JP3912345B2 - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3912345B2
JP3912345B2 JP2003300707A JP2003300707A JP3912345B2 JP 3912345 B2 JP3912345 B2 JP 3912345B2 JP 2003300707 A JP2003300707 A JP 2003300707A JP 2003300707 A JP2003300707 A JP 2003300707A JP 3912345 B2 JP3912345 B2 JP 3912345B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ions
ion trap
ion
mass
electric field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003300707A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005071826A (ja
Inventor
栄三 河藤
真一 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2003300707A priority Critical patent/JP3912345B2/ja
Priority to US10/923,822 priority patent/US7250600B2/en
Publication of JP2005071826A publication Critical patent/JP2005071826A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3912345B2 publication Critical patent/JP3912345B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/424Three-dimensional ion traps, i.e. comprising end-cap and ring electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers

Description

本発明は、電場によりイオンを捕捉して蓄積するイオントラップと、該イオントラップから排出されたイオンの質量数を分析する質量分析器とを備える質量分析装置に関する。
例えば飛行時間型質量分析装置(以下、TOFMS(=Time of Flight Mass Spectrometer)と呼ぶ)では、通常、加速したイオンを電場及び磁場を有さない飛行空間内に導入し、イオン検出器に到達するまでの飛行時間に応じて各種イオンを質量数(質量/電荷)毎に分離する構成を有する。従来より、こうしたTOFMSのイオン源としてイオントラップを利用した装置が知られている。
典型的なイオントラップ2は、図4に示すように、略円環状のリング電極21と、リング電極21を挟んで両側に設けられた一対のエンドキャップ電極22、23とにより構成される。通常、リング電極21に高周波電圧を印加してイオントラップ2内部のイオン捕捉空間24に四重極電場を形成し、該電場によってイオンを捕捉して蓄積する。イオンは、イオントラップ2の外側で生成された後にイオントラップ2内部に導入される場合と、イオントラップ2の内部で生成される場合とがある。なお、イオントラップの理論的な説明は、非特許文献1などに詳しく記載されている。
こうした質量分析装置では様々な種類の試料が分析されるため、分析対象となるイオンの質量も試料に応じて大きく異なる。上記イオントラップでは、単にイオンを蓄積するのみならず、場合によっては、分析対象のイオンの質量数に応じて高周波電圧の大きさを変化させ、イオン捕捉のポテンシャルを最適値に保つことによりイオンの振動運動のクーリングを行ったり、質量数によるイオンの分離選別を行ったり、或いは、イオンの構造解析を行うために選別されたイオンを解離させたりする、といった処理が行われる。
TOFMS3により質量分析を行う際には、上記のような各種の処理によりイオントラップ2内部に分析対象となるイオンが用意された時点で、リング電極21への高周波電圧の印加を停止する。そして引き続いて、エンドキャップ電極22、23間にイオン排出用の電圧を印加し、イオントラップ2内部にイオン排出用電場を形成する。この電場によりイオンは加速され、出射孔26を通ってイオントラップ2から飛び出しTOFMS3へと導入されて質量分析が行われる。
こうした分析では、同一質量数を持つイオンの出発位置のばらつきが大きいと、その影響を受けて、最終的にTOFMS3の検出器に到達するまでの飛行時間の誤差やばらつきの幅が大きくなる。上述したようにイオントラップ2内部にイオン捕捉用の電場が形成されている場合には、イオンはその電場の影響で振動している。このときの振動は、電場とそのイオン自体が持つ電荷との相互作用に基づくものであるから、イオンが正又は負のいずれの極性であるのかによって、同一の電場状態におけるイオンの挙動は全く異なる。そのため、捕捉用の高周波電圧の印加を停止するタイミングによっては、イオン排出時の出発位置のばらつきが大きく、それによって質量スペクトル上で質量ピークの位置ずれが生じて質量の正確な特定が困難になったり、或いは質量分解能が下がるといった問題が起きる可能性がある。
アール・イー・マーチ(R. E. March)、 アール・ジェイ・フヘス( R. J. Hughes)著,「クァドルポール・ストレージ・マス・スペクトロメトリー(Quadrupole Storage Mass Spectrometry)」, ジョン・ウィレイ・アンド・サンズ(John Wiley & Sons), 1989年,p.31-110
本発明はかかる課題に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、イオントラップからイオンを排出して質量分析を行う場合に、イオンの極性に依存するばらつきを解消して、質量スペクトル上での質量ピークの位置のずれを防止し、質量特定の精度や質量分解能を高めることができる質量分析装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された本発明は、イオンを蓄積するためのイオントラップと、該イオントラップから排出されたイオンの質量数を分析する質量分析器とから成る質量分析装置において、
a)イオントラップを構成する電極に所定の電圧を印加する電圧印加手段と、
b)イオントラップの内部に形成された捕捉用電場によってイオンが該イオントラップ内部で収束する方向の又は収束した運動状態にあるときに該イオンがイオントラップから外側に排出されるように、そのイオンの極性に応じて捕捉用電場から排出用電場への切り替えのタイミングを変えるべく前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴としている。
発明の実施の形態、及び効果
イオントラップ内に捕捉されるイオンは、典型的にはイオントラップの中心部側の収束領域とそれを取り囲む周辺の拡散領域との間を行き来するように振動する。したがって、イオンの動きとしては、大別すれば、拡散領域から収束領域に向かう動きと、収束領域から拡散領域に向かう動きとが考え得る。イオンの極性が異なる場合、同一の高周波電圧に対してちょうど反対方向の動きとなり、同一タイミングで以てイオンを排出しようとすると、その動きの方向の相違が上述したようなばらつきの原因となる。
そこで本発明に係る質量分析装置において、制御手段は、イオントラップから排出しようとするイオンの極性(正イオン又は負イオン)に応じて、捕捉用電場から排出用電場に移行する際のタイミングを変更することにより、イオンの極性に依らず、イオンがイオントラップ内部で拡散領域から収束領域に向かう運動状態にある、又は既に収束領域に収束しているときにイオンを排出させる。
具体的には、正イオンと負イオンとは捕捉用電場の高周波電圧の位相がちょうど反転した状態で同様の向きの動きとなるから、イオンの排出のタイミングを基準にして考えれば、捕捉用電場を形成する際の高周波電圧の位相をイオンの極性に応じて適宜反転することで上記条件を実現できる。また、捕捉用電場を形成する際の高周波電圧を基準として考えれば、イオンの排出のタイミングをイオンの極性に応じて半周期分だけずらすことで上記条件を実現できる。
このように本発明に係る質量分析装置では、イオントラップから排出される直前のイオンの挙動がイオンの正負極性には依存せずに同一状態となり、比較的狭い範囲に収束した状態で排出動作が行われる。それによって、イオントラップから排出されるイオンの出発位置のばらつきが少なくなり、最終的に検出器に到達する到達時間やその時間幅を絞ることができる。したがって、質量決定の精度や質量分解能が向上する。
本発明の一実施例による質量分析装置について、図1〜図3を参照して説明する。図1は本実施例の質量分析装置の要部の構成図、図2は本実施例の質量分析装置におけるイオントラップ内部でのイオンの振動状態を示す概念図、図3は本実施例の質量分析装置の動作説明のためのタイミング図である。図1において図4と同一の構成要素には同一符号を付して説明を省略する。
イオン源1、イオントラップ2、及びTOFMS3は例えば図示しない真空チャンバ内に配設される。イオントラップ2を構成するリング電極21と2つのエンドキャップ電極22、23には、それぞれ電圧発生部27から適宜の電圧が印加される。この電圧は、直流電圧、交流電圧(高周波電圧)、又はその両者を重畳した電圧であり、その電圧値と印加のタイミングはCPUを中心に構成される制御部4により制御される。また、制御部4はイオン源1やTOFMS3の動作も統括的に制御する。
上記質量分析装置の基本的な動作は次の通りである。イオン源1では目的試料の成分分子又は原子を所定のイオン化法によりイオン化する。発生したイオンはイオン入射孔25を通してイオントラップ2内に導入され、イオン捕捉空間24に捕捉されて蓄積される。通常、イオントラップ2へのイオン導入時には、入射するイオンの運動エネルギーを減衰させるような電圧が電圧発生部27によりエンドキャップ電極22、23に印加される。そして、全てのイオンを一旦イオン捕捉空間24内に閉じ込めた後、それらイオンをイオン出射孔26から排出してTOFMS3に導入し、そこで各イオンを質量数に応じて分離して検出器31で検出する。その検出信号はデータ処理部5へと送られ、所定のデータ処理が行われて、例えば横軸を質量数、縦軸を強度信号にとった質量スペクトルが作成され、さらに定性分析や定量分析が行われる。
イオントラップ2の内部にイオンを捕捉する際には、基本的にリング電極21に高周波電圧を印加する。そのときのイオントラップ2内部でのイオンは、図2に示すように、イオン捕捉空間24内の中心付近の比較的狭い領域である収束領域24aと、それを取り巻く拡散領域24bとの間を行き来するように振動する。したがって、捕捉されている多数のイオンがちょうど収束領域24a又はその近傍に収束した状態でイオンが排出されれば、イオンの出発点のばらつきが小さく、その結果、TOFMS3での飛行時間が揃い易くなる。一方、捕捉されている多数のイオンが拡散領域24bに広く拡散した状態でイオンが排出されると、イオンの出発位置のばらつきが大きくなり、TOFMS3での飛行時間のばらつきも大きい。
イオントラップ2内での上記のようなイオンの動きは、四重極電場とイオンが持つ電荷との間の相互関係に基づくものであり、同一の四重極電場においてイオンの正負極性が異なるとイオンの動きはちょうど逆になる。つまり、例えば正イオンであれば拡散領域24bから収束領域24aに向かう方向に動くときに、負イオンであれば逆に収束領域24aから拡散領域24bに向かう方向に動く。そこで、正負極性に依らず、イオンが収束領域24a又はそのごく近傍にあるときにイオントラップ2から排出するように、制御部4は次のように電圧発生部27を制御する。
イオンをイオントラップ2内に捕捉する際に、電圧発生部27からリング電極21に印加される電圧のうちの高周波成分は図3に示すように、一定周波数の交流電圧である。イオンを排出する際には、まずこの高周波電圧の印加を停止し(t1時点)、それから所定時間が経過した時点t2でエンドキャップ電極22、23間に排出用電圧を印加する。高周波電圧の印加を停止後、直ちに排出用電圧を印加してもよいが、一般的には、高周波電圧の印加にはコイルなどを含む共振回路を利用しているため、供給電力を停止しても実際に電極に加わる電圧がゼロになるまでには若干の時間を要する。そこで、その時間を見込んでt2-t1を決める。但し、この期間にはイオンの捕捉作用がなくなるため、イオンが自由に運動して拡散する可能性がある。したがって、t2-t1をあまり長くすることは一般的には好ましくない。
上記のように捕捉用電場から排出用電場への移行を行う場合には、主として高周波電圧の印加停止タイミングによってイオン排出時のイオンの移動方向及び位置が決まる。そこで、制御部4はイオントラップ2から排出して分析しようとしているイオンの極性によって、高周波電圧の停止のタイミングを半周期だけずらす。すなわち、図3の例では、正イオンの場合に、高周波電圧波形が負から正に向かってゼロクロスする近傍で高周波電圧の停止を行うのに対し、負イオンの場合には、半周期分だけ遅らせ、高周波電圧波形が正から負に向かってゼロクロスする近傍で高周波電圧の停止を行う。これにより、正イオン、負イオンのいずれの場合でも、イオンがイオントラップ2から排出される直前にはイオンが収束領域24a又はその近傍に存在する。そのため、同一質量数を有するイオンの出発位置のばらつきが少なく、TOFMS3の検出器31に到達する時間のばらつきも少なくなる。
なお、上記説明では、正イオン及び負イオンに対して捕捉用の高周波電圧の位相を同一とした場合に、一方で高周波電圧停止のタイミングを半周期だけずらすように制御していたが、高周波電圧停止のタイミングを基準として考えれば、捕捉用の高周波電圧の位相をイオンの正負極性に応じて互いに反転するような制御を行っても結果は同様である。
また、上記実施例は本発明の単に一例にすぎず、本発明の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行えることは明らかである。
本発明の一実施例によるイオントラップ型質量分析装置の要部の構成図。 本実施例の質量分析装置におけるイオントラップ内部でのイオンの振動状態を示す概念図。 本実施例の質量分析装置の動作説明のためのタイミング図。 イオントラップを用いた飛行時間型質量分析装置の概略構成図。
符号の説明
1…イオン源
2…イオントラップ
21…リング電極
22、23…エンドキャップ電極
24…イオン捕捉空間
24a…収束領域
24b…拡散領域
25…イオン入射孔
26…イオン出射孔
27…電圧発生部
3…TOFMS
4…制御部

Claims (1)

  1. イオンを蓄積するためのイオントラップと、該イオントラップから排出されたイオンの質量数を分析する質量分析器とから成る質量分析装置において、
    a)イオントラップを構成する電極に所定の電圧を印加する電圧印加手段と、
    b)イオントラップの内部に形成された捕捉用電場によってイオンが該イオントラップ内部で収束する方向の又は収束した運動状態にあるときに該イオンがイオントラップから外側に排出されるように、そのイオンの極性に応じて捕捉用電場から排出用電場への切り替えのタイミングを変えるべく前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
    を備えることを特徴とする質量分析装置。
JP2003300707A 2003-08-26 2003-08-26 質量分析装置 Expired - Lifetime JP3912345B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003300707A JP3912345B2 (ja) 2003-08-26 2003-08-26 質量分析装置
US10/923,822 US7250600B2 (en) 2003-08-26 2004-08-24 Mass spectrometer with an ion trap

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003300707A JP3912345B2 (ja) 2003-08-26 2003-08-26 質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005071826A JP2005071826A (ja) 2005-03-17
JP3912345B2 true JP3912345B2 (ja) 2007-05-09

Family

ID=34213843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003300707A Expired - Lifetime JP3912345B2 (ja) 2003-08-26 2003-08-26 質量分析装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7250600B2 (ja)
JP (1) JP3912345B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4848657B2 (ja) * 2005-03-28 2011-12-28 株式会社島津製作所 Ms/ms型質量分析装置
US8334506B2 (en) 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
US9103783B2 (en) * 2008-03-17 2015-08-11 Shimadzu Corporation Ionization method and apparatus including applying converged shock waves to a spray
JP5251232B2 (ja) * 2008-04-25 2013-07-31 株式会社島津製作所 質量分析データ処理方法及び質量分析装置
US7973277B2 (en) 2008-05-27 2011-07-05 1St Detect Corporation Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter
GB201409074D0 (en) 2014-05-21 2014-07-02 Thermo Fisher Scient Bremen Ion ejection from a quadrupole ion trap
US11348778B2 (en) * 2015-11-02 2022-05-31 Purdue Research Foundation Precursor and neutral loss scan in an ion trap
CN112099004B (zh) * 2019-09-05 2022-03-08 北京无线电测量研究所 一种机载干涉合成孔径雷达复杂场景高程反演方法及系统
GB202114780D0 (en) 2021-10-15 2021-12-01 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Ion transport between ion optical devices at different gas pressures

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3688215T3 (de) * 1985-05-24 2005-08-25 Thermo Finnigan Llc, San Jose Steuerungsverfahren für eine Ionenfalle.
US5381006A (en) * 1992-05-29 1995-01-10 Varian Associates, Inc. Methods of using ion trap mass spectrometers
GB2267385B (en) * 1992-05-29 1995-12-13 Finnigan Corp Method of detecting the ions in an ion trap mass spectrometer
JP3509267B2 (ja) * 1995-04-03 2004-03-22 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析方法および装置
US5783824A (en) * 1995-04-03 1998-07-21 Hitachi, Ltd. Ion trapping mass spectrometry apparatus
EP0871201B1 (en) * 1995-07-03 2010-09-15 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
US5714755A (en) * 1996-03-01 1998-02-03 Varian Associates, Inc. Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer
JP3617662B2 (ja) * 1997-02-28 2005-02-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
GB9802112D0 (en) * 1998-01-30 1998-04-01 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Method of trapping ions in an ion trapping device
US6124592A (en) * 1998-03-18 2000-09-26 Technispan Llc Ion mobility storage trap and method
JP2001351571A (ja) * 2000-06-07 2001-12-21 Hitachi Ltd イオントラップ型質量分析方法及び質量分析装置
JP3690330B2 (ja) * 2001-10-16 2005-08-31 株式会社島津製作所 イオントラップ装置
JP3971958B2 (ja) * 2002-05-28 2007-09-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
JP3752470B2 (ja) * 2002-05-30 2006-03-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7250600B2 (en) 2007-07-31
JP2005071826A (ja) 2005-03-17
US20050045816A1 (en) 2005-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11764052B2 (en) Ion injection into an electrostatic linear ion trap using Zeno pulsing
JP3989845B2 (ja) 質量分析の方法及び装置
US9029763B2 (en) Ion deflection in time-of-flight mass spectrometry
US7208728B2 (en) Mass spectrometer
JP4033133B2 (ja) 質量分析装置
US8368014B2 (en) Ion trap time-of-flight mass spectrometer
US8927928B2 (en) Method for operating a time-of-flight mass spectrometer with orthogonal ion pulsing
US8742330B2 (en) Specific phase range for ion injection into ion trap device
US10734210B2 (en) Mass spectrometer and operating methods therefor
JP2006517723A (ja) 質量分析器におけるイオン集団の制御
US8247763B2 (en) Ion trap time-of-flight mass spectrometer
JPWO2016027301A1 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP2008282594A (ja) イオントラップ型質量分析装置
JP3912345B2 (ja) 質量分析装置
WO2010116396A1 (ja) イオントラップ装置
JP5504969B2 (ja) 質量分析装置
JP7306727B2 (ja) リアル・タイム分析および信号最適化による電荷検出質量分光分析法
JP2006073390A (ja) 質量分析装置
JP2015170445A (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
JP2016522401A (ja) 改良されたイオン移動度分光計
JP4644506B2 (ja) 質量分析装置
JP2006196190A (ja) Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法
JP2004158360A (ja) 質量分析装置
US11515138B2 (en) Ion trapping scheme with improved mass range
JP4450717B2 (ja) 質量分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051102

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061218

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070109

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070122

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3912345

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100209

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110209

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110209

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120209

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120209

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130209

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140209

Year of fee payment: 7

EXPY Cancellation because of completion of term