JP2742004B2 - Ａｔｍ交換網におけるノード間試験方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＡＴＭ交換網におけるノ
ード間試験方式に関する。近年，ＡＴＭ（Asynchronous
Transfer Mode) を用いた広帯域ＩＳＤＮ（Ｂ−ＩＳＤ
Ｎ）の実用化に向けての研究が進められている。この広
帯域ＩＳＤＮにつて，ＣＣＩＴＴにより各種の勧告が出
されており，その中に通信網の保守運用のための機能
（ＯＡＭ機能：Operation Administration and Mainten
ance) を実現するためのプロトコルが定められている。
そのＯＡＭ機能の中でネットワークの伝送品質を監視す
るためにモニタリングセルを一方のノードから送信し
て，他方のノードで検出する技術が用いられる。このモ
ニタリングセルは，ユーザセルが一定個数発生するごと
に付加することになっているため，ユーザセルが発生し
ない場合には利用できないため，その改善が望まれてい
る。

【０００２】

【従来の技術】ＡＴＭ交換網のある区間のＶＰまたはＶ
Ｃの品質を監視しようとする場合，次のような方式が考
えられる。すなわち，試験用セルの発生部を設け，ＶＰ
またはＶＣの発終端点（送信側のノード）から試験セル
を挿入し，伝送路を介してＶＰまたはＶＣの着終端点
（受信側ノード）で試験セルを抽出して試験セルの受信
数や，試験セルのビットチェックによりＶＰ，ＶＣの品
質を監視する方式である。

【０００３】しかし，この方式は試験セルをユーザセル
に多重する部分で，試験セルの廃棄が発生する可能性が
あり，そうなると，本来の監視区間の以前の廃棄とな
り，測定の意味をなさなくなってしまう。また，試験セ
ルをユーザセルより優先すると，ユーザセルの廃棄を誘
発する可能性があるため，結局多重回路に十分大きなバ
ッファを設けて調整する必要があるという問題がある。

【０００４】上記方式の問題点を解決する方式として，
図３により説明する方式がある。図３はモニタリングセ
ルを用いたノード間試験方式の説明図であり，図３の
Ａ．はモニタリングセルを用いた伝送経路を示す。

【０００５】Ａ．において，４０はＡＴＭセル（ユーザ
セル）を発生して送信するユーザ端末，４１はＡＴＭ交
換機を構成する発ノード，４２はユーザ端末４０からハ
イウェイ上に発生するユーザセルを対象として，ユーザ
セルの一定個数（ＣＣＩＴＴ標準では１２８，２５６，
５１２，１０２４の何れか）毎に，それらのセルに対す
る誤り検出符号（複数ビットの誤り検出機能を持つ符
号）を含むモニタリングセルを発生するモニタリングセ
ル発生回路，４３は交換部である。

【０００６】また，４４は発ノード４１から送出された
セルを受信して自ノードのユーザ端末へ送出する着ノー
ド（ＶＰまたはＶＣの着終端点），４５は着ノード４４
の交換部，４６は受信したセルからモニタリングセルを
検出して誤りを検出するモニタリングセル検出回路であ
り，４７は着側のユーザ端末である。

【０００７】上記の構成において，ＶＰ（Virtual Pat
h) 及びＶＣ（Virtual Channel)を指定したノード間の
伝送品質の試験をＶＰまたはＶＣについて行う場合，発
ノード４１のユーザ端末４０が着ノード４４のユーザ端
末４７へ情報を伝送する場合，ユーザ端末４０からユー
ザセル（特定のＶＰＩ及びＶＣＩがヘッダに設定されて
いる）が送信される。このユーザセルは，通常，発ノー
ド４１のモニタリングセル発生回路４２を通過し，交換
部４３を通って，着ノード４４へ送られ，交換部４５を
通って，モニタリングセル検出回路４６を通過して相手
のユーザ端末４７に送られる。

【０００８】このユーザセルの発ノード４１と着ノード
４４間の伝送品質を監視する場合，モニタリングセル発
生回路４２からユーザセルと同じＶＰＩまたはＶＣＩを
持つモニタリングセルを発生する。このモニタリングセ
ルは，ユーザセルが一定個数発生する毎に１個発生し，
ＣＣＩＴＴによれば１例として１０２４個のユーザセル
毎に発生するよう規定できる。従って，モニタリングセ
ル発生回路４２はユーザセルの発生個数を検出して１０
２４個になった後，ユーザセルが空いたタイミングでモ
ニタリングセルを伝送路上に発生する。

【０００９】ユーザセル及びモニタリングセルは交換部
４３を介して指定された論理パス（ＶＰ）及び論理チャ
ネル（ＶＣ）を通って着ノード４４に送られる。着ノー
ド４４の交換部４５を通ってモニタリングセル検出回路
４６へ入力すると，ここでモニタリングセルが抽出さ
れ，誤り検出が行われてデータの誤り率等の伝送品質の
データが得られる。この時，相手ユーザ端末４７へモニ
タリングセルは送出されない。

【００１０】なお，モニタリングセルは，発ノードと着
ノード間だけでなく，任意のノード間の試験に利用する
ことができる。また，このモニタリングセルは，特定の
ＶＰまたはＶＣによる伝送路の導通（セルの伝送）を確
認するためにも使用される。

【００１１】図３のＢ．は，ノード間の伝送路上におけ
るセルの発生例を示す。この例は，ユーザセルがＶＣＩ
＝１であるとすると，モニタリングセル（ＭＣ）のＶＣ
Ｉとして“１”を設定し，モニタリングセルの表示（Ｖ
Ｃのモニタリングセルの場合，ヘッダ内のペイロードタ
イプ識別子ＰＴＩを特定値にして表示）を備えたモニタ
リングセル（ＭＣ）を発生する。このモニタリングセル
はＢ．に示すように，ユーザセルが１〜１０２４個発生
するとその直後に挿入され，これが繰り返される。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】上記図３に示す従来の
モニタリングセルを用いたノード間の試験方式では，ユ
ーザセルが一定個数発生する毎に伝送路に挿入される。
一方，モニタリングセルを用いたノード間試験は，ユー
ザからデータの誤りが多い等の申告により実行される場
合が多いが（その他に定期的に行う場合もある），その
ユーザは誤りが多いとそのＶＰまたはＶＣを介する通信
を避けてしまうか，または短い情報の伝送だけ行うとい
う事態が起きる。この場合，そのユーザセルに対するノ
ード間試験を行いたくても，モニタリングセルを発生す
るためのユーザセルの個数が足りないため，実質的に試
験を行うことができないという問題がある。

【００１３】また，ＡＴＭ交換網に新たなノードを新設
したり，ＶＰやＶＣを開設した時にノード間の伝送品質
を含む導通試験を行いたいが，ユーザ端末が接続されて
ない（運用していない）状態であるため，モニタリング
セルによる試験を実行することができないという問題が
あった。

【００１４】本発明はユーザセルが無い場合でもモニタ
リングセルを用いて経済的に品質試験を含む導通確認試
験を実現できるＡＴＭ交換網におけるノード間試験方式
を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理構成
図である。図１において，１は発ノード，２は多重部，
３はダミーセル発生部，４はモニタリングセル発生部，
５は着ノード，６はモニタリングセル検出部，７は送信
側からのユーザセルが発生するハイウェイ，８は受信側
へのユーザセルが発生するハイウェイである。

【００１６】本発明はユーザセルが少ないか発生しない
場合に，被試験対象のユーザセルと同じＶＰＩまたはＶ
ＣＩを持つダミーセルを発生することにより試験対象と
なるＶＰまたはＶＣについてモニタリングセルを用いた
試験を可能とするものである。

【００１７】

【作用】図１において，発ノード１から着ノード５の監
視区間について，ハイウェイ７のユーザセルが使用する
ＶＰＩまたはＶＣＩを被試験対象とする試験を行うもの
とする。この時，ハイウェイ７のユーザセルがコンスタ
ントに発生する場合は，多重部２でユーザセルを選択
し，そのユーザセルの所定個（この例では１０２４個）
毎にモニタリングセル発生部４で誤り検出符号を含むモ
ニタリングセルが付加されて送信される。しかし，ユー
ザセルが一定時間内に少しの個数しか入力しない場合
や，ノードの開設時（障害復旧時を含む）のようにユー
ザセルが全く入力しない場合には，多重部２においてダ
ミーセル発生部３の出力を選択する。ダミーセル発生部
３は被試験対象のユーザセルと同じＶＰＩまたはＶＣＩ
が設定された通常のＡＴＭセルの構造（情報部には無意
味なデータ，例えばＰＮパターンを持つ）を備え，多重
部２から出力すると，モニタリングセル発生部４へ入力
する。モニタリングセル発生部４は，ダミーセルをユー
ザセルと同様にカウントして，所定個数毎にモニタリン
グセルを付加して送信する。

【００１８】着ノード５では，モニタリングセル検出部
６において入力する各セルの中からモニタリングセルを
取り出して，誤り検出を行って品質監視を行うことがで
きる。

【００１９】なお，発ノード１の多重部２は，ユーザセ
ルが発生する限りユーザセルを優先して選択し，ダミー
セル発生部３からのダミーセルはユーザセルが無い場合
にだけ選択する。

【００２０】

【実施例】図２は本発明の実施例の構成図である。図２
において，２０は発側ノード，２１〜２７は発側ノード
を構成する各部を表し，２１は発側ユーザの上り，下り
のハイウェイが接続された加入者線終端ＬＵ（ＬＵ：Li
ne Unit ，回線対応装置），２２は中央制御装置（ＣＣ
で表す），２３はスイッチ部，２４はノード内から外部
へ出力するセルをスイッチングするスイッチ（ＳＷ Ｉ
Ｎで表す），２５は外部からノードへ入力するセルのス
イッチングを行うスイッチ（ＳＷ ＯＵＴで表す），２
６は他ノードと接続する中継線を収容する中継線ＬＵ，
２７はダミーセル発生装置（ＤＣＧで表す：Damy Cell
Generator), ２８は発側ノード２０から着側ノード３０
への上りの中継線，２９は着側ノード３０からの下りの
中継線である。また，３０は着側ノードであり，３１は
着側ユーザの上り，下りのハイウェイが接続された加入
者線終端ＬＵであり，３２〜３７は，それぞれ上記発側
ノード内の２２〜２７の各部と同じ装置であり，説明を
省略する。

【００２１】発側ノード２０と着側ノード３０の加入者
線終端ＬＵ２１，３１のそれぞれの内部構成において，
２１０，３１０は多重回路（ＭＸで表す），２１１，３
１１は図１のモニタリングセル発生部４に対応するモニ
タリングセル付加回路（Ｍ１で表す），２１２，３１２
は図１のモニタリングセル検出部６に対応するモニタリ
ングセルチェック回路（Ｍ２で表す），２１３，３１３
は特定のセルを廃棄する機能を持つセルフィルタ（Ｆ１
で表す），２１４，３１４は簡易ヘッダ変換回路（ＨＣ
Ｖで表す）である。

【００２２】この実施例の構成では，加入者線終端ＬＵ
２１の加入者が発信し，加入者線終端ＬＵ３１の加入者
を着信先とした通信の例について説明する便宜上，発側
ノード２０と着側ノード３０と便宜上異なる名称を付し
たが，上記したように各ノードは同じ構成を備えてい
る。また，ノード２０，３０の間に図示されない複数の
ノードが存在する場合もある。

【００２３】実施例の構成において，発側ノード２０か
ら着側ノード３０へのノード間試験を行う場合の動作の
例を以下の〜の動作順に説明する。 発側ノード２０において，ＣＣ２２からセルフィルタ
（Ｆ１）２１３に対しＶＣＩ＝“ａ”のセル及びＶＣＩ
＝“ｂ”且つダミーセル識別フラグが立っているセル
（例えば，ＰＴＩ＝“ｃ”とする，但しＰＴＩはセルヘ
ッダ内のペイロードタイプ識別子）を廃棄するよう指示
する。なお，ＶＣＩ＝ａはネットワークで予約された特
別なＶＣＩであり，ユーザには解放されないセルフィル
タ（Ｆ１）２１３は，これにより入力するセルの中から
ＶＣＩ＝“ａ”のセルとＶＣＩ＝“ｂ”かつＰＴＩ＝
“ｃ”のセルだけを選択的に廃棄する。

【００２４】次に発側ノード２０において，中央制御
装置（ＣＣ）２２は，ダミーセル発生装置（ＤＣＧ）２
７に対し，ＶＣＩ＝“ａ”且つＰＴＩ＝“ｃ”のセルを
発生するよう指示する。なお，ＶＣＩ＝“ａ”は，ネッ
トワークで予約された特別なＶＣＩであり，ユーザには
解放されない値である。

【００２５】発側ノード２０のダミーセル発生装置２
７から発生したダミーセルは，ＳＷＯＵＴ２５におい
て，対象となる加入者線終端ＬＵ２１へ向けてスイッチ
ングされる。加入者線終端ＬＵ２１では，ＳＷ ＯＵＴ
２５から出力されて多重化されたセルは下りモニタリン
グセルチェック回路（Ｍ２）２１２を通過して，簡易ヘ
ッダ変換回路（ＨＣＶ）２１４でユーザセルと同じＶＣ
Ｉ値であるＶＣＩ＝“ｂ”（但し，ＰＴＩ＝“ｃ”）に
変換されて，多重回路（ＭＸ）２１０にダミーセルが供
給され，発側加入者からのユーザセルと多重化される。
この時，多重回路（ＭＸ）２１０は発側加入者からのユ
ーザセルを優先し，ユーザセルが無い時ダミーセルを多
重化する。

【００２６】多重回路（ＭＸ）２１０から出力される
ダミーセル（ユーザセルが全く発生しない時），または
ダミーセルとユーザセル（ユーザセルの発生が少ない
時）に対し，モニタリングセル付加回路（Ｍ１）２１１
において，上りのモニタリングセルが付与され，ＳＷ
ＩＮ２４により着側ＬＵに接続された中継線ＬＵ２６に
スイッチングされる。なお，セルフィルタ（Ｆ１）２１
３により，ダミーセル発生装置２７から発生したセルは
廃棄され，発側加入者には流入しない。

【００２７】中継線ＬＵ２６では，中継線終端機能に
より中継線ＬＵ２６を介して着側ノード３０にセルを伝
送する。 着側ノード３０では，中継線ＬＵ３６において終端さ
れ，着側加入者へ送られるＶＣＩ＝“ｂ”の対象セルは
ＳＷ ＯＵＴ３５により加入者線終端ＬＵ３１へスイッ
チングされる。

【００２８】加入者線終端ＬＵ３１のモニタリングセ
ルチェック回路（Ｍ２）３１２では，入力するモニタリ
ングセルを用いてチェックを行い，チェック結果は中央
制御装置（ＣＣ）３２に通知される。なお，着側ノード
３０では，予め中央制御装置（ＣＣ）３２からモニタリ
ングセルチェック回路（Ｍ２）３１２に対し，ＶＣＩ＝
“ｂ”を持つ対象セルに対してチェックを行うよう指示
されていると共に，セルフィルタ（Ｆ１）３１３に対し
ＶＣＩ＝“ｂ”且つＰＴＩ＝“ｃ”のセルを廃棄するよ
う指示されている。これにより，ダミーセルのみ廃棄さ
れ，ユーザセルのみ着側加入者へ送られる。

【００２９】以上の動作により，加入者線信号が無い場
合にもモニタリングセルによる試験が可能となる。な
お，逆方向に対しても全く同じ制御をすることにより，
同時に上り・下りの同一ＶＣについて試験をすることが
可能となる。

【００３０】

【発明の効果】本発明によればＡＴＭ交換網において，
ＣＣＩＴＴ標準のモニタリングセルを用いたノード間試
験を，加入者が接続されない状態または加入者からのセ
ルの発生が少ない場合にも実行することが可能となる。

【００３１】また，一般にユーザハイウェイには多数の
ＶＰＩ，ＶＣＩをもつセルが多重されているが，本発明
の多重部により試験対象以外のＶＰＩ，ＶＣＩを持つセ
ルが廃棄されることはないので，試験対象以外のＶＰ，
ＶＣがインサービス中でも，ノード間試験が可能とな
る。さらに，品質監視区間は，発側ノードのモニタリン
グセルの発生部から着側ノードのモニタリングセルの検
出部までとなるので，ユーザセルのバースト的な到着に
より，発側の多重部においてダミーセルの廃棄が発生し
ても問題なく品質監視が可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理構成図である。

【図２】本発明の実施例の構成図である。

【図３】従来例の説明図である。

【符号の説明】

１ 発ノード ２ 多重部 ３ ダミーセル発生部 ４ モニタリングセル発生部 ５ 着ノード ６ モニタリングセル検出部 ７ 送信側からのユーザセルが発生するハイウェイ ８ 受信側へのユーザセルが発生するハイウェイ

フロントページの続き (73)特許権者 000005108 株式会社日立製作所 東京都千代田区神田駿河台四丁目６番地 (72)発明者 下江 敏夫 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 小林 孝文 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 宮保 憲治 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 野入 晃 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電 気工業株式会社内 (72)発明者 池田 弘志 東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 小栗 洋三 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株式会社日立製作所情報通信事業部内 (56)参考文献 特開 平７−327031（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−69948（ＪＰ，Ａ) 「ＩＴＵ−Ｔ ＷＨＩＴＥ ＢＯＯＫ 勧告▲Ｉ▼シリーズ（Ｂ−ＩＳＤ Ｎ）」，財団法人 新日本ＩＴＵ協会, 平成５年10月28日，Ｐ．346

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 品質監視用のモニタリングセル発生部と
   モニタリングセル検出部をノードに備えたＡＴＭ交換網
   において，任意の論理パス（ＶＰ）または論理チャネル
   （ＶＣ）と同じＶＰＩまたはＶＣＩを持つダミーセルを
   発生するダミーセル発生部を前記モニタリングセル発生
   部の前段に設け，品質監視の対象となるＶＰＩまたはＶ
   ＣＩを持つセルの発生が無いか，発生数が少ない時に前
   記ダミーセル発生部からダミーセルを発生させてノード
   間の品質監視を行うことを特徴とするＡＴＭ交換網にお
   けるノード間試験方式。
2. 【請求項２】 請求項１において，前記ダミーセル発生
   部から発生するダミーセルをユーザセルのハイウェイに
   多重する多重部であって，ユーザセルの優先順位が高く
   設定された多重部を設け，該多重部から出力されたセル
   に対し後段に配置された前記モニタリングセル発生部か
   ら生成されたモニタリングセルを挿入してノード間の品
   質監視を行うことを特徴とするＡＴＭ交換網におけるノ
   ード間試験方式。