JPH0371750A - 通話路特性監視方式 - Google Patents
通話路特性監視方式Info
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- JPH0371750A JPH0371750A JP1208245A JP20824589A JPH0371750A JP H0371750 A JPH0371750 A JP H0371750A JP 1208245 A JP1208245 A JP 1208245A JP 20824589 A JP20824589 A JP 20824589A JP H0371750 A JPH0371750 A JP H0371750A
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- cell
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- cells
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 152
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 23
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 14
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 13
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 7
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、非同期転送モード方式を用いた自己ルーチン
グ型通話路の通話路特性監視方式に関する。
グ型通話路の通話路特性監視方式に関する。
非同期転送モード方式を用いた自己ルーチング型通話路
では、通話路内で複数の呼の情報が統計多重されて同一
の経路を通過している。
では、通話路内で複数の呼の情報が統計多重されて同一
の経路を通過している。
このため、従来の空間分割型通話路や時分割型通話路の
ように、ひとつの呼に対して必ず通話路リソースが与え
られる場合と異なり、その動作状況を実時間で監視する
必要性がある。
ように、ひとつの呼に対して必ず通話路リソースが与え
られる場合と異なり、その動作状況を実時間で監視する
必要性がある。
本発明の目的は、非同期転送モード方式を用いた自己ル
ーチング型通話路における特定出線に対するセルの通過
特性を監視することができる通話路特性監視方式を提供
することにある。
ーチング型通話路における特定出線に対するセルの通過
特性を監視することができる通話路特性監視方式を提供
することにある。
本発明の通話路特性監視方式は、出線番号情報、セル空
塞情報及び試験セル情報をヘッダに持つ固定長のセルを
通話路の入出力とし、入力されたセルのセル空塞情報が
空きセル状態でないことを示している時に、出線番号情
報に従い出線を選択する非同期転送モード方式を用いた
、入線ｎ出線ｎの自己ルーチング型通話路において、セ
ルのユーザ情報の中に入線番号情報を有するセルを試験
セルとして用い、各入線に入力されるセルのセル空塞情
報により空きセルを検出してその位置に試験セルを挿入
するｎ個の試験セル挿入回路と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セル
を検出し抜き出すｎ個の試験セル分離回路と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路と、 前記バス回路に接続されバス上のセルを入力とし、入力
されたセルを再出力すると共に外部から与えられた試験
開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの通過回
数を計数し出力する計数回路と、 前記計数回路から出力されるセルを入力とし、前記入線
番号情報の値が最老番でない場合には１だけ増加させ、
最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
番号書替回路と、外部から試験開始信号を与えられると
、セル空塞情報をセル使用中であることを示す状態に、
試験セル情報を試験セルであることを示す状態に、出線
番号情報を試験開始信号の一部として与えられる出線番
号に、更に入線番号情報を通話路の入線の最若番に設定
し、試験セルを送出すると共に外部より試験終了信号が
与えられた場合には試験セルの送出を停止する試験制御
回路と、前記試験制御回路の出力を入力とし、複数方路
へ試験セルを分配する分配回路と、 前記分配回路の出力を入力とし、１がらｎの範囲内にあ
る第にの試験セル挿入回路にその出力が接続され試験セ
ル中の入線番号情報がにである時にのみ試験セル挿入回
路への出力を行い、それ以外の場合には入力されたセル
を出力しないｎ個の試験セル通過選択回路とを設け、 前記試験制御回路に試験開始信号を与え試験セルを発生
させ、前記試験セルが、試験セル通過選択回路、前記試
験セル挿入回路、前記通話路、前記試験セル分離回路、
前記バス回路、前記計数回路、前記入線番号書替回路及
び前記試験制御回路の順に特定の試験セル分離回路を通
過しながら巡回する過程で、試験終了信号を受信するま
での間に前記計数回路を通過する試験セル数を計数する
よう構成されている。
塞情報及び試験セル情報をヘッダに持つ固定長のセルを
通話路の入出力とし、入力されたセルのセル空塞情報が
空きセル状態でないことを示している時に、出線番号情
報に従い出線を選択する非同期転送モード方式を用いた
、入線ｎ出線ｎの自己ルーチング型通話路において、セ
ルのユーザ情報の中に入線番号情報を有するセルを試験
セルとして用い、各入線に入力されるセルのセル空塞情
報により空きセルを検出してその位置に試験セルを挿入
するｎ個の試験セル挿入回路と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セル
を検出し抜き出すｎ個の試験セル分離回路と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路と、 前記バス回路に接続されバス上のセルを入力とし、入力
されたセルを再出力すると共に外部から与えられた試験
開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの通過回
数を計数し出力する計数回路と、 前記計数回路から出力されるセルを入力とし、前記入線
番号情報の値が最老番でない場合には１だけ増加させ、
最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
番号書替回路と、外部から試験開始信号を与えられると
、セル空塞情報をセル使用中であることを示す状態に、
試験セル情報を試験セルであることを示す状態に、出線
番号情報を試験開始信号の一部として与えられる出線番
号に、更に入線番号情報を通話路の入線の最若番に設定
し、試験セルを送出すると共に外部より試験終了信号が
与えられた場合には試験セルの送出を停止する試験制御
回路と、前記試験制御回路の出力を入力とし、複数方路
へ試験セルを分配する分配回路と、 前記分配回路の出力を入力とし、１がらｎの範囲内にあ
る第にの試験セル挿入回路にその出力が接続され試験セ
ル中の入線番号情報がにである時にのみ試験セル挿入回
路への出力を行い、それ以外の場合には入力されたセル
を出力しないｎ個の試験セル通過選択回路とを設け、 前記試験制御回路に試験開始信号を与え試験セルを発生
させ、前記試験セルが、試験セル通過選択回路、前記試
験セル挿入回路、前記通話路、前記試験セル分離回路、
前記バス回路、前記計数回路、前記入線番号書替回路及
び前記試験制御回路の順に特定の試験セル分離回路を通
過しながら巡回する過程で、試験終了信号を受信するま
での間に前記計数回路を通過する試験セル数を計数する
よう構成されている。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
ｎＸｎの自己ルーチング型通話路ＳＷは、非同期転送モ
ード方式を用いており、入力ハイウエイＨＷｉｌからＨ
Ｗｉｎまでど出力ハイウエイＨＷｏ１からＨＷｏｎまで
とを有する。本例においてはｎ＝４である。第１図に示
す通話路特性監視方式は、セルのユーザ情報の中に入線
番号情報を有するセルを試験セルとして用い、各入線に
入力されるセルのセル空塞情報により空きセルを検出し
てその位置に試験セルを挿入する試験セル挿入回路Ａ１
〜Ａ４と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セル
を検出し抜き出す試験セル分離回路Ｂｌ〜Ｂ４と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路ＢＳ２
と、 このバス回路ＢＳ２に接続されバス上のセルを入力とし
、入力されたセルを再出力すると共に外部から与えられ
た試験開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの
通過回数を計数し出力する計数回路Ｃ２と、 この計数回路Ｃ２から出力されるセルを入力とし、入線
番号情報の値が最老番でない場合には１だけ増加させ、
最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
番号書替回路ＡＩＮＣと、外部から試験開始信号を与え
られるとセル空塞情報をセル使用中であることを示す状
態に、試験セル情報を試験セルであることを示す状態に
、出線番号情報を試験開始信号の一部として与えられる
出線番号に、更に入線番号情報を通話路の入線の最若番
に設定し、試験セルを送出すると共に外部より試験終了
信号が与えられた場合には試験セルの送出を停止する試
験制御回路Ｃ１と、試験制御回路Ｃ１の出力を入力とし
、複数方路へ試験セルを分配する分配回路ＢＳｌと、こ
の分配回路ＢＳＩの出力を入力とし、ｌからｎの範囲内
にある第にの試験セル挿入回路にその出力が接続され試
験セル中の入線番号情報がにである時にのみ試験セル挿
入回路への出力を行い、それ以外の場合には入力された
セルを出力しない試験セル通過選択回路Ｆｌ−Ｆ４とを
備えて構成されている。
ード方式を用いており、入力ハイウエイＨＷｉｌからＨ
Ｗｉｎまでど出力ハイウエイＨＷｏ１からＨＷｏｎまで
とを有する。本例においてはｎ＝４である。第１図に示
す通話路特性監視方式は、セルのユーザ情報の中に入線
番号情報を有するセルを試験セルとして用い、各入線に
入力されるセルのセル空塞情報により空きセルを検出し
てその位置に試験セルを挿入する試験セル挿入回路Ａ１
〜Ａ４と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セル
を検出し抜き出す試験セル分離回路Ｂｌ〜Ｂ４と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路ＢＳ２
と、 このバス回路ＢＳ２に接続されバス上のセルを入力とし
、入力されたセルを再出力すると共に外部から与えられ
た試験開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの
通過回数を計数し出力する計数回路Ｃ２と、 この計数回路Ｃ２から出力されるセルを入力とし、入線
番号情報の値が最老番でない場合には１だけ増加させ、
最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
番号書替回路ＡＩＮＣと、外部から試験開始信号を与え
られるとセル空塞情報をセル使用中であることを示す状
態に、試験セル情報を試験セルであることを示す状態に
、出線番号情報を試験開始信号の一部として与えられる
出線番号に、更に入線番号情報を通話路の入線の最若番
に設定し、試験セルを送出すると共に外部より試験終了
信号が与えられた場合には試験セルの送出を停止する試
験制御回路Ｃ１と、試験制御回路Ｃ１の出力を入力とし
、複数方路へ試験セルを分配する分配回路ＢＳｌと、こ
の分配回路ＢＳＩの出力を入力とし、ｌからｎの範囲内
にある第にの試験セル挿入回路にその出力が接続され試
験セル中の入線番号情報がにである時にのみ試験セル挿
入回路への出力を行い、それ以外の場合には入力された
セルを出力しない試験セル通過選択回路Ｆｌ−Ｆ４とを
備えて構成されている。
第２図は自己ルーチング型通話路を通過するセルの形式
を示す構成図であり、情報転送単位であるセルは、固定
長のパケットで、そのヘッダにはユーザ情報が乗ってい
るか否か（セルが使用されているか否か）を示すセル空
塞情報（本例ではＯが空き、１が使用中を示すものとす
る）と、このセルがどの出線へ接続されるべきセルであ
るかを示す出線番号情報（本例では１からｎの値〉と、
このセルが試験セルであるか否かを示す試験セル情報（
本例ではＯが試験セル以外、１が試験セルを示すものと
する）とが情報要素として含まれており、セルは空きセ
ルでない場合にのみ出線番号情報に従って自己ルーチン
グで通話路内を転送され該当の出線に到達する。
を示す構成図であり、情報転送単位であるセルは、固定
長のパケットで、そのヘッダにはユーザ情報が乗ってい
るか否か（セルが使用されているか否か）を示すセル空
塞情報（本例ではＯが空き、１が使用中を示すものとす
る）と、このセルがどの出線へ接続されるべきセルであ
るかを示す出線番号情報（本例では１からｎの値〉と、
このセルが試験セルであるか否かを示す試験セル情報（
本例ではＯが試験セル以外、１が試験セルを示すものと
する）とが情報要素として含まれており、セルは空きセ
ルでない場合にのみ出線番号情報に従って自己ルーチン
グで通話路内を転送され該当の出線に到達する。
第３図は試験セルの形式を示す構成図であり、ユーザ情
報の一部として入線番号情報が書かれている。
報の一部として入線番号情報が書かれている。
いま仮に、出力ハイウェイＨＷｏｌに対する通話路のセ
ル通過特性を監視するものとすると、まず、外部より５
ＴＡＲＴＩの信号を与える。ここで、ＳＴＡＲＴｍ（ｎ
＋＝ １〜４ ）とは出線番号〈この場合ｍ）をパラメ
ータの値として含んだ試験開始信号である。試験制御回
路Ｃ１は５ＴＡＲＴＩを外部より受けると、セル空塞情
報＝１．試験セル情報＝１．出線番号情報〜１（ＨＷｏ
ｌの監視であることに対応）、入線番号情報〜１を設定
して試験セルを送出する。分配回路ＢＳｌを経由して試
験セル通過選択回路Ｆ１〜Ｆ４がこの試験セルを受は取
るが入線番号情報＝１であることから試験セル通過選択
回路Ｆ１のみがこの試験セルを通過させる。試験セル通
過選択回路Ｆ１から送出された試験セルは、試験セル挿
入回路Ａ１にてユーザが使用していない空きセルの位置
をセル空塞情報を監視することにより検出して、この空
きセル位置に試験セルを挿入し通話路へ送出する。試験
セルは出線番号情報＝１であることから自己ルーチング
により通話路を通過し試験セル分離回路Ｂ１に入力され
る。試験セル分離回路Ｂ１では、試験セル情報を監視す
ることにより試験セルをバス回路ＢＳ２へ送出すると共
に出力ハイウェイＨＷｏｌへは空きセルを送出する。バ
ス回路ＢＳ２より計数回路Ｃ２ヘセルが入力されると、
計数が行われると共にセルの内容はそのままで入線番号
書替回路ＡＩＮＣへ送出される。入線番号書替回路ＡＩ
ＮＣでは、入線番号情報が最老番（この例では４〉では
ないので、１だけ増加させ入線番号情報＝２として試験
制御回路Ｃ１へ送出する。試験制御回路Ｃ１では、この
試験セルを再び分配回路ＢＳＩへ送出する。同様の動作
を繰り返すと、試験セルは、常に試験セル分離回路Ｂｌ
を経由し、入線を変えながら巡回を繰り返し、計数回路
Ｃ２を通過するたびに計数が行われる。試験制御回路Ｃ
１に試験終了（ＥＮＤ）信号を与えると、試験制御回路
Ｃ１は入線番号書替回路ＡＩＮＣより入力されてきた試
験セルの再送出を行わないようになるので、試験セルの
巡回動作は停止し、試験開始信号から試験終了信号の間
に計数回路Ｃ２を通過した試験セルの回数が得られる。
ル通過特性を監視するものとすると、まず、外部より５
ＴＡＲＴＩの信号を与える。ここで、ＳＴＡＲＴｍ（ｎ
＋＝ １〜４ ）とは出線番号〈この場合ｍ）をパラメ
ータの値として含んだ試験開始信号である。試験制御回
路Ｃ１は５ＴＡＲＴＩを外部より受けると、セル空塞情
報＝１．試験セル情報＝１．出線番号情報〜１（ＨＷｏ
ｌの監視であることに対応）、入線番号情報〜１を設定
して試験セルを送出する。分配回路ＢＳｌを経由して試
験セル通過選択回路Ｆ１〜Ｆ４がこの試験セルを受は取
るが入線番号情報＝１であることから試験セル通過選択
回路Ｆ１のみがこの試験セルを通過させる。試験セル通
過選択回路Ｆ１から送出された試験セルは、試験セル挿
入回路Ａ１にてユーザが使用していない空きセルの位置
をセル空塞情報を監視することにより検出して、この空
きセル位置に試験セルを挿入し通話路へ送出する。試験
セルは出線番号情報＝１であることから自己ルーチング
により通話路を通過し試験セル分離回路Ｂ１に入力され
る。試験セル分離回路Ｂ１では、試験セル情報を監視す
ることにより試験セルをバス回路ＢＳ２へ送出すると共
に出力ハイウェイＨＷｏｌへは空きセルを送出する。バ
ス回路ＢＳ２より計数回路Ｃ２ヘセルが入力されると、
計数が行われると共にセルの内容はそのままで入線番号
書替回路ＡＩＮＣへ送出される。入線番号書替回路ＡＩ
ＮＣでは、入線番号情報が最老番（この例では４〉では
ないので、１だけ増加させ入線番号情報＝２として試験
制御回路Ｃ１へ送出する。試験制御回路Ｃ１では、この
試験セルを再び分配回路ＢＳＩへ送出する。同様の動作
を繰り返すと、試験セルは、常に試験セル分離回路Ｂｌ
を経由し、入線を変えながら巡回を繰り返し、計数回路
Ｃ２を通過するたびに計数が行われる。試験制御回路Ｃ
１に試験終了（ＥＮＤ）信号を与えると、試験制御回路
Ｃ１は入線番号書替回路ＡＩＮＣより入力されてきた試
験セルの再送出を行わないようになるので、試験セルの
巡回動作は停止し、試験開始信号から試験終了信号の間
に計数回路Ｃ２を通過した試験セルの回数が得られる。
この計数動作によって得られる通過試験セル数は、入力
ハイウェイＨＷｉｌ〜ＨＷｉ４から出力ハイウェイＨＷ
ｏｌへ加わる実際のトラフィックによって変動し、出力
ハイウェイＨＷｏｌへのトラフィックが小さい場合には
計数値が大きくなり、出力ハイウェイＨＷｏｌへのトラ
フィックが大きい場合には計数値が小さくなることから
、出力ハイウェイＨＷｏｌを出線とするユーザのセルが
時間的に変動した場合の出力ハイウェイＨＷｏｌに対す
るセルの通過状況、すなわち、自己ルーチング型通話路
ＳＷの実時間特性が得られる。出力ハイウェイＨＷｏｌ
以外の他の出線に対する特性についても同様に考えるこ
とができる。
ハイウェイＨＷｉｌ〜ＨＷｉ４から出力ハイウェイＨＷ
ｏｌへ加わる実際のトラフィックによって変動し、出力
ハイウェイＨＷｏｌへのトラフィックが小さい場合には
計数値が大きくなり、出力ハイウェイＨＷｏｌへのトラ
フィックが大きい場合には計数値が小さくなることから
、出力ハイウェイＨＷｏｌを出線とするユーザのセルが
時間的に変動した場合の出力ハイウェイＨＷｏｌに対す
るセルの通過状況、すなわち、自己ルーチング型通話路
ＳＷの実時間特性が得られる。出力ハイウェイＨＷｏｌ
以外の他の出線に対する特性についても同様に考えるこ
とができる。
又、上記の説明において、入線番号書替回路を除去した
構成により特定入線から特定出線への通過特性が得られ
ることは容易に推測しうる。
構成により特定入線から特定出線への通過特性が得られ
ることは容易に推測しうる。
以上説明したように、本発明は、自己ルーチング型通話
路の特性を生かして、実トラフィックが加わった状態で
の、通話路のセル通過特性を監視することができ、例え
ば、同一方路に対し複数の出線が設けられていてどちら
の出線を選択すべきかという場合の判断データとして通
話路の通過特性が必要な時、所要試験動作としては試験
開始信号を与え計数値を見るだけですみ、又、試験動作
中のソフトウェア制御などを伴わない簡便な通過特性監
視ができる効果を有する。
路の特性を生かして、実トラフィックが加わった状態で
の、通話路のセル通過特性を監視することができ、例え
ば、同一方路に対し複数の出線が設けられていてどちら
の出線を選択すべきかという場合の判断データとして通
話路の通過特性が必要な時、所要試験動作としては試験
開始信号を与え計数値を見るだけですみ、又、試験動作
中のソフトウェア制御などを伴わない簡便な通過特性監
視ができる効果を有する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
自己ルーチング型通話路を通過するセルの形式を示す構
成図、第３図は試験セルの形式を示す構成図である。 ＳＷ・・・・・・自己ルーチング型通話路、ＨＷｉｌ〜
ＨＷｉ４・・・・・・入力ハイウェイ、ＨＷｏｌ〜ＨＷ
。 ４・・・・・・出力ハイウェイ、Ａ１−Ａ４・・・・・
・試験セル挿入回路、Ｂ１〜Ｂ４・・・・・・試験セル
分離回路、Ｃ１・・・・・・試験制御回路、Ｃ２・・・
・・・計数回路、ＡＩＮＣ・・・・・・入線番号書替回
路、ＢＳｌ・・・・・・分配回路、ＢＳ２・・・・・・
バス回路、Ｆ１〜Ｆ４・・・・・・試験セル通過選択回
路。
自己ルーチング型通話路を通過するセルの形式を示す構
成図、第３図は試験セルの形式を示す構成図である。 ＳＷ・・・・・・自己ルーチング型通話路、ＨＷｉｌ〜
ＨＷｉ４・・・・・・入力ハイウェイ、ＨＷｏｌ〜ＨＷ
。 ４・・・・・・出力ハイウェイ、Ａ１−Ａ４・・・・・
・試験セル挿入回路、Ｂ１〜Ｂ４・・・・・・試験セル
分離回路、Ｃ１・・・・・・試験制御回路、Ｃ２・・・
・・・計数回路、ＡＩＮＣ・・・・・・入線番号書替回
路、ＢＳｌ・・・・・・分配回路、ＢＳ２・・・・・・
バス回路、Ｆ１〜Ｆ４・・・・・・試験セル通過選択回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 出線番号情報、セル空塞情報及び試験セル情報をヘッ
ダに持つ固定長のセルを通話路の入出力とし、入力され
たセルのセル空塞情報が空きセル状態でないことを示し
ている時に、出線番号情報に従い出線を選択する非同期
転送モード方式を用いた、入線ｎ出線ｎの自己ルーチン
グ型通話路において、 セルのユーザ情報の中に入線番号情報を有するセルを試
験セルとして用い、各入線に入力されるセルのセル空塞
情報により空きセルを検出してその位置に試験セルを挿
入するｎ個の試験セル挿入回路と、 各出線から出力されるセルの試験セル情報より試験セル
を検出し抜き出すｎ個の試験セル分離回路と、 各試験セル分離回路の出力を論理和するバス回路と、 前記バス回路に接続されバス上のセルを入力とし、入力
されたセルを再出力すると共に外部から与えられた試験
開始信号から試験終了信号までの間、試験セルの通過回
数を計数し出力する計数回路と、 前記計数回路から出力されるセルを入力とし、前記入線
番号情報の値が最老番でない場合には１だけ増加させ、
最老番である場合には最若番に書き替えて送出する入線
番号書替回路と、 外部から試験開始信号を与えられると、セル空塞情報を
セル使用中であることを示す状態に、試験セル情報を試
験セルであることを示す状態に、出線番号情報を試験開
始信号の一部として与えられる出線番号に、更に入線番
号情報を通話路の入線の最若番に設定し、試験セルを送
出すると共に外部より試験終了信号が与えられた場合に
は試験セルの送出を停止する試験制御回路と、 前記試験制御回路の出力を入力とし、複数方路へ試験セ
ルを分配する分配回路と、 前記分配回路の出力を入力とし、１からｎの範囲内にあ
る第にの試験セル挿入回路にその出力が接続され試験セ
ル中の入線番号情報がにである時にのみ試験セル挿入回
路への出力を行い、それ以外の場合には入力されたセル
を出力しないｎ個の試験セル通過選択回路とを設け、 前記試験制御回路に試験開始信号を与え試験セルを発生
させ、前記試験セルが、試験セル通過選択回路、前記試
験セル挿入回路、前記通話路、前記試験セル分離回路、
前記バス回路、前記計数回路、前記入線番号書替回路及
び前記試験制御回路の順に特定の試験セル分離回路を通
過しながら巡回する過程で、試験終了信号を受信するま
での間に前記計数回路を通過する試験セル数を計数する
ことを特徴とする通話路特性監視方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20824589A JPH088576B2 (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 通話路特性監視方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20824589A JPH088576B2 (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 通話路特性監視方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0371750A true JPH0371750A (ja) | 1991-03-27 |
| JPH088576B2 JPH088576B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=16553057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20824589A Expired - Lifetime JPH088576B2 (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 通話路特性監視方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088576B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06188918A (ja) * | 1992-12-22 | 1994-07-08 | Nec Corp | パケット交換機 |
| JPH0730552A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-01-31 | Nec Corp | Ａｔｍスイッチ過負荷試験装置 |
| JPH088916A (ja) * | 1994-06-15 | 1996-01-12 | Nec Corp | Ａｔｍスイッチ試験装置 |
-
1989
- 1989-08-11 JP JP20824589A patent/JPH088576B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06188918A (ja) * | 1992-12-22 | 1994-07-08 | Nec Corp | パケット交換機 |
| JPH0730552A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-01-31 | Nec Corp | Ａｔｍスイッチ過負荷試験装置 |
| JPH088916A (ja) * | 1994-06-15 | 1996-01-12 | Nec Corp | Ａｔｍスイッチ試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH088576B2 (ja) | 1996-01-29 |
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