JP3506479B2 - 装置内パス監視方式 - Google Patents
装置内パス監視方式Info
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- JP3506479B2 JP3506479B2 JP06210494A JP6210494A JP3506479B2 JP 3506479 B2 JP3506479 B2 JP 3506479B2 JP 06210494 A JP06210494 A JP 06210494A JP 6210494 A JP6210494 A JP 6210494A JP 3506479 B2 JP3506479 B2 JP 3506479B2
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- JP
- Japan
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- port number
- cell
- output
- input
- pattern
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＴＭ（非同期転送モ
ード：Asynchronous Transfer Mode）伝送装置における
ＯＡＭ（運用、管理、保守：Operation,Administration
and Maintenance）セルを用いた装置内パス監視方式に
関する。
ード：Asynchronous Transfer Mode）伝送装置における
ＯＡＭ（運用、管理、保守：Operation,Administration
and Maintenance）セルを用いた装置内パス監視方式に
関する。
【０００２】音声通信、データ通信、画像通信等のマル
チメディアサービスを統一的に扱うＢ−ＩＳＤＮ（広帯
域総合ディジタル通信網：Broadband Integrated Servi
cesDigital Network ）を構築するための基盤伝送技術
としてＡＴＭが脚光を浴びている。ＡＴＭは情報を分割
し、それに行き先の書かれたヘッダを付けた固定長の短
いセルを単位に、高速に信号を多重・変換する技術であ
り、従来の同期多重方式に存在した通信速度の制約を無
くした点が大きな特徴であり、これにより、速度やバー
スト性の異なる多様なサービスを統合して取り扱うこと
を可能にしている。
チメディアサービスを統一的に扱うＢ−ＩＳＤＮ（広帯
域総合ディジタル通信網：Broadband Integrated Servi
cesDigital Network ）を構築するための基盤伝送技術
としてＡＴＭが脚光を浴びている。ＡＴＭは情報を分割
し、それに行き先の書かれたヘッダを付けた固定長の短
いセルを単位に、高速に信号を多重・変換する技術であ
り、従来の同期多重方式に存在した通信速度の制約を無
くした点が大きな特徴であり、これにより、速度やバー
スト性の異なる多様なサービスを統合して取り扱うこと
を可能にしている。
【０００３】ＡＴＭでは網運用管理面においても従来技
術と異なり、可変容量のＶＰ（仮想パス：Virtual Path
)による網構成の柔軟化を可能とする網運用管理システ
ムの構築が可能である。このために情報セルとは別にＯ
ＡＭセルと呼ばれるセルが用いられ、遠隔監視、試験お
よび制御等の種々の用途に用いられる。装置内のパス監
視についてもこのＯＡＭセルが用いられるため、ＡＴＭ
特有の装置内パス監視方式の確立が望まれている。
術と異なり、可変容量のＶＰ（仮想パス：Virtual Path
)による網構成の柔軟化を可能とする網運用管理システ
ムの構築が可能である。このために情報セルとは別にＯ
ＡＭセルと呼ばれるセルが用いられ、遠隔監視、試験お
よび制御等の種々の用途に用いられる。装置内のパス監
視についてもこのＯＡＭセルが用いられるため、ＡＴＭ
特有の装置内パス監視方式の確立が望まれている。
【０００４】
【従来の技術】装置内パス監視は装置を構成する各機能
ブロック単位（通常、プリント板単位）で故障部分を特
定できるものとし、方式的には、マルチポイント・ド
ロップ方式と、シングルポイント・ドロップ方式、の
二つに大別される。
ブロック単位（通常、プリント板単位）で故障部分を特
定できるものとし、方式的には、マルチポイント・ド
ロップ方式と、シングルポイント・ドロップ方式、の
二つに大別される。
【０００５】図９にマルチポイント・ドロップ方式の構
成図を示す。図９中、各ブロックＢ１〜Ｂ５は例えば入
力インタフェース、多重化、交換、分離、出力インタフ
ェースなどの各機能ブロックを表し、各機能ブロック内
の▽はパス監視用のＯＡＭセルを挿入する挿入点、▼は
パス監視用のＯＡＭセルを分岐する分岐点を表す。各ブ
ロックのＯＡＭセル挿入点▽から入力されるセルはそれ
ぞれパターンの異なるセルである。
成図を示す。図９中、各ブロックＢ１〜Ｂ５は例えば入
力インタフェース、多重化、交換、分離、出力インタフ
ェースなどの各機能ブロックを表し、各機能ブロック内
の▽はパス監視用のＯＡＭセルを挿入する挿入点、▼は
パス監視用のＯＡＭセルを分岐する分岐点を表す。各ブ
ロックのＯＡＭセル挿入点▽から入力されるセルはそれ
ぞれパターンの異なるセルである。
【０００６】各機能ブロックの入力部の挿入点▽で挿入
されたパス監視用ＯＡＭセルは各機能ブロックを通過し
た後、それぞれの機能ブロックの出力部の分岐点▼で分
岐されて、それが所望のセルか否かがチェックされ、そ
れにより装置内パスが正常であるか否かを監視すること
ができる。
されたパス監視用ＯＡＭセルは各機能ブロックを通過し
た後、それぞれの機能ブロックの出力部の分岐点▼で分
岐されて、それが所望のセルか否かがチェックされ、そ
れにより装置内パスが正常であるか否かを監視すること
ができる。
【０００７】図１０にパス監視用セルの挿入点▽および
分岐点▼の詳細な構成を示す。ＯＡＭセル生成部５４お
よびＯＡＭセル検出部５８では、ＲＡＭ等で構成される
スケジューリングテーブル５３、５９に従って、パス監
視用ＯＡＭセルの生成、検出が行われる。パス監視用Ｏ
ＡＭセルは各機能ブロックを通過していくため、挿入点
▽、検出点▼のスケジューリングテーブル５３、５９、
およびＶＰ変換部５５のルーティングテーブル５６（Ｒ
ＡＭ等で構成される）の管理は装置の監視・制御部（Ｃ
ＰＵ）５０で行われる。
分岐点▼の詳細な構成を示す。ＯＡＭセル生成部５４お
よびＯＡＭセル検出部５８では、ＲＡＭ等で構成される
スケジューリングテーブル５３、５９に従って、パス監
視用ＯＡＭセルの生成、検出が行われる。パス監視用Ｏ
ＡＭセルは各機能ブロックを通過していくため、挿入点
▽、検出点▼のスケジューリングテーブル５３、５９、
およびＶＰ変換部５５のルーティングテーブル５６（Ｒ
ＡＭ等で構成される）の管理は装置の監視・制御部（Ｃ
ＰＵ）５０で行われる。
【０００８】図１１にシングルポイント・ドロップ方式
の構成を示す。この方式は機能ブロック内パス監視Ｉと
機能ブロック間パス監視ＩＩから構成される。ブロック
内パス監視Ｉでは、ブロック入力部の挿入点▽で挿入さ
れたパス監視用ＯＡＭセルが同一ブロック内の出力部の
分岐点▼で検出される。ブロック間パス監視ＩＩでは前
段のブロック出力部の挿入点▽で入力されたパス監視用
セルが続く後段のブロック入力部の分岐点▼で検出され
る。
の構成を示す。この方式は機能ブロック内パス監視Ｉと
機能ブロック間パス監視ＩＩから構成される。ブロック
内パス監視Ｉでは、ブロック入力部の挿入点▽で挿入さ
れたパス監視用ＯＡＭセルが同一ブロック内の出力部の
分岐点▼で検出される。ブロック間パス監視ＩＩでは前
段のブロック出力部の挿入点▽で入力されたパス監視用
セルが続く後段のブロック入力部の分岐点▼で検出され
る。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】マルチポイント・ドロ
ップ方式では、ＶＰ変換部のルーティングテーブルも一
括して管理するため、装置構成の変更に対しても柔軟に
対応できるといった利点がある反面、ソフト処理の介入
は必須で、ハードウェアとソフトウェアの規模が増大す
るといった問題がある。また、情報セルおよび装置間パ
ス監視等の他のＯＡＭセルの管理も監視・制御部で行う
ため、できれば装置内パス監視はハードウェア処理のみ
で行いたいという要望がある。
ップ方式では、ＶＰ変換部のルーティングテーブルも一
括して管理するため、装置構成の変更に対しても柔軟に
対応できるといった利点がある反面、ソフト処理の介入
は必須で、ハードウェアとソフトウェアの規模が増大す
るといった問題がある。また、情報セルおよび装置間パ
ス監視等の他のＯＡＭセルの管理も監視・制御部で行う
ため、できれば装置内パス監視はハードウェア処理のみ
で行いたいという要望がある。
【００１０】一方、シングルポイント・ドロップ方式は
各機能ブロックごとに独立してパス監視を行うためハー
ドウェア処理が可能である。ところが、各機能ブロック
の入出力ポート数は種々多様であり、装置構成の変更に
よりポート数がかわる可能性がある。しかしながら、ハ
ードウェア処理とした場合には融通性にかけ、通常、入
出力ポート数の変更に柔軟に対応できない。
各機能ブロックごとに独立してパス監視を行うためハー
ドウェア処理が可能である。ところが、各機能ブロック
の入出力ポート数は種々多様であり、装置構成の変更に
よりポート数がかわる可能性がある。しかしながら、ハ
ードウェア処理とした場合には融通性にかけ、通常、入
出力ポート数の変更に柔軟に対応できない。
【００１１】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、任意の入出力ポート
数を持つブロックに対してもパス監視ができるような装
置内パス監視方式を提供することにある。
であり、その目的とするところは、任意の入出力ポート
数を持つブロックに対してもパス監視ができるような装
置内パス監視方式を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明に係る装置内パス監視方式は、機能ブ
ロックの入力側にＯＡＭセルの挿入点を持ち、この挿入
点に対応する分岐点を機能ブロックの出力側に持ち、Ｍ
個の入力ポート＃１〜＃ＭとＮ個の出力ポート＃１〜＃
Ｎを有する被試験物１１のパスの正常／異常を監視する
装置内パス監視方式において、上記Ｍ個の入力ポート＃
１〜＃Ｍのそれぞれにセル生成部１２1 〜１２M を１個
ずつ接続すると共に、上記Ｎ個の出力ポート＃１〜＃Ｎ
のそれぞれにセル検出部１３1 〜１３N を１個ずつ接続
し、１監視周期がＭおよびＮのうちの大きい方の数以上
の回数の試験周期を持つようにする。そして、入力ポー
ト番号ｍ（ｍ＝１〜Ｍ）に接続されるセル生成部１２m
は、その入力ポート番号ｍから順次に試験周期ごとにカ
ウントアップしてそのカウント値を出力ポート番号ｎと
して出力し、このカウント値が１監視周期内の試験周期
数に達すると１に初期化されるアップカウンタと、上記
入力ポート番号ｍと上記アップカウンタのカウント値で
ある上記出力ポート番号ｎとを初期値とするＰＮパター
ンを生成するＰＮパターン生成部と、このＰＮパターン
生成部で生成されたＰＮパターンをペイロード部に持
ち、上記入力ポート番号ｍから上記出力ポート番号ｎへ
ルーティングされるための制御信号をヘッダ部に持つＯ
ＡＭセルを生成して被試験物１１に送出するＯＡＭセル
送出部と、上記アップカウンタのカウント値である出力
ポート番号ｎを被試験物１１の出力ポート数Ｎと比較す
る第１のコンパレータと、この第１のコンパレータでの
比較の結果、出力ポート番号ｎが出力ポート数Ｎを超え
たと判断された時に、上記ＯＡＭセルの送出を禁止する
セル送出禁止部とを備えて構成される。一方、出力ポー
ト番号ｎ（ｎ＝１〜Ｎ）に接続されるセル検出部１３n
のそれぞれは、その出力ポート番号ｎから順次に試験周
期ごとにカウントダウンしてそのカウント値を入力ポー
ト番号ｍとして出力し、このカウント値が１に達すると
１監視周期内の試験周期数に等しい値に初期化されるダ
ウンカウンタと、上記出力ポート番号ｎと上記ダウンカ
ウンタのカウント値である上記入力ポート番号ｍを初期
値とする比較用のＰＮパターンを生成する比較パターン
生成部と、この比較パターン生成部で生成された比較用
ＰＮパターンと被試験物１１を通過したＯＡＭセルのペ
イロード部に格納されているＰＮパターンとを比較して
装置内パスの故障を検出する故障検出部と、上記ダウン
カウンタのカウント値である入力ポート番号ｍを被試験
物１１の入力ポート数Ｍと比較する第２のコンパレータ
と、この第２のコンパレータでの比較の結果、入力ポー
ト番号ｍが入力ポート数Ｍを超えたと判断された時に、
上記故障の検出を禁止する故障検出禁止部とを備えて構
成される。これにより、上記１監視周期で被試験物１１
の全てのパス（すなわち、全ての入力ポートと全ての出
力ポートの組み合わせからなるパス）を試験して、その
正常／異常を監視する。
図である。本発明に係る装置内パス監視方式は、機能ブ
ロックの入力側にＯＡＭセルの挿入点を持ち、この挿入
点に対応する分岐点を機能ブロックの出力側に持ち、Ｍ
個の入力ポート＃１〜＃ＭとＮ個の出力ポート＃１〜＃
Ｎを有する被試験物１１のパスの正常／異常を監視する
装置内パス監視方式において、上記Ｍ個の入力ポート＃
１〜＃Ｍのそれぞれにセル生成部１２1 〜１２M を１個
ずつ接続すると共に、上記Ｎ個の出力ポート＃１〜＃Ｎ
のそれぞれにセル検出部１３1 〜１３N を１個ずつ接続
し、１監視周期がＭおよびＮのうちの大きい方の数以上
の回数の試験周期を持つようにする。そして、入力ポー
ト番号ｍ（ｍ＝１〜Ｍ）に接続されるセル生成部１２m
は、その入力ポート番号ｍから順次に試験周期ごとにカ
ウントアップしてそのカウント値を出力ポート番号ｎと
して出力し、このカウント値が１監視周期内の試験周期
数に達すると１に初期化されるアップカウンタと、上記
入力ポート番号ｍと上記アップカウンタのカウント値で
ある上記出力ポート番号ｎとを初期値とするＰＮパター
ンを生成するＰＮパターン生成部と、このＰＮパターン
生成部で生成されたＰＮパターンをペイロード部に持
ち、上記入力ポート番号ｍから上記出力ポート番号ｎへ
ルーティングされるための制御信号をヘッダ部に持つＯ
ＡＭセルを生成して被試験物１１に送出するＯＡＭセル
送出部と、上記アップカウンタのカウント値である出力
ポート番号ｎを被試験物１１の出力ポート数Ｎと比較す
る第１のコンパレータと、この第１のコンパレータでの
比較の結果、出力ポート番号ｎが出力ポート数Ｎを超え
たと判断された時に、上記ＯＡＭセルの送出を禁止する
セル送出禁止部とを備えて構成される。一方、出力ポー
ト番号ｎ（ｎ＝１〜Ｎ）に接続されるセル検出部１３n
のそれぞれは、その出力ポート番号ｎから順次に試験周
期ごとにカウントダウンしてそのカウント値を入力ポー
ト番号ｍとして出力し、このカウント値が１に達すると
１監視周期内の試験周期数に等しい値に初期化されるダ
ウンカウンタと、上記出力ポート番号ｎと上記ダウンカ
ウンタのカウント値である上記入力ポート番号ｍを初期
値とする比較用のＰＮパターンを生成する比較パターン
生成部と、この比較パターン生成部で生成された比較用
ＰＮパターンと被試験物１１を通過したＯＡＭセルのペ
イロード部に格納されているＰＮパターンとを比較して
装置内パスの故障を検出する故障検出部と、上記ダウン
カウンタのカウント値である入力ポート番号ｍを被試験
物１１の入力ポート数Ｍと比較する第２のコンパレータ
と、この第２のコンパレータでの比較の結果、入力ポー
ト番号ｍが入力ポート数Ｍを超えたと判断された時に、
上記故障の検出を禁止する故障検出禁止部とを備えて構
成される。これにより、上記１監視周期で被試験物１１
の全てのパス（すなわち、全ての入力ポートと全ての出
力ポートの組み合わせからなるパス）を試験して、その
正常／異常を監視する。
【００１３】
【００１４】また上述の装置内パス監視方式において、
セル生成部は、該出力ポート番号をｍから順次に試験周
期ごとにカウントアップしていくことに換えてカウント
ダウンしていくように構成し、またセル検出部は、入力
ポート番号をｎから順次に試験周期ごとにカウントダウ
ンしていくことに換えてカウントアップしていくように
構成することができる。
セル生成部は、該出力ポート番号をｍから順次に試験周
期ごとにカウントアップしていくことに換えてカウント
ダウンしていくように構成し、またセル検出部は、入力
ポート番号をｎから順次に試験周期ごとにカウントダウ
ンしていくことに換えてカウントアップしていくように
構成することができる。
【００１５】
【作用】Ｍ個の独立したセル生成部１２1 〜１２M から
送出されたＯＡＭセルをＮ個の独立したセル検出部１３
1 〜１３N で受信することにより、入力ポート数Ｍ、出
力ポート数Ｎの任意の入出力ポートをもつ被試験物の試
験を行う。
送出されたＯＡＭセルをＮ個の独立したセル検出部１３
1 〜１３N で受信することにより、入力ポート数Ｍ、出
力ポート数Ｎの任意の入出力ポートをもつ被試験物の試
験を行う。
【００１６】セル生成部およびセル検出部でそれぞれパ
ターン・ジェネレータを備えておき、セル生成部では決
められた試験周期に決められたパターンのＯＡＭセルを
挿入し、セル検出部では決められた試験周期に決められ
たパターンのＯＡＭセルが到着するかどうかをチェック
する。各セル生成部に対して出力方路が重ならないよう
にハードウェア的にスケジューリングすることで、挿入
点で同時にＯＡＭセルを挿入しても輻輳によるセル廃棄
は起こらない。
ターン・ジェネレータを備えておき、セル生成部では決
められた試験周期に決められたパターンのＯＡＭセルを
挿入し、セル検出部では決められた試験周期に決められ
たパターンのＯＡＭセルが到着するかどうかをチェック
する。各セル生成部に対して出力方路が重ならないよう
にハードウェア的にスケジューリングすることで、挿入
点で同時にＯＡＭセルを挿入しても輻輳によるセル廃棄
は起こらない。
【００１７】被試験物のＶＰ変換部等の出力ポートをス
イッチングしながら、何回かの試験を行うことにより全
パスの試験を行い、これを１監視周期とする。このため
には、パス監視用セルのヘッダ部にセルがパス監視用で
あることをＶＰ変換部に通知するためのＯＡＭ識別子と
ＶＰ変換部の出力方路を直接制御するための信号を書け
ばよい。また、検出部で期待したセル生成部以外からの
セルが到着した場合にこれを区別するために、ペイロー
ド部には該当する試験周期での入出力ポートを初期値と
したＰＮ（擬似ランダム）パターンを格納すればよい。
イッチングしながら、何回かの試験を行うことにより全
パスの試験を行い、これを１監視周期とする。このため
には、パス監視用セルのヘッダ部にセルがパス監視用で
あることをＶＰ変換部に通知するためのＯＡＭ識別子と
ＶＰ変換部の出力方路を直接制御するための信号を書け
ばよい。また、検出部で期待したセル生成部以外からの
セルが到着した場合にこれを区別するために、ペイロー
ド部には該当する試験周期での入出力ポートを初期値と
したＰＮ（擬似ランダム）パターンを格納すればよい。
【００１８】例えばセル生成部では、監視周期の最初の
試験周期で、送出するセルに格納されるＰＮパターンの
入力ポート番号をそのセル生成部が接続されている被試
験物の入力ポート番号ｍとし、格納する出力ポート番号
は試験周期ごとにｍより順次カウントアップしていき、
監視周期内の試験周期数に達すると出力ポート番号を計
数するカウンタを初期化する。ただし、カウンタの値が
被試験物の出力ポート数Ｎに達すると、セルの送出を行
わないようにする。
試験周期で、送出するセルに格納されるＰＮパターンの
入力ポート番号をそのセル生成部が接続されている被試
験物の入力ポート番号ｍとし、格納する出力ポート番号
は試験周期ごとにｍより順次カウントアップしていき、
監視周期内の試験周期数に達すると出力ポート番号を計
数するカウンタを初期化する。ただし、カウンタの値が
被試験物の出力ポート数Ｎに達すると、セルの送出を行
わないようにする。
【００１９】また例えばセル検出部では、監視周期の最
初の試験周期でＰＮパターンの出力ポート番号をそのセ
ル検出部が接続されている被試験物の出力ポート番号ｎ
とし、ＰＮパターンの入力ポート番号は試験周期ごとに
ｎより順次カウントダウンしていき、監視周期内の試験
周期数に達すると入力ポート番号を計数するカウンタを
初期化することにより、比較用セルを生成する。この比
較用セルと被試験物を通過してきたパス監視用セルのＰ
Ｎパターンを比較し、不一致であればアラームを発出す
る。ただし、カウンタの値が被試験物の入力ポート数Ｍ
より大きくなった場合にはアラームの発出を行わないよ
うにする。
初の試験周期でＰＮパターンの出力ポート番号をそのセ
ル検出部が接続されている被試験物の出力ポート番号ｎ
とし、ＰＮパターンの入力ポート番号は試験周期ごとに
ｎより順次カウントダウンしていき、監視周期内の試験
周期数に達すると入力ポート番号を計数するカウンタを
初期化することにより、比較用セルを生成する。この比
較用セルと被試験物を通過してきたパス監視用セルのＰ
Ｎパターンを比較し、不一致であればアラームを発出す
る。ただし、カウンタの値が被試験物の入力ポート数Ｍ
より大きくなった場合にはアラームの発出を行わないよ
うにする。
【００２０】なお、上述のセル生成部は、該出力ポート
番号をｍから順次に試験周期ごとにカウントアップして
いくことに換えてカウントダウンしていくようにし、ま
たセル検出部は、入力ポート番号をｎから順次に試験周
期ごとにカウントダウンしていくことに換えてカウント
アップしていくようにしてもよい。
番号をｍから順次に試験周期ごとにカウントアップして
いくことに換えてカウントダウンしていくようにし、ま
たセル検出部は、入力ポート番号をｎから順次に試験周
期ごとにカウントダウンしていくことに換えてカウント
アップしていくようにしてもよい。
【００２１】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図２は本発明の装置内パス監視方式によるパス監
視システムの構成図である。なお図２では主信号経路は
省略されている。図中、１はＭ個の入力ポートとＮ個の
出力ポートを有する被試験物であり、各入力ポート＃１
〜＃Ｍにはそれぞれ独立したパス監視セル生成部２1 〜
２M が接続され、各出力ポート＃１〜＃Ｎにはそれぞれ
独立したパス監視セル検出部３1 〜３N が接続される。
する。図２は本発明の装置内パス監視方式によるパス監
視システムの構成図である。なお図２では主信号経路は
省略されている。図中、１はＭ個の入力ポートとＮ個の
出力ポートを有する被試験物であり、各入力ポート＃１
〜＃Ｍにはそれぞれ独立したパス監視セル生成部２1 〜
２M が接続され、各出力ポート＃１〜＃Ｎにはそれぞれ
独立したパス監視セル検出部３1 〜３N が接続される。
【００２２】パス監視のための試験は１監視周期毎に同
じ処理が繰り返されるものとし、この１監視周期は複数
（上記のＭとＮのうちの大きい方の数）の試験周期から
なる。各試験周期では、パス監視セル生成部２は、目的
とする被試験物１の出力ポートに送出するパス監視用Ｏ
ＡＭセルを生成して、自己が接続されている入力ポート
に送出する。
じ処理が繰り返されるものとし、この１監視周期は複数
（上記のＭとＮのうちの大きい方の数）の試験周期から
なる。各試験周期では、パス監視セル生成部２は、目的
とする被試験物１の出力ポートに送出するパス監視用Ｏ
ＡＭセルを生成して、自己が接続されている入力ポート
に送出する。
【００２３】すなわち、このパス監視システムは、Ｍ個
の独立したパス監視セル生成部２1〜２M から送出され
たＯＡＭセルをＮ個の独立したパス監視セル検出部３1
〜３N で受信することにより、入力ポート数Ｍ、出力ポ
ート数Ｎの任意の入出力ポートをもつ被試験物１の試験
を行うものであり、パス監視セル生成部２1 〜２M およ
びパス監視セル検出部３1 〜３N でそれぞれパターン・
ジェネレータを持っておき、パス監視セル生成部２1 〜
２M では決められた試験周期に決められたパターンのＯ
ＡＭセルを挿入し、パス監視セル検出部３1 〜３N では
決められた試験周期に決められたパターンのＯＡＭセル
が到着するかどうかをチェックすることにより、パスの
正常性を監視する。
の独立したパス監視セル生成部２1〜２M から送出され
たＯＡＭセルをＮ個の独立したパス監視セル検出部３1
〜３N で受信することにより、入力ポート数Ｍ、出力ポ
ート数Ｎの任意の入出力ポートをもつ被試験物１の試験
を行うものであり、パス監視セル生成部２1 〜２M およ
びパス監視セル検出部３1 〜３N でそれぞれパターン・
ジェネレータを持っておき、パス監視セル生成部２1 〜
２M では決められた試験周期に決められたパターンのＯ
ＡＭセルを挿入し、パス監視セル検出部３1 〜３N では
決められた試験周期に決められたパターンのＯＡＭセル
が到着するかどうかをチェックすることにより、パスの
正常性を監視する。
【００２４】なお、各パス監視セル生成部２1 〜２M に
ついて１試験周期時にそれぞれのＯＡＭセルの出力方路
が重ならないようにハードウェア的にスケジューリング
されていれば、挿入点側で１試験周期時に各入力ポート
から同時に複数のＯＡＭセルを挿入しても、被試験物１
内において輻輳によるセル廃棄は起こらない。
ついて１試験周期時にそれぞれのＯＡＭセルの出力方路
が重ならないようにハードウェア的にスケジューリング
されていれば、挿入点側で１試験周期時に各入力ポート
から同時に複数のＯＡＭセルを挿入しても、被試験物１
内において輻輳によるセル廃棄は起こらない。
【００２５】この装置内パス監視方式では、被試験物１
のＶＰ変換部の出力ポートをスイッチングしながら、何
回かの試験を行うことにより全パスの試験を行い、これ
を１監視周期とする。このため、パス監視用ＯＡＭセル
のヘッダ部にはセルがパス監視用であることをＶＰ変換
部に通知するためのＯＡＭ識別子とＶＰ変換部の出力方
路を直接制御するための信号が書かれる。また、パス監
視セル検出部３で期待したパス監視セル生成部２以外か
らのＯＡＭセルが到着した場合にこれを区別するため
に、ペイロード部には該当する試験周期での入出力ポー
トを初期値としたＰＮ（擬似ランダム）パターンが格納
される。
のＶＰ変換部の出力ポートをスイッチングしながら、何
回かの試験を行うことにより全パスの試験を行い、これ
を１監視周期とする。このため、パス監視用ＯＡＭセル
のヘッダ部にはセルがパス監視用であることをＶＰ変換
部に通知するためのＯＡＭ識別子とＶＰ変換部の出力方
路を直接制御するための信号が書かれる。また、パス監
視セル検出部３で期待したパス監視セル生成部２以外か
らのＯＡＭセルが到着した場合にこれを区別するため
に、ペイロード部には該当する試験周期での入出力ポー
トを初期値としたＰＮ（擬似ランダム）パターンが格納
される。
【００２６】図３にはかかるパス監視用ＯＡＭセルのフ
ォーマットが示される。図３において、Ｏは、被試験物
１（ＶＰ変換部など）でＶＰ識別子等の付替えを行わな
いようにするための、パス監視用セルであることを示す
ＯＡＭセル識別子である。Ｖは、ＶＰ変換部の出力ポー
ト制御信号（ｎ）、すなわち、ＯＡＭセルを入力ポート
番号ｍ（このｍは、当該ＯＡＭセルが挿入された被試験
物１の入力ポート番号）から出力ポート番号ｎ（このｎ
は、当該ＯＡＭセルが出力されるべき被試験物１の出力
ポート番号）へルーティングするための制御信号であ
る。ＰＮは、上記の入力ポート番号ｍと出力ポート番号
ｎを初期値とする擬似ランダムパターンである。この擬
似ランダムパターンＰＮはｍとｎの組合せによりそれぞ
れ異なるパターンとなる。
ォーマットが示される。図３において、Ｏは、被試験物
１（ＶＰ変換部など）でＶＰ識別子等の付替えを行わな
いようにするための、パス監視用セルであることを示す
ＯＡＭセル識別子である。Ｖは、ＶＰ変換部の出力ポー
ト制御信号（ｎ）、すなわち、ＯＡＭセルを入力ポート
番号ｍ（このｍは、当該ＯＡＭセルが挿入された被試験
物１の入力ポート番号）から出力ポート番号ｎ（このｎ
は、当該ＯＡＭセルが出力されるべき被試験物１の出力
ポート番号）へルーティングするための制御信号であ
る。ＰＮは、上記の入力ポート番号ｍと出力ポート番号
ｎを初期値とする擬似ランダムパターンである。この擬
似ランダムパターンＰＮはｍとｎの組合せによりそれぞ
れ異なるパターンとなる。
【００２７】図４にはパス監視セル生成部２m （ただ
し、ｍ＝１，２，・・・Ｍ）の構成例が示される。図４
において、ｍはパス監視セル生成部２m が接続されてい
る被試験物１の入力ポート番号、Ｎは被試験物１で使用
している出力ポート数であり、これらは例えばディップ
スイッチ等により固定設定される。２１は入力ポート番
号ｍを１試験周期毎に一つずつカウントアップして出力
ポート番号ｎを生成するアップカウンタである。２２は
入力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎに基づいてＰＮパ
ターンを発生するＰＮパターン発生部である。２３は入
力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎに基づいてＯＡＭセ
ルのヘッダ部を生成するヘッダ部生成部である。２４は
ヘッダ部生成部２３で生成されたヘッダ部とＰＮパター
ン発生部２２で発生されたＰＮパターンとを合わせて図
３に示すＯＡＭセルを生成するシフトレジスタである。
２５は出力ポート数Ｎとアップカウンタ２１で生成され
た出力ポート番号ｎとを比較し、ｎ≦Ｎでは“Ｈ”を出
力するが、ｎ＞Ｎとなったときに“Ｌ”を出力するコン
パレータである。２６はコンパレータ２５から“Ｈ”が
出力されているときはシフトレジスタ２４からのＯＡＭ
セルを通過させて被試験物１に送出し、“Ｌ”のときに
は通過を禁止するアンドゲートである。
し、ｍ＝１，２，・・・Ｍ）の構成例が示される。図４
において、ｍはパス監視セル生成部２m が接続されてい
る被試験物１の入力ポート番号、Ｎは被試験物１で使用
している出力ポート数であり、これらは例えばディップ
スイッチ等により固定設定される。２１は入力ポート番
号ｍを１試験周期毎に一つずつカウントアップして出力
ポート番号ｎを生成するアップカウンタである。２２は
入力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎに基づいてＰＮパ
ターンを発生するＰＮパターン発生部である。２３は入
力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎに基づいてＯＡＭセ
ルのヘッダ部を生成するヘッダ部生成部である。２４は
ヘッダ部生成部２３で生成されたヘッダ部とＰＮパター
ン発生部２２で発生されたＰＮパターンとを合わせて図
３に示すＯＡＭセルを生成するシフトレジスタである。
２５は出力ポート数Ｎとアップカウンタ２１で生成され
た出力ポート番号ｎとを比較し、ｎ≦Ｎでは“Ｈ”を出
力するが、ｎ＞Ｎとなったときに“Ｌ”を出力するコン
パレータである。２６はコンパレータ２５から“Ｈ”が
出力されているときはシフトレジスタ２４からのＯＡＭ
セルを通過させて被試験物１に送出し、“Ｌ”のときに
は通過を禁止するアンドゲートである。
【００２８】このパス監視セル生成部２m の動作を説明
すると、まずＰＮパターン発生部２２は、１監視周期に
おける最初の試験周期で、送出するＯＡＭセルに格納さ
れるＰＮパターンの入力ポート番号をそのパス監視セル
生成部２m が接続されている被試験物１の入力ポート番
号ｍとし、出力ポート番号をアップカウンタ２１から出
力されている出力ポート番号ｎ（監視周期の最初の試験
周期では入力ポート番号ｍと一致）としてＰＮパターン
を作成し、２番目以降の試験周期では、格納する出力ポ
ート番号をアップカウンタ２１で各試験周期ごとにｍか
ら順次に一つずつカウントアップしていき、１監視周期
における最後の試験周期に達すると、その試験周期の終
りで、出力ポート番号数を計数するアップカウンタ２１
を初期化してもとのｍを初期値としてロードする。
すると、まずＰＮパターン発生部２２は、１監視周期に
おける最初の試験周期で、送出するＯＡＭセルに格納さ
れるＰＮパターンの入力ポート番号をそのパス監視セル
生成部２m が接続されている被試験物１の入力ポート番
号ｍとし、出力ポート番号をアップカウンタ２１から出
力されている出力ポート番号ｎ（監視周期の最初の試験
周期では入力ポート番号ｍと一致）としてＰＮパターン
を作成し、２番目以降の試験周期では、格納する出力ポ
ート番号をアップカウンタ２１で各試験周期ごとにｍか
ら順次に一つずつカウントアップしていき、１監視周期
における最後の試験周期に達すると、その試験周期の終
りで、出力ポート番号数を計数するアップカウンタ２１
を初期化してもとのｍを初期値としてロードする。
【００２９】これによりＰＮパターン発生部２２は監視
周期において各試験周期毎に、入力ポート番号が一定
（＝ｍ）で、かつ出力ポート番号ｎがｍから一つずつイ
ンクリメントされるＰＮパターンを生成し、これらのＰ
Ｎパターンにヘッダ部生成部２３で生成したヘッダ部を
シフトレジスタ２４でそれぞれ付加し、それにより、出
力ポート番号がｍから順次にインクリメントされる図３
のフォーマットのパス監視用ＯＡＭセルの列を生成す
る。
周期において各試験周期毎に、入力ポート番号が一定
（＝ｍ）で、かつ出力ポート番号ｎがｍから一つずつイ
ンクリメントされるＰＮパターンを生成し、これらのＰ
Ｎパターンにヘッダ部生成部２３で生成したヘッダ部を
シフトレジスタ２４でそれぞれ付加し、それにより、出
力ポート番号がｍから順次にインクリメントされる図３
のフォーマットのパス監視用ＯＡＭセルの列を生成す
る。
【００３０】一方、コンパレータ２５はアップカウンタ
２１の出力ポート番号ｎが被試験物１の出力ポート数Ｎ
に達したことを検出すると、このＮを超える出力ポート
番号ｎのＯＡＭセルが送出を行わないように、“Ｌ”出
力をアンドゲート２６に送出してこのアンドゲート２６
を閉じる。よって被試験物１の入力ポート＃ｍには、出
力ポート番号がｍからＮまでのＰＮパターンのＯＡＭセ
ルの列だけが順次に入力されることになる。
２１の出力ポート番号ｎが被試験物１の出力ポート数Ｎ
に達したことを検出すると、このＮを超える出力ポート
番号ｎのＯＡＭセルが送出を行わないように、“Ｌ”出
力をアンドゲート２６に送出してこのアンドゲート２６
を閉じる。よって被試験物１の入力ポート＃ｍには、出
力ポート番号がｍからＮまでのＰＮパターンのＯＡＭセ
ルの列だけが順次に入力されることになる。
【００３１】図５にはパス監視セル検出部３n の構成例
が示される。図５において、ｎはパス監視セル検出部３
m が接続されている被試験物１の出力ポート番号、Ｍは
被試験物１で使用している入力ポート数であり、これら
は例えばディップスイッチ等により固定設定される。３
１は出力ポート番号ｎを１試験周期毎に一つずつカウン
トダウンして入力ポート番号ｍを生成するダウンカウン
タである。３２は出力ポート番号ｎとダウンカウンタ３
１で生成した入力ポート番号ｍに基づいて比較用のＰＮ
パターンを発生するＰＮパターン発生部である。３３は
受信したＯＡＭセルからＰＮパターン部を抽出するシフ
トレジスタである。３４は受信したＯＡＭセルのＰＮパ
ターンとＰＮパターン発生部３２で発生したＰＮパター
ンとを比較してその一致／不一致を判定し不一致時には
アラームＡＬＭを出力する比較部である。３５は入力ポ
ート数Ｍとダウンカウンタ３１で生成された入力ポート
番号ｍとを比較し、ｍ≦Ｍでは“Ｈ”を出力するが、ｍ
＞Ｍとなったときに“Ｌ”を出力するコンパレータであ
る。３６はコンパレータ２５から“Ｈ”が出力されてい
るときは比較部３４からのアラームＡＬＭを通過させ、
“Ｌ”のときにはマスクするアンドゲートである。
が示される。図５において、ｎはパス監視セル検出部３
m が接続されている被試験物１の出力ポート番号、Ｍは
被試験物１で使用している入力ポート数であり、これら
は例えばディップスイッチ等により固定設定される。３
１は出力ポート番号ｎを１試験周期毎に一つずつカウン
トダウンして入力ポート番号ｍを生成するダウンカウン
タである。３２は出力ポート番号ｎとダウンカウンタ３
１で生成した入力ポート番号ｍに基づいて比較用のＰＮ
パターンを発生するＰＮパターン発生部である。３３は
受信したＯＡＭセルからＰＮパターン部を抽出するシフ
トレジスタである。３４は受信したＯＡＭセルのＰＮパ
ターンとＰＮパターン発生部３２で発生したＰＮパター
ンとを比較してその一致／不一致を判定し不一致時には
アラームＡＬＭを出力する比較部である。３５は入力ポ
ート数Ｍとダウンカウンタ３１で生成された入力ポート
番号ｍとを比較し、ｍ≦Ｍでは“Ｈ”を出力するが、ｍ
＞Ｍとなったときに“Ｌ”を出力するコンパレータであ
る。３６はコンパレータ２５から“Ｈ”が出力されてい
るときは比較部３４からのアラームＡＬＭを通過させ、
“Ｌ”のときにはマスクするアンドゲートである。
【００３２】このパス監視セル検出部３n の動作を説明
すると、まずＰＮパターン発生部３２は、１監視周期に
おける最初の試験周期で、受信が想定されるＯＡＭセル
に格納されるＰＮパターンの出力ポート番号をそのパス
監視セル検出部３n が接続されている被試験物１の出力
ポート番号ｎとし、入力ポート番号をダウンカウンタ３
１で生成される入力ポート番号ｍ（監視周期の最初の試
験周期では出力ポート番号ｎと一致）としてＰＮパター
ンを作成し、２番目以降の試験周期では、格納する入力
ポート番号をダウンカウンタ３１でｎから各試験周期ご
とに順次に一つずつカウントダウンしていき、１監視周
期における最後の試験周期に達すると、その試験周期の
終りで、ダウンカウンタ３１を初期化してもとのｎを初
期値としてロードする。
すると、まずＰＮパターン発生部３２は、１監視周期に
おける最初の試験周期で、受信が想定されるＯＡＭセル
に格納されるＰＮパターンの出力ポート番号をそのパス
監視セル検出部３n が接続されている被試験物１の出力
ポート番号ｎとし、入力ポート番号をダウンカウンタ３
１で生成される入力ポート番号ｍ（監視周期の最初の試
験周期では出力ポート番号ｎと一致）としてＰＮパター
ンを作成し、２番目以降の試験周期では、格納する入力
ポート番号をダウンカウンタ３１でｎから各試験周期ご
とに順次に一つずつカウントダウンしていき、１監視周
期における最後の試験周期に達すると、その試験周期の
終りで、ダウンカウンタ３１を初期化してもとのｎを初
期値としてロードする。
【００３３】これによりＰＮパターン発生部３２は監視
周期において各試験周期毎に、出力ポート番号が一定
（＝ｎ）で、かつ入力ポート番号ｍがｎから一つずつ順
次にインクリメントされる比較用のＰＮパターンを生成
する。比較部３４では、ＰＮパターン発生部３２で発生
した比較用のＰＮパターンと、ダウンカウンタ３１を通
過してきたパス監視用ＯＡＭセルのＰＮパターンとを比
較し、不一致であればアラームＡＬＭを発出する。
周期において各試験周期毎に、出力ポート番号が一定
（＝ｎ）で、かつ入力ポート番号ｍがｎから一つずつ順
次にインクリメントされる比較用のＰＮパターンを生成
する。比較部３４では、ＰＮパターン発生部３２で発生
した比較用のＰＮパターンと、ダウンカウンタ３１を通
過してきたパス監視用ＯＡＭセルのＰＮパターンとを比
較し、不一致であればアラームＡＬＭを発出する。
【００３４】一方、コンパレータ３５はダウンカウンタ
３１の入力ポート番号ｍが被試験物１の入力ポート数Ｍ
に達したことを検出すると、このＭを超える入力ポート
番号ｍに対しては“Ｌ”出力をアンドゲート２６に送出
してこのアンドゲート２６を閉じる。よって、ダウンカ
ウンタ３１からの入力ポート番号ｍが被試験物の入力ポ
ート数Ｍより大きくなった場合には、比較部３４からの
アラームＡＬＭをマスクして発出しないようにする。
３１の入力ポート番号ｍが被試験物１の入力ポート数Ｍ
に達したことを検出すると、このＭを超える入力ポート
番号ｍに対しては“Ｌ”出力をアンドゲート２６に送出
してこのアンドゲート２６を閉じる。よって、ダウンカ
ウンタ３１からの入力ポート番号ｍが被試験物の入力ポ
ート数Ｍより大きくなった場合には、比較部３４からの
アラームＡＬＭをマスクして発出しないようにする。
【００３５】上述した監視システムによるパス監視動作
を以下に説明する。図６にはこの監視システムのタイム
チャートを示す。図６では被試験物１の使用可能な最大
入力ポート数と最大出力ポート数をともに「８」とし、
よって１監視周期内での試験周期の数を「８」とする。
そして、使用可能最大入力ポート数のうち実際に使用し
ている入力ポート数Ｍを「３」、使用可能最大出力ポー
ト数のうち実際に使用している出力ポート数Ｎを「４」
とし、この入力ポート数「３」、出力ポート数「４」の
被試験物１のパス監視を行うものとする。
を以下に説明する。図６にはこの監視システムのタイム
チャートを示す。図６では被試験物１の使用可能な最大
入力ポート数と最大出力ポート数をともに「８」とし、
よって１監視周期内での試験周期の数を「８」とする。
そして、使用可能最大入力ポート数のうち実際に使用し
ている入力ポート数Ｍを「３」、使用可能最大出力ポー
ト数のうち実際に使用している出力ポート数Ｎを「４」
とし、この入力ポート数「３」、出力ポート数「４」の
被試験物１のパス監視を行うものとする。
【００３６】図６の例は上述の場合の入力ポート番号＃
３に接続されたパス監視セル生成部２3 の送信ＯＡＭセ
ルの送出タイミングと、出力ポート番号＃４に接続され
たパス監視セル検出部３4 の受信ＯＡＭセルの受信タイ
ミングの様子を示している。図示のように、パス監視セ
ル生成部２3 は、試験周期、、、でそれぞれ出
力ポート番号を「３」、「４」、「１」、「２」とする
送信ＯＡＭセルを生成して被試験物１の入力ポート＃３
に入力しており、最大出力ポート数Ｎ＝４を超えるＯＡ
Ｍセルについてはセル送出を行わない。また、パス監視
セル検出部３4は、試験周期、、でＯＡＭセルを
受信しており、入力ポート番号が４以上のＯＡＭセルは
パス監視セル生成部側から送出されていないので、それ
らを受信することはない。なお、この図６の例では簡単
のために被試験物１の入出力ポートを特定して示した
が、任意のポートに拡張された場合にもその本質は何ら
変わるものではない。
３に接続されたパス監視セル生成部２3 の送信ＯＡＭセ
ルの送出タイミングと、出力ポート番号＃４に接続され
たパス監視セル検出部３4 の受信ＯＡＭセルの受信タイ
ミングの様子を示している。図示のように、パス監視セ
ル生成部２3 は、試験周期、、、でそれぞれ出
力ポート番号を「３」、「４」、「１」、「２」とする
送信ＯＡＭセルを生成して被試験物１の入力ポート＃３
に入力しており、最大出力ポート数Ｎ＝４を超えるＯＡ
Ｍセルについてはセル送出を行わない。また、パス監視
セル検出部３4は、試験周期、、でＯＡＭセルを
受信しており、入力ポート番号が４以上のＯＡＭセルは
パス監視セル生成部側から送出されていないので、それ
らを受信することはない。なお、この図６の例では簡単
のために被試験物１の入出力ポートを特定して示した
が、任意のポートに拡張された場合にもその本質は何ら
変わるものではない。
【００３７】図７は、上述のような、装置の機能ブロッ
クのうち使用可能最大入出力ポート数が「８」で（試験
回数が８）、実際に使用している入力ポート数Ｍが
「３」、出力ポート数Ｎが「４」の機能ブロックのパス
監視を行った場合の、ＯＡＭセルに格納するＰＮパター
ンの入力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎの組合せにつ
いて示す。ここで、パス監視用ＯＡＭセルのパターンは
被試験物１の入力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎで一
意に決まるので、図７の下側に示すように、上段の入力
ポート番号ｍと下段の出力ポート番号ｎを持つＯＡＭセ
ルを、各試験周期〜において逐次に生成するものと
する。
クのうち使用可能最大入出力ポート数が「８」で（試験
回数が８）、実際に使用している入力ポート数Ｍが
「３」、出力ポート数Ｎが「４」の機能ブロックのパス
監視を行った場合の、ＯＡＭセルに格納するＰＮパター
ンの入力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎの組合せにつ
いて示す。ここで、パス監視用ＯＡＭセルのパターンは
被試験物１の入力ポート番号ｍと出力ポート番号ｎで一
意に決まるので、図７の下側に示すように、上段の入力
ポート番号ｍと下段の出力ポート番号ｎを持つＯＡＭセ
ルを、各試験周期〜において逐次に生成するものと
する。
【００３８】１回目の試験では、各パス監視セル生成
部２1 〜２M は、例えばパス監視セル生成部２1 が入力
ポート＃１から出力ポート＃１へといった具合に、入力
ポート番号と同じポート番号の出力ポートに対してＯＡ
Ｍセルを生成して送出する。この試験では、パス監視
セル検出部３1 〜３N でも、自身が接続されている出力
ポート番号と同じポート番号の入力ポート番号のセルが
到着するものとしてそれらのセルのＰＮパターンをヘッ
ダ部生成部３２で生成して待ち受け、比較部３４で受信
ＯＡＭセルと比較用セルとのＰＮパターンを比較して、
その一致／不一致により当該パスが正常か否かを判定す
る。
部２1 〜２M は、例えばパス監視セル生成部２1 が入力
ポート＃１から出力ポート＃１へといった具合に、入力
ポート番号と同じポート番号の出力ポートに対してＯＡ
Ｍセルを生成して送出する。この試験では、パス監視
セル検出部３1 〜３N でも、自身が接続されている出力
ポート番号と同じポート番号の入力ポート番号のセルが
到着するものとしてそれらのセルのＰＮパターンをヘッ
ダ部生成部３２で生成して待ち受け、比較部３４で受信
ＯＡＭセルと比較用セルとのＰＮパターンを比較して、
その一致／不一致により当該パスが正常か否かを判定す
る。
【００３９】この場合、出力ポート＃４のパス監視セル
検出部３4 にはＯＡＭセルは到着しないが、パス監視セ
ル検出部３4 内においては、試験の周期では入力ポー
ト計数用のダウンカウンタ３１の入力ポート番号ｍが
「４」であって、被試験物１の入力ポート数Ｍ＝「３」
より大きいので、コンパレータ３５によりアンドゲート
３６が閉じられてアラームＡＬＭの発出は行われない。
検出部３4 にはＯＡＭセルは到着しないが、パス監視セ
ル検出部３4 内においては、試験の周期では入力ポー
ト計数用のダウンカウンタ３１の入力ポート番号ｍが
「４」であって、被試験物１の入力ポート数Ｍ＝「３」
より大きいので、コンパレータ３５によりアンドゲート
３６が閉じられてアラームＡＬＭの発出は行われない。
【００４０】２回目の試験では、各パス監視セル生成部
２1 〜２M は、例えばパス監視セル生成部２1 が入力ポ
ート＃１から出力ポート＃２へといった具合に、自身の
入力ポート番号に「１」を加えたポート番号の出力ポー
トに対してＯＡＭセルを生成して送出する。一方、パス
監視セル検出部３1 〜３N では、自身の出力ポート番号
より「１」を減じた入力ポート番号のセルが到着するも
のとして待ち受ける。
２1 〜２M は、例えばパス監視セル生成部２1 が入力ポ
ート＃１から出力ポート＃２へといった具合に、自身の
入力ポート番号に「１」を加えたポート番号の出力ポー
トに対してＯＡＭセルを生成して送出する。一方、パス
監視セル検出部３1 〜３N では、自身の出力ポート番号
より「１」を減じた入力ポート番号のセルが到着するも
のとして待ち受ける。
【００４１】この場合、パス監視セル生成部側では出力
ポート＃１宛てのＯＡＭセルを送出してないので、出力
ポート＃１のパス監視セル検出部３1 にはＯＡＭセルは
到着しないが、このパス監視セル検出部３1 においては
入力ポート計数用のダウンカウンタ３１の値ｍが初期化
され「８」となり入力ポート数Ｍ＝「３」より大きくな
るので、それがコンパレータ３５で判定されてアラーム
ＡＬＭの発出は行われない。
ポート＃１宛てのＯＡＭセルを送出してないので、出力
ポート＃１のパス監視セル検出部３1 にはＯＡＭセルは
到着しないが、このパス監視セル検出部３1 においては
入力ポート計数用のダウンカウンタ３１の値ｍが初期化
され「８」となり入力ポート数Ｍ＝「３」より大きくな
るので、それがコンパレータ３５で判定されてアラーム
ＡＬＭの発出は行われない。
【００４２】３回目の試験では、各パス監視セル生成
部２1 〜２M は、入力ポート番号に「２」を加えたポー
ト番号の出力ポートに対してセルが送出されるが、入力
ポート＃３のパス監視セル生成部２3 では、出力ポート
計数用のアップカウンタ２１の出力ポート番号ｎが
「５」となり被試験物１の出力ポート数Ｎ＝「４」より
大きくなるので、セルの送出は行われない。
部２1 〜２M は、入力ポート番号に「２」を加えたポー
ト番号の出力ポートに対してセルが送出されるが、入力
ポート＃３のパス監視セル生成部２3 では、出力ポート
計数用のアップカウンタ２１の出力ポート番号ｎが
「５」となり被試験物１の出力ポート数Ｎ＝「４」より
大きくなるので、セルの送出は行われない。
【００４３】一方、パス監視セル検出部３1 〜３N で
は、自身が接続されている出力ポート番号より「２」を
減じた入力ポート番号のセルが到着するものとして待ち
受ける。この場合、出力ポート＃１および＃２のパス監
視セル検出部３1 、３2 ではセルは到着しないが、それ
らの入力ポート計数用のダウンカウンタ３１の値ｍが入
力ポート数Ｍより大きくなるので、アラームの発出は行
われない。
は、自身が接続されている出力ポート番号より「２」を
減じた入力ポート番号のセルが到着するものとして待ち
受ける。この場合、出力ポート＃１および＃２のパス監
視セル検出部３1 、３2 ではセルは到着しないが、それ
らの入力ポート計数用のダウンカウンタ３１の値ｍが入
力ポート数Ｍより大きくなるので、アラームの発出は行
われない。
【００４４】以下、同様の動作を繰り返すことにより入
力ポート数Ｍ＝「３」、出力ポート数Ｎ＝「４」の被試
験物１の全パスの試験を行えることが容易に理解でき
る。
力ポート数Ｍ＝「３」、出力ポート数Ｎ＝「４」の被試
験物１の全パスの試験を行えることが容易に理解でき
る。
【００４５】本発明の実施にあたっては種々の変形形態
が可能である。例えば、上記の説明では簡単のために入
出力ポート数を特定して示したが、本発明は任意のポー
ト数に対しても拡張できるものであり、例えば、図８に
は入力ポート数Ｍ＝「８」、出力ポート数Ｎ＝「８」と
入出力ポート数が最大数である場合の被試験物１の全パ
スの試験の様子が示されている。
が可能である。例えば、上記の説明では簡単のために入
出力ポート数を特定して示したが、本発明は任意のポー
ト数に対しても拡張できるものであり、例えば、図８に
は入力ポート数Ｍ＝「８」、出力ポート数Ｎ＝「８」と
入出力ポート数が最大数である場合の被試験物１の全パ
スの試験の様子が示されている。
【００４６】また上述の実施例では、パス監視セル生成
部２1 〜２M 側ではＯＡＭセルに格納するＰＮパターン
の出力ポート番号を一つずつインクリメントし、パス監
視セル検出部３1 〜３N 側では比較用のＰＮパターンの
入力ポート番号を一つずつデクリメントするようにした
が、もちろんこの反対に、パス監視セル生成部２1 〜２
M 側ではＯＡＭセルに格納するＰＮパターンの出力ポー
ト番号を一つずつデンクリメントし、パス監視セル検出
部３1 〜３N 側では比較用のＰＮパターンの入力ポート
番号を一つずつイクリメントするようにするものであっ
てもよい。
部２1 〜２M 側ではＯＡＭセルに格納するＰＮパターン
の出力ポート番号を一つずつインクリメントし、パス監
視セル検出部３1 〜３N 側では比較用のＰＮパターンの
入力ポート番号を一つずつデクリメントするようにした
が、もちろんこの反対に、パス監視セル生成部２1 〜２
M 側ではＯＡＭセルに格納するＰＮパターンの出力ポー
ト番号を一つずつデンクリメントし、パス監視セル検出
部３1 〜３N 側では比較用のＰＮパターンの入力ポート
番号を一つずつイクリメントするようにするものであっ
てもよい。
【００４７】また上述のような自ポート番号からのイン
クリメント／デクリメントによる他に、パス監視セル生
成部２1 〜２M 側で生成するＰＮパターンとパス監視セ
ル検出部３1 〜３N 側で生成する比較用ＰＮパターンが
各試験周期で同じになるようにパターン・ジェネレータ
を他の手段で構成しておくものであってもよい。
クリメント／デクリメントによる他に、パス監視セル生
成部２1 〜２M 側で生成するＰＮパターンとパス監視セ
ル検出部３1 〜３N 側で生成する比較用ＰＮパターンが
各試験周期で同じになるようにパターン・ジェネレータ
を他の手段で構成しておくものであってもよい。
【００４８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では任意の
入出力ポート数を持つ機能ブロックのパス監視を行うこ
とができる。このため、装置を構成する個々のブロック
ごとにパス監視のためのＯＡＭセルの生成部および検出
部の回路構成を変更する必要がなく、装置構成の変更に
対しても柔軟に対応できる。従って容易にＬＳＩ化が可
能である。また、ハードウェアのみで構成できるため
に、監視・制御系のソフトウェアの負荷を低減できる。
入出力ポート数を持つ機能ブロックのパス監視を行うこ
とができる。このため、装置を構成する個々のブロック
ごとにパス監視のためのＯＡＭセルの生成部および検出
部の回路構成を変更する必要がなく、装置構成の変更に
対しても柔軟に対応できる。従って容易にＬＳＩ化が可
能である。また、ハードウェアのみで構成できるため
に、監視・制御系のソフトウェアの負荷を低減できる。
【図１】本発明に係る原理説明図である。
【図２】本発明の一実施例としての装置内パス監視方式
によるパス監視システムの構成を示す図である。
によるパス監視システムの構成を示す図である。
【図３】実施例システムで使用するＯＡＭセルのフォー
マットを示す図である。
マットを示す図である。
【図４】実施例システムにおけるパス監視セル生成部の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【図５】実施例システムにおけるパス監視セル検出部の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【図６】実施例システムのタイムチャートを示す図であ
る。
る。
【図７】実施例システムにおける入力ポート数Ｍ＝
「３」、出力ポート数Ｎ＝「４」の場合の被試験物１の
全パスの試験の様子を示す図である。
「３」、出力ポート数Ｎ＝「４」の場合の被試験物１の
全パスの試験の様子を示す図である。
【図８】実施例システムにおける入力ポート数Ｍ＝
「８」、出力ポート数Ｎ＝「８」の場合の被試験物１の
全パスの試験の様子を示す図である。
「８」、出力ポート数Ｎ＝「８」の場合の被試験物１の
全パスの試験の様子を示す図である。
【図９】マルチポイント・ドロップ方式の構成を示す図
である。
である。
【図１０】マルチポイント・ドロップ方式のＯＡＭセル
の挿入点および分岐点の構成例を示す図である。
の挿入点および分岐点の構成例を示す図である。
【図１１】シングルポイント・ドロップ方式の構成を示
す図である。
す図である。
１ 被試験物
２1 〜２M パス監視セル生成部
３1 〜３N パス監視セル検出部
２１ アップカウンタ
２２ ＰＮパターン発生部
２３ ヘッダ部生成部
２４ シフトレジスタ
２５ コンパレータ
２６ アンドゲート
３１ ダウンカウンタ
３２ ＰＮパターン発生部
３３ シフトレジスタ
３４ 比較部
３５ コンパレータ
３６ アンドゲート
５１ 空セル検出部
５２ ＯＡＭセル挿入部
５３ スケジューリングテーブル
５４ ＯＡＭセル生成部
５５ ＶＰ変換部
５６ ルーティングテーブル
５７ ＯＡＭセル分岐部
５８ ＯＡＭセル検出部
５９ スケジューリングテーブル
６０ 監視・制御部（ＣＰＵ）
─────────────────────────────────────────────────────
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(72)発明者 清永 哲也
神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地
富士通株式会社内
(72)発明者 須藤 俊之
神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地
富士通株式会社内
(72)発明者 吉沢 仁一
神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地
富士通株式会社内
(72)発明者 上田 裕巳
東京都千代田区内幸町１丁目１番６号
日本電信電話株式会社内
(72)発明者 阿久津 賢治
東京都千代田区内幸町１丁目１番６号
日本電信電話株式会社内
(72)発明者 池松 龍一
東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気
株式会社内
(72)発明者 蔵野 貴紀
東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気
株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 機能ブロックの入力側にＯＡＭセルの挿
入点を持ち、該挿入点に対応する分岐点を機能ブロック
の出力側に持ち、Ｍ個の入力ポートとＮ個の出力ポート
を有する被試験物のパスの正常／異常を監視する装置内
パス監視方式において、 前記Ｍ個の入力ポートのそれぞれにセル生成部を１個ず
つ接続すると共に、前記Ｎ個の出力ポートのそれぞれに
セル検出部を１個ずつ接続し、 １監視周期が前記ＭおよびＮのうちの大きい方の数以上
の回数の試験周期を持つようにし、入力ポート番号ｍ（ｍ＝１〜Ｍ）に接続される前記セル
生成部は、該入力ポート番号ｍから順次に試験周期ごと
にカウントアップしてそのカウント値を出力ポート番号
ｎとして出力し、該カウント値が１監視周期内の試験周
期数に達すると１に初期化されるアップカウンタと、前
記入力ポート番号ｍと前記アップカウンタのカウント値
である前記出力ポート番号ｎとを初期値とするＰＮパタ
ーンを生成するＰＮパターン生成部と、該ＰＮパターン
生成部で生成されたＰＮパターンをペイロード部に持
ち、前記入力ポート番号ｍから前記出力ポート番号ｎへ
ルーティングされるための制御信号をヘッダ部に持つＯ
ＡＭセルを生成して被試験物に送出するＯＡＭセル送出
部と、前記アップカウンタのカウント値である出力ポー
ト番号ｎを被試験物の出力ポート数Ｎと比較する第１の
コンパレータと、該第１のコンパレータでの比較の結
果、出力ポート番号ｎが出力ポート数Ｎを超えたと判断
された時に、前記ＯＡＭセルの送出を禁止するセル送出
禁止部とを備え、 出力ポート番号ｎ（ｎ＝１〜Ｎ）に接
続される前記セル検出部は、該出力ポート番号ｎから順
次に試験周期ごとにカウントダウンしてそのカウント値
を入力ポート番号ｍとして出力し、該カウント値が１に
達すると１監視周期内の試験周期数に等しい値に初期化
されるダウンカウンタと、前記出力ポート番号ｎと前記
ダウンカウンタのカウント値である前記入力ポート番号
ｍを初期値とする比較用のＰＮパターンを生成する比較
パターン生成部と、該比較パターン生成部で生成された
比較用ＰＮパターンと被試験物を通過したＯＡＭセルの
ペイロード部に格納されているＰＮパターンとを比較し
て装置内パスの故障を検出する故障検出部と 、前記ダウ
ンカウンタのカウント値である入力ポート番号ｍを被試
験物の入力ポート数Ｍと比較する第２のコンパレータ
と、該第２のコンパレータでの比較の結果、入力ポート
番号ｍが入力ポート数Ｍを超えたと判断された時に、前
記故障の検出を禁止する故障検出禁止部とを備え、 前記１監視周期で被試験物の全ての入力ポートと全ての
出力ポートの組み合わせからなるパスを試験してその正
常／異常を監視することを特徴とする装置内パス監視方
式。 - 【請求項２】 機能ブロックの入力側にＯＡＭセルの挿
入点を持ち、該挿入点に対応する分岐点を機能ブロック
の出力側に持ち、Ｍ個の入力ポートとＮ個の出力ポート
を有する被試験物のパスの正常／異常を監視する装置内
パス監視方式において、 前記Ｍ個の入力ポートのそれぞれにセル生成部を１個ず
つ接続すると共に、前記Ｎ個の出力ポートのそれぞれに
セル検出部を１個ずつ接続し、 １監視周期が前記ＭおよびＮのうちの大きい方の数以上
の回数の試験周期を持つようにし、 入力ポート番号ｍ（ｍ＝１〜Ｍ）に接続される前記セル
生成部は、該入力ポート番号ｍから順次に試験周期ごと
にカウントダウンしてそのカウント値を出力ポート番号
ｎとして出力し、該カウント値が１に達すると１監視周
期内の試験周期数に等しい値に初期化されるダウンカウ
ンタと、前記入力ポート番号ｍと前記ダウンカウンタの
カウント値である前記出力ポート番号ｎとを初期値とす
るＰＮパターンを生成するＰＮパターン生成部と、該Ｐ
Ｎパターン生成部で生成されたＰＮパターンをペイロー
ド部に持ち、前記入力ポート番号ｍから前記出力ポート
番号ｎへルーティングされるための制御信号をヘッダ部
に持つＯＡＭセルを生成して被試験物に送出するＯＡＭ
セル送出部と、前記ダウンカウンタのカウント値である
出力ポート番号ｎを被試験物の出力ポート数Ｎと比較す
る第１のコンパレータと、該第１のコンパレータでの比
較の結果、出力ポート番号ｎが出力ポート数Ｎを超えた
と判断された時に、前記ＯＡＭセルの送出を禁止するセ
ル送出禁止部とを備え、 出力ポート番号ｎ（ｎ＝１〜Ｎ）に接続される前記セル
検出部は、該出力ポー ト番号ｎから順次に試験周期ごと
にカウントアップしてそのカウント値を入力ポート番号
ｍとして出力し、該カウント値が１監視周期内の試験周
期数に達すると１に初期化されるアップカウンタと、前
記出力ポート番号ｎと前記アップカウンタのカウント値
である前記入力ポート番号ｍを初期値とする比較用のＰ
Ｎパターンを生成する比較パターン生成部と、該比較パ
ターン生成部で生成された比較用ＰＮパターンと被試験
物を通過したＯＡＭセルのペイロード部に格納されてい
るＰＮパターンとを比較して装置内パスの故障を検出す
る故障検出部と、前記アップカウンタのカウント値であ
る入力ポート番号ｍを被試験物の入力ポート数Ｍと比較
する第２のコンパレータと、該第２のコンパレータでの
比較の結果、入力ポート番号ｍが入力ポート数Ｍを超え
たと判断された時に、前記故障の検出を禁止する故障検
出禁止部とを備え、 前記１監視周期で被試験物の全ての入力ポートと全ての
出力ポートの組み合わせからなるパスを試験してその正
常／異常を監視することを特徴とする 装置内パス監視方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06210494A JP3506479B2 (ja) | 1994-03-07 | 1994-03-07 | 装置内パス監視方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06210494A JP3506479B2 (ja) | 1994-03-07 | 1994-03-07 | 装置内パス監視方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07245617A JPH07245617A (ja) | 1995-09-19 |
| JP3506479B2 true JP3506479B2 (ja) | 2004-03-15 |
Family
ID=13190417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06210494A Expired - Lifetime JP3506479B2 (ja) | 1994-03-07 | 1994-03-07 | 装置内パス監視方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3506479B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011055837A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 日本電気株式会社 | ノード及びそれに用いる監視管理方法並びにそれを用いる転送システム、入力回路、出力回路 |
-
1994
- 1994-03-07 JP JP06210494A patent/JP3506479B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07245617A (ja) | 1995-09-19 |
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