JP2008058281A - イオントラップ質量分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、試料をイオン化するイオン源部と、前記イオン源にて生成されたイオンをトラップするイオントラップ部と、前記イオントラップ部に主高周波電圧を印加する主高周波電源、及び補助高周波電圧を印加する補助高周波電源と、前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出部を備える質量分析装置を用いるイオントラップ質量分析方法において、イオントラップ部内にイオン捕捉をしながら不必要なイオンを排出して目的のイオンをイオントラップ部内に捕捉する捕捉ステップと、イオントラップ部内に残存する不要なイオンを排出し、目的のイオンをイオントラップ部内に残す不要イオン排出ステップを交互に繰り返えすことを特徴とする。
【選択図】図4
Description
このようにイオンをイオントラップに捕捉する操作を、イオン捕捉操作と呼ぶ。
この周波数に相当する補助交流電圧をエンドキャップ電極に印加すると、イオントラップ内部に生成された補助交流電界により、イオンは共鳴し、イオントラップから排出される。
Claims (14)
- イオントラップ部内にイオン捕捉をしながら不必要なイオンを排出して目的のイオンをイオントラップ部内に収集することを特徴とするイオントラップ質量分析方法。
- イオントラップ部内にイオン捕捉をしながら不必要なイオンを排出して目的のイオンをイオントラップ部内に捕捉する捕捉ステップと、イオントラップ部内に残存する不要なイオンを排出し、目的のイオンをイオントラップ部内に残す不要イオン排出ステップを交互に繰り返えすことを特徴とするイオントラップ質量分析方法。
- 試料をイオン化するイオン源部と、前記イオン源にて生成されたイオンをトラップするイオントラップ部と、前記イオントラップ部に主高周波電圧を印加する主高周波電源、及び補助高周波電圧を印加する補助高周波電源と、前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出部を備える質量分析装置を用いるイオントラップ質量分析方法において、
イオントラップ部内にイオン捕捉をしながら不必要なイオンを排出して目的のイオンをイオントラップ部内に捕捉する捕捉ステップと、イオントラップ部内に残存する不要なイオンを排出し、目的のイオンをイオントラップ部内に残す不要イオン排出ステップを交互に繰り返えすことを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項3記載のイオントラップ質量分析方法において、
前記捕捉ステップと前記不要イオン排出ステップが繰り返された後に、前記目的のイオンに対し衝突誘起解離を行ってイオンを壊すステップと、壊れたイオンを質量別に排出し、前記検出部において検出する質量分離ステップを有することを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項4記載のイオントラップ質量分析方法において、
前記捕捉ステップと前記不要イオン排出ステップの繰返により目的イオン量をMS/MS測定に合うように最適化することを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項5記載のイオントラップ質量分析方法において、
前記イオントラップ部は、リング電極と一対のエンドキャップ電極を有する3次元イオントラップであることを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項5記載のイオントラップ質量分析方法において、
前記イオントラップ部は、4本の柱状の電極を持つリニアトラップであることを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項6または7記載のイオントラップ質量分析方法において、
先に測定したMS測定から目的のイオン量を観測し、そのイオン量からMS/MS測定するのに最適化したイオン量に調整することを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項8記載のイオントラップ質量分析方法において、
イオン捕捉時間の異なる2回のMS測定により、時間とイオン量の相関を求め、その相関から最適化した目的イオン量になるようにイオン捕捉時間を決定するイオントラップ質量分析方法。 - 請求項9記載のイオントラップ質量分析方法において、
イオントラップ内のイオン飽和により、時間とイオン量の間に比例関係がない場合は、複数回のイオン捕捉操作を行った後で、イオン量を最適化し、MS/MS測定を行うイオントラップ質量分析方法。 - 請求項8〜10の何れかに記載されたイオントラップ質量分析方法において、
最適化するイオン量をユーザーインターフェイスより任意に設定可能とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項8〜11の何れかに記載されたイオントラップ質量分析方法において、
先に測定したMS測定から全イオン量および目的のイオン量を観測し、そのイオン量から不要イオン量を算出し、その不要イオン量から不要イオンを排出するのに最適な排出を決定・操作することを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項1または2記載のイオントラップ質量分析方法において、
前記イオントラップ部の後段に設ける質量分析計で質量分離操作を行うことを特徴とするイオントラップ質量分析方法。 - 請求項1記載のイオントラップ質量分析方法において、
前記収集後に混在する目的外のイオンを排出する不要イオン排出を実行することを特徴とするイオントラップ質量分析方法。
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