JP4297159B2 - フリップフロップおよび半導体集積回路 - Google Patents
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Description
111〜114、121 クロックドインバータ
131 インバータ
132 クロックドインバータ
133、134 NANDゲート
141、142 トランスミッションゲート
151、152 インバータ
153、154 NANDゲート
161 インバータ
171 NANDゲート
172 インバータ
181、183 インバータ
182 NORゲート
191、193 NORゲート
192、194 インバータ
201 インバータ
211 クロックドインバータ
212 トランスミッションゲート
261 インバータ
810 MTCMOSフリップフロップ
820 MTCMOSスイッチ
890 MTCMOS制御回路
910 MTCMOS機能ブロック
920 非MTCMOS機能ブロック
931 MTCMOSスイッチ
Claims (9)
- スリープ信号がアクティブでない状態においては第1の状態と第2の状態とを繰り返すクロック信号を出力し、前記スリープ信号がアクティブな状態においては前記クロック信号を前記第1の状態に固定するクロック供給回路と、
前記クロック信号が前記第1の状態を示す間に入力信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第2の状態を示す間は前記入力信号を保持する第1の保持回路と、
前記クロック信号が前記第2の状態を示す間に前記第1の保持回路から出力された第1の信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第1の状態を示す間は前記第1の信号を保持する第2の保持回路と、
ホールド信号がアクティブな状態においては前記第2の保持回路から出力された第2の信号を前記入力信号として供給し、前記ホールド信号がアクティブでない状態においては外部からの信号を前記入力信号として供給する入力切替回路と、
電源供給制御信号がアクティブな状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給し、前記電源供給制御信号がアクティブでない状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給しないように制御する電源供給制御回路と
を具備し、
少なくとも前記スリープ信号がアクティブな状態においてのみ前記電源供給制御信号がアクティブでない状態に設定され、少なくともホールド信号がアクティブな状態においてのみ前記スリープ信号がアクティブな状態に設定されるフリップフロップ。 - 前記電源供給制御回路は、MTCMOSスイッチであることを特徴とする請求項1記載のフリップフロップ。
- クリア信号がアクティブな状態においては前記第2の保持回路に保持される信号をクリアするクリア回路をさらに具備することを特徴とする請求項1記載のフリップフロップ。
- 前記クリア回路は、抑制信号がアクティブな状態においては前記クリア信号の状態にかかわらず前記第2の保持回路に保持される信号のクリアを行わないことを特徴とする請求項3記載のフリップフロップ。
- プリセット信号がアクティブな状態においては前記第2の保持回路に保持される信号をプリセットするプリセット回路をさらに具備することを特徴とする請求項1記載のフリップフロップ。
- 前記プリセット回路は、抑制信号がアクティブな状態においては前記プリセット信号の状態にかかわらず前記第2の保持回路に保持される信号のプリセットを行わないことを特徴とする請求項5記載のフリップフロップ。
- スリープ信号がアクティブでない状態においては第1の状態と第2の状態とを繰り返すクロック信号を出力し、前記スリープ信号がアクティブな状態においては前記クロック信号を前記第1の状態に固定するクロック供給回路と、
前記クロック信号が前記第1の状態を示す間に入力信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第2の状態を示す間は前記入力信号を保持する第1の保持回路と、
前記クロック信号が前記第2の状態を示す間に前記第1の保持回路から出力された第1の信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第1の状態を示す間は前記第1の信号を保持する第2の保持回路と、
ホールド信号がアクティブな状態またはイネーブル信号がアクティブでない状態においては前記第2の保持回路から出力された第2の信号を前記入力信号として供給し、前記ホールド信号がアクティブでない状態かつイネーブル信号がアクティブな状態においては外部からの信号を前記入力信号として供給する入力切替回路と、
電源供給制御信号がアクティブな状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給し、前記電源供給制御信号がアクティブでない状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給しないように制御する電源供給制御回路と
を具備し、
少なくとも前記スリープ信号がアクティブな状態においてのみ前記電源供給制御信号がアクティブでない状態に設定され、少なくともホールド信号がアクティブな状態においてのみ前記スリープ信号がアクティブな状態に設定されるフリップフロップ。 - スリープ信号がアクティブでない状態においては第1の状態と第2の状態とを繰り返すクロック信号を出力し、前記スリープ信号がアクティブな状態においては前記クロック信号を前記第1の状態に固定するクロック供給回路と、
前記クロック信号が前記第1の状態を示す間に入力信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第2の状態を示す間は前記入力信号を保持する第1の保持回路と、
前記クロック信号が前記第2の状態を示す間に前記第1の保持回路から出力された第1の信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第1の状態を示す間は前記第1の信号を保持する第2の保持回路と、
スキャンモード信号がスキャンモードである旨を示している場合にはスキャンイン信号を前記入力信号として供給し、前記スキャンモード信号がスキャンモードでない旨を示している場合にはホールド信号がアクティブな状態であれば前記第2の保持回路から出力された第2の信号を前記入力信号として供給し、前記ホールド信号がアクティブでない状態であれば外部からの信号を前記入力信号として供給する入力切替回路と、
電源供給制御信号がアクティブな状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給し、前記電源供給制御信号がアクティブでない状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給しないように制御する電源供給制御回路と
を具備し、
少なくとも前記スリープ信号がアクティブな状態においてのみ前記電源供給制御信号がアクティブでない状態に設定され、少なくともホールド信号がアクティブな状態においてのみ前記スリープ信号がアクティブな状態に設定されるフリップフロップ。 - スリープ信号がアクティブでない状態においては第1の状態と第2の状態とを繰り返すクロック信号を出力し、前記スリープ信号がアクティブな状態においては前記クロック信号を前記第1の状態に固定するクロック供給回路と、
前記クロック信号が前記第1の状態を示す間に入力信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第2の状態を示す間は前記入力信号を保持する第1の保持回路と、
前記クロック信号が前記第2の状態を示す間に前記第1の保持回路から出力された第1の信号を取り込んで、前記クロック信号が前記第1の状態を示す間は前記第1の信号を保持する第2の保持回路と、
ホールド信号がアクティブな状態においては前記第2の保持回路から出力された第2の信号を前記入力信号として供給し、前記ホールド信号がアクティブでない状態においては外部からの信号を前記入力信号として供給する入力切替回路と、
電源供給制御信号がアクティブな状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給し、前記電源供給制御信号がアクティブでない状態においては前記第1の保持回路および前記入力切替回路に対して電源を供給しないように制御する電源供給制御回路と、
少なくとも前記スリープ信号がアクティブな状態においてのみ前記電源供給制御信号をアクティブでない状態に設定し、少なくともホールド信号がアクティブな状態においてのみ前記スリープ信号をアクティブな状態に設定するフリップフロップ制御回路と
を具備する半導体集積回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006331477A JP4297159B2 (ja) | 2006-12-08 | 2006-12-08 | フリップフロップおよび半導体集積回路 |
TW096139503A TWI342672B (en) | 2006-12-08 | 2007-10-22 | Flip-flop and semiconductor integrated circuit |
US11/976,244 US7616040B2 (en) | 2006-12-08 | 2007-10-23 | Flip-flop and semiconductor integrated circuit |
KR1020070115907A KR101378802B1 (ko) | 2006-12-08 | 2007-11-14 | 플립플롭 및 반도체 집적회로 |
CN2007101971883A CN101222217B (zh) | 2006-12-08 | 2007-12-10 | 触发器和半导体集成电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006331477A JP4297159B2 (ja) | 2006-12-08 | 2006-12-08 | フリップフロップおよび半導体集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008147903A JP2008147903A (ja) | 2008-06-26 |
JP4297159B2 true JP4297159B2 (ja) | 2009-07-15 |
Family
ID=39607601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006331477A Expired - Fee Related JP4297159B2 (ja) | 2006-12-08 | 2006-12-08 | フリップフロップおよび半導体集積回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7616040B2 (ja) |
JP (1) | JP4297159B2 (ja) |
KR (1) | KR101378802B1 (ja) |
CN (1) | CN101222217B (ja) |
TW (1) | TWI342672B (ja) |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7716510B2 (en) | 2006-12-19 | 2010-05-11 | Micron Technology, Inc. | Timing synchronization circuit with loop counter |
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US10951201B2 (en) | 2018-08-15 | 2021-03-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Flip flop standard cell |
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JPH08256044A (ja) | 1995-03-16 | 1996-10-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 記憶回路およびフリップフロップ回路 |
JP3528413B2 (ja) | 1996-04-19 | 2004-05-17 | ソニー株式会社 | 関数クロック発生回路並びにそれを用いたイネーブル機能付きd型フリップフロップおよび記憶回路 |
JPH11284493A (ja) | 1998-03-27 | 1999-10-15 | Kawasaki Steel Corp | マスタスレーブ型フリップフロップ |
JP3651659B2 (ja) | 2000-03-09 | 2005-05-25 | 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 | イネーブル付きラッチ回路 |
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JP2006005661A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フリップフロップ回路 |
-
2006
- 2006-12-08 JP JP2006331477A patent/JP4297159B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-10-22 TW TW096139503A patent/TWI342672B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-10-23 US US11/976,244 patent/US7616040B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-14 KR KR1020070115907A patent/KR101378802B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-12-10 CN CN2007101971883A patent/CN101222217B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101222217A (zh) | 2008-07-16 |
CN101222217B (zh) | 2010-07-21 |
KR20080053185A (ko) | 2008-06-12 |
US20080258789A1 (en) | 2008-10-23 |
TW200832917A (en) | 2008-08-01 |
US7616040B2 (en) | 2009-11-10 |
TWI342672B (en) | 2011-05-21 |
JP2008147903A (ja) | 2008-06-26 |
KR101378802B1 (ko) | 2014-03-27 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130424 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140424 Year of fee payment: 5 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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