KR102398930B1 - 커맨드 신호 경로의 지연을 조절하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

커맨드 신호 경로의 지연을 조절하기 위한 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

커맨드 신호 경로의 지연을 조절하는 것과 관련된 장치와 방법이 개시된다. 예시적인 장치는 제1 주파수를 가진 제1 클록 신호를 수신하고, 제1 주파수의 절반인 제2 주파수를 가진 상보적 쌍인 제2 및 제3 클록 신호를 제공하는 디바이더 회로와, 제2 클록 신호를 수신하고, 제2 클록 신호에 응답하여, 지연된 제2 클록 신호를 제공하는 제1 지연 회로와, 및 제3 클록 신호를 수신하고, 제3 클록 신호에 응답하여, 지연된 제3 클록 신호를 제공하는 제2 지연 회로를 포함한다. 타이밍 회로는 제1 신호를 수신하고, 지연된 제2 클록 신호에 응답하여 제1 신호를 래치하여 제2 신호를 제공하고, 레이턴시 정보에 응답하는 제2 클록 신호 또는 제3 클록 신호에 응답하여 제2 신호를 래치한다.

Description

커맨드 신호 경로의 지연을 조절하기 위한 장치 및 방법{APPARATUSES AND METHODS FOR ADJUSTING DELAY OF COMMAND SIGNAL PATH}
본 발명의 실시예는 일반적으로 반도체 메모리에 관한 것이고, 좀 더 구체적으로, 하나 이상의 기술된 실시예에서, 신호 경로 및 신호 경로를 통하여 커맨드 신호의 타이밍을 조절하는 것에 관한 것이다.
반도체 메모리에서, 메모리의 적절한 동작은 다양한 내부 커맨드와 클록 신호의 정확한 타이밍을 기반으로 한다. 예를 들어, 메모리로부터 데이터를 리딩할 때, 리드 데이터를 제공(가령, 출력)하기 위해 데이터 경로 회로를 클록하는 내부 클록 신호는, 데이터 경로 회로가 실질적으로 리드 데이터를 출력하도록 적절하게 활성화시키도록 내부 리드 커맨드 신호와 실질적으로 동시에 제공될 필요가 있다. 내부 리드 커맨드 신호의 타이밍이, 내부 클록 신호가 예상된 시간에 리드 데이터를 출력하도록 데이터 경로 회로를 클록할 때에, 데이터 경로 회로가 활성화되지 않는다면, 리드 커맨드는 부주의하게 무시되거나 메모리에 의해 제공된 리드 데이터는 정확하지 않을 수 있다(가령, 다른 리드 커맨드와 관련된 데이터). 마찬가지로, 데이터를 메모리에 라이팅할 때, 라이트 데이터를 래치하기 위해 데이터 경로 회로를 클록하는 내부 클록 신호는, 데이터 경로 회로를 적절하게 활성화시켜서, 라이트하기 위해 래치된 라이트 데이터를 메모리에 제공하기 위해, 내부 라이트 커맨드 신호와 특정한 타이밍 관계로 제공될 필요가 있을 수 있다. 내부 커맨드 및 클록 신호의 부정확한 타이밍은 부주의하게 무시되거나 메모리로 제공된 부정확한 라이트 데이터를 야기할 수 있다(가령, 다른 라이트 커맨드와 관련된 라이트 데이터). 내부 클록 신호 및 적절한 동작을 위한 커맨드의 정확한 타이밍을 요할 수 있는 커맨드의 또 다른 예시는 가령, 커맨드를 활성화시키는 온-다이 터미네이션을 포함한다.
게다가, 알려진 바와 같이, "레이턴시"는, 메모리에 의한 리드 커맨드의 수신과 데이터가 메모리에 의해 출력될 때 사이의, 전형적으로 클록 주기(T)의 숫자로 시간을 설정하기 위해 선택될 수 있다(가령, 프로그램될 수 있고, 희망될 수 있고, 사용될 수 있고, 주어질 수 있고 등). 또한, "라이트 레이턴시"는, 메모리에 의해 라이트 커맨드의 수신과 라이트 데이터가 메모리에 제공될 때 사이의, 또한, 전형적으로 T의 숫자로 시간을 설정하기 위해 선택될 수 있다. 레이턴시는 가령, 다양한 주파수(즉, 다양한 클록 주기)의 클록 신호에 맞추기 위해 선택될 수 있다.
정확하게 시간이 맞는 내부 클록과 커맨드 신호의 생성을 복잡하게 하는 것은, 1 GHz 또는 그 이상과 같은 메모리 클록 신호의 비교적 고주파수이다. 예를 들어, 메모리 클록 신호는 1 GHz를 초과할 수 있다. 또한, 사안을 복잡하게 하는 것은 멀티-데이터 속도 메모리가 메모리 클록 신호보다 더 높은, 커맨드가 실시될 수 있는 속도를 나타낼 수 있는 속도로 데이터를 제공하고 수신할 수 있다는 것이다. 결과적으로, 커맨드 신호 및 내부 클록 신호는 적절한 타이밍을 유지하기 위해, 동기화될 필요가 있을 수 있다. 멀티-데이터 속도 메모리의 예시는, 메모리 클록 신호의 클록 에지와 동기화된 데이터를 출력하는 것과 같이, 클록 주파수의 두 배 속도로 리드 데이터를 출력하는 것이다.
예시적인 장치기 본원에서 개시된다. 예시적인 장치는 제1 클록 신호를 수신하고, 제1 클록 신호에 적어도 부분적으로 응답하여, 제1 지연된 클록 신호를 제공하도록 구성된 제1 지연 회로를 포함할 수 있다. 또한, 예시적인 장치는 제2 클록 신호를 수신하고, 제2 클록 신호에 적어도 부분적으로 응답하여, 제2 지연된 클록 신호를 제공하도록 구성된 제2 지연 회로를 포함할 수 있다. 제2 클록 신호는 제1 클록 신호와 상보적일 수 있다. 예시적인 장치는, 제1 및 제2 회로 노드와, 및 제1 및 제2 회로 노드 사이에 연결되는 제1 타이밍 회로를 포함할 수 있는데, 제1 타이밍 회로는 제1 지연된 클록 신호에 적어도 부분적으로 응답하여, 제1 래치된 신호를 제공하기 위해, 제1 회로 노드 상의 제1 신호를 래치하도록 더욱 구성될 수 있다. 또한, 제1 타이밍 회로는 제1 및 제2 클록 신호 중 하나에 적어도 부분적으로 응답하여, 제2 회로 노드 상의 제1 래치된 신호를 제공하도록 구성된다. 예시적인 장치는, 제1 및 제2 회로 노드 사이에, 제1 타이밍 회로와 병렬로 연결되는 제2 타이밍 회로를 더 포함할 수 있는데, 제2 타이밍 회로는 제2 지연된 클록 신호에 적어도 부분적으로 응답하여, 제2 래치된 신호를 제공하기 위해, 제1 회로 노드 상의 제1 신호를 래치하도록 구성될 수 있다. 또한, 제2 타이밍 회로는, 제1 및 제2 클록 신호 중 다른 하나에 적어도 부분적으로 응답하여, 제2 회로 노드 상의 제2 래치된 신호를 제공하도록 구성될 수 있다.
또 다른 예시적인 장치는, 제1 주파수를 가진 제1 클록 신호를 수신하도록 구성되고, 제2 클록 신호 및 상기 제2 클록 신호의 상보적인 신호인 제3 클록 신호를 제공하도록 더욱 구성되는 디바이더 회로를 포함할 수 있다. 제2 클록 신호와 제3 클록 신호는 제1 주파수의 절반인 제2 주파수를 가진다. 타이밍 회로는, 제2 클록 신호를 수신하고, 제2 클록 신호에 응답하여 지연된 제2 클록 신호를 제공하도록 구성되는 제1 지연 회로를 더 포함할 수 있다. 또한, 타이밍 회로는, 제3 클록 신호를 수신하고, 제3 클록 신호에 응답하여 지연된 제3 클록 신호를 제공하도록 구성되는 제2 지연 회로를 더 포함할 수 있다. 타이밍 회로는 제1 신호를 수신하고, 지연된 제2 클록 신호에 응답하여 제1 신호를 래치하여 제2 신호를 제공하도록 구성될 수 있다. 또한, 타이밍 회로는, 지연된 제3 클록 신호에 응답하여 제1 신호를 래치하여 제3 신호를 제공하도록 구성될 수 있다. 타이밍 회로는, 레이턴시 정보에 응답하는 제2 클록 신호 또는 제3 클록 신호에 응답하여, 제2 신호를 래치하도록 더욱 구성될 수 있다.
예시적인 방법이 본원에서 개시된다. 예시적이 방법은, 제1 주파수를 가진 제1 클록 신호를 수신하는 단계와, 및 제2 클록 신호 및 상기 제2 클록 신호의 상보적인 신호인 제3 클록 신호를 제공하는 단계를 포함한다. 제2 클록 신호와 제3 클록 신호는 제1 주파수의 절반인 제2 주파수를 가질 수 있다. 예시적인 방법은, 제2 클록 신호에 응답하여, 지연된 제2 클록 신호를 제공하는 단계와, 제2 신호를 제공하기 위해, 지연된 제2 클록 신호에 응답하여, 제1 신호를 래치하는 단계와 및 레이턴시 정보에 응답하는 제2 클록 신호 또는 제3 클록 신호에 응답하여, 제2 신호를 래치하는 단계를 더 포함할 수 있다.
도 1은 본 개시물의 실시예에 따른 제어 회로를 포함하는 장치의 블록도이다.
도 2는 본 개시물의 실시예에 따른 제어 회로의 블록도이다.
도 3은 본 개시물의 실시예에 따른 도 2의 타이밍 회로의 블록도이다.
도 4는 본 개시물의 실시예에 따른 도 3의 타이밍 회로의 동작 동안에 다양한 신호의 타이밍도이다.
도 5는 본 개시물의 실시예에 따른 도 3의 타이밍 회로의 동작 동안에 다양한 신호의 타이밍도이다.
도 6은 본 개시물의 실시예에 따른 도 2의 타이밍 회로의 블록도이다.
도 7은 본 개시물의 실시예에 따른 제어 회로의 블록도이다.
특정 세부사항이 이하에 제시되어, 본 발명의 실시예의 충분한 이해도를 제공한다. 그러나, 본 발명의 실시예가 이들 특정한 세부사항 없이 실시될 수 있다는 것은 기술 분야의 당업자에게 자명할 것이다. 게다가, 본원에서 기술된 본 발명의 특정 실시예는 예시로서 제공되고, 본 발명의 범위를 이들 특정 실시예로 제한하는데 사용되어서는 아니된다. 다른 예시에서, 잘 알려진 회로, 제어 신호, 타이밍 프로토콜 및 소프트웨어 동작은 본 발명을 불필요하게 흐리게 하는 것을 피하기 위해 자세히 도시되지 않는다.
도 1은 본 개시물의 실시예에 따른 제어 회로를 포함하는 장치(100)의 일부의 블록도이다. 본원에서 사용된 바와 같이, "장치"는 가령 회로, 반도체 다이, 디바이스 또는 시스템을 말할 수 있다. 장치(100)는 메모리 셀의 메모리 어레이(101)를 포함하는데, 이는 가령, 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM) 메모리 셀, 정적 랜덤 액세스 메모리(SRAM) 메모리 셀, 플래시 메모리 셀 또는 일부 다른 타입의 메모리 셀일 수 있다. 장치(100)는, 메모리 커맨드를 수신하고, 다양한 메모리 동작을 실행하기 위해, 장치(100) 내의 대응되는 제어 신호를 제공(가령, 생성)하는 제어 회로(102)를 포함한다.
로우 및 컬럼 어드레스 신호가 어드레스 래치(110)를 통해, 장치(100)로 제공(가령, 인가)된다. 어드레스 래치는 수신된 어드레스 신호를 캡쳐하고, 그리고 나서, 컬럼 어드레스와 로우 어드레스를 컬럼 어드레스 디코더(121)와 로우 어드레스 디코더(122)로 각각 제공한다. 컬럼 어드레스 디코더(121)는 메모리 어레이(101)를 통해 대응되는 각각의 컬럼 어드레스로 연장되는 비트 라인을 선택한다. 로우 어드레스 디코더(122)는, 수신된 로우 어드레스에 대응되는 메모리 어레이(101) 내의 메모리 셀의 각각의 로우를 활성화시키는 워드 라인 드라이버(124)에 연결된다. 수신된 컬럼 어드레스에 대응되는 선택된 데이터 라인(가령, 비트 라인 또는 비트 라인들)은 리드/라이트 회로(130)에 연결되어서, 리드 데이터를 입력/출력(I/O) 데이터 블록(134)에 제공한다. 라이트 데이터는 I/O 데이터 블록(134) 및 리드/라이트 회로(130)를 통해, 메모리 어레이(101)로 제공된다. I/O 데이터 블록(134)은, 가령, 내부 클록 신호(CLKOUT) 및 내부 커맨드 신호(CMDOUT)에 응답하여 작동하는 출력 데이터 블록(135) 및 입력 데이터 블록(136)을 포함할 수 있다. 출력 데이터 블록(135)은 리드 동작을 위한 커맨드에 응답하여, 메모리 어레이(101)로부터의 리드 데이터를 제공할 수 있다. 일부 실시예에서, 출력 데이터 블록(135)은 내부 커맨드 신호(CMDOUT)에 응답하여, 리드 데이터를 제공할 수 있다. 입력 데이터 블록(136)은 라이트 동작을 위한 커맨드에 응답하여, 라이트 데이터를 수신할 수 있다.
제어 회로(102)는 클록 경로(103)를 포함한다. 클록 경로(103)는 외부 클록 신호(CLKIN)를 수신하고, 외부 클록 신호(CLKIN)를 적어도 부분적으로 기초하는 내부 클록 신호(CLKOUT)를 I/O 데이터 블록(134)으로 전파한다.
또한, 제어 회로(102)는 커맨드 경로(104)를 포함한다. 도 1에 도시되고, 제어 회로(102) 내에 포함되지만 이러한 구성으로 제한되지 않는 커맨드 경로(104)는 내부 커맨드 신호(CMDOUT)를 I/O 데이터 블록(134)으로 제공한다. 제어 회로(102)는 메모리 커맨드(CMDIN)에 응답하여, 메모리 어레이(101)에 다양한 동작을 수행한다. 특히, 제어 회로(102)는 메모리 어레이(101)로부터 데이터를 리드하고 데이터를 라이트하기 위해 내부 제어 신호를 제공하는데 사용된다. 커맨드 경로(104)는 CAS 레이턴시 신호(CL) 및 CAS 라이트 레이턴시 신호(CWL)와 같은 레이턴시 신호를 수신한다. 또한, 커맨드 경로(104)는 클록 경로(103)로부터 내부 클록 신호를 수신한다.
도 2는 본 개시물의 실시예에 따른 제어 회로(200)의 블록도이다. 예를 들어, 제어 회로(200)는 클록 경로(103) 및 커맨드 경로(104)를 포함할 수 있는 도 1 내의 제어 회로(102)로 사용될 수 있다. 제어 회로(200)는 커맨드 경로 내의 타이밍 회로(204) 및 클록 경로(103)와 커맨드 경로(104) 중에 지연(DLL) 회로(207)를 포함할 수 있다. 클록 경로(103)는 클록 입력 버퍼(201)를 포함한다. 클록 입력 버퍼(201)는 가령, 클록 신호(CLKIN)에 기초하여, 한 쌍의 상보적 클록 신호(CK 및 CKB)를 수신하고, 시스템 클록 신호(SCLK)를 제공할 수 있다. SCLK 신호는, 커맨드 경로(104) 상의 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202), 타이밍 회로(204) 및 ODT dQ-활성화-지연(QED) 회로(206) 및 클록 경로(103) 내의 AND 회로(205)에 제공될 수 있다.
DLL 회로(207)는 클록 경로(103) 상의 지연 라인(DLINE CLK)(209) 및 지연 제어(DLCTL) 회로(208)를 포함할 수 있다. SCLK 신호는, 리드 커맨드나 라이트 커맨드를 나타내는 CMDIN 신호에 응답하는 시스템 클록 활성화 신호(SCLKEN)에 응답하여 SCLK 신호를 제공할 수 있는, AND 회로(205)를 통해 클록 경로(103) 상의 지연 라인(DLINE CLK)(209)에 제공될 수 있다. 그러므로, DLL 회로(207)는 리드 및 라이트 동작 동안에 활성화될 수 있다. 일부 실시예에서, DLL 회로(207)는 ODT 동작 동안에 비활성화될 수 있다. DLL 회로(207)는 SCLK 신호와 활성화될 때 DLL 클록 신호에 응답하여 지연 제어 신호(DCTL)를 변경함에 의해, 지연 라인(209, 210 및 211)의 지연을 조절할 수 있다. 다른 한 편으로는, DLL 회로(207)는 비활성화될 때, 지연을 조절하지 않으면서 지연 라인(209, 210 및 211)의 지연을 유지할 수 있다. 예를 들어, 지연 라인(209)은 듀티 사이클 제어기(DCC), 거친 지연 라인 및 미세 지연 라인을 포함하는 조절가능한 지연 라인일 수 있다. 지연 라인(209)의 조절가능한 지연은 DLCTL 회로(208)에 의해 제공되는 지연 제어 신호(DCTL)에 기초하여 조절될 수 있다. 지연 라인(209)은 클록 경로(103) 상의 SCLK 신호에 대하여 조절가능한 지연을 가진 DLL 클록 신호(DLLCLK)를 제공할 수 있다. DLCTL 회로(208)는, AND 회로(205)로부터의 SCLK 신호와 DLLCLK 신호에 응답하여, DCTL 신호를 지연 라인(209)에 제공할 수 있다. 지연 라인(209)은 커맨드 경로(104) 상의 리드/라이트(R/W) dQ-활성화-지연(QED) 회로(213)에 DLLCLK 신호를 더욱 제공할 수 있다.
제어 회로(200) 내의 커맨드 경로(104)는 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202)를 포함한다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202)는 커맨드 신호(CMDIN) 및 SCLK 신호를 수신할 수 있다. CMDIN 신호는, 리드 동작, 라이트 동작 또는 온-다이 터미네이션을 지시하는 것을 각각 나타내는 리드 커맨드, 라이트 커맨드 또는 온-다이 터미네이션(ODT) 커맨드와 같은 메모리 액세스 커맨드를 운반할 수 있다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202)는 SCLK 신호에 응답하여, CMDIN 신호를 디코딩할 수 있다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202)는 내부 커맨드 신호(ICMD)를 타이밍 회로(204)에 제공할 수 있고, 리드 동작 또는 라이트 동작을 나타내는 리드/라이트 선택 신호(RWSEL) 및 리드 커맨드 또는 라이트 커맨드를 나타내는 CMDIN 신호에 응답하여, SCLKEN 신호를 더욱 제공할 수 있다. ICMD 신호는 리드 신호 또는 라이트 신호일 수 있다. 타이밍 회로(204)는, ICMD 신호 및 이후에 자세히 기술될 수 있는 L3CYCEN 신호에 응답하여, 래치된 커맨드 신호(LCMD)를 제공할 수 있는데, 여기서, 타이밍 회로(204)는 ICMD 신호에 응답하여, LCMD 신호의 타이밍을 제어하여, LCMD 신호가 SCLK 신호와 동기화되도록 할 수 있다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202)는 ODT 커맨드를 나타내는 CMDIN 신호에 응답하여, 내부 ODT 커맨드 신호(IODT)를 타이밍 회로(204)에 제공할 수 있다. IODT 신호는 온-다이 터미네이션 신호일 수 있다. 타이밍 회로(204)는 IODT 신호 및 이후에 자세히 기술될 수 있는 L3CYCEN 신호에 응답하여, 래치된 ODT 커맨드 신호(LODT)를 제공할 수 있다. 타이밍 회로(204)는 IODT 신호에 대하여 LODT 신호의 타이밍을 제어할 수 있다.
ODT QED 회로(206)는 SCLK 신호를 수신할 수 있다. ODT QED 회로(206)는, CAS 라이팅 레이턴시 신호(CWL)와 SCLK 신호에 대한 DLLCLK 신호의 지연과 등가인 클록 사이클의 수를 나타낼 수 있는 NT 값을 더욱 수신할 수 있다. CWL 값은, 장치가 라이트 커맨드를 수신할 때와 도 1의 입력 데이터 블록(136)이, 입력 버스(가령, 입력 데이터 블록(136) 이전의 DQ 패드를 통해)로 액세스되고 제공될 데이터를 위한 시간을 포함하는 DQS 신호(미도시)에 기초하는 라이트 커맨드에 응답하여 라이트 데이터를 수신할 때 사이의 지연 시간을 차지할 수 있는 CAS 라이트 레이턴시이다. CWL 값은 주파수 의존적인 값일 수 있고, SCLK 신호의 클록 사이클의 수로 나타낼 수 있다. 예를 들어, ODT QED 회로(206)는, 가령, NT 값 및 CWL 값을 사용하여 LODT 신호의 레이턴시(가령, 시프팅, 지연)을 조절함에 의해, 클록 입력 버퍼(201)로부터의 SCLK 신호로, 타이밍 회로(204)로부터의 LODT 신호를 조절할 수 있는 지연 회로일 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, ODT QED 회로(206)는 CWL에 응답하여 ODT 커맨드에 대해 LODT 신호를 시프트할 수 있다. 조절 인자도 고려될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, NT 값은 9 이상일 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, CWL 값 및 NT 값은 CWL 값과 NT 값의 차이(가령, CWL-NT)가 2 이상인 조건을 만족해야할 수 있다. ODT QED 회로(206)는 시프트된 LODT 신호인 시프트된 ODT 신호(SODT)를 제공할 수 있다.
DLL 회로(207)는 커맨드 경로(104) 상의 ODT QED 회로(206)에 연결된 지연 라인(DLINE ODT)(211)을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 지연 라인(211)은, DCC, 거친 지연 라인 및 미세 지연 라인을 포함하는 조절가능한 지연 라인일 수 있다. 일부 실시예에서, 지연 라인(211)은 지연 라인(209)과 실질적으로 동일한 회로 구조를 가질 수 있고, 지연 라인(209)과 실질적으로 동일한 지연을 제공할 수 있다. 지연 라인(211)의 조절가능한 지연은 DLCTL 회로(208)에 의해 제공된 지연 제어 신호(DCTL)에 기초하여 조절될 수 있다. ODT QED 회로(206)로부터의 SODT 신호는 지연 라인(211)으로 전송된다. 지연 라인(211)은 SODT 신호에 응답하여, 그리고, SCLK 신호 및 DLLCLK 신호에 기초하는 DCTL 신호에 더욱 응답하여, 지연된 ODT 신호(DODT)를 제공할 수 있다.
DLL 회로(207)는 커맨드 경로(104) 상의 타이밍 회로(204)에 연결된 지연 라인(DLINE R/W)(210)을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 지연 라인(210)은 DCC, 거친 지연 라인 및 미세 지연 라인을 포함하는 조절가능한 지연 라인일 수 있다. 일부 실시예에서, 지연 라인(210)은 지연 라인(209)과 실질적으로 동일한 회로 구조를 가질 수 있고, 지연 라인(209)과 실질적으로 동일한 지연을 제공할 수 있다. 지연 라인(210)의 조절가능한 지연은 DLCTL 회로(208)에 의해 제공된 지연 제어 신호(DCTL)에 기초하여 조절될 수 있다. 타이밍 회로(204)로부터의 LCMD 신호는 지연 라인(210)으로 전송된다. 지연 라인(210)은 LCMD 신호에 응답하여, 그리고, SCLK 신호 및 DLLCLK 신호에 기초하는 DCTL 신호에 더욱 응답하여, 지연된 커맨드 신호(DCMD)를 제공할 수 있다. DCMD 신호는 디멀티플렉서(212)로 전송될 수 있다. 디멀티플렉서(212)는 리드 커맨드 또는 라이트 커맨드에 응답하여, 지연된 커맨드 리드 신호(DCMDR) 또는 지연된 커맨드 라이트 신호(DCMDW)를 제공할 수 있다.
커맨드 경로(104)는 R/W QED 회로(213)를 더 포함한다. R/W QED 회로(213)는 선택된 레이턴시(가령, CL 값 및/또는 CWL 값) 및 NT 값을 수신할 수 있다. R/W QED 회로(213)는 지연 라인(209)으로부터 DLLCLK 신호를 더 수신할 수 있다. 레이턴시는 가령 CLK 신호의 클록 사이클의 수에 의해 정의될 수 있다. NT 값은 SCLK 신호와 DLLCLK 신호의 수신 사이의 지연과 등가인 클록 사이클의 수일 수 있다. CL 값은, 장치가 리드 커맨드를 수신할 때와 데이터 큐 시스템(DQ 시스) 회로(214) OS의 출력 버퍼가, 출력 버스(가령, DQ 시스 회로(214) 내의 DQ 패드를 통해)로 액세스되고 제공될 데이터를 위한 시간을 포함하는 클록 신호(가령, DLLCLK 신호)에 기초하는 리드 커맨드에 응답하여 리드 데이터를 수신할 때 사이의 지연 시간을 차지할 수 있는 컬럼 어드레스 스트로브(CAS) 레이턴시이다. CWL 값은, 장치가 라이트 커맨드를 수신할 때와 도 1의 입력 데이터 블록(136)이, 입력 버스(가령, 입력 데이터 블록(136) 이전의 DQ 패드를 통해)로 액세스되고 제공될 데이터를 위한 시간을 포함하는 DQS 신호(미도시)에 기초하는 라이트 커맨드에 응답하여 라이트 데이터를 수신할 때 사이의 지연 시간을 차지할 수 있는 CAS 라이트 레이턴시이다. CL 값 및 CWL 값은 CLK 신호의 클록 사이클의 수로 표현될 수 있다. CL 값 및 CWL 값은 가령, 주파수 의존하는 값일 수 있다.
R/W QED 회로(213)는, 디멀티플렉서(212)로부터의 DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호를, 가령, NT 값 및 CL 값 또는 CWL 값을 사용하여, DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호의 레이턴시(가령, 시프팅)를 조절함에 의해, 지연 라인(209)로부터의 DLLCLK 신호와 동기화할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, R/W QED 회로(213)는, CL에 응답하여, 리드 커맨드에 대해 DCMDR 신호를 시프트할 수 있다. 일부 실시예에서, R/W QED 회로(213)는, CWL에 응답하여, 라이트 커맨드에 대해 DCMDW 신호를 시프트할 수 있다. 조절 인자도 고려될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, NT 값은 9 이상일 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, CL 값 및 NT 값은 CL 값과 NT 값의 차이(가령, CL-NT)가 2 이상인 조건을 만족해야할 수 있다. 일부 실시예에서, R/W QED 회로(213)는, (CL-(N+2)) 리드 커맨드를 위한 DLLCLK 신호의 클록 사이클에 의해, DCMDR 신호를 시프트하는데, 2는 조절 인자이다. R/W QED 회로(213)는 레이턴시 정보에 응답하여, 레이턴시 3-사이클-동작 활성화 신호(L3CYCEN)를 타이밍 회로(204)에 제공할 수 있다(가령, CL 값 또는 CWL 값 및 NT 값의 계산에 기초하여). 예를 들어, (CL-NT)가 계산될 수 있고, (CL-NT)이 클록 사이클의 수로 정의되는 미리결정된 값보다 큰지 결정된다. (CL-NT)이 미리결정된 값보다 크면, L3CYCEN 신호는 활성화될 수 있고, 타이밍 회로(204)는 나중에 자세히 기술될 3-사이클-동작을 수행할 수 있다. (CL-NT)이 미리결정된 값 이하면, 타이밍 회로(204)는 나중에 자세히 기술될 2-사이클-동작을 수행할 수 있다. 동작시, CMDIN 신호에 의해 표현된 리드 커맨드 또는 라이트 커맨드는 커맨드 경로(104)로 제공되어, ICMD 신호로서 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(202)를, LCMD 신호로서 타이밍 회로(204)를, DCMD 신호로서 지연 라인(210)을, DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호로서 디멀티플렉서(212)를, 및 R/W QED 회로(213)를 통해 전파된다. R/W QED 회로(213)는 DLLCLK 신호의 클록 사이클을, DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호인 전파 커맨드 신호에 추가하여, 선택된 레이턴시에 응답하여, 커맨드 경로(104)에 대한 전파 지연을 야기하는, 시프트된 커맨드 리드 신호(SCMDR) 또는 시프트된 커맨드 라이트 신호(SCMDW)를 제공한다.
도 1의 I/O 데이터 블록(134)은 도 2의 DQ 시스 회로(214)를 포함할 수 있다. DQ 시스 회로(214)는 DLLCLK 신호, SCMDR 신호 및 SCMDW 신호, DODT 신호를 수신할 수 있다. 예를 들어, DQ 시스 회로(214)는, R/W 회로(130)를 통해, 도 1의 메모리 어레이(101)로부터 병렬로 리드된 복수의 비트의 데이터를 타이밍에 기반을 둔 적절한 순서로 한 세트의 직렬 데이터로 전환하는 병렬-직렬 컨버터를 포함할 수 있다. DQ 시스 회로(214)는 데이터를 데이터 경로 상의 데이터 큐(가령, DQx)로 제공할 수 있다.
도 3은 본 개시물의 실시예에 따른 타이밍 회로(300)의 블록도이다. 도 4는 및 도 5는 본 개시물의 실시예에 따른 도 3의 타이밍 회로의 동작 동안에 다양한 신호의 타이밍도이다. 예를 들어, 타이밍 회로(300)는 도 2의 타이밍 회로(204)로 사용될 수 있다. 타이밍 회로(300)는 tCK의 클록 사이클을 가진 시스템 클록 신호(SCLK)를 수신할 수 있다. 시스템 클록 신호(SCLK)는 짝수 사이클(가령, 도 4의 사이클 0, 사이클 2 및 사이클 4) 및 홀수 사이클(가령, 도 4의 사이클 1, 사이클 3 및 사이클 5)을 포함할 수 있다. 타이밍 회로(300)는 디바이더 회로(301)를 포함할 수 있다. 디바이더 회로(301)는, SCLK 신호에 응답하여, 짝수 시스템 클록 신호(SCLK_E) 및 홀수 시스템 클록 신호(SCLK_O)를 제공할 수 있는 주파수 디바이더일 수 있다. 예를 들어, 디바이더 회로(301)는 SCLK 신호의 주파수를 분할할 수 있어서, SCLK_E 및 SCLK_O의 주파수는 SCLK 신호의 주파수의 실질적으로 절반이다. SCLK_E는, 양의 절반 사이클로서 SCLK 신호의 짝수 사이클 및 음의 절반 사이클로서 SCLK 신호의 홀수 사이클을 가질 수 있다. SCLK_O 신호는 SCLK_E 신호의 상보적 신호이고, SCLK_O 신호는 양의 절반 사이클로서 SCLK 신호의 홀수 사이클 및 음의 절반 사이클로서 SCLK 신호의 짝수 사이클을 가질 수 있다. 다시 말해, SCLK_E 신호와 SCLK_O 신호 간의 위상 차이는 약 180도이다. SCLK_E 신호와 SCLK_O 신호는 SCLK의 2개의 클록 사이클(=2tCK)과 등가인 클록 사이클을 가질 수 있다.
타이밍 회로(300)는 지연 회로(304 및 305), 선택기 회로(306), 커맨드 타이밍 회로(302) 및 ODT 타이밍 회로(303)를 포함할 수 있다. 커맨드 타이밍 회로(302)는 회로 노드(320 및 329)를 포함할 수 있다. 커맨드 타이밍 회로(302)는, 회로 노드(320 및 329) 사이에서 연결된 짝수 커맨드 타이밍 회로(CTC_E)(321) 및 홀수 커맨드 타이밍 회로(CTC_O)(325)를 더 포함할 수 있다. ODT 타이밍 회로(303)는 회로 노드(330 및 339)를 포함할 수 있다. ODT 타이밍 회로(303)는 회로 노드(330 및 339) 사이에서 연결된 짝수 ODT 타이밍 회로(OTC_E)(331) 및 홀수 ODT 타이밍 회로(OTC_O)(335)를 더 포함할 수 있다. 지연 회로(304)는 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, SCLK_E 신호에 대하여 지연(D1)을 가진 지연된 짝수 시스템 클록 신호(DSCLK_E)를 더욱 제공할 수 있다. 지연 회로(305)는 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, SCLK_O 신호에 대하여 지연(D1)을 가진 지연된 홀수 시스템 클록 신호(DSCLK_O)를 더욱 제공할 수 있다. CTC_E(321)는 DSCLK_E 신호에 응답하여, 회로 노드(320) 상의 ICMD 신호를 래치할 수 있는 플립-플롭 회로(FF)(322)를 포함할 수 있고, 짝수 내부 커맨드 신호(ICMD_E)를 더욱 제공할 수 있다. CTC_O(325)는 DSCLK_O 신호에 응답하여, 회로 노드(320) 상의 ICMD 신호를 래치할 수 있는 플립-플롭 회로(FF)(326)를 포함할 수 있고, 홀수 내부 커맨드 신호(ICMD_O)를 더욱 제공할 수 있다. OTC_E(331)는 DSCLK_E 신호에 응답하여, 회로 노드(330) 상의 IODT 신호를 래치할 수 있는 플립-플롭(FF)(332)를 포함할 수 있고, 짝수 ODT 신호(IODT_E)를 더욱 제공할 수 있다. OTC_O(335)는 DSCLK_O 신호에 응답하여, 회로 노드(330) 상의 IODT 신호를 래치할 수 있는 플립-플롭(FF)(336)를 포함할 수 있고, 홀수 ODT 신호(IODT_O)를 더욱 제공할 수 있다.
타이밍 회로(300)는 선택기 회로(306)에서, 도 2의 R/W QED 회로(213)으로부터의 L3CYCEN 신호를 수신할 수 있다. 타이밍 회로(300)는 활성화된 L3CYCEN 신호(가령, 로직 하이 레벨)에 응답하여, 3-사이클-동작을 수행할 수 있고, 비활성화된 L3CYCEN 신호(가령, 로직 로우 레벨)에 응답하여, 2-사이클-동작을 더욱 수행할 수 있다. 3-사이클-동작에서, CMD 신호와 ODT 신호의 시간 조절은 타이밍 회로(300) 내의 SCLK 신호의 3 클록 사이클을 사용할 수 있다. 선택기 회로(306)는, 3-사이클-동작에서, 활성화된 L3CYCEN 신호에 응답하여, SCLK_E 신호를 CTC_E(321) 및 OTC_E(331)에 제공할 수 있다. CTC_E(321)는 래치 회로(323) 및 스위치(324)를 포함할 수 있다. 래치 회로(323)는 ICMD_E 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, ICMD_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(324)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, 회로 노드(329) 상의 래치 회로(323)로부터의 짝수 래치된 커맨드 신호(LCMD_E)를 제공할 수 있다. OTC_E(331)는 래치 회로(333) 및 스위치(334)를 포함할 수 있다. 래치 회로(333)는 IODT_E 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, IODT_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(334)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, 회로 노드(339) 상의 래치 회로(333)로부터의 짝수 래치된 커맨드 신호(LODT_E)를 제공할 수 있다. 선택기 회로(306)는, 3-사이클-동작에서, 활성화된 L3CYCEN 신호에 응답하여, SCLK_O 신호를 CTC_0(325) 및 OTC_O(335)에 제공할 수 있다. CTC_O(325)는 래치 회로(327) 및 스위치(328)를 포함할 수 있다. 래치 회로(327)는 ICMD_O 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, ICMD_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(328)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, 회로 노드(329) 상의 래치 회로(327)로부터의 홀수 래치된 커맨드 신호(LCMD_O)를 제공할 수 있다. OTC_O(335)는 래치 회로(337) 및 스위치(338)를 포함할 수 있다. 래치 회로(337)는 IODT_O 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, IODT_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(338)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, 회로 노드(339) 상의 래치 회로(337)로부터의 홀수 래치된 커맨드 신호(LODT_O)를 제공할 수 있다.
도 4는 3-사이클-동작에서, 도 3의 타이밍 회로의 동작 동안에 다양한 신호의 타이밍도이다. 여기서, SCLK 신호의 사이클 0, 사이클 1, 사이클 2, 사이클 3, 사이클 4 및 사이클 5는 각각, T0와 T1, T1과 T2, T2와 T3, T3과 T4, T4와 T5, T5와 T6 사이의 기간이다. SCLK_E 신호는 사이클 0, 2, 4에서 활성화되고, SCLK_O 신호는 사이클 1, 3 및 5에서 활성화된다. 지연 회로(304)에 의해 제공된, SCLK_E 신호에 대한 DSCLK_E 신호의 지연은 D1이고, DSCLK_E 신호는 T0+D1, T2+D1 및 T4+D1에서 상승 에지를 가진다. 지연 회로(305)에 의해 제공된, SCLK_O 신호에 대한 DSCLK_O 신호의 지연은 D1이고, DSCLK_O 신호는 T1+D1, T3+D1 및 T5+D1에서 상승 에지를 가진다. 예를 들어, FF(322)는, DSCLK_E 신호의 다음 상승 에지가 시간 T2+D1에 있을 때까지, DSCLK_E 신호의 상승 에지에 응답하여, 시간 T0+D1에서 ICMD 신호를 래치할 수 있다. FF(322)는, T0+D1 및 T2+D1에서의 DSCLK_E 신호의 상승 에지에 각각 응답하여, TE0에서 상승 에지 및 TE1에서 하강 에지를 가진 ICMD_E 신호를 제공할 수 있다. 래치 회로(323)는 SCLK_E 신호의 다음 상승 에지가 시간 T4에 있을 때까지, SCLK_E 신호의 상승 에지에 응답하여, 시간 T2에서 ICMD_E 신호를 래치할 수 있다. 래치 회로(323)는, T2 및 T4에서의 SCLK_E 신호의 상승 에지에 각각 응답하여, TL0(가령, T2 이후)에서 상승 에지 및 TL1(가령, T4 이후)에서 하강 에지를 가진 LCMD 신호를 제공할 수 있다. 그러므로, CMD 신호가 비활성화되는 시간과 LCMD 신호가 비활성화되는 시간(TL1) 사이의 시간 기간은, 타이밍 회로(300)에서 CMD 신호의 시간 조절치인 대략 3 클록 사이클이 된다.
클록 사이클의 수에 의해 표현된 레이턴시 값(가령, CL)은 SCLKS 신호의 클록 사이클(tCK)과 역으로 가변할 수 있다. 예를 들어, 더 긴 클록 사이클은, 레이턴시 값을 나타내는 더 적은 수의 클록 사이클을 야기할 수 있다. 도 5는 본 개시물의 실시예에 따른, 도 3의 타이밍 회로(300)의 동작 동안에, 다양한 신호의 타이밍도이다. 예를 들어, 도 5의 타이밍 회로의 동작은 2-사이클-동작이다. 2-사이클-동작에서, CMD 신호와 ODT 신호의 시간 조절은 타이밍 회로(300) 내의 SCLK 신호의 2 클록 사이클을 사용할 수 있다. 선택기 회로(306)는 비활성적인 L3CYCEN 신호에 응답하여, SCLK_O 신호를 CTC_E(321) 및 OTC_E(331)에 제공할 수 있다. 래치 회로(323)는 ICMD_E 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, ICMD_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(324)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, 회로 노드(329) 상의 래치 회로(323)로부터의 짝수 래치된 커맨드 신호(LCMD_E)를 제공할 수 있다. 래치 회로(333)는 IODT_E 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, IODT_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(334)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_O 신호에 응답하여, 회로 노드(339) 상의 래치 회로(333)로부터의 짝수 래치된 커맨드 신호(LODT_E)를 제공할 수 있다. 선택기 회로(306)는 비활성인 L3CYCEN 신호에 응답하여, SCLK_E 신호를 CTC_O(325) 및 OTC_O(335)에 제공할 수 있다. 래치 회로(327)는 ICMD_O 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, ICMD_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(328)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, 회로 노드(329) 상의 래치 회로(327)로부터의 홀수 래치된 커맨드 신호(LCMD_O)를 제공할 수 있다. 래치 회로(337)는 IODT_O 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, IODT_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(338)는 선택기 회로(306)로부터의 SCLK_E 신호에 응답하여, 회로 노드(339) 상의 래치 회로(337)로부터의 홀수 래치된 커맨드 신호(LODT_O)를 제공할 수 있다.
도 5는 본 개시물의 실시예에 따른, 도 3의 타이밍 회로의 동작 동안에, 다양한 신호의 타이밍도이다. 여기서, SCLK 신호의 사이클 0, 사이클 1, 사이클 2, 사이클 3은 각각, T0와 T1, T1과 T2, T2와 T3, T3과 T4 사이의 기간이다. SCLK_E 신호는 사이클 0 및 2에서 활성화되고, SCLK_O 신호는 사이클 1 및 3에서 활성화된다. 지연 회로(304)에 의해 제공된, SCLK_E 신호에 대한 DSCLK_E 신호의 지연은 D1이고, DSCLK_E 신호는 T0+D1 및 T2+D1에서 상승 에지를 가진다. 지연 회로(305)에 의해 제공된, SCLK_O 신호에 대한 DSCLK_O 신호의 지연은 D1이고, DSCLK_O 신호는 T1+D1 및 T3+D1에서 상승 에지를 가진다. 예를 들어, FF(322)는, DSCLK_E 신호의 다음 상승 에지가 시간 T2+D1에 있을 때까지, DSCLK_E 신호의 상승 에지에 응답하여, 시간 T0+D1에서 ICMD 신호를 래치할 수 있다. FF(322)는, T0+D1 및 T2+D1에서의 DSCLK_E 신호의 상승 에지에 각각 응답하여, TE0에서 상승 에지 및 TE1에서 하강 에지를 가진 ICMD_E 신호를 제공할 수 있다. 래치 회로(323)는 SCLK_O 신호의 다음 상승 에지가 시간 T3에 있을 때까지, SCLK_O 신호의 상승 에지에 응답하여, 시간 T1에서 ICMD_E 신호를 래치할 수 있다. 래치 회로(323)는, T1 및 T3에서의 SCLK_O 신호의 상승 에지에 각각 응답하여, TL0(가령, T1 이후)에서 상승 에지 및 TL1(가령, T3 이후)에서 하강 에지를 가진 LCMD 신호를 제공할 수 있다. 그러므로, CMD 신호가 비활성화되는 시간과 LCMD 신호가 비활성화되는 시간(TL1) 사이의 시간 기간은, 타이밍 회로(300)에서 CMD 신호의 시간 조절치인 3 클록 사이클보다 짧게 된다.
그러므로, 타이밍 회로(300)는 레이턴시 값에 응답하여, SCLK 신호의 클록 사이클의 수에 의해 표현된 시간을 조절할 수 있다. 래치 회로(323, 327, 333, 338) 및 스위치(324, 328, 334, 338)는 선택기 회로(306)로부터의 선택된 클록 신호의 비활성적인 레벨에 응답하여, 고임피던스 출력 신호를 제공할 수 있다.
도 6은 본 개시물의 실시예에 따른, 도 2의 타이밍 회로(600)의 블록도이다. 예를 들어, 타이밍 회로(600)는 도 2의 타이밍 회로(204)로 사용될 수 있다. 타이밍 회로(600)는, 디바이더 회로(301) 및 지연 회로(304 및 305)와 실질적으로 동일한 회로 구조를 가진 디바이더 회로(601) 및 지연 회로(604 및 605)를 포함할 수 있고, 디바이더 회로(601) 및 지연 회로(604 및 605)의 설명은 반복하지 않을 것이다. 타이밍 회로(600)는 커맨드 타이밍 회로(602) 및 ODT 타이밍 회로(603)를 포함할 수 있다. 커맨드 타이밍 회로(602)는 짝수 커맨드 타이밍 회로(CTC_E)(621) 및 홀수 커맨드 타이밍 회로(CTC_O)(625)를 포함할 수 있다. ODT 타임이 회로(603)는 짝수 ODT 타이밍 회로(OTC_E)(631) 및 홀수 ODT 타이밍 회로(OTC_O)(635)를 포함할 수 있다. CTC_E(621)는 DSCLK_E 신호에 응답하여, ICMD 신호를 래치할 수 있고, 짝수 내부 커맨드 신호(ICMD_E)를 더욱 제공할 수 있는 플립-플롭 회로(FF)(622)를 포함할 수 있다. CTC_O(625)는 DSCLK_O 신호에 응답하여, ICMD 신호를 래치할 수 있고, 홀수 내부 커맨드 신호(ICMD_O)를 더욱 제공할 수 있는 플립-플롭 회로(FF)(626)를 포함할 수 있다. OTC_E(631)는 DSCLK_E 신호에 응답하여, IODT 신호를 래치할 수 있고, 짝수 ODT 신호(IODT_E)를 더욱 제공할 수 있는 플립-플롭 회로(FF)(632)를 포함할 수 있다. OTC_O(635)는 DSCLK_O 신호에 응답하여, IODT 신호를 래치할 수 있고, 홀수 ODT 신호(IODT_O)를 더욱 제공할 수 있는 플립-플롭 회로(FF)(636)를 포함할 수 있다.
타이밍 회로(600)는 활성화된 L3CYCEN 신호(가령, 로직 하이 레벨)에 응답하여, 3-사이클-동작을 수행할 수 있고, 비활성화된 L3CYCEN 신호(가령, 로직 로우 레벨)에 응답하여, 2-사이클-동작을 더욱 수행할 수 있다. 3-사이클-동작에서, CMD 신호와 ODT 신호의 시간 조절은 타이밍 회로(600) 내의 SCLK 신호의 3 클록 사이클을 사용할 수 있다. 타이밍 회로(600)는 선택기 회로(629 및 639)에서, 도 2의 R/W QED 회로(213)으로부터의 L3CYCEN 신호를 수신할 수 있다. 커맨드 타이밍 회로(602)는 선택기 회로(629)를 포함할 수 있다. CTC_E(621)는 래치 회로(623) 및 스위치(624)를 포함할 수 있다. CTC_O(625)는 래치 회로(627) 및 스위치(628)를 포함할 수 있다. 선택기 회로(629)는, 활성화된 L3CYCEN 신호에 응답하여, ICMD_E 신호를 래치 회로(623)에 제공하고, ICMD_O 신호를 래치 회로(627)에 제공할 수 있다. 래치 회로(623)는 ICMD_E 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, SCLK_E 신호에 응답하여, ICMD_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(624)는 SCLK_E 신호에 응답하여, 래치 회로(623)로부터의 짝수 래치된 커맨드 신호(LCMD_E)를 제공할 수 있다. 래치 회로(627)는 ICMD_O 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, SCLK_O 신호에 응답하여, ICMD_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(628)는 SCLK_O 신호에 응답하여, 래치 회로(627)로부터의 홀수 래치된 커맨드 신호(LCMD_O)를 제공할 수 있다.
ODT 타이밍 회로(603)는 선택기 회로(639)를 포함할 수 있다. OTC_E(631)는 래치 회로(633) 및 스위치(634)를 포함할 수 있다. OTC_O(635)는 래치 회로(637) 및 스위치(638)를 포함할 수 있다. 선택기 회로(639)는, 활성화된 L3CYCEN 신호에 응답하여, IODT_E 신호를 래치 회로(633)에 제공하고, IODT_O 신호를 래치 회로(637)에 제공할 수 있다. 래치 회로(633)는 IODT_E 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, SCLK_E 신호에 응답하여, IODT_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(634)는 SCLK_E 신호에 응답하여, 래치 회로(633)로부터의 짝수 래치된 ODT 신호(LODT_E)를 제공할 수 있다. 래치 회로(637)는 IODT_O 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, SCLK_O 신호에 응답하여, IODT_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(638)는 SCLK_O 신호에 응답하여, 래치 회로(637)로부터의 홀수 래치된 ODT 신호(LODT_O)를 제공할 수 있다.
2-사이클-동작에서, CMD 신호와 ODT 신호의 시간 조절은 타이밍 회로(600) 내의 SCLK 신호의 2 클록 사이클을 사용할 수 있다. 선택기 회로(629)는 비활성화된 L3CYCEN 신호에 응답하여, ICMD_O 신호를 래치 회로(623)에 제공하고, ICMD_E 신호를 래치 회로(627)에 제공할 수 있다. 래치 회로(623)는 ICMD_O 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, SCLK_E 신호에 응답하여, ICMD_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(624)는 SCLK_E 신호에 응답하여, 래치 회로(623)로부터의 짝수 래치된 커맨드 신호(LCMD_E)를 제공할 수 있다. 래치 회로(627)는 ICMD_E 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, SCLK_O 신호에 응답하여, ICMD_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(628)는 SCLK_O 신호에 응답하여, 래치 회로(627)로부터의 홀수 래치된 커맨드 신호(LCMD_O)를 제공할 수 있다.
선택기 회로(639)는 비활성화된 L3CYCEN 신호에 응답하여, IODT_O 신호를 래치 회로(633)에 제공하고, IODT_E 신호를 래치 회로(637)에 제공할 수 있다. 래치 회로(633)는 IODT_O 신호 및 SCLK_E 신호를 수신할 수 있고, SCLK_E 신호에 응답하여, IODT_O 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(634)는 SCLK_E 신호에 응답하여, 래치 회로(633)로부터의 짝수 래치된 ODT 신호(LODT_E)를 제공할 수 있다. 래치 회로(637)는 IODT_E 신호 및 SCLK_O 신호를 수신할 수 있고, SCLK_O 신호에 응답하여, IODT_E 신호를 더욱 래치할 수 있다. 스위치(638)는 SCLK_O 신호에 응답하여, 래치 회로(637)로부터의 홀수 래치된 ODT 신호(LODT_O)를 제공할 수 있다.
그러므로, 타이밍 회로(600)는, 도 4 및 5의 타이밍도로 나타낸 타이밍을 가진, 시스템 클록 신호, 지연된 시스템 클록 신호, 내부 커맨드 신호 및 래치된 커맨드 신호를 가진, 3-사이클 동작 및 2 사이클 동작을 제공할 수 있다.
도 7은 본 개시물의 실시예에 따른, 도 1의 제어 회로의 블록도이다. 예를 들어, 제어 회로(700)는 클록 경로(103) 및 커맨드 경로(104)를 포함할 수 있는 도 1의 제어 회로(102)로 사용될 수 있다. 제어 회로(700)는 커맨드 경로 내의 타이밍 회로(704) 및 클록 경로(103)와 커맨드 경로(104) 중의 지연(DLL) 회로(707)를 포함할 수 있다. 클록 경로(103)는 도 2의 클록 입력 버퍼(201)와 같은 기능을 할 수 있는 클록 입력 버퍼(701)를 포함한다. SCLK 신호는 커맨드 경로(104) 상의 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702) 및 타이밍 회로(704) 및 클록 경로(103) 상의 AND 회로(705)에 제공될 수 있다.
DLL 회로(707)는 클록 경로(103) 상의 지연 라인(DLINE CLK)(709) 및 지연 제어(DLCTL) 회로(708)를 포함할 수 있다. SCLK 신호는, 리드 커맨드, 라이트 커맨드 또는 ODT 커맨드를 나타내는 CMDIN 신호에 응답하는 시스템 클록 활성화 신호(SCLKEN)에 응답하여 SCLK 신호를 제공할 수 있는, AND 회로(705)를 통해 클록 경로(103) 상의 지연 라인(DLINE CLK)(709)에 제공될 수 있다. 예를 들어, 지연 라인(709)은 듀티 사이클 제어기(DCC), 거친 지연 라인 및 미세 지연 라인을 포함하는 조절가능한 지연 라인일 수 있다. 지연 라인(709)의 조절가능한 지연은 DLCTL 회로(708)에 의해 제공되는 지연 제어 신호(DCTL)에 기초하여 조절될 수 있다. 지연 라인(709)은 클록 경로(103) 상의 SCLK 신호에 대하여 조절가능한 지연을 가진 DLL 클록 신호(DLLCLK)를 제공할 수 있다. DLCTL 회로(708)는, AND 회로(705)로부터의 SCLK 신호와 DLLCLK 신호에 응답하여, DCTL 신호를 제공할 수 있다. 지연 라인(709)은 커맨드 경로(104) 상의 dQ-활성화-지연(QED) 회로(713)에 DLLCLK 신호를 더욱 제공할 수 있다.
제어 회로 내의 커맨드 경로(104)는 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)를 포함한다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)는 커맨드 신호(CMDIN) 및 SCLK 신호를 수신할 수 있다. CMDIN 신호는, 리드 동작, 라이트 동작 또는 온-다이 터미네이션을 지시하는 것을 각각 나타내는 리드 커맨드, 라이트 커맨드 또는 온-다이 터미네이션(ODT) 커맨드와 같은 메모리 액세스 커맨드를 운반할 수 있다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)는 SCLK 신호에 응답하여, CMDIN 신호를 디코딩할 수 있다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)는 내부 커맨드 신호(ICMD)를 타이밍 회로(704)에 제공할 수 있고, 리드 동작 또는 라이트 동작을 나타내는 리드/라이트 선택 신호(RWSEL) 및 리드 커맨드, 라이트 커맨드 또는 ODT 커맨드를 나타내는 CMDIN 신호에 응답하여, SCLKEN 신호를 더욱 제공할 수 있다. ICMD 신호는 리드 신호 또는 라이트 신호일 수 있다. 타이밍 회로(704)는, ICMD 신호에 응답하여, 래치된 커맨드 신호(LCMD)를 제공할 수 있는데, 여기서, 타이밍 회로(704)는 ICMD 신호에 응답하여, LCMD 신호의 타이밍을 제어할 수 있다. 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)는 ODT 커맨드를 나타내는 CMDIN 신호에 응답하여, 내부 ODT 커맨드 신호(IODT)를 타이밍 회로(704)에 제공할 수 있다. IODT 신호는 온-다이 터미네이션 신호일 수 있다. 타이밍 회로(704)는 IODT 신호 및 이후에 자세히 기술될 수 있는 L3CYCEN 신호에 응답하여, 로컬 ODT 커맨드 신호(LODT)를 제공할 수 있다. 타이밍 회로(704)는 IODT 신호에 대하여 LODT 신호의 타이밍을 제어할 수 있다.
DLL 회로(707)는 커맨드 경로(104) 상의 타이밍 회로(704)에 연결된 지연 라인(DLINE R/W)(710) 및 지연 라인(DLINE ODT)(711)을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 지연 라인(710 및 711)의 각각은 DCC, 거친 지연 라인 및 미세 지연 라인을 포함하는 조절가능한 지연 라인일 수 있다. 일부 실시예에서, 지연 라인(710 및 711)은 지연 라인(709)과 실질적으로 동일한 회로 구조를 가질 수 있고, 지연 라인(209)과 실질적으로 동일한 지연을 제공할 수 있다. 타이밍 회로(704)로부터의 LCMD 신호는 지연 라인(710)으로 전송된다. 지연 라인(710)은 LCMD 신호에 응답하여, 그리고, SCLK 신호 및 DLLCLK 신호에 기초하는 DCTL 신호에 더욱 응답하여, 지연된 커맨드 신호(DCMD)를 제공할 수 있다. DCMD 신호는 디멀티플렉서(712)로 전송될 수 있다. 디멀티플렉서(712)는 리드 커맨드 또는 라이트 커맨드에 응답하여, 지연된 커맨드 리드 신호(DCMDR) 또는 지연된 커맨드 라이트 신호(DCMDW)를 제공할 수 있다. 타이밍 회로(704)로부터의 LODT 신호는 지연 라인(711)으로 전송된다. 지연 라인(711)은 LODT 신호에 응답하여, 그리고, SCLK 신호 및 DLLCLK 신호에 기초하는 DCTL 신호에 더욱 응답하여, 지연된 ODT 신호(DODT)를 제공할 수 있다.
커맨드 경로(104)는 QED 회로(713)를 더 포함한다. QED 회로(713)는 선택된 레이턴시(가령, CL 값 및/또는 CWL 값) 및 NT 값을 수신할 수 있다. 도 2의 레이턴시 및 NT 값에 대응되는 레이턴시 및 NT 값의 설명은 반복하지 않을 것이다. QED 회로(713)는 지연 라인(709)로부터 DLLCLK 신호를 더욱 수신할 수 있다. QED 회로(713)는 디멀티플렉서(712)로부터의 DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호나 지연 라인(711)으로부터의 DODT 신호를, 가령, NT 값 및 CL 값 또는 CWL 값을 사용하여, DCMDR 신호, DCMDW 신호 또는 DODT 신호의 레이턴시(가령, 시프팅)를 조절함에 의해, 지연 라인(709)로부터의 DLLCLK 신호와 동기화할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예에서, QED 회로(713)는 CL에 응답하여, 리드 커맨드를 위한 DCMDR 신호를 시프트할 수 있다. 일부 실시예에서, QED 회로(713)는 CWL에 응답하여, 라이트 커맨드를 위한 DCMDW 신호를 시프트할 수 있다. 일부 실시예에서, QED 회로(713)는 CWL에 응답하여, ODT 커맨드를 위한 DODT 신호를 시프트할 수 있다. 도 2의 조절 인자와 대응되는 NT 값에 기초하는 조절 인자의 설명은 반복하지 않을 것이다. 예를 들어, 리드 동작에서, (CL-NT)가 미리결정된 값보다 크다면, L3CYCEN 신호는 활성화될 수 있고, 타이밍 회로(704)는 나중에 기술될 3-사이클-동작을 수행할 수 있다. (CL-NT)가 미리결정된 값 이하라면, 타이밍 회로(704)는 나중에 기술될 2-사이클-동작을 수행할 수 있다. 동작시, CMDIN 신호에 의해 표현되는 리드 커맨드 또는 라이트 커맨드는 커맨드 경로(104)에 제공되어, ICMD 신호로서 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)를, LCMD 신호로서 타이밍 회로(704)를, DCMD 신호로서 지연 라인(710)을, DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호로서 디멀티플렉서(712)를, 및 QED 회로(713)를 통해 전파된다. CMDIN 신호에 의해 표현된 ODT 커맨드는 커맨드 경로(104)에 제공되어, IODT 신호로서 커맨드 입력 버퍼/디코더 회로(702)를, LODT 신호로서 타이밍 회로(704)를, DODT 신호로서 지연 라인(711)을, 및 QED 회로(713)를 통해 전파된다. QED 회로(713)는 DLLCLK 신호의 클록 사이클을, DCMDR 신호 또는 DCMDW 신호 또는 DODT 신호인 전파 커맨드 신호에 추가하여, 선택된 레이턴시에 응답하여, 커맨드 경로(104)에 대한 전파 지연을 야기하는, 시프트된 커맨드 리드 신호(SCMDR), 시프트된 커맨드 라이트 신호(SCMDW) 또는 SODT 신호를 제공한다.
도 1의 I/O 데이터 블록(134)은 도 7의 DQ 시스 회로(714)를 포함할 수 있다. DQ 시스 회로(714)는 DLLCLK 신호 및 SCMDR 신호, SCMDW 신호 또는 SODT 신호를 수신할 수 있다. 예를 들어, DQ 시스 회로(714)는, R/W 회로(130)를 통해, 도 1의 메모리 어레이(101)로부터 병렬로 리드된 복수의 비트의 데이터를 타이밍에 기반을 둔 적절한 순서로 한 세트의 직렬 데이터로 전환하는 병렬-직렬 컨버터를 포함할 수 있다. DQ 시스 회로(714)는 데이터를 데이터 경로 상의 데이터 큐(가령, DQx)로 제공할 수 있다.
본 발명이 어떤 선호되는 실시예와 예시의 맥락에서 기술되었더라도, 본 발명이 구체적으로 개시된 실시예를 넘어 다른 대안적인 실시예, 및/또는 본 발명의 사용법 및 다양한 수정예와 등가예까지 확장된다는 것은 기술 분야의 당업자에 의해 이해될 것이다. 또한, 본 발명의 범위 내에 있는 다른 수정예는 본 개시물에 기초하여, 기술 분야의 당업자에게 용이하게 자명해질 것이다. 또한, 구체적인 특징의 다양한 조합 또는 하위-조합 및 실시에의 양태가 이루어질 수 있고, 여전히 본 발명의 범위 내에 있을 수 있다는 것이 고려된다. 개시된 실시예의 다양한 특징 및 양태는 개시된 발명의 가변 모드를 형성하기 위해, 서로 조합되거나 치환될 수 있다는 것을 이해해야 한다. 그러므로, 본원에 개시된 본 발명의 적어도 일부의 범위는 상기 기술된, 특히 기술된 실시예에 의해 제한되어서는 아니된다.

Claims (25)

  1. 장치에 있어서,
    제어 회로를 포함하고, 상기 제어 회로는:
    메모리 커맨드와 연관된 커맨드 레이턴시를 수신하고, 상기 커맨드 레이턴시 및 지연 라인 클록 신호에 대한 시스템 클록 신호의 레이턴시를 미리 결정된 클록 값과 비교한 것에 기초하여, 선택 신호를 위한 클록 사이클의 수를 계산하도록 구성된 지연 회로; 및
    제1 및 제2 타이밍 회로에 연결되고, 상기 제1 타이밍 회로 또는 상기 제2 타이밍 회로의 선택을 나타내는 상기 선택 신호를 수신하도록 구성된 선택기 회로를 포함하고, 상기 선택 신호의 로직 레벨은 제1 지연된 클록 신호에 응답하는 상기 제1 타이밍 회로 또는 제2 지연된 클록 신호에 응답하는 상기 제2 타이밍 회로의 동작에서 상기 클록 사이클의 수를 나타내는, 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 지연 회로에 연결되고 지연된 커맨드 신호를 제공하도록 구성된 지연 라인을 더 포함하는, 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1 타이밍 회로는 상기 제1 지연된 클록 신호에 응답하여 제1 신호를 래치하도록 구성되고, 제1 및 제2 클록 신호 중 하나에 응답하여 제1 래치된 신호를 제공하도록 더 구성되고, 상기 제1 지연된 클록 신호는 상기 제1 클록 신호의 지연된 버전이고, 상기 제2 지연된 클록 신호는 상기 제2 클록 신호의 지연된 버전인, 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2 타이밍 회로는 상기 제2 지연된 클록 신호에 응답하여 상기 제1 신호를 래치하도록 구성되고, 상기 제1 및 제2 클록 신호 중 하나에 응답하여 제2 래치된 신호를 제공하도록 더 구성된, 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제2 타이밍 회로는 상기 제1 타이밍 회로에 병렬로 연결된, 장치.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 제1 클록 신호를 수신하도록 구성되고, 상기 제1 클록 신호에 적어도 부분적으로 응답하여 상기 제1 지연된 클록 신호를 제공하도록 더 구성된 제1 지연 회로; 및
    상기 제2 클록 신호를 수신하도록 구성되고, 상기 제2 클록 신호에 적어도 부분적으로 응답하여 상기 제2 지연된 클록 신호를 제공하도록 더 구성된 제2 지연 회로를 더 포함하는, 장치.
  7. 제3항에 있어서, 상기 제2 클록 신호는 상기 제1 클록 신호에 상보적인, 장치.
  8. 제3항에 있어서, 제3 클록 신호를 수신하도록 구성되고, 상기 제3 클록 신호의 주파수를 분할함으로써 상기 제1 및 제2 클록 신호를 제공하도록 더 구성된 디바이더 회로를 더 포함하는, 장치.
  9. 제3항에 있어서, 상기 제1 신호는 온-다이 터미네이션(ODT) 신호인, 장치.
  10. 장치에 있어서,
    제1 클록 신호에 응답하여 커맨드 신호를 래치하도록 구성된 제1 회로;
    제2 클록 신호에 응답하여 상기 커맨드 신호를 래치하도록 구성된 제2 회로 - 상기 제2 클록 신호는 상기 제1 클록 신호에 상보적임 -;
    제3 회로;
    제4 회로; 및
    선택기 회로를 포함하고,
    상기 선택기 회로는, 제1 사이클 동작에서, 상기 제3 회로가 제3 클록 신호에 응답하여 상기 제1 회로의 출력에 기초한 신호를 래치하게 하고, 상기 제4 회로가 상기 제3 클록 신호에 상보적인 제4 클록 신호에 응답하여 상기 제2 회로의 출력에 기초한 신호를 래치하게 하도록 구성되고, 상기 제3 클록 신호는 위상에서 상기 제1 클록 신호에 앞서고, 상기 제4 클록 신호는 위상에서 상기 제2 클록 신호에 앞서고,
    상기 선택기 회로는, 제2 사이클 동작에서, 상기 제3 회로가 상기 제3 클록 신호에 응답하여 상기 제2 회로의 출력에 기초한 신호를 래치하게 하고, 상기 제4 회로가 상기 제4 클록 신호에 응답하여 상기 제1 회로의 출력에 기초한 신호를 래치하게 하도록 더 구성된, 장치.
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 제10항에 있어서,
    상기 제3 및 제4 회로는 각각 상기 제3 및 제4 클록 신호를 수신하도록 구성되고,
    상기 선택기 회로는, 상기 제1 사이클 동작에서, 상기 제1 회로의 출력에 기초한 신호를 상기 제3 회로에 제공하고 상기 제2 회로의 출력에 기초한 신호를 상기 제4 회로에 제공하고, 상기 제2 사이클 동작에서, 상기 제1 회로의 출력에 기초한 신호를 상기 제4 회로에 제공하고 상기 제2 회로의 출력에 기초한 신호를 상기 제3 회로에 제공하도록 구성된, 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 선택기 회로는 사이클 제어 신호를 공급받고,
    상기 사이클 제어 신호는 상기 제1 사이클 동작을 지정하기 위해 제1 상태로 설정되고 상기 제2 사이클 동작을 지정하기 위해 제2 상태로 설정되는, 장치.
  18. 제16항에 있어서,
    상기 제3 클록 신호에 응답하여 상기 제1 클록 신호를 제공하도록 구성된 제1 지연 회로; 및
    상기 제4 클록 신호에 응답하여 상기 제2 클록 신호를 제공하도록 구성된 제2 지연 회로를 더 포함하는, 장치.
  19. 제18항에 있어서, 시스템 클록 신호에 응답하여 제3 및 제4 클록 신호를 제공하도록 구성된 주파수 디바이더 회로를 더 포함하고, 상기 제3 및 제4 클록 신호의 각각은 상기 시스템 클록 신호보다 주파수가 낮은, 장치.
  20. 제16항에 있어서, 래치된 커맨드 신호를 제공하기 위해 상기 제3 및 제4 회로에 연결된 출력 노드를 더 포함하는, 장치.
  21. 방법에 있어서,
    제1 클록 신호를 수신하는 단계;
    제2 클록 신호 및 상기 제2 클록 신호에 상보적인 신호인 제3 클록 신호를 제공하는 단계;
    메모리 커맨드와 연관된 커맨드 레이턴시 및 지연 라인 클록 신호에 대한 상기 제1 클록 신호의 레이턴시를 미리 결정된 클록 값과 비교하는 단계;
    상기 미리 결정된 클록 값과의 비교에 기초하여 선택 신호를 위한 클록 사이클의 수를 계산하는 단계;
    로직 레벨을 포함하는 선택 신호에 기초하여, 제1 신호 및 제2 신호를 래치하는 타이밍을 위한 선택된 신호로서 제공되도록 상기 제2 클록 신호 또는 상기 제3 클록 신호를 선택하는 단계 - 상기 로직 레벨은 상기 제2 클록 신호의 지연된 버전에 응답하여 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호를 래치하는 타이밍을 위한 상기 클록 사이클의 수를 나타냄 -; 및
    상기 선택된 신호에 따라 상기 제2 클록 신호 또는 상기 제3 클록 신호에 응답하여 상기 제2 신호를 래치하는 단계를 포함하는, 방법.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 제2 클록 신호에 응답하여 상기 제2 클록 신호의 지연된 버전을 제공하는 단계; 및
    상기 제2 신호를 제공하기 위해 상기 제2 클록 신호의 지연된 버전에 응답하여 커맨드 신호를 래치하는 단계를 더 포함하는, 방법.
  23. 제21항에 있어서, 상기 제2 클록 신호 및 상기 제3 클록 신호의 각각은 상기 제1 클록 신호의 주파수의 절반인 주파수를 갖는, 방법.
  24. 제21항에 있어서,
    상기 선택된 신호에 따라, 상기 제2 클록 신호 또는 상기 제3 클록 신호를 제4 클록 신호로서 제공하는 단계; 및
    상기 제4 클록 신호에 응답하여 상기 제2 신호를 래치하는 단계를 더 포함하는, 방법.
  25. 삭제
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7656745B2 (en) 2007-03-15 2010-02-02 Micron Technology, Inc. Circuit, system and method for controlling read latency
US9813067B2 (en) 2015-06-10 2017-11-07 Micron Technology, Inc. Clock signal and supply voltage variation tracking
US9865317B2 (en) 2016-04-26 2018-01-09 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit
US9997220B2 (en) 2016-08-22 2018-06-12 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path
US10236042B2 (en) * 2016-10-28 2019-03-19 Integrated Silicon Solution, Inc. Clocked commands timing adjustments method in synchronous semiconductor integrated circuits
US10068626B2 (en) 2016-10-28 2018-09-04 Integrated Silicon Solution, Inc. Clocked commands timing adjustments in synchronous semiconductor integrated circuits
US10224938B2 (en) 2017-07-26 2019-03-05 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations
US10403340B2 (en) 2018-02-07 2019-09-03 Micron Technology, Inc. Techniques for command synchronization in a memory device
US10607671B2 (en) * 2018-02-17 2020-03-31 Micron Technology, Inc. Timing circuit for command path in a memory device
US10395701B1 (en) * 2018-05-09 2019-08-27 Micron Technology, Inc. Memory device with a latching mechanism
US11658668B2 (en) 2018-06-14 2023-05-23 SK Hynix Inc. Semiconductor device
KR102608910B1 (ko) * 2018-06-14 2023-12-04 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
US10418090B1 (en) * 2018-06-21 2019-09-17 Micron Technology, Inc. Write signal launch circuitry for memory drive
KR102638792B1 (ko) * 2018-10-01 2024-02-21 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
US10839889B1 (en) * 2019-10-02 2020-11-17 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for providing clocks to data paths
CN110943756B (zh) * 2019-10-21 2021-04-13 西安空间无线电技术研究所 基于并行spi总线的行列矩阵式波控系统数据传输方法
US11081193B1 (en) 2020-06-16 2021-08-03 Sandisk Technologies Llc Inverter based delay chain for calibrating data signal to a clock
US11657866B2 (en) * 2021-08-27 2023-05-23 Micron Technology, Inc. QED shifter for a memory device
US11594265B1 (en) * 2021-09-03 2023-02-28 Micron Technology, Inc. Apparatus including parallel pipeline control and methods of manufacturing the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070002988A1 (en) 2005-06-30 2007-01-04 Yong-Mi Kim Semiconductor memory device
US20080054936A1 (en) 2006-08-29 2008-03-06 Elpida Memory, Inc. Output circuit of semiconductor device and semiconductor device including thereof
US20090016124A1 (en) 2007-07-12 2009-01-15 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device having on-die-termination device and operation method thereof
US20100177589A1 (en) 2008-05-22 2010-07-15 Elpida Memory Inc. Semiconductor device having latency counter

Family Cites Families (250)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4644248A (en) 1985-10-23 1987-02-17 Westinghouse Electric Corp. Line fault tolerant synchronous timing reference generator for static VAR generators
US5004933A (en) 1986-06-02 1991-04-02 Tektronix, Inc. Phase-selectable flip-flop
US5935253A (en) * 1991-10-17 1999-08-10 Intel Corporation Method and apparatus for powering down an integrated circuit having a core that operates at a speed greater than the bus frequency
US5852640A (en) 1995-06-26 1998-12-22 Kliza; Phillip S. Clock distribution apparatus with current sensed skew cancelling
US5610558A (en) 1995-11-03 1997-03-11 Motorola, Inc. Controlled tracking of oscillators in a circuit with multiple frequency sensitive elements
JP3183184B2 (ja) 1996-08-09 2001-07-03 日本電気株式会社 クロック同期型半導体記憶装置
US5946244A (en) 1997-03-05 1999-08-31 Micron Technology, Inc. Delay-locked loop with binary-coupled capacitor
US6173432B1 (en) 1997-06-20 2001-01-09 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for generating a sequence of clock signals
JP3251882B2 (ja) 1997-08-13 2002-01-28 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPH11110065A (ja) 1997-10-03 1999-04-23 Mitsubishi Electric Corp 内部クロック信号発生回路
JPH11316617A (ja) 1998-05-01 1999-11-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体回路装置
JP4036531B2 (ja) 1998-05-27 2008-01-23 富士通株式会社 半導体集積回路
US6327318B1 (en) 1998-06-30 2001-12-04 Mosaid Technologies Incorporated Process, voltage, temperature independent switched delay compensation scheme
US6459313B1 (en) 1998-09-18 2002-10-01 Lsi Logic Corporation IO power management: synchronously regulated output skew
JP3271591B2 (ja) 1998-09-30 2002-04-02 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JP3708729B2 (ja) 1998-11-18 2005-10-19 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP3973308B2 (ja) 1998-11-27 2007-09-12 富士通株式会社 セルフタイミング制御回路を内蔵する集積回路装置
KR100499623B1 (ko) 1998-12-24 2005-09-26 주식회사 하이닉스반도체 내부 명령신호 발생장치 및 그 방법
US6470060B1 (en) 1999-03-01 2002-10-22 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for generating a phase dependent control signal
JP2001023372A (ja) 1999-05-06 2001-01-26 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
KR100311974B1 (ko) 1999-06-15 2001-11-02 윤종용 동기타입 반도체 메모리 디바이스용 내부클럭 발생회로 및 내부클럭 발생방법
JP4190662B2 (ja) * 1999-06-18 2008-12-03 エルピーダメモリ株式会社 半導体装置及びタイミング制御回路
US6763416B1 (en) 1999-07-29 2004-07-13 Micron Technology, Inc. Capturing read data
US6275077B1 (en) 1999-08-31 2001-08-14 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for programmable adjustment of bus driver propagation times
JP2001118383A (ja) 1999-10-20 2001-04-27 Fujitsu Ltd リフレッシュを自動で行うダイナミックメモリ回路
JP4315552B2 (ja) 1999-12-24 2009-08-19 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
US6868504B1 (en) 2000-08-31 2005-03-15 Micron Technology, Inc. Interleaved delay line for phase locked and delay locked loops
JP2002124873A (ja) 2000-10-18 2002-04-26 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
KR100401490B1 (ko) 2000-10-31 2003-10-11 주식회사 하이닉스반도체 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치
US7061941B1 (en) * 2000-11-28 2006-06-13 Winbond Electronics Corporation America Data input and output circuits for multi-data rate operation
US6424592B1 (en) 2000-11-30 2002-07-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor integrated circuit having circuit for correcting data output timing
KR100490657B1 (ko) 2000-12-30 2005-05-24 주식회사 하이닉스반도체 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법
KR100578233B1 (ko) 2000-12-30 2006-05-12 주식회사 하이닉스반도체 동기식메모리장치의 데이터 입출력 가변제어장치
US6438060B1 (en) 2001-02-12 2002-08-20 Micron Technology, Inc. Method of reducing standby current during power down mode
DE10117382B4 (de) 2001-04-06 2006-04-06 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung und Sensorvorrichtung
US6675272B2 (en) * 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
US20020184577A1 (en) 2001-05-29 2002-12-05 James Chow Precision closed loop delay line for wide frequency data recovery
US7058799B2 (en) 2001-06-19 2006-06-06 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for clock domain crossing with integrated decode
KR100422572B1 (ko) 2001-06-30 2004-03-12 주식회사 하이닉스반도체 레지스터 제어 지연고정루프 및 그를 구비한 반도체 소자
US6556489B2 (en) 2001-08-06 2003-04-29 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for determining digital delay line entry point
JP4694067B2 (ja) 2001-09-28 2011-06-01 富士通セミコンダクター株式会社 半導体記憶装置
DE60237301D1 (de) 2001-10-22 2010-09-23 Rambus Inc Phaseneinstellvorrichtung und verfahren für ein speicherbaustein-signalisierungssystem
JP2003228979A (ja) 2002-02-05 2003-08-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6988218B2 (en) 2002-02-11 2006-01-17 Micron Technology, Inc. System and method for power saving delay locked loop control by selectively locking delay interval
DE10208716B4 (de) 2002-02-28 2009-03-19 Qimonda Ag Steuerschaltung für ein S-DRAM
US6759881B2 (en) 2002-03-22 2004-07-06 Rambus Inc. System with phase jumping locked loop circuit
US7135903B2 (en) 2002-09-03 2006-11-14 Rambus Inc. Phase jumping locked loop circuit
KR100459709B1 (ko) 2002-04-03 2004-12-04 삼성전자주식회사 여유 있는 셋업 앤드 홀드 타임 마진을 가지는 병렬-직렬송신 회로
US7319728B2 (en) 2002-05-16 2008-01-15 Micron Technology, Inc. Delay locked loop with frequency control
KR100507875B1 (ko) 2002-06-28 2005-08-18 주식회사 하이닉스반도체 지연고정루프에서의 클럭분주기 및 클럭분주방법
DE10229460B3 (de) 2002-07-01 2004-01-29 Texas Instruments Deutschland Gmbh Spannungsfolger und ASK-Demodulator mit einem Spannungsfolger
US6885252B2 (en) 2002-07-09 2005-04-26 Mediatex Inc. Clock recovery circuit capable of automatically adjusting frequency range of a VCO
US7298667B2 (en) 2002-07-10 2007-11-20 Samsung Electronic Co., Ltd. Latency control circuit and method of latency control
JP2004046686A (ja) 2002-07-15 2004-02-12 Renesas Technology Corp クロック発生回路
US6744285B2 (en) 2002-08-08 2004-06-01 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for synchronously transferring data across multiple clock domains
US7082546B2 (en) 2002-08-12 2006-07-25 Broadcom Corporation Low-speed DLL employing a digital phase interpolator based upon a high-speed clock
US6687185B1 (en) 2002-08-29 2004-02-03 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for setting and compensating read latency in a high speed DRAM
US7269754B2 (en) 2002-12-30 2007-09-11 Intel Corporation Method and apparatus for flexible and programmable clock crossing control with dynamic compensation
US7336752B2 (en) 2002-12-31 2008-02-26 Mosaid Technologies Inc. Wide frequency range delay locked loop
US6865135B2 (en) * 2003-03-12 2005-03-08 Micron Technology, Inc. Multi-frequency synchronizing clock signal generator
US6762974B1 (en) 2003-03-18 2004-07-13 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for establishing and maintaining desired read latency in high-speed DRAM
DE10319158A1 (de) 2003-04-29 2004-11-25 Infineon Technologies Ag Vorrichtung zum flexiblen Deaktivieren von Wortleitungen von dynamischen Speicherbausteinen und Verfahren hierfür
KR100522433B1 (ko) 2003-04-29 2005-10-20 주식회사 하이닉스반도체 도메인 크로싱 회로
US8374075B2 (en) 2006-06-27 2013-02-12 John W. Bogdan Phase and frequency recovery techniques
JP3859624B2 (ja) 2003-07-31 2006-12-20 エルピーダメモリ株式会社 遅延回路と遅延同期ループ装置
KR101090573B1 (ko) 2003-07-31 2011-12-08 주식회사 아도반테스토 클록 환승 장치 및 시험 장치
US6930932B2 (en) 2003-08-27 2005-08-16 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Data signal reception latch control using clock aligned relative to strobe signal
TWI220351B (en) 2003-09-09 2004-08-11 Sunplus Technology Co Ltd Automatic threshold control circuit and a signal transform circuit and method apply thereof
JP4326294B2 (ja) 2003-09-16 2009-09-02 株式会社ルネサステクノロジ 半導体記憶装置
JP2005101771A (ja) * 2003-09-22 2005-04-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd クロック乗せ替え回路および方法
US6839288B1 (en) 2003-11-12 2005-01-04 Infineon Technologies Ag Latch scheme with invalid command detector
JP4152308B2 (ja) * 2003-12-08 2008-09-17 エルピーダメモリ株式会社 半導体集積回路装置
TWI289388B (en) 2003-12-12 2007-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Command line interface system and the method of control
KR100515068B1 (ko) * 2003-12-19 2005-09-16 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자의 온 다이 터미네이션을 위한 회로 및방법
US7111185B2 (en) 2003-12-23 2006-09-19 Micron Technology, Inc. Synchronization device with delay line control circuit to control amount of delay added to input signal and tuning elements to receive signal form delay circuit
KR100521049B1 (ko) 2003-12-30 2005-10-11 주식회사 하이닉스반도체 더블 데이터 레이트 싱크로너스 디램의 쓰기 회로
US7109760B1 (en) 2004-01-05 2006-09-19 Integrated Device Technology, Inc. Delay-locked loop (DLL) integrated circuits that support efficient phase locking of clock signals having non-unity duty cycles
TWI267871B (en) 2004-01-10 2006-12-01 Hynix Semiconductor Inc Domain crossing device
KR100557580B1 (ko) 2004-02-23 2006-03-03 주식회사 하이닉스반도체 클럭 듀티비 보정 회로
DE102004025900A1 (de) 2004-05-27 2005-12-22 Infineon Technologies Ag Leselatenz-Steuerschaltung
US7268605B2 (en) * 2004-06-14 2007-09-11 Rambus, Inc. Technique for operating a delay circuit
US7660187B2 (en) 2004-08-04 2010-02-09 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for initialization of read latency tracking circuit in high-speed DRAM
US7065001B2 (en) 2004-08-04 2006-06-20 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for initialization of read latency tracking circuit in high-speed DRAM
US7221201B2 (en) 2004-08-11 2007-05-22 Micron Technology, Inc. Fast-locking digital phase locked loop
US7084680B2 (en) * 2004-08-31 2006-08-01 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for timing domain crossing
US7157948B2 (en) 2004-09-10 2007-01-02 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for calibrating a delay line
DE102004044721B4 (de) 2004-09-15 2013-11-14 Qimonda Ag Selbsttest für die Phasenlage des Datenleseclocksignals DQS
US20060062341A1 (en) 2004-09-20 2006-03-23 Edmondson John H Fast-lock clock-data recovery system
JP4762520B2 (ja) 2004-09-28 2011-08-31 富士通セミコンダクター株式会社 半導体集積回路
WO2006038829A1 (en) 2004-09-29 2006-04-13 Intel Corporation Iterative decoding with buffering and restoring intermediate decoder states
US7046060B1 (en) 2004-10-27 2006-05-16 Infineon Technologies, Ag Method and apparatus compensating for frequency drift in a delay locked loop
DE102004052268B4 (de) 2004-10-27 2016-03-24 Polaris Innovations Ltd. Halbleiterspeichersystem und Verfahren zur Datenübertragung zwischen einem Speichercontroller und einem Halbleiterspeicher
KR100624296B1 (ko) 2004-11-08 2006-09-19 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자
US7826579B2 (en) 2005-02-11 2010-11-02 International Business Machines Corporation Method and apparatus for generating synchronization signals for synchronizing multiple chips in a system
US7209396B2 (en) 2005-02-28 2007-04-24 Infineon Technologies Ag Data strobe synchronization for DRAM devices
US7428284B2 (en) 2005-03-14 2008-09-23 Micron Technology, Inc. Phase detector and method providing rapid locking of delay-lock loops
US7280417B2 (en) 2005-04-26 2007-10-09 Micron Technology, Inc. System and method for capturing data signals using a data strobe signal
US7453055B2 (en) 2005-04-28 2008-11-18 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Image reading apparatus
KR100673904B1 (ko) 2005-04-30 2007-01-25 주식회사 하이닉스반도체 반도체메모리소자
KR100755371B1 (ko) * 2005-05-03 2007-09-04 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 스트로우브 신호발생방법
US7170819B2 (en) * 2005-05-04 2007-01-30 Infineon Technologies Ag Integrated semiconductor memory device for synchronizing a signal with a clock signal
US7355464B2 (en) 2005-05-09 2008-04-08 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for controlling a delay- or phase-locked loop as a function of loop frequency
US7471130B2 (en) 2005-05-19 2008-12-30 Micron Technology, Inc. Graduated delay line for increased clock skew correction circuit operating range
US7187599B2 (en) 2005-05-25 2007-03-06 Infineon Technologies North America Corp. Integrated circuit chip having a first delay circuit trimmed via a second delay circuit
US7158443B2 (en) 2005-06-01 2007-01-02 Micron Technology, Inc. Delay-lock loop and method adapting itself to operate over a wide frequency range
US9794096B2 (en) 2005-06-27 2017-10-17 John W. Bogdan Direct synchronization of synthesized clock
US20070033427A1 (en) 2005-07-19 2007-02-08 International Business Machines Corporation Power efficient cycle stealing
KR100703976B1 (ko) 2005-08-29 2007-04-06 삼성전자주식회사 동기식 메모리 장치
US7279946B2 (en) 2005-08-30 2007-10-09 Infineon Technologies Ag Clock controller with integrated DLL and DCC
JP5086572B2 (ja) * 2005-09-29 2012-11-28 エスケーハイニックス株式会社 遅延固定ループのクロックドライバー制御装置
US7451338B2 (en) 2005-09-30 2008-11-11 Intel Corporation Clock domain crossing
US7227809B2 (en) 2005-10-14 2007-06-05 Micron Technology, Inc. Clock generator having a delay locked loop and duty cycle correction circuit in a parallel configuration
KR100732194B1 (ko) 2005-10-17 2007-06-27 삼성전자주식회사 메모리 모듈과 메모리 시스템 및 그 제어방법
JP4828203B2 (ja) * 2005-10-20 2011-11-30 エルピーダメモリ株式会社 同期型半導体記憶装置
JP4524662B2 (ja) * 2005-10-21 2010-08-18 エルピーダメモリ株式会社 半導体メモリチップ
JP2007122807A (ja) 2005-10-27 2007-05-17 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置及びその調整方法
US7609584B2 (en) 2005-11-19 2009-10-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Latency control circuit and method thereof and an auto-precharge control circuit and method thereof
US7355920B2 (en) 2006-02-16 2008-04-08 Micron Technology, Inc. Write latency tracking using a delay lock loop in a synchronous DRAM
US7698589B2 (en) 2006-03-21 2010-04-13 Mediatek Inc. Memory controller and device with data strobe calibration
KR100822578B1 (ko) 2006-04-18 2008-04-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 쓰기 장치
US7970090B1 (en) 2006-04-18 2011-06-28 Xilinx, Inc. Method and apparatus for a self-synchronizing system
KR100805004B1 (ko) 2006-06-15 2008-02-20 주식회사 하이닉스반도체 조절 가능한 프리앰블 값에 기초하여 데이터 스트로브신호를 발생하는 데이터 스트로브 신호 발생기 및 이를포함하는 반도체 메모리 장치
KR100811263B1 (ko) 2006-06-29 2008-03-07 주식회사 하이닉스반도체 듀티사이클 보정회로 및 이를 이용한 지연고정루프 회로
KR100746229B1 (ko) 2006-07-07 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치
KR100752671B1 (ko) 2006-09-06 2007-08-29 삼성전자주식회사 M 행 n 열의 레이턴시 래치들을 이용하는 레이턴시 신호생성기 및 레이턴시 신호 생성 방법
KR100818099B1 (ko) 2006-09-29 2008-03-31 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력 제어 회로 및 데이터 출력 제어 방법
KR100808053B1 (ko) 2006-09-29 2008-02-28 주식회사 하이닉스반도체 메모리장치의 딜레이 선택회로.
US20080082707A1 (en) 2006-09-29 2008-04-03 Synfora, Inc. Non-blocking bus controller for a pipelined, variable latency, hierarchical bus with point-to-point first-in first-out ordering
US7671648B2 (en) 2006-10-27 2010-03-02 Micron Technology, Inc. System and method for an accuracy-enhanced DLL during a measure initialization mode
US8045406B2 (en) * 2006-10-31 2011-10-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Latency circuit using division method related to CAS latency and semiconductor memory device
KR100832007B1 (ko) 2006-10-31 2008-05-26 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법
KR100834393B1 (ko) 2006-10-31 2008-06-04 주식회사 하이닉스반도체 클럭 데이터 복원장치.
US7590008B1 (en) 2006-11-06 2009-09-15 Altera Corporation PVT compensated auto-calibration scheme for DDR3
US7593273B2 (en) 2006-11-06 2009-09-22 Altera Corporation Read-leveling implementations for DDR3 applications on an FPGA
US7975162B2 (en) 2006-11-28 2011-07-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for aligning input data in semiconductor memory device
US20080137471A1 (en) 2006-12-07 2008-06-12 Josef Schnell Memory with clock distribution options
JP4297159B2 (ja) 2006-12-08 2009-07-15 ソニー株式会社 フリップフロップおよび半導体集積回路
US7541851B2 (en) 2006-12-11 2009-06-02 Micron Technology, Inc. Control of a variable delay line using line entry point to modify line power supply voltage
US7716510B2 (en) 2006-12-19 2010-05-11 Micron Technology, Inc. Timing synchronization circuit with loop counter
US7459949B2 (en) 2007-01-30 2008-12-02 Mosaid Technologies Incorporated Phase detector circuit and method therefor
KR100866958B1 (ko) 2007-02-08 2008-11-05 삼성전자주식회사 고속 dram의 정확한 독출 레이턴시를 제어하는 방법 및장치
US7443216B2 (en) 2007-02-20 2008-10-28 Micron Technology, Inc. Trimmable delay locked loop circuitry with improved initialization characteristics
KR100871704B1 (ko) * 2007-02-27 2008-12-05 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 온다이 터미네이션 회로, 그의 제어방법 및 odt 동기 버퍼
US7656745B2 (en) 2007-03-15 2010-02-02 Micron Technology, Inc. Circuit, system and method for controlling read latency
KR101018706B1 (ko) 2007-03-29 2011-03-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법
KR100920830B1 (ko) 2007-04-11 2009-10-08 주식회사 하이닉스반도체 라이트 제어 신호 생성 회로 및 이를 이용하는 반도체메모리 장치 및 그의 동작 방법
US7643334B1 (en) 2007-04-26 2010-01-05 Super Talent Electronics, Inc. High-speed controller for phase-change memory peripheral device
JP2009020932A (ja) 2007-07-10 2009-01-29 Elpida Memory Inc レイテンシカウンタ及びこれを備える半導体記憶装置、並びに、データ処理システム
US7913103B2 (en) 2007-08-31 2011-03-22 Globalfoundries Inc. Method and apparatus for clock cycle stealing
US7885365B2 (en) 2007-08-31 2011-02-08 International Business Machines Corporation Low-power, low-area high-speed receiver architecture
US8116415B2 (en) 2007-10-02 2012-02-14 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit, communication apparatus, information playback apparatus, image display apparatus, electronic apparatus, electronic control apparatus and mobile apparatus
TWI351181B (en) 2007-12-26 2011-10-21 Altek Corp Serial/parallel conversion apparatus and method thereof
KR20090074969A (ko) 2008-01-03 2009-07-08 삼성전자주식회사 레이턴시를 제어하는 반도체 메모리 장치
TWI388123B (zh) 2008-02-28 2013-03-01 Japan Display West Inc 相位偵測器,相位比較器及時脈同步裝置
JP4438877B2 (ja) 2008-03-12 2010-03-24 ソニー株式会社 通信システム、受信装置、および受信方法
GB0805812D0 (en) 2008-03-31 2008-04-30 Cambridge Silicon Radio Ltd Phase locked loop modulation
US7715272B2 (en) * 2008-05-22 2010-05-11 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device having latency counter
US8754683B2 (en) 2008-06-18 2014-06-17 Micron Technology, Inc. Locked-loop quiescence apparatus, systems, and methods
KR100936806B1 (ko) 2008-07-03 2010-01-14 주식회사 하이닉스반도체 도메인 크로싱 회로 및 방법
JP2010056888A (ja) 2008-08-28 2010-03-11 Elpida Memory Inc 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法
US8141024B2 (en) * 2008-09-04 2012-03-20 Synopsys, Inc. Temporally-assisted resource sharing in electronic systems
US8171335B2 (en) 2008-09-16 2012-05-01 Mediatek Inc. Clock timing calibration circuit and clock timing calibration method for calibrating phase difference between different clock signals and related analog-to-digital conversion system using the same
US7876640B2 (en) 2008-09-23 2011-01-25 Micron Technology, Inc. Control voltage tracking circuits, methods for recording a control voltage for a clock synchronization circuit and methods for setting a voltage controlled delay
JPWO2010035309A1 (ja) 2008-09-24 2012-02-16 株式会社アドバンテスト 遅延回路およびそれを用いたタイミング発生器および試験装置
US7872924B2 (en) 2008-10-28 2011-01-18 Micron Technology, Inc. Multi-phase duty-cycle corrected clock signal generator and memory having same
KR20100055105A (ko) 2008-11-17 2010-05-26 삼성전자주식회사 상 변화 메모리 장치
JP2010123164A (ja) 2008-11-18 2010-06-03 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置及びその制御方法
US7715260B1 (en) 2008-12-01 2010-05-11 United Microelectronics Corp. Operating voltage tuning method for static random access memory
KR101050404B1 (ko) * 2008-12-04 2011-07-19 주식회사 하이닉스반도체 파이프 래치 회로와 그의 구동 방법
CN101752009B (zh) 2008-12-16 2013-04-17 联华电子股份有限公司 静态随机存取存储器的操作电压的调整方法
US8013654B1 (en) * 2008-12-17 2011-09-06 Mediatek Inc. Clock generator, pulse generator utilizing the clock generator, and methods thereof
JP2010152968A (ja) 2008-12-25 2010-07-08 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置
US8281101B2 (en) 2008-12-27 2012-10-02 Intel Corporation Dynamic random access memory with shadow writes
KR100985410B1 (ko) 2008-12-30 2010-10-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치
US7928782B2 (en) 2009-01-28 2011-04-19 Micron Technology, Inc. Digital locked loops and methods with configurable operating parameters
JP2010182350A (ja) 2009-02-03 2010-08-19 Renesas Electronics Corp 半導体記憶装置
JP2010192030A (ja) 2009-02-17 2010-09-02 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置及びこれを備えるメモリモジュール、並びに、データ処理システム
JP2010192031A (ja) 2009-02-17 2010-09-02 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置及びこれを備えるメモリモジュール、並びに、データ処理システム
US7948817B2 (en) * 2009-02-27 2011-05-24 International Business Machines Corporation Advanced memory device having reduced power and improved performance
KR20100102817A (ko) 2009-03-12 2010-09-27 삼성전자주식회사 반도체 장치의 콘트롤 신호 구동장치
JP2010219751A (ja) 2009-03-16 2010-09-30 Elpida Memory Inc 半導体装置
US8144529B2 (en) 2009-03-31 2012-03-27 Intel Corporation System and method for delay locked loop relock mode
US7969813B2 (en) 2009-04-01 2011-06-28 Micron Technology, Inc. Write command and write data timing circuit and methods for timing the same
JP5197485B2 (ja) * 2009-05-22 2013-05-15 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Pll回路
JP2011009922A (ja) 2009-06-24 2011-01-13 Elpida Memory Inc Dll回路及びこれを備える半導体装置
US8004884B2 (en) 2009-07-31 2011-08-23 International Business Machines Corporation Iterative write pausing techniques to improve read latency of memory systems
KR101585213B1 (ko) 2009-08-18 2016-01-13 삼성전자주식회사 라이트 레벨링 동작을 수행하기 위한 메모리 장치의 제어 방법, 메모리 장치의 라이트 레벨링 방법, 및 라이트 레벨링 동작을 수행하는 메모리 컨트롤러, 메모리 장치, 및 메모리 시스템
US8307270B2 (en) 2009-09-03 2012-11-06 International Business Machines Corporation Advanced memory device having improved performance, reduced power and increased reliability
JP2011060364A (ja) 2009-09-08 2011-03-24 Elpida Memory Inc クロック生成回路及びこれを備える半導体装置並びにデータ処理システム
JP2011061457A (ja) 2009-09-09 2011-03-24 Elpida Memory Inc クロック生成回路及びこれを備える半導体装置並びにデータ処理システム
KR101030275B1 (ko) 2009-10-30 2011-04-20 주식회사 하이닉스반도체 듀티 보정 회로 및 이를 포함하는 클럭 보정 회로
KR20110052941A (ko) 2009-11-13 2011-05-19 삼성전자주식회사 어디티브 레이턴시를 가지는 반도체 장치
KR101094402B1 (ko) 2009-12-29 2011-12-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치 및 반도체 장치를 포함하는 반도체 시스템
KR101043722B1 (ko) 2010-02-04 2011-06-27 주식회사 하이닉스반도체 레이턴시 제어회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리장치
US8291126B2 (en) 2010-03-23 2012-10-16 Spansion Llc Variable read latency on a serial memory bus
US8560796B2 (en) 2010-03-29 2013-10-15 Freescale Semiconductor, Inc. Scheduling memory access requests using predicted memory timing and state information
US8433028B2 (en) 2010-06-07 2013-04-30 Silicon Laboratories Inc. Latency locked loop circuit for driving a buffer circuit
US8179174B2 (en) 2010-06-15 2012-05-15 Mstar Semiconductor, Inc. Fast phase locking system for automatically calibrated fractional-N PLL
US8522067B2 (en) 2010-06-17 2013-08-27 Stmicroelectronics, Inc. Variable latency interface for read/write channels
TWI414207B (zh) 2010-07-16 2013-11-01 Macroblock Inc 串列控制器與串列雙向控制器
US9098438B2 (en) 2010-09-30 2015-08-04 Texas Instruments Incorporated Synchronized voltage scaling and device calibration
US8645637B2 (en) 2010-11-16 2014-02-04 Micron Technology, Inc. Interruption of write memory operations to provide faster read access in a serial interface memory
KR101179462B1 (ko) * 2010-11-30 2012-09-07 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그를 포함하는 반도체 메모리 시스템
JP5642524B2 (ja) 2010-12-13 2014-12-17 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. 半導体装置
KR101201872B1 (ko) 2011-02-22 2012-11-15 에스케이하이닉스 주식회사 위상 제어 회로
US8984320B2 (en) 2011-03-29 2015-03-17 Micron Technology, Inc. Command paths, apparatuses and methods for providing a command to a data block
US8509011B2 (en) 2011-04-25 2013-08-13 Micron Technology, Inc. Command paths, apparatuses, memories, and methods for providing internal commands to a data path
US8749313B2 (en) 2011-06-03 2014-06-10 St-Ericsson Sa Correction of low accuracy clock
US8552783B2 (en) 2011-06-10 2013-10-08 International Business Machines Corporation Programmable delay generator and cascaded interpolator
US8368445B2 (en) 2011-07-01 2013-02-05 Faraday Technology Corp. Delay-locked loop
US8643409B2 (en) 2011-07-01 2014-02-04 Rambus Inc. Wide-range clock multiplier
FR2978258B1 (fr) 2011-07-21 2013-08-30 Inside Secure Procede et circuit d'ajustement d'une frequence d'horloge
KR101839892B1 (ko) 2011-11-29 2018-03-19 에스케이하이닉스 주식회사 파이프 래치 제어회로 및 이를 활용한 반도체 집적회로
JP2013118033A (ja) 2011-12-05 2013-06-13 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9876491B2 (en) 2011-12-15 2018-01-23 Intel Corporation Apparatus, system, and method for re-synthesizing a clock signal
US8788896B2 (en) 2012-01-11 2014-07-22 Lsi Corporation Scan chain lockup latch with data input control responsive to scan enable signal
US8552776B2 (en) 2012-02-01 2013-10-08 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for altering a forward path delay of a signal path
JP2013222997A (ja) 2012-04-13 2013-10-28 Ps4 Luxco S A R L 半導体装置
US9166579B2 (en) 2012-06-01 2015-10-20 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses for shifting data signals to match command signal delay
US8717078B2 (en) 2012-06-13 2014-05-06 Arm Limited Sequential latching device with elements to increase hold times on the diagnostic data path
US9054675B2 (en) 2012-06-22 2015-06-09 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting a minimum forward path delay of a signal path
US8536915B1 (en) 2012-07-02 2013-09-17 Qualcomm Incorporated Low-noise and low-reference spur frequency multiplying delay lock-loop
US9001594B2 (en) 2012-07-06 2015-04-07 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting a path delay of a command path
US9329623B2 (en) 2012-08-22 2016-05-03 Micron Technology, Inc. Apparatuses, integrated circuits, and methods for synchronizing data signals with a command signal
US8913448B2 (en) 2012-10-25 2014-12-16 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for capturing data in a memory
US8780655B1 (en) 2012-12-24 2014-07-15 Arm Limited Method and apparatus for aligning a clock signal and a data strobe signal in a memory system
KR102109518B1 (ko) * 2013-03-29 2020-05-12 삼성전자주식회사 지연동기회로를 가지는 반도체 메모리 장치 및 그에 따른 동작 제어방법
US9443565B2 (en) 2013-03-29 2016-09-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device with a delay locked loop circuit and a method for controlling an operation thereof
US9293986B2 (en) 2013-05-17 2016-03-22 Cirrus Logic, Inc. Reducing kickback current to power supply during charge pump mode transitions
US9053815B2 (en) 2013-05-28 2015-06-09 Nanya Technology Corporation Circuit in dynamic random access memory devices
JP2015076711A (ja) 2013-10-08 2015-04-20 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置
EP2884658A1 (en) 2013-12-16 2015-06-17 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (publ) Oscillator circuit
US9508417B2 (en) 2014-02-20 2016-11-29 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses for controlling timing paths and latency based on a loop delay
KR20150106092A (ko) * 2014-03-11 2015-09-21 에스케이하이닉스 주식회사 레이턴시 제어 회로 및 이를 이용하는 반도체 장치
KR102001691B1 (ko) 2014-03-13 2019-07-18 에스케이하이닉스 주식회사 지연 고정 루프
US9508409B2 (en) 2014-04-16 2016-11-29 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for implementing masked write commands
US9530473B2 (en) 2014-05-22 2016-12-27 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for timing provision of a command to input circuitry
US9413364B2 (en) 2014-07-09 2016-08-09 Intel Corporation Apparatus and method for clock synchronization for inter-die synchronized data transfer
US9531363B2 (en) 2015-04-28 2016-12-27 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses including command latency control circuit
US9813067B2 (en) 2015-06-10 2017-11-07 Micron Technology, Inc. Clock signal and supply voltage variation tracking
DE102015216479A1 (de) 2015-08-28 2017-03-02 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Sensorspuleninduktivität
US9865317B2 (en) 2016-04-26 2018-01-09 Micron Technology, Inc. Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit
US9601170B1 (en) 2016-04-26 2017-03-21 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting a delay of a command signal path
JP6906911B2 (ja) * 2016-08-18 2021-07-21 シナプティクス・ジャパン合同会社 半導体装置、データ伝送システム及び半導体装置の動作方法
US9997220B2 (en) 2016-08-22 2018-06-12 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path
US10241537B2 (en) 2017-06-14 2019-03-26 Apple Inc. Digital on-chip duty cycle monitoring device
US10224938B2 (en) 2017-07-26 2019-03-05 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations
US11619719B2 (en) 2018-02-01 2023-04-04 Anacapa Semiconductor, Inc. Time coherent network
US10911171B2 (en) 2018-02-01 2021-02-02 Anacapa Semiconductor, Inc. High precision multi-chip clock synchronization
US11480514B2 (en) 2018-05-25 2022-10-25 Anacapa Semiconductor, Inc. Fluorescence lifetime imaging (FLIM) and flow cytometry applications for a time synchronized sensor network

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070002988A1 (en) 2005-06-30 2007-01-04 Yong-Mi Kim Semiconductor memory device
US20080054936A1 (en) 2006-08-29 2008-03-06 Elpida Memory, Inc. Output circuit of semiconductor device and semiconductor device including thereof
US20090016124A1 (en) 2007-07-12 2009-01-15 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device having on-die-termination device and operation method thereof
US20100177589A1 (en) 2008-05-22 2010-07-15 Elpida Memory Inc. Semiconductor device having latency counter

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