TWI406047B - A display device with a touch sensor - Google Patents
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Description
本發明係關於液晶顯示裝置等顯示裝置,尤其係關於具備靜電容式觸摸感測器之配有觸摸感測器之顯示裝置,其係可藉由使用者用手指等觸控來進行資訊輸入。
近年來,一種顯示裝置受到矚目,其係將所謂觸控面板之接觸檢測裝置(以下稱作觸摸感測器)直接安裝於液晶顯示裝置上,並在液晶顯示裝置顯示各種按鈕,藉此可替代通常之按鈕進行資訊輸入。該技術在行動機器之畫面大型化趨勢下,由於可實現顯示器與按鈕配置之共用化,故帶來節省空間及削減零件數量之大優點。然而,該技術中,有因觸控面板之安裝而液晶模組整體之厚度變厚之問題。特別係在行動機器用途,由於需要用於防止觸控面板損傷之保護層,故液晶模組有更加變厚之傾向,有違背薄型化趨勢之問題。
因此,於例如專利文獻1中提出一種配有觸控面板之液晶顯示元件,其係在液晶顯示元件之觀察側基板與配置於其外面之觀察用偏光板之間設置觸控面板用導電膜,並在該觸控面板用導電膜與偏光板外面之間形成有以偏光板之外面作為觸控面之靜電容型觸控面板,藉此謀求薄型化。
[專利文獻1]日本特開2008-9750號公報
然而,於前述專利文獻1中所揭示之配有觸控面板之液晶顯示元件中,原理上係需要觸控面板用導電膜與利用者處於同電位,需要利用者可靠地接地。所以,如自插座取得電源之固定型電視機姑且不論,而適用於行動機器之用途從現實面看係困難的。此外,前述技術中,因為需要觸控面板用導電膜極為靠近利用者之手指,故設置部位受到限制,譬如不適合設置於液晶顯示元件之例如深處等。亦即,設計自由度小。再者,前述技術中,在其構成上係必須將所謂觸控面板驅動部及座標檢測部之電路部分,與液晶顯示元件之顯示驅動電路部分別設置,作為裝置整體之電路積體化有其困難。
本發明係鑒於前述問題而完成者,其第1目的在於提供一種特別適用於行動機器用途之配有觸摸感測器之顯示裝置,其第2目的在於提供一種設計自由度高之配有觸摸感測器之顯示裝置,其第3目的在於提供一種具有易於電路積體化之構造之配有觸摸感測器之顯示裝置。
本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置具備:複數個顯示像素電極;共通電極,其係與顯示像素電極對向設置;顯示功能層,其係具有圖像顯示功能;顯示控制電路,其進行圖像顯示控制,係基於圖像信號在顯示像素電極與共通電極之間施加顯示用電壓,而發揮顯示功能層之顯示功能;及觸控檢測電極,其係與共通電極對向或並列設置,在與共通電極之間形成靜電容。
本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置中,係在原來設置成顯示用驅動電壓施加用之共通電極、與新設置之觸控檢測電極之間形成靜電容。該靜電容係依據有無物體接觸而改變。所以,若將藉由顯示控制部施加於共通電極之顯示用驅動電壓亦利用(兼用)作為觸摸感測器用驅動信號,則可自觸控檢測電極得到依據靜電容變化之檢測信號。接著,若將該檢測信號輸入到觸控檢測電路,則可檢測有無物體接觸。再者,若將觸控檢測電極分割為複數個電極圖案而分別進行驅動,則可檢測物體之接觸位置。作為顯示功能層,例如使用液晶層。
本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置中,可構成為:與形成有顯示控制電路之電路基板對向設置對向基板,並將顯示像素電極設置於電路基板之靠近對向基板側,將共通電極設置於相對基板之靠近電路基板側,並在電路基板之顯示像素電極與對向基板之共通電極之間插設顯示功能層。該構成適用於顯示功能層係例如TN(扭轉向列)模式或VA(垂直配向)模式等液晶之情形。此時,觸控檢測電極宜形成於對向基板側,觸控檢測電路宜形成於電路基板。
此外,本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置中,亦可構成為:與形成有顯示控制電路之電路基板對向設置對向基板,並且在電路基板上使共通電極及顯示像素電極中介著絕緣層而依次積層,並在電路基板之顯示像素電極與對向基板之間插設顯示功能層。該構成適用於顯示功能層係例如FFS(邊緣電場轉換)模式等所謂橫電場模式之液晶之情形。此時,觸控檢測電極既可形成於對向基板側,亦可形成於電路基板側。觸控檢測電路宜形成於電路基板。將觸控檢測電極形成於電路基板側之情形,亦可構成為將共通電極設置於電路基板之顯示區域內側,並將觸控檢測電極作為與共通電極同一階層之電極層,與共通電極隔開形成於電路基板上之邊框區域。將觸控檢測電極形成於對向基板側,並將觸控檢測電路形成於電路基板之情形,只要形成將對向基板側之觸控檢測電極與電路基板側之觸控檢測電路之間相連接之導電路徑即可。或者,亦可形成將對向基板側之觸控檢測電極與電路基板側之觸控檢測電路之間電容耦合之電容耦合路徑。
依照本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置,因為在原來設置成顯示用驅動電壓施加用之共通電極、與新設置之觸控檢測電極之間形成靜電容,並利用該靜電容依據物體(利用者之手指)接觸而產生改變來進行觸控檢測,故可以得到亦可適用於利用者之電位多為不固定之行動機器用途的配有觸摸感測器之顯示裝置。特別係因為若將應施加於顯示用共通電極之原來準備之既存顯示用驅動電壓,亦利用(兼用)作為觸摸感測器用驅動信號,則可自觸控檢測電極得到依據靜電容變化之檢測信號,故不需要準備新的感測器驅動信號。此外,若進一步將觸控檢測電極分割為複數個電極圖案而分別驅動,則亦可檢測觸控位置。
此外,依照本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置,因為可依照顯示功能層之類型,適當選擇將觸控檢測電極形成於對向基板側,或形成於像素基板側,故可以得到設計自由度高之配有觸摸感測器之顯示裝置。
此外,依照本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置,因為依照顯示功能層之類型亦可將觸控檢測電極形成於電路基板側,故將觸控檢測電路形成於電路基板在結構設計上有利,且將顯示用電路與感測器用電路一體地積體於1個電路基板上變得容易。亦即,電路積體化容易。
以下,參照圖式詳細地說明用於實施本發明之最佳形態(以下僅稱作實施形態)。
首先參照圖1至圖3,說明本實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之觸控檢測方式的基本原理。該觸控檢測方式係具體化為靜電容型觸摸感測器,如圖1(A)所示,使用夾持介電體D而相互對向配置之一對電極(驅動電極E1及檢測電極E2)構成電容元件。該構造係表現為圖1(B)所示之等價電路。藉由驅動電極E1、檢測電極E2及介電體D構成電容元件C1。電容元件C1其一端係連接於交流信號源S,另一端P係經由電阻R接地並連接於電壓檢測器DET。若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻率(例如數kHz~10數kHz程度)之交流矩形波Sg(圖3(B))時,則在檢測電極E2(電容元件C1之另一端P)呈現如圖3(A)所示之輸出波形(檢測信號Vdet)。並且,該交流矩形波Sg係相當於後述之通用驅動信號Vcom。
在未接觸手指之狀態下,如圖1所示,伴隨對電容元件C1之充放電,流過依電容元件C1電容值之電流I0。此時之電容元件C1之另一端P之電位波形係成為例如圖3(A)之波形V0,其係藉由電壓檢測器DET檢出。
另一方面,在接觸手指之狀態下,如圖2所示係成為將由手指所形成之電容元件C2串聯追加於電容元件C1之形態。該狀態下,伴隨對電容元件C1、C2之充放電,分別流過電流I1、I2。此時之電容元件C1之另一端P之電位波形係成為例如圖3(A)之波形V1,其係藉由電壓檢測器DET檢出。此時,點P之電位係成為藉由流過電容元件C1、C2之電流I1、I2的值所決定之分壓電位。因此,波形V1成為小於非接觸狀態下之波形V0之值。電壓檢測器DET如後所述,將檢出之電壓與特定之臨限值電壓Vth相比較,若為該臨限值電壓以下則判定為非接觸狀態,另一方面若為臨限值電壓以上則判定為接觸狀態。如此可進行觸控檢測。
圖4係顯示本實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之要部剖面構造。該配有觸摸感測器之顯示裝置係使用液晶顯示元件作為顯示元件,並兼用該液晶顯示元件原來具備之一部分電極(後述之共通電極43)及顯示用驅動信號(後述之通用驅動信號Vcom),構成靜電容型觸摸感測器。
如圖4所示,前述配有觸摸感測器之顯示裝置具備像素基板2,與該像素基板2對向配置之對向基板4,及插設於像素基板2與對向基板4之間之液晶層6。
像素基板2具有作為電路基板之TFT基板21,及呈矩陣狀設置於該TFT基板21上之複數個像素電極22。在TFT基板21,除用於驅動各像素電極22之未圖示之顯示驅動器或TFT(薄膜電晶體)外,尚形成有向各像素電極供給像素信號之源極線、及驅動各TFT之閘極線等之佈線。此外,在TFT基板21亦可形成後述之進行觸控檢測動作之檢測電路(圖6)。
對向基板4具有玻璃基板41,形成於該玻璃基板41一面之彩色濾光片42,及形成於該彩色濾光片42上之共通電極43。彩色濾光片42係將例如紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之彩色濾光片層週期性排列而構成,以R、G、B之3色為1組分別對應安裝於各顯示像素(像素電極22)。共通電極43係亦兼用為構成進行觸控檢測動作之觸摸感測器之一部分之感測器用驅動電極,相當於圖1之驅動電極E1。
共通電極43係藉由接觸導電柱7與TFT基板21相連結。經由該接觸導電柱7,自TFT基板21向共通電極43施加交流矩形波形之通用驅動信號Vcom。該通用驅動信號Vcom係與施加於像素電極22之像素電壓一起確定各像素之顯示電壓,但亦兼用為觸摸感測器之驅動信號,相當於自圖1之驅動信號源S所供給之交流矩形波Sg。
在玻璃基板41之另一面形成有感測器用檢測電極44,並在該感測器用檢測電極44上設置有偏光板45。感測器用檢測電極44係構成觸摸感測器之一部分,相當於圖1之檢測電極E2。
液晶層6係依電場狀態調變通過其之光,使用例如TN(扭轉向列)、VA(垂直配向)、ECB(電場控制雙折射)等各種模式之液晶。
再者,在液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板4之間分別設置配向膜,且在像素基板2之下面側配置入射側偏光板,但此處省略其圖示。
圖5係以立體狀態顯示對向基板4之共通電極43及感測器用檢測電極44之一構成例。此例中,共通電極43係分割為沿圖之左右方向延伸之複數個條狀電極圖案。向各電極圖案藉由驅動器43D依次供給通用驅動信號Vcom,分時以線順序進行掃描驅動。另一方面,感測器用檢測電極44係包含沿與共通電極43之電極圖案延伸方向正交之方向延伸之複數個條狀電極圖案。自感測器用檢測電極44之各電極圖案分別輸出檢測信號Vdet,輸入到圖6所示之檢測電路8。
圖6係顯示進行觸控檢測動作之檢測電路8之一構成例。此檢測電路8具有:信號放大用運算放大器81、截斷高頻域而使低頻域通過之低通濾波器(LPF)82、使高頻域通過之高通濾波器(HPF)83、整流平滑部84、及比較器85。在運算放大器81之正輸入端(+)連接輸入端子Tin,自此處輸入檢測信號Vdet。運算放大器81之輸出端係經由LPF82連接於整流平滑部84。在LPF82連接有HPF83。LPF82係並聯連接電阻82R及電容器82C之構成,HPF83係在與接地之間串聯連接有電阻83R及電容器83C之構成。LPF82與HPF83之連接點係連接於運算放大器81之負輸入端(-)。整流平滑部84係包含由半波整流用二極體84D形成之整流部,及在與接地之間並聯連接電阻84R及電容器84C而形成之平滑部。整流平滑部84之輸出端係連接於比較器85之正輸入端(+)。對該比較器85之負輸入端(-)輸入特定之臨限值電壓Vth(參照圖3)。比較器85之輸出端係連接於輸出端子Tout,自此處輸出檢測結果(是否被觸控)。
前述構成之檢測電路8係如下般地動作。輸入到輸入端子Tin之檢測信號Vdet藉由運算放大器81放大後,其低頻成分通過LPF82,高頻成分經由HPF83除去。通過LPF82之低頻交流成分藉由整流平滑部84之二極體84D進行半波整流後,平滑化而成為位準信號,輸入到比較器85。比較器85將輸入之位準信號與臨限值電壓Vth相比較,當為臨限值電壓Vth以下時輸出觸控檢測信號。
此外,檢測電路8既可形成於對向基板4上之周邊區域(非顯示區域或邊框區域),或者亦可形成於像素基板2上之周邊區域。但是,若形成於像素基板2上,可謀求與原來形成於像素基板2上之顯示控制用各種電路元件等之積體化,故由因電路積體化而簡化之觀點來看係較佳。此時,只要藉由與接觸導電柱7同樣之接觸導電柱(未圖示),將感測器用檢測電極44之各電極圖案與像素基板2之檢測電路8之間相連接,並將檢測信號Vdet自感測器用檢測電極44傳送到檢測電路8即可。
以下,說明如上構成之配有觸摸感測器之顯示裝置之動作。
像素基板2之顯示驅動器(未圖示)向共通電極43之各電極圖案以線順序供給通用驅動信號Vcom。顯示驅動器尚經由源極線向像素電極22供給像素信號,並與此同步,經由閘極線以線順序控制各像素電極之TFT之開關。藉此,在液晶層6,對每一像素分別施加由通用驅動信號Vcom及各像素信號所決定之縱向(垂直於基板之方向)之電場,進行液晶狀態之調變。如此進行所謂藉由反轉驅動之顯示。
另一方面,在對向基板4側,在共通電極43之各電極圖案與感測器用檢測電極44之各電極圖案的交叉部分分別形成電容元件C1。若對共通電極43之各電極圖案分時依次施加通用驅動信號Vcom時,則對一行份之各電容元件C1分別進行充放電,該一行份之各電容元件C1係形成於前述被施加有通用驅動信號Vcom之共通電極43之電極圖案與感測器用檢測電極44之各電極圖案的交叉部分。其結果,係將大小對應於電容元件C1電容值之檢測信號Vdet,自感測器用檢測電極44之各電極圖案分別輸出。在使用者手指未接觸對向基板4表面之狀態下,該檢測信號Vdet之大小大致一定。伴隨通用驅動信號Vcom之掃描,作為充放電對象之電容元件C1之行以線順序移動。
此處,若使用者手指接觸對向基板4表面之任一處時,則在該觸控處原來形成之電容元件C1上附加由手指所產生之電容元件C2。其結果,掃描該觸控處之時點(亦即,向共通電極43之電極圖案中對應於該觸控處之電極圖案施加通用驅動信號Vcom時)之檢測信號Vdet值小於其他處所。檢測電路8(圖6)係將該檢測信號Vdet與臨限值電壓Vth相比較,當為臨限值電壓Vth以下時將該處判定為觸控處。該觸控處可以由通用驅動信號Vcom之施加時序、及臨限值電壓Vth以下之檢測信號Vdet之檢測時序算出。
如前所述,依照本實施形態,因為係將液晶顯示元件原來具備之共通電極43兼用為包含驅動電極及檢測電極之一對觸摸感測器用電極中之一者,並將作為顯示用驅動信號之通用驅動信號Vcom共用為觸摸感測器用驅動信號,而構成靜電容型觸摸感測器,故新設置之電極僅係感測器用檢測電極44即可,且不需要新準備觸摸感測器用驅動信號。所以構成簡單。
此外,因為先前之配有觸控面板之顯示裝置(專利文獻1)中,係正確地測定流過感測器之電流大小,並基於該測定值藉由類比運算求出觸控位置,相較於此本實施形態中,係只要數位地檢測有無對應於觸控之有無而產生電流之相對變化(電位變化)即可,故可利用簡單之檢測電路構成來提高檢測精度。此外,因為在原來設置成通用驅動信號Vcom施加用之共通電極43、與新設置之感測器用檢測電極44之間形成靜電容,且該靜電容因利用者手指之接觸而改變,利用此改變進行觸控檢測,故亦可適用於利用者之電位多為不固定之行動機器用途。
此外,因為將感測器用檢測電極44分割為複數個電極圖案,分別進行分時驅動,故亦可檢測觸控位置。
再者,在前述說明中,如圖5所示,雖然共通電極43及感測器用檢測電極44兩者均係形成為以相互交叉之方式延伸之複數個電極圖案,但並不限定於此。例如圖7所示,亦可將共通電極43形成為整面之單一電極,並將感測器用檢測電極44形成為呈矩陣狀設置之複數個個別電極。此時,藉由來自構成感測器用檢測電極44之各個別電極之檢測信號Vdet,可以立即算出觸控位置。
或者,如圖8所示,亦可將共通電極43與圖5同樣形成為呈條狀分割之複數個電極圖案,並將感測器用檢測電極44與圖7同樣地形成為呈矩陣狀設置之複數個個別電極。此時亦可對共通電極43之複數個電極圖案一面藉由通用驅動信號Vcom依次掃描一面進行檢測。
以下,說明第2實施形態。本實施形態中,與前述第1實施形態之情形不同,作為顯示元件係使用橫電場模式之液晶元件。
圖9係顯示本實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之要部剖面構造,圖10係顯示其立體構造。此等圖中,對與前述圖4相同部分賦予相同符號,適當省略其說明。
本實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置具備:像素基板2A,與該像素基板2A對向配置之對向基板4A,及插設於像素基板2A與對向基板4A之間之液晶層6。
像素基板2A具有:TFT基板21,設置於該TFT基板21上之共通電極43,及經由絕緣層23呈矩陣狀設置在該共通電極43上之複數個像素電極22。在TFT基板21除用於驅動各像素電極22之未圖示之顯示驅動器及TFT外,亦形成有向各像素電極供給像素信號之源極線、及驅動各TFT之閘極線等佈線。在TFT基板21尚形成有進行觸控檢測動作之檢測電路(圖6)。共通電極43係亦兼用為構成進行觸控檢測動作之觸摸感測器之一部分的感測器用驅動電極,相當於圖1之驅動電極E1。
對向基板4A具有玻璃基板41,及形成於該玻璃基板41之一面之彩色濾光片42。在玻璃基板41之另一面形成感測器用檢測電極44,並在該感測器用檢測電極44上設置偏光板45。感測器用檢測電極44係構成觸摸感測器之一部分,相當於圖1之檢測電極E2。感測器用檢測電極44係如圖5、圖7或圖8所示,係分割為複數個電極圖案而構成。感測器用檢測電極44可以藉由薄膜製程在對向基板4A上直接形成,但亦可間接形成。此時,只要將觸控檢測電極44形成於未圖示之薄膜基體上,並將該形成有觸控檢測電極44之薄膜基體貼附於對向基板4A之表面即可。此時,不僅係貼附於玻璃與偏光板之間,亦可貼附於偏光板之上面,甚至製作於構成偏光板之薄膜內。
共通電極43係自TFT基板21被施加交流矩形波形之通用驅動信號Vcom。該通用驅動信號Vcom與施加於像素電極22之像素電壓一起確定各像素之顯示電壓,但亦兼用為觸摸感測器之驅動信號,相當於自圖1之驅動信號源S供給之交流矩形波Sg。
液晶層6係依電場狀態調變通過其之光,使用例如FFS(邊緣電場轉換)模式、或IPS(平面轉換)模式等之橫電場模式之液晶。
像素基板2A之共通電極43及對向基板4A之感測器用檢測電極44之構成係與例如圖5所示者相同,兩者均係形成為以相互交叉之方式延伸之複數個電極圖案。但是,亦可係如前述圖7或圖8所示之構成。
參照圖10更詳細地進行說明。此處所示之FFS模式之液晶元件中,係在形成於像素基板2A上之共通電極43上,經由絕緣層23配置呈梳齒狀圖案化之像素電極22,以將其覆蓋之方式形成配向膜26。在該配向膜26與對向基板4A側之配向膜46之間夾持液晶層6。2片偏光板24、45係以正交偏光狀態配置。2片配向膜26、46之刷磨方向係與2片偏光板24、45中一者之穿透軸一致。圖10中係圖示刷磨方向與射出側偏光板45之穿透軸一致之情形。再者,2片配向膜26、46之刷磨方向及偏光板45穿透軸之方向,係設定為在規定液晶分子旋轉方向之範圍內,與像素電極22之延伸方向(梳齒之長向)大致平行。
以下,說明如上構成之配有觸摸感測器之顯示裝置之動作。
此處,首先參照圖10及圖11,簡單地說明FFS模式之液晶元件之顯示動作原理。此處,圖11係放大顯示液晶元件之要部剖面。此等圖中,(A)係顯示未施加電場時之液晶元件之狀態,(B)係顯示施加電場時之液晶元件之狀態。
在對共通電極43與像素電極22之間未施加電壓之狀態下(圖10(A)、圖11(A)),構成液晶層6之液晶分子61之軸與入射側偏光板24之穿透軸正交,且與射出側偏光板45之穿透軸呈平行之狀態。因此,由於穿透入射側偏光板24之入射光h係在液晶層6內不產生相位差地達到射出側之偏光板45,在此處被吸收,故成為黑顯示。另一方面,在對共通電極43與像素電極22之間施加電壓之狀態下(圖10(B)、圖11(B)),液晶分子61之配向方向藉由於像素電極間產生之橫電場E,相對於像素電極22之延伸方向向斜方向旋轉。此時,以使位於液晶層6厚度方向中央之液晶分子61旋轉約45度之方式,使白顯示時之電場強度最佳化。藉此,由於在穿透入射側偏光板24之入射光h,在穿透液晶層6內之期間產生相位差,成為旋轉90度之直線偏光而通過射出側之偏光板45,故成為白顯示。
以下,說明配有觸摸感測器之顯示裝置之顯示控制動作及觸控檢測動作。因為此等動作係與前述第1實施形態之動作相同,故適當省略。
像素基板2A之顯示驅動器(未圖示)係對共通電極43之各電極圖案以線順序供給通用驅動信號Vcom。此外顯示驅動器係經由源極線向像素電極22供給像素信號,並與此同步經由閘極線以線順序控制各像素電極之TFT之開關。藉此,在液晶層6,對每一像素分別施加由通用驅動信號Vcom及各像素信號所決定之橫向(與基板平行之方向)之電場,進行液晶狀態之調變。如此進行所謂藉由反轉驅動之顯示。
另一方面,在對向基板4A側,若對共通電極43之各電極圖案分時依次施加通用驅動信號Vcom時,則對各一行份之電容元件C1分別進行充放電,該各一行份之電容元件C1係形成於前述受到施加之共通電極43之電極圖案、與感測器用撿測電極44之各電極圖案之交叉部分,且將大小對應於電容元件C1電容值之檢測信號Vdet,自感測器用檢測電極44之各電極圖案分別輸出。在使用者手指未接觸對向基板4A表面之狀態下,該檢測信號Vdet之大小大致一定。使用者手指接觸對向基板4A表面之任一處時,在該觸控處原來形成之電容元件C1上附加由手指所產生之電容元件C2,其結果係掃描該觸控處時之檢測信號Vdet值小於其他處所。檢測電路8(圖6)將該檢測信號Vdet與臨限值電壓Vth相比較,當為臨限值電壓Vth以下時,將該處判定為觸控處。該觸控處係由通用驅動信號Vcom之施加時序、及臨限值電壓Vth以下之檢測信號Vdet之檢測時序來算出。
如前所述,依照本實施形態,因為與前述第1實施形態(圖5)之情形相同,係將液晶顯示元件原來具備之共通電極43兼用為包含驅動電極及檢測電極之一對觸摸感測器用電極中之一者,並將作為顯示用驅動信號之通用驅動信號Vcom共用為觸摸感測器用驅動信號,而構成靜電容型觸摸感測器,故新設置之電極僅係感測器用檢測電極44即可,且不需要新準備觸摸感測器用驅動信號。所以構成簡單。
特別係本實施形態中,由於構成為將作為觸摸感測器用驅動電極之共通電極43設置於像素基板2側(TFT基板21上),故自TFT基板21向共通電極43供給通用驅動信號Vcom極為容易,且可以使需要之電路或電極圖案及佈線等集中於像素基板2,謀求電路之積體化。所以,不再需要前述第1實施形態(圖5)中所需要之自像素基板2側向對向基板4側供給通用驅動信號Vcom之路徑(接觸導電柱7),構造變得更加簡單。
並且,檢測電路8(圖6)亦可形成於對向基板4上之周邊區域(非顯示區域或邊框區域),但宜形成於像素基板2上之周邊區域。此係因為若形成於像素基板2上,可謀求與原來形成於像素基板2上之顯示控制用各種電路元件等之積體化。此時,例如圖12所示,只要在周邊區域形成接觸導電柱7A,將形成於像素基板2之檢測電路8(未圖示)與相對基板4之彩色濾光片42表面之間相連接,藉此,在感測器用檢測電極44與檢測電路8之間形成電容耦合路徑,並經由該電容耦合路徑將檢測信號Vdet自感測器用檢測電極44傳送到檢測電路8即可。但此時,由於感測器用檢測電極44成為浮置狀態,故為避免此狀態,宜經由高電阻10將感測器用檢測電極44連接到接地。並且,如此接地在可將靜電引向接地之點上有利。
第2實施形態中,係將感測器用檢測電極44設置於玻璃基板41之表面側(與液晶層6之相反側),但可進行如下所述之變形。
例如圖13所示,亦可將感測器用檢測電極44設置於較彩色濾光片42更靠近液晶層6側。
或者,如圖14所示,宜將感測器用檢測電極44設置於玻璃基板41與彩色濾光片42之間。橫電場模式之情形,若在縱向有電極則電場施加於縱向,液晶立起而視野角等大為惡化。若夾有彩色濾光片42等介電體地配置感測器用檢測電極44,此問題可以大為減少。並且,此時例如圖15所示,只要利用接觸導電柱7B將形成於像素基板2之檢測電路8(未圖示)與對向基板4之感測器用檢測電極44之間相連接,藉此在感測器用檢測電極44與檢測電路8之間形成導電路徑,並經由該導電路徑將檢測信號Vdet自感測器用檢測電極44傳送到檢測電路8即可。
雖然前述第1及第2實施形態中係將感測器用檢測電極44設置於顯示區域,但本實施形態中係如圖16、圖17所示,將感測器用檢測電極44設置於顯示區域D之周圍區域(邊框區域F)。又,圖17係顯示本實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之平面構成,圖16係顯示圖17之A-A向視剖面。
前述配有觸摸感測器之顯示裝置中,係在像素基板2B側形成共通電極43及感測器用檢測電極44兩者,在對向基板4側未設置任何電極。具體而言,遍及整個顯示區域D在TFT基板21上形成共通電極43,另一方面僅在邊框區域F在TFT基板21上設置有感測器用檢測電極44。感測器用檢測電極44係形成為複數個個別電極群。各個別電極係分配為例如對應於顯示應用之各種功能之操作按鈕。感測器用檢測電極44之各個別電極係經由TFT50之源極及汲極連接於感測器用檢測信號線51,該TFT50之源極及汲極係藉由掃描信號線52進行開關控制。藉由構成為與像素之驅動電路同時形成掃描信號線52及TFT50,並依次分時掃描各個別電極,不需要具有分割數量之檢測電路,非常有效率。
前述構成之配有觸摸感測器之顯示裝置中,由於感測器用檢測電極44之各個別電極係在與共通電極43相同平面上與共通電極43隔開設置,故在感測器用檢測電極44之各個別電極與共通電極43之間產生橫向之電容耦合,形成電容元件C1。對共通電極43(圖17之例中係整面之電極)施加通用驅動信號Vcom,並藉由掃描信號線52依次開啟TFT50,藉此自感測器用檢測電極44之各個別電極分時依次取出檢測信號Vdet。取出之檢測信號Vdet係經由感測器用檢測信號線51輸入到如圖6所示構成之檢測電路8(圖16中未圖示)。
在使用者之手指未接觸對向基板4D表面之狀態下,該檢測信號Vdet之大小大致一定。另一方面,使用者之手指接觸對向基板4A表面之任一處(對應於感測器用檢測電極44之任一個別電極之位置)時,在該觸控處原來形成之電容元件C1上附加藉由手指所產生之電容元件C2,其結果,掃描該觸控處時點之檢測信號Vdet之值變小。檢測電路8(圖6)將該檢測信號Vdet與臨限值電壓Vth相比較,當為臨限值電壓Vth以下時將該處判定為觸控處。該觸控處係由藉由掃描信號進行之感測器用檢測電極44之個別電極掃描之時序、及臨限值電壓Vth以下之檢測信號Vdet之檢測時序來算出。
如此,依照本實施形態,因為係將共通電極43及感測器用檢測電極44二者均設置於像素基板2側,故可以將形成於TFT基板21之感測器驅動電路(未圖示)與共通電極43之間之通用驅動信號Vcom之傳送路徑、及感測器用檢測電極44與檢測電路8之間之檢測信號Vdet之傳送路徑,不經由接觸導電柱而容易地形成。所以,將共通電極43及感測器用檢測電極44、顯示用電路、觸摸感測器之驅動電路及檢測電路集中地積體化於TFT基板21變得極為容易。
並且,如本實施形態所述,係將共通電極43與感測器用檢測電極44並列設置,並在兩者間藉由橫向電容耦合形成電容元件C1之情形,有時有如下問題,即,自共通電極43向TFT基板21內部之電路元件(TFT50等)傳出雜訊。因此,為防止此狀態,如圖18所示宜在感測器用檢測電極44之下側設置屏蔽電極53。但是,前述屏蔽層係亦可不特別設置專用之新層,而挪用構成金屬佈線或像素電極之透明電極膜。
前述第3實施形態中,係在TFT基板21上並列設置共通電極43與感測器用檢測電極44,並藉由橫向電容耦合形成電容元件C1,但亦可與此不同,藉由縱向電容耦合形成電容元件C1。例如圖19所示,將共通電極43不僅形成於TFT基板21上之顯示區域D,而係延伸直至邊框區域F;並在TFT基板21之邊框區域F,將感測器用檢測電極44作為與共通電極43不同階層之電極層,與共通電極43對向形成。藉此,在共通電極43與感測器用檢測電極44之間形成電容元件C1。此時,設置連結感測器用檢測電極44與TFT基板21之間之接觸導電柱7C,藉此只要將來自感測器用檢測電極44之檢測信號Vdet傳送到TFT基板21側即可。
由以上之第1~第3實施形態之說明可知,因為可根據作為顯示功能層之液晶層類型,適當選擇係將感測器用檢測電極44形成於對向基板4側,或形成於像素基板2側,故有結構設計自由度高之優點。
以上,雖然舉出若干實施形態說明本發明,但本發明並非限定於此等實施形態,可進行各種變形。例如在前述第2、第3實施形態中,作為橫電場模式係以FFS模式之液晶元件為例進行了說明,但同樣可適用於IPS模式之液晶。
此外,前述實施形態中,係對使用液晶顯示元件作為顯示元件之顯示裝置進行了說明,但亦可適用於使用其他顯示元件,例如有機EL元件之顯示裝置。
2,2A...像素基板
2C,2D...像素基板
4,4A,4B...對向基板
4C,4D,4E對向基板
6...液晶層
7,7A...接觸導電柱
7B,7C...接觸導電柱
8...檢測電路
10...高電阻
21...TFT基板
22...像素電極
23...絕緣層
24...偏光板
26...配向膜
41...玻璃基板
42...彩色濾光片
43...共通電極
43D...驅動器
44...感測器用檢測電極
45...偏光板
46...配向膜
50...TFT
51...檢測信號線
52...掃描信號線
53...屏蔽電極
61...液晶分子
81...運算放大器
82...低通濾波器
82C...電容
82R...電阻
83...高通濾波器
83C...電容
83R...電阻
84...整流平滑部
84C...電容
84D...整流二極體
84R...電阻
85...比較器
C1...電容元件
C2...電容元件
D...介電體
D...顯示區域
DET...電壓檢測器
E...橫電場
E1...驅動電極
E2...檢測電極
F...邊框區域
H...入射光
P...電容元件之一端
R...電阻
S...交流信號源
Sg...交流矩形波
Tin...輸入端子
Tout...輸出端子
V0
...波形
V1
...波形
Vcom...通用驅動信號
Vdet...檢測信號
Vth...臨限值電壓
圖1(A)、(B)係用於說明本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置之動作原理的圖,係顯示手指未接觸時之狀態之圖;圖2(A)、(B)係用於說明本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置之動作原理的圖,係顯示手指接觸時之狀態之圖;圖3(A)、(B)係用於說明本發明之配有觸摸感測器之顯示裝置之動作原理的圖,係顯示觸摸感測器之驅動信號及檢測信號之波形之一例的圖;圖4係顯示本發明之第1實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之概略剖面構造的剖面圖;圖5係顯示圖4所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之要部(共通電極及感測器用檢測電極)之一構成例之立體圖;圖6係顯示圖4所示之配有觸摸感測器之顯示裝置中之檢測電路之一構成例的電路圖;圖7係顯示圖4所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之要部(共通電極及感測器用檢測電極)之其他構成例的立體圖;圖8係顯示圖4所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之要部(共通電極及感測器用檢測電極)之另一構成例的立體圖;圖9係顯示本發明之第2實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之概略剖面構造的剖面圖;圖10(A)、(B)係圖9所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之要部放大立體圖;圖11(A)、(B)係用於說明圖9所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之動作的剖面圖;圖12係顯示圖9所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之具體構成例的剖面圖;圖13係顯示圖9所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之一變形例的剖面圖;圖14係顯示圖9所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之其他變形例的剖面圖;圖15係顯示圖14所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之具體構成例的剖面圖;圖16係顯示本發明之第3實施形態之配有觸摸感測器之顯示裝置之概略剖面構造的剖面圖;圖17係顯示圖16所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之概略平面構造的平面圖;圖18係顯示圖16所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之變形例的要部剖面圖;及圖19係顯示圖16所示之配有觸摸感測器之顯示裝置之其他變形例的概略剖面圖。
2...像素基板
4...對向基板
6...液晶層
7...接觸導電柱
21...TFT基板
22...像素電極
41...玻璃基板
42...彩色濾光片
43...共通電極
44...感測器用檢測電極
45...偏光板
C1...電容元件
C2...電容元件
Vcom...通用驅動信號
Claims (22)
- 一種配有觸摸感測器之顯示裝置,其具備:複數個顯示像素電極;共通電極,其係與前述顯示像素電極對向設置;顯示功能層,其係具有圖像顯示功能;顯示控制電路,其進行圖像顯示控制,係基於圖像信號在前述顯示像素電極與前述共通電極之間施加顯示用電壓,而發揮前述顯示功能層之顯示功能;觸控檢測電極,其係與前述共通電極對向或並列設置,在與前述共通電極之間形成靜電容;檢測觸控之觸控檢測電路;形成有前述顯示控制電路之電路基板;及與該電路基板對向設置之對向基板;且在前述電路基板上,前述共通電極及前述顯示像素電極係中介著絕緣層而依序積層;在前述電路基板之前述顯示像素電極與前述對向基板之間插設有前述顯示功能層;前述觸控檢測電路係將基於由前述顯示控制電路施加於前述共通電極之信號的前述觸控檢測電極之檢測信號,與特定之臨限值電壓比較,並根據是否為該臨限值電壓以下,判斷為接觸狀態或是非接觸狀態;該觸控檢測電路又將藉由前述顯示控制部而施加於前述共通電極之顯示用驅動電壓作為觸摸感測器用驅動信號而利用,並基於自前述觸控檢測電極所得之檢測信號檢測物體之接觸位置。
- 如請求項1之配有觸摸感測器之顯示裝置,其具備:形成有前述顯示控制電路之電路基板;及與該電路基板對向設置之對向基板;且前述顯示像素電極設置於前述電路基板之靠近前述對向基板之側;前述共通電極設置於前述對向基板之靠近前述電路基板之側;且,在前述電路基板之前述顯示像素電極與前述對向基板之前述共通電極之間插設有前述顯示功能層。
- 如請求項2之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極設置於前述對向基板之與前述電路基板相反之側。
- 如請求項2之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極分割為複數個電極圖案。
- 如請求項2之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電路形成於前述電路基板。
- 如請求項2之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述顯示功能層係液晶層。
- 如請求項1之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極設置於前述電路基板。
- 如請求項7之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述共通電極設置於前述電路基板之顯示區域之內側;前述觸控檢測電極作為與前述共通電極相同階層之電極層,與前述共通電極隔開而形成於前述電路基板上之 包圍前述顯示區域之邊框區域。
- 如請求項7之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述共通電極自前述電路基板上之前述顯示區域延伸至前述邊框區域;前述觸控檢測電極作為與前述共通電極不同階層之電極層,與前述共通電極對向而形成於前述電路基板之前述邊框區域。
- 如請求項7之配有觸摸感測器之顯示裝置,其設置有電磁屏蔽前述觸控檢測電極之屏蔽電極。
- 如請求項1之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極設置於前述對向基板。
- 如請求項11之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極設置於前述對向基板之靠近前述電路基板之側。
- 如請求項11之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極設置於前述對向基板之與前述電路基板相反之側。
- 如請求項13之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極係藉由薄膜製程直接形成於前述對向基板上。
- 如請求項13之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極形成於薄膜基體上,形成有該觸控檢測電極之薄膜基體貼附於前述對向基板。
- 如請求項11之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸 控檢測電路形成於前述電路基板。
- 如請求項16之配有觸摸感測器之顯示裝置,其形成有連接前述對向基板之前述觸控檢測電極與前述電路基板之前述觸控檢測電路之間之導電路徑。
- 如請求項16之配有觸摸感測器之顯示裝置,其形成有電容耦合前述對向基板之前述觸控檢測電極與前述電路基板之前述觸控檢測電路之間之電容耦合路徑。
- 如請求項18之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述對向基板之前述觸控檢測電極係經由高電阻而接地。
- 如請求項1之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述觸控檢測電極分割為複數個電極圖案。
- 如請求項1之配有觸摸感測器之顯示裝置,其中前述顯示功能層係液晶層,進行橫電場模式之液晶顯示。
- 一種配有觸摸感測器之顯示裝置,其具備:複數個顯示像素電極;共通電極,其係與前述顯示像素電極對向設置;顯示功能層,其係具有圖像顯示功能;顯示控制電路,其進行圖像顯示控制,係基於圖像信號在前述顯示像素電極與前述共通電極之間施加顯示用電壓,而發揮前述顯示功能層之顯示功能;及觸控檢測電極,其係與前述共通電極對向或並列設置,在與前述共通電極之間形成靜電容;前述觸控檢測電極係輸出基於由前述顯示控制電路施加於前述共通電極之驅動信號的前述觸控檢測電極之檢 測信號,前述共通電極係配設於形成有前述顯示控制電路之電路基板的內側;前述觸控檢測電極係形成於前述電路基板上之包圍前述顯示區域之前述邊框區域。
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