JP2757778B2 - Atm通信装置における装置内パス試験方法とその装置 - Google Patents
Atm通信装置における装置内パス試験方法とその装置Info
- Publication number
- JP2757778B2 JP2757778B2 JP6118105A JP11810594A JP2757778B2 JP 2757778 B2 JP2757778 B2 JP 2757778B2 JP 6118105 A JP6118105 A JP 6118105A JP 11810594 A JP11810594 A JP 11810594A JP 2757778 B2 JP2757778 B2 JP 2757778B2
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- JP
- Japan
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- cell
- path
- test
- operating
- vpi
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ATM通信装置におけ
る試験方式に関し、特に装置内パス試験方法とその装置
に関する。
る試験方式に関し、特に装置内パス試験方法とその装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ATM通信装置ではVPI/V
CIテーブルに設定されたパスに従ってのみセルが通信
される。従って、ATM通信装置の試験については、製
造の段階における試験検査としてVPI/VCIテーブ
ルの全てのパス設定でのスイッチング試験が繰り返し行
われる。ネットワークとして構成したATM通信装置と
しては、上記と同様、オフラインで試験を行うことにな
り、特に通信中の装置内パス試験はまだ存在しない。
CIテーブルに設定されたパスに従ってのみセルが通信
される。従って、ATM通信装置の試験については、製
造の段階における試験検査としてVPI/VCIテーブ
ルの全てのパス設定でのスイッチング試験が繰り返し行
われる。ネットワークとして構成したATM通信装置と
しては、上記と同様、オフラインで試験を行うことにな
り、特に通信中の装置内パス試験はまだ存在しない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のATM通信方式
では、VPI/VCIテーブルにパス設定されているパ
ス以外についてはセルが通信されないため、装置内のV
PI/VCIテーブルに設定されていないパスの試験、
監視機能の実行は不可能である。
では、VPI/VCIテーブルにパス設定されているパ
ス以外についてはセルが通信されないため、装置内のV
PI/VCIテーブルに設定されていないパスの試験、
監視機能の実行は不可能である。
【0004】本発明の目的は、装置内のセルに付加した
運用中/非運用中の識別子を使用し、セル入力側の空き
セルタイミングにATMスイッチの試験用として非運用
セルを挿入し、セル出力側で前記非運用セルを検出し、
セルループバック機能を利用して、チェック部に戻すこ
とによって、運用中パスのデータに影響を与えることな
く、全てのパスの確認を常時または、任意時に可能とす
る方法と装置を提供することである。
運用中/非運用中の識別子を使用し、セル入力側の空き
セルタイミングにATMスイッチの試験用として非運用
セルを挿入し、セル出力側で前記非運用セルを検出し、
セルループバック機能を利用して、チェック部に戻すこ
とによって、運用中パスのデータに影響を与えることな
く、全てのパスの確認を常時または、任意時に可能とす
る方法と装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のATM通信装置
における装置内パス試験方法は、セルの仮想パス識別子
であるVPIおよび仮想チャネル識別子であるVCIに
よりスイッチングを行うATM通信装置の装置内パス試
験方法であって、装置内で設定されるセルフォーマット
に運用中か非運用中かを示す識別子領域を設けるステッ
プと、セルスイッチングに用いられるVPIとVCI対
応のパス設定がされているVPI/VCIテーブルのパ
ス未設定箇所に、巡回またはランダムな試験用パスを設
定するステップと、装置内セルフォーマットとして前記
試験用パスを確認する非運用セルを設定するステップ
と、セル入力側で空きセルを検出し、前記空きセル位置
にATMスイッチの試験用として前記非運用セルを置き
換えて挿入するステップと、挿入された前記非運用セル
をセル出力側で非運用セルとして検出し、検出された前
記非運用セルを折り返し、折り返された前記非運用セル
を検出して試験結果を確認し、廃棄するステップを有す
る。
における装置内パス試験方法は、セルの仮想パス識別子
であるVPIおよび仮想チャネル識別子であるVCIに
よりスイッチングを行うATM通信装置の装置内パス試
験方法であって、装置内で設定されるセルフォーマット
に運用中か非運用中かを示す識別子領域を設けるステッ
プと、セルスイッチングに用いられるVPIとVCI対
応のパス設定がされているVPI/VCIテーブルのパ
ス未設定箇所に、巡回またはランダムな試験用パスを設
定するステップと、装置内セルフォーマットとして前記
試験用パスを確認する非運用セルを設定するステップ
と、セル入力側で空きセルを検出し、前記空きセル位置
にATMスイッチの試験用として前記非運用セルを置き
換えて挿入するステップと、挿入された前記非運用セル
をセル出力側で非運用セルとして検出し、検出された前
記非運用セルを折り返し、折り返された前記非運用セル
を検出して試験結果を確認し、廃棄するステップを有す
る。
【0006】また、本発明のATM通信装置における装
置内パス試験装置は、前記ATM通信装置が、少なくと
も複数のセル入力部と、複数のセル出力部と、スイッチ
ングを行うATMスイッチ部と、VPI/VCIテーブ
ルと、セルループバック部を有するATM通信装置にお
ける装置内パス試験装置であって、装置内のセルフォー
マットに運用中か非運用中かを示す識別子領域を設定
し、パス設定されているVPI/VCIテーブルのパス
未設定箇所に巡回またはランダムな試験用パスを設定
し、非運用中セル挿入部を制御する制御部と、セル入力
側で空きセルを検出する空きセル検出部と、前記空きセ
ル位置にATMスイッチの試験用として前記非運用セル
を置き換え挿入する非運用セル挿入部と、挿入された前
記非運用セルをセル出力側で検出し、検出された前記非
運用セルを折り返し、折り返された前記非運用セルを検
出して試験結果を確認し、廃棄する非運用セル検出/チ
ェック部を有する。
置内パス試験装置は、前記ATM通信装置が、少なくと
も複数のセル入力部と、複数のセル出力部と、スイッチ
ングを行うATMスイッチ部と、VPI/VCIテーブ
ルと、セルループバック部を有するATM通信装置にお
ける装置内パス試験装置であって、装置内のセルフォー
マットに運用中か非運用中かを示す識別子領域を設定
し、パス設定されているVPI/VCIテーブルのパス
未設定箇所に巡回またはランダムな試験用パスを設定
し、非運用中セル挿入部を制御する制御部と、セル入力
側で空きセルを検出する空きセル検出部と、前記空きセ
ル位置にATMスイッチの試験用として前記非運用セル
を置き換え挿入する非運用セル挿入部と、挿入された前
記非運用セルをセル出力側で検出し、検出された前記非
運用セルを折り返し、折り返された前記非運用セルを検
出して試験結果を確認し、廃棄する非運用セル検出/チ
ェック部を有する。
【0007】
【作用】本発明のATM通信装置における装置内パス試
験は、装置内セルの領域に付加された運用中/非運用中
の識別子を使用し、スイッチングパスが設定されている
VPI/VCIテーブルのパス未設定部分に巡回または
ランダムな試験用パスを設定し、セルの入力側で空きセ
ルを検出し、前記空きセルにATMスイッチの試験用と
して非運用セルを挿入し、セルの出力側で前記非運用セ
ルを折り返し、折り返された前記非運用セルを検出して
試験結果を確認し、廃棄する。
験は、装置内セルの領域に付加された運用中/非運用中
の識別子を使用し、スイッチングパスが設定されている
VPI/VCIテーブルのパス未設定部分に巡回または
ランダムな試験用パスを設定し、セルの入力側で空きセ
ルを検出し、前記空きセルにATMスイッチの試験用と
して非運用セルを挿入し、セルの出力側で前記非運用セ
ルを折り返し、折り返された前記非運用セルを検出して
試験結果を確認し、廃棄する。
【0008】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例の構成図である。図1にお
いて、スイッチングを行うATM通信装置は、左側から
右側への信号ルートとして、外部からの入力を行う入力
1 1と、VPI/VCIテーブル3と、その内容に従っ
てATMセルのスイッチングを行うATMスイッチ部2
と、外部への出力を行う出力1 4とを有する。同様に、
右側から左側への信号ルートとして、入力2 5と、出力
2 7とを有する。また、非運用中セル検出部10と、A
TMスイッチ部2通過後のセルを出力1 4の直前でルー
プバックし、入力2 5からATMスイッチ部2方向のセ
ルの流れに乗せるセルループバック部11とを有する。
この他、本発明に必要とするブロックとして空きセル検
出部8と、非運用中セルの送出を行う非運用中セル挿入
部9と、スイッチング後の非運用中のセルを検出し、前
記セルを送出点に折り返し、戻ってきた非運用中セルを
チェックする非運用中セル検出/チェック部12を有す
る。更に、VPI/VCIテーブル3と非運用中セル挿
入部9を制御する制御部6を有する。
る。図1は本発明の一実施例の構成図である。図1にお
いて、スイッチングを行うATM通信装置は、左側から
右側への信号ルートとして、外部からの入力を行う入力
1 1と、VPI/VCIテーブル3と、その内容に従っ
てATMセルのスイッチングを行うATMスイッチ部2
と、外部への出力を行う出力1 4とを有する。同様に、
右側から左側への信号ルートとして、入力2 5と、出力
2 7とを有する。また、非運用中セル検出部10と、A
TMスイッチ部2通過後のセルを出力1 4の直前でルー
プバックし、入力2 5からATMスイッチ部2方向のセ
ルの流れに乗せるセルループバック部11とを有する。
この他、本発明に必要とするブロックとして空きセル検
出部8と、非運用中セルの送出を行う非運用中セル挿入
部9と、スイッチング後の非運用中のセルを検出し、前
記セルを送出点に折り返し、戻ってきた非運用中セルを
チェックする非運用中セル検出/チェック部12を有す
る。更に、VPI/VCIテーブル3と非運用中セル挿
入部9を制御する制御部6を有する。
【0009】次に本発明の動作を説明する。装置内で
は、装置内のセルフォーマットとして、装置内のセルの
一部に運用中/非運用中の識別子領域の設定と、VPI
/VCIテーブル3の未設定パスを確認する試験用パス
の設定と、装置内セルへの識別子の付加と、前記試験用
パスに対応し、運用中/非運用中の識別子が非運用を示
している非運用中セルの設定とがハードウェアまたはハ
ードウェアとソフトウェアの処理により行われる。セル
の入力側では空きセルが空きセル検出部8により検出さ
れ、ATMスイッチの試験用に前記非運用中セルが非運
用中セル挿入部9により前記空きセルの位置に挿入され
る。送出する非運用中セルのVPI、VCI値が巡回ま
たはランダムに付加される。また同様に、制御部6はV
PI/VCIテーブル3の出力先アドレスを巡回または
ランダムに変化させる。セルはVPI/VCIテーブル
3に従ってATMスイッチ部2によりスイッチングされ
る。出力直前の非運用中セル検出部10は非運用中セル
を検出すると、セルループバック部11により非運用中
セルを折り返し、非運用中セル検出/チェック部12は
折り返されて戻ってきた非運用中セルを検出して試験結
果を確認し、廃棄する。引続き、未設定のパスの確認を
行う。
は、装置内のセルフォーマットとして、装置内のセルの
一部に運用中/非運用中の識別子領域の設定と、VPI
/VCIテーブル3の未設定パスを確認する試験用パス
の設定と、装置内セルへの識別子の付加と、前記試験用
パスに対応し、運用中/非運用中の識別子が非運用を示
している非運用中セルの設定とがハードウェアまたはハ
ードウェアとソフトウェアの処理により行われる。セル
の入力側では空きセルが空きセル検出部8により検出さ
れ、ATMスイッチの試験用に前記非運用中セルが非運
用中セル挿入部9により前記空きセルの位置に挿入され
る。送出する非運用中セルのVPI、VCI値が巡回ま
たはランダムに付加される。また同様に、制御部6はV
PI/VCIテーブル3の出力先アドレスを巡回または
ランダムに変化させる。セルはVPI/VCIテーブル
3に従ってATMスイッチ部2によりスイッチングされ
る。出力直前の非運用中セル検出部10は非運用中セル
を検出すると、セルループバック部11により非運用中
セルを折り返し、非運用中セル検出/チェック部12は
折り返されて戻ってきた非運用中セルを検出して試験結
果を確認し、廃棄する。引続き、未設定のパスの確認を
行う。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明の方法とその
装置は、装置内セルのセルフォーマットとして、運用中
/非運用中の識別子を使用することによって、運用中の
データに影響を与えることなく、全てのパスの確認を常
時または、任意時に可能とする効果がある。 また、運
用中/非運用中の識別子は装置内のみで有効なので、新
たに標準化の必要なOAMセルは不要となる効果があ
る。
装置は、装置内セルのセルフォーマットとして、運用中
/非運用中の識別子を使用することによって、運用中の
データに影響を与えることなく、全てのパスの確認を常
時または、任意時に可能とする効果がある。 また、運
用中/非運用中の識別子は装置内のみで有効なので、新
たに標準化の必要なOAMセルは不要となる効果があ
る。
【図1】本発明の一実施例の構成図である。
1 入力1 2 ATMスイッチ部 3 VPI/VCIテーブル 4 出力1 5 入力2 6 制御部 7 出力2 8 空きセル検出部 9 非運用中セル挿入部 10 非運用中セル検出部 11 セルループバック部 12 非運用中セル検出/チェック部
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−207544(JP,A) 特開 平4−127734(JP,A) 特開 平4−157842(JP,A) 特開 平4−100451(JP,A) 特開 平6−268668(JP,A) 電子情報通信学会技術研究報告,CS 92−30 (1992−6−24),松永治彦 他,ATM網におけるバーチャルパス試 験方式,P.31−38 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H04L 12/28 H04L 12/56
Claims (2)
- 【請求項1】 セルの仮想パス識別子であるVPIおよ
び仮想チャネル識別子であるVCIによりスイッチング
を行うATM通信装置の装置内パス試験方法であって、 装置内で設定されるセルフォーマットに運用中か非運用
中かを示す識別子領域を設けるステップと、 セルスイッチングに用いられるVPIとVCI対応のパ
ス設定がされているVPI/VCIテーブルのパス未設
定箇所に、巡回またはランダムな試験用パスを設定する
ステップと、 装置内セルフォーマットとして前記試験用パスを確認す
る非運用セルを設定するステップと、 セル入力側で空きセルを検出し、前記空きセル位置にA
TMスイッチの試験用として前記非運用セルを置き換え
て挿入するステップと、 挿入された前記非運用セルをセル出力側で非運用セルと
して検出し、検出された前記非運用セルを折り返し、折
り返された前記非運用セルを検出して試験結果を確認
し、廃棄するステップを有するATM通信装置における
装置内パス試験方法。 - 【請求項2】 前記ATM通信装置が、少なくとも複数
のセル入力部と、複数のセル出力部と、スイッチングを
行うATMスイッチ部と、VPI/VCIテーブルと、
セルループバック部を有するATM通信装置における装
置内パス試験装置であって、 装置内のセルフォーマットに運用中か非運用中かを示す
識別子領域を設定し、パス設定されているVPI/VC
Iテーブルのパス未設定箇所に巡回またはランダムな試
験用パスを設定し、非運用中セル挿入部を制御する制御
部と、 セル入力側で空きセルを検出する空きセル検出部と、 前記空きセル位置にATMスイッチの試験用として前記
非運用セルを置き換え挿入する非運用セル挿入部と、 挿入された前記非運用セルをセル出力側で検出し、検出
された前記非運用セルを折り返し、折り返された前記非
運用セルを検出して試験結果を確認し、廃棄する非運用
セル検出/チェック部を有するATM通信装置における
装置内パス試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6118105A JP2757778B2 (ja) | 1994-05-31 | 1994-05-31 | Atm通信装置における装置内パス試験方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6118105A JP2757778B2 (ja) | 1994-05-31 | 1994-05-31 | Atm通信装置における装置内パス試験方法とその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07327031A JPH07327031A (ja) | 1995-12-12 |
JP2757778B2 true JP2757778B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=14728145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6118105A Expired - Lifetime JP2757778B2 (ja) | 1994-05-31 | 1994-05-31 | Atm通信装置における装置内パス試験方法とその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2757778B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09214511A (ja) * | 1996-02-05 | 1997-08-15 | Nec Corp | セル処理装置の故障自己監視方式 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04207544A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-29 | Fujitsu Ltd | Atm交換機の折り返し試験方式 |
-
1994
- 1994-05-31 JP JP6118105A patent/JP2757778B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
電子情報通信学会技術研究報告,CS92−30 (1992−6−24),松永治彦他,ATM網におけるバーチャルパス試験方式,P.31−38 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07327031A (ja) | 1995-12-12 |
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