JP5895034B2 - イオントラップのエンドキャップ電圧制御 - Google Patents

イオントラップのエンドキャップ電圧制御 Download PDF

Info

Publication number
JP5895034B2
JP5895034B2 JP2014157332A JP2014157332A JP5895034B2 JP 5895034 B2 JP5895034 B2 JP 5895034B2 JP 2014157332 A JP2014157332 A JP 2014157332A JP 2014157332 A JP2014157332 A JP 2014157332A JP 5895034 B2 JP5895034 B2 JP 5895034B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion trap
end cap
signal
electrode
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2014157332A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014222673A (ja
Inventor
デイビッド ラファティー
デイビッド ラファティー
Original Assignee
ファースト ディテクト コーポレイション
ファースト ディテクト コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ファースト ディテクト コーポレイション, ファースト ディテクト コーポレイション filed Critical ファースト ディテクト コーポレイション
Publication of JP2014222673A publication Critical patent/JP2014222673A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5895034B2 publication Critical patent/JP5895034B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/424Three-dimensional ion traps, i.e. comprising end-cap and ring electrodes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

関連出願の相互参照
本出願は、2007年12月10日出願の米国仮出願番号61/012,660の優先権を主張し、これは参照により本明細書に組み入れられる。
技術分野
本発明は、イオントラップ、イオントラップ質量分析計に関し、より具体的には質量分光化学分析に用いられるイオントラップ用の制御信号発生に関する。
背景
イオントラップを使用することは、質量分光化学分析を行なう方法の一つである。イオントラップは駆動信号によって発生する動的電場を用いて測定試料からのイオンを動的に捕獲する。イオンを捕獲している電場の特性(振幅、周波数など)を変化させることによって、イオンはその質量対電荷比(質量(m)/電荷(z))に応じて選択的に放出される。イオントラップ質量分析に関するさらなる背景技術情報は、Raymond E. Marchらによる「Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry」(非特許文献1)に見ることができ、これは参照により本明細書に組み入れられる。
Ramseyらは、米国特許第6,469,298号(特許文献1)および第6,933,498号(特許文献2)(以後「Ramsey特許」と称する)において、イオンの質量分光化学分析用のサブミリイオントラップおよびイオントラップアレイを開示している。米国特許第6,469,298号(特許文献1)に記載されているイオントラップは、開口を有する中心電極と;各々が開口を有する一対の絶縁体と;各々が開口を有する一対のエンドキャップ電極と;中心電極に接続される第一電子信号源と;エンドキャップ電極に接続される第二電子信号源とを含む。中心電極、絶縁体、およびエンドキャップ電極は、それぞれの開口が同軸整列されて軸を中心に対称であり、部分的に囲まれた空洞を形成する挟み込み構造(sandwich construction)によって結合されている。この空洞は、有効半径R0と有効長さ2Z0を有し、ここで、R0および/またはZ0は1.0[mm]より小さく、比率Z0/R0は0.83より大きい。
George Saffordは、米国特許第4,540,884号(特許文献3)において「Method of Mass Analyzing a Sample by use of a Quadrupole Ion Trap」を示し、明細書には完全イオントラップベース(complete ion trap based)の質量分析計システムが記載されている。
イオントラップは、内部で、エンドキャップ電圧(または信号)と相対して中心電極に印加される電気信号によって形成される動的四重極場においてイオンを捕獲する。単に、一定周波数の信号が中心電極に印加され、二つのエンドキャップ電極は0(ゼロ)Vの静電圧に維持される。イオントラップ内に保持されている種々の質量のイオンを選択的に不安定化するために中心電極信号の振幅を線形増加させる。この振幅放出構造によって、最適な性能や分解能が得られるわけではなく、実際には出力スペクトルに二重ピーク(double peak)が存在することになる。第二信号をイオントラップの一方のエンドキャップに印加することによって、この振幅放出方法を向上させることができる。この第二信号は軸方向励起を引き起こし、その結果、イオントラップ内部におけるイオンの振動の永年周波数がエンドキャップの励起周波数と一致する場合、イオンがイオントラップから共鳴放出される。共鳴放出によって、安定性図におけるβ値が1未満である永年共鳴点においてイオンがイオントラップから放出される。1未満のβ値は、従来から中心電極周波数の1/n倍の要素であるエンドキャップ(軸方向)周波数を印加することによって得られる。ここで、nは一般的には2以上の整数である。
Moxomらは、「Double Resonance Ejection in a Micro Ion Trap Mass Spectrometer,」Rapid Communication Mass Spectrometry 2002, 16: 755-760頁(非特許文献2)において、差動電圧を両エンドキャップにかけることにより、Ramsey特許の装置における質量分光の分解能を高めることについて述べている。実験により、両エンドキャップ間に差動電圧を印加することにより、それまでのRamsey特許に比べて低電圧で共鳴放出が促進され、またRamsey特許特有の「二重ピーク(peak doubling)」効果がなくなることが示された。この装置は、少なくとも二つの別々の電圧源を要し:一つの電圧源は中心電極に印加される無線周波数(RF)電圧信号を制御しなければならず、少なくとも一つの電圧源はエンドキャップ電極を制御しなければならない(第一エンドキャップ電極は接地される、すなわちシステムの他の部分に対して0Vである)。
イオントラップの性能は、イオントラップのエンドキャップの一方に追加の信号を印加することによって向上させることができるが、そうすることによってシステムの複雑度が増す。第二信号を発生させ、信号をイオントラップのエンドキャップに駆動するためには電子機器が必要になる。この信号は最適には中心電極信号と同期化される必要がある。これらの電子機器が追加されることにより、質量分析システムの大きさ、重量および電力消費が増す。これは、携帯用質量分析計の用途においては重大になり得る。
米国特許第6,469,298号 米国特許第6,933,498号 米国特許第4,540,884号
Raymond E. Marchら、「Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry」 Moxomら、「Double Resonance Ejection in a Micro Ion Trap Mass Spectrometer,」Rapid Communication Mass Spectrometry 2002, 16: 755-760頁
概要
イオントラップは、第一開放端から第二開放端に延びる第一開口を有する導電性のリング形状の中心電極を備える。信号源が、第一端子と第二端子との間に少なくとも一つの交流(AC)要素を有し、トラップ信号を発生させる。第一端子は中心電極に接続され、第二端子は基準電圧電位に接続される。導電性の第一電極エンドキャップが中心電極の第一開放端近傍に配置され、基準電圧電位に接続される。第一固有キャパシタンスが、第一電極エンドキャップの表面と、中心電極の第一開放端の表面との間に形成される。
導電性の第二電極エンドキャップは中心電極の第二開放端近傍に配置され、第一電気回路によって基準電圧電位に接続される。第二固有キャパシタンスが、第二電極エンドキャップの表面と中心電極の第二開放端の表面との間に形成される。トラップ信号のある割合である励起電圧が、第二固有キャパシタンスと第一電気回路のインピーダンスとによるトラップ信号の電圧の分割に応じて、第二エンドキャップにかけられる。
一態様においては、電気回路はキャパシタと抵抗との並列回路である。抵抗は第二エンドキャップが帯電しないような大きさに設定され、それによって電荷蓄積(charge build up)や制御されない電圧ドリフトの可能性を抑制する。抵抗のインピーダンスも、トラップ信号の作動周波数においてキャパシタのインピーダンスよりかなり大きくされる。こうして、励起電圧の分割は励起電圧の周波数が変化しても実質的に一定に保たれ、励起電圧は中心電極にかけられる信号と実質的に同相である。
本明細書における複数の態様は、複雑度、コスト、または電力消費を大きく増加させることなく性能を向上させるために、トラップシグナルを発生させ、トラップシグナルのある割合を質量分光化学分析用イオントラップの第二エンドキャップにかけることを目的としている。
いくつかの態様は、スペクトル分解能を向上させ、通常であれば出力スペクトルに存在する二重ピーク(double peak)をなくすように動作する。
いくつかの他の態様は、異なる時点で、両エンドキャップ電極を異なる受動要素の回路および/または異なる電圧に接続するために採用することができるスイッチ回路を採用する。いくつかの態様では、電気回路には、第二エンドキャップ信号の特性(位相など)を変化させるために用いられるインダクタ、トランス、またはその他の受動回路素子を含む受動要素を採用してもよい。
複数の態様は、追加の励起電圧をイオントラップの両エンドキャップ間に印加することによってイオントラップの性能を向上させることを目的としている。一般的な共鳴放出技術とは異なり、この励起電圧の周波数は中心電極の励起周波数と等しい。この励起電圧の発生は受動要素のみを用いて達成でき、追加の信号発生器や信号ドライバは必要としない。
一つまたは複数の態様の詳細が添付の図面および以下の説明において示される。本発明のその他の特徴、目的、および利点は、説明および図面、ならびに特許請求の範囲から明らかにされる。
[本発明1001]
第一開放端から第二開放端に延びる第一開口を有する導電性のリング形状の中心電極と、
該中心電極に接続される第一端子と、基準電圧電位に接続される第二端子との間に少なくとも一つの交流(AC)要素を有し、トラップ信号を発生させる信号源と、
前記中心電極の前記第一開放端近傍に配置され、前記基準電圧電位に接続される導電性の第一電極エンドキャップであって、該第一電極エンドキャップの表面と、前記中心電極の前記第一開放端の表面との間に第一固有キャパシタンスが形成される第一電極エンドキャップと、
前記中心電極の前記第二開放端近傍に配置され、第一電気回路によって前記基準電圧電位に接続される導電性の第二電極エンドキャップであって、該第二電極エンドキャップの表面と前記中心電極の第二開放端の表面との間に第二固有キャパシタンスが形成され、第二固有キャパシタンスと前記第一電気回路のインピーダンスとによる前記トラップ信号の電圧の分割に応じて、該トラップ信号の、ある割合が前記第二電極エンドキャップにかけられる第二エンドキャップと、
を備える、イオントラップ。
[本発明1002]
第一電気回路が、抵抗と並列にキャパシタを備える、本発明1001のイオントラップ。
[本発明1003]
抵抗のインピーダンスが、トラップ信号の周波数においてキャパシタのインピーダンスの1/4よりも大きい、本発明1002のイオントラップ。
[本発明1004]
基準電圧電位が接地され、すなわち0Vである、本発明1001のイオントラップ。
[本発明1005]
基準電圧電位が調節可能な直流電圧である、本発明1001のイオントラップ。
[本発明1006]
キャパシタが、イオントラップの作動特性を最適化するために調節可能な可変キャパシタである、本発明1001のイオントラップ。
[本発明1007]
開口を有する中心電極と、
開口を有する第一エンドキャップ電極と、
開口を有する第二エンドキャップ電極と、
前記中心電極に印加される第一電子信号源と、
受動素子の回路と、
前記第一エンドキャップ電極と、前記受動素子の回路との間の電気接続と、
前記受動素子の回路と電圧電位との間の電気接続であって、前記受動素子の回路を介して前記電圧電位に接続されている前記第一エンドキャップ電極が、前記第一電子信号源と前記受動素子の回路との間の容量結合による電圧に対する耐性を有する電気接続と、
を備える、イオントラップ。
[本発明1008]
第一エンドキャップ電極を受動素子の回路に電気的に接続および切断するスイッチ回路をさらに備える、本発明1007のイオントラップ。
従来技術のイオントラップ信号駆動方法の回路ブロック図であって、二つの信号源を示す。 単一の信号源を用いる一態様による回路ブロック図である。 図3Aは、励起源の極が一方である間の四重極イオントラップを示す断面図である。図3Bは、励起源の極が他方である間の四重極イオントラップを示す断面図である。 単一の信号源と、受動要素を接続するスイッチ回路を用いる他の態様による回路ブロック図である。
複数の図面における同様の参照符号は、同様の構成要素を示す。
詳細な説明
本明細書において示される態様は、イオントラップのエンドキャップに電場を励起し、イオントラップの動きを向上させる。態様は、イオントラップの中心電極に存在する信号から電場励起信号を駆動する単純な電気回路である。
一態様において、性能を向上させるために、受動電気要素を用いてイオントラップの第二エンドキャップに信号を印加する。追加される要素は、ある割合の中心電極励起信号を第二エンドキャップに印加する働きをする。その結果、イオントラップ内における軸方向励起が起きて電力損失が非常にわずかとなることに伴い性能が向上し、システムの大きさに与える影響を最小限にしつつ複雑度が最小限に抑えられる。追加される要素の回路構成によって、追加された要素が、中心電極において見られるインピーダンスを増加させ、その結果システム全体の電力消費が実際に減少する態様もある。
複数の態様において、第二エンドキャップに印加される信号の周波数は、中心電極の周波数と同じである。印加される信号の周波数が中心電極の周波数と等しいので、従来の共鳴放出を行なうことなく性能の向上が得られる。本方法は、イオントラップの性能を最適化するために従来の共鳴放出法と共に行なわれてもよいことに留意すべきである。これは、一方の、または両方のエンドキャップを従来の共鳴放出信号源によって受動素子を介してさらに駆動し、それによって従来の共鳴放出信号と、先に述べた信号とを同時にイオントラップにかけることによって達成され得る。一態様では、従来の共鳴放出信号をいずれかのエンドキャップに印加し、中心電極と同じ周波数を有する先に述べた信号を残りのエンドキャップに印加することを備える。
本明細書におけるいくつかの態様では、作動周波数が変化した場合に戻したり調整したりする必要がない。第二エンドキャップにかけられる信号は、実質的に周波数に依存せず実際のキャパシタンス値のみに依存する容量性電圧ドライバの使用を通じて中心電極に接続された信号から導かれるので、戻すことの無い可変周波数作動が可能である。このことは、追加のキャパシタを短絡させるレジスタンスが、作動周波数範囲におけるキャパシタのインピーダンスよりもかなり大きい限り、正しい。
図3Aおよび3Bは従来技術の四重極イオントラップ300の断面図を示す。イオントラップ300は、二つの双曲線金属電極(エンドキャップ)303aおよび303bと、エンドキャップ電極303aと303bとの間の中間に配置された双曲線リング電極302と、を備える。正に帯電したイオン304は、これら三つの電極の間で電場305によって捕獲される。リング電極302は、無線周波数(RF)交流電圧源301の一つの端子に電気的に接続されている。交流電圧源301の第二端子は、放物線エンドキャップ電極303aおよび303bに接続されている。交流電圧電源301の電極が入れ替わると、電場線305も入れ替わる。イオントラップ300内のイオン304はこの動的四重極場だけでなく、より高次数の(六重、八重などの)電場によって閉じ込められる。
図1は、二つの信号源を有するイオントラップのための従来技術の信号駆動方法に接続されている電極の断面を示す概略ブロック図100である。第一イオントラップ電極(エンドキャップ)101は接地され、すなわち0Vに接続される。イオントラップ中心電極102は、第一信号源106によって駆動される。第二イオントラップエンドキャップ103は、第二信号源107によって駆動される。第一エンドキャップ101は、開口110を有する。中心電極102は開口111を有するリング形状であって、第二エンドキャップ103は開口114を有する。
図2は、イオントラップが一つの外部信号源206のみによって能動的に駆動される一態様に係る電極の断面を示す概略ブロック図200である。第一エンドキャップ201は開口210を有し、中心電極202は開口211を有し、第二エンドキャップ203は開口214を有する。第一イオントラップエンドキャップ201は接地され、すなわち0Vに接続されるが、他の態様においては、0V以外の電圧が用いられてもよい。例えば、他の態様においては、第一エンドキャップ201は可変直流電圧や別の信号に接続されてもよい。イオントラップ中心電極202は信号源206によって駆動される。第二イオントラップエンドキャップ203は、キャパシタ204と抵抗205との並列の組み合わせによって0Vに接続されている。
図2に示されている態様は、以下のように動作する:中心電極202と第二エンドキャップ203との間には必然的に固有キャパシタンス208が存在する。キャパシタ204のキャパシタンスと直列接続されたキャパシタンス208は容量性電圧ドライバを形成し、それによって、信号源206から導かれる電位を第二エンドキャップ203にかける。信号源206が可変電圧を中心電極202にかけるとき、容量性電圧ドライバの働きを通じて、より振幅の小さい可変電圧が第二エンドキャップ203にかけられる。必然的に、中心電極202と第一エンドキャップ201との間には対応する固有キャパシタンスが存在する。一態様によれば、別の抵抗205がエンドキャップ203と0Vとの間に追加される。抵抗205は電気経路を提供し、電気経路は第二エンドキャップ203が浮動直流電位を増大させ、それによって電圧ドリフトや過度な電荷蓄積が起きるのを防ぐ働きをする。一態様においては、信号源206の作動周波数において抵抗205のインピーダンスが追加のキャパシタ204のインピーダンスよりもかなり大きくなることを確実にするために、抵抗205の値は1から10メガオーム(MΩ)にされる。抵抗205のレジスタンス値がCA204のインピーダンスよりかなり大きい状態でないと、容量性電圧ドライバによって、中心電極202にかけられる信号と第二エンドキャップ203にかけられる信号との間に位相偏移が生じる。抵抗205のレジスタンス値がCA204のインピーダンスよりかなり大きい状態でないと、第二エンドキャップ203にかけられる信号の振幅は周波数の関数によって変化する。抵抗205がないと、容量性電圧ドライバ(CSおよびCA)は実質的に周波数に依存しない。一態様において、追加のキャパシタ204の値は可変にされ、それによってキャパシタ204の値を調節して所定のシステム特性に対する最適値とすることができる。
図4は、イオントラップが一つの外部信号源406のみによって能動的に駆動される一態様に係る電極の断面を示す概略ブロック図400 である。ここでも、第一エンドキャップ401は開口410を有し、中心電極402は開口411を有し、第二エンドキャップ403は開口414を有する。第一イオントラップエンドキャップ401は、制御部422からの制御信号に応じて、スイッチ回路421で受動要素427に接続される。受動要素427内の種々の要素は、いくつかの態様においては接地すなわち0Vである基準電圧428に接続されてもよい。他の態様では、基準電圧428は直流電圧や可変電圧であってもよい。スイッチ回路421と、受動要素427との組み合わせは第一エンドキャップ401の電位を制御し修正する働きをし、イオントラップの動作を向上させる。
第二イオントラップエンドキャップ403は、制御部422からの制御信号に応じて、スイッチ回路423で受動要素425に接続される。受動要素425内の種々の要素は、いくつかの態様においては接地すなわち0Vである基準電圧426に接続されてもよい。他の態様では、基準電圧426は直流電圧や可変電圧であってもよい。スイッチ回路423と、受動要素425との組み合わせは、第一エンドキャップ402 の電位を制御し、修正する働きをし、イオントラップの動作を向上させる。キャパシタンス408および409は、それぞれスイッチ回路423および421によってスイッチが入れられた場合に受動要素425および427と組み合わされて、信号源406の部分に接続される。
本発明のいくつかの態様について述べてきたが、本発明の趣旨および範囲から逸脱することなく種々の修正が可能であることは理解されるべきである。

Claims (10)

  1. 開口を有する中心電極と、
    開口を有する第一エンドキャップ電極と、
    開口を有する第二エンドキャップ電極と、
    前記中心電極に印加されるトラップ信号を発生させる電子信号源と、
    前記第一エンドキャップ電極に前記トラップ信号のある割合を印加するための受動素子の回路と、
    前記第一エンドキャップ電極と、前記受動素子の回路との間の電気接続と、
    前記受動素子の回路と第一の基準電圧電位との間の電気接続であって、前記第一エンドキャップ電極が前記受動素子の回路を介して前記電圧電位に接続し、前記第一エンドキャップ電極が、前記電信号源と前記受動素子の回路との間の容量結合による前記トラップ信号の電圧の分割に応じた励起電圧を有する、電気接続と、
    を備える、イオントラップ。
  2. 第一エンドキャップ電極を受動素子の回路に電気的に接続および切断するスイッチ回路をさらに備える、請求項1記載のイオントラップ。
  3. 前記第二エンドキャップ電極と、第二の基準電圧電位との間の電気接続をさらに備える、請求項1記載のイオントラップ。
  4. 質量分析計である、請求項1記載のイオントラップ。
  5. 前記第一の基準電圧電位が調節可能な直流電圧である、請求項1記載のイオントラップ。
  6. 前記第二の基準電圧電位が調節可能な直流電圧である、請求項3記載のイオントラップ。
  7. 前記第一または第二エンドキャップ電極のうち、少なくとも一方において共鳴放出信号を受けるように構成されている、請求項1記載のイオントラップ。
  8. 前記トラップ信号のある割合の振幅が、前記トラップ信号の周波数に実質的に依存しない、請求項1記載のイオントラップ。
  9. 前記トラップ信号のある割合と、前記トラップ信号との間の位相差が、前記トラップ信号の周波数に実質的に依存しない、請求項1記載のイオントラップ。
  10. 前記第一エンドキャップ電極を前記受動素子の回路に接続および切断するスイッチ回路を制御する制御部をさらに備える、請求項2記載のイオントラップ。
JP2014157332A 2007-12-10 2014-08-01 イオントラップのエンドキャップ電圧制御 Expired - Fee Related JP5895034B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US1266007P 2007-12-10 2007-12-10
US61/012,660 2007-12-10
US12/329,787 US8334506B2 (en) 2007-12-10 2008-12-08 End cap voltage control of ion traps
US12/329,787 2008-12-08

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010538129A Division JP5613057B2 (ja) 2007-12-10 2008-12-10 イオントラップのエンドキャップ電圧制御

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014222673A JP2014222673A (ja) 2014-11-27
JP5895034B2 true JP5895034B2 (ja) 2016-03-30

Family

ID=40720638

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010538129A Expired - Fee Related JP5613057B2 (ja) 2007-12-10 2008-12-10 イオントラップのエンドキャップ電圧制御
JP2014157332A Expired - Fee Related JP5895034B2 (ja) 2007-12-10 2014-08-01 イオントラップのエンドキャップ電圧制御

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010538129A Expired - Fee Related JP5613057B2 (ja) 2007-12-10 2008-12-10 イオントラップのエンドキャップ電圧制御

Country Status (6)

Country Link
US (2) US8334506B2 (ja)
EP (1) EP2232522B1 (ja)
JP (2) JP5613057B2 (ja)
CN (1) CN101971290A (ja)
CA (1) CA2708594C (ja)
WO (1) WO2009076444A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8334506B2 (en) 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
US7973277B2 (en) * 2008-05-27 2011-07-05 1St Detect Corporation Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter
US8309912B2 (en) * 2008-11-21 2012-11-13 Applied Nanotech Holdings, Inc. Atmospheric pressure ion trap
CN103367094B (zh) * 2012-03-31 2016-12-14 株式会社岛津制作所 离子阱分析器以及离子阱质谱分析方法
US8610055B1 (en) * 2013-03-11 2013-12-17 1St Detect Corporation Mass spectrometer ion trap having asymmetric end cap apertures
WO2014164198A1 (en) * 2013-03-11 2014-10-09 David Rafferty Automatic gain control with defocusing lens
US9214321B2 (en) * 2013-03-11 2015-12-15 1St Detect Corporation Methods and systems for applying end cap DC bias in ion traps
US8878127B2 (en) 2013-03-15 2014-11-04 The University Of North Carolina Of Chapel Hill Miniature charged particle trap with elongated trapping region for mass spectrometry
US8969794B2 (en) 2013-03-15 2015-03-03 1St Detect Corporation Mass dependent automatic gain control for mass spectrometer
US10734212B2 (en) * 2014-01-02 2020-08-04 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Homogenization of the pulsed electric field created in a ring stack ion accelerator
US9728392B2 (en) * 2015-01-19 2017-08-08 Hamilton Sundstrand Corporation Mass spectrometer electrode
US10242857B2 (en) 2017-08-31 2019-03-26 The University Of North Carolina At Chapel Hill Ion traps with Y-directional ion manipulation for mass spectrometry and related mass spectrometry systems and methods
RU2740176C1 (ru) * 2019-10-14 2021-01-12 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Рязанское гвардейское высшее воздушно-десантное ордена Суворова дважды Краснознаменное командное училище имени генерала армии В.Ф. Маргелова" Министерства обороны Российской Федерации Устройство определения контактной разности потенциалов
CN110783165A (zh) * 2019-11-01 2020-02-11 上海裕达实业有限公司 线性离子阱离子引入侧的端盖电极结构

Family Cites Families (368)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2373737A (en) 1943-02-22 1945-04-17 Rca Corp Amplitude modulation
US2531050A (en) 1946-11-30 1950-11-21 Sylvania Electric Prod Ion trap
US2555850A (en) 1948-01-28 1951-06-05 Nicholas D Glyptis Ion trap
US2575067A (en) 1948-05-13 1951-11-13 Clarostat Mfg Co Inc Ion trap
GB676238A (en) 1948-10-29 1952-07-23 British Thomson Houston Co Ltd Improvements relating to phase-control circuits
US2507721A (en) 1948-12-21 1950-05-16 Rca Corp Amplitude modulation
US2539156A (en) * 1949-01-19 1951-01-23 Tele Tone Radio Corp Ion trap magnet
US2604533A (en) 1949-03-08 1952-07-22 Rca Corp Amplitude modulation
US2553792A (en) 1949-10-01 1951-05-22 Indiana Steel Products Co Ion trap and centering magnet assembly
US2549602A (en) 1949-10-01 1951-04-17 Indiana Steel Products Co Applicator for ion traps
US2580355A (en) 1949-10-08 1951-12-25 Du Mont Allen B Lab Inc Ion trap magnet
NL153273B (nl) 1950-05-02 Bosch Gmbh Robert Afvoerinrichting voor het continu afvoeren van een suikermassa uit een vacuuemkookketel voor het indampen van een stroperige suikermassa.
US2663815A (en) 1950-09-26 1953-12-22 Clarostat Mfg Co Inc Ion trap
US2582402A (en) * 1950-09-29 1952-01-15 Rauland Corp Ion trap type electron gun
US2642546A (en) 1950-10-10 1953-06-16 Louis J Patla Ion trap
US2661436A (en) 1951-11-07 1953-12-01 Rca Corp Ion trap gun
US2756392A (en) 1952-01-11 1956-07-24 Rca Corp Amplitude modulation
BE548096A (ja) * 1953-05-30
US2974253A (en) * 1953-10-05 1961-03-07 Varian Associates Electron discharge apparatus
IT528250A (ja) 1953-12-24
US2810091A (en) 1954-03-31 1957-10-15 Rca Corp Ion trap
US2903612A (en) 1954-09-16 1959-09-08 Rca Corp Positive ion trap gun
US3114877A (en) 1956-10-30 1963-12-17 Gen Electric Particle detector having improved unipolar charging structure
US3065640A (en) 1959-08-27 1962-11-27 Thompson Ramo Wooldridge Inc Containment device
US3188472A (en) 1961-07-12 1965-06-08 Jr Elden C Whipple Method and apparatus for determining satellite orientation utilizing spatial energy sources
US3307332A (en) * 1964-12-11 1967-03-07 Du Pont Electrostatic gas filter
US3526583A (en) 1967-03-24 1970-09-01 Eastman Kodak Co Treatment for increasing the hydrophilicity of materials
US3631280A (en) 1969-10-06 1971-12-28 Varian Associates Ionic vacuum pump incorporating an ion trap
US4075533A (en) * 1976-09-07 1978-02-21 Tektronix, Inc. Electron beam forming structure utilizing an ion trap
DE3120196C2 (de) 1981-05-21 1985-02-14 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Hochfrequenzgenerator für die Versorgung eines Massenspektrometers
US4423385A (en) 1981-06-10 1983-12-27 Intersil, Inc. Chopper-stabilized amplifier
US4499339A (en) * 1982-11-24 1985-02-12 Baptist Medical Center Of Oklahoma, Inc. Amplitude modulation apparatus and method
US4540884A (en) 1982-12-29 1985-09-10 Finnigan Corporation Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap
US4621213A (en) 1984-07-02 1986-11-04 Imatron, Inc. Electron gun
US4650999A (en) * 1984-10-22 1987-03-17 Finnigan Corporation Method of mass analyzing a sample over a wide mass range by use of a quadrupole ion trap
NL8403537A (nl) 1984-11-21 1986-06-16 Philips Nv Kathodestraalbuis met ionenval.
JPS61177006A (ja) * 1985-01-31 1986-08-08 Sony Corp Am変調器
EP0202943B2 (en) 1985-05-24 2004-11-24 Thermo Finnigan LLC Method of operating an ion trap
JPS61296650A (ja) * 1985-06-25 1986-12-27 Anelva Corp 四重極型質量分析計電源
US4686367A (en) 1985-09-06 1987-08-11 Finnigan Corporation Method of operating quadrupole ion trap chemical ionization mass spectrometry
DE3538407A1 (de) 1985-10-29 1987-04-30 Spectrospin Ag Ionen-zyklotron-resonanz-spektrometer
NL8600098A (nl) 1986-01-20 1987-08-17 Philips Nv Kathodestraalbuis met ionenval.
US5107109A (en) 1986-03-07 1992-04-21 Finnigan Corporation Method of increasing the dynamic range and sensitivity of a quadrupole ion trap mass spectrometer
US4761545A (en) 1986-05-23 1988-08-02 The Ohio State University Research Foundation Tailored excitation for trapped ion mass spectrometry
US4749860A (en) 1986-06-05 1988-06-07 Finnigan Corporation Method of isolating a single mass in a quadrupole ion trap
US4755670A (en) * 1986-10-01 1988-07-05 Finnigan Corporation Fourtier transform quadrupole mass spectrometer and method
US4867939A (en) 1987-04-03 1989-09-19 Deutch Bernhard I Process for preparing antihydrogen
US4818869A (en) 1987-05-22 1989-04-04 Finnigan Corporation Method of isolating a single mass or narrow range of masses and/or enhancing the sensitivity of an ion trap mass spectrometer
US4771172A (en) 1987-05-22 1988-09-13 Finnigan Corporation Method of increasing the dynamic range and sensitivity of a quadrupole ion trap mass spectrometer operating in the chemical ionization mode
DE3733853A1 (de) 1987-10-07 1989-04-27 Spectrospin Ag Verfahren zum einbringen von ionen in die ionenfalle eines ionen-zyklotron-resonanz-spektrometers und zur durchfuehrung des verfahrens ausgebildetes ionen-zyklotron-resonanz-spektrometers
EP0321819B2 (de) 1987-12-23 2002-06-19 Bruker Daltonik GmbH Verfahren zur massenspektroskopischen Untersuchung eines Gasgemisches und Massenspektrometer zur Durchführung dieses Verfahrens
DE3821998A1 (de) * 1988-06-30 1990-01-04 Spectrospin Ag Icr-ionenfalle
US4931639A (en) 1988-09-01 1990-06-05 Cornell Research Foundation, Inc. Multiplication measurement of ion mass spectra
US4945234A (en) 1989-05-19 1990-07-31 Extrel Ftms, Inc. Method and apparatus for producing an arbitrary excitation spectrum for Fourier transform mass spectrometry
US5051582A (en) 1989-09-06 1991-09-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Method for the production of size, structure and composition of specific-cluster ions
US5118950A (en) 1989-12-29 1992-06-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Cluster ion synthesis and confinement in hybrid ion trap arrays
US4982088A (en) * 1990-02-02 1991-01-01 California Institute Of Technology Method and apparatus for highly sensitive spectroscopy of trapped ions
US5055678A (en) 1990-03-02 1991-10-08 Finnigan Corporation Metal surfaces for sample analyzing and ionizing apparatus
JP2888258B2 (ja) * 1990-11-30 1999-05-10 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置および基板処理方法
US5075547A (en) 1991-01-25 1991-12-24 Finnigan Corporation Quadrupole ion trap mass spectrometer having two pulsed axial excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning and selected reaction monitoring
US5171991A (en) 1991-01-25 1992-12-15 Finnigan Corporation Quadrupole ion trap mass spectrometer having two axial modulation excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning
US5162650A (en) 1991-01-25 1992-11-10 Finnigan Corporation Method and apparatus for multi-stage particle separation with gas addition for a mass spectrometer
US5381007A (en) * 1991-02-28 1995-01-10 Teledyne Mec A Division Of Teledyne Industries, Inc. Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form
US5451782A (en) 1991-02-28 1995-09-19 Teledyne Et Mass spectometry method with applied signal having off-resonance frequency
US5200613A (en) 1991-02-28 1993-04-06 Teledyne Mec Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals
US5196699A (en) * 1991-02-28 1993-03-23 Teledyne Mec Chemical ionization mass spectrometry method using notch filter
US5449905A (en) 1992-05-14 1995-09-12 Teledyne Et Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry
US5187365A (en) * 1991-02-28 1993-02-16 Teledyne Mec Mass spectrometry method using time-varying filtered noise
US5436445A (en) 1991-02-28 1995-07-25 Teledyne Electronic Technologies Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form
US5274233A (en) 1991-02-28 1993-12-28 Teledyne Mec Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals
US5105081A (en) 1991-02-28 1992-04-14 Teledyne Cme Mass spectrometry method and apparatus employing in-trap ion detection
US5134286A (en) 1991-02-28 1992-07-28 Teledyne Cme Mass spectrometry method using notch filter
US5256875A (en) 1992-05-14 1993-10-26 Teledyne Mec Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry
US5182451A (en) * 1991-04-30 1993-01-26 Finnigan Corporation Method of operating an ion trap mass spectrometer in a high resolution mode
US5248883A (en) 1991-05-30 1993-09-28 International Business Machines Corporation Ion traps of mono- or multi-planar geometry and planar ion trap devices
US5179278A (en) * 1991-08-23 1993-01-12 Mds Health Group Limited Multipole inlet system for ion traps
DE4139037C2 (de) 1991-11-27 1995-07-27 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zum Isolieren von Ionen einer auswählbaren Masse
US5206509A (en) 1991-12-11 1993-04-27 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Universal collisional activation ion trap mass spectrometry
DE4142869C1 (ja) * 1991-12-23 1993-05-19 Bruker - Franzen Analytik Gmbh, 2800 Bremen, De
DE4142870C2 (de) * 1991-12-23 1995-03-16 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren für phasenrichtiges Messen der Ionen aus Ionenfallen-Massenspektrometern
DE4142871C1 (ja) 1991-12-23 1993-05-19 Bruker - Franzen Analytik Gmbh, 2800 Bremen, De
DE4202123C2 (de) 1992-01-27 1995-04-06 Bruker Franzen Analytik Gmbh Vorrichtung für die massenspektrometrische Untersuchung schneller organischer Ionen
US5272337A (en) 1992-04-08 1993-12-21 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Sample introducing apparatus and sample modules for mass spectrometer
US5306910A (en) 1992-04-10 1994-04-26 Millipore Corporation Time modulated electrified spray apparatus and process
US5340983A (en) * 1992-05-18 1994-08-23 The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University Method and apparatus for mass analysis using slow monochromatic electrons
US5248882A (en) 1992-05-28 1993-09-28 Extrel Ftms, Inc. Method and apparatus for providing tailored excitation as in Fourier transform mass spectrometry
US5457315A (en) 1994-01-11 1995-10-10 Varian Associates, Inc. Method of selective ion trapping for quadrupole ion trap mass spectrometers
US5352892A (en) 1992-05-29 1994-10-04 Cornell Research Foundation, Inc. Atmospheric pressure ion interface for a mass analyzer
US5198665A (en) * 1992-05-29 1993-03-30 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap improved technique for ion isolation
US5448061A (en) 1992-05-29 1995-09-05 Varian Associates, Inc. Method of space charge control for improved ion isolation in an ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling
US5521380A (en) 1992-05-29 1996-05-28 Wells; Gregory J. Frequency modulated selected ion species isolation in a quadrupole ion trap
GB2267385B (en) * 1992-05-29 1995-12-13 Finnigan Corp Method of detecting the ions in an ion trap mass spectrometer
US5479012A (en) 1992-05-29 1995-12-26 Varian Associates, Inc. Method of space charge control in an ion trap mass spectrometer
US5302826A (en) 1992-05-29 1994-04-12 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap improved technique for collisional induced disassociation for MS/MS processes
US5527731A (en) 1992-11-13 1996-06-18 Hitachi, Ltd. Surface treating method and apparatus therefor
US5475227A (en) 1992-12-17 1995-12-12 Intevac, Inc. Hybrid photomultiplier tube with ion deflector
US5291017A (en) * 1993-01-27 1994-03-01 Varian Associates, Inc. Ion trap mass spectrometer method and apparatus for improved sensitivity
DE4316737C1 (de) 1993-05-19 1994-09-01 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur digitalen Erzeugung einer zusätzlichen Wechselspannung für die resonante Anregung von Ionen in Ionenfallen
DE4316738C2 (de) 1993-05-19 1996-10-17 Bruker Franzen Analytik Gmbh Auswurf von Ionen aus Ionenfallen durch kombinierte elektrische Dipol- und Quadrupolfelder
US5324939A (en) 1993-05-28 1994-06-28 Finnigan Corporation Method and apparatus for ejecting unwanted ions in an ion trap mass spectrometer
US5399857A (en) * 1993-05-28 1995-03-21 The Johns Hopkins University Method and apparatus for trapping ions by increasing trapping voltage during ion introduction
DE4324224C1 (de) 1993-07-20 1994-10-06 Bruker Franzen Analytik Gmbh Quadrupol-Ionenfallen mit schaltbaren Multipol-Anteilen
DE4324233C1 (de) 1993-07-20 1995-01-19 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur Auswahl der Reaktionspfade in Ionenfallen
DE4326549C1 (de) 1993-08-07 1994-08-25 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren für eine Regelung der Raumladung in Ionenfallen
US5448062A (en) 1993-08-30 1995-09-05 Mims Technology Development Co. Analyte separation process and apparatus
JP3367719B2 (ja) * 1993-09-20 2003-01-20 株式会社日立製作所 質量分析計および静電レンズ
US5663560A (en) 1993-09-20 1997-09-02 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for mass analysis of solution sample
US6005245A (en) 1993-09-20 1999-12-21 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for ionizing a sample under atmospheric pressure and selectively introducing ions into a mass analysis region
US5396064A (en) * 1994-01-11 1995-03-07 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap ion isolation method
US6897439B1 (en) 1994-02-28 2005-05-24 Analytica Of Branford, Inc. Multipole ion guide for mass spectrometry
US5479815A (en) * 1994-02-24 1996-01-02 Kraft Foods, Inc. Method and apparatus for measuring volatiles released from food products
AU1932095A (en) 1994-02-28 1995-09-11 Analytica Of Branford, Inc. Multipole ion guide for mass spectrometry
US6011259A (en) * 1995-08-10 2000-01-04 Analytica Of Branford, Inc. Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis
US5689111A (en) * 1995-08-10 1997-11-18 Analytica Of Branford, Inc. Ion storage time-of-flight mass spectrometer
US5608217A (en) * 1994-03-10 1997-03-04 Bruker-Franzen Analytik Gmbh Electrospraying method for mass spectrometric analysis
US5420549A (en) 1994-05-13 1995-05-30 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Extended linear ion trap frequency standard apparatus
US5420425A (en) 1994-05-27 1995-05-30 Finnigan Corporation Ion trap mass spectrometer system and method
GB2291200A (en) * 1994-07-15 1996-01-17 Ion Track Instr Ion mobility spectrometer and method of operation for enhanced detection of narotics
DE4425384C1 (de) 1994-07-19 1995-11-02 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur stoßinduzierten Fragmentierung von Ionen in Ionenfallen
US5451781A (en) 1994-10-28 1995-09-19 Regents Of The University Of California Mini ion trap mass spectrometer
DE19501835C2 (de) 1995-01-21 1998-07-02 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur Anregung der Schwingungen von Ionen in Ionenfallen mit Frequenzgemischen
DE19501823A1 (de) * 1995-01-21 1996-07-25 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur Regelung der Erzeugungsraten für massenselektives Einspeichern von Ionen in Ionenfallen
US5623144A (en) 1995-02-14 1997-04-22 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer ring-shaped electrode having high ion selection efficiency and mass spectrometry method thereby
US5572022A (en) 1995-03-03 1996-11-05 Finnigan Corporation Method and apparatus of increasing dynamic range and sensitivity of a mass spectrometer
DE19523859C2 (de) 1995-06-30 2000-04-27 Bruker Daltonik Gmbh Vorrichtung für die Reflektion geladener Teilchen
DE19511333C1 (de) 1995-03-28 1996-08-08 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und Vorrichtung für orthogonalen Einschuß von Ionen in ein Flugzeit-Massenspektrometer
GB9506695D0 (en) * 1995-03-31 1995-05-24 Hd Technologies Limited Improvements in or relating to a mass spectrometer
JP3509267B2 (ja) 1995-04-03 2004-03-22 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析方法および装置
DE19517507C1 (de) * 1995-05-12 1996-08-08 Bruker Franzen Analytik Gmbh Hochfrequenz-Ionenleitsystem
US5569917A (en) 1995-05-19 1996-10-29 Varian Associates, Inc. Apparatus for and method of forming a parallel ion beam
US5572025A (en) 1995-05-25 1996-11-05 The Johns Hopkins University, School Of Medicine Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer in the resonance ejection mode
DE19520319A1 (de) 1995-06-02 1996-12-12 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und Vorrichtung für die Einführung von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen
JPH095298A (ja) 1995-06-06 1997-01-10 Varian Assoc Inc 四重極イオントラップ内の選択イオン種を検出する方法
DE19523860A1 (de) * 1995-06-30 1997-01-02 Bruker Franzen Analytik Gmbh Ionenfallen-Massenspektrometer mit vakuum-externer Ionenerzeugung
US6075244A (en) * 1995-07-03 2000-06-13 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
JPH11510946A (ja) 1995-08-11 1999-09-21 エムディーエス ヘルス グループ リミテッド 軸電界を有する分光計
US5811800A (en) 1995-09-14 1998-09-22 Bruker-Franzen Analytik Gmbh Temporary storage of ions for mass spectrometric analyses
US5633497A (en) 1995-11-03 1997-05-27 Varian Associates, Inc. Surface coating to improve performance of ion trap mass spectrometers
JP3189652B2 (ja) 1995-12-01 2001-07-16 株式会社日立製作所 質量分析装置
US6259091B1 (en) 1996-01-05 2001-07-10 Battelle Memorial Institute Apparatus for reduction of selected ion intensities in confined ion beams
US5767512A (en) 1996-01-05 1998-06-16 Battelle Memorial Institute Method for reduction of selected ion intensities in confined ion beams
US5629519A (en) 1996-01-16 1997-05-13 Hitachi Instruments Three dimensional quadrupole ion trap
JPH09192586A (ja) 1996-01-17 1997-07-29 Nippon Parkerizing Co Ltd 静電粉体塗装方法
US5714755A (en) * 1996-03-01 1998-02-03 Varian Associates, Inc. Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer
JP3651106B2 (ja) 1996-04-03 2005-05-25 株式会社日立製作所 質量分析計
US5625186A (en) * 1996-03-21 1997-04-29 Purdue Research Foundation Non-destructive ion trap mass spectrometer and method
JP3424431B2 (ja) 1996-03-29 2003-07-07 株式会社日立製作所 質量分析装置
US5734162A (en) * 1996-04-30 1998-03-31 Hewlett Packard Company Method and apparatus for selectively trapping ions into a quadrupole trap
ATE300995T1 (de) 1996-05-14 2005-08-15 Analytica Of Branford Inc Ionentransfer von multipolionenleitern in multipolionenleiter und ionenfallen
US5696376A (en) 1996-05-20 1997-12-09 The Johns Hopkins University Method and apparatus for isolating ions in an ion trap with increased resolving power
JP3294106B2 (ja) 1996-05-21 2002-06-24 株式会社日立製作所 三次元四重極質量分析法および装置
US5644131A (en) 1996-05-22 1997-07-01 Hewlett-Packard Co. Hyperbolic ion trap and associated methods of manufacture
US6177668B1 (en) * 1996-06-06 2001-01-23 Mds Inc. Axial ejection in a multipole mass spectrometer
GB9612070D0 (en) 1996-06-10 1996-08-14 Micromass Ltd Plasma mass spectrometer
US5852294A (en) 1996-07-03 1998-12-22 Analytica Of Branford, Inc. Multiple rod construction for ion guides and mass spectrometers
US5756996A (en) 1996-07-05 1998-05-26 Finnigan Corporation Ion source assembly for an ion trap mass spectrometer and method
DE19628179C2 (de) 1996-07-12 1998-04-23 Bruker Franzen Analytik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Einschuß von Ionen in eine Ionenfalle
DE19629134C1 (de) 1996-07-19 1997-12-11 Bruker Franzen Analytik Gmbh Vorrichtung zur Überführung von Ionen und mit dieser durchgeführtes Meßverfahren
US5650617A (en) 1996-07-30 1997-07-22 Varian Associates, Inc. Method for trapping ions into ion traps and ion trap mass spectrometer system thereof
US5726448A (en) * 1996-08-09 1998-03-10 California Institute Of Technology Rotating field mass and velocity analyzer
US5693941A (en) 1996-08-23 1997-12-02 Battelle Memorial Institute Asymmetric ion trap
US5777214A (en) 1996-09-12 1998-07-07 Lockheed Martin Energy Research Corporation In-situ continuous water analyzing module
WO1998011428A1 (en) 1996-09-13 1998-03-19 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
US5900481A (en) 1996-11-06 1999-05-04 Sequenom, Inc. Bead linkers for immobilizing nucleic acids to solid supports
US5793038A (en) 1996-12-10 1998-08-11 Varian Associates, Inc. Method of operating an ion trap mass spectrometer
US5793091A (en) 1996-12-13 1998-08-11 International Business Machines Corporation Parallel architecture for quantum computers using ion trap arrays
DE69817211T2 (de) 1997-01-23 2004-06-03 Xzillion Gmbh & Co. Kg Charakterisierung von polypeptiden
US5747801A (en) 1997-01-24 1998-05-05 University Of Florida Method and device for improved trapping efficiency of injected ions for quadrupole ion traps
JP3648906B2 (ja) 1997-02-14 2005-05-18 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析計を用いた分析装置
JP3617662B2 (ja) 1997-02-28 2005-02-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
DE19709172B4 (de) 1997-03-06 2007-03-22 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren der vergleichenden Analyse mit Ionenfallenmassenspektrometern
DE19709086B4 (de) 1997-03-06 2007-03-15 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren der Raumladungsregelung von Tochterionen in Ionenfallen
US6147348A (en) 1997-04-11 2000-11-14 University Of Florida Method for performing a scan function on quadrupole ion trap mass spectrometers
JP3570151B2 (ja) 1997-04-17 2004-09-29 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析装置
JPH10314624A (ja) 1997-05-14 1998-12-02 Nippon Parkerizing Co Ltd 静電粉体塗装ガン
US6107625A (en) 1997-05-30 2000-08-22 Bruker Daltonics, Inc. Coaxial multiple reflection time-of-flight mass spectrometer
US5905258A (en) 1997-06-02 1999-05-18 Advanced Research & Techology Institute Hybrid ion mobility and mass spectrometer
US6323482B1 (en) 1997-06-02 2001-11-27 Advanced Research And Technology Institute, Inc. Ion mobility and mass spectrometer
US6498342B1 (en) 1997-06-02 2002-12-24 Advanced Research & Technology Institute Ion separation instrument
US5880466A (en) * 1997-06-02 1999-03-09 The Regents Of The University Of California Gated charged-particle trap
JP3496458B2 (ja) 1997-06-10 2004-02-09 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析装置及びイオントラップ質量分析方法
GB9717926D0 (en) 1997-08-22 1997-10-29 Micromass Ltd Methods and apparatus for tandem mass spectrometry
US6157030A (en) 1997-09-01 2000-12-05 Hitachi, Ltd. Ion trap mass spectrometer
JPH1183803A (ja) * 1997-09-01 1999-03-26 Hitachi Ltd マスマーカーの補正方法
US6157031A (en) 1997-09-17 2000-12-05 California Institute Of Technology Quadropole mass analyzer with linear ion trap
JP3413079B2 (ja) 1997-10-09 2003-06-03 株式会社日立製作所 イオントラップ型質量分析装置
DE19751401B4 (de) 1997-11-20 2007-03-01 Bruker Daltonik Gmbh Quadrupol-Hochfrequenz-Ionenfallen für Massenspektrometer
US6015972A (en) * 1998-01-12 2000-01-18 Mds Inc. Boundary activated dissociation in rod-type mass spectrometer
EP1050065A4 (en) * 1998-01-23 2004-03-31 Analytica Of Branford Inc SURFACES MASS
US6753523B1 (en) 1998-01-23 2004-06-22 Analytica Of Branford, Inc. Mass spectrometry with multipole ion guides
US6331702B1 (en) 1999-01-25 2001-12-18 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
GB9802111D0 (en) 1998-01-30 1998-04-01 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Time-of-flight mass spectrometer
US6428956B1 (en) 1998-03-02 2002-08-06 Isis Pharmaceuticals, Inc. Mass spectrometric methods for biomolecular screening
US6124592A (en) 1998-03-18 2000-09-26 Technispan Llc Ion mobility storage trap and method
US6414331B1 (en) 1998-03-23 2002-07-02 Gerald A. Smith Container for transporting antiprotons and reaction trap
JP3372862B2 (ja) * 1998-03-25 2003-02-04 株式会社日立製作所 生体液の質量分析装置
JP3904322B2 (ja) 1998-04-20 2007-04-11 株式会社日立製作所 分析装置
US6069355A (en) 1998-05-14 2000-05-30 Varian, Inc. Ion trap mass pectrometer with electrospray ionization
JP4231123B2 (ja) * 1998-06-15 2009-02-25 浜松ホトニクス株式会社 電子管及び光電子増倍管
JP2000028579A (ja) 1998-07-08 2000-01-28 Hitachi Ltd 試料ガス採取装置及び危険物探知装置
US6504149B2 (en) 1998-08-05 2003-01-07 National Research Council Canada Apparatus and method for desolvating and focussing ions for introduction into a mass spectrometer
US6621077B1 (en) 1998-08-05 2003-09-16 National Research Council Canada Apparatus and method for atmospheric pressure-3-dimensional ion trapping
JP2000067805A (ja) 1998-08-24 2000-03-03 Hitachi Ltd 質量分析装置
ATE253126T1 (de) 1998-08-25 2003-11-15 Univ Washington Schnelle quantitative analyse von proteinen oder proteinfunktionen in komplexen gemischen
WO2000013025A1 (en) 1998-08-31 2000-03-09 University Of Washington Stable isotope metabolic labeling for analysis of biopolymers
US6392225B1 (en) 1998-09-24 2002-05-21 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for transferring ions from an atmospheric pressure ion source into an ion trap mass spectrometer
US6624408B1 (en) 1998-10-05 2003-09-23 Bruker Daltonik Gmbh Method for library searches and extraction of structural information from daughter ion spectra in ion trap mass spectrometry
US6124591A (en) 1998-10-16 2000-09-26 Finnigan Corporation Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap
CA2255188C (en) 1998-12-02 2008-11-18 University Of British Columbia Method and apparatus for multiple stages of mass spectrometry
US6196889B1 (en) * 1998-12-11 2001-03-06 United Technologies Corporation Method and apparatus for use an electron gun employing a thermionic source of electrons
US6483244B1 (en) 1998-12-21 2002-11-19 Shimadzu Research Laboratory (Europe) Ltd. Method of fast start and/or fast termination of a radio frequency resonator
US6291820B1 (en) 1999-01-08 2001-09-18 The Regents Of The University Of California Highly charged ion secondary ion mass spectroscopy
US6342393B1 (en) * 1999-01-22 2002-01-29 Isis Pharmaceuticals, Inc. Methods and apparatus for external accumulation and photodissociation of ions prior to mass spectrometric analysis
US6211516B1 (en) 1999-02-09 2001-04-03 Syagen Technology Photoionization mass spectrometer
DE19911801C1 (de) * 1999-03-17 2001-01-11 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur matrixunterstützten Laserdesorptions-Ionisierung von Substanzen
US6629040B1 (en) 1999-03-19 2003-09-30 University Of Washington Isotope distribution encoded tags for protein identification
GB2349270B (en) 1999-04-15 2002-02-13 Hitachi Ltd Mass analysis apparatus and method for mass analysis
US6379970B1 (en) 1999-04-30 2002-04-30 The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Analysis of differential protein expression
US6391649B1 (en) 1999-05-04 2002-05-21 The Rockefeller University Method for the comparative quantitative analysis of proteins and other biological material by isotopic labeling and mass spectroscopy
US6489609B1 (en) 1999-05-21 2002-12-03 Hitachi, Ltd. Ion trap mass spectrometry and apparatus
US6507019B2 (en) * 1999-05-21 2003-01-14 Mds Inc. MS/MS scan methods for a quadrupole/time of flight tandem mass spectrometer
US6504148B1 (en) * 1999-05-27 2003-01-07 Mds Inc. Quadrupole mass spectrometer with ION traps to enhance sensitivity
WO2000077823A2 (en) * 1999-06-11 2000-12-21 Perseptive Biosystems, Inc. Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use
DE19930894B4 (de) 1999-07-05 2007-02-08 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren zur Regelung der Ionenzahl in Ionenzyklotronresonanz-Massenspektrometern
US6690004B2 (en) * 1999-07-21 2004-02-10 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method and apparatus for electrospray-augmented high field asymmetric ion mobility spectrometry
DE19937438C2 (de) 1999-08-07 2001-09-13 Bruker Daltonik Gmbh Kopplung Dünnschicht-Chromatographie und Massenspektrometrie (TLC/MS)
DE19937439C1 (de) * 1999-08-07 2001-05-17 Bruker Daltonik Gmbh Vorrichtung zum abwechselnden Betrieb mehrerer Ionenquellen
WO2001015201A2 (en) 1999-08-26 2001-03-01 University Of New Hampshire Multiple stage mass spectrometer
US6326615B1 (en) 1999-08-30 2001-12-04 Syagen Technology Rapid response mass spectrometer system
JP3650551B2 (ja) 1999-09-14 2005-05-18 株式会社日立製作所 質量分析計
US6469298B1 (en) 1999-09-20 2002-10-22 Ut-Battelle, Llc Microscale ion trap mass spectrometer
DE19949978A1 (de) 1999-10-08 2001-05-10 Univ Dresden Tech Elektronenstoßionenquelle
JP3756365B2 (ja) 1999-12-02 2006-03-15 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析方法
JP3625265B2 (ja) 1999-12-07 2005-03-02 株式会社日立製作所 イオントラップ型質量分析装置
JP3470671B2 (ja) 2000-01-31 2003-11-25 株式会社島津製作所 イオントラップ型質量分析装置における広帯域信号生成方法
US6822224B2 (en) 2000-03-14 2004-11-23 National Research Council Canada Tandem high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry (FAIMS)tandem mass spectrometry
JP4416259B2 (ja) 2000-03-24 2010-02-17 キヤノンアネルバ株式会社 質量分析装置
EP1269519B1 (en) 2000-03-31 2004-06-02 Shimadzu Research Laboratory (Europe) Ltd. A radio frequency resonator
US6545268B1 (en) 2000-04-10 2003-04-08 Perseptive Biosystems Preparation of ion pulse for time-of-flight and for tandem time-of-flight mass analysis
US6403955B1 (en) 2000-04-26 2002-06-11 Thermo Finnigan Llc Linear quadrupole mass spectrometer
US6762406B2 (en) 2000-05-25 2004-07-13 Purdue Research Foundation Ion trap array mass spectrometer
JP2001351571A (ja) 2000-06-07 2001-12-21 Hitachi Ltd イオントラップ型質量分析方法及び質量分析装置
DE10028914C1 (de) 2000-06-10 2002-01-17 Bruker Daltonik Gmbh Interne Detektion von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen
US6720554B2 (en) 2000-07-21 2004-04-13 Mds Inc. Triple quadrupole mass spectrometer with capability to perform multiple mass analysis steps
US6690005B2 (en) * 2000-08-02 2004-02-10 General Electric Company Ion mobility spectrometer
EP1319945A4 (en) 2000-09-20 2007-07-04 Hitachi Ltd SONY PROCESS WITH ION CASE MASS SPECTROMETER AND PROBE DEVICE
JP2002150992A (ja) 2000-11-09 2002-05-24 Anelva Corp 質量分析のためのイオン化装置およびイオン化方法
DE10058706C1 (de) 2000-11-25 2002-02-28 Bruker Daltonik Gmbh Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in Hochfrequenz-Ionenfallen
US6781119B2 (en) 2000-12-14 2004-08-24 Mks Instruments, Inc. Ion storage system
GB0031342D0 (en) 2000-12-21 2001-02-07 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Method and apparatus for ejecting ions from a quadrupole ion trap
US6573495B2 (en) 2000-12-26 2003-06-03 Thermo Finnigan Llc High capacity ion cyclotron resonance cell
US6683301B2 (en) * 2001-01-29 2004-01-27 Analytica Of Branford, Inc. Charged particle trapping in near-surface potential wells
US6627883B2 (en) 2001-03-02 2003-09-30 Bruker Daltonics Inc. Apparatus and method for analyzing samples in a dual ion trap mass spectrometer
US6649907B2 (en) 2001-03-08 2003-11-18 Wisconsin Alumni Research Foundation Charge reduction electrospray ionization ion source
US6765198B2 (en) 2001-03-20 2004-07-20 General Electric Company Enhancements to ion mobility spectrometers
GB2404784B (en) * 2001-03-23 2005-06-22 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometry method and apparatus
US6777671B2 (en) 2001-04-10 2004-08-17 Science & Engineering Services, Inc. Time-of-flight/ion trap mass spectrometer, a method, and a computer program product to use the same
US6617577B2 (en) 2001-04-16 2003-09-09 The Rockefeller University Method and system for mass spectroscopy
US6627875B2 (en) 2001-04-23 2003-09-30 Beyond Genomics, Inc. Tailored waveform/charge reduction mass spectrometry
US6911651B2 (en) 2001-05-08 2005-06-28 Thermo Finnigan Llc Ion trap
US6608303B2 (en) 2001-06-06 2003-08-19 Thermo Finnigan Llc Quadrupole ion trap with electronic shims
JP3757820B2 (ja) * 2001-06-13 2006-03-22 株式会社日立製作所 イオン源およびそれを用いた質量分析計
US6784421B2 (en) 2001-06-14 2004-08-31 Bruker Daltonics, Inc. Method and apparatus for fourier transform mass spectrometry (FTMS) in a linear multipole ion trap
US6744042B2 (en) 2001-06-18 2004-06-01 Yeda Research And Development Co., Ltd. Ion trapping
CA2391140C (en) 2001-06-25 2008-10-07 Micromass Limited Mass spectrometer
JP4631219B2 (ja) * 2001-06-26 2011-02-16 株式会社島津製作所 イオントラップ型質量分析装置
JP3620479B2 (ja) 2001-07-31 2005-02-16 株式会社島津製作所 イオン蓄積装置におけるイオン選別の方法
US6610976B2 (en) 2001-08-28 2003-08-26 The Rockefeller University Method and apparatus for improved signal-to-noise ratio in mass spectrometry
AU2002322895A1 (en) 2001-08-30 2003-03-10 Mds Inc., Doing Busness As Mds Sciex A method of reducing space charge in a linear ion trap mass spectrometer
JP3990889B2 (ja) 2001-10-10 2007-10-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置およびこれを用いる計測システム
US6787760B2 (en) 2001-10-12 2004-09-07 Battelle Memorial Institute Method for increasing the dynamic range of mass spectrometers
JP3690330B2 (ja) * 2001-10-16 2005-08-31 株式会社島津製作所 イオントラップ装置
WO2003041116A1 (fr) 2001-11-07 2003-05-15 Hitachi High-Technologies Corporation Spectrometrie de masse et spectrometre de masse a piege a ions
US6770872B2 (en) 2001-11-22 2004-08-03 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
GB2389452B (en) * 2001-12-06 2006-05-10 Bruker Daltonik Gmbh Ion-guide
WO2003056604A1 (en) 2001-12-21 2003-07-10 Mds Inc., Doing Business As Mds Sciex Use of notched broadband waveforms in a linear ion trap
US6777673B2 (en) 2001-12-28 2004-08-17 Academia Sinica Ion trap mass spectrometer
US6710336B2 (en) * 2002-01-30 2004-03-23 Varian, Inc. Ion trap mass spectrometer using pre-calculated waveforms for ion isolation and collision induced dissociation
US6888133B2 (en) 2002-01-30 2005-05-03 Varian, Inc. Integrated ion focusing and gating optics for ion trap mass spectrometer
JP4167593B2 (ja) 2002-01-31 2008-10-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ エレクトロスプレイイオン化質量分析装置及びその方法
US6844547B2 (en) 2002-02-04 2005-01-18 Thermo Finnigan Llc Circuit for applying supplementary voltages to RF multipole devices
JP3653504B2 (ja) 2002-02-12 2005-05-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ型質量分析装置
FR2835964B1 (fr) * 2002-02-14 2004-07-09 Centre Nat Rech Scient Piege a ions a aimant permanent et spectrometre de masse utilisant un tel aimant
JP3752458B2 (ja) 2002-02-18 2006-03-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
JP3840417B2 (ja) 2002-02-20 2006-11-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US6674067B2 (en) * 2002-02-21 2004-01-06 Hitachi High Technologies America, Inc. Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps
US6570151B1 (en) * 2002-02-21 2003-05-27 Hitachi Instruments, Inc. Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps
JP3951741B2 (ja) * 2002-02-27 2007-08-01 株式会社日立製作所 電荷調整方法とその装置、および質量分析装置
DE10213652B4 (de) 2002-03-27 2008-02-21 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren zur Bestrahlung von Ionen in einer Ionenzyklotronresonanz-Falle mit Elektronen und/oder Photonen
US7049580B2 (en) 2002-04-05 2006-05-23 Mds Inc. Fragmentation of ions by resonant excitation in a high order multipole field, low pressure ion trap
US6872939B2 (en) 2002-05-17 2005-03-29 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6906319B2 (en) 2002-05-17 2005-06-14 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
JP3791455B2 (ja) * 2002-05-20 2006-06-28 株式会社島津製作所 イオントラップ型質量分析装置
JP3971958B2 (ja) * 2002-05-28 2007-09-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US6794641B2 (en) 2002-05-30 2004-09-21 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7095013B2 (en) 2002-05-30 2006-08-22 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6703607B2 (en) * 2002-05-30 2004-03-09 Mds Inc. Axial ejection resolution in multipole mass spectrometers
US6770871B1 (en) 2002-05-31 2004-08-03 Michrom Bioresources, Inc. Two-dimensional tandem mass spectrometry
JP3743717B2 (ja) 2002-06-25 2006-02-08 株式会社日立製作所 質量分析データの解析方法および質量分析データの解析装置および質量分析データの解析プログラムならびにソリューション提供システム
US6791078B2 (en) 2002-06-27 2004-09-14 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6897438B2 (en) 2002-08-05 2005-05-24 University Of British Columbia Geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field
US7045797B2 (en) 2002-08-05 2006-05-16 The University Of British Columbia Axial ejection with improved geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field
US7071467B2 (en) 2002-08-05 2006-07-04 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
DE10236346A1 (de) 2002-08-08 2004-02-19 Bruker Daltonik Gmbh Nichtlinearer Resonanzauswurf aus linearen Ionenfallen
US6875980B2 (en) 2002-08-08 2005-04-05 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7102126B2 (en) 2002-08-08 2006-09-05 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6794642B2 (en) 2002-08-08 2004-09-21 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US6867414B2 (en) * 2002-09-24 2005-03-15 Ciphergen Biosystems, Inc. Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements
JP3787549B2 (ja) 2002-10-25 2006-06-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及び質量分析方法
JP3741097B2 (ja) * 2002-10-31 2006-02-01 株式会社島津製作所 イオントラップ装置及び該装置の調整方法
EP1568063A4 (en) 2002-12-02 2007-03-14 Griffin Analytical Tech PROCESS FOR DESIGNING MASS SEPARATORS AND ION TRAPS, METHODS FOR PRODUCING MASS SEPARATORS AND ION TRAPS, MASS SPECTROMETERS, ION TRAPS AND METHODS FOR ANALYZING SAMPLES
US6914242B2 (en) 2002-12-06 2005-07-05 Agilent Technologies, Inc. Time of flight ion trap tandem mass spectrometer system
US20040119014A1 (en) 2002-12-18 2004-06-24 Alex Mordehai Ion trap mass spectrometer and method for analyzing ions
JP3936908B2 (ja) 2002-12-24 2007-06-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及び質量分析方法
US6838666B2 (en) * 2003-01-10 2005-01-04 Purdue Research Foundation Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method
US6710334B1 (en) * 2003-01-20 2004-03-23 Genspec Sa Quadrupol ion trap mass spectrometer with cryogenic particle detector
CA2514343C (en) * 2003-01-24 2010-04-06 Thermo Finnigan Llc Controlling ion populations in a mass analyzer
US6982415B2 (en) * 2003-01-24 2006-01-03 Thermo Finnigan Llc Controlling ion populations in a mass analyzer having a pulsed ion source
US7019289B2 (en) * 2003-01-31 2006-03-28 Yang Wang Ion trap mass spectrometry
CN1833300B (zh) * 2003-03-19 2010-05-12 萨默费尼根有限公司 在离子总体中获取多个母离子的串联质谱分析数据
US7064319B2 (en) 2003-03-31 2006-06-20 Hitachi High-Technologies Corporation Mass spectrometer
US6878932B1 (en) 2003-05-09 2005-04-12 John D. Kroska Mass spectrometer ionization source and related methods
US6858840B2 (en) * 2003-05-20 2005-02-22 Science & Engineering Services, Inc. Method of ion fragmentation in a multipole ion guide of a tandem mass spectrometer
US7019290B2 (en) 2003-05-30 2006-03-28 Applera Corporation System and method for modifying the fringing fields of a radio frequency multipole
DE10325579B4 (de) * 2003-06-05 2007-10-11 Bruker Daltonik Gmbh Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in linearen Ionenfallen
CA2529505A1 (en) 2003-06-27 2005-01-06 Brigham Young University Virtual ion trap
US7119331B2 (en) 2003-08-07 2006-10-10 Academia Sinica Nanoparticle ion detection
US6800851B1 (en) 2003-08-20 2004-10-05 Bruker Daltonik Gmbh Electron-ion fragmentation reactions in multipolar radiofrequency fields
JP3912345B2 (ja) 2003-08-26 2007-05-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
US6982413B2 (en) * 2003-09-05 2006-01-03 Griffin Analytical Technologies, Inc. Method of automatically calibrating electronic controls in a mass spectrometer
US7161142B1 (en) * 2003-09-05 2007-01-09 Griffin Analytical Technologies Portable mass spectrometers
JP5027507B2 (ja) 2003-09-25 2012-09-19 エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス 選択された六重極成分を有する2次元の実質的四重極電場を提供するための方法及び装置
JP2005108578A (ja) 2003-09-30 2005-04-21 Hitachi Ltd 質量分析装置
US7217919B2 (en) 2004-11-02 2007-05-15 Analytica Of Branford, Inc. Method and apparatus for multiplexing plural ion beams to a mass spectrometer
JP3960306B2 (ja) * 2003-12-22 2007-08-15 株式会社島津製作所 イオントラップ装置
JP4200092B2 (ja) 2003-12-24 2008-12-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法
JP4033133B2 (ja) 2004-01-13 2008-01-16 株式会社島津製作所 質量分析装置
US7026613B2 (en) 2004-01-23 2006-04-11 Thermo Finnigan Llc Confining positive and negative ions with fast oscillating electric potentials
GB0404285D0 (en) 2004-02-26 2004-03-31 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A tandem ion-trap time-of flight mass spectrometer
US6933498B1 (en) 2004-03-16 2005-08-23 Ut-Battelle, Llc Ion trap array-based systems and methods for chemical analysis
US6958473B2 (en) 2004-03-25 2005-10-25 Predicant Biosciences, Inc. A-priori biomarker knowledge based mass filtering for enhanced biomarker detection
JP4300154B2 (ja) * 2004-05-14 2009-07-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ/飛行時間質量分析計およびイオンの精密質量測定方法
US7170051B2 (en) * 2004-05-20 2007-01-30 Science & Engineering Services, Inc. Method and apparatus for ion fragmentation in mass spectrometry
JP4384542B2 (ja) 2004-05-24 2009-12-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
JP4506285B2 (ja) * 2004-05-28 2010-07-21 株式会社島津製作所 イオントラップ装置及び該装置の調整方法
JP4653972B2 (ja) 2004-06-11 2011-03-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ/飛行時間型質量分析装置および質量分析方法
US7270020B2 (en) 2004-06-14 2007-09-18 Griffin Analytical Technologies, Llc Instrument assemblies and analysis methods
US7361890B2 (en) 2004-07-02 2008-04-22 Griffin Analytical Technologies, Inc. Analytical instruments, assemblies, and methods
US7208726B2 (en) 2004-08-27 2007-04-24 Agilent Technologies, Inc. Ion trap mass spectrometer with scanning delay ion extraction
US7102129B2 (en) 2004-09-14 2006-09-05 Thermo Finnigan Llc High-Q pulsed fragmentation in ion traps
US6949743B1 (en) 2004-09-14 2005-09-27 Thermo Finnigan Llc High-Q pulsed fragmentation in ion traps
US7154088B1 (en) 2004-09-16 2006-12-26 Sandia Corporation Microfabricated ion trap array
US6972408B1 (en) 2004-09-30 2005-12-06 Ut-Battelle, Llc Ultra high mass range mass spectrometer systems
US20060163472A1 (en) 2005-01-25 2006-07-27 Varian, Inc. Correcting phases for ion polarity in ion trap mass spectrometry
CA2596800A1 (en) 2005-02-07 2006-08-17 Purdue Research Foundation Linear ion trap with four planar electrodes
US7217922B2 (en) 2005-03-14 2007-05-15 Lucent Technologies Inc. Planar micro-miniature ion trap devices
US7838820B2 (en) 2005-06-06 2010-11-23 UT-Battlelle, LLC Controlled kinetic energy ion source for miniature ion trap and related spectroscopy system and method
US7279681B2 (en) 2005-06-22 2007-10-09 Agilent Technologies, Inc. Ion trap with built-in field-modifying electrodes and method of operation
US7323683B2 (en) * 2005-08-31 2008-01-29 The Rockefeller University Linear ion trap for mass spectrometry
US7423262B2 (en) 2005-11-14 2008-09-09 Agilent Technologies, Inc. Precision segmented ion trap
US7582864B2 (en) 2005-12-22 2009-09-01 Leco Corporation Linear ion trap with an imbalanced radio frequency field
US7579778B2 (en) 2006-07-11 2009-08-25 L-3 Communications Electron Technologies, Inc. Traveling-wave tube with integrated ion trap power supply
US7446310B2 (en) 2006-07-11 2008-11-04 Thermo Finnigan Llc High throughput quadrupolar ion trap
US7456389B2 (en) 2006-07-11 2008-11-25 Thermo Finnigan Llc High throughput quadrupolar ion trap
US20080017794A1 (en) 2006-07-18 2008-01-24 Zyvex Corporation Coaxial ring ion trap
WO2008011163A2 (en) 2006-07-21 2008-01-24 Prescient Medical, Inc. Conformable tissue contact catheter
US8334506B2 (en) 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
JP5323384B2 (ja) 2008-04-14 2013-10-23 株式会社日立製作所 質量分析計および質量分析方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2009076444A1 (en) 2009-06-18
EP2232522B1 (en) 2018-01-24
US20090146054A1 (en) 2009-06-11
EP2232522A4 (en) 2011-08-24
JP2014222673A (ja) 2014-11-27
CN101971290A (zh) 2011-02-09
CA2708594C (en) 2017-09-12
EP2232522A1 (en) 2010-09-29
US20130099137A1 (en) 2013-04-25
US8704168B2 (en) 2014-04-22
JP2011507193A (ja) 2011-03-03
CA2708594A1 (en) 2009-06-18
US8334506B2 (en) 2012-12-18
JP5613057B2 (ja) 2014-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5895034B2 (ja) イオントラップのエンドキャップ電圧制御
US7772546B2 (en) Portable loeb-eiber mass spectrometer
JP5573672B2 (ja) デジタル微分型電気移動度分離方法及び装置
JP3890088B2 (ja) 改良された感度のためのイオントラップ質量分析計方法および装置
JP5822031B2 (ja) 高電圧電源装置及び該電源装置を用いた質量分析装置
US20030132379A1 (en) Ion mobility spectrometer with high ion transmission efficiency
US10284154B1 (en) System and method for generating high-voltage radio frequency signals using an electronically tuned resonator
JP2003512702A (ja) 四重極イオントラップ装置を駆動する方法と装置
CN103282998A (zh) 用于提供具有显著六极和八极分量的大体四极场的方法和系统
US6340814B1 (en) Mass spectrometer with multiple capacitively coupled mass analysis stages
WO2011003186A1 (en) Methods and systems for providing a substantially quadrupole field with a higher order component
JP4769183B2 (ja) 無線周波数多重極の漏れ磁場を修正するシステムおよび方法
CA2539603C (en) Measuring cell for ion cyclotron resonance spectrometer
JP2010526413A (ja) 向上した質量分解能を有する多重極マスフィルタ
JP2002175774A (ja) 質量フィルタ駆動システム
JP2013097957A (ja) 四重極型質量分析装置
JPH1069880A (ja) 四重極質量分析計
CN114613660A (zh) 一种用于质谱仪的正弦波形射频电源
US20180261442A1 (en) RF Generator Design for Mass Spectrometer

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140829

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140829

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20150529

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150708

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150713

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20151008

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160201

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160229

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5895034

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees