JP2016527707A5 - - Google Patents

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  1. なくとも1種の酸化剤、少なくとも1種のエッチング剤、少なくとも1種の金属腐食防止剤、少なくとも1種のキレート化剤、及び少なくとも1種の溶媒を含む、組成物であって、
    金属腐食防止剤が、2−アミノ−5−エチル−1,3,4−チアジアゾール、ベンゾトリアゾールカルボン酸、5−アミノ−1,2,4−トリアゾール(5−ATA)、3−アミノ−5−メチルチオ−1H−1,2,4−トリアゾール、ATA−SDS、3,5−ジアミノ−1,2,4−トリアゾール、ペンチレンテトラゾール、5−フェニル−1H−テトラゾール、5−ベンジル−1H−テトラゾール、5−メチルテトラゾール、5−メルカプト−1−メチル−テトラゾール、1−フェニル−1H−テトラゾール−5−チオール、Ablumine O、2−ベンジルピリジン、スクシンイミド、4−アミノ−4H−1,2,4−トリアゾール、2−アミノベンゾイミダゾール、デシルトリメチルアンモニウムクロリド(DTAC)、アデノシン、カルバゾール、サッカリン、ベンゾインオキシム、ポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノオレエート、ポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノラウレート、ポリオキシプロピレン/ポリオキシエチレンブロックコポリマー、ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム(SDS)、ベンジルホスホン酸、ジフェニルホスフィン酸、1,2−エチレンジホスホン酸、フェニルホスホン酸、桂皮酸、ミリスチルトリメチルアンモニウムブロミド、及びそれらの組み合わせからなる群から選択される化学種を含み、窒化チタン及び/又はフォトレジストエッチ残渣を、それらを上に有するマイクロ電子デバイスの表面から除去し、コバルトに対して高い選択性である、組成物
  2. 前記エッチング剤が、HZrF、HTiF、HPF、HF、フッ化アンモニウム、テトラフルオロホウ酸、ヘキサフルオロケイ酸、テトラブチルアンモニウムテトラフルオロボレート(TBA−BF)、ヘキサフルオロケイ酸アンモニウム、ヘキサフルオロチタン酸アンモニウム、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド(TEAH)、テトラプロピルアンモニウムヒドロキシド(TPAH)、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド(TBAH)、ベンジルトリメチルアンモニウムヒドロキシド(BTMAH)、水酸化カリウム、水酸化アンモニウム、ベンジルトリエチルアンモニウムヒドロキシド(BTEAH)、テトラブチルホスホニウムヒドロキシド(TBPH)、(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)トリエチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)トリプロピルアンモニウムヒドロキシド、(1−ヒドロキシプロピル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド、エチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ジエチルジメチルアンモニウムヒドロキシド(DEDMAH)、トリス(2−ヒドロキシエチル)メチルアンモニウムヒドロキシド(THEMAH)、1,1,3,3−テトラメチルグアニジン(TMG)、炭酸グアニジン、アルギニン、水酸化アンモニウム、モノエタノールアミン(MEA)、ジエタノールアミン(DEA)、トリエタノールアミン(TEA)、エチレンジアミン、システイン、フッ化テトラアルキルアンモニウム(NRF)(式中、R、R、R、Rは、互いに同じでも異なっていてもよく、直鎖又は分岐のC〜Cアルキル基からなる群から選択される)、及びそれらの組み合わせからなる群から選択される化学種を含む、請求項1に記載の組成物。
  3. 前記エッチング剤が、TMAH、水酸化コリン、水酸化カリウム、THEMAH、及びそれらの任意の組み合わせを含む、請求項1又は2の組成物。
  4. 前記酸化剤が、過酸化水素、FeCl、FeF、Fe(NO、Sr(NO、CoF、MnF、オキソン(2KHSO・KHSO・KSO)、過ヨウ素酸、ヨウ素酸、酸化バナジウム(V)、酸化バナジウム(IV,V)、バナジン酸アンモニウム、ペルオキソ一硫酸アンモニウム、亜塩素酸アンモニウム(NHClO)、塩素酸アンモニウム(NHClO)、ヨウ素酸アンモニウム(NHIO)、硝酸アンモニウム(NHNO)、過ホウ酸アンモニウム(NHBO)、過塩素酸アンモニウム(NHClO)、過ヨウ素酸アンモニウム(NHIO)、過硫酸アンモニウム((NH)、次亜塩素酸アンモニウム(NHClO)、タングステン酸アンモニウム((NH10(W))、過硫酸ナトリウム(Na)、次亜塩素酸ナトリウム(NaClO)、過ホウ酸ナトリウム、ヨウ素酸カリウム(KIO)、過マンガン酸カリウム(KMnO)、過硫酸カリウム、硝酸(HNO)、過硫酸カリウム(K)、次亜塩素酸カリウム(KClO)、亜塩素酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)ClO)、塩素酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)ClO)、ヨウ素酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)IO)、過ホウ酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)BO)、過塩素酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)ClO)、過ヨウ素酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)IO)、過硫酸テトラメチルアンモニウム((N(CH)S)、ペルオキソ一硫酸テトラブチルアンモニウム、ペルオキソ一硫酸、硝酸第二鉄(Fe(NO)、尿素過酸化水素((CO(NH)H)、過酢酸(CH(CO)OOH)、1,4−ベンゾキノン、トルキノン、ジメチル−1,4−ベンゾキノン、クロラニル、アロキサン、N−メチルモルホリンN−オキシド、トリメチルアミンN−オキシド、及びそれらの組み合わせからなる群から選択される化学種を含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の組成物。
  5. 前記酸化剤が、過酸化水素を含む、請求項1に記載の組成物。
  6. 前記少なくとも1種の溶媒が、水、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、2−エチル−1−ヘキサノール、ヘプタノール、オクタノール、エチレングリコール、プロピレングリコール、ブチレングリコール、ヘキシレングリコール、炭酸ブチレン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、重炭酸コリン、ジプロピレングリコール、ジメチルスルホキシド、スルホラン、テトラヒドロフルフリルアルコール(THFA)、1,2−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、テトラメチル尿素、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、トリエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、トリエチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールフェニルエーテル、プロピレングリコールメチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテル(DPGME)、トリプロピレングリコールメチルエーテル(TPGME)、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールエチルエーテル、プロピレングリコールn−プロピルエーテル、ジプロピレングリコールn−プロピルエーテル(DPGPE)、トリプロピレングリコールn−プロピルエーテル、プロピレングリコールn−ブチルエーテル、ジプロピレングリコールn−ブチルエーテル、トリプロピレングリコールn−ブチルエーテル、プロピレングリコールフェニルエーテル、2,3−ジヒドロデカフルオロペンタン、エチルペルフルオロブチルエーテル、メチルペルフルオロブチルエーテル、アルキルカーボネート、4−メチル−2−ペンタノール、及びそれらの組み合わせからなる群から選択される化学種を含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の組成物。
  7. 前記少なくとも1種の溶媒が、水を含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の組成物。
  8. 前記金属腐食防止剤が、5−メチル−1H−ベンゾトリアゾール、5−ATA、ATA−SDS、スクシンイミド、アデノシン、ベンゾチアゾール、ポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノオレエート、ポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノラウレート、ポリオキシプロピレン/ポリオキシエチレンブロックコポリマー、及びそれらの組み合わせからなる群から選択される一又は複数の化学種を含む、請求項1に記載の組成物。
  9. 前記少なくとも1種のキレート化剤が、アセチルアセトネート、1,1,1−トリフルオロ−2,4−ペンタンジオン、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ペンタンジオン、グリシン、セリン、プロリン、ロイシン、アラニン、アスパラギン、アスパラギン酸、グルタミン、バリン及びリジン、イミノ二酢酸(IDA)、マロン酸、シュウ酸、コハク酸、ホウ酸、ニトリロ三酢酸、リンゴ酸、クエン酸、酢酸、マレイン酸、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)、エチレンジアミン四酢酸二アンモニウム塩、(1,2−シクロヘキシレンジニトリロ)四酢酸(CDTA)、ジエチレントリアミン五酢酸(DTPA)、2−ホスホノブタン−1,2,4−トリカルボン酸(PBTCA)、エチレンジアミンジコハク酸、プロピレンジアミン四酢酸、ホスホン酸、ヒドロキシエチリデンジホスホン酸(HEDP)、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸、ニトリロ−トリス(メチレンホスホン酸)(NTMP)、アミノトリ(メチレンホスホン酸)、ジエチレントリアミンペンタ(メチレンホスホン酸)、エチレンジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)(EDTMPA)、エチレンジアミン、2,4−ペンタンジオン、塩化ベンザルコニウム、1−イミダゾール、テトラグリム、ペンタメチルジエチレントリアミン(PMDETA)、1,3,5−トリアジン−2,4,6−チチオール三ナトリウム塩溶液、1,3,5−トリアジン−2,4,6−チチオール三アンモニウム塩溶液、ジエチルジチオカルバミン酸ナトリウム、二置換ジチオカルバメート、スルファニルアミド、モノエタノールアミン(MEA)、2−ヒドロキシピリジン1−オキシド、五塩基性三リン酸ナトリウム、及びそれらの組み合わせからなる群から選択される化学種を含む、請求項1〜のいずれか一項に記載の組成物。
  10. 前記少なくとも1種のキレート化剤が、CDTAを含む、請求項1〜のいずれか一項に記載の組成物。
  11. 前記少なくとも1種のキレート化剤が、酢酸塩、塩化物、臭化物、ヨウ化物、硫酸塩、安息香酸塩、プロピオン酸塩、クエン酸塩、ギ酸塩、シュウ酸塩、酒石酸塩、コハク酸塩、乳酸塩、マレイン酸塩、マロン酸塩、フマル酸塩、リンゴ酸塩、アスコルビン酸塩、マンデル酸塩、及びフタル酸塩のアンモニウムカチオン又はテトラアルキルアンモニウムカチオン、並びにそれらの組み合わせからなる群から選択される化学種を含む、請求項1〜10のいずれか一項に記載の組成物。
  12. 前記少なくとも1種のキレート化剤が、臭化アンモニウム及び/又は塩化アンモニウムを含む、請求項1〜11のいずれか一項に記載の組成物。
  13. 窒化チタン材料を、それを上に有するマイクロ電子デバイスの表面からエッチングする方法であって、前記方法は、前記表面を、請求項1〜12のいずれか一項に記載の組成物と接触させる工程を含み、前記組成物は、前記窒化チタン材料を、金属及び絶縁材料に比べて選択的に前記表面から除去するものである、方法。
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