CN110675790B - 切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路及显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路及显示装置，属于显示技术领域。本发明的切割点腐蚀防护电路，用于显示面板的检测和驱动；包括：低电平信号线和高电平信号线；低电平信号线的第一节点与另一端之间具有切割点；切割点腐蚀防护电路还包括：开关单元和置高单元；开关单元连接于第一节点与切割点之间，用于在检测阶段，在第一低电平信号的控制下，将第一低电平信号输入显示面板的第一信号输入端；置高单元连接于第二节点与第一高电平信号端之间，用于在驱动阶段，在第二高电平信号的控制下，将切割点的电压置高。

Description

切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路及显示装置
技术领域
本发明属于显示技术领域，具体涉及一种切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路及显示装置。
背景技术
柔性有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示因具有自发光、广视角、高对比度、较低耗电、极高的反应速度、可弯曲等优点，被广泛应用于手机、平板电脑等移动终端设备。
柔性OLED显示面板的制备过程中，为了同时满足ET检测和后期MDL驱动，一般会存在两套驱动信号输入电路，一套用于面板企业在厂内进行ET检测，另一套用于MDL驱动，最终可以供用户使用。目前，为了满足市场的窄边框的需求，在ET检测后需通过异型切割工艺将用于ET检测的焊盘切除。
发明人发现现有技术中至少存在如下问题：在后续的MDL驱动过程中，切割位置为断点，栅极驱动电路(Gate On Array，GOA)中的低电平信号线长期处于低电位(-7伏～-5伏)，极易失电子而发生氧化反应，从而容易产生线路腐蚀现象，进而可能造成显示产品显示异常，对显示产品的信赖性造成极大影响。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路及显示装置。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种切割点腐蚀防护电路，用于显示面板的检测和驱动；包括：低电平信号线和高电平信号线；所述低电平信号线上设置有第一节点，所述低电平信号线的一端连接显示面板的第一信号输入端，另一端连接第一低电平信号端，所述第一节点连接第二低电平信号端；所述高电平信号线上设置有第二节点，所述高电平信号线的一端连接显示面板的第二信号输入端，另一端连接第一高电平信号端，所述第二节点连接第二高电平信号端；所述低电平信号线的所述第一节点与另一端之间具有切割点；所述切割点腐蚀防护电路还包括：开关单元和置高单元；
所述开关单元连接于所述第一节点与所述切割点之间，用于在检测阶段，在第一低电平信号的控制下，将所述第一低电平信号输入显示面板的所述第一信号输入端；
所述置高单元连接于所述第二节点与所述第一高电平信号端之间，用于在驱动阶段，在第二高电平信号的控制下，将所述切割点的电压置高。
可选地，所述开关单元包括：开关晶体管；
所述开关晶体管的控制极连接所述置高单元和所述第一低电平信号端，第一极连接所述第一低电平信号端，第二极连接显示面板的所述第一信号输入端。
可选地，所述置高单元包括：上拉电阻；
所述上拉电阻的一端连接所述第一高电平信号端和所述第二高电平信号端，另一端连接所述开关晶体管的控制极和所述第一低电平信号端。
可选地，所述开关晶体管包括薄膜晶体管。
可选地，所述薄膜晶体管包括多晶硅薄膜晶体管。
可选地，所述上拉电阻的阻值大于100千欧。
可选地，所述低电平信号线包括：至少一个连接部和至少两个导电部；
两个所述导电部之间通过所述连接部连接，且所述切割点位于所述连接部上。
可选地，所述连接部的材料包括钼。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种栅极驱动电路，包括如上述提供的切割点腐蚀防护电路。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，包括如上述提供的栅极驱动电路。
附图说明
图1-图4为现有技术中一种显示面板外围信号线的结构示意图；
图5-图6为本发明实施例提供的一种切割点腐蚀防护电路的结构示意图。
其中附图标记为：
101-低电平信号线、102-高电平信号线、103-开关单元、104-置高单元、N1-第一节点、N2-第二节点、P-切割点、VGL1-第一低电平信号端、VGH1-第一高电平信号端、VGL2-第二低电平信号端、VGH2-第二高电平信号端、Panel1-第一信号输入端、及Panel2-第二信号输入端。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
本发明实施例中的所采用的晶体管由于源极和漏极在一定条件下是可以互换的，所以其源极、漏极从连接关系的描述上是没有区别的。在本发明实施例中，为区分晶体管的源极和漏极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极，栅极称为控制极。此外按照晶体管的特性区分可以将晶体管分为N型晶体管和P型晶体管，以下实施例中是以晶体管为P型晶体管进行说明的。对于P型晶体管，第一极为P型晶体管的源极，第二极为P型晶体管的漏极，栅极输入低电平时，源漏极导通，N型晶体管相反。
图1为现有技术中一种显示面板外围信号线的结构示意图，如图1所示，显示面板可以通过多条信号线与用于检测的焊盘连接，从而实现检测信号的输入。检测完成后，可以将用于检测的焊盘及附带的部分信号线切除，以满足用户的窄边框需求。如图2所示，显示面板信号线，除了包括低电平信号线101和高电平信号线102外，还包括其他类型的信号线，例如，帧开启信号线，时钟信号线等，在此不再一一列举。如图3所示，以低电平信号线101和高电平信号线102为例，低电平信号线101和高电平信号线102上可以具有切割点P，检测完成后可以沿着切割点P，即沿着图中虚线方向，将用于检测的焊盘及附带的部分信号线切除，从而满足用户窄边框的需求。但是，由于用于检测的焊盘及附带的部分信号线切除后，低电平信号线101在切割点P的位置形成金属断面，在栅极驱动电路中的低电平信号线101长期处于低电位(-7伏～-5伏)，极易失电子而发生氧化反应，从而容易产生线路腐蚀现象，其具体如图4所示。为了防止在低电平信号线的切割点形成的金属断面出产生线路腐蚀现象，本发明实施例提供了一种切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路显示装置。为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明提供的切割点腐蚀防护电路、栅极驱动电路及显示装置作进一步详细描述。
实施例一
图5为本发明实施例提供的一种切割点腐蚀防护电路的结构示意图，该切割点腐蚀防护电路可以用于显示面板的检测和驱动，这里的检测可以为面板企业在厂内进行的ET检测，这里的驱动可以为MDL驱动。如图5所示，该切割点腐蚀防护电路可以包括：低电平信号线101和高电平信号线102；低电平信号线101上设置有第一节点N1，低电平信号线101的一端连接显示面板的第一信号输入端Panel1，另一端连接第一低电平信号端VGL1，第一节点N1连接第二低电平信号端VGL2；高电平信号线102上设置有第二节点N2，高电平信号线102的一端连接显示面板的第二信号输入端Panel2，另一端连接第一高电平信号端VGH1，第二节点N2连接第二高电平信号端VGH2；低电平信号线101的第一节点N1与另一端之间具有切割点P。切割点腐蚀防护电路还包括：开关单元103和置高单元104。
开关单元103连接于第一节点N1与切割点P之间，用于在检测阶段，在第一低电平信号的控制下，将第一低电平信号输入显示面板的第一信号输入端Panel1。置高单元104连接于第二节点N2与第一高电平信号端VGH1之间，用于在驱动阶段，在第二高电平信号的控制下，将切割点P的电压置高。
本发明实施例提供的切割点腐蚀防护电路中，在检测阶段，第一低电平信号端VGL1和第一高电平信号端VGH1可以分别为显示面板提供第一低电平信号和第一高电平信号，同时，第二低电平信号端VGL2和第二高电平信号端VGH2不提供信号。此时，开关单元103处于导通状态，第一低电平信号端VGL1提供的第一低电平信号可以通过低电平信号线101，输入显示面板的第一信号输入端Panel1。由于置高单元104的作用，低电平信号线101与高电平信号线102之间处于断开状态，第一高电平信号端VGH1提供的第一高电平信号可以通过高电平信号线102，输入显示面板的第二信号输入端Panel2。这样，可以实现显示面板的检测。
检测阶段结束后，为了满足用于对窄边框的要求，需要将用于检测的焊盘切除，低电平信号线101沿着切割点P进行切割，相应的，高电平信号线102上也可以具有同样的切割点，高电平信号线102也可以沿着该切割点进行切割，这样，第一低电平信号端VGL1和第一高电平信号端VGH1，以及与之相连的部分低电平信号线101和高电平信号线102也随着被切除，之后再进行显示面板的驱动。
在驱动阶段，第二低电平信号端VGL2和第二高电平信号端VGH2可以分别为显示面板提供第二低电平信号和第二高电平信号。此时，开关单元103处于截止状态，第二低电平信号端VGL2提供的第二低电平信号可以通过低电平信号线101，输入显示面板面板的第一信号输入端Panel1。第二高电平信号端VGH2提供的第二高电平信号可以通过高电平信号线102，输入显示面板的第二信号输入端Panel2。这样，可以实现显示面板的驱动。
在驱动阶段，由于用于检测的焊盘已经在检测阶段后被切除，在切割点P的位置形成了裸露的金属断面，此时，开关单元103处于截止状态，可以阻止第二低电平信号端VGL2提供的第二低电平信号传输至切割点P。同时，第二高电平信号端VGH2提供的第二高电平信号可以通过置高单元104传输至切割点P，这样，切割点P的电压与第二高电平信号的电压相等。因此，切割点P的电压可以被置高，从而可以避免切割点P的金属断面长期处于低电平，容易失电子与环境中的水氧发生氧化反应，造成的线路腐蚀现象，进而可以避免显示产品出现显示不良，提高显示效果。
基于本发明实施例提供的切割点腐蚀防护电路，下面将结合附图，对切割点腐蚀防护电路中的各个功能单元进行详细描述。
可选地，如图5所示，本发明实施例提供的切割点腐蚀防护电路中的开关单元103可以包括：开关晶体管T。开关晶体管T的栅极连接置高单元104和第一低电平信号端VGL1，源极连接第一低电平信号端VGL1，漏极连接显示面板的第一信号输入端Panel1。
需要说明的是，在检测阶段，开关晶体管T在第一低电平信号的控制下，开关晶体管T处于导通状态，第一低电平信号可以从晶体管T的源极传输至漏极，再通过低电平信号线101传输至显示面板的第一信号输入端Panel。此时，第一高电平信号端VGH1提供的第一高电平信号可以通过高电平信号线102，输入显示面板的第二信号输入端Panel2。
在驱动阶段，开关晶体管T在第二高电平信号的控制下，开关晶体管T处于截止状态，这样，可以阻止第二低电平信号端VGL2提供的第二低电平信号传输至切割点P的位置。
可选地，如图5所示，本发明实施例提供的切割点腐蚀防护电路中的置高单元104可以包括：上拉电阻R。上拉电阻R的一端连接第一高电平信号端VGH1和第二高电平信号端VGH2，另一端连接开关晶体管T的栅极和第一低电平信号端VGL1。
需要说明的是，上拉电阻R可以具有较大的阻值，在检测阶段，由于上拉电阻R的作用，低电平信号线101和高电平信号线102之间等同于断路，第一低电平信号端VGL1提供的第一低电平信号可以通过低电平信号线101输入显示面板的第一信号输入端Panel1，第一高电平信号端VGH1提供的第一高电平信号可以通过高电平信号线102输入显示面板第二信号输入端Panel2。
在驱动阶段，第二低电平信号端VGL2提供的第二低电平信号可以输入显示面板的第一信号输入端Panel1，第二高电平信号端VGH2提供的高电平信号可以输入显示面板的第二信号输入端Panel2。同时，第二高电平信号端VGH2提供的第二高电平信号可以通过上拉电阻R，传输至切割点P的位置。这样，切割点P的电压与第二高电平信号的电压相等。因此，切割点P的电压可以被置高，从而可以避免切割点P的金属断面长期处于低电平，容易失电子与环境中的水氧发生氧化反应，造成的线路腐蚀现象，进而可以避免显示产品出现显示不良，提高显示效果。
可选地，开关晶体管T可以包括薄膜晶体管。
需要说明的是，开关晶体管T可以为薄膜晶体管，也可以为场效应管，或者其他类型的晶体管，可以根据实际需要选择晶体管的类型。在本发明实施例中，开关晶体管T可以为薄膜晶体管，且为P型晶体管，栅极输入低电平时，源漏极导通。
可选地，薄膜晶体管可以为多晶硅薄膜晶体管。
需要说明的是，薄膜晶体管可以为多晶硅薄膜晶体管，也可以为氧化物薄膜晶体管，或者其他类型的薄膜晶体管，可以根据实际需要选择薄膜晶体管的类型。在本发明实施例中，薄膜晶体管可以为多晶硅薄膜晶体管。
可选地，上拉电阻R的阻值大于100千欧。
需要说明的是，上拉电阻R需要具有较大的阻值，可以保证在检测阶段，低电平信号线101与高电平信号线102之间为断路，在驱动阶段，第二高电平信号端VGH2提供的高电平信号可以通过上拉电阻R传输至切割点R，从而保证切割点P的电压与第二高电平信号的电压相等，使得切割点P的电压被置高，可以避免切割点P的金属断面长期处于低电平，容易失电子与环境中的水氧发生氧化反应，造成的线路腐蚀现象，进而可以避免显示产品出现显示不良，提高显示效果。可以理解的是，上拉电阻R的阻值也可以为其他更大的阻值，在此不再一一列举。
可选地，低电平信号线101包括：至少一个连接部1011和至少两个导电部1012。两个导电部1012之间可以通过连接部1011连接，且切割点P位于连接部上。
需要说明的是，在本发明实施例中，低电平信号线101可以包括一个连接部1011和两个导电部1012。连接部1011可以将两个导电部1012连通，从而可以保证第一低电平信号或第二低电平信号可以输入显示面板的第一输入端Panel1。导电部1012可以为现有技术中的信号线的金属材料，连接部1011可以为易于切割的材质，以便于可以将用于检测的焊盘切除。在一个具体的例子中，连接部1011的材料可以为钼。
如图6所示，多条信号线除了包括低电平信号101和高电平信号线102外，还包括其他类型的信号线，在此不再一一进行详细描述。检测完成后，低电平信号线101和高电平信号线102可以沿着切割点P，将用于检测的焊盘及附带的部分信号线切除，由于低电平信号显示101的切割点P的电压被置高，从而可以避免切割点P形成的断面由于失电子而发生氧化反应，进而可以避免产生线路腐蚀现象。
实施例二
基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种栅极驱动电路，该栅极驱动电路可以包括如上述任一实施例提供的切割点腐蚀防护电路。其实现原理与上述提供的切割点腐蚀防护电路的实现原理类似，在此不再赘述。
实施例三
基于同一发明构思，本发明实施例提供一种显示装置，该显示装置可以包括上述任一实施例提供的栅极驱动电路。该显示装置可以为手机、平板电脑或智能电视等终端设备。其实现原理与上述提供的切割点腐蚀防护电路的实现原理类似，在此不再赘述。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种切割点腐蚀防护电路，用于显示面板的检测和驱动；包括：低电平信号线和高电平信号线；所述低电平信号线上设置有第一节点，所述低电平信号线的一端连接显示面板的第一信号输入端，另一端连接第一低电平信号端，所述第一节点连接第二低电平信号端；所述高电平信号线上设置有第二节点，所述高电平信号线的一端连接显示面板的第二信号输入端，另一端连接第一高电平信号端，所述第二节点连接第二高电平信号端；其特征在于，所述低电平信号线的所述第一节点与另一端之间具有切割点；所述切割点腐蚀防护电路还包括：开关单元和置高单元；
所述开关单元连接于所述第一节点与所述切割点之间，用于在检测阶段，在第一低电平信号的控制下，将所述第一低电平信号输入显示面板的所述第一信号输入端；
所述置高单元连接于所述第二节点与所述第一高电平信号端之间，用于在驱动阶段，在第二高电平信号的控制下，将所述切割点的电压置高；
所述开关单元包括：开关晶体管；
所述开关晶体管的控制极连接所述置高单元和所述第一低电平信号端，第一极连接所述第一低电平信号端，第二极连接显示面板的所述第一信号输入端；
所述置高单元包括：上拉电阻；
所述上拉电阻的一端连接所述第一高电平信号端和所述第二高电平信号端，另一端连接所述开关晶体管的控制极和所述第一低电平信号端。
2.根据权利要求1所述的切割点腐蚀防护电路，其特征在于，所述开关晶体管包括薄膜晶体管。
3.根据权利要求2所述的切割点腐蚀防护电路，其特征在于，所述薄膜晶体管包括多晶硅薄膜晶体管。
4.根据权利要求1所述的切割点腐蚀防护电路，其特征在于，所述上拉电阻的阻值大于100千欧。
5.根据权利要求1所述的切割点腐蚀防护电路，其特征在于，所述低电平信号线包括：至少一个连接部和至少两个导电部；
两个所述导电部之间通过所述连接部连接，且所述切割点位于所述连接部上。
6.根据权利要求5所述的切割点腐蚀防护电路，其特征在于，所述连接部的材料包括钼。
7.一种栅极驱动电路，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的切割点腐蚀防护电路。
8.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求7所述的栅极驱动电路。
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