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  1. 論理回路を有する第1の基本ブロックと、
    論理回路を有する第2の基本ブロックと、
    前記第1の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第1のプログラム素子と、
    前記第2の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第2のプログラム素子と、
    前記第1の基本ブロック及び前記第2の基本ブロック間の接続を制御する機能を有する第3のプログラム素子と、
    を有し、
    前記第1のプログラム素子及び前記第2のプログラム素子は、
    スイッチング素子としての機能を有する第1のトランジスタと、
    前記第1のトランジスタのゲートへの電位の供給を制御する機能を有する第2のトランジスタと、を有し、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有することを特徴とする半導体装置。
  2. 論理回路を有する第1の基本ブロックと、
    論理回路を有する第2の基本ブロックと、
    前記第1の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第1のプログラム素子と、
    前記第2の基本ブロックへの電源電位の供給を制御する機能を有する第2のプログラム素子と、
    前記第1の基本ブロック及び前記第2の基本ブロック間の接続を制御する機能を有する第3のプログラム素子と、
    を有し、
    前記第1のプログラム素子及び前記第2のプログラム素子は、
    スイッチング素子としての機能を有する第1のトランジスタと、
    前記第1のトランジスタのゲートへの電位の供給を制御する機能を有する第2のトランジスタと、
    前記第1のトランジスタのソースまたはドレインの一方への電位の供給を制御する機能を有する第3のトランジスタと、を有し、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有することを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1または請求項2において、
    前記酸化物半導体は、In、Ga、及びZnを有することを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1または請求項2において、
    前記酸化物半導体は、In、Sn、及びZnを有することを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一において、
    前記第2のトランジスタのオフ電流は、100zA/μm以下であることを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一において、
    前記第1のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有することを特徴とする半導体装置。
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