JPH05191219A - フリップフロップ - Google Patents

フリップフロップ

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JPH05191219A
JPH05191219A JP4021769A JP2176992A JPH05191219A JP H05191219 A JPH05191219 A JP H05191219A JP 4021769 A JP4021769 A JP 4021769A JP 2176992 A JP2176992 A JP 2176992A JP H05191219 A JPH05191219 A JP H05191219A
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JP
Japan
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data
flip
flop
signal
slave
Prior art date
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JP4021769A
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English (en)
Inventor
Shigeharu Murata
重治 村田
Takashi Omori
貴志 大森
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 クロック信号CKBの立ち下がりエッジに同
期してしかもデータイネーブル信号DEBに従って選択
的に状態遷移されるデータイネーブル付フリップフロッ
プDEFFを実現し、このデータイネーブル信号DEB
のクロック信号CKBに対するマージンを拡大する。そ
の結果、データイネーブル付フリップフロップDEFF
の誤動作を防止し、フリップフロップを含む高速論理集
積回路装置ひいてはコンピュータシステム等の動作を安
定化する。 【構成】 クロック信号CKBの立ち下がりエッジに同
期して状態遷移されるスレーブマスターラッチSMLの
前段に、データイネーブル信号DEBに従って入力デー
タD又はスレーブマスターラッチSMLの非反転出力信
号Qを選択的にスレーブマスターラッチSMLのデータ
入力端子DIに伝達するデータ選択回路DSLを設け、
上記データイネーブル信号DEBの論理レベルを、クロ
ック信号CKBの立ち上がりエッジに同期して変化させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はフリップフロップに関
し、例えば、コンピュータシステムを構成する高速論理
集積回路装置に含まれるデータイネーブル付フリップフ
ロップに利用して特に有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ECL(Emitter Couple
d Logic)シリーズゲートからなる一対のスレー
ブラッチ及びマスターラッチを含み、所定のクロック信
号に従って同期動作されるエッジトリガ型のフリップフ
ロップがある。また、このようなフリップフロップを含
む高速論理集積回路装置があり、高速論理集積回路装置
を構成要素とするコンピュータシステムがある。
【0003】ECLシリーズゲートからなるエッジトリ
ガ型のフリップフロップについて、例えば、1983年
9月、株式会社日立製作所発行の『ヒタチ セミコンダ
クタデータブック ECL(Hitachi Semi
−conductor Data Book ECL』
第63頁に記載されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本願発明者等は、この
発明に先立って、コンピュータシステムを構成する高速
論理集積回路装置の標準セルとなる図6ないし図8に示
されるようなクロックイネーブル付フリップフロップC
EFFを開発した。このフリップフロップは、ECLシ
リーズゲートからなる一対のスレーブラッチSL及びマ
スターラッチMLを含むスレーブマスターラッチSML
と、クロック信号CKB(ここで、それが有効とされる
とき選択的にロウレベルとされるいわゆる反転信号又は
反転信号線等については、その名称の末尾にBを付して
表す。以下同様)をクロックイネーブル信号CEBに従
って選択的に上記スレーブマスターラッチSMLのクロ
ック入力端子CKBに伝達するオアゲートOG2とを含
む。これにより、クロック信号CKBは、図7に示され
るように、クロックイネーブル信号CEBがロウレベル
とされるとき、クロック信号CBとして選択的にスレー
ブマスターラッチSMLのクロック入力端子CKBに供
給される。
【0005】スレーブマスターラッチSMLは、上記ク
ロック信号CBがハイレベルとされる間、入力端子DI
に供給される入力データDIをそのスレーブラッチSL
に取り込み、クロック信号CBがロウレベルとされるこ
とで、入力データDIの取り込みを停止するとともに、
スレーブラッチSLによって保持されているデータをそ
のマスターラッチMLに伝達する。言い換えるならば、
スレーブマスターラッチSMLは、クロック信号CBの
立ち下がりエッジに同期してその状態が遷移され、これ
に同期してその非反転出力信号Q及び反転出力信号QB
の論理レベルが変化される。前述のように、クロック信
号CBは、クロックイネーブル信号CEBがロウレベル
とされるとき選択的に有効とされる。したがって、この
フリップフロップは、クロックイネーブル信号CEBに
従って選択的に動作状態とされ、入力データDIを選択
的に取り込んで保持するものとなる。
【0006】ところが、コンピュータシステムの高速化
が進み高速論理集積回路装置のサイクルタイムが短縮さ
れるにしたがって、上記クロックイネーブル付フリップ
フロップCEFFには次のような問題点が生じること
が、本願発明者等によって明らかとなった。すなわち、
このクロックイネーブル付フリップフロップでは、図7
(a)に示されるように、クロックイネーブル信号CE
Bがクロック信号CKBの1サイクル分に対応するネガ
ティブパルスを包含する形でロウレベルとされることを
必要条件とし、これを確保するためのセットアップ時間
S とホールド時間TH とが規定される。しかし、高速
論理集積回路装置のサイクルタイムが短縮されるにした
がって、セットアップ時間TS 及びホールド時間TH
双方を満足することは困難となり、フリップフロップが
正常に機能できなくなる。つまり、図7(b)に示され
るように、クロックイネーブル信号CEBのタイミング
が早すぎると、クロック信号CBの後縁部が欠けてその
パルス幅が時間T2だけ縮小されるとともに、直前のサ
イクルにおいて時間T1の短いパルスノイズが発生す
る。また、図7(c)に示されるように、クロックイネ
ーブル信号CEBのタイミングが遅すぎる場合には、ク
ロック信号CBの前縁部が欠けてそのパルス幅が時間T
3だけ縮小されるとともに、直後のサイクルにおいて時
間T4の短いパルスノイズが発生する。その結果、フリ
ップフロップが誤動作し、フリップフロップを含む高速
論理集積回路装置の動作が不安定となるものである。
【0007】この発明の目的は、イネーブル付フリップ
フロップのクロック信号に対するマージンを拡大するこ
とにある。この発明の他の目的は、イネーブル付フリッ
プフロップの誤動作を防止し、フリップフロップを含む
高速論理集積回路装置ひいてはコンピュータシステム等
の動作を安定化することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次
の通りである。すなわち、クロック信号の立ち下がりエ
ッジに同期して状態遷移されるスレーブマスターラッチ
の前段に、入力制御信号つまりはデータイネーブル信号
に従って入力データ又はスレーブマスターラッチの非反
転出力信号を選択的にスレーブマスターラッチのデータ
入力端子に伝達するデータ選択回路を設け、上記データ
イネーブル信号の論理レベルを、クロック信号の立ち上
がりエッジに同期して変化させる。
【0009】
【作用】上記手段によれば、クロック信号の立ち下がり
エッジに同期してしかもデータイネーブル信号に従って
選択的に状態遷移されるデータイネーブル付フリップフ
ロップを実現できるとともに、データイネーブル信号の
クロック信号に対するマージンを拡大できる。その結
果、データイネーブル付フリップフロップの誤動作を防
止し、フリップフロップを含む高速論理集積回路装置ひ
いてはコンピュータシステム等の動作を安定化すること
ができる。
【0010】
【実施例】図1には、この発明が適用されたデータイネ
ーブル付フリップフロップDEFFの一実施例の回路ブ
ロック図が示されている。また、図2及び図3には、図
1のデータイネーブル付フリップフロップDEFFの一
実施例の回路図が示され、図4には、その一実施例の信
号波形図が示されている。これらの図をもとに、まずこ
の実施例のデータイネーブル付フリップフロップの構成
と動作の概要ならびにその特徴について説明する。な
お、この実施例のデータイネーブル付フリップフロップ
は、他の多数のフリップフロップや組合せ回路等ととも
に、コンピュータシステムを構成する高速論理集積回路
装置に含まれる。図1ないし図3に示される各回路素子
は、従来のバイポーラ集積回路の製造技術により、単結
晶シリコンのような1個の半導体基板上に形成される。
また、図2及び図3に図示されるトランジスタ(この明
細書では、バイポーラトランジスタを単にトランジスタ
と略称する)は、すべてNPN型トランジスタである。
【0011】図1において、データイネーブル付フリッ
プフロップDEFFは、実質的に2個のアンドゲートA
G1及びAG2ならびに1個のオアゲートOG1からな
るデータ選択回路DSLと、エッジトリガ型のスレーブ
マスターラッチSMLとを含む。このうち、アンドゲー
トAG1の第1の入力端子には、スレーブマスターラッ
チSMLの非反転出力信号Qつまり内部信号LQが供給
され、その第2の入力端子には、高速論理集積回路装置
の図示されない制御回路から所定のデータイネーブル信
号DEB(入力制御信号)が供給される。また、アンド
ゲートAG2の第1の入力端子には、上記データイネー
ブル信号DEBの反転信号が供給され、その第2の入力
端子には、高速論理集積回路装置の図示されない前段回
路から入力データDが供給される。アンドゲートAG1
及びAG2の出力信号は、オアゲートOG1の第1及び
第2の入力端子にそれぞれ供給され、オアゲートOG1
の出力信号は、データ選択回路DSLの出力信号SDと
して、スレーブマスターラッチSMLのデータ入力端子
DIに供給される。スレーブマスターラッチSMLのク
ロック入力端子CKBには、図示されないクロックパル
ス発生回路からクロック信号CKBが供給され、その非
反転出力信号Q及び反転出力信号QBは、高速論理集積
回路装置の図示されない後段回路に供給される。
【0012】この実施例において、入力データD及びデ
ータイネーブル信号DEBならびにクロック信号CKB
は、特に制限されないが、0.8Vのような比較的小さ
な信号振幅を持つECLレベルのディジタル信号とされ
る。このうち、クロック信号CKBは、図4に示される
ように、その論理レベルが所定の周期Tcをもって周期
的に変化されるパルス信号とされる。また、入力データ
D及びデータイネーブル信号DEBは、クロック信号C
KBがロウレベル(第2の論理レベル)からハイレベル
(第1の論理レベル)に変化されるいわゆる立ち上がり
のクロックエッジ(以下、立ち上がりエッジと称す)に
同期してその論理レベルが変化され、クロック信号CK
Bの立ち下がりエッジに対して比較的大きなセットアッ
プ時間Ts及びホールド時間TH を有するものとされ
る。
【0013】ここで、データイネーブル付フリップフロ
ップDEFFを構成するデータ選択回路DSLは、特に
制限されないが、図2に示されるように、二対の差動ト
ランジスタT2及びT3ならびにT4及びT5と、これ
らの差動トランジスタの共通結合されたエミッタと定電
流源を構成するトランジスタT8のコレクタとの間にそ
れぞれ設けられるもう一対の差動トランジスタT6及び
T7とからなるECLシリーズゲート回路をその基本構
成とする。このうち、差動トランジスタT2及びT3の
コレクタは、対応する負荷抵抗R1及びR2を介して回
路の接地電位に結合され、トランジスタT2のベースに
は、スレーブマスターラッチSMLの非反転出力信号Q
すなわち内部信号QLが、またトランジスタT3のベー
スには、所定の基準電位VBB2がそれぞれ供給され
る。そして、トランジスタT6のベースには、トランジ
スタT1及び抵抗R3からなる入力エミッタフォロア回
路を介して、データイネーブル信号DEBが供給され
る。
【0014】一方、差動トランジスタT4及びT5のコ
レクタは、対応するトランジスタT2及びT3のコレク
タつまり内部ノードn1及びn2にそれぞれ共通結合さ
れ、トランジスタT4のベースには入力データDが、ま
たトランジスタT5の入力端子には上記基準電位VBB
2がそれぞれ供給される。そして、トランジスタT7の
ベースには、所定の基準電位VBB3が供給される。上
記内部ノードn1及びn2は、さらに一対の出力エミッ
タフォロア回路を構成するトランジスタT9及びT10
のベースにそれぞれ結合される。このうち、トランジス
タT10のエミッタ電位は、このデータ選択回路DSL
の出力信号すなわち内部信号SDとしてスレーブマスタ
ーラッチSMLのデータ入力端子DIに供給される。
【0015】これらのことから、差動トランジスタT2
及びT3は、入力エミッタフォロア回路を介して入力さ
れるデータイネーブル信号DEBが基準電位VBB3よ
り高いハイレベルとされることで選択的に動作状態とさ
れ、基準電位VBB2を論理スレッシホルドとするカレ
ントスイッチ回路として作用する。このとき、内部ノー
ドn2すなわちデータ選択回路DSLの出力信号SD
は、スレーブマスターラッチSMLの非反転出力信号Q
すなわち内部信号LQが基準電位VBB2より高いハイ
レベルとされることで選択的にハイレベルとされる。こ
れにより、差動トランジスタT2及びT3ならびにトラ
ンジスタT6からなるECLシリーズゲートは、実質的
な図1のアンドゲートAG1として機能する。
【0016】同様に、差動トランジスタT4及びT5
は、入力エミッタフォロア回路を介して入力されるデー
タイネーブル信号DEBが基準電位VBB3より低いロ
ウレベルとされることで選択的に動作状態とされ、基準
電位VBB2を論理スレッシホルドとするカレントスイ
ッチ回路として作用する。このとき、内部ノードn2つ
まりデータ選択回路DSLの出力信号SDは、入力デー
タDが基準電位VBB2より高いハイレベルとされるこ
とで選択的にハイレベルとされる。これにより、差動ト
ランジスタT4及びT5ならびにトランジスタT7から
なるECLシリーズゲートは、実質的な図1のアンドゲ
ートAG2として機能する。さらに、二対の差動トラン
ジスタT2及びT3ならびにT4及びT5は、そのコレ
クタが内部ノードn1及びn2にそれぞれ共通結合され
いわゆるコレクタドット形態とされることで、実質的な
図1のオアゲートOG1が構成される。
【0017】次に、データイネーブル付フリップフロッ
プDEFFを構成するスレーブマスターラッチSML
は、特に制限されないが、図3に示されるように、スレ
ーブラッチSL及びマスターラッチMLを含む。このう
ち、スレーブラッチSLは、二対の差動トランジスタT
12及びT13ならびにT14及びT15と、これらの
差動トランジスタの共通結合されたエミッタと定電流源
を構成するトランジスタT18のコレクタとの間にそれ
ぞれ設けられるもう一対の差動トランジスタT16及び
T17とからなるECLシリーズゲート回路をその基本
構成とする。差動トランジスタT2及びT3のコレクタ
は、対応する負荷抵抗R7及びR8を介して回路の接地
電位に結合され、トランジスタT12のベースには、上
記データ選択回路DSLの出力信号SDが、またトラン
ジスタT13のベースには、基準電位VBB2がそれぞ
れ供給される。そして、トランジスタT16のベースに
は、トランジスタT11及び抵抗R9からなる入力エミ
ッタフォロア回路を介して、クロック信号CKBが供給
される。
【0018】一方、差動トランジスタT14及びT15
のコレクタは、対応するトランジスタT12及びT13
のコレクタつまり内部ノードn3及びn4にそれぞれ共
通結合され、トランジスタT14のベースにはトランジ
スタT20及び抵抗R12からなるエミッタフォロア回
路を介して内部信号n4が、またトランジスタT15の
入力端子にはトランジスタT19及び抵抗R11からな
るエミッタフォロア回路を介して内部信号n3がそれぞ
れフィードバックされる。そして、トランジスタT7の
ベースには、所定の基準電位VBB3が供給される。上
記内部ノードn3及びn4は、さらにもう一対の出力エ
ミッタフォロア回路を構成するトランジスタT21及び
T22のベースにそれぞれ結合される。このうち、トラ
ンジスタT21のエミッタ電位は、このスレーブラッチ
SLの反転出力信号SBとしてマスターラッチMLの反
転入力端子に供給される。
【0019】これらのことから、差動トランジスタT1
2及びT13は、入力エミッタフォロア回路を介して入
力されるクロック信号CKBが基準電位VBB3より高
いハイレベルとされることで選択的に動作状態とされ、
基準電位VBB2を論理スレッシホルドとするカレント
スイッチ回路として作用する。このとき、内部ノードn
3すなわちスレーブラッチSLの反転出力信号SBは、
データ選択回路DSLの出力信号SDが基準電位VBB
2より高いハイレベルとされることで選択的にロウレベ
ルとされる。同様に、差動トランジスタT14及びT1
5は、入力エミッタフォロア回路を介して入力されるク
ロック信号CKBが基準電位VBB3より低いロウレベ
ルとされることで選択的に動作状態とされ、基準電位V
BB2を論理スレッシホルドとするカレントスイッチ回
路として作用する。このとき、内部ノードn3すなわち
スレーブラッチSLの反転出力信号SBは、直前までの
内部ノードn3すなわちスレーブラッチSLの反転出力
信号SBがハイレベルとされることで選択的にハイレベ
ルとされる。
【0020】つまり、スレーブラッチSLは、クロック
信号CKBがハイレベルとされるとき、データ選択回路
DSLの出力信号SDすなわちデータ選択回路DSLを
介して入力されるスレーブマスターラッチSMLの非反
転出力信号Qあるいは入力データDを取り込むととも
に、クロック信号CKBがロウレベルとされるとき、入
力データDの直前の論理レベルを保持する形でラッチ形
態とされるものとなる。言い換えるならば、スレーブラ
ッチSLによるスレーブマスターラッチSMLの非反転
出力信号Qならびに入力データDの取り込み動作は、ク
ロック信号CKBがロウレベルとされることによって停
止され、スレーブラッチSLに取り込まれたデータは、
次にクロック信号CKBがハイレベルとされるまでの
間、スレーブラッチSL内に保持されるものとなる。
【0021】スレーブマスターラッチSMLのマスター
ラッチMLは、トランジスタT11及び抵抗R9からな
る入力エミッタフォロア回路を含まないことを除いて、
上記スレーブラッチSLと同一の回路構成とされる。一
方のECLシリーズゲートを構成するトランジスタT1
2のベースには、スレーブラッチSLの反転出力信号S
Bが供給され、出力エミッタフォロア回路を構成するト
ランジスタT21及びT22のエミッタ電位は、それぞ
れスレーブマスターラッチつまりはデータイネーブル付
フリップフロップDEFFの非反転出力信号Q及び反転
出力信号QBとされる。マスターラッチMLにおいて、
差動トランジスタT12及びT13を選択的に動作状態
とするためのトランジスタT16のベースには、基準電
位VBB3が供給され、差動トランジスタT14及びT
15を選択的に動作状態とするためのトランジスタT1
7のベースには、トランジスタT11及び抵抗R9から
なる入力エミッタフォロア回路を介してクロック信号C
KBが供給される。
【0022】これにより、マスターラッチMLは、前記
スレーブラッチSLとは逆に、クロック信号CKBがロ
ウレベルとされるとき、スレーブラッチSLの反転出力
信号SBを取り込み、クロック信号CKBがハイレベル
とされるとき、スレーブラッチSLの反転出力信号SB
の直前の論理レベルを保持する形でラッチ形態とされる
ものとなる。言い換えるならば、マスターラッチMLに
よるスレーブラッチSLの反転出力信号SBの取り込み
動作は、クロック信号CKBがハイレベルとされること
によって停止され、マスターラッチMLに取り込まれた
反転出力信号SBは、次にクロック信号CKBがロウレ
ベルとされるまでの間、マスターラッチML内に保持さ
れるものとなる。これらの結果、スレーブマスターラッ
チSMLは、クロック信号CKBの立ち下がりエッジに
同期してしかもその時点におけるデータ入力端子DIの
論理レベルに従って選択的にその状態が遷移されるいわ
ゆるエッジトリガ型のスレーブマスターラッチとなる。
【0023】以上のことから、このデータイネーブル付
フリップフロップDEFFのデータ選択回路DSLは、
データイネーブル信号DEBが有効すなわちロウレベル
とされるとき、入力データDを選択してその出力信号S
Dとし、スレーブマスターラッチSMLのデータ入力端
子DIに伝達するとともに、データイネーブル信号DE
Bが無効すなわちハイレベルとされるとき、スレーブマ
スターラッチSMLの非反転出力信号Qすなわち内部信
号LQを選択してその出力信号SDとし、スレーブマス
ターラッチSMLのデータ入力端子DIに伝達する。こ
のデータ選択回路DSLの出力信号SDは、図4に示さ
れるように、クロック信号CKBがハイレベルとされる
ときそスレーブマスターラッチSMLのスレーブラッチ
SLに取り込まれ、さらにクロック信号CKBがロウレ
ベルとされることでスレーブラッチSLからマスターラ
ッチMLに伝達される。つまり、この実施例のデータイ
ネーブル付フリップフロップDEFFは、クロック信号
CKBの立ち下がりエッジにおいてデータイネーブル信
号DEBがロウレベルであると、入力データDに従って
その非反転出力信号Q及び反転出力信号QBが選択的に
ハイレベル又はロウレベルとされ、データイネーブル信
号DEBがハイレベルであるとそれまで保持していたデ
ータをそのまま保持し続けるものとなり、その入力デー
タの取り込み動作がデータイネーブル信号DEBに従っ
て選択的に行われるいわゆるデータイネーブル付フリッ
プフロップとして機能するものとなる。
【0024】この実施例において、データイネーブル信
号DEBは、前述のように、クロック信号CKBの立ち
上がりエッジに同期して変化され、データイネーブル付
フリップフロップが遷移されるクロック信号CKBの立
ち下がりエッジに対して比較的大きなセットアップ時間
Ts及びホールド時間TH を持つ。しかるに、コンピュ
ータシステムの高速化が進み高速論理集積回路装置のサ
イクルタイムが短縮される場合でも、データイネーブル
信号DEBはクロック信号CKBに対して充分なマージ
ンを持つものとなる。その結果、データイネーブル付フ
リップフロップの誤動作を防止でき、フリップフロップ
を含む高速論理集積回路装置ひいてはコンピュータシス
テムの動作を安定化できるものである。
【0025】図5には、図1のデータイネーブル付フリ
ップフロップDEFFを含むメモリユニットMEMUの
一実施例の回路ブロック図が示されている。同図をもと
に、データイネーブル付フリップフロップの応用例とそ
の特徴について説明する。なお、この実施例のメモリユ
ニットMEMUは高速論理集積回路装置に内蔵され、例
えばコンピュータシステムの一時記憶装置として機能す
る。
【0026】図5において、この実施例のメモリユニッ
トMEMUは、バイポーラメモリからなるランダムアク
セスメモリRAMをその基本構成とする。ランダムアク
セスメモリRAMは、パリティビットを含む合計9ビッ
トの記憶データを同時に入力又は出力するいわゆる×9
ビット構成のメモリとされ、そのアドレス空間は、アド
レスバッファABを介して入力されるi+1ビットのア
ドレス信号A0〜Aiに従って択一的に指定される。ラ
ンダムアクセスメモリRAMには、データ入力バッファ
DIBを介して9ビットの書き込みデータDI0〜DI
8が供給され、その出力信号は、読み出しデータDO0
〜DO8として高速論理集積回路装置の図示されない後
段回路に供給される。ランダムアクセスメモリRAMに
は、さらにライトイネーブル信号バッファWEBを介し
て、その動作モードを制御するためのライトイネーブル
信号WEBが供給される。ランダムアクセスメモリRA
Mは、このライトイネーブル信号WEBがハイレベルと
されるとき読み出しモードとされ、ロウレベルとされる
ことで書き込みモードとされる。なお、アドレスバッフ
ァAB及びデータ入力バッファDIBならびにライトイ
ネーブル信号バッファWEBには、クロックアンプCA
1を介して非反転クロック信号CKがそのトリガ信号と
して供給されるため、アドレス信号A0〜Ai及び書き
込みデータDI0〜DI8ならびにライトイネーブル信
号WEの論理レベルは、反転信号であるクロック信号C
KBの立ち上がりエッジに同期して変化される。
【0027】この実施例のメモリユニットMEMUは、
データ入力バッファDIBを介して入力される書き込み
データDI0〜DI8の正常性を確認するためのパリテ
ィチェック回路PTYと、その出力信号を受けるデータ
イネーブル付フリップフロップDEFFとを備える。こ
の高速論理集積回路装置では、特に制限されないが、奇
数パリティ方式が採られる。このため、パリティチェッ
ク回路PTYは、書き込みデータDI0〜DI8内に論
理“1”のビットが偶数個含まれるとき、書き込みデー
タに何らかの異常があるものとみなして、その出力信号
PEを選択的にハイレベルとする。パリティチェック回
路PTYの出力信号PEは、データイネーブル付フリッ
プフロップDEFFの入力データDとして供給される。
【0028】データイネーブル付フリップフロップDE
FFには、さらに前記ライトイネーブル信号WEBがデ
ータイネーブル信号DEBとして供給され、クロックア
ンプCA1を介して反転信号であるクロック信号CKB
が供給される。データイネーブル付フリップフロップD
EFFは、ライトイネーブル信号WEBがハイレベルと
されランダムアクセスメモリRAMが読み出しモードと
される場合、入力データDすなわちパリティチェック回
路PTYの出力信号PEを取り込まず、それまでの状態
を保持する。そして、ライトイネーブル信号WEBがロ
ウレベルとされランダムアクセスメモリRAMが書き込
みモードとされると、クロック信号CKBの立ち下がり
エッジに同期してしかもパリティチェック回路PTYの
出力信号PEに従って選択的にその状態が遷移される。
データイネーブル付フリップフロップFFの非反転出力
信号Qは、メモリ診断信号MCKとして、高速論理集積
回路装置の図示されない制御回路に供給される。つま
り、書き込みデータDI0〜DI8のチェック結果とな
るパリティチェック回路PTYの出力信号PEは、ラン
ダムアクセスメモリRAMが書き込みモードである場合
に限ってデータイネーブル付フリップフロップDEFF
に取り込まれ、メモリ診断信号MCKとなる。言うまで
もなく、高速論理集積回路装置の図示されない制御回路
は、上記メモリ診断信号MCKがハイレベルとされるこ
とで書き込みデータDI0〜DI8の異常を判定し、何
らかのエラー表示を行う。
【0029】この実施例のメモリユニットMEMUにお
いて、データイネーブル付フリップフロップDEFF
は、前述のように、クロック信号CKBの立ち下がりエ
ッジに同期して状態遷移され、そのデータイネーブル信
号DEBとなるライトイネーブル信号WEBは、クロッ
ク信号CKBの立ち上がりエッジに同期してその論理レ
ベルが変化される。このため、データイネーブル信号D
EBすなわちライトイネーブル信号WEBとクロック信
号CKBとの間には比較的大きなマージンが得られる結
果となり、高速論理集積回路装置ひいてはコンピュータ
システムの動作を安定化しつつそのサイクルタイムを高
速化できるものである。
【0030】以上の本実施例に示されるように、この発
明をコンピュータシステムを構成する高速論理集積回路
装置に含まれるデータイネーブル付フリップフロップ等
に適用することで、次のような作用効果が得られる。す
なわち、 (1)クロック信号の立ち下がりエッジに同期して状態
遷移されるスレーブマスターラッチの前段に、入力制御
信号つまりはデータイネーブル信号に従って入力データ
又はスレーブマスターラッチの非反転出力信号を選択的
に上記スレーブマスターラッチのデータ入力端子に伝達
するデータ選択回路を設け、上記データイネーブル信号
の論理レベルを、クロック信号の立ち上がりエッジに同
期して変化させることで、クロック信号の立ち下がりエ
ッジに同期してしかもデータイネーブル信号に従って選
択的に状態遷移されるデータイネーブル付フリップフロ
ップを実現できるという効果が得られる。 (2)上記(1)項により、データイネーブル信号のク
ロック信号に対するマージンを拡大して、データイネー
ブル付フリップフロップの誤動作を防止することができ
るという効果が得られる。 (3)上記(1)項及び(2)項により、フリップフロ
ップを含む高速論理集積回路装置の動作を安定化し、高
速論理集積回路装置を含むコンピュータシステム等の動
作を安定化することができるという効果が得られる。
【0031】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、この発明は、上記実
施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない
範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例え
ば、図1において、データ選択回路DSLは、任意の論
理構成を採ることができるし、入力データ及びデータイ
ネーブル信号ならびにクロック信号の論理レベルも、ス
レーブマスターラッチが状態遷移されるクロックエッジ
とデータイネーブル信号の論理レベルが変化されるクロ
ックエッジとが異なるものであることを条件に、種々の
実施例が考えられよう。図2及び図3において、データ
イネーブル付フリップフロップDEFFの具体的な回路
構成や電源電圧の極性及びトランジスタの導電型等は、
これらの実施例による制約を受けない。図5において、
メモリユニットMEMUは、複数のランダムアクセスメ
モリRAMを備えることができるし、読み出しデータD
O0〜DO8をチェックするためのパリティチェック回
路を備えることもできる。さらに、ランダムアクセスメ
モリRAMのビット構成は任意であるし、メモリユニッ
トMEMUのブロック構成も種々の実施形態を採りう
る。
【0032】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその背景となった利用分野であるコン
ピュータシステムを構成する高速論理集積回路装置に含
まれるデータイネーブル付フリップフロップに適用した
場合について説明したが、それに限定されるものではな
く、例えば、高速論理集積回路装置に含まれる各種の制
御フリップフロップや同様な制御フリップフロップを含
み各種のディジタルシステムに含まれる高速論理集積回
路装置ならびに汎用のゲートアレイ集積回路等にも適用
できる。この発明は、少なくともクロック信号に従って
動作されかつイネーブル制御を必要とするフリップフロ
ップあるいはこのようなフリップフロップを含むディジ
タル集積回路装置に広く適用できる。
【0033】
【発明の効果】クロック信号の立ち下がりエッジに同期
して状態遷移されるスレーブマスターラッチの前段に、
データイネーブル信号に従って入力データ又はスレーブ
マスターラッチの非反転出力信号を選択的にスレーブマ
スターラッチのデータ入力端子に伝達するデータ選択回
路を設け、データイネーブル信号の論理レベルをクロッ
ク信号の立ち上がりエッジに同期して変化させること
で、クロック信号及びデータイネーブル信号に従って選
択的に状態遷移されるデータイネーブル付フリップフロ
ップを実現できるとともに、データイネーブル信号のク
ロック信号に対するマージンを拡大できる。その結果、
データイネーブル付フリップフロップの誤動作を防止
し、フリップフロップを含む高速論理集積回路装置ひい
てはコンピュータシステム等の動作を安定化することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明が適用されたデータイネーブル付フリ
ップフロップの一実施例を示す回路ブロック図である。
【図2】図1のデータイネーブル付フリップフロップに
含まれるデータ選択回路の一実施例を示す回路図であ
る。
【図3】図1のデータイネーブル付フリップフロップに
含まれるスレーブマスターラッチの一実施例を示す回路
図である。
【図4】図1のデータイネーブル付フリップフロップの
信号波形図である。
【図5】図1のデータイネーブル付フリップフロップを
含むメモリユニットの一実施例を示す回路ブロック図で
ある。
【図6】この発明に先立って本願発明者等が開発したク
ロックイネーブル付フリップフロップの一例を示す回路
ブロック図である。
【図7】図6のクロックイネーブル付フリップフロップ
の信号波形図である。
【図8】図6のクロックイネーブル付フリップフロップ
の回路図である。
【符号の説明】
DEFF・・・データイネーブル付フリップフロップ、
DSL・・・データ選択回路、SML・・・スレーブマ
スターラッチ。SL・・・スレーブラッチ、ML・・・
マスターラッチ。MEMU・・・メモリユニット、RA
M・・・ランダムアクセスメモリ、CA1・・・クロッ
クアンプ、AB・・・アドレスバッファ、DIB・・・
データ入力バッファ、WEB・・・ライトイネーブル信
号バッファ、PTY・・・パリティチェック回路。CE
FF・・・クロックイネーブル付フリップフロップ。A
G1〜AG2・・・アンドゲート、OG1〜OG2・・
・オアゲート、T1〜T24・・・NPN型バイポーラ
トランジスタ、R1〜R15・・・抵抗。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロック信号に従って動作するエッジト
    リガ型のスレーブマスターラッチと、入力データ又は上
    記スレーブマスターラッチの出力信号を入力制御信号に
    従って選択的に上記スレーブマスターラッチのデータ入
    力端子に伝達するデータ選択回路とを含むことを特徴と
    するフリップフロップ。
  2. 【請求項2】 上記データ選択回路は、上記入力制御信
    号が有効とされるとき入力データを選択的に上記スレー
    ブマスターラッチのデータ入力端子に伝達するものであ
    り、上記スレーブマスターラッチは、クロック信号が第
    1の論理レベルとされるときデータ入力端子に供給され
    る入力信号をそのスレーブラッチに取り込み、クロック
    信号が第2の論理レベルとされるときスレーブラッチの
    出力信号をそのマスターラッチに伝達するものであっ
    て、上記入力制御信号は、上記クロック信号が第2の論
    理レベルから第1の論理レベルに変化されるクロックエ
    ッジに同期してその論理レベルが変化されるものである
    ことを特徴とする請求項1のフリップフロップ。
  3. 【請求項3】 上記フリップフロップは、ECLシリー
    ズゲートを基本構成としかつコンピュータシステムを構
    成する高速論理集積回路装置に含まれるものであること
    を特徴とする請求項1又は請求項2のフリップフロッ
    プ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7616040B2 (en) 2006-12-08 2009-11-10 Sony Corporation Flip-flop and semiconductor integrated circuit
JP2009296548A (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 Toshiba Corp 半導体集積回路装置

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US7616040B2 (en) 2006-12-08 2009-11-10 Sony Corporation Flip-flop and semiconductor integrated circuit
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