JPH08274778A

JPH08274778A - 通信路診断方式

Info

Publication number: JPH08274778A
Application number: JP7313795A
Authority: JP
Inventors: Takayuki Kishida; 高幸岸田; Yasuo Ogasawara; 康夫小笠原; Hiroshi Adachi; 博足立
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1995-03-30
Filing date: 1995-03-30
Publication date: 1996-10-18

Abstract

(57)【要約】【目的】広帯域交換機における通信路診断方式に関
し、広帯域交換機における通信路の診断を、極力信頼高
く、且つ極力時間と労力を費やすこと無く実行可能とす
ることを目的とする。【構成】広帯域交換機の通信路設定装置（１００）内
に設定される総ての診断対象通信路の往路および復路の
それぞれ対応する所定位置に、試験セル送信手段（２０
０）から診断対象通信路に試験セルを送信した場合に、
往路および復路の所定位置を通過する試験セル数を計数
する計数手段（１１０）を設け、各計数手段（１１０）
に共通に、各計数手段（１１０）の計数値を収集し、比
較する計数値比較手段（４００）を設け、各所定位置に
対応して設置された計数手段（１１０）の計数値の一致
・不一致により、通信路設定装置（１００）内の罹障範
囲を決定する様に構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、広帯域交換機における
通信路診断方式に関し、特にセルの通信路を設定する通
信路設定装置内に診断対象通信路を設定し、入力端から
試験セルを送信して出力端に返送される試験セルを受信
・検討することにより、通信路設定装置の正常性を診断
する広帯域交換機における通信路診断方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】図４は従来ある広帯域交換機を例示する
図であり、図５は図４における試験セル折返し回路を例
示する図であり、図６は本発明の対象とするセルの構成
を例示する図である。

【０００３】図４に示される広帯域交換機は、それぞれ
伝送方向の相反する一対のスイッチ装置（ＳＷ）（１）
〔個々のスイッチ装置（ＳＷ）を（１_F）および
（１_B）と称する〕と、前記両スイッチ装置（ＳＷ）
（１）の入力端および出力端に接続され、通信回線を両
スイッチ装置（ＳＷ）（１）に収容する複数の多重分離
装置（ＭＤＸ）（２）〔個々の多重分離装置（ＭＤＸ）
を（２₁）、（２₂）等と称する〕と、前記スイッチ装
置（ＳＷ）（１）および多重分離装置（ＭＤＸ）（２）
を制御して往復通信路を設定する制御プロセッサ（Ｃ
Ｐ）（３）とを具備している。

【０００４】なお図４においては、スイッチ装置（Ｓ
Ｗ）（１_F）の入力端とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）
の対応する出力端とに接続される一組の多重分離装置
（ＭＤＸ）（２₁）と、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）
の出力端とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）の対応する入
力端とに接続される一組の多重分離装置（ＭＤＸ）（２
₂）とが示されている。

【０００５】各スイッチ装置（ＳＷ）（１）内には、複
数のセルスイッチ素子（１１）が設けられている。また
各多重分離装置（ＭＤＸ）（２）は、それぞれ複数のパ
ッケージ（Ｐ）に分離実装されており、且つパッケージ
（Ｐ）には、試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１）が設
けられている。

【０００６】各試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１）
は、図５に例示される如く、試験セル分岐部（２１
１）、折返し制御部（２１２）および試験セル挿入部
（２１３）から構成されており、入力通信往路（２１
４）から到着するセルは、試験セル分岐部（２１１）に
より受信される。

【０００７】試験セル分岐部（２１１）は、受信したセ
ルを解析し、受信セルが試験セル（ＴＣ）以外であれ
ば、出力通信往路（２１５）に出力するが、受信セルが
試験セル（ＴＣ）であれば、分岐通信路（２１８）を経
由して折返し制御部（２１２）に伝達する。

【０００８】折返し制御部（２１２）は、制御プロセッ
サ（ＣＰ）（３）から制御信号路（２１Ａ）を経由して
折返し指示を入力されていない場合には、試験セル分岐
部（２１１）から伝達された試験セル（ＴＣ）を放置す
るが、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）から制御信号路
（２１Ａ）を経由して折返し指示を入力されている場合
には、試験セル分岐部（２１１）から伝達された試験セ
ル（ＴＣ）を、折返し通信路（２１９）を経由して試験
セル挿入部（２１３）に伝達する。

【０００９】試験セル挿入部（２１３）は、折返し制御
部（２１２）から試験セル（ＴＣ）が伝達されていない
場合には、入力通信復路（２１６）から到着するセル
に、試験セル（ＴＣ）を挿入すること無く、出力通信復
路（２１７）に出力するが、折返し制御部（２１２）か
ら試験セル（ＴＣ）が伝達されている場合には、入力通
信復路（２１６）から到着するセルに、試験セル（Ｔ
Ｃ）を挿入し、出力通信復路（２１７）に出力する。

【００１０】更に各多重分離装置（ＭＤＸ）（２）に
は、タグ生成部（ＴＧ）（２２）が設けられており、通
信路から到着するセルに、スイッチ装置（ＳＷ）（１）
内の通過経路を決定するタグ（ＴＡＧ）を、図６に示す
如く付加する。

【００１１】なおスイッチ装置（ＳＷ）（１）は、セル
に付加されているタグ（ＴＡＧ）に従ってセルの転送経
路を選択するセルスイッチ素子（Ｘ）（１１）のみで構
成されている為、試験セル折返し回路（ＬＰ）およびタ
グ生成部（ＴＧ）を各セルスイッチ素子（Ｘ）（１１）
間に設けることは極めて困難であり、殆ど不可能に等し
い。

【００１２】図４乃至図６において、制御プロセッサ
（ＣＰ）（３）が、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）と
（２₂）との間に、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）およ
び（１ _B）を経由して設定される通信路の診断を実行す
る場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）の通信回
線接続端子に試験装置（ＴＳＴ）（４）を接続し、多重
分離装置（ＭＤＸ）（２₁）内の各試験セル折返し回路
（ＬＰ）（２１₁₁）乃至（２１₁₃）には一切折返し指示
を伝達せず、また多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）内の
試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₃）のみに折返し指
示を伝達し、更に多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）のタ
グ生成部（ＴＧ）（２２₁）には、スイッチ装置（Ｓ
Ｗ）（１_F）に送信するセルに、セルスイッチ素子
（Ｘ）（１１_F11）、（１１_F22）および（１１_F32）
を通過する診断対象経路を経由して多重分離装置（ＭＤ
Ｘ）（２₂）に伝達し得るタグ（ＴＡＧ）を付加する如
き指示を伝達すると共に、多重分離装置（ＭＤＸ）（２
₂）のタグ生成部（ＴＧ）（２２₂）には、スイッチ装
置（ＳＷ）（１_B）に送信するセルに、セルスイッチ素
子（１１_B12）、（１１_B22）および（１１_B31）を通
過する、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）内の診断対象経
路と対応する診断対象経路を経由して多重分離装置（Ｍ
ＤＸ）（２₁）に伝達し得るタグ（ＴＡＧ）を付加する
如き指示を伝達する。

【００１３】かかる状態で、制御プロセッサ（ＣＰ）
（３）は、試験装置（ＴＳＴ）（４）内の試験セル送信
部（ＴＣＳ）（４１）に、所定数の試験セル（ＴＣ）を
作成し、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）に順次送信す
る指示を伝達し、試験セル受信部（ＴＣＲ）（４２）に
は、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）から返送される試
験セル（ＴＣ）を、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）に転
送する指示を伝達する。

【００１４】試験装置（ＴＳＴ）（４）においては、試
験セル送信部（ＴＣＳ）（４１）が、所定数の試験セル
（ＴＣ）を作成し、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）に
順次送信する。

【００１５】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）は、試験
装置（ＴＳＴ）（４）から送信された試験セル（ＴＣ）
を、各試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₁₁）、（２１
₁₂）および（２１₁₃）により折返すこと無く、タグ生成
部（ＴＧ）（２２₁）により前述の診断対象経路を指定
するタグ（ＴＡＧ）を付加し、スイッチ装置（ＳＷ）
（１_F）に転送する。

【００１６】スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）は、多重分
離装置（ＭＤＸ）（２₁）から返送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、付加されているタグ（ＴＡＧ）に従って、セル
スイッチ素子（Ｘ）（１１_F11）、（１１_F22）および
（１１_F32）を経由して多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₂）に転送する。

【００１７】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）は、スイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_F）から返送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₁）および
（２１₂₂）によっては折返すこと無く、試験セル折返し
回路（ＬＰ）（２１₂₃）により折返し返送し、タグ生成
部（ＴＧ）（２２₂）により前述の診断対象経路を指定
するタグ（ＴＡＧ）を付加し、スイッチ装置（ＳＷ）
（１_B）に返送する。

【００１８】スイッチ装置（ＳＷ）（１_B）は、多重分
離装置（ＭＤＸ）（２₂）から転送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、付加されているタグ（ＴＡＧ）に従って、セル
スイッチ素子（Ｘ）（１１_B12）、（１１_B22）および
（１１_B31）を経由して多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）に返送する。

【００１９】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）は、スイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_B）から転送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、各試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₁₁）、
（２１ ₁₂）および（２１₁₃）を介して試験装置（ＴＳ
Ｔ）（４）に返送する。

【００２０】試験装置（ＴＳＴ）（４）においては、試
験セル受信部（ＴＣＲ）（４２）が、多重分離装置（Ｍ
ＤＸ）（２₁）から順次返送された試験セル（ＴＣ）
を、それぞれ制御プロセッサ（ＣＰ）（３）に転送す
る。

【００２１】制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、試験セ
ル送信部（ＴＣＳ）（４１）に送信させた各試験セル
（ＴＣ）と、試験セル受信部（ＴＣＲ）（４２）から返
送された各試験セル（ＴＣ）とをそれぞれ比較し、両試
験セル（ＴＣ）数が一致し、且つ各試験セル（ＴＣ）の
構成に不一致が無いことを確認した場合には、多重分離
装置（ＭＤＸ）（２₁）、スイッチ装置（ＳＷ）
（１_F）および（１_B）内の前記診断対象経路、並びに
多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）を経由する試験対象通
信路が正常であると判定する。

【００２２】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、前記試験対
象通信路の何処かに障害が発生していると判定し、次に
障害発生位置を限定する診断に移行する。

【００２３】先ず制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、多
重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）に伝達していた折返し指
示を、試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₃）から試験
セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₂）に変更し、それ以外
は前述と同様の指示を伝達して診断を実行し、前述と同
様に、送信した試験セル（ＴＣ）と、返送された試験セ
ル（ＴＣ）とを比較する。

【００２４】比較の結果、両試験セル（ＴＣ）数が一致
し、且つ各試験セル（ＴＣ）の構成に不一致が無いこと
を確認した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）
のパッケージ（Ｐ₂₃）を罹障箇所と判定する。

【００２５】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、障害がパッ
ケージ（Ｐ₂₃）以外の前記試験対象通信路に発生してい
ると判定し、更に多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）に伝
達していた折返し指示を、試験セル折返し回路（ＬＰ）
（２１₂₂）から試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₁）
に変更し、それ以外は前述と同様の指示を伝達して診断
を実行し、前述と同様に、送信した試験セル（ＴＣ）
と、返送された試験セル（ＴＣ）とを比較する。

【００２６】比較の結果、両試験セル（ＴＣ）数が一致
し、且つ各試験セル（ＴＣ）の構成に不一致が無いこと
を確認した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）
のパッケージ（Ｐ₂₂）を罹障箇所と判定する。

【００２７】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、障害がパッ
ケージ（Ｐ₂₃）および（Ｐ₂₂）以外の前記試験対象通信
路に発生していると判定し、更に多重分離装置（ＭＤ
Ｘ）（２₂）の試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₁）
に伝達していた折返し指示を、多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）の試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₁₃）に変
更し、それ以外は前述と同様の指示を伝達して診断を実
行し、前述と同様に、送信した試験セル（ＴＣ）と、返
送された試験セル（ＴＣ）とを比較する。

【００２８】比較の結果、両試験セル（ＴＣ）数が一致
し、且つ各試験セル（ＴＣ）の構成に不一致が無いこと
を確認した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）
のパッケージ（Ｐ₂₁）、スイッチ装置（ＳＷ）
（１_F）、またはスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）を罹障
箇所と判定する。

【００２９】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、障害が多重
分離装置（ＭＤＸ）（２₁）内の前記試験対象通信路に
発生していると判定し、更に多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）に伝達していた折返し指示を、試験セル折返し
回路（ＬＰ）（２１₁₃）から試験セル折返し回路（Ｌ
Ｐ）（２１₁₂）に変更し、それ以外は前述と同様の指示
を伝達して診断を実行し、前述と同様に、送信した試験
セル（ＴＣ）と、返送された試験セル（ＴＣ）とを比較
する。

【００３０】比較の結果、両試験セル（ＴＣ）数が一致
し、且つ各試験セル（ＴＣ）の構成に不一致が無いこと
を確認した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）
のパッケージ（Ｐ₁₃）を罹障箇所と判定する。

【００３１】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、多重分離装
置（ＭＤＸ）（２₂）、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）
および（１_B）、並びに多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）のパッケージ（Ｐ₁₃）以外の前記試験対象通信
路に発生していると判定し、更に多重分離装置（ＭＤ
Ｘ）（２₁）に伝達していた折返し指示を、試験セル折
返し回路（ＬＰ）（２１₁₂）から試験セル折返し回路
（ＬＰ）（２１₁₁）に変更し、それ以外は前述と同様の
指示を伝達して診断を実行し、前述と同様に、送信した
試験セル（ＴＣ）と、返送された試験セル（ＴＣ）とを
比較する。

【００３２】比較の結果、両試験セル（ＴＣ）数が一致
し、且つ各試験セル（ＴＣ）の構成に不一致が無いこと
を確認した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）
のパッケージ（Ｐ₁₂）を罹障箇所と判定する。

【００３３】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、多重分離装
置（ＭＤＸ）（２₂）、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）
および（１_B）、並びに多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）のパッケージ（Ｐ₁₃）および（Ｐ₁₂）以外の前
記試験対象通信路、即ち多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）のパッケージ（Ｐ₁₁）の前記試験対象通信路ま
たは試験装置（ＴＳＴ）（４）に発生していると判定
し、パッケージ（Ｐ₁₁）および試験装置（ＴＳＴ）
（４）を個別に診断する。

【００３４】

【発明が解決しようとする課題】以上の説明から明らか
な如く、従来ある広帯域交換機においては、通信路の診
断を実行する為に、多重分離装置（ＭＤＸ）（２）の各
パッケージ（Ｐ）にそれぞれ試験セル折返し回路（Ｌ
Ｐ）（２１）を設け、折返し指示を任意の試験セル折返
し回路（ＬＰ）（２１）に伝達し、試験装置（ＴＳＴ）
（４）から試験セル（ＴＣ）を送信させ、返送される試
験セル（ＴＣ）と比較することにより、罹障箇所を特定
していたが、障害発生箇所を限定する為には、折返し指
示を伝達する試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１）を順
次移動させ乍ら、同様の診断を繰返す必要があり、多大
の時間と労力を費やす恐れがあり、またスイッチ装置
（ＳＷ）（１）内には、前述の如く、試験セル折返し回
路（ＬＰ）（２１）およびタグ生成部（ＴＧ）（２２）
を設けることが極めて困難であり、確実に罹障箇所を限
定することが必ずしも可能では無く、診断の信頼性が低
下する問題があった。

【００３５】本発明は、広帯域交換機における通信路の
診断を、極力信頼高く、且つ極力時間と労力を費やすこ
と無く実行可能とすることを目的とする。

【００３６】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
ある。図１において、１００は本発明の対象となる広帯
域交換機の通信路設定装置、１０１は通信路設定装置
（１００）内に折返し通信路を設定するに使用される折
返し回路、２００は通信路設定装置（１００）に試験セ
ルを送信する試験セル送信手段、３００は折返し通信路
を経由して返送される試験セルを受信・計数し、送信し
た試験セル数と比較する試験セル受信手段である。

【００３７】１１０は、本発明により通信路設定装置
（１００）内に設定される総ての診断対象通信路の往路
および復路のそれぞれ対応する所定位置に設けられた計
数手段（１１０）である。

【００３８】４００は、本発明により前記計数手段（１
１０）に共通に設けられた計数値比較手段である。

【００３９】

【作用】計数手段（１１０）は、試験セル送信手段（２
００）から折返し通信路に試験セルを送信した場合に、
折返し通信路の往路および復路の所定位置を通過する試
験セル数を計数する。

【００４０】計数値比較手段（４００）は、各計数手段
（１１０）の計数する試験セル数を収集し、各対応する
計数手段（１１０）の計数値を比較し、各所定位置に対
応して設置された計数手段（１１０）の計数値の一致・
不一致により、通信路設定装置（１００）内の罹障範囲
を決定する。

【００４１】なお計数手段（１１０）は、通信路設定装
置（１００）が複数のパッケージに分割実装されている
場合に、各パッケージを通過する往路および復路にそれ
ぞれ対応して設けることが考慮される。

【００４２】また計数手段（１１０）は、通信路設定装
置（１００）内に複数のスイッチ素子から構成される往
路用および復路用のスイッチ装置が含まれる場合に、各
往路用および復路用のスイッチ装置内のそれぞれ対応す
るスイッチ素子に併設することが考慮される。

【００４３】従って、通信路設定装置内に一度設定した
折返し通信路を経由して試験セルを転送し、所定位置に
設けられた各計数手段により計数した往路および復路を
通過する試験セル数を各々比較するのみで、通信路設定
装置内の罹障箇所が直ちに限定可能となるる為、当該広
帯域交換機の診断に要する時間が大幅に短縮可能とな
り、また計数手段を設置可能な総ての範囲に渡って罹障
箇所が判明することとなり、当該広帯域交換機の信頼性
および保全性が大幅に向上する。

【００４４】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。図２は本発明の一実施例による広帯域交換機を示す
図であり、図３は図２における試験セル計数回路を例示
する図である。なお、全図を通じて同一符号は同一対象
物を示す。また対象とする試験セル折返し回路（ＬＰ）
（２１）およびセルの構成は、それぞれ図４および図５
に示す通りとする。

【００４５】図２においては、図１における通信路設定
装置（１００）として、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）
および（１_B）、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）およ
び（２₂）が示されており、また図１における折返し回
路（１０１）として、試験セル折返し回路（ＬＰ）（２
１₂₃）のみが多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）内に示さ
れており、また図１における試験セル送信手段（２０
０）および試験セル受信手段（３００）として、試験セ
ル送信部（ＴＣＳ）（４１）および試験セル受信部（Ｔ
ＣＲ）（４２）が試験装置（ＴＳＴ）（４）内に示され
ている。

【００４６】なお試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１）
は、図４に示される従来ある広帯域交換機と異なり、多
重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）と（２₂）との間に設定
される診断対象通信路で試験装置（ＴＳＴ）（４）が接
続される多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）から最も遠端
にある多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）内のパッケージ
（Ｐ₂₃）のみに設けられており、多重分離装置（ＭＤ
Ｘ）（２₁）の各パッケージ（Ｐ₁₁）乃至（Ｐ₁₃）、並
びに多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）のパッケージ（Ｐ
₂₁）および（Ｐ₂₂）には設けられていない。

【００４７】また図１における計数手段（１１０）とし
て、それぞれ試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５）が、各
スイッチ装置（ＳＷ）（１）内の各セルスイッチ素子
（Ｘ）（１１）に併設されると共に、各多重分離装置
（ＭＤＸ）（２）の各パッケージ（Ｐ）に一対の試験セ
ル計数回路（ＣＮＴ）（５）が設けられおり、更に図１
における計数値比較手段（４００）として、収集点選択
部（ＳＥＬ）（３１）および計数値比較部（ＣＭＰ）
（３２）が制御プロセッサ（ＣＰ）（３）内に設けられ
ている。

【００４８】各試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５）は、
図３に示される如き構成を有し、入力通信路（５４）か
ら到着したセルを、一旦セルバッファ（５１）に蓄積し
た後、蓄積順に順次抽出し、セル計数部（５２）および
遅延部（５３）に伝達する。

【００４９】遅延部（５３）は、セルバッファ（５１）
から伝達された各セルに、予め設定された遅延時間を与
えた後、出力通信路（５５）から出力する。セル計数部
（５２）は、セルバッファ（５１）から伝達された各セ
ルの内、試験セル（ＴＣ）のみを抽出して計数し、計数
値（Ｎ）を制御信号路（５６）から出力する。

【００５０】なお多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）の各
パッケージ（Ｐ₁₁）、（Ｐ₁₂）および（Ｐ₁₃）に設けら
れている試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_11F）と（５
_11B）と、（５_12F）と（５_12B）と、および
（５_13F）と（５_13B）とは、それぞれ対を成してお
り、また多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）の各パッケー
ジ（Ｐ₂₁）、（Ｐ₂₂）および（Ｐ₂₃）に設けられている
試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５ _21F）と（５_21B）
と、（５_22F）と（５_22B）と、および（５_23F）と
（５₂₃ _B）とは、それぞれ対を成しており、更にスイッ
チ装置（ＳＷ）（１_F）および（１_B）に設けられてい
る試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_F11）と（５_B31）
と、（５_F12）と（５_B32）と、（５_F13）と
（５_B33）と、（５_F21）と（５ _B21）と、（５_F22）
と（５_B22）と、（５_F23）と（５_B23）と、
（５_F31）と（５_B11）と、（５_F32）と（５_B12）
と、（５_F33）と（５_B13）とは、それぞれ対を成して
いる。

【００５１】図２および図３において、制御プロセッサ
（ＣＰ）（３）が、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）と
（２₂）との間に、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）およ
び（１_B）を経由して設定される通信路の診断を実行す
る場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）の通信回
線接続端子に試験装置（ＴＳＴ）（４）を接続し、また
多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）内の試験セル折返し回
路（ＬＰ）（２１₂₃）に折返し指示を伝達し、更に多重
分離装置（ＭＤＸ）（２₁）のタグ生成部（ＴＧ）（２
２₁）には、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）に送信する
試験セル（ＴＣ）に、セルスイッチ素子（Ｘ）（１１
_F11）、（１１_F22）および（１１_F32）を通過する診
断対象経路を経由して多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）
に伝達し得るタグ（ＴＡＧ）を付加する如き指示を伝達
すると共に、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）のタグ生
成部（ＴＧ）（２２₂）には、スイッチ装置（ＳＷ）
（１_B）に送信する試験セル（ＴＣ）に、セルスイッチ
素子（Ｘ）（１１_B12）、（１１_B22）および（１１
_B31）を通過する診断対象経路を経由して多重分離装置
（ＭＤＸ）（２₁）に伝達し得るタグ（ＴＡＧ）を付加
する如き指示を伝達する。

【００５２】かかる状態で、制御プロセッサ（ＣＰ）
（３）は、試験装置（ＴＳＴ）（４）内の試験セル送信
部（ＴＣＳ）（４１）に、所定数の試験セル（ＴＣ）を
作成し、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）に順次送信す
る指示を伝達し、試験セル受信部（ＴＣＲ）（４２）に
は、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）から返送される試
験セル（ＴＣ）を、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）に転
送する指示を伝達する。

【００５３】試験装置（ＴＳＴ）（４）においては、試
験セル送信部（ＴＣＳ）（４１）が、所定数の試験セル
（ＴＣ）を作成し、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）に
順次送信する。

【００５４】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）は、試験
装置（ＴＳＴ）（４）から送信された試験セル（ＴＣ）
を、パッケージ（Ｐ₁₁）、（Ｐ₁₂）および（Ｐ₁₃）にそ
れぞれ設けられている試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５
_11F）、（５_12F）および（５_13F）を経由してタグ生
成部（ＴＧ）（２２₁）に伝達し、タグ生成部（ＴＧ）
（２２₁）により前述の診断対象経路を指定するタグ
（ＴＡＧ）を付加し、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）に
転送する。

【００５５】各試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_11F）、（５_12F）および（５_13F）は、前述の如
く、試験装置（ＴＳＴ）（４）から送信され、スイッチ
装置（ＳＷ）（１_F）に転送される各試験セル（ＴＣ）
を計数し、それぞれ計数値（Ｎ_11F）、（Ｎ_12F）およ
び（Ｎ_13F）を往路通過数として、制御プロセッサ（Ｃ
Ｐ）（３）に伝達する。

【００５６】スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）は、多重分
離装置（ＭＤＸ）（２₁）から転送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、付加されているタグ（ＴＡＧ）に従って、セル
スイッチ素子（Ｘ）（１１_F11）、（１１_F22）および
（１１_F32）、並びに併設されている試験セル計数回路
（ＣＮＴ）（５_F11）、（５_F22）および（５_F32）を
経由して多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）に転送する。

【００５７】各試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_F11）、（５_F22）および（５_F32）は、前述の如
く、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）から多重分離装置
（ＭＤＸ）（２ ₂）（１_F）に転送される各試験セル
（ＴＣ）を計数し、それぞれ計数値（Ｎ_F1 ₁）、（Ｎ
_F22）および（Ｎ_F32）を往路通過数として、制御プロ
セッサ（ＣＰ）（３）に伝達する。

【００５８】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）は、スイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_F）から転送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、パッケージ（Ｐ₂₁）、（Ｐ₂₂）および（Ｐ₂₃）
にそれぞれ設けられている試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_21F）、（５_22F）および（５_23F）を経由して試
験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₃）に伝達し、試験セ
ル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₃）により折返し返送し、
パッケージ（Ｐ₂₃）、（Ｐ₂₂）および（Ｐ₂₁）にそれぞ
れ設けられている試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_23B）、（５_22B）および（５_21B）を経由してタ
グ生成部（ＴＧ）（２２ ₂）に伝達し、タグ生成部（Ｔ
Ｇ）（２２₂）により前述の診断対象経路を指定するタ
グ（ＴＡＧ）を付加し、スイッチ装置（ＳＷ）（１_B）
に返送する。

【００５９】各試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_21F）、（５_22F）および（５_23F）は、前述の如
く、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）から試験セル折返し
回路（ＬＰ）（２１₂₃）に転送される各試験セル（Ｔ
Ｃ）を計数し、それぞれ計数値（Ｎ_21F）、（Ｎ_22F）
および（Ｎ_23F）を往路通過数として、制御プロセッサ
（ＣＰ）（３）に伝達し、また各試験セル計数回路（Ｃ
ＮＴ）（５_23B）、（５_22B）および（５_21B）は、前
述の如く、試験セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₃）から
タグ生成部（ＴＧ）（２２₂）に転送される各試験セル
（ＴＣ）を計数し、それぞれ計数値（Ｎ_23B）、（Ｎ
_22B）および（Ｎ_21B）を復路通過数として、制御プロ
セッサ（ＣＰ）（３）に伝達する。

【００６０】スイッチ装置（ＳＷ）（１_B）は、多重分
離装置（ＭＤＸ）（２₂）から転送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、付加されているタグ（ＴＡＧ）に従って、セル
スイッチ素子（Ｘ）（１１_B12）、（１１_B22）および
（１１_B31）、並びに併設されている試験セル計数回路
（ＣＮＴ）（５_B12）、（５_B22）および（５_B31）を
経由して多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）に返送する。

【００６１】各試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_B12）、（５_B22）および（５_B31）は、前述の如
く、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）から多重分離装置
（ＭＤＸ）（２ ₁）に返送される各試験セル（ＴＣ）を
計数し、それぞれ計数値（Ｎ_B12）、（Ｎ_B22）および
（Ｎ_B31）を復路通過数として、制御プロセッサ（Ｃ
Ｐ）（３）に伝達する。

【００６２】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）は、スイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_B）から返送された試験セル（Ｔ
Ｃ）を、各パッケージ（Ｐ₁₃）、（Ｐ₁₂）および
（Ｐ₁₁）にそれぞれ設けられている試験セル計数回路
（ＣＮＴ）（５_13B）、（５_12B）および（５_11B）を
経由して試験装置（ＴＳＴ）（４）に返送する。

【００６３】各試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_13B）、（５_12B）および（５_11B）は、前述の如
く、スイッチ装置（ＳＷ）（１_B）から試験装置（ＴＳ
Ｔ）（４）に返送される各試験セル（ＴＣ）を計数し、
それぞれ計数値（Ｎ_13B）、（Ｎ_12B）および
（Ｎ_11B）を復路通過数として、制御プロセッサ（Ｃ
Ｐ）（３）に伝達する。

【００６４】試験装置（ＴＳＴ）（４）においては、試
験セル受信部（ＴＣＲ）（４２）が、多重分離装置（Ｍ
ＤＸ）（２₁）から順次返送された試験セル（ＴＣ）
を、それぞれ制御プロセッサ（ＣＰ）（３）に転送す
る。

【００６５】制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、試験セ
ル送信部（ＴＣＳ）（４１）および試験セル受信部（Ｔ
ＣＲ）（４２）から伝達される試験セル（ＴＣ）、並び
に各試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５）から伝達される
計数値（Ｎ）を、収集点選択部（ＳＥＬ）（３１）によ
り選択的に収集し、計数値比較部（ＣＭＰ）（３２）に
より比較する。

【００６６】即ち最初に、試験セル送信部（ＴＣＳ）
（４１）に送信させた各試験セル（ＴＣ）と、試験セル
受信部（ＴＣＲ）（４２）から返送された各試験セル
（ＴＣ）とを収集点選択部（ＳＥＬ）（３１）により選
択して収集し、各試験セル（ＴＣ）の送信数（Ｎ₄₁）と
受信数（Ｎ₄₂）とを計数し、計数値比較部（ＣＭＰ）
（３２）により各試験セル（ＴＣ）の送信数（Ｎ₄₁）と
受信数（Ｎ₄₂）とを計数して比較し、送信数（Ｎ₄₁）と
受信数（Ｎ₄₂）とが一致し、且つ各試験セル（ＴＣ）の
構成に不一致が無いことを確認した場合には、多重分離
装置（ＭＤＸ）（２₁）、スイッチ装置（ＳＷ）
（１_F）および（１_B）内の前記診断対象経路、並びに
多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）を経由する試験対象通
信路が正常であると判定する。

【００６７】一方、両試験セル（ＴＣ）数、または各試
験セル（ＴＣ）の構成の何れかに不一致が検出された場
合には、制御プロセッサ（ＣＰ）（３）は、前記試験対
象通信路の何処かに障害が発生していると判定し、次に
障害発生位置を限定する為に、それぞれ対を成す各試験
セル計数回路（ＣＮＴ）（５）の計数値（Ｎ）、即ち往
路通過数と復路通過数とを収集点選択部（ＳＥＬ）（３
１）により順次選択して収集し、計数値比較部（ＣＭ
Ｐ）（３２）により比較する。

【００６８】先ず、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）の
パッケージ（Ｐ₂₃）内に設けられている試験セル計数回
路（ＣＮＴ）（５_23F）から伝達される往路通過数（Ｎ
_23F）と、試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_23B）から
伝達される復路通過数（Ｎ₂₃ _B）とを収集して比較し、
両者が一致した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２
₂）内のパッケージ（Ｐ₂₃）は正常であると判定する
が、両者が不一致の場合には、パッケージ（Ｐ₂₃）を罹
障箇所と判定する。

【００６９】パッケージ（Ｐ₂₃）が正常と判定された場
合には、続いて多重分離装置（ＭＤＸ）（２₂）のパッ
ケージ（Ｐ₂₂）内に設けられている試験セル計数回路
（ＣＮＴ）（５_22F）から伝達される往路通過数（Ｎ
_22F）と、試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_22B）から
伝達される復路通過数（Ｎ_22B）とを収集して比較し、
両者が一致した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２
₂）内のパッケージ（Ｐ₂₂）も正常であると判定する
が、両者が不一致の場合には、パッケージ（Ｐ₂₂）を罹
障箇所と判定する。

【００７０】パッケージ（Ｐ₂₃）および（Ｐ₂₂）が正常
と判定された場合には、続いて多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₂）のパッケージ（Ｐ₂₁）内に設けられている試験
セル計数回路（ＣＮＴ）（５_21F）から伝達される往路
通過数（Ｎ_21F）と、試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５
_21B）から伝達される復路通過数（Ｎ_21B）とを収集し
て比較し、両者が一致した場合には、多重分離装置（Ｍ
ＤＸ）（２₂）内のパッケージ（Ｐ₂₁）も正常であると
判定するが、両者が不一致の場合には、パッケージ（Ｐ
₂₁）を罹障箇所と判定する。多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₂）内の総てのパッケージ（Ｐ₂₃）、（Ｐ₂₂）およ
び（Ｐ₂₁）が正常と判定された場合には、続いてスイッ
チ装置（ＳＷ）（１_F）内の試験対象経路〔往路〕に関
係する各試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_F32）、（５
_F22）および（５_F11）からそれぞれ伝達される往路通
過数（Ｎ_F32）、（Ｎ_F22）および（Ｎ_F11）と、スイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_B）内の試験対象経路〔復路〕に
関係し、前記各試験セル計数回路（ＣＮＴ）
（５_F32）、（５_F2 ₂）および（５_F11）とそれぞれ対
を成す試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_B12）、（５
_B22）および（５_B31）からそれぞれ伝達される復路通
過数（Ｎ_B12）、（Ｎ_B22）および（Ｎ_B31）とをそれ
ぞれ収集して比較し、往路通過数（Ｎ_F3 ₂）と復路通過
数（Ｎ_B12）とが一致すればスイッチ装置（ＳＷ）（１
_F）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１１_F32）とスイッチ
装置（ＳＷ）（１_B）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１１
_B12）とを正常と判定し、不一致であればスイッチ装置
（ＳＷ）（１_F）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１
１_F32）とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）のセルスイッ
チ素子（Ｘ）（１１_B12）との何れかを罹障箇所と判定
し、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）のセルスイッチ素子
（Ｘ）（１１_F32）とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）の
セルスイッチ素子（Ｘ）（１１_B12）とを正常と判定し
た場合には、続いて往路通過数（Ｎ_F22）と復路通過数
（Ｎ_B22）とが一致すればスイッチ装置（ＳＷ）
（１_F）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１１_F22）とスイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_B）のセルスイッチ素子（Ｘ）
（１１_B22）とも正常と判定し、不一致であればスイッ
チ装置（ＳＷ）（１_F）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１
１_F22）とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）のセルスイッ
チ素子（Ｘ）（１１_B22）との何れかを罹障箇所と判定
し、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）のセルスイッチ素子
（Ｘ）（１１_F22）とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）の
セルスイッチ素子（Ｘ）（１１_B22）とを正常と判定し
た場合には、続いて往路通過数（Ｎ_F11）と復路通過数
（Ｎ_B31）とが一致すればスイッチ装置（ＳＷ）
（１_F）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１１_F11）とスイ
ッチ装置（ＳＷ）（１_B）のセルスイッチ素子（Ｘ）
（１１_B31）とも正常と判定し、不一致であればスイッ
チ装置（ＳＷ）（１_F）のセルスイッチ素子（Ｘ）（１
１_F11）とスイッチ装置（ＳＷ）（１_B）のセルスイッ
チ素子（Ｘ）（１１_B31）との何れかを罹障箇所と判定
する。

【００７１】スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）および（１
_B）内の試験対象通信路に関係する総てのセルスイッチ
素子（Ｘ）（１１_F11）、（１１_F22）、（１
１_F32）、（１１_B12）、（１１_B22）、（１１_B31）
が正常と判定された場合には、続いて多重分離装置（Ｍ
ＤＸ）（２₁）のパッケージ（Ｐ₁₃）内に設けられてい
る試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_13F）から伝達され
る往路通過数（Ｎ_13F）と、試験セル計数回路（ＣＮ
Ｔ）（５_13B）から伝達される復路通過数（Ｎ_13B）と
を収集して比較し、両者が一致した場合には、多重分離
装置（ＭＤＸ）（２₁）内のパッケージ（Ｐ₁₃）は正常
であると判定するが、両者が不一致の場合には、パッケ
ージ（Ｐ₁₃）を罹障箇所と判定する。

【００７２】パッケージ（Ｐ₁₃）が正常と判定された場
合には、続いて多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）のパッ
ケージ（Ｐ₁₂）内に設けられている試験セル計数回路
（ＣＮＴ）（５_12F）から伝達される往路通過数（Ｎ
_12F）と、試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５_12B）から
伝達される復路通過数（Ｎ_12B）とを収集して比較し、
両者が一致した場合には、多重分離装置（ＭＤＸ）（２
₁）内のパッケージ（Ｐ₁₂）も正常であると判定する
が、両者が不一致の場合には、パッケージ（Ｐ₁₂）を罹
障箇所と判定する。

【００７３】パッケージ（Ｐ₁₃）および（Ｐ₁₂）が正常
と判定された場合には、続いて多重分離装置（ＭＤＸ）
（２₁）のパッケージ（Ｐ₁₁）内に設けられている試験
セル計数回路（ＣＮＴ）（５_11F）から伝達される往路
通過数（Ｎ_11F）と、試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５
_11B）から伝達される復路通過数（Ｎ_11B）とを収集し
て比較し、両者が一致した場合には、多重分離装置（Ｍ
ＤＸ）（２₁）内のパッケージ（Ｐ₁₁）も正常であると
判定するが、両者が不一致の場合には、パッケージ（Ｐ
₁₁）を罹障箇所と判定する。

【００７４】多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）内の総て
のパッケージ（Ｐ₁₃）、（Ｐ₁₂）および（Ｐ₁₁）が正常
と判定された場合には、試験装置（ＴＳＴ）（４）内の
試験セル送信部（ＴＣＳ）（４１）および試験セル受信
部（ＴＣＲ）（４２）の何れかが罹障箇所と判定し、試
験装置（ＴＳＴ）（４）の診断を実行する。

【００７５】以上の説明から明らかな如く、本実施例に
よれば、多重分離装置（ＭＤＸ）（２₁）と（２₂）と
の間に、スイッチ装置（ＳＷ）（１_F）および（１_B）
を経由して設定される診断対象通信路を診断する場合に
は、試験装置（ＴＳＴ）（４）から最も遠端にある試験
セル折返し回路（ＬＰ）（２１₂₃）に折返し通信路を設
定させた後、試験セル送信部（ＴＣＳ）（４１）から試
験セル（ＴＣ）を送信し、試験セル受信部（ＴＣＲ）
（４２）に返送される試験セル（ＴＣ）を受信し、制御
プロセッサ（ＣＰ）（３）が試験セル送信部（ＴＣＳ）
（４１）による試験セル（ＴＣ）の送信数（Ｎ₄₁）と試
験セル受信部（ＴＣＲ）（４２）による試験セル（Ｔ
Ｃ）の受信数（Ｎ₄₂）とを比較し、一致すれば試験対象
通信路を正常と判定し、不一致ならば試験対象通信路の
何れかに障害発生と判定し、続いて試験対象通信路に関
係する試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５）の対から伝達
される往路通過数および復路通過数を比較し、不一致の
発生する箇所を罹障箇所と判定する為、図４における如
く、折返し通信路を設定する試験セル折返し回路（Ｌ
Ｐ）（２１）を順次変更する必要も無く、試験対象通信
路の設定が一回で済み、且つ図４においては罹障箇所を
限定出来なかったスイッチ装置（ＳＷ）（１_F）および
（１_B）内もセルスイッチ素子（Ｘ）（１１）対毎に限
定可能となる。

【００７６】なお、図２および図３はあく迄本発明の一
実施例に過ぎず、例えば収集点選択部（ＳＥＬ）（３
１）および計数値比較部（ＣＭＰ）（３２）は試験セル
計数回路（ＣＮＴ）（５）の各対毎に計数値（Ｎ）を比
較するものに限定されることは無く、試験セル送信部
（ＴＣＳ）（４１）の試験セル（ＴＣ）送信数（Ｎ₄₁）
を基準として関係各試験セル計数回路（ＣＮＴ）（５）
の計数値（Ｎ）を比較する等、他に幾多の変形が考慮さ
れるが、何れの場合にも本発明の効果は変わらない。ま
た計数手段（１１０）の構成は図示される試験セル計数
回路（ＣＮＴ）（５）に限定されることは無く、他に幾
多の変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効果
は変わらない。また計数手段（１１０）の設置箇所は図
示されるものに限定されることは無く、他に幾多の変形
が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効果は変わら
ない。更に本発明の対象とする通信路設定装置（１０
０）および計数手段（１１０）の設置箇所は、図示され
るものに限定されぬことは言う迄も無い。

【００７７】

【発明の効果】以上、本発明によれば、前記広帯域交換
機において、通信路設定装置内に一度設定した折返し通
信路を経由して試験セルを転送し、所定位置に設けられ
た各計数手段により計数した往路および復路を通過する
試験セル数を各々比較するのみで、通信路設定装置内の
罹障箇所が直ちに限定可能となるる為、当該広帯域交換
機の診断に要する時間が大幅に短縮可能となり、また計
数手段を設置可能な総ての範囲に渡って罹障箇所が判明
することとなり、当該広帯域交換機の信頼性および保全
性が大幅に向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図

【図２】本発明による広帯域交換機

【図３】図２における試験セル計数回路

【図４】従来ある広帯域交換機

【図５】図４における試験セル折返し回路

【図６】本発明の対象とするセルの構成

【符号の説明】

１スイッチ装置（ＳＷ）２多重分離装置（ＭＤＸ）３制御プロセッサ（ＣＰ）４試験装置（ＴＳＴ）５試験セル計数回路（ＣＮＴ）１１セルスイッチ素子（Ｘ）２１試験セル折返し回路（ＬＰ）２２タグ生成部（ＴＧ）３１収集点選択部（ＳＥＬ）３２計数値比較部（ＣＭＰ）４１試験セル送信部（ＴＣＳ）４２試験セル受信部（ＴＣＲ）５１セルバッファ５２セル計数部５３遅延部５４入力通信路５５出力通信路５６制御信号路１００通信路設定装置１０１折返し回路１１０計数手段２００試験セル送信手段２１１試験セル分岐部２１２折返し制御部２１３試験セル挿入部２１４入力通信往路２１５出力通信往路２１６入力通信復路２１７出力通信復路２１８分岐通信路２１９折返し通信路２１Ａ制御信号路３００試験セル受信手段４００計数値比較手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】セルの通信路を設定する通信路設定装置
内に、折返し回路を経由する診断対象通信路を設定し、
前記診断対象通信路の入力端に接続した試験セル送信手
段から試験セルを送信し、前記診断対象通信路の出力端
に接続した試験セル受信手段に返送される試験セルを受
信・検討することにより、前記通信路設定装置の正常性
を診断する広帯域交換機において、前記通信路設定装置（内に設定される総ての診断対象通
信路の往路および復路のそれぞれ対応する所定位置に、
前記試験セル送信手段から前記診断対象通信路に試験セ
ルを送信した場合に、前記往路および復路の前記所定位
置を通過する試験セル数を計数する計数手段を設け、前記各計数手段に共通に、前記各計数手段の計数値を収
集し、比較する計数値比較手段を設け、前記各所定位置に対応して設置された前記計数手段の計
数値の一致・不一致により、前記通信路設定装置内の罹
障範囲を決定することを特徴とする通信路診断方式。
【請求項２】前記計数手段は、前記通信路設定装置が
複数のパッケージに分割実装されている場合に、前記各
パッケージを通過する前記往路および復路にそれぞれ対
応して設けることを特徴とする請求項１記載の通信路診
断方式。
【請求項３】前記計数手段は、前記通信路設定装置内
に複数のスイッチ素子から構成される往路用および復路
用のスイッチ装置が含まれる場合に、前記各往路用およ
び復路用のスイッチ装置内のそれぞれ対応するスイッチ
素子に併設することを特徴とする請求項１記載の通信路
診断方式。