回線対応部で折り返された接
続試験用のループバックセルが自系のループバックセル
か他系のループバックセルかを前記ＶＣＩに設定された
系を示すビットを認識して自系の接続試験用のループバ
ックセルを抽出し他系の接続試験用ループバックセルは
通過させる手段と、他系の接続試験用のループバックセ
ルを廃棄する手段とを含むことを特徴とする信号処理装
置の接続試験方式。 - 【請求項２】 前記回線対応部は、前記接続試験用のル
ープバックセルを折り返すときに、ループバック指示値
を書き換えて、自系の信号処理装置および他系の回線対
応部を介して他系の信号処理装置に折り返す手段を備
え、 前記信号処理装置の他系の接続試験用のループバックセ
ルを廃棄する手段は、 このループバックの指示値により廃棄対象のセルを認識
する手段を含む 請求項１記載の信号処理装置の接続試験
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07195998A JP3376272B2 (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | 信号処理装置の接続試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07195998A JP3376272B2 (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | 信号処理装置の接続試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11275176A JPH11275176A (ja) | 1999-10-08 |
| JP3376272B2 true JP3376272B2 (ja) | 2003-02-10 |
Family
ID=13475534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07195998A Expired - Fee Related JP3376272B2 (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | 信号処理装置の接続試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3376272B2 (ja) |
-
1998
- 1998-03-20 JP JP07195998A patent/JP3376272B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11275176A (ja) | 1999-10-08 |
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