JP5153670B2 - 診断装置、診断方法および試験装置 - Google Patents
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- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 title claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 348
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 38
- 230000006854 communication Effects 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 11
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 102100025837 JNK1/MAPK8-associated membrane protein Human genes 0.000 description 1
- 101710176060 JNK1/MAPK8-associated membrane protein Proteins 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318307—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
Description
Claims (9)
- 被試験デバイスを試験する複数の試験モジュールを備える試験装置を診断する診断装置であって、
前記複数の試験モジュールのそれぞれの種類および接続関係が記述された構成情報を記憶する構成記憶部と、
前記構成情報に基づいて、前記複数の試験モジュールのそれぞれを診断するための診断用パターンを記述したパターンファイルを生成する生成部と、
前記複数の試験モジュールのそれぞれに対して、対応する前記診断用パターンに応じた診断用信号を発生させて、それぞれの試験モジュールを診断する診断部と、
を備える診断装置。 - 前記生成部は、前記構成情報に基づいて、前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、発生する前記診断用信号と前記被試験デバイスが接続されるコネクタピンとの対応関係が記述されたパラメータファイルを生成し、
前記診断部は、前記複数の試験モジュールのそれぞれに対して、前記診断用信号を前記パラメータファイルに記述された対応するコネクタピンに与えられるように発生させる
請求項1に記載の診断装置。 - 同一種類の1または複数の試験モジュールのグループを設定するグループ設定部を更に備え、
前記診断部は、設定されたグループ毎に、当該グループに含まれる1または前記複数の試験モジュールに同一の診断用信号を発生させる
請求項1から2の何れかに記載の診断装置。 - 前記グループ設定部は、前記試験装置が同一種類の試験モジュールを予め定められた個数より多く備える場合には、当該種類の試験モジュールを予め定められた個数以下ずつ含む複数のグループを設定する
請求項3に記載の診断装置。 - 前記診断部は、制御用コンピュータが診断プログラムを実行することにより実現され、
前記生成部は、前記診断プログラムを書き換えた場合には、書き換え後の診断プログラムを再コンパイルする
請求項1から4の何れかに記載の診断装置。 - 前記生成部は、前記診断プログラムにおける前記試験モジュールの設定レジスタに書き込むべき設定値の記述を書き換えた場合に、書き換え後の診断プログラムを再コンパイルする
請求項5に記載の診断装置。 - 前記生成部は、前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、発生する前記診断用信号の信号名および論理値を指定する前記診断用パターンを記述したパターンファイル、並びに、前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、発生する前記診断用信号の信号名および当該診断用信号を与えるコネクタピンのピン番号との対応関係が記述されたパラメータファイルを生成し、
前記診断部は、前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、発生する前記診断用信号を、当該診断用信号の信号名に対応するピン番号のコネクタピンに与えられるように、前記パラメータファイルに基づき前記診断用パターンを書き換え、対応する前記試験モジュールに供給する
請求項2に記載の診断装置。 - 被試験デバイスを試験する複数の試験モジュールを備える試験装置を診断する診断方法であって、
前記複数の試験モジュールのそれぞれの種類および接続関係が記述された構成情報に基づいて、前記複数の試験モジュールのそれぞれを診断するための診断用パターンを記述したパターンファイルを生成し、
前記複数の試験モジュールのそれぞれに対して、対応する前記診断用パターンに応じた診断用信号を発生させて、それぞれの試験モジュールを診断する
診断方法。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
被試験デバイスを試験する複数の試験モジュールと、
前記複数の試験モジュールを診断する診断装置と
を備え、
前記診断装置は、
前記複数の試験モジュールのそれぞれの種類および接続関係が記述された構成情報を記憶する構成記憶部と、
前記構成情報に基づいて、前記複数の試験モジュールのそれぞれを診断するための診断用パターンを記述したパターンファイルを生成する生成部と、
前記複数の試験モジュールのそれぞれに対して、対応する前記診断用パターンに応じた診断用信号を発生させて、それぞれの試験モジュールを診断する診断部と、
を備える試験装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009020077A JP5153670B2 (ja) | 2009-01-30 | 2009-01-30 | 診断装置、診断方法および試験装置 |
US12/693,120 US20100198548A1 (en) | 2009-01-30 | 2010-01-25 | Diagnostic apparatus, diagnostic method and test apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009020077A JP5153670B2 (ja) | 2009-01-30 | 2009-01-30 | 診断装置、診断方法および試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010175459A JP2010175459A (ja) | 2010-08-12 |
JP5153670B2 true JP5153670B2 (ja) | 2013-02-27 |
Family
ID=42398419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009020077A Expired - Fee Related JP5153670B2 (ja) | 2009-01-30 | 2009-01-30 | 診断装置、診断方法および試験装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100198548A1 (ja) |
JP (1) | JP5153670B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6512052B2 (ja) | 2015-09-29 | 2019-05-15 | 新東工業株式会社 | テストシステム |
WO2018154664A1 (ja) * | 2017-02-22 | 2018-08-30 | 三菱電機株式会社 | 制御装置及び制御方法 |
KR102317882B1 (ko) * | 2020-03-26 | 2021-10-26 | 주식회사 재현이노텍 | 이종 스티어링 휠 범용 검사 시스템 및 방법 |
CN111722031A (zh) * | 2020-05-13 | 2020-09-29 | 广州市扬新技术研究有限责任公司 | 基于fpga的直流牵引保护测试仪装置 |
KR102602307B1 (ko) | 2021-05-27 | 2023-11-16 | 주식회사 에스아이웨어 | 차량용 핸들 테스트 장치, 시스템 및 방법 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3263475B2 (ja) * | 1993-03-29 | 2002-03-04 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置の自動試験装置及び方法 |
US7184917B2 (en) * | 2003-02-14 | 2007-02-27 | Advantest America R&D Center, Inc. | Method and system for controlling interchangeable components in a modular test system |
DE602004011490T2 (de) * | 2003-03-27 | 2009-01-15 | Advantest Corp. | Testvorrichtung |
US7913002B2 (en) * | 2004-08-20 | 2011-03-22 | Advantest Corporation | Test apparatus, configuration method, and device interface |
JP2006275986A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Advantest Corp | 診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法 |
JP4571534B2 (ja) * | 2005-05-12 | 2010-10-27 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、診断プログラムおよび診断方法 |
US7552370B2 (en) * | 2006-03-31 | 2009-06-23 | Robert Pochowski | Application specific distributed test engine architecture system and method |
US20080133165A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-05 | Advantest Corporation | Test apparatus and device interface |
US7725793B2 (en) * | 2007-03-21 | 2010-05-25 | Advantest Corporation | Pattern generation for test apparatus and electronic device |
US7603604B2 (en) * | 2007-04-09 | 2009-10-13 | Advantest Corporation | Test apparatus and electronic device |
-
2009
- 2009-01-30 JP JP2009020077A patent/JP5153670B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-01-25 US US12/693,120 patent/US20100198548A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010175459A (ja) | 2010-08-12 |
US20100198548A1 (en) | 2010-08-05 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111014 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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