JPH08163134A

JPH08163134A - 障害探索方式

Info

Publication number: JPH08163134A
Application number: JP6296303A
Authority: JP
Inventors: Takashi Matsukawa; 俊松川; Hiroyuki Tanaka; 博之田中; Kenji Fukuda; 健次福田; Masanori Ohashi; 正紀大橋
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1994-11-30
Filing date: 1994-11-30
Publication date: 1996-06-21

Abstract

(57)【要約】【目的】ＡＴＭ交換機に発生する障害箇所を探索する
障害探索方式に関し、多大の測定器および観察要員を確
保すること無く、極力短時間に的確に、効率良く障害箇
所を確認可能とすることを目的とする。【構成】試験用セルを所定数または連続的に送信し、
また到着するセルを比較・解析する試験セル発生手段
（３００）と、ＡＴＭ交換機内の各セル処理機能部（１
００）間に、通常セルの転送経路と、試験用セル挿入経
路と、試験用セル抽出経路と、折返し転送経路とを準備
し、外部から指定された経路を設定するセル挿入抽出手
段（２００）と、各セル処理機能部間に設けられている
各セル挿入抽出手段の設定経路を指定する試験経路設定
手段（４００）を設け、所要の試験用セルを転送する試
験経路を設定し、試験用セルを転送することにより、Ａ
ＴＭ交換機内に発生する障害を探索する様に構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＡＴＭ交換機に発生す
る障害箇所を探索する障害探索方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】図９は従来あるＡＴＭ交換機の一例を示
す図であり、図１０は本発明の対象となるセルの構成の
一例を示す図であり、図１１はセルと共に伝送される各
種信号の一例を示す図である。

【０００３】図９に示されるＡＴＭ交換機（１）は、自
己経路スイッチ（ＳＷ）（１１）、回線収容部（ＬＣ）
（１２）、中央制御部（ＣＣ）（１３）および試験セル
発生部（ＴＣＧ）（１４）を具備し、回線収容部（Ｌ
Ｃ）（１２）は、加入者線、局間中継線、或いは同一局
内の他ユニットとの接続線等、各種通信回線を収容し、
各通信回線（２）を経由して、図１０に示される如きセ
ル〔図１１においてはセルデータ（ＣＤ）〕、並びに図
１１に示される如きセルデータ（ＣＤ）と共に伝送され
るクロック信号（ＣＬＫ）、セルトップ信号（ＴＯ
Ｐ）、セルイネーブル信号（ＥＮ）、セルデータ（Ｃ
Ｄ）のパリティ検査符号（ＰＴＹ）等の各種信号を送受
信し、自己経路スイッチ（ＳＷ）（１１）は、各回線収
容部（ＬＣ）（１２）から送出されるセルを交換処理
し、中央制御部（ＣＣ）（１３）は、自己経路スイッチ
（ＳＷ）（１１）および回線収容部（ＬＣ）（１２）を
経由する呼処理を初めとする、ＡＴＭ交換機（１）全般
の制御を実行する。

【０００４】試験セル発生部（ＴＣＧ）（１４）は、予
め定められた数の試験用セルを発生し、自己経路スイッ
チ（ＳＷ）（１１）を介して各回線収容部（ＬＣ）（１
２）、或いは通信回線（２）等に送信し、また各通信回
線（２）、或いは通信回線（２）等から返送される試験
用セルを受信し、送信した試験用セルと比較してその正
常性を検査する機能を具備している。

【０００５】従来あるＡＴＭ交換機（１）においては、
内部に障害が発生し、正常にセルが転送されなくなった
場合に、試験セル発生部（ＴＣＧ）（１４）を用いた試
験用セルの送受信によっては、障害箇所を特定すること
は困難であった。

【０００６】また試験セル発生部（ＴＣＧ）（１４）
は、前述の如く、予め設定された有限個数の試験用セル
しか発生させることが不可能であった為、特に間歇的に
発生する障害を探索するには不適当であった。

【０００７】従って、稼働中のＡＴＭ交換機（１）内の
被疑箇所に、例えばロジックアナライザ（ＬＡ）（３）
等の測定器を接続し、稼働中の電気信号波形を試験者が
目視で観察し、異常波形を検出することにより、障害箇
所の確認を試みる以外に無かった。

【０００８】然し、ロジックアナライザ（ＬＡ）（３）
等で電気信号波形を観察する方法は、観測箇所に一台の
ロジックアナライザ（ＬＡ）（３）と、一乃至二名の観
察者とを確保して置く必要があり、前述の如き間歇的に
発生する障害を、複数箇所で探索するには、多数のロジ
ックアナライザ（ＬＡ）（３）を必要とすると共に、多
数の観察要員を、長期間配置し続ける必要があった。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】以上の説明から明らか
な如く、従来あるＡＴＭ交換機においては、発生した障
害箇所を確定する為には、ロジックアナライザ（ＬＡ）
（３）等の測定器を被疑箇所に接続し、稼働中の電気信
号波形を目視により観察する以外に無く、多数のロジッ
クアナライザ（ＬＡ）（３）等の測定器を準備する必要
が有ると共に、多数の観察要員を長期間配置し続ける可
能性があり、実現が困難となる問題があった。

【００１０】本発明は、ＡＴＭ交換機に発生した障害
を、多大の測定器および観察要員を長期間、確保するこ
と無く、極力短時間に的確に、効率良く障害箇所を確認
可能とすることを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理を示
す図である。図１において、１００はＡＴＭ交換機を構
成するセル処理機能部である。

【００１２】２００は、本発明によりＡＴＭ交換機のセ
ル処理機能部（１００）間に設けられたセル挿入抽出手
段である。３００は、本発明によりＡＴＭ交換機に設け
られた試験セル発生手段である。

【００１３】４００は、本発明によりＡＴＭ交換機に設
けられた試験経路設定手段である。

【００１４】

【作用】試験セル発生手段（３００）は、所定数の試験
用セルまたは連続する試験用セルを発生して外部に送信
し、且つ外部から到着するセルを、指定されたセルと比
較・解析する。

【００１５】セル挿入抽出手段（２００）は、ＡＴＭ交
換機内で使用される通常のセルを、一方のセル処理機能
部（１００）から他方のセル処理機能部（１００）へ転
送する通常転送経路と、試験セル発生手段（３００）か
ら供給される試験用セルを通常転送経路に挿入する試験
用セル挿入経路と、通常転送経路を経由して転送される
試験用セルを抽出して試験セル発生手段（３００）に転
送する試験用セル抽出経路と、一方のセル処理機能部
（１００）から他方のセル処理機能部（１００）へ転送
されるセルを、セルの送信元のセル処理機能部（１０
０）に折返し転送する折返し転送経路とを準備し、外部
からの指定された経路を設定する。

【００１６】試験経路設定手段（４００）は、各セル処
理機能部（１００）間に設けられている各セル挿入抽出
手段（２００）の設定経路を指定する。以上により、Ａ
ＴＭ交換機内に所要の試験用セルを転送する試験経路を
設定し、試験経路を経由して前記試験用セルを転送する
ことにより、前記ＡＴＭ交換機内に発生する障害を探索
する。

【００１７】なお試験セル発生手段（３００）は、試験
用セル挿入経路を設定するセル挿入抽出手段（２００）
から供給されるクロック信号に同期した試験用セルを送
信し、また抽出する試験用セルと並行して伝達されるク
ロック信号に同期して試験用セルを抽出して受信するこ
とが考慮される。

【００１８】また試験セル発生手段（３００）は、各セ
ル挿入抽出手段（２００）に対して試験用セルの転送経
路を複式に接続し、また各セル挿入抽出手段（２００）
は、試験経路設定手段（４００）により導通状態を制御
されるゲートを介して試験セル発生手段（３００）に接
続し、更に試験経路設定手段（４００）は、設定した試
験用セル挿入経路または試験用セル抽出経路を前記試験
セル発生手段（３００）に接続すべきセル挿入抽出手段
（２００）を選択し、選択されたセル挿入抽出手段（２
００）内のゲートのみを導通状態に設定して試験経路を
設定可能とすることが考慮される。

【００１９】またセル挿入抽出手段（２００）は、隣接
するセル処理機能部（１００）との間でセルを転送する
際に必要とするインタフェース条件を、試験セル発生手
段（３００）に通知する機能を具備することにより、試
験セル発生手段（３００）に試験用セルの転送対象とす
るセル処理機能部（１００）のインタフェース条件に適
合した試験用セルを送受信可能とすることが考慮され
る。

【００２０】またセル挿入抽出手段（２００）は、自セ
ル挿入抽出手段（２００）の存在の有無を通知する機能
を具備し、試験経路設定手段（４００）は、試験経路設
定用に指定したセル挿入抽出手段（２００）の存在を確
認する機能を具備することにより、存在しないセル挿入
抽出手段（２００）に対する試験経路の設定指示を検出
可能とすることが考慮される。

【００２１】また試験セル発生手段（３００）は、故意
に誤りを内蔵する擬正常セルを試験用セルとして発生す
る機能を具備することにより、各セル処理機能部（１０
０）の内蔵する異常検出機能の正常性を試験可能とする
ことが考慮される。

【００２２】また試験セル発生手段（３００）は、セル
挿入抽出手段（２００）に供給する試験用セルの所定位
置に、試験用セル挿入経路、試験用セル抽出経路、或い
は折返し転送経路の設定を要求するセル挿入抽出手段
（２００）の識別情報と、該セル挿入抽出手段（２０
０）内に設定すべき経路の識別情報とを付加して各セル
挿入抽出手段（２００）に並行して転送し、また各セル
挿入抽出手段（２００）は、試験セル発生手段（３０
０）または隣接するセル処理機能部（１００）から伝達
される試験用セルに付加されている識別情報を分析し、
自セル挿入抽出手段（２００）の識別情報を付加された
試験用セルを受信し、受信した試験用セルに付加されて
いる設定経路の識別情報に対応する経路を自動的に設定
することが考慮される。

【００２３】またセル挿入抽出手段（２００）は、前記
通常転送経路、前記試験用セル挿入経路および折返し転
送経路にセルを一時的に蓄積するバッファ機能と、各経
路にそれぞれ優先度を付加して多重する機能とを具備す
ることにより、通常転送経路を経由する通常セルの所要
時間領域に、試験用セルを挿入可能とすることが考慮さ
れる。

【００２４】更にセル挿入抽出手段（２００）は、転送
中の通常セルを除去する除去機能を具備することによ
り、通常セルの異常損失を試験可能とすることが考慮さ
れる。従って、ＡＴＭ交換機内の任意のセル処理機能部
を経由して、所定数の試験用セルを転送し、或いは連続
的に試験用セルを転送し、分析することが可能となり、
当該ＡＴＭ交換機の信頼性および保全性が大幅に向上す
る。

【００２５】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。図２は本発明の一実施例によるＡＴＭ交換機を示す
図であり、図３は本発明の一実施例による障害探索系を
示す図であり、図４は図３におけるセル挿入抽出部の一
例を示す図であり、図５は図３における情報接続部の一
例を示す図であり、図６は図３における選択部の一例を
示す図であり、図７は図３におけるセル挿入抽出部〔請
求項７対応〕の一例を示す図であり、図８は図３におけ
るセル挿入抽出部〔請求項８、９対応〕の一例を示す図
である。なお、全図を通じて同一符号は同一対象物を示
す。

【００２６】図２に示されるＡＴＭ交換機（１）が、図
９に示される従来あるＡＴＭ交換機（１）と異なる点
は、図９における回線収容部（ＬＣ）（１２）およびロ
ジックアナライザ（ＬＡ）（３）の代わりに、図３に示
される回線収容部（ＬＣ）（１２ａ）および障害探索制
御部（ＡＮＬ）（５）が設けられている。

【００２７】最初に本発明（請求項１乃至６）の実施例
を、図２乃至図６を用いて説明する。図３において、回
線収容部（ＬＣ）（１２ａ）内には、図１におけるセル
処理機能部（１００）として、三種類のセル処理機能部
（１２１）〔個々のセル処理機能部を（１２１_A）、
（１２１_B）および（１２１_C）と称する〕が設けられ
ており、また図１におけるセル挿入抽出手段（２００）
として、三個のセル挿入抽出部（４）〔個々のセル挿入
抽出部を（４₁）、（４₂）および（４₃）と称する〕
が、各セル処理機能部（１２１）に対応して設けられて
おり、また障害探索制御部（ＡＮＬ）（５）内には、図
１における試験セル発生手段（３００）として情報接続
部（６）およびＡＴＭアナライザ（８）が設けられてお
り、また図１における試験経路設定手段（４００）とし
て選択部（７）が設けられている。

【００２８】なおＡＴＭアナライザ（８）は、例えば国
際電気通信連合−電気通信標準化部門〔ＩＴＵ−Ｔ〕に
よる勧告に準拠する標準形式の試験用セルを、所定数ま
たは連続して発生する機能を有し、広く市販されている
ものを流用可能である。

【００２９】情報接続部（６）は、図５に示される如
く、セル構成変換部（６１）、（６７）、クロック乗換
部（６２）、（６６）、擬正常発生部（６３）、レベル
変換部（６４）および（６５）を具備し、信号路
（Ｌ₆₁）および（Ｌ₆₂）によりＡＴＭアナライザ（８）
に接続され、また信号路（Ｌ₆₃）および（Ｌ₆₄）により
各セル挿入抽出部（４）に複式接続されている。

【００３０】ＡＴＭアナライザ（８）から発生される試
験用セルは、信号路（Ｌ₆₁）を経由してセル構成変換部
（６１）に伝達される。セル構成変換部（６１）は、Ａ
ＴＭアナライザ（８）が発生する標準形式の試験用セル
を、例えば図１０に示される如き、当該ＡＴＭ交換機
（１）に固有のセル形式に変換し、クロック乗換部（６
２）に伝達する。

【００３１】なおセル構成変換部（６１）は、自己経路
スイッチ（ＳＷ）（１１）で経路制御に使用するタグ、
或いは試験用経路設定の対象となるセル挿入抽出部
（４）、並びに設定対象試験用経路の識別情報を、試験
用セルに付加する場合も有る。

【００３２】クロック乗換部（６２）は、ＡＴＭアナラ
イザ（８）内で発生するクロック信号（ＣＬＫ）に同期
してセル構成変換部（６１）から伝達される試験用セル
を、情報接続部（６）に接続されるセル挿入抽出部
（４）から供給されるクロック信号（ＣＬＫ）に同期変
更し、擬正常発生部（６３）に伝達する。

【００３３】擬正常発生部（６３）は、クロック乗換部
（６２）から伝達される正常な試験用セルに、必要に応
じて所要の異常を施した擬正常試験用セルを発生し、レ
ベル変換部（６４）に伝達する。

【００３４】なおＡＴＭアナライザ（８）が発生し、セ
ル構成変換部（６１）、クロック乗換部（６２）および
擬正常発生部（６３）を介して伝達される試験用セル
は、所謂ＴＴＬレベルで出力されている。

【００３５】レベル変換部（６４）は、擬正常発生部
（６３）から伝達される試験用セルを、ＴＴＬレベルの
儘、セレクタ（ＳＥＬ）に入力すると共に、レベル変換
器（ＥＣＬＣＮＶ）によりＴＴＬレベルからＥＣＬレベ
ルに変換した後、セレクタ（ＳＥＬ）に入力している。

【００３６】セレクタ（ＳＥＬ）は、試験用セルの挿入
対象となるセル処理機能部（１２１）がＴＴＬレベルの
セルを取扱っているか、或いはＥＣＬレベルのセルを取
扱っているかを、例えばセル挿入抽出部（４）から直
接、或いはセル挿入抽出部（４）から選択部（７）を介
して通知されることにより、ＴＴＬレベルまたはＥＣＬ
レベルの試験用セルを選択し、各セル挿入抽出部（４）
に供給する。

【００３７】一方、レベル変換部（６５）は、セル挿入
抽出部（４）から信号路（Ｌ₆₄）を経由して伝達される
試験用セルがＴＴＬレベルの場合には、その儘セレクタ
（ＳＥＬ）に入力すると共に、ＥＣＬレベルからＴＴＬ
レベルに変換するレベル変換器（ＥＣＬＣＮＶ）により
無効レベルに変換してセレクタ（ＳＥＬ）に入力し、ま
たセル挿入抽出部（４）から伝達される試験用セルがＥ
ＣＬレベルの場合には、その儘セレクタ（ＳＥＬ）に入
力すると共に、ＥＣＬレベルからＴＴＬレベルに変換す
るレベル変換器（ＥＣＬＣＮＶ）によりＴＴＬレベルに
変換してセレクタ（ＳＥＬ）に入力する。

【００３８】従って、セレクタ（ＳＥＬ）は、試験用セ
ルの抽出対象となるセル処理機能部（１２１）がＴＴＬ
レベルのセルを取扱っているか、或いはＥＣＬレベルの
セルを取扱っているかを外部から通知されることによ
り、常にＴＴＬレベルの試験用セルを選択し、クロック
乗換部（６６）に伝達する。

【００３９】クロック乗換部（６６）は、レベル変換部
（６５）から、情報接続部（６）に接続されるセル挿入
抽出部（４）内で使用されているクロック信号（ＣＬ
Ｋ）に同期して伝達されるＴＴＬレベルの試験用セル
を、ＡＴＭアナライザ（８）内で発生するクロック信号
（ＣＬＫ）に同期変換し、セル構成変換部（６７）に伝
達する。

【００４０】セル構成変換部（６７）は、当該ＡＴＭ交
換機（１）に固有のセル形式を有する試験用セルを、Ａ
ＴＭアナライザ（８）が取扱う標準のセル形式に変換
し、信号路（Ｌ₆₂）を経由してＡＴＭアナライザ（８）
に伝達する。

【００４１】各セル挿入抽出部（４）は、図４に示され
る如き構成を有しており、二個のセレクタ（ＳＥＬ）
（４１）および（４２）と、６個のゲート（４３）乃至
（４８）を具備している。

【００４２】なお図４に示すされるセル挿入抽出部
（４）をセル挿入抽出部（４₁）とし、信号路
（Ｌ₄₁）、（Ｌ₄₂）および（Ｌ₄₃）はセル処理機能部
（１２１_A）に接続され、信号路（Ｌ₄₄）および
（Ｌ₄₅）はセル処理機能部（１２１_B）に接続されてい
るものとする。

【００４３】また信号路（Ｌ₄₆）、（Ｌ₄₇）および（Ｃ
₄₇）は、情報接続部（６）の信号路（Ｌ₆₂）、（Ｌ₆₃）
および（Ｃ₆₁）に接続されている。更に信号路
（Ｌ₄₃）、（Ｌ₄₆）、（Ｌ₄₇）、および（Ｃ₄₁）乃至
（Ｃ₄₉）は、選択部（７）の各種信号路（Ｃ）に接続さ
れている。

【００４４】セレクタ（ＳＥＬ）（４１）は、選択部
（７）から信号路（Ｃ₄₁）を経由して伝達されく選択信
号により、入力端子（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）の何れ
かを選択し、またセレクタ（ＳＥＬ）（４２）も、選択
部（７）から信号路（Ｃ₄₄）を経由して伝達されく選択
信号により、入力端子（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）の何
れかを選択する。

【００４５】なおゲート（４３）乃至（４６）は、選択
部（７）からそれぞれ信号路（Ｃ₄₃）乃至（Ｃ₄₆）を経
由して伝達される制御信号により、導通状態および遮断
状態に設定される。

【００４６】通常は、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）およ
び（４２）は、何れも入力端子（Ａ）を選択しており、
またゲート（４３）乃至（４６）は何れも遮断状態に設
定されており、セル挿入抽出部（４₁）には通常セル転
送経路が設定されており、セル処理機能部（１２１_A）
から信号路（Ｌ₄₁）に到着する通常セルは、セレクタ
（ＳＥＬ）（４１）および信号路（Ｌ₄₄）を経由してセ
ル処理機能部（１２１_B）に転送され、またセル処理機
能部（１２１_B）から信号路（Ｌ₄₅）に到着する通常セ
ルは、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）および信号路
（Ｌ₄₂）を経由してセル処理機能部（１２１_A）に転送
されている。

【００４７】かかる状態で、セレクタ（ＳＥＬ）（４
１）に入力端子（Ａ）を選択させた儘で、信号路
（Ｃ₄₄）に伝達される制御信号がゲート（４４）を導通
状態に設定させると、セル挿入抽出部（４₁）にはセル
処理機能部（１２１_A）から到着する試験用セルの抽出
経路が設定され、セル処理機能部（１２１_A）から信号
路（Ｌ ₄₁）に到着し、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）およ
び信号路（Ｌ₄₄）を経由してセル処理機能部（１２
１_B）に転送される試験用セルが、ゲート（４４）およ
び信号路（Ｌ₄₇）を経由して情報接続部（６）に転送さ
れ、また選セレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力端子
（Ａ）を選択させた儘で、信号路（Ｃ₄₅）に伝達される
制御信号がゲート（４５）を導通状態に設定させると、
セル挿入抽出部（４₁）にはセル処理機能部（１２
１_B）から到着する試験用セルの抽出経路が設定され、
セル処理機能部（１２１_B）から信号路（Ｌ₄₅）に到着
し、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）および信号路（Ｌ₄₂）
を経由してセル処理機能部（１２１_A）に転送される試
験用セルが、ゲート（４５）および信号路（Ｌ₄₇）を経
由して情報接続部（６）に転送される。

【００４８】また、選択部（７）から信号路（Ｃ₄₁）に
伝達される選択信号がセレクタ（ＳＥＬ）（４１）に入
力端子（Ｂ）を選択させ、また信号路（Ｃ₄₃）に伝達さ
れる制御信号がゲート（４３）を導通状態に設定させる
と、セル挿入抽出部（４₁）にはセル処理機能部（１２
１_B）に対する試験用セルの抽出経路が設定され、情報
接続部（６）から信号路（Ｌ₄₆）に到着する試験用セル
が、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）および信号路（Ｌ₄₄）
を経由してセル処理機能部（１２１_B）に転送され、ま
た選択部（７）から信号路（Ｃ₄₂）に伝達される選択信
号がセレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力端子（Ｂ）を選
択させ、また信号路（Ｃ₄₆）に伝達される制御信号がゲ
ート（４６）を導通状態に設定させると、セル挿入抽出
部（４₁）にはセル処理機能部（１２１_A）に対する試
験用セルの抽出経路が設定され、情報接続部（６）から
信号路（Ｌ₄₆）に到着する試験用セルが、セレクタ（Ｓ
ＥＬ）（４２）および信号路（Ｌ₄₂）を経由してセル処
理機能部（１２１_A）に転送される。

【００４９】更に、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）に入力
端子（Ａ）を選択させた儘で、選択部（７）から信号路
（Ｃ₄₂）に伝達される選択信号がセレクタ（ＳＥＬ）
（４２）に入力端子（Ｃ）を選択させると、セル挿入抽
出部（４₁）にはセル処理機能部（１２１_A）に対する
試験用セルの折返し経路が設定され、セル処理機能部
（１２１_A）から信号路（Ｌ₄₁）に到着し、セレクタ
（ＳＥＬ）（４１）および信号路（Ｌ₄₄）を経由してセ
ル処理機能部（１２１_B）に転送される試験用セルが、
セレクタ（ＳＥＬ）（４２）および信号路（Ｌ₄₂）を経
由してセル処理機能部（１２１_A）に折返し転送され、
また選セレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力端子（Ａ）を
選択させた儘で、選択部（７）から信号路（Ｃ₄₁）に伝
達される選択信号がセレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力
端子（Ｃ）を選択させると、セル挿入抽出部（４₁）に
はセル処理機能部（１２１_B）に対する試験用セルの折
返し経路が設定され、セル処理機能部（１２１_B）から
信号路（Ｌ₄₅）に到着し、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）
および信号路（Ｌ₄₂）を経由してセル処理機能部（１２
１ _A）に転送される試験用セルが、セレクタ（ＳＥＬ）
（４１）および信号路（Ｌ ₄₄）を経由してセル処理機能
部（１２１_B）に折返し転送される。

【００５０】以上により、セル挿入抽出部（４₁）は、
セル処理機能部（１２１_B）に対する試験用セルの挿入
経路と、セル処理機能部（１２１_A）に対する試験用セ
ルの挿入経路と、セル処理機能部（１２１_A）からの試
験用セルの抽出経路と、セル処理機能部（１２１_B）か
らの試験用セルの抽出経路と、セル処理機能部（１２１
_A）に対する試験用セルの折返し転送経路と、セル処理
機能部（１２１_B）に対する試験用セルの折返し転送経
路とを設定する機能を有するが、設定に当たっては、二
つのセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４２）に対し
てそれぞれ三状態を選択する選択信号と、四つのゲート
（４３）乃至（４６）に対して二状態を選択する制御信
号とを供給する必要があり、選択部（７）がその役割を
果たす。

【００５１】なお信号路（Ｌ₄₃）は、セル処理機能部
（１２１_A）内で検出された障害表示を、選択部（７）
に転送する経路である。また信号路（Ｃ₄₇）には、ゲー
ト（４７）から出力される、自セル挿入抽出部（４₁）
の存在を示す存在信号を、選択部（７）に転送する経路
であり、また信号路（Ｃ₄₈）には、ゲート（４８）から
出力される、セル処理機能部（１２１_A）および（１２
１_B）がＴＴＬレベルおよびＥＣＬレベルの何れである
かを示す電気的レベル識別信号を、情報接続部（６）に
転送する経路である。

【００５２】選択部（７）は、各セル挿入抽出部（４）
に対して各種の選択信号および制御信号を伝達し、また
各セル挿入抽出部（４）から転送される、対応するセル
処理機能部（１２１）の障害表示信号、自セル挿入抽出
部（４）の存在信号、隣接する両セル処理機能部（１２
１）の電気的レベル識別信号を受信する。

【００５３】なお選択部（７）は、情報接続部（６）と
異なり、各セル挿入抽出部（４）に対してそれぞれ個別
の信号路（Ｃ）で接続される必要があるが、図６には、
二組のセル挿入抽出部（４₁）および（４₂）に対する
信号路（Ｃ₇₁）乃至（Ｃ₇₄）のみが示されているものと
する。

【００５４】選択部（７）は、挿入回路選択指示入力部
（７１）、抽出回路選択指示入力部（７２）、セル挿入
開始指示入力部（７３）、セル抽出開始指示入力部（７
４）、挿入回路選択比較判定部（７５）、抽出回路選択
比較判定部（７６）、デコーダ（ＤＣＲ）（７７）、７
８、論理積回路（７９₁）乃至（７９₆）、ゲート（７
Ａ₁）乃至（７Ａ₆）、論理和回路（７Ｂ₁）および
（７Ｂ₂）から構成される。

【００５５】挿入回路選択指示入力部（７１）は、試験
用セルの挿入経路を設定するセル挿入抽出部（４）およ
び設定すべき挿入経路を選択し指定する識別情報を手動
で入力する機能を具備する。

【００５６】抽出回路選択指示入力部（７２）は、試験
用セルの抽出経路を設定するセル挿入抽出部（４）およ
び設定すべき抽出経路を選択し指定する識別情報を手動
で入力する機能を具備する。

【００５７】セル挿入開始指示入力部（７３）は、試験
セルを挿入開始する時点を設定する。セル抽出開始指示
入力部（７４）は、試験セルを抽出開始する時点を設定
する。

【００５８】例えばセル挿入抽出部（４₁）に、ゲート
（４３）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４１）を経由して
セル処理機能部（１２１_B）に試験用セルを挿入する挿
入経路を設定させるものとする。

【００５９】先ずセル挿入抽出部（４₁）が存在するこ
とを示す存在信号が、信号路（Ｃ₄₇）を経由して選択部
（７）に伝達されると、論理積回路（７９₁）、（７９
₂）および（７９₅）は、信号路（Ｃ₇₁₁）を経由して
伝達される存在信号により導通状態に設定される。

【００６０】かかる状態で、挿入回路選択指示入力部
（７１）に、セル挿入抽出部（４₁）内のゲート（４
３）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４１）を経由する挿入
経路を選択する選択情報が入力されると、挿入回路選択
指示入力部（７１）からデコーダ（ＤＣＲ）（７７）に
対して選択情報が伝達され、デコーダ（ＤＣＲ）（７
７）により、ゲート（４３）を導通状態に設定し、ゲー
ト（４６）を遮断状態に設定する制御信号と、セレクタ
（ＳＥＬ）（４１）に入力端子（Ｂ）を選択させ、セレ
クタ（ＳＥＬ）（４２）に入力端子（Ａ）を選択させる
選択信号とに変換し、ゲート（７Ａ₁）および（７
Ａ₂）に伝達する。

【００６１】かかる状態で、セル挿入開始指示入力部
（７３）に、試験用セルを挿入開始する時点を示す信号
が入力されると、ゲート（７Ａ₁）乃至（７Ａ₄）が導
通状態に設定され、デコーダ（ＤＣＲ）（７７）から論
理積回路（７９₁）および（７９₂）を介して伝達され
ている前述の制御信号および選択信号が、ゲート（７Ａ
₁）および（７Ａ₂）を介して信号路（Ｃ₇₂₁）および
（Ｃ₇₃₁）に出力されると共に、論理和回路（７Ｂ₁）
を介して挿入回路選択比較判定部（７５）にも伝達され
る。

【００６２】挿入回路選択比較判定部（７５）は、伝達
された前述の制御信号および選択信号を受信・分析し、
挿入回路選択指示入力部（７１）に入力された選択情報
に対応する制御信号および選択信号が確実に信号路（Ｃ
₇₂₁）および（Ｃ₇₃₁）に出力されたことを確認する。

【００６３】なお今回は、セル挿入抽出部（４₁）に対
しては試験用セルの挿入経路を設定したが、セル挿入抽
出部（４₂）に対しては挿入経路を設定しないものとす
ると、セル挿入抽出部（４₂）から信号路（Ｃ₇₁₂）に
存在信号が到着し、論理積回路（７９₃）および（７９
₄）が導通状態に設定されていても、信号路（Ｃ₇₂₂）
および（Ｃ₇₂₃）に不要の制御信号および選択信号が出
力されることを防止する為に、デコーダ（ＤＣＲ）（７
７）は、論理積回路（７９₁）および（７９₂）に対し
てのみセル挿入抽出部（４₁）用の制御信号および選択
信号を出力し、論理積回路（７９₃）および（７９₄）
に対してはセル挿入抽出部（４₂）用の制御信号および
選択信号を出力することを防止する。

【００６４】次に、セル挿入抽出部（４₁）にゲート
（４３）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４１）を経由して
セル処理機能部（１２１_B）に試験用セルを挿入する挿
入経路を設定させると共に、セル挿入抽出部（４₂）に
はゲート（４６）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４２）を
経由してセル処理機能部（１２１_A）に試験用セルを挿
入する挿入経路を設定させるものとする。

【００６５】先ずセル挿入抽出部（４₁）および
（４₂）が存在することを示す存在信号が、信号路（Ｃ
₇₁₁）および（Ｃ₇₁₂）に到着する。論理積回路（７９
₁）乃至（７９₆）は、セル挿入抽出部（４₁）の信号
路（Ｃ₄₇）から選択部（７）の信号路（Ｃ₇₁₁）に到着
する存在信号と、セル挿入抽出部（４₂）の信号路（Ｃ
₄₇）から選択部（７）の信号路（Ｃ₇₁₂）に到着する存
在信号とが共に存在する状態を示す為、何れも導通状態
に設定される。

【００６６】かかる状態で、挿入回路選択指示入力部
（７１）に、セル挿入抽出部（４₁）内のゲート（４
３）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４１）を経由する挿入
経路を選択する選択情報と、セル挿入抽出部（４₂）内
のゲート（４６）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４２）を
経由する挿入経路を選択する選択情報とが入力される
と、挿入回路選択指示入力部（７１）からデコーダ（Ｄ
ＣＲ）（７７）に対して両選択情報が伝達され、デコー
ダ（ＤＣＲ）（７７）により、セル挿入抽出部（４₁）
内のゲート（４３）を導通状態に設定し、ゲート（４
６）を遮断状態に設定する制御信号と、セレクタ（ＳＥ
Ｌ）（４１）に入力端子（Ｂ）を選択させ、セレクタ
（ＳＥＬ）（４２）に入力端子（Ａ）を選択させる選択
信号と、セル挿入抽出部（４₂）内のゲート（４６）を
導通状態に設定し、ゲート（４３）を遮断状態に設定す
る制御信号と、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力端子
（Ｂ）を選択させ、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）に入力
端子（Ａ）を選択させる選択信号とに変換し、ゲート
（７Ａ₁）乃至（７Ａ₄）に伝達する。

【００６７】かかる状態で、セル挿入開始指示入力部
（７３）に、試験用セルを挿入開始する時点を示す信号
が入力されると、ゲート（７Ａ₁）乃至（７Ａ₄）が導
通状態に設定され、デコーダ（ＤＣＲ）（７７）から論
理積回路（７９₁）乃至（７９ ₄）を介して伝達されて
いる前述の両制御信号および両選択信号が、ゲート（７
Ａ₁）乃至（７Ａ₄）を介して信号路（Ｃ₇₂₁）、（Ｃ
₇₃₁）、（Ｃ₇₂₂）およひ（Ｃ₇₃₂）に出力すると共
に、論理和回路（７Ｂ₁）を介して挿入回路選択比較判
定部（７５）にも伝達する。

【００６８】挿入回路選択比較判定部（７５）は、伝達
された前述の両制御信号および両選択信号を受信・分析
し、挿入回路選択指示入力部（７１）に入力された両選
択情報に対応する両制御信号および両選択信号が確実に
信号路（Ｃ₇₂₁）、（Ｃ₇₃₁）、（Ｃ₇₂₂）およひ（Ｃ
₇₃₂）に出力されたことを確認する。

【００６９】なお今回は、セル挿入抽出部（４₁）およ
び（４₂）に対してそれぞれ挿入経路を設定しているの
で、各セル挿入抽出部（４₁）および（４₂）にそれぞ
れ対応する制御信号および選択信号が、誤り無く伝達さ
れることを確認する必要がある。

【００７０】次に、セル挿入抽出部（４₁）に、セル処
理機能部（１２１_A）からの試験用セルを、セレクタ
（ＳＥＬ）（４１）およびゲート（４４）を経由して抽
出する抽出経路を設定させるものとする。

【００７１】先ずセル挿入抽出部（４₁）が存在するこ
とを示す存在信号が選択部（７）に伝達されると、論理
積回路（７９₁）、（７９₂）および（７９₅）は、前
述と同様に、導通状態に設定される。

【００７２】かかる状態で抽出回路選択指示入力部（７
２）に、セル挿入抽出部（４₁）内のセレクタ（ＳＥ
Ｌ）（４１）およびゲート（４４）を経由する抽出経路
を選択する選択情報が入力されると、抽出回路選択指示
入力部（７２）からデコーダ（ＤＣＲ）（７８）に対し
て選択情報が伝達され、デコーダ（ＤＣＲ）（７８）に
より、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４２）に入
力端子（Ａ）を選択させる選択信号と、ゲート（４４）
を導通状態に設定し、ゲート（４５）を遮断状態に設定
する制御信号とに変換し、ゲート（７Ａ₅）に伝達す
る。

【００７３】かかる状態で、セル抽出開始指示入力部
（７４）に、試験用セルを抽出開始する時点を示す信号
が入力されると、ゲート（７Ａ₅）および（７Ａ₆）が
導通状態に設定され、デコーダ（ＤＣＲ）（７８）から
論理積回路（７９₅）を介して伝達されている前述の制
御信号および選択信号が、ゲート（７Ａ₅）を介して信
号路（Ｃ₇₄₁）に出力されると共に、論理和回路（７Ｂ
₂）を介して抽出回路選択比較判定部（７６）にも伝達
される。

【００７４】抽出回路選択比較判定部（７６）は、伝達
された前述の制御信号および選択信号を受信・分析し、
抽出回路選択指示入力部（７２）に入力された選択情報
に対応する制御信号および選択信号が確実に信号路（Ｃ
₇₄₁）に出力されたことを確認する。なお今回は、セル
挿入抽出部（４₁）に対してのみ試験用セルの抽出経路
を設定し、セル挿入抽出部（４₂）に対しては抽出経路
を設定しないものとすると、セル挿入抽出部（４₂）か
ら信号路（Ｃ₇₁₂）に存在信号が到着し、論理積回路
（７９₆）が導通状態に設定されていても、信号路（Ｃ
₇₄₂）に不要の制御信号および選択信号が出力されるこ
とを防止する為に、デコーダ（ＤＣＲ）（７８）は、論
理積回路（７９₆）に対してはセル挿入抽出部（４₂）
用の制御信号および選択信号を出力することを防止す
る。

【００７５】次に、セル挿入抽出部（４₁）に、セル処
理機能部（１２１_A）からの試験用セルを、セレクタ
（ＳＥＬ）（４１）およびゲート（４４）を経由して抽
出する抽出経路を設定させると共に、セル挿入抽出部
（４₂）には、セル処理機能部（１２１_C）からの試験
用セルを、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）およびゲート
（４５）を経由して抽出する抽出経路を設定させるもの
とする。

【００７６】先ずセル挿入抽出部（４₁）および
（４₂）が存在することを示す存在信号が、選択部
（７）に伝達されると、論理積回路（７９₁）乃至（７
９₆）は、前述と同様に、何れも導通状態に設定され
る。

【００７７】かかる状態で、抽出回路選択指示入力部
（７２）に、セル挿入抽出部（４₁）内のセレクタ（Ｓ
ＥＬ）（４１）およびゲート（４３）を経由する抽出経
路を選択する選択情報と、セル挿入抽出部（４₂）内の
セレクタ（ＳＥＬ）（４２）およびゲート（４５）を経
由する抽出経路を選択する選択情報とが入力されると、
抽出回路選択指示入力部（７２）からデコーダ（ＤＣ
Ｒ）（７８）に対して両選択情報が伝達され、デコーダ
（ＤＣＲ）（７８）により、セル挿入抽出部（４₁）内
のセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４２）に入力端
子（Ａ）を選択させる選択信号と、ゲート（４４）を導
通状態に設定し、ゲート（４５）を遮断状態に設定する
制御信号と、セル挿入抽出部（４₂）内のセレクタ（Ｓ
ＥＬ）（４１）および（４２）に入力端子（Ａ）を選択
させる選択信号と、ゲート（４５）を導通状態に設定
し、ゲート（４４）を遮断状態に設定する制御信号とに
変換し、ゲート（７Ａ₅）および（７Ａ₆）に伝達す
る。

【００７８】かかる状態で、セル抽出開始指示入力部
（７４）に、試験用セルを抽出開始する時点を示す信号
が入力されると、ゲート（７Ａ₅）および（７Ａ₆）が
導通状態に設定され、デコーダ（ＤＣＲ）（７８）から
論理積回路（７９₅）および（７９₆）を介して伝達さ
れている前述の両制御信号および両選択信号が、ゲート
（７Ａ₅）および（７Ａ₆）を介して信号路（Ｃ₇₄₁）
およひ（Ｃ₇₄₂）に出力すると共に、論理和回路（７Ｂ
₂）を介して抽出回路選択比較判定部（７６）にも伝達
する。

【００７９】抽出回路選択比較判定部（７６）は、伝達
された前述の両制御信号および両選択信号を受信・分析
し、抽出回路選択指示入力部（７２）に入力された両選
択情報に対応する両制御信号および両選択信号が確実に
信号路（Ｃ₇₄₁）および（Ｃ ₇₄₂）に出力されたことを
確認する。

【００８０】なお今回は、セル挿入抽出部（４₁）およ
び（４₂）に対してそれぞれ抽出経路を設定しているの
で、各セル挿入抽出部（４₁）および（４₂）にそれぞ
れ対応する制御信号および選択信号が、誤り無く伝達さ
れることを確認する必要がある。

【００８１】更に、セル挿入抽出部（４₁）内またはセ
ル挿入抽出部（４₁）および（４₂）内に、折返し経路
を設定する場合には、挿入経路または抽出経路の設定過
程に準じて、挿入回路選択指示入力部（７１）または抽
出回路選択指示入力部（７２）に、それぞれの折返し経
路の選択情報を入力すると、選択部（７）からセル挿入
抽出部（４₁）またはセル挿入抽出部（４₁）および
（４₂）に、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）または（４
２）に入力端子（Ｃ）を選択させる選択信号と、ゲート
（４３）乃至（４６）を遮断状態に設定する制御信号と
が伝達され、セル挿入抽出部（４₁）内またはセル挿入
抽出部（４₁）および（４₂）内に、信号路（Ｌ₄₁）に
到着するセルを、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）、信号路
（Ｌ₄₄）、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）および信号路
（Ｌ₄₂）を経由して返送する折返し経路、または信号路
（Ｌ₄₅）に到着するセルを、セレクタ（ＳＥＬ）（４
２）、信号路（Ｌ₄₂）、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）お
よび信号路（Ｌ₄₄）を経由して返送する折返し経路が設
定可能となるが、詳細は省略する。

【００８２】以上の説明から明らかな如く、本発明（請
求項１乃至６）の実施例によれば、選択部（７）の挿入
回路選択指示入力部（７１）または抽出回路選択指示入
力部（７２）に、対象とするセル挿入抽出部（４）およ
び試験用経路の選択情報を入力することにより、所望の
セル挿入抽出部（４）に所望の試験用経路が設定可能と
なり、設定された試験用経路を経由して、ＡＴＭアナラ
イザ（８）から所定数の試験用セル、または連続する試
験用セルを、情報接続部（６）を介して送受信すること
により、障害箇所の確定が可能となる。

【００８３】次に、本発明（請求項７）の実施例を、図
７を用いて補足する。本発明（請求項７）の実施例にお
いては、前述の図４に示されるセル挿入抽出部（４）の
代わりに、図７に示されるセル挿入抽出部（４）が使用
される。

【００８４】図４に示されるセル挿入抽出部（４）は、
図４に示されるセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４
２）、並びにゲート（４３）乃至（４６）の他に、挿入
回路番号検査部（ＩＮＣ）（４９）および抽出回路番号
検査部（ＣＮＣ）（４Ａ）を具備している。

【００８５】なおゲート（４７）および（４８）に関す
る部分は、図４におけるセル挿入抽出部（４₁）と変わ
りは無いので、説明は省略されている。挿入回路番号検
査部（ＩＮＣ）（４９）および抽出回路番号検査部（Ｃ
ＮＣ）（４Ａ）には、ＡＴＭ交換機（１）内に設けられ
ている各セル挿入抽出部（４）をそれぞれ識別する識別
情報が、予め設定されている。

【００８６】各セル挿入抽出部（４）内のセレクタ（Ｓ
ＥＬ）（４１）および（４２）に対する選択信号、並び
にゲート（４３）乃至（４６）に対する制御信号は、選
択部（７）から伝達される代わりに、同一セル挿入抽出
部（４）内に設けられている挿入回路番号検査部（ＩＮ
Ｃ）（４９）および抽出回路番号検査部（ＣＮＣ）（４
Ａ）から伝達される。

【００８７】また本発明（請求項７）の実施例において
は、情報接続部（６）内のセル構成変換部（６１）は、
ＡＴＭアナライザ（８）から伝達される標準形式の試験
用セルの所定位置、例えば図１０に示されるペイロード
（ＰＬ）の先頭位置、或いはヘッダ（ＨＤ）の仮想チャ
ネル識別子（ＶＣＩ）内に、試験用セル転送経路の設定
対象とするセル挿入抽出部（４）の識別情報と、セル挿
入抽出部（４）内に設定対象とする試験用セル転送経路
の識別情報とを、変換の際に設定する。

【００８８】情報接続部（６）から送出される試験用セ
ルは、総てのセル挿入抽出部（４）に並行して伝達され
る。各セル挿入抽出部（４）においては、挿入回路番号
検査部（ＩＮＣ）（４９）が、情報接続部（６）から伝
達される試験用セルが信号路（Ｌ₄₆）に到着すると、試
験用セルの所定位置に設定されているセル挿入抽出部
（４）の識別情報を抽出し、自セル挿入抽出部（４）に
付与されている識別情報と比較する。

【００８９】比較の結果、自セル挿入抽出部（４）の識
別情報と不一致の場合には、試験用セルを受信しない
が、一致した場合には、更に試験用セルの所定位置に設
定されている試験用セル転送経路の識別情報を抽出し、
ゲート（４３）およびセレクタ（ＳＥＬ）（４１）を経
由する試験用セルの挿入経路、およびゲート（４６）お
よびセレクタ（ＳＥＬ）（４２）を経由する試験用セル
の挿入経路の何れが指定されているかを分析する。

【００９０】分析の結果、ゲート（４３）およびセレク
タ（ＳＥＬ）（４１）を経由する試験用セルの挿入経路
を指定すると判明した場合には、ゲート（４３）を導通
状態に設定し、またセレクタ（ＳＥＬ）（４１）に入力
端子（Ｂ）を選択させ、またゲート（４６）を遮断状態
に設定し、またセレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力端子
（Ａ）を選択させる。

【００９１】また分析の結果、ゲート（４６）およびセ
レクタ（ＳＥＬ）（４２）を経由する試験用セルの挿入
経路を指定すると判明した場合には、ゲート（４６）を
導通状態に設定し、またセレクタ（ＳＥＬ）（４２）に
入力端子（Ｂ）を選択させ、またゲート（４３）を遮断
状態に設定し、またセレクタ（ＳＥＬ）（４１）に入力
端子（Ａ）を選択させる。

【００９２】以上により、情報接続部（６）から出力さ
れた試験用セルは、対象とするセル挿入抽出部（４）内
の、対象とする挿入経路を経由して挿入されることとな
る。一方抽出回路番号検査部（ＣＮＣ）（４Ａ）には、
信号路（Ｌ₄₁）に到着し、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）
を経由して信号路（Ｌ₄₄）に転送されるセルが、信号路
（Ｌ₄₄）を経由して入力されると共に、信号路（Ｌ₄₅）
に到着し、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）を経由して信号
路（Ｌ₄₂）に転送されるセルが、信号路（Ｌ ₄₂）を経由
して伝達される。

【００９３】抽出回路番号検査部（ＣＮＣ）（４Ａ）
は、到着したセルの所定位置に、セル挿入抽出部（４）
の識別情報が設定されているか否かを分析し、設定され
ていなければ、試験用セルでは無いと判定し、また設定
されている場合には、設定されているセル挿入抽出部
（４）の識別情報を抽出し、自セル挿入抽出部（４）に
付与されている識別情報と比較する。

【００９４】比較の結果、自セル挿入抽出部（４）の識
別情報と不一致の場合には、試験用セルを受信しない
が、一致した場合には、更に試験用セルの所定位置に設
定されている試験用セル転送経路の識別情報を抽出し、
ゲート（４４）または（４５）を経由する試験用セルの
抽出経路、およびセレクタ（ＳＥＬ）（４２）または
（４１）を経由する試験用セルの折返し転送経路の何れ
が指定されているかを分析する。

【００９５】分析の結果、ゲート（４４）または（４
５）を経由する試験用セルの抽出経路を指定すると判明
した場合には、ゲート（４４）または（４５）を導通状
態に設定し、またセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および
（４２）に入力端子（Ａ）を選択させる。

【００９６】また分析の結果、セレクタ（ＳＥＬ）（４
２）を経由する試験用セルの折返し転送経路を指定する
と判明した場合には、ゲート（４４）および（４５）を
遮断状態に設定し、セレクタ（ＳＥＬ）（４１）に入力
端子（Ａ）を選択させると共に、セレクタ（ＳＥＬ）
（４２）に入力端子（Ｂ）を選択させる。

【００９７】また分析の結果、セレクタ（ＳＥＬ）（４
１）を経由する試験用セルの折返し転送経路を指定する
と判明した場合には、ゲート（４４）および（４５）を
遮断状態に設定し、セレクタ（ＳＥＬ）（４２）に入力
端子（Ａ）を選択させると共に、セレクタ（ＳＥＬ）
（４１）に入力端子（Ｂ）を選択させる。

【００９８】以上により、隣接するセル処理機能部（１
２１）から到着する試験用セルは、対象とするセル挿入
抽出部（４）内の、対象とする抽出経路を経由して情報
接続部（６）に抽出されるか、或いは対象とするセル挿
入抽出部（４）内の、対象とする折返し転送経路を経由
して情報接続部（６）に抽出されることとなる。

【００９９】なお、一つの試験用セルを、特定のセル挿
入抽出部（４）から挿入し、特定のセル挿入抽出部
（４）から抽出する場合にも、二組のセル挿入抽出部
（４）の識別情報と各セル挿入抽出部（４）内の試験用
パス転送経路の識別情報とを設定する必要がある為、情
報接続部（６）内のセル構成変換部（６１）は、二組以
上のセル挿入抽出部（４）の識別情報と各セル挿入抽出
部（４）内の試験用パス転送経路の識別情報とを所定位
置に設定する機能を具備する必要がある。

【０１００】以上の説明から明らかな如く、本発明（請
求項７）の実施例によれば、ＡＴＭ交換機（１）内に設
けられる各セル挿入抽出部（４）に挿入回路番号検査部
（ＩＮＣ）（４９）および抽出回路番号検査部（ＣＮ
Ｃ）（４Ａ）を設け、また情報接続部（６）内のセル構
成変換部（６１）に、試験用セルにセル挿入抽出部
（４）および試験セル用転送経路の識別情報を二組以上
設定する機能を具備させることにより、所望のセル挿入
抽出部（４）に所望の試験用セルの転送経路が設定可能
となり、設定された試験用経路を経由して、ＡＴＭアナ
ライザ（８）から所定数の試験用セル、または連続する
試験用セルを、情報接続部（６）を介して送受信するこ
とにより、障害箇所の確定が可能となる。

【０１０１】次に、本発明（請求項８および９）の実施
例を、図８を用いて補足する。本発明（請求項８および
９）の実施例においては、前述の図４に示されるセル挿
入抽出部（４）の代わりに、図８に示されるセル挿入抽
出部（４）が使用される。

【０１０２】図８に示されるセル挿入抽出部（４）は、
本発明（請求項８）に対応する場合には、図４に示され
るセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４２）の代わり
にに、バッファ付セレクタ（ＳＥＬ・ＦＩＦＯ）（４
Ｂ）および（４Ｃ）を具備し、また本発明（請求項９）
に対応する場合には、分岐部（Ｄ）（４Ｄ）および（４
Ｅ）が設けられている。

【０１０３】なおゲート（４７）および（４８）に関す
る部分は、図４におけるセル挿入抽出部（４₁）と変わ
りは無いので、説明は省略されている。バッファ付セレ
クタ（ＳＥＬ・ＦＩＦＯ）（４Ｂ）および（４Ｃ）は、
図４に示されるセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４
２）に、各入力端子（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）から入
力される通常セルおよび試験用セルを、予め定められた
セル数だけ蓄積した後、先着順に送出する先入れ先出し
部（ＦＩＦＯ）を具備する。

【０１０４】またバッファ付セレクタ（ＳＥＬ・ＦＩＦ
Ｏ）（４Ｂ）および（４Ｃ）は、図４または図７に示さ
れるセレクタ（ＳＥＬ）（４１）および（４２）の如
く、各入力端子（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）を固定的に
選択し、選択した入力端子（Ａ）、（Ｂ）または（Ｃ）
に入力されるセルのみを出力するものでは無く、各入力
端子（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）に入力されるセルを、
それぞれ対応する先入れ先出し部（ＦＩＦＯ）に蓄積し
た後、各入力端子（Ａ）、（Ｂ）および（Ｃ）に予め付
与された優先順位に従って、蓄積されているセルを抽出
し、多重化して出力する機能を具備している。

【０１０５】例えば入力端子（Ａ）に最優先順位を付与
し、入力端子（Ｂ）および（Ｃ）により低優先順位を付
与することにより、入力端子（Ａ）からの通常転送経路
に入力される通常セルをを最優先で転送し、入力端子
（Ｂ）からの挿入経路に入力される試験用セル、或いは
入力端子（Ｃ）からの折返し転送経路に入力される試験
用セルは、通常セルの合間に転送することが可能とな
る。

【０１０６】以上の説明から明らかな如く、本発明（請
求項８）の実施例によれば、バッファ付セレクタ（ＳＥ
Ｌ・ＦＩＦＯ）（４Ｂ）および（４Ｃ）を設けることに
より、通常経路を転送される通常セルの合間に、挿入経
路または折返し転送経路を転送される試験用セルを挿入
することが可能となる。

【０１０７】また分岐部（Ｄ）（４Ｄ）および（４Ｅ）
は、バッファ付セレクタ（ＳＥＬ・ＦＩＦＯ）（４Ｂ）
および（４Ｃ）から出力されるセルの中から、予め定め
られた種別のセルを、例えばヘッダ（ＨＤ）を分析する
ことにより識別して分岐し、信号路（Ｌ₄₄）および（Ｌ
₄₂）へは出力せず、ゲート（４４）または（４５）を介
して信号路（Ｌ₄₇）に出力させるものである。

【０１０８】この様な特定のセルが分岐されたセルを転
送することにより、セル処理機能部（１２１）に設けら
れている異常損失セルの検出機能を試験することも可能
となる。

【０１０９】以上の説明から明らかな如く、本発明（請
求項９）の実施例によれば、分岐部（Ｄ）（４Ｄ）およ
び（４Ｅ）を設けることにより、通常経路を転送される
通常セルの合間に、挿入経路または折返し転送経路を転
送される試験用セルを挿入することが可能となる。

【０１１０】なお、図２乃至図８はあく迄本発明の一実
施例に過ぎず、例えばセル挿入抽出手段（２００）およ
び試験セル発生手段（３００）の構成は図示されるもの
に限定されることは無く、他に幾多の変形が考慮される
が、何れの場合にも本発明の効果は変わらない。また本
発明の対象となるＡＴＭ交換機の構成は図示されるもの
に限定されることは無く、他に幾多の変形が考慮される
が、何れの場合にも本発明の効果は変わらない。

【０１１１】

【発明の効果】以上、本発明によれば、ＡＴＭ交換機内
の任意のセル処理機能部を経由して、所定数の試験用セ
ルを転送し、或いは連続的に試験用セルを転送し、分析
することが可能となり、当該ＡＴＭ交換機の信頼性およ
び保全性が大幅に向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理を示す図

【図２】本発明の一実施例によるＡＴＭ交換機を示す
図

【図３】本発明の一実施例による障害探索系を示す図

【図４】図３におけるセル挿入抽出部の一例を示す図

【図５】図３における情報接続部の一例を示す図

【図６】図３における選択部の一例を示す図

【図７】図３におけるセル挿入抽出部〔請求項７対
応〕の一例を示す図

【図８】図３におけるセル挿入抽出部〔請求項８、９
対応〕の一例を示す図

【図９】従来あるＡＴＭ交換機の一例を示す図

【図１０】本発明の対象となるセルの構成の一例を示
す図

【図１１】セルと共に伝送される各種信号の一例を示
す図

【符号の説明】

１ＡＴＭ交換機２通信回線３ロジックアナライザ（ＬＡ）４セル挿入抽出部５障害探索制御部（ＡＮＬ）６情報接続部７選択部８ＡＴＭアナライザ１１自己経路スイッチ（ＳＷ）１２、１２ａ回線収容部（ＬＣ）１３中央制御部（ＣＣ）１４試験セル発生部（ＴＣＧ）４１、４２セレクタ（ＳＥＬ）４３乃至４８、４Ｆ、４Ｇゲート４９挿入回路番号検査部（ＩＮＣ）４Ａ抽出回路番号検査部（ＣＮＣ）４Ｂ、４Ｃバッファ付セレクタ（ＳＥＬ・ＦＩＦＯ）４Ｄ、４Ｅ分岐部（Ｄ）６１、６７セル構成変換部６２、６６クロック乗換部６３擬正常発生部６４、６５レベル変換部７１挿入回路選択指示入力部７２抽出回路選択指示入力部７３セル挿入開始指示入力部７４セル抽出開始指示入力部７５挿入回路選択比較判定部７６抽出回路選択比較判定部７７、７８デコーダ（ＤＣＲ）７９論理積回路７Ａゲート７Ｂ論理和回路１００、１２１セル処理機能部２００セル挿入抽出手段３００試験セル発生手段４００試験経路設定手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者福田健次神奈川県横浜市港北区新横浜３丁目９番18 号富士通コミュニケーション・システムズ株式会社内 (72)発明者大橋正紀神奈川県横浜市港北区新横浜３丁目９番18 号富士通コミュニケーション・システムズ株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ＡＴＭ交換機に、所定数の試験用セルま
たは連続する試験用セルを発生して外部に送信し、且つ
外部から到着するセルを、指定されたセルと比較・解析
する試験セル発生手段を設け、前記ＡＴＭ交換機を構成する各セル処理機能部間に、前
記ＡＴＭ交換機内で使用される通常のセルを、一方のセ
ル処理機能部から他方のセル処理機能部へ転送する通常
転送経路と、前記試験セル発生手段から供給される試験
用セルを前記通常転送経路に挿入する試験用セル挿入経
路と、前記通常転送経路を経由して転送される前記試験
用セルを抽出して前記試験セル発生手段に転送する試験
用セル抽出経路と、前記一方のセル処理機能部から前記
他方のセル処理機能部へ転送されるセルを、前記セルの
送信元のセル処理機能部に折返し転送する折返し転送経
路とを準備し、外部からの指定された経路を設定するセ
ル挿入抽出手段を設け、前記ＡＴＭ交換機に、前記各セル処理機能部間に設けら
れている前記各セル挿入抽出手段の設定経路を指定する
試験経路設定手段を設け、前記ＡＴＭ交換機内に所要の試験用セルを転送する試験
経路を設定し、前記試験経路を経由して前記試験用セル
を転送することにより、前記ＡＴＭ交換機内に発生する
障害を探索することを特徴とする障害探索方式。
【請求項２】前記試験セル発生手段は、前記試験用セ
ル挿入経路を設定するセル挿入抽出手段から供給される
クロック信号に同期した前記試験用セルを送信し、前記抽出する試験用セルと並行して伝達されるクロック
信号に同期して前記試験用セルを抽出して受信すること
を特徴とする請求項１記載の障害探索方式。
【請求項３】前記試験セル発生手段は、前記各セル挿
入抽出手段に対して前記試験用セルの転送経路を複式に
接続し、前記各セル挿入抽出手段は、前記試験経路設定
手段により導通状態を制御されるゲートを介して前記試
験セル発生手段に接続し、前記試験経路設定手段は、設
定した前記試験用セル挿入経路または前記試験用セル抽
出経路を前記試験セル発生手段に接続すべきセル挿入抽
出手段を選択し、選択された前記セル挿入抽出手段内の
ゲートのみを導通状態に設定して前記試験経路を設定可
能とすることを特徴とする請求項１記載の障害探索方
式。
【請求項４】前記セル挿入抽出手段は、隣接する前記
セル処理機能部との間でセルを転送する際に必要とする
インタフェース条件を、前記試験セル発生手段に通知す
る機能を具備することにより、前記試験セル発生手段を
前記試験用セルの転送対象とするセル処理機能部のイン
タフェース条件に適合した試験用セルを送受信可能とす
ることを特徴とする請求項１記載の障害探索方式。
【請求項５】前記セル挿入抽出手段は、自セル挿入抽
出手段の存在の有無を通知する機能を具備し、前記試験
経路設定手段は、試験経路設定用に指定した前記セル挿
入抽出手段の存在を確認する機能を具備することによ
り、存在しない前記セル挿入抽出手段に対する試験経路
の設定指示を検出可能とすることを特徴とする請求項１
記載の障害探索方式。
【請求項６】前記試験セル発生手段は、故意に誤りを
内蔵する擬正常セルを試験用セルとして発生する機能を
具備することにより、前記各セル処理機能部の内蔵する
異常検出機能の正常性を試験可能とすることを特徴とす
る請求項１記載の障害探索方式。
【請求項７】前記試験セル発生手段は、前記セル挿入
抽出手段に供給する試験用セルの所定位置に、前記試験
用セル挿入経路、前記試験用セル抽出経路、或いは折返
し転送経路の設定を要求する前記セル挿入抽出手段の識
別情報と、該セル挿入抽出手段内に設定すべき経路の識
別情報とを付加して前記各セル挿入抽出手段に並行して
転送し、前記各セル挿入抽出手段は、前記試験セル発生手段また
は隣接する前記セル処理機能部から伝達される前記試験
用セルに付加されている前記識別情報を分析し、自セル
挿入抽出手段の識別情報を付加された試験用セルを受信
し、受信した試験用セルに付加されている設定経路の識
別情報に対応する経路を自動的に設定することを特徴と
する請求項１記載の障害探索方式。
【請求項８】前記セル挿入抽出手段は、前記通常転送
経路、前記試験用セル挿入経路および前記折返し転送経
路に前記セルを一時的に蓄積するバッファ機能と、前記
各経路にそれぞれ優先度を付加して多重する機能とを具
備することにより、前記通常転送経路を経由する前記通
常セルの所要時間領域に、前記試験用セルを挿入可能と
することを特徴とする請求項１記載の障害探索方式。
【請求項９】前記セル挿入抽出手段は、前記転送中の
通常セルを除去する除去機能を具備することにより、前
記通常セルの異常損失を試験可能とすることを特徴とす
る請求項１記載の障害探索方式。