JPH088576B2 - 通話路特性監視方式 - Google Patents

通話路特性監視方式

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JPH088576B2
JPH088576B2 JP20824589A JP20824589A JPH088576B2 JP H088576 B2 JPH088576 B2 JP H088576B2 JP 20824589 A JP20824589 A JP 20824589A JP 20824589 A JP20824589 A JP 20824589A JP H088576 B2 JPH088576 B2 JP H088576B2
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test
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亘 竹内
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  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、非同期転送モード方式を用いた自己ルーチ
ング型通話路の通話特性監視方式に関する。
〔従来の技術〕
非同期転送モード方式を用いた自己ルーチング型通話
路では、通話路内で複数の呼の情報が統計多重されて同
一の経路を通過している。
〔発明が解決しようとする課題〕
このため、従来の空間分離型通話路や時分割型通話路
のように、ひとつの呼に対して必ず通話路リソースが与
えられる場合と異なり、その動作状況を実時間で監視す
る必要性がある。
本発明の目的は、非同期転送モード方式を用いた自己
ルーチング型通話路における特定出線に対するセルの通
過特性を監視することができる通話路特性監視方式を提
供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の通話路特性監視方式は、出線番号情報,セル
空塞情報及び試験セル情報をヘッダに持つ固定長のセル
を通話路の入出力とし、入力されたセルのセル空塞情報
が空きセル状態でないことを示している時に、出線番号
情報に従い出線を選択する非同期転送モード方式を用い
た、入線n出線nの自己ルーチング型通話路において、 セルのユーザ情報の中に入線番号情報を有するセルを
試験セルとして用い、各入線に入力されるセルのセル空
塞情報により空きセルを検出してその位置に試験セルを
挿入するn個の試験セル挿入回路と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セ
ルを検出し抜き出すn個の試験セル分離回路と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路と、 前記バス回路に接続されバス上のセルを入力とし、入
力されたセルを再出力すると共に外部から与えられた試
験開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの通過
回数を計算し出力する計数回路と、 前記計数回路から出力されるセルを入力とし、前記入
線番号情報の値が最老番でない場合には1だけ増加さ
せ、最老番である場合には最若番に書き替えて送出する
入線番号書替回路と、 外部から試験開始信号を与えられると、セル空塞情報
をセル使用中であることを示す状態に、試験セル情報を
試験セルであることを示す状態に、出線番号情報を試験
開始信号の一部として与えられる出線番号に、更に入線
番号情報を通話路の入線の最若番に設定し、試験セルを
送出すると共に外部より試験終了信号が与えられた場合
には試験セルの送出を停止する試験制御回路と、 前記試験制御回路の出力を入力とし、複数方路へ試験
セルを分配する分配回路と、 前記分配回路の出力を入力とし、1からnの範囲内に
ある第Kの試験セル挿入回路にその出力が接続され試験
セル中の入線番号情報がKである時にのみ試験セル挿入
回路への出力を行い、それ以外の場合には入力されたセ
ルを出力しないn個の試験セル通過選択回路とを設け、 前記試験制御回路に試験開始信号を与え試験セルを発
生させ、前記試験セルが、試験セル通過選択回路,前記
試験セル挿入回路,前記通話路,前記試験セル分離回
路,前記バス回路,前記計数回路,前記入線番号書替回
路及び前記試験制御回路の順に特定の試験セル分離回路
を通過しながら巡回する過程で、試験終了信号を受信す
るまでの間に前記計数回路を通過する試験セル数を計数
するように構成されている。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
n×nの自己ルーチング型通話路SWは、非同期転送モ
ード方式を用いており、入力ハイウェイHWi1からHWinま
でと出力ハイウェイHWo1からHWonまでとを有する。本例
においてはn=4である。第1図に示す通話路特性監視
方式は、セルのユーザ情報の中に入線番号情報を有する
セルを試験セルとして用い、各入線に入力されるセルの
セル空塞情報により空きセルを検出してその位置に試験
セルを挿入する試験セル挿入回路A1〜A4と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セ
ルを検出し抜き出す試験セル分離回路B1〜B4と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路BS2
と、 このバス回路BS2に接続されバス上のセルを入力と
し、入力されたセルを再出力すると共に外部から与えら
れた試験開始信号から試験終了信号までの間、試験セル
の通過回数を計数し出力する計数回路C2と、 この計数回路C2から出力されるセルを入力とし、入線
番号情報の値が最老番でない場合には1だけ増加させ、
最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
番号書替回路AINCと、 外部から試験開始信号を与えられるとセル空塞情報を
セル使用中であることを示す状態に、試験セル情報を試
験セルであることを示す状態に、出線番号情報を試験開
始信号の一部として与えられる出線番号に、更に入線番
号情報を通話路の入線の最若番に設定し、試験セルを送
出すると共に外部より試験終了信号が与えられた場合に
は試験セルの送出を停止する試験制御回路C1と、 試験制御回路C1の出力を入力とし、複数方路へ試験セ
ルを分配する分配回路BS1と、 この分配回路BS1の出力を入力とし、1からnの範囲
内にある第Kの試験セル挿入回路にその出力が接続され
試験セル中の入線番号情報がKである時にのみ試験セル
挿入回路への出力を行い、それ以外の場合には入力され
たセルを出力しない試験セル通過選択回路F1〜F4とを備
えて構成されている。
第2図は自己ルーチング型通話路を通過するセルの形
式を示す構成図であり、情報転送単位であるセルは、固
定長のパケットで、そのヘッダにはユーザ情報が乗って
いるか否か(セルが使用されているか否か)を示すセル
空塞情報(本例では0が空き、1が使用中を示すものと
する)と、このセルがどの出線へ接続されるべきセルで
あるかを示す出線番号情報(本例では1からnの値)
と、このセルが試験セルであるか否かを示す試験セル情
報(本例では0が試験セル以外、1が試験セルを示すも
のとする)とが情報要素として含まれており、セルは空
きセルでない場合にのみ出線番号情報に従って自己ルー
チングで通話路内を転送され該当の出線に到達する。
第3図は試験セルの形式を示す構成図であり、ユーザ
情報の一部として入選番号情報が書かれている。
いま仮に、出力ハイウェイHWo1に対する通話路のセル
通過特性を監視するものとすると、まず、外部よりSTAR
T1の信号を与える。ここで、STARTm(m=1〜4)とは
出線番号(この場合m)をパラメータの値として含んだ
試験開始信号である。試験制御回路C1はSTART1を外部よ
り受けると、セル空塞情報=1,試験セル情報=1,出線番
号情報=1(HWo1の監視であることに対応),入線番号
情報=1を設定して試験セルを送出する。分配回路BS1
を経由して試験セル通過選択回路F1〜F4がこの試験セル
を受け取るが入線番号情報=1であることから試験セル
通過選択回路F1のみがこの試験セルを通過させる。試験
セル通過選択回路F1から送出された試験セルは、試験セ
ル挿入回路A1にてユーザが使用していない空きセルの位
置をセル空塞情報を監視することにより検出して、この
空きセル位置に試験セルを挿入し通話路へ送出する。試
験セルは出線番号情報=1であることから自己ルーチン
グにより通話路を通過し試験セル分離回路B1に入力され
る。試験セル分離回路B1では、試験セル情報を監視する
ことにより試験セルをバス回路BS2へ送出すると共に出
力ハイウェイHWo1へは空きセルを送出する。バス回路BS
2より計数回路C2へセルが入力されると、計数が行われ
ると共にセルの内容はそのままで入線番号書替回路AINC
へ送出される。入線番号書替回路AINCでは、入線番号情
報が最老番(この例では4)ではないので、1だけ増加
させ入線番号情報=2として試験制御回路C1へ送出す
る。試験制御回路C1では、この試験セルを再び分配回路
BS1へ送出する。同様の動作を繰り返すと、試験セル
は、常に試験セル分離回路B1を経由し、入線を変えなが
ら巡回を繰り返し、計数回路C2を通過するたびに計数が
行われる。試験制御回路C1に試験終了(END)信号を与
えると、試験制御回路C1は入線番号書替回路AINCより入
力されてきた試験セルの再送出を行わないようになるの
で、試験セルの巡回動作は停止し、試験開始信号から試
験終了信号の間に計数回数C2を通過した試験セルの回数
が得られる。この計数動作によって得られる通過試験セ
ル数は、入力ハイウェイHWi1〜HWi4から出力ハイウェイ
HWo1へ加わる実際のトラフィックによって変動し、出力
ハイウェイHWo1へのトラフィックが小さい場合には計数
値が大きくなり、出力ハイウェイHWo1へのトラフィック
が大きい場合には計数値が小さくなることから、出力ハ
イウェイHWo1を出線とするユーザのセルが時間的に変動
した場合の出力ハイウェイHWo1に対するセルの通過状
況、すなわち、自己ルーチング型通話路SWの実時間特性
が得られる。出力ハイウェイHWo1以外の他の出線に対す
る特性についても同様に考えることができる。
又、上記の説明において、入線番号書替回路を除去し
た構成により特定入線から特定出線への通過特性が得ら
れることは容易に推側しうる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、自己ルーチング型通
話路の特性を生かして、実トラフィックが加わった状態
での、通話路のセル通過特性を監視することができ、例
えば、同一方路に対し複数の出線が設けられているどち
らの出線を選択すべきかという場合の判断データとして
通話路の通過特性が必要な時、所要試験動作としては試
験開始信号を与え計数値を見るだけですみ、又、試験動
作中のソフトウェア制御などを伴わない簡便な通過特性
監視ができる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
自己ルーチング型通話路を通過するセルの形式を示す構
成図、第3図は試験セルの形式を示す構成図である。 SW……自己ルーチング型通話路、HWi1〜HWi4……入力ハ
イウェイ、HWo1〜HWo4……出力ハイウェイ、A1〜A4……
試験セル挿入回路、B1〜B4……試験セル分離回路、C1試
験制御回路、C2……計数回路、AINC……入線番号書替回
路、BS1……分配回路、BS2……バス回路、F1〜F4……試
験セル通過選択回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04Q 1/24 3/00 11/04

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】出線番号情報,セル空塞情報及び試験セル
    情報をヘッダに持つ固定長のセルを通話路の入出力と
    し、入力されたセルのセル空塞情報が空きセル状態でな
    いことを示している時に、出線番号情報に従い出線を選
    択する非同期転送モード方式を用いた、入線n出線nの
    自己ルーチング型通話路において、 セルのユーザ情報の中に入線番号情報を有するセルを試
    験セルとして用い、各入線に入力されるセルのセル空塞
    情報により空きセルを検出してその位置に試験セルを挿
    入するn個の試験セル挿入回路と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セル
    を検出し抜き出すn個の試験セル分離回路と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路と、 前記バス回路に接続されバス上のセルを入力とし、入力
    されたセルを再出力すると共に外部から与えられた試験
    開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの通過回
    数を計数し出力する計数回路と、 前記計数回路から出力されるセルを入力とし、前記入線
    番号情報の値が最老番でない場合には1だけ増加され、
    最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
    番号書替回路と、 外部から試験開始信号を与えられると、セル空塞情報を
    セル使用中であることを示す状態に、試験セル情報を試
    験セルであることを示す状態に、出線番号情報を試験開
    始信号の一部として与えられる出線番号に、更に入線番
    号情報を通話路の入線の最若番に設定し、試験セルを送
    出すると共に外部より試験終了信号が与えられた場合に
    は試験セルの送出を停止する試験制御回路と、 前記試験制御回路の出力を入力とし、複数方路へ試験セ
    ルを分配する分配回路と、 前記分配回路の出力を入力とし、1からnの範囲内にあ
    る第Kの試験セル挿入回路にその出力が接続され試験セ
    ル中の入線番号情報がKである時にのみ試験セル挿入回
    路への出力を行い、それ以外の場合には入力されたセル
    を出力しないn個の試験セル通過選択回路とを設け、 前記試験制御回路に試験開始信号を与え試験セルを発生
    させ、前記試験セルが、試験セル通過選択回路,前記試
    験セル挿入回路,前記通話路,前記試験セル分離回路,
    前記バス回路,前記計数回路,前記入線番号書替回路及
    び前記試験制御回路の順に特定の試験セル分離回路を通
    過しながら巡回する過程で、試験終了信号を受信するま
    での間に前記計数回路を通過する試験セル数を計数する
    ことを特徴とする通話路特性監視方式。
JP20824589A 1989-08-11 1989-08-11 通話路特性監視方式 Expired - Lifetime JPH088576B2 (ja)

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JPH06188918A (ja) * 1992-12-22 1994-07-08 Nec Corp パケット交換機
JP2553305B2 (ja) * 1993-07-13 1996-11-13 日本電気株式会社 Atmスイッチ過負荷試験装置
JP2639345B2 (ja) * 1994-06-15 1997-08-13 日本電気株式会社 Atmスイッチ試験装置

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