JP4200092B2 - 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 166
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 78
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 48
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 claims description 37
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 13
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 208000018459 dissociative disease Diseases 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/424—Three-dimensional ion traps, i.e. comprising end-cap and ring electrodes
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0009—Calibration of the apparatus
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
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Description
18に送り、イオントラップをμsec(マイクロ秒)オーダーの高速で制御することが可能である。また制御の結果、検出器17により検出されたマススペクトルデータを信号線
19を介して受け付け、このデータを処理して記録,表示することができる。
10番目の条件から15番目の条件への補正をキャリブレーションとして行うことになる。
18)において、代数Nに“1”を設定し、処理をスタートする。そして、共鳴排出を行わないスペクトル1と、共鳴排出を行うスペクトル2を交互に取得する。その後、予め設定された測定回数(N)に達するまで繰り返し各スペクトルを得る。スペクトル1及び2の定義や、各測定で用いられる設定条件データは、実施例1と同様である。スペクトル1の測定例を図10(a)に、スペクトル2の測定例を図10(b)に示す。
(b)では時間t3からt4の期間が相当し、本実施例ではイオントラップで質量分析を行わないため、リング電極とエンドキャップ電極へ直流電圧を印加することで、トラップされているイオンを一気に排出する。
11(b)のデータを得ることができる。したがって、イオントラップと飛行時間型質量分析計が結合された装置においても、イオントラップ部のキャリブレーションを容易に行うことが可能となる。
21…イオン輸送部、15…リング電極、16…エンドキャップ電極、17,27…検出器、18…制御部、19…信号線、20…データ処理部、22…デフレクター、23…収束レンズ、24…押出し電極、25…引出し電極、26…リフレクトロン。
Claims (10)
- イオンを生成するイオン源と、
イオンを捕捉するトラップ空間を形成するリング電極と、
一対のエンドキャップ電極から成るイオントラップと、
前記トラップ空間から出射したイオンを検出する検出器を備えた質量分析装置のキャリブレーション方法において、
質量数が既知の試料をイオン化するステップと、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、捕捉したイオンを前記検出器によって検出し、第1のマススペクトルを得るステップと、
前記試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、予め定められた設定条件に基づいて、共鳴により特定のイオンを排出し、その後残ったイオンを前記検出器によって検出し、第2のマススペクトルを得るステップと、
前記第1及び第2のマススペクトルの強度比を算出するステップと、
前記第1のマススペクトル,第2のマススペクトル,強度比を得るステップを、共鳴条件を変えて、所定の回数繰り返し、前記強度比の変化から前記イオントラップにおいて共鳴排出させる設定条件を決定することを特徴とする質量分析装置のキャリブレーション方法。 - イオンを生成するイオン源と、
イオンを捕捉するトラップ空間を形成するリング電極と、
一対のエンドキャップ電極から成るイオントラップと、
前記トラップ空間から出射したイオンを検出する検出器を備えた質量分析装置のキャリブレーション方法において、
質量数が既知の試料をイオン化するステップと、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、捕捉したイオンを前記検出器によって検出し、第1のマススペクトルを得るステップと、
前記試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、予め定められた設定条件に基づいて、共鳴により特定のイオンを排出し、その後残ったイオンを前記検出器によって検出し、第2のマススペクトルを得るステップと、
前記第1のマススペクトル,第2のマススペクトルを得るステップを、共鳴条件を変えて、所定の回数繰り返し、
その後、前記第1のマススペクトルのイオン強度値の平均値を算出するステップと、
前記第1のスペクトルの各データのイオン強度値を前記平均値で除算し、各データ毎に変化率を算出するステップと、
前記第2のスペクトルの各データのイオン強度値を対応する前記変化率で除算しイオン強度値を修正するステップと、
前記修正後のイオン強度値の変化から前記イオントラップにおいて共鳴排出させる設定条件を決定することを特徴とする質量分析装置のキャリブレーション方法。 - 請求項1または2において、
前記設定条件は、前記リング電極及びエンドキャップ電極に印加する電圧値或いは周波数の値であることを特徴とする質量分析装置のキャリブレーション方法。 - 請求項1または2において、
前記設定条件は、前記リング電極及びエンドキャップ電極に印加する電圧値或いは周波数の値であり、
前記電圧値或いは周波数の値は、一定のステップで変化することを特徴とする質量分析装置のキャリブレーション方法。 - イオンを生成するイオン源と、
イオンを捕捉するトラップ空間を形成するリング電極と、
一対のエンドキャップ電極から成るイオントラップと、
前記トラップ空間から出射したイオンを検出する検出器と、前記イオントラップへの印加電圧を設定し、且つ制御する制御部を備えた質量分析装置において、
前記制御部は、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
捕捉したイオンを前記検出器によって検出することで得られる第1のマススペクトルと、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
予め定められた設定条件に基づいて、
共鳴により特定のイオンを排出し、
その後残ったイオンを前記検出器によって検出することで得られる第2のマススペクトルとを用いて、
強度比を算出し、
更に、前記第1のマススペクトル,第2のマススペクトル、およびそれらの強度比を得る処理を、共鳴条件を変えて、所定の回数繰り返し、
前記強度比の変化から前記イオントラップにおいて共鳴排出させる設定条件を決定することを特徴とする質量分析装置。 - イオンを生成するイオン源と、
イオンを捕捉するトラップ空間を形成するリング電極と、
一対のエンドキャップ電極から成るイオントラップと、
前記トラップ空間から出射したイオンを検出する検出器と、
前記イオントラップへの印加電圧を設定し、
且つ制御する制御部を備えた質量分析装置において、
前記制御部は、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
捕捉したイオンを前記検出器によって検出することで得られる第1のマススペクトルと、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
予め定められた設定条件に基づいて、
共鳴により特定のイオンを排出し、
その後残ったイオンを前記検出器によって検出することで得られる第2のマススペクトルを得る処理を、共鳴条件を変えて、所定の回数繰り返し、
前記第1のマススペクトルのイオン強度値の平均値を算出し、
前記第1のスペクトルの各データのイオン強度値を前記平均値で除算し、
各データ毎に変化率を算出し、
前記第2のスペクトルの各データのイオン強度値を対応する前記変化率で除算し、
イオン強度値を修正し、
当該修正後のイオン強度値の変化から前記イオントラップにおいて共鳴排出させる設定条件を決定することを特徴とする質量分析装置。 - イオンを生成するイオン源と、
イオンを捕捉するトラップ空間を形成するリング電極と、
一対のエンドキャップ電極から成るイオントラップと、
前記トラップ空間から出射したイオンを質量分析する飛行時間型質量分析部と、
前記イオントラップへの印加電圧を設定し、且つ制御する制御部を備えた質量分析装置において、
前記制御部は、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
捕捉したイオンを前記飛行時間型質量分析部によって検出することで得られる第1のマススペクトルと、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
予め定められた設定条件に基づいて、
共鳴により特定のイオンを排出し、
その後残ったイオンを前記飛行時間型質量分析部によって検出することで得られる第2のマススペクトルとを用いて、
強度比を算出し、
更に、前記第1のマススペクトル,第2のマススペクトル、およびそれらの強度比を得る処理を、共鳴条件を変えて、所定の回数繰り返し、
前記強度比の変化から前記イオントラップにおいて共鳴排出させる設定条件を決定することを特徴とする質量分析装置。 - イオンを生成するイオン源と、
イオンを捕捉するトラップ空間を形成するリング電極と
一対のエンドキャップ電極から成るイオントラップと、
前記トラップ空間から出射したイオンを質量分析する飛行時間型質量分析部と、前記イオントラップへの印加電圧を設定し、
且つ制御する制御部を備えた質量分析装置において、
前記制御部は、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
捕捉したイオンを前記飛行時間型質量分析部によって検出することで得られる第1のマススペクトルと、
質量数が既知の試料をイオン化し、
試料イオンを前記イオントラップで捕捉し、
予め定められた設定条件に基づいて、
共鳴により特定のイオンを排出し、
その後残ったイオンを前記飛行時間型質量分析部によって検出することで得られる第2のマススペクトルを得る処理を、共鳴条件を変えて、所定の回数繰り返し、
前記第1のマススペクトルのイオン強度値の平均値を算出し、
前記第1のスペクトルの各データのイオン強度値を前記平均値で除算し、
各データ毎に変化率を算出し、
前記第2のスペクトルの各データのイオン強度値を対応する前記変化率で除算しイオン強度値を修正し、
当該修正後のイオン強度値の変化から前記イオントラップにおいて共鳴排出させる設定条件を決定することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5,請求項6,請求項7、及び請求項8のいずれかにおいて、
前記設定条件は、前記リング電極及びエンドキャップ電極に印加する電圧値或いは周波数の値であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5,請求項6,請求項7、及び請求項8のいずれかにおいて、
前記設定条件は、前記リング電極及びエンドキャップ電極に印加する電圧値或いは周波数の値であり、
前記電圧値或いは周波数の値は、一定のステップで変化することを特徴とする質量分析装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003426103A JP4200092B2 (ja) | 2003-12-24 | 2003-12-24 | 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法 |
US11/018,375 US7115862B2 (en) | 2003-12-24 | 2004-12-22 | Mass spectroscope and method of calibrating the same |
US11/508,323 US7381948B2 (en) | 2003-12-24 | 2006-08-23 | Mass spectroscope and method of calibrating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003426103A JP4200092B2 (ja) | 2003-12-24 | 2003-12-24 | 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005183329A JP2005183329A (ja) | 2005-07-07 |
JP4200092B2 true JP4200092B2 (ja) | 2008-12-24 |
Family
ID=34697427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003426103A Expired - Lifetime JP4200092B2 (ja) | 2003-12-24 | 2003-12-24 | 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7115862B2 (ja) |
JP (1) | JP4200092B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4200092B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2008-12-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法 |
JP4653972B2 (ja) * | 2004-06-11 | 2011-03-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ/飛行時間型質量分析装置および質量分析方法 |
GB0513047D0 (en) | 2005-06-27 | 2005-08-03 | Thermo Finnigan Llc | Electronic ion trap |
US7700912B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-04-20 | University Of Georgia Research Foundation, Inc. | Mass spectrometry calibration methods |
US8334506B2 (en) | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
US7973277B2 (en) | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
JP5680008B2 (ja) * | 2012-03-08 | 2015-03-04 | 株式会社東芝 | イオン源、重粒子線照射装置、イオン源の駆動方法、および、重粒子線照射方法 |
WO2015017401A1 (en) * | 2013-07-30 | 2015-02-05 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Continuous operation high speed ion trap mass spectrometer |
EP3047512B1 (en) * | 2013-09-20 | 2020-01-15 | Micromass UK Limited | Miniature ion source of fixed geometry |
GB2544959B (en) * | 2015-09-17 | 2019-06-05 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Mass spectrometer |
CN109192648B (zh) * | 2018-08-09 | 2023-09-15 | 金华职业技术学院 | 一种自由基光产物测试方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5171991A (en) * | 1991-01-25 | 1992-12-15 | Finnigan Corporation | Quadrupole ion trap mass spectrometer having two axial modulation excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning |
US5324939A (en) | 1993-05-28 | 1994-06-28 | Finnigan Corporation | Method and apparatus for ejecting unwanted ions in an ion trap mass spectrometer |
GB0021901D0 (en) * | 2000-09-06 | 2000-10-25 | Kratos Analytical Ltd | Calibration method |
US20050080578A1 (en) * | 2003-10-10 | 2005-04-14 | Klee Matthew S. | Mass spectrometry spectral correction |
JP4200092B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2008-12-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及びそのキャリブレーション方法 |
-
2003
- 2003-12-24 JP JP2003426103A patent/JP4200092B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-12-22 US US11/018,375 patent/US7115862B2/en active Active
-
2006
- 2006-08-23 US US11/508,323 patent/US7381948B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005183329A (ja) | 2005-07-07 |
US7381948B2 (en) | 2008-06-03 |
US20050139763A1 (en) | 2005-06-30 |
US7115862B2 (en) | 2006-10-03 |
US20070069123A1 (en) | 2007-03-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060331 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070925 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081006 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111010 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121010 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121010 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131010 Year of fee payment: 5 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |