JP2011172214A5 - - Google Patents
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- 論理回路を有する第1の基本ブロックと、
論理回路を有する第2の基本ブロックと、
前記第1の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第1のプログラム素子と、
前記第2の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第2のプログラム素子と、
前記第1の基本ブロック及び前記第2の基本ブロック間の接続を制御する機能を有する第3のプログラム素子と、
を有し、
前記第1のプログラム素子及び前記第2のプログラム素子は、
スイッチング素子としての機能を有する第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタのゲートへの電位の供給を制御する機能を有する第2のトランジスタと、を有し、
前記第2のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有することを特徴とする半導体装置。 - 論理回路を有する第1の基本ブロックと、
論理回路を有する第2の基本ブロックと、
前記第1の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第1のプログラム素子と、
前記第2の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第2のプログラム素子と、
前記第1の基本ブロック及び前記第2の基本ブロック間の接続を制御する機能を有する第3のプログラム素子と、
を有し、
前記第1のプログラム素子及び前記第2のプログラム素子は、
スイッチング素子としての機能を有する第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタのゲートへの電位の供給を制御する機能を有する第2のトランジスタと、
前記第1のトランジスタのソースまたはドレインの一方への電位の供給を制御する機能を有する第3のトランジスタと、を有し、
前記第2のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1または請求項2において、
前記酸化物半導体は、In、Ga、及びZnを有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1または請求項2において、
前記酸化物半導体は、In、Sn、及びZnを有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一において、
前記第2のトランジスタのオフ電流は、100zA/μm以下であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一において、
前記第1のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有することを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011008357A JP5660902B2 (ja) | 2010-01-20 | 2011-01-19 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010009569 | 2010-01-20 | ||
JP2010009569 | 2010-01-20 | ||
JP2011008357A JP5660902B2 (ja) | 2010-01-20 | 2011-01-19 | 半導体装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014243897A Division JP5855215B2 (ja) | 2010-01-20 | 2014-12-02 | プログラマブル回路及びfpga |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011172214A JP2011172214A (ja) | 2011-09-01 |
JP2011172214A5 true JP2011172214A5 (ja) | 2014-02-20 |
JP5660902B2 JP5660902B2 (ja) | 2015-01-28 |
Family
ID=44277178
Family Applications (7)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011008357A Expired - Fee Related JP5660902B2 (ja) | 2010-01-20 | 2011-01-19 | 半導体装置 |
JP2014243897A Active JP5855215B2 (ja) | 2010-01-20 | 2014-12-02 | プログラマブル回路及びfpga |
JP2015239187A Active JP6232038B2 (ja) | 2010-01-20 | 2015-12-08 | プログラマブル回路、及び、fpga |
JP2017203152A Active JP6491722B2 (ja) | 2010-01-20 | 2017-10-20 | プログラマブル回路、及びfpga |
JP2019037171A Active JP6765466B2 (ja) | 2010-01-20 | 2019-03-01 | プログラマブル回路及びfpga |
JP2020154467A Withdrawn JP2021002849A (ja) | 2010-01-20 | 2020-09-15 | プログラマブル回路及びfpga |
JP2022035974A Withdrawn JP2022081601A (ja) | 2010-01-20 | 2022-03-09 | プログラマブル回路 |
Family Applications After (6)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014243897A Active JP5855215B2 (ja) | 2010-01-20 | 2014-12-02 | プログラマブル回路及びfpga |
JP2015239187A Active JP6232038B2 (ja) | 2010-01-20 | 2015-12-08 | プログラマブル回路、及び、fpga |
JP2017203152A Active JP6491722B2 (ja) | 2010-01-20 | 2017-10-20 | プログラマブル回路、及びfpga |
JP2019037171A Active JP6765466B2 (ja) | 2010-01-20 | 2019-03-01 | プログラマブル回路及びfpga |
JP2020154467A Withdrawn JP2021002849A (ja) | 2010-01-20 | 2020-09-15 | プログラマブル回路及びfpga |
JP2022035974A Withdrawn JP2022081601A (ja) | 2010-01-20 | 2022-03-09 | プログラマブル回路 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US8547753B2 (ja) |
EP (1) | EP2526622B1 (ja) |
JP (7) | JP5660902B2 (ja) |
KR (5) | KR101883629B1 (ja) |
CN (1) | CN102714496B (ja) |
IN (1) | IN2012DN05920A (ja) |
MY (2) | MY160598A (ja) |
SG (2) | SG182272A1 (ja) |
TW (5) | TWI684247B (ja) |
WO (1) | WO2011089808A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7390452B2 (ja) | 2010-07-01 | 2023-12-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 固体撮像装置 |
Families Citing this family (116)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104600105B (zh) | 2009-12-11 | 2018-05-08 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体装置 |
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KR101822962B1 (ko) | 2010-02-05 | 2018-01-31 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
WO2011096277A1 (en) | 2010-02-05 | 2011-08-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of driving semiconductor device |
KR102094131B1 (ko) | 2010-02-05 | 2020-03-30 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치를 구동하는 방법 |
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JP6250955B2 (ja) | 2012-05-25 | 2017-12-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の駆動方法 |
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US9704886B2 (en) | 2013-05-16 | 2017-07-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Signal processing device |
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US9106223B2 (en) | 2013-05-20 | 2015-08-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Signal processing device |
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- 2010-12-14 MY MYPI2012700442A patent/MY160598A/en unknown
- 2010-12-14 KR KR1020187010615A patent/KR101883629B1/ko active IP Right Grant
- 2010-12-14 KR KR1020127021277A patent/KR101745749B1/ko active IP Right Grant
- 2010-12-14 SG SG2012046207A patent/SG182272A1/en unknown
- 2010-12-14 IN IN5920DEN2012 patent/IN2012DN05920A/en unknown
- 2010-12-14 MY MYPI2016001387A patent/MY187143A/en unknown
- 2010-12-14 KR KR1020187021205A patent/KR101978106B1/ko active IP Right Grant
- 2010-12-14 SG SG10201500353WA patent/SG10201500353WA/en unknown
- 2010-12-14 KR KR1020177014541A patent/KR101789975B1/ko active IP Right Grant
- 2010-12-14 CN CN201080062032.4A patent/CN102714496B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-12-14 WO PCT/JP2010/072839 patent/WO2011089808A1/en active Application Filing
- 2010-12-14 EP EP10843972.0A patent/EP2526622B1/en not_active Not-in-force
- 2010-12-14 KR KR1020177029955A patent/KR101851517B1/ko active IP Right Grant
- 2010-12-29 TW TW107109871A patent/TWI684247B/zh not_active IP Right Cessation
- 2010-12-29 TW TW104131800A patent/TWI550775B/zh not_active IP Right Cessation
- 2010-12-29 TW TW099146609A patent/TWI512899B/zh not_active IP Right Cessation
- 2010-12-29 TW TW106114991A patent/TWI667738B/zh not_active IP Right Cessation
- 2010-12-29 TW TW105119958A patent/TWI593060B/zh not_active IP Right Cessation
-
2011
- 2011-01-13 US US13/005,557 patent/US8547753B2/en active Active
- 2011-01-19 JP JP2011008357A patent/JP5660902B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-09-23 US US14/033,924 patent/US8760931B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-05-19 US US14/280,950 patent/US9614097B2/en active Active
- 2014-12-02 JP JP2014243897A patent/JP5855215B2/ja active Active
-
2015
- 2015-12-08 JP JP2015239187A patent/JP6232038B2/ja active Active
-
2017
- 2017-02-28 US US15/444,696 patent/US10454475B2/en active Active
- 2017-10-20 JP JP2017203152A patent/JP6491722B2/ja active Active
-
2019
- 2019-03-01 JP JP2019037171A patent/JP6765466B2/ja active Active
-
2020
- 2020-09-15 JP JP2020154467A patent/JP2021002849A/ja not_active Withdrawn
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- 2022-03-09 JP JP2022035974A patent/JP2022081601A/ja not_active Withdrawn
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