CN107273249B - 主板测试方法、处理器和主板测试系统 - Google Patents
主板测试方法、处理器和主板测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107273249B CN107273249B CN201610211020.2A CN201610211020A CN107273249B CN 107273249 B CN107273249 B CN 107273249B CN 201610211020 A CN201610211020 A CN 201610211020A CN 107273249 B CN107273249 B CN 107273249B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- mainboard
- external device
- cases
- equipment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
Abstract
本发明提供一种主板测试方法、处理器和主板测试系统,其中,主板测试方法包括:启动在主板上的存储芯片中存储的预设系统引导文件;其中,预设系统引导文件为维持主板运行的最小程序集合;获取在存储芯片中存储的外部设备测试表,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表;依次对测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果;将测试结果输出至与主板通过通信接口连接的显示设备;其中,通信接口在启动预设系统引导文件时初始化。本发明提供的主板测试方法,简化了测试环境,提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种主板测试方法、处理器和主板测试系统。
背景技术
主板是计算机最基本也是最重要的部件之一,主板上提供了一系列的设备接口,以供中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)、显卡、声卡、硬盘、存储器等设备进行接合,这些设备或者直接插入相关插槽,或者用线路连接,设备之间的通信协作都是以这些设备接口作为基础的,所以,为了保证主板的质量,必须在主板焊接完成之后进行必要的测试。
目前,对主板进行测试,需要搭建主板的测试环境,通常会开发一个外部测试设备,将此设备作为主板和计算机显示器之间的桥梁。测试设备上具有可编程逻辑器件,人工控制可编程逻辑器件输出各个测试用例的激励信号到主板上,主板收到激励信号后产生相应的响应信号,可编程逻辑器件分析主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符,并将测试结果输出至计算机显示器显示。
但是,现有的主板测试环境由于需要额外的测试设备,使得测试环境和测试流程复杂,影响了主板的测试效率,使得主板测试效率较低。
发明内容
本发明提供一种主板测试方法、处理器和主板测试系统,简化了测试环境,提高了测试效率。
本发明提供的主板测试方法,包括:
启动在主板上存储芯片中存储的预设系统引导文件;其中,所述预设系统引导文件为维持所述主板运行的最小程序集合;
获取在所述存储芯片中存储的外部设备测试表,根据所述外部设备测试表中的测试用例生成测试列表;
依次对所述测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果;
将所述测试结果输出至与所述主板通过通信接口连接的显示设备;其中,所述通信接口在启动所述预设系统引导文件时初始化。
本发明提供的处理器,包括:
启动模块,用于启动在主板上存储芯片中存储的预设系统引导文件;其中,所述预设系统引导文件为维持所述主板运行的最小程序集合;
配置模块,用于获取在所述存储芯片中存储的外部设备测试表,根据所述外部设备测试表中的测试用例生成测试列表;
测试模块,用于依次对所述测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果;
输出模块,用于将所述测试结果输出至与所述主板通过通信接口连接的显示设备;其中,所述通信接口在启动所述预设系统引导文件时初始化。
本发明提供的主板测试系统,包括:主板、外部设备和显示设备,所述外部设备包括本发明任一实施例提供的处理器;
所述外部设备与所述主板通过所述主板上的设备接口连接,所述显示设备与所述主板通过通信接口连接。
本发明提供一种主板测试方法、处理器和主板测试系统,其中,主板测试方法包括:在外部设备与主板上的设备接口连接之后,启动在主板上的存储芯片中存储的预设系统引导文件,获取在存储芯片中存储的外部设备测试表,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表,依次对测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果,将测试结果输出至与主板通过通信接口连接的显示设备。本发明提供的主板测试方法,主板和显示设备之间通过通信接口直接连接,在主板上电后,启动预设系统引导文件,完成必要的初始化,简化了测试环境,节省了测试时间,提高了测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一提供的主板测试方法的流程图;
图2为本发明实施例一提供的处理器的结构示意图;
图3为本发明实施例一提供的主板测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提供的主板测试方法、处理器和主板测试系统,主要应用于计算机领域,当然,也可以应用于手机等其他电子设备领域。
图1为本发明实施例一提供的主板测试方法的流程图,本实施例提供的主板测试方法,执行主体可以是处理器,在计算机系统中,处理器为CPU。如图1所示,本实施例提供的主板测试方法,可以包括:
步骤101、启动在主板上的存储芯片中存储的预设系统引导文件。
在本步骤中,在所需的外部设备与主板连接之后,启动主板电源,处理器寻址到存储芯片执行预设系统引导文件(可以称为BOOT)。其中,预设BOOT为维持主板运行的最小程序集合,只进行必要的初始化工作,确保主板运行即可。其中,预设BOOT根据实际需要进行设置。
可见,通过启动预设BOOT,在主板测试的过程中,不需要将整个主板完全初始化一遍后才能启动主板测试,只需完成必要的初始化即可启动主板测试,简化了测试环境的准备过程,节省了测试时间,进而提高了主板测试效率。
可选的,预设BOOT可以包括:设置异常向量表、初始化串口、初始化传输后备缓冲器(Translation Lookaside Buffer,简称TLB)、初始化高速缓冲存储器(简称Cache),以及构造软件程序运行环境。其中,软件程序运行环境可以是C语言程序运行环境。
需要说明的是,预设BOOT需要提前烧写到存储芯片中。例如:对于存储芯片为NorFlash芯片的主板,则预设BOOT先通过编译器的编译生成二进制文件,然后将二进制文件烧写到Nor Flash芯片中,再将Nor Flash芯片插到主板上相应的设备接口。
需要说明的是,外部设备为与主板连接的任意设备,在计算机系统中,外部设备可以包括:CPU、内存条、通用串行总线(Universal Serial Bus,简称USB)键盘、USB鼠标、PS2(PlayStation 2,简称PS2)键盘、PS2鼠标、PCIE(Peripheral Component InterconnectExpress,简称PCIE)设备、显卡、声卡、摄像头、摄像机、扫描仪、打印机、光盘刻录机、语音输入装置、图像输出装置、显示屏、网线、硬盘存储器、移动存储器等等。
各个外部设备通过主板上相应的设备接口与主板连接,设备接口可以包括:插口、插槽、水晶头、连接线、固定焊接等多种形式,例如:内存条是通过内存插槽与主板连接的,网线是通过RJ45水晶头与主板连接的,桥片是直接焊接在主板上的。
步骤102、获取在存储芯片中存储的外部设备测试表,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表。
在本步骤中,存储芯片中还存储有外部设备测试表,外部设备测试表中包括各个外部设备的所有测试用例。处理器获取所有的测试用例,对测试用例进行排序获得测试列表。
可见,由于处理器自动对测试用例排序获得测试列表,不需要人工干预,提高了测试效率,也减少了人力资源的投入。
需要说明的是,外部设备测试表需要提前烧写到存储芯片中,烧写过程与预设BOOT的烧写过程相似,此处不再赘述。
需要说明的是,本实施例对于外部设备测试表的具体实现方式不加以限制,例如:外部设备测试表可以是一张表,该表中包括所有外部设备的所有测试用例;或者,外部设备测试表也可以由多个子表构成,每个子表中包括一个外部设备的所有测试用例。
进一步的,存储芯片中存储的外部设备测试表可以为多个,每个外部设备测试表对应一种主板型号。
可选的,在本步骤中,获取存储芯片中存储的外部设备测试表,一种实现方式可以包括:
获取主板的型号。
根据型号获取与型号相对应的外部设备测试表。
步骤103、依次对测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果。
在本步骤中,由于测试列表中已经对测试用例进行了排序,所以,处理器只需要根据测试用例的顺序依次自动测试即可,获得每个测试用例的测试结果。
可见,由于处理器根据测试列表自动对测试用例依次进行测试,不需要人工干预,提高了测试效率,也减少了人力资源的投入。
其中,测试结果可以包括:测试通过、测试失败、测试未进行等结果,其中,测试失败可以包括外部设备不在位、外部设备状态异常等原因。
步骤104、将测试结果输出至与主板通过通信接口连接的显示设备。
其中,通信接口在启动预设BOOT时初始化。
在本步骤中,由于通信接口在启动预设BOOT时已经进行了初始化,所以,主板和显示设备之间可以进行数据传输,处理器将测试用例的测试结果输出至显示设备,以便对测试结果进行分析处理,完成主板测试过程。
可见,本实施例提供的主板测试方法,由于主板直接与显示器通过通信接口连接,不需要在主板和显示设备之间增加额外复杂的测试设备,简化了测试环境,节省了测试数据的传递时间,提高了主板测试效率。
可选的,通信接口可以为串口,主板和显示设备通过串口线进行连接。
需要说明的是,本实施例对将测试结果输出至显示设备的具体实现方式不加以限制,例如:可以边测试边输出,即,完成一个测试用例的测试后,即将测试结果输出至显示设备;也可以完成所有测试用例的测试后,再将所有测试用例的测试结果输出至显示设备。
本实施例提供一种主板测试方法,包括:在外部设备与主板上的设备接口连接之后,启动在主板上存储芯片中存储的预设BOOT,获取在存储芯片中存储的外部设备测试表,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表,依次对测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果,将测试结果输出至与主板通过通信接口连接的显示设备。本实施例提供的主板测试方法,主板和显示设备之间通过通信接口直接连接,在主板上电后,启动预设BOOT,完成必要的初始化,简化了测试环境,节省了测试时间,提高了测试效率。
作为本发明实施例二提供的主板测试方法,本实施例在实施例一的基础上,提供了主板测试方法的另一种实现方式,主要提供了实施例一中步骤102的一种具体实现方式。本实施例提供的主板测试方法,可以包括:
外部设备测试表中存储有测试用例对应的设备层次。其中,设备层次为测试用例对应的外部设备与处理器的连接通路上的设备数目。
步骤102中,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表,可以包括:
按照测试用例对应的设备层次由小到大的顺序,将测试用例进行排序,生成测试列表。
在本实施例中,每个测试用例对应有设备层次,同一个外部设备的所有测试用例对应的设备层次相同,设备层次可以反映出外部设备与处理器是否直接相连以及连接中转的次数,具体的,直接和处理器连接的外部设备可以定义为第一层设备,第一层设备与处理器的通信最为紧密和直接,而通过某个设备再和处理器连接的外部设备可以定义为第二层设备,第二层设备与处理器的通信就需要经过第一层设备的连接中转,以此类推。设备层次越小,说明外部设备与处理器的连接通路上的设备越少。例如,网口与处理器连接时,必须通过物理接口收发器(简称PHY)连接,则PHY即为第一层设备,网口即为第二层设备。
需要说明的是,在本实施例中,设备层次的计数,可以包括外部设备与处理器,也可以不包括外部设备与处理器,例如,网口经过PHY与处理器连接,那么PHY的所有测试用例对应的设备层次,可以为0,也可以为2,网口的所有测试用例对应的设备层次,可以为1,也可以为3,各个外部设备只要采用统一的方式计数即可。
在主板测试过程中,如果设备层次较小的外部设备出现问题,那么,以该设备层次较小的外部设备作为中转设备的设备层次较大的外部设备,其测试用例不通过的概率很大。所以,在本实施例中,处理器自动生成测试列表时,按照设备层次由小到大的顺序,将测试用例进行排序,根据测试结果可以准确快速的逐层定位出错位置,不会出现外层设备的测试出错是由于内层设备出错造成的但是无法定位的问题。
本实施例提供一种主板测试方法,在生成测试列表时,以处理器为中心层次遍历所有测试用例,自动生成测试列表,提高了问题定位的速度和准确性,进而提高了主板测试的效率。
作为本发明实施例三提供的主板测试方法,本实施例在实施例一和实施例二的基础上,提供了主板测试方法的又一种实现方式,主要提供了实施例一中步骤102的一种具体实现方式。本实施例提供的主板测试方法,可以包括:
外部设备测试表中还存储有测试用例对应的优先级。其中,优先级为测试用例在测试用例对应的外部设备的所有测试用例中的执行优先级别。
步骤102中,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表,可以包括:
按照测试用例对应的优先级由高到低的顺序,将每个外部设备的测试用例进行排序,生成测试子表。
按照测试用例对应的设备层次由小到大的顺序,将测试子表进行排序,生成测试列表。
在本实施例中,每个测试用例不仅对应有设备层次,还对应有优先级,优先级可以反映出同一个外部设备的所有测试用例的执行优先级别,优先级越高,该测试用例的执行顺序越靠前,需要优先执行,优先级越低,该测试用例的执行顺序越靠后。
在本实施例中,处理器自动生成测试列表时,首先按照优先级由高到低的顺序将同一个外部设备的所有测试用例进行排序,生成该外部设备对应的测试子表,然后,按照设备层次由小到大的顺序,将各个测试子表进行排序,生成测试列表。
由于对每个外部设备的所有测试用例也进行了执行顺序的排序,可以进一步快速逐层定位出错位置,进一步提升了测试效率。
需要说明的是,本实施例对于优先级的具体实现方式不加以限制,例如:优先级为正整数,且优先级越小表示测试用例越优先执行;或者,优先级用“高”、“中”、“低”表示,优先级为“高”表示测试用例优先执行。
本实施例提供一种主板测试方法,在生成测试列表时,根据以处理器为中心的层次遍历以及测试用例的优先级别策略,自动生成测试列表,提高了问题定位的速度和准确性,进而提高了主板测试的效率。
图2为本发明实施例一提供的处理器的结构示意图,本实施例提供的处理器,与主板连接,用于执行上述任一方法实施例提供的主板测试方法。如图2所示,本实施例提供的处理器,可以包括:
启动模块11,用于启动在主板上存储芯片中存储的预设系统引导文件。其中,预设系统引导文件为维持主板运行的最小程序集合。
配置模块12,用于获取在存储芯片中存储的外部设备测试表,根据外部设备测试表中的测试用例生成测试列表。
测试模块13,用于依次对测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果。
输出模块14,用于将测试结果输出至与主板通过通信接口连接的显示设备。其中,通信接口在启动预设系统引导文件时初始化。
可选的,外部设备测试表中存储有测试用例对应的设备层次。其中,设备层次为测试用例对应的外部设备与处理器的连接通路上的设备数目。
配置模块12具体用于:
按照测试用例对应的设备层次由小到大的顺序,将测试用例进行排序,生成测试列表。
可选的,外部设备测试表中还存储有测试用例对应的优先级。其中,优先级为测试用例在测试用例对应的外部设备的所有测试用例中的执行优先级别。
配置模块12具体用于:
按照测试用例对应的优先级由高到低的顺序,将每个外部设备的测试用例进行排序,生成测试子表。
按照测试用例对应的设备层次由小到大的顺序,将测试子表进行排序,生成测试列表。
可选的,配置模块12具体用于:
获取主板的型号。
根据型号获取与型号相对应的外部设备测试表。
可选的,预设系统引导文件包括:设置异常向量表、初始化串口、初始化TLB、初始化Cache,以及构造软件程序运行环境。
本实施例提供一种处理器,包括:启动模块、配置模块、测试模块和输出模块。本实施例提供的处理器,主板和显示设备之间通过通信接口直接连接,在主板上电后,启动预设BOOT,完成必要的初始化,简化了测试环境,节省了测试时间,提高了测试效率。
图3为本发明实施例一提供的主板测试系统的结构示意图。如图3所示,本实施例提供的主板测试系统,可以包括:主板21、外部设备22和显示设备23,外部设备22包括本发明任一实施例提供的处理器221。
外部设备22与主板21通过主板21上的设备接口连接,显示设备23与主板21通过通信接口连接。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (9)
1.一种主板测试方法,其特征在于,包括:
启动在主板上的存储芯片中存储的预设系统引导文件;其中,所述预设系统引导文件为维持所述主板运行的最小程序集合;
获取在所述存储芯片中存储的外部设备测试表,根据所述外部设备测试表中的测试用例生成测试列表;
依次对所述测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果;
将所述测试结果输出至与所述主板通过通信接口连接的显示设备;其中,所述通信接口在启动所述预设系统引导文件时初始化;
所述外部设备测试表中存储有测试用例对应的设备层次;其中,所述设备层次为所述测试用例对应的外部设备与处理器的连接通路上的设备数目;
所述根据所述外部设备测试表中的测试用例生成测试列表,包括:
按照所述测试用例对应的所述设备层次由小到大的顺序,将所述测试用例进行排序,生成所述测试列表。
2.根据权利要求1所述的主板测试方法,其特征在于,所述外部设备测试表中还存储有测试用例对应的优先级;其中,所述优先级为所述测试用例在所述测试用例对应的外部设备的所有测试用例中的执行优先级别;
所述根据所述外部设备测试表中的测试用例生成测试列表,包括:
按照所述测试用例对应的所述优先级由高到低的顺序,将每个外部设备的测试用例进行排序,生成测试子表;
按照所述测试用例对应的所述设备层次由小到大的顺序,将所述测试子表进行排序,生成所述测试列表。
3.根据权利要求1至2任一所述的主板测试方法,其特征在于,所述获取所述存储芯片中存储的外部设备测试表,包括:
获取所述主板的型号;
根据所述型号获取与所述型号相对应的外部设备测试表。
4.根据权利要求1至2任一所述的主板测试方法,其特征在于,所述预设系统引导文件包括:设置异常向量表、初始化串口、初始化传输后备缓冲器TLB、初始化高速缓冲存储器Cache,以及构造软件程序运行环境。
5.一种处理器,其特征在于,包括:
启动模块,用于启动在主板上的存储芯片中存储的预设系统引导文件;其中,所述预设系统引导文件为维持所述主板运行的最小程序集合;
配置模块,用于获取在所述存储芯片中存储的外部设备测试表,根据所述外部设备测试表中的测试用例生成测试列表;
测试模块,用于依次对所述测试列表中的测试用例进行测试,获得测试结果;
输出模块,用于将所述测试结果输出至与所述主板通过通信接口连接的显示设备;其中,所述通信接口在启动所述预设系统引导文件时初始化;
所述外部设备测试表中存储有测试用例对应的设备层次;其中,所述设备层次为所述测试用例对应的外部设备与处理器的连接通路上的设备数目;
所述配置模块具体用于:
按照所述测试用例对应的所述设备层次由小到大的顺序,将所述测试用例进行排序,生成所述测试列表。
6.根据权利要求5所述的处理器,其特征在于,所述外部设备测试表中还存储有测试用例对应的优先级;其中,所述优先级为所述测试用例在所述测试用例对应的外部设备的所有测试用例中的执行优先级别;
所述配置模块具体用于:
按照所述测试用例对应的所述优先级由高到低的顺序,将每个外部设备的测试用例进行排序,生成测试子表;
按照所述测试用例对应的所述设备层次由小到大的顺序,将所述测试子表进行排序,生成所述测试列表。
7.根据权利要求5至6任一所述的处理器,其特征在于,所述配置模块具体用于:
获取所述主板的型号;
根据所述型号获取与所述型号相对应的外部设备测试表。
8.根据权利要求5至6任一所述的处理器,其特征在于,所述预设系统引导文件包括:设置异常向量表、初始化串口、初始化传输后备缓冲器TLB、初始化高速缓冲存储器Cache,以及构造软件程序运行环境。
9.一种主板测试系统,其特征在于,包括:主板、外部设备和显示设备,所述外部设备包括如权利要求5至8任一所述的处理器;
所述外部设备与所述主板通过所述主板上的设备接口连接,所述显示设备与所述主板通过通信接口连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610211020.2A CN107273249B (zh) | 2016-04-06 | 2016-04-06 | 主板测试方法、处理器和主板测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610211020.2A CN107273249B (zh) | 2016-04-06 | 2016-04-06 | 主板测试方法、处理器和主板测试系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107273249A CN107273249A (zh) | 2017-10-20 |
CN107273249B true CN107273249B (zh) | 2021-01-26 |
Family
ID=60051768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610211020.2A Active CN107273249B (zh) | 2016-04-06 | 2016-04-06 | 主板测试方法、处理器和主板测试系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN107273249B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109656756B (zh) * | 2018-11-12 | 2022-05-17 | 南京南瑞继保电气有限公司 | 多核cpu板卡调试方法及装置、移动存储介质 |
CN109739769B (zh) * | 2019-01-02 | 2022-06-07 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Bootrom加载功能自动化测试方法及装置 |
CN114138581B (zh) * | 2021-12-02 | 2022-08-05 | 深圳市高速达科技有限公司 | 一种主板测试方法及系统 |
CN115372803B (zh) * | 2022-10-25 | 2023-09-15 | 深圳华北工控股份有限公司 | 主板测试系统、方法、装置和存储介质 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102214139A (zh) * | 2011-06-01 | 2011-10-12 | 北京航空航天大学 | 一种面向分布式系统的自动化测试的执行控制与调度方法 |
CN104239170A (zh) * | 2013-06-17 | 2014-12-24 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Pci设备测试方法及系统 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6792378B2 (en) * | 2002-11-21 | 2004-09-14 | Via Technologies, Inc. | Method for testing I/O ports of a computer motherboard |
CN101446913B (zh) * | 2009-01-13 | 2011-06-08 | 杭州华三通信技术有限公司 | 设备故障的检测方法和装置 |
CN102338854B (zh) * | 2010-07-27 | 2015-04-15 | 迈普通信技术股份有限公司 | 电路板测试用例生成系统及方法 |
-
2016
- 2016-04-06 CN CN201610211020.2A patent/CN107273249B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102214139A (zh) * | 2011-06-01 | 2011-10-12 | 北京航空航天大学 | 一种面向分布式系统的自动化测试的执行控制与调度方法 |
CN104239170A (zh) * | 2013-06-17 | 2014-12-24 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Pci设备测试方法及系统 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
基于Xscale处理器的嵌入式硬件平台设计及引导程序研究;周慰;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20070215(第02期);第33-35页 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107273249A (zh) | 2017-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8549478B2 (en) | Graphical user interface input element identification | |
CN107273249B (zh) | 主板测试方法、处理器和主板测试系统 | |
EP2158495B1 (en) | Integrated circuit with self-test feature for validating functionality of external interfaces | |
US9836373B2 (en) | On-chip field testing methods and apparatus | |
US10209306B2 (en) | Methods and systems for generating functional test patterns for manufacture test | |
US10198332B2 (en) | System on chip integrity verification method and system | |
CN110618903A (zh) | 电子设备测试方法与装置 | |
JP2002358249A (ja) | デバイスのバス・プロトコル準拠試験方法およびシステム | |
WO2014035463A1 (en) | System and methods for generating and managing a virtual device | |
CN110058920B (zh) | 虚拟机性能检测方法及装置、电子设备、存储介质 | |
CN107329899A (zh) | 一种应用程序兼容性测试方法和装置 | |
US10977160B2 (en) | Determining instruction execution history in a debugger | |
US10901827B2 (en) | Failover of a hardware accelerator to software | |
JPH04220744A (ja) | 限定アクセス・プロセッサ・システムでのキャッシュ・タグramの機能試験方法 | |
CN114548027A (zh) | 在验证系统中追踪信号的方法、电子设备及存储介质 | |
JP5153670B2 (ja) | 診断装置、診断方法および試験装置 | |
US7657851B2 (en) | Device, system, and method for correction of integrated circuit design | |
CN110609786A (zh) | 软件测试方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
CN112885403B (zh) | 一种Flash控制器的功能测试方法、装置及设备 | |
US6536020B2 (en) | Efficient generation of optimum test data | |
CN115576766A (zh) | 闪存管理算法调试方法、系统、设备和可读存储介质 | |
CN112463633B (zh) | 一种片上存储器的地址译码校验方法、装置、设备及介质 | |
CN114912397A (zh) | 可编程逻辑器件、原型验证系统、方法、设备及存储介质 | |
US20160077942A1 (en) | Storage system and test method for testing pci express interface | |
US8555226B1 (en) | Automatic verification of dependency |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 100095 Building 2, Longxin Industrial Park, Zhongguancun environmental protection technology demonstration park, Haidian District, Beijing Applicant after: Loongson Zhongke Technology Co.,Ltd. Address before: 100095 Building 2, Longxin Industrial Park, Zhongguancun environmental protection technology demonstration park, Haidian District, Beijing Applicant before: LOONGSON TECHNOLOGY Corp.,Ltd. |
|
CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |