JP2639345B2 - Ａｔｍスイッチ試験装置 - Google Patents
Ａｔｍスイッチ試験装置Info
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- JP2639345B2 JP2639345B2 JP13278894A JP13278894A JP2639345B2 JP 2639345 B2 JP2639345 B2 JP 2639345B2 JP 13278894 A JP13278894 A JP 13278894A JP 13278894 A JP13278894 A JP 13278894A JP 2639345 B2 JP2639345 B2 JP 2639345B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＡＴＭスイッチ試験装置
に関し、特にＡＴＭ（非同期転送モード）交換機のスイ
ッチ部の正常動作の試験方式に関するものである。
に関し、特にＡＴＭ（非同期転送モード）交換機のスイ
ッチ部の正常動作の試験方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＡＴＭ通信方式では、帯域の異なった通
信情報をセルと呼ばれる固定長の情報単位に分割して伝
送・交換する。このセルには、ユーザやサービス毎にバ
ーチャルチャネル（ＶＣ）／バーチャルパス（ＶＰ）が
設定され、これに対応した識別子（ＶＣＩ／ＶＰＩ）が
スイッチングルート情報としてセルヘッダに付加されて
いる。ＡＴＭ交換機はこのセルヘッダのＶＣＩ／ＶＰＩ
により各セルの交換を行うようになっている。
信情報をセルと呼ばれる固定長の情報単位に分割して伝
送・交換する。このセルには、ユーザやサービス毎にバ
ーチャルチャネル（ＶＣ）／バーチャルパス（ＶＰ）が
設定され、これに対応した識別子（ＶＣＩ／ＶＰＩ）が
スイッチングルート情報としてセルヘッダに付加されて
いる。ＡＴＭ交換機はこのセルヘッダのＶＣＩ／ＶＰＩ
により各セルの交換を行うようになっている。
【０００３】この様にＡＴＭ通信方式における伝送路上
には、異なる転送速度を持つサービスに対するセルがバ
ースト信号として伝送されており、これによって様々な
帯域のサービスに柔軟に対応でき、伝送路を効率的に利
用できる。
には、異なる転送速度を持つサービスに対するセルがバ
ースト信号として伝送されており、これによって様々な
帯域のサービスに柔軟に対応でき、伝送路を効率的に利
用できる。
【０００４】このセル交換を行うＡＴＭセルスイッチ部
は、スイッチング情報に基づいてＶＰＩ／ＶＣＩの付替
えを行い、これを自動的に振り分けるセルフルーティン
グする機能を持っているため、入力線と出力線が増える
に従いＡＴＭスイッチ内のパスを運用中においても効率
的に行う必要がある。
は、スイッチング情報に基づいてＶＰＩ／ＶＣＩの付替
えを行い、これを自動的に振り分けるセルフルーティン
グする機能を持っているため、入力線と出力線が増える
に従いＡＴＭスイッチ内のパスを運用中においても効率
的に行う必要がある。
【０００５】ＡＴＭセルスイッチ部の動作試験を行う従
来の方法としては、以下の様な方式が考えられている。
来の方法としては、以下の様な方式が考えられている。
【０００６】第一の従来方式としては、例えば特開平４
−２９１８５６号公報に開示されている如く、ハイウェ
イ毎に、試験セル挿入回路とスイッチングルート情報付
加回路を設け、また出ハイウェイ毎に試験セル監視回路
を設けることにより、入ハイウェイで空きセル部に挿入
試験用セルのスイッチングルート情報を変化させ、所望
の出ハイウェイ側で監視を行い、必要なスイッチルート
に対する試験を行う方式がある。
−２９１８５６号公報に開示されている如く、ハイウェ
イ毎に、試験セル挿入回路とスイッチングルート情報付
加回路を設け、また出ハイウェイ毎に試験セル監視回路
を設けることにより、入ハイウェイで空きセル部に挿入
試験用セルのスイッチングルート情報を変化させ、所望
の出ハイウェイ側で監視を行い、必要なスイッチルート
に対する試験を行う方式がある。
【０００７】図５に第二の従来方式を示す。この方式に
おいては、試験セル発生トランク１６から入線側に対し
空きセル部に試験を行いたいスイッチングルート情報を
付加した試験用セルを挿入し、ＡＴＭスイッチ部６によ
りスイッチングされた試験セルを受信したトランク１４
では、試験用セル折り返し手段１５により試験用セルの
みを試験セル発生トランク１６へ折り返すことにより、
必要なスイッチングルートに対する試験を行うようにな
っている。
おいては、試験セル発生トランク１６から入線側に対し
空きセル部に試験を行いたいスイッチングルート情報を
付加した試験用セルを挿入し、ＡＴＭスイッチ部６によ
りスイッチングされた試験セルを受信したトランク１４
では、試験用セル折り返し手段１５により試験用セルの
みを試験セル発生トランク１６へ折り返すことにより、
必要なスイッチングルートに対する試験を行うようにな
っている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述した第一及び第二
の従来方式共に、空きセル部に対して試験用セルを挿入
し、この試験用セルによってＡＴＭスイッチ部の監視を
行っているために、ユーザセル帯域の制限の原因になる
他に、試験用セルの挿入／抽出処理によってセル揺らぎ
の原因にもなる。
の従来方式共に、空きセル部に対して試験用セルを挿入
し、この試験用セルによってＡＴＭスイッチ部の監視を
行っているために、ユーザセル帯域の制限の原因になる
他に、試験用セルの挿入／抽出処理によってセル揺らぎ
の原因にもなる。
【０００９】また、ＡＴＭ通信では、ユーザセルの他
に、ＶＰやＶＣ毎にネットワークの保守・監視等のため
のオペレーションアンドメンテナンス（ＯＡＭ）セルが
あるが、試験用セルの挿入はこのＯＡＭセルの帯域をも
制限することになる。
に、ＶＰやＶＣ毎にネットワークの保守・監視等のため
のオペレーションアンドメンテナンス（ＯＡＭ）セルが
あるが、試験用セルの挿入はこのＯＡＭセルの帯域をも
制限することになる。
【００１０】そこで、本発明はかかる従来技術の問題点
を解決すべきなされたものであって、その目的とすると
ころは、ユーザセルやＯＡＭセル等の帯域制限をなす試
験用セルを用いる必要のないＡＴＭスイッチ試験装置を
提供することにある。
を解決すべきなされたものであって、その目的とすると
ころは、ユーザセルやＯＡＭセル等の帯域制限をなす試
験用セルを用いる必要のないＡＴＭスイッチ試験装置を
提供することにある。
【００１１】本発明の他の目的は、セル揺らぎの原因と
なる試験用セルの挿入／抽出をなす必要のないＡＴＭス
イッチ試験装置を提供することである。
なる試験用セルの挿入／抽出をなす必要のないＡＴＭス
イッチ試験装置を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、複数の
入力ハイウェイを介して入力されたセル単位で交換接続
を行うＡＴＭスイッチの試験装置であって、入力された
ＯＡＭセル（オペレーションアンドメンテナンスセル）
内に設定されているスイッチングルート情報のうち、試
験対象となるべく予め指定されたスイッチングルート情
報を有するセルのみを検出してこの検出されたＯＡＭセ
ルの空きビット部分に試験信号を付加して前記ＡＴＭス
イッチへ送出する試験信号付加手段と、このＡＴＭスイ
ッチから送出されたＯＡＭセル内の前記予め指定された
スイッチングルート情報を有するセルのみを検出してこ
の検出されたＯＡＭセル内の前記空きビット部分に付加
された前記試験信号を抽出する試験信号抽出手段とを含
むことを特徴とするＡＴＭスイッチ試験装置が得られ
る。
入力ハイウェイを介して入力されたセル単位で交換接続
を行うＡＴＭスイッチの試験装置であって、入力された
ＯＡＭセル（オペレーションアンドメンテナンスセル）
内に設定されているスイッチングルート情報のうち、試
験対象となるべく予め指定されたスイッチングルート情
報を有するセルのみを検出してこの検出されたＯＡＭセ
ルの空きビット部分に試験信号を付加して前記ＡＴＭス
イッチへ送出する試験信号付加手段と、このＡＴＭスイ
ッチから送出されたＯＡＭセル内の前記予め指定された
スイッチングルート情報を有するセルのみを検出してこ
の検出されたＯＡＭセル内の前記空きビット部分に付加
された前記試験信号を抽出する試験信号抽出手段とを含
むことを特徴とするＡＴＭスイッチ試験装置が得られ
る。
【００１３】
【作用】入力ハイウェイに入力されるセルには、ユーザ
セルとその隙間を埋めるための空きセルの他に、スイッ
チングルート情報であるＶＰ若しくはＶＣ毎にネットワ
ークの保守・監視等のためのオペレーションアンドメン
テナンス（ＯＡＭ）セルが存在する。このＯＡＭセルに
は、ＡＴＭのレイヤとタイプ毎に様々な機能が定義され
ており、ＡＴＭ交換機では、ネットワーク上への配備に
従って必要なＯＡＭセルの終端またはモニタを行うこと
により、各レイヤやタイプ毎のＯＡＭ機能を実現するよ
うになっている。
セルとその隙間を埋めるための空きセルの他に、スイッ
チングルート情報であるＶＰ若しくはＶＣ毎にネットワ
ークの保守・監視等のためのオペレーションアンドメン
テナンス（ＯＡＭ）セルが存在する。このＯＡＭセルに
は、ＡＴＭのレイヤとタイプ毎に様々な機能が定義され
ており、ＡＴＭ交換機では、ネットワーク上への配備に
従って必要なＯＡＭセルの終端またはモニタを行うこと
により、各レイヤやタイプ毎のＯＡＭ機能を実現するよ
うになっている。
【００１４】本発明のＡＴＭ交換機では、このＯＡＭセ
ル内の未使用空きビットに試験信号を付加し、検出／監
視を行うことによりＡＴＭスイッチ機能の試験を行うも
のである。
ル内の未使用空きビットに試験信号を付加し、検出／監
視を行うことによりＡＴＭスイッチ機能の試験を行うも
のである。
【００１５】
【実施例】以下に図面を用いて本発明の実施例について
説明する。
説明する。
【００１６】図１は本発明のブロック図である。入力ハ
イウェイ１より入力されたセル流から、装置入力部２に
おいて、試験制御部１１から予め指定された試験対象と
なるＶＰまたはＶＣを有するＯＡＭセルをＯＡＭセル検
出部３で検出する。このＯＡＭセル検出のタイミングに
応答して試験信号生成部４で生成された試験信号は、試
験信号付加部５において試験対象となるＶＰまたはＶＣ
を有するＯＡＭセル内の未使用空きビットに付加され
る。
イウェイ１より入力されたセル流から、装置入力部２に
おいて、試験制御部１１から予め指定された試験対象と
なるＶＰまたはＶＣを有するＯＡＭセルをＯＡＭセル検
出部３で検出する。このＯＡＭセル検出のタイミングに
応答して試験信号生成部４で生成された試験信号は、試
験信号付加部５において試験対象となるＶＰまたはＶＣ
を有するＯＡＭセル内の未使用空きビットに付加され
る。
【００１７】試験信号を付加されたＯＡＭセルは、ユー
ザセルと共にＡＴＭスイッチ部６によりセルフルーティ
ングされた後、装置入力部７において、試験制御部１１
から指定されたＶＰまたはＶＣを有するＯＡＭセルを試
験信号検出部８により検出し試験信号のみを抽出した
後、試験信号誤り検出部９によって試験信号の誤りを検
出・カウントする。
ザセルと共にＡＴＭスイッチ部６によりセルフルーティ
ングされた後、装置入力部７において、試験制御部１１
から指定されたＶＰまたはＶＣを有するＯＡＭセルを試
験信号検出部８により検出し試験信号のみを抽出した
後、試験信号誤り検出部９によって試験信号の誤りを検
出・カウントする。
【００１８】また、試験信号検出部８では、ＯＡＭセル
内に付加された試験信号を抽出し、しかる後に、未使用
空きビットに固定値を付加して送出する。
内に付加された試験信号を抽出し、しかる後に、未使用
空きビットに固定値を付加して送出する。
【００１９】図２は本発明のシステム構成図であり、図
３は装置入力部２の構成図、図４は装置出力部７の構成
を夫々示す。
３は装置入力部２の構成図、図４は装置出力部７の構成
を夫々示す。
【００２０】図２に示すように、入力ハイウェイ１へは
予め規定された伝送路フォーマットにより信号が伝送さ
れており、装置入力部２は伝送路上の信号からセルを抽
出して多重部１２を介してＡＴＭセルスイッチ部６に送
出する。ＡＴＭセルスイッチ部６によりスイッチングさ
れたセルは、分離部１３を介して対応する装置入力部７
へ送られ、伝送路フォーマットに組み込まれて出力ハイ
ウェイ１０より出力される。
予め規定された伝送路フォーマットにより信号が伝送さ
れており、装置入力部２は伝送路上の信号からセルを抽
出して多重部１２を介してＡＴＭセルスイッチ部６に送
出する。ＡＴＭセルスイッチ部６によりスイッチングさ
れたセルは、分離部１３を介して対応する装置入力部７
へ送られ、伝送路フォーマットに組み込まれて出力ハイ
ウェイ１０より出力される。
【００２１】この入力ハイウェイ１から出力ハイウェイ
１０までの経路は、ＶＰ／ＶＣ毎に異なっており、ＯＡ
Ｍセルはユーザセルと共にＶＰＩ／ＶＣＩに従ってＡＴ
Ｍスイッチ部６によりセルフルーティングされる。
１０までの経路は、ＶＰ／ＶＣ毎に異なっており、ＯＡ
Ｍセルはユーザセルと共にＶＰＩ／ＶＣＩに従ってＡＴ
Ｍスイッチ部６によりセルフルーティングされる。
【００２２】ＯＡＭセルは、各ＶＰ若しくはＶＣ毎にネ
ットワークの保守・監視等のためにＡＴＭのレイヤとタ
イプ毎に様々な機能が定義されており、ＡＴＭ交換機で
は、ネットワーク上への配備に従って必要なＯＡＭセル
の終端またはモニタを行うことにより、各レイヤやタイ
プ毎のＯＡＭ機能を実現する。
ットワークの保守・監視等のためにＡＴＭのレイヤとタ
イプ毎に様々な機能が定義されており、ＡＴＭ交換機で
は、ネットワーク上への配備に従って必要なＯＡＭセル
の終端またはモニタを行うことにより、各レイヤやタイ
プ毎のＯＡＭ機能を実現する。
【００２３】本発明では、図３に示すように入力ハイウ
ェイ１より入力されたセル流から、装置入力部２におい
て試験制御部１１の指定する試験対象となるＶＰまたは
ＶＣを有するＯＡＭセルをＯＡＭセル検出部３で検出す
る。
ェイ１より入力されたセル流から、装置入力部２におい
て試験制御部１１の指定する試験対象となるＶＰまたは
ＶＣを有するＯＡＭセルをＯＡＭセル検出部３で検出す
る。
【００２４】試験制御部１１は試験対象となるＶＰ／Ｖ
Ｃの指定のみでなく、試験の起動及び停止の制御や、試
験結果の収集を含めて装置入力部２と装置入力部７との
制御を行う。
Ｃの指定のみでなく、試験の起動及び停止の制御や、試
験結果の収集を含めて装置入力部２と装置入力部７との
制御を行う。
【００２５】ＯＡＭセルは前述のように様々な機能を実
現するために機能毎にフォーマットが異なるが、そのフ
ォーマット内には未使用の空きビットを含んでいる。Ｏ
ＡＭセル検出部３では、試験制御部１１が指定するＶＰ
Ｉ／ＶＣＩを持った当該ＡＴＭ交換機がサービスを提供
するレイヤに関するＯＡＭセルを検出すると共に、検出
したＯＡＭセルに見合ったＯＡＭセル内の空きビットの
範囲の検出を行い、この情報を試験信号生成部４及び試
験信号付加部５に引き渡す。
現するために機能毎にフォーマットが異なるが、そのフ
ォーマット内には未使用の空きビットを含んでいる。Ｏ
ＡＭセル検出部３では、試験制御部１１が指定するＶＰ
Ｉ／ＶＣＩを持った当該ＡＴＭ交換機がサービスを提供
するレイヤに関するＯＡＭセルを検出すると共に、検出
したＯＡＭセルに見合ったＯＡＭセル内の空きビットの
範囲の検出を行い、この情報を試験信号生成部４及び試
験信号付加部５に引き渡す。
【００２６】ＯＡＭセル内の空きビット範囲のタイミン
グに従って試験信号生成部４で生成された試験信号は、
試験制御部１１からの試験起動制御により試験信号付加
部５において同ＯＡＭセル内の未使用空きビット部分に
付加される。
グに従って試験信号生成部４で生成された試験信号は、
試験制御部１１からの試験起動制御により試験信号付加
部５において同ＯＡＭセル内の未使用空きビット部分に
付加される。
【００２７】試験信号を付加されたＯＡＭセルは、ユー
ザセル及び空きセルと共に装置入力部２から多重部１２
に送られ、ＶＰ／ＶＣ毎にＶＰＩ／ＶＣＩの付替を行っ
た後ＡＴＭスイッチ部６によりセルフルーティングさ
れ、分離部１３へ送出される。分離部１３では、各ＶＰ
／ＶＣに対応する装置入力部７へセルを渡す。
ザセル及び空きセルと共に装置入力部２から多重部１２
に送られ、ＶＰ／ＶＣ毎にＶＰＩ／ＶＣＩの付替を行っ
た後ＡＴＭスイッチ部６によりセルフルーティングさ
れ、分離部１３へ送出される。分離部１３では、各ＶＰ
／ＶＣに対応する装置入力部７へセルを渡す。
【００２８】装置入力部７では、図４に示すように試験
信号検出部８でＯＡＭセル検出部３と同等のＯＡＭセル
を試験制御部１１から指定されたＶＰまたはＶＣについ
て検出し、ＯＡＭセル内の未使用空きビットに付加され
た試験信号のみを抽出する。抽出された試験信号は試験
信号誤り検出部９で誤り検出及びカウントされ、試験結
果として試験制御部１１へ通知される。さらに、試験信
号検出部８では、試験を行っている間ＯＡＭセル内に付
加された試験信号を抽出した後、未使用空きビット部に
固定値を付加する。
信号検出部８でＯＡＭセル検出部３と同等のＯＡＭセル
を試験制御部１１から指定されたＶＰまたはＶＣについ
て検出し、ＯＡＭセル内の未使用空きビットに付加され
た試験信号のみを抽出する。抽出された試験信号は試験
信号誤り検出部９で誤り検出及びカウントされ、試験結
果として試験制御部１１へ通知される。さらに、試験信
号検出部８では、試験を行っている間ＯＡＭセル内に付
加された試験信号を抽出した後、未使用空きビット部に
固定値を付加する。
【００２９】このようにしてＶＰ／ＶＣ単位でＯＡＭセ
ルの空きビットを用いてＡＴＭスイッチ部の導通試験を
行うことができる。
ルの空きビットを用いてＡＴＭスイッチ部の導通試験を
行うことができる。
【００３０】尚、試験信号誤り検出部９での誤り検出方
法としては、種々の公知の技術を用いることができる
が、例えば、予め定められたビットパターンを有する試
験信号を試験信号生成部４で生成してＯＡＭセルに挿入
し、試験信号誤り検出部９では、このビットパターンの
誤りを検出してカウントするようにする。また、他の方
法として、試験信号に誤り検出符号を付加しておき、検
出部９でこの誤り検出符号を使用して試験信号の誤り検
出を行う様にしても良い。
法としては、種々の公知の技術を用いることができる
が、例えば、予め定められたビットパターンを有する試
験信号を試験信号生成部４で生成してＯＡＭセルに挿入
し、試験信号誤り検出部９では、このビットパターンの
誤りを検出してカウントするようにする。また、他の方
法として、試験信号に誤り検出符号を付加しておき、検
出部９でこの誤り検出符号を使用して試験信号の誤り検
出を行う様にしても良い。
【００３１】
【発明の効果】以上の説明から明らかな如く、本発明に
よれば、ＯＡＭセルの空きビットに試験信号を付加する
ことにより、特別な試験用セルを挿入することによるユ
ーザセル帯域や、ＯＡＭセル帯域への影響を無くし、セ
ル揺らぎを増加させることなくＡＴＭ交換装置において
装置入力部，装置出力部，多重部，ＡＴＭセルスイッチ
部，分離部を通る経路の試験を行うことができるという
効果がある。
よれば、ＯＡＭセルの空きビットに試験信号を付加する
ことにより、特別な試験用セルを挿入することによるユ
ーザセル帯域や、ＯＡＭセル帯域への影響を無くし、セ
ル揺らぎを増加させることなくＡＴＭ交換装置において
装置入力部，装置出力部，多重部，ＡＴＭセルスイッチ
部，分離部を通る経路の試験を行うことができるという
効果がある。
【図１】本発明の実施例のシステムブロック図である。
【図２】本発明の実施例が適用されるシステム全体のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図３】本発明の実施例の装置入力部のブロック図であ
る。
る。
【図４】本発明の実施例の装置出力部のブロック図であ
る。
る。
【図５】従来のＡＴＭスイッチ試験方式を説明するブロ
ック図である。
ック図である。
１ 入力ハイウェイ ２ 装置入力部 ３ ＯＡＭセル検出部 ４ 試験信号生成部 ５ 試験信号付加部 ６ ＡＴＭスイッチ部 ７ 装置出力部 ８ 試験信号検出部 ９ 試験信号誤り検出部 １０ 出力ハイウェイ １１ 試験制御部 １２ 多重部 １３ 分離部
Claims (4)
- 【請求項１】 複数の入力ハイウェイを介して入力され
たセル単位で交換接続を行うＡＴＭスイッチの試験装置
であって、入力されたＯＡＭセル（オペレーションアン
ドメンテナンスセル）内に設定されているスイッチング
ルート情報のうち、試験対象となるべく予め指定された
スイッチングルート情報を有するセルのみを検出してこ
の検出されたＯＡＭセルの空きビット部分に試験信号を
付加して前記ＡＴＭスイッチへ送出する試験信号付加手
段と、このＡＴＭスイッチから送出されたＯＡＭセル内
の前記予め指定されたスイッチングルート情報を有する
セルのみを検出してこの検出されたＯＡＭセル内の前記
空きビット部分に付加された前記試験信号を抽出する試
験信号抽出手段とを含むことを特徴とするＡＴＭスイッ
チ試験装置。 - 【請求項２】 前記試験信号は所定のビットパターンで
あることを特徴とする請求項１記載のＡＴＭスイッチ試
験装置。 - 【請求項３】 前記試験信号抽出手段は、抽出された前
記試験信号のビットパターンの誤りを検出する誤り検出
手段を更に含むことを特徴とする請求項２記載のＡＴＭ
スイッチ試験装置。 - 【請求項４】 前記スイッチングルート情報は仮想パス
及び仮想チャネル情報であることを特徴とする請求項１
〜３いずれか記載のＡＴＭスイッチ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13278894A JP2639345B2 (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Ａｔｍスイッチ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13278894A JP2639345B2 (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Ａｔｍスイッチ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH088916A JPH088916A (ja) | 1996-01-12 |
| JP2639345B2 true JP2639345B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=15089564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13278894A Expired - Fee Related JP2639345B2 (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Ａｔｍスイッチ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2639345B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09214511A (ja) * | 1996-02-05 | 1997-08-15 | Nec Corp | セル処理装置の故障自己監視方式 |
| JP6581062B2 (ja) * | 2016-10-12 | 2019-09-25 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 通信装置、システム、方法およびプログラム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0787456B2 (ja) * | 1987-05-28 | 1995-09-20 | 富士通株式会社 | 自己ル−チング交換機 |
| JPH088576B2 (ja) * | 1989-08-11 | 1996-01-29 | 日本電気株式会社 | 通話路特性監視方式 |
| JPH03270434A (ja) * | 1990-03-20 | 1991-12-02 | Fujitsu Ltd | Ａｔｍスイッチのパス試験方式 |
| JPH05114911A (ja) * | 1991-04-05 | 1993-05-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 導通検査方式 |
-
1994
- 1994-06-15 JP JP13278894A patent/JP2639345B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH088916A (ja) | 1996-01-12 |
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