JP2011109646A5 - アナログ回路 - Google Patents

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  1. リファレンストランジスタと、ミラートランジスタと、検出器と、を有し、
    前記リファレンストランジスタは前記検出器と電気的に接続され、
    前記リファレンストランジスタのドレインとゲートは電気的に接続され、
    前記リファレンストランジスタのゲートは前記ミラートランジスタのゲートと電気的に接続され、
    前記リファレンストランジスタと前記ミラートランジスタは、ドレイン電圧が1V及び10Vの場合において、ゲート電圧が−5Vから−20Vの範囲におけるドレイン電流が1×10 −13 A以下である酸化物半導体を有することを特徴とするアナログ回路。
  2. 請求項1において、
    前記ミラートランジスタは、複数の薄膜トランジスタが並列接続されていることを特徴とするアナログ回路。
  3. 請求項1または請求項2において、
    前記ミラートランジスタのチャネル幅は、前記リファレンストランジスタのチャネル幅よりも大きいことを特徴とするアナログ回路。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項において、
    前記酸化物半導体のチャネル領域のキャリア濃度が5×1014/cm以下であることを特徴とするアナログ回路。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
    前記酸化物半導体のチャネル領域の水素濃度が5×10 19 atoms/cm 以下であることを特徴とするアナログ回路。
  6. 第1端子が高電源電位に電気的に接続された第1の薄膜トランジスタと、
    第1端子が高電源電位に電気的に接続された第2の薄膜トランジスタと、
    前記高電源電位と、前記第1の薄膜トランジスタの前記第1端子の間に、検出器と、を有し、
    前記第1の薄膜トランジスタのゲートは、前記検出器と前記第1の薄膜トランジスタの前記第1端子の間に電気的に接続され、
    前記第2の薄膜トランジスタのゲートは、前記第1の薄膜トランジスタのゲート電気的に接続され、
    前記第1の薄膜トランジスタの第2端子と、前記第2の薄膜トランジスタの第2端子とは、低電源電位に電気的に接続され、
    前記第1の薄膜トランジスタと前記第2の薄膜トランジスタは、ドレイン電圧が1V及び10Vの場合において、ゲート電圧が−5Vから−20Vの範囲におけるドレイン電流が1×10 −13 A以下である酸化物半導体を有することを特徴とするアナログ回路。
  7. 請求項6において、
    前記第2の薄膜トランジスタは、複数の薄膜トランジスタが並列接続されていることを特徴とするアナログ回路。
  8. 請求項6または請求項7において、
    前記第2の薄膜トランジスタのチャネル幅は、前記第1の薄膜トランジスタのチャネル幅よりも大きいことを特徴とするアナログ回路。
  9. 請求項6乃至請求項8のいずれか一項において、
    前記酸化物半導体のチャネル領域のキャリア濃度が5×1014/cm以下であることを特徴とするアナログ回路。
  10. 請求項6乃至請求項9のいずれか一項において、
    前記酸化物半導体のチャネル領域の水素濃度が5×10 19 atoms/cm 以下であることを特徴とするアナログ回路。
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